JPH10333021A - Focus detector - Google Patents

Focus detector

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JPH10333021A
JPH10333021A JP14037497A JP14037497A JPH10333021A JP H10333021 A JPH10333021 A JP H10333021A JP 14037497 A JP14037497 A JP 14037497A JP 14037497 A JP14037497 A JP 14037497A JP H10333021 A JPH10333021 A JP H10333021A
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monitor
line sensor
island
unit
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範彦 赤松
Masataka Hamada
正隆 浜田
Kazuhiko Yugawa
和彦 湯川
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To precisely execute monitor photometry without complicating the constitution of a sensor and to make the sensor compact in a phase difference detection type focus detector provided with the plural pairs of line sensors having a monitor part used for deciding a photoelectric current integration time. SOLUTION: This detector is provided with a 4th island having a monitor part photodiode(MPD) only at a standard part and a 1st to a 3rd islands having the MPD both at the standard part and a reference part. By making the magnitude of the output of the MPD 91a of the 4th island almost two times of the outputs of the MPDs 81a and 81b of the 1st to the 3rd islands, the magnitude of the output of the monitor part of the 4th island is made almost identical to the outputs of the whole monitor parts of the 1st to the 3rd islands. Thus, the precise monitor photometry is executed without complicating the constitution of a sensor.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、一対のラインセン
サを複数用いて位相差検出方式により焦点検出を行う焦
点検出装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a focus detection device for performing focus detection by a phase difference detection method using a plurality of paired line sensors.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、焦点検出装置において、位相差検
出方式、すなわち、レンズ上で光軸を挟んで両側に取っ
た2つの領域を通過した被写体光により、予定焦点面上
に別々に被写体像を形成させた場合、上記レンズ上の2
つの領域の被写体に対する視差により、夫々の像がずれ
るので、このずれ量を検出してレンズの焦点ずれ量を算
出する方式により焦点検出を行うものがある。このよう
な焦点検出装置においては、基準部と参照部を構成する
2つのラインセンサ対を水平方向と垂直方向に配置して
各々のラインセンサ対が中心部で直交するようにした十
字型ラインセンサが知られている。この十字型ラインセ
ンサは、イメージセンサの一種であり、画素用フォトダ
イオード(PDと記す)の光電流積分時間を決定するの
に基準部と参照部のPDに沿って配置したモニタ用フォ
トダイオード(MPDと記す)の出力値を用いている。
2. Description of the Related Art Conventionally, in a focus detection apparatus, a subject image is separately formed on a predetermined focal plane by a phase difference detection system, that is, by subject light passing through two regions on both sides of an optical axis on a lens. Is formed, 2
Since the respective images are displaced due to the parallax of the subject in the two regions, there is a method in which the focus is detected by a method of calculating the amount of defocus of the lens by detecting the amount of the shift. In such a focus detection device, a cross-shaped line sensor in which two line sensor pairs forming a reference portion and a reference portion are arranged in a horizontal direction and a vertical direction so that each line sensor pair is orthogonal at a center portion. It has been known. This cross-shaped line sensor is a kind of an image sensor, and a monitor photodiode (which is disposed along the PD of the reference portion and the reference portion to determine the photocurrent integration time of the photodiode for the pixel (referred to as PD). MPD) is used.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】ところが、十字型ライ
ンセンサでは、水平方向と垂直方向の2つのラインセン
サ対のうち、どちらか一方のラインセンサ対のMPDラ
イン(基準部と参照部のMPDどうしを結ぶライン)
が、他方のラインセンサ対のMPDラインやPDライン
(各部のPDどうしを結ぶライン)によって分断されて
しまう。この分断されたMPDラインを接続するには、
交差部分のMPDラインを多層構造にするか、ラインセ
ンサの周りを迂回させてMPDラインを接続する必要が
あるが、いずれの接続方法も、十字型ラインセンサの構
成を複雑にし、また、十字型ラインセンサの小型化を阻
む要因になっていた。なお、十字型ラインセンサの基準
部のみにMPDを設けたものがあるが(例えば、特開昭
62−212611号公報参照)、基準部と参照部との
受光量差が大きいと、正確なモニタ測光が困難となる。
However, in the cross-shaped line sensor, the MPD line of one of the two line sensor pairs in the horizontal direction and the vertical direction (the MPD lines of the reference portion and the reference portion are not connected). Line connecting
Is divided by the MPD line and the PD line of the other line sensor pair (lines connecting the PDs of the respective units). To connect this split MPD line,
It is necessary to connect the MPD lines in a multilayer structure or to detour around the line sensor to connect the MPD lines at the intersections. However, any connection method complicates the configuration of the cross-shaped line sensor, This was a factor that hindered the miniaturization of line sensors. Some cross-shaped line sensors are provided with an MPD only at the reference portion (see, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 62-212611). Photometry becomes difficult.

【0004】本発明は、上述した問題点を解決するため
になされたものであり、センサの構成を複雑にすること
なく、モニタ測光を正確に行うことが可能で、かつ、セ
ンサの小型化を図ることの可能な焦点検出装置を提供す
ることを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-described problems, and it is possible to accurately perform monitor photometry without complicating the structure of a sensor and to reduce the size of the sensor. It is an object of the present invention to provide a focus detection device that can be achieved.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に請求項1記載の発明は、光電流積分時間の決定に使用
するモニタ部を有する複数のラインセンサ対を備え、ラ
インセンサ対を使用して位相差検出方式により焦点検出
を行う焦点検出装置において、複数のラインセンサ対
は、基準部と参照部のいずれか一方のみにモニタ部を有
する第1のラインセンサ対と、基準部と参照部の両方に
モニタ部を有する第2のラインセンサ対より構成され、
第1のラインセンサ対のモニタ部出力の大きさを、第2
のラインセンサ対のモニタ部出力の略2倍にしたもので
ある。
In order to achieve the above object, the invention according to the first aspect comprises a plurality of pairs of line sensors having a monitor unit used for determining a photocurrent integration time. In the focus detection device that performs focus detection by the phase difference detection method, the plurality of line sensor pairs include a first line sensor pair having a monitor unit in only one of the reference unit and the reference unit, and a reference unit and a reference unit. A second line sensor pair having a monitor unit in both of the units,
The magnitude of the output of the monitor unit of the first line sensor pair
Is approximately twice the output of the monitor unit of the pair of line sensors.

【0006】上記構成においては、基準部と参照部の一
方のみにモニタ部を有する第1のラインセンサ対のモニ
タ部出力の大きさが、基準部と参照部の両方にモニタ部
を有する構成とした場合のモニタ部全体の出力と略同じ
値になり、正確なモニタ測光が行える。
In the above configuration, the magnitude of the output of the monitor unit of the first pair of line sensors having the monitor unit in only one of the reference unit and the reference unit is different from the configuration in which the monitor unit is provided in both the reference unit and the reference unit. In this case, the output becomes substantially the same as the output of the entire monitor unit, and accurate monitor photometry can be performed.

【0007】また、請求項2記載の発明は、請求項1に
記載の焦点検出装置であって、第1のラインセンサ対の
モニタ部フォトダイオード面積を、第2のラインセンサ
対の基準部又は参照部のモニタ部フォトダイオード面積
の略2倍にすることによって、第1のラインセンサ対の
モニタ部出力の大きさを、第2のラインセンサ対のモニ
タ部出力の略2倍にしたものである。
According to a second aspect of the present invention, there is provided the focus detecting device according to the first aspect, wherein the area of the monitor photodiode of the first line sensor pair is reduced by the reference portion of the second line sensor pair. By making the area of the monitor photodiode of the reference section approximately twice as large, the magnitude of the output of the monitor section of the first line sensor pair is made about twice the output of the monitor section of the second line sensor pair. is there.

【0008】上記構成においては、第1のラインセンサ
対のモニタ部のフォトダイオード面積を、第2のライン
センサ対の基準部又は参照部のモニタ部フォトダイオー
ド面積の略2倍にすることによって、第1のラインセン
サ対のモニタ部フォトダイオードに蓄積される電荷の量
が、第2のラインセンサ対の基準部と参照部のモニタ部
フォトダイオードに蓄積される電荷の量の合計値と略同
じ値になり、これにより、第1のラインセンサ対のモニ
タ部の出力の大きさが、第2のラインセンサ対のモニタ
部全体の出力と略同じ値になる。
In the above configuration, the area of the photodiode of the monitor section of the first line sensor pair is made approximately twice as large as the area of the photodiode of the monitor section of the reference section or reference section of the second line sensor pair. The amount of charge accumulated in the monitor photodiode of the first line sensor pair is substantially the same as the total value of the amount of charge accumulated in the monitor photodiode of the reference portion and the reference portion of the second line sensor pair. Accordingly, the magnitude of the output of the monitor of the first pair of line sensors becomes substantially the same as the output of the entire monitor of the second pair of line sensors.

【0009】また、請求項3記載の発明は、請求項1に
記載の焦点検出装置であって、第1のラインセンサ対の
モニタ部出力アンプの増幅率を、第2のラインセンサ対
のモニタ部出力アンプの増幅率の略2倍にすることによ
って、第1のラインセンサ対のモニタ部出力の大きさ
を、第2のラインセンサ対のモニタ部出力の略2倍にし
たものである。
According to a third aspect of the present invention, there is provided the focus detection device according to the first aspect, wherein the amplification factor of the monitor section output amplifier of the first line sensor pair is monitored by the second line sensor pair. The magnitude of the output of the monitor unit of the first pair of line sensors is approximately twice as large as the output of the monitor unit of the second pair of line sensors by making the gain of the unit output amplifier approximately twice as large.

【0010】上記構成においては、基準部と参照部の一
方のみにモニタ部を有する第1のラインセンサ対に蓄積
される電荷量は、基準部と参照部の両方にモニタ部を有
する第2のラインセンサ対の電荷量の半分になるが、第
1のラインセンサ対のモニタ部出力アンプの増幅率が第
2のラインセンサ対のモニタ部出力アンプの増幅率の略
2倍であるので、第1のラインセンサ対のモニタ部出力
の大きさが、第2のラインセンサ対のモニタ部出力と略
同じ大きさになる。
In the above configuration, the amount of electric charge stored in the first line sensor pair having the monitor section only in one of the reference section and the reference section is equal to the amount of electric charge stored in the second line sensor having the monitor section in both the reference section and the reference section. Although the charge amount of the line sensor pair is reduced to half, the gain of the monitor output amplifier of the first line sensor pair is substantially twice the gain of the monitor output amplifier of the second line sensor pair. The magnitude of the monitor output of the first line sensor pair is substantially the same as the magnitude of the monitor output of the second line sensor pair.

【0011】また、請求項4記載の発明は、請求項1に
記載の焦点検出装置であって、第1のラインセンサ対の
モニタ部の電荷電圧変換部のコンデンサ容量を、第2の
ラインセンサ対のモニタ部の電荷電圧変換部のコンデン
サ容量の略2分の1にすることによって、第1のライン
センサ対のモニタ部出力の大きさを、第2のラインセン
サ対のモニタ部出力の略2倍にしたものである。
According to a fourth aspect of the present invention, there is provided the focus detecting device according to the first aspect, wherein the capacitance of the capacitor of the charge-voltage converter of the monitor of the first line sensor pair is changed to the second line sensor. By making the capacitance of the capacitor of the charge-voltage conversion unit of the pair of monitor units approximately half, the magnitude of the output of the monitor unit of the first line sensor pair is reduced to approximately the value of the output of the monitor unit of the second line sensor pair. It is doubled.

【0012】上記構成においては、基準部と参照部の一
方のみにモニタ部を有する第1のラインセンサ対に蓄積
される電荷量は、基準部と参照部の両方にモニタ部を有
する第2のラインセンサ対の電荷量の半分になるが、第
1のラインセンサ対のモニタ部電荷電圧変換部のコンデ
ンサ容量が、第2のラインセンサ対のモニタ部電荷電圧
変換部のコンデンサ容量の略2分の1であるので、 V(電圧)=Q(電荷量)/C(コンデンサ容量) の関係式より、第1のラインセンサ対のモニタ部出力の
大きさが、第2のラインセンサ対のモニタ部出力と略同
じ大きさになる。
In the above configuration, the amount of electric charge stored in the first line sensor pair having the monitor section only in one of the reference section and the reference section is equal to the amount of the electric charge accumulated in the second line sensor having the monitor section in both the reference section and the reference section. Although the charge amount of the line sensor pair is reduced to half, the capacitance of the monitor charge-to-voltage converter of the first line sensor pair is approximately two times the capacitance of the monitor charge-to-voltage converter of the second line sensor pair. From the relational expression of V (voltage) = Q (charge amount) / C (capacitor capacitance), the magnitude of the output of the monitor unit of the first line sensor pair is equal to the monitor of the second line sensor pair. It is almost the same size as the unit output.

【0013】[0013]

【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施形態による
焦点検出装置について図面を参照して説明する。図1
は、本実施形態による焦点検出装置を構成する光学系の
斜視図である。焦点検出装置1の光学系は、カメラの撮
影レンズ2、中心部の十字型開口と左右側部の縦長開口
を持つ視野マスク3、コンデンサレンズ4、視野マスク
3に対応した形状の絞りマスク5、セパレータレンズ6
及び、視野マスク3の開口と同様な形状のラインセンサ
が配置されたイメージセンサ10より構成される。被写
体からの反射光束は撮影レンズ2を通過した後、視野マ
スク3上に結像する。この視野マスク3の開口上に形成
された像のみが、コンデンサレンズ4、絞りマスク5及
びセパレータレンズ6によってイメージセンサ10のラ
インセンサ上に再結像する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, a focus detecting device according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG.
FIG. 2 is a perspective view of an optical system included in the focus detection device according to the present embodiment. The optical system of the focus detection device 1 includes a photographing lens 2 of a camera, a field mask 3 having a cross-shaped opening in the center and a vertically long opening on the left and right sides, a condenser lens 4, an aperture mask 5 having a shape corresponding to the field mask 3, Separator lens 6
The image sensor 10 includes a line sensor having the same shape as the opening of the field mask 3. The light beam reflected from the subject passes through the photographing lens 2 and forms an image on the field mask 3. Only the image formed on the opening of the field mask 3 is re-imaged on the line sensor of the image sensor 10 by the condenser lens 4, the aperture mask 5 and the separator lens 6.

【0014】図2は、焦点検出装置1の制御系のブロッ
ク図である。この焦点検出装置1は、位相差検出方式に
より焦点検出を行う。焦点検出装置1には、イメージセ
ンサ10の制御、焦点検出に関わる演算及びレンズ駆動
制御等を行うマイコン20が設けられている。このマイ
コン20には、CCDよりなるイメージセンサ10、レ
ンズの種類に応じたレンズ繰出量等のレンズに関するデ
ータを出力するレンズデータ出力部30、焦点の検出状
態等を表示する表示回路40、レンズをモータ50によ
り駆動させるレンズ駆動部60及び、モータ50の回転
量をモニタするエンコーダ70が接続されている。マイ
コン20は、測距動作の開始信号を検知すると、センサ
制御部27からCCD動作制御部13へモード選択信号
1(MD1)、モード選択信号2(MD2)、モード選
択信号3(MD3)、クリアゲート制御信号(IC
G)、シフトゲート制御信号(SHM)の各信号を出力
することにより、イメージセンサ10を駆動して光電流
積分を行う。この際に、積分時間制御部11は、イメー
ジセンサ10上の各アイランド(この場合は、ラインセ
ンサ対のことをいう)のPDに沿って設けられたMPD
の出力電圧等に基づいて積分時間の制御を行う。積分が
終了すると、マイコン20は、アナログ信号処理部12
を介してイメージセンサ10の各ラインセンサ対から出
力された像情報を順次A/D変換部21へ取り込み、こ
の像情報をデジタルデータへ変換してRAM22へ出力
する。
FIG. 2 is a block diagram of a control system of the focus detection device 1. The focus detection device 1 performs focus detection by a phase difference detection method. The focus detection device 1 is provided with a microcomputer 20 that controls the image sensor 10, performs calculations related to focus detection, and controls lens driving. The microcomputer 20 includes an image sensor 10 comprising a CCD, a lens data output unit 30 for outputting data relating to the lens such as a lens extension amount according to the type of lens, a display circuit 40 for displaying a focus detection state and the like, and a lens. A lens driving unit 60 driven by the motor 50 and an encoder 70 for monitoring the amount of rotation of the motor 50 are connected. When detecting the start signal of the distance measurement operation, the microcomputer 20 sends a mode selection signal 1 (MD1), a mode selection signal 2 (MD2), a mode selection signal 3 (MD3), and a clear signal from the sensor control unit 27 to the CCD operation control unit 13. Gate control signal (IC
G), the image sensor 10 is driven by outputting each signal of the shift gate control signal (SHM) to perform photocurrent integration. At this time, the integration time control unit 11 controls the MPD provided along the PD of each island (in this case, a line sensor pair) on the image sensor 10.
The integration time is controlled based on the output voltage or the like. When the integration is completed, the microcomputer 20 sets the analog signal processing unit 12
The image information output from each line sensor pair of the image sensor 10 is sequentially fetched into the A / D conversion unit 21 through the interface, and the image information is converted into digital data and output to the RAM 22.

【0015】次に、マイコン20は、RAM22に記憶
された像情報を焦点検出部23へ出力し、この像情報に
基づいてデフォーカス量(ピントズレ量)の算出を行っ
た後、補正演算部24によってこのデフォーカス量の補
正演算を行い、その結果に基づいて表示回路40に合焦
状態等の表示を行う。マイコン20のレンズ駆動制御部
25は、レンズデータ出力部30から出力されたレンズ
データに基づき、デフォーカス量をレンズ繰出量に換算
し、このレンズ繰出量に応じてレンズ駆動部60を介し
てモータ50を駆動する。この際、レンズ駆動制御部2
5は、エンコーダ70からの出力値に基づいてモータ5
0の駆動量を確認しながらレンズ駆動を行う。なお、セ
ンサ制御部27は、アナログ信号処理部12からA/D
変換部21へ像情報を出力する際に、タイマー回路26
を利用してCCDクロック発生部14へクロックパルス
(CP)信号を送ることにより、アナログ信号処理部1
2へデータ出力のタイミングをとるための同期信号を送
る。この際に、CCD動作制御部13は、A/D変換部
21へデータ受け取りのタイミングをとるための同期信
号を送る。
Next, the microcomputer 20 outputs the image information stored in the RAM 22 to the focus detection unit 23, calculates a defocus amount (defocus amount) based on the image information, and then calculates a defocus amount. The defocus amount correction calculation is performed, and based on the result, the display circuit 40 displays an in-focus state or the like. The lens drive control unit 25 of the microcomputer 20 converts the defocus amount into a lens extension amount based on the lens data output from the lens data output unit 30, and outputs the motor amount via the lens drive unit 60 according to the lens extension amount. 50 is driven. At this time, the lens drive control unit 2
5 is a motor 5 based on an output value from the encoder 70.
The lens drive is performed while checking the drive amount of 0. Note that the sensor control unit 27 sends an A / D signal from the analog signal processing unit 12.
When outputting image information to the conversion unit 21, the timer circuit 26
By transmitting a clock pulse (CP) signal to the CCD clock generation unit 14 using the
2, a synchronization signal for setting the data output timing is sent. At this time, the CCD operation control section 13 sends a synchronization signal to the A / D conversion section 21 to determine the timing of data reception.

【0016】図3は、イメージセンサ10におけるアイ
ランドの配置図である。第1アイランド乃至第3アイラ
ンドの各々は、モニタ用フォトダイオード(MPD)8
1a,81b、画素用フォトダイオードアレイ(PDア
レイ)82a,82b、電荷蓄積部(ST)83a,8
3b及びシフトレジスタ(SR)84からなる。この第
1アイランド乃至第3アイランドにおいては、SR84
が基準部と参照部で分離しておらず、また、基準部と参
照部にはぞれぞれMPD81a,81bが設けられてお
り、これらのMPD81a,81bはMPDラインによ
って接続され、各アイランドのモニタ部を形成してい
る。他方、第4アイランドについては、基準部と参照部
のSR94a,94bが、第2アイランドのSR84と
MPDラインによって分断されており、また、モニタ部
のMPD91aが基準部にしか設けられていない。
FIG. 3 is an arrangement diagram of the islands in the image sensor 10. Each of the first to third islands includes a monitoring photodiode (MPD) 8
1a, 81b, pixel photodiode arrays (PD arrays) 82a, 82b, charge storage units (ST) 83a, 8
3b and a shift register (SR) 84. In the first to third islands, SR84
Are not separated between the reference portion and the reference portion, and the reference portion and the reference portion are provided with MPDs 81a and 81b, respectively. These MPDs 81a and 81b are connected by an MPD line, and A monitor section is formed. On the other hand, regarding the fourth island, the SR 94a and 94b of the reference portion and the reference portion are separated by the SR84 of the second island and the MPD line, and the MPD 91a of the monitor portion is provided only in the reference portion.

【0017】モニタ部のMPD91aが基準部にしかな
い理由は、第4アイランドについても、基準部と参照部
の両方にMPDを持ち、MPDラインによって接続する
構成とした場合には、交差部分のMPDラインを多層構
造にするか、アイランドの周りを迂回させてMPDライ
ンを接続する必要があるが、いずれの方法を採るにして
も構造が複雑化してしまい、イメージセンサ10を小型
化する上での制約になってしまうからである。その代わ
りに、第4アイランドの基準部のMPD91aについて
は、面積(幅)を他のMPD81a,81bの2倍の面
積とし、電荷の溜まる量を他のMPD81a,81bの
2倍にする。位相差検出方式による焦点検出では、同じ
領域の被写体像を二つに分けて基準部と参照部で受光す
るという原理上、基準部と参照部で受光する光量が略等
しくなる。このため、第4アイランドのモニタ部の電荷
蓄積量は、基準部のみにMPD91aを設け、電荷の溜
まる量を他のMPD81a,81bの2倍とすることに
よって、基準部と参照部の両方にMPDを持つ構成とし
た場合のモニタ部の電荷蓄積量の合計値と略同じとす
る。これにより、第4アイランドのモニタ部91aの出
力電圧は、第4アイランドのモニタ部が他のアイランド
と同様に参照部にもモニタ部を設けた場合の出力電圧と
略同じになり、同モニタ部91aは他のアイランドのモ
ニタ部と略同じ感度となる。
The reason that the MPD 91a of the monitor section is only in the reference section is that the fourth island also has an MPD in both the reference section and the reference section and is connected by an MPD line. It is necessary to connect the MPD lines by using a multi-layer structure or by circumventing the island. However, whichever method is adopted, the structure becomes complicated, and a limitation in miniaturizing the image sensor 10 is required. It is because it becomes. Instead, the area (width) of the MPD 91a at the reference portion of the fourth island is twice as large as those of the other MPDs 81a and 81b, and the amount of accumulated charges is twice that of the other MPDs 81a and 81b. In focus detection by the phase difference detection method, the amount of light received by the reference portion and the reference portion is substantially equal in principle, based on the principle that the subject image in the same area is divided into two and received by the reference portion and the reference portion. For this reason, the charge accumulation amount of the monitor portion of the fourth island is determined by providing the MPD 91a only in the reference portion and making the amount of accumulated charge twice that of the other MPDs 81a and 81b. Is substantially the same as the total value of the charge accumulation amount of the monitor unit in the configuration having As a result, the output voltage of the monitor unit 91a of the fourth island becomes substantially the same as the output voltage when the monitor unit of the fourth island also has a monitor unit in the reference unit as in the other islands. 91a has substantially the same sensitivity as the monitor units of the other islands.

【0018】図3に示されるセンサ制御手段13Aは、
図2に示されるセンサ制御部27とCCD動作制御部1
3の一部であり、各アイランドにSH,SH2,IC
G,BG,CPの信号を送ることによって、イメージセ
ンサ10全体を制御する。また、選択手段13Bは、C
CD動作制御部13の一部であり、センサ制御手段13
Aからの指示に従って、マイコン20へどのアイランド
からのアナログデータを送るかを選択する。
The sensor control means 13A shown in FIG.
The sensor control unit 27 and the CCD operation control unit 1 shown in FIG.
SH, SH2, IC on each island
By transmitting the G, BG, and CP signals, the entire image sensor 10 is controlled. Further, the selection means 13B
A part of the CD operation control unit 13 and the sensor control unit 13
In accordance with the instruction from A, an island from which analog data is transmitted to the microcomputer 20 is selected.

【0019】上記構成でなる十字型ラインセンサによれ
ば、垂直方向の第4アイランドが基準部のみにMPD9
1aを持つ構成になるので、交差部分のMPDラインを
多層構造にしたり、アイランドの周りを迂回させてMP
Dラインを接続する必要がなくなる。また、正確なモニ
タ測光が必要とされる水平方向の第2アイランドは基準
部と参照部の両方にMPD81a,81bを持つため、
これを使用して正確なモニタ測光を行うことが可能とな
る。このため、イメージセンサ10の構成を複雑にする
ことなく、水平方向と垂直方向のモニタ測光を正確に行
うことが可能になり、また、イメージセンサ10の小型
化を図ることが可能になる。
According to the cross-shaped line sensor having the above structure, the fourth island in the vertical direction is provided only in the reference portion by the MPD 9.
1a, the MPD line at the intersection is made to have a multilayer structure,
There is no need to connect the D line. The second island in the horizontal direction, which requires accurate monitor photometry, has MPDs 81a and 81b in both the reference portion and the reference portion.
Using this, accurate monitor photometry can be performed. For this reason, it is possible to accurately perform monitor photometry in the horizontal direction and the vertical direction without complicating the configuration of the image sensor 10, and to reduce the size of the image sensor 10.

【0020】図4は、第1アイランド乃至第3アイラン
ドの内の1つのアイランドのセンサ構成図である。基準
部にはMPD81a、PDアレイ82a、積分コントロ
ールゲート85、SR84が、参照部にはMPD81
b、PDアレイ82b、積分コントロールゲート85、
SR84がそれぞれ並列に配置されている。基準部と参
照部に設けられたMPD81a,81bは、MPDライ
ンによって相互に接続されており、また、SR84につ
いても、参照部と基準部で一体となっている。さらに、
積分コントロールゲート85の各ゲートも、基準部と参
照部の間を結ぶ各ラインによって接続されている。PD
アレイは、フォトダイオードとその出力光電流を積分す
るコンデンサとが一画素分の要素となり、このような要
素がアレー状に並んだものである。基準部と参照部のぞ
れぞれのPDアレイ82a,82bは、その先頭部に、
出力の暗時出力補償に用いられる暗時電荷を発生するア
ルミニウムによる遮光画素(OPD:黒ドット部)82
c,82dが設けられている。
FIG. 4 is a sensor configuration diagram of one of the first to third islands. The MPD 81a, the PD array 82a, the integration control gate 85, and the SR 84 are provided in the reference portion, and the MPD 81 is provided in the reference portion.
b, PD array 82b, integration control gate 85,
The SRs 84 are respectively arranged in parallel. The MPDs 81a and 81b provided in the reference portion and the reference portion are connected to each other by an MPD line, and the SR84 is also integrated in the reference portion and the reference portion. further,
Each gate of the integration control gate 85 is also connected by each line connecting the reference section and the reference section. PD
In the array, a photodiode and a capacitor for integrating the output photocurrent are elements for one pixel, and such elements are arranged in an array. The PD arrays 82a and 82b of the reference section and the reference section respectively have
A light-shielded pixel (OPD: black dot portion) 82 made of aluminum that generates dark-time charges used for output dark-time output compensation
c and 82d are provided.

