JP3530994B2 - Focus detection device - Google Patents

Focus detection device

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JP3530994B2
JP3530994B2 JP14037497A JP14037497A JP3530994B2 JP 3530994 B2 JP3530994 B2 JP 3530994B2 JP 14037497 A JP14037497 A JP 14037497A JP 14037497 A JP14037497 A JP 14037497A JP 3530994 B2 JP3530994 B2 JP 3530994B2
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output
monitor
line sensor
section
island
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範彦 赤松
正隆 浜田
和彦 湯川
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ミノルタ株式会社
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Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、一対のラインセン
サを複数用いて位相差検出方式により焦点検出を行う焦
点検出装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a focus detection device for performing focus detection by a phase difference detection method using a plurality of line sensors.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、焦点検出装置において、位相差検
出方式、すなわち、レンズ上で光軸を挟んで両側に取っ
た2つの領域を通過した被写体光により、予定焦点面上
に別々に被写体像を形成させた場合、上記レンズ上の2
つの領域の被写体に対する視差により、夫々の像がずれ
るので、このずれ量を検出してレンズの焦点ずれ量を算
出する方式により焦点検出を行うものがある。このよう
な焦点検出装置においては、基準部と参照部を構成する
2つのラインセンサ対を水平方向と垂直方向に配置して
各々のラインセンサ対が中心部で直交するようにした十
字型ラインセンサが知られている。この十字型ラインセ
ンサは、イメージセンサの一種であり、画素用フォトダ
イオード(PDと記す)の光電流積分時間を決定するの
に基準部と参照部のPDに沿って配置したモニタ用フォ
トダイオード(MPDと記す)の出力値を用いている。
2. Description of the Related Art Conventionally, in a focus detection apparatus, a phase difference detection method, that is, a subject light which has passed through two regions on both sides of the optical axis on the lens, is used to separately capture the subject image on the planned focal plane. When the lens is formed, 2 on the lens
Since the respective images are displaced due to the parallax with respect to the subject in one area, there is a method in which focus detection is performed by a method of detecting the displacement amount and calculating the focal displacement amount of the lens. In such a focus detection device, two line sensor pairs forming a standard portion and a reference portion are arranged in a horizontal direction and a vertical direction so that each line sensor pair is orthogonal to each other in a central portion. It has been known. This cross-shaped line sensor is a kind of image sensor, and is a monitor photodiode (which is arranged along the PDs of the reference part and the reference part) to determine the photocurrent integration time of the pixel photodiode (referred to as PD). The output value of MPD) is used.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】ところが、十字型ライ
ンセンサでは、水平方向と垂直方向の2つのラインセン
サ対のうち、どちらか一方のラインセンサ対のMPDラ
イン(基準部と参照部のMPDどうしを結ぶライン)
が、他方のラインセンサ対のMPDラインやPDライン
(各部のPDどうしを結ぶライン)によって分断されて
しまう。この分断されたMPDラインを接続するには、
交差部分のMPDラインを多層構造にするか、ラインセ
ンサの周りを迂回させてMPDラインを接続する必要が
あるが、いずれの接続方法も、十字型ラインセンサの構
成を複雑にし、また、十字型ラインセンサの小型化を阻
む要因になっていた。なお、十字型ラインセンサの基準
部のみにMPDを設けたものがあるが(例えば、特開昭
62−212611号公報参照)、基準部と参照部との
受光量差が大きいと、正確なモニタ測光が困難となる。
However, in the cross type line sensor, of the two line sensor pairs in the horizontal direction and the vertical direction, the MPD line of either one of the line sensor pairs (the MPD of the standard portion and the MPD of the reference portion is different from each other). Line connecting)
However, it is divided by the MPD line and the PD line of the other line sensor pair (the line connecting the PDs of the respective parts). To connect this divided MPD line,
It is necessary to make the MPD line at the intersecting portion into a multi-layered structure or to make a detour around the line sensor to connect the MPD line, but any connection method complicates the configuration of the cross-shaped line sensor and It was a factor that hindered the miniaturization of the line sensor. Although there is a cross-shaped line sensor in which an MPD is provided only in the reference portion (see, for example, Japanese Patent Laid-Open No. 62-212611), if the difference in the amount of light received between the reference portion and the reference portion is large, an accurate monitor is performed. Photometry becomes difficult.

【0004】本発明は、上述した問題点を解決するため
になされたものであり、センサの構成を複雑にすること
なく、モニタ測光を正確に行うことが可能で、かつ、セ
ンサの小型化を図ることの可能な焦点検出装置を提供す
ることを目的とする。
The present invention has been made in order to solve the above-mentioned problems, and it is possible to accurately perform monitor photometry without complicating the structure of the sensor and to reduce the size of the sensor. It is an object of the present invention to provide a focus detection device that can be designed.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に請求項1記載の発明は、光電流積分時間の決定に使用
するモニタ部を有する複数のラインセンサ対を備え、前
記ラインセンサ対を使用して位相差検出方式により焦点
検出を行う焦点検出装置において、前記複数のラインセ
ンサ対は、基準部と参照部のいずれか一方のみにモニタ
部を有する第1のラインセンサ対と、基準部と参照部の
両方にモニタ部を有する第2のラインセンサ対より構成
され、前記第1のラインセンサ対のモニタ部は、前記第
2のラインセンサ対の基準部及び参照部に設けられた各
モニタ部と同じ大きさであり、前記第1のラインセンサ
対のモニタ部に設けられた出力アンプの増幅率を、前記
第2のラインセンサ対のモニタ部に設けられた出力アン
プの増幅率の略2倍にしたものである。
In order to achieve the above object, the invention according to claim 1 is provided with a plurality of line sensor pairs having a monitor section used for determining the photocurrent integration time. In a focus detection device for performing focus detection by a phase difference detection method, the plurality of line sensor pairs include a first line sensor pair having a monitor unit in only one of a standard unit and a reference unit, and a standard unit. And a reference unit, each of which includes a second line sensor pair having a monitor unit, and the monitor unit of the first line sensor pair has the first line sensor pair.
Each of the two line sensor pairs provided in the standard part and the reference part.
The amplification factor of the output amplifier provided in the monitor unit of the first line sensor pair is the same as that of the monitor unit, and the amplification factor of the output amplifier provided in the monitor unit of the second line sensor pair is It is almost doubled.

【0006】[0006]

【0007】[0007]

【0008】[0008]

【0009】[0009]

【0010】上記構成においては、基準部と参照部の一
方のみにモニタ部を有する第1のラインセンサ対に蓄積
される電荷量は、基準部と参照部の両方にモニタ部を有
する第2のラインセンサ対の電荷量の半分になるが、第
1のラインセンサ対のモニタ部出力アンプの増幅率が第
2のラインセンサ対のモニタ部出力アンプの増幅率の略
2倍であるので、第1のラインセンサ対のモニタ部出力
の大きさが、第2のラインセンサ対のモニタ部出力と略
同じ大きさになる。
In the above structure, the amount of charge accumulated in the first line sensor pair having the monitor section in only one of the standard section and the reference section is the second charge having the monitor sections in both the standard section and the reference section. Although it becomes half of the charge amount of the line sensor pair, the amplification factor of the monitor unit output amplifier of the first line sensor pair is approximately twice the amplification factor of the monitor unit output amplifier of the second line sensor pair. The magnitude of the monitor unit output of the first line sensor pair is substantially the same as the magnitude of the monitor unit output of the second line sensor pair.

【0011】また、請求項2記載の発明は、光電流積分
時間の決定に使用するモニタ部を有する複数のラインセ
ンサ対を備え、前記ラインセンサ対を使用して位相差検
出方式により焦点検出を行う焦点検出装置において、前
記複数のラインセンサ対は、基準部と参照部のいずれか
一方のみにモニタ部を有する第1のラインセンサ対と、
基準部と参照部の両方にモニタ部を有する第2のライン
センサ対より構成され、前記第1のラインセンサ対のモ
ニタ部は、前記第2のラインセンサ対の基準部及び参照
部に設けられた各モニタ部と同じ大きさであり、前記第
1のラインセンサ対のモニタ部の電荷電圧変換部のコン
デンサ容量を、前記第2のラインセンサ対のモニタ部の
電荷電圧変換部のコンデンサ容量の略2分の1にしたも
のである。
The invention according to claim 2 is provided with a plurality of line sensor pairs having a monitor section used for determining the photocurrent integration time, and the focus detection is performed by a phase difference detection method using the line sensor pairs. In the focus detection device to perform, the plurality of line sensor pairs includes a first line sensor pair having a monitor unit in only one of a standard unit and a reference unit,
It is composed of a second line sensor pair having a monitor part in both the standard part and the reference part, and is a module of the first line sensor pair.
The niter part is a reference part and a reference of the second line sensor pair.
The same as each monitor unit provided in the first line sensor pair, and the capacitor capacity of the charge-voltage converter of the monitor unit of the first line sensor pair is converted to the charge-voltage converter of the monitor unit of the second line sensor pair. The capacitance of the capacitor is approximately one half.

