JP3573924B2 - Polishing equipment - Google Patents

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  • Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は両面研磨装置に関し、さらに詳細には、ワークを支持する下定盤と、該下定盤への押圧力を加減調整可能な上定盤支持機構に支持された上定盤との間でワークを挟圧し、上定盤、下定盤及びワークを相対的に運動させてワークを研磨する研磨装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
シリコンウェーハ等の薄板状の被加工物を研磨する研磨装置としてはラッピング装置があり、被加工物の研磨面を鏡面に研磨する研磨装置としてはポリッシング装置がある。
例えば、ラッピング装置では、太陽ギヤである外歯車(以下、「エクスターナルギヤ」)と内歯車(以下、「インターナルギヤ」という)を異なる角速度で回転することによって、被加工物(以下、「ワーク」という)を透孔中に保持したキャリアを自転させると共に公転させる。キャリアは遊星歯車に相当する。そして、そのキャリアの上下に設けられた上下の研磨定盤(以下、上の研磨定盤を「上定盤」と、下の研磨定盤を「下定盤」という)によりワークを上下から挟むと共に、上定盤と下定盤とワークの間にスラリー(研磨液)を供給し、ワークに対して各定盤が相対的に移動(回転及び/又は揺動運動)してワークの両面を同時に研磨するものがある。
このラッピング装置は、いわゆる4ウェイ駆動方式の両面研磨装置として知られており、ワークを精度高く平坦化及び研磨できると共に、ワークの両面を同時に加工できるため加工時間が短くて済み、半導体チップの素材となるシリコンウェーハ等の薄物研磨加工に適している。
【0003】
また、ポリッシング装置は、一般的に、上面に研磨クロスが接着されて研磨面が形成され、回転する定盤と、その定盤の上方に回転可能かつ上下動可能に設けられ、下面にワークを密着・保持する保持プレートを有する保持装置とを備える。なお、定盤は下定盤に相当し、保持プレートは上定盤に相当する。このポリッシング装置によれば、研磨液を供給しつつ、定盤とワークとを相対的に運動させることで、鏡面研磨加工が行われる。
【0004】
従来のラッピング装置の具体例について、図3に基づいて説明する。
20は上定盤であり、下面にワーク10であるシリコンウェーハをラッピングする研磨面が形成され、上面にキー21が装着されている。22は空圧等のシリンダ装置であり、門型フレーム14の上部に設けられている。上定盤20は、回転板23及び連結ロッド27を介し、シリンダ装置22のピストンロッド22aの先端に吊り下げられ、回転自在に支持されている。すなわち、回転板23に固定された連結部22bによって、ロッド22は回転しない状態で、そのロッド22に対し、連結ロッド27を介して連繋された回転板23及び上定盤20が、回転可能且つ脱落しないように設けられている。そして、上定盤20は、その自重に基づく下定盤30への押圧力を、シリンダ装置22による吊り上げ力の調整で加減圧可能に設けられている。
【0005】
また、上定盤20は、キー21が駆動モータ70の動力で回転される回し金54のキー溝に挿入・係合しており、駆動モータ70によって回転駆動される。回し金54の下部には回し金シャフト54aが垂設されており、その下端部に設けられたシャフトギヤ54bは、アイドルギヤ63を介してスピンドル60に設けられたスピンドルギヤ64に噛合している。この動力伝達機構により、駆動モータ70の動力が回し金54を介して上定盤20に伝達される。なお、上定盤20と回し金54とをキー21で連繋するのは、ワーク10の給排或いは保守管理の際に、上定盤20を下定盤30との間隔が広くあくように吊り上げる必要のためである。
【0006】
50はエクスターナルギアであり、キャリア40に噛合して回転駆動させる。このエクスターナルギヤ50には、回し金シャフト54aの周囲に同心に設けられた第1中空シャフト50aが連結しており、その第1中空シャフト50aに設けられたシャフトギヤ50bは、スピンドル60に設けられたスピンドルギヤ65に噛合している。
また、下定盤30には、第1中空シャフト50aの周囲に同心に設けられた第2中空シャフト30aが連結されており、その第2中空シャフト30aの中途部に設けられたシャフトギヤ30bがスピンドル60に設けられたスピンドルギヤ61に噛合している。
【0007】
また、52はインターナルギアであり、キャリア40に噛合して回転駆動させる。このインターナルギヤ52には、第2中空シャフト30aの周囲に同心状に設けられた第3中空シャフト52aが連結されており、その第3中空シャフト52aに設けられたシャフトギヤ52bがスピンドル60に設けられたスピンドルギヤ62に噛合している。
なお、スピンドル60は、可変減速機69に連結されており、その可変減速機69はベルトを介して電動モータ、油圧モータ等の駆動モータ70に連結されている。
これにより、上定盤20、下定盤30、エクスターナルギヤ50、インターナルギヤ52は、同一の駆動モータ70よって、可変減速機69、ギヤ列、各シャフトを介してそれぞれ動力が伝達されて、回転駆動されていた。
【0008】
このような構成から成るラッピング装置によれば、前述したように、上定盤20は、その自重に基づく下定盤30への押圧力を、シリンダ装置22による吊り上げ力の調整で加減圧可能に設けられている。すなわち、ピストンロッド22aをシリンダ本体へ収縮させる方向へ作動するよう、下側の圧力室へ供給する圧力流体を高くすればするほど、上定盤20の下定盤30への押圧力をより軽減できる。従って、上定盤20の下定盤30への押圧力としては、最大で上定盤20の自重を加えることが可能である。
シリコンウェーハの研磨加工においては、その表面に凹凸があるときには、シリンダ装置22に高圧の圧力流体を供給し、上定盤20による押圧力を減圧をしてラッピングする。徐々にシリンダ装置22に供給している圧力流体の圧力を下げて、上定盤20による押圧力を増大させる。そして、シリコンウェーハの表面が滑らかになると共に厚みが均一になって、そのシリコンウェーハが全面的に均一な荷重を受ける状態となった後に、上定盤20の全自重がかかるように調整がなされてラッピング加工が行われている。このとき、上定盤20による押圧力の加減圧調整は精度良く滑らかに行われることが望ましい。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記ラッピング装置においては、上定盤20による押圧力の加減がシリンダ装置22の加減圧の調整によって直接的に行われるため、そのシリンダ装置22の内部抵抗の影響を直接的に反映してしまい、その微調整をリニアにすることが困難であった。
すなわち、ピストンロッド22aの引張応力に対応して上定盤20による押圧力が直接的に変化するということであり、上定盤20の下面である研磨面がワーク10に当接した状態で上定盤20による押圧力が変化するのである。従って、シリンダ装置22内のピストンロッド22a上端に固定されたピストンの研磨工程中の作動ストロークは、基本的にワーク10の研磨量(削り厚さ量)とピストンロッド22aの微小な弾性伸び量との合計の長さになり、非常に短いものになる。そして、ピストンとシリンダ内壁との摩擦抵抗によって、ピストンは完全に滑らかに移動することは困難であって間欠的に作動するが、その動作が微小であってもピストンの前記作動ストローク自体が小さいため上定盤20による押圧力に直接的に反映してしまう。従って、上定盤20による下定盤30への押圧力を滑らかに調整できないという課題があった。なお、上記のようにピストンがつっかえながら間欠的に作動する現象をノッキング或いはスリップステックと呼んでいる。また、通常、ピストンはシール部材を介してシリンダ内壁で摺動可能に設けられており、そのシール部材の圧力による変形等が、摩擦抵抗の要因になっている。
【0010】
また、各連結ロッド27の長さを完全に同一に加工することは困難であり、連結ロッド27の長さの微小な差による微小な傾斜によっても、部分的に荷重が集中してしまい、ワークを均一に研磨できない。特に、シリコンウェーハの研磨においては、サブミクロンオーダーの極めて高い精度の研磨が要求され、シリコンウェーハの大型化に伴い装置全体も大型化する等、その非常に厳しい研磨条件に対応できないという課題があった。
【0011】
そこで、本発明の目的は、簡単な構成で、上定盤の下定盤への押圧力を滑らかに調整できることで、ワークを高い精度で好適に研磨できる研磨装置を提供することにある。
【0012】
【課題を解決するための手段】
本発明は、上記目的を達成するに次の構成を備える。
すなわち、本発明は、ワークを支持する下定盤と、上定盤支持機構に支持された上定盤との間でワークを挟圧し、上定盤、下定盤及びワークを相対的に運動させてワークを研磨する研磨装置において、前記上定盤支持機構は、基体の上部に配設され、ピストンロッドが上下方向に伸縮可能に設けられたシリンダ装置と、該シリンダ装置のピストンロッドの下端に、該ピストンロッドの軸心を中心に回転可能に装着された回転板と、該回転板に、回転板の軸心を中心とする円周上に一定間隔で設けられた複数の貫通孔の各貫通孔を貫通して上下動可能に設けられ、前記上定盤及び回転板が前記軸心を中心に一体に回転するよう、各下端が前記上定盤に連結されると共に、各上端側に回転板からの脱落を防止する抜け止め部が設けられた連結ロッドと、前記連結ロッドの各抜け止め部と前記回転板との間に装着され、前記上定盤を水平バランスよく吊る弾性部材とを備え、前記上定盤支持機構 により、前記上定盤を吊り下げ支持してワークに当接させ、該ワークに、前記上定盤の自重と前記弾性部材にかかる荷重との差分の荷重もしくは上定盤の全自重をかけてワークの研磨を行うことを特徴とする。
【0013】
また、前記貫通孔にリニアブッシュを設け、前記連結ロッドを該リニアブッシュに挿通させるようにすると好適である。
【0014】
また、前記弾性部材は、コイルスプリングであることで、その収縮ストロークによって、上定盤による押圧力の加減にかかるシリンダ装置のロッドの上下動の有効ストロークを飛躍的に長くでき、上定盤による押圧力を滑らかに調整してワークを非常に高い精度で研磨できる。
【0015】
また、前記下定盤の上面及び前記上定盤の下面には、それぞれにワークを研磨するための研磨面が形成され、ワークの両面を同時に研磨することで、両面研磨装置に好適に適用できる。
また、前記ワークは薄板状であり、該薄板状のワークの両面を同時にラッピングすることで、シリコンウェーハ等の薄物のラッピング装置に好適に適用できる。
【0016】
【発明の実施の形態】
以下、本発明にかかる好適な実施例を添付図面と共に詳細に説明する。
図1は本発明にかかる一実施例(主に上定盤支持機構)を示す正面図である。また、図2は図1の実施例の上定盤支持機構を説明する平面図である。
本実施例は、シリコンウェーハの両面を同時に研磨する研磨装置の一例のラッピング装置である。このラッピング装置は、シリコンウェーハ(ワーク10)を支持する下定盤30と、その下定盤30への押圧力を加減調整可能な上定盤支持機構12に支持された上定盤20との間でワーク10を挟圧し、上定盤20、下定盤30及びワーク10を相対的に運動させてワーク10の両面を研磨する。なお、上定盤20、下定盤30、キャリア40を駆動させるエクスターナルギア50及びインターナルギア52の駆動機構は、図3の従来技術と同様であり、説明を省略する。
【0017】
前記上定盤支持機構12は、次のような構成を備える。
22はシリンダ装置であり、基体の上部である門型フレーム14の梁中央部に、ピストンロッド22aが上下方向に伸縮可能に配設されている。本実施例のシリンダ装置22は図示しない圧縮空気源から供給される空気圧で作動するが、他の流体圧(例えば、水圧、油圧)で作動するようにしてもよい。
24は回転板であり、シリンダ装置22のピストンロッド22aの下端に、ピストンロッド22aの軸心を中心に回転可能に装着されている。図1及び図2に示すように、円形の平板に形成されている。なお、重量を軽減するには適宜くり抜き部を設け、剛性を高めるには適宜リブ等を形成すればよい。
【0018】
26は連結ロッドであり、回転板24に上下動可能に挿通され、上定盤20及び回転板24がピストンロッド22aの軸心を中心に一体に回転するよう、下端が上定盤20に連結されている。そして、上端部に回転板24からの脱落を防止する抜け止め部26aが設けられている。本実施例では、回転板24に穿設された貫通孔24aに、連結ロッド26が挿通されており、回転板24と上定盤20とを連繋している。
また、図2に示すように、本実施例では、12本の連結ロッド26が、ピストンロッド22a及び回転板24の軸心を中心とする円周の等分角度位置にそれぞれ設けられている。
【0019】
28はコイルスプリングであり、連結ロッド26の各抜け止め部26aと回転板24の上面との間に装着された弾性部材の一例である。
以上の構成によって設けられた上定盤支持機構12によれば、上定盤20を吊り下げ支持すると共に、上定盤20の自重に基づく下定盤30へ押圧力を、上定盤20へのシリンダ装置22による吊り上げ力の調整で好適に加減圧することができる。
なお、連結ロッド26及びコイルスプリング28の数は、12個である必要はなく、複数であれば、これより増減してもよいのは勿論である。
【0020】
また、本実施例はラッピング装置であるため、下定盤30の上面及び上定盤20の下面には、それぞれにワーク10を研磨するための研磨面が形成され、ワーク10の両面を同時に研磨することができる。これにより、本実施例によれば、薄板状の脆性材料から形成されたシリコンウェーハ(ワーク10)の両面を、高精度に効率良くラッピングすることができる。
【0021】
次に、本実施例の使用状態と作用効果について説明する。
先ず、ワーク10をキャリア40の透孔に内で下定盤30の研磨面上にセットする際は、シリンダ装置22のピストンロッド22aを収縮することによって、下定盤30との間に充分な間隔があくように上定盤20を引き上げておく。このときには、複数のコイルスプリング28によって、上定盤20の重量の全部を受けている。従って、各コイルスプリング28は最も収縮した状態にある。なお、一枚当たりのキャリア40の透孔の数は、通常5個以上であり、ワーク10はそれぞれの透孔に保持されることになる。また、キャリア40は、一装置当たりについて通常4〜5個であるから、同時に20枚以上のワーク10が研磨できる。
【0022】
そして、シリンダ装置22のエアを減圧して上定盤20を降下させ、上定盤20の研磨面をワーク10の上面に当接させる。ワーク10(シリコンウェーハ)の被研磨面は、ラッピングされる前には凹凸があり、上定盤20による高い荷重をかけると、荷重がワーク10の凸部に集中し、ワーク10を破壊してしまう。従って、ワーク10のラッピング開始時には、シリンダ装置22に供給される空気圧は高い状態(例えば、5kgf/cm2)にあり、ワーク10に加えられる荷重は低い状態にある。また、このときの複数のコイルスプリング28にかかる荷重は、上定盤20の重量からワーク10にかかる荷重を差し引いたものになる。各コイルスプリング28は最も収縮した状態から若干伸びた状態になる。
【0023】
次に、徐々にシリンダ装置22に供給している空気圧の圧力を下げて、上定盤20によるワーク10側への押圧力を増大させつつ、ワーク10をラッピングする。なお、ワーク10をラッピングする際の上定盤20、下定盤30及びキャリア40を駆動させるエクスターナルギア50及びインターナルギア52の駆動方法等は、図3に示した従来技術と同様であり、説明を省略する。
そして、ワーク10の両被研磨面がある程度滑らかになると共に厚みが均一になって、そのワーク10が全面的に均一な荷重を受ける状態となった後に、上定盤20の全自重或いは一連の研磨工程において最大の荷重になるようにシリンダ装置22に供給している空気圧の圧力を調整する。上定盤20による最大荷重である全自重をワーク10にかける場合には、空気圧の圧力をゼロにすればよい。
【0024】
以上のように、シリンダ装置22に供給している空気圧の圧力を、徐々に下げている間に、コイルスプリング28にかかる荷重が、ワーク10にかかる荷重に変換され、徐々に軽減される。従って、コイルスプリング28は徐々に伸びることになる。このコイルスプリング28が伸びる長さは、シリンダ装置22のピストンロッド22aが突出(伸長)するストロークに対応する。すなわち、ピストンロッド22aの有効ストロークが、コイルスプリング28の伸縮のストロークの長さと基本的に同じことになる。図3の従来技術に比べ、その有効ストロークを非常に長くすることができる。
このため、長い有効ストロークの中で所定の圧力変化を行うことが可能であり、シリンダ装置22のピストンとシリンダ本体内壁との間に発生する内部抵抗の影響を受けにくく、上定盤を20による押圧力を滑らかに変化できる。従って、高精度の研磨を好適に行うことが可能である。
【0025】
また、複数の連結ロッド26の長さにばらつき(誤差)があっても、複数のコイルスプリング28を介しているため、荷重が各コイルスプリング28に好適に分散され、均一にワーク10を押圧できる。これは、そのコイルスプリング28の伸縮のストロークの長さがその誤差の長さに比べて格段に長いことになり、連結ロッド26の長さの多少のばらつきは、容易に吸収されることによる。すなわち、単純に複数のロッド26が連結された際には、上定盤20の研磨面をワーク10の被研磨面に当接させるときなど、最も長い連結ロッド26から集中的に荷重を受けることが考えられるが、本実施例のように複数のコイルスプリング28を介した場合は、その荷重を好適に分散できる。
また、複数のコイルスプリング28で、水平バランスよく上定盤20を吊ることが可能であり、シリンダ装置20内のピストンに偏った力を与えることがない。このため、上述したシリンダ装置22の内部抵抗の影響を受けにくく、上定盤を20による押圧力を安定的且つ滑らかに変化できる。従って、高精度の研磨を好適に行うことが可能である。
【0026】
ところで、上記実施例の連結ロッド26は、単純に貫通孔24aに挿通されているが、リニアブッシュ、球面軸受、又は両者を一体化した軸受等を介して回転板24に挿通してもよい。リニアブッシュを用いれば、スラスト方向の移動をより滑らかに受けることができ、球面軸受によれば、連結ロッド26の傾倒にも好適に対応可能になる。また、連結ロッド26のスラスト方向(上下方向)の移動を所定の範囲に規制するストッパ手段を設けてもよいのは勿論である。
【0027】
また、上記実施例では、弾性部材としてコイルスプリング28を用いたが、これに限らず、エアバッグ等の圧力流体を利用した弾性手段、或いはゴム材を用いることも可能である。なお、エアバッグ等の場合は、回転する回転板24上に搭載するため、圧空等の圧力流体を供給するためにディストリビュータを必要とするなど、構造が複雑になる。また、ゴム材の場合は、コイルスプリング28のように、長い伸縮ストロークをとりにくい。
【0028】
また、上記実施例では、上定盤20を吊り下げる基体として門型フレーム14を用いたが、基体(フレーム)の形態はこれに限定されるものではなく、逆L字型等の形態でもよい。但し、門型フレーム14は、高荷重に耐えることができる等の利点がある。
また、上記実施例では、上定盤20、下定盤30及びキャリア40の駆動源を一つの駆動モータ70(図3参照)と想定した場合を説明したが、本発明はこれに限らず、それぞれを別々に駆動させるようにしてよいのは勿論である。
また、上記実施例では、研磨装置として両面ラッピング装置について説明してきたが、これに限定されるものではなく、例えばポリッシング装置において同等の構成でワークを好適に鏡面研磨できる。
以上、本発明につき好適な実施例を挙げて種々説明してきたが、本発明はこの実施例に限定されるものではなく、発明の精神を逸脱しない範囲内で多くの改変を施し得るのは勿論のことである。
【0029】
【発明の効果】
本発明によれば、回転板及び上定盤を連繋する連結ロッドの各抜け止め部と、シリンダ装置のピストンロッドの下端に回転可能に装着された回転板との間に、弾性部材を装着したことにより、上定盤の自重に基づく下定盤へ押圧力を、シリンダ装置による吊り上げ力の調整で好適に加減圧することができる。すなわち、弾性部材を好適に介在させることでシリンダ装置のピストンロッドの有効伸縮ストロークを長くとることができ、上定盤による下定盤への押圧力を安定的且つ滑らかに変化させることができる。
従って、本発明によれば、簡単な構成であるが、ワークを高い精度で好適に研磨できるという著効を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明にかかるラッピング装置の一実施例を示す正面断面図である。
【図2】図1の実施例の上定盤支持機構を説明する平面図である。
【図3】従来のラッピング装置の正面断面図である。
【符号の説明】
10 ワーク
12 上定盤支持機構
14 門型フレーム
20 上定盤
22 シリンダ装置
22a ピストンロッド
24 回転板
26 連結ロッド
26a 抜け止め部
28 コイルスプリング
30 下定盤
[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a double-side polishing apparatus, and more specifically, a work between a lower platen supporting a work and an upper platen supported by an upper platen support mechanism capable of adjusting the pressing force to the lower platen. The present invention relates to a polishing apparatus that grinds a work by relatively moving an upper surface plate, a lower surface plate, and a work while pressing the work surface.
[0002]
[Prior art]
There is a lapping apparatus as a polishing apparatus for polishing a thin plate-like workpiece such as a silicon wafer, and a polishing apparatus as a polishing apparatus for polishing a polished surface of a workpiece to a mirror surface.
For example, in a lapping device, a workpiece (hereinafter, “workpiece”) is rotated by rotating an external gear (hereinafter, “external gear”), which is a sun gear, and an internal gear (hereinafter, “internal gear”) at different angular velocities. Is rotated and revolved around the carrier held in the through hole. The carrier corresponds to a planetary gear. The work is sandwiched from above and below by upper and lower polishing platens provided above and below the carrier (hereinafter, the upper polishing platen is referred to as “upper platen” and the lower polishing platen is referred to as “lower platen”). Then, a slurry (polishing liquid) is supplied between the upper and lower lapping plates and the work, and each lapping plate relatively moves (rotates and / or swings) with respect to the work to simultaneously polish both surfaces of the work. There is something to do.
This lapping device is known as a so-called four-way drive type double-side polishing device, and can flatten and polish a work with high accuracy, and can simultaneously process both surfaces of the work, so that the processing time is short and the material of the semiconductor chip is reduced. It is suitable for polishing thin materials such as silicon wafers.
[0003]
In addition, a polishing apparatus is generally provided with a polishing surface formed by bonding a polishing cloth to an upper surface, a rotating surface plate, and a rotatable and vertically movable member provided above the surface plate, and a work on a lower surface. And a holding device having a holding plate for closely contacting and holding. The platen corresponds to the lower platen, and the holding plate corresponds to the upper platen. According to this polishing apparatus, mirror surface polishing is performed by relatively moving the surface plate and the work while supplying the polishing liquid.
[0004]
A specific example of a conventional lapping device will be described with reference to FIG.
Reference numeral 20 denotes an upper surface plate, on the lower surface of which a polished surface for lapping a silicon wafer serving as the work 10 is formed, and a key 21 is mounted on the upper surface. Reference numeral 22 denotes a pneumatic cylinder device or the like, which is provided above the portal frame 14. The upper platen 20 is suspended from the tip of a piston rod 22a of the cylinder device 22 via a rotary plate 23 and a connecting rod 27, and is rotatably supported. That is, with the connecting portion 22b fixed to the rotating plate 23, the rotating plate 23 and the upper stool 20 linked to the rod 22 via the connecting rod 27 can rotate with the rod 22 not rotating. It is provided so as not to fall off. The upper platen 20 is provided so that the pressing force to the lower platen 30 based on its own weight can be increased or decreased by adjusting the lifting force by the cylinder device 22.
[0005]
The upper platen 20 is inserted into and engaged with a key groove of a driver 54 in which the key 21 is rotated by the power of the drive motor 70, and is driven to rotate by the drive motor 70. A turn shaft 54a is vertically provided below the turn 54, and a shaft gear 54b provided at a lower end thereof meshes with a spindle gear 64 provided on the spindle 60 via an idle gear 63. . With this power transmission mechanism, the motive power of the drive motor 70 is transmitted to the upper stool 20 via the driver 54. The reason why the upper platen 20 and the turner 54 are linked by the key 21 is that it is necessary to lift the upper platen 20 so that the space between the lower platen 30 and the lower platen 30 is wide at the time of supply and discharge of the work 10 or maintenance management. For.
[0006]
An external gear 50 meshes with the carrier 40 and is driven to rotate. The external gear 50 is connected to a first hollow shaft 50a provided concentrically around a rotary shaft 54a, and a shaft gear 50b provided on the first hollow shaft 50a is provided on a spindle 60. The gear is engaged with the spindle gear 65.
A second hollow shaft 30a concentrically provided around the first hollow shaft 50a is connected to the lower platen 30, and a shaft gear 30b provided in the middle of the second hollow shaft 30a is connected to a spindle. The gear 60 meshes with a spindle gear 61 provided on the shaft 60.
[0007]
An internal gear 52 meshes with the carrier 40 and is driven to rotate. A third hollow shaft 52a concentrically provided around the second hollow shaft 30a is connected to the internal gear 52, and a shaft gear 52b provided on the third hollow shaft 52a is connected to the spindle 60. It is engaged with the provided spindle gear 62.
The spindle 60 is connected to a variable speed reducer 69, and the variable speed reducer 69 is connected via a belt to a drive motor 70 such as an electric motor or a hydraulic motor.
As a result, the upper platen 20, the lower platen 30, the external gear 50, and the internal gear 52 receive power from the same drive motor 70 via the variable speed reducer 69, the gear train, and each shaft, and rotate. Had been driven.
[0008]
According to the lapping device having such a configuration, as described above, the upper platen 20 is provided with a pressing force to the lower platen 30 based on its own weight so as to be able to increase and decrease the pressure by adjusting the lifting force by the cylinder device 22. Has been. That is, as the pressure fluid supplied to the lower pressure chamber is increased so as to operate the piston rod 22a to contract the cylinder body, the pressing force of the upper platen 20 against the lower platen 30 can be further reduced. . Therefore, as the pressing force on the lower surface plate 30 of the upper surface plate 20, the own weight of the upper surface plate 20 can be applied at the maximum.
In the polishing of the silicon wafer, when the surface of the silicon wafer has irregularities, a high-pressure fluid is supplied to the cylinder device 22 and the pressing force of the upper stool 20 is reduced to perform lapping. The pressure of the pressurized fluid supplied to the cylinder device 22 is gradually reduced, and the pressing force by the upper stool 20 is increased. Then, after the surface of the silicon wafer becomes smooth and the thickness becomes uniform, and the silicon wafer receives a uniform load over the entire surface, adjustment is made so that the total weight of the upper platen 20 is applied. Lapping is performed. At this time, it is desirable that the adjustment of the pressing force by the upper stool 20 be performed accurately and smoothly.
[0009]
[Problems to be solved by the invention]
However, in the above lapping device, the pressing force by the upper platen 20 is directly adjusted by adjusting the pressurizing and depressurizing of the cylinder device 22, so that the influence of the internal resistance of the cylinder device 22 is directly reflected. As a result, it was difficult to make the fine adjustment linear.
That is, the pressing force of the upper platen 20 directly changes in accordance with the tensile stress of the piston rod 22a, and when the polishing surface, which is the lower surface of the upper platen 20, comes into contact with the workpiece 10, The pressing force by the platen 20 changes. Therefore, the working stroke of the piston fixed to the upper end of the piston rod 22a in the cylinder device 22 during the polishing process basically includes the polishing amount (the shaving thickness amount) of the work 10 and the minute elastic extension amount of the piston rod 22a. , Which is very short. And, due to the frictional resistance between the piston and the inner wall of the cylinder, it is difficult for the piston to move completely smoothly, and the piston operates intermittently. This directly reflects on the pressing force of the upper stool 20. Therefore, there is a problem that the pressing force of the upper platen 20 on the lower platen 30 cannot be adjusted smoothly. In addition, the phenomenon in which the piston intermittently operates while interlocking is called knocking or slip stick. Usually, the piston is slidably provided on the inner wall of the cylinder via a seal member, and deformation of the seal member due to pressure causes frictional resistance.
[0010]
Further, it is difficult to make the lengths of the connecting rods 27 completely the same, and even if the load is partially concentrated due to a slight inclination due to a minute difference in the length of the connecting rods 27, Cannot be uniformly polished. In particular, in polishing of silicon wafers, there is a problem that extremely high-precision polishing on the order of submicrons is required, and the size of the entire apparatus is increased with the enlargement of silicon wafers. Was.
[0011]
Therefore, an object of the present invention is to provide a polishing apparatus capable of suitably polishing a work with high accuracy by being able to smoothly adjust the pressing force to the lower platen with a simple configuration.
[0012]
[Means for Solving the Problems]
The present invention has the following configuration to achieve the above object.
That is, the present invention presses the work between the lower stool supporting the work and the upper stool supported by the upper stool support mechanism , and relatively moves the upper stool, the lower stool and the work. In a polishing apparatus for polishing a work, the upper platen support mechanism is disposed on an upper portion of a base, a cylinder device in which a piston rod is provided so as to be able to expand and contract in a vertical direction, and at a lower end of a piston rod of the cylinder device, A rotary plate rotatably mounted about the axis of the piston rod, and a plurality of through holes provided at regular intervals on a circumference of the rotary plate about the axis of the rotary plate; The lower end is connected to the upper surface plate and rotated to the upper end side so that the upper surface plate and the rotating plate are integrally rotated about the axis so that the upper surface plate and the rotating plate rotate integrally with each other. connecting rod which retaining portion is prevented from falling off from the plate is provided If the is the retaining portion of the connecting rod and mounted between the rotary plate, and an elastic member hanging good horizontal balance the over platen, by the upper surface plate support mechanism, hanging the upper plate The workpiece is polished by applying a load of a difference between the weight of the upper stool and the load applied to the elastic member or the total weight of the upper stool to the work while being lowered and supported. And
[0013]
Preferably, a linear bush is provided in the through hole, and the connecting rod is inserted through the linear bush.
[0014]
Further, the elastic member is a coil spring, so that the effective stroke of the vertical movement of the rod of the cylinder device applied to the adjustment of the pressing force by the upper platen can be drastically increased by the contraction stroke thereof. Workpieces can be polished with extremely high precision by adjusting the pressing force smoothly.
[0015]
A polishing surface for polishing a work is formed on each of the upper surface of the lower surface plate and the lower surface of the upper surface plate. By polishing both surfaces of the work at the same time, the present invention can be suitably applied to a double-side polishing apparatus.
Further, the work is in the form of a thin plate, and by lapping both sides of the work in the form of a thin plate at the same time, the present invention can be suitably applied to a lapping apparatus for a thin object such as a silicon wafer.
[0016]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Hereinafter, preferred embodiments according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
FIG. 1 is a front view showing one embodiment (mainly an upper surface plate supporting mechanism) according to the present invention. FIG. 2 is a plan view illustrating the upper platen support mechanism of the embodiment of FIG.
This embodiment is a lapping apparatus as an example of a polishing apparatus for simultaneously polishing both surfaces of a silicon wafer. The lapping apparatus includes a lower platen 30 supporting a silicon wafer (work 10) and an upper platen 20 supported by an upper platen support mechanism 12 capable of adjusting the pressing force applied to the lower platen 30. The work 10 is sandwiched and the upper surface plate 20, the lower surface plate 30, and the work 10 are relatively moved to polish both surfaces of the work 10. The driving mechanism of the external gear 50 and the internal gear 52 for driving the upper stool 20, the lower stool 30, and the carrier 40 is the same as that of the prior art shown in FIG.
[0017]
The upper platen support mechanism 12 has the following configuration.
Reference numeral 22 denotes a cylinder device, and a piston rod 22a is provided at the center of the beam of the portal frame 14, which is the upper part of the base, so as to be able to expand and contract in the vertical direction. Although the cylinder device 22 of the present embodiment is operated by air pressure supplied from a compressed air source (not shown), it may be operated by another fluid pressure (for example, water pressure or oil pressure).
Reference numeral 24 denotes a rotary plate, which is attached to the lower end of the piston rod 22a of the cylinder device 22 so as to be rotatable about the axis of the piston rod 22a. As shown in FIGS. 1 and 2, it is formed in a circular flat plate. It is to be noted that a hollow portion may be appropriately provided to reduce the weight, and a rib or the like may be appropriately formed to increase the rigidity.
[0018]
Reference numeral 26 denotes a connecting rod, which is vertically movably inserted into the rotating plate 24, and whose lower end is connected to the upper surface plate 20 so that the upper surface plate 20 and the rotating plate 24 rotate integrally about the axis of the piston rod 22a. Have been. The upper end portion is provided with a retaining portion 26a that prevents the rotating plate 24 from falling off. In the present embodiment, a connecting rod 26 is inserted through a through hole 24 a formed in the rotary plate 24, and connects the rotary plate 24 and the upper surface plate 20.
Further, as shown in FIG. 2, in the present embodiment, twelve connecting rods 26 are provided at equally spaced angular positions around the axis of the piston rod 22a and the rotating plate 24, respectively.
[0019]
Reference numeral 28 denotes a coil spring, which is an example of an elastic member mounted between each retaining portion 26 a of the connecting rod 26 and the upper surface of the rotating plate 24.
According to the upper stool support mechanism 12 provided by the above configuration, the upper stool 20 is suspended and supported, and the pressing force to the lower stool 30 based on the weight of the upper stool 20 is applied to the upper stool 20. By adjusting the lifting force by the cylinder device 22, pressure can be suitably increased and decreased.
The number of connecting rods 26 and coil springs 28 need not be 12, but may be increased or decreased as long as the number is plural.
[0020]
In addition, since the present embodiment is a lapping device, a polishing surface for polishing the work 10 is formed on each of the upper surface of the lower platen 30 and the lower surface of the upper platen 20, and both surfaces of the work 10 are simultaneously polished. be able to. Thus, according to the present embodiment, both sides of the silicon wafer (work 10) formed of a thin plate-shaped brittle material can be wrapped with high precision and efficiency.
[0021]
Next, a use state and an operation effect of the present embodiment will be described.
First, when the work 10 is set on the polished surface of the lower platen 30 in the through hole of the carrier 40, a sufficient space is provided between the work 10 and the lower platen 30 by contracting the piston rod 22a of the cylinder device 22. The upper platen 20 is lifted up as soon as possible. At this time, the entire weight of the upper stool 20 is received by the plurality of coil springs 28. Therefore, each coil spring 28 is in the most contracted state. Note that the number of through holes of the carrier 40 per sheet is usually five or more, and the work 10 is held in each of the through holes. Further, since the number of the carriers 40 is usually 4 to 5 per apparatus, 20 or more works 10 can be polished at the same time.
[0022]
Then, the air in the cylinder device 22 is depressurized to lower the upper platen 20, and the polishing surface of the upper platen 20 is brought into contact with the upper surface of the work 10. The polished surface of the work 10 (silicon wafer) has irregularities before lapping, and when a high load is applied by the upper platen 20, the load is concentrated on the convex portion of the work 10 and the work 10 is broken. I will. Therefore, when the lapping of the work 10 is started, the air pressure supplied to the cylinder device 22 is in a high state (for example, 5 kgf / cm 2 ), and the load applied to the work 10 is in a low state. The load applied to the plurality of coil springs 28 at this time is obtained by subtracting the load applied to the work 10 from the weight of the upper platen 20. Each coil spring 28 is in a slightly expanded state from the most contracted state.
[0023]
Next, the work 10 is wrapped while the pressure of the air pressure supplied to the cylinder device 22 is gradually reduced to increase the pressing force of the upper surface plate 20 toward the work 10. The driving method of the external gear 50 and the internal gear 52 for driving the upper platen 20, the lower platen 30, and the carrier 40 when lapping the work 10 is the same as that of the related art shown in FIG. Omitted.
Then, after the surfaces to be polished of the work 10 become somewhat smooth and the thickness becomes uniform, and the work 10 receives a uniform load over the entire surface, the total weight of the upper platen 20 or a series of The pressure of the air pressure supplied to the cylinder device 22 is adjusted so that the load becomes the maximum in the polishing process. When applying the total weight, which is the maximum load by the upper stool 20, to the work 10, the air pressure may be reduced to zero.
[0024]
As described above, while the pressure of the air pressure supplied to the cylinder device 22 is gradually reduced, the load applied to the coil spring 28 is converted to the load applied to the work 10 and gradually reduced. Therefore, the coil spring 28 gradually expands. The length of extension of the coil spring 28 corresponds to the stroke in which the piston rod 22a of the cylinder device 22 projects (extends). That is, the effective stroke of the piston rod 22a is basically the same as the length of the expansion and contraction stroke of the coil spring 28. The effective stroke can be made very long as compared with the prior art of FIG.
For this reason, it is possible to perform a predetermined pressure change in a long effective stroke, and it is hard to be affected by the internal resistance generated between the piston of the cylinder device 22 and the inner wall of the cylinder body. The pressing force can be changed smoothly. Therefore, high-precision polishing can be suitably performed.
[0025]
Further, even if the lengths of the plurality of connecting rods 26 vary (errors), the load is appropriately distributed to the coil springs 28 and the work 10 can be pressed uniformly because the plurality of connecting rods 26 have variations (errors). . This is because the length of the expansion / contraction stroke of the coil spring 28 is much longer than the length of the error, and a slight variation in the length of the connecting rod 26 is easily absorbed. That is, when a plurality of rods 26 are simply connected, the load is concentrated from the longest connecting rod 26 when the polishing surface of the upper platen 20 is brought into contact with the surface to be polished of the work 10. However, when a plurality of coil springs 28 are interposed as in the present embodiment, the load can be appropriately dispersed.
Further, the upper platen 20 can be suspended with good horizontal balance by the plurality of coil springs 28, and a biased force is not applied to the piston in the cylinder device 20. For this reason, it is hard to be affected by the internal resistance of the cylinder device 22 described above, and the pressing force by the upper platen 20 can be changed stably and smoothly. Therefore, high-precision polishing can be suitably performed.
[0026]
By the way, the connecting rod 26 of the above embodiment is simply inserted through the through hole 24a, but may be inserted through the rotary plate 24 via a linear bush, a spherical bearing, or a bearing in which both are integrated. If the linear bush is used, the movement in the thrust direction can be smoothly received, and the spherical bearing can suitably cope with the inclination of the connecting rod 26. Further, needless to say, stopper means for restricting the movement of the connecting rod 26 in the thrust direction (vertical direction) within a predetermined range may be provided.
[0027]
Further, in the above-described embodiment, the coil spring 28 is used as the elastic member. However, the present invention is not limited to this, and it is also possible to use elastic means using a pressure fluid such as an airbag or a rubber material. In the case of an airbag or the like, since the airbag or the like is mounted on the rotating rotary plate 24, the structure is complicated such that a distributor is required to supply a pressurized fluid such as compressed air. In the case of a rubber material, unlike the coil spring 28, it is difficult to take a long expansion / contraction stroke.
[0028]
In the above embodiment, the portal frame 14 is used as the base for suspending the upper stool 20. However, the form of the base (frame) is not limited to this, and may be an inverted L-shape or the like. . However, the portal frame 14 has advantages such as being able to withstand a high load.
Further, in the above embodiment, the case where the drive sources of the upper stool 20, the lower stool 30 and the carrier 40 are assumed to be one drive motor 70 (see FIG. 3) has been described, but the present invention is not limited to this. May be driven separately.
Further, in the above embodiment, the double-sided lapping apparatus has been described as the polishing apparatus. However, the present invention is not limited to this. For example, a workpiece can be suitably mirror-polished with the same configuration in a polishing apparatus.
As described above, the present invention has been described variously with reference to the preferred embodiments. However, the present invention is not limited to these embodiments, and it is needless to say that many modifications can be made without departing from the spirit of the invention. That is.
[0029]
【The invention's effect】
According to the present invention, an elastic member is mounted between each retaining portion of the connecting rod connecting the rotary plate and the upper surface plate, and the rotary plate rotatably mounted on the lower end of the piston rod of the cylinder device. Thus, the pressing force to the lower stool based on the weight of the upper stool can be suitably increased or decreased by adjusting the lifting force by the cylinder device. That is, the effective expansion and contraction stroke of the piston rod of the cylinder device can be lengthened by suitably interposing the elastic member, and the pressing force of the upper surface plate on the lower surface plate can be changed stably and smoothly.
Therefore, according to the present invention, although having a simple configuration, there is a remarkable effect that a workpiece can be suitably polished with high accuracy.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a front sectional view showing one embodiment of a wrapping device according to the present invention.
FIG. 2 is a plan view illustrating an upper platen support mechanism of the embodiment of FIG.
FIG. 3 is a front sectional view of a conventional wrapping device.
[Explanation of symbols]
Reference Signs List 10 Work 12 Upper platen support mechanism 14 Gate type frame 20 Upper platen 22 Cylinder device 22a Piston rod 24 Rotating plate 26 Connecting rod 26a Retaining portion 28 Coil spring 30 Lower platen

Claims (5)

ワークを支持する下定盤と、上定盤支持機構に支持された上定盤との間でワークを挟圧し、上定盤、下定盤及びワークを相対的に運動させてワークを研磨する研磨装置において、
前記上定盤支持機構は、
基体の上部に配設され、ピストンロッドが上下方向に伸縮可能に設けられたシリンダ装置と、
該シリンダ装置のピストンロッドの下端に、該ピストンロッドの軸心を中心に回転可能に装着された回転板と、
該回転板に、回転板の軸心を中心とする円周上に一定間隔で設けられた複数の貫通孔の各貫通孔を貫通して上下動可能に設けられ、前記上定盤及び回転板が前記軸心を中心に一体に回転するよう、各下端が前記上定盤に連結されると共に、各上端側に回転板からの脱落を防止する抜け止め部が設けられた連結ロッドと、
前記連結ロッドの各抜け止め部と前記回転板との間に装着され、前記上定盤を水平バランスよく吊る弾性部材とを備え、
前記上定盤支持機構により、前記上定盤を吊り下げ支持してワークに当接させ、該ワークに、前記上定盤の自重と前記弾性部材にかかる荷重との差分の荷重もしくは上定盤の全自重をかけてワークの研磨を行うことを特徴とする研磨装置。
A polishing apparatus for clamping a work between a lower platen supporting a work and an upper platen supported by an upper platen support mechanism , and relatively moving the upper platen, the lower platen and the work to polish the work. At
The upper platen support mechanism,
A cylinder device arranged on the upper part of the base body , wherein the piston rod is provided so as to be able to expand and contract in the vertical direction;
A rotating plate attached to the lower end of the piston rod of the cylinder device so as to be rotatable around the axis of the piston rod;
The rotating plate is provided so as to be vertically movable through respective through holes of a plurality of through holes provided at regular intervals on a circumference around the axis of the rotating plate. A connection rod , wherein each lower end is connected to the upper surface plate, and a stopper portion is provided on each upper end side to prevent the rotation plate from falling off, such that the rotation is integrally performed around the axis.
An elastic member mounted between each of the retaining portions of the connecting rod and the rotating plate, and suspending the upper surface plate in a well-balanced manner,
The upper stool support mechanism suspends the upper stool and supports the upper stool to abut on a work. The work has a difference between the weight of the upper stool and the load applied to the elastic member, or the upper stool. A polishing apparatus characterized in that the work is polished by applying its own weight .
前記貫通孔にリニアブッシュが設けられ、前記連結ロッドが該リニアブッシュを挿通していることを特徴とする請求項1記載の研磨装置。The polishing apparatus according to claim 1 , wherein a linear bush is provided in the through hole, and the connecting rod passes through the linear bush . 前記弾性部材は、コイルスプリングであることを特徴とする請求項1又は2記載の研磨装置。The polishing apparatus according to claim 1, wherein the elastic member is a coil spring. 前記下定盤の上面及び前記上定盤の下面には、それぞれにワークを研磨するための研磨面が形成され、ワークの両面を同時に研磨することを特徴とする請求項1、2又は3記載の研磨装置。4. A polishing surface for polishing a work is formed on each of an upper surface of the lower platen and a lower surface of the upper platen, and both surfaces of the work are simultaneously polished. Polishing equipment. 前記ワークは薄板状であり、該薄板状のワークの両面を同時にラッピングすることを特徴とする請求項4記載の研磨装置。5. The polishing apparatus according to claim 4, wherein the work is a thin plate, and both sides of the thin plate are wrapped at the same time.
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