JP3735866B2

JP3735866B2 - Electronic device and communication system

Info

Publication number: JP3735866B2
Application number: JP26665692A
Authority: JP
Inventors: 百合子岸高; 亨三浦; 康裕田中
Original assignee: Sony Corp
Current assignee: Sony Corp
Priority date: 1992-09-09
Filing date: 1992-09-09
Publication date: 2006-01-18
Anticipated expiration: 2021-01-18
Also published as: JPH0689557A

Description

【０００１】
【産業上の利用分野】
この発明は、その内部を検査し、あるいはモニタすることが可能とされたＶＴＲ等の電子装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来の電子機器内部の検査として、ディジタルＩＣのシステムでは、バウンダリースキャン等の方法が知られている。また、インサーキットテスターというある部品の接続をチェックする方法もある。さらに、電子機器の内部状態をモニタする時には、ケースを開けてオシロスコープ等でチェックする必要があった。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
従来のバウンダリースキャンの手法を使う時には、ＩＣに専用の入出力が必要とされ、また、ディジタルＩＣ間の接続検査にしか使用できない問題が生じる。インサーキットテスターは、高密度実装の電子機器では、テストピンを当てることが難しく、最新の基板実装には不向きである。さらに、電子機器の内部状態をモニタする場合、内部を検査することが可能な状態に機器を分解する必要がある。然も、マイクロコンピュータが制御している内容をモニタすることが殆どできない問題がある。電子機器の多くの機能をマイクロコンピュータが受け持っている機器においては、不具合が発生した時に、その原因を調べることが困難であった。
【０００４】
従って、この発明の目的は、機器内部に直接的に接触することを最小限に抑えて、機器の検査、機器の内部状態のモニタが可能な電子装置を提供することにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】
請求項１の発明は、双方向に通信可能な外部通信手段と、
外部通信手段に接続されるマイクロコンピュータと、
マイクロコンピュータに接続される不揮発性メモリとを有する電子装置において、
アドレスによって規定されている仮想空間が内部に構築され、仮想空間上のデータとしてマイクロコンピュータの内部状態を示すデータが配置されており、
マイクロコンピュータの制御によって、外部通信手段を介して受信されるデータには、電子装置の通常動作に関するデータと、内部処理を検査するための検査指示データと、電子装置をモニタするためのモニタ指示データとが含まれ、
検査指示データには、仮想空間上のデータ配置を示すデータと、該データ配置に書き込むべきデータとが含まれ、
モニタ指示データには、電子装置をモニタ状態に指定する第１のデータと、電子装置のモニタしたい内部状態を仮想空間上で指定する第２のデータとが含まれ、
マイクロコンピュータの制御によって、外部通信手段を介して送信されるデータには、第２のデータによって指定された内部状態を示すデータとが含まれ、
マイクロコンピュータは、
検査指示データが受信された場合に、検査指示データに含まれる仮想空間上のデータ配置を示すデータから不揮発性メモリへ書き込むべきデータか否かを判断して、書き込むべきデータと判断した場合に、検査指示データの一部を不揮発性メモリに書き込むとともに、電源投入後に不揮発性メモリに書き込まれた検査指示データの一部を読み出して内部処理を検査する処理を行い、
モニタ指示データが受信された場合に、第２のデータによって仮想空間上で指示された内部状態を示すデータを外部通信手段を介して送信する処理を行い、
電源投入直後に第１のデータによってモニタ状態に指定された場合には、内部処理を検査する処理を行わないようにした
ことを特徴とする電子装置である。
【０００６】
【作用】
電子装置の内部には、ページ、アドレスで階層構造化された仮想空間が構築され、各ページ、各アドレスに事前に規定されたマイクロコンピュータの内部状態のデータ等が配される。これによって、電子装置の個々の構成の相違にかかわらず、外部から検査、モニタを統一的に行うことができる。
【０００７】
【実施例】
以下、この発明について図面を参照して説明する。図１は、この発明の検査システム全体を概略的に示す。このシステムは、検査される電子機器１と検査治具１と両者間の外部バス３と最小限のチェックピン４とで構成されている。電子機器１および検査治具２には、外部通信制御回路５ａおよび５ｂがそれぞれ設けられる。外部通信制御回路５ｂは、電子機器１のマイコン６の一つの機能として実現される。マイコン６は、回路ブロック７を制御できる。外部バス３は、有線あるいは無線の何れでも良い。
【０００８】
マイコン６内部の検査処理の例を図２に示す。外部通信制御回路５ｂは、マイコン６のＩ／Ｏ回路２１と接続され、キー２２から入力されたデータを外部バス３に出力する。キー２２を押したり、離したりした時に、外部バス３に現れるマイコンのポート情報を検査することによって、キー２２とマイコン６との間の接続を検査できる。
【０００９】
また、Ｉ／Ｏ回路２１の出力がヒューマンインターフェース２３を介してメカ制御ブロック２４に供給される。ヒューマンインターフェース２３は、操作性を制御するための回路である。メカ制御ブロック２４の出力がスイッチ回路２５の端子ａおよびモータドライバ２６を介してモータ２７に加えられる。モータドライバ２６およびモータ２７間がチェックピン４を介して検査治具２と接続される。スイッチ回路２５の端子ｂには、外部通信制御回路５ｂの出力が供給される。スイッチ回路２５は、外部通信制御回路５ｂによって制御される。
【００１０】
スイッチ回路２５によって、モータドライバ２６に対する出力を外部通信制御回路５ｂの出力に切り換え、種々のデータを外部バス３を通じて与えることができる。この場合のモータドライバ２６のモータ２７への出力をチェックピン４を通じて検査治具２でモニタすることにより、モータドライバ２６の検査ができる。チェックピン４に代えてドライバ２６の出力をマイコン６のポートに入力して、外部通信でモニタすることもできる。
【００１１】
図３は、この発明によるモニタシステムの概略的に示す。このシステムは、モニタされる電子機器１と外部モニタ２´と両者間の外部バス３とで構成されている。電子機器１および外部モニタ２´には、外部通信制御回路５ａおよび５ｂがそれぞれ設けられる。外部通信制御回路５ｂは、電子機器１のマイコン６の一つの機能として実現される。
【００１２】
電子機器１のマイコン６と外部モニタ２´との間では、次のようなデータが送受信される。外部モニタ２´からは、モニタしたい機器内部データの指示が随時送出される。一方、電子機器１からは、指示された内容についての最新データが周期的に出力される。外部モニタ２´は、外部バス３を通じて伝送された機器の情報をディスプレー８に表示する等の方法により、常時出力している。
【００１３】
図３のモニタシステムによって、電子機器１内部のある内容が外部モニタ２´によってリアルタイムにモニタできる。図４は、上述の図３と同様のマイコン６の内部を示している。マイコン６は、ＲＡＭ２８を有しており、このＲＡＭ２８内にヒューマンインターフェース２３およびメカ制御ブロック２４のそれぞれに対する制御情報が格納されている。Ｉ／Ｏ回路２１内およびＲＡＭ２８内のデータを外部通信制御回路５ｂが取り込むことが可能とされている。従って、これらのデータの中で指示されたものが外部通信制御回路５ｂ、外部バス３を介して外部モニタ２´に送信される。
【００１４】
この発明の他の実施例について以下に説明する。図５は、他の実施例のシステムの全体を示す。電子機器としてのＶＴＲ１ａと周辺機器２ａとが規格化されている通信フォーマット３ａによって結合される。ＶＴＲ１ａは、電子機器１の一例であり、周辺機器２ａは、検査治具２あるいは外部モニタ２’の一例である。通信フォーマット３ａは、外部バス３の一例である。
【００１５】
通信フォーマット３ａは、双方向の周期的な通信フォーマットであり、周辺機器２ａから出力されるＶＴＲ１ａに対する制御データと、ＶＴＲ１ａから周辺機器２ａへ出力されるＶＴＲ１ａの内部状態を表すデータとからなる。
制御データとしては、ＶＴＲ１ａの通常動作に関するデータのほかに、ＶＴＲ１ａの内部処理を検査するためのデータと、ＶＴＲ１ａのモニタしたい内部のブロックを指定するデータと、ＶＴＲ１ａをモニタ状態に指定するデータが含まれる。
【００１６】
内部状態を表すデータとしては、ＶＴＲ１ａの通常動作に関するデータのほかに、制御データにより指定されたＶＴＲ１ａのモニタしたい内部のブロックのデータが含まれる。
周辺機器２ａは、ＶＴＲ１ａをモニタ状態に指定するデータをＶＴＲ１ａに送信し続ければ、それ以前にＶＴＲ１ａに指定したデータがＶＴＲ１ａから受信し続けられる。（電源投入後、データの指定無くモニタ状態となったときは、システムで取り決めたデータが出力される。）
【００１７】
ＥＥＰＲＯＭ１３は、ＶＴＲ１ａの内部処理を検査するためのデータを保存しておくためのものである。通信フォーマット３ａにより入力した検査データは、その内で電源を切った後にも保存しておきたいデータのみがＥＥＰＲＯＭ１３に書き込まれる。その後、電源が切れ再び電源が入れられたときに、マイコン１２はＥＥＰＲＯＭ１３に書き込まれた検査データを読み出し、ＶＴＲ１ａの内部処理を検査する。
【００１８】
以上により、ＶＴＲ１ａの内部処理の検査と、ＶＴＲ１ａの内部状態の確認ができる。
【００１９】
図５のＶＴＲ１ａ内には、通信フォーマット３ａに対応するマイコン１２、電源オフ後も、記憶しておきたいデータを格納するためのＥＥＰＲＯＭ１３、検査やモニタの対象となる回路１４が含まれる。マイコン１２には、ＥＥＰＲＯＭ１３を管理するマイコン、検査データに基づいて例えばＲＯＭを検査するためのマイコン、検査データの使用の可否を判断するマイコンが含まれる。周辺機器２ａは、検査やモニタ用の、また、仮想空間アクセス用のコマンドが出せる等の機能を有している。
【００２０】
この実施例では、電子機器であるＶＴＲ１ａの中身を気にせずに外部から検査を行えるようにするために、次のような仮想空間の概念が導入される。
周辺機器２ａは、通信フォーマット３ａでＶＴＲ１ａ本体内の仮想空間をアクセスする。
ＶＴＲ１ａ本体内の仮想空間には、検査用や内部モニタ用に定義されたデータが配置される。例えばカメラモードとＶＴＲモードの切り替えスイッチ等が配置される。
仮想空間上のデータの配置は、ページ、カテゴリー、アドレスという概念で定義される。例えばカメラモードとＶＴＲモードの切り替えスイッチは、ページ０／カテゴリー０／アドレス０で定義される。
仮想空間上の各アドレスは、８ビット分のデータで構成される。
【００２１】
ＶＴＲ１ａ内の仮想空間の配置は、ページ、カテゴリー、アドレスを用いて階層構造とされている。但し、カテゴリー構造をとらないページもある。図６は、構造化された仮想空間の一例を示すものである。なお、仮想空間は、全領域を使用する必要がなく、使用目的が定義されていないアドレスも存在する。ページ・カテゴリー・アドレスの各データは、周辺機器２ａからＶＴＲ１ａに出力される制御データにより設定される。
【００２２】
通信フォーマット３ａを用いた検査やモニタのシステムは、仮想空間上に機能を定義し、通信フォーマット３ａを介してデータをモニタしたり、変更したりしながら、検査を行う。仮想空間上に配置されるデータとしては、マイコン１２が処理できるものが定義され、マイコン１２のマスクＲＯＭやＲＡＭやＩ／Ｏエリアや、マイコン１２が制御しているＥＥＰＲＯＭの内容である。
【００２３】
ＶＴＲ１ａの内部処理を検査するためのデータも、仮想空間上に配置される。ＶＴＲ１ａの内部処理の検査と、ＶＴＲ１ａの内部状態の確認をするための通信フォーマット３ａのデータ構成の一例はつぎのようなものになる。
【００２４】
周辺機器２ａからＶＴＲ１ａに出力されるＶＴＲ１ａの内部処理を検査するためのデータは、仮想空間上のデータ配置を示すデータや、そこに書き込むべきデータや、書き込みを指示するコマンドから構成される。
周辺機器２ａからＶＴＲ１ａに出力されるＶＴＲ１ａのモニタしたい内部のブロックを指定するためのデータは、モニタしたい内部状態の仮想空間上のデータ配置を示すデータや、モニタ状態を指示するコマンドから構成される。
周辺機器２ａからＶＴＲ１ａに出力されるＶＴＲ１ａをモニタ状態に指定するデータは、モニタ状態を指示するコマンドから構成される。
ＶＴＲ１ａから周辺機器２ａに出力されるＶＴＲ１ａの内部モニタデータは、現在モニタしているＶＴＲ１ａの機能の仮想空間上のデータ配置を示すデータや、その機能の現在データとから構成される。
【００２５】
通信フォーマット３ａに対応するマイコン１２の処理としては、例えば次のようなことが行われる。
周辺機器２ａからＶＴＲ１ａに出力された、仮想空間上のデータ配置を示すデータとそこに書き込むべきデータと書き込みを指示するコマンドをデコードすると、仮想空間上のデータ配置からＥＥＰＲＯＭ１３に書き込むべきデータであることを判断し、ＥＥＰＲＯＭ１３への書き込みを実行する。その後、電源が切れ再び電源が入れられたときに、マイコン１２はＥＥＰＲＯＭ１３に書き込まれた検査データを読み出し、ＶＴＲ１ａの内部処理を検査する。尚、ＥＥＰＲＯＭ１３に書き込まれた時点では、まだ内部処理への検査は行われない。
【００２６】
ＶＴＲ１ａの内部処理の検査データのデータ構成の一例を表１に示す。
【表１】

【００２７】
検査データの総容量を示すデータ、検査すべきブロックを制御しているマイコンを示すデータ、検査内容を示すデータ、エラーチェックデータが配置される。この実施例では、検査制御ブロックとしては、ＶＴＲ１ａ内に含まれる複数のマイコンの少なくとも１つを想定している。また、ＶＴＲ１ａが複数の検査を行うことも想定される。
【００２８】
エラーチェックデータによって、ＥＥＰＲＯＭ１３上に書き込んだ検査データが破壊されていないかがチェックされ、また、ＥＥＰＲＯＭ１３からそのデータを使用するマイコンまでの伝送路上で、検査データが破壊されなかったかがチェックされる。
【００２９】
ＥＥＰＲＯＭ１３に書き込まれた検査データは、電源が切れ再び電源が入れられたときに、検査すべきブロックを制御しているマイコンに検査データの総容量を示すデータが伝送され、更に、データ破壊が無いと判断されたときに内部処理への検査が可能となる。尚、この実施例では検査データ作成時のミスによる問題を回避するために、マイコンが検査処理を行わないように制御することを可能としている。例えば、電源投入直後に通信フォーマット３ａにより、ＶＴＲ１ａをモニタ状態に指定された場合は、検査処理を行わないようにするなどである。
【００３０】
検査システムのより具体的な例は、システムコントローラのマイコンのＲＯＭに量産後に発見されたバグの検査である。かかるＲＯＭには、搭載される電子機器を制御するためのプログラムやデータ等の情報がファームウェアの形式で固定的に格納される。ファームウェアの品質については、プログラムの構造化や、種々のチェックにより量産後にバグが発生しないように努力される。しかしなから、若し、量産後にバグが発見されると、その検査のためには、多大な労力が必要である。上述のこの発明は、この場合に、検査データを一度与えるだけで、バグの検査が可能とできる。
【００３１】
ＲＯＭのバグの検査のためには、検査内容を示すデータとして、ＲＯＭにおける検査部分のアドレスまたはスタートアドレス（すなわち、検査アドレス）と、検査部分にパッチしたい内容や、パッチ後に復帰するＲＯＭ上のアドレス等（すなわち、検査内容）で構成される。この検査内容を示すデータがＥＥＰＲＯＭに書込まれる。検査アドレスや検査内容は電子機器の内部に検査処理が可能な状態で常駐する。そして、ＲＯＭの検査アドレスが検査内容に変更される。例えば検査レジスタに蓄えられている検査内容が検査アドレスに関して、ＲＯＭの出力の代わりにデータバスに出力される。
【００３２】
【発明の効果】
この発明によれば、双方向に通信可能な外部通信手段（通信フォーマット）が通常動作例えばリモートコントロール用のものと兼用されており、修正のために殊更に外部通信システムを設置する必要がない。さらに、マイクロコンピュータは受信した検査用データおよびモニタ用データを判別して、各々の処理を行うので、マイクロコンピュータの入力／出力を制御するための特別なハードウェアが不要であり、かつ、機器内部に直接触れることを最小限に抑えて機器の検査と機器の内部状態のモニタとの双方を行うことが可能である。従って、この発明は、インサーキットより低いコストで検査システムを構築できる。
【００３３】
また、この発明は、機器の製造後でも、マイクロコンピュータの内部状態を中心とした機器の内部状態が機器を開けることなく、リアルタイムにモニタできる。従って、出荷前の最終チェックや、サービスステーションにおける機器の検査、製造後に発生した不具合の検討等が、機器を分解せずに、通常動作状態で、マイクロコンピュータの内部制御状態までも含めて行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】この発明による検査システムの概略的なブロック図である。
【図２】この発明の検査システムの一実施例のブロック図である。
【図３】この発明によるモニタシステムの概略的なブロック図である。
【図４】この発明のモニタシステムの一実施例のブロック図である。
【図５】この発明の他の実施例のブロック図である。
【図６】電子装置内部の仮想空間の説明のための略線図である。
【符号の説明】
１ａＶＴＲ本体
２ａ周辺機器
３ａ通信フォーマット
１３ＥＥＰＲＯＭ[0001]
[Industrial application fields]
The present invention relates to an electronic equipment such as a VTR whose interior was inspection, or is it possible to monitor.
[0002]
[Prior art]
As a conventional inspection inside an electronic device, a method such as boundary scan is known in a digital IC system. There is also a method of checking the connection of a certain part called an in-circuit tester. Furthermore, when monitoring the internal state of the electronic device, it was necessary to open the case and check with an oscilloscope or the like.
[0003]
[Problems to be solved by the invention]
When the conventional boundary scan method is used, a dedicated input / output is required for the IC, and there is a problem that it can be used only for connection inspection between digital ICs. In-circuit testers are difficult to apply test pins in high-density electronic equipment, and are not suitable for the latest board mounting. Furthermore, when the internal state of an electronic device is monitored, it is necessary to disassemble the device so that the inside can be inspected. However, there is a problem that the contents controlled by the microcomputer can hardly be monitored. In a device in which a microcomputer is responsible for many functions of an electronic device, it is difficult to investigate the cause when a failure occurs.
[0004]
Accordingly, an object of the invention is to minimize that direct contact with the interior equipment, inspection equipment, providing a monitor an electronic equipment of the internal state of the device.
[0005]
[Means for Solving the Problems]
The invention of claim 1 is an external communication means capable of bidirectional communication;
A microcomputer connected to an external communication means;
In an electronic device having a non-volatile memory connected to a microcomputer,
A virtual space defined by the address is built inside, and data indicating the internal state of the microcomputer is arranged as data on the virtual space,
The data received through the external communication means under the control of the microcomputer includes data relating to normal operation of the electronic device, inspection instruction data for inspecting internal processing, and monitor instruction data for monitoring the electronic device. And include
The inspection instruction data includes data indicating the data arrangement in the virtual space and data to be written to the data arrangement.
The monitor instruction data includes first data for designating the electronic device in the monitor state, and second data for designating the internal state of the electronic device to be monitored in the virtual space.
The data transmitted through the external communication means under the control of the microcomputer includes data indicating the internal state specified by the second data,
The microcomputer
When the inspection instruction data is received, it is determined whether the data to be written to the nonvolatile memory from the data indicating the data arrangement in the virtual space included in the inspection instruction data. A part of the inspection instruction data is written in the nonvolatile memory, and after the power is turned on, a part of the inspection instruction data written in the nonvolatile memory is read and an internal process is inspected.
When the monitor instruction data is received, a process of transmitting data indicating the internal state indicated in the virtual space by the second data via the external communication means ,
The electronic device is characterized in that the processing for inspecting the internal processing is not performed when the monitor state is designated by the first data immediately after the power is turned on .
[0006]
[Action]
Inside the electronic device, a virtual space that is hierarchically structured with pages and addresses is constructed, and data of the internal state of the microcomputer defined in advance for each page and each address is arranged. As a result, regardless of the differences in the individual configurations of the electronic apparatus, it is possible to perform inspection and monitoring from the outside in a unified manner.
[0007]
【Example】
The present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 schematically shows the entire inspection system of the present invention. This system comprises an electronic device 1 to be inspected, an inspection jig 1, an external bus 3 between them, and a minimum number of check pins 4. The electronic device 1 and the inspection jig 2 are provided with external

communication control circuits

5a and 5b, respectively. The external communication control circuit 5b is realized as one function of the microcomputer 6 of the electronic device 1. The microcomputer 6 can control the circuit block 7. The external bus 3 may be either wired or wireless.
