JP3538758B2 - Capacitor array and method of manufacturing the same - Google Patents

Capacitor array and method of manufacturing the same

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JP3538758B2
JP3538758B2 JP10263593A JP10263593A JP3538758B2 JP 3538758 B2 JP3538758 B2 JP 3538758B2 JP 10263593 A JP10263593 A JP 10263593A JP 10263593 A JP10263593 A JP 10263593A JP 3538758 B2 JP3538758 B2 JP 3538758B2
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sintered body
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capacitor
capacitor array
grooves
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芳明 河野
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、複数のコンデンサユニ
ットが1個のセラミック焼結体を用いて一体的に構成さ
れているコンデンサアレイに関し、特に、隣接するコン
デンサユニット間の構造が改良されたコンデンサアレイ
に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a capacitor array in which a plurality of capacitor units are integrally formed using one ceramic sintered body, and more particularly, to an improved structure between adjacent capacitor units. It relates to a capacitor array.

【0002】[0002]

【従来の技術】電子機器の小型化に伴い、電子部品の小
型化及び高密度実装化が進められている。例えば、コン
デンサでは、超小型の積層セラミックコンデンサが開発
されており、プリント回路基板上にこれらの超小型積層
セラミックコンデンサを多数実装してなる回路が実現さ
れている。
2. Description of the Related Art With the miniaturization of electronic equipment, miniaturization and high-density mounting of electronic components have been promoted. For example, as a capacitor, an ultra-small multilayer ceramic capacitor has been developed, and a circuit in which a number of these ultra-small multilayer ceramic capacitors are mounted on a printed circuit board has been realized.

【0003】また、電子部品の高密度実装を果たすため
に、複数のコンデンサを一体化してなるコンデンサアレ
イも用いられている。従来のコンデンサアレイでは、1
個のセラミック焼結体内にセラミック層を介して重なり
合うように内部電極を形成することにより構成されたコ
ンデンサユニットが該焼結体内に複数個並設されてい
る。また、各コンデンサユニットの内部電極の電気的接
続は、焼結体内に設けられたスルーホール電極を利用し
て行われている。
In order to achieve high-density mounting of electronic components, a capacitor array in which a plurality of capacitors are integrated has been used. In a conventional capacitor array, 1
A plurality of capacitor units formed by forming internal electrodes so as to overlap with each other via a ceramic layer in ceramic sintered bodies are arranged in parallel in the sintered bodies. The electrical connection of the internal electrodes of each capacitor unit is made using a through-hole electrode provided in the sintered body.

【0004】上記コンデンサアレイを用いれば、用意す
るコンデンサの数を低減することができ、かつ実装作業
を簡略化することができる。
The use of the above-mentioned capacitor array makes it possible to reduce the number of capacitors to be prepared and to simplify the mounting operation.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】電子部品の高密度実装
を可能とするには、上記のようにより小さな積層コンデ
ンサを用いることが必要である。しかしながら、小型の
積層コンデンサになるほど、内部電極の面積が小さくな
り、かつ非常に軽くなる。その結果、プリント回路基板
に実装するに際し、溶融はんだの表面張力により積層コ
ンデンサが一方の外部電極側を下端として起き上がり、
他方の外部電極側がプリント回路基板の上方に浮いてし
まう現象(ツームストーン現象)が生じるという問題が
あった。すなわち、積層コンデンサが小型になればなる
ほど、プリント回路基板上への実装が非常に困難になっ
ていた。
To enable high-density mounting of electronic components, it is necessary to use smaller multilayer capacitors as described above. However, as the size of the multilayer capacitor becomes smaller, the area of the internal electrodes becomes smaller and becomes very light. As a result, when mounted on a printed circuit board, the multilayer capacitor rises with one external electrode side as the lower end due to the surface tension of the molten solder,
There is a problem that a phenomenon (tombstone phenomenon) that the other external electrode side floats above the printed circuit board occurs. In other words, the smaller the multilayer capacitor is, the more difficult it is to mount it on a printed circuit board.

【0006】他方、上記コンデンサアレイを用いた場合
には、複数のコンデンサユニットが1個の焼結体内に構
成されているため、上記のような溶融はんだの表面張力
によるツームストーン現象は生じ難い。しかしながら、
1個の焼結体内において複数のコンデンサユニットが並
設されているため、隣接するコンデンサユニット間にお
いて浮遊容量が発生することを避けることができない。
よって、コンデンサアレイを使用する回路に該浮遊容量
により悪影響を与えることがあった。
On the other hand, when the above capacitor array is used, since a plurality of capacitor units are formed in one sintered body, the tombstone phenomenon due to the surface tension of the molten solder hardly occurs. However,
Since a plurality of capacitor units are arranged side by side in one sintered body, it is unavoidable to generate a stray capacitance between adjacent capacitor units.
Therefore, the circuit using the capacitor array may be adversely affected by the stray capacitance.

【0007】本発明の目的は、高密度実装に適してお
り、安定にプリント回路基板上に実装することができる
だけでなく、隣接するコンデンサユニット間の浮遊容量
による悪影響を低減し得る構造を備えたコンデンサアレ
イを提供することにある。
An object of the present invention is to provide a structure suitable for high-density mounting, capable of stably mounting on a printed circuit board, and capable of reducing an adverse effect due to stray capacitance between adjacent capacitor units. It is to provide a capacitor array.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】請求項1に記載の発明
は、1個のセラミック焼結体内にセラミック層を介して
厚み方向に重なり合うように複数の内部電極を形成する
ことにより構成された複数のコンデンサユニットが前記
焼結体内にm行×n列(但しm,nは2以上の整数)の
マトリックス状に並設された積層コンデンサアレイにお
いて、前記各コンデンサユニットの内部電極が、焼結体
の上面又は下面の少なくとも一方から厚み方向に延びる
溝又は焼結体端面に、各コンデンサユニットの両側にお
いて、厚み方向に交互に露出されており、かつ内部電極
に電気的に接続されるように前記溝の内面及び焼結体端
面に形成された外部電極を備え、前記外部電極が形成さ
れている側以外のコンデンサユニット間が、焼結体より
も比誘電率の低い誘電体層により隔てられていることを
特徴とする、コンデンサアレイである。
Means for Solving the Problems The invention described in claim 1, a plurality constructed by forming a plurality of internal electrodes so as to overlap in the thickness direction through the ceramic layer to the single ceramic sintered body Are arranged in a matrix of m rows × n columns (where m and n are integers of 2 or more) in the sintered body. Grooves or end faces of the sintered body extending in the thickness direction from at least one of the upper surface or the lower surface, on both sides of each capacitor unit, are alternately exposed in the thickness direction, and are electrically connected to internal electrodes. An external electrode formed on the inner surface of the groove and the end surface of the sintered body, and a capacitor having a dielectric constant lower than that of the sintered body is provided between capacitor units other than the side on which the external electrode is formed. A capacitor array characterized by being separated by a body layer.

【0009】上記請求項1に記載の発明における焼結体
に比べて比誘電率の低い誘電体層は、例えば請求項2に
記載のように外部電極が形成される側以外のコンデンサ
ユニット間において焼結体の上面及び下面の少なくとも
一方から厚み方向に延びるように溝を形成し、該溝内の
空気層により上記誘電体層を構成してもよく、あるい
は、請求項3に記載のように上記溝内に焼結体よりも比
誘電率の低い固体の誘電体材料を充填することにより構
成してもよい。本発明にかかるコンデンサアレイの製造
方法は、本発明のコンデンサアレイを製造するための方
法であり、複数のコンデンサユニットが構成された焼結
体を得る工程と、前記各コンデンサユニットの両側にお
いて焼結体の上面または下面の少なくとも一方から厚み
方向に延びる溝を、各コンデンサユニットの内部電極が
該溝または焼結体端面に交互に露出されるように形成す
る工程と、前記溝内に導電ペーストを充填し焼き付ける
ことにより導電層を形成する工程と、上記導電層よりも
深く、かつ前記溝よりも細い溝を形成し、前記溝よりも
細い溝の両側に外部電極を形成するとともに、前記
よりも細い溝により焼結体よりも比誘電率の低い誘電体
層が構成される工程とを備える。本発明にかかる製造方
法の特定の局面では、前記溝よりも細い溝内に、焼結体
よりも比誘電率の低い固体の誘電体材料を充填する工程
をさらに備える。
The dielectric layer having a lower relative dielectric constant than the sintered body according to the first aspect of the present invention is provided between the capacitor units other than the side on which the external electrodes are formed, for example, as described in the second aspect. A groove may be formed so as to extend in a thickness direction from at least one of an upper surface and a lower surface of the sintered body, and the dielectric layer may be constituted by an air layer in the groove. The groove may be filled with a solid dielectric material having a lower dielectric constant than the sintered body. The method for manufacturing a capacitor array according to the present invention is a method for manufacturing the capacitor array according to the present invention, comprising the steps of obtaining a sintered body including a plurality of capacitor units, and sintering both sides of each of the capacitor units. Forming a groove extending in the thickness direction from at least one of the upper surface or the lower surface of the body so that the internal electrodes of each capacitor unit are alternately exposed to the groove or the end face of the sintered body; and forming a conductive paste in the groove. forming a conductive layer by baking filling, deeper than the conductive layer, and said forming a thin groove than the groove, than the groove
To form the respective external electrodes on both sides of the narrow groove, said groove
Forming a dielectric layer having a lower dielectric constant than the sintered body by the narrower grooves . In a specific aspect of the manufacturing method according to the present invention, the method further includes a step of filling a solid dielectric material having a lower dielectric constant than the sintered body into a groove smaller than the groove .

【0010】[0010]

【作用及び発明の効果】請求項1に記載の発明のコンデ
ンサアレイでは、コンデンサユニット間に内部電極が引
き出される方向において、焼結体の上面又は下面の少な
くとも一方から厚み方向に延びるように溝が形成されて
おり、コンデンサユニットの内部電極が上記溝又は焼結
体端面にコンデンサユニットの両側で厚み方向に交互に
露出され、かつ溝の内面及び焼結体端面に上記外部電極
が形成されている。従って、上記溝を介して隣接するコ
ンデンサユニットが隔てられており、該溝の部分の比誘
電率は、空気の比誘電率に等しいため、上記焼結体の比
誘電率に比べて非常に低い。さらに、外部電極が形成さ
れる側と異なる側の各コンデンサユニット間では、焼結
体よりも低誘電率の誘電体層により隣合うコンデンサユ
ニットが隔てられている。
In the capacitor array according to the first aspect of the present invention, in the direction in which the internal electrodes are drawn out between the capacitor units, the grooves extend from at least one of the upper surface and the lower surface of the sintered body in the thickness direction. The internal electrodes of the capacitor unit are alternately exposed in the thickness direction on both sides of the capacitor unit on the groove or the end surface of the sintered body, and the external electrodes are formed on the inner surface of the groove and the end surface of the sintered body. . Therefore, the adjacent capacitor units are separated from each other via the groove, and the relative permittivity of the portion of the groove is equal to the relative permittivity of air, so that the relative permittivity is extremely lower than the relative permittivity of the sintered body. . Further, between the capacitor units on the side different from the side on which the external electrodes are formed, adjacent capacitor units are separated by a dielectric layer having a lower dielectric constant than the sintered body.

【0011】従って、隣接するコンデンサユニット間に
おける浮遊容量が、上記溝及び誘電体層により非常に小
さくされている。また、請求項2に記載の発明では、上
記低誘電率の誘電体層が、溝内の空気で構成されている
ため、外部電極が形成されている側と同様に、外部電極
が形成される側と以外のコンデンサユニット間も空気に
より隔てられることになる。
Therefore, the stray capacitance between adjacent capacitor units is extremely reduced by the groove and the dielectric layer. According to the second aspect of the present invention, since the low dielectric constant dielectric layer is made of air in the groove, the external electrode is formed in the same manner as the external electrode is formed. The other side and the other capacitor units are also separated by air.

【0012】さらに、請求項3に記載の発明では、外部
電極が形成される側以外のコンデンサユニット間が上記
固体の誘電体層で隔てられており、該誘電体層の比誘電
率が焼結体の比誘電率よりも低くされている。
Further, according to the third aspect of the invention, the capacitor units other than the side on which the external electrodes are formed are separated by the solid dielectric layer, and the relative dielectric constant of the dielectric layer is reduced by sintering. Lower than the dielectric constant of the body.

【0013】従って、請求項2,3に記載の発明におい
ても、請求項1に記載の発明と同様に、隣接するコンデ
ンサユニット間における浮遊容量が非常に小さくされ
る。よって、請求項1〜3に記載の発明によれば、隣接
するコンデンサユニット間の浮遊容量における悪影響を
確実に防止することができる。
Therefore, also in the inventions according to the second and third aspects, the stray capacitance between adjacent capacitor units is extremely reduced, as in the invention according to the first aspect. Therefore, according to the first to third aspects of the present invention, it is possible to reliably prevent an adverse effect on the stray capacitance between adjacent capacitor units.

【0014】また、従来の超小型の積層コンデンサを複
数個実装する場合に比べて、実装コストを低減すること
ができ、かつ実装に際してのツームストーン現象を防止
することができる。さらに、従来の積層コンデンサアレ
イと比べた場合には、隣接するコンデンサユニット間の
浮遊容量による悪影響を低減し得るため、所望通りの特
性を発揮し得る回路を確実に構成することができる。
Also, as compared with the conventional case where a plurality of ultra-small multilayer capacitors are mounted, the mounting cost can be reduced and the tombstone phenomenon at the time of mounting can be prevented. Furthermore, when compared with the conventional multilayer capacitor array, the adverse effect due to the stray capacitance between adjacent capacitor units can be reduced, so that a circuit that can exhibit desired characteristics can be reliably configured.

【0015】[0015]

【実施例の説明】以下、本発明の実施例をコンデンサア
レイを図面を参照しつつ説明することにより、本発明を
明らかにする。なお、以下の説明においては、各実施例
のコンデンサアレイの製造方法を先に説明することによ
り、該コンデンサアレイの構造を明らかにする。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Embodiments of the present invention will be described below with reference to a capacitor array with reference to the drawings. In the following description, the structure of the capacitor array will be clarified by first describing the method of manufacturing the capacitor array of each embodiment.

【0016】第1の実施例 まず、図1(a)及び(b)に示すように、矩形のセラ
ミックグリーンシート1,2を用意する。セラミックグ
リーンシート1,2は、例えばチタン酸バリウム系セラ
ミック粉末のような誘電体セラミック粉末を公知慣用の
バインダー及び有機溶媒と混練することにより得られた
スラリーをドクターブレード法等の適宜のシート成形法
により成形し、打ち抜くことにより得られる。
First Embodiment First, as shown in FIGS. 1A and 1B, rectangular ceramic green sheets 1 and 2 are prepared. The ceramic green sheets 1 and 2 are formed by mixing a slurry obtained by kneading a dielectric ceramic powder such as a barium titanate-based ceramic powder with a known and commonly used binder and an organic solvent into an appropriate sheet forming method such as a doctor blade method. It is obtained by molding and punching.

【0017】セラミックグリーンシート1の上面には、
一方端縁1aから他方端縁1b側に長さ方向が延びるよ
うに、矩形の内部電極3〜8が導電ペーストを印刷する
ことにより形成されている。同様に、セラミックグリー
ンシート2の上面においても、端縁2a,2b間が長さ
方向となるように矩形の内部電極9〜14が導電ペース
トを印刷することにより形成されている。
On the upper surface of the ceramic green sheet 1,
Rectangular internal electrodes 3 to 8 are formed by printing a conductive paste so that the length direction extends from one edge 1a to the other edge 1b. Similarly, also on the upper surface of the ceramic green sheet 2, rectangular internal electrodes 9 to 14 are formed by printing a conductive paste so that the length between the edges 2a and 2b is the length direction.

【0018】セラミックグリーンシート1の上面におい
て、内部電極3〜8は、各幅方向寸法が等しくされてお
り、かつ内部電極3,4が同一行を構成するように、同
様に、内部電極5,6及び内部電極7,8がそれぞれ同
一行を構成するように配置されている。セラミックグリ
ーンシート2の上面においても、同様に、外部電極9,
10が同一行、内部電極11,12が同一行、内部電極
13,14が同一行構成するように配置されている。
On the upper surface of the ceramic green sheet 1, the internal electrodes 3 to 8 have the same dimensions in the width direction, and similarly, the internal electrodes 5, 5 are formed such that the internal electrodes 3, 4 form the same row. 6 and the internal electrodes 7 and 8 are arranged so as to constitute the same row. Similarly, on the upper surface of the ceramic green sheet 2, the external electrodes 9,
10 are arranged in the same row, internal electrodes 11 and 12 are arranged in the same row, and internal electrodes 13 and 14 are arranged in the same row.

【0019】上記導電ペーストとしては、Agもしくは
Ag−Pd等の導電性粉末を含有する導電ペーストが用
いられる。もっとも、導電ペーストの印刷の他、蒸着も
しくはメッキ等の他の導電膜形成方法により内部電極3
〜8,9〜14を形成してもよい。
As the conductive paste, a conductive paste containing a conductive powder such as Ag or Ag-Pd is used. However, other than the printing of the conductive paste, the internal electrodes 3 may be formed by another conductive film forming method such as evaporation or plating.
~ 8, 9 ~ 14 may be formed.

【0020】次に、上記セラミックグリーンシート1,
2を、それぞれ、複数枚用意し、交互に図1(a),
(b)に示した向きのまま積層し、図2に略図的に示す
ように、その上方及び下方に適宜の枚数の無地のセラミ
ックグリーンシート15,16を積層し、厚み方向に圧
着する。上記のようにして圧着することにより積層体を
得る。得られた積層体を焼成することにより、図3及び
図4に示す焼結体17が得られる。
Next, the ceramic green sheets 1
2 were prepared, and a plurality of them were prepared, and alternately, as shown in FIG.
As shown schematically in FIG. 2, an appropriate number of plain ceramic green sheets 15 and 16 are stacked above and below the stack as shown in FIG. 2 and pressed in the thickness direction. The laminate is obtained by pressure bonding as described above. By firing the obtained laminate, the sintered body 17 shown in FIGS. 3 and 4 is obtained.

【0021】図3から明らかなように、焼結体17の一
方端面17aには、図1を参照すれば明らかなように、
内部電極4,8,12が露出されている。他方端面17
b側は図示されていないが、同様に図1の内部電極5,
9,13が露出されている。
As is apparent from FIG. 3, one end face 17a of the sintered body 17 has a structure as shown in FIG.
The internal electrodes 4, 8, and 12 are exposed. Other end face 17
Although the b side is not shown, the internal electrodes 5 and 5 of FIG.
9 and 13 are exposed.

【0022】また、図4(a)及び(b)は、それぞ
れ、図3のA−A線及びB−B線に沿う断面図(内部電
極の図示を解り易くするためハッチングは省略。以下の
同様の図面についても同じくハッチングを省略する。)
であるが、前述したセラミックグリーンシート1上の内
部電極と、セラミックグリーンシート2上の内部電極と
が交互に焼結体層を隔てて積層されていることがわか
る。
FIGS. 4A and 4B are cross-sectional views taken along lines AA and BB in FIG. 3 (the hatching is omitted to make it easier to see the internal electrodes. The hatching is omitted for the similar drawings.)
However, it can be seen that the above-described internal electrodes on the ceramic green sheet 1 and the internal electrodes on the ceramic green sheet 2 are alternately stacked with the sintered body layer interposed therebetween.

【0023】次に、図5に示すように、セラミック焼結
体17の上面17c側から下面17d側に向かって、但
し下面17dには至らないように溝18,19を形成す
る。図6は、図5のA−A線に沿う部分の断面図であ
る。図6から明らかなように、溝18の形成により、図
1に示した内部電極3が分割され、内部電極3a,3b
が溝18に露出するように構成されている。同様に、セ
ラミックグリーンシート2の上面に形成されてる内部電
極10が溝19により分割され、内部電極10a,10
bが溝19の両側にかつ溝19の内面に露出するように
構成されている。すなわち上記溝18は、図1に示した
内部電極3,7を幅方向に分割するように形成されてお
り、図6では必ずしも明らかではないが、セラミックグ
リーンシート2の上面に形成されていた内部電極11に
ついても同様に等しい長さを有する2つの内部電極に分
割されている。
Next, as shown in FIG. 5, grooves 18 and 19 are formed from the upper surface 17c side of the ceramic sintered body 17 to the lower surface 17d side, but not to the lower surface 17d. FIG. 6 is a cross-sectional view of a portion along the line AA in FIG. 6, the internal electrode 3 shown in FIG. 1 is divided by the formation of the groove 18, and the internal electrodes 3a and 3b are formed.
Is configured to be exposed in the groove 18. Similarly, the internal electrode 10 formed on the upper surface of the ceramic green sheet 2 is divided by the groove 19, and the internal electrodes 10a, 10
b are configured to be exposed on both sides of the groove 19 and on the inner surface of the groove 19. That is, the groove 18 is formed so as to divide the internal electrodes 3 and 7 shown in FIG. 1 in the width direction. Although not necessarily clear in FIG. 6, the internal electrode formed on the upper surface of the ceramic green sheet 2 is formed. Similarly, the electrode 11 is divided into two internal electrodes having the same length.

【0024】同様に、溝19の形成により、内部電極1
0が等しい長さを有する2個の内部電極10a,10b
に分割されているが、図1の内部電極6,14について
も同様に2個の内部電極部分に分割されている。
Similarly, the formation of the groove 19 allows the internal electrode 1
Two internal electrodes 10a, 10b having equal lengths 0
The internal electrodes 6 and 14 in FIG. 1 are also divided into two internal electrode portions.

【0025】上記溝18,19の加工は、ダイヤモンド
カッターやダイシングマシーン等を用いて行うことがで
きる。また、溝18,19の幅は、図6から明らかなよ
うに、溝18,19内に内部電極4,9が露出しないよ
うな幅に選択され、溝18,19の深さについては、重
なり合っている内部電極の最下方に位置する内部電極よ
り下側に至るように選択することが好ましい。なぜなら
ば、溝18,19は、後述の工程において外部電極がそ
の内周面に形成される部分であり、かつ溝18,19内
が隣接するコンデンサ間を分離する部分を構成するため
である。
The processing of the grooves 18 and 19 can be performed using a diamond cutter, a dicing machine, or the like. 6, the widths of the grooves 18 and 19 are selected such that the internal electrodes 4 and 9 are not exposed in the grooves 18 and 19, and the depths of the grooves 18 and 19 overlap. It is preferable that the selection is made so as to reach below the lowermost internal electrode of the internal electrode. This is because the grooves 18 and 19 are portions where the external electrodes are formed on the inner peripheral surface thereof in a process described later, and the inside of the grooves 18 and 19 constitutes a portion separating adjacent capacitors.

【0026】次に、図6に示した部分の断面図である図
7から明らかなように、上記溝18,19内に例えばマ
イクロ・ディスペンサーを用いることにより、Agある
いはAg−Pdペースト20,21を充填する。
Next, as is apparent from FIG. 7 which is a cross-sectional view of the portion shown in FIG. 6, Ag or Ag-Pd pastes 20 and 21 are formed in the grooves 18 and 19 by using a micro dispenser, for example. Fill.

【0027】しかる後、上記導電ペースト20,21を
例えば850℃の温度で焼き付けることにより、導電層
を形成する。次に、上記のようにして構成された導電層
において、該導電層の最下方部分より深い溝22,23
を図8に示すように形成する。溝22,23は、最初に
形成された溝18,19よりも狭く形成すること、並び
に最初の溝18,19よりも深く形成することが必要で
ある。それによって、溝22,23の両側に図8に示す
ように外部電極24〜27が形成される。外部電極24
〜27は、前述した導電層20,21の一部が残存する
ことにより形成されており、かつ溝18,19に露出し
ていた内部電極3a,3b,10a,10bに電気的に
接続されることになる。すなわち、外部電極24を例に
とると、図6に示した内部電極3a,3a,3a並びに
図1の内部電極7,11を分割することにより形成され
た一方の内部電極に電気的に接続される。他の外部電極
25〜27についても、同様に、焼結体17内の内部電
極を厚み方向において一層おきに電気的に接続してい
る。
Thereafter, the conductive pastes 20 and 21 are baked at a temperature of, for example, 850 ° C. to form a conductive layer. Next, in the conductive layer configured as described above, the grooves 22, 23 which are deeper than the lowermost portion of the conductive layer.
Is formed as shown in FIG. The grooves 22 and 23 need to be formed narrower than the initially formed grooves 18 and 19 and must be formed deeper than the first grooves 18 and 19. Thereby, external electrodes 24 to 27 are formed on both sides of the grooves 22 and 23 as shown in FIG. External electrode 24
27 are formed by leaving a part of the conductive layers 20 and 21 described above, and are electrically connected to the internal electrodes 3a, 3b, 10a and 10b exposed in the grooves 18 and 19. Will be. That is, taking the external electrode 24 as an example, it is electrically connected to one of the internal electrodes formed by dividing the internal electrodes 3a, 3a, 3a shown in FIG. 6 and the internal electrodes 7, 11 in FIG. You. Similarly, for the other external electrodes 25 to 27, the internal electrodes in the sintered body 17 are electrically connected every other layer in the thickness direction.

【0028】上記のような外部電極24〜27が形成さ
れた焼結体を図9に斜視図で示す。次に、上記溝22,
23内に、図10に、図8に示した部分の断面図で示す
ように、マイクロ・ディスペンサーを用い、Pb−Al
−Si系ガラス等の焼結体17に比べて比誘電率の低い
材料を含むガラスペーストを充填し、誘電体層28,2
9を形成する。この誘電体層28,29は、上記のよう
なガラスペーストを充填して形成する場合には、充填後
に例えば800℃程度の温度で熱処理することにより構
成される。もっとも、誘電体層28,29を構成する材
料としては、上記ガラスペーストに限らず、焼結体17
を構成しているセラミックの比誘電率に比べて低い比誘
電率のものであれば任意の材料からなるものを用いるこ
とができ、該材料の種類に応じて適宜の処理により誘電
体層28,29を形成することができる。
FIG. 9 is a perspective view showing the sintered body on which the external electrodes 24 to 27 are formed as described above. Next, the grooves 22,
As shown in FIG. 10 in a cross-sectional view of the portion shown in FIG.
A glass paste containing a material having a lower relative dielectric constant than the sintered body 17 such as a Si-based glass;
9 is formed. When the dielectric layers 28 and 29 are formed by filling with the above-mentioned glass paste, they are formed by heat treatment at a temperature of, for example, about 800 ° C. after the filling. However, the material constituting the dielectric layers 28 and 29 is not limited to the above-mentioned glass paste, but may be the sintered body 17.
Any material can be used as long as it has a relative permittivity lower than the relative permittivity of the ceramic constituting the ceramic layer. The dielectric layer 28, 29 can be formed.

【0029】また、誘電体層28,29は、その両側に
配置されている外部電極24〜27の上面を覆わないよ
うに形成することが必要である。次に、焼結体17に前
述した溝18,19,22,23と直交する方向に図1
1に示す溝31,32を形成する。
The dielectric layers 28 and 29 need to be formed so as not to cover the upper surfaces of the external electrodes 24 to 27 arranged on both sides thereof. Next, in the direction perpendicular to the grooves 18, 19, 22, and 23 described above,
The grooves 31 and 32 shown in FIG.

【0030】図11のA−A線に沿う断面図となる図1
2から明らかなように、上記溝31,32は、溝31,
32の両側に配置されている内部電極間を溝31,32
の内壁に露出しないような幅に形成される。すなわち、
図1のセラミックグリーンシート1,2上に形成されて
いる内部電極を参照して説明すると、内部電極3,4
と、内部電極5,6とが隔てられるように、内部電極
3,4が形成されている行と、内部電極5,6が形成さ
れている行との間に上記溝31が形成され、該溝31に
内部電極3,4,5,6の側端縁が露出されないような
幅に、上記溝31が形成される。溝32についても同様
である。
FIG. 1 is a sectional view taken along line AA in FIG.
As is clear from FIG.
Between the internal electrodes arranged on both sides of the groove 32, 32
The width is formed so as not to be exposed on the inner wall. That is,
Referring to the internal electrodes formed on the ceramic green sheets 1 and 2 of FIG.
The groove 31 is formed between a row where the internal electrodes 3 and 4 are formed and a row where the internal electrodes 5 and 6 are formed so that the internal electrodes 5 and 6 are separated from each other. The groove 31 is formed in such a width that the side edges of the internal electrodes 3, 4, 5, 6 are not exposed in the groove 31. The same applies to the groove 32.

【0031】次に、各行の両側に構成されたコンデンサ
ユニットの外側端面に露出されている内部電極について
は、焼結体17の両端面17a,17bに、それぞれ、
図示の外部電極34〜39を形成することにより構成さ
れている。この外部電極34〜39の形成は、公知の外
部電極形成方法に従って行い得る。
Next, the internal electrodes exposed on the outer end faces of the capacitor units formed on both sides of each row are respectively provided on both end faces 17a and 17b of the sintered body 17, respectively.
It is configured by forming external electrodes 34 to 39 as shown. The external electrodes 34 to 39 can be formed according to a known external electrode forming method.

【0032】上記のようにして、図11に示す本実施例
の積層コンデンサアレイ33が得られる。本実施例の積
層コンデンサアレイ33では、9個のコンデンサユニッ
トが構成されている。すなわち、溝31,32で隔てら
れて3行のコンデンサユニット部分が構成されており、
各行のコンデンサユニット部分は、上述した誘電体層2
8,29で隔てられた3個のコンデンサユニットを有す
る。すなわち、本実施例では、m=3及びn=3のアト
リックス状のコンデンサアレイが構成されており、図1
1において、各コンデンサユニット、参照番号33A〜
33Iで示す。
As described above, the multilayer capacitor array 33 of this embodiment shown in FIG. 11 is obtained. In the multilayer capacitor array 33 of the present embodiment, nine capacitor units are configured. In other words, three rows of capacitor unit portions are constituted by being separated by the grooves 31, 32,
The capacitor unit portion of each row corresponds to the dielectric layer 2 described above.
It has three capacitor units separated by 8,29. That is, in this embodiment, an attrix-like capacitor array with m = 3 and n = 3 is formed, and FIG.
1, each capacitor unit, reference number 33A ~
33I.

【0033】また、上述した実施例では、図1に示した
セラミックグリーンシート1,2を用い、そのまま積層
し、上記各工程を経ることにより3行×3列のコンデン
サアレイ33を得たが、より大きなセラミックグリーン
シートを用い、m≧4及びn≧4のコンデンサアレイを
製作した後、厚み方向に切断して、図11に示した3行
×3列のコンデンサアレイを得てもよい。
In the above-described embodiment, the ceramic green sheets 1 and 2 shown in FIG. 1 are stacked as they are, and the capacitor array 33 of 3 rows × 3 columns is obtained through the above steps. A capacitor array of m ≧ 4 and n ≧ 4 may be manufactured using a larger ceramic green sheet, and then cut in the thickness direction to obtain a capacitor array of 3 rows × 3 columns shown in FIG.

【0034】次に、具体的な実験結果につき説明する。
セラミックグリーンシート1,2として、チタン酸バリ
ウム系誘電体セラミック粉末を主体としたスラリーを用
い、厚み10μmに成形されたものを用い、各内部電極
をAg−Pdペーストを塗布し、焼き付けることにより
形成し、図3に示す焼結体17として、長さ8.1mm
×幅8.1mm×厚み1.0mmの焼結体を得た。しか
る後、上記溝18,19を形成し(幅は300μm)、
外部電極を構成するための導電ペーストとしてAgペー
ストを充填し、850℃の温度で焼き付け、上記溝2
2,23を形成することにより、溝22,23に臨む外
部電極24〜27を形成した。また、溝22,23につ
いては、溝18,19(幅=300μm)よりも細い幅
の溝(幅=100μm)を形成し、さらに上記誘電体層
としてPb−Al−Si系ガラスを充填し800℃で熱
処理することにより構成して、最終的に2.5mm×
2.5mmの平面形状を有する3行・3列のコンデンサ
アレイ33を得た。
Next, specific experimental results will be described.
As the ceramic green sheets 1 and 2, using a slurry mainly composed of a barium titanate-based dielectric ceramic powder and forming a 10 μm-thick slurry, each internal electrode is formed by applying and baking an Ag-Pd paste. Then, the sintered body 17 shown in FIG.
A sintered body having a width of 8.1 mm and a thickness of 1.0 mm was obtained. Thereafter, the grooves 18 and 19 are formed (having a width of 300 μm).
An Ag paste was filled as a conductive paste for forming an external electrode, and baked at a temperature of 850 ° C.
External electrodes 24 to 27 facing grooves 22 and 23 were formed by forming 2 and 23. Also, as for the grooves 22 and 23, grooves (width = 100 μm) having a smaller width than the grooves 18 and 19 (width = 300 μm) are formed, and a Pb-Al-Si-based glass is filled as the dielectric layer. Finally, 2.5mm ×
A three-row, three-column capacitor array 33 having a planar shape of 2.5 mm was obtained.

【0035】上記コンデンサアレイ33と、比較のため
に上記溝22,23,31,32が形成されていない従
来のコンデンサアレイ40とを用意し、図13(a),
(b)に示すように、図11に示した向きと上下を逆転
して試験用回路基板41上にはんだを用いて実装した。
次に、試験用回路基板41上に実装された状態のまま、
−25℃の温度に冷却し、しかる後+125℃まで加熱
し、再度−25℃まで冷却する工程を1サイクルとし、
該冷熱サイクル1000サイクル終了した後に、各コン
デンサアレイの絶縁抵抗を測定した。 絶縁抵抗が初期
の絶縁抵抗から10%以上変化したサンプルを故障とみ
なし、実施例及び比較例の各コンデンサアレイ50個に
つき、上記の測定を行った。結果を下記の表1に示す。
なお、1個のコンデンサアレイ中、1つのコンデンサユ
ニットにおいて上記故障が存在した場合、該コンデンサ
アレイ1個が故障であるとカウントした。
The capacitor array 33 and a conventional capacitor array 40 in which the grooves 22, 23, 31, 32 are not formed are prepared for comparison.
As shown in FIG. 11B, the circuit board was mounted on the test circuit board 41 by using solder in the direction shown in FIG.
Next, while being mounted on the test circuit board 41,
Cooling to a temperature of −25 ° C., then heating to + 125 ° C., and cooling to −25 ° C. again as one cycle;
After the completion of the 1000 cooling / heating cycles, the insulation resistance of each capacitor array was measured. A sample in which the insulation resistance changed by 10% or more from the initial insulation resistance was regarded as a failure, and the above measurement was performed for each of the 50 capacitor arrays of the example and the comparative example. The results are shown in Table 1 below.
In addition, when the above-mentioned failure occurred in one capacitor unit in one capacitor array, one capacitor array was counted as a failure.

【0036】[0036]

【表1】 [Table 1]

【0037】表1から明らかなように、比較例のコンデ
ンサアレイでは、故障率が24%であるのに対して、実
施例のコンデンサアレイ33では、上記故障が全く発生
しなかった。
As is clear from Table 1, the failure rate of the capacitor array of the comparative example is 24%, whereas the failure does not occur at all in the capacitor array 33 of the embodiment.

【0038】第2の実施例 第2の実施例のコンデンサアレイは、請求項3に記載の
発明についての実施例である。
The capacitor array of the second embodiment the second embodiment is an embodiment of the invention described in claim 3.

【0039】まず、第1の実施例と同様にして、図11
に示すコンデンサアレイ33を得る。しかる後、コンデ
ンサアレイ33の溝31,32に、図14に断面図で示
すように、Pb−Al−Si系ガラス粉末を主体とする
ガラスペーストをマイクロ・ディスペンサーにより充填
し、例えば800℃の温度で熱処理することにより誘電
体層51,52を形成する。その他の構造については、
第1の実施例と全く同様であるため、前述した第1の実
施例についての説明を第2の実施例において援用するこ
ととする。
First, as in the first embodiment, FIG.
Is obtained. Thereafter, the grooves 31 and 32 of the capacitor array 33 are filled with a glass paste mainly composed of Pb-Al-Si glass powder by a micro-dispenser as shown in a sectional view of FIG. To form dielectric layers 51 and 52. For other structures,
Since it is completely the same as the first embodiment, the description of the first embodiment described above will be referred to in the second embodiment.

【0040】第2の実施例では、上記溝31,32内に
上記焼結体17よりも比誘電率の低い誘電体層が形成さ
れているため、溝31,32の両側のコンデンサユニッ
ト間の浮遊容量が効果的に小さくされる。しかも、第2
の実施例では、溝31,32も上記固体の誘電体層によ
り充填されているため、第1の実施例に比べて機械的強
度に優れたコンデンサアレイを構成することができる。
In the second embodiment, since a dielectric layer having a lower dielectric constant than that of the sintered body 17 is formed in the grooves 31 and 32, the dielectric layers between the capacitor units on both sides of the grooves 31 and 32 are formed. The stray capacitance is effectively reduced. And the second
In this embodiment, since the grooves 31 and 32 are also filled with the solid dielectric layer, it is possible to form a capacitor array having better mechanical strength than the first embodiment.

【0041】上述してきた各実施例では、隣接するコン
デンサユニット間を分離するための溝は、焼結体の上面
から下面に向かって至るように形成されていたが、下面
側から上面に向かって溝が形成されていてもよく、ある
いは上面及び下面の双方から厚み方向に沿って延びるよ
うに溝が形成されていもよい。もっとも、隣接するコ
ンデンサユニット間の浮遊容量を確実に低減するには、
重なり合っている内部電極が位置する部分の側方に溝が
位置される必要がある。従って、上面及び下面の一方側
から溝を形成することが好ましい。なお、本発明のコン
デンサアレイの製造方法は、上記実施例の工程順及び方
法に限定されるものではないことをここで指摘してお
く。
In each of the embodiments described above, the grooves for separating adjacent capacitor units are formed so as to extend from the upper surface to the lower surface of the sintered body. it may be grooves formed, or may be groove formed to extend from both the top and bottom surfaces along the thickness direction. However, to reduce stray capacitance between adjacent capacitor units,
The groove needs to be located on the side of the part where the overlapping internal electrodes are located. Therefore, it is preferable to form the groove from one of the upper surface and the lower surface. Note that the components of the present invention
The method of manufacturing the denser array is based on the process order and method of the above embodiment.
It is pointed out here that it is not limited to law
Good.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】(a)及び(b)は、それぞれ、第1の実施例
で用意したセラミックグリーンシート及びその上に形成
される内部電極の形状を示す各平面図。
FIGS. 1A and 1B are plan views respectively showing the shapes of a ceramic green sheet prepared in a first embodiment and internal electrodes formed thereon.

【図2】複数枚のセラミックグリーンシートを積層する
工程を説明するための略図的斜視図。
FIG. 2 is a schematic perspective view for explaining a step of laminating a plurality of ceramic green sheets.

【図3】焼結体を示す斜視図。FIG. 3 is a perspective view showing a sintered body.

【図4】(a)及び(b)は、それぞれ、図3のA−A
線及びB−B線に沿う略図的断面図。
FIGS. 4A and 4B are respectively AA in FIG.
FIG. 2 is a schematic cross-sectional view along the line BB.

【図5】溝が形成された焼結体を示す斜視図。FIG. 5 is a perspective view showing a sintered body in which a groove is formed.

【図6】図5のA−A線に沿う断面図。FIG. 6 is a sectional view taken along line AA of FIG. 5;

【図7】溝に導電ペーストを充填した状態を示す断面
図。
FIG. 7 is a cross-sectional view showing a state in which a conductive paste is filled in a groove.

【図8】外部電極を形成するために相対的に幅の細い溝
を形成した状態を示す断面図。
FIG. 8 is a sectional view showing a state in which a relatively narrow groove is formed for forming an external electrode.

【図9】溝の内壁に外部電極が形成された焼結体を示す
斜視図。
FIG. 9 is a perspective view showing a sintered body in which an external electrode is formed on an inner wall of a groove.

【図10】外部電極が形成されている溝内にガラスペー
ストよりなる低誘電率の誘電体層を形成した状態を示す
断面図。
FIG. 10 is a cross-sectional view showing a state where a low dielectric constant dielectric layer made of glass paste is formed in a groove in which an external electrode is formed.

【図11】第1の実施例のコンデンサアレイを示す斜視
図。
FIG. 11 is a perspective view showing a capacitor array according to the first embodiment.

【図12】図11のA−A線に沿う断面図。FIG. 12 is a sectional view taken along the line AA in FIG. 11;

【図13】(a)及び(b)は、それぞれ、第1の実施
例及び比較例のコンデンサアレイを試験用回路基板上に
実装した状態を示す各側面図。
FIGS. 13A and 13B are side views showing a state where the capacitor arrays of the first embodiment and the comparative example are mounted on a test circuit board, respectively.

【図14】第2の実施例のコンデンサアレイを説明する
ための断面図。
FIG. 14 is a sectional view illustrating a capacitor array according to a second embodiment.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

17…焼結体 31,32…溝 33…コンデンサアレイ 33A〜33I…コンデンサユニット 28,29…誘電体層 24〜27…外部電極 17 ... Sintered body 31, 32 ... groove 33 ... Capacitor array 33A to 33I: Capacitor unit 28, 29 ... dielectric layer 24 to 27: External electrodes

Claims (5)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 1個のセラミック焼結体内にセラミック
層を介して厚み方向に重なり合うように複数の内部電極
を形成することにより構成された複数のコンデンサユニ
ットが前記焼結体内にm行×n列(但しm,nは2以上
の整数)のマトリックス状に並設された積層コンデンサ
アレイにおいて、 前記各コンデンサユニットの内部電極が、各コンデンサ
ユニットの両側において焼結体の上面又は下面の少なく
とも一方から厚み方向に延びる溝又は焼結体端面に交互
に露出されており、かつ該内部電極に電気的に接続され
るように前記溝の内面及び焼結体端面に形成された外部
電極を備え、 前記外部電極が形成されている側以外のコンデンサユニ
ット間が、焼結体よりも比誘電率の低い誘電体層により
隔てられていることを特徴とする、コンデンサアレイ。
1. A plurality of capacitor units each formed by forming a plurality of internal electrodes so as to overlap in a thickness direction via a ceramic layer in one ceramic sintered body, and m rows × n are formed in the sintered body. In a multilayer capacitor array arranged in a matrix of rows (where m and n are integers of 2 or more), an internal electrode of each capacitor unit is provided on at least one of an upper surface or a lower surface of a sintered body on both sides of each capacitor unit. A groove extending in the thickness direction or an external electrode which is alternately exposed to the end face of the sintered body, and which is formed on the inner face of the groove and the end face of the sintered body so as to be electrically connected to the internal electrode, Wherein the capacitor units other than the side on which the external electrodes are formed are separated by a dielectric layer having a lower relative dielectric constant than the sintered body. Array.
【請求項2】 前記外部電極が形成されている側以外の
コンデンサユニット間において、焼結体の上面及び下面
の少なくとも一方から厚み方向に延びるように溝が形成
されており、該溝内の空気層が前記誘電体層を構成して
いる、請求項1に記載のコンデンサアレイ。
2. A groove is formed between capacitor units other than the side on which the external electrodes are formed so as to extend in a thickness direction from at least one of an upper surface and a lower surface of the sintered body, and air in the groove is formed. The capacitor array according to claim 1, wherein a layer comprises the dielectric layer.
【請求項3】 前記外部電極が形成されている側以外の
コンデンサユニット間において、焼結体の上面及び下面
の少なくとも一方から厚み方向に延びるように溝が形成
されており、該溝内に焼結体よりも比誘電率の低い固体
の誘電体材料が充填されており、該誘電体材料により前
記誘電体層が構成されている、請求項1に記載のコンデ
ンサアレイ。
3. A groove is formed between capacitor units other than the side on which the external electrodes are formed so as to extend in a thickness direction from at least one of an upper surface and a lower surface of the sintered body. 2. The capacitor array according to claim 1, wherein the capacitor array is filled with a solid dielectric material having a relative dielectric constant lower than that of the sintered body, and the dielectric material forms the dielectric layer. 3.
【請求項4】 請求項1または2に記載のコンデンサア
レイの製造方法であって、 複数のコンデンサユニットが構成された焼結体を得る工
程と、 前記各コンデンサユニットの両側において焼結体の上面
または下面の少なくとも一方から厚み方向に延びる溝
を、各コンデンサユニットの内部電極が該溝または焼結
体端面に交互に露出されるように形成する工程と、 前記溝内に導電ペーストを充填し焼き付けることにより
導電層を形成する工程と、 上記導電層よりも深く、かつ前記溝よりも細い溝を形成
し、前記溝よりも細い溝の両側に各外部電極を形成する
とともに、前記溝よりも細い溝により焼結体よりも比誘
電率の低い誘電体層が構成される工程とを備える、コン
デンサアレイの製造方法。
4. The method for manufacturing a capacitor array according to claim 1, wherein a step of obtaining a sintered body including a plurality of capacitor units is performed, and an upper surface of the sintered body on both sides of each of the capacitor units. Or forming grooves extending in at least one of the lower surfaces in the thickness direction such that the internal electrodes of each capacitor unit are alternately exposed to the grooves or the end faces of the sintered body; and filling and firing the conductive paste in the grooves. Forming a conductive layer by forming a groove deeper than the conductive layer and narrower than the groove, forming each external electrode on both sides of the groove narrower than the groove, and narrower than the groove. Forming a dielectric layer having a lower dielectric constant than the sintered body by the groove.
【請求項5】 前記溝よりも細い溝内に、焼結体よりも
比誘電率の低い固体の誘電体材料を充填する工程をさら
に備える、請求項4に記載のコンデンサアレイの製造方
法。
5. The method of manufacturing a capacitor array according to claim 4, further comprising a step of filling a solid dielectric material having a lower dielectric constant than a sintered body into a groove smaller than the groove.
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