JP3743541B2 - サンプルプレート - Google Patents

サンプルプレート Download PDF

Info

Publication number
JP3743541B2
JP3743541B2 JP18660697A JP18660697A JP3743541B2 JP 3743541 B2 JP3743541 B2 JP 3743541B2 JP 18660697 A JP18660697 A JP 18660697A JP 18660697 A JP18660697 A JP 18660697A JP 3743541 B2 JP3743541 B2 JP 3743541B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
film
sample
hydrophobic
opening
sample plate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP18660697A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH1164213A (ja
Inventor
昌之 納谷
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujifilm Holdings Corp
Original Assignee
Fuji Photo Film Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fuji Photo Film Co Ltd filed Critical Fuji Photo Film Co Ltd
Priority to JP18660697A priority Critical patent/JP3743541B2/ja
Publication of JPH1164213A publication Critical patent/JPH1164213A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3743541B2 publication Critical patent/JP3743541B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Sampling And Sample Adjustment (AREA)
  • Optical Measuring Cells (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、医療検査等において使用されるサンプルプレートに関し、特に、走査型の表面プラズモンセンサーにおけるサンプル支持手段として用いられる、複数のサンプルを同時に保持することができるサンプルプレートに関するものである。
【0002】
【従来の技術】
金属中においては、自由電子が集団的に振動して、プラズマ波と呼ばれる粗密波が生じる。そして、金属表面に生じるこの粗密波を量子化したものは、表面プラズモンと呼ばれている。従来より、この表面プラズモンが光波によって励起される現象を利用して試料中の物質を定量分析する表面プラズモンセンサーが種々提案されている。
【0003】
表面プラズモンセンサーにおける分析は以下のようにしてなされる。
【0004】
透明基板上に配された金属膜上に分析対象たる試料をのせ、所定のカップリング手段を用いて金属膜に対して透明基板側から光ビームを金属膜と透明基板との界面で全反射するように入射する。光ビームをカップリング手段を介して金属膜に対して全反射角以上の入射角θで入射させると、反射面の金属膜中にエバネッセント波といわれる「にじみ波」が生じる。このエバネッセント波は該金属膜に接している試料中に電界分布をもち、この金属膜と試料との界面に表面プラズモンが発生する。p偏光された光ビームが金属膜に対して入射されて生じたエバネッセント波の波数ベクトルが上述の表面プラズモンの波数ベクトルと等しく波数整合が成立すると両者は共鳴状態となり、光のエネルギーが表面プラズモンに移行してプラズモンが励起される。この時、光のエネルギーの移行のために全反射した光の強度は著しく低下する。この反射光強度が低下する入射角度(全反射解消角θsp)は金属と接している試料に依存するものであるため、この全反射解消角θspを知ることにより試料中の特定物質を定量分析することができる。
【0005】
なお、一般には金属膜上に結合反応膜を形成した上で試料をのせ、結合反応膜と特異的に吸着する試料中の物質量を測定している。結合反応膜としては、測定対象物質と何らかの結合反応をおこす物質が用いられる。結合反応としては、例えば、抗原・抗体反応が挙げられるが、その他の化学反応であってもよい。
【0006】
複数のサンプルについての分析を効率よく行うために、複数のサンプルを1次元的もしくは2次元的に配置して光ビームの入射位置を移動させて測定を行う走査型の表面プラズモンセンサーが既に本出願人により提案されている。
【0007】
例えば、図6に示すような表面プラズモンセンサー100 は、サンプルプレート101 を支持するサンプルプレート支持部102 と、該支持部102の下方に配され、該支持部102 の底部102aに達するレベルまで屈折率マッチングオイル(マッチング液)109 を貯留したオイルタンク(カップラー手段)110 と、光源から発生された光ビームLをサンプルプレート101 に入射させる光学手段120 と、サンプルプレート101 で反射された光ビームの強度を測定する光検出手段130 とからなるものである。支持部102 の底部102aは透明基板からなっており、サンプルプレート101 はこの透明基板上に屈折率マッチングオイルを介して密着せしめられて測定に供される。
【0008】
光学手段120 、光検出手段130 は搬送台145 上に固定され、オイルタンク110 は光学手段120 および光検出手段130 を取り囲むように形成されている筐体146 を介して搬送台145 に固定されている。
【0009】
搬送台145 はさらに基台147 上に配された搬送レール148 に沿ってサンプルプレート支持部102 に対してX方向に可動とされている。搬送台145 がX方向に移動すると光学手段120 もX方向に移動し、この移動に伴いサンプルプレート101 への光ビームLの入射位置がX方向に移動せしめられる。また、光学手段120 は光ビームをX方向と垂直な方向に偏向する偏向手段を備えており、搬送台145 のX方向への移動と、偏向手段による光ビームの偏向とによって光ビームはサンプルプレート101 上を二次元的に走査せしめられる。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】
表面プラズモンセンサーにおいて分析に供されるサンプルは一般に液体状であるため、上述のように二次元走査型のプラズモンセンサーの測定においては図7に示すようなサンプルプレート101 が従来用いられる。この従来のサンプルプレート101 は、透明基板104 上に金属膜105 と結合反応膜106 を積層してなる部材を底板とする容器内をガラス等の筒状部材によって仕切ったものであり、構造が複雑で、高価で使い捨てに向かないなどの欠点がある。そのため、安価で容易に形成することができるサンプルプレートが望まれている。
【0011】
また、表面プラズモンセンサーにおける分析に限らず、従来より複数の異なるサンプルについて同種類の検査、測定をおこなうため、若しくは複数の同種のサンプルについて異なる試薬による反応を調べる際にも、複数の液体サンプルを並べて保持する必要があるが、従来このような場合には、小さな容器を複数プレート上に並べるか、あるいは複数の凹部有するガラス等のプレートを用いていた。
【0012】
本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであって、安価で容易に構成することができる、複数の液体サンプルを支持するためのサンプルプレートを提供することを目的とするものである。
【0013】
【課題を解決するための手段】
本発明のサンプルプレートは、表面プラズモンセンサーによる測定において水性液状サンプルを支持するサンプルプレートであって、
透明基板と、
該透明基板上に配された金属膜と、
該金属膜上に形成された複数のサンプル保持部とからなり、
前記各サンプル保持部が、親水性の結合反応膜と該結合反応膜を囲むようにして形成された疎水性の膜とから構成されるものであることを特徴とするものである。
【0014】
より具体的には、前記金属膜上に、前記結合反応膜が形成され、さらに複数の開口を有する前記疎水性の膜が該結合反応膜上に形成され、前記各サンプル保持部が前記疎水性の膜の前記各開口を取り巻く部分と該開口内の前記結合反応膜とによって構成されていてもよいし、前記金属膜上に、複数の開口を有する前記疎水性の膜が形成され、該各開口内において前記金属膜上に前記結合反応膜が形成されており、前記各サンプル保持部が前記疎水性の膜の前記各開口を取り巻く部分と該開口内の前記結合反応膜とによって構成されていてもよい。開口を有する疎水性の膜が形成されたサンプルプレートにおいては、該疎水性の膜の前記各開口内の前記結合反応膜の外周縁と該開口の内周縁との間に間隔が設けられていてもよい。なお、前記疎水性の膜の前記各開口内に形成されている前記結合反応膜の上面が該結合反応膜の周囲の前記疎水性の膜の上面より低いことがより望ましい。
【0015】
上記構成の本発明のサンプルプレートはそのまま表面プラズモンセンサーによる分析以外の分析において複数の液体サンプルを保持するために使用することができるが、プラズモンセンサー以外で用いる場合には金属膜は必要ないし、また基板も透明である必要はない。
【0016】
上記「親水性」とは一般にOH基を取り込みやすい性質をいい、これに対して「疎水性」とは、OH基を排除しやすい性質をいう。疎水性の膜は、たとえばフォトレジストにより形成することができる。
【0017】
本発明のサンプルプレートはサンプル保持部が親水性の膜と該親水性の膜を囲むようにして配された疎水性の膜とからなるため、このサンプル保持部に水性の分析対象サンプルをのせた場合、該サンプルは周囲の疎水性の膜からはじかれることとなり液体状であることからくる流動性が抑えられて効果的に保持される。
【0018】
【発明の効果】
本発明のサンプルプレートは基板上に親水性の結合反応膜とその結合反応膜を囲むようにして形成された疎水性の膜とによってサンプル保持部を構成するという簡単な構造であるため、容易にかつ安価に作製することができる。また、安価であるため大量生産に適しており、使い捨てのサンプルプレートとして用いることができる。