[0008]
An example of the inspection process inside the microcomputer 6 is shown in FIG. The external communication control circuit 5 b is connected to the I / O circuit 21 of the microcomputer 6 and outputs data input from the key 22 to the external bus 3. The connection between the key 22 and the microcomputer 6 can be inspected by inspecting the port information of the microcomputer appearing on the external bus 3 when the key 22 is pressed or released.
[0009]
Further, the output of the I / O circuit 21 is supplied to the mechanical control block 24 via the human interface 23. The human interface 23 is a circuit for controlling operability. The output of the mechanical control block 24 is applied to the motor 27 via the terminal a of the switch circuit 25 and the motor driver 26. The motor driver 26 and the motor 27 are connected to the inspection jig 2 via the check pin 4. The output of the external communication control circuit 5b is supplied to the terminal b of the switch circuit 25. The switch circuit 25 is controlled by the external communication control circuit 5b.
[0010]
The switch circuit 25 can switch the output to the motor driver 26 to the output of the external communication control circuit 5 b and provide various data through the external bus 3. In this case, the motor driver 26 can be inspected by monitoring the output of the motor driver 26 to the motor 27 with the inspection jig 2 through the check pin 4. The output of the driver 26 can be input to the port of the microcomputer 6 instead of the check pin 4 and monitored by external communication.
[0011]
FIG. 3 schematically shows a monitoring system according to the invention. This system includes an electronic device 1 to be monitored, an external monitor 2 ', and an external bus 3 between them. The electronic device 1 and the external monitor 2 ′ are provided with external

communication control circuits

5a and 5b, respectively. The external communication control circuit 5b is realized as one function of the microcomputer 6 of the electronic device 1.
[0012]
The following data is transmitted and received between the microcomputer 6 of the electronic device 1 and the external monitor 2 '. From the external monitor 2 ', an instruction for the internal data of the equipment to be monitored is sent out as needed. On the other hand, the latest data on the instructed content is periodically output from the electronic device 1. The external monitor 2 ′ constantly outputs information on the device transmitted through the external bus 3 by a method such as displaying it on the display 8.
[0013]
With the monitor system of FIG. 3, the contents inside the electronic device 1 can be monitored in real time by the external monitor 2 ′. FIG. 4 shows the inside of the microcomputer 6 similar to FIG. 3 described above. The microcomputer 6 has a RAM 28 in which control information for each of the human interface 23 and the mechanical control block 24 is stored. Data in the I / O circuit 21 and RAM 28 can be taken in by the external communication control circuit 5b. Accordingly, what is instructed among these data is transmitted to the external monitor 2 ′ via the external communication control circuit 5 b and the external bus 3.
[0014]
Another embodiment of the present invention will be described below. FIG. 5 shows the entire system of another embodiment. The VTR 1a as an electronic device and the peripheral device 2a are coupled by a standardized communication format 3a. The VTR 1a is an example of the electronic device 1, and the peripheral device 2a is an example of the inspection jig 2 or the external monitor 2 ′. The communication format 3a is an example of the external bus 3 .
[0015]
The communication format 3a is a bidirectional periodic communication format, and includes control data for the VTR 1a output from the peripheral device 2a and data representing the internal state of the VTR 1a output from the VTR 1a to the peripheral device 2a.
The control data includes, in addition to data related to the normal operation of the VTR 1a, data for inspecting the internal processing of the VTR 1a, data for designating an internal block to be monitored by the VTR 1a, and data for designating the VTR 1a to be in a monitoring state. It is.
[0016]
The data representing the internal state includes, in addition to data related to the normal operation of the VTR 1a, data of an internal block to be monitored by the VTR 1a designated by the control data.
If the peripheral device 2a continues to transmit data specifying the VTR 1a to the monitor state to the VTR 1a, the data specified to the VTR 1a before that is continuously received from the VTR 1a. (After the power is turned on, when the monitor status is entered without specifying data, the data decided by the system is output.)
[0017]
The EEPROM 13 is for storing data for inspecting the internal processing of the VTR 1a. As for the inspection data input by the communication format 3a, only the data to be stored after the power is turned off is written in the EEPROM 13. Thereafter, when the power is turned off and the power is turned on again, the microcomputer 12 reads the inspection data written in the EEPROM 13 and inspects the internal processing of the VTR 1a.
[0018]
Thus, inspection and internal processing of VTR1a, Ru to check the internal state of VTR1a.
[0019]
The VTR 1a in FIG. 5 includes a microcomputer 12 corresponding to the communication format 3a, an EEPROM 13 for storing data to be stored even after the power is turned off, and a circuit 14 to be inspected and monitored. The microcomputer 12 includes a microcomputer that manages the EEPROM 13, a microcomputer for inspecting the ROM, for example, based on the inspection data, and a microcomputer that determines whether the inspection data can be used. The peripheral device 2a has a function of issuing commands for inspection and monitoring, and for accessing the virtual space.
[0020]
In this embodiment, the following concept of the virtual space is introduced in order to allow inspection from the outside without worrying about the contents of the VTR 1a which is an electronic device.
The peripheral device 2a accesses the virtual space in the VTR 1a main body with the communication format 3a.
In the virtual space in the VTR 1a main body, data defined for inspection and internal monitoring are arranged. For example, a switch between a camera mode and a VTR mode is arranged.
The arrangement of data in the virtual space is defined by the concept of pages, categories, and addresses. For example, the switch between the camera mode and the VTR mode is defined by page 0 / category 0 / address 0.
Each address on the virtual space is composed of 8-bit data.
[0021]
The arrangement of the virtual space in the VTR 1a is a hierarchical structure using pages, categories, and addresses. However, some pages do not have a category structure. FIG. 6 shows an example of a structured virtual space. The virtual space does not need to use the entire area, and there is an address for which the purpose of use is not defined. The page category address data is set by control data output from the peripheral device 2a to the VTR 1a.
[0022]
The inspection and monitoring system using the communication format 3a defines functions in a virtual space, and performs inspection while monitoring or changing data via the communication format 3a. Data that can be processed by the microcomputer 12 is defined as data arranged in the virtual space, and includes the mask ROM, RAM, I / O area of the microcomputer 12, and the contents of the EEPROM controlled by the microcomputer 12.
[0023]
Data for inspecting the internal processing of the VTR 1a is also arranged in the virtual space. An example of the data structure of the communication format 3a for checking the internal processing of the VTR 1a and confirming the internal state of the VTR 1a is as follows.
[0024]
The data for inspecting the internal processing of the VTR 1a output from the peripheral device 2a to the VTR 1a includes data indicating the data arrangement in the virtual space, data to be written therein, and a command instructing writing.
Data for designating an internal block to be monitored of the VTR 1a output from the peripheral device 2a to the VTR 1a is composed of data indicating the data arrangement in the virtual space of the internal state to be monitored and a command for instructing the monitor state. .
Data specifying the monitor state of the VTR 1a output from the peripheral device 2a to the VTR 1a includes a command for instructing the monitor state.
The internal monitor data of the VTR 1a output from the VTR 1a to the peripheral device 2a is composed of data indicating the data arrangement in the virtual space of the function of the VTR 1a currently monitored and the current data of the function.
[0025]
As the processing of the microcomputer 12 corresponding to the communication format 3a, for example, the following is performed.
When the data indicating the data arrangement in the virtual space, the data to be written in the virtual space, and the command instructing the writing, which are output from the peripheral device 2a to the VTR 1a, are decoded, the data is to be written to the EEPROM 13 from the data arrangement in the virtual space. And writing to the EEPROM 13 is executed. Thereafter, when the power is turned off and the power is turned on again, the microcomputer 12 reads the inspection data written in the EEPROM 13 and inspects the internal processing of the VTR 1a. Note that when the data is written in the EEPROM 13, the internal processing is not yet inspected.
[0026]
An example of the data structure of the inspection data of the internal processing of the VTR 1a is shown in Table 1.
[Table 1]

[0027]
Data indicating the total capacity of inspection data, data indicating a microcomputer controlling a block to be inspected, data indicating inspection contents, and error check data are arranged. In this embodiment, the inspection control block is assumed to be at least one of a plurality of microcomputers included in the VTR 1a. It is also assumed that the VTR 1a performs a plurality of inspections.
[0028]
Based on the error check data, it is checked whether the inspection data written on the EEPROM 13 is destroyed or not, and whether the inspection data is destroyed on the transmission path from the EEPROM 13 to the microcomputer using the data is checked.
[0029]
The inspection data written in the EEPROM 13 is transmitted to the microcomputer controlling the block to be inspected when the power is turned off and turned on again, and there is no data destruction. When it is determined that the internal processing is inspected. In this embodiment, the microcomputer can be controlled so as not to perform the inspection process in order to avoid a problem due to an error in creating the inspection data. For example, when the VTR 1a is designated in the monitor state by the communication format 3a immediately after the power is turned on, the inspection process is not performed.
[0030]
A more specific example of the inspection system is inspection of bugs discovered after mass production in the ROM of the system controller microcomputer. In such a ROM, information such as a program and data for controlling the mounted electronic device is fixedly stored in the form of firmware. Regarding the quality of firmware, efforts are made to prevent bugs after mass production by structuring the program and various checks. However, if a bug is discovered after mass production, a great deal of labor is required for the inspection. In this case, the present invention described above can inspect a bug by providing inspection data once.
[0031]
In order to inspect a ROM bug, as data indicating the inspection content, the address or start address (that is, the inspection address) of the inspection portion in the ROM, the content to be patched to the inspection portion, and the address on the ROM that is restored after the patch Etc. (that is, inspection contents). Data indicating the inspection contents is written into the EEPROM. The inspection address and inspection contents are resident in the electronic device in a state where inspection processing is possible. Then, the inspection address of the ROM is changed to the inspection content. For example, the test contents stored in the test register are output to the data bus instead of the ROM output with respect to the test address.
[0032]
【The invention's effect】
According to the present invention, the external communication means (communication format) capable of bidirectional communication is also used for normal operation, for example, for remote control, and it is not necessary to install an external communication system particularly for correction. Further, the microcomputer to determine the inspection data and monitor data received, since the respective processing, Ri special hardware required der for controlling input / output of the microcomputer, and equipment It is possible to perform both the inspection of the device and the monitoring of the internal state of the device while minimizing direct contact with the inside. Therefore, the present invention can construct an inspection system at a lower cost than in-circuit.
[0033]
Further, according to the present invention, even after the device is manufactured, the internal state of the device centering on the internal state of the microcomputer can be monitored in real time without opening the device. Therefore, the final check before shipment, inspection of equipment at the service station, examination of defects that occur after manufacturing, etc. should be performed in the normal operating state, including the internal control state of the microcomputer, without disassembling the equipment. Can do.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a schematic block diagram of an inspection system according to the present invention.
FIG. 2 is a block diagram of an embodiment of the inspection system of the present invention.
FIG. 3 is a schematic block diagram of a monitor system according to the present invention.
FIG. 4 is a block diagram of an embodiment of the monitor system of the present invention.
FIG. 5 is a block diagram of another embodiment of the present invention.
FIG. 6 is a schematic diagram for explaining a virtual space inside the electronic apparatus.
[Explanation of symbols]
1a VTR body 2a peripheral device 3a communication format 13 EEPROM

Claims

An external communication means capable of bidirectional communication;
A microcomputer connected to the external communication means;
In an electronic device having a nonvolatile memory connected to the microcomputer,
A virtual space defined by an address is built inside, and data indicating the internal state of the microcomputer is arranged as data on the virtual space,
Data received through the external communication means under the control of the microcomputer includes data related to normal operation of the electronic device, inspection instruction data for inspecting internal processing, and a monitor for monitoring the electronic device. Including instruction data,
The inspection instruction data includes data indicating the data arrangement in the virtual space and data to be written to the data arrangement.
The monitor instruction data includes first data for designating the electronic device in the monitor state and second data for designating the internal state of the electronic device to be monitored on the virtual space.
The data transmitted through the external communication means under the control of the microcomputer includes data indicating the internal state designated by the second data,
The microcomputer is
When the inspection instruction data is received, it is determined whether the data to be written to the nonvolatile memory from the data indicating the data arrangement in the virtual space included in the inspection instruction data, and is determined to be the data to be written. In this case, a part of the inspection instruction data is written in the nonvolatile memory, and a part of the inspection instruction data written in the nonvolatile memory is read after power-on to inspect an internal process.
When the monitor instruction data is received, a process of transmitting the data indicating the internal state instructed on the virtual space by the second data via the external communication unit ,
The electronic apparatus according to claim 1, wherein when the monitor state is designated by the first data immediately after the power is turned on, the process for inspecting the internal process is not performed .

2. The electronic apparatus according to claim 1, wherein the monitor instruction data is periodically transmitted through the external communication unit under the control of the microcomputer.