JP3700135B2 - ボンディング装置 - Google Patents

ボンディング装置 Download PDF

Info

Publication number
JP3700135B2
JP3700135B2 JP2003108257A JP2003108257A JP3700135B2 JP 3700135 B2 JP3700135 B2 JP 3700135B2 JP 2003108257 A JP2003108257 A JP 2003108257A JP 2003108257 A JP2003108257 A JP 2003108257A JP 3700135 B2 JP3700135 B2 JP 3700135B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
chip
support member
substrate
bonding
contact
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP2003108257A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2004319599A (ja
Inventor
愼一 鈴木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Japan Aviation Electronics Industry Ltd
Original Assignee
Japan Aviation Electronics Industry Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Japan Aviation Electronics Industry Ltd filed Critical Japan Aviation Electronics Industry Ltd
Priority to JP2003108257A priority Critical patent/JP3700135B2/ja
Publication of JP2004319599A publication Critical patent/JP2004319599A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3700135B2 publication Critical patent/JP3700135B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/75Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/81Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a bump connector

Landscapes

  • Wire Bonding (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、半導体チップなどのチップを基板に固着するボンディング装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
図6はこの種のボンディング装置を示す概念図である。リニアモータ5はボンディング装置の筐体29に取り付けてある。リニアモータ5の軸5aは、部材6a,6b,6cでなるリニア軸受けで案内され、上下方向に往復する。ボンディングヘッド18は、リニアモータ5の軸5aの下端に取り付けてあり、半導体チップ等のチップ3を吸着により把持し、基板17にチップ3を接触させ、チップ3を基板17に接合し、1つのチップ3と基板17との接合を終える。ある1つのチップ3と基板17との接合を終えると、そのチップ3の吸着を停止し、次のチップを吸着し、同様に次のチップを基板に接合する。基板17は、台29a上に、位置決めされ、載置されている。ボンディングヘッド18の上下方向の位置は、リニアスケール7により高精度に測定される。ボンディング装置に搭載されている制御装置は、リニアスケール7から出力されるボンディングヘッド18の上下方向の位置をフィードバック信号として受け、リニアスケール7による軸5aの上下方向位置を制御し、ボンディングヘッド18の上下方向の位置を任意に制御する。
【0003】
この種のボンディング装置の一例が特開2000−183114に開示されており、図5はそのボンディング装置におけるボンディングヘッドの断面図である。図において、101は基板(図6における基板17に相当)、105は半導体チップ(図6におけるチップ3に相当)、105aは半導体チップ105の能動端子面、112はボンディングツール、113はヘッドユニット、114はユニット駆動部、115はボンディングステージ(図6における台29aに相当)、116はベース、117は第1のリニアガイド、118はL形のブラケット、118aはL形のブラケット118の垂直部、118bはL形のブラケット118の水平部、119はロードセル、120は第1のスプリング、122はθ軸回転機構、123はL形のスライドプレート、123aはL形のスライドプレート123の垂直部、123bはL形のスライドプレート123の水平部、124はθ軸モータ、125は第2のリニアガイド、126はZ軸ステージ、127は保持板、128は第2のスプリング、129はZ軸モータ、130はボールねじ、131はボールねじナットである。
【0004】
図5のボンディングヘッドは、ボンディングステージ115と、ボンディングツール112と、ヘッドユニット113と、ユニット駆動部114と、加圧力検出手段とを具備してなる。ボンディングステージ115は基板101を保持している。ボンディングツール112は、ヘッドユニット113に弾性的に懸吊されており、半導体チップ105を保持する。ヘッドユニット113はボンディングツール112を支持する。ユニット駆動部114は、ヘッドユニット113を基板101に対し駆動する。加圧力検出手段は、ボンディングツール112に連結され、ボンディングツール112の基板101に対する加圧力を検出する。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
