JP3678887B2 - 三次元形状測定装置 - Google Patents
三次元形状測定装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP3678887B2 JP3678887B2 JP19343897A JP19343897A JP3678887B2 JP 3678887 B2 JP3678887 B2 JP 3678887B2 JP 19343897 A JP19343897 A JP 19343897A JP 19343897 A JP19343897 A JP 19343897A JP 3678887 B2 JP3678887 B2 JP 3678887B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- measuring
- moving
- measured
- axis
- axes
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、被測定物を非接触で高精度に三次元の形状を測定する三次元形状測定装置およびZ軸ステージに関するものであるが、該Z軸ステージは、各種自動生産機器や精密加工機などにも応用可能である。
【0002】
【従来の技術】
(1)特開平4−299206号公報(超高精度三次元測定機)に記載の発明は、定盤上に、X軸方向又はX−Y軸方向に水平移動する架台を設け、この架台に、X軸方向又はX−Y軸方向に垂直なZ軸方向に上下移動するZ軸移動台を設け、前記定盤上に固定された被測定物の被測定面とその上方に位置するZ軸移動台上の特定点との距離Z1を測定する測定手段を設け、前記定盤上に固定された支持体に、Z軸に垂直なX−Y軸基準面を前記Z軸移動台の上方に設け、前記X−Y軸基準面とその下方に位置するZ軸移動台上の特定点との距離Z2を測定する測定手段を設け、前記被測定物のXY軸方向の各測定点に対する前記距離Z1と前記距離Z2の各データに基づいて前記被測定物の形状を測定するようにしたもので、定盤上に固定された支持体を介して、前記Z軸移動台の上方に、Z軸に垂直なX−Y基準面を設けることにより、スペース的に、大型の被測定物を固定し、測定手段Z1を設けたZ軸移動台を、X−Y−Z軸方向に大きく移動できる余地を確保しながら、架台及び架台上の測定用スケール設定手段及び測定手段と、各種ミラー、プリズム、偏光板等の光学システムの配置をコンパクトにして、架台及び光学システムを撓みや振動がなく、かつ、X−Y軸基準平面ミラー上に光を垂直に当てるようにしている。
(2)特開平2−134506号公報(形状測定装置)に記載の発明は、ばねによって吊るされ、上下方向へ駆動手段を備えたZ移動部と、前記ばねの張力と前記Z移動部の重力がつりあう平衡位置からの前記Z移動部の位置の変位を検出し位置信号を発生する位置検出手段と、前記位置信号を前記駆動手段に伝達し、前記平衡位置からの変位に比例して発生するばね力に大きさがほぼ等しく方向が逆の駆動力を前記駆動手段によって発生させるばね力補償手段を備えており、面の形状を測定する3次元測定機において、レーザ光を測定面上に集光し、この反射面からフォーカスサーボをかけ、測定面の形状を0.01μm台の超高精度で測定する光学プローブ等で、Z移動部をばねで吊るしリニアモータで駆動する方式で、ばねの復元力の影響を実質的になくし、フォーカス誤差等をなくし、高い測定精度と良好な操作性を達成できるようにしている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、上記特開平4−299206号公報(超高精度三次元測定機)に記載の発明は、
▲1▼測定系の各軸移動量の測定用レーザ干渉器の直交三軸の光軸の交点に測定点を持たないため、測定データの中に、測定光学レイアウトに起因するアッベの誤差が入り込むという欠点がある。
▲2▼重力補償機構がついていないため、駆動モータは大きな推力を必要とし、装置が大きくなるという欠点がある。
▲3▼Z軸ステージの移動量の測定をレーザ干渉器のみで行っているため、レーザパワーが瞬時に落ちてしまうような事態では、位置の情報を全て失い、制御上大変危険であるという欠点がある。
▲4▼光学レイアウトの占めるスペースが大きく、可動テーブルと測定ヘッドの間に、参照ミラーが配置されており、対象物の大きなワークを測定する場合、測定ストロークが制限されてしまうという欠点がある。
▲5▼▲3▼記載のリニアスケールを用いていないので、この技術課題が生じていない。
▲6▼落下防止機構を持っていない。
▲7▼▲2▼のような重力補償機能を用いていないので、この技術課題が生じていない。
▲8▼ダンパ機能を備えていない。このため、急激な移動が避けられない。
【0004】
また、上記特開平2−134506号公報(形状測定装置)に記載の発明は、
▲1▼重力補償機構として、コイルばねを用いているが、これでは駆動モータは(上下方向に可動体を駆動する力)+(ばねの復元力)の合わせた推力が必要となり、ばね定数が大きいとばねの復元力が大きくなりサイズの大きなモータが必要となるし、ばね定数が小さいばねではある程度ばね長さが必要となるため、いずれにしろ装置スペースの増大化を招くという欠点がある。
▲2▼落下防止機能を持っていない、
▲3▼ばねの交換に関する記載はないが、ただ単にばねを可動体にフックのようなもので引っかけるだけだとすると、結合部に遊びが出て、これにより微少な振動が生じるし、また、ユニット化していないと交換に要する作業時間がかかり、交換のあいだに重量物を支えるための力が必要となる。
【0005】
請求項1の発明は、被測定物の形状を測定するためのレーザ光の光軸の交点を被測定物の測定点とすることで、アッベの測定誤差をなくし前記従来技術(1)の技術課題を解決できるようにしたものである。
請求項2の発明は、プローブが重力方向を向き、重力方向に測定を行うようにして、測定時に重力による傾きを生じさせず、プローブの傾きを制御する必要がなく、装置の制御を簡略化できるようにしたものである。
さらに、移動軸とレーザ光の軸とが同一直線上にのらないようにし、参照ミラーとの干渉がストローク内で制限をうけることがなくなるようにして、装置全体を小型化できるようにしたものである。
【0007】
請求項2の発明は、移動二軸が作る平面と変位測定方向の移動軸とを直交させて、移動軸の制御を簡単にできるようにしたものである。
請求項3の発明は、移動二軸が作る平面と平行な平面を作るレーザ光の二軸を、それぞれ直交させて、被測定物の測定および移動軸の制御を簡単にできるようにしたものである。
【0016】
【課題を解決するための手段】
請求項1記載の発明は、上記目的達成のため、定盤上に固着された被測定物の形状測定用変位測定プローブを搭載し、該プローブを前記被測定物に対して、三次元方向に移動させる移動手段と、該移動手段の移動量を測定する測定手段と、前記変位測定プローブ内から前記被測定物にレーザ光を照射するレーザ光照射手段とを備え、前記レーザ光照射手段から前記被測定物にレーザ光が照射され、該被測定物から反射されるレーザ光に基づいて、前記移動手段が被測定物と前記プローブとの距離を一定に保つように移動させ、前記測定手段が前記移動手段の移動量を測定することにより前記被測定物の形状を測定する三次元形状測定装置において、前記測定手段が、同一平面上にない三軸のレーザ測長器を用いて、前記移動手段による移動量を測定し、該レーザ測長器のレーザ光の光軸の交点を被測定物の測定点とし、前記移動手段が、それぞれ同一平面上にない三軸を移動軸とし、該移動軸のうち変位測定方向を除く二軸が作る平面が、前記レーザ光の二軸が作る平面と平行であり、該それぞれの平面を作る移動二軸とレーザ光の二軸のそれぞれが、互いに一定の角度を持つことを特徴としたものである。
【0019】
請求項2記載の発明は、上記目的達成のため、請求項1記載の発明において、前記変位測定方向を除く移動二軸が作る平面と変位測定方向の移動軸とが直交することを特徴としたものである。
請求項3記載の発明は、上記目的達成のため、請求項1記載の発明において、前記移動二軸が作る平面と平行な平面を作るレーザ光の二軸が、それぞれ直交することを特徴としたものである。
【0025】
【発明の実施の形態】
図1は、本発明に係わる高精度三次元形状測定装置におけるZ軸ステージの右側面図、図2は、本発明に係わるボイスコイルモータのボビン構造を示した図、図3は、本発明に係わる重力補償機構をユニット化した図、図4は、本発明に係わるZ軸ステージを用いて構成した三次元形状測定装置の平面レイアウト図である。
【0026】
空気ばね式防振台(図示せず)に載せられた石定盤1の上に全体ベース2を取り付け、その上にXステージ3とYステージ4からなるXY二軸ステージを設け、その上に立設されたZ軸イケール(アングルプレート)5を基板としてZ軸ステージ6を設ける。このZ軸ステージ6は、Z軸イケール5にガイド軸として単軸のエアスライド7を取り付け、これを動かす駆動力として、ボイスコイルモータ8を使う。これによって、Z軸テーブル9をZ軸方向に移動可能とし、そこに取り付けられている測定プロ−ブ10により、石定盤1上に固着させた被測定物11を測定する。Z軸テーブル9とエアスライド7の両側面には、XYZ三軸方向にレーザを照射するレーザ光源を備えて、各々の測定基準となる平面ミラー(12X、12Y、12Z)で反射されて戻ってきた光との間で起こる干渉縞を検出できるレーザ干渉器(13X、13Y、13Z)と、前述のレーザ光源から各平面ミラー(12X、12Y、12Z)に折り返すのに用いる各々の反射ミラー(14X、14Y、14Z)が取り付けられている。この時、各レーザの光軸の交点が被測定物11の測定点になるように配置する。
【0027】
また、Z軸イケール5に、リニアスケール用の検出ヘッド15を固着して取り付け、そしてエアスライド7の側面に、リニアスケール17を保持部材18を介して取り付けることにより、可動するZ軸テーブル9の移動量を測定できる。
図2に示すように、ボイスコイルモータ8のボビン部材16は、ステンレスの一体構造からくり抜いたものに、コイルを巻き付けている。
【0028】
また、Z軸イケール5上部には、渦巻ばね19を用いて巻取ドラム20を設け、この巻取ドラム20は、両端をベアリング21によって、軸支されており回転自在となっている。渦巻ばね19は、そこから伸ばして直接Z軸テーブル9のガイド軸であるエアスライド7の可動側の両側面にある取り付け金具と連結して、吊り上げるようになっており、重力補償機構を構成している。
【0029】
この重力補償機構は、図3に示すように、ユニット化されており、Z軸イケール5より、はり出すベース板24上に箱形をしたユニット23をねじ止めするだけで交換できるようになっている。
また、Z軸ステージ6は、落下防止手段として、Z軸イケール5の裏側に固着されたエアシリンダ25によって作動するはさみ板26と静止しているパッド27の間を、エアスライド7により延設された摺動板28が摺動するようになっている。また、パッド27には、ゴム材29が貼られている。
【0030】
また、図3に示すように、巻き取りドラム20A、Bの回転運動に対してZ軸イケール5上部に固定されているロータリーダンパ30A、Bによって、制動力が作用するようになっている。
次に、図1,図4を用いて、本実施例で用いた三次元形状測定装置における測定動作について説明する。あらかじめ、被測定物11用にティーチングされているポジションに動き、測定プローブ10が測定可能な位置まで接近し測定を開始する。具体的には、主走査方向であるX軸方向に動作させながら、測定プローブ10を搭載したZ軸テーブル9の移動量を測定することで精密な測定を可能とする。これは、測定プローブ10と被測定物11との間隔を略一定に保つように変位計の値(プローブの読み)を使って、Z軸方向に制御をかけ、この時のZ軸テーブル9の軌跡である移動量δ1と、変位計が測定した被測定物11との正確な距離δ2をたし合わせた値によって、被測定物11の形状の測定を行うものである。
【0031】
また、図4でも示されているが、レーザ測長器の平面レイアウト図を図5に示す。図5に示されるように、移動軸をそれぞれX、Y、Z軸とし、紙面上にX軸、Y軸があり、紙面上方に被測定物の形状を測定するZ軸を持つとする。この時、紙面上のX軸、Y軸とそれぞれ一定角傾けてレーザ測長器を配置する。このことにより、レーザ光と移動方向が同一直線上にのることがなく、ミラーがじゃまになることもないので、装置を小型化できる。また、測定方向がX軸であるならば、Y軸Z軸に対して一定角傾け、測定方向がY軸であるならば、X軸Z軸に対して一定角傾けた位置にレーザ測長器を配置する。
【0032】
さらに、渦巻ばね19からなる重力補償手段に、動作方向に対して、流体等の粘性抵抗を利用したダンパを備えることにより、粘性抵抗比を高くすることができ、Z軸ステージの重力補償機構に起因する固有振動数において、振動的になることを抑えることができ、制御上ゲインも上げることができる。
このダンパ機構を使用したときの効果を示すために、粘性減衰比ζをパラメータとした振動数と振幅の関係を図6に示す。図6に示すように、ダンパ機構を用いることにより、粘性減衰比ζを大きくとることができ、起振振動数ωが系の固有振動数ωnに等しくなる共振状態での振幅を抑えることができる。例えば、本実施例では、系の固有振動数は1Hzあたりに存在し、ダンパ機構を用いない場合粘性減衰比ζが0.4であったが、ダンパを用いることで、粘性減衰比ζを0.7に改善することができた。
【0033】
【発明の効果】
請求項1記載の発明によれば、被測定物の形状に沿って移動するプローブの移動量をレーザ測長器を用い、同一平面上にない三軸のレーザ光の光軸の交点を測定点とするので、アッベの誤差が測定結果に入り込まないようにでき、正確な測定を行うことができる。
さらに、移動軸とレーザ光の軸とが同一直線上にのらないので、参照ミラーとの干渉がストローク内で制限をうけることがなく、装置全体を小型化できる。
【0035】
請求項2記載の発明によれば、移動二軸が作る平面と変位測定方向の移動軸とが直交するので、移動軸の制御を簡単にできる。
【0036】
請求項3記載の発明によれば、移動二軸が作る平面と平行な平面を作るレーザ光の二軸が、それぞれ直交するので、被測定物の測定および移動軸の制御を簡単にできる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係わる高精度三次元形状測定装置におけるZ軸ステージの右側面図である。
【図2】本発明に係わるボイスコイルモータのボビン構造を示した図である。
【図3】本発明に係わる重力補償機構をユニット化した図である。
【図4】本発明に係わるZ軸ステージを用いて構成した三次元形状測定装置の平面レイアウト図である。
【図5】本発明に係わるレーザ測長器の平面レイアウト図である。
【図6】粘性減衰比ζをパラメータとした振動数と振幅の関係を示す図である。
【符号の説明】
1 定盤
2 全体ベース
3 Xステージ
4 Yステージ
5 Z軸イケール
6 Z軸ステージ
7 エアスライド
8 ボイスコイルモータ
9 Z軸テーブル
10 測定プローブ
11 被測定物
12X、12Y、12Z 平面ミラー
13X、13Y、13Z レーザ干渉器
14X、14Y、14Z 反射ミラー
15 検出ヘッド
16 ボビン部材
17 リニアスケール
18 保持部材
19 渦巻ばね
20A、B 巻取ドラム
21 ベアリング
23 ユニット
24 ベース板
25 エアシリンダ
26 はさみ板
27 パッド
28 摺動板
29 ゴム材
30A、B ロータリーダンパ
Claims (3)
- 定盤上に固着された被測定物の形状測定用変位測定プローブを搭載し、該プローブを前記被測定物に対して、三次元方向に移動させる移動手段と、該移動手段の移動量を測定する測定手段と、前記変位測定プローブ内から前記被測定物にレーザ光を照射するレーザ光照射手段とを備え、
前記レーザ光照射手段から前記被測定物にレーザ光が照射され、該被測定物から反射されるレーザ光に基づいて、前記移動手段が被測定物と前記プローブとの距離を一定に保つように移動させ、前記測定手段が前記移動手段の移動量を測定することにより前記被測定物の形状を測定する三次元形状測定装置において、
前記測定手段が、同一平面上にない三軸のレーザ測長器を用いて、前記移動手段による移動量を測定し、該レーザ測長器のレーザ光の光軸の交点を被測定物の測定点とし、
前記移動手段が、それぞれ同一平面上にない三軸を移動軸とし、該移動軸のうち変位測定方向を除く二軸が作る平面が、前記レーザ光の二軸が作る平面と平行であり、
該それぞれの平面を作る移動二軸とレーザ光の二軸のそれぞれが、互いに一定の角度を持つことを特徴とする三次元形状測定装置。 - 前記変位測定方向を除く移動二軸が作る平面と変位測定方向の移動軸とが直交することを特徴とする請求項1記載の三次元形状測定装置。
- 前記移動二軸が作る平面と平行な平面を作るレーザ光の二軸が、それぞれ直交することを特徴とする請求項1記載の三次元形状測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19343897A JP3678887B2 (ja) | 1997-03-18 | 1997-07-18 | 三次元形状測定装置 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6404397 | 1997-03-18 | ||
JP9-64043 | 1997-03-18 | ||
JP19343897A JP3678887B2 (ja) | 1997-03-18 | 1997-07-18 | 三次元形状測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10318728A JPH10318728A (ja) | 1998-12-04 |
JP3678887B2 true JP3678887B2 (ja) | 2005-08-03 |
Family
ID=26405176
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP19343897A Expired - Fee Related JP3678887B2 (ja) | 1997-03-18 | 1997-07-18 | 三次元形状測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3678887B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012177620A (ja) * | 2011-02-25 | 2012-09-13 | Canon Inc | 計測装置 |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002207171A (ja) * | 2001-01-10 | 2002-07-26 | Hamamatsu Photonics Kk | 光学装置 |
CN1879046B (zh) | 2003-09-12 | 2010-07-14 | 卡尔蔡司Smt股份公司 | 光学元件操纵仪 |
KR101330468B1 (ko) * | 2010-09-09 | 2013-11-15 | 파나소닉 주식회사 | 삼차원 형상 측정장치 |
JP5776812B1 (ja) | 2014-04-01 | 2015-09-09 | 日本精工株式会社 | テーブル装置、及び搬送装置 |
CN104913735B (zh) * | 2015-06-19 | 2017-05-03 | 四川大学 | 一种用于微结构工件的斜率自适应形貌测量方法 |
CN107747909B (zh) * | 2017-08-17 | 2024-01-09 | 韶关学院 | 一种轮毂轴承单元铆合装配时在线测量负游隙的装置 |
CN109648353A (zh) * | 2017-10-11 | 2019-04-19 | 维嘉数控科技(苏州)有限公司 | z轴驱动结构及PCB铣边机 |
CN109000705A (zh) * | 2018-04-08 | 2018-12-14 | 浙江禾川科技股份有限公司 | 一种电机轴检测治具 |
CN110456730B (zh) * | 2019-07-25 | 2021-05-11 | 上海拓璞数控科技股份有限公司 | 用于双五轴镜像铣设备的防碰撞系统和方法 |
CN116651693A (zh) * | 2023-06-07 | 2023-08-29 | 苏州汇创芯精密智能装备有限公司 | 双阀异动机构 |
-
1997
- 1997-07-18 JP JP19343897A patent/JP3678887B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012177620A (ja) * | 2011-02-25 | 2012-09-13 | Canon Inc | 計測装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH10318728A (ja) | 1998-12-04 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3075981B2 (ja) | 形状測定装置 | |
JP3678887B2 (ja) | 三次元形状測定装置 | |
JP4260180B2 (ja) | 三次元形状測定装置及び三次元形状測定装置用プローブ | |
JP2661314B2 (ja) | 形状測定装置及び形状測定方法 | |
JP3000819B2 (ja) | 三次元測定用プローブ及び形状測定方法 | |
JP4500736B2 (ja) | 形状測定装置 | |
JP5834171B2 (ja) | 形状測定装置 | |
CN102235853A (zh) | 非球面测量装置 | |
KR20140093621A (ko) | 3차원 형상 측정 장치용 프로브 | |
JPH10170243A (ja) | 形状測定装置及び方法 | |
JP2012237686A (ja) | 測定装置 | |
US4538911A (en) | Three-dimensional interferometric length-measuring apparatus | |
JP3524385B2 (ja) | 三次元形状測定装置 | |
JPH06301947A (ja) | 磁気ヘッドおよび磁気ディスクのテスターにおける位置決め誤差を補償するための方法および装置 | |
JP2004138433A (ja) | レーザ干渉計、及びそれを用いた測定装置 | |
JPH02296105A (ja) | 三次元測定装置 | |
JP5606039B2 (ja) | ステージ装置及び波面収差測定装置 | |
JP6198393B2 (ja) | 接触式三次元形状測定装置及びプローブ制御方法 | |
JP2001124542A (ja) | 薄板材の平坦度測定方法および装置 | |
JP2002054987A (ja) | 3次元レーザドップラ振動計 | |
JP4072265B2 (ja) | 回転軸の傾き測定方法 | |
CN114440849B (zh) | 用于二维反馈定位框架垂直度校准的方法与装置 | |
JP2005098936A (ja) | 形状測定機 | |
JP2821507B2 (ja) | 干渉測定器 | |
JP3800541B2 (ja) | 球面モータを用いた首振り運動光てこによる光線追尾式レーザ干渉測長装置および該装置を用いた座標測定方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20050315 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20050412 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20050510 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20050511 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080520 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090520 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100520 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110520 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120520 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120520 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130520 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130520 Year of fee payment: 8 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |