JP3529810B2 - 光デイスク装置 - Google Patents
光デイスク装置Info
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Description
【０００１】
【目次】以下の順序で本発明を説明する。
産業上の利用分野
従来の技術
発明が解決しようとする課題
課題を解決するための手段（図１〜図３）
作用（図１〜図３）
実施例
（１）実施例の構成（図１及び図２）
（２）実施例の効果
（３）他の実施例（図３）
発明の効果
【０００２】
【産業上の利用分野】本発明は光デイスク装置に関し、
特にデイスク状記録媒体に光ビームを照射して所望のデ
ータを記録再生する光デイスク装置に適用して好適なも
のである。
特にデイスク状記録媒体に光ビームを照射して所望のデ
ータを記録再生する光デイスク装置に適用して好適なも
のである。
【０００３】
【従来の技術】従来、この種の光デイスク装置において
は、トラツキングコイルを駆動することにより、対物レ
ンズを光デイスクの半径方向に可動し、これによりトラ
ツキング制御し得るようになされている。
は、トラツキングコイルを駆動することにより、対物レ
ンズを光デイスクの半径方向に可動し、これによりトラ
ツキング制御し得るようになされている。
【０００４】すなわちこの種の光デイスク装置は、光ピ
ツクアツプにおいて、レーザーダイオードから光ビーム
を射出し、この光ビームを対物レンズで光デイスクに集
光する。光デイスク装置は、この対物レンズを所定の保
持部材で保持し、さらにこの保持部材を所定のバネ状部
材で光ピツクアツプのベースに保持する。
ツクアツプにおいて、レーザーダイオードから光ビーム
を射出し、この光ビームを対物レンズで光デイスクに集
光する。光デイスク装置は、この対物レンズを所定の保
持部材で保持し、さらにこの保持部材を所定のバネ状部
材で光ピツクアツプのベースに保持する。
【０００５】これにより光ピツクアツプは、対物レンズ
を光ビームの光路上、所定の可動中心位置を中心にして
上下左右に変位し得るように保持し、光デイスク装置
は、フオーカスアクチユエータ及びトラツキングアクチ
ユエータを駆動してこの対物レンズをそれぞれ上下左右
に可動し得るようになされている。
を光ビームの光路上、所定の可動中心位置を中心にして
上下左右に変位し得るように保持し、光デイスク装置
は、フオーカスアクチユエータ及びトラツキングアクチ
ユエータを駆動してこの対物レンズをそれぞれ上下左右
に可動し得るようになされている。
【０００６】ここでフオーカスアクチユエータ及びトラ
ツキングアクチユエータは、光ピツクアツプのベースに
支持されて所定磁界を形成するようになされた磁気回路
と、上記磁気回路に形成されたギヤツプに介挿されて対
物レンズの支持部材に支持されたフオーカスコイル及び
トラツキングコイルとで形成され、これによりフオーカ
スコイル及びトラツキングコイルに加える駆動電流に応
じて、対物レンズをそれぞれ上下左右に可動し得るよう
になされている。
ツキングアクチユエータは、光ピツクアツプのベースに
支持されて所定磁界を形成するようになされた磁気回路
と、上記磁気回路に形成されたギヤツプに介挿されて対
物レンズの支持部材に支持されたフオーカスコイル及び
トラツキングコイルとで形成され、これによりフオーカ
スコイル及びトラツキングコイルに加える駆動電流に応
じて、対物レンズをそれぞれ上下左右に可動し得るよう
になされている。
【０００７】これにより光デイスク装置においては、フ
オーカスエラー信号及びトラツキングエラー信号に基づ
いて、このフオーカスアクチユエータ及びトラツキング
アクチユエータを駆動してフオーカス制御及びトラツキ
ング制御し得るようになされている。
オーカスエラー信号及びトラツキングエラー信号に基づ
いて、このフオーカスアクチユエータ及びトラツキング
アクチユエータを駆動してフオーカス制御及びトラツキ
ング制御し得るようになされている。
【０００８】さらに光デイスク装置においては、所定の
リニアアクチユエータを駆動して光デイスクの半径方向
に光ピツクアツプをシークし得るようになされ、これに
より必要に応じて光ビームの照射位置を移動させて所望
の記録トラツクをアクセスし得るようになされている。
リニアアクチユエータを駆動して光デイスクの半径方向
に光ピツクアツプをシークし得るようになされ、これに
より必要に応じて光ビームの照射位置を移動させて所望
の記録トラツクをアクセスし得るようになされている。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】ところでこの種の光デ
イスク装置においては、シークに要する時間を短くする
ことができれば、その分アクセス時間を短縮することが
できる。このためには光ピツクアツプを高速度で移動さ
せる必要がある。
イスク装置においては、シークに要する時間を短くする
ことができれば、その分アクセス時間を短縮することが
できる。このためには光ピツクアツプを高速度で移動さ
せる必要がある。
【００１０】ところが光ピツクアツプを高速度で移動さ
せると、その際の加減速により対物レンズが自由振動す
る問題がある。このため光ピツクアツプを移動させた後
整定するまでの期間の間、実際上、光デイスク装置にお
いては、データを記録再生し得ず、結局アクセス時間が
長くなる欠点があつた。
せると、その際の加減速により対物レンズが自由振動す
る問題がある。このため光ピツクアツプを移動させた後
整定するまでの期間の間、実際上、光デイスク装置にお
いては、データを記録再生し得ず、結局アクセス時間が
長くなる欠点があつた。
【００１１】この問題を解決するため光ピツクアツプに
カウンタウエイトを設けて自由振動を低減する方法が考
えられるが、この場合光ピツクアツプの構成が煩雑にな
り、さらに光ピツクアツプ自体の重量も増加し、光ピツ
クアツプを高速度で移動し得なくなる問題がある。これ
に対して位置検出手段を光ピツクアツプに設け、この位
置検出手段で対物レンズの位置を検出すると共に、その
位置検出結果に基づいてトラツキングコイルを駆動する
ことにより、対物レンズを所定位置に保持する方法も考
えられる。ところがこの方法の場合も光ピツクアツプの
構成が煩雑になる欠点があり、実用上未だ不十分な問題
がある。
カウンタウエイトを設けて自由振動を低減する方法が考
えられるが、この場合光ピツクアツプの構成が煩雑にな
り、さらに光ピツクアツプ自体の重量も増加し、光ピツ
クアツプを高速度で移動し得なくなる問題がある。これ
に対して位置検出手段を光ピツクアツプに設け、この位
置検出手段で対物レンズの位置を検出すると共に、その
位置検出結果に基づいてトラツキングコイルを駆動する
ことにより、対物レンズを所定位置に保持する方法も考
えられる。ところがこの方法の場合も光ピツクアツプの
構成が煩雑になる欠点があり、実用上未だ不十分な問題
がある。
【００１２】本発明は以上の点を考慮してなされたもの
で、簡易な構成でシーク時における対物レンズの自由振
動を抑制することができる光デイスク装置を提案しよう
とするものである。
で、簡易な構成でシーク時における対物レンズの自由振
動を抑制することができる光デイスク装置を提案しよう
とするものである。
【００１３】
【課題を解決するための手段】かかる課題を解決するた
め本発明においては、光ピツクアツプ２から射出される
光ビームをデイスク状記録媒体に照射して所望のデータ
を記録再生し、光ピツクアツプ２をデイスク状記録媒体
の半径方向にシークして所望の記録トラツクをアクセス
する光デイスク装置１であつて、当該光ピツクアツプ２
は、レーザ光源から射出された光ビームをデイスク状記
録媒体に照射する対物レンズＬと、所定の磁界を形成す
る磁気回路のギヤツプに介挿されて保持され、駆動電流
に応じて対物レンズＬを所定の可動中心からデイスク状
記録媒体の半径方向に可動するトラツキングコイル１２
とを一体に保持し、光デイスク装置１は、トラツキング
時、所定の駆動信号をトラツキングコイル１２に印加し
てトラツキング制御するトラツキング制御回路６、７、
９、１０と、シーク時、駆動信号に代えて変位抑制信号
をトラツキングコイル１２に印加し、対物レンズＬの変
位を抑制する変位抑制回路８、９、１０、１１、１３、
１４、１５、１６とが設けられ、当該変位抑制回路８、
９、１０、１１、１３、１４、１５、１６が、シーク
時、所定周期で接点を切り換えることにより所定期間Ｔ
３の間、変位抑制信号をトラツキングコイル１２に印加
し、続く所定期間Ｔ１の間、トラツキングコイル１２の
端子電圧を出力する選択手段１１と、当該選択手段１１
から出力されるトラツキングコイル１２の端子電圧に基
づいて対物レンズＬの変位速度を検出し、当該検出結果
に基づいて変位抑制信号を生成する抑制信号生成回路
８、９、１０、１３、１４、１５、１６とを有するよう
にした。
め本発明においては、光ピツクアツプ２から射出される
光ビームをデイスク状記録媒体に照射して所望のデータ
を記録再生し、光ピツクアツプ２をデイスク状記録媒体
の半径方向にシークして所望の記録トラツクをアクセス
する光デイスク装置１であつて、当該光ピツクアツプ２
は、レーザ光源から射出された光ビームをデイスク状記
録媒体に照射する対物レンズＬと、所定の磁界を形成す
る磁気回路のギヤツプに介挿されて保持され、駆動電流
に応じて対物レンズＬを所定の可動中心からデイスク状
記録媒体の半径方向に可動するトラツキングコイル１２
とを一体に保持し、光デイスク装置１は、トラツキング
時、所定の駆動信号をトラツキングコイル１２に印加し
てトラツキング制御するトラツキング制御回路６、７、
９、１０と、シーク時、駆動信号に代えて変位抑制信号
をトラツキングコイル１２に印加し、対物レンズＬの変
位を抑制する変位抑制回路８、９、１０、１１、１３、
１４、１５、１６とが設けられ、当該変位抑制回路８、
９、１０、１１、１３、１４、１５、１６が、シーク
時、所定周期で接点を切り換えることにより所定期間Ｔ
３の間、変位抑制信号をトラツキングコイル１２に印加
し、続く所定期間Ｔ１の間、トラツキングコイル１２の
端子電圧を出力する選択手段１１と、当該選択手段１１
から出力されるトラツキングコイル１２の端子電圧に基
づいて対物レンズＬの変位速度を検出し、当該検出結果
に基づいて変位抑制信号を生成する抑制信号生成回路
８、９、１０、１３、１４、１５、１６とを有するよう
にした。
【００１４】さらに第２の発明において、変位抑制回路
８、９、１０、１１、１３、１４、１５、１６は、所定
の増幅回路２０を介して変位抑制信号をトラツキングコ
イル１２に出力し、増幅回路２０の動作を停止制御する
ことにより、選択手段１１を増幅回路２０に一体化し、
所定期間Ｔ３の間、変位抑制信号をトラツキングコイル
１２に印加する。
８、９、１０、１１、１３、１４、１５、１６は、所定
の増幅回路２０を介して変位抑制信号をトラツキングコ
イル１２に出力し、増幅回路２０の動作を停止制御する
ことにより、選択手段１１を増幅回路２０に一体化し、
所定期間Ｔ３の間、変位抑制信号をトラツキングコイル
１２に印加する。
【００１５】
【作用】従つて、変位抑制回路８、９、１０、１１、１
３、１４、１５、１６を設け、所定周期で選択手段１１
の接点を切り換え、期間Ｔ３の間、変位抑制信号をトラ
ツキングコイル１２に印加し、続く期間Ｔ１の間、トラ
ツキングコイル１２の端子電圧を出力してこのトラツキ
ングコイル１２の端子電圧に基づいて対物レンズＬの変
位速度を検出すると共に、当該検出結果に基づいて変位
抑制信号を生成すれば、時間分割でトラツキングコイル
１２の動作を切り換えて対物レンズＬの変位速度を検出
し、その変位を抑制し得る。
３、１４、１５、１６を設け、所定周期で選択手段１１
の接点を切り換え、期間Ｔ３の間、変位抑制信号をトラ
ツキングコイル１２に印加し、続く期間Ｔ１の間、トラ
ツキングコイル１２の端子電圧を出力してこのトラツキ
ングコイル１２の端子電圧に基づいて対物レンズＬの変
位速度を検出すると共に、当該検出結果に基づいて変位
抑制信号を生成すれば、時間分割でトラツキングコイル
１２の動作を切り換えて対物レンズＬの変位速度を検出
し、その変位を抑制し得る。
【００１６】
【実施例】以下図面について、本発明の一実施例を詳述
する。
する。
【００１７】（１）実施例の構成
図１において、１は全体として光デイスク装置を示し、
光ピツクアツプ２を光デイスクの半径方向に可動して所
望の記録トラツクをアクセスする。
光ピツクアツプ２を光デイスクの半径方向に可動して所
望の記録トラツクをアクセスする。
【００１８】ここで光ピツクアツプ２は、レーザーダイ
オードから光ビームを射出し、対物レンズＬでこの光ビ
ームを光デイスクに集光する。さらに光ピツクアツプ
は、この光ビームの反射光を対物レンズＬで集光して所
定の受光素子で受光するようになされ、これにより光デ
イスク装置１は、この受光結果に基づいてトラツキング
エラー信号ＴＥ及びフオーカスエラー信号を生成し得る
ようになされている。これによりフオーカス駆動回路３
は、このフオーカスエラー信号を基準にしてフオーカス
コイル４を駆動してフオーカス制御し得るようになされ
ている。
オードから光ビームを射出し、対物レンズＬでこの光ビ
ームを光デイスクに集光する。さらに光ピツクアツプ
は、この光ビームの反射光を対物レンズＬで集光して所
定の受光素子で受光するようになされ、これにより光デ
イスク装置１は、この受光結果に基づいてトラツキング
エラー信号ＴＥ及びフオーカスエラー信号を生成し得る
ようになされている。これによりフオーカス駆動回路３
は、このフオーカスエラー信号を基準にしてフオーカス
コイル４を駆動してフオーカス制御し得るようになされ
ている。
【００１９】さらに光デイスク装置１は、トラツキング
エラー信号ＴＥを増幅回路６で増幅した後、位相補償回
路７で位相補償する。さらに光デイスク装置１は、この
位相補償回路７の出力信号を選択回路８を介して増幅回
路９及び１０に出力し、これによりこの増幅回路９及び
１０の出力信号をトラツキングコイル１２に印加してト
ラツキング制御し得るようになされている。
エラー信号ＴＥを増幅回路６で増幅した後、位相補償回
路７で位相補償する。さらに光デイスク装置１は、この
位相補償回路７の出力信号を選択回路８を介して増幅回
路９及び１０に出力し、これによりこの増幅回路９及び
１０の出力信号をトラツキングコイル１２に印加してト
ラツキング制御し得るようになされている。
【００２０】このとき光デイスク装置１は、選択回路１
１を介して増幅回路９及び１０の出力信号をトラツキン
グコイル１２に出力するようになされ、これによりシー
ク時、所定周期で選択回路１１の接点を切り換えて、対
物レンズＬの変位を抑制し得るようになされている。因
みにこの繰り返しの周波数は、この実施例の場合、対物
レンズＬが自由振動する際の振動周波数の約10倍の周波
数になるように選定されている。すなわちトラツキング
コイル１２においては、所定磁界を形成する磁気回路中
のギヤツプに保持されることにより、増幅回路９及び１
０との間の接続を切り離して保持すると、端子電圧を検
出してこの磁気回路に対する対物レンズＬの変位速度を
検出することができる。
１を介して増幅回路９及び１０の出力信号をトラツキン
グコイル１２に出力するようになされ、これによりシー
ク時、所定周期で選択回路１１の接点を切り換えて、対
物レンズＬの変位を抑制し得るようになされている。因
みにこの繰り返しの周波数は、この実施例の場合、対物
レンズＬが自由振動する際の振動周波数の約10倍の周波
数になるように選定されている。すなわちトラツキング
コイル１２においては、所定磁界を形成する磁気回路中
のギヤツプに保持されることにより、増幅回路９及び１
０との間の接続を切り離して保持すると、端子電圧を検
出してこの磁気回路に対する対物レンズＬの変位速度を
検出することができる。
【００２１】これによりこの端子電圧が０レベルになる
ように、対物レンズＬを保持すれば、光デイスク装置１
においては、対物レンズＬの変位を抑制することがで
き、対物レンズＬの自由振動を有効に回避することがで
きる。このときトラツキングコイル１２の動作を時分割
で切り換え、この対物レンズＬの変位速度の検出と、こ
の変位を抑制する動作とを同じトラツキングコイル１２
で実行すれば、その分光ピツクアツプ２の構成を簡易化
することができる。
ように、対物レンズＬを保持すれば、光デイスク装置１
においては、対物レンズＬの変位を抑制することがで
き、対物レンズＬの自由振動を有効に回避することがで
きる。このときトラツキングコイル１２の動作を時分割
で切り換え、この対物レンズＬの変位速度の検出と、こ
の変位を抑制する動作とを同じトラツキングコイル１２
で実行すれば、その分光ピツクアツプ２の構成を簡易化
することができる。
【００２２】このためこの実施例において、光デイスク
装置１は、図２に示すように、所定の切り換え信号Ｓ１
に基づいて選択回路１１の接点を所定周期で切り換え、
所定期間Ｔ１の間、トラツキングコイル１２の端子電圧
を増幅回路１３に出力する（図２（Ａ））。増幅回路１
３は、反転入力端及び非反転入力端にこのトラツキング
コイル１２の端子電圧を入力し、所定利得で増幅してス
イツチ回路１４に出力する。
装置１は、図２に示すように、所定の切り換え信号Ｓ１
に基づいて選択回路１１の接点を所定周期で切り換え、
所定期間Ｔ１の間、トラツキングコイル１２の端子電圧
を増幅回路１３に出力する（図２（Ａ））。増幅回路１
３は、反転入力端及び非反転入力端にこのトラツキング
コイル１２の端子電圧を入力し、所定利得で増幅してス
イツチ回路１４に出力する。
【００２３】スイツチ回路１４は、サンプルホールドコ
ンデンサ１５と共にサンプルホールド回路を形成し、切
り換え信号Ｓ２に基づいて、期間Ｔ１が終了する直前の
期間Ｔ２の間、オン状態に切り換わり、これにより増幅
回路１３の出力信号をサンプルホールドコンデンサ１５
にサンプルホールドする。なおこの実施例において光デ
イスク装置１は、期間Ｔ１で選択回路１１の接点を切り
換えた後、増幅回路１３の出力信号をサンプルホールド
するまでの期間を充分に確保し、これによりトラツキン
グコイル１２の駆動を停止して発生する逆起電圧が充分
に抑圧された後、トラツキングコイル１２の端子電圧を
サンプルホールドし得るようになされている。
ンデンサ１５と共にサンプルホールド回路を形成し、切
り換え信号Ｓ２に基づいて、期間Ｔ１が終了する直前の
期間Ｔ２の間、オン状態に切り換わり、これにより増幅
回路１３の出力信号をサンプルホールドコンデンサ１５
にサンプルホールドする。なおこの実施例において光デ
イスク装置１は、期間Ｔ１で選択回路１１の接点を切り
換えた後、増幅回路１３の出力信号をサンプルホールド
するまでの期間を充分に確保し、これによりトラツキン
グコイル１２の駆動を停止して発生する逆起電圧が充分
に抑圧された後、トラツキングコイル１２の端子電圧を
サンプルホールドし得るようになされている。
【００２４】位相補償回路１６は、サンプルホールドコ
ンデンサ１５のサンプルホールド信号を位相補償し、得
られた変位抑制信号を選択回路８を介して増幅回路９及
び１０に出力する。かくするにつき選択回路８は、トラ
ツキング制御時とシーク時とで接点を切り換え、トラツ
キング制御時、位相補償回路７の出力信号を増幅回路９
及び１０に出力するのに対し、シーク時、位相補償回路
１６の出力信号（すなわち、変位抑制信号）を増幅回路
９及び１０に出力する。これにより続く期間Ｔ３の間、
選択回路１１は、増幅回路９及び１０の出力信号をトラ
ツキングコイル１２に出力するように接点を切り換え、
これにより光デイスク装置１は、トラツキングコイル１
２を用いて期間Ｔ１の間で検出した対物レンズＬの変位
速度検出結果に基づいて、続く期間Ｔ３の間、この変位
を抑制するようにトラツキングコイル１２を駆動するよ
うになされている。
ンデンサ１５のサンプルホールド信号を位相補償し、得
られた変位抑制信号を選択回路８を介して増幅回路９及
び１０に出力する。かくするにつき選択回路８は、トラ
ツキング制御時とシーク時とで接点を切り換え、トラツ
キング制御時、位相補償回路７の出力信号を増幅回路９
及び１０に出力するのに対し、シーク時、位相補償回路
１６の出力信号（すなわち、変位抑制信号）を増幅回路
９及び１０に出力する。これにより続く期間Ｔ３の間、
選択回路１１は、増幅回路９及び１０の出力信号をトラ
ツキングコイル１２に出力するように接点を切り換え、
これにより光デイスク装置１は、トラツキングコイル１
２を用いて期間Ｔ１の間で検出した対物レンズＬの変位
速度検出結果に基づいて、続く期間Ｔ３の間、この変位
を抑制するようにトラツキングコイル１２を駆動するよ
うになされている。
【００２５】（２）実施例の効果
以上の構成によれば、トラツキングコイルの動作を時間
分割で切り換え、トラツキングコイルで検出した対物レ
ンズの変位検出結果に基づいて、この変位を抑制するよ
うにトラツキングコイル１２を駆動することにより、簡
易な構成でシーク時における対物レンズの自由振動を抑
圧することができる。
分割で切り換え、トラツキングコイルで検出した対物レ
ンズの変位検出結果に基づいて、この変位を抑制するよ
うにトラツキングコイル１２を駆動することにより、簡
易な構成でシーク時における対物レンズの自由振動を抑
圧することができる。
【００２６】（３）他の実施例
なお上述の実施例においては、トラツキングコイルの端
子電圧をアナログ信号処理する場合について述べたが、
本発明はこれに限らず、デイジタル信号処理するように
してもよい。すなわち図３に示すように、増幅回路１３
を介して得られるトラツキングコイル１２の端子電圧を
アナログデイジタル変換回路（Ａ／Ｄ）１９でデイジタ
ル信号に変換した後演算処理回路に出力する。
子電圧をアナログ信号処理する場合について述べたが、
本発明はこれに限らず、デイジタル信号処理するように
してもよい。すなわち図３に示すように、増幅回路１３
を介して得られるトラツキングコイル１２の端子電圧を
アナログデイジタル変換回路（Ａ／Ｄ）１９でデイジタ
ル信号に変換した後演算処理回路に出力する。
【００２７】これにより光デイスク装置においては、こ
の演算処理回路でトラツキングエラー信号を処理すると
共に、シーク時、アナログデイジタル変換回路１９の出
力信号を処理し、これによりトラツキングコイル１２の
駆動信号を生成する。このようにすればトラツキング制
御回路を利用して簡易に対物レンズの自由振動を抑圧す
ることができる。
の演算処理回路でトラツキングエラー信号を処理すると
共に、シーク時、アナログデイジタル変換回路１９の出
力信号を処理し、これによりトラツキングコイル１２の
駆動信号を生成する。このようにすればトラツキング制
御回路を利用して簡易に対物レンズの自由振動を抑圧す
ることができる。
【００２８】さらにこの場合演算処理回路からトラツキ
ング制御用の駆動信号及び変位抑制用の駆動信号を切り
換えて出力し、デイジタルアナログ変換回路を介して増
幅回路２０に出力する。これにより図１について上述し
たスイツチ回路８も省略することができる。さらにこの
増幅回路２０としてイネーブル端子を有する増幅回路を
適用することにより、このイネーブル端子の電圧を切り
換えて増幅回路２０の動作を停止制御し得、増幅回路２
０で選択回路１１を兼用することができる。
ング制御用の駆動信号及び変位抑制用の駆動信号を切り
換えて出力し、デイジタルアナログ変換回路を介して増
幅回路２０に出力する。これにより図１について上述し
たスイツチ回路８も省略することができる。さらにこの
増幅回路２０としてイネーブル端子を有する増幅回路を
適用することにより、このイネーブル端子の電圧を切り
換えて増幅回路２０の動作を停止制御し得、増幅回路２
０で選択回路１１を兼用することができる。
【００２９】
【発明の効果】上述のように本発明によれば、シーク
時、トラツキングコイルの動作を切り換え、トラツキン
グコイルで対物レンズの変位速度を検出すると共に、そ
の検出結果に基づいて変位抑制信号を生成してトラツキ
ングコイルを駆動することにより、簡易な構成で対物レ
ンズの自由振動を抑制し得、これにより簡易な構成でア
クセス時間を短くすることができる光デイスク装置を得
ることができる。
時、トラツキングコイルの動作を切り換え、トラツキン
グコイルで対物レンズの変位速度を検出すると共に、そ
の検出結果に基づいて変位抑制信号を生成してトラツキ
ングコイルを駆動することにより、簡易な構成で対物レ
ンズの自由振動を抑制し得、これにより簡易な構成でア
クセス時間を短くすることができる光デイスク装置を得
ることができる。
【図１】本発明の一実施例による光デイスク装置を示す
ブロツク図である。
ブロツク図である。
【図２】その動作の説明に供する信号波形図である。
【図３】他の実施例を示すブロツク図である。
１……光デイスク装置、２……光ピツクアツプ、６、
９、１０、１３……増幅回路、８、１１……選択回路、
１２……トラツキングコイル、１４……スイツチ回路、
１４……サンプルホールドコンデンサ、Ｌ……対物レン
ズ。
９、１０、１３……増幅回路、８、１１……選択回路、
１２……トラツキングコイル、１４……スイツチ回路、
１４……サンプルホールドコンデンサ、Ｌ……対物レン
ズ。
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(56)参考文献 特開 昭57−94940（ＪＰ，Ａ)
特開 昭58−26331（ＪＰ，Ａ)
特開 昭59−193553（ＪＰ，Ａ)
特開 昭59−207439（ＪＰ，Ａ)
特開 昭52−26412（ＪＰ，Ａ)
Claims (2)
- 【請求項１】光ピツクアツプから射出される光ビームを
デイスク状記録媒体に照射して所望のデータを記録再生
し、上記光ピツクアツプを上記デイスク状記録媒体の半
径方向にシークして所望の記録トラツクをアクセスする
光デイスク装置であつて、 上記光ピツクアツプは、 レーザ光源から射出された上記光ビームを上記デイスク
状記録媒体に照射する対物レンズと、 所定の磁界を形成する磁気回路のギヤツプに介挿されて
保持され、駆動電流に応じて上記対物レンズを所定の可
動中心から上記デイスク状記録媒体の上記半径方向に可
動するトラツキングコイルとを一体に保持し、 上記光デイスク装置は、 トラツキング時、所定の駆動信号を上記トラツキングコ
イルに印加してトラツキング制御するトラツキング制御
回路と、 シーク時、上記駆動信号に代えて変位抑制信号を上記ト
ラツキングコイルに印加し、上記対物レンズの変位を抑
制する変位抑制回路とを具え、 上記変位抑制回路は、 上記シーク時、所定周期で接点を切り換えることにより
所定期間の間、上記変位抑制信号を上記トラツキングコ
イルに印加し、続く所定期間の間、上記トラツキングコ
イルの端子電圧を出力する選択手段と、 上記選択手段から出力される上記トラツキングコイルの
上記端子電圧に基づいて上記対物レンズの変位速度を検
出し、当該検出結果に基づいて上記変位抑制信号を生成
する抑制信号生成回路とを具えることを特徴とする光デ
イスク装置。 - 【請求項２】上記変位抑制回路は、所定の増幅回路を介
して上記変位抑制信号を上記トラツキングコイルに出力
し、上記増幅回路の動作を停止制御することにより、上
記選択手段を上記増幅回路に一体化して上記所定期間、
上記変位抑制信号を上記トラツキングコイルに印加する
ことを特徴とする請求項１に記載の光デイスク装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14015493A JP3529810B2 (ja) | 1993-05-18 | 1993-05-18 | 光デイスク装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14015493A JP3529810B2 (ja) | 1993-05-18 | 1993-05-18 | 光デイスク装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06333242A JPH06333242A (ja) | 1994-12-02 |
| JP3529810B2 true JP3529810B2 (ja) | 2004-05-24 |
Family
ID=15262129
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14015493A Expired - Fee Related JP3529810B2 (ja) | 1993-05-18 | 1993-05-18 | 光デイスク装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3529810B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100319519B1 (ko) * | 1997-12-17 | 2002-02-19 | 이형도 | 픽업 엑츄에이터의 미세 요철 패턴 인식 및 판독구조 |
| KR19990075279A (ko) * | 1998-03-18 | 1999-10-15 | 구자홍 | 광디스크의 트랙 액세스 장치 및 방법 |
-
1993
- 1993-05-18 JP JP14015493A patent/JP3529810B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH06333242A (ja) | 1994-12-02 |
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