【0021】また、基準部と参照部に設けられたMPD
81a,81bは、電荷電圧変換部81c、バッファ8
1dと共にモニタ部81を形成する。MPD81a,8
1bに蓄積された電荷は、電荷電圧変換部81cによっ
て電圧に変換された後、バッファ81dに蓄えられ、A
GCOS端子から出力される。このAGCOS端子から
の出力は、積分時間制御部11(図2参照)へ出力され
て、PDアレイ82a,82bの積分レベルを適正に制
御するために使われる。
The MPD provided in the reference part and the reference part
81a and 81b are a charge-voltage converter 81c, a buffer 8
The monitor section 81 is formed together with 1d. MPD81a, 8
The charge accumulated in the buffer 1b is converted into a voltage by the charge-voltage converter 81c, and then stored in the buffer 81d.
It is output from the GCOS terminal. The output from the AGCOS terminal is output to the integration time control unit 11 (see FIG. 2), and is used for appropriately controlling the integration levels of the PD arrays 82a and 82b.

【0022】また、積分コントロールゲート85は、バ
リアゲート85a、ST83a,83b、クリアゲート
85b及びシフトゲート85cから構成されている。S
R84は、SR84から出力された電荷を電圧に変換し
て光電変換出力を得る電荷電圧変換部86に接続されて
いる。また、電荷電圧変換部86の光電変換出力から電
源電圧の変動分を除去するための電圧変換部88が設け
られ、この電圧変換部88は、アルミ遮光されたドリフ
ト信号補償用フォトダイオード(MD)を有し、このM
Dの出力により得られた暗時出力である基準電圧を、バ
ッファ89を介して、DOS端子から出力する。
The integration control gate 85 includes a barrier gate 85a, STs 83a and 83b, a clear gate 85b, and a shift gate 85c. S
R84 is connected to a charge-voltage converter 86 that converts the charge output from the SR84 into a voltage to obtain a photoelectric conversion output. Further, a voltage conversion unit 88 is provided for removing a fluctuation of the power supply voltage from the photoelectric conversion output of the charge-voltage conversion unit 86. The voltage conversion unit 88 includes an aluminum light-shielded drift signal compensation photodiode (MD). And this M
A reference voltage, which is a dark output obtained from the output of D, is output from the DOS terminal via the buffer 89.

【0023】次に、図4及び図2を参照して、第1アイ
ランド乃至第3アイランドの光電流積分処理について説
明する。図4に示されるICG端子からのクリアゲート
85bへの積分クリアパルスの印加により、積分回路の
初期化が行われた後、光電流積分が開始される。そし
て、PDアレイ82a,82bで光電変換された電荷
は、バリアゲート85aを介してST83a,83bに
蓄積される。また、積分開始とともにAGCOS端子か
らの出力は増えていき、その出力が所定レベルに達する
と、積分時間制御部11は、PDアレイ82a,82b
の積分を終了する。積分が終了すると、センサ制御部2
7からの読出開始のSHM信号に対応して、SH端子か
らシフトゲート85cへのシフトパルスの印加によっ
て、ST83a,83bに蓄積された電荷がSR84へ
並列に転送される。このSR84の電荷は、電荷電圧変
換部86で電圧変換された後、光電変換出力として、バ
ッファ87を介してOS端子からアナログ信号処理部1
2へ出力される。この出力は、CCDクロック発生部1
4から発生するクロックパルスに合わせて行われる。
Next, with reference to FIG. 4 and FIG. 2, the photocurrent integration processing of the first to third islands will be described. The application of the integration clear pulse from the ICG terminal shown in FIG. 4 to the clear gate 85b initializes the integration circuit and then starts photocurrent integration. Then, the charges photoelectrically converted by the PD arrays 82a and 82b are accumulated in the STs 83a and 83b via the barrier gate 85a. Also, the output from the AGCOS terminal increases with the start of integration, and when the output reaches a predetermined level, the integration time control unit 11 sets the PD arrays 82a, 82b
End integration of. When the integration is completed, the sensor control unit 2
In response to the SHM signal indicating the start of reading from No. 7, by applying a shift pulse from the SH terminal to the shift gate 85c, the charges accumulated in the STs 83a and 83b are transferred in parallel to the SR 84. The charge of the SR 84 is voltage-converted by the charge-to-voltage converter 86, and then, as a photoelectric conversion output, from the OS terminal via the buffer 87 to the analog signal processor 1.
2 is output. This output is output to the CCD clock generator 1
4 is performed in accordance with the clock pulse generated from step 4.

【0024】図5は、第4アイランドのセンサ構成図で
ある。第4アイランドのセンサではMPD91aが基準
部のみに配置され、また、SR94a,94bが基準部
と参照部で分離している。さらに、積分コントロールゲ
ート95a,95bの各ゲートも、基準部と参照部でラ
インが分離している。第4アイランドのセンサがこのよ
うな構成になっている理由は、第2アイランドの基準部
と参照部を結ぶ各ライン及びSR84によって、第4ア
イランドの基準部と参照部が分離されているからであ
る。第4アイランドの基準部のMPD91aについて
は、面積(幅)を他のアイランドのMPD81a,81
bの2倍の面積とし、電荷の溜まる量を他のMPD81
a,81bの2倍にすることによって、基準部と参照部
の両方にMPDを持つ他のアイランドのモニタ部と略同
じ感度にしている。
FIG. 5 is a sensor configuration diagram of the fourth island. In the sensor of the fourth island, the MPD 91a is arranged only at the reference portion, and the SRs 94a and 94b are separated at the reference portion and the reference portion. Further, the lines of the integration control gates 95a and 95b are also separated at the reference portion and the reference portion. The sensor of the fourth island has such a configuration because the reference portion and the reference portion of the fourth island are separated by each line connecting the reference portion and the reference portion of the second island and the SR84. is there. Regarding the MPD 91a of the reference portion of the fourth island, the area (width) is set to the MPDs 81a and 81 of the other islands.
b, and the amount of accumulated electric charge is changed to another MPD 81.
By doubling a and 81b, the sensitivity is substantially the same as that of the monitor unit of another island having the MPD in both the reference unit and the reference unit.

【0025】第4アイランドの基準部のST93aに蓄
積された電荷は、他のアイランドの基準部及び参照部の
ST83a,83bに蓄積された電荷と同様に、センサ
制御部27からの読出開始のSHM信号に対応するシフ
トゲート95eへのシフトパルスの印加によって、ST
93aからSR94aへ並列に転送され、電荷電圧変換
部96で電圧変換された後、光電変換出力として、バッ
ファ97を介してOS4端子からアナログ信号処理部1
2へ出力される。これに対して、第4アイランドの参照
部のST93bに蓄積された電荷は、基準部の電荷の読
み出しの終了信号に同期したSH2端子からシフトゲー
ト95fへのシフトパルスの印加によって、ST93b
からSR94bへ並列に転送され、基準部の出力に続い
て、電荷電圧変換部96で電圧変換された後に、バッフ
ァ97を介してOS4端子からアナログ信号処理部12
へ出力される。
The charge accumulated in the ST 93a of the reference portion of the fourth island is the same as the charge accumulated in the reference portions ST 83a, 83b of the other islands, and the SHM at the start of reading from the sensor control portion 27. By applying a shift pulse to the shift gate 95e corresponding to the signal, ST
93a is transferred in parallel to the SR 94a and voltage-converted by the charge-to-voltage converter 96. Then, the photoelectric conversion output is sent from the OS4 terminal to the analog signal processor 1 via the buffer 97.
2 is output. On the other hand, the charge accumulated in ST93b of the reference portion of the fourth island is changed by applying a shift pulse from the SH2 terminal to the shift gate 95f in synchronization with the end signal of the reading of the charge of the reference portion.
From the OS4 terminal via the buffer 97, after being transferred in parallel to the SR 94b and subjected to voltage conversion by the charge-voltage converter 96 following the output of the reference unit.
Output to

【0026】図4、図5に示される第1乃至第4アイラ
ンドからの光電変換出力は、アナログ信号処理部12に
よって受け取られた後、アナログ信号処理部12の内部
で暗時出力補償が施される。この暗時出力補償は、暗時
出力を基準電圧にしたクランプ(出力電圧の波形の上端
又は下端を暗出力電圧に一致させること)を通して行わ
れる。この暗時出力を基準電圧にしたクランプは、第1
乃至第3アイランドからの出力については、基準部で検
出した遮光画素OPD82cの出力値を基準電圧にして
各アイランド全体のクランプが行われるが、第4アイラ
ンドからの出力については、基準部と参照部の各々で検
出した遮光画素OPD92c,92dの出力値を基準電
圧にして基準部と参照部で別個にクランプが行われる。
これは、上述したように、第4アイランドは、基準部と
参照部が回路的に分離してしているため、センサ製造上
の違い等から基準部と参照部の暗出力ノイズが異なり、
基準部と参照部の暗出力レベルが異なる場合が発生する
ため、基準部で検出した遮光画素の出力値に基づいて参
照部を含むアイランド全体のクランプを行うと、正確な
暗時出力補償を行うことができないことがあるからであ
る。
The photoelectric conversion outputs from the first to fourth islands shown in FIGS. 4 and 5 are received by the analog signal processing unit 12 and then subjected to dark output compensation inside the analog signal processing unit 12. You. This dark-time output compensation is performed through a clamp that uses the dark-time output as the reference voltage (by matching the upper or lower end of the output voltage waveform to the dark output voltage). The clamp using the dark output as a reference voltage is the first clamp.
The output from the third island is clamped by using the output value of the light-shielded pixel OPD 82c detected by the reference unit as a reference voltage, while the output from the fourth island is clamped by the reference unit and the reference unit. Are clamped separately in the reference portion and the reference portion using the output values of the light-shielded pixels OPDs 92c and 92d detected in each of the reference portions as reference voltages.
This is because, as described above, in the fourth island, since the reference portion and the reference portion are separated from each other in terms of circuit, the dark output noise of the reference portion and the reference portion is different due to a difference in sensor manufacturing and the like.
Since the dark output level of the reference portion and the reference portion may be different, if the entire island including the reference portion is clamped based on the output value of the light-shielded pixel detected by the reference portion, accurate dark output compensation is performed. This is because there are things that you cannot do.

【0027】図6は、積分開始から4つのアイランドの
光電変換出力の読み出し動作を行うまでのイメージセン
サ10とマイコン20の間の制御信号のタイミングチャ
ートである。センサ制御部27は、各アイランド読出開
始のためのSHM信号を出力した後、遮光画素の出力を
しているときにICG信号をHiにすることで、基準電
圧を遮光画素の暗時出力にしてクランプする動作を行
う。このクランプ動作は、第1乃至第3アイランドにつ
いては、各アイランドの基準部の有効画素の出力前に、
基準部の遮光画素OPD82cの出力を基準電圧として
行い、第4アイランドについては、基準部の有効画素の
出力前のみならず、参照部の有効画素の出力前にも、参
照部の遮光画素OPD92dの出力を基準電圧として行
う。
FIG. 6 is a timing chart of control signals between the image sensor 10 and the microcomputer 20 from the start of integration until the operation of reading photoelectric conversion outputs of four islands is performed. After outputting the SHM signal for starting each island readout, the sensor control unit 27 sets the reference voltage to the dark output of the light-shielded pixel by setting the ICG signal to Hi while outputting the light-shielded pixel. Perform the operation of clamping. This clamping operation is performed for the first to third islands before the output of the effective pixel of the reference portion of each island.
The output of the light-shielded pixel OPD92d of the reference portion is performed as a reference voltage, and the fourth island is not only output of an effective pixel of the reference portion but also output of an effective pixel of the reference portion. The output is used as a reference voltage.

【0028】以下に、積分開始から4つのアイランドの
光電変換出力の読み出し動作を行うまでのイメージセン
サ10とマイコン20の間の制御信号の流れと、イメー
ジセンサ10とマイコン20の動作について説明する。
マイコン20のセンサ制御部27は、図6に示されるよ
うに、積分開始のICG信号のHiの間にSHM信号の
立ち上げと立ち下げを2回繰り返すことによって、CC
D動作制御部13から各アイランドのSH,SH2端子
にクリアパルスを印加し、積分回路の初期化を行う。ま
た、このSHMの立ち上げと立ち下げのタイミングで、
MD2信号、MD3信号のHiとLoの組み合わせによ
って、積分モードを設定する。この積分モードには、P
Dアレイのみによって電荷を蓄積するモードと、PDア
レイとST(蓄積部)で電荷を蓄積するモードがある。
イメージセンサ10のCCD動作制御部13は、積分中
においては、マイコン20のA/D変換部21へ通知す
るADT信号をHiにすることによってマイコン20へ
積分中であることを知らせ、モニタ部81又は91から
の出力電圧が所定の値になったか、積分時間が所定の時
間になった場合には、ADT信号をLoにすることによ
って、マイコン20へ積分が終了したことを通知する。
The flow of control signals between the image sensor 10 and the microcomputer 20 from the start of integration until the operation of reading photoelectric conversion outputs of the four islands and the operation of the image sensor 10 and the microcomputer 20 will be described below.
As shown in FIG. 6, the sensor control unit 27 of the microcomputer 20 repeats the rising and falling of the SHM signal twice during the period of the integration start ICG signal Hi, thereby obtaining the CC signal.
A clear pulse is applied from the D operation control unit 13 to the SH and SH2 terminals of each island to initialize the integration circuit. In addition, at the timing of the rise and fall of the SHM,
An integration mode is set according to a combination of Hi and Lo of the MD2 signal and the MD3 signal. This integration mode includes P
There is a mode in which electric charges are accumulated only by the D array, and a mode in which electric charges are accumulated by the PD array and ST (accumulation unit).
During the integration, the CCD operation control unit 13 of the image sensor 10 notifies the microcomputer 20 of the integration by setting the ADT signal to be notified to the A / D conversion unit 21 of the microcomputer 20 to Hi, and the monitor unit 81 Alternatively, when the output voltage from 91 has reached a predetermined value or when the integration time has reached a predetermined time, the ADT signal is set to Lo to notify the microcomputer 20 that the integration has been completed.

【0029】次に、マイコン20は、MD2信号、MD
3信号の出力に同期して各アイランドの積分終了順番等
のデジタルデータをCCD動作制御部13からのADT
信号により読み取る。ADT信号から読み取るデジタル
データの種類については、MD2信号、MD3信号のH
iとLoの組み合わせによって行う。
Next, the microcomputer 20 outputs the MD2 signal, MD
In synchronization with the output of the three signals, the digital data such as the integration end order of each island is transferred to the ADT from the CCD operation control unit 13.
Read by signal. Regarding the type of digital data read from the ADT signal, the MD2 signal and MD3 signal
This is performed by a combination of i and Lo.

【0030】マイコン20は、MD1信号をHiにする
ことで、積分モードからデータダンプモードに切り換わ
る。そして、マイコン20は、SHM信号の立ち上げ、
立ち下げを行うことによって、各アイランドの出力の読
み出しを開始し、このSHM信号が立ち上がっていると
きのMD2信号、MD3信号のHiとLoの組み合わせ
によって、読み出しアイランドを指定する。本実施形態
の場合は、Lo,Loで第1アイランド、Lo,Hiで
第2アイランド、Hi,Loで第3アイランド、Hi,
Hiで第4アイランドを読み出すようになっている。各
アイランドの出力の読み出し開始後、イメージセンサ1
0からマイコン20へ送られるADT信号で同期をとり
ながら、イメージセンサ10のアナログ信号処理部12
からマイコン20のA/D変換部21へのアナログデー
タ(各アイランドからの光電変換出力)がVout出力
端子を介して出力される。この際、各アイランドの有効
画素出力の前に各遮光画素(OPD)からのデータが出
力されるが、この時、ICG信号の立ち上げ、立ち下げ
を行うことにより、アナログ信号処理部12の内部回路
で各遮光画素(OPD)からの出力(暗時出力)を基準
電圧にしてクランプする動作を行う。このクランプ動作
は、第1乃至第3アイランドについては、各アイランド
の基準部有効画素の出力前に、基準部の遮光画素OPD
82cの出力を基準電圧にして行うが、第4アイランド
については、基準部有効画素の出力前に、基準部の遮光
画素OPD92cの出力を基準電圧にして行い、さら
に、参照部有効画素の出力前にも、参照部の遮光画素O
PD92dの出力を基準電圧にして行う。
The microcomputer 20 switches from the integration mode to the data dump mode by setting the MD1 signal to Hi. Then, the microcomputer 20 starts up the SHM signal,
By performing the fall, reading of the output of each island is started, and the read island is designated by a combination of Hi and Lo of the MD2 signal and the MD3 signal when the SHM signal is rising. In the case of the present embodiment, Lo and Lo are a first island, Lo and Hi are a second island, Hi and Lo are a third island, and Hi and Lo are a third island.
The fourth island is read by Hi. After starting to read the output of each island, the image sensor 1
0, while synchronizing with the ADT signal sent to the microcomputer 20, the analog signal processing unit 12 of the image sensor 10
, Analog data (photoelectric conversion output from each island) to the A / D converter 21 of the microcomputer 20 is output via the Vout output terminal. At this time, the data from each light-shielded pixel (OPD) is output before the effective pixel output of each island. At this time, the rising and falling of the ICG signal is performed, so that the internal The circuit performs an operation of clamping using the output (dark output) from each light-shielded pixel (OPD) as a reference voltage. This clamping operation is performed for the first to third islands before the output of the reference portion effective pixel of each island before the light shielding pixel OPD of the reference portion.
The output of the reference portion valid pixel is performed by using the output of the reference portion effective pixel for the fourth island before the output of the reference portion valid pixel before the output of the reference portion valid pixel. Also, the light-shielded pixel O
This is performed using the output of the PD 92d as a reference voltage.

【0031】このクランプ動作後、各アイランドの有効
画素データの出力が行われる。図6においては、データ
ダンプモード中のADT信号の一回の立ち上がりと立ち
下がりの間に、PDアレイの一画素分の出力がVout
出力端子から出力される。各アイランドは、先頭の3画
素が遮光画素OPDであり、有効画素は4番目から始ま
っているので、例えば、第1アイランドの場合は、CC
D動作制御部13が図6に示される4番のADT信号を
送る時から、有効画素の出力が開始される。各アイラン
ドの基準部有効画素と参照部有効画素の間のいくつかの
ADT信号の立ち上げ、立ち下げによって、空送り画素
の出力が行われる。また、有効画素出力時にMD2信号
をHiにしているが、これは実際のVout出力端子か
らのアナログ出力信号を画素出力と他の情報とで切り換
えており、MD2信号によってマイコン20からイメー
ジセンサ10へ有効画素の出力を指示する必要があるた
めである。他の情報としては、温度出力やモニタ部8
1、91からの出力電圧があり、これらの情報について
は、有効画素出力時以外のタイミングで取り出すことが
できる。
After this clamping operation, the effective pixel data of each island is output. In FIG. 6, the output of one pixel of the PD array is Vout between one rising and falling of the ADT signal in the data dump mode.
Output from the output terminal. In each island, the first three pixels are light-shielded pixels OPD, and the effective pixels start from the fourth. For example, in the case of the first island, CC
The output of the effective pixel is started from the time when the D operation control unit 13 sends the fourth ADT signal shown in FIG. The rise and fall of some ADT signals between the reference portion effective pixel and the reference portion effective pixel of each island causes the output of the idle feed pixel. In addition, the MD2 signal is set to Hi at the time of outputting an effective pixel. This is because the analog output signal from the actual Vout output terminal is switched between the pixel output and other information, and from the microcomputer 20 to the image sensor 10 by the MD2 signal. This is because it is necessary to instruct output of an effective pixel. Other information includes the temperature output and the monitor unit 8
There are output voltages from the pixels 1 and 91, and these pieces of information can be extracted at timings other than when valid pixels are output.

【0032】図7、図8は、アナログ信号処理部12の
回路図である。各アイランドの光電変換出力に暗時出力
補償等の処理を行った後に、マイコン20のA/D変換
部21へアナログデータとして出力するアナログ信号処
理部12の詳細を図7及び図8を参照して説明する。先
ず、図7において、各アイランドの光電変換出力OS
1,OS2,OS3,OS4が、それぞれ端子101,
102,103,201を通してバッファ回路200に
蓄えられ、シーケンシャルにONするアナログスイッチ
SW1,SW2,SW3,SW4によって択一的に差動
増幅器75の正入力端子へ与えられる。
FIGS. 7 and 8 are circuit diagrams of the analog signal processing unit 12. FIG. The details of the analog signal processing unit 12 that outputs as analog data to the A / D conversion unit 21 of the microcomputer 20 after performing processing such as dark output compensation on the photoelectric conversion output of each island will be described with reference to FIGS. 7 and 8. Will be explained. First, in FIG. 7, the photoelectric conversion output OS of each island
1, OS2, OS3, and OS4 are connected to terminals 101,
The signals are stored in the buffer circuit 200 through 102, 103, and 201 and are selectively supplied to the positive input terminal of the differential amplifier 75 by analog switches SW1, SW2, SW3, and SW4 that are sequentially turned on.

【0033】ここで、バッファ回路200は端子10
1,102,103,201と接地点との間に接続され
たコンデンサC17,C18,C19,C20と、電源
電圧が与えられる端子104,105,106,202
との間にぞれぞれ接続されたスイッチングトランジスタ
107,108,109,203と、バッファ110,
111,112,204とから構成されている。バッフ
ァバッファ110,111,112,204の出力側に
接続されたアナログスイッチSW1,SW2,SW3,
SW4及び、前記スイッチングトランジスタ107,1
08,109,203は、特にこれに限る必要はない
が、MOSトランジスタで形成されている。
Here, the buffer circuit 200 is connected to the terminal 10
Capacitors C17, C18, C19, C20 connected between 1, 102, 103, 201 and a ground point, and terminals 104, 105, 106, 202 to which a power supply voltage is applied
And the switching transistors 107, 108, 109, and 203 connected between the
111, 112, and 204. Buffers Analog switches SW1, SW2, SW3, connected to the output side of buffers 110, 111, 112, 204
SW4 and the switching transistors 107, 1
08, 109 and 203 are formed of MOS transistors, though not particularly limited thereto.

【0034】前記アナログスイッチSW1,SW2,S
W3,SW4からシーケンシャルに繰り返し出力されて
差動増幅器75に与えられた光電変換出力OS1,OS
2,OS3,OS4は、この差動増幅器75で電源電圧
Vccの変動分が除去される。差動増幅器75は、主と
してこの電源電圧の変動分を除去するためのドリフト信
号補償を行うために設けられている。差動増幅器75で
は、正の入力端子に与えられる光電変換出力と、負の入
力端子に与えられるDOS端子からのドリフト信号補償
用基準電圧DOSとの差が取られることになり、これに
よって光電変換出力から電源電圧の変動分を除去するこ
とができる。
The analog switches SW1, SW2, S
W3 and SW4, photoelectric conversion outputs OS1 and OS repeatedly output sequentially and given to the differential amplifier 75
2, OS3, OS4, the differential amplifier 75 removes the fluctuation of the power supply voltage Vcc. The differential amplifier 75 is provided mainly for performing drift signal compensation for removing the fluctuation of the power supply voltage. In the differential amplifier 75, the difference between the photoelectric conversion output supplied to the positive input terminal and the drift signal compensation reference voltage DOS from the DOS terminal supplied to the negative input terminal is obtained, and as a result, the photoelectric conversion is performed. The fluctuation of the power supply voltage can be removed from the output.

【0035】このように差動増幅器75で電源電圧Vc
cの変動分が除去された光電変換出力は、次段の差動増
幅器76によって遮光画素OPDの出力を基準電圧にし
たクランプ(暗時出力補償)が施される。この暗時出力
補償は、遮光画素OPD82c(図4参照)又はOPD
92c(図5参照)の出力をφOB端子からの入力信号
でタイミングをとってトランジスタQ18によりサンプ
リングした暗時出力電圧をコンデンサC15にホールド
し、このホールドした暗時出力電圧を差動増幅器76の
正入力端子に加え、かつ、差動増幅器75から出力され
た光電変換出力を負入力端子側に加えることによって実
現されている。上述のように、この暗時出力補償は、第
1乃至第3アイランドについては、各アイランドの基準
部有効画素の出力前に、基準部の遮光画素OPD82c
の出力を基準電圧にして行われるが、第4アイランドに
ついては、基準部有効画素の出力前に、基準部の遮光画
素OPD92cの出力を基準電圧にして行い、さらに、
参照部有効画素の出力前にも、参照部の遮光画素OPD
92dの出力を基準電圧にして行われる。
As described above, the power supply voltage Vc
The photoelectric conversion output from which the variation of c has been removed is subjected to clamping (dark output compensation) using the output of the light-shielded pixel OPD as a reference voltage by the differential amplifier 76 at the next stage. This dark output compensation is performed by using the light-shielded pixel OPD 82c (see FIG. 4) or the OPD
The dark output voltage sampled by the transistor Q18 is held by the capacitor C15 with the output of the output 92c (see FIG. 5) being timed by the input signal from the φOB terminal. This is realized by applying the photoelectric conversion output output from the differential amplifier 75 to the negative input terminal side in addition to the input terminal. As described above, this dark-time output compensation is performed for the first to third islands before the output of the reference portion effective pixel of each island.
Is performed using the output of the reference portion as the reference voltage. For the fourth island, the output of the light-shielded pixel OPD92c of the reference portion is performed using the reference voltage before the output of the reference portion effective pixel.
Before the output of the reference portion effective pixel, the light shielding pixel OPD of the reference portion is output.
This is performed using the output of 92d as a reference voltage.

【0036】このようにして、暗時出力補償がなされた
光電変換出力は端子116から図8に示される端子11
6へ与えられ、サンプルホールド回路117でサンプル
ホールドされる。サンプルホールド回路117は、トラ
ンジスタQ17とコンデンサC14とバッファ118と
から構成されている。
As described above, the photoelectric conversion output subjected to the dark output compensation is supplied from the terminal 116 to the terminal 11 shown in FIG.
6 is sampled and held by the sample and hold circuit 117. The sample hold circuit 117 includes a transistor Q17, a capacitor C14, and a buffer 118.

【0037】このサンプルホールド回路117の出力
は、次のコントラスト制御回路120でコントラスト制
御処理に使われる。このコントラスト制御回路120は
光電変換出力について、例えば、コントラストが低い場
合には、差動増幅器77でその光電変換出力の平均レベ
ルを基準にして増幅することによってコントラストを上
げ、また、コントラストが高い場合には、暗時出力に対
応する所定の暗時基準電圧Vrefを基準にして増幅で
きるようになっている。
The output of the sample-and-hold circuit 117 is used for a contrast control process in the next contrast control circuit 120. When the contrast is low, for example, when the contrast is low, the contrast control circuit 120 increases the contrast by amplifying the photoelectric conversion output with reference to the average level of the photoelectric conversion output. , The signal can be amplified with reference to a predetermined dark reference voltage Vref corresponding to the dark output.

【0038】このため、差動増幅器77の負入力端子に
は増幅の基準レベルとなる基準電圧が与えられる。この
基準電圧を与える基準電圧供給回路130は、平均値保
持回路121と暗時出力基準電圧保持回路122からな
る。平均値保持回路121は、暗時出力補償された第1
乃至第4アイランドの出力値を差動増幅器77の出力値
からバッファ132を介して入力することにより、第1
乃至第4アイランドの出力値の平均値を算出し、これを
保持する。この平均値保持回路121は、第1、第2、
第3、第4の各アイランドに対応して設けられた第1、
第2、第3、第4の平均値保持回路123,124,1
25,220からなる。第1平均値保持回路123はス
イッチトランジスタQ11と、バッファ126と、コン
デンサC11と、スイッチトランジスタQ12とからな
る。第2平均値保持回路124はスイッチトランジスタ
Q13と、バッファ127と、コンデンサC12と、ス
イッチトランジスタQ14とからなる。また、第3平均
値保持回路125はスイッチトランジスタQ15と、バ
ッファ128と、コンデンサC13と、スイッチトラン
ジスタQ16とからなる。さらに、第4平均値保持回路
220はスイッチトランジスタQ221と、バッファ2
22と、コンデンサC224と、スイッチトランジスタ
Q223とからなる。一方、暗時出力基準電圧保持回路
122は、暗時出力電圧と同等の電圧である暗時出力基
準電圧Vrefが与えられる端子129と、スイッチト
ランジスタQ10とからなっている。
Therefore, a reference voltage serving as a reference level for amplification is applied to the negative input terminal of the differential amplifier 77. The reference voltage supply circuit 130 that supplies the reference voltage includes an average value holding circuit 121 and a dark output reference voltage holding circuit 122. The average value holding circuit 121 outputs the first output signal compensated for darkness.
By inputting the output values of the fourth to fourth islands from the output value of the differential amplifier 77 via the buffer 132, the first island
Then, the average value of the output values of the fourth to fourth islands is calculated and held. This average value holding circuit 121 includes first, second,
The first and fourth islands provided corresponding to the third and fourth islands, respectively.
Second, third, and fourth average value holding circuits 123, 124, 1
25,220. The first average value holding circuit 123 includes a switch transistor Q11, a buffer 126, a capacitor C11, and a switch transistor Q12. The second average value holding circuit 124 includes a switch transistor Q13, a buffer 127, a capacitor C12, and a switch transistor Q14. The third average value holding circuit 125 includes a switch transistor Q15, a buffer 128, a capacitor C13, and a switch transistor Q16. Further, the fourth average value holding circuit 220 includes a switch transistor Q221 and a buffer 2
22, a capacitor C224, and a switch transistor Q223. On the other hand, the dark-time output reference voltage holding circuit 122 includes a terminal 129 to which a dark-time output reference voltage Vref, which is the same voltage as the dark-time output voltage, is provided, and a switch transistor Q10.

【0039】スイッチトランジスタQ10,Q12,Q
14,Q16,Q223は、いずれか一つのみONし
て、そのスイッチトランジスタの入力側の電圧を出力す
る。このスイッチトランジスタの出力電圧は、バッファ
131を介して差動増幅器77の負側入力端子へ加えら
れる。また、この差動増幅器77の正側入力端子へは、
各アイランドの光電変換出力がサンプルホールド回路1
17のバッファ118を介して与えられる。
Switch transistors Q10, Q12, Q
Only one of the switches 14, Q16, and Q223 is turned on to output the voltage on the input side of the switch transistor. The output voltage of this switch transistor is applied to the negative input terminal of the differential amplifier 77 via the buffer 131. Also, the positive input terminal of the differential amplifier 77 is
The photoelectric conversion output of each island is the sample and hold circuit 1.
17 via a buffer 118.

【0040】このコントラスト制御回路120は、平均
値保持回路121と暗時出力基準電圧保持回路122を
持つことによって、例えば、コントラストが低い場合に
は、各アイランドの光電変換出力の平均値を基準電圧に
して光電変換出力を増幅することによってコントラスト
を上げ、また、コントラストが高い場合には、暗時出力
に対応する所定の暗時基準電圧Vrefを基準電圧にし
て光電変換出力の増幅をすることによってコントラスト
を下げることが可能となっている。そして、この増幅さ
れた各アイランドの光電変換出力は、バッファ134を
介して、Vout出力端子135へ出力される。
The contrast control circuit 120 has an average value holding circuit 121 and a dark output reference voltage holding circuit 122. For example, when the contrast is low, the average value of the photoelectric conversion output of each island is used as the reference voltage. The contrast is increased by amplifying the photoelectric conversion output, and when the contrast is high, the photoelectric conversion output is amplified by using a predetermined dark reference voltage Vref corresponding to the dark output as a reference voltage. It is possible to lower the contrast. Then, the amplified photoelectric conversion output of each island is output to the Vout output terminal 135 via the buffer 134.

【0041】図9は、第2の実施形態による第4アイラ
ンドのセンサ構成図である。この実施形態では、MPD
91aが他のアイランドのMPD81a,81b(図
4)と同じ大きさになっている。その代わりに、モニタ
部91は、その出力アンプに相当する電荷電圧変換部9
1b及びバッファ91cの増幅率(GAIN)を、他の
アイランドのモニタ部81(図4)の出力アンプに相当
する電荷電圧変換部81c及びバッファ81dの増幅率
の略2倍とすることによって、基準部と参照部の両方に
MPDを持つ他のアイランドのモニタ部81と略同じ感
度としている。すなわち、第4アイランドに他のアイラ
ンドと同じ光量が入射するとすれば、基準部のみにMP
D91aを有する第4アイランドのモニタ部91に蓄積
される電荷量は、基準部と参照部の両方にMPD81
a,81bを持つ他のアイランドのモニタ部81に蓄積
される電荷量の半分になるが、第4アイランドのモニタ
部91の出力アンプの増幅率が他のアイランドのモニタ
部81の出力アンプの増幅率の略2倍であるので、第4
アイランドのモニタ部91からの出力電圧が他のアイラ
ンドからの出力電圧と略同じ大きさになる。
FIG. 9 is a sensor configuration diagram of a fourth island according to the second embodiment. In this embodiment, the MPD
91a has the same size as the MPDs 81a and 81b (FIG. 4) of the other islands. Instead, the monitor unit 91 includes the charge-voltage converter 9 corresponding to the output amplifier.
By setting the gain (GAIN) of the buffer 1c and the buffer 91c to approximately twice the gain of the charge-voltage converter 81c and the buffer 81d corresponding to the output amplifier of the monitor 81 (FIG. 4) of another island. The sensitivity is substantially the same as the monitor units 81 of other islands having MPDs in both the unit and the reference unit. That is, if the same amount of light is incident on the fourth island as on the other islands, the MP
The amount of charge stored in the monitor unit 91 of the fourth island having the D91a is the MPD 81 in both the reference unit and the reference unit.
Although the amount of charge stored in the monitor unit 81 of the other island having the a and 81b becomes half, the amplification factor of the output amplifier of the monitor unit 91 of the fourth island is increased by the amplification factor of the output amplifier of the monitor unit 81 of the other island. Because the rate is almost twice,
The output voltage from the monitor unit 91 of the island becomes substantially the same as the output voltage from another island.

【0042】図10は、第3の実施形態による第4アイ
ランドのセンサ構成図である。この実施形態では、MP
D91aが他のアイランドのMPD81a,81b(図
4)と同じ大きさになっている。その代わりに、モニタ
部91は、その電荷電圧変換部91bのコンデンサ容量
を、他のアイランドのモニタ部81(図4)の電荷電圧
変換部81cのコンデンサ容量C’の略2分の1の(1
/2)C’とすることによって、基準部と参照部の両方
にMPD81a,81bを持つ他のアイランドのモニタ
部81と略同じ感度としている。すなわち、第4アイラ
ンドに他のアイランドと同じ光量が入射するとすれば、
基準部のみにMPD91aを有する第4アイランドのモ
ニタ部91に蓄積される電荷量は、基準部と参照部の両
方にMPD81a,81bを持つ他のアイランドのモニ
タ部81に蓄積される電荷量の半分になるが、第4アイ
ランドのモニタ部91の電荷電圧変換部91bのコンデ
ンサ容量が他のアイランドのモニタ部81のコンデンサ
容量の略2分の1であるので、 V(電圧)=Q(電荷量)/C(コンデンサ容量) の関係式より、第4アイランドのモニタ部91からの出
力電圧が他のアイランドからの出力電圧と略同じ大きさ
になる。
FIG. 10 is a sensor configuration diagram of a fourth island according to the third embodiment. In this embodiment, MP
D91a has the same size as the MPDs 81a and 81b (FIG. 4) of the other islands. Instead, the monitoring unit 91 sets the capacitor capacitance of the charge-voltage conversion unit 91b to approximately one half of the capacitor capacitance C ′ of the charge-voltage conversion unit 81c of the monitoring unit 81 (FIG. 4) of another island ( 1
/ 2) By setting C ′, the sensitivity is substantially the same as that of the monitor unit 81 of another island having the MPDs 81a and 81b in both the reference unit and the reference unit. That is, if the same amount of light is incident on the fourth island as on the other islands,
The charge amount stored in the monitor unit 91 of the fourth island having the MPD 91a only in the reference portion is half of the charge amount stored in the monitor portions 81 of the other islands having the MPDs 81a and 81b in both the reference portion and the reference portion. However, since the capacitance of the charge-voltage converter 91b of the monitor 91 of the fourth island is approximately one half of the capacitance of the monitor 81 of the other island, V (voltage) = Q (charge amount) From the relational expression of) / C (capacitor capacitance), the output voltage from the monitor unit 91 of the fourth island is substantially the same as the output voltage from the other islands.

【0043】本発明は、上記実施形態に限られるもので
はなく、様々な変形が可能である。例えば、上記実施形
態では、一般的な被写体においては、水平方向のコント
ラストの方が垂直方向のコントラストよりも高いため
に、水平方向のアイランドについては基準部と参照部の
両方にMPDを設け、垂直方向のアイランドについては
基準部のみにMPDを設ける構成としたが、垂直方向の
コントラストの方が高い被写体に対する焦点検出を行う
ために、水平方向のアイランドについては基準部のみに
MPDを設け、垂直方向のアイランドについては基準部
と参照部の両方にMPDを設ける構成としてもよい。
The present invention is not limited to the above embodiment, and various modifications are possible. For example, in the above-described embodiment, in a general subject, the contrast in the horizontal direction is higher than the contrast in the vertical direction. Therefore, for the horizontal island, the MPD is provided in both the reference portion and the reference portion, and the vertical island is provided. Although the MPD is provided only in the reference portion for the island in the direction, the MPD is provided only in the reference portion for the island in the horizontal direction in order to perform focus detection for a subject having a higher contrast in the vertical direction. May be configured such that MPDs are provided in both the reference portion and the reference portion.

【0044】[0044]

【発明の効果】以上のように請求項1又は請求項2に記
載の発明に係る焦点検出装置によれば、複数のラインセ
ンサ対の内の一対のラインセンサについて基準部又は参
照部のいずれか一方のみにモニタ部を設け、その出力の
大きさが他のラインセンサ対のモニタ部の略2倍とした
ので、このモニタ部の感度が他のラインセンサ対のモニ
タ部と感度が異なることがなくなり、複数のラインセン
サ対が相互に交差するような場合においても、その交差
部分においてモニタ部を多層構造にしたり、ラインセン
サの周りを迂回させるといった構成をとる必要がなくな
る。このため、センサの構成を複雑にすることなく、水
平方向と垂直方向のモニタ測光を正確に行うことが可能
になり、また、センサの小型化を図ることが可能にな
る。
As described above, according to the focus detecting device according to the first or second aspect of the present invention, one of the pair of line sensors of the plurality of line sensor pairs has either the reference portion or the reference portion. Since only one of the monitor units is provided and its output is approximately twice as large as the monitor units of the other line sensor pairs, the sensitivity of this monitor unit is different from that of the other line sensor pairs. In other words, even when a plurality of line sensor pairs cross each other, it is not necessary to adopt a configuration in which the monitor unit has a multilayer structure at the crossing portion or bypasses the line sensor. For this reason, the monitor photometry in the horizontal and vertical directions can be accurately performed without complicating the configuration of the sensor, and the size of the sensor can be reduced.

【0045】また、請求項3又は請求項4に記載の発明
に係る焦点検出装置によれば、第2のラインセンサ対の
モニタ部フォトダイオードの面積を小さくできるので、
より一層モニタ部を小型化することが可能になる。
According to the focus detecting device of the third or fourth aspect, the area of the monitor photodiode of the second line sensor pair can be reduced.
The size of the monitor can be further reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施形態による焦点検出装置を構成
する光学系の斜視図である。
FIG. 1 is a perspective view of an optical system constituting a focus detection device according to an embodiment of the present invention.

【図2】焦点検出装置の制御系のブロック図である。FIG. 2 is a block diagram of a control system of the focus detection device.

【図3】焦点検出装置のイメージセンサにおけるアイラ
ンドの配置図である。
FIG. 3 is a layout diagram of islands in an image sensor of the focus detection device.

【図4】イメージセンサの第1アイランド乃至第3アイ
ランドのセンサ構成図である。
FIG. 4 is a sensor configuration diagram of first to third islands of the image sensor.

【図5】イメージセンサの第4アイランドのセンサ構成
図である。
FIG. 5 is a sensor configuration diagram of a fourth island of the image sensor.

【図6】イメージセンサとマイコンの間の制御信号のタ
イミングチャートである。
FIG. 6 is a timing chart of a control signal between the image sensor and the microcomputer.

【図7】イメージセンサにおけるアナログ信号処理部の
回路図である。
FIG. 7 is a circuit diagram of an analog signal processing unit in the image sensor.

【図8】イメージセンサにおけるアナログ信号処理部の
回路図である。
FIG. 8 is a circuit diagram of an analog signal processing unit in the image sensor.

【図9】第2の実施形態による第4アイランドのセンサ
構成図である。
FIG. 9 is a sensor configuration diagram of a fourth island according to the second embodiment.

【図10】第3の実施形態による第4アイランドのセン
サ構成図である。
FIG. 10 is a sensor configuration diagram of a fourth island according to the third embodiment.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 焦点検出装置 81 モニタ部(第2のラインセンサ対のモニタ部) 81a 基準部のモニタ部フォトダイオード(MPD) 81b 参照部のモニタ部フォトダイオード(MPD) 81c 電荷電圧変換部 81d バッファ(モニタ部出力アンプ) 82a フォトダイオードアレイ(基準部のラインセン
サ) 82b フォトダイオードアレイ(参照部のラインセン
サ) 91 モニタ部(第1のラインセンサ対のモニタ部) 91a 基準部のモニタ部フォトダイオード(MPD) 91c 電荷電圧変換部 91d バッファ(モニタ部出力アンプ) 92a フォトダイオードアレイ(基準部のラインセン
サ) 92b フォトダイオードアレイ(参照部のラインセン
サ)
Reference Signs List 1 focus detection device 81 monitor section (monitor section of second line sensor pair) 81a monitor section photodiode (MPD) 81b reference section monitor section photodiode (MPD) 81c charge-voltage converter 81d buffer (monitor section) Output amplifier) 82a Photodiode array (line sensor of reference section) 82b Photodiode array (line sensor of reference section) 91 Monitor section (monitor section of first line sensor pair) 91a Monitor section photodiode (MPD) of reference section 91c Charge-to-voltage converter 91d Buffer (monitor output amplifier) 92a Photodiode array (line sensor for reference) 92b Photodiode array (line sensor for reference)

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 光電流積分時間の決定に使用するモニタ
部を有する複数のラインセンサ対を備え、前記ラインセ
ンサ対を使用して位相差検出方式により焦点検出を行う
焦点検出装置において、 前記複数のラインセンサ対は、基準部と参照部のいずれ
か一方のみにモニタ部を有する第1のラインセンサ対
と、基準部と参照部の両方にモニタ部を有する第2のラ
インセンサ対より構成され、 前記第1のラインセンサ対のモニタ部出力の大きさを、
前記第2のラインセンサ対のモニタ部出力の略2倍にし
たことを特徴とする焦点検出装置。
1. A focus detection device comprising: a plurality of line sensor pairs having a monitor unit used for determining a photocurrent integration time; and performing focus detection by a phase difference detection method using the line sensor pairs. Are constituted by a first line sensor pair having a monitor section in only one of the reference section and the reference section, and a second line sensor pair having a monitor section in both the reference section and the reference section. The magnitude of the output of the monitor unit of the first line sensor pair is
A focus detection device wherein the output of the monitor unit of the second line sensor pair is substantially doubled.
【請求項2】 前記第1のラインセンサ対のモニタ部フ
ォトダイオード面積を、前記第2のラインセンサ対の基
準部又は参照部のモニタ部フォトダイオード面積の略2
倍にすることによって、前記第1のラインセンサ対のモ
ニタ部出力の大きさを、前記第2のラインセンサ対のモ
ニタ部出力の略2倍にしたことを特徴とする請求項1に
記載の焦点検出装置。
2. The area of the monitor photodiode of the first line sensor pair is substantially equal to the area of the monitor photodiode of the reference or reference section of the second line sensor pair.
2. The size of the output of the monitor unit of the first pair of line sensors is approximately twice as large as the output of the monitor unit of the second pair of line sensors by doubling. Focus detection device.
【請求項3】 前記第1のラインセンサ対のモニタ部出
力アンプの増幅率を、前記第2のラインセンサ対のモニ
タ部出力アンプの増幅率の略2倍にすることによって、
前記第1のラインセンサ対のモニタ部出力の大きさを、
前記第2のラインセンサ対のモニタ部出力の略2倍にし
たことを特徴とする請求項1に記載の焦点検出装置。
3. An amplification factor of a monitor output amplifier of the first line sensor pair is made approximately twice as large as an amplification factor of a monitor output amplifier of the second line sensor pair.
The magnitude of the output of the monitor unit of the first line sensor pair is
2. The focus detection device according to claim 1, wherein the output of the monitor unit of the second line sensor pair is substantially doubled.
【請求項4】 前記第1のラインセンサ対のモニタ部の
電荷電圧変換部のコンデンサ容量を、前記第2のライン
センサ対のモニタ部の電荷電圧変換部のコンデンサ容量
の略2分の1にすることによって、前記第1のラインセ
ンサ対のモニタ部出力の大きさを、前記第2のラインセ
ンサ対のモニタ部出力の略2倍にしたことを特徴とする
請求項1に記載の焦点検出装置。
4. The capacitance of the charge-voltage converter of the monitor of the first line sensor pair is reduced to approximately one half of the capacitance of the charge-voltage converter of the monitor of the second line sensor pair. The focus detection according to claim 1, wherein the magnitude of the output of the monitor unit of the first pair of line sensors is made approximately twice as large as the output of the monitor unit of the second pair of line sensors. apparatus.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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