【0012】上記構成においては、基準部と参照部の一
方のみにモニタ部を有する第1のラインセンサ対に蓄積
される電荷量は、基準部と参照部の両方にモニタ部を有
する第2のラインセンサ対の電荷量の半分になるが、第
1のラインセンサ対のモニタ部電荷電圧変換部のコンデ
ンサ容量が、第2のラインセンサ対のモニタ部電荷電圧
変換部のコンデンサ容量の略2分の1であるので、 V(電圧)=Q(電荷量)/C(コンデンサ容量) の関係式より、第1のラインセンサ対のモニタ部出力の
大きさが、第2のラインセンサ対のモニタ部出力と略同
じ大きさになる。
In the above structure, the charge amount accumulated in the first line sensor pair having the monitor section in only one of the standard section and the reference section is the second charge having the monitor sections in both the standard section and the reference section. Although the charge amount of the line sensor pair is half, the capacitor capacity of the monitor charge-voltage converter of the first line sensor pair is approximately two minutes of the capacitor capacity of the monitor charge-voltage converter of the second line sensor pair. Therefore, from the relational expression of V (voltage) = Q (charge amount) / C (capacitor capacity), the magnitude of the monitor unit output of the first line sensor pair is equal to that of the second line sensor pair. It is almost the same size as the partial output.

【0013】[0013]

【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施形態による
焦点検出装置について図面を参照して説明する。図1
は、本実施形態による焦点検出装置を構成する光学系の
斜視図である。焦点検出装置1の光学系は、カメラの撮
影レンズ2、中心部の十字型開口と左右側部の縦長開口
を持つ視野マスク3、コンデンサレンズ4、視野マスク
3に対応した形状の絞りマスク5、セパレータレンズ6
及び、視野マスク3の開口と同様な形状のラインセンサ
が配置されたイメージセンサ10より構成される。被写
体からの反射光束は撮影レンズ2を通過した後、視野マ
スク3上に結像する。この視野マスク3の開口上に形成
された像のみが、コンデンサレンズ4、絞りマスク5及
びセパレータレンズ6によってイメージセンサ10のラ
インセンサ上に再結像する。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION A focus detection device according to an embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. Figure 1
FIG. 3 is a perspective view of an optical system that constitutes the focus detection device according to the present embodiment. The optical system of the focus detection device 1 includes a photographing lens 2 of a camera, a field mask 3 having a cross-shaped opening in the center and vertically long openings on the left and right sides, a condenser lens 4, and a diaphragm mask 5 having a shape corresponding to the field mask 3. Separator lens 6
Also, the image sensor 10 includes a line sensor having the same shape as the opening of the visual field mask 3. The light flux reflected from the subject passes through the taking lens 2 and then forms an image on the visual field mask 3. Only the image formed on the opening of the field mask 3 is re-imaged on the line sensor of the image sensor 10 by the condenser lens 4, the diaphragm mask 5 and the separator lens 6.

【0014】図2は、焦点検出装置1の制御系のブロッ
ク図である。この焦点検出装置1は、位相差検出方式に
より焦点検出を行う。焦点検出装置1には、イメージセ
ンサ10の制御、焦点検出に関わる演算及びレンズ駆動
制御等を行うマイコン20が設けられている。このマイ
コン20には、CCDよりなるイメージセンサ10、レ
ンズの種類に応じたレンズ繰出量等のレンズに関するデ
ータを出力するレンズデータ出力部30、焦点の検出状
態等を表示する表示回路40、レンズをモータ50によ
り駆動させるレンズ駆動部60及び、モータ50の回転
量をモニタするエンコーダ70が接続されている。マイ
コン20は、測距動作の開始信号を検知すると、センサ
制御部27からCCD動作制御部13へモード選択信号
1(MD1)、モード選択信号2(MD2)、モード選
択信号3(MD3)、クリアゲート制御信号(IC
G)、シフトゲート制御信号(SHM)の各信号を出力
することにより、イメージセンサ10を駆動して光電流
積分を行う。この際に、積分時間制御部11は、イメー
ジセンサ10上の各アイランド(この場合は、ラインセ
ンサ対のことをいう)のPDに沿って設けられたMPD
の出力電圧等に基づいて積分時間の制御を行う。積分が
終了すると、マイコン20は、アナログ信号処理部12
を介してイメージセンサ10の各ラインセンサ対から出
力された像情報を順次A/D変換部21へ取り込み、こ
の像情報をデジタルデータへ変換してRAM22へ出力
する。
FIG. 2 is a block diagram of a control system of the focus detection device 1. The focus detection device 1 performs focus detection by a phase difference detection method. The focus detection apparatus 1 is provided with a microcomputer 20 that controls the image sensor 10, performs calculations related to focus detection, lens drive control, and the like. The microcomputer 20 includes an image sensor 10 including a CCD, a lens data output unit 30 for outputting lens-related data such as a lens extension amount according to the type of lens, a display circuit 40 for displaying a focus detection state, and a lens. A lens driving unit 60 that is driven by the motor 50 and an encoder 70 that monitors the amount of rotation of the motor 50 are connected. When the microcomputer 20 detects the start signal of the distance measurement operation, the sensor control unit 27 transfers the mode selection signal 1 (MD1), the mode selection signal 2 (MD2), the mode selection signal 3 (MD3), to the CCD operation control unit 13. Gate control signal (IC
G), each signal of the shift gate control signal (SHM) is output to drive the image sensor 10 to perform photocurrent integration. At this time, the integration time control unit 11 sets the MPD provided along the PD of each island (in this case, the line sensor pair) on the image sensor 10.
The integration time is controlled based on the output voltage and the like. When the integration is completed, the microcomputer 20 determines that the analog signal processing unit 12
The image information output from each line sensor pair of the image sensor 10 is sequentially taken into the A / D converter 21 via the, and the image information is converted into digital data and output to the RAM 22.

【0015】次に、マイコン20は、RAM22に記憶
された像情報を焦点検出部23へ出力し、この像情報に
基づいてデフォーカス量(ピントズレ量)の算出を行っ
た後、補正演算部24によってこのデフォーカス量の補
正演算を行い、その結果に基づいて表示回路40に合焦
状態等の表示を行う。マイコン20のレンズ駆動制御部
25は、レンズデータ出力部30から出力されたレンズ
データに基づき、デフォーカス量をレンズ繰出量に換算
し、このレンズ繰出量に応じてレンズ駆動部60を介し
てモータ50を駆動する。この際、レンズ駆動制御部2
5は、エンコーダ70からの出力値に基づいてモータ5
0の駆動量を確認しながらレンズ駆動を行う。なお、セ
ンサ制御部27は、アナログ信号処理部12からA/D
変換部21へ像情報を出力する際に、タイマー回路26
を利用してCCDクロック発生部14へクロックパルス
(CP)信号を送ることにより、アナログ信号処理部1
2へデータ出力のタイミングをとるための同期信号を送
る。この際に、CCD動作制御部13は、A/D変換部
21へデータ受け取りのタイミングをとるための同期信
号を送る。
Next, the microcomputer 20 outputs the image information stored in the RAM 22 to the focus detection section 23, calculates the defocus amount (focus shift amount) based on this image information, and then the correction calculation section 24. Then, the defocus amount is corrected and calculated, and based on the result, the display circuit 40 displays the in-focus state and the like. The lens drive control unit 25 of the microcomputer 20 converts the defocus amount into a lens extension amount based on the lens data output from the lens data output unit 30, and a motor via the lens drive unit 60 according to the lens extension amount. Drive 50. At this time, the lens drive controller 2
5 is a motor 5 based on the output value from the encoder 70.
The lens is driven while checking the drive amount of 0. In addition, the sensor control unit 27 operates from the analog signal processing unit 12 to the A / D
When outputting the image information to the conversion unit 21, the timer circuit 26
By sending a clock pulse (CP) signal to the CCD clock generator 14 using
A sync signal for timing data output is sent to 2. At this time, the CCD operation control unit 13 sends to the A / D conversion unit 21 a synchronization signal for timing data reception.

【0016】図3は、イメージセンサ10におけるアイ
ランドの配置図である。第1アイランド乃至第3アイラ
ンドの各々は、モニタ用フォトダイオード(MPD)8
1a,81b、画素用フォトダイオードアレイ(PDア
レイ)82a,82b、電荷蓄積部(ST)83a,8
3b及びシフトレジスタ(SR)84からなる。この第
1アイランド乃至第3アイランドにおいては、SR84
が基準部と参照部で分離しておらず、また、基準部と参
照部にはぞれぞれMPD81a,81bが設けられてお
り、これらのMPD81a,81bはMPDラインによ
って接続され、各アイランドのモニタ部を形成してい
る。他方、第4アイランドについては、基準部と参照部
のSR94a,94bが、第2アイランドのSR84と
MPDラインによって分断されており、また、モニタ部
のMPD91aが基準部にしか設けられていない。
FIG. 3 is a layout view of islands in the image sensor 10. Each of the first to third islands has a monitor photodiode (MPD) 8
1a, 81b, pixel photodiode arrays (PD arrays) 82a, 82b, charge storage portions (ST) 83a, 8
3b and shift register (SR) 84. In the first to third islands, SR84
Are not separated by the standard portion and the reference portion, and MPDs 81a and 81b are provided respectively in the standard portion and the reference portion. These MPDs 81a and 81b are connected by MPD lines, and It forms the monitor section. On the other hand, regarding the fourth island, the SR 94a and 94b of the reference portion and the reference portion are separated by the SR 84 of the second island and the MPD line, and the MPD 91a of the monitor portion is provided only in the reference portion.

