CN102735424B - Led灯配光测试仪 - Google Patents

Abstract

LED灯配光测试仪，属于LED灯制造技术领域。传统的LED灯设计配光过程采用实物组装进行测试，开发周期长、成本高，本发明包括机架、升降机构、横移机构、间套定位块和设有多个定位孔的照度计定位板，机架中部设置试验腔，升降机构包括升降板和升降驱动机构，升降驱动机构安装于试验腔底部并与升降板连接；横移机构包括卡槽、横移导轨和横移驱动机构，横移导轨设置于升降板上，卡槽安装于横移导轨上，横移驱动机构安装于升降板并与卡槽连接；间套定位块设置于两个LED芯片之间；照度计定位板通过支撑杆支撑固定于机架。通过升降机构、横移机构和间套定位块完成LED芯片Z轴升降、Y轴和X轴横移，实现可调式配光测试。

Description

LED灯配光测试仪

技术领域

本发明属于LED灯制造技术领域，尤其与一种能实现快速配光的LED灯配光测试仪有关。

背景技术

配光是重新分配灯具光源发出的光线分布，以达到功能、艺术或生理上的照片效果；配光的实现方式有反射式和透射式两种，反射式一般使用反光杯，透射式使用透镜、透光导光板、透光膜等。一般LED灯包括灯架、灯带、配光罩和LED芯片，灯带安装在灯架上，灯带上设置多个插口安装LED芯片，配光罩盖装在灯架上，将灯带和LED芯片封装在其内腔中；衡量LED灯的一个重要指标为照度，即单位受照面积接受的光通量，要求配光罩上照度均匀。照度与LED芯片的性能参数、LED相对于配光罩的位置、配光罩的材质形状有关，所以产品设计时需要解决LED芯片在灯带上的排列和配光罩规格性能参数的选用匹配；同时，LED芯片的性能参数日新月异，以及配光罩不同生产批次的性能误差，决定了相关规格参数的不稳定性，为了得到性能稳定的产品，就要不断的改进相关规格性能参数。传统的配光过程，往往是不断的设计调整灯带和相关结构外壳的几何尺寸，再加工生产出样品，经过实物组装来进行测试检验。此过程的开发周期长、成本极高，无法满足市场需要。

发明内容

本发明的目的就是要解决传统的LED灯设计配光过程存在的开发周期长、成本高的缺陷，提供一种操作简便、成本相对较低、能实现快速配光的LED灯配光测试仪。为此，本发明采用以下技术方案：

LED灯配光测试仪，包括机架，其特征是：所述的LED灯配光测试仪还包括升降机构、横移机构和间套定位块，所述的机架中部设置试验腔，所述的升降机构包括升降板和升降驱动机构，升降驱动机构安装于试验腔底部并与升降板连接，可以驱动升降板作Z轴方向升降；所述的横移机构包括卡槽、横移导轨和横移驱动机构，横移导轨设置于升降板上，卡槽安装于横移导轨上，横移驱动机构安装于升降板并与卡槽连接，可以驱动卡槽在升降板上作Y轴方向横移；所述的间套定位块设置于两个LED芯片之间，实现LED芯片在灯带上X方向不同间距的均布排列。

照度与LED芯片的性能参数、LED相对于配光罩的位置、配光罩的材质形状有关，由于LED芯片和配光罩已确定，则设计LED灯时主要是设计LED芯片相对于配光罩的位置参数。本发明主要功能就是根据照度要求试验LED芯片相对于配光罩的最佳位置参数。本发明使用时，LED灯的灯带置于卡槽内，LED芯片沿灯带轴向间隔设置，相邻两个LED芯片之间设置间套定位块，配光罩盖装于机架上，将试验腔封装，使配光罩位于LED芯片上，LED发光后，光线在配光罩上产生透射。使用便携式照度计检测配光罩各个位置的照度，根据检测结果，通过升降驱动机构和横移驱动机构调整卡槽Z轴方向和Y轴方向的位置，通过间套定位块调整LED芯片在X轴方向上的位置，可以实现将LED芯片调整到相对于配光罩的最佳位置，此时的LED芯片位置参数就是LED灯的设计参数。

作为对上述技术方案的补充和完善，本发明还包括以下附加技术特征：

所述的升降驱动机构包括螺钉和设置于试验腔底部的螺孔，螺钉旋装于螺孔，螺钉前端部顶靠于所述的升降板底部，通过旋动螺钉，可以顶撑着升降板升降。

所述的试验腔底部设置有导向孔，所述的升降板底部设置有导向杆，导向杆和导向孔对应配合，对升降板的升降起导向作用。

所述的横移驱动机构包括旋钮和对应配合的齿轮、齿条，齿轮通过齿轮轴支撑安装于升降板，旋钮与齿轮轴固定连接，齿条与卡槽连接，旋钮旋转通过齿轮齿条传递驱动卡槽横移。

所述的卡槽数量为两条，相应的齿条数量为两根，齿条分列于齿轮上、下两侧，齿轮旋转，带动两条卡槽相向或相背运动。

所述的LED灯配光测试仪还包括照度计定位板，该照度计定位板上开设有多个定位孔，每一定位孔到所述的配光罩的距离相等，照度计检测时置于定位孔内，各个定位孔对应的配光罩位置就是检测点，保证各个检测点照度计到配光罩的距离相等。

所述的照度计定位板通过支撑杆支撑固定于所述的机架，支撑杆上套装挡块，照度计定位板置于挡块上，挡块通过紧定螺钉定位设定高度。

使用本发明可以达到以下有益效果：不同的配光罩和LED芯片都能在本发明上进行排列测试，确定LED芯片相对于配光罩的最佳位置设计参数，配光快速，操作简便，极大的缩短了LED灯的开发周期，降低了开发成本。

附图说明

图1是本发明的主视图。

图2是本发明的俯视图。

图3是本发明中去除照度计定位板部分的主视图。

图4是本发明中去除照度计定位板部分的主视方向剖视图。

图5是图3的A-A剖视图

具体实施方式

下面结合附图对本发明的具体实施方式进行详细描述。

如图1～图5所示，本发明机架1、升降机构、横移机构、间套定位块和照度计定位板3，机架中部设置试验腔，升降机构包括升降板17以及螺钉16和螺孔组成的升降驱动机构，螺孔设置于试验腔底部中间位置，螺钉16旋装于该螺孔并顶撑于升降板17底部，可以驱动升降板作Z轴方向升降；试验腔底部还设置有两个导向孔，两个导向孔分列于所述的螺孔的两侧，升降板17底部两端分别设置有导向杆18，导向杆18和导向孔对应配合，对升降板的升降起导向作用；所述的横移机构包括两条卡槽10、横移导轨15和横移驱动机构，横移导轨15设置于升降板17上，卡槽10安装于横移导轨15上，横移驱动机构包括旋钮11、齿轮13和两根齿条12，齿轮13通过齿轮轴14支撑安装于升降板17，旋钮11与齿轮轴14固定连接，每根齿条与一条卡槽连接，旋钮旋转通过齿轮齿条传递，带动两条卡槽作Y轴方向的相向或相背横移运动；所述的间套定位块设置于两个LED芯片8之间，实现LED芯片8在灯带9上X方向等间距的均布排列；照度计定位板3通过支撑杆4支撑固定于机架1，支撑杆4上套装挡块5，照度计定位板3置于挡块5上，挡块5通过紧定螺钉6定位设定高度，照度计定位板3上开设有多个定位孔7，每一定位孔7到配光罩2的距离相等。

本发明使用时，LED灯的灯带9置于卡槽10内，LED芯片8沿灯带9轴向间隔设置，相邻两个LED芯片之间设置间套定位块，配光罩2盖装于机架上，将试验腔封装，使配光罩位于LED芯片上，LED发光后，光线在配光罩上产生透射。使用便携式照度计插入照度计定位板3上的各个定位孔7检测配光罩各个位置的照度，根据检测结果，通过升降驱动机构和横移驱动机构调整卡槽Z轴方向和Y轴方向的位置，通过间套定位块调整LED芯片在X轴方向上的间隔位置，可以实现将LED芯片调整到相对于配光罩的最佳位置，此时的LED芯片位置参数就是LED灯的设计参数。

Claims (7)

1.LED灯配光测试仪，包括机架(1)，其特征在于：所述的LED灯配光测试仪还包括升降机构、横移机构和间套定位块，所述的机架(1)中部设置试验腔，机架(1)上盖装有配光罩(2)将所述的试验腔封装，所述的升降机构包括升降板(17)和升降驱动机构，升降驱动机构安装于试验腔底部并与升降板(17)连接；所述的横移机构包括横移导轨(15)、横移驱动机构和将LED灯的灯带(9)置于其中的卡槽(10)，横移导轨(15)设置于升降板(17)上，卡槽(10)安装于横移导轨(15)上，横移驱动机构安装于升降板(17)并与卡槽(10)连接；所述的间套定位块设置于两个LED芯片之间。

2.根据权利要求1所述的LED灯配光测试仪，其特征在于：所述的升降驱动机构包括螺钉(16)和设置于试验腔底部的螺孔，螺钉(16)旋装于螺孔，螺钉(16)前端部顶靠于所述的升降板(17)底部。

3.根据权利要求2所述的LED灯配光测试仪，其特征在于：所述的试验腔底部设置有导向孔，所述的升降板(17)底部设置有导向杆(18)，导向杆(18)和导向孔对应配合。

4.根据权利要求3所述的LED灯配光测试仪，其特征在于：所述的横移驱动机构包括旋钮(11)和对应配合的齿轮(13)、齿条(12)，齿轮(13)通过齿轮轴(14)支撑安装于升降板(17)，旋钮(11)与齿轮轴(14)固定连接，齿条(12)与卡槽(10)连接。

5.根据权利要求4所述的LED灯配光测试仪，其特征在于：所述的卡槽(10)数量为两条，相应的齿条(12)数量为两根，齿条(12)分列于齿轮(13)上、下两侧。

6.根据权利要求5所述的LED灯配光测试仪，其特征在于：所述的LED灯配光测试仪还包括照度计定位板(3)，照度计定位板(3)上开设有多个定位孔(7)，每一定位孔到所述的配光罩(2)的距离相等。

7.根据权利要求6所述的LED灯配光测试仪，其特征在于：所述的照度计定位板(3)通过支撑杆(4)支撑固定于所述的机架(1)，支撑杆(4)上套装挡块(5)，照度计定位板(3)置于挡块(5)上，挡块(5)通过紧定螺钉(6)定位。