JP3715206B2 - 干渉計光回路製造方法 - Google Patents

干渉計光回路製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP3715206B2
JP3715206B2 JP2001015575A JP2001015575A JP3715206B2 JP 3715206 B2 JP3715206 B2 JP 3715206B2 JP 2001015575 A JP2001015575 A JP 2001015575A JP 2001015575 A JP2001015575 A JP 2001015575A JP 3715206 B2 JP3715206 B2 JP 3715206B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
waveguide
optical
optical circuit
interferometer
refractive index
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP2001015575A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2002221631A (ja
Inventor
隆司 郷
淳 阿部
靖之 井上
将之 奥野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Telegraph and Telephone Corp filed Critical Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority to JP2001015575A priority Critical patent/JP3715206B2/ja
Publication of JP2002221631A publication Critical patent/JP2002221631A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3715206B2 publication Critical patent/JP3715206B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Optical Integrated Circuits (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、干渉計光回路製造方法に関する。詳しくは、光通信分野で用いる平面光波回路型の干渉計に関するものであり、更に詳細には、光路長(位相)が恒久的に調整された干渉計及びその偏光無依存な調整方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
基板上に作製される単一モード導波路を用いた光回路は集積性・量産性に優れると云った特徴を持ち、経済的な光ネットワークノード構築する上で必要不可欠な部品である。
特にSiO2を主成分とした石英系導波路を用いた光回路は、低損失であり、石英系光ファイバーとの親和性に優れ、また、長期安定性に優れるなどの特徴を持っており、アレイ導波路格子合分波器に代表される数多くの光部品が実用化され、商用システムで使用されるに至っている。
【0003】
これら光部品は、例えば、火炎堆積法(FHD)や化学気相堆積法(CVD)などのガラス膜堆積技術と反応性イオンエッチング法(RIE)などの微細加工技術を組み合わせて作製される。
具体的には、シリコンウェハー等の基板上に下部クラッド層となるガラス膜を堆積し、引き続き、屈折率がクラッド層よりもやや高いコア層を堆積する。
そして、光回路となるコアパターンを微細加工技術によりパターン化し、最後に上部クラッド層となるガラス膜を堆積する事で、埋め込み型の光導波路から成る光回路が作製される。
【0004】
このような製法で作製される光回路は、作製誤差により導波路の実効屈折率がウェハー面内において微妙にばらついているため、十分な光回路特性を得るためには、光回路個別に且つ回路の局所別に導波路の実効屈折率を調整する必要がある。
従来の局所的な導波路の実効屈折率調整技術の例としては、アモルファスシリコン薄膜による応力付与膜を用いる方法(特開平1−77002号)や局所加熱トリミング法(例えば、特開平3−267902号)などがある。
【0005】
アモルファスシリコン薄膜を用いる方法は、アモルファスシリコン薄膜を導波路上に装荷すると導波路に強い引っ張り応力が入り、ガラスの光弾性効果を介して導波路の実効屈折率が変化する現象を利用しているものである。
アモルファスシリコン薄膜の形状を適切に選ぶと、偏光に無依存な屈折率変化を得ることができる。
また、このアモルファスシリコン薄膜はArレーザー等により除去する事が可能なので、装荷されている長さを光回路特性に合わせて微調整することで導波路の実効屈折率を調整することができる。
【0006】
一方、局所加熱トリミング法は、導波路上にパターン化された薄膜ヒーターを用いて導波路を局所的に比較的高い電力で加熱処理することにより、恒久的に導波路の実効屈折率を変化させ、光回路の光路長(位相)調整を行うものである。
薄膜ヒーターはフォトマスクを用いた微細加工技術で形成するため、加熱時に高精度の位置あわせは不要であり単に所定の薄膜ヒーターに通電を行うだけでよい。
よって、調整作業は比較的簡易な装置で行うことが出来、また自動化も比較的容易である。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、これらの実効屈折率調整方法には以下のような問題があった。
アモルファスシリコン応力付与膜を用いた方法はレーザーを用いて最終調整を行っており、数10μmの精度でレーザー照射の位置あわせを行う必要がある。
そのため装置が複雑化し高価になると云った問題がある。
また、局所加熱トリミング法は、条件によっては屈折率の変化に偏光依存性が生じてしまうなど、実効屈折率変化の原理や偏光依存性に関しては系統的には未解明であったため、導波路の実効屈折率を完全に制御する方法としては不十分であった。
【0008】
研究所の研究員は、鋭意研究の結果、上記局所加熱トリミング法の原理が局所加熱によって主にヒーターとコアの間のクラッド、特にヒーター直下近接のクラッドが変質し(言い換えれば、クラッド表面近傍の膜質が変質する)、その結果、導波路に応力が加わるためであることを見いだした。
そして、局所加熱領域の幅Wを調整し応力分布を変えることで、この偏光依存性をほぼ制御できることを実験的に明らかにした。
具体的には、図2に示すように、局所加熱領域の幅がオーバークラッド表面からコア中心までの距離の約2倍w0付近(±30%)の場合には実効屈折率の変化はほぼ偏光無依存となり、局所加熱領域の幅がこれよりも広い場合はTM偏光の方が、これよりも狭い場合はTE偏光の方が、優勢に屈折率変化する。
【0009】
従って、図1に示すように、オーバークラッドの厚さdに応じて局所加熱領域の幅wをオーバークラッド表面からコア中心までの距離の約2倍w0にして局所加熱処理を行えば、偏光無依存で導波路の実効屈折率を恒久的に調整できる。
尚、図1において、1はシリコン基板、2は導波路コア、3はクラッド層、4は薄膜ヒーター、5は給電配線及び給電パッドである。
加熱処理の手段は上述したように、薄膜ヒーター4による方法が装置コストを考慮すると好ましいが、これに限るものではなく、クラッドを局所的に加熱する手段で有れば良く、例えば、CO2レーザーのような局所的加熱手段であっても構わない。
【0010】
上述したように、コア及びクラッドからなる光導波路において、局所加熱により導波路の屈折率を恒久的に変える事ができるのは、被加熱部分の変成によりコアに応力が加わるためであり、加熱によって変成する領域の幅や、導波路に対する距離や位置を変える事で、TE偏光の屈折率をTM偏光の屈折率に比して大きく変化させたり、その逆にTM偏光の屈折率を大きく変化させたり、または2つの偏光の屈折率を等しく変化させたりすることが可能であると言う新しい知見が得られた。
本発明の光路長調整方法は、上記知見のうち、2つの偏光の屈折率を等しく変化させる方法に関し、加熱処理領域の幅を、光導波路からクラッド表面までの距雛の約2倍としたことを特徴とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決する本発明の請求項1に係る干渉計光回路製造方法は、基板上でクラッド層に屈折率の高いコア部が埋設された i 2 を主成分とする石英系ガラスから成る光導波路を用いて形成される干渉計光回路で、光導波路近傍の局所的な加熱処理による被加熱部分の変成によりコアに応力が加わることにより光導波路の実効屈折率が部分的に恒久的に変化する現象を利用して、この干渉計光回路を構成する光導波路の光路長が調整されている干渉計光回路において、この加熱処理領域の幅が、オーバークラッド表面からコア中心までの距離の1.4〜2.6倍であることを特徴とする。
【0012】
上記課題を解決する本発明の請求項2に係る干渉計光回路製造方法は、請求項1記載の前記局所的な加熱処理が、光導波路上に形成された薄膜ヒーターを用いていることを特徴とする。
【0013】
上記課題を解決する本発明の請求項3に係る干渉計光回路製造方法は、請求項1記載の前記局所的な加熱処理が、クラッドを加熱するレーザー照射を用いていることを特徴とする。
【0015】
上記課題を解決する本発明の請求項に係る干渉計光回路製造方法は、請求項1,2又は3記載の前記基板が、シリコン基板であることを特徴とする。
【0016】
上記課題を解決する本発明の請求項に係る干渉計光回路製造方法は、請求項1,2,3又は4記載の前記干渉計光回路が、2つの2×2光カプラーとこれら光カプラを接続する2本の導波路アームからなり、少なくとも一方の導波路アームに位相シフターが備えられていることを特徴とする。
【0017】
〔作用〕
クラッドの厚さは光回路の仕様によって様々であるが、いかなる厚さ条件においても、局所加熱領域の幅wをオーバークラッド表面からコア中心までの距離dの約2倍w0付近(±30%)とすることで、局所加熱トリミングによる実効屈折率の変化をほぼ偏光無依存とする事ができる。
また、特に、薄膜ヒーターを用いて局所加熱トリミングを行うことにより、調整作業は比較的簡易な装置で行うことが出来る。
【0018】
【発明の実施の形態】
以下、具体的な実施例を用いて本発明を説明する。
尚、以下の実施例では、シリコン基板上に作製された石英系の単一モード光導波路を用いた構成としているが、これは冒頭述べたように、石英系の導波路が極めて低損失で長期安定性に優れ、通信用石英ファイバーとの親和性に優れているためである。
しかしながら、本発明は、クラッドの局所加熱による応力制御が可能なすべての材料に適用可能であることは明白であり、例えば、基板材料として石英基板やサファイヤ基板など、また光導波路として多成分ガラスや高分子材料、ニオブ酸リチウムなど、他の材料の組み合わせても構わないことは勿論である。
【0019】
〔実施例1〕
本発明の第一の実施例である熱光学スイッチの構成例を図3に示す。
図3(a)は平面図、図3(b)は同図(a)における線分B−B′に沿った断面図である。
図3に示すように、この熱光学スイッチは、シリコン基板1上にクラッド層3を形成すると共にクラッド層3上に2個の50%光結合器(3dBカプラー)7を配置し、更に、クラッド3中に二つの導波路コア2a,2bを、これら3dBカプラー7を結ぶ等光路長の2本の導波路アームとして、また、入出力導波路端11a,11b,12a,12bと3dBカプラー7を結ぶ入出力導波路として埋設されたMZI干渉計を基本的な構成としている。
【0020】
そして、局所加熱手段として、幅30μm(≒w0:オーバークラッド表面からコア中心までの距離の約2倍)、長さ5mmの薄膜ヒーター(これは熱光学位相シフターも兼ねている)41a,41bを両側の導波路アームに備えている。
また、2本の導波路アームのアーム長は約15mmでアーム長差は0とし、導波路アーム間隔は200μmとした。
この実施例の熱光学スイッチは、厚さ1mm直径4インチのシリコン基板1上に公知の従来技術を用いて作製した。
【0021】
石英系導波路はSiCl4やGeCl4などの原料ガスの加水分解反応を利用した火炎加水分解反応堆積技術による石英系ガラス膜の堆積技術と反応性イオンエッチング技術の組み合わせにより作製し、局所加熱用の薄膜ヒータは真空蒸着法及びエッチングにより作製した。
コアの断面寸法は6μm角であり、コアは約40μmのクラッドに取り囲まれ、クラッド上部表面から15μmの位置にコア中心がある。
コアとクラッド間の比屈折率差は0.75%である。
【0022】
このウェハーをダイシングにより切り出してセラミック基板に固定し、入出力導波路端11a,11b,12a,12bにはシングルモードファイバーを接続し、各薄膜ヒータ4には給電配線及び給電パッド5を介して給電リードを接続し、熱光学スイッチモジュールとした。
この熱光学スイッチは、導波路アームの光路長差が(TE偏光とTM偏光共に)0に設計されているので、入力ポートである入出力導波路端11bに入射された光はクロスポートである入出力導波路端12aへ導波する(OFF状態)。
薄膜ヒーター41a,41bに通電し、熱光学効果により導波路アームにλ/2の位相差を与えると、入力ポートである入出力導波路端11bに入射された光はバーポートである入出力導波路端12bへ導波し、スイッチ動作する(ON状態)。
【0023】
このような光回路は作製誤差により光路長差は設計値とずれるのが普通であるので、何らかの位相調整を行い光路長差を設計値に合わせることが必要となる。
一般に、光スイッチではスイッチ動作等において偏光依存性が無い特性を持つことが好ましいので、局所加熱処理によって光路長を調整する場合は、出来るだけ偏光依存性の少ない光路長調整手段で調整を行うことが望ましい。
今回の回路では幅W0の薄膜ヒーター41a,41bを用いているので、ほぼ偏光無依存の屈折率調整が可能である。
【0024】
薄膜ヒーター41a,41bを熱光学位相シフターとして用いて、光路長ずれを想定したところ、光路長差(=上側アームー下側アーム)はΔL(0)=−0.1・λ/2(λ:波長)であった。
従って、長さ5mmの局所加熱領域で必要な屈折率変化は1.6×10-5となる。
この屈折率変化が得られるよう、薄膜ヒーター41bに6Wの電力を数秒間ずつ数回に分けて加え、その都度ΔLの変化を見ながら局所加熱処理を行った。
その結果、合計14秒間加えたところ、恒久的にTE偏光、TM偏光共にΔL=0となり、OFF状態で微調整バイアス電力を加えることなしに、何れの偏光状態においても挿入損失1dB程度、スイッチ消光比は30dB程度の十分な特性となった。
【0025】
今回の調整では正確を期するために加熱時間を分割して局所加熱処理を行い、ΔLの変化に合わせて総加熱時間を調節したが、ある程度の誤差を許せば一回の時間にまとめて加熱処理を行っても良い。
また、今回の熱光学スイッチでは、3dBカプラーに二本の導波路を数μmまで近接して構成される方向性結合器を用いた。
これは方向性結合器が他の手段に比べて挿入損失が低いためである。
しかしながら、3dBカプラーはこの構成に限定されるものではなく、他の手段、例えばマルチモード導波路を用いたマルチモード干渉計(MMI)カプラーやこれらカプラーを複数個従属接続して構成される波長無依存カプラー(WINC)などであってももちろん良い。
【0026】
[実施例2]
第二の実施例として、コアとクラッド間の比屈折率差が0.3%でコア寸法が9μmの導波路を用いた熱光学スイッチを作製した。
基本的な構成は第一の実施例と同じであるが、主要な相違点は、コアは約50μmのクラッドに取り囲まれ、クラッド上部表面から20μmの位置にコア中心がある点と、局所加熱手段の薄膜ヒーターの幅が40μmである点である。
この実施例の熱光学スイッチも第一の実施例と同様な方法で作製されモジュール化されている。
【0027】
薄膜ヒーター41aと41bを熱光学位相シフターとして用いて、光路長ずれを想定したところ、光路長差(=上側アーム−下側アーム)はΔL(0)=−0.1・λ/2(λ:波長)であったので、長さ5mmの局所加熱領域で必要な屈折率変化は1.6×10-5となる。
この屈折率変化が得られるよう、薄膜ヒーター41bに6.5Wの電力を数秒間ずつ数回に分けて加え、その都度ΔLの変化を見ながら局所加熱処理を行った。
その結果、合計23秒間加えたところ、恒久的にTE偏光、TM偏光共にΔL=0となり、OFF状態で微調整バイアス電力を加えることなしに、何れの偏光状態においても挿入損失1dB程度、スイッチ消光比は30dB程度の十分な特性となった。
【0028】
今回の実施例でも、局所加熱領域の幅Wをオーバークラッド表面からコア中心までの距離dの約2倍w0とすることで、ほぼ偏光無依存で光路長調整を行うことができた。
以上に述べた実施例では、光路長差が0のマッハツェンダー干渉計型光スイッチに本発明を適用したが、本発明はこれに限定されるものではなく、例えば、導波路アームに所望の光路長差を設けたマッハツェンダー干渉計フィルターや、マイケルソン干渉計フィルター、ファブリペロー干渉計フィルター、リング干渉計フィルター等の干渉計回路の光路長調整や、マッハツェンダー干渉計を多段に接続されているラティス型フィルターや、多光束干渉フィルターであるアレイ導波路格子等にも適用可能であることはもちろんである。
【0029】
また、今回、局所加熱の手段はクラッド上に作製した薄膜ヒーターを用いたが、CO2レーザーを局所的に照射しクラッドを加熱する方法でも同様な効果が得られた。
なお、局所加熱領域の幅は、オーバークラッド表面からコア中心までの距離の2倍±40%程度でもほぼ偏光無依存が達成されるが、2倍±30%程度に抑えることが望ましく、2倍±20%に抑えられれば最も望ましい。
【0030】
【発明の効果】
以上、説明したように、本発明は、局所加熱トリミング法において、局所加熱領域の幅をオーバークラッド表面からコア中心までの距離の約2倍付近(±30%)にすることにより、オーバークラッドの厚みを設計上変更した場合でも、偏光無依存で光路長調整(位相調整)を行うことが可能となった。
その結果、様々な干渉計光回路において高い光学特性をが得ることが出来ようになった。
これら局所加熱処理において、特に薄膜ヒーターを用いることにより局所加熱時に高精度の照射位置合わせなどは不要となり、単に所定の薄膜ヒーターに通電を行うだけ、すなわち、調整作業は比較的簡易な装置で行うことが出来きた。このことは本技術を実用化を図る上で極めて有効である。
また、本発明により熱光学効果等の駆動電力が必要な位相調整を行うことが不要となり、低消費電力な干渉計光回路が実現できた。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の基本構成を示す説明図であり、図1(a)は平面図、図1(b)は同図(a)中のB−B′線断面図である。
【図2】局所加熱処理による恒久的屈折率変化の様子を示したグラフである。
【図3】本発明の実施例としての熱光学スイッチの説明図であり、図3(a)は平面図、図3(b)は同図(a)中のB−B′線断面図である。
【符号の説明】
1 シリコン基板
2,2a,2b 導波路コア
3 クラッド層
4,41a,41b 薄膜ヒーター(局所加熱領域、w≒w0
5 給電配線及び給電パッド
7 50%光結合器(3dBカプラー)
11a,11b,12a,12b 入出力導波路端

Claims (5)

  1. 基板上でクラッド層に屈折率の高いコア部が埋設された i 2 を主成分とする石英系ガラスから成る光導波路を用いて形成される干渉計光回路で、光導波路近傍の局所的な加熱処理による被加熱部分の変成によりコアに応力が加わることにより光導波路の実効屈折率が部分的に恒久的に変化する現象を利用して、この干渉計光回路を構成する光導波路の光路長が調整されている干渉計光回路において、この加熱処理領域の幅が、オーバークラッド表面からコア中心までの距離の1.4〜2.6倍であることを特徴とする干渉計光回路製造方法。
  2. 前記局所的な加熱処理が、光導波路上に形成された薄膜ヒーターを用いていることを特徴とする請求項1記載の干渉計光回路製造方法。
  3. 前記局所的な加熱処理が、クラッドを加熱するレーザー照射を用いていることを特徴とする請求項1記載の干渉計光回路製造方法。
  4. 前記基板が、シリコン基板であることを特徴とする請求項1,2又は3記載の干渉計光回路製造方法。
  5. 前記干渉計光回路が、2つの2×2光カプラーとこれら光カプラを接続する2本の導波路アームからなり、少なくとも一方の導波路アームに位相シフターが備えられていることを特徴とする請求項1,2,3又は4記載の干渉計光回路製造方法。
JP2001015575A 2001-01-24 2001-01-24 干渉計光回路製造方法 Expired - Lifetime JP3715206B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001015575A JP3715206B2 (ja) 2001-01-24 2001-01-24 干渉計光回路製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001015575A JP3715206B2 (ja) 2001-01-24 2001-01-24 干渉計光回路製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2002221631A JP2002221631A (ja) 2002-08-09
JP3715206B2 true JP3715206B2 (ja) 2005-11-09

Family

ID=18882102

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001015575A Expired - Lifetime JP3715206B2 (ja) 2001-01-24 2001-01-24 干渉計光回路製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3715206B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2010140363A1 (ja) 2009-06-02 2010-12-09 日本電信電話株式会社 広帯域干渉計型偏波合成分離器

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4504634B2 (ja) * 2003-06-05 2010-07-14 関西電力株式会社 光パルス列変換装置
JP4774037B2 (ja) * 2007-12-28 2011-09-14 日本電信電話株式会社 導波路型光回路

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2010140363A1 (ja) 2009-06-02 2010-12-09 日本電信電話株式会社 広帯域干渉計型偏波合成分離器

Also Published As

Publication number Publication date
JP2002221631A (ja) 2002-08-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3703013B2 (ja) 干渉計光回路及びその製造方法
Kawachi Silica waveguides on silicon and their application to integrated-optic components
Okuno et al. Birefringence control of silica waveguides on Si and its application to a polarization-beam splitter/switch
US5117470A (en) Guided-wave optical circuit and method for adjusting a characteristic thereof
US6704487B2 (en) Method and system for reducing dn/dt birefringence in a thermo-optic PLC device
US7627203B2 (en) Thermo-optic devices providing thermal recirculation
Takagi et al. Design and fabrication of broad-band silica-based optical waveguide couplers with asymmetric structure
JPH09211240A (ja) 位相調整機能付光導波路及びその作製方法
JP3715206B2 (ja) 干渉計光回路製造方法
JP4267888B2 (ja) 光回路および光回路装置ならびに光回路の製造方法
Miyashita et al. Integrated optical devices based on silica waveguide technologies
JP2003029219A (ja) 平面導波路型可変光減衰器
JP2001264708A (ja) 光導波路付光学装置及びその製造方法
KR20050036404A (ko) 실리카/폴리머 하이브리드 광도파로를 이용한 광소자
JP2625289B2 (ja) 導波型光分岐素子
Takato et al. Silica-based single-mode guided-wave devices
JP3961348B2 (ja) 導波路型光回路の調整方法
Takato et al. Silica-based single-mode waveguides and their applications to integrated-optic devices
JP3573332B2 (ja) 干渉型熱光学光部品
JP3275758B2 (ja) 導波型光回路
JPH0720336A (ja) 光導波路の構造とその製造方法
JP2000171652A (ja) 光導波路型光分岐合波回路
JPH087371Y2 (ja) 方向性結合器デバイス
JP2788977B2 (ja) 導波型光分岐素子
JPS63182608A (ja) 導波形偏光分離素子

Legal Events

Date Code Title Description
A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20050419

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20050616

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20050621

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20050809

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20050824

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 3715206

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080902

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090902

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090902

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100902

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100902

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110902

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120902

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130902

Year of fee payment: 8

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

EXPY Cancellation because of completion of term