【0017】モニタ部のMPD91aが基準部にしかな
い理由は、第4アイランドについても、基準部と参照部
の両方にMPDを持ち、MPDラインによって接続する
構成とした場合には、交差部分のMPDラインを多層構
造にするか、アイランドの周りを迂回させてMPDライ
ンを接続する必要があるが、いずれの方法を採るにして
も構造が複雑化してしまい、イメージセンサ10を小型
化する上での制約になってしまうからである。その代わ
りに、第4アイランドの基準部のMPD91aについて
は、面積(幅)を他のMPD81a,81bの2倍の面
積とし、電荷の溜まる量を他のMPD81a,81bの
2倍にする。位相差検出方式による焦点検出では、同じ
領域の被写体像を二つに分けて基準部と参照部で受光す
るという原理上、基準部と参照部で受光する光量が略等
しくなる。このため、第4アイランドのモニタ部の電荷
蓄積量は、基準部のみにMPD91aを設け、電荷の溜
まる量を他のMPD81a,81bの2倍とすることに
よって、基準部と参照部の両方にMPDを持つ構成とし
た場合のモニタ部の電荷蓄積量の合計値と略同じとす
る。これにより、第4アイランドのモニタ部91aの出
力電圧は、第4アイランドのモニタ部が他のアイランド
と同様に参照部にもモニタ部を設けた場合の出力電圧と
略同じになり、同モニタ部91aは他のアイランドのモ
ニタ部と略同じ感度となる。
The reason why the MPD 91a of the monitor section is only the reference section is that the MPD lines at the intersections are also arranged when the fourth island has MPDs in both the reference section and the reference section and is connected by MPD lines. It is necessary to have a multi-layered structure or connect the MPD lines by detouring around the island. However, whichever method is adopted, the structure becomes complicated, and there are restrictions on downsizing the image sensor 10. Because it becomes. Instead, the MPD 91a of the reference portion of the fourth island has an area (width) twice as large as that of the other MPDs 81a, 81b, and the amount of accumulated charges is twice as large as that of the other MPDs 81a, 81b. In focus detection by the phase difference detection method, the light amount received by the reference portion and the reference portion are substantially equal on the principle that the subject image in the same region is divided into two and received by the reference portion and the reference portion. For this reason, the charge accumulation amount of the monitor portion of the fourth island is provided with the MPD 91a only in the reference portion, and the amount of accumulated charge is set to be twice that of the other MPDs 81a and 81b. The total value of the charge accumulation amount of the monitor section in the case of the above configuration is approximately the same. As a result, the output voltage of the monitor unit 91a of the fourth island becomes substantially the same as the output voltage when the monitor unit of the fourth island has a monitor unit in the reference unit as in the case of other islands. 91a has substantially the same sensitivity as the monitor units of other islands.

【0018】図3に示されるセンサ制御手段13Aは、
図2に示されるセンサ制御部27とCCD動作制御部1
3の一部であり、各アイランドにSH,SH2,IC
G,BG,CPの信号を送ることによって、イメージセ
ンサ10全体を制御する。また、選択手段13Bは、C
CD動作制御部13の一部であり、センサ制御手段13
Aからの指示に従って、マイコン20へどのアイランド
からのアナログデータを送るかを選択する。
The sensor control means 13A shown in FIG.
The sensor control unit 27 and the CCD operation control unit 1 shown in FIG.
SH, SH2, IC on each island
The entire image sensor 10 is controlled by sending G, BG, and CP signals. Further, the selection means 13B is C
The sensor control means 13 is a part of the CD operation control unit 13.
According to the instruction from A, it is selected from which island analog data is to be sent to the microcomputer 20.

【0019】上記構成でなる十字型ラインセンサによれ
ば、垂直方向の第4アイランドが基準部のみにMPD9
1aを持つ構成になるので、交差部分のMPDラインを
多層構造にしたり、アイランドの周りを迂回させてMP
Dラインを接続する必要がなくなる。また、正確なモニ
タ測光が必要とされる水平方向の第2アイランドは基準
部と参照部の両方にMPD81a,81bを持つため、
これを使用して正確なモニタ測光を行うことが可能とな
る。このため、イメージセンサ10の構成を複雑にする
ことなく、水平方向と垂直方向のモニタ測光を正確に行
うことが可能になり、また、イメージセンサ10の小型
化を図ることが可能になる。
According to the cross type line sensor having the above-mentioned structure, the MPD 9 is formed only on the reference portion of the fourth island in the vertical direction.
Since it has a structure with 1a, MPD lines at the intersections have a multi-layer structure or MPs are detoured around the island.
There is no need to connect the D line. In addition, since the horizontal second island, which requires accurate monitor photometry, has MPDs 81a and 81b in both the standard portion and the reference portion,
Using this, it becomes possible to perform accurate monitor photometry. For this reason, it is possible to accurately perform monitor photometry in the horizontal direction and the vertical direction without complicating the configuration of the image sensor 10, and it is possible to reduce the size of the image sensor 10.

【0020】図4は、第1アイランド乃至第3アイラン
ドの内の1つのアイランドのセンサ構成図である。基準
部にはMPD81a、PDアレイ82a、積分コントロ
ールゲート85、SR84が、参照部にはMPD81
b、PDアレイ82b、積分コントロールゲート85、
SR84がそれぞれ並列に配置されている。基準部と参
照部に設けられたMPD81a,81bは、MPDライ
ンによって相互に接続されており、また、SR84につ
いても、参照部と基準部で一体となっている。さらに、
積分コントロールゲート85の各ゲートも、基準部と参
照部の間を結ぶ各ラインによって接続されている。PD
アレイは、フォトダイオードとその出力光電流を積分す
るコンデンサとが一画素分の要素となり、このような要
素がアレー状に並んだものである。基準部と参照部のぞ
れぞれのPDアレイ82a,82bは、その先頭部に、
出力の暗時出力補償に用いられる暗時電荷を発生するア
ルミニウムによる遮光画素(OPD:黒ドット部)82
c,82dが設けられている。
FIG. 4 is a sensor configuration diagram of one of the first to third islands. The MPD 81a, the PD array 82a, the integration control gate 85, and the SR 84 are provided in the standard portion, and the MPD 81 is provided in the reference portion.
b, PD array 82b, integration control gate 85,
SR84 is arranged in parallel. The MPDs 81a and 81b provided in the standard part and the reference part are connected to each other by an MPD line, and the SR 84 is also integrated in the reference part and the standard part. further,
The respective gates of the integration control gate 85 are also connected by the respective lines connecting the standard portion and the reference portion. PD
In the array, a photodiode and a capacitor for integrating the output photocurrent are elements for one pixel, and such elements are arranged in an array. The PD arrays 82a and 82b for the standard portion and the reference portion respectively have
Light-shielding pixel (OPD: black dot portion) 82 made of aluminum for generating dark charges used for dark output compensation
c and 82d are provided.

【0021】また、基準部と参照部に設けられたMPD
81a,81bは、電荷電圧変換部81c、バッファ8
1dと共にモニタ部81を形成する。MPD81a,8
1bに蓄積された電荷は、電荷電圧変換部81cによっ
て電圧に変換された後、バッファ81dに蓄えられ、A
GCOS端子から出力される。このAGCOS端子から
の出力は、積分時間制御部11(図2参照)へ出力され
て、PDアレイ82a,82bの積分レベルを適正に制
御するために使われる。
The MPD provided in the standard part and the reference part
81a and 81b are the charge-voltage converter 81c and the buffer 8
The monitor unit 81 is formed together with 1d. MPD81a, 8
The charge accumulated in 1b is converted into a voltage by the charge-voltage converter 81c, and then accumulated in the buffer 81d.
It is output from the GCOS terminal. The output from the AGCOS terminal is output to the integration time control unit 11 (see FIG. 2) and used to properly control the integration level of the PD arrays 82a and 82b.

【0022】また、積分コントロールゲート85は、バ
リアゲート85a、ST83a,83b、クリアゲート
85b及びシフトゲート85cから構成されている。S
R84は、SR84から出力された電荷を電圧に変換し
て光電変換出力を得る電荷電圧変換部86に接続されて
いる。また、電荷電圧変換部86の光電変換出力から電
源電圧の変動分を除去するための電圧変換部88が設け
られ、この電圧変換部88は、アルミ遮光されたドリフ
ト信号補償用フォトダイオード(MD)を有し、このM
Dの出力により得られた暗時出力である基準電圧を、バ
ッファ89を介して、DOS端子から出力する。
The integration control gate 85 is composed of a barrier gate 85a, ST83a and ST83b, a clear gate 85b and a shift gate 85c. S
R84 is connected to a charge-voltage conversion unit 86 that converts the charge output from SR84 into a voltage and obtains a photoelectric conversion output. Further, a voltage conversion unit 88 for removing the fluctuation of the power supply voltage from the photoelectric conversion output of the charge-voltage conversion unit 86 is provided, and the voltage conversion unit 88 is provided with an aluminum light-shielded drift signal compensation photodiode (MD). And has this M
The reference voltage, which is the dark output obtained by the output of D, is output from the DOS terminal via the buffer 89.

【0023】次に、図4及び図2を参照して、第1アイ
ランド乃至第3アイランドの光電流積分処理について説
明する。図4に示されるICG端子からのクリアゲート
85bへの積分クリアパルスの印加により、積分回路の
初期化が行われた後、光電流積分が開始される。そし
て、PDアレイ82a,82bで光電変換された電荷
は、バリアゲート85aを介してST83a,83bに
蓄積される。また、積分開始とともにAGCOS端子か
らの出力は増えていき、その出力が所定レベルに達する
と、積分時間制御部11は、PDアレイ82a,82b
の積分を終了する。積分が終了すると、センサ制御部2
7からの読出開始のSHM信号に対応して、SH端子か
らシフトゲート85cへのシフトパルスの印加によっ
て、ST83a,83bに蓄積された電荷がSR84へ
並列に転送される。このSR84の電荷は、電荷電圧変
換部86で電圧変換された後、光電変換出力として、バ
ッファ87を介してOS端子からアナログ信号処理部1
2へ出力される。この出力は、CCDクロック発生部1
4から発生するクロックパルスに合わせて行われる。
Next, the photocurrent integration process for the first to third islands will be described with reference to FIGS. By applying an integration clear pulse from the ICG terminal to the clear gate 85b shown in FIG. 4, the integration circuit is initialized and then the photocurrent integration is started. Then, the charges photoelectrically converted by the PD arrays 82a and 82b are accumulated in the STs 83a and 83b via the barrier gate 85a. Further, the output from the AGCOS terminal increases with the start of integration, and when the output reaches a predetermined level, the integration time control unit 11 causes the PD arrays 82a and 82b.
Ends the integration of. When the integration is completed, the sensor control unit 2
In response to the SHM signal for starting reading from 7, the shift pulse is applied from the SH terminal to the shift gate 85c, and the charges accumulated in ST83a and ST83b are transferred in parallel to SR84. The charges of the SR 84 are voltage-converted by the charge-voltage converter 86, and then are converted from the OS terminal via the buffer 87 as a photoelectric conversion output from the analog signal processing unit 1.
2 is output. This output is the CCD clock generator 1
It is performed in accordance with the clock pulse generated from No. 4.

【0024】図5は、第4アイランドのセンサ構成図で
ある。第4アイランドのセンサではMPD91aが基準
部のみに配置され、また、SR94a,94bが基準部
と参照部で分離している。さらに、積分コントロールゲ
ート95a,95bの各ゲートも、基準部と参照部でラ
インが分離している。第4アイランドのセンサがこのよ
うな構成になっている理由は、第2アイランドの基準部
と参照部を結ぶ各ライン及びSR84によって、第4ア
イランドの基準部と参照部が分離されているからであ
る。第4アイランドの基準部のMPD91aについて
は、面積(幅)を他のアイランドのMPD81a,81
bの2倍の面積とし、電荷の溜まる量を他のMPD81
a,81bの2倍にすることによって、基準部と参照部
の両方にMPDを持つ他のアイランドのモニタ部と略同
じ感度にしている。
FIG. 5 is a sensor configuration diagram of the fourth island. In the sensor on the fourth island, the MPD 91a is arranged only in the reference portion, and the SRs 94a and 94b are separated in the reference portion and the reference portion. Further, in each of the integration control gates 95a and 95b, the lines are separated in the standard part and the reference part. The reason why the sensor of the fourth island has such a configuration is that the standard portion and the reference portion of the fourth island are separated by each line connecting the standard portion and the reference portion of the second island and SR84. is there. Regarding the MPD 91a of the reference portion of the fourth island, the area (width) of the MPDs 81a, 81
The area that is twice as large as that of b
By doubling a and 81b, the sensitivity is almost the same as that of the monitor part of another island having MPD in both the standard part and the reference part.

【0025】第4アイランドの基準部のST93aに蓄
積された電荷は、他のアイランドの基準部及び参照部の
ST83a,83bに蓄積された電荷と同様に、センサ
制御部27からの読出開始のSHM信号に対応するシフ
トゲート95eへのシフトパルスの印加によって、ST
93aからSR94aへ並列に転送され、電荷電圧変換
部96で電圧変換された後、光電変換出力として、バッ
ファ97を介してOS4端子からアナログ信号処理部1
2へ出力される。これに対して、第4アイランドの参照
部のST93bに蓄積された電荷は、基準部の電荷の読
み出しの終了信号に同期したSH2端子からシフトゲー
ト95fへのシフトパルスの印加によって、ST93b
からSR94bへ並列に転送され、基準部の出力に続い
て、電荷電圧変換部96で電圧変換された後に、バッフ
ァ97を介してOS4端子からアナログ信号処理部12
へ出力される。
The electric charge accumulated in ST93a of the reference portion of the fourth island is the same as the electric charge accumulated in ST83a and 83b of the reference portion and reference portion of the other islands. By applying a shift pulse to the shift gate 95e corresponding to the signal, ST
After being transferred from 93a to SR94a in parallel and converted into a voltage by the charge-voltage converter 96, the photoelectric conversion output is output from the OS4 terminal via the buffer 97 to the analog signal processor 1.
2 is output. On the other hand, the charge accumulated in ST93b of the reference portion of the fourth island is ST93b by the application of the shift pulse from the SH2 terminal to the shift gate 95f in synchronization with the end signal of the reading of the charge of the reference portion.
From the analog signal processing unit 12 via the buffer 97 via the buffer 97 after being transferred in parallel to the SR 94b from the reference unit and converted into a voltage by the charge-voltage converting unit 96 following the output of the reference unit.
Is output to.

【0026】図4、図5に示される第1乃至第4アイラ
ンドからの光電変換出力は、アナログ信号処理部12に
よって受け取られた後、アナログ信号処理部12の内部
で暗時出力補償が施される。この暗時出力補償は、暗時
出力を基準電圧にしたクランプ(出力電圧の波形の上端
又は下端を暗出力電圧に一致させること)を通して行わ
れる。この暗時出力を基準電圧にしたクランプは、第1
乃至第3アイランドからの出力については、基準部で検
出した遮光画素OPD82cの出力値を基準電圧にして
各アイランド全体のクランプが行われるが、第4アイラ
ンドからの出力については、基準部と参照部の各々で検
出した遮光画素OPD92c,92dの出力値を基準電
圧にして基準部と参照部で別個にクランプが行われる。
これは、上述したように、第4アイランドは、基準部と
参照部が回路的に分離してしているため、センサ製造上
の違い等から基準部と参照部の暗出力ノイズが異なり、
基準部と参照部の暗出力レベルが異なる場合が発生する
ため、基準部で検出した遮光画素の出力値に基づいて参
照部を含むアイランド全体のクランプを行うと、正確な
暗時出力補償を行うことができないことがあるからであ
る。
The photoelectric conversion outputs from the first to fourth islands shown in FIGS. 4 and 5 are received by the analog signal processing section 12 and then subjected to dark output compensation inside the analog signal processing section 12. It This dark-time output compensation is performed through a clamp using the dark-time output as a reference voltage (matching the upper or lower end of the waveform of the output voltage with the dark output voltage). The clamp with this dark output as the reference voltage is
With respect to the output from the third island, the whole island is clamped by using the output value of the light-shielded pixel OPD82c detected by the reference unit as a reference voltage. However, regarding the output from the fourth island, the reference unit and the reference unit are used. The output values of the light-shielded pixels OPDs 92c and 92d detected in each of the above are set as reference voltages, and the standard portion and the reference portion are separately clamped.
This is because, as described above, in the fourth island, the standard part and the reference part are circuit-separated, so the dark output noises of the standard part and the reference part are different due to differences in sensor manufacturing, etc.
Since the dark output levels of the standard part and the reference part may differ, if the entire island including the reference part is clamped based on the output value of the light-shielded pixel detected by the standard part, accurate dark-time output compensation is performed. This is because there are things that cannot be done.

【0027】図6は、積分開始から4つのアイランドの
光電変換出力の読み出し動作を行うまでのイメージセン
サ10とマイコン20の間の制御信号のタイミングチャ
ートである。センサ制御部27は、各アイランド読出開
始のためのSHM信号を出力した後、遮光画素の出力を
しているときにICG信号をHiにすることで、基準電
圧を遮光画素の暗時出力にしてクランプする動作を行
う。このクランプ動作は、第1乃至第3アイランドにつ
いては、各アイランドの基準部の有効画素の出力前に、
基準部の遮光画素OPD82cの出力を基準電圧として
行い、第4アイランドについては、基準部の有効画素の
出力前のみならず、参照部の有効画素の出力前にも、参
照部の遮光画素OPD92dの出力を基準電圧として行
う。
FIG. 6 is a timing chart of control signals between the image sensor 10 and the microcomputer 20 from the start of integration to the reading operation of photoelectric conversion outputs of the four islands. After outputting the SHM signal for starting reading of each island, the sensor control unit 27 sets the reference voltage to the dark output of the light-shielded pixel by setting the ICG signal to Hi while outputting the light-shielded pixel. Performs clamping operation. This clamping operation is performed for the first to third islands before the output of the effective pixel of the reference part of each island.
The light-shielded pixel OPD82c of the reference portion is output as a reference voltage, and the fourth island of the light-shielded pixel OPD92d of the reference portion is output not only before the output of the effective pixel of the reference portion but also before the output of the effective pixel of the reference portion. The output is used as the reference voltage.

【0028】以下に、積分開始から4つのアイランドの
光電変換出力の読み出し動作を行うまでのイメージセン
サ10とマイコン20の間の制御信号の流れと、イメー
ジセンサ10とマイコン20の動作について説明する。
マイコン20のセンサ制御部27は、図6に示されるよ
うに、積分開始のICG信号のHiの間にSHM信号の
立ち上げと立ち下げを2回繰り返すことによって、CC
D動作制御部13から各アイランドのSH,SH2端子
にクリアパルスを印加し、積分回路の初期化を行う。ま
た、このSHMの立ち上げと立ち下げのタイミングで、
MD2信号、MD3信号のHiとLoの組み合わせによ
って、積分モードを設定する。この積分モードには、P
Dアレイのみによって電荷を蓄積するモードと、PDア
レイとST(蓄積部)で電荷を蓄積するモードがある。
イメージセンサ10のCCD動作制御部13は、積分中
においては、マイコン20のA/D変換部21へ通知す
るADT信号をHiにすることによってマイコン20へ
積分中であることを知らせ、モニタ部81又は91から
の出力電圧が所定の値になったか、積分時間が所定の時
間になった場合には、ADT信号をLoにすることによ
って、マイコン20へ積分が終了したことを通知する。
The flow of control signals between the image sensor 10 and the microcomputer 20 from the start of integration to the reading operation of the photoelectric conversion outputs of the four islands and the operation of the image sensor 10 and the microcomputer 20 will be described below.
As shown in FIG. 6, the sensor control unit 27 of the microcomputer 20 repeats the rise and fall of the SHM signal twice during the Hi of the ICG signal at the start of the integration, thereby the CC
A clear pulse is applied from the D operation control unit 13 to the SH and SH2 terminals of each island to initialize the integrating circuit. Also, at the timing of starting and stopping this SHM,
The integration mode is set by a combination of Hi and Lo of the MD2 signal and the MD3 signal. In this integration mode, P
There are a mode in which charges are stored only by the D array and a mode in which charges are stored by the PD array and ST (storage section).
During integration, the CCD operation control unit 13 of the image sensor 10 notifies the microcomputer 20 that integration is in progress by setting the ADT signal notified to the A / D conversion unit 21 of the microcomputer 20 to Hi, and the monitor unit 81 Alternatively, when the output voltage from 91 reaches a predetermined value or when the integration time reaches a predetermined time, the ADT signal is set to Lo to notify the microcomputer 20 that the integration is completed.

【0029】次に、マイコン20は、MD2信号、MD
3信号の出力に同期して各アイランドの積分終了順番等
のデジタルデータをCCD動作制御部13からのADT
信号により読み取る。ADT信号から読み取るデジタル
データの種類については、MD2信号、MD3信号のH
iとLoの組み合わせによって行う。
Next, the microcomputer 20 sends the MD2 signal, MD
In synchronization with the output of the three signals, digital data such as the integration end order of each island is transferred from the CCD operation control unit 13 to the ADT.
Read by signal. For the types of digital data read from the ADT signal, refer to H of MD2 signal and MD3 signal.
It is performed by a combination of i and Lo.

【0030】マイコン20は、MD1信号をHiにする
ことで、積分モードからデータダンプモードに切り換わ
る。そして、マイコン20は、SHM信号の立ち上げ、
立ち下げを行うことによって、各アイランドの出力の読
み出しを開始し、このSHM信号が立ち上がっていると
きのMD2信号、MD3信号のHiとLoの組み合わせ
によって、読み出しアイランドを指定する。本実施形態
の場合は、Lo,Loで第1アイランド、Lo,Hiで
第2アイランド、Hi,Loで第3アイランド、Hi,
Hiで第4アイランドを読み出すようになっている。各
アイランドの出力の読み出し開始後、イメージセンサ1
0からマイコン20へ送られるADT信号で同期をとり
ながら、イメージセンサ10のアナログ信号処理部12
からマイコン20のA/D変換部21へのアナログデー
タ(各アイランドからの光電変換出力)がVout出力
端子を介して出力される。この際、各アイランドの有効
画素出力の前に各遮光画素(OPD)からのデータが出
力されるが、この時、ICG信号の立ち上げ、立ち下げ
を行うことにより、アナログ信号処理部12の内部回路
で各遮光画素(OPD)からの出力(暗時出力)を基準
電圧にしてクランプする動作を行う。このクランプ動作
は、第1乃至第3アイランドについては、各アイランド
の基準部有効画素の出力前に、基準部の遮光画素OPD
82cの出力を基準電圧にして行うが、第4アイランド
については、基準部有効画素の出力前に、基準部の遮光
画素OPD92cの出力を基準電圧にして行い、さら
に、参照部有効画素の出力前にも、参照部の遮光画素O
PD92dの出力を基準電圧にして行う。
The microcomputer 20 switches from the integration mode to the data dump mode by setting the MD1 signal to Hi. Then, the microcomputer 20 raises the SHM signal,
When the SHM signal rises, the reading of the output of each island is started by the fall, and the read island is designated by the combination of Hi and Lo of the MD2 signal and the MD3 signal when the SHM signal is rising. In the case of this embodiment, Lo and Lo are the first islands, Lo and Hi are the second islands, and Hi and Lo are the third islands, Hi and Lo,
The fourth island is read with Hi. After starting to read the output of each island, image sensor 1
The analog signal processing unit 12 of the image sensor 10 is synchronized with the ADT signal sent from 0 to the microcomputer 20.
Analog data (photoelectric conversion output from each island) to the A / D converter 21 of the microcomputer 20 is output from the Vout output terminal. At this time, the data from each light-shielding pixel (OPD) is output before the output of the effective pixel of each island. At this time, the ICG signal is raised and lowered so that the inside of the analog signal processing unit 12 is The circuit performs an operation of clamping with the output (dark output) from each light-shielded pixel (OPD) as a reference voltage. This clamping operation is performed for the first to third islands before the output of the reference effective pixel of each island, and the light-shielded pixel OPD of the reference
The output of 82c is used as the reference voltage, but for the fourth island, before the output of the reference effective pixel, the output of the light-shielded pixel OPD92c of the reference is performed as the reference voltage, and before the output of the reference effective pixel. Also, the light-shielded pixel O of the reference portion
The output of the PD 92d is used as a reference voltage.

【0031】このクランプ動作後、各アイランドの有効
画素データの出力が行われる。図6においては、データ
ダンプモード中のADT信号の一回の立ち上がりと立ち
下がりの間に、PDアレイの一画素分の出力がVout
出力端子から出力される。各アイランドは、先頭の3画
素が遮光画素OPDであり、有効画素は4番目から始ま
っているので、例えば、第1アイランドの場合は、CC
D動作制御部13が図6に示される4番のADT信号を
送る時から、有効画素の出力が開始される。各アイラン
ドの基準部有効画素と参照部有効画素の間のいくつかの
ADT信号の立ち上げ、立ち下げによって、空送り画素
の出力が行われる。また、有効画素出力時にMD2信号
をHiにしているが、これは実際のVout出力端子か
らのアナログ出力信号を画素出力と他の情報とで切り換
えており、MD2信号によってマイコン20からイメー
ジセンサ10へ有効画素の出力を指示する必要があるた
めである。他の情報としては、温度出力やモニタ部8
1、91からの出力電圧があり、これらの情報について
は、有効画素出力時以外のタイミングで取り出すことが
できる。
After this clamping operation, the effective pixel data of each island is output. In FIG. 6, the output of one pixel of the PD array is Vout during one rise and fall of the ADT signal in the data dump mode.
It is output from the output terminal. In each island, the top three pixels are light-shielding pixels OPD, and the effective pixels start from the fourth pixel. Therefore, for example, in the case of the first island, CC
The output of effective pixels is started from the time when the D operation control unit 13 sends the No. 4 ADT signal shown in FIG. The idle feed pixels are output by the rise and fall of some ADT signals between the effective pixels of the reference part and the effective pixels of the reference part of each island. Further, the MD2 signal is set to Hi at the time of outputting the effective pixel, but this changes the analog output signal from the actual Vout output terminal between the pixel output and other information, and the microcomputer 20 transfers the image signal to the image sensor 10 by the MD2 signal. This is because it is necessary to instruct output of effective pixels. Other information includes temperature output and monitor unit 8.
There are output voltages from 1 and 91, and these pieces of information can be taken out at timings other than the time of outputting effective pixels.

【0032】図7、図8は、アナログ信号処理部12の
回路図である。各アイランドの光電変換出力に暗時出力
補償等の処理を行った後に、マイコン20のA/D変換
部21へアナログデータとして出力するアナログ信号処
理部12の詳細を図7及び図8を参照して説明する。先
ず、図7において、各アイランドの光電変換出力OS
1,OS2,OS3,OS4が、それぞれ端子101,
102,103,201を通してバッファ回路200に
蓄えられ、シーケンシャルにONするアナログスイッチ
SW1,SW2,SW3,SW4によって択一的に差動
増幅器75の正入力端子へ与えられる。
FIG. 7 and FIG. 8 are circuit diagrams of the analog signal processing section 12. 7 and 8 for the details of the analog signal processing unit 12 which outputs the analog output to the A / D conversion unit 21 of the microcomputer 20 after performing processing such as dark output compensation on the photoelectric conversion output of each island. Explain. First, in FIG. 7, the photoelectric conversion output OS of each island
1, OS2, OS3, OS4 are respectively connected to terminals 101,
It is stored in the buffer circuit 200 through 102, 103 and 201, and is selectively applied to the positive input terminal of the differential amplifier 75 by the analog switches SW1, SW2, SW3 and SW4 which are sequentially turned on.

【0033】ここで、バッファ回路200は端子10
1,102,103,201と接地点との間に接続され
たコンデンサC17,C18,C19,C20と、電源
電圧が与えられる端子104,105,106,202
との間にぞれぞれ接続されたスイッチングトランジスタ
107,108,109,203と、バッファ110,
111,112,204とから構成されている。バッフ
ァバッファ110,111,112,204の出力側に
接続されたアナログスイッチSW1,SW2,SW3,
SW4及び、前記スイッチングトランジスタ107,1
08,109,203は、特にこれに限る必要はない
が、MOSトランジスタで形成されている。
Here, the buffer circuit 200 is connected to the terminal 10
1, 102, 103, 201 and capacitors C17, C18, C19, C20 connected between the ground point and terminals 104, 105, 106, 202 to which a power supply voltage is applied.
The switching transistors 107, 108, 109 and 203, respectively, and the buffer 110,
It is composed of 111, 112, and 204. Buffers Analog switches SW1, SW2, SW3 connected to the output side of buffers 110, 111, 112, 204
SW4 and the switching transistors 107 and 1
Although not particularly limited to 08, 109 and 203, they are formed of MOS transistors.

【0034】前記アナログスイッチSW1,SW2,S
W3,SW4からシーケンシャルに繰り返し出力されて
差動増幅器75に与えられた光電変換出力OS1,OS
2,OS3,OS4は、この差動増幅器75で電源電圧
Vccの変動分が除去される。差動増幅器75は、主と
してこの電源電圧の変動分を除去するためのドリフト信
号補償を行うために設けられている。差動増幅器75で
は、正の入力端子に与えられる光電変換出力と、負の入
力端子に与えられるDOS端子からのドリフト信号補償
用基準電圧DOSとの差が取られることになり、これに
よって光電変換出力から電源電圧の変動分を除去するこ
とができる。
The analog switches SW1, SW2, S
Photoelectric conversion outputs OS1 and OS that are sequentially output from W3 and SW4 and given to the differential amplifier 75.
The differential amplifier 75 removes the fluctuation of the power supply voltage Vcc from the signals 2, OS3 and OS4. The differential amplifier 75 is provided mainly for drift signal compensation for removing the fluctuation of the power supply voltage. In the differential amplifier 75, the difference between the photoelectric conversion output given to the positive input terminal and the drift signal compensating reference voltage DOS from the DOS terminal given to the negative input terminal is taken. The fluctuation of the power supply voltage can be removed from the output.

【0035】このように差動増幅器75で電源電圧Vc
cの変動分が除去された光電変換出力は、次段の差動増
幅器76によって遮光画素OPDの出力を基準電圧にし
たクランプ(暗時出力補償)が施される。この暗時出力
補償は、遮光画素OPD82c(図4参照)又はOPD
92c(図5参照)の出力をφOB端子からの入力信号
でタイミングをとってトランジスタQ18によりサンプ
リングした暗時出力電圧をコンデンサC15にホールド
し、このホールドした暗時出力電圧を差動増幅器76の
正入力端子に加え、かつ、差動増幅器75から出力され
た光電変換出力を負入力端子側に加えることによって実
現されている。上述のように、この暗時出力補償は、第
1乃至第3アイランドについては、各アイランドの基準
部有効画素の出力前に、基準部の遮光画素OPD82c
の出力を基準電圧にして行われるが、第4アイランドに
ついては、基準部有効画素の出力前に、基準部の遮光画
素OPD92cの出力を基準電圧にして行い、さらに、
参照部有効画素の出力前にも、参照部の遮光画素OPD
92dの出力を基準電圧にして行われる。
In this way, the differential amplifier 75 supplies the power supply voltage Vc.
The photoelectric conversion output from which the fluctuation of c is removed is clamped (dark output compensation) by the differential amplifier 76 in the next stage using the output of the light-shielded pixel OPD as a reference voltage. This dark output compensation is performed by the light-shielded pixel OPD82c (see FIG. 4) or OPD.
The output of 92c (see FIG. 5) is sampled by the transistor Q18 at the timing of the input signal from the φOB terminal, the dark output voltage is held in the capacitor C15, and the held dark output voltage of the differential amplifier 76 is held. It is realized by adding the photoelectric conversion output output from the differential amplifier 75 to the negative input terminal side in addition to the input terminal. As described above, in the dark-time output compensation, for the first to third islands, the light-shielding pixel OPD82c of the reference portion is output before the output of the reference-portion effective pixel of each island.
For the fourth island, the output of the light-shielding pixel OPD92c of the reference section is used as the reference voltage before the output of the reference section effective pixel.
Even before the output of the effective pixels of the reference portion, the light-shielded pixel OPD of the reference portion
The output of 92d is used as a reference voltage.

【0036】このようにして、暗時出力補償がなされた
光電変換出力は端子116から図8に示される端子11
6へ与えられ、サンプルホールド回路117でサンプル
ホールドされる。サンプルホールド回路117は、トラ
ンジスタQ17とコンデンサC14とバッファ118と
から構成されている。
In this way, the photoelectric conversion output which has been subjected to the dark output compensation is output from the terminal 116 to the terminal 11 shown in FIG.
6 and is sample-held by the sample-hold circuit 117. The sample hold circuit 117 includes a transistor Q17, a capacitor C14, and a buffer 118.

【0037】このサンプルホールド回路117の出力
は、次のコントラスト制御回路120でコントラスト制
御処理に使われる。このコントラスト制御回路120は
光電変換出力について、例えば、コントラストが低い場
合には、差動増幅器77でその光電変換出力の平均レベ
ルを基準にして増幅することによってコントラストを上
げ、また、コントラストが高い場合には、暗時出力に対
応する所定の暗時基準電圧Vrefを基準にして増幅で
きるようになっている。
The output of the sample hold circuit 117 is used for the contrast control processing in the next contrast control circuit 120. For example, when the contrast is low, the contrast control circuit 120 increases the contrast by amplifying the photoelectric conversion output with the average level of the photoelectric conversion output as a reference, and when the contrast is high. In addition, it is possible to perform amplification based on a predetermined dark reference voltage Vref corresponding to the dark output.

【0038】このため、差動増幅器77の負入力端子に
は増幅の基準レベルとなる基準電圧が与えられる。この
基準電圧を与える基準電圧供給回路130は、平均値保
持回路121と暗時出力基準電圧保持回路122からな
る。平均値保持回路121は、暗時出力補償された第1
乃至第4アイランドの出力値を差動増幅器77の出力値
からバッファ132を介して入力することにより、第1
乃至第4アイランドの出力値の平均値を算出し、これを
保持する。この平均値保持回路121は、第1、第2、
第3、第4の各アイランドに対応して設けられた第1、
第2、第3、第4の平均値保持回路123,124,1
25,220からなる。第1平均値保持回路123はス
イッチトランジスタQ11と、バッファ126と、コン
デンサC11と、スイッチトランジスタQ12とからな
る。第2平均値保持回路124はスイッチトランジスタ
Q13と、バッファ127と、コンデンサC12と、ス
イッチトランジスタQ14とからなる。また、第3平均
値保持回路125はスイッチトランジスタQ15と、バ
ッファ128と、コンデンサC13と、スイッチトラン
ジスタQ16とからなる。さらに、第4平均値保持回路
220はスイッチトランジスタQ221と、バッファ2
22と、コンデンサC224と、スイッチトランジスタ
Q223とからなる。一方、暗時出力基準電圧保持回路
122は、暗時出力電圧と同等の電圧である暗時出力基
準電圧Vrefが与えられる端子129と、スイッチト
ランジスタQ10とからなっている。
Therefore, the negative input terminal of the differential amplifier 77 is supplied with a reference voltage as a reference level for amplification. The reference voltage supply circuit 130 that supplies this reference voltage includes an average value holding circuit 121 and a dark output reference voltage holding circuit 122. The average value holding circuit 121 has a first
Through inputting the output value of the fourth island from the output value of the differential amplifier 77 via the buffer 132.
Thru | or the average value of the output value of the 4th island is calculated, and this is hold | maintained. This average value holding circuit 121 has the first, second,
The first provided corresponding to the third and fourth islands,
Second, third and fourth average value holding circuits 123, 124, 1
It consists of 25,220. The first average value holding circuit 123 includes a switch transistor Q11, a buffer 126, a capacitor C11, and a switch transistor Q12. The second average value holding circuit 124 includes a switch transistor Q13, a buffer 127, a capacitor C12, and a switch transistor Q14. The third average value holding circuit 125 includes a switch transistor Q15, a buffer 128, a capacitor C13, and a switch transistor Q16. Further, the fourth average value holding circuit 220 includes a switch transistor Q221 and a buffer 2
22, a capacitor C224, and a switch transistor Q223. On the other hand, the dark output reference voltage holding circuit 122 includes a terminal 129 to which a dark output reference voltage Vref, which is a voltage equivalent to the dark output voltage, is applied, and a switch transistor Q10.

【0039】スイッチトランジスタQ10,Q12,Q
14,Q16,Q223は、いずれか一つのみONし
て、そのスイッチトランジスタの入力側の電圧を出力す
る。このスイッチトランジスタの出力電圧は、バッファ
131を介して差動増幅器77の負側入力端子へ加えら
れる。また、この差動増幅器77の正側入力端子へは、
各アイランドの光電変換出力がサンプルホールド回路1
17のバッファ118を介して与えられる。
Switch transistors Q10, Q12, Q
Only one of 14, Q16 and Q223 is turned on and outputs the voltage on the input side of the switch transistor. The output voltage of the switch transistor is applied to the negative side input terminal of the differential amplifier 77 via the buffer 131. Also, to the positive side input terminal of this differential amplifier 77,
The photoelectric conversion output of each island is the sample and hold circuit 1
It is provided via 17 buffers 118.

【0040】このコントラスト制御回路120は、平均
値保持回路121と暗時出力基準電圧保持回路122を
持つことによって、例えば、コントラストが低い場合に
は、各アイランドの光電変換出力の平均値を基準電圧に
して光電変換出力を増幅することによってコントラスト
を上げ、また、コントラストが高い場合には、暗時出力
に対応する所定の暗時基準電圧Vrefを基準電圧にし
て光電変換出力の増幅をすることによってコントラスト
を下げることが可能となっている。そして、この増幅さ
れた各アイランドの光電変換出力は、バッファ134を
介して、Vout出力端子135へ出力される。
The contrast control circuit 120 has an average value holding circuit 121 and a dark output reference voltage holding circuit 122, so that, for example, when the contrast is low, the average value of the photoelectric conversion output of each island is set to the reference voltage. To increase the contrast by amplifying the photoelectric conversion output, and when the contrast is high, the photoelectric conversion output is amplified by using a predetermined dark reference voltage Vref corresponding to the dark output as a reference voltage. It is possible to reduce the contrast. Then, the amplified photoelectric conversion output of each island is output to the Vout output terminal 135 via the buffer 134.

【0041】図9は、第2の実施形態による第4アイラ
ンドのセンサ構成図である。この実施形態では、MPD
91aが他のアイランドのMPD81a、81b(図
4)と同じ大きさになっている。その代わりに、モニタ
部91は、その出力アンプに相当する電荷電圧変換部9
1c及びバッファ91dの増幅率(GAIN)を、他の
アイランドのモニタ部81(図4)の出力アンプに相当
する電荷電圧変換部81c及びバッファ81dの増幅率
の略2倍とすることによって、基準部と参照部の両方に
MPDを持つ他のアイランドのモニタ部81と略同じ感
度としている。すなわち、第4アイランドに他のアイラ
ンドと同じ光量が入射するとすれば、基準部のみにMP
D91aを有する第4アイランドのモニタ部91に蓄積
される電荷量は、基準部と参照部の両方にMPD81
a、81bを持つ他のアイランドのモニタ部81に蓄積
される電荷量の半分になるが、第4アイランドのモニタ
部91の出力アンプの増幅率が他のアイランドのモニタ
部81の出力アンプの増幅率の略2倍であるので、第4
アイランドのモニタ部91からの出力電圧が他のアイラ
ンドからの出力電圧と略同じ大きさになる。
FIG. 9 is a sensor configuration diagram of the fourth island according to the second embodiment. In this embodiment, the MPD
91a has the same size as the MPDs 81a and 81b (FIG. 4) of the other islands. Instead, the monitor unit 91 uses the charge-voltage conversion unit 9 corresponding to the output amplifier.
1c and the gain of the buffer 91d (GAIN) is set to approximately double the gain of the charge-voltage converter 81c and the buffer 81d corresponding to the output amplifier of the monitor 81 (FIG. 4) of the other island, thereby setting the reference. The sensitivity is substantially the same as that of the monitor section 81 of another island having MPDs in both the reference section and the reference section. That is, if the same amount of light as that of the other islands is incident on the fourth island, MP is applied only to the reference portion.
The amount of charge accumulated in the monitor unit 91 of the fourth island having D91a is equal to that of the MPD81 in both the standard unit and the reference unit.
Although the amount of electric charge accumulated in the monitor section 81 of the other island having a and 81b is half, the amplification factor of the output amplifier of the monitor section 91 of the fourth island is amplified by the output amplifier of the monitor section 81 of the other island. Since it is about twice the rate,
The output voltage from the island monitor unit 91 becomes substantially the same as the output voltage from the other islands.

【0042】図10は、第3の実施形態による第4アイ
ランドのセンサ構成図である。この実施形態では、MP
D91aが他のアイランドのMPD81a、81b(図
4)と同じ大きさになっている。その代わりに、モニタ
部91は、その電荷電圧変換部91cのコンデンサ容量
を、他のアイランドのモニタ部81(図4)の電荷電圧
変換部81cのコンデンサ容量C’の略2分の1の(1
/2)C’とすることによって、基準部と参照部の両方
にMPD81a、81bを持つ他のアイランドのモニタ
部81と略同じ感度としている。すなわち、第4アイラ
ンドに他のアイランドと同じ光量が入射するとすれば、
基準部のみにMPD91aを有する第4アイランドのモ
ニタ部91に蓄積される電荷量は、基準部と参照部の両
方にMPD81a、81bを持つ他のアイランドのモニ
タ部81に蓄積される電荷量の半分になるが、第4アイ
ランドのモニタ部91の電荷電圧変換部91cのコンデ
ンサ容量が、他のアイランドのモニタ部81のコンデン
サ容量の略2分の1であるので、 V(電圧)=Q(電荷量)/C(コンデンサ容量) の関係式より、第4アイランドのモニタ部91からの出
力電圧が他のアイランドからの出力電圧と略同じ大きさ
になる。
FIG. 10 is a sensor configuration diagram of the fourth island according to the third embodiment. In this embodiment, MP
D91a has the same size as the MPDs 81a and 81b (FIG. 4) of the other islands. Instead, the monitor unit 91 sets the capacitor capacity of the charge-voltage converter 91c to about half the capacitor capacity C ′ of the charge-voltage converter 81c of the monitor 81 (FIG. 4) of another island ( 1
/ 2) C ', so that the sensitivity is substantially the same as that of the monitor section 81 of another island having MPDs 81a and 81b in both the reference section and the reference section. That is, if the same amount of light is incident on the fourth island as on other islands,
The amount of charge accumulated in the monitor section 91 of the fourth island having the MPD 91a only in the reference section is half the amount of charge accumulated in the monitor section 81 of another island having the MPDs 81a and 81b in both the reference section and the reference section. However, since the capacitor capacity of the charge-voltage converter 91c of the monitor section 91 of the fourth island is approximately one half of the capacitor capacity of the monitor section 81 of the other island, V (voltage) = Q (charge From the relational expression of (amount) / C (capacitor capacity), the output voltage from the monitor section 91 of the fourth island becomes approximately the same as the output voltage from the other islands.

【0043】本発明は、上記実施形態に限られるもので
はなく、様々な変形が可能である。例えば、上記実施形
態では、一般的な被写体においては、水平方向のコント
ラストの方が垂直方向のコントラストよりも高いため
に、水平方向のアイランドについては基準部と参照部の
両方にMPDを設け、垂直方向のアイランドについては
基準部のみにMPDを設ける構成としたが、垂直方向の
コントラストの方が高い被写体に対する焦点検出を行う
ために、水平方向のアイランドについては基準部のみに
MPDを設け、垂直方向のアイランドについては基準部
と参照部の両方にMPDを設ける構成としてもよい。
The present invention is not limited to the above embodiment, but various modifications can be made. For example, in the above-described embodiment, since the contrast in the horizontal direction is higher than the contrast in the vertical direction in a general subject, MPDs are provided in both the reference portion and the reference portion for the islands in the horizontal direction. For the islands in the horizontal direction, the MPD is provided only in the reference portion. However, in order to perform focus detection for a subject having a higher vertical contrast, the MPD is provided only in the reference portion for the horizontal island, and the vertical direction is used. With respect to the island, the MPD may be provided in both the standard portion and the reference portion.

【0044】[0044]

【発明の効果】以上のように請求項1又は請求項2に記
載の発明に係る焦点検出装置によれば、複数のラインセ
ンサ対の内の一対のラインセンサについて基準部又は参
照部のいずれか一方のみにモニタ部を設け、その出力の
大きさが他のラインセンサ対のモニタ部の略2倍とした
ので、このモニタ部の感度が他のラインセンサ対のモニ
タ部と感度が異なることがなくなり、複数のラインセン
サ対が相互に交差するような場合においても、その交差
部分においてモニタ部を多層構造にしたり、ラインセン
サの周りを迂回させるといった構成をとる必要がなくな
る。このため、センサの構成を複雑にすることなく、水
平方向と垂直方向のモニタ測光を正確に行うことが可能
になり、また、センサの小型化を図ることが可能にな
る。
As described above, according to the focus detecting device of the first or second aspect of the present invention, one of the pair of line sensors of the plurality of line sensor pairs is either the reference portion or the reference portion. Since the monitor unit is provided only on one side and the output thereof is approximately twice as large as that of the monitor units of the other line sensor pairs, the sensitivity of this monitor unit may be different from that of the monitor units of the other line sensor pairs. Even when a plurality of line sensor pairs cross each other, there is no need to adopt a structure in which the monitor portion has a multi-layered structure or detours around the line sensor at the crossing portion. Therefore, it is possible to accurately perform monitor photometry in the horizontal direction and the vertical direction without complicating the configuration of the sensor, and it is possible to reduce the size of the sensor.

【0045】また、本発明に係る焦点検出装置によれ
ば、第2のラインセンサ対のモニタ部フォトダイオード
の面積を小さくできるので、より一層モニタ部を小型化
することが可能になる。
Further, according to the focus detecting device of the present invention, the area of the monitor photodiode of the second line sensor pair can be reduced, so that the monitor can be further downsized.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施形態による焦点検出装置を構成
する光学系の斜視図である。
FIG. 1 is a perspective view of an optical system constituting a focus detection device according to an embodiment of the present invention.

【図2】焦点検出装置の制御系のブロック図である。FIG. 2 is a block diagram of a control system of the focus detection device.

【図3】焦点検出装置のイメージセンサにおけるアイラ
ンドの配置図である。
FIG. 3 is a layout view of islands in the image sensor of the focus detection device.

【図4】イメージセンサの第1アイランド乃至第3アイ
ランドのセンサ構成図である。
FIG. 4 is a sensor configuration diagram of first to third islands of the image sensor.

【図5】イメージセンサの第4アイランドのセンサ構成
図である。
FIG. 5 is a sensor configuration diagram of a fourth island of the image sensor.

【図6】イメージセンサとマイコンの間の制御信号のタ
イミングチャートである。
FIG. 6 is a timing chart of control signals between the image sensor and the microcomputer.

【図7】イメージセンサにおけるアナログ信号処理部の
回路図である。
FIG. 7 is a circuit diagram of an analog signal processing unit in the image sensor.

【図8】イメージセンサにおけるアナログ信号処理部の
回路図である。
FIG. 8 is a circuit diagram of an analog signal processing unit in the image sensor.

【図9】第2の実施形態による第4アイランドのセンサ
構成図である。
FIG. 9 is a sensor configuration diagram of a fourth island according to the second embodiment.

【図10】第3の実施形態による第4アイランドのセン
サ構成図である。
FIG. 10 is a sensor configuration diagram of a fourth island according to the third embodiment.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 焦点検出装置 81 モニタ部(第2のラインセンサ対のモニタ部) 81a 基準部のモニタ部フォトダイオード(MPD) 81b 参照部のモニタ部フォトダイオード(MPD) 81c 電荷電圧変換部 81d バッファ(モニタ部出力アンプ) 82a フォトダイオードアレイ(基準部のラインセン
サ) 82b フォトダイオードアレイ(参照部のラインセン
サ) 91 モニタ部(第1のラインセンサ対のモニタ部) 91a 基準部のモニタ部フォトダイオード(MPD) 91c 電荷電圧変換部 91d バッファ(モニタ部出力アンプ) 92a フォトダイオードアレイ(基準部のラインセン
サ) 92b フォトダイオードアレイ(参照部のラインセン
サ)
1 Focus Detection Device 81 Monitor Unit (Monitor Unit of Second Line Sensor Pair) 81a Reference Unit Monitor Unit Photodiode (MPD) 81b Reference Unit Monitor Unit Photodiode (MPD) 81c Charge-Voltage Converter 81d Buffer (Monitor Unit) Output amplifier 82a Photodiode array (reference line sensor) 82b Photodiode array (reference line sensor) 91 Monitor (first line sensor pair monitor) 91a Reference monitor photodiode (MPD) 91c Charge-voltage conversion section 91d Buffer (monitor section output amplifier) 92a Photodiode array (reference section line sensor) 92b Photodiode array (reference section line sensor)

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平6−201987(JP,A) 特開 昭63−283370(JP,A) 特開 平1−288178(JP,A) 特開 平4−194612(JP,A) 特開 昭62−212611(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G02B 7/28 - 7/40 G03B 13/32 - 13/36 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (56) Reference JP-A-6-201987 (JP, A) JP-A-63-283370 (JP, A) JP-A-1-288178 (JP, A) JP-A-4- 194612 (JP, A) JP 62-212611 (JP, A) (58) Fields investigated (Int.Cl. 7 , DB name) G02B 7/ 28-7/40 G03B 13/32-13/36

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 光電流積分時間の決定に使用するモニタ
部を有する複数のラインセンサ対を備え、前記ラインセ
ンサ対を使用して位相差検出方式により焦点検出を行う
焦点検出装置において、 前記複数のラインセンサ対は、基準部と参照部のいずれ
か一方のみにモニタ部を有する第1のラインセンサ対
と、基準部と参照部の両方にモニタ部を有する第2のラ
インセンサ対より構成され、前記第1のラインセンサ対のモニタ部は、前記第2のラ
インセンサ対の基準部及び参照部に設けられた各モニタ
部と同じ大きさであり、 前記第1のラインセンサ対のモニタ部に設けられた出力
アンプの増幅率を、前記第2のラインセンサ対のモニタ
部に設けられた出力アンプの増幅率の略2倍にしたこと
を特徴とする焦点検出装置。
1. A focus detection device comprising a plurality of line sensor pairs having a monitor unit used for determining a photocurrent integration time, wherein focus detection is performed by a phase difference detection method using the line sensor pairs. The line sensor pair is composed of a first line sensor pair having a monitor section in only one of the standard section and the reference section and a second line sensor pair having monitor sections in both the standard section and the reference section. , The monitor section of the first line sensor pair is
Each monitor provided in the standard part and the reference part of the in-sensor pair
And the amplification factor of the output amplifier provided in the monitor unit of the first line sensor pair is approximately the same as the amplification factor of the output amplifier provided in the monitor unit of the second line sensor pair. A focus detection device characterized by being doubled.
【請求項2】 光電流積分時間の決定に使用するモニタ
部を有する複数のラインセンサ対を備え、前記ラインセ
ンサ対を使用して位相差検出方式により焦点検出を行う
焦点検出装置において、 前記複数のラインセンサ対は、基準部と参照部のいずれ
か一方のみにモニタ部を有する第1のラインセンサ対
と、基準部と参照部の両方にモニタ部を有する第2のラ
インセンサ対より構成され、前記第1のラインセンサ対のモニタ部は、前記第2のラ
インセンサ対の基準部及び参照部に設けられた各モニタ
部と同じ大きさであり、 前記第1のラインセンサ対のモニタ部の電荷電圧変換部
のコンデンサ容量を、前記第2のラインセンサ対のモニ
タ部の電荷電圧変換部のコンデンサ容量の略2分の1に
したことを特徴とする焦点検出装置。
2. A focus detection apparatus comprising a plurality of line sensor pairs having a monitor unit used for determining a photocurrent integration time, wherein focus detection is performed by a phase difference detection method using the line sensor pairs. The line sensor pair is composed of a first line sensor pair having a monitor section in only one of the standard section and the reference section and a second line sensor pair having monitor sections in both the standard section and the reference section. , The monitor section of the first line sensor pair is
Each monitor provided in the standard part and the reference part of the in-sensor pair
And the capacitor capacity of the charge-voltage converter of the monitor section of the first line sensor pair is approximately two minutes of the capacitor capacity of the charge-voltage converter section of the monitor section of the second line sensor pair. 1. A focus detection device characterized in that
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