JP3633297B2 - サージ保護装置及び方法 - Google Patents

サージ保護装置及び方法 Download PDF

Info

Publication number
JP3633297B2
JP3633297B2 JP21726898A JP21726898A JP3633297B2 JP 3633297 B2 JP3633297 B2 JP 3633297B2 JP 21726898 A JP21726898 A JP 21726898A JP 21726898 A JP21726898 A JP 21726898A JP 3633297 B2 JP3633297 B2 JP 3633297B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
terminal
surge
transistor
voltage
power supply
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP21726898A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2000049293A (ja
Inventor
勝 安田
栄一 上西
浩 齊藤
善久 南
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Corp
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Panasonic Corp
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Panasonic Corp, Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Panasonic Corp
Priority to JP21726898A priority Critical patent/JP3633297B2/ja
Publication of JP2000049293A publication Critical patent/JP2000049293A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3633297B2 publication Critical patent/JP3633297B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は半導体回路で使用するサージ保護装置及び保護方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来のトランジスタを用いたサージ保護装置を図26に示す。図26において、トランジスタ1が+(プラス)サージ電流を吸収する役割を担っていて、外部接続端子4に印加された+サージによる電流を放電端子19を通して放電し、内部回路3を+サージから保護している。抵抗17はサージ印加に対するトランジスタ1の安定性を得るためのものである。一般にサージ放電端子19は半導体集積回路の最低電位に接続されることが多く、最低電位である接地端子に接続した場合は図27のようになる。
【0003】
ここで、サージに対する能力はトランジスタ1のコレクタ−エミッタ間がブレークダウンする電圧(ブレークダウン電圧若しくは耐圧:BVCE)が大きく影響するが、トランジスタ1のコレクタ−エミッタ間の耐圧はトランジスタ1のベースに接続された条件により変化する。その条件は大きく分けて、
(1)開放(図27における抵抗17の抵抗値が∞)の場合
(2)適当な任意の値の抵抗17を介して接地の場合
(3)接地(図27における抵抗17の抵抗値が0)の場合
の3条件が存在する。それぞれのブレークダウン電圧を、(1)BVCEO、(2)BVCER、(3)BVCESとして表せば、
BVCEO≦BVCER≦BVCES
となり、一般的には(2)がよく利用される。
【0004】
図27を用いて説明すると、トランジスタ1のコレクタにブレークダウン電圧以上の+サージが印加されるとトランジスタ1がブレークダウンを起こしてサージを吸収する。しかし、半導体集積回路10の通常動作時には、内部回路3と外部接続端子4との間には信号のやりとりが存在し、トランジスタ1が動作した場合には信号のやりとりを妨害してしまう。このため半導体集積回路の通常動作時には、トランジスタ1がブレークダウンを起こさないようにする必要があり、ブレークダウン電圧は外部接続端子4に発生する最大電圧以上に設定される。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
ブレークダウン電圧が高くなればサージ吸収能力は低くなり、サージの保護という面では弱くなる。サージ保護素子が接続されても外部接続端子4にかかる最大電圧が高い場合はその傾向が大きくなる。図27では内部回路3としてツェナーZAPによる一種のROM回路が示してあり、この場合の外部出力端子4は書込み電圧端子と呼ばれる。ROMの書込みの際には図28に示すように、この書込み電圧端子に高電圧(以後、「書込み電圧」という)をかけてツェナーダイオード9に対して逆方向の高電圧を印加すると、ツェナーダイオード9は低インピーダンス状態に変化するので、ZAP調整出力端子20の電圧を下げることができる。このようにして、通常動作時にはZAP調整出力端子20の電圧の高低によりROMとして使用できる。この場合、サージ保護装置が動作する最低電圧(動作開始電圧)は書込み電圧以上になるように設定しなければならない。このように、一時的に高電圧を使用する場合でも、サージ保護素子の動作開始電圧を高く設定する必要がある。しかし、通常使用時にも動作開始電圧の高いままのサージ保護素子を使用するとサージ印加による半導体回路への影響が避けられなくなる。つまり、書込み電圧以上にならないとサージ保護素子としては動作しないので図29に示すように、書込みを行っていないツェナーダイオード9に対して書込み電圧端子に+サージが印加されてもツェナーダイオード9には逆方向の書込み電圧程度の電圧がかかってしまい、ツェナーダイオード9が低インピーダンス状態へと変化し、誤った書込みがされてしまうことになる。
【0006】
内部回路3が他のありふれた回路の場合の例を図30に示す。この場合の内部回路の動作は外部接続端子4に入力された電圧が接地との抵抗分割により減衰され、トランジスタ13によるエミッタホロワ出力端子31に信号として出力されるものである。この場合も同様にサージ保護素子の動作開始電圧は、外部接続端子4にかかる最大電圧以上に設定する必要がある。
【0007】
近年の半導体素子の微細化や耐電圧の低い素子の使用によりサージが印加された場合の半導体素子への影響も大きくなっている。しかし、実動作時には外部接続端子4はある電位をもつため、動作開始電圧は端子にかかる最大電圧以下には設定させることができないでいる。
【0008】
また、サージの印加による半導体集積回路への影響については、半導体集積回路が単体で存在しているとき受ける影響が強く、実装された状態ではサージの分散、配線の浮遊容量等により半導体集積回路の端子への衝撃が緩和されるので動作点開始電圧を若干高く設定しても問題はない。しかし、実動作時に半導体回路に影響の無いようにすることとサージ保護の強化をすることとは相反することであり、従来の保護回路形式では動作開始電圧をある一定の電圧に決めるため、サージ保護素子の動作開始電圧はサージ保護素子の接続される端子の最大電圧以上に設定せざるを得なくなり、サージによる半導体回路への影響が避けられないという問題がある。
【0009】
本発明は上記従来の課題を解決するものであり、動作開始電圧を切替えることのできるサージ保護素子を提供することを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】
この目的を達成するために、本発明の請求項1に記載の発明は、半導体集積回路装置の内部回路に接続されこの内部回路を動作させる電源が供給される電源端子と、この内部回路に接続され基準電圧が供給される接地端子と、前記内部回路に接続され外部から信号が供給される外部接続端子と、サージ電荷を導出入するサージ放電端子とを備えた半導体集積回路のサージ保護装置において、
前記外部接続端子にコレクタ端子が接続され、前記サージ放電端子にエミッタ端子が接続され、前記エミッタ端子とベース端子との間の電圧によって前記コレクタ端子と前記エミッタ端子間が導通するトランジスタと、
前記外部接続端子と前記ベース端子間に挿入接続された抵抗と、
前記エミッタ、ベース端子と個々に接続され前記エミッタ、ベース端子間の状態を異ならせる制御端子対を備えた制御回路とを備え、
前記制御回路が、前記電源端子と前記接地端子間に所定の電源電圧が印加された状態において、前記エミッタ端子と前記ベース端子間を短絡し、前記電源端子と前記接地端子間に所定の電源電圧が印加されない状態において、前記エミッタ端子と前記ベース端子間の短絡を解除することを特徴とするサージ保護装置である。
【0011】
この構成を備えることにより、電源電圧が印加された状態ではトランジスタのベースはエミッタにほぼ等しい電位状態となり、このトランジスタの特性で決定される電圧でトランジスタをブレークダウンさせる。また、電源電圧が印加されない状態においては、トランジスタがオンするのに必要な電圧以上の電圧が外部接続端子に印加されることによりトランジスタがオン状態になり、サージを吸収することができる。
【0012】
本願請求項2に記載の発明は、前記エミッタ、ベース端子間に抵抗を挿入接続したことを特徴とする請求項1記載のサージ保護装置である。
【0013】
この構成を備えることにより、外部接続端子とサージ放電端子との間を2個の抵抗で分割した点がトランジスタのベースに入ることになるので、トランジスタがオンするのに必要な外部接続端子からの電位を調整することができる。
【0014】
本願請求項3に記載の発明は、前記ベース端子と接続された前記制御端子対の一方と前記ベース端子との間に抵抗を挿入接続したことを特徴とする請求項1記載のサージ保護装置である。
【0015】
この構成を備えることにより、制御回路がトランジスタを短絡するように動作したときのこのトランジスタのブレークダウン電圧をこの抵抗で決定される値に設定することができる。
【0016】
本願請求項4に記載の発明は、半導体集積回路装置の内部回路に接続されこの内部回路を動作させる電源が供給される電源端子と、この内部回路に接続され基準電圧が供給される接地端子と、前記内部回路に接続され外部から信号が供給される外部接続端子と、サージ電荷を導出入するサージ放電端子とを備えた半導体集積回路のサージ保護装置において、
前記外部接続端子にドレイン端子が接続され、前記サージ放電端子にソース端子が接続され、前記ソース端子とゲート端子との間の電圧によって前記ドレイン端子と前記ソース端子間が導通するトランジスタと、
前記外部接続端子と前記ゲート端子間に挿入接続された抵抗又はコンデンサと、
前記ソース、ゲート端子と個々に接続され前記ソース、ゲート端子間の状態を異ならせる制御端子対を備えた制御回路とを備え、
前記制御回路が、前記電源端子と前記接地端子間に所定の電源電圧が印加された状態において、前記ソース端子と前記ゲート端子間を短絡し、前記電源端子と前記接地端子間に所定の電源電圧が印加されない状態において、前記ソース端子と前記ゲート端子間の短絡を解除することを特徴とするサージ保護装置である。
【0017】
この構成を備えることにより、電源電圧が印加された状態ではトランジスタのゲートはソースにほぼ等しい電位状態となり、このトランジスタの特性で決定される電圧でトランジスタをブレークダウンさせる。また、電源電圧が印加されない状態においては、トランジスタがオンするのに必要な電圧以上の電圧が外部接続端子に印加されることによりトランジスタがオン状態になり、サージを吸収することができる。
【0018】
本願請求項5に記載の発明は、前記ソース、ゲート端子間に抵抗を挿入接続したことを特徴とする請求項4記載のサージ保護装置である。
【0019】
この構成を備えることにより、外部接続端子とサージ放電端子との間を2個の抵抗で分割した点がトランジスタのベースに入ることになるので、トランジスタがオンするのに必要な外部接続端子からの電位を調整することができる。
【0020】
本願請求項6に記載の発明は、前記サージ放電端子と前記接地端子とを接続したことを特徴とする請求項1又は4記載のサージ保護装置である。
【0021】
この構成を備えることによって、サージ放電端子を半導体集積回路の最低電位に接続することができる。
【0022】
本願請求項7に記載の発明は、前記サージ放電端子と前記電源端子とを接続したことを特徴とする請求項1又は4記載のサージ保護装置である。
【0023】
この構成を備えることによって、サージ放電端子を半導体集積回路の最高電位に接続することができる。
【0024】
本願請求項8記載の発明は、請求項1記載のサージ保護装置が、さらに、前記外部接続端子に第1端子が接続され、前記サージ放電端子に第2端子が接続され、前記第2端子と第3端子との間に外部から与えられる電圧によって前記第1端子と前記第2端子間が導通する第2トランジスタと、
前記第2トランジスタの前記第2、第3端子と個々に接続され前記第2、第3端子間の状態を異ならせる制御端子対を備えた第2制御回路とを備え、
前記第2制御回路が、前記電源端子と前記接地端子間に所定の電源電圧が印加された状態において、外部から与えられる二値信号に応じて前記第2トランジスタの前記第2端子と前記第3端子間を短絡若しくは開放し、前記電源端子と前記接地端子間に所定の電源電圧が印加されない状態において、前記第2トランジスタの前記第2端子と前記第3端子間の短絡を解除することを特徴とするサージ保護装置である。
【0025】
この構成を備えることによって、電源がオン状態で外部信号によってトランジスタのベース・エミッタ間が短絡と開放状態の選択ができると共に、電源がオフ状態でトランジスタのベースを駆動する電圧でトランジスタを動作させることができるため、サージ保護素子の動作開始電圧を3状態に切替えることができる。
【0026】
本願請求項9記載の発明は、半導体集積回路装置の内部回路に接続されこの内部回路を動作させる電源が供給される電源端子と、この内部回路に接続され基準電圧が供給される接地端子と、前記内部回路に接続され外部から信号が供給される外部接続端子と、サージ電荷を導出入するサージ放電端子とを備えた半導体集積回路のサージ保護方法であって、
前記外部接続端子にコレクタ端子が接続され、前記サージ放電端子にエミッタ端子が接続され、前記エミッタ端子とベース端子との間の電圧によって前記コレクタ端子と前記エミッタ端子間が導通するトランジスタと、
前記外部接続端子と前記ベース端子間に挿入接続された抵抗と、
前記エミッタ、ベース端子と個々に接続され前記エミッタ、ベース端子間の状態を異ならせる制御端子対を備えた制御回路とを備え、
前記制御回路が、前記電源端子と前記接地端子間に所定の電源電圧が印加された状態において、前記エミッタ端子と前記ベース端子間を短絡し、前記電源端子と前記接地端子間に所定の電源電圧が印加されない状態において、前記エミッタ端子と前記ベース端子間の短絡を解除することを特徴とするサージ保護方法である。
【0027】
この方法によって、電源電圧が印加された状態ではトランジスタのベースはエミッタにほぼ等しい電位状態となり、このトランジスタの特性で決定される電圧でトランジスタをブレークダウンさせる。また、電源電圧が印加されない状態においては、トランジスタがオンするのに必要な電圧以上の電圧が外部接続端子に印加されることによりトランジスタがオン状態になり、サージを吸収することができる。
【0028】
本願請求項10記載の発明は、半導体集積回路装置の内部回路に接続されこの内部回路を動作させる電源が供給される電源端子と、この内部回路に接続され基準電圧が供給される接地端子と、前記内部回路に接続され外部から信号が供給される外部接続端子と、サージ電荷を導出入するサージ放電端子とを備えた半導体集積回路のサージ保護方法であって、
前記外部接続端子にドレイン端子が接続され、前記サージ放電端子にソース端子が接続され、前記ソース端子とゲート端子との間の電圧によって前記ドレイン端子と前記ソース端子間が導通するトランジスタと、
前記外部接続端子と前記ゲート端子間に挿入接続された抵抗又はコンデンサと、
前記ソース、ゲート端子と個々に接続され前記ソース、ゲート端子間の状態を異ならせる制御端子対を備えた制御回路とを備え、
前記制御回路が、前記電源端子と前記接地端子間に所定の電源電圧が印加された状態において、前記ソース端子と前記ゲート端子間を短絡し、前記電源端子と前記接地端子間に所定の電源電圧が印加されない状態において、前記ソース端子と前記ゲート端子間の短絡を解除することを特徴とするサージ保護方法である。
【0029】
この方法によって、電源電圧が印加された状態ではトランジスタのゲートはソースにほぼ等しい電位状態となり、このトランジスタの特性で決定される電圧でトランジスタをブレークダウンさせる。また、電源電圧が印加されない状態においては、トランジスタがオンするのに必要な電圧以上の電圧が外部接続端子に印加されることによりトランジスタがオン状態になり、サージを吸収することができる。
【0030】
【発明の実施の形態】
以下本発明の参考例及び実施の形態について、図面を参照しながら説明する。
【0031】
図1は本発明の参考例におけるトランジスタを用いたサージ保護装置を示すものである。
【0032】
図1において、1はサージを吸収するトランジスタであり、2は、トランジスタ1のベースと接地間のインピーダンスを異ならせる働きを有する制御回路であり、3は内部回路である。4は外部接続端子であり、サージから内部回路を保護する機能を有する回路をその内部に有する端子である。ここで、従来の技術の場合同様に、サージ放電端子19を接地端子21に接続した場合は図2のようになる。
【0033】
図2において、制御回路2によってトランジスタ1のベースをトランジスタ1のエミッタにほぼ等しい電位の状態とオープン状態とに切替えることができる。
【0034】
図1に示した制御回路2の場合では電源端子18から電源が印加されていて、スイッチ7がトランジスタ22側に切替わると電流源6からの電流によりトランジスタ5のベースおよび抵抗8に電流が流れ、トランジスタ5がオンしてトランジスタ1のベースとエミッタとがほぼ等しい電位状態になる。このため、トランジスタ1のブレークダウン電圧はBVCESとなる。電源が印加されていない状態では電流源6がオフ状態であり、また電源がオンでもスイッチ7がトランジスタ23側に切替わっている状態ではトランジスタ5のベース電流が供給されないのでトランジスタ5はオフし、トランジスタ1のベースはオープン状態となりブレークダウン電圧はBVCEOとなる。つまり、電源オンかつスイッチ7がトランジスタ22側の場合と、電源オフまたはスイッチ7がトランジスタ23側の場合とで、サージ保護素子の動作開始電圧をBVCEOとBVCESとに切替えることができる。図2では内部回路3としてツェナーZAPの一例を示している。
【0035】
また、ツェナーZAPの書込みをする際の様子を図3に示す。書込みの際は、電源24を入れてかつスイッチ7をトランジスタ22側にすることで、トランジスタ1のベースとエミッタとをほぼ同電位状態にし、サージ保護素子としての動作開始電圧を書込み電圧以上に上昇させておき、書込み端子である外部接続端子4に外部から書込み電圧25を与えることにより、ツェナーダイオード9に逆電圧を発生させ書込み動作させることができる。
【0036】
次に、通常動作時に+サージが印加された時の様子を図4に、搬送時や未使用時に+サージが印加された時の様子を図5に示す。
【0037】
通常動作時はスイッチ7をトランジスタ23側に切替え、また搬送時や未使用時には電源自体がオフしているので電流源6がオフすることで、サージ保護素子としての動作開始電圧を書込み電圧以下に降下させる。この状態で外部接続端子4に+サージ電圧が印加された場合にはサージ保護素子の働きにより外部接続端子4の電圧は書込み電圧以下に抑えられ、ツェナーダイオード9に誤って書込みされることはなくなる。このように書込みの際には書込みに影響を与えることのない素子、通常使用時や電源オフ時にはツェナーダイオード9への誤った書込みを無くすことのできる素子として働くことができる。
【0038】
また、内部回路が一般的な場合を図6に示す。ここで、従来の技術の場合同様に、サージ放電端子19を接地端子21に接続した場合は図7のようになる。この場合も電源がオンでスイッチ7がトランジスタ22側に流れた際にはサージ保護素子としての動作開始電圧を外部接続端子4にかかる最大電圧以上に上昇させておき、信号への影響が無いようにする。また、信号を通さない時にはスイッチ7をトランジスタ23側へ切替えて、電源オフ時には電流源6自体の電流がオフすることでサージ保護素子の動作開始電圧を下げてやる。このことにより、電源のかかっていない場合の+サージ印加に対して低電圧から動作でき、早期サージ吸収を行うことができる。
【0039】
一般的に電源オン時には、外部接続端子4は信号を常時やりとりをしている場合が多いので、その場合はスイッチ7が不要で図8に示すような回路にして電源オン/オフでサージ保護素子の動作開始電圧を変化させても良い。
【0040】
以上のように本発明の参考例によれば、サージ吸収用のトランジスタと、前記トランジスタのベースの接続状態を変更するための制御回路とを備えることによりサージ保護素子の動作開始電圧を切替えることができる。
【0041】
なお、本発明の参考例ではトランジスタ1のベースにトランジスタ5のコレクタのみを接続しているが、図9に示すように、トランジスタ1のベースとトランジスタ5のコレクタ間に抵抗30を挿入すれば、トランジスタ5がオンした際のトランジスタ1のブレークダウン電圧はBVCERとなり、トランジスタ1のブレークダウン電圧をBVCERとBVCEOとに切替えることもできる。
【0042】
また、図10に示すように、トランジスタ1のベースとエミッタとの間に抵抗32を追加すれば、トランジスタ5がオフした際のトランジスタ1のブレークダウン電圧をBVCERとすることができ、トランジスタ1のブレークダウン電圧をBVCERとBVCESとに切替えることもできる。
【0043】
更に、図11に示すように、トランジスタ1のベースとトランジスタ5のコレクタ間に抵抗30を、トランジスタ1のベースとエミッタとの間に抵抗32をそれぞれ挿入すれば、トランジスタ5がオン/オフした際のトランジスタ1のブレークダウン電圧をそれぞれBVCER1とBVCER2とに切替えることもできる。
【0044】
次に、図12は本発明の第1の実施の形態におけるトランジスタを用いたサージ保護装置を示すものである。
【0045】
図12において、33は抵抗であり、本発明の参考例における構成に対してトランジスタ1のコレクタとベースとの間に抵抗33が挿入された構成である。さらに、サージ放電端子19を接地端子21に接続した場合は図13のようになり、以下この回路図での動作を説明する。
【0046】
制御回路2によりトランジスタ1のベースはエミッタにほぼ等しい電位状態と、外部接続端子4から抵抗33でバイアス状態とに切替えることができる。図13に示した制御回路2の場合では電源がオンすれば電流源6の電流が抵抗8およびトランジスタ5のベースに流れてトランジスタ5はオンし、トランジスタ1のベースはエミッタにほぼ等しい電位状態になる。このため、トランジスタ1のブレークダウン電圧はBVCESとなる。電源オフの際はトランジスタ5のベース電流が供給されないのでトランジスタ5がオフし、トランジスタ1のベースは外部接続端子4から抵抗33でバイアスされた状態になる。この状態で外部接続端子4にVBE以上のサージが印加されると、抵抗33を通してトランジスタ1のベース電流が流れ、トランジスタ1がオンし、トランジスタ1のコレクタからサージを吸収することができる。つまり、電源がオンの時とオフの時とでサージ保護素子としての動作開始電圧をBVCESとVBEとに切替えることができる。電源が入り通常動作しているときには、サージ保護素子の動作開始電圧BVCESを外部接続端子4にかかる最大電圧以上に上昇させておき、電源オフ時にはサージ保護素子の動作開始電圧がVBEまで下がるので、電源オン時には信号のやりとりが問題なくでき、電源がオフの状態では、外部接続端子4に+サージが印加されてもサージ保護素子の働きで外部接続端子4の電圧は約VBEに抑えられ、内部回路3にかかる電圧も低く抑えることができる。
【0047】
以上のように第1の実施の形態によれば、サージ吸収用のトランジスタと、前記トランジスタのベースの接続状態を変更するための制御回路と、+サージ印加時にベース電流を供給する抵抗とを備えることにより、サージ保護素子の動作開始電圧を切替えることができる。
【0048】
なお、図14に示すように、トランジスタ1のベースとトランジスタ5のコレクタ間に抵抗30を挿入すれば、トランジスタ5がオンした際のトランジスタ1のブレークダウン電圧はBVCERとなり、トランジスタ1のブレークダウン電圧をBVCERとVBEとに切替えることもできる。
【0049】
また、図15に示すように、トランジスタ1のベースとエミッタとの間に抵抗32を追加すれば、外部接続端子4とサージ放電端子19との間を抵抗33と抵抗32とで抵抗分割した点がトランジスタ1のベースに入ることになるので、トランジスタ1がオンするのに必要な外部接続端子4の電位を調整することができるようになる。
【0050】
更に、図16に示すように、トランジスタ1のベースとトランジスタ5のコレクタ間に抵抗30を挿入し、トランジスタ1のベースとエミッタとの間に抵抗32を挿入すれば、トランジスタ5がオン時にはトランジスタ1のブレークダウン電圧BVCER以上で放電する回路と、オフの時には抵抗33と抵抗32の抵抗分割により抵抗32に発生する電圧がVBEとなるときの外部接続端子の電圧以上で放電する回路との切替えをすることができるようになる。
【0051】
以上の第1の実施の形態ではサージ保護トランジスタとしてNPN型トランジスタを例に示してきたが、PNP型トランジスタを用いる場合は本発明の参考例の図17に示すような回路で構成することができ、−(マイナス)サージに対しての保護素子として動作する。また、この場合サージ放電端子19は半導体集積回路の最高電位に接続することが一般的である。
【0052】
最高電位である電源端子18に接続された場合を本発明の参考例の図18を用いて示す。この場合、電源オンでは電流源26の電流が抵抗27とトランジスタ29のベースに流れてトランジスタ29はオンし、トランジスタ28のベースとエミッタがほぼ同じ電位になり、トランジスタ28がオフする。この時のブレークダウン電圧はBVCESとなる。このブレークダウン電圧は外部接続端子4が最低電位のときでもトランジスタ28が動作しない値に設定しておけば半導体集積回路10が動作している時には信号のやりとりに影響を与えることはないサージ保護素子として使用できる。電源オフの場合はトランジスタ29のベース電流が流れないのでトランジスタ29はオフし、トランジスタ28のベースはオープン状態になり、トランジスタ28のブレークダウン電圧はBVCEOとなる。すなわち、NPN型トランジスタの場合と同様の効果をもたらすことができる。
【0053】
同様な考えで、上記でNPN型トランジスタで説明してきたことがPNP型トランジスタでも可能となる。
【0054】
次に、図19は第2の実施の形態におけるMOSトランジスタを用いたサージ保護装置を示すものである。
【0055】
図19において、14はMOSトランジスタであり、第1の実施の形態における図12に対してトランジスタ1をMOSトランジスタ14に置き換え、トランジスタのベース、コレクタ、エミッタをそれぞれゲート、ドレイン、ソースに置き換え、MOSトランジスタ14のバックゲートを適当な電位に接続した構成である。
【0056】
一般的にサージ放電端子19およびNch−MOSトランジスタのバックゲートは最低電位に接続することが多く、これらを接地端子21に接続した場合は図20のようになり、以下この回路図での動作を説明する。
【0057】
制御回路2によりMOSトランジスタ14のゲートはソースにほぼ等しい電位の状態と、外部接続端子4から抵抗33でバイアス状態とに切替えることができる。電源がオンすれば電流源6の電流でトランジスタ5をオンし、MOSトランジスタ14のゲートはソースにほぼ等しい電位の状態になる。このため、MOSトランジスタ14のブレークダウン電圧はBVDSSとなる。電源オフの際は電流の供給がなくなるのでトランジスタ5はオフし、MOSトランジスタ14のゲートは外部接続端子4から抵抗33でバイアスされた状態になる。この状態で外部接続端子4にVGS以上の電圧が印加されると、抵抗33を通してMOSトランジスタ14のゲート電位もVGS以上に上昇し、MOSトランジスタ14がオンし、MOSトランジスタ14のドレインからサージを吸収することができる。つまり、電源がオンの時とオフの時とでサージ保護素子としての動作開始電圧をBVDSSとVGSとに切替えることができる。電源が入り通常動作しているときには、サージ保護素子の動作開始電圧を外部接続端子4にかかる最大電圧以上に設定することで、外部接続端子4と内部回路3との間の信号のやりとりに影響が無いようにできる。電源がオフの状態では、外部接続端子4に+サージが印加されてもサージ保護素子の働きで外部接続端子4の電圧は約VGSに抑えられ、内部回路3にかかる電圧も低く抑えられる。
【0058】
以上のように第2の実施の形態によれば、サージ吸収用のMOSトランジスタと、前記MOSトランジスタのゲートの接続状態を変更するための制御回路と、サージ印加時に外部接続端子の電位をゲート電位に伝達させる抵抗とを備えることにより、サージ保護素子の動作開始電圧を切替えることができる。
【0059】
なお、図21に示すように、MOSトランジスタ14のゲートとソースとの間に抵抗32を追加すれば、外部接続端子4とサージ放電端子19との間を抵抗33と抵抗32とで抵抗分割した点がMOSトランジスタ14のゲートに入ることになるので、MOSトランジスタ14がオンするのに必要な外部接続端子4の電位を調整することができるようになる。
【0060】
次に、図22は第3の実施の形態におけるMOSトランジスタを用いたサージ保護装置を示すものである。
【0061】
図22において、34は容量であり、第2の実施の形態における図19に対して抵抗33を容量34に置き換えた構成である。
【0062】
制御回路2によりMOSトランジスタ14のゲートの電位はソースにほぼ等しい電位の状態と、容量34によって支配される状態とに切替えることができる。電源がオンすれば電流源6の電流でトランジスタ5をオンし、MOSトランジスタ14のゲートはソースにほぼ等しい電位の状態になる。このため、MOSトランジスタ14のブレークダウン電圧はBVDSSとなる。電源オフの際は電流の供給がなくなるのでトランジスタ5はオフし、MOSトランジスタ14のゲート電位は容量34の両端間電圧と外部接続端子4により決まる。容量の両端間の電圧をVCとすると、外部接続端子4にVGS+VC以上の電圧が印加されると、MOSトランジスタ14のゲート電位はVGS以上に上昇し、MOSトランジスタ14がオンするので、MOSトランジスタ14のドレインからサージを吸収することができる。つまり、電源がオンの時とオフの時とでサージ保護素子としての動作開始電圧をBVDSSとVGS+VCとに切替えることができる。電源が入り通常動作しているときには、サージ保護素子の動作開始電圧を外部接続端子4にかかる最大電圧以上に設定することで、外部接続端子4と内部回路3との間の信号のやりとりに影響が無いようにできる。電源がオフの状態では、外部接続端子4に+サージが印加されてもサージ保護素子の働きで外部接続端子4の電圧は約VGS+VCに抑えられ、内部回路3にかかる電圧も低く抑えられる。
【0063】
以上のように第3の実施の形態によれば、サージ吸収用のMOSトランジスタと、前記MOSトランジスタのゲートの接続状態を変更するための制御回路と、サージ印加時に外部接続端子の電位をゲート電位に伝達させる容量とを備えることにより、サージ保護素子の動作開始電圧を切替えることができる。
【0064】
以上の第2の実施の形態および第3の実施の形態ではサージ保護のMOSトランジスタとしてNch−MOSトランジスタを例に示してきたが、Pch−MOSトランジスタを用いる場合は図23に示すような回路で構成することができ、−サージに対しての保護素子として動作する。
【0065】
また、この場合サージ放電端子19および、Pch−MOSトランジスタのバックゲートは半導体集積回路の最高電位に接続することが一般的である。
【0066】
これらが最高電位である電源端子18に接続された場合を図24に示す。この場合、電源オンでは電流源26の電流が抵抗27とトランジスタ29のベースに流れてトランジスタ29はオンし、MOSトランジスタ35のゲートとソースがほぼ同じ電位になり、MOSトランジスタ35のブレークダウン電圧はBVDSSとなる。このブレークダウン電圧は外部接続端子4が最低電位のときでもMOSトランジスタ35が動作しない値に設定しておけば半導体集積回路10が動作している時には信号のやりとりに影響を与えることのないサージ保護素子として使用できる。
【0067】
電源オフの場合はトランジスタ29のベース電流が流れないのでトランジスタ29はオフし、MOSトランジスタ35のゲートは外部接続端子4から抵抗36でバイアス状態になり、MOSトランジスタ35をオン状態にして+サージを吸収することができる。すなわち、Nch−MOSトランジスタの場合と同様の効果をもたらすことができる。
【0068】
同様な考えで、上記Nch−MOSトランジスタで説明してきたことがPch−MOSトランジスタでも可能となる。また、以上に記載のサージ保護素子および、従来のサージ保護素子は複数組み合わせて使用することも可能で、図25に一例を示す。
【0069】
この回路の場合、電源オン時には電流源6および電流源44が電流を流すので、スイッチ43がトランジスタ41側に切替わっている時にはトランジスタ37およびトランジスタ1は共にBVCESが動作開始電圧となる。また、スイッチ43がトランジスタ42側に切替わるとトランジスタ37はBVCEOが動作開始電圧となり、トランジスタ1よりも低電圧で動作できるのでこの場合はトランジスタ37のBVCEOがサージ保護素子の動作開始電圧となる。電源がオフ状態では、電流源6および電流源44ともに電流が流れなくなり、トランジスタ1はVBEが動作開始電圧、トランジスタ37はBVCEOが動作開始電圧となり、低電位で動作をはじめるトランジスタ1によるVBEがサージ保護素子としての動作開始電圧となる。つまりこの場合は、サージ保護素子の動作開始電圧をBVCES、BVCEO、VBEの3状態に切替えることができる。
【0070】
これらの構成により、一時的に高電圧を使用する回路の場合には高電圧使用時と通常使用時とでサージ保護素子の動作開始電圧とを切替えることにより通常使用時のサージによる影響を極力抑えることができる。また、半導体回路の使用状態と未使用状態とでサージ保護素子の動作開始電圧を切替えることで、半導体回路が単体で存在しているときの極めてサージの影響を受けやすい状態の場合にはサージ吸収能力の高い保護素子として動作し、かつ実動作時には半導体回路の動作には影響を与えない素子として動作することができる。このため、半導体集積回路の運搬中並びに実装工程などでのサージの発生し易い状況でも強力なサージ保護素子として動作し、半導体集積回路の内部回路をサージから守ることができる。
【0071】
【発明の効果】
以上のように本発明は、トランジスタ型のサージ保護素子にトランジスタのベース又はゲートの接続を切替えるためのスイッチと外部接続端子からベースをバイアス状態とする抵抗又は、外部接続端子の電位をゲートに伝達させる抵抗又はコンデンサを備えることにより、サージ保護装置の動作開始電圧を切替えることができ、優れたサージ保護素子を実現できて半導体集積回路のサージ保護能力を強化できるものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の参考例におけるサージ保護装置を示す回路図
【図2】本発明の参考例におけるサージ保護装置を示す第1の補足図
【図3】本発明の参考例におけるサージ保護装置を示す第2の補足図
【図4】本発明の参考例におけるサージ保護装置を示す第3の補足図
【図5】本発明の参考例におけるサージ保護装置を示す第4の補足図
【図6】本発明の参考例におけるサージ保護装置を示す第5の補足図
【図7】本発明の参考例におけるサージ保護装置を示す第6の補足図
【図8】本発明の参考例におけるサージ保護装置を示す第7の補足図
【図9】本発明の参考例におけるサージ保護装置を示す第8の補足図
【図10】本発明の参考例におけるサージ保護装置を示す第9の補足図
【図11】本発明の参考例におけるサージ保護装置を示す第10の補足図
【図12】本発明の第1の実施形態におけるサージ保護装置を示す回路図
【図13】本発明の第1の実施形態におけるサージ保護装置を示す第1の補足図
【図14】本発明の第1の実施形態におけるサージ保護装置を示す第2の補足図
【図15】本発明の第1の実施形態におけるサージ保護装置を示す第3の補足図
【図16】本発明の第1の実施形態におけるサージ保護装置を示す第4の補足図
【図17】本発明の参考例におけるサージ保護装置を示す第5の補足図
【図18】本発明の参考例におけるサージ保護装置を示す第6の補足図
【図19】本発明の第2の実施形態におけるサージ保護装置を示す回路図
【図20】本発明の第2の実施形態におけるサージ保護装置を示す第1の補足図
【図21】本発明の第2の実施形態におけるサージ保護装置を示す第2の補足図
【図22】本発明の第3の実施形態におけるサージ保護装置を示す回路図
【図23】本発明の第2の実施形態におけるサージ保護装置を示す第1の補足図
【図24】本発明の第2の実施形態におけるサージ保護装置を示す第2の補足図
【図25】本発明の参考例から本発明の第3の実施形態におけるサージ保護素子を複数用いたサージ保護装置の回路図
【図26】従来のサージ保護装置を示す回路図
【図27】従来のサージ保護装置を示す第1の補足図
【図28】従来のサージ保護装置を示す第2の補足図
【図29】従来のサージ保護装置を示す第3の補足図
【図30】従来のサージ保護装置を示す第4の補足図
【符号の説明】
1 トランジスタ
2 制御回路
3 内部回路
4 外部接続端子
トランジスタ
6 電流源
7 スイッチ
8 抵抗
9 ツェナーダイオード
10 半導体集積回路
13 トランジスタ
14 MOSトランジスタ
17 抵抗
18 電源端子
19 サージ放電端子
20 ZAP調整出力端子
21 接地端子
22,23 トランジスタ
24 電源
25 ZAP書込み電源
26 電流源
27 抵抗
28,29 トランジスタ
30 抵抗
31 エミッタホロワ出力端子
32,33 抵抗
34 容量
35 MOSトランジスタ
36 抵抗
37 トランジスタ
38 制御回路
39 トランジスタ
40 抵抗
41,42 トランジスタ
43 スイッチ
44 電流源

Claims (10)

  1. 半導体集積回路装置の内部回路に接続されこの内部回路を動作させる電源が供給される電源端子と、この内部回路に接続され基準電圧が供給される接地端子と、前記内部回路に接続され外部から信号が供給される外部接続端子と、サージ電荷を導出入するサージ放電端子とを備えた半導体集積回路のサージ保護装置において、
    前記外部接続端子にコレクタ端子が接続され、前記サージ放電端子にエミッタ端子が接続され、前記エミッタ端子とベース端子との間の電圧によって前記コレクタ端子と前記エミッタ端子間が導通するトランジスタと、
    前記外部接続端子と前記ベース端子間に挿入接続された抵抗と、
    前記エミッタ、ベース端子と個々に接続され前記エミッタ、ベース端子間の状態を異ならせる制御端子対を備えた制御回路とを備え、
    前記制御回路が、前記電源端子と前記接地端子間に所定の電源電圧が印加された状態において、前記エミッタ端子と前記ベース端子間を短絡し、前記電源端子と前記接地端子間に所定の電源電圧が印加されない状態において、前記エミッタ端子と前記ベース端子間の短絡を解除することを特徴とするサージ保護装置。
  2. 前記エミッタ、ベース端子間に抵抗を挿入接続したことを特徴とする請求項1記載のサージ保護装置。
  3. 前記ベース端子と接続された前記制御端子対の一方と前記ベース端子との間に抵抗を挿入接続したことを特徴とする請求項1記載のサージ保護装置。
  4. 半導体集積回路装置の内部回路に接続されこの内部回路を動作させる電源が供給される電源端子と、この内部回路に接続され基準電圧が供給される接地端子と、前記内部回路に接続され外部から信号が供給される外部接続端子と、サージ電荷を導出入するサージ放電端子とを備えた半導体集積回路のサージ保護装置において、
    前記外部接続端子にドレイン端子が接続され、前記サージ放電端子にソース端子が接続され、前記ソース端子とゲート端子との間の電圧によって前記ドレイン端子と前記ソース端子間が導通するトランジスタと、
    前記外部接続端子と前記ゲート端子間に挿入接続された抵抗又はコンデンサと、
    前記ソース、ゲート端子と個々に接続され前記ソース、ゲート端子間の状態を異ならせる制御端子対を備えた制御回路とを備え、
    前記制御回路が、前記電源端子と前記接地端子間に所定の電源電圧が印加された状態において、前記ソース端子と前記ゲート端子間を短絡し、前記電源端子と前記接地端子間に所定の電源電圧が印加されない状態において、前記ソース端子と前記ゲート端子間の短絡を解除することを特徴とするサージ保護装置。
  5. 前記ソース、ゲート端子間に抵抗を挿入接続したことを特徴とする請求項4記載のサージ保護装置。
  6. 前記サージ放電端子と前記接地端子とを接続したことを特徴とする請求項1又は4記載のサージ保護装置。
  7. 前記サージ放電端子と前記電源端子とを接続したことを特徴とする請求項1又は4記載のサージ保護装置。
  8. 請求項1記載のサージ保護装置が、さらに、前記外部接続端子に第1端子が接続され、前記サージ放電端子に第2端子が接続され、前記第2端子と第3端子との間に外部から与えられる電圧によって前記第1端子と前記第2端子間が導通する第2トランジスタと、
    前記第2トランジスタの前記第2、第3端子と個々に接続され前記第2、第3端子間の状態を異ならせる制御端子対を備えた第2制御回路とを備え、
    前記第2制御回路が、前記電源端子と前記接地端子間に所定の電源電圧が印加された状態において、外部から与えられる二値信号に応じて前記第2トランジスタの前記第2端子と前記第3端子間を短絡若しくは開放し、前記電源端子と前記接地端子間に所定の電源電圧が印加されない状態において、前記第2トランジスタの前記第2端子と前記第3端子間の短絡を解除することを特徴とするサージ保護装置。
  9. 半導体集積回路装置の内部回路に接続されこの内部回路を動作させる電源が供給される電源端子と、この内部回路に接続され基準電圧が供給される接地端子と、前記内部回路に接続され外部から信号が供給される外部接続端子と、サージ電荷を導出入するサージ放電端子とを備えた半導体集積回路のサージ保護方法であって、
    前記外部接続端子にコレクタ端子が接続され、前記サージ放電端子にエミッタ端子が接続され、前記エミッタ端子とベース端子との間の電圧によって前記コレクタ端子と前記エミッタ端子間が導通するトランジスタと、
    前記外部接続端子と前記ベース端子間に挿入接続された抵抗と、
    前記エミッタ、ベース端子と個々に接続され前記エミッタ、ベース端子間の状態を異ならせる制御端子対を備えた制御回路とを備え、
    前記制御回路が、前記電源端子と前記接地端子間に所定の電源電圧が印加された状態において、前記エミッタ端子と前記ベース端子間を短絡し、前記電源端子と前記接地端子間に所定の電源電圧が印加されない状態において、前記エミッタ端子と前記ベース端子間の短絡を解除することを特徴とするサージ保護方法。
  10. 半導体集積回路装置の内部回路に接続されこの内部回路を動作させる電源が供給される電源端子と、この内部回路に接続され基準電圧が供給される接地端子と、前記内部回路に接続され外部から信号が供給される外部接続端子と、サージ電荷を導出入するサージ放電端子とを備えた半導体集積回路のサージ保護方法であって、
    前記外部接続端子にドレイン端子が接続され、前記サージ放電端子にソース端子が接続され、前記ソース端子とゲート端子との間の電圧によって前記ドレイン端子と前記ソース端子間が導通するトランジスタと、
    前記外部接続端子と前記ゲート端子間に挿入接続された抵抗又はコンデンサと、
    前記ソース、ゲート端子と個々に接続され前記ソース、ゲート端子間の状態を異ならせる制御端子対を備えた制御回路とを備え、
    前記制御回路が、前記電源端子と前記接地端子間に所定の電源電圧が印加された状態において、前記ソース端子と前記ゲート端子間を短絡し、前記電源端子と前記接地端子間に所定の電源電圧が印加されない状態において、前記ソース端子と前記ゲート端子間の短絡を解除することを特徴とするサージ保護方法。
JP21726898A 1998-07-31 1998-07-31 サージ保護装置及び方法 Expired - Fee Related JP3633297B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP21726898A JP3633297B2 (ja) 1998-07-31 1998-07-31 サージ保護装置及び方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP21726898A JP3633297B2 (ja) 1998-07-31 1998-07-31 サージ保護装置及び方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2000049293A JP2000049293A (ja) 2000-02-18
JP3633297B2 true JP3633297B2 (ja) 2005-03-30

Family

ID=16701485

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP21726898A Expired - Fee Related JP3633297B2 (ja) 1998-07-31 1998-07-31 サージ保護装置及び方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3633297B2 (ja)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4000096B2 (ja) * 2003-08-04 2007-10-31 株式会社東芝 Esd保護回路
JP4495512B2 (ja) 2004-05-11 2010-07-07 パナソニック株式会社 固体撮像装置
US8030575B2 (en) 2005-12-29 2011-10-04 Sensor Electronic Technology, Inc. Mounting structure providing electrical surge protection

Also Published As

Publication number Publication date
JP2000049293A (ja) 2000-02-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5946175A (en) Secondary ESD/EOS protection circuit
US7440248B2 (en) Semiconductor integrated circuit device
EP1356524B1 (en) Esd protection devices
US7755871B2 (en) Power-rail ESD protection circuit with ultra low gate leakage
JPH09134997A (ja) 半導体素子における静電放電保護装置
JP2549741B2 (ja) Cmos集積回路用の静電放電気からの保護回路
US7423855B2 (en) Active protection circuit arrangement
US7184253B1 (en) ESD trigger circuit with injected current compensation
JP2005093497A (ja) 保護回路を有する半導体装置
US8243404B2 (en) ESD protection circuit with merged triggering mechanism
US20060198069A1 (en) Power ESD clamp protection circuit
US6414360B1 (en) Method of programmability and an architecture for cold sparing of CMOS arrays
JP3633297B2 (ja) サージ保護装置及び方法
KR100364876B1 (ko) 보호회로
US8018698B2 (en) I/O circuit with ESD protecting function
US6101077A (en) Electrostatic protection circuit of a semiconductor device
US6369998B1 (en) Electrostatic discharge protection clamp for nominal-voltage power supply or I/O with high-voltage reference
US20070146955A1 (en) Semiconductor integrated circuit device
US5903184A (en) Semiconductor device having protection circuit
US5548462A (en) Protective circuit
CN112217185A (zh) 静电保护电路及芯片
CN112217186A (zh) 静电保护电路及芯片
US20230154919A1 (en) Protection of a domain of an integrated circuit against overvoltages
JP2007201431A (ja) 半導体集積回路装置
JP3003825B2 (ja) サージ電圧保護回路

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20040907

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20041028

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20041207

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20041220

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080107

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090107

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100107

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110107

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110107

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120107

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130107

Year of fee payment: 8

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees