JP3688894B2 - 光ピックアップ - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、DVD等の情報記録媒体において、記録情報を記録又は再生すると共に、アドレス情報等の各種制御情報が予め記録されるプリピットを検出する光ピックアップの技術分野に属する。
【0002】
【従来の技術】
最近、記録情報を追記可能なDVD−R(DVD-Recordable)などの情報記録媒体においては、プリフォーマット段階でアドレス情報等の各種制御情報を記録したプリピットを予め形成し、当該情報記録媒体に対する記録又は再生を行うに際し、このプリピットを検出することにより必要な制御情報の取得を行っている。例えば、ガイドトラックとしてのランドトラックに、凹凸形状による位相ピットとしてのプリピットを予め形成し、情報ピットの再生に用いる受光素子を共用してプリピット検出を行っている。
【0003】
ところで、光ピックアップにおいては、光ビームに非点収差を与えるマルチレンズやシリンドリカルレンズのような光学素子を介して受光するよう光学系が構成されることが多い。すなわち、フォーカシングサーボを実現するために、非点収差を積極的に利用してフォーカスエラーを検出する非点収差法が広く採用されているためである。そして、受光素子の検出信号は、このフォーカスエラー検出に加え、RF信号の生成、トラッキングエラー検出、前記プリピット検出など多様な用途に利用されることになる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記従来の光ピックアップでは、受光素子を分割して各分割領域のプッシュプル信号を得てプリピット検出を行うこと多い。そのため、上述のように光ビームに非点収差が与えられると、受光素子における受光パターンが一方向に偏るなどして乱れを生じる。特に、マルチレンズ等による非点収差とその他の光学系で生じる収差が合成されることにより、受光パターンが回転したり、斜めの非点収差が現れるなど、正常な受光パターンが得られなくなる。その結果、プリピット検出の検出精度の劣化につながるという問題がある。
【0005】
そこで、本発明はこのような問題に鑑みなされたものであり、光ビームに非点収差を与える光学素子を用いる場合にも、簡易な構成により良好な検出精度が得られるプリピット検出を行うことが可能な光ピックアップを提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するために、請求項1に記載の光ピックアップは、アドレス情報を含む制御情報を記録するためのランドプリピットが予めランドトラックに形成された情報記録媒体に対し光源から出射された光ビームを照射し、該情報記録媒体から反射された光ビームを受光して記録情報を読み取ると共に、前記ランドプリピットを検出する光ピックアップであって、前記情報記録媒体から反射された光ビームに非点収差を与える光学素子を介して該光ビームを受光する第1受光素子と、前記情報記録媒体から反射された光ビームの一部を、前記非点収差を与える光学素子に入射されるまでの光路中から分離する光ビーム分離手段と、前記光ビーム分離手段により分離された前記光ビームの一部を受光する第2受光素子と、前記第1受光素子の検出信号に基づいて前記記録情報の読み取りを行う読取手段と、前記第2受光素子の検出信号に基づいて前記ランドプリピットを検出するプリピット検出手段とを備えることを特徴とする。
【0007】
この発明によれば、光源から出射された光ビームは、光学系により情報記録媒体に照射され、反射された光ビームが光ビーム分離手段に導かれる。そして、光ビームの一部が分離されて第2受光素子にて受光され、残りの光ビームは、非点収差を付与する光学素子を通過後、第1受光素子にて受光される。プリピット検出手段は、第2受光素子の検出信号に基づいて情報記録媒体に予め形成されたプリピットを検出する。よって、例えばフォーカスエラーの検出用に光ビームに非点収差を付与するシリンドリカルレンズ等の光学素子を配置させる光学系であっても、その光学素子の前で分離した光ビームからプリピット検出を行うようにしたので、非点収差による受光パターンの乱れが少ない状態でプリピットの検出を行うことができ、プリピット検出の性能を劣化させることがなく、精度の高いプリピット検出を行うことができる。
【0008】
請求項2に記載の光ピックアップは、請求項1に記載の光ピックアップにおいて、前記第1受光素子の検出信号に基づいてトラッキングエラー検出及び非点収差法によるフォーカスエラー検出を行うことを特徴とする。
【0009】
この発明によれば、第2受光素子は前記プリピット検出のみに用いるようにし、第1受光素子はそれ以外の記録情報の読み取り、トラッキングエラー検出、フォーカスエラー検出に用いるようにする。よって、プリピット検出に好適な第2受光素子の構造や配置を定めることが可能となり、例えばビーム径の大小を適宜に調整するなど、容易にプリピット検出の性能を高め、調整の自由度を大きくすることができる。
【0010】
請求項3に記載の光ピックアップは、請求項1に記載の光ピックアップにおいて、前記第1受光素子の検出信号に基づいて非点収差法によるフォーカスエラー検出を行うと共に、前記第2受光素子の検出信号に基づいてトラッキングエラー検出を行うことを特徴とする。
【0011】
この発明によれば、第1受光素子は非点収差法によるフォーカスエラー検出のみに用いるようにし、第2受光素子はプリピット検出に加え、記録情報の読み取り、トラッキングエラー検出に用いるようにする。よって、フォーカスエラー検出だけのために非点収差を与える光学素子が配置され、第1受光素子に照射される光量を大きくしなくてもよく、相対的に第2受光素子に照射される光量を大きくすることができる。
【0012】
請求項4に記載の光ピックアップは、請求項2又は請求項3に記載の光ピックアップにおいて、前記トラッキングエラー検出は前記光ビームを回折させて得られた主ビームと複数の副ビームにより行われ、前記第2受光素子は当該複数の副ビームが遮断されて主ビームのみ受光面に照射されることを特徴とする。
【0013】
この発明によれば、光源から出射された光ビームが回折されて主ビームと複数の副ビームが発生し、これによりトラッキングエラー検出が行われると共に、第2受光素子では、主ビームのみ受光面に照射させて複数の副ビームを遮断する構造にする。よって、プリピット検出には不要となる副ビームが照射されないようにして、プリピット検出の性能を確保することができる。
【0016】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の好適な実施の形態を図面に基づいて説明する。
【0017】
図1は、本発明の実施形態に係る光ピックアップの概略構成を示す図である。図1(a)に示す光ピックアップは、光源としての半導体レーザ1、コリメータレンズ2、グレーティング3、整形プリズム4、1/4波長板5、反射プリズム6、対物レンズ7、集光レンズ8、ハーフミラー9、マルチレンズ10、第1受光素子11、第2受光素子12等を備えて構成されている。
【0018】
図1(a)において、半導体レーザ1から出射された光ビームは、コリメータレンズ2を通過して平行光にされ、グレーティング3により回折されてトラッキングサーボ用に主ビームと2つの副ビームに分離される。
【0019】
グレーティング3を通過した光ビームは、整形プリズム4に入射され、反射膜4aを通過して、1/4波長板5に導かれる。この反射膜4aは、光ビームのうち、例えばP偏光の光ビームを100%透過させ、S偏光の光ビームを100%反射させる特性を有する。従って、半導体レーザ1から出射された光ビームをP偏光となるようにすれば出射側と受光側の光路が適切に分離可能となる。
【0020】
反射膜4aを通過した光ビームは、1/4波長板5を介して 反射プリズム6にて、図1(a)の紙面垂直方向に反射する。ここで、図1(b)は、図1(a)の側面図であり、反射プリズム6でほぼ直角に反射している様子がわかる。その後、光ビームは対物レンズ7に導かれ、光ディスク13の情報記録面上に集光されて、ビームスポットを形成する。
【0021】
光ディスク13の情報記録面から反射された光ビームは、再び対物レンズ7を通過して、反射プリズム6にて反射された後、1/4波長板5により偏光面が回転されてS偏光となり、整形プリズム4に導かれる。そして、整形プリズム4の反射膜4aで反射され、集光レンズ8を介してハーフミラー9に導かれる。
【0022】
光ビーム分離手段としてのハーフミラー9は光ビームを2方向に分離する。そして、一方はハーフミラー9を透過して、マルチレンズ10を介して第1受光素子11に導かれ、他方はハーフミラー9で反射され、第2受光素子12に導かれる。なお、ハーフミラー9としては、光ビームの偏光に依存しない無偏光なビームスプリッタを用いることが望ましい。これは、非点収差法によるフォーカスエラー検出を行う際に、光ディスク13の基板複屈折に起因する偏光位相差が生じ、光ビームの強度分布が乱れてデフォーカスが生じるのを防止するためである。
【0023】
マルチレンズ10は、シリンドリカルレンズと凹レンズの機能を併せ持ち、光ビームに非点収差を与えることができるレンズである。なお、マルチレンズ10は、非点収差を発生させる光学部品であればよく、一般的なシリンドリカルレンズを用いたり、更には、非点収差を与えるホログラムパターンを形成したホログラム素子を用いてもよい。
【0024】
第1受光素子11は、ハーフミラー9を通過した光ビームの光量に比例した検出信号を出力し、この検出信号に基づき記録情報が復調される。また、マルチレンズ10により与えられた非点収差を利用した非点収差法によるフォーカスエラー検出が行われる。更に、グレーティング3により発生させた2つの副ビームを用いて3ビーム法によるトラッキングエラー検出が行われる。一方、第2受光素子12は、ハーフミラー9を反射した光ビームの光量に比例した検出信号を出力する。この検出信号に基づき前述のプリピットが検出され、アドレス情報等が抽出される。
【0025】
なお、上述の構成において、前記ハーフミラー9の反射率は、第1受光素子11及び第2受光素子12で必要となるS/N等に応じて適切に設定する必要がある。例えば、50%程度の反射率を有するハーフミラー9を用いることができる。
【0026】
図2は、本実施形態に係る光ピックアップにより、光ディスク13に形成されるプリピットと受光パターンとの関係を説明する図である。図2に示すように、光ディスク13には、情報トラックとしてのグルーブトラック14と、ガイドトラックとしてのランドトラック15が交互に形成されている。そして、グルーブトラック14には図示しない情報ピットが形成されている。一方、ランドトラック15にはアドレス情報等を記録するプリピット16が予め形成され、凹凸形状をなしている。
【0027】
図2に示すように、グルーブトラック14に光ビームを照射して矢印の方向に進行させながら、反射される光ビームを4つの分割領域A、B、C、Dに分割された第2受光素子12により受光する。そして、進行中のグルーブトラック14に隣接する一方のランドトラック15のプリピット16を、第2受光素子12の受光パターンに基づいて検出する。
【0028】
ここで、プリピット16を検出する際の第2受光素子12の各分割領域A乃至Dに対応する検出信号のパターンについて、図3を用いて説明する。図3に示すように、プリピット16の検出時に、光ビームの相対的な進行方向の前方側に連動して位相変化が生じる分割領域BとDの検出信号が先に変化する。そして、光ビームの相対的な進行方向の後方側に連動して位相変化が生じる分割領域AとCが続いて変化する。このとき、先行する分割領域BとDの検出信号に対して、遅延時間tだけ遅れて後続の分割領域AとCの検出信号が変化する。
【0029】
このとき、プリピット16で生ずる回折特性に起因して、分割領域AとDでは、光ビームの強度を弱める方向に変化し、分割領域BとCでは、光ビームの強度を強める方向に変化する。そのため、図3に示す波形パターンに従った各分割領域A乃至Dに対応する検出信号を得ることができる。
【0030】
一方、第2受光素子12で受光される光ビームに非点収差がある場合には、第2受光素子12の受光パターンに乱れが生じ、プリピット検出性能が劣化する。すなわち、光学系に非点収差があると、光ビームの波面収差量が方向により変化するため、ビームスポットに歪みを生じる。また、マルチレンズ10は、非点収差法によるフォーカスエラー検出を行うため、前述したように光ビームに非点収差を与えるような構造になっているので、マルチレンズ10通過後に第2受光素子12が配置される構成では、光ビームに生じる非点収差は一層大きくなっている。そして、光学系に起因する非点収差とマルチレンズ10により付与される非点収差が合成される場合には、斜め方向の非点収差が生じ、第2受光素子12の受光パターンがアンバランスとなったり、回転するなどして、プリピット検出性能の劣化は一層大きくなってしまう。そこで、本実施形態では、ハーフミラー9により光ビームを分離して、マルチレンズ10の通過前の光ビームを第2受光素子12に導き、非点収差に基づくプリピット検出性能の劣化を最小限にするよう光学系を配置している。
【0031】
本実施形態の場合は、第2受光素子12をプリピット検出のみに用いるようにしているため、第2受光素子12における光ビームのビーム径を比較的自由に調整することができる。例えば、第2受光素子12の受光ビーム径を1mm程度に大きくすると光軸信頼性を向上させることができ、軸ずれ等に対し安定になる。一方、第2受光素子12への入射側にレンズ等を介して受光ビーム径を小さくすると、軸ずれの許容度は小さくなるが、第2受光素子12の受光面の面積を小さくすることができる。
【0032】
また、本実施形態では、3ビーム法によるトラッキングエラー検出を行うため、主ビーム以外に2つの副ビームを発生させているが、これらの副ビームはプリピット検出には不要であるので、第2受光素子12に受光させないことが望ましい。そのため、第2受光素子12に主ビームのみ入射させ、2つの副ビームが遮ぎられるようにピンホールを設ける構造にしてもよい。また、主ビームのみが照射されるよう第2受光素子12に樹脂モールドを施してもよい。これにより、本来プリピット検出とは無関係である2つの副ビームが第2受光素子12に照射されることに起因してプリピット検出性能の劣化を引き起こすことが防止されることになる。
【0033】
図4は、本実施形態に係るプリピット検出回路のブロック図である。図4に示すように、プリピット検出回路は、加算器100、101と、減算器102と、比較器103とを備えている。図4では、4分割型の第2受光素子12のA乃至Dの各分割領域にそれぞれ受光された反射光に対応する検出信号をA乃至Dとして表している。
【0034】
図4に示すプリピット検出回路において、検出信号AとDは加算器100に入力される。そして、加算器100では、検出信号AとDの和をとって、A+Dに対応する加算信号が出力される。その結果、加算信号A+Dは、図3に示すパターンで変化し、プリピット16に対応する変化が現れる波形パターンが得られる。
【0035】
また、図4において、検出信号BとCは、加算器101に入力される。そして、加算器101では、検出信号BとCの和をとって、B+Cに対応する加算信号が出力される。その結果、加算信号B+Cは、図3に示すパターンで変化し、この場合も、プリピット16に対応する変化が現れる波形パターンが得られる。
【0036】
次に、加算信号A+Dと加算信号B+Cは、減算器102に入力される。この減算器102では、加算信号A+D及び加算信号B+Cの差分をとって、プリピット検出信号(A+D)−(B+C)を出力する。このとき、加算信号A+D、B+Cは、ともに変化の方向が同じであるため、図3に示すように、プリピット16の検出に伴う変化が強調される波形パターンが得られる。
【0037】
比較器103では、プリピット検出信号(A+D)−(B+C)に対し、予め設定されたスレッシュホールドthと大小を比較して、プリピット16の有無の判定が行われる。すなわち、プリピット検出信号(A+D)−(B+C)が、図3に示すマージンmの範囲内で適切に設定されたスレッシュホールドthに比べ小さくなるときに、プリピット16が検出されることになる。
【0038】
なお、図4に示すプリピット検出回路では、第2受光素子12の各分割領域A乃至Dの検出信号を元に、(A+D)−(B+C)を算出してプリピット検出信号を得る場合を説明したが、これ以外にも、例えば、2つの減算器と1つの加算器を用いて、(A−C)+(D−B)を算出してプリピット検出信号を得るようにしてもよい。この場合も、プリピット検出に伴う変化の方向が一致するので、前述と同様にプリピット16の検出を行うことができる。
【0039】
また、前述の説明では、第2受光素子12を4分割型としてプリピット検出を行う場合について説明したが、これに限られず、第2受光素子12を、例えばラジアル方向に2分割型として、プッシュプル出力によりプリピット検出を行うようにしてもよい。
【0040】
また、前述の第2受光素子12の各分割領域A乃至Dに対応する検出信号の相対的な遅延時間tを補正するため、例えば、先に変化する分割領域BとDに対し遅延時間tに設定されたディレイライン等を介して検出信号を得るようにプリピット検出回路を構成してもよい。この場合は、検出のピークが各分割領域A乃至Dで互いに一致するので、より広い検出マージンが確保されることになる。
【0041】
以上説明したように、本実施形態に係る光ピックアップによれば、半導体レーザ1から出射された光ビームが光ディスク13に照射され、その反射光に対して非点収差を付与するマルチレンズ10に入射される前に配置したハーフミラー9で光ビームを分離して第2受光素子12に導き、その検出信号によりプリピット16の検出を行うよう光学系を構成した。従って、第2受光素子12における受光パターンは、非点収差による分布の乱れを十分抑えた状態にできるので、プリピット16の高精度な検出性能を確保することができる。しかも、第2受光素子12の受光面におけるビーム径の調整の自由度を高めることができ、第2受光素子12の構造を工夫してトラッキングエラー検出用の副ビームも容易に除去可能である。一方、通常の記録情報の再生、トラッキングエラー検出、フォーカスエラー検出等は、従来と同様、マルチレンズ10を介して第1受光素子11にて行うようにしたので、良好な再生品質を保持することができる。
【0042】
なお、以上説明した実施形態においては、第1受光素子11で記録情報の復調、フォーカスエラー検出、トラッキングエラー検出を行い、第2受光素子12でプリピット検出のみを行う場合について説明したが、例えば、第1受光素子11でフォーカスエラー検出のみを行い、第2受光素子12でプリピット検出、記録情報の復調、トラッキングエラー検出を行うように構成してもよい。すなわち、マルチレンズ10により光ビームに付与される非点収差は、非点収差法によるフォーカスエラーでは必要となるが、それ以外の記録情報の復調、トラッキングエラー検出では必ずしも必要ではないためである。なお、このように構成した場合のハーフミラー9の反射率は、80%程度としてもよい。つまり、第1受光素子11と第2受光素子12の光量の比率は1対4程度でよく、これは、フォーカスエラー検出が、光ビームの光量をそれほど大きくしなくても行えるためである。その結果、第2受光素子12においては十分大きな光ビームの光量が得られるので、必要なS/Nが高い場合には有効な構成である。
【0043】
【発明の効果】
請求項1に記載の発明によれば、非点収差を付与する光学素子の前で分離した光ビームを元にプリピット検出を行うようにしたので、付与した非点収差により受光パターンが乱れることに起因するプリピット検出の性能劣化を引き起こすことがなく、高精度なプリピット検出を行える光ピックアップが実現できる。
【0044】
請求項2に記載の発明によれば、第2受光素子は前記プリピット検出のみに用い、第1受光素子はそれ以外の記録情報の読み取り、トラッキングエラー検出、フォーカスエラー検出に用いる構成としたので、ビーム径の大小の調整などの第2受光素子の構造や配置をプリピット検出に適合させることができ、調整の自由度を大きくしながら容易にプリピット検出の性能を高められる光ピックアップが実現できる。
【0045】
請求項3に記載の発明によれば、第1受光素子は非点収差法によるフォーカスエラー検出のみに用い、第2受光素子はプリピット検出、記録情報の読み取り、トラッキングエラー検出に用いる構成としたので、第1受光素子に照射される光量を小さくでき、相対的に第2受光素子に照射される光量を大きくすることが可能な光ピックアップを実現できる。
【0046】
請求項4に記載の発明によれば、主ビームと複数の副ビームを発生させてトラッキングエラー検出を行うと共に、第2受光素子では、主ビームのみ受光面に照射させて複数の副ビームを遮断する構造としたので、プリピット検出には不要となる副ビームが照射されないようにして、プリピット検出の性能を確保することが可能な光ピックアップを実現できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施形態における光ピックアップの概略構成図であり、(a)は光学全体の構成を示す図、(b)は(a)の光ディスク近辺の側面図である。
【図2】本発明の実施形態における光ディスクのプリピットと受光パターンの関係を説明する図である。
【図3】本発明の実施形態におけるプリピット検出信号のパターンを示す図である。
【図4】本発明の実施形態におけるプリピット検出回路の構成を示すブロック図である。
【符号の説明】
1…半導体レーザ
2…コリメータレンズ
3…グレーティング
4…整形プリズム
5…1/4波長板
6…反射プリズム
7…対物レンズ
8…集光レンズ
9…ハーフミラー
10…マルチレンズ
11…第1受光素子
12…第2受光素子
13…光ディスク
14…グルーブトラック
15…ランドトラック
16…プリピット
100、101…加算器
102…減算器
103…比較器

Claims (4)

  1. アドレス情報を含む制御情報を記録するためのランドプリピットが予めランドトラックに形成された情報記録媒体に対し光源から出射された光ビームを照射し、該情報記録媒体から反射された光ビームを受光して記録情報を読み取ると共に、前記ランドプリピットを検出する光ピックアップであって、
    前記情報記録媒体から反射された光ビームに非点収差を与える光学素子を介して該光ビームを受光する第1受光素子と、
    前記情報記録媒体から反射された光ビームの一部を、前記非点収差を与える光学素子に入射されるまでの光路中から分離する光ビーム分離手段と、
    前記光ビーム分離手段により分離された前記光ビームの一部を受光する第2受光素子と、
    前記第1受光素子の検出信号に基づいて前記記録情報の読み取りを行う読取手段と、
    前記第2受光素子の検出信号に基づいて前記ランドプリピットを検出するプリピット検出手段と、
    を備えることを特徴とする光ピックアップ。
  2. 前記第1受光素子の検出信号に基づいてトラッキングエラー検出及び非点収差法によるフォーカスエラー検出を行うことを特徴とする請求項1に記載の光ピックアップ。
  3. 前記第1受光素子の検出信号に基づいて非点収差法によるフォーカスエラー検出を行うと共に、前記第2受光素子の検出信号に基づいてトラッキングエラー検出を行うことを特徴とする請求項1に記載の光ピックアップ。
  4. 前記トラッキングエラー検出は前記光ビームを回折させて得られた主ビームと複数の副ビームにより行われ、前記第2受光素子は当該複数の副ビームが遮断されて主ビームのみ受光面に照射されることを特徴とする請求項2に記載の光ピックアップ。
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