【0006】
図5の従来のボンディング装置には、次のような解決するべき課題がある。
【0007】
ボンディングツール112はロードセル119、吸着機構、ベース116を含んで構成されるので、ボンディングツール112の質量は大きい。このボンディングツール112は、スプリング120により、ヘッドユニット113に弾性的に懸吊されている。ボンディングツール112とスプリング120とでなる複合部材の固有振動周波数が小さくなり、その複合部材は低い周波数で共振を起こしやすくなる。例えば、その複合部材の固有振動周波数が10Hzであるとき、図6のリニアモータ5の動作周波数が10Hzであれば、その複合部材とリニアモータ5とが共振し、ボンディング装置を作動させることができない。そこで、図6のリニアモータ5の動作周波数は複合部材の固有振動周波数より高くすることはできない。このように、複合部材の固有振動周波数の下限が、リニアモータ5の動作周波数の向上の上限となり、リニアモータ5の動作周波数の向上によるボンディング装置の作業性の向上が制限される。
【0008】
また、ロードセル119は、ノイズが大きく、環境温度の影響を受けやすい。そのうえ、図5の従来のボンディングヘッドでは、スプリング120は一定の荷重を加えた状態で使用しなければならないので、ロードセル119には常に荷重が掛かり、微小な荷重の変化を検出するのが難しい。そこで、ロードセル119により半導体チップ105が基板101へ接触したことを検知する接触検知手段とすると、接触感度が十分でなく、過大な圧力が半導体チップ105に加わり、半導体チップ105を破損する虞がある。
【0009】
半導体チップ105が基板101へ接触したことを検知したあとに、超音波や熱により半導体チップ105を基板101へ接合するとき、半導体チップ105へ圧力を加え、半導体チップ105を基板101へ押し付ける。半導体チップ105が非常に薄いなどの理由でその圧力が非常に微小であるとき、ロードセル119によりその圧力を加えると、ロードセル119では圧力の微小な制御ができないために、半導体チップ105を損傷する虞がある。
【0010】
さらに、図5の従来のボンディングヘッドでは、ボンディングツール112は、リニアガイド117で案内されている。そこで、図5のボンディングヘッドでは、半導体チップ105に微小な圧力を加えるために、ボンディングツール112の上下方向の位置を高精度に制御しようとするとき、リニアガイド117における摩擦の影響を受け、ボンディングツール112の上下方向の微妙な位置制御が難しい。
【0011】
そこで、本発明の目的は、チップと基板との接触を高精度に検知でき、チップを基板へ押圧する構造の共振周波数が高く、チップを基板へ押圧する力を高精度に制御できるボンディング装置の提供にある。
【0012】
【課題を解決するための手段】
前述の課題を解決するために本発明は次の手段を提供する。
【0013】
(1)リニアモータで上下移動可能に支持されたボンディングヘッドの吸着部に負圧を発生させ、該負圧により半導体チップなどのチップを支持部材に吸着把持し、該チップを接合するべき基板と該チップとの接触の検知をし、該チップと該基板との接合を該接触の検知の後に行うボンディング装置において、
固定部が前記ボンディングヘッドに固定され、該固定部に磁気結合された可動部が該固定部に対し直線状に移動可能であるボイスコイルモータと、該可動部と固定部との上下方向の相対位置を検知する変位検出器と、該変位検出器の出力で現される該相対位置を利用して、該ボイスコイルモータのコイル電流を制御することにより該可動部の上下方向の位置を制御するサーボ系とを備え、
前記吸着部は、空気を吸引する管の下端部であり、
前記可動部は前記管の外周に摺動し、
前記可動部の下端部は、前記支持部材をなし、
前記支持部材の下端は、前記吸着部の下端より下方に位置する状態にあるときに、該吸着部の負圧により前記チップを支持し、
前記支持部材の下端が前記吸着部の下端より下方に位置する状態にあるときに、該支持部材の下端で支持された前記チップが基板に接触したことを前記コイル電流または前記変位検出器の出力で現される前記相対位置に基づき前記接触の検知をする
ことを特徴とするボンディング装置。
【0014】
(2)前記接触の検知の後に、前記コイル電流を制御することにより、前記支持部材で該チップを該基板に押圧する
ことを特徴とする前記(1)に記載のボンディング装置。
【0015】
(3)前記ボンディングヘッドに超音波加振部が固着してあり、
前記接触の検知の後に、前記コイル電流を制御することにより、前記支持部材の下端を前記吸着部の下端より上方へ引き上げるとともに前記リニアモータの制御により前記吸着部の下端で前記チップを押圧し、前記超音波加振部の超音波振動を前記吸着部を介して該チップに伝え、該チップを前記基板へ接合する
ことを特徴とする前記(1)に記載のボンディング装置。
【0016】
【発明の実施の形態】
次に本発明の実施の形態を挙げ、本発明を一層具体的に説明する。
【0017】
図1は、本発明の一実施の形態のボンディング装置におけるボンディングヘッドを示す模式図である。図2は、その実施の形態のボンディング装置におけるボンディングヘッドを示す断面図である。図3は、図2のボンディングヘッドを示す平面図である。また、図4は、図2のボンディングヘッドを示す分解斜視図である。図において、1はボイスコイルモータ、2は変位検出器、3は半導体チップなどのチップ、4は吸着部、8はマグネット、9はコイル、10はヨーク、11はピックオフプレートa、12はピックオフプレートb、13は板バネ、14は支持部材、15はポールピース、16はサーボアンプ、17は基板、20は超音波発振部、21はホルダリングa、22はホルダリングb、23はネジa、24はスペーサa、25はスペーサb、26はネジb、27はキャピラリ(吸着ノズル)、28はホルダブロック、29aはボンディング装置における基板17載置用の台、Apは押圧力制御信号、J1はフィードバック電圧、J2はコイル電流である。図1乃至図4に示す本実施の形態のボンディングヘッドは、図6の一般的なボンディング装置ではボンディングヘッド18となるものである。
【0018】
図1に示すホルダブロック28は、図6におけるボンディング装置ではリニアモータ5の軸5aの下端に固定される部材であり、図2乃至図4では図示を省いてある。キャピラリ27は中空の管であり、図4によく表れているように、軸に関し対称な形をなすが、図1の模式図では途中で直角に曲がった形に描いてある。キャピラリ27の上端は、ボンディング装置における空気ポンプに連結されている。キャピラリ27では、空気は、下端の開口から管に吸い込まれ、図1に矢印で示すように上方に送られ、上端の開口から吸い出され、空気ポンプへ送られる。キャピラリ27の下端の開口から空気が吸い込まれるので、その開口をチップ3へ近接することにより、チップ3はキャピラリ27の下端に吸い付けられる。このキャピラリ27の下端が吸着部4をなしている。キャピラリ27は、超音波発振部20における部材20aにより、超音波発振部20に固定されている。
【0019】
ボイスコイルモータ1は固定部および可動部でなる。固定部は、マグネット(永久磁石)8、ヨーク10及びポールピース15でなり、磁気回路を構成している。可動部はコイル9及び支持部材14でなる。支持部材14は、キャピラリ27の外側に軸方向(上下方向)に摺動可能に同軸に嵌められ、板バネ13により上下方向に変位可能に保持されている。支持部材14の内側とキャピラリ27の外側との隙間には、グリース30が介在させてある。グリース30は、支持部材14の内側とキャピラリ27の外側間の潤滑およびこの間隙の気密性を提供している。コイル9は、支持部材14に固着されている。
【0020】
コイル9は、流される電流J2に応じた電磁力を固定部の磁気回路との間で受け、支持部材14と一体で上下方向に変位しようとする。支持部材14は、板バネ13に支えられているので、その電磁力と板バネ13の機械的応力とが釣り合う上下方向の位置で停止している。
【0021】
変位検出器2は、ピックオフプレート11及び12を備える静電容量式変位センサである。図4に示すように、ピックオフプレート11はピックオフプレートaでなり、ピックオフプレート12はピックオフプレートb1及びb2でなる。ピックオフプレート11は支持部材14に固定してあり、ピックオフプレート12はヨーク10に固定してある。そこで、固定部を基準とする支持部材14の上下方向位置は、ピックオフプレート11及び12間の静電容量に対応している。
【0022】
サーボアンプ16は、変位検出器2の出力電圧をフィードバック電圧J1として入力し、ボンディング装置の制御部から押圧力制御信号Apを受ける。チップ3が、図1に示すように、支持部材14の下端に吸いつけられているとき、図1乃至4のボンディングヘッドがチップ3に加える押圧力は、チップ3の厚みが一定であるから、支持部材14の下端と基板17との距離に対応する。押圧力制御信号Apは、チップ3へ加えるべき押圧力を現し、ひいては支持部材14の下端と基板17との距離を指定する信号である。さらに、支持部材14の下端と基板17との距離は、支持部材14の上下方向の位置に一義的に対応している。サーボアンプ16は、押圧力制御信号Apで指定される支持部材14の上下方向の位置と、フィードバック電圧J1で表される現在の支持部材14の上下方向の位置との差に相当する電流をコイル電流J2としてコイル9に流し、その差が実質上ゼロになるようにコイル電流J2を制御する。
【0023】
図1に示すように、支持部材14の下端が吸着部4の下端より下方に位置するとき、キャピラリ27で空気が吸い込まれ、吸着部4に負圧が発生すると、空気は支持部材14の下端の開口から吸い込まれ、チップ3は支持部材14の下端に吸い付けられる。グリース30がキャピラリ27の外側と支持部材14の内側との間隙を気密に保持するから、この間隙から空気が漏れ込むことはない。
【0024】
この状態で、リニアモータ5によりボンディングヘッドが下げられると、チップ3は基板17に接触する。チップ3が基板17に接触すると、コイル電流J2は急激に変化するので、このコイル電流J2の変化を検知することにより、チップ3が基板17に接触したことを瞬時に検知できる。チップ3と基板17との接触を瞬時に検知することにより、接触検知信号の受信の入力と同時にリニアモータ5の作動を停止することにより、チップ3に過大な圧力が掛かることを避けることができ、ひいてはチップ3の破損を防止できる。
【0025】
チップ3を基板17に搭載する工程は次のようになる。まず、ボンディングヘッドは、別の機構から供給されるチップ3の位置に移動し、チップ3を吸着する態勢に入る。このとき、支持部材14の下端は吸着部4の下端(キャピラリ27の下端)より僅かに下方に位置させておく。次に、リニアモータ5によりボンディングヘッドを下降させ、チップ3を支持部材14の下端に吸着する。このとき、ボイスコイルモータに必要な力は、キャピラリ27の負圧によるチップ3を吸着する力と、板バネ13の変形に対応する応力と、ボイスコイルモータの可動部の加速度運動にともなう慣性力とである。次に、ボンディングヘッドは、チップ3を搭載するべき基板17の位置まで移動し、チップ3をマウント位置の上方に位置させる。リニアモータ5により、ボンディングヘッドを下降させ、チップ3を基板17に近接させ、チップ3が基板17に接触した瞬間に支持部材14は上方へ押し上げられ、コイル電流J2の急激な変化から、支持部材14、ひいてはチップの微小な変位を検知する。コイル電流J2の変化は、ボンディング装置における接触検知回路で検知する。チップ3と基板17との接触を検知すると、リニアモータの作動を制御し、過大な圧力がチップ3に掛かることを防止する。
【0026】
上述の工程により、チップ3を基板17の所定の位置に接触させた後、超音波接合では、次のようにチップ3を基板17に接合する。サーボモータ16に入力する押圧力制御信号Apにより、コイル電流J2を制御し、支持部材14を上方へ変位させ、支持部材14を吸着部4の下端より僅かに上に位置させ、チップ3を吸着部4で吸着保持する。リニアモータ5により所定の押圧力をチップ3に加え、超音波発振部20により超音波をチップ3に加え、チップ3を基板17に接合する。
【0027】
チップ3を基板17の所定の位置に接触させた後に、熱接合によりチップ3を基板17に接合するときは、次の工程により接合を行う。このときも、超音波接合におけると同様に、支持部材14を上方へ変位させ、支持部材14を吸着部4の下端より僅かに上に位置させ、チップ3を吸着部4で吸着保持し、リニアモータ5により所定の押圧力をチップ3に加える。所定の押圧力をチップ3に加えた状態で、チップ3の下面の半田ボールに熱を加え、チップ3を基板17に接合する。
【0028】
チップ3が極薄いなどの事情で、チップ3の耐圧力が小さいときは、チップ3を基板17の所定の位置に接触させた後、支持部材14を上方へ変位させることなく、支持部材14を吸着部4の下端より僅かに下に位置させたままの状態を維持し、押圧力制御信号Apの制御によりコイル電流J2を大きくし、支持部材14でチップ3に所要の圧力を加え、この小さい押圧力をチップ3に加えた状態でチップ3を基板17に接合する。この工程においてチップ3に加える圧力は、ボイスコイルモータにより発生するものであり、押圧力制御信号Apの制御により任意に設定できるから、非常に高精度に調整できる。この押圧力をチップ3に印加する機構には、リニア軸受などの摩擦を伴う機構を含まない。そこで、このボンディングヘッドでは、非常に微小な押圧力を高精度に容易に制御できる。
【0029】
本実施の形態では、図5に示した従来のボンディング装置におけるボンディングツール112及びスプリング120によりなる複合部材をボンディングヘッドに要しないから、ボンディングヘッドの質量が図5の従来のものに比べ格段に小さい。このことは、本実施の形態におけるボンディングヘッドの共振周波数が図5の従来のボンディングヘッドに比べ格段に大きいことを意味する。したがって、本実施の形態のボンディング装置では、リニアモータ5の動作周波数を従来のボンディング装置のそれより大幅に高くすることができる。そこで、本実施の形態のボンディング装置は、リニアモータ5として高速作動可能なものを採用でき、ボンディング効率を格段に向上できる。
【0030】
以上には、チップ3と基板17との接触をコイル電流J2の変化で検出する例を示したが、チップ3と基板17との接触は変位検出器2の出力のフィードバック電圧J1の急激な変化でも検知できる。フィードバック電圧J1は、チップ3が基板17に接触したとき、支持部材14が上方に変位する際に、コイル電流J2と同期して変動するので、チップ3と基板17との接触はフィードバック電圧J1の変動によっても検知できる。
【0031】
なお、以上に説明した実施の形態では、図面を参照し、具体的に説明したが、本発明がこれらの実施の形態に限定されるのでないことは言うまでもない。例えば、上述の実施の形態では、支持部材14とキャピラリ27との間隙にグリース30を介在させることにより支持部材14とキャピラリ27との間の気密性を保持しているが、グリース30に代えて潤滑油又はOリングを用いてもその気密性は保持できる。
【0032】
【発明の効果】
以上に説明したように、本発明によれば、チップと基板との接触を高精度に検知でき、チップを基板へ押圧する構造の共振周波数が高く、チップを基板へ押圧する力を高精度に制御できるボンディング装置を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施の形態のボンディング装置におけるボンディングヘッドを示す模式図である。
【図2】その実施の形態のボンディング装置におけるボンディングヘッドを示す断面図である。
【図3】図2のボンディングヘッドを示す平面図である。
【図4】図2のボンディングヘッドを示す分解斜視図である。
【図5】従来のボンディング装置におけるボンディングヘッドの断面図である。
【図6】半導体チップなどのチップを基板に固着する一般的なボンディング装置を示す概念図である。
【符号の説明】
1 ボイスコイルモータ
2 変位検出器
3 半導体チップなどのチップ
4 吸着部
8 マグネット
9 コイル
11 ピックオフプレートa
10 ヨーク
12 ピックオフプレートb
13 板バネ
14 支持部材
15 ポールピース
16 サーボアンプ
17 基板
20 超音波発振部
21 ホルダリングa
22 ホルダリングb
23 ネジa
24 スペーサa
25 スペーサb
26 ネジb
27 キャピラリ(吸着ノズル)
28 ホルダブロック
29a ボンディング装置における基板17載置用の台
30 グリース
Ap 押圧力制御信号
J1 フィードバック電圧
J2 コイル電流
101 基板
105 半導体チップ
105a 半導体チップ105の能動端子面
112 ボンディングツール
113 ヘッドユニット、
114 ユニット駆動部
115 ボンディングステージ
116 ベース
117 第1のリニアガイド
118 L形のブラケット
118a L形のブラケット118の垂直部
118b L形のブラケット118の水平部
119 ロードセル
120 第1のスプリング
122 θ軸回転機構
123 L形のスライドプレート
123a L形のスライドプレート123の垂直部
123b L形のスライドプレート123の水平部
124 θ軸モータ
125 第2のリニアガイド
126 Z軸ステージ
127 保持板
128 第2のスプリング
129 Z軸モータ
130 ボールねじ
131 ボールねじナット

Claims (3)

  1. リニアモータで上下移動可能に支持されたボンディングヘッドの吸着部に負圧を発生させ、該負圧により半導体チップなどのチップを支持部材に吸着把持し、該チップを接合するべき基板と該チップとの接触の検知をし、該チップと該基板との接合を該接触の検知の後に行うボンディング装置において、
    固定部が前記ボンディングヘッドに固定され、該固定部に磁気結合された可動部が該固定部に対し直線状に移動可能であるボイスコイルモータと、該可動部と固定部との上下方向の相対位置を検知する変位検出器と、該変位検出器の出力で現される該相対位置を利用して、該ボイスコイルモータのコイル電流を制御することにより該可動部の上下方向の位置を制御するサーボ系とを備え、
    前記吸着部は、空気を吸引する管の下端部であり、
    前記可動部は前記管の外周に摺動し、
    前記可動部の下端部は、前記支持部材をなし、
    前記支持部材の下端は、前記吸着部の下端より下方に位置する状態にあるときに、該吸着部の負圧により前記チップを支持し、
    前記支持部材の下端が前記吸着部の下端より下方に位置する状態にあるときに、該支持部材の下端で支持された前記チップが基板に接触したことを前記コイル電流または前記変位検出器の出力で現される前記相対位置に基づき前記接触の検知をする
    ことを特徴とするボンディング装置。
  2. 前記接触の検知の後に、前記コイル電流を制御することにより、前記支持部材で該チップを該基板に押圧する
    ことを特徴とする請求項1に記載のボンディング装置。
  3. 前記ボンディングヘッドに超音波加振部が固着してあり、
    前記接触の検知の後に、前記コイル電流を制御することにより、前記支持部材の下端を前記吸着部の下端より上方へ引き上げるとともに前記リニアモータの制御により前記吸着部の下端で前記チップを押圧し、前記超音波加振部の超音波振動を前記吸着部を介して該チップに伝え、該チップを前記基板へ接合する
    ことを特徴とする請求項1に記載のボンディング装置。
JP2003108257A 2003-04-11 2003-04-11 ボンディング装置 Expired - Lifetime JP3700135B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003108257A JP3700135B2 (ja) 2003-04-11 2003-04-11 ボンディング装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003108257A JP3700135B2 (ja) 2003-04-11 2003-04-11 ボンディング装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2004319599A JP2004319599A (ja) 2004-11-11
JP3700135B2 true JP3700135B2 (ja) 2005-09-28

Family

ID=33469844

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003108257A Expired - Lifetime JP3700135B2 (ja) 2003-04-11 2003-04-11 ボンディング装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3700135B2 (ja)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100660794B1 (ko) * 2005-12-05 2006-12-22 주식회사 탑 엔지니어링 Vcm을 이용한 휠의 마모 측정장치 및 측정방법
TWI744850B (zh) * 2019-04-15 2021-11-01 日商新川股份有限公司 封裝裝置
CN115206825B (zh) * 2021-04-12 2023-06-09 东莞触点智能装备有限公司 一种芯片贴合的接触确定方法、系统、固晶机及存储介质

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000133995A (ja) * 1998-10-27 2000-05-12 Matsushita Electric Ind Co Ltd 部品装着方法とその装置
JP2002134563A (ja) * 2000-10-25 2002-05-10 Nec Corp 半導体製造装置及び半導体製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP2004319599A (ja) 2004-11-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4884537B2 (ja) 部品実装機、部品装着ヘッド、および部品装着方法
EP1278232B1 (en) Apparatus and method for bond force control
US7325298B2 (en) Pressure apparatus and chip mounter
WO2012002211A1 (ja) チップボンダ
CN113514082B (zh) 微半球谐振陀螺结构装配夹具、装配系统及装配方法
WO2016024364A1 (ja) 実装装置および測定方法
CN1407365A (zh) 将可弯曲支承用于光学机械装置的直线电动机驱动机构
CN102841505A (zh) 一种可精确定位基板的工件台
JP3700135B2 (ja) ボンディング装置
JP4577941B2 (ja) チップ実装方法及びその装置
JP2015112577A (ja) 塗布部材および塗布装置
JP4644481B2 (ja) 電子部品圧着搭載装置
CN110828339A (zh) 一种取料单元及固晶机
JPH0951007A (ja) ダイボンド装置および半導体装置の製造方法
US5775567A (en) Apparatus for wirebonding using a tubular piezoelectric ultrasonic transducer
JP7398191B2 (ja) 部品を装着するボンディングヘッド及び該ボンディングヘッドを備えているダイボンダ
JP4932040B1 (ja) 電子部品組み立て方法、電子部品組み立て装置
JP2008103549A (ja) 部品実装装置
JP2001230594A (ja) 実装機の真空吸着装置
JPH0923098A (ja) 部品装着装置
JP5435006B2 (ja) チップボンダ
JP2006114560A (ja) 電子部品接合装置
JPH09239628A (ja) 自重支持装置
JP2006114557A (ja) X−y移動テーブルおよびそれを備えた電子部品接合装置
WO2004114285A1 (ja) スピンスタンド

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20050314

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20050322

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20050412

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20050510

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20050518

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20050614

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20050629

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090722

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100722

Year of fee payment: 5