【0019】
【発明の実施の形態】
本発明の実施形態に係るサンプルプレートについて図面を参照して説明する。
【0020】
本発明の第一の実施形態に係るサンプルプレート1を図1に示す。図1において(b)は(a)に示すサンプルプレート1を上方から見た図である。サンプルプレート1はガラス等からなる透明基板2と、該透明基板2上にほぼ全面にわたって形成された金、銀等の金属膜3と、該金属膜3上にほぼ全面にわたって連続的に形成された抗原(あるいは抗体)からなる親水性の結合反応膜4と、該結合反応膜4を被うように形成された、複数の開口を有する疎水性の膜5A(以下、疎水膜という)とからなるものである。すなわち、疎水膜5Aの開口から露出された親水性の結合反応膜の部分4a,4b,4c・・・と開口部を取り巻く疎水膜5Aとにより構成された凹部がサンプル保持部6である。サンプルは図2に示すような所定のサンプル供給機構20によって順次サンプル保持部6上にのせられていくが、凹部の底面が親水膜4a,4b,4c・・・であり周囲が疎水膜であるため水性液体状のサンプルS1,S2,・・・は表面張力によってサンプル保持部6に保持される。
【0021】
本サンプルプレート1を形成する際には、透明基板2上に金属膜3、親水性の抗原(抗体)からなる結合反応膜4、疎水膜であるネガ型フォトレジスト5を形成し(図3(a))、該フォトレジスト5に所定のパターンのマスク7を配してUV光8に露光(同図3(b))し、その後の現像によって未露光部分を除去することによって形成される。なお、ガラス基板2上に金等の金属膜3を形成する場合には、ガラス基板2上に予め1nm程度のクロム層を形成した上で行うと金属膜3の形成が容易となり、また、剥離が抑えられる。ネガ型フォトレジスト5としては、例えば、ポリイソプレンを環化した環化ゴムに光架橋剤であるビスアジド化合物を添加したゴム型フォトレジストが挙げられる。ビスアジド化合物としては、4,4'−ジアジドカルコン, 2,6-ジ−(4'−アジドベンザル)シクロヘキサノン等が用いられる。このようなネガ型フォトレジストは、光照射によって、まず、ビスアジドが分解し、ニトレンラジカルが生じ、このニトレンラジカルが環化ゴムの二重結合と反応することにより、ゴム分子間に橋掛けが起こる。また、ニトレンラジカルは水素引き抜き反応にも関与し、架橋を促進する。環化ゴム分子間の架橋濃度があるレベル以上に達すると、この架橋分子は溶剤に対して不溶化するようになり、現像後に所望のパターンが残る。図3(c)はマスク7を用いてフォトレジスト5が露光されて露光部5Aと未露光部5Bが形成されていることを示す。この後、現像することにより未露光部5Bが溶け露光部5Aのみが残る(同図(d))。
【0022】
このように本発明のサンプルプレート1は簡単な構造で、容易にかつ安価に作製することができる。安価であるため大量生産に適しており、使い捨てのサンプルプレートとして用いることができる。また、サンプル保持部のサイズも自由に作製することができるので、このサイズを小さくすれば、微量のサンプルであっても容易に保持することができる。
【0023】
図4は第二の実施形態に係るサンプルプレートを示す。同図(b)は、同図(a)を上方から見た図である。サンプルプレート1’は、ガラス等からなる透明基板12と、該透明基板上にほぼ全面に形成された金属膜13と、該金属膜13上にほぼ全面にわたって形成された、複数の開口を有する疎水膜15と、開口から露出する金属膜13上に形成された抗原もしくは抗体からなる結合反応膜14とからなるものである。結合反応膜14は開口部の中央付近に周囲の疎水膜15と接しないように形成する。また、その膜面は疎水膜15の膜面より低くなるようにすることにより、より効果的にサンプルを保持することができる。なお、図5に示すように、疎水膜15の開口から露出する金属膜13全体を被うように結合反応膜14を形成してもよい。
【0024】
なお、上述のサンプルプレートは表面プラズモンセンサーにおいてのみならず、その他の免疫センサ、例えば、ラジオアイソトープ(RI)、蛍光等を利用したバイオセンサー、エリプソセンサー等にも用いることができる。透明基板上に金属膜を配するのは、既述のようにエバネッセント波と表面プラズモンを利用した測定を行うためであるが、透明基板上に直接、親水部と疎水部を形成して、親水部と疎水部からなるサンプル保持部を構成したサンプルプレートとして血液検査や、試薬検査等の種々の検査に利用することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第一の実施形態に係るサンプルプレートを示す図
【図2】サンプル供給機構によるサンプルプレートへのサンプル供給を示す図
【図3】本発明の第一の実施形態に係るサンプルプレート作製の一例を示す図
【図4】本発明の第二の実施形態に係るサンプルプレートを示す図
【図5】本発明の第二の実施形態の変更例を示す図
【図6】表面プラズモンセンサーの一側面図
【図7】従来のサンプルプレートを示す図
【符号の説明】
1 サンプルプレート
2 透明基板
3 金属膜
4 結合反応膜
5 ネガ型フォトレジスト
5A 疎水膜
6 サンプル保持部
7 マスク
8 UV光
n サンプル

Claims (5)

  1. 表面プラズモンセンサーによる測定において水性液状サンプルを支持するサンプルプレートであって、
    透明基板と、
    該透明基板上に配された金属膜と、
    該金属膜上に形成された複数のサンプル保持部とからなり、
    前記各サンプル保持部が、親水性の結合反応膜と該結合反応膜を囲むようにして構成された疎水性の膜とから構成されるものであり、前記透明基板側から測定光が入射されるものであり、
    前記金属膜上に、複数の開口を有する疎水性の膜が形成され、該各開口内において前記金属膜上に結合反応膜が形成されており、
    前記各サンプル保持部が前記疎水性の膜の前記各開口を取り巻く部分と該開口内の前記結合反応膜とによって形成されており、前記疎水性の膜の前記各開口内の前記結合反応膜の外周縁と該開口の内周縁との間に間隔が設けられていることを特徴とするサンプルプレート。
  2. 前記疎水性の膜の前記各開口内に形成されている前記結合反応膜の上面が該結合反応膜の周囲の前記疎水性の膜の上面より低いことを特徴とする請求項記載のサンプルプレート。
  3. 水性液状のサンプルを支持するサンプルプレートであって、
    基板と、
    該基板上に形成された複数のサンプル保持部とからなり、
    前記各サンプル保持部が、親水性の膜と該親水性の膜を囲むようにして形成された疎水性の膜とから構成されるものであり、
    前記基板上に、複数の開口を有する疎水性の膜が形成され、該各開口内において前記基板上に親水性の膜が形成されており、前記各サンプル保持部が前記疎水性の膜の前記各開口を取り巻く部分と該開口内の前記親水性の膜によって構成され、前記疎水性の膜の前記各開口内の前記親水性の膜の外周縁と該開口の内周縁の間に間隔が設けられていることを特徴とするサンプルプレート。
  4. 前記疎水性の膜の前記各開口内に形成されている前記親水性の膜の上面が該親水性の膜の周囲の前記疎水性の膜の上面より低いことを特徴とする請求項記載のサンプルプレート。
  5. 前記疎水性の膜がフォトレジストにより形成されていることを特徴とする請求項1からいずれか記載のサンプルプレート。
JP18660697A 1997-06-09 1997-07-11 サンプルプレート Expired - Fee Related JP3743541B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP18660697A JP3743541B2 (ja) 1997-06-09 1997-07-11 サンプルプレート

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9-150772 1997-06-09
JP15077297 1997-06-09
JP18660697A JP3743541B2 (ja) 1997-06-09 1997-07-11 サンプルプレート

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH1164213A JPH1164213A (ja) 1999-03-05
JP3743541B2 true JP3743541B2 (ja) 2006-02-08

Family

ID=26480259

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP18660697A Expired - Fee Related JP3743541B2 (ja) 1997-06-09 1997-07-11 サンプルプレート

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3743541B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2012157403A1 (ja) 2011-05-19 2012-11-22 コニカミノルタホールディングス株式会社 表面プラズモン励起増強蛍光測定装置およびこれを用いた蛍光検出方法

Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6783735B2 (en) * 2000-09-15 2004-08-31 Agfa-Gevaert Web material having wells for combinatorial applications
EP1251345A1 (en) 2001-04-12 2002-10-23 Fuji Photo Film Co., Ltd. Measuring sensor utilizing attenuated total reflection and measuring chip assembly
JP3680014B2 (ja) * 2001-08-20 2005-08-10 アロカ株式会社 試料処理容器
JP3816415B2 (ja) * 2001-11-02 2006-08-30 富士写真フイルム株式会社 全反射光を利用した測定装置に用いられる測定ユニットおよび全反射光を利用した測定装置
JP3915677B2 (ja) * 2002-11-29 2007-05-16 日本電気株式会社 質量分析用チップおよびこれを用いたレーザー脱離イオン化飛行時間型質量分析装置、質量分析システム
EP1614460A1 (en) * 2004-07-08 2006-01-11 Yamatake Corporation Substrate for biochips
JP4710031B2 (ja) * 2004-07-08 2011-06-29 株式会社山武 バイオチップ用基板
JPWO2006013832A1 (ja) * 2004-08-02 2008-05-01 古河電気工業株式会社 検体の光情報認識装置およびその認識方法
JP2007057458A (ja) * 2005-08-26 2007-03-08 Fujifilm Corp バイオセンサー
JP2013066393A (ja) * 2011-09-21 2013-04-18 Sumitomo Bakelite Co Ltd マルチウェルプレート
CN104174445B (zh) * 2014-08-06 2016-02-03 北京科技大学 用于富集和痕量检测的超亲水微井传感界面及其制备方法
WO2016046934A1 (ja) * 2014-09-25 2016-03-31 オリンパス株式会社 ラマン散乱光観察用基板
WO2018131731A1 (ko) * 2017-01-12 2018-07-19 한밭대학교 산학협력단 액상 시료를 나노 단위로 분배하는 기구
JP6936987B2 (ja) * 2017-04-14 2021-09-22 国立研究開発法人産業技術総合研究所 目的物質検出チップ、目的物質検出装置及び目的物質検出方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2012157403A1 (ja) 2011-05-19 2012-11-22 コニカミノルタホールディングス株式会社 表面プラズモン励起増強蛍光測定装置およびこれを用いた蛍光検出方法
US9551662B2 (en) 2011-05-19 2017-01-24 Konica Minolta, Inc Surface plasmon-field enhanced fluorescence measurement device and fluorescence detection method using the same

Also Published As

Publication number Publication date
JPH1164213A (ja) 1999-03-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3743541B2 (ja) サンプルプレート
JP4999249B2 (ja) 複数アナライトのアッセイ方法およびアッセイ装置
JP3886153B2 (ja) レンズおよび連結可能なフローセル
US6611634B2 (en) Lens and associatable flow cell
FI76432B (fi) Foerfarande och anordning foer bestaemning av element i loesning med en ljusledare.
JP4231051B2 (ja) 測定対象物質の濃度測定方法、測定対象物質の濃度測定用キット及びセンサチップ
US6752963B2 (en) SPR sensor system
US7429492B2 (en) Multiwell plates with integrated biosensors and membranes
US7403287B2 (en) Sensing element used in sensing device for sensing target substance in specimen by using plasmon resonance
US7663092B2 (en) Method and apparatus for phase contrast quadrature interferometric detection of an immunoassay
US8355136B2 (en) Sub-micron surface plasmon resonance sensor systems
George et al. Sensitive detection of protein and miRNA cancer biomarkers using silicon-based photonic crystals and a resonance coupling laser scanning platform
US9400353B2 (en) Silicon-based photonic crystal fluorescence enhancement and laser line scanning instrument
JP3579321B2 (ja) 2次元イメージング表面プラズモン共鳴測定装置および測定方法
US8673650B2 (en) Optical molecular detection
US8835185B2 (en) Target substance-detecting element
JP2002502967A (ja) ルミネッセンスを測定する方法及び装置
KR20080082976A (ko) 서브-미크론 표면 플라즈몬 공진 센서 시스템들
JP2005016963A (ja) 化学センサ、化学センサ装置
JP2003270132A (ja) 化学センサ装置・媒体およびそれを用いた検査方法
JP2007501403A (ja) 白色光反射干渉の分光変化規則に基づく光ファイバアレイバイオチップ
US6356676B1 (en) Lens and associatable flow cell
US7863037B1 (en) Ligand binding assays on microarrays in closed multiwell plates
JP2009092405A (ja) 標的物質検出用素子、それを用いた標的物質検出装置、キット及び検出方法
US7829349B2 (en) Base carrier for detecting target substance, element for detecting target substance, method for detecting target substance using the element, and kit for detecting target substance

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20050322

A131 Notification of reasons for refusal

Effective date: 20050412

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20050613

A02 Decision of refusal

Effective date: 20050705

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20050811

A911 Transfer of reconsideration by examiner before appeal (zenchi)

Effective date: 20050920

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Effective date: 20051108

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20051109

R150 Certificate of patent (=grant) or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081125

Year of fee payment: 3

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 3

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081125

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091125

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091125

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 5

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101125

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 6

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111125

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 7

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121125

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees