JP3535356B2 - 光共振器を利用した走査型近接場光学顕微鏡 - Google Patents
光共振器を利用した走査型近接場光学顕微鏡Info
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- JP3535356B2 JP3535356B2 JP25341197A JP25341197A JP3535356B2 JP 3535356 B2 JP3535356 B2 JP 3535356B2 JP 25341197 A JP25341197 A JP 25341197A JP 25341197 A JP25341197 A JP 25341197A JP 3535356 B2 JP3535356 B2 JP 3535356B2
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はレンズを用いた光学
顕微鏡の分解能である回折限界を越える分解能を持ち、
導体から絶縁体まで特別な試料の前処理を必要とするこ
となく、かつ大気中でも測定可能な光共振器を利用した
走査型近接場光学顕微鏡に関する。
顕微鏡の分解能である回折限界を越える分解能を持ち、
導体から絶縁体まで特別な試料の前処理を必要とするこ
となく、かつ大気中でも測定可能な光共振器を利用した
走査型近接場光学顕微鏡に関する。
【０００２】
【従来の技術】導体、半導体、絶縁体であっても、超高
精度の表面測定が可能な手段として走査型近接場光学顕
微鏡（Scanning Near Field Optical Microscope；ＳＮ
ＯＭ）による測定法が知られている。この測定法は、光
を電場の振動と捉え、球状の微小突起をプローブとして
これに光照射し、電子の振動に変換することによって形
成されるエネルギーによりプローブまわりに急激な電界
強度の変化を与えて、いわゆる近接場を形成し、この近
接場と試料との相互作用によって試料表面の形状等の情
報を得るものである。このようなＳＮＯＭにより、光の
回折限界を越える横１０ｎｍ程度、縦２ｎｍ以下の分解
能が達成可能になっている。
精度の表面測定が可能な手段として走査型近接場光学顕
微鏡（Scanning Near Field Optical Microscope；ＳＮ
ＯＭ）による測定法が知られている。この測定法は、光
を電場の振動と捉え、球状の微小突起をプローブとして
これに光照射し、電子の振動に変換することによって形
成されるエネルギーによりプローブまわりに急激な電界
強度の変化を与えて、いわゆる近接場を形成し、この近
接場と試料との相互作用によって試料表面の形状等の情
報を得るものである。このようなＳＮＯＭにより、光の
回折限界を越える横１０ｎｍ程度、縦２ｎｍ以下の分解
能が達成可能になっている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかし、従来のＳＮＯ
Ｍにおいては、プローブの安定性および再現性が悪く、
常に高分解能で計測できるわけではなかった。従って、
再現性のあるプローブ、さらに効率がよい近接場からの
光の検出法を開発し、計測装置として完成させることが
必要である。本発明は上記課題を解決するためのもの
で、再現性良く、かつナノメータオーダまでの空間分解
能で感度よく観察できる光共振器を利用した走査型近接
場光学顕微鏡を提供することを目的とする。
Ｍにおいては、プローブの安定性および再現性が悪く、
常に高分解能で計測できるわけではなかった。従って、
再現性のあるプローブ、さらに効率がよい近接場からの
光の検出法を開発し、計測装置として完成させることが
必要である。本発明は上記課題を解決するためのもの
で、再現性良く、かつナノメータオーダまでの空間分解
能で感度よく観察できる光共振器を利用した走査型近接
場光学顕微鏡を提供することを目的とする。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明は、光導波路また
は光ファイバーを用いた進行波型光リング共振器の光導
波路または光ファイバーの側面に、あるいは三枚以上の
ミラーを用いた進行波型光リング共振器の試料に対向す
るミラー面に、それぞれ光の波長より小さい微小突起を
配設し、該微小突起をプローブとして試料に対向させ、
プローブを試料に近づけたときに光リング共振器内に生
じる後方散乱を一定にするか、光リング共振器の共振周
波数または共振曲線の形状を一定にするようにプローブ
−試料間距離をフィードバック制御することを特徴とす
る。また、本発明は、試料またはプローブの三次元走査
のための送り機構を有する走査型近接場光学顕微鏡にお
いて、透光性基体に付着した光共振する微小球にプロー
ブとして光の波長より小さい微小突起を試料に対向して
配設し、微小突起の反対側で前記基体に全反射状態で光
を入射し、微小球内に進行波型光共振を生じさせ、プロ
ーブと試料の相互作用の結果生じる散乱光を基体上方に
おいて検出し、その値を一定にするか、微小球の共振周
波数または共振曲線の形状を一定にするようにプローブ
−試料間距離をフィードバック制御することを特徴とす
る。
は光ファイバーを用いた進行波型光リング共振器の光導
波路または光ファイバーの側面に、あるいは三枚以上の
ミラーを用いた進行波型光リング共振器の試料に対向す
るミラー面に、それぞれ光の波長より小さい微小突起を
配設し、該微小突起をプローブとして試料に対向させ、
プローブを試料に近づけたときに光リング共振器内に生
じる後方散乱を一定にするか、光リング共振器の共振周
波数または共振曲線の形状を一定にするようにプローブ
−試料間距離をフィードバック制御することを特徴とす
る。また、本発明は、試料またはプローブの三次元走査
のための送り機構を有する走査型近接場光学顕微鏡にお
いて、透光性基体に付着した光共振する微小球にプロー
ブとして光の波長より小さい微小突起を試料に対向して
配設し、微小突起の反対側で前記基体に全反射状態で光
を入射し、微小球内に進行波型光共振を生じさせ、プロ
ーブと試料の相互作用の結果生じる散乱光を基体上方に
おいて検出し、その値を一定にするか、微小球の共振周
波数または共振曲線の形状を一定にするようにプローブ
−試料間距離をフィードバック制御することを特徴とす
る。
【０００５】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て説明する。図１は本発明の実施の形態の一例を示す図
である。レーザ光源１から出射したレーザ光は光源側へ
の戻り光を防止するアイソレータ２、レンズ４を通して
光ファイバー５に入射する。光ファイバー５はカプラー
６で光リング共振器７と結合しており、カプラー６を通
して光リング共振器７に入射したレーザー光は共振によ
る吸収を受ける。光リング共振器７からカプラー６を通
して光ファイバー５へ出射した光は光検出器８で検出さ
れ、電気信号に変換されて信号処理回路９に加えられ
る。
て説明する。図１は本発明の実施の形態の一例を示す図
である。レーザ光源１から出射したレーザ光は光源側へ
の戻り光を防止するアイソレータ２、レンズ４を通して
光ファイバー５に入射する。光ファイバー５はカプラー
６で光リング共振器７と結合しており、カプラー６を通
して光リング共振器７に入射したレーザー光は共振によ
る吸収を受ける。光リング共振器７からカプラー６を通
して光ファイバー５へ出射した光は光検出器８で検出さ
れ、電気信号に変換されて信号処理回路９に加えられ
る。
【０００６】光リング共振器７からの出射光強度の周波
数特性いわゆる共振曲線は図２に示すように、飛び飛び
の周波数で吸収（共振）があり、共振点間の間隔νFSR
が自由スペクトル域と呼ばれ、半値全幅Δνに対するν
FSR の比（＝νFSR ／Δν）がフィネスと呼ばれる。
数特性いわゆる共振曲線は図２に示すように、飛び飛び
の周波数で吸収（共振）があり、共振点間の間隔νFSR
が自由スペクトル域と呼ばれ、半値全幅Δνに対するν
FSR の比（＝νFSR ／Δν）がフィネスと呼ばれる。
【０００７】光検出器８で検出された信号は、信号処理
回路９から光周波数制御回路１０に加えられて、光リン
グ共振器７の共振周波数になるように光周波数制御回路
１０で周波数が制御される。
回路９から光周波数制御回路１０に加えられて、光リン
グ共振器７の共振周波数になるように光周波数制御回路
１０で周波数が制御される。
【０００８】光リング共振器７には試料１７に対向する
位置に光の波長より小さい微小突起１１が設けられ、光
リング共振器内を進行する光のエバネッセント波が微小
突起プローブ１１の電子に作用してプローブ周辺に近接
場を形成する。そのため、試料１７が微小突起１１に接
近すると、プローブ周辺の近接場と相互作用を生じて光
リング共振器内には逆方向に進行する光（後方散乱）を
生じ、この散乱光をカプラー１２を通してファイバー１
３側に入射させ、これを光検出器１４で検出する。光検
出器１４で検出した信号はフィードバック回路１５に加
えられ、基準信号と比較されてその差信号により試料１
７のＸ，Ｙ，Ｚステージ１６が駆動制御される。このフ
ィードバック制御により、後方散乱光強度が一定になる
ように微小突起プローブ１１と試料との距離を制御する
と、試料の変位により試料表面の形状等の情報が得られ
る。ＣＰＵ１８はＸ，Ｙ，Ｚステージ制御用の制御装置
である。
位置に光の波長より小さい微小突起１１が設けられ、光
リング共振器内を進行する光のエバネッセント波が微小
突起プローブ１１の電子に作用してプローブ周辺に近接
場を形成する。そのため、試料１７が微小突起１１に接
近すると、プローブ周辺の近接場と相互作用を生じて光
リング共振器内には逆方向に進行する光（後方散乱）を
生じ、この散乱光をカプラー１２を通してファイバー１
３側に入射させ、これを光検出器１４で検出する。光検
出器１４で検出した信号はフィードバック回路１５に加
えられ、基準信号と比較されてその差信号により試料１
７のＸ，Ｙ，Ｚステージ１６が駆動制御される。このフ
ィードバック制御により、後方散乱光強度が一定になる
ように微小突起プローブ１１と試料との距離を制御する
と、試料の変位により試料表面の形状等の情報が得られ
る。ＣＰＵ１８はＸ，Ｙ，Ｚステージ制御用の制御装置
である。
【０００９】なお、光リング共振器としては、フィネス
値数１０以上のものを使用するのが望ましく、また、光
ファイバーとしては偏波面保存ファイバーを用いるのが
望ましい。また、上記説明では光検出器１４で検出され
る後方散乱光の強度を一定にするようにフィードバック
制御したが、図３に示すように、光リング共振器の共振
周波数または共振曲線の形状が一定になるように制御し
てもよい。すなわち、微小突起プローブ１１と試料１７
との距離を変えると光リング共振器の共振周波数および
共振曲線の形状が変化し、光検出器８で検出される信号
において共振周波数（共振点）がシフトし、また共振曲
線の形状が変わる。そこで、この共振周波数または共振
曲線の形状（たとえば、曲線の傾き）が一定となるよう
に微小突起プローブ１１と試料との距離を制御するよう
にしても試料表面の形状等の情報が得られる。
値数１０以上のものを使用するのが望ましく、また、光
ファイバーとしては偏波面保存ファイバーを用いるのが
望ましい。また、上記説明では光検出器１４で検出され
る後方散乱光の強度を一定にするようにフィードバック
制御したが、図３に示すように、光リング共振器の共振
周波数または共振曲線の形状が一定になるように制御し
てもよい。すなわち、微小突起プローブ１１と試料１７
との距離を変えると光リング共振器の共振周波数および
共振曲線の形状が変化し、光検出器８で検出される信号
において共振周波数（共振点）がシフトし、また共振曲
線の形状が変わる。そこで、この共振周波数または共振
曲線の形状（たとえば、曲線の傾き）が一定となるよう
に微小突起プローブ１１と試料との距離を制御するよう
にしても試料表面の形状等の情報が得られる。
【００１０】また、微小突起プローブ１１は図４に示す
ように、コア７ａの周囲にクラッド７ｂを形成した光フ
ァイバー７の側面に取り付けるタイプ以外に、図５に示
すように、基体２０の周囲に光導波路２１を形成し、こ
の光導波路の側面にプローブ１１を形成するようにして
もよい。
ように、コア７ａの周囲にクラッド７ｂを形成した光フ
ァイバー７の側面に取り付けるタイプ以外に、図５に示
すように、基体２０の周囲に光導波路２１を形成し、こ
の光導波路の側面にプローブ１１を形成するようにして
もよい。
【００１１】また、光リング共振器は光ファイバーや光
導波路以外に、図６に示すように３枚のミラーと１枚の
ビームスプリッタとをリング状に配置し、レーザー光源
１よりビームスプリッタを通してレーザー光を入射さ
せ、ビームスプリッタと３枚のミラーで反射させる進行
波型光リング共振器とし、１つのミラーを、透明体に入
射した光が底面で全反射するように構成し、このミラー
の試料に対向する面に球状微小突起１１を形成するよう
にしてもよい。この場合も、光リング共振器内を進行す
る光が、透明基体の全反射条件を満たし、基体下面に形
成されるエバネッセント波が微小突起プローブ１１の電
子に作用してプローブ周辺に近接場を形成し、試料を微
小突起１１に接近すると、プローブ周辺の近接場と相互
作用を生じて光リング共振器内には逆方向に進行する光
（後方散乱）を生じ、この散乱光をビームスプリッタを
通して光検出器３０で検出するようにしてもよい。この
場合も、後方散乱光の強度を一定となるように微小突起
プローブ１１と試料との距離を制御するか、または、検
出器で検出される共振点を監視し、光リング共振器の共
振周波数または共振曲線の形状が一定となるように微小
突起プローブ１１と試料との距離を制御するようにして
もよい。なお、光リング共振器は４枚のミラーで構成す
るものに限らず、３枚以上のミラーで構成すればどのよ
うなものでもよい。また、レーザ光源を光リング共振器
を構成するミラー間に配置し、レーザー発振の共振器を
兼ねることも可能である。
導波路以外に、図６に示すように３枚のミラーと１枚の
ビームスプリッタとをリング状に配置し、レーザー光源
１よりビームスプリッタを通してレーザー光を入射さ
せ、ビームスプリッタと３枚のミラーで反射させる進行
波型光リング共振器とし、１つのミラーを、透明体に入
射した光が底面で全反射するように構成し、このミラー
の試料に対向する面に球状微小突起１１を形成するよう
にしてもよい。この場合も、光リング共振器内を進行す
る光が、透明基体の全反射条件を満たし、基体下面に形
成されるエバネッセント波が微小突起プローブ１１の電
子に作用してプローブ周辺に近接場を形成し、試料を微
小突起１１に接近すると、プローブ周辺の近接場と相互
作用を生じて光リング共振器内には逆方向に進行する光
（後方散乱）を生じ、この散乱光をビームスプリッタを
通して光検出器３０で検出するようにしてもよい。この
場合も、後方散乱光の強度を一定となるように微小突起
プローブ１１と試料との距離を制御するか、または、検
出器で検出される共振点を監視し、光リング共振器の共
振周波数または共振曲線の形状が一定となるように微小
突起プローブ１１と試料との距離を制御するようにして
もよい。なお、光リング共振器は４枚のミラーで構成す
るものに限らず、３枚以上のミラーで構成すればどのよ
うなものでもよい。また、レーザ光源を光リング共振器
を構成するミラー間に配置し、レーザー発振の共振器を
兼ねることも可能である。
【００１２】図７は本発明の他の例のを示す図である。
この例においては、透明基体４０に微小球４１を付着さ
せて光共振器として使用する。微小球４１は球状凹面を
有する光学物体であり、レーザー光を入射させると球状
凹面で反射を繰り返して共振する。そこで、この微小球
４１の試料１７と対向する面に球状微小突起１１を形成
してプローブとし、透明基体４０に全反射状態でレーザ
ービーム４２を入射させると、エバネッセント波が微小
球４１に入射して共振し、微小突起１１の電子に作用し
てプローブ周辺に近接場を形成する。そこで、Ｘ，Ｙ，
Ｚステージ１６を駆動制御して試料１７を微小突起１１
に接近すると、プローブ周辺の近接場と相互作用を生じ
てプローブから散乱光を生じるのでこれを基体上方にお
いて検出することにより試料表面の形状等の情報が得ら
れる。また、微小球の共振周波数を検出することからも
試料表面の形状等の情報が得られる。
この例においては、透明基体４０に微小球４１を付着さ
せて光共振器として使用する。微小球４１は球状凹面を
有する光学物体であり、レーザー光を入射させると球状
凹面で反射を繰り返して共振する。そこで、この微小球
４１の試料１７と対向する面に球状微小突起１１を形成
してプローブとし、透明基体４０に全反射状態でレーザ
ービーム４２を入射させると、エバネッセント波が微小
球４１に入射して共振し、微小突起１１の電子に作用し
てプローブ周辺に近接場を形成する。そこで、Ｘ，Ｙ，
Ｚステージ１６を駆動制御して試料１７を微小突起１１
に接近すると、プローブ周辺の近接場と相互作用を生じ
てプローブから散乱光を生じるのでこれを基体上方にお
いて検出することにより試料表面の形状等の情報が得ら
れる。また、微小球の共振周波数を検出することからも
試料表面の形状等の情報が得られる。
【００１３】図８は図７で示した検出法を用いた装置例
を示す図である。微小突起１１が形成され、光共振する
微小球４１を付着させた透明基体４０に対向させて光学
顕微鏡５０を設置する。光学顕微鏡５０はレンズ５１、
５２によりスリット５３を通してフォトマルチプライヤ
５４で光学像を検出する。前述したように、透明基体４
０に対してレーザービーム４２を全反射状態で入射させ
ると微小球４１内で光共振が生じ、微小突起１１の電子
に作用してプローブ周辺に近接場を形成する。この状態
で試料を微小突起１１に接近すると、プローブ周辺の近
接場と相互作用を生じてプローブから散乱光が生じるの
で、これを光学顕微鏡５０で検出する。また、微小球の
共振周波数を検出するようにしてもよい。
を示す図である。微小突起１１が形成され、光共振する
微小球４１を付着させた透明基体４０に対向させて光学
顕微鏡５０を設置する。光学顕微鏡５０はレンズ５１、
５２によりスリット５３を通してフォトマルチプライヤ
５４で光学像を検出する。前述したように、透明基体４
０に対してレーザービーム４２を全反射状態で入射させ
ると微小球４１内で光共振が生じ、微小突起１１の電子
に作用してプローブ周辺に近接場を形成する。この状態
で試料を微小突起１１に接近すると、プローブ周辺の近
接場と相互作用を生じてプローブから散乱光が生じるの
で、これを光学顕微鏡５０で検出する。また、微小球の
共振周波数を検出するようにしてもよい。
【００１４】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、光の共振
特性を利用しているので、再現性よく、かつ効率のよい
光の検出が可能であり、また、反射型であるため透明体
を用いなくても観察可能であり、光学顕微鏡と一体化す
ればナノメータオーダまでの空間分解能で観察可能であ
る。さらに生態試料の観察、ナノメータオーダの局所分
光分析、ナノメータオーダの局所高電子分光、高密度光
メモリ、超微粒子、さらには原子のマニュピレーション
等への適用も考えられる。
特性を利用しているので、再現性よく、かつ効率のよい
光の検出が可能であり、また、反射型であるため透明体
を用いなくても観察可能であり、光学顕微鏡と一体化す
ればナノメータオーダまでの空間分解能で観察可能であ
る。さらに生態試料の観察、ナノメータオーダの局所分
光分析、ナノメータオーダの局所高電子分光、高密度光
メモリ、超微粒子、さらには原子のマニュピレーション
等への適用も考えられる。
【図１】 本発明の実施の形態の一例を示す図である。
【図２】 出射光強度の共振特性を示す図である。
【図３】 本発明の実施の形態の他の例を示す図であ
る。
る。
【図４】 光ファイバーを利用した検出器の例を示す図
である。
である。
【図５】 光導波路を利用した検出器の例を示す図であ
る。
る。
【図６】 ミラーを用いた光リング共振器の説明図であ
る。
る。
【図７】 微小球を光共振器とした例を示す図である。
【図８】 図７の検出法を用いた装置例を示す図であ
る。
る。
１…レーザ光源、２…アイソレータ、４…レンズ、５…
光ファイバー、６…光ファイバーカプラー、７…光リン
グ共振器、８…検出器、９…信号処理回路、１０…周波
数制御回路、１１…微小突起、１２…光ファイバーカプ
ラ、１３…光ファイバー、１４…光検出器、１５…フィ
ードバック回路１５、１６…Ｘ，Ｙ，Ｚステージ、１７
…試料、１８…ＣＰＵ。
光ファイバー、６…光ファイバーカプラー、７…光リン
グ共振器、８…検出器、９…信号処理回路、１０…周波
数制御回路、１１…微小突起、１２…光ファイバーカプ
ラ、１３…光ファイバー、１４…光検出器、１５…フィ
ードバック回路１５、１６…Ｘ，Ｙ，Ｚステージ、１７
…試料、１８…ＣＰＵ。
フロントページの続き
(56)参考文献 特開 平６−125124（ＪＰ，Ａ)
特開 平５−299758（ＪＰ，Ａ)
特開 平５−91048（ＪＰ，Ａ)
特開 平６−281414（ＪＰ，Ａ)
特開 平11−6838（ＪＰ，Ａ)
特開 平５−203879（ＪＰ，Ａ)
特開 平５−27180（ＪＰ，Ａ)
特開 平５−181065（ＪＰ，Ａ)
特開 平３−278014（ＪＰ，Ａ)
特開 平２−135323（ＪＰ，Ａ)
特開 平６−102457（ＪＰ，Ａ)
特公 平７−18806（ＪＰ，Ｂ２)
特公 平７−11629（ＪＰ，Ｂ２)
特表 平９−500964（ＪＰ，Ａ)
特表 平11−510613（ＪＰ，Ａ)
片岡俊彦、遠藤勝義、押鐘寧、井上晴
行、重信安志、平井隆之，“微小共振球
をプローブとした近接場光学顕微鏡の開
発−微小共振球プローブの開発−”，精
密工学会大会学術講演会講演論文集，日
本，社団法人精密工学会，1997年 ９月
18日，1997年度秋季、Ｆ63，ｐ．269
片岡俊彦，“微小突起型近接場光学顕
微鏡システム”，超解像の近接場光学顕
微鏡法の理論的基礎と局所計測・極微物
質操作技術の確立，日本，1996年 ３月
11日，ｐ．25−27
片岡俊彦，“走査型近接場光学顕微
鏡”，生産と技術，日本，社団法人生産
技術振興協会，1996年 ４月25日，第48
巻、第２号，ｐ．38−41
片岡俊彦、遠藤勝義、高田和政，“走
査型近接場光学顕微鏡の開発”，レーザ
ー研シンポジウム共同研究成果報告書,
日本，大阪大学レーザー核融合研究セン
ター，1993年11月，’93、８．３，ｐ.
119−120
片岡俊彦，“特集 ナノ・フォトニク
スの夜明け−近接場工学が与える各分野
へのインパクト−光学顕微技術への応
用”，ＯＰＴＲＯＮＩＣＳ，日本，1994
年12月10日，第156号，ｐ．98−103
片岡俊彦、遠藤勝義、井上晴行、稲垣
耕司、森勇蔵、広瀬喜久治、高田和政,
“球状微小突起をプローブとした走査型
近接場光学顕微鏡の開発”，精密工学会
誌，日本，社団法人精密工学会，1994年
８月 ５日，第60巻、第８号，ｐ.
1122−1126
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
G01N 13/10 - 13/24
G12B 21/00 - 21/24
ＪＩＣＳＴファイル（ＪＯＩＳ)
Claims (3)
- 【請求項１】 試料又はプローブの三次元走査のための
送り機構を有する走査型近接場光学顕微鏡において、光
導波路または光ファイバーを用いた進行波型光リング共
振器の光導波路または光ファイバーの側面に光の波長よ
り小さい微小突起を配設し、該微小突起をプローブとし
て試料に対向させ、プローブを試料に近づけたときに光
リング共振器内に生じる後方散乱を一定にするか、光リ
ング共振器の共振周波数または共振曲線の形状を一定に
するようにプローブ−試料間距離をフィードバック制御
することを特徴とする光共振器を利用した走査型近接場
光学顕微鏡。 - 【請求項２】 試料またはプローブの三次元走査のため
の送り機構を有する走査型近接場光学顕微鏡において、
三枚以上のミラーを用いた進行波型光リング共振器の試
料に対向するミラー面に光の波長より小さい微小突起を
配設し、該微小突起をプローブとして試料に対向させ、
プローブを試料に近づけたときに光リング共振器内に生
じる後方散乱を一定にするか、光リング共振器の共振周
波数または共振曲線の形状を一定にするようにプローブ
−試料間距離をフィードバック制御することを特徴とす
る光共振器を利用した走査型近接場光学顕微鏡。 - 【請求項３】 試料またはプローブの三次元走査のため
の送り機構を有する走査型近接場光学顕微鏡において、
透光性基体に付着した光共振する微小球にプローブとし
て光の波長より小さい微小突起を試料に対向して配設
し、微小突起の反対側で前記基体に全反射状態で光を入
射し、プローブと試料の相互作用の結果生じる散乱光を
基体上方において検出し、その値を一定にするか、微小
球の共振周波数または共振曲線の形状を一定にするよう
にプローブ−試料間距離をフィードバック制御すること
を特徴とする光共振器を利用した走査型近接場光学顕微
鏡。
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|---|---|---|---|
| JP25341197A JP3535356B2 (ja) | 1997-09-18 | 1997-09-18 | 光共振器を利用した走査型近接場光学顕微鏡 |
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| JP25341197A JP3535356B2 (ja) | 1997-09-18 | 1997-09-18 | 光共振器を利用した走査型近接場光学顕微鏡 |
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Also Published As
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