JP3634353B2 - 遅延回路および該遅延回路を用いたウェーハテスト回路 - Google Patents
遅延回路および該遅延回路を用いたウェーハテスト回路 Download PDFInfo
- Publication number
- JP3634353B2 JP3634353B2 JP2000400079A JP2000400079A JP3634353B2 JP 3634353 B2 JP3634353 B2 JP 3634353B2 JP 2000400079 A JP2000400079 A JP 2000400079A JP 2000400079 A JP2000400079 A JP 2000400079A JP 3634353 B2 JP3634353 B2 JP 3634353B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- fuse
- output
- flip
- circuit
- delay
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Pulse Circuits (AREA)
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、オシレータと縦続接続した複数のフリップフロップからなる2進多段カウンタとから構成される遅延回路に係り、特にレーザトリミングによりヒューズを選択的に切断することで所望の遅延時間を設定することが可能な遅延回路およびそれを用いたウェーハテスト回路に関する。
【0002】
【従来の技術】
遅延回路は、入力信号を遅延するために様々な半導体電子回路に組み込まれている。例えば、充放電保護回路において、過充電,過放電,放電過電流,または充電過電流から2次電池を保護するために、過充電,過放電,放電過電流,または充電過電流を検出した場合、これらの検出信号を、それぞれに対応して予め決められた所定時間だけ遅延回路で遅延させた後、充放電経路に設けられた充電制御用スイッチまたは放電制御用スイッチに加えてこれらのスイッチをオフにする構成が提案されている。このような技術については、例えば、特開平9−182283号公報、特開平11−103528号公報、あるいは本出願人が先に出願した特願2000−83375号などに開示されている。
【0003】
図4は、上記従来技術において用いられている遅延回路を概念的に示す図であり、過充電,過放電,放電過電流,または充電過電流などを検出する検出回路100の検出信号を遅延回路200で所定時間遅延させて遅延出力を得、この遅延出力を図示しない充電制御用スイッチや放電制御用スイッチをオフにするようにしたもので、ここで遅延回路200はオシレータ201とカウンタ202から構成されている。カウンタ202は、縦続接続した複数のフリップフロップからなる2進多段カウンタで構成され、遅延出力を取る段を選択することによって所望の遅延時間を得るようにしている。
【0004】
図5〜7は、上述したオシレータ201と2進多段カウンタ202からなる従来の遅延回路における2進多段カウンタ202から所望の遅延出力を得るための構成を説明する図である。図5は、N段構成のフリップフロップの最終段(N段目)のフリップフロックの出力を遅延出力とする図であり、図6は、(N−2)段目のフリップフロップの出力を遅延出力とする図であり、図7は、N段目のフリップフロップの出力と(N−2)段目のフリップフロップの出力のAND(論理積)を取って遅延出力とする図である。
【0005】
フリップフロップの初段における遅延時間をdとすると、図5に示す遅延回路の遅延時間はd・2N−1であり、図6に示す遅延回路の遅延時間はd・2N ― 3であり、図7に示す遅延回路の遅延時間はd・(2N−1+2N ― 3)である。例えば、N=5、d=0.25Sとすると、図5の遅延回路における遅延時間は4S、図6の遅延回路における遅延時間は1S、図7の遅延回路における遅延時間は5Sとなる。
【0006】
従来は、図5〜7の如き遅延回路を製造する場合、それぞれの遅延時間に対応する露光マスクを予め用意しておき、所望の遅延時間に対応する露光マスクを使用して遅延回路を製造するようにしていた(ここでフリップフロップの段数自体は予め回路として用意されているものとする)。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上述した従来技術は次のような問題点を有している。すなわち、遅延回路に対して顧客から要求される遅延時間が複数種類にわたる場合、その遅延時間に対応する複数種類分の枚数の露光マスクを予め用意しておく必要があり、かつ、顧客からの注文が確定しどの露光マスクを使用したらよいかが決まるまで、その露光マスクを用いて行う工程の直前で作業を中断して待つ必要があった。
【0008】
また、その顧客から要求される複数種類分の製品の中で、初期特性を測定するウェハーテスト時間は遅延時間の大きい製品ほど大きくなっていた。例えば、図5〜7の例では、(図6のウェハーテスト時間)<(図5のウェハーテスト時間)<(図7のウェハーテスト時間)のように、遅延時間の大きい遅延回路ほど大きいウェハーテスト時間を必要としていた。
【0009】
本発明の目的は、上記問題点を解消し、多種類の露光マスクを不要とし、ウェハーテストまでを完了させた状態で在庫することができ、納品までの時間を短縮できる遅延回路(請求項1〜2)、およびウェハーテスト時のテスト時間を短縮することが可能なウェーハテスト回路(請求項3)を提供することである。
【0010】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、
a)請求項1記載の発明は、オシレータと、該オシレータの出力に多段に縦続接続された複数のフリップフロップからなる2進多段カウンタとから構成される遅延回路であって、2進多段カウンタの各段のフリップフロップの出力に一方の端部が接続された選択的に切断可能なヒューズと、前記2進多段カウンタの隣り合う段に接続された前記ヒューズの他方の端部間に設けられた抵抗とを有し、前記ヒューズを選択的に切断し、前記2進多段カウンタの最前段のフリップフロップの出力に接続された前記ヒューズの前記他方の端部から遅延信号を出力するようにしたことを特徴としている。
【0011】
b)請求項2記載の発明は、オシレータと、該オシレータの出力に多段に縦続接続された複数のフリップフロップからなる2進多段カウンタとから構成される遅延回路であって、2進多段カウンタの所望の複数の段のフリップフロップの出力に一方の端部が接続された選択的に切断可能な第1のヒューズと、2進多段カウンタの前記所望の複数の段のうち隣り合う段に接続された第1のヒューズの他方の端部間に設けられた第1の抵抗と、2進多段カウンタの前記所望の複数の段のフリップフロップの出力に一方の端部が接続された選択的に切断可能な第2のヒューズと、2進多段カウンタの前記所望の複数の段のうち隣り合う段に接続された第2のヒューズの他方の端部間に設けられた第2の抵抗と、2進多段カウンタの前記所望の複数の段のフリップフロップの出力に接続された前記第1または第2のヒューズの前記他方の端部からの信号を入力する論理回路とを有し、前記第1および第2のヒューズを選択的に切断し、該論理回路の出力を遅延信号として出力するようにしたことを特徴としている。
【0012】
c)請求項3記載の発明は、請求項1記載の遅延回路を用いたウェーハテスト回路であって、2進多段カウンタのヒューズが接続された最下段の出力によってオシレータを所望の周波数に合わせ込むための初期特性テストを行うことを特徴としている。
【0013】
上記構成によれば、前記ヒューズを選択的に切断(レーザトリミング)することにより、あらゆる遅延時間設定が可能になるため、多種類の露光マスクを不要とし、ウェハーテストまでを完了させた状態で在庫することができ、顧客からの注文に対して後工程のレーザートリミング以降での対応となるのでデリバリが改善し、かつウェハーテスト時のテスト時間の短縮化が可能となる。
【0014】
【発明の実施の形態】
以下、図面を用いて本発明の実施例を説明する。
図1および図2は、本発明の実施例を説明するための図である。
従来は、使用する露光マスクの選択の仕方によって遅延時間の設定を行っていたが、本実施例では、図1または2に示すように2進多段カウンタの段と段との間または段と遅延出力の間に切断可能なヒューズと抵抗または論理回路を接続しておき、該ヒューズの選択的に切断により遅延時間の設定を行うようにしたものである。
【0015】
本実施例における遅延回路は、オシレータと2進多段カウンタで構成されているが、オシレータの周波数はレーザトリミングにより規定の周波数に変更することが可能であり、この周波数の変更により遅延時間を所望の時間に設定することもできる。ここでオシレータの周波数は、ウェハーテスト時の遅延時間を測定しその遅延時間から前工程後のオシレータの周波数が分かることから、そのデータを元にトリミングを実行するように構成する。
【0016】
前述したように、図5〜7に示した従来の構成では異なるフリップフロップの段の出力を遅延出力としているため、ウェハーテスト時の遅延時間測定に要するテスト時間は異なる。しかし、本実施例では、図1に示すように(N−4)段目〜N段目の各段の間をヒューズと抵抗で接続することにより、ウェハーテスト時の遅延時間としては(N−4)段目の出力がハイレベル“H”になった時間で決まるので、接続している最下段の遅延時間(0.25S)の測定でウェーハテストが実行されることになる。従って、図5〜図7に示した従来構成の遅延回路に比べ、ウェーハテスト時間を大幅に短縮できることが分かる。
【0017】
図1において、(N−4)段目の遅延時間(0.25S)の測定によりウェハーテストを行った後、遅延時間を0.25S、0.5S、1.0S、2.0S、4.0Sのうち、所望の値に設定する。遅延時間を0.25Sにするには、ヒューズ1以外を全てトリミングし、遅延時間を0.5Sにするには、ヒューズ2以外を全てトリミングし、遅延時間を1.0Sにするには、ヒューズ3以外を全てトリミングし、遅延時間を2.0Sにするには、ヒューズ4以外を全てトリミングし、遅延時間を4.0Sにするには、ヒューズ5以外を全てトリミングすればよい。これは、ヒューズと抵抗で接続された各段のフリップフロップの出力のうちの1個のフリップフロップの出力を遅延時間出力端子とする回路例である。
【0018】
各段のフリップフロップに接続されたヒューズとヒューズとの間には、貫通電流防止のために高抵抗値(例えば、300kΩ)の電流制限抵抗が挿入されている。すなわち、(N−4)段目のフリップフロップに接続されたヒューズ1と(N−3)段目のフリップフロップに接続されたヒューズ2の間には電流制限抵抗R1が、(N−3)段目のフリップフロップに接続されたヒューズ2と(N−2)段目のフリップフロップに接続されたヒューズ3の間には電流制限抵抗R2が、(N−2)段目のフリップフロップに接続されたヒューズ3と(N−1)段目のフリップフロップに接続されたヒューズ4の間には電流制限抵抗R3が、(N−1)段目のフリップフロップに接続されたヒューズ4とN段目のフリップフロップに接続されたヒューズ5の間には電流制限抵抗R4がそれぞれ接続されている。この電流制限抵抗は、フリップフロップ出力がハイレベル“H”出力の段とローレベル“L”出力の段があり、ハイレベル“H”出力からローレベル“L”出力へ電流が流れつづけた時に電流制限し回路の破壊を防止するのに必要である。
【0019】
この電流制限抵抗は、遅延出力が“H”になったことを受けて各フリップフロップのリセットを実行する回路が含まれている場合、電流が流れるのは(N−4)段目のフリップフロップがハイレベル“H”でそれ以降の段のフリップフロップがローレベル“L”である場合だけとなるので、ヒューズ1とヒューズ2の間の抵抗R1のみが必要となる。
【0020】
図2は、選択的に2個以上のフリップフロップの出力の論理を取って遅延時間とする回路の一例である。本回路例では、2個のフリップフロップの出力から得られる入力1と入力2の論理を取って遅延時間としている。図2では、(N−4)段目がハイレベル“H”(0.25S)になると、入力2はハイレベル“H”となるが、ヒューズ12とヒューズ14との間に電流制限抵抗R13があるため入力1は“L”のままである。
【0021】
従って、(N−4)段目と(N−2)段目とが同時にハイレベル“H”になる時、入力1と入力2は共にハイレベル“H”となり、NAND回路の出力(NAND1)はローレベル“L”で設定時間となる。つまり、この図2の場合はヒューズで接続された最下位段のフリップフロップがハイレベル“H”になっただけでは、ウェハーテスト時の遅延時間の測定は完了しないことを意味している。
【0022】
これは、5S品を作成するために電流制限抵抗を挿入する位置をタイミングを考慮して挿入しているため発生する。N段目がハイレベル“H”になり、その後(N―2)段目がハイレベル“H”になった時初めてNAND1が“L”になるようにしなければ5S品はできない(後述する図3(a)参照)。
【0023】
5S品は、ヒューズ11〜ヒューズ13をトリミングするが、ここで、ヒューズ12とヒューズ14の間の抵抗R13をショート(短絡)し、その代わりの電流制限抵抗をヒューズ14と入力1との間に抵抗を挿入するように回路構成を変更すると、N段目がハイレベル“H”になる直前に(N−2)段目がハイレベル“H”からローレベル“L”に変化し、この抵抗を挿入すると入力1がハイレベル“H”からローレベル“L”になるのが遅れ、N段目がハイレベル“H”になる時に、同時に(N−2)段目がハイレベル“H”になる期間が発生し、N段目がはじめてハイレベル“H”になった時にNAND回路の出力(NAND1)はローレベル“L”となり、4S品にしかならない。このように、2個以上のフリップフロップの出力のANDを設定時間にする時は、タイミングを考慮して電流制限の抵抗を挿入する必要がある。
【0024】
図2においても各段のフリップフロップ出力が同時にハイレベル“H”とローレベル“L”となる出力をヒューズで結ぶ経路に高抵抗値の電流制限抵抗を挿入することにより回路破壊を防いでいる。
【0025】
図3(a)は、図2に示す回路構成の場合の(N−2)段目〜N段目のフリップフロップの出力を示す図である。
図3(b)は、図2に示す回路構成の場合の図で、図3(a)における時間軸が4S付近の入力1と入力2とNAND回路の出力(NAND1)の拡大図である。この場合、NAND回路の出力(NAND1)が4S付近でローレベル“L”になることがなく、所望の5S品ができることを示している。
【0026】
図3(c)は、図2の回路構成においてヒューズ12とヒューズ14の間の抵抗R13をショート(短絡)し、その代わりの電流制限抵抗をヒューズ14と入力1との間に抵抗を挿入するという回路構成を変更した場合の図で、図3(a)における時間軸が4S付近の入力1と入力2とNAND回路の出力(NAND1)の拡大図である。この場合は、回路構成を変更したことによって、NAND回路の出力(NAND1)が4S付近で“L”になる時があり、所望の5S品ができなくなる(4S品となる)ことを示している。
【0027】
図2の回路構成において、ヒューズを選択的に切断することによりタイマー設定時間を以下のように変更することが可能である。
ヒューズ13,14,15を切断:タイマー設定時間=0.25S
ヒューズ11,12,15を切断:タイマー設定時間=1.0S
ヒューズ11,12,13を切断:タイマー設定時間=5.0S
【0028】
以上、多種類の露光マスクが不要で、ウェハーテストまでを完了させた状態で在庫することができ、納品までの時間を短縮できる遅延回路、およびウェハーテスト時のテスト時間を短縮することが可能なウェーハテスト回路について説明したが、このような遅延回路技術は、従来の技術で説明した充放電保護回路などをはじめとするあらゆる電子回路に適用することができる。また、各種電子機器(例えば、各種携帯機器)にこのような遅延回路を有する電子回路を組み込ようにすれば、該各種電子機器の発注から納品までの時間を短縮することができる。
【0029】
【発明の効果】
本発明によれば、下記(a)〜(d)の如き効果を得ることができる。
(a)請求項1記載の発明によれば、選択的にレーザトリミングすることによってヒューズを1個のみ残すことができ、そのヒューズで結線された2進多段カウンタの任意の段からの出力を用いることによって任意の遅延時間を設定できる。
(b)請求項2記載の発明によれば、2個以上の段の出力の論理をとって遅延出力とする場合、電流制限抵抗の挿入位置をタイミングを考慮して挿入することで、任意の遅延時間の和を作り出すことが可能となる。
【0030】
(c)請求項1および2の発明によれば、多種類の露光マスクを不要とし、ウェハーテストまでを完了させた状態で在庫することができ、顧客からの注文に対して納品までの待ち時間を短縮することができる。
(d)請求項3記載の発明によれば、ウェハーテスト時間を短縮することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例を説明するための図である(その1)。
【図2】本発明の実施例を説明するための図である(その2)。
【図3】図2に示す回路構成の場合の(N−2)段目〜N段目のフリップフロップの出力およびNAND回路の入力1,入力2,出力を説明するための図である。
【図4】従来技術において用いられている遅延回路を概念的に示す図である。
【図5】従来の遅延回路における2進多段カウンタから所望の遅延出力を得るための構成を説明する図である(その1)。
【図6】従来の遅延回路における2進多段カウンタから所望の遅延出力を得るための構成を説明する図である(その2)。
【図7】従来の遅延回路における2進多段カウンタから所望の遅延出力を得るための構成を説明する図である(その3)。
【符号の説明】
1〜5,11〜15:ヒューズ、
R1〜R4,R11〜R13:抵抗(電流制限抵抗)、
100:検出回路、
200:遅延回路、
201:オシレータ、
202:カウンタ。
Claims (3)
- オシレータと、該オシレータの出力に多段に縦続接続された複数のフリップフロップからなる2進多段カウンタとから構成される遅延回路であって、
前記2進多段カウンタの各段のフリップフロップの出力に一方の端部が接続された選択的に切断可能なヒューズと、
前記2進多段カウンタの隣り合う段に接続された前記ヒューズの他方の端部間に設けられた抵抗とを有し、
前記ヒューズを選択的に切断し、前記2進多段カウンタの最前段のフリップフロップの出力に接続された前記ヒューズの前記他方の端部から遅延信号を出力するようにしたことを特徴とする遅延回路。 - オシレータと、該オシレータの出力に多段に縦続接続された複数のフリップフロップからなる2進多段カウンタとから構成される遅延回路であって、
前記2進多段カウンタの所望の複数の段のフリップフロップの出力に一方の端部が接続された選択的に切断可能な第1のヒューズと、
前記2進多段カウンタの前記所望の複数の段のうち隣り合う段に接続された前記第1のヒューズの他方の端部間に設けられた第1の抵抗と、
前記2進多段カウンタの前記所望の複数の段のフリップフロップの出力に一方の端部が接続された選択的に切断可能な第2のヒューズと、
前記2進多段カウンタの前記所望の複数の段のうち隣り合う段に接続された前記第2のヒューズの他方の端部間に設けられた第2の抵抗と、
前記2進多段カウンタの前記所望の複数の段のフリップフロップの出力に接続された前記第1または第2のヒューズの前記他方の端部からの信号を入力する論理回路とを有し、
前記第1および第2のヒューズを選択的に切断し、該論理回路の出力を遅延信号として出力するようにしたことを特徴とする遅延回路。 - 請求項1記載の遅延回路を用いたウェーハテスト回路であって、前記2進多段カウンタの前記ヒューズが接続された最前段の出力によって前記オシレータを所望の周波数に合わせ込むための初期特性テストを行うことを特徴とするウェーハテスト回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000400079A JP3634353B2 (ja) | 2000-12-28 | 2000-12-28 | 遅延回路および該遅延回路を用いたウェーハテスト回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000400079A JP3634353B2 (ja) | 2000-12-28 | 2000-12-28 | 遅延回路および該遅延回路を用いたウェーハテスト回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002204148A JP2002204148A (ja) | 2002-07-19 |
JP3634353B2 true JP3634353B2 (ja) | 2005-03-30 |
Family
ID=18864741
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000400079A Expired - Fee Related JP3634353B2 (ja) | 2000-12-28 | 2000-12-28 | 遅延回路および該遅延回路を用いたウェーハテスト回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3634353B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006148515A (ja) * | 2004-11-19 | 2006-06-08 | Ricoh Co Ltd | 遅延回路及び発振回路 |
US7737049B2 (en) | 2007-07-31 | 2010-06-15 | Qimonda Ag | Method for forming a structure on a substrate and device |
JP5326636B2 (ja) * | 2009-02-18 | 2013-10-30 | コニカミノルタ株式会社 | 画像形成装置本体及び画像形成システム |
-
2000
- 2000-12-28 JP JP2000400079A patent/JP3634353B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2002204148A (ja) | 2002-07-19 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN114676658B (zh) | 一种时序违例修复方法、装置、存储介质及电子设备 | |
US6216256B1 (en) | Semiconductor integrated circuit and method of designing the same | |
KR101398633B1 (ko) | 반도체 메모리 장치 및 이 장치의 칩 식별신호 발생방법 | |
KR0146203B1 (ko) | 반도체 집적회로의 회로소자값 조정회로 | |
US6239611B1 (en) | Circuit and method for testing whether a programmable logic device complies with a zero-hold-time requirement | |
US5696943A (en) | Method and apparatus for quick and reliable design modification on silicon | |
US5583875A (en) | Automatic parametric self-testing and grading of a hardware system | |
JP3634353B2 (ja) | 遅延回路および該遅延回路を用いたウェーハテスト回路 | |
US20020004715A1 (en) | Electric wiring simulation device and recording medium recording simulation program for electric wiring simulation device | |
US6720820B1 (en) | Block parallel efuse apparatus blown with serial data input | |
US20040100302A1 (en) | Adaptive algorithm for electrical fuse programming | |
US6011425A (en) | CMOS offset trimming circuit and offset generation circuit | |
US20070226552A1 (en) | Semiconductor integrated circuit and the same checking method | |
US6370676B1 (en) | On-demand process sorting method and apparatus | |
CN116298795A (zh) | 一种芯片内的成测修调电路 | |
CN108074601B (zh) | 具有输入电路的存储器装置以及存储器装置的操作方法 | |
US10204687B2 (en) | Semiconductor integrated circuit | |
US7537942B2 (en) | Counting circuit for controlling an off-chip driver and method of changing and output current value of the off-chip driver using the same | |
US6819160B2 (en) | Self-timed and self-tested fuse blow | |
US20090267633A1 (en) | Semiconductor device and test method thereof | |
JP2001184372A (ja) | 波形なまり検証方法及び波形なまり検証装置 | |
US7564310B2 (en) | Amplifier for improving electrostatic discharge characteristic | |
JP3736190B2 (ja) | ディジタルフィルタ | |
US6933742B2 (en) | Chip card circuit with monitored access to a test mode | |
US5923602A (en) | Method for testing floating gate cells |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20040517 |
|
A871 | Explanation of circumstances concerning accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A871 Effective date: 20040806 |
|
A975 | Report on accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971005 Effective date: 20040826 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20040831 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20041028 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20041210 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20041223 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100107 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110107 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120107 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130107 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140107 Year of fee payment: 9 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |