JP2004138433A - レーザ干渉計、及びそれを用いた測定装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】レーザ干渉計1のレーザ干渉部3は、P波を直進方向に、S波を直角方向に分光して出力する偏光ビームスプリッタ8と、該偏光ビームスプリッタ8の直角方向に配置されたターニングミラー9と、ターニングミラー9に対して偏光ビームスプリッタ8の反対側に配置されたキューブコーナプリズム11と、偏光ビームスプリッタ8とキューブコーナプリズム11との間に配置された1/4波長板と、偏光ビームスプリッタ8及びターニングミラー9と反射鏡2との間に配置されたバイプリズム6と、偏光ビームスプリッタ8及びターニングミラー9と反射鏡2との間に配置された1/4波長板とを有している。レーザ光を入出力自在な偏光ビームスプリッタ8の入出力部8aは反射鏡2に対してレーザ干渉部3のZ軸方向反対側に位置している。
【選択図】 図3
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、例えば工作機械のテーブル等の移動部材が支持部材に対して軸方向に移動する際に生じる位置偏差を測定するためのレーザ干渉計に係り、詳しくはレーザ光を入出力し得る入力部を、反射手段に対してレーザ光路生成手段の軸方向反対側に位置させたレーザ干渉計、及びそれを用いた測定装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
例えば高精度な工作が要求される旋盤、フライス盤、研削盤などの工作機械などにおいては、工場などの床に対して固定されるベッドと、該ベッド上を移動するテーブルとが備えられており、工作の際には、このテーブルに被加工物などを設置して、該テーブルを所定の軸方向に移動させつつ工作を行う。このテーブルの移動においては、軸方向、横方向、縦方向、ピッチ方向、ヨー方向、ロール方向の6つの(つまり6自由度方向の)位置偏差(誤差)が生じる虞があり、機械精度の比較、受渡し、保守などの目的から、これらの位置偏差を測定する必要がある。
【0003】
従来、上記6つの位置偏差を測定するため、レーザ測長機などによって測定を行うものが種々提案されており、軸方向、横方向、縦方向、ピッチ方向、ヨー方向の位置偏差を測定するものは実用化されているものもある。ところが、ロール方向の測定は、精密水準器やダイヤルゲージによって測定するように規定されている(例えば、JISB6336−1、ISO10791−1)。しかしながら、上記工作機械のテーブルを移動させると、該工作機械自体の重心が移動するため、該工作機械全体が傾斜してしまう。そのため、上記水準器などによってロール方向の測定を行うと、該工作機械の傾斜も含めて測定することとなり、正確なロール方向の測定ができなかった。また、鉛直方向に移動するテーブルにおいては、ロール方向が水平方向であるため、上述の水準器ではロール方向の測定が不可能であった。そこで、特にロール方向に対する位置偏差をレーザ干渉計を用いて測定するもの(例えば、特許文献1、非特許文献1参照)も提案されている。
【0004】
図7は従来のレーザ干渉計を示す斜視模式図である。図7に示すように、レーザ干渉計101は、反射鏡102と、レーザ干渉部103とを備えており、該反射鏡102は、平面鏡104,105を所定角度で略々V字状となるように有している。また、レーザ干渉部103は、偏光ビームスプリッタ108,109と、楔プリズム106a,106bからなるバイプリズム106と、1/4波長板107a,107bと、1/2波長板110と、キューブコーナプリズム111とを有して構成されている。
【0005】
図示を省略したレーザヘッドから光路c1、d1にP波とS波とからなるレーザ光を偏光ビームスプリッタ108に照射すると、P波は直進して光路c2に、S波は直角に反射して光路d2に、それぞれ分光される。
【0006】
光路c2のP波は1/2波長板110によりS波となって光路c3を通過し、該光路c3のS波は偏光ビームスプリッタ109により直角に反射されて光路c4を通過する。該光路c4のS波は1/4波長板107bにより円偏光となり、かつ楔プリズム106aにより角度φに屈折して平面鏡104の点104bに垂直に反射し、光路c5を往復する。該光路c5を往復した円偏光は1/4波長板107bによりP波となって光路c4を通過し、偏光ビームスプリッタ109を直進して光路c6を通過する。該光路c6のP波はキューブコーナプリズム111により光路c7に反射され、偏光ビームスプリッタ108を直進して光路c8を通過する。該光路c8のP波は1/4波長板107aにより円偏光となり、かつ楔プリズム106bにより角度φに屈折して平面鏡105の点105aに垂直に反射し、光路c9を往復する。該光路c9を往復した円偏光は1/4波長板107aによりS波となって光路c8を通過し、偏光ビームスプリッタ108により直角に反射され、光路c10に出力される。
【0007】
一方、光路d2のS波は1/4波長板107aにより円偏光となり、かつ楔プリズム106aにより角度φに屈折して平面鏡104の点104aに垂直に反射し、光路d3を往復する。該光路d3を往復した円偏光は1/4波長板107aによりP波となって光路d2を通過し、偏光ビームスプリッタ108を直進して光路d4を通過する。該光路d4のP波はキューブコーナプリズム111により光路d5に反射され、偏光ビームスプリッタ109を直進して光路d6を通過する。該光路d6のP波は1/4波長板107bにより円偏光となり、かつ楔プリズム106bにより角度φに屈折して平面鏡105の点105bに垂直に反射し、光路d7を往復する。該光路d7を往復した円偏光は1/4波長板107bによりS波となって光路d6を通過し、偏光ビームスプリッタ109により直角に反射されて光路d8を通過する。該光路d8のS波は1/2波長板110によりP波となって光路d9を通過し、該光路d9のP波は偏光ビームスプリッタ108を直進して、光路d10に出力される。
【0008】
例えば反射鏡102がZ軸周りのロール方向(γ方向)に変位すると、点104a及び点105bが平面鏡104,105の傾斜に対して、谷側(つまり内側)又は山側(つまり外側)に、点104b及び点105aが平面鏡104,105の傾斜に対して、山側(つまり外側)又は谷側(つまり内側)に移動する形となり、即ち、光路c5及び光路c9の光路長に対して光路d3及び光路d7の光路長が縮まる、又は伸びることになり、2つの光路長に変化が生じる。また、横方向(X方向)、縦方向(Y方向)、軸方向(Z方向)、ピッチ方向(α方向)、ヨー方向(β方向)に対して変位があった場合は、光路c5及び光路c9の光路長と、光路d3及び光路d7の光路長とが共に伸縮、或いは変化せずに、その2つの光路長に変化が生じない。
【0009】
なお、点104aと点104b(点105aと点105b)の距離を2vとし、上記ロール方向の角度θと光路長の変化量Δとを式で示すと、θ=tan−1(Δ/(8v・sinφ))となる。また、それらロール方向の角度θと光路長の変化量Δとの関係は、点104aと点105a(点104bと点105b)の距離2uに依存せず、つまり反射鏡102とレーザ干渉部103との距離はなんら影響がない。
【0010】
そして、光路c10及び光路d10より出力されたP波とS波のレーザ光をレーザヘッドの光電変換器により、該P波とS波の波長の位相差に基づく、それら2つの光路長の相対変化を測定することによってロール方向の位置偏差を算出することが可能である。
【0011】
【特許文献1】
特開昭62−223604号公報 (第7−8項、第1図、第3図、第4図、第5図)
【非特許文献1】
精密工学会誌 Vol.61,No.2,1995(第253−257項)
【0012】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上述したようにレーザ干渉計101は、レーザヘッドを移動軸方向に対して横方向に配置してレーザ光を照射しているため、レーザ干渉部103をテーブルに設置して該テーブルを移動させながら測定することが不可能であり、種々の工作機械の測定に対応することができず、実用性に欠けていた。
【0013】
また、図7に示すようにキューブコーナプリズム111は大型であり、レーザ干渉部103が比較的大きなものであるため、特に工作機械の大きさが小さいものでは、レーザ干渉部103をベッドに設置することも不可能であって、例えば工場の床に三脚などによって設置していた。そのため、テーブルとベッドとのロール方向の位置偏差ではなく、テーブルと床とのロール方向の位置偏差を測定することになり、上記水準器による測定と同様に、テーブルの移動によって生じる工作機械の重心移動による該工作機械の傾斜、即ちベッドの傾斜も含んで測定してしまう。そのため、レーザ干渉計、特にレーザ干渉部をコンパクト化したものの開発が望まれていた。
【0014】
そこで本発明は、レーザ光を軸方向に入出力自在な入出力部を有するレーザ光路生成手段を備え、かつコンパクト化が可能なレーザ干渉計、及びそれを用いた測定装置を提供することを目的とするものである。
【0015】
【課題を解決するための手段】
請求項1に係る本発明は(例えば図3、図6参照)、所定角度で傾斜した2つの平面鏡(4,5)を有する反射手段(2)と、P波と該P波に対して偏光面が直交する平面のS波とを有するレーザ光を入力して第1光路(例えばb2〜b11)と第2光路(例えばa2〜a11)に分光し、該第1光路(例えばb2〜b11)と該第2光路(例えばa2〜a11)とに分光されたレーザ光を前記反射手段(2)に2往復させてから出力するレーザ光路生成手段(3)と、を備え、前記反射手段(2)と前記レーザ光路生成手段(3)とを軸方向(Z軸方向)に相対移動させた際に、前記反射手段(2)と前記レーザ光路生成手段(3)との相対位置関係によって前記第1光路(例えばb2〜b11)と前記第2光路(例えばa2〜a11)との距離が相対変化するレーザ干渉計(1)において、
前記レーザ光路生成手段(3)は、
一側面に、前記反射手段(2)に対して前記レーザ光路生成手段(3)の軸方向(Z軸方向)反対側に位置して、前記レーザ光を前記軸方向(Z軸方向)より入力自在で、かつ前記第1光路(例えばb2〜b11)及び前記第2光路(例えばa2〜a11)を通過したレーザ光を前記軸方向(Z軸方向)に出力自在な入出力部(8a)を有し、入力されるレーザ光に対して前記P波を直進方向に、かつ前記S波を直角方向に分光して出力する分光部(8)と、
前記分光部(8)の前記軸方向に対して直角方向(例えばY軸方向)に配置され、入力されるレーザ光を直角に反射する反射部(9又は14)と、
前記反射部(9又は14)に対して前記分光部(8)の反対側に配置され、前記分光部(8)から出力されたレーザ光を異なる平行な軸上に折り返し出力する光路軸変更部(11)と、
前記分光部(8)と前記光路軸変更部(11)との間に配置され、前記分光部(8)から出力されて前記光路軸変更部(11)を介して該分光部(8)に入力されるレーザ光が通過する際に、前記P波を前記S波に、前記S波を前記P波に、それぞれ変換する第1の波長板(10)と、
前記分光部(8)及び前記反射部(9又は14)と前記反射手段(2)との間に配置され、前記分光部(8)及び前記反射部(9又は14)からの前記軸方向(Z軸方向)のレーザ光を、前記反射手段(2)の平面鏡(4,5)に対して垂直になるように前記所定角度(例えばφ)に屈折させる屈折部(6)と、
前記分光部(8)及び前記反射部(9又は14)と前記反射手段(2)との間に配置され、前記分光部(8)又は前記反射部(9又は14)から出力されて前記反射手段(2)を介して該分光部(8)又は該反射部(9又は14)に入力されるレーザ光が通過する際に、前記P波を前記S波に、前記S波を前記P波に、それぞれ変換する第2の波長板(7a,7b)と、を有する、
ことを特徴とするレーザ干渉計(1)にある。
【0016】
請求項2に係る本発明は(例えば図3参照)、前記反射部は、入力されるレーザ光を同一平面上に直角に反射する平面型反射鏡(9)であり、
前記反射手段(2)と前記レーザ光路生成手段(3)とが前記軸方向(Z軸方向)に対するロール方向(γ方向)に相対移動した場合に、前記第1光路(例えばb2〜b11のうちのb3及びb10)と前記第2光路(例えばa2〜a11のうちのa4及びa10)との距離が相対変化する、
ことを特徴とする請求項1記載のレーザ干渉計(1)にある。
【0017】
請求項3に係る本発明は(例えば図6参照)、前記反射部は、入力されるレーザ光を異なる平行な平面上に直角に反射する屋根型反射鏡(14)であり、
前記反射手段(2)と前記レーザ光路生成手段(3’)とが前記軸方向(Z方向)に対する横方向(X軸方向)に相対移動した場合に、前記第1光路(例えばb2〜b11のうちのb3及びb10’)と前記第2光路(例えばa2〜a11のうちのa4’及びa10)との距離が相対変化する、
ことを特徴とする請求項1記載のレーザ干渉計(1’)にある。
【0018】
請求項4に係る本発明は(例えば図1、図2参照)、前記請求項1ないし3のいずれか記載のレーザ干渉計(1)と、
前記レーザ光を照射自在で、かつ前記レーザ光路生成手段(3)より出力された前記第1光路(例えばb2〜b11)と前記第2光路(例えばa2〜a11)とのレーザ光の波長の位相差に基づき、前記第1光路(例えばb2〜b11)と前記第2光路(例えばa2〜a11)との距離の相対変化を測定し得るレーザ測長手段(12)と、を備え、
前記レーザ測長手段(12)を、基準床(30)に、該レーザ測長手段(12)により照射される前記レーザ光が前記レーザ光路生成手段(3)の前記入出力部(8a)に入力されるように前記軸方向(Z軸方向)に配置し、
前記反射手段(2)及び前記レーザ光路生成手段(3)のいずれか一方を、前記基準床(30)に対して支持される支持部材(21)に固定し、
前記反射手段(2)及び前記レーザ光路生成手段(3)の他方を、前記支持部材(21)に対して軸方向(Z軸方向)に移動自在に支持される移動部材(22)に固定し、
前記移動部材(22)を前記支持部材(21)に対して前記軸方向(Z軸方向)に移動させた際に、前記支持部材(21)に対する前記移動部材(22)の位置偏差を測定する、
ことを特徴とする測定装置(50)にある。
【0019】
なお、上記カッコ内の符号は、図面と対照するためのものであるが、これは、発明の理解を容易にするための便宜的なものであり、特許請求の範囲の構成に何等影響を及ぼすものではない。
【0020】
【発明の効果】
請求項1に係る本発明によると、入出力部が反射手段に対してレーザ光路生成手段の軸方向反対側に位置しているので、レーザ光を軸方向より入力することができ、かつ第1光路及び第2光路を通過したレーザ光を軸方向に出力することができる。それにより、例えば反射手段に対してレーザ光路生成手段を軸方向に移動させることができ、例えば工作機械の移動部材などにレーザ光路生成手段を設置することも可能にすることができるものでありながら、反射手段とレーザ光路生成手段との相対位置関係の測定を可能にすることができる。また、光路軸変更部には、分光部からのレーザ光が1箇所に入力され、かつ他の1箇所から分光部にレーザ光を折り返し出力するので、該光路軸変更部をコンパクト化することができ、レーザ光路生成手段をコンパクト化することができる。更に、分光部が1つであるので、光路軸変更部のコンパクト化と相俟って、レーザ光路生成手段をコンパクト化することができる。それにより、例えば工作機械の移動部材や支持部材などにレーザ光路生成手段を設置することが可能となり、例えば移動部材の移動による工作機械の傾斜を含むことなく、移動部材と支持部材との相対位置関係の測定を可能にすることができる。
【0021】
請求項2に係る本発明によると、反射部が入力されるレーザ光を同一平面上に直角に反射する平面型反射鏡であり、反射手段とレーザ光路生成手段とが軸方向に対するロール方向に相対移動した場合に、第1光路と第2光路との距離が相対変化するので、反射手段とレーザ光路生成手段とのロール方向の位置偏差の測定を可能にすることができる。
【0022】
請求項3に係る本発明によると、反射部が入力されるレーザ光を異なる平行な平面上に直角に反射する屋根型反射鏡であり、反射手段とレーザ光路生成手段とが軸方向に対する横方向に相対移動した場合に、第1光路と第2光路との距離が相対変化するので、反射手段とレーザ光路生成手段との横方向の位置偏差の測定、特に反射手段とレーザ光路生成手段とを軸方向に相対移動させた際の真直度の測定を可能にすることができる。
【0023】
請求項4に係る本発明によると、レーザ測長手段を、該レーザ測長手段により照射されるレーザ光がレーザ光路生成手段の入出力部に入力されるように軸方向に基準床に配置し、反射手段及び前記レーザ光路生成手段のいずれか一方を、基準床に対して支持される支持部材に固定し、反射手段及びレーザ光路生成手段の他方を、支持部材に対して軸方向に移動自在に支持される移動部材に固定するので、移動部材の移動による支持部材の傾斜を含むことなく、移動部材と支持部材との相対位置関係の測定を可能にすることができる。
【0024】
【発明の実施の形態】
<第1の実施の形態>
以下、本発明に係る第1の実施の形態を図に沿って説明する。図1はレーザ干渉部をテーブルに固定した際の測定装置及び工作機械を示す斜視図、図2は反射鏡をテーブルに固定した際の測定装置及び工作機械を示す斜視図、図3は第1の実施の形態に係るレーザ干渉計を示す斜視模式図、図4は本発明のレーザ干渉計を用いた際のローリング感度校正の一例を示す図、図5は工作機械の測定結果の一例を示す図である。
【0025】
図1に示すように、工作機械20の位置偏差を測定し得る測定装置50は、レーザ干渉計1とレーザヘッド(レーザ測長手段)12とを備えている。該工作機械20は、例えば工場の床30に載置されて支持されているベッド(支持部材)21を有しており、該ベッド21にはガイド部材21aが支持されている。該ガイド部材21aにはテーブル(移動部材)22がZ方向に移動自在に支持されており、該テーブル22は、例えば不図示のモータの駆動などによりZ方向に移動する。
【0026】
また、工作機械20のベッド21には、刃物台23が設けられており、該刃物台23に設けられたアーム24にチャック25を有している。工作機械20により工作を行う際は、該チャック25にバイトなどの工具を取付けると共にテーブル22に被工作物を設置・固定し、該テーブル22を移動させて被工作物と工具とを接触させつつ工作を行う。なお、図1に示す工作機械20は、説明の便宜上、簡単に示した模式的なものであり、Z方向に移動するものを一例として説明しているが、実際には更に複雑な形状、動作を行うものである。
【0027】
レーザヘッド12は、例えば三脚12bなどで床30に配置されており、該レーザヘッド12内には、P波とS波とを有するレーザ光を照射自在なレーザ発振器と、入力されるレーザ光のP波とS波との波長に基づき詳しくは後述する光路長の変化量を測定し得る光電変換器とが備えられている。また、レーザヘッド12には、レーザ発振器のレーザ光の照射と光電変換器へのレーザ光の入力とを同軸方向に行う入出力ヘッド12aが備えられており、該レーザヘッド12は、該入出力ヘッド12aが後述するレーザ干渉計1のレーザ干渉部3の入出力部8aに対して向けられ、かつレーザ光の入出力をZ軸方向に行うように配置される。
【0028】
なお、上記工作機械20のベッドやテーブルには、その形状や役割によって種々の名称があり、例えば主軸頭、刃物台、コラム、ステージなどの名称があるが、説明の便宜上、本明細書中においては、床30に対して支持されている支持部材をベッド21、該ベッド21に対して移動する移動部材をテーブル22とする。
【0029】
本発明の要部となるレーザ干渉計1は、反射鏡(反射手段)2とレーザ干渉部(レーザ光路生成手段)3とを備えて構成されており、該反射鏡2は、図3に示すように、レーザ干渉部3に対して略々対象な所定角度に傾斜した2つの平面鏡4、5を有している。該反射鏡2は、図1に示すように、略々直方体形状の反射鏡ケース2aを有しており、それら平面鏡4,5は、該本体ケース2a内に格納されている。また、本体ケース2aのレーザ干渉部3と対向する面には、レーザ光が通過するためのスリット状の孔2bが形成されている。
【0030】
一方、レーザ干渉部3は、図3に示すように、2つの楔プリズム6a,6bを有するバイプリズム(屈折部)6、1/4波長板(第2の波長板)7a,7b、偏光ビームスプリッタ(分光部)8、平面型反射鏡であるターニングミラー(反射部)9、1/4波長板(第1の波長板)10、キューブコーナプリズム(光路軸変更部)11を有して構成されており、図1に示すように、略々直方体形状の干渉部ケース3aに格納されている。また、該干渉部ケース3aには、上記レーザヘッド12に対するレーザ光が通過する孔3bと、上記反射鏡2に対するレーザ光が通過する孔3c、3dとが、それぞれ形成されている。
【0031】
図3に示すように、偏光ビームスプリッタ8は、Z軸方向に対して略45°の角度である偏光面8bと、レーザ光を入出力する入出力面8aと、を有しており、該入出力面8aは、反射鏡2に対して該偏光ビームスプリッタ8におけるZ軸方向の反対側に位置し、即ち上記レーザヘッド12の入出力ヘッド12aにZ軸方向において対向するように位置している。また、ターニングミラー9は、該偏光ビームスプリッタ8のZ軸方向に対して直角方向に配置されており、上記偏光ビームスプリッタ8及びターニングミラー9と反射鏡2との間のZ軸方向上には、上記バイプリズム6と1/4波長板7a,7bとがそれぞれ配置されている。更に、キューブコーナプリズム11は、上記ターニングミラー9に対して偏光ビームスプリッタ8の反対側に配置されており、該キューブコーナプリズム11と偏光ビームスプリッタ8との間には、1/4波長板10が配置されている。
【0032】
なお、バイプリズム6と1/4波長板7a,7bとのZ軸方向における位置は、図3に示すように、反射鏡2、バイプリズム6、1/4波長板7a,7b、偏光ビームスプリッタ8及びターニングミラー9の順が好ましいが、反射鏡2、1/4波長板7a,7b、バイプリズム6、偏光ビームスプリッタ8及びターニングミラー9の順に配置されていてもよい。また、1/4波長板7a,7bは別体であるが、一体的なものであってもよい。
【0033】
また、1/4波長板とは、結晶軸に対して正確にスライスした結晶片を用いたものであり、1/4波長板7a,7bはX−Y軸平面において結晶軸を45°に傾斜させ、1/4波長板10はX−Z軸平面において結晶軸を45°に傾斜させて用いている。
【0034】
ついで、上記レーザ干渉計1による測定について説明する。まず、上記レーザヘッド12のレーザ発振器よりP波(例えば縦波)とS波(例えば横波)とを有するレーザ光が出力され、図3に示す光路a1,b1を介して偏光ビームスプリッタ8の入出力面8aに入力される。すると、P波は該偏光ビームスプリッタ8の偏光面8bをそのまま通過して直進方向、即ちZ軸方向の光路b2に出力されると共に、S波は該偏光面8bにより直角方向、即ちY軸方向に反射されて光路a2に出力され、つまりレーザ光がP波とS波とに分光され、該P波が通過する第1光路(b2〜b11)と該S波が通過する第2光路(a2〜a11)に分光される。
【0035】
第2光路として、該光路a2に出力されたS波のレーザ光は、ターニングミラー9により直角方向に反射され、即ちZ軸方向の光路a3に出力される。該光路a3のS波レーザ光は、1/4波長板7aを通過して円偏光のレーザ光になると共に、バイプリズム6の楔プリズム6bによってZ軸方向に対して角度φに屈折され、光路a4に出力される。該光路a4の円偏光のレーザ光は、反射鏡2の平面鏡4の点4aにおいて該平面鏡4に垂直に入力され、該光路a4に反射される。反射された光路a4の円偏光のレーザ光は、再び楔プリズム6bによりZ軸方向に屈折されると共に、1/4波長板7aを通過してP波のレーザ光になり、光路a3に出力される。そして、光路a3のP波のレーザ光はターニングミラー9により直角方向、即ちY軸方向に反射されて、光路a2に出力される。
【0036】
光路a2に戻ってきた形のレーザ光は、P波になっているため、偏光ビームスプリッタ8の偏光面8bを直進方向、即ちY軸方向にそのまま通過し、光路a5に出力される。該光路a5のP波のレーザ光は1/4波長板10を通過して円偏光のレーザ光になって光路a6に出力され、該光路a6の円偏光のレーザ光は、キューブコーナプリズム11により、該光路a6の軸方向に対して平行でX軸方向に異なる軸上である光路a7に折り返して出力される。該光路a7の円偏光のレーザ光は、再び1/4波長板10を通過してS波のレーザ光となり、光路a8に出力される。
【0037】
該光路a8のレーザ光は、S波になっているため、偏光ビームスプリッタ8の偏光面8bにより直角方向、即ちZ軸方向の光路a9に反射される。該光路a9のS波のレーザ光は、1/4波長板7bを通過して円偏光のレーザ光になると共に、バイプリズム6の楔プリズム6aによってZ軸方向に対して角度φに屈折され、光路a10に出力される。該光路a10の円偏光のレーザ光は、反射鏡2の平面鏡5の点5bにおいて該平面鏡5に垂直に入力され、該光路a10に反射される。反射された光路a10の円偏光のレーザ光は、再び楔プリズム6aによりZ軸方向に屈折されると共に、1/4波長板7bを通過してP波のレーザ光になり、光路a9に出力される。
【0038】
そして、光路a9のレーザ光は、P波になっているため、偏光ビームスプリッタ8の偏光面8bをそのまま直進方向に通過し、入出力面8aより光路a11に出力されて、上記レーザヘッド12の光電変換器に入力される。つまり第2光路a2〜a11を通過するレーザ光は、反射鏡2の平面鏡4,5に対して2往復した後、レーザヘッド12に出力される。
【0039】
一方、第1光路として、該光路b2に出力されたP波のレーザ光は、1/4波長板7bを通過して円偏光のレーザ光になると共に、バイプリズム6の楔プリズム6bによってZ軸方向に対して角度φに屈折され、光路b3に出力される。該光路b3の円偏光のレーザ光は、反射鏡2の平面鏡4の点4bにおいて該平面鏡4に垂直に入力され、該光路b3に反射される。反射された光路b3の円偏光のレーザ光は、再び楔プリズム6bによりZ軸方向に屈折されると共に、1/4波長板7bを通過してS波のレーザ光になり、光路b2に出力される。
【0040】
光路b2に戻ってきた形のレーザ光は、S波になっているため、偏光ビームスプリッタ8の偏光面8bにより直角方向、即ちY軸方向の光路b4に反射される。該光路b4のS波のレーザ光は1/4波長板10を通過して円偏光のレーザ光になって光路b5に出力され、該光路b5の円偏光のレーザ光は、キューブコーナプリズム11により、該光路b5の軸方向に対して平行でX軸方向に異なる軸上である光路b6に折り返して出力される。該光路b6の円偏光のレーザ光は、再び1/4波長板10を通過してP波のレーザ光となり、光路b7に出力される。
【0041】
光路b7のレーザ光は、P波になっているため、偏光ビームスプリッタ8の偏光面8bを直進方向、即ちY軸方向にそのまま通過し、光路b8に出力される。該光路b8のP波のレーザ光は、ターニングミラー9により直角方向に反射され、即ちZ軸方向の光路b9に出力される。該光路b9のP波レーザ光は、1/4波長板7aを通過して円偏光のレーザ光になると共に、バイプリズム6の楔プリズム6aによってZ軸方向に対して角度φに屈折され、光路b10に出力される。該光路b10の円偏光のレーザ光は、反射鏡2の平面鏡5の点5aにおいて該平面鏡5に垂直に入力され、該光路b10に反射される。反射された光路b10の円偏光のレーザ光は、再び楔プリズム6aによりZ軸方向に屈折されると共に、1/4波長板7aを通過してS波のレーザ光になり、光路b9に出力される。
【0042】
そして、光路b9のS波のレーザ光はターニングミラー9により直角方向、即ちY軸方向に反射されて、光路b8に出力される。そして、光路b8に戻ってきた形のレーザ光は、S波になっているため、偏光ビームスプリッタ8の偏光面8bにより直角方向、即ちZ軸方向の光路b11に出力されて、上記レーザヘッド12の光電変換器に入力される。つまり第1光路b2〜b11を通過するレーザ光も同様に、反射鏡2の平面鏡4,5に対して2往復した後、レーザヘッド12に出力される。
【0043】
なお、図3に示した光路a1,b1、光路a5,b4、光路a6,b5、光路a7,b6、光路a8,b7、及び光路a11,b11は、説明の便宜上、平行な軸線として示しているが、これらの光路は、それぞれ同一軸上の光路である。
【0044】
ここで、例えば反射鏡2がレーザ干渉部3に対してZ軸周りのγ方向であるロール方向に相対移動したとする。すると、第1光路と第2光路とをそれぞれ通過するレーザ光が反射する点4a,5b及び点4b,5aは、点4a及び点5bが平面鏡4,5の傾斜に対して谷側(つまり内側)又は山側(つまり外側)に、点4b及び点5aが平面鏡4,5の傾斜に対して山側(つまり外側)又は谷側(つまり内側)に移動する形となる。即ち、光路a4及び光路a10の光路長に対して光路b3及び光路b10の光路長が縮まる、又は伸びることになり、第1光路と第2光路との光路長に相対的な変化が生じる。第1光路と第2光路との光路長に相対的な変化が生じると、入出力面8aから出力される光路a11,b11のP波とS波とのレーザ光にドップラー周波数偏移が生じ、レーザヘッド12の光電変換器により光路長の変化(以下、「検出光長」とする。)を検出することが可能となる。なお、この光電変換器によるドップラー周波数偏移の検出は、公知の技術であるので、その説明を省略する。
【0045】
また、点4aと点4b(点5aと点5b)の距離を2vとし、上記ロール方向の角度θと光路長の変化量Δとを式で示すと、
θ=tan−1(Δ/(8v・sinφ))・・・・・・式1
となる。それらロール方向の角度θと光路長の変化量Δとの関係は、点4aと点5a(点4bと点5b)の距離2uに依存せず、つまり反射鏡2とレーザ干渉部3との距離はなんら影響がない。
【0046】
上記式1の関係は、点4aと点4b(点5aと点5b)の距離2vが一定で、かつ角度φも一定であるため、図4に示すような検出光長(mm)と発生ローリング(角秒)との関係として得られる。この発生ローリングを累積演算することで、反射鏡2とレーザ干渉部3とのロール方向の位置偏差を算出することが可能であり、つまり検出光長に基づいてロール方向の位置偏差を算出することが可能である。
【0047】
なお、この図4に示す関係は、ピッチ方向の位置偏差を測定し得るレーザ測定器によりX軸方向から測定したものによって正確性が確認されている。また、反射鏡2とレーザ干渉部3との距離を変化させて(例えば200mm、800mm、1400mm)測定した実験結果からも、その反射鏡2とレーザ干渉部3との距離に依存することなく、この関係の正確性が確認されている。
【0048】
また、従来の技術と同様に、横方向(X方向)、縦方向(Y方向)、軸方向(Z方向)、ピッチ方向(α方向)、ヨー方向(β方向)に対して変位があった場合は、光路a4及び光路a10の光路長と、光路b3及び光路b10の光路長とが共に伸縮、或いは変化せずに、その2つの光路長に相対的な変化が生じない。
【0049】
以上に説明したレーザ干渉計1を用いて工作機械20を測定する際は、図1に示すように、該工作機械20に、レーザ干渉計1を備えた測定装置50を設置する。まず、レーザ干渉計1の反射鏡2を工作機械20のベッド21上に固定し、レーザ干渉部3をテーブル22上に固定する。この固定の際は、反射鏡2とレーザ干渉部3とがZ軸方向において正確に一直線上になるように、かつ平面鏡4,5の角度とレーザ干渉部3の角度がZ軸方向に対する正確な位置になるように固定することが好ましいが、僅かなずれがあっても第1光路(特に光路b3及び光路b10)と第2光路(特に光路a4及び光路a10)との光路長に差が生じないので、特に問題はない。また、レーザヘッド12を、レーザ干渉部3の入出力面8aに対して入出力ヘッド12aがZ軸方向において一直線上になるように床30上に設置する。
【0050】
その後、レーザヘッド12のレーザ発振器よりレーザ光を照射すると共に、光電変換器により第1光路と第2光路との光路長の相対変化の測定を開始する。そして、工作機械20のテーブル22をベッド21に対してZ軸方向に移動させ、測定装置50によって、テーブル22の移動に伴うロール方向(γ方向)の位置偏差を測定する。この際、レーザ干渉部3の入出力面8aはZ軸方向に移動し、またレーザヘッド12の入出力ヘッド12aもZ軸方向に向けられているので、レーザ干渉部3をテーブル22によりZ軸方向に移動しても、入出力面8aに対するレーザ光の入出力がずれることはない。また、レーザ干渉部3がZ軸方向に移動するだけであれば、第1光路と第2光路との光路長が共に伸縮するだけであって、相対的な光路長の差は生じない。
【0051】
また、レーザ干渉計1を用いて工作機械20を測定する際は、図2に示すように、レーザ干渉計1の反射鏡2を工作機械20のテーブル22上に固定し、レーザ干渉部3をベッド21上に固定してもよい。この際も同様に、レーザヘッド12を、レーザ干渉部3の入出力面8aに対して入出力ヘッド12aがZ軸方向において一直線上になるように床30上に設置する。
【0052】
その後、レーザヘッド12のレーザ発振器よりレーザ光を照射すると共に、光電変換器により第1光路と第2光路との光路長の相対変化の測定を開始し、工作機械20のテーブル22をベッド21に対してZ軸方向に移動させ、測定装置50によって、テーブル22の移動に伴うロール方向(γ方向)の位置偏差を測定する。この際、入出力面8aに対するレーザヘッド12からのレーザ光の入出力がずれることなく、また、反射鏡2がZ軸方向に移動するだけであれば、第1光路と第2光路との光路長が共に伸縮するだけであって、相対的な光路長の差は生じない。
【0053】
例えば上記測定装置50を用いて工作機械20を測定した実験結果の一例を説明する。図5に示すように、ベッド21の所定位置からZ軸方向に約1300mmまでの部分においてテーブル22を7回移動させ、その際のロール方向の位置偏差を測定すると、実験結果A,B,C,D,E,F,Gが得られた。この7回の実験結果A〜Gによると、移動開始後300mm付近までに約+70角秒のローリングが生じ、500mm付近で約+30角秒のローリングに下がり、再び600mm付近で約+50角秒のローリングが生じた後、900mm付近で一旦ローリングが収まり、その900mm付近から1300mmまでに反対方向である約−140角秒のローリングが生じていることが検出された。これら7回の実験結果A〜Gは、僅かな誤差があるものの、略々同じ位置で同じローリングが生じていることを証明しており、測定装置50の正確性を証明している。
【0054】
以上のように、本発明に係るレーザ干渉計1によると、レーザ干渉部3の入出力面8aが反射鏡2に対してレーザ干渉部3のZ軸方向における反対側に位置しているので、レーザ光をZ軸方向より入力することができ、かつ第1光路b2〜b11及び第2光路a2〜a11を通過したレーザ光をZ軸方向に出力することができる。それにより、例えば反射鏡2に対してレーザ干渉部3をZ軸方向に移動させることができ、Z軸方向に移動する工作機械20のテーブル22などにレーザ干渉部3を設置することも可能にすることができるものでありながら、反射鏡2とレーザ干渉部3とのロール方向の位置偏差の測定を可能にすることができる。
【0055】
また、キューブコーナプリズム11は、従来のように2箇所から入力されて他の2箇所に折り返し出力するのではなく(図7の光路c6,c7及び光路d4,d5参照)、偏光ビームスプリッタ8からのレーザ光が光路a5,a6及び光路b4,b5からの1箇所に入力され、かつ光路a7,a8及び光路b6,b7に対する1箇所から該偏光ビームスプリッタ8にレーザ光を折り返し出力するので、該キューブコーナプリズム11をコンパクト化することができ、レーザ干渉部3をコンパクト化することができる。
【0056】
更に、従来のように偏光ビームスプリッタが2つではなく(図7の108,109参照)、偏光ビームスプリッタが1つであるので、上記キューブコーナプリズム11のコンパクト化と相俟って、レーザ干渉部3をコンパクト化することができる。
【0057】
また、レーザ干渉部3をコンパクト化することができるため、例えば工作機械20のテーブル22やベッド21などにレーザ干渉部3を設置(固定)することが可能となり、例えばテーブル22の移動による工作機械20の重心移動に起因するベッド21の傾斜を含むことなく、テーブル22とベッド21とのロール方向の位置偏差の測定を可能にすることができる。
【0058】
<第2の実施の形態>
ついで、以下に本発明に係る第2の実施の形態を図に沿って説明する。図6は第2の実施の形態に係るレーザ干渉計を示す斜視模式図である。なお、第2の実施の形態においては、一部の変更部分を除き、第1の実施の形態と同様な部分に同符号を付して、その説明を省略する。
【0059】
図6に示すように、レーザ干渉計1’のレーザ干渉部3’は、上記ターニングミラー9の代わりに屋根型反射鏡であるアミチプリズム(反射部)14を有しており、該アミチプリズム14は、直角二面鏡である反射面14aと反射面14bとを有している。
【0060】
レーザ干渉計1’において、偏光ビームスプリッタ8により分光されたS波のレーザ光が光路a2に出力されると、上記アミチプリズム14の反射面14a及び反射面14bにより異なる平行な平面上に直角に反射、即ちY−Z軸方向の光路a2を含む平面上から光路a3’を含む平面上に平行移動する形でY軸方向からZ軸方向に直角に反射されて、光路a3’に出力される。また、光路a4’、反射鏡5を介して往復したレーザ光は、光路a3’において1/4波長板7aによりP波のレーザ光になっており、該光路a3’のP波のレーザ光は、同様にアミチプリズム14の反射面14b及び反射面14aを介して光路a2に出力される。
【0061】
また、光路b7から偏光ビームスプリッタ8に入力され、偏光面8bを直進して光路b8に出力されたP波のレーザ光は、同様にアミチプリズム14の反射面14b及び反射面14aを介して光路b9’に出力される。更に、光路b10’、反射鏡4を介して往復したレーザ光は、光路b9’において1/4波長板7aによりS波のレーザ光になっており、該光路b9’のS波のレーザ光は、同様にアミチプリズム14の反射面14a及び反射面14bを介して光路b8に出力される。
【0062】
即ち、第1光路b2〜b11を通過するレーザ光は、光路b3及び光路b10’により反射鏡4に対して2往復し、また、第2光路a2〜a11を通過するレーザ光は、光路a4’及び光路a10により反射鏡5に対して2往復する。例えばレーザ干渉部3’に対して反射鏡2がX軸方向に移動したとすると、第1光路と第2光路とをそれぞれ通過するレーザ光が反射する点4a,4b及び点5a,5bは、点4a及び点4bが平面鏡4の傾斜に対して谷側(つまり内側)又は山側(つまり外側)に、点5a及び点5bが平面鏡5の傾斜に対して山側(つまり外側)又は谷側(つまり内側)に移動する形となる。このため、光路a4’及び光路a10の光路長に対して光路b3及び光路b10’の光路長が縮まる、又は伸びることになり、第1光路と第2光路との光路長に相対的な変化が生じる。
【0063】
なお、例えばレーザ干渉部3’に対して反射鏡2がヨー方向(β軸方向)に移動したとすると、第1光路と第2光路とをそれぞれ通過するレーザ光が反射する点4a,4b及び点5a,5bは、点4a及び点4bが平面鏡4の傾斜に対して谷側(つまり内側)又は山側(つまり外側)に、点5a及び点5bが平面鏡5の傾斜に対して山側(つまり外側)又は谷側(つまり内側)に移動する形となるが、平面鏡4,5の角度がヨー方向(β軸方向)変化しているため、反射されたレーザ光の光路に該ヨー方向(β軸方向)の移動に対する角度が発生する。即ち、上記バイプリズム6a,6bによって角度2φで広がりつつ反射鏡4,5に入力されたレーザ光(光路a4’及び光路b10’、光路a10及び光路b3のレーザ光)は、ヨー方向(β軸方向)の移動に対する角度に方向転換して反射され、同じ角度2φで収束しつつバイプリズム6a,6bに出力される。これにより、一方の往路の光路が縮まった場合はその復路の光路が伸び、他方の往路の光路が伸びた場合はその復路の光路が縮まるので、第1光路と第2光路との光路長に相対的な変化が生じることはない。
【0064】
つまり、縦方向(Y方向)、軸方向(Z方向)、ピッチ方向(α方向)、ヨー方向(β方向)、ロール方向(γ方向)に対して変位があった場合は、光路a4’及び光路a10の光路長と、光路b3及び光路b10’の光路長に相対的な変化が生じない。
【0065】
そして、第1の実施の形態と同様に、このように第1光路と第2光路との光路長に相対的な変化が生じると、入出力面8aから出力される光路a11,b11のP波とS波とのレーザ光にドップラー周波数偏移が生じ、レーザヘッド12の光電変換器により光路長の変化(以下、「検出光長」とする。)を検出することが可能となる。
【0066】
以上に説明したレーザ干渉計1’を用いて工作機械20を測定する際は、第1の実施の形態と同様に、反射鏡2をベッド21上に固定すると共に、レーザ干渉部3’をテーブル22上に固定、又は反射鏡2をテーブル22上に固定すると共にレーザ干渉部3’をベッド21上に固定し、レーザヘッド12を、レーザ干渉部3’の入出力面8aに対して入出力ヘッド12aがZ軸方向において一直線上になるように床30上に設置する(図1及び図2参照)。
【0067】
その後、レーザヘッド12のレーザ発振器よりレーザ光を照射すると共に、光電変換器により第1光路と第2光路との光路長の相対変化の測定を開始し、工作機械20のテーブル22をベッド21に対してZ軸方向に移動させ、測定装置50によって、テーブル22の移動に伴う横方向(X軸方向)の位置偏差、いわゆる真直度を測定する。
【0068】
以上のように、本発明に係るレーザ干渉計1’によると、レーザ干渉部3’の入出力面8aが反射鏡2に対してレーザ干渉部3のZ軸方向における反対側に位置しているので、レーザ光をZ軸方向より入力することができ、かつ第1光路b2〜b11及び第2光路a2〜a11を通過したレーザ光をZ軸方向に出力することができる。それにより、例えば反射鏡2に対してレーザ干渉部3’をZ軸方向に移動させることができ、Z軸方向に移動する工作機械20のテーブル22などにレーザ干渉部3を設置して、反射鏡2とレーザ干渉部3との横方向の位置偏差の測定を可能にすることができる。
【0069】
なお、第1及び第2の実施の形態において説明したレーザ干渉計1,1’は、ロール方向(γ方向)の位置偏差、或いは横方向(X軸方向)の位置偏差を測定するものを説明したが、該レーザ干渉計1,1’全体を90度回転させた形、つまり横向きで用いることも可能であり、この際、レーザ干渉計1は同様にロール方向(γ方向)の位置偏差、レーザ干渉計1’はY軸方向である縦方向の位置偏差、をそれぞれ測定することが可能である。
【0070】
また、第1及び第2の実施の形態において、工作機械20を測定する測定装置50について説明したが、該測定装置50は、特に工作機械に限らず、支持部材と該支持部材に対して軸方向に移動する移動部材とであり、反射鏡2とレーザ干渉部3,3’とが設置(固定)可能なものであれば、どのようなものであってもそれらの位置偏差を測定することが可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】レーザ干渉部をテーブルに固定した際の測定装置及び工作機械を示す斜視図。
【図2】反射鏡をテーブルに固定した際の測定装置及び工作機械を示す斜視図。
【図3】第1の実施の形態に係るレーザ干渉計を示す斜視模式図。
【図4】本発明のレーザ干渉計を用いた際のローリング感度校正の一例を示す図。
【図5】工作機械の測定結果の一例を示す図。
【図6】第2の実施の形態に係るレーザ干渉計を示す斜視模式図。
【図7】従来のレーザ干渉計を示す斜視模式図。
【符号の説明】
1 レーザ干渉計
2 反射手段(反射鏡)
3 レーザ光路生成手段(レーザ干渉部)
4 平面鏡
5 平面鏡
6 屈折部(バイプリズム)
7a 第2の波長板(1/4波長板)
7b 第2の波長板(1/4波長板)
8 分光部(偏光ビームスプリッタ)
8a 入出力部
9 反射部、平面型反射鏡(ターニングミラー)
10 第1の波長板(1/4波長板)
11 光路軸変更部(キューブコーナプリズム)
12 レーザ測長手段(レーザヘッド)
14 反射部、屋根型反射鏡(アミチプリズム)
21 支持部材(ベッド)
22 移動部材(テーブル)
30 基準床(床)
50 測定装置
a2〜a11 第2光路
b2〜b11 第1光路
Claims (4)
- 所定角度で傾斜した2つの平面鏡を有する反射手段と、P波と該P波に対して偏光面が直交する平面のS波とを有するレーザ光を入力して第1光路と第2光路に分光し、該第1光路と該第2光路とに分光されたレーザ光を前記反射手段に2往復させてから出力するレーザ光路生成手段と、を備え、前記反射手段と前記レーザ光路生成手段とを軸方向に相対移動させた際に、前記反射手段と前記レーザ光路生成手段との相対位置関係によって前記第1光路と前記第2光路との距離が相対変化するレーザ干渉計において、
前記レーザ光路生成手段は、
一側面に、前記反射手段に対して前記レーザ光路生成手段の軸方向反対側に位置して、前記レーザ光を前記軸方向より入力自在で、かつ前記第1光路及び前記第2光路を通過したレーザ光を前記軸方向に出力自在な入出力部を有し、入力されるレーザ光に対して前記P波を直進方向に、かつ前記S波を直角方向に分光して出力する分光部と、
前記分光部の前記軸方向に対して直角方向に配置され、入力されるレーザ光を直角に反射する反射部と、
前記反射部に対して前記分光部の反対側に配置され、前記分光部から出力されたレーザ光を異なる平行な軸上に折り返し出力する光路軸変更部と、
前記分光部と前記光路軸変更部との間に配置され、前記分光部から出力されて前記光路軸変更部を介して該分光部に入力されるレーザ光が通過する際に、前記P波を前記S波に、前記S波を前記P波に、それぞれ変換する第1の波長板と、
前記分光部及び前記反射部と前記反射手段との間に配置され、前記分光部及び前記反射部からの前記軸方向のレーザ光を、前記反射手段の平面鏡に対して垂直になるように前記所定角度に屈折させる屈折部と、
前記分光部及び前記反射部と前記反射手段との間に配置され、前記分光部又は前記反射部から出力されて前記反射手段を介して該分光部又は該反射部に入力されるレーザ光が通過する際に、前記P波を前記S波に、前記S波を前記P波に、それぞれ変換する第2の波長板と、を有する、
ことを特徴とするレーザ干渉計。 - 前記反射部は、入力されるレーザ光を同一平面上に直角に反射する平面型反射鏡であり、
前記反射手段と前記レーザ光路生成手段とが前記軸方向に対するロール方向に相対移動した場合に、前記第1光路と前記第2光路との距離が相対変化する、
ことを特徴とする請求項1記載のレーザ干渉計。 - 前記反射部は、入力されるレーザ光を異なる平行な平面上に直角に反射する屋根型反射鏡であり、
前記反射手段と前記レーザ光路生成手段とが前記軸方向に対する横方向に相対移動した場合に、前記第1光路と前記第2光路との距離が相対変化する、
ことを特徴とする請求項1記載のレーザ干渉計。 - 前記請求項1ないし3のいずれか記載のレーザ干渉計と、
前記レーザ光を照射自在で、かつ前記レーザ光路生成手段より出力された前記第1光路と前記第2光路とのレーザ光の波長の位相差に基づき、前記第1光路と前記第2光路との距離の相対変化を測定し得るレーザ測長手段と、を備え、
前記レーザ測長手段を、基準床に、該レーザ測長手段により照射される前記レーザ光が前記レーザ光路生成手段の前記入出力部に入力されるように前記軸方向に配置し、
前記反射手段及び前記レーザ光路生成手段のいずれか一方を、前記基準床に対して支持される支持部材に固定し、
前記反射手段及び前記レーザ光路生成手段の他方を、前記支持部材に対して軸方向に移動自在に支持される移動部材に固定し、
前記移動部材を前記支持部材に対して前記軸方向に移動させた際に、前記支持部材に対する前記移動部材の位置偏差を測定する、
ことを特徴とする測定装置。
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