JP3597806B2 - 可動構造部を有する微小構造体及びその製造方法 - Google Patents

可動構造部を有する微小構造体及びその製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP3597806B2
JP3597806B2 JP2001291537A JP2001291537A JP3597806B2 JP 3597806 B2 JP3597806 B2 JP 3597806B2 JP 2001291537 A JP2001291537 A JP 2001291537A JP 2001291537 A JP2001291537 A JP 2001291537A JP 3597806 B2 JP3597806 B2 JP 3597806B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
microstructure
movable structure
movable
thin film
acceleration sensor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2001291537A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2003101032A (ja
Inventor
宗生 原田
直樹 池内
浩幸 橋本
隆彦 大麻
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokyo Electron Ltd
Original Assignee
Tokyo Electron Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Electron Ltd filed Critical Tokyo Electron Ltd
Priority to JP2001291537A priority Critical patent/JP3597806B2/ja
Publication of JP2003101032A publication Critical patent/JP2003101032A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3597806B2 publication Critical patent/JP3597806B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01PMEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
    • G01P15/00Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration
    • G01P15/02Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses
    • G01P15/08Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values
    • G01P2015/0805Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with a particular type of spring-mass-system for defining the displacement of a seismic mass due to an external acceleration
    • G01P2015/0822Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with a particular type of spring-mass-system for defining the displacement of a seismic mass due to an external acceleration for defining out-of-plane movement of the mass
    • G01P2015/084Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with a particular type of spring-mass-system for defining the displacement of a seismic mass due to an external acceleration for defining out-of-plane movement of the mass the mass being suspended at more than one of its sides, e.g. membrane-type suspension, so as to permit multi-axis movement of the mass
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01PMEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
    • G01P15/00Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration
    • G01P15/02Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses
    • G01P15/08Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values
    • G01P2015/0805Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with a particular type of spring-mass-system for defining the displacement of a seismic mass due to an external acceleration
    • G01P2015/0822Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with a particular type of spring-mass-system for defining the displacement of a seismic mass due to an external acceleration for defining out-of-plane movement of the mass
    • G01P2015/084Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with a particular type of spring-mass-system for defining the displacement of a seismic mass due to an external acceleration for defining out-of-plane movement of the mass the mass being suspended at more than one of its sides, e.g. membrane-type suspension, so as to permit multi-axis movement of the mass
    • G01P2015/0842Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with a particular type of spring-mass-system for defining the displacement of a seismic mass due to an external acceleration for defining out-of-plane movement of the mass the mass being suspended at more than one of its sides, e.g. membrane-type suspension, so as to permit multi-axis movement of the mass the mass being of clover leaf shape

Landscapes

  • Pressure Sensors (AREA)

Description

【0001】
【産業上の利用分野】
本発明は、可動構造部を有する微小構造体に関し、特に、可動構造部の動きに応じて出力信号を得る加速度センサに関する。
【0002】
【従来の技術】
可動構造部を利用したセンサには種々のタイプのものがある。例えば、慣性センサとして代表的なものとして、加速度センサや角加速度センサ(振動ジャイロ)がある。
【0003】
自動車などの車両の加速度を検出する加速度センサは、一般に、半導体のピエゾ抵抗効果を利用している。このようなセンサは、例えば、シリコン基体に空洞部を形成し、その中に3次元方向に動くことができる箱形の可動構造部を収容している。可動構造部にはピエゾ素子が連結されており、可動構造部の動きに対応した応力がピエゾ素子に加わるように構成されている。そして、ピエゾ素子に加わる応力の変化を抵抗の変化として検出し、当該検出結果を用いて車両の走行制御などを行っている。
【0004】
ところで、上記のようにシリコン基体に収容される可動構造部は、動けることが重要であるが、過剰に動いた場合には、センサの破壊につながることもある。そこで、従来においては、例えば、特公平5−71148号公報に開示されているように、可動構造部の上下方向の過剰動作を防止するための、ガラス製のストッパーが設けられている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、従来のようにガラス製のストッパーを設けると、センサ(チップ)の厚みが増すという問題点があった。また、ガラスの接合工程が煩雑であり、製造コストの増加につながる。更に、ガラスとシリコンの接合による応力がセンサ特性に影響することも否定できない。
【0006】
従って、本発明の目的は、厚みの増加を最小限に抑えることが可能であり、実質的に微小構造体の特性への影響が無く、簡易且つ低コストで製造可能な微小構造体を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明の第1の態様に係る微小構造体は、可動構造部を3次元方向に移動可能に収容した基体を備え;可動構造部は、基体に収容された時に、少なくとも1面が外部に露出した状態であり;所定の間隙を介して可動構造部の露出した面を覆うように形成され、当該可動部の過剰な動きを防止する薄膜を設けている。
【0008】
好ましくは、薄膜は、弾性部材を介して基体に連結される。これにより、可動構造部の衝撃を吸収することができ、可動構造部の過剰な動きによるセンサ破壊の確率を低減させることが可能となる。
【0009】
また、薄膜を網目状に成形した場合には、可動構造部が過剰に動いて当該薄膜に衝突したときの衝撃が分散され、センサ破壊の確率を低減させることが可能となる。更に、弾性部材がスプリング構造であると、そのバネ性によって、より衝撃が吸収されやすく、センサ破壊の確率を一層低減できる。
【0010】
本発明の第2の態様に係る微小構造体の製造方法においては、基体上に犠牲層を形成し;犠牲層上に薄膜を形成する。そして、可動構造部を形成した後、犠牲層を除去する。
【0011】
薄膜を形成するに際し、ダイシング及びワイヤボンディングなどのアセンブリ工程の後に犠牲層を除去すれば、アセンブリ工程における薄膜ストッパの破壊を回避することができる。
【0012】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について、加速度センサを例にとって説明する。なお、本発明は、角加速度センサ(振動ジャイロ)等の他の慣性センサに加えて、アクチュエータ等の可動構造部を有するあらゆるタイプの微小構造体(MEMS)に適用可能である。
【0013】
図1は、本発明の実施例に係る加速度センサ10の構造を示す斜視図である。図2は、加速度センサ10の薄膜ストッパを省略した構造を示す斜視図である。図3は、加速度センサ10の構造を示す平面図である。また、図4は、加速度センサ10の内部構造を示す断面図である。本実施例に係る加速度センサ10は、シリコン基体12と、シリコン基体12の中央付近において上下左右のあらゆる方向に移動可能に収容された可動構造部(可動マス)14とを備えている。シリコン基体12の内側には、箱形の空間が形成されており、その中に可動構造部14が収容される。可動構造部14は、慣性力を向上させるために、4つの正方形を中央で連結した所謂クローバー型に成形されている。なお、シリコン基体12と可動構造部14との上面は、同一面となるように設計されている。
【0014】
センサ10は、また、可動構造部14とシリコン基体12とを連結する4本のビーム(支持梁)16と、ビーム16とシリコン基体12との連結部分に跨って配置された8個のピエゾ抵抗素子18とを備えている。各ビーム16は、可動構造部14のクローバーの葉と葉の間に対応する位置に配置される。シリコン基体12の上面には、電極パッド20が形成されており、図示しない配線によってピエゾ抵抗素子18と電気的に接続されている。
【0015】
可動構造部14の上面には、所定の間隙を介して当該可動構造部14を覆うように形成された薄膜ストッパ22が配置されている。薄膜ストッパ22は、網目状に成形されているが、穴の空いていない薄膜を使用することもできる。薄膜ストッパ22は、正方形状に成形されており、四隅及び各辺の中央部付近において、弾性部32を介してシリコン基体12に連結固定されている。弾性部32は、薄膜の一部をスプリング構造にパターンニングすることによって形成され、アンカー部34を介してシリコン基体12に固定される。ここで、所定の間隙とは、可動構造部14の上方向への過動を十分に制止できるか又は、吸収することができるだけの距離的な余裕、又は隙間のことを言い、それぞれのサイズによって設計上適宜選択される。
【0016】
図3(a),(b)に示すように、シリコン基体12は、ダイボンド面24上に固定されている。上述したように、可動構造部14はシリコン基体12の内側空間内で上下左右に移動可能であるが、下方向への過動はダイボンド面24によって制止され、水平方向の過動はシリコン基体12の内壁面によって制止される。そして、可動構造部14の上方向への過動は、薄膜ストッパ22によって制止される。ここで、「過動」とは、センサなどの微小構造体が正常に動作しなくなる程度の動き、例えば、構造体が破壊される以上の動き、若しくは、センサ出力の最大定格以上の動き等を言う。
【0017】
次に、上述した加速度センサ10の製造工程について、図5を参照して説明する。最初に、活性層(Si)42;埋め込み酸化膜層(SiO)41;Si基板からなるSOI基板40を用意し、SOI基板40の活性層42上(上表面側)に半導体加工技術を用い、ピエゾ抵抗素子18,金属配線及び電極パッド20を配列形成してブリッジ回路を構成する。その後、SiN等の保護膜(図示せず)を形成し、図5(A)に示すように、可動構造部14に対応したパターン14‘及びビーム16とをSOI基板40の活性層42に形成する。
【0018】
次に、図5(B)に示すように、SOI基板40上に有機薄膜(レジスト、ポリイミド等)を塗布後、パターニングして犠牲層44を形成する。この犠牲層の膜厚が可動構造部14と薄膜ストッパ22までの間隙の距離となる。次に、図5(C)に示すように、薄膜ストッパ22となる薄膜(アルミニウム等の金属又は、無機膜等)を形成してパターニングする。薄膜ストッパ22のパターンは、支持部(アンカー部)から延びるスプリング構造部32を有する。また、後に犠牲層44をエッチングしやすくするために、エッチングホールを形成することが好ましい。
【0019】
その後、Si基板側(下側)からSi Deep RIE (Reactive Ion
Etching)によって可動構造部14を形成し、埋め込み酸化膜をエッチングすることにより、可動構造部14をリリースする。可動構造部14が完成した後、Oプラズマエッチングによって犠牲層44のエッチングを行い、図5(D)に示すように、薄膜ストッパ22を形成する。その後、ダイシングによって個々のセンサチップに切断し、このセンサチップをパッケージにボンディングし、センサチップ10の電極パッド20とパッケージのリードパッド(図示せず)をワイヤボンディングする。なお、犠牲層44の除去は、上述したダイシングやワイヤボンディング等のアセンブリ工程後に行うこともできる。この場合、アセンブリ工程における薄膜ストッパ22の破壊を回避することができる。
【0020】
図6は、本発明の他の実施例に係る加速度センサ50の構成を示す平面図である。本実施例においては、4枚の分割された薄膜ストッパ22a,22b,22c,22dを用いて、可動構造部14の上方への過動を制止するようになっている。本実施例において、上記実施例と同一又は対応する構成要素については、同一の参照符号を付し、重複した説明は省略する。4枚の薄膜ストッパ22a,22b,22c,22dは、各々スプリング(スプリング構造部)32を介してシリコン基体12に連結されている。また、隣接する薄膜ストッパ同士についても、スプリング32によって連結されている。本実施例のように、薄膜ストッパを分割すると同時に、薄膜ストッパ同士をスプリング32で連結することにより、上記実施例に比べ、可動構造部14の過動による衝撃をより効果的に吸収することが可能となる。
【0021】
以上、本発明の実施例(実施形態、実施態様)について説明したが、本発明はこれらの実施例に何ら限定されるものではなく、特許請求の範囲に示された技術的思想の範疇において変更可能なものである。
【0022】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明においては、薄膜を用いて可動構造部の過剰な動きを防止しているため、ガラス製のストッパーを用いた場合に比べ、厚みの増加を最小限に抑えることが可能となる。また、薄膜の形成時に基体及び可動構造部に加わる応力は殆ど無いため、センサなどの微小構造体の特性への影響が実質的に無い。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1は、本発明の実施例に係る加速度センサの構造を示す斜視図である。
【図2】図2は、実施例に係る加速度センサのストッパネット(薄膜)を省略した構造を示す斜視図である。
【図3】図3(a),(b)は、図1のI−I方向及びJ−J方向の断面図である。
【図4】図4は、実施例に係る加速度センサの構造を示す平面図である。
【図5】図5は、実施例に係る加速度センサの製造工程を示す断面図である。
【図6】図6は、本発明の他の実施例に係る加速度センサの構成を示す平面図である。
【符号の説明】
10 加速度センサ
12 シリコン基体
14 可動構造部(可動マス)
14’ 可動構造部14に対応したパターン部であり、後に可動構造部14の一部となる部分
16 ビーム(支持梁)
18 ピエゾ抵抗素子
20 電極パッド
22 薄膜ストッパ
22a,22b,22c,22d 薄膜ストッパ
24 ダイボンド面
32 弾性構造部(スプリング)
34 アンカー部
40 SOI基板
41 埋め込み酸化膜
42 活性層
44 犠牲層

Claims (10)

  1. 可動構造部を有する微小構造体において、
    前記可動構造部を3次元方向に移動可能に収容した基体を備え;
    前記可動構造部は、前記基体に収容された時に、少なくとも1面が外部に露出した状態であり;
    所定の間隙を介して前記可動構造部の露出した面を覆うように形成され、当該可動部の過剰な動きを防止する薄膜を設け、
    前記薄膜は、弾性部材を介して前記基体に連結されていることを特徴とする微小構造体。
  2. 前記弾性部材は、スプリング構造であることを特徴とする請求項1に記載の微小構造体。
  3. 前記微小構造体は、加速度センサであることを特徴とする請求項1又は2に記載の微小構造体。
  4. 請求項1に記載の微小構造体を製造する方法において、
    前記基体上に犠牲層を形成し;
    前記犠牲層上に前記薄膜を形成し;
    前記可動構造部を形成した後、前記犠牲層を除去することを特徴とする微小構造体の製造方法。
  5. ダイシング及びワイヤボンディングなどのアセンブリ工程の後に前記犠牲層を除去することを特徴とする請求項4に記載の製造方法。
  6. 前記微小構造体は、加速度センサであることを特徴とする請求項4又は5に記載の製造方法。
  7. 可動構造部を有する微小構造体において、
    前記可動構造部を3次元方向に移動可能に収容した基体を備え;
    前記可動構造部は複数に分割された構造であり、前記基体に収容された時に、分割された可動構造部の少なくとも1面が外部に露出した状態であり;
    前記複数に分割された可動構造部の各々の露出した面を覆うように形成され、当該可動構造部の過剰な動きを防止する複数の薄膜とを備え
    前記複数の薄膜の各々は、弾性部材を介して前記基体に連結されていることを特徴とする微小構造体。
  8. 前記複数の薄膜領域同士が弾性部材を介して互いに連結されていることを特徴とする請求項に記載の微小構造体。
  9. 前記弾性部材は、スプリング構造であることを特徴とする請求項7又は8に記載の微小構造体。
  10. 前記微小構造体は、加速度センサであることを特徴とする請求項7,8又は9に記載の微小構造体。
JP2001291537A 2001-09-25 2001-09-25 可動構造部を有する微小構造体及びその製造方法 Expired - Fee Related JP3597806B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001291537A JP3597806B2 (ja) 2001-09-25 2001-09-25 可動構造部を有する微小構造体及びその製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001291537A JP3597806B2 (ja) 2001-09-25 2001-09-25 可動構造部を有する微小構造体及びその製造方法

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004072821A Division JP4020875B2 (ja) 2004-03-15 2004-03-15 可動構造部を有する微小構造体及びその製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2003101032A JP2003101032A (ja) 2003-04-04
JP3597806B2 true JP3597806B2 (ja) 2004-12-08

Family

ID=19113666

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001291537A Expired - Fee Related JP3597806B2 (ja) 2001-09-25 2001-09-25 可動構造部を有する微小構造体及びその製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3597806B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103557853A (zh) * 2013-10-24 2014-02-05 华东光电集成器件研究所 一种抗高过载的mems陀螺

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4416460B2 (ja) 2003-09-16 2010-02-17 トレックス・セミコンダクター株式会社 加速度センサー
JP4542885B2 (ja) * 2004-12-22 2010-09-15 Okiセミコンダクタ株式会社 加速度センサ及びその製造方法
JP2009053180A (ja) 2007-07-27 2009-03-12 Hitachi Metals Ltd 加速度センサー
JP5253859B2 (ja) * 2008-03-28 2013-07-31 ラピスセミコンダクタ株式会社 加速度センサの構造及びその製造方法
JP6623634B2 (ja) 2015-09-15 2019-12-25 セイコーエプソン株式会社 物理量センサー、電子機器および移動体
JP6597099B2 (ja) 2015-09-15 2019-10-30 セイコーエプソン株式会社 物理量センサー、電子機器および移動体

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103557853A (zh) * 2013-10-24 2014-02-05 华东光电集成器件研究所 一种抗高过载的mems陀螺

Also Published As

Publication number Publication date
JP2003101032A (ja) 2003-04-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100627217B1 (ko) 관성 센서
KR100590151B1 (ko) 관성 센서
US10759659B2 (en) Stress isolation platform for MEMS devices
US7107847B2 (en) Semiconductor acceleration sensor and method of manufacturing the same
US11945712B2 (en) Process for manufacturing a micro-electro-mechanical device, and MEMS device
KR100638928B1 (ko) 미소 구조체와 이것을 수용하는 패키지 구조체 및 가속도계
KR20060043669A (ko) 관성 센서
JP2008008820A (ja) 慣性センサおよびその製造方法
JP2006084327A (ja) 容量式力学量センサ装置
JP5121765B2 (ja) Memsデバイスおよびその製造方法
JP2658949B2 (ja) 半導体加速度センサ
JP3597806B2 (ja) 可動構造部を有する微小構造体及びその製造方法
JP2000183364A (ja) センサおよび製造方法
US20080142913A1 (en) Z offset mems devices and methods
US7361523B2 (en) Three-axis accelerometer
JP4020875B2 (ja) 可動構造部を有する微小構造体及びその製造方法
JP2003156511A (ja) 可動構造部を有する微小構造体
JP6464770B2 (ja) 物理量センサおよびその製造方法
JP7083428B2 (ja) マイクロエレクトロメカニカルセンサを製造する方法およびマイクロエレクトロメカニカルセンサ
JP2003287551A (ja) 機械的マイクロストラクチャの補強方法
JP2004082238A (ja) 可動構造部を有する微小構造体
JP2011075418A (ja) 振動型物理量センサ
CN110366083B (zh) Mems器件及其制备方法
JP2004317478A (ja) 半導体加速度センサ及びその製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20031225

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20040113

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20040315

A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711

Effective date: 20040312

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20040608

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20040803

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20040902

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20040909

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100917

Year of fee payment: 6

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees