JP3503835B2 - ポジ型フオトレジスト組成物 - Google Patents

ポジ型フオトレジスト組成物

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JP3503835B2 JP00279095A JP279095A JP3503835B2 JP 3503835 B2 JP3503835 B2 JP 3503835B2 JP 00279095 A JP00279095 A JP 00279095A JP 279095 A JP279095 A JP 279095A JP 3503835 B2 JP3503835 B2 JP 3503835B2
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  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はアルカリ可溶性樹脂と特
定の1,2−キノンジアジド化合物を含有し、紫外線、
遠紫外線、X線、電子線、分子線、γ線、シンクロトロ
ン放射線等の輻射線に感応するポジ型フオトレジスト組
成物に関するものであり、更に詳しくは、膜厚の変動に
よらず高い解像力、及び高感度が得られ、且つ現像ラチ
チュードの良好な、微細加工用ポジ型フオトレジストに
関するものである。
【0002】
【従来の技術】ポジ型フオトレジストは、半導体ウエハ
ー、ガラス、セラミツクスもしくは金属等の基板上にス
ピン塗布法もしくはローラー塗布法で0.5〜2μmの
厚みに塗布される。その後、加熱、乾燥し、露光マスク
を介して回路パターン等を紫外線照射等により焼き付
け、必要により露光後ベークを施してから現像してポジ
画像が形成される。更にこのポジ画像をマスクとしてエ
ツチングすることにより、基板上にパターン状の加工を
施すことができる。代表的な応用分野にはIC等の半導
体製造工程、液晶、サーマルヘツド等の回路基板の製
造、その他のフオトフアブリケーシヨン工程等がある。
ポジ型フオトレジスト組成物としては、一般にノボラッ
ク等のアルカリ可溶性樹脂結合剤と感光物としてのナフ
トキノンジアジド化合物とを含む組成物が用いられてい
る。結合剤としてのノボラツク樹脂は、膨潤することな
くアルカリ水溶液に溶解可能であり、また生成した画像
をエツチングのマスクとして使用する際に特にプラズマ
エツチングに対して高い耐性を与えるが故に本用途に特
に有用である。また、感光物に用いるナフトキノンジア
ジド化合物は、それ自身ノボラツク樹脂のアルカリ溶解
性を低下せしめる溶解阻止剤として作用するが、光照射
を受けて分解するとアルカリ可溶性物質を生じてむしろ
ノボラツク樹脂のアルカリ溶解度を高める働きをする点
で特異であり、この光に対する大きな性質変化の故にポ
ジ型フオトレジストの感光物として特に有用である。こ
れまで、かかる観点からノボラツク樹脂とナフトキノン
ジアジド系感光物を含有する数多くのポジ型フオトレジ
ストが開発、実用化されてきた。特に高解像力に向けて
のレジスト材料の進歩にはめざましいものがあり、サブ
ミクロンまでの線幅加工においては十分な成果を収めて
きた。
【0003】従来、解像力を高め、パターン形状の良い
画像再現を得るには、高いコントラスト(γ値)を有す
るレジストの使用が有利とされ、このような目的に合う
レジスト組成物の技術開発が行われてきた。かかる技術
を開示する刊行物は極めて多数に上る。特にポジ型フオ
トレジストの主要部分であるノボラック樹脂に関して
は、そのモノマー組成、分子量分布、合成の方法等に関
して多くの特許出願がなされており、一定の成果を収め
てきた。また、もう一つの主要成分である感光物につい
ても、高コントラスト化に有効とされる多くの構造の化
合物が開示されてきている。これらの技術を利用してポ
ジ型フオトレジストを設計すれば、光の波長と同程度の
寸法のパターンを解像できる超高解像力レジストを開発
することも可能となってきている。
【0004】しかし、集積回路はその集積度をますます
高めており、超LSIなどの半導体基板の製造において
は0.5μmあるいはそれ以下の線幅から成る超微細パ
ターンの加工が必要とされる様になってきている。かか
る用途においては、特に安定して高い解像力が得られ、
常に一定の加工線幅を確保する上で広い現像ラチチュー
ドを有するフオトレジストが要求されている。また、回
路の加工欠陥を防止するために現像後のレジストのパタ
ーンに、レジスト残渣が発生しないことが求められてい
る。
【0005】また、特に0.5μm以下のような超微細
パターンの形成においては、例えば、ある塗布膜厚で一
定の解像力が得られたとしても、塗布膜厚を僅かに変え
ただけで得られる解像力が劣化してしまう現象(以降、
「膜厚依存性」と呼ぶ)があることが判ってきた。驚く
べきことに、膜厚が僅かに百分の数μm変化するだけで
解像力が大きく変化し、しかも、現在市販されている代
表的なポジ型フオトレジストのいずれをとっても、多か
れ少なかれ、このような傾向があることも判った。具体
的には、露光前のレジスト膜の厚みが所定膜厚に対して
λ/4n(λは露光波長、nはその波長におけるレジス
ト膜の屈折率)の範囲で変化すると、これに対して得ら
れる解像力が変動するのである。この膜厚依存性の問題
は、例えば、SPIE Proceedings第1925巻626頁(1993年)
においてその存在が指摘されており、これがレジスト膜
内の光の多重反射効果によって引き起こされることが述
べられている。
【0006】特に、高解像力と矩形の断面形状のパター
ンが得られるようにレジストのコントラストを高めよう
とすると、この膜厚依存性が大きくなる場合が多いこと
が判った。実際に半導体基板を加工する際には、基板面
にある凹凸や、塗布膜厚のムラによって場所ごとに微妙
に異なる膜厚で塗布されたレジスト膜を使ってパターン
を形成することになる。従って、ポジ型フオトレジスト
を使ってその解像の限界に近い微細加工を実施する上で
は、この膜厚依存性が一つの障害となっていた。
【0007】これまで、解像力を高めるためにある特定
構造を有するポリヒドロキシ化合物の1,2−ナフトキ
ノンジアジド化合物が数多く提案されている。例えば、
特開昭57−63526、同60−163043、同6
2−10645、同62−10646、同62−150
245、同63−220139、同64−76047、
特開平1−189644、同2−285351、同2−
296248、同2−296249、同3−4824
9、同3−48250、同3−158856、同3−2
28057、特表平4−502519、米国特許495
7846、同4992356、同5151340、同5
178986、欧州特許530148等に開示されてい
る。ところが、これらの感光物を用いても、膜厚依存性
の低減という観点では不十分であった。
【0008】一方、分子内に水酸基を有する感光物を利
用することにより、高コントラスト、高解像力を有する
レジストが得られることが、例えば、特公昭37−18
015、特開昭58−150948、特開平2−198
46、同2−103543、同3−228057、同5
−323597、欧州特許573056、米国特許30
61430、同3130047、同3130048、同
3130049、同3102809、同318431
0、同3188210、同3180733、西独特許9
38233、SPIE Proceedings第631巻210頁、同第1672
巻231頁(1992年)、同第1672巻262頁(1992年)及び同第19
25巻227頁(1993年)等に記載されている。
【0009】また、特開昭57−135947号、特公
平2−1296号各公報には、感光物として下記ポリヒ
ドロキシ化合物の1,2−ナフトキノンジアジドスルホ
ン酸エステルが開示されている。
【0010】
【化2】
【0011】(上記式中、 R1 〜R5 ;水素原子、ハロゲン原子、水酸基、アルキ
ル基、アルコキシ基(少なくとも1つは水酸基) R6 、R7 ;水素原子、アルキル基 を表す。) 上記特開昭57−135947号、特公平2−1296
号各公報に記載の感光物では、満足いく解像力、膜厚依
存性は得られなかった。
【0012】また、特開平2−19846号公報には、
3官能以上のジエステル含率50%以上(HPLC)の
感光物の記載がある。その一列として下記化合物が明細
書中に記載されている。
【0013】
【化3】
【0014】上記特開平2−19846号公報に記載の
感光物では、膜厚依存性が不十分であった。
【0015】また、特開平3−228057号公報に
は、一分子中に少なくとも1つの水酸基を含有し、1,
2−ナフトキノンジアジドスルホン酸エステル基と水酸
基との割合が3〜20の範囲にある感光物の含有量が5
0%以上であることが記載されている。その一例として
は、下記化合物のキノンジアジドスルホン酸エステルが
記載されている。
【0016】
【化4】
【0017】また、特開平2−285351号公報に
は、分子内に下記置換基を少なくとも1つ有するポリヒ
ドロキシ化合物と1,2−ナフトキノンジアジドのエス
テルの感光物が記載されている。その一例として、下記
化合物の記載が明細書中にある。
【0018】
【化5】
【0019】上記式中、R1 、R2 は、水素原子、アル
キル基又はアルコキシ基を示す。またR1 、R2 が同時
に水素原子であることはない。
【0020】
【化6】
【0021】上記特開平3−228057号公報に記載
の感光物及び特開平2−285351号公報に記載の感
光物では、解像力、膜厚依存性ともに不十分であった。
【0022】また、特開平5−257274号公報に
は、下記一般式のポリヒドロキシ化合物の1,2−ナフ
トキノンジアジドスルホン酸モノエステルが記載されて
いる。
【0023】
【化7】
【0024】上記式中、R1 〜R3 は、水素原子、アル
キル基又はアリール基を示し(但し少なくとも1つはア
ルキル基、アリール基である。)、X1 〜X3 は、水素
原子、アルキル基、水酸基(但し少なくとも1つは水酸
基)、Y1 〜Y2 は、水素原子、アルキル基、水酸基を
示す。但し上記式で表される化合物は、その分子内に少
なくとも2つの水酸基を有する。その一例として、下記
化合物が記載されている。
【0025】
【化8】
【0026】上記特開平5−257274号公報に記載
の感光物では、やはり解像力、膜厚依存性の点で満足い
く結果は得られなかった。
【0027】特開平4−122938号公報には、単分
散ノボラック樹脂、1,2−キノンジアジド化合物、さ
らに1分子内に2〜8個のフェノール性水酸基を含有す
る低分子化合物を含有するポジ型フォトレジスト組成物
が記載され、その組成物中の感光物として下記ポリヒド
ロキシ化合物が記載されている。
【0028】
【化9】
【0029】上記特開平4−122938号公報におい
て、我々は単分散ノボラック、フェノール性態分子化合
物と上記感光物との組み合わせを開示しているが、やは
り解像力、膜厚依存性の点で満足いく結果は得られなか
った。
【0030】また、米国特許第3102809号、同3
130047号、同3130048号、同318073
3号、同3188210号、独特許第938233号の
各明細書には、2官能モノエステル体の感光物が記載さ
れている。一方、我々は、特開平3−228057号公
報において、分子内に水酸基を有する感光物(キノンジ
アジドエステル)の合成法に関して3つの方法を開示し
ているが、上記モノエステル体を選択的に工業的な方法
で合成することは困難である。例えば、米国特許第31
88210号に開示されているモノエステル感光物は、
ヒドロキシ化合物とキノンジアジドスルフォニルクロリ
ドとのエステル化反応において選択的に工業的な方法で
モノエステル体を得ることが困難である。
【0031】
【発明が解決しようとする課題】従って、本発明の目的
は、高感度、高解像力、かつ現像ラチチュードが広く、
更にレジスト性能の膜厚依存性小さいポジ型フオトレジ
スト組成物を提供することである。なお、本発明におい
て「膜厚依存性」とは、露光前のレジスト膜厚がλ/4
nの範囲で変化した時に、露光、(必要に応じてベーク
し)現像して得られるレジストの解像力の変動を言う。
【0032】
【課題を解決するための手段】本発明者等は、上記諸特
性に留意し鋭意検討した結果、特定の母核構造式を有
し、且つ、分子内水酸基が2個及び特定の配置にあるポ
リヒドロキシ化合物のキノンジアジド化合物のモノエス
テル体を用いることにより、上記問題点を解決すること
ができることを見いだし、この知見に基づいて本発明を
完成させるに到った。即ち、本発明の目的は、下記構成
(1)〜(5)により達成することができる。 (1)下記一般式〔I〕〜〔IV〕で表されるポリヒド
ロキシ化合物の少なくとも一つの1,2−ナフトキノン
ジアジドスルホン酸エステルを含有し、当該エステル中
のモノエステル体の含有量が254nmの紫外光を用い
て測定した高速液体クロマトグラフィーの全パターン面
積に対して、50%以上であることを特徴とするポジ型
フォトレジスト組成物。
【0033】
【化10】
【0034】ここで、 R1 、R2 ;それぞれ独立に、水素原子、ハロゲン原
子、アルキル基、アリール基(但し、どちらか一方は水
素原子である) R3 、R4 ;それぞれ独立に、水素原子、ハロゲン原
子、アルキル基、アリール基、シクロアルキル基 R5 ;水素原子、アルキル基、アリール基、シクロアル
キル基(但し、R9 、R10がともに水素原子の場合、R
5 は水素原子ではない) R6 〜R8 ;それぞれ独立に、水素原子、アルキル基、
アリール基、シクロアルキル基 R9 、R10;それぞれ独立に、水素原子、アルキル基
(但し、R9 、R10は環を形成していてもよい) R11、R12、R21、R22;それぞれ独立に、水素原子、
ハロゲン原子、アルキル基、アリール基(但し、どちら
か一方は水素原子である) R13、R14、R23、R24;それぞれ独立に、水素原子、
ハロゲン原子、アルキル基、アリール基、シクロアルキ
ル基 R15、R16、R25、R26;それぞれ独立に、水素原子、
アルキル基、アリール基、シクロアルキル基 R17、R18、R27、R28;それぞれ独立に、水素原子、
アルキル基、アリール基、シクロアルキル基(但し、同
時に水素原子であることはない) R19、R20、R29、R30;それぞれ独立に、上記R9
10と同様の内容を表す。 (2)(a)重量平均分子量と数平均分子量の比が1.
5〜5.0であるアルカリ可溶性フェノールノボラック
樹脂、 (b)該ノボラック樹脂に対して2〜70重量%の1分
子中の総炭素数が12〜50で、且つ1分子中に2〜8
個のフェノール性水酸基を有する低分子化合物、 (c)前記1,2−ナフトキノンジアジドスルホン酸モ
ノエステルの少なくとも1種、 を含有することを特徴とする請求項1に記載のポジ型フ
ォトレジスト組成物。 (3)前記アルカリ可溶性ノボック樹脂がp−クレゾー
ル、o−クレゾール、2,3−キシレノール、2,6−
キシレノール、トリメチルフェノールのうち少なくとも
4つ以上のフェノール性モノマーの混合物(但し、o−
クレゾールは必ず含有する)とアルデヒド化合物との縮
合反応により合成された少なくとも1種のノボラック樹
脂であることを特徴とする前記(2)に記載のポジ型フ
ォトレジスト組成物。 (4)前記アルカリ可溶性ノボック樹脂がキシレノー
ル、トリメチルフェノールのうち少なくとも1種とm−
クレゾール、p−クレゾールのフェノール性モノマーの
混合物とアルデヒド化合物との縮合反応により合成され
た少なくとも1種のノボラック樹脂であることを特徴と
する前記(2)に記載のポジ型フォトレジスト組成物
【0035】本発明は、特定の母核構造式を有し、且つ
分子内水酸基が2個及び特定の配置にあるポリヒドロキ
シ化合物のキノンジアジド化合物のモノエステル体(感
光性物)を用いることにより、高感度、高解像力、かつ
現像ラチチュードが広く、更にレジスト性能の膜厚依存
性の全てにおいて良好となる。また本発明は、上記特定
のキノンジアジド化合物のモノエステル体に加えて更
に、特に分別(あるいは単分散)ノボラック樹脂及び1
分子中の総炭素数と水酸基の数を規定されたフェノール
性水酸基含有の低分子化合物〔アルカリ溶解促進剤(S
E剤)〕との組み合わせにより、既述の本発明の効果が
より良好になる。更に、意外なことに、特定のノボラッ
ク樹脂と、規定された低分子化合物とを組み合わせる
と、期待通り低分子化合物の溶解促進作用によりレジス
トの感度が向上することに加え、いずれか単独の使用で
得られるよりも広い現像ラチチュードを得ることができ
る。
【0036】以下、本発明を詳細に説明する。本発明に
用いる一般式〔I〕〜〔IV〕で示されるポリヒドロキ
シ化合物について詳細に説明する。一般式〔I〕〜〔I
V〕のR1 〜R4 、R11〜R14、R21〜R24において、
ハロゲン原子としては塩素原子、臭素原子、沃素原子が
好ましく、特に塩素原子が好ましい。アルキル基として
はメチル基、エチル基が好ましく、特にメチル基が好ま
しい。アリール基としてはフェニル基、トルイル基、キ
シリル基、クメニル基が好ましい。R3 、R4 、R13
14、R23、R24において、シクロアルキル基として
は、シクロペンチル基、シクロヘキシル基が好ましい。
1 、R2 、R11、R12、R21、R22としては水素原
子、塩素原子、メチル基、エチル基、フェニル基が好ま
しい。R3 、R4 、R13、R14、R23、R24としては、
水素原子、メチル基、エチル基が好ましい。一般式
〔I〕〜〔IV〕のR5 〜R8 、R15〜R18、R25〜R
28において、アキル基としては、炭素数1〜4の低級ア
ルキル基が好ましい。アリール基としてはフェニル基、
トルイル基、キシリル基、クメニル基が好ましい。シク
ロアルキル基としては、シクロペンチル基、シクロヘキ
シル基が好ましい。R5 としては水素原子(ただし、R
9 、R10がともに水素原子のときはR5 は水素原子では
ない)、メチル基、エチル基、プロピル基、n−ブチル
基が好ましい。R17、R18、R27、R28としては、水素
原子(ただし、R17、R18およびR 27、R28が同時に水
素原子であることはない)、炭素数1〜4の低級アルキ
ル基、シクロアルキル基、フェニル基が好ましく、
17、R18およびR27、R28の一方が水素原子であると
きは、イソプロピル基、sec−ブチル基、tert−
ブチル基、シクロヘキシル基が好ましい。R17、R18
びR27、R28がともに水素原子ではないときは、メチル
基、エチル基、プロピル基、フェニル基が好ましい。R
6 〜R8 、R15、R16、R25、R26としては水素原子、
メチル基、エチル基、シクロヘキシル基、フェニル基が
好ましい。一般式〔I〕〜〔IV〕のR9 、R10
19、R20、R29、R30において、アルキル基としては
炭素数1〜4の低級アルキル基が好ましく、より好まし
くはメチル基、エチル基であり、最も好ましいのはメチ
ル基である。本発明において用いられるポリヒドロキシ
化合物の具体列を以下に示す。
【0037】
【化11】
【0038】
【化12】
【0039】本発明に用いる感光物は、例えば前記式
〔I〕〜〔VI〕で示されるポリヒドロキシ化合物と
1,2−ナフトキノンジアジド−5− (及び/又は−4
−)スルホニルクロリドとを、塩基性触媒の存在下で、
エステル化反応を行うことにより得られる。即ち、所定
量のポリヒドロキシ化合物と1,2−ナフトキノンジア
ジド−5−(及び/又は−4−)スルホニルクロリド、
ジオキサン、アセトン、テトラヒドロフラン、メチルエ
チルケトン、N−メチルピロリドン、クロロホルム、ト
リクロルエタン、トリクロルエチレン、ジクロルエタ
ン、メチルイソブチルケトン、ジメトキシエタン、ジグ
ライム、酢酸エチル、ジクロロメタン、γ−ブチルラク
トン等の溶媒をフラスコ中に仕込み、塩基性触媒、例え
ば水酸化ナトリウム、炭酸ナトリウム、炭酸水素ナトリ
ウム、トリエチルアミン、4−ジメチルアミノピリジ
ン、4−メチルモルホリン、N−メチルピペラジン、N
−メチルピペリジン等を滴下して縮合させる。得られた
生成物は、水に晶析後、水洗し更に精製乾燥する。
【0040】通常のエステル化反応においては、エステ
ル化数及びエステル化位置が種々異なる混合物が得られ
るが、本発明は特定のポリヒドロキシ化合物を用いるこ
とにより、選択的にモノエステル化することができる。
ここで、本発明に用いることのできる感光物中のモノエ
ステル体の含有量は、254nmの紫外線を使用した検
出器を用いて測定した高速液体クロマトグラフィーの全
パターン面積に対して、50%以上になるように反応を
制御することによりエステル化に選択性を有することが
できる。本発明において、より好ましくはモノエステル
体が55%以上、更に好ましくはモノエステル体が60
%以上である。エステル化反応の選択性をより高めるに
は、前記塩基性触媒のうち、特に4−メチルモルホリ
ン、N−メチルピペラジン、N−メチルピペリジン等の
脂肪族環状アミンが好ましい。
【0041】必要に応じて、1,2−ナフトキノンジア
ジド−5−スルホン酸エステルと1,2−ナフトキノン
ジアジド−4−スルホン酸エステルを併用することもで
きる。また、前記方法における反応温度は、通常−20
〜60℃、好ましくは0〜40℃である。
【0042】前記のような方法で合成される本発明の感
光性化合物は、樹脂組成物として使用する際に、単独で
もしくは2種以上混合してアルカリ可溶性樹脂に配合し
て使用されるが、その配合量は、アルカリ可溶性樹脂1
00重量部に対し該感光物5〜100重量部、好ましく
は20〜60重量部である。この使用比率が5重量部未
満では残膜率が著しく低下し、また100重量部を越え
ると感度及び溶剤への溶解性が低下する。
【0043】本発明に用いるアルカリ可溶性樹脂として
は、ノボラツク樹脂、アセトン−ピロガロール樹脂やポ
リヒドロキシスチレン及びその誘導体を挙げることがで
きる。これらの中で、特にノボラツク樹脂が好ましく、
所定のモノマーを主成分として、酸性触媒の存在下、ア
ルデヒド類と付加縮合させることにより得られる。所定
のモノマーとしては、フエノール、m−クレゾール、p
−クレゾール、o−クレゾール等のクレゾール類、2,
5−キシレノール、3,5−キシレノール、3,4−キシ
レノール、2,3−キシレノール等のキシレノール類、
m−エチルフエノール、p−エチルフエノール、o−エ
チルフエノール、p−t−ブチルフエノール等のアルキ
ルフエノール類、2,3,5−トリメチルフエノール、
2,3,4−トリメチルフエノール等のトリアルキルフ
エノール類、p−メトキシフエノール、m−メトキシフ
エノール、3,5−ジメトキシフエノール、2−メトキ
シ−4−メチルフエノール 、m−エトキシフエノー
ル、p−エトキシフエノール、m−プロポキシフエノー
ル、p−プロポキシフエノール、m−ブトキシフエノー
ル、p−ブトキシフエノール等のアルコキシフエノール
類、2−メチル−4−イソプロピルフエノール等のビス
アルキルフエノール類、m−クロロフエノール、p−ク
ロロフエノール、o−クロロフエノール、ジヒドロキシ
ビフエニル、ビスフエノールA、フエニルフエノール、
レゾルシノール、ナフトール等のヒドロキシ芳香族化合
物を単独もしくは2種以上混合して使用することができ
るが、これらに限定されるものではない。
【0044】アルデヒド類としては、例えばホルムアル
デヒド、パラホルムアルデヒド、アセトアルデヒド、プ
ロピルアルデヒド、ベンズアルデヒド、フエニルアセト
アルデヒド、α−フエニルプロピルアルデヒド、β−フ
エニルプロピルアルデヒド、o−ヒドロキシベンズアル
デヒド、m−ヒドロキシベンズアルデヒド、p−ヒドロ
キシベンズアルデヒド、o−クロロベンズアルデヒド、
m−クロロベンズアルデヒド、p−クロロベンズアルデ
ヒド、o−ニトロベンズアルデヒド、m−ニトロベンズ
アルデヒド、p−ニトロベンズアルデヒド、o−メチル
ベンズアルデヒド、m−メチルベンズアルデヒド、p−
メチルベンズアルデヒド、p−エチルベンズアルデヒ
ド、p−n−ブチルベンズアルデヒド、フルフラール、
クロロアセトアルデヒド及びこれらのアセタール体、例
えばクロロアセトアルデヒドジエチルアセタール等を使
用することができるが、これらの中で、ホルムアルデヒ
ドを使用するのが好ましい。これらのアルデヒド類は、
単独でもしくは2種以上組み合わせて用いられる。酸性
触媒としては塩酸、硫酸、ギ酸、酢酸及びシユウ酸等を
使用することができる。
【0045】また、特開昭60−45238、同60−
97347、同60−140235、同60−1897
39、同64−14229、特開平1−276131、
同2−60915、同2−275955、同2−282
745、同4−101147、同4−122938等の
公報に開示されている技術、即ち、ノボラック樹脂の低
分子成分を除去あるいは減少させたものを用いるのが好
ましい。
【0046】こうして得られたノボラツク樹脂の重量平
均分子量は、1500〜25000の範囲であることが
好ましい。1500未満では未露光部の現像後の膜減り
が大きく、25000を越えると現像速度が小さくなっ
てしまう。ここで、重量平均分子量はゲルパーミエーシ
ヨンクロマトグラフイーのポリスチレン換算値をもつて
定義される。また、ノボラック樹脂の分散度(重量平均
分子量Mwと数平均分子量Mnの比、即ちMw/Mn)
は1.5〜7.0のものが好ましく、更に好ましくは
1.5〜5.0である。分散度が7を越える場合、本発
明の効果が得られない。分散度が1.5未満の場合、ノ
ボラック樹脂を合成する上で高度の精製工程を要するた
め、実用上の現実性に欠き不適切である。上記ノボラッ
ク樹脂の重量平均分子量と分散度は、ノボラック樹脂の
種類によって適宜設定することができる。該アルカリ可
溶性樹脂が、フェノール、クレゾール、キシレノール、
トリメチルフェノール又はこれらの2種以上を含有する
混合物とアルデヒド化合物との縮合反応により合成され
たノボラック樹脂の場合、重量平均分子量は、5500
〜25000であることが好ましく、より好ましくは6
000〜25000である。更に、上記ノボラック樹脂
は、重量平均分子量と数平均分子量の比が1.5〜5.
0であることが好ましい。該アルカリ可溶性樹脂が、p
−クレゾール、o−クレゾール、2,3−キシレノー
ル、2,6−キシレノール、トリメチルフェノールを含
有する混合物とアルデヒド化合物との縮合反応により合
成された少なくとも1種のノボラック樹脂である場合、
重量平均分子量と数平均分子量の比は1.5〜5.0で
あって、重量平均分子量が1500〜6000であるこ
とが好ましい。上記のように、用いるノボラック樹脂の
種類により、重量平均分子量、分散度を所定範囲に設定
することにより、本発明の効果がより著しくなる。
【0047】上記のアルカリ可溶性樹脂の中で、本発明
に用いられる好ましいアルカリ可溶性の樹脂は、p−ク
レゾール、o−クレゾール、2,3−キシレノール、
2,6−キシレノール、トリメチルフェノールのうち少
なくとも4つ以上のフェノール性モノマーの混合物(但
し、o−クレゾールは必ず含有する)とアルデヒド化合
物との縮合反応により合成された少なくとも1種のノボ
ラック樹脂である。また、上記のアルカリ可溶性樹脂の
中で、本発明に用いられる好ましいアルカリ可溶性ノボ
ック樹脂は、キシレノール、トリメチルフェノールのう
ち少なくとも1種とm−クレゾール、p−クレゾールの
フェノール性モノマーの混合物とアルデヒド化合物との
縮合反応により合成された少なくとも1種のノボラック
樹脂である。
【0048】本発明では、前記感光物を用いるべきであ
るが、必要に応じて、以下に示すポリヒドロキシ化合物
の1,2−ナフトキノンジアジド−5− (及び/又は−
4−)スルホニルクロリドとのエステル化物を併用する
ことができる。この際、これらのポリヒドロキシ化合物
のナフトキノンジアジドエステル感光物と本発明におけ
る感光物の比率は、20/80〜80/20(重量比)
の割合であることが好ましい。即ち、本発明の感光物が
全感光物の20重量%未満では本発明の効果を十分に発
揮できない。
【0049】ポリヒドロキシ化合物の例としては、2,
3,4−トリヒドロキシベンゾフエノン、2,4,4'−ト
リヒドロキシベンゾフエノン、2,4,6−トリヒド ロ
キシベンゾフエノン、2,3,4−トリヒドロキシ−2'
−メチルベンゾフエノン、2,3,4,4'−テトラヒドロ
キシベンゾフエノン、2,2',4,4'−テトラヒドロキ
シベンゾフエノン、2,4,6,3',4'−ペンタヒドロキ
シベンゾフエノン、2,3,4,2',4'−ペンタヒドロキ
シベンゾフエノン、2,3,4,2',5'−ペンタヒドロキ
シベンゾフエノン、2,4,6,3',4',5'−ヘキサヒド
ロキシベンゾフエノン、2,3,4,3',4',5'−ヘキサ
ヒドロキシベンゾフエノン等のポリヒドロキシベンゾフ
エノン類、
【0050】2,3,4−トリヒドロキシアセトフエノ
ン、2,3,4−トリヒドロキシフエニルペンチルケト
ン、2,3,4−トリヒドロキシフエニルヘキシルケトン
等のポリヒドロキシフエニルアルキルケトン類、
【0051】ビス(2,4−ジヒドロキシフエニル)メ
タン、ビス(2,3,4−トリヒドロキシフエニル)メタ
ン、ビス(2,4−ジヒドロキシフエニル)プロパン−
1、ビス(2,3,4−トリヒドロキシフエニル)プロパ
ン−1、ノルジヒドログアイアレチン酸等のビス((ポ
リ)ヒドロキシフエニル)アルカン類、
【0052】3,4,5−トリヒドロキシ安息香酸プロピ
ル、2,3,4−トリヒドロキシ安息香酸フエニル、3,
4,5−トリヒドロキシ安息香酸フエニル等のポリヒド
ロキシ安息香酸エステル類、
【0053】ビス(2,3,4−トリヒドロキシベンゾイ
ル)メタン、ビス(3−アセチル−4,5,6−トリヒド
ロキシフエニル)ーメタン、ビス(2,3,4−トリヒド
ロキシベンゾイル)ベンゼン、ビス(2,4,6−トリヒ
ドロキシベンゾイル)ベンゼン等のビス(ポリヒドロキ
シベンゾイル)アルカン又はビス(ポリヒドロキシベン
ゾイル)アリール類、
【0054】エチレングリコール−ジ(3,5−ジヒド
ロキシベンゾエート)、エチレングリコール−ジ(3,
4,5−トリヒドロキシベンゾエート)等のアルキレン
−ジ(ポリヒドロキシベンゾエート)類、
【0055】2,3,4−ビフエニルトリオール、3,4,
5−ビフエニルトリオール、3,5,3',5'−ビフエニ
ルテトロール、2,4,2',4'−ビフエニルテトロー
ル、2,4,6,3',5'−ビフエニルペントール、2,4,
6,2',4',6'−ビフエニルヘキソール、2,3,4,
2',3',4'−ビフエニルヘキソール等のポリヒドロキ
シビフエニル類、
【0056】4,4'−チオビス(1,3−ジヒドロキ
シ)ベンゼン等のビス(ポリヒドロキシスルフイド類、
【0057】2,2',4,4'−テトラヒドロキシジフエ
ニルエーテル等のビス(ポリヒドロキシフエニル)エー
テル類、
【0058】2,2',4,4'−テトラヒドロキシジフエ
ニルスルフオキシド等のビス(ポリヒドロキシフエニ
ル)スルフオキシド類、
【0059】2,2',4,4'−ジフエニルスルフオン等
のビス(ポリヒドロキシフエニル)スルフオン類、
【0060】トリス(4−ヒドロキシフェニル)メタ
ン、4,4',4"−トリヒドロキシ−3,5,3',5'−テ
トラメチルトリフェニルメタン、4,4',3'',4''−テ
トラヒドロキシ−3,5,3',5'−テトラメチルトリフ
エニルメタン、4,4',2'',3'',4''−ペンタヒドロ
キシ−3,5,3',5'−テトラメチルトリフエニルメタ
ン、2,3,4,2',3',4'−ヘキサヒドロキシ−5,5'
−ジアセチルトリフエニルメタン、2,3,4,2',3',
4',3'',4''−オクタヒドロキシ−5,5'−ジアセチ
ルトリフエニルメタン、2,4,6,2',4',6'−ヘキサ
ヒドロキシ−5,5'−ジプロピオニルトリフエニルメタ
ン等のポリヒドロキシトリフエニルメタン類、
【0061】3,3,3',3'−テトラメチル−1,1'−
スピロビ−インダン−5,6,5',6'−テトロール、3,
3,3',3'−テトラメチル−1,1'−スピロビ−インダ
ン−5,6,7,5',6',7'−ヘキソオール、3,3,3',
3'−テトラメチル−1,1'−スピロビ−インダン−4,
5,6,4',5',6'−ヘキソオール、3,3,3',3'−テ
トラメチル−1,1'−スピロビ−インダン−4,5,6,
5',6',7'−ヘキソオール等のポリヒドロキシスピロ
ビ−インダン類、
【0062】3,3−ビス(3,4−ジヒドロキシフエニ
ル)フタリド、3,3−ビス(2,3,4−トリヒドロキ
シフエニル)フタリド、3',4',5',6'−テトラヒド
ロキシスピロ[フタリド−3,9'−キサンテン]等のポ
リヒドロキシフタリド類、
【0063】モリン、ケルセチン、ルチン等のフラボノ
色素類、
【0064】α,α',α"−トリス(4−ヒドロキシフ
エニル)1,3,5−トリイソプロピルベンゼン、α,
α',α"−トリス(3,5−ジメチル−4−ヒドロキシ
フエニル)1,3,5−トリイソプロピルベンゼン、
α,α',α"−トリス(3,5−ジエチル−4−ヒドロ
キシフエニル)1,3,5−トリイソプロピルベンゼ
ン、α,α',α"−トリス(3,5−ジn−プロピル−
4−ヒドロキシフエニル)1,3,5−トリイソプロピ
ルベンゼン、α,α',α"−トリス(3,5−ジイソプ
ロピル−4−ヒドロキシフエニル)1,3,5−トリイ
ソプロピルベンゼン、α,α',α"−トリス(3,5−
ジn−ブチル−4−ヒドロキシフエニル)1,3,5−
トリイソプロピルベンゼン、α,α',α"−トリス(3
−メチル−4−ヒドロキシフエニル)1,3,5−トリ
イソプロピルベンゼン、α,α',α"−トリス(3−メ
トキシ−4−ヒドロキシフエニル)1,3,5−トリイ
ソプロピルベンゼン、α,α',α"−トリス(2,4−
ジヒドロキシフエニル)1,3,5−トリイソプロピル
ベンゼン、1,3,5−トリス(3,5−ジメチル−4
−ヒドロキシフエニル)ベンゼン、1,3,5−トリス
(5−メチル−2−ヒドロキシフエニル)ベンゼン、
2,4,6−トリス(3,5−ジメチル−4−ヒドロキ
シフエニルチオメチル)メシチレン、1−[α−メチル
−α−(4'−ヒドロキシフエニル)エチル]−4−
[α,α'−ビス(4"−ヒドロキシフエニル)エチル]
ベンゼン、1−[α−メチル−α−(4'−ヒドロキシ
フエニル)エチル]−3−[α,α'−ビス(4"−ヒド
ロキシフエニル)エチル]ベンゼン、1−[α−メチル
−α−(3',5'−ジメチル−4'−ヒドロキシフエニ
ル)エチル]−4−[α,α'−ビス(3",5"−ジメ
チル−4"−ヒドロキシフエニル)エチル]ベンゼン、
1−[α−メチル−α−(3'−メチル−4'−ヒドロキ
シフエニル)エチル]−4−[α',α'−ビス(3"−
メチル−4"−ヒドロキシフエニル)エチル]ベンゼ
ン、1−[α−メチル−α−(3'−メトキシ−4'−ヒ
ドロキシフエニル)エチル]−4−[α',α'−ビス
(3"−メトキシ−4"−ヒドロキシフエニル)エチル]
ベンゼン、1−[α−メチル−α−(2',4'−ジヒド
ロキシフエニル)エチル]−4−[α',α'−ビス
(4"−ヒドロキシフエニル)エチル]ベンゼン、1−
[α−メチル−α−(2',4'−ジヒドロキシフエニ
ル)エチル]−3−[α'',α'−ビス(4"−ヒドロキ
シフエニル)エチル]ベンゼン等の特開平4−2530
58に記載のポリヒドロキシ化合物、
【0065】p−ビス(2,3,4−トリヒドロキシベン
ゾイル)ベンゼン、p−ビス(2,4,6−トリヒドロキ
シベンゾイル)ベンゼン、m−ビス(2,3,4−トリヒ
ドロキシベンゾイル)ベンゼン、m−ビス(2,4,6−
トリヒドロキシベンゾイル)ベンゼン、p−ビス(2,
5−ジヒドロキシ−3−ブロムベンゾイル)ベンゼン、
p−ビス(2,3,4−トリヒドロキシ−5−メチルベン
ゾイル)ベンゼン、p−ビス(2,3,4−トリヒドロキ
シ−5−メトキシベンゾイル)ベンゼン、p−ビス
(2,3,4−トリヒドロキシ−5−ニトロベンゾイル)
ベンゼン、p−ビス(2,3,4−トリヒドロキシ−5−
シアノベンゾイル)ベンゼン、1,3,5−トリス(2,
5−ジヒドロキシベンゾイル)ベンゼン、1,3,5−ト
リス(2,3,4−トリヒドロキシベンゾイル)ベンゼ
ン、1,2,3−トリス(2,3,4−トリヒドロキシベン
ゾイル)ベンゼン、1,2,4−トリス(2,3,4−トリ
ヒドロキシベンゾイル)ベンゼン、1,2,4,5−テト
ラキス(2,3,4−トリヒドロキシベンゾイル)ベンゼ
ン、α,α'−ビス(2,3,4−トリヒドロキシベンゾイ
ル)−p−キシレン、α,α',α'−トリス(2,3,4−
トリヒドロキシベンゾイル)メシチレン、
【0066】2,6−ビス−(2'−ヒドロキシ−3',
5'−ジメチル−ベンジル)−p−クレゾール、2,6
−ビス−(2'−ヒドロキシ−5'−メチル−ベンジル)
−p−クレゾール、2,6−ビス−(2'−ヒドロキシ
−3',5'−ジ−t−ブチル−ベンジル)−p−クレゾ
ール、2,6−ビス−(2'−ヒドロキシ−5'−エチル
−ベンジル)−p−クレゾール、2,6−ビス−
(2',4'−ジヒドロキシ−ベンジル)−p−クレゾー
ル、2,6−ビス−(2'−ヒドロキシ−3'−t−ブチ
ル−5'−メチル−ベンジル)−p−クレゾール、2,
6−ビス−(2',3',4'−トリヒドロキシ−5'−ア
セチル−ベンジル)−p−クレゾール、2,6−ビス−
(2',4',6'−トリヒドロキシ−ベンジル)−p−
クレゾール、2,6−ビス−(2',3',4'−トリヒ
ドロキシ−ベンジル)−p−クレゾール、2,6−ビス
−(2',3',4'−トリヒドロキシ−ベンジル)−
3,5−ジメチル−フエノール、4,6−ビス−(4'
−ヒドロキシ−3',5'−ジメチル−ベンジル)−ピロ
ガロール、4,6−ビス−(4'−ヒドロキシ−3',
5'−ジメトキシ−ベンジル)−ピロガロール、2,6
−ビス−(4'−ヒドロキシ−3',5'−ジメチル−ベ
ンジル)−1,3,4−トリヒドロキシ−フエノール、
4,6−ビス−(2',4',6'−トリヒドロキシ−ベ
ンジル)−2,4−ジメチル−フエノール、4,6−ビ
ス−(2',3',4'−トリヒドロキシ−ベンジル)−
2,5−ジメチル−フエノール等を挙げることができ
る。
【0067】また、ノボラツク樹脂等フエノール樹脂の
低核体を用いる事もできる。
【0068】本発明に用いることのできるフェノール性
水酸基を有する低分子化合物(水不溶性アルカリ可溶性
低分子)について説明する。
【0069】本発明の組成物には、更に現像液への溶解
促進のために、水不溶性アルカリ可溶性低分子を含有さ
せることが好ましい。これにより、現像ラチチュードを
向上させることができる。水不溶性アルカリ可溶性低分
子としては、具体的にはポリヒドロキシ化合物を挙げる
ことができる。好ましいポリヒドロキシ化合物として
は、フエノール類、レゾルシン、フロログルシン、2,
3,4−トリヒドロキシベンゾフエノン、2,3,4,4'
−テトラヒドロキシベンゾフエノン、2,3,4,3',
4',5'−ヘキサヒドロキシベンゾフエノン、アセトン
−ピロガロール縮合樹脂、フロログルシド、2,4,2',
4'−ビフエニルテトロール、4,4'−チオビス(1,
3−ジヒドロキシ)ベンゼン、2,2',4,4'−テトラ
ヒドロキシジフエニル エーテル、2,2',4,4'−テト
ラヒドロキシジフエニルスルフオキシド、2,2',4,
4'−テトラヒドロキシジフエニルスルフオン、トリス
(4−ヒドロキシフェニル)メタン、1,1−ビス(4
−ヒドロキシフェニル)シクロヘキサン、4,4'−
(α−メチルベンジリデン)ビスフェノール、α,α',
α"−トリス(4−ヒドロキシフェニル)−1,3,5−
トリイソプロピルベンゼン、α,α',α"−トリス(4−
ヒドロキシフェニル)−1−エチル−4−イソプロピル
ベンゼン、1,2,2−トリス(ヒドロキシフェニル)
プロパン、1,1,2−トリス(3,5−ジメチル−4
−ヒドロキシフェニル)プロパン、2,2,5,5−テ
トラキス(4−ヒドロキシフェニル)ヘキサン、1,2
−テトラキス(4−ヒドロキシフェニル)エタン、1,
1,3−トリス(ヒドロキシフェニル)ブタン、パラ
[α,α,α',α'−テトラキス(4−ヒドロキシフェ
ニル)]−キシレン等を挙げることができる。
【0070】これらの中でも、水不溶性アルカリ可溶性
低分子化合物として、一分子中の総炭素数が60以下で
あり、かつ1分子中に2〜8個のフェノール性水酸基を
有する水不溶性アルカリ可溶性低分子化合物が好まし
い。更には、該水不溶性アルカリ可溶性低分子化合物
は、フェノール性水酸基と芳香環との比が0.5〜1.
4であって、かつ1分子中の総炭素数が12〜50であ
り、1分子中に2〜10個のフェノール性水酸基を有す
る少なくとも1種の水不溶性アルカリ可溶性低分子化合
物であることが好ましい。かかる化合物のうち、水不溶
性アルカリ可溶性樹脂に添加した際に、該アルカリ可溶
性樹脂のアルカリ溶解速度を増大させる化合物が特に好
ましい。これにより、より一層現像ラチチュードが向上
するようになる。また該化合物の炭素数が60より大き
いものでは本発明の効果が減少する。また12より小さ
いものでは耐熱性が低下するなどの新たな欠点が発生す
る。本発明の効果を発揮させるためには、分子中に少な
くとも2個の水酸基数を有することが必要であるが、こ
れが10を越えると、現像ラチチュードの改良効果が失
われる。また、フェノール性水酸基と芳香環との比が
0.5未満では膜厚依存性が大きく、また、現像ラチチ
ュードが狭くなる傾向がある。この比が1.4を越える
場合では該組成物の安定性が劣化し、高解像力及び良好
な膜厚依存性を得るのが困難となって好ましくない。
【0071】この低分子化合物の好ましい添加量は、ア
ルカリ可溶性樹脂に対して1〜80重量%であり、更に
好ましくは2〜70重量%である。80重量%を越えた
添加量では、現像残渣が悪化し、また現像時にパターン
が変形するという新たな欠点が発生して好ましくない。
本発明に用いられる芳香族水酸基を有する水不溶性アル
カリ可溶性低分子化合物は、例えば、特開平4−122
938、特開平2−28531、米国特許第49162
10、欧特許第219294等に記載の方法を参考にし
て、当業者に於て容易に合成することが出来る。
【0072】本発明に用いられる感光物及びアルカリ可
溶性ノボラツク樹脂を溶解させる溶剤としては、エチレ
ングリコールモノメチルエーテル、エチレングリコール
モノエチルエーテル、メチルセロソルブアセテート、エ
チルセロソルブアセテート、ジエチレングリコールモノ
メチルエーテル、ジエチレングリコールモノエチルエー
テル、プロピレングリコールメチルエーテルアセテー
ト、プロピレングリコールプロピルエーテルアセテー
ト、トルエン、キシレン、メチルエチルケトン、シクロ
ペンタノン、シクロヘキサノン、2−ヒドロキシプロピ
オン酸エチル、2−ヒドロキシ−2−メチルプロピオン
酸エチル、エトキシ酢酸エチル、ヒドロキシ酢酸エチ
ル、2−ヒドロキシ−3−メチルブタン酸メチル、3−
メトキシプロピオン酸メチル、3−メトキシプロピオン
酸エチル、3−エトキシプロピオン酸エチル、3−エト
キシプロピオン酸メチル、ピルビン酸メチル、ピルビン
酸エチル、酢酸エチル、酢酸ブチル等を用いることがで
きる。これらの有機溶剤は単独で、又は2種以上の組み
合わせで使用される。
【0073】更に、N−メチルホルムアミド、N,N−
ジメチルホルムアミド、N−メチルアセトアミド、N,
N−ジメチルアセトアミド、N−メチルピロリドン、ジ
メチルスルホキシド、ベンジルエチルエーテル等の高沸
点溶剤を混合して使用することができる。
【0074】本発明のポジ型フォトレジスト用組成物に
は、ストリエーション等の塗布性を更に向上させるため
に、界面活性剤を配合する事ができる。界面活性剤とし
ては、例えばポリオキシエチレンラウリルエーテル、ポ
リオキシエチレンステアリルエーテル、ポリオキシエチ
レンセチルエーテル、ポリオキシエチレンオレイルエー
テル等のポリオキシエチレンアルキルエーテル類、ポリ
オキシエチレンオクチルフェノールエーテル、ポリオキ
シエチレンノニルフェノールエーテル等のポリオキシエ
チレンアルキルアリルエーテル類、ポリオキシエチレン
・ポリオキシプロピレンブロックコポリマー類、ソルビ
タンモノラウレート、ソルビタンモノパルミテート、ソ
ルビタンモノステアレート、ソルビタンモノオレエー
ト、ソルビタントリオレエート、ソルビタントリステア
レート等のソルビタン脂肪酸エステル類、ポリオキシエ
チレンソルビタンモノラウレート、ポリオキシエチレン
ソルビタンモノパルミテート、ポリオキシエチレンソル
ビタンモノステアレート、ポリオキシエチレンソルビタ
ントリオレエート、ポリオキシエチレンソルビタントリ
ステアレート等のポリオキシエチレンソルビタン脂肪酸
エステル類等のノニオン系界面活性剤、エフトップEF
301,EF303,EF352(新秋田化成(株)
製、)メガファックF171,F173(大日本インキ
(株)製)、フロラードFC430,431(住友スリ
ーエム(株)製)、アサヒガードAG710,サーフロ
ンS−382,SC101,SC102,SC103,
SC104,SC105,SC106(旭硝子(株)
製)等のフッ素系界面活性剤、オルガノシロキサンポリ
マーKP341(信越化学工業(株)製)やアクリル酸
系もしくはメタクリル酸系(共)重合ポリフローNo.
75,No.95(共栄社油脂化学工業(株)製)等を
挙げることができる。これらの界面活性剤の配合量は組
成物中のアルカリ可溶性樹脂及びキノンジアジド化合物
100重量部当たり、通常、2重量部以下、好ましくは
1重量部以下である。
【0075】これらの界面活性剤は単独で添加してもよ
いし、また、いくつかの組み合わせで添加することもで
きる。
【0076】本発明のポジ型フォトレジスト用組成物の
現像液としては、水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、
炭酸ナトリウム、ケイ酸ナトリウム、メタケイ酸ナトリ
ウム、アンモニア水等の無機アルカリ類、エチルアミ
ン、n−プロピルアミン等の第一アミン類、ジエチルア
ミン、ジ−n−ブチルアミン等の第二アミン類、トリエ
チルアミン、メチルジエチルアミン等の第三アミン類、
ジメチルエタノールアミン、トリエタノールアミン等の
アルコールアミン類、テトラメチルアンモニウムヒドロ
キシド、テトラエチルアンモニウムヒドロキシド、コリ
ン等の第四級アンモニウム塩、ピロール、ピペリジン等
の環状アミン類、等のアルカリ類の水溶液を使用するこ
とができる。更に、上記アルカリ類の水溶液にイソプロ
ピルアルコール等のアルコール類、ノニオン系界面活性
剤等の界面活性剤を適当量添加して使用することもでき
る。
【0077】本発明のポジ型フォトレジスト用組成物に
は、必要に応じ、吸光剤、架橋剤、接着助剤を配合する
ことができる。吸光剤は、基板からのハレーションを防
止する目的や透明基板に塗布した際の視認性を高める目
的で、必要に応じて添加される。例えば、「工業用色素
の技術と市場」(CMC出版)や、染料便覧(有機合成
化学協会編)に記載の市販の吸光剤、例えば、C.I.Disp
erse Yellow 1, 3, 4,5, 7, 8, 13, 23, 31, 49, 50, 5
1, 54, 56, 60, 64, 66, 68, 79, 82, 88, 90, 93, 10
2, 114及び124、C.I.Disperse Orange 1, 5, 13, 25, 2
9, 30, 31, 44,57, 72及び73、C.I.Disperse Red 1, 5,
7, 13, 17, 19, 43, 50, 54, 58, 65,72, 73, 88, 11
7, 137, 143, 199及び210、C.I.Disperse Violet 43、
C.I.Disperse Blue 96、C.I.Fluorescent Brightening
Agent 112, 135及び163、C.I.Solvent Yellow 14, 16,
33及び56、C.I.Solvent Orange 2及び45、C.I.Solvent
Red 1, 3, 8, 23, 24, 25, 27及び49、C.I.Pigment Gre
en 10、C.I.Pigment Brown2等を好適に用いることがで
きる。吸光剤は通常、アルカリ可溶性樹脂100重量部
に対し、100重量部以下、好ましくは50重量部以
下、更に好ましくは30重量部以下の割合で配合され
る。
【0078】架橋剤は、ポジ画像を形成するのに影響の
無い範囲で添加される。架橋剤の添加の目的は、主に、
感度調整、耐熱性の向上、耐ドライエッチング性向上等
である。架橋剤の例としては、メラミン、ベンゾグアナ
ミン、グリコールウリル等にホルムアルデヒドを作用さ
せた化合物、又はそのアルキル変性物や、エポキシ化合
物、アルデヒド類、アジド化合物、有機過酸化物、ヘキ
サメチレンテトラミン等を挙げることができる。これら
の架橋剤は、感光剤100重量部に対して、10重量部
未満、好ましくは5重量部未満の割合で配合できる。架
橋剤の配合量が10重量部を超えると感度が低下し、ス
カム(レジスト残渣)が生じるようになり好ましくな
い。
【0079】接着助剤は、主に、基板とレジストの密着
性を向上させ、特にエッチング工程においてレジストが
剥離しないようにするための目的で添加される。具体例
としては、トリメチルクロロシラン、ジメチルビニルク
ロロシラン、メチルジフェニルクロロシラン、クロロメ
チルジメチルクロロシラン等のクロロシラン類、トリメ
チルメトキシシラン、ジメチルジエトキシシラン、メチ
ルジメトキシシラン、ジメチルビニルエトキシシラン、
ジフェニルジメトキシシラン、フェニルトリエトキシシ
ラン等のアルコキシシラン類、ヘキサメチルジシラザ
ン、N,N′−ビス(トリメチルシリル)ウレア、ジメ
チルトリメチルシリルアミン、トリメチルシリルイミダ
ゾール等のシラザン類、ビニルトリクロロシラン、γ−
クロロプロピルトリメトキシシラン、γ−アミノプロピ
ルトリエトキシシラン、γ−グリシドキシプロピルトリ
メトキシシラン等のシラン類、ベンゾトリアゾール、ベ
ンゾイミダゾール、インダゾール、イミダゾール、2−
メルカプトベンズイミダゾール、2−メルカプトベンズ
チアゾール、2−メルカプトベンズオキサゾール、ウラ
ゾール、チオウラシル、メルカプトイミダゾール、メル
カプトピリミジン等の複素環状化合物や、1,1−ジメ
チルウレア、1,3−ジメチルウレア等の尿素、又はチ
オ尿素化合物を挙げることができる。
【0080】これらの接着助剤は、アルカリ可溶性樹脂
100重量部に対し、通常10重量部未満、好ましくは
5重量部未満の割合で配合される。
【0081】上記ポジ型フォトレジスト用組成物を精密
集積回路素子の製造に使用されるような基板(例:シリ
コン/二酸化シリコン被覆、ガラス基板、ITO基板等
の透明基板等)上にスピンコート法、ロールコート法、
フローコート法、ディップコート法、スプレーコート
法、ドクターコート法等の適当な塗布方法により塗布後
プリベークして、所定のマスクを通して露光し、必要に
応じて後加熱(PEB:Post Exposure
Bake)を行い、現像、リンス、乾燥することにより
良好なレジストを得ることができる。
【0082】
【実施例】以下、本発明の実施例を示すが、本発明はこ
れらに限定されるものではない。なお、%は、他に指定
のない限り、重量%を示す。 合成例(1) 化合物〔I−2〕の合成 攪拌器、還流冷却管、温度計、滴下装置を取り付けた4
つ口フラスコにp−クレゾール1Kgと濃塩酸10mL
を仕込み、50℃に保ちながら、m−ヒドロキシアセト
フェノンを原料とし、常法により合成したm−イソプロ
ペニルフェノール67.1gのトルエン(500mL)
溶液を3時間かけて滴下した。滴下終了後そのまま1時
間加熱攪拌した。反応終了後、反応液を中和し、トルエ
ンおよび過剰のp−クレゾールを減圧留去後、得られた
褐色の粘稠物をシリカゲルカラムクロマトグラフィーに
より精製、目的物である白色粉体〔I−2〕96.9g
を得た。
【0083】合成例(2) 化合物〔II−2〕の合成 攪拌器、還流冷却管、温度計、滴下装置を取り付けた4
つ口フラスコに常法により合成した2,4−キシレノー
ルのモノメチロール体76.1gとフェノール470
g、メタノール200mLを仕込み、濃硫酸5mLをゆ
っくり滴下した後、還流下6時間加熱攪拌した。反応終
了後の反応液を蒸留水2Lにそそぎ込み、得られた褐色
固体をシリカゲルカラムクロマトグラフィーにより精
製、目的物である白色粉体〔II−2〕79.9gを得
た。
【0084】合成例(3) 化合物〔III−1〕の合成 攪拌器、還流冷却管、温度計、滴下装置を取り付けた4
つ口フラスコに常法により合成した2,6−キシレノー
ルのモノメチロール体76.1gと2,5−キシレノー
ル61.1g、メタノール200mLを仕込み、濃硫酸
5mLをゆっくり滴下した後、還流下6時間加熱攪拌し
た。反応終了後の反応液を蒸留水2Lにそそぎ込み、得
られた黄色固体をトルエンで再結晶し、目的物である白
色粉体〔III−1〕96.1gを得た。
【0085】合成例(4) 化合物〔IV−1〕の合成 攪拌器、還流冷却管、温度計、滴下装置を取り付けた4
つ口フラスコに2,6−キシレノール366.5gとメ
タノール200mL、濃塩酸10mLを仕込み、50℃
に保ちながら、m−ヒドロキシアセトフェノンを原料と
し、常法により合成したm−イソプロペニルフェノール
67.1gのトルエン(500mL)溶液を3時間かけ
て滴下した。滴下終了後、そのまま1時間加熱攪拌し
た。反応終了後、反応液を中和し、メタノール、トルエ
ンを留去、得られた固体をヘキサン、トルエン混合溶媒
で洗浄した後、シリカゲルカラムクロマトグラフィーに
より精製、目的物である白色粉体〔IV−1〕60.6g
を得た。
【0086】合成例(5) 感光物aの合成 化合物〔I−2〕24.2g、1,2−ナフトキノンジ
アジド−5−スルホニルクロリド26.9g、およびア
セトン400mLを3つ口フラスコに仕込み、均一に溶
解した。次いで、N−メチルピペリジン10.4gを徐
々に滴下し、25℃で3時間反応させた。反応混合液を
濃縮後、再度アセトンに溶解し、1%塩酸水溶液1.5
L中に注ぎ、生じた沈澱をろ別、水洗、乾燥(40℃)
を行い、化合物〔I−2〕の1,2−ナフトキノンジア
ジド−5−スルフォン酸エステル(感光物a)42.7
gを得た。254nmの紫外線を使用した検出器を用い
て測定した高速液体クロマトグラフィーにおいて感光物
aのモノエステル体は全パターン面積の79%であっ
た。なお、上記高速液体クロマトグラフィーの測定は、
島津製作所(株)製のLC−6Aクロマトグラフ装置を
用い、Waters社製のNova−PackC18
(4μm)8mmφ×100mmカラムを使用し、キャ
リア溶媒として、蒸留水68.6%、アセトニトリル3
0.0%、トリエチルアミン0.7%、燐酸0.7%の
溶液を2.0mL/分の流速で行った。
【0087】合成例(6) 感光物bの合成 化合物〔II−2〕22.8g、1,2−ナフトキノンジ
アジド−5−スルホニルクロリド26.9g、およびア
セトン400mLを3つ口フラスコに仕込み、均一に溶
解した。次いでN−メチルピペリジン10.4gを徐々
に滴下し、25℃で3時間反応させた。反応混合液を濃
縮後、再度アセトンに溶解し、1%塩酸水溶液1.5L
中に注ぎ、生じた沈澱をろ別、水洗、乾燥(40℃)を
行い、化合物〔II−2〕の1,2−ナフトキノンジアジ
ド−5−スルフォン酸エステル(感光物b)41.4g
を得た。254nmの紫外線を使用した検出器を用いて
測定した高速液体クロマトグラフィーにおいて、感光物
bのモノエステル体は全パターン面積の81%であっ
た。
【0088】合成例(7) 感光物cの合成 化合物〔III−1〕25.6g、1,2−ナフトキノン
ジアジド−5−スルホニルクロリド26.9g、および
アセトン400mLを3つ口フラスコに仕込み、均一に
溶解した。次いでN−メチルピペリジン10.4gを徐
々に滴下し、25℃で3時間反応させた。反応混合液を
濃縮後、再度アセトンに溶解し、1%塩酸水溶液1.5
L中に注ぎ、生じた沈澱をろ別、水洗、乾燥(40℃)
を行い、化合物〔III−1〕の1,2−ナフトキノンジ
アジド−5−スルフォン酸エステル(感光物c)44.
0gを得た。254nmの紫外線を使用した検出器を用
いて測定した高速液体クロマトグラフィーにおいて感光
物cのモノエステル体は全パターン面積の61%であっ
た。
【0089】合成例(8) 感光物dの合成 化合物〔IV−1〕24.2g、1,2−ナフトキノンジ
アジド−5−スルホニルクロリド26.9g、およびア
セトン400mLを3つ口フラスコに仕込み、均一に溶
解した。次いでN−メチルピペリジン10.4gを徐々
に滴下し、25℃で3時間反応させた。反応混合液を濃
縮後、再度アセトンに溶解し、1%塩酸水溶液1.5L
中に注ぎ、生じた沈澱をろ別、水洗、乾燥(40℃)を
行い、化合物〔IV−1〕の1,2−ナフトキノンジアジ
ド−5−スルフォン酸エステル(感光物d)42.7g
を得た。254nmの紫外線を使用した検出器を用いて
測定した高速液体クロマトグラフィーにおいて、感光物
dのモノエステル体は全パターン面積の63%であっ
た。
【0090】合成例(9) 感光物eの合成 下記ポリヒドロキシ化合物〔V〕22.8g、1,2−
ナフトキノンジアジド−5−スルホニルクロリド26.
9g、およびアセトン400mLを3つ口フラスコに仕
込み、均一に溶解した。次いでN−メチルピペリジン1
0.4gを徐々に滴下し、25℃で3時間反応させた。
反応混合液を濃縮後、再度アセトンに溶解し、1%塩酸
水溶液1.5L中に注ぎ、生じた沈澱をろ別、水洗、乾
燥(40℃)を行い、化合物〔V〕の1,2−ナフトキ
ノンジアジド−5−スルフォン酸エステル(感光物e)
43.7gを得た。254nmの紫外線を使用した検出
器を用いて測定した高速液体クロマトグラフィーにおい
て感光物eのモノエステル体は全パターン面積の45%
であった。
【0091】
【化13】
【0092】合成例(10) 感光物fの合成 下記ポリヒドロキシ化合物〔VI〕16.6g、1,2−
ナフトキノンジアジド−5−スルホニルクロリド26.
9g、およびアセトン300mLを3つ口フラスコに仕
込み、均一に溶解した。次いで、N−メチルピペリジン
10.4gを徐々に滴下し、25℃で3時間反応させ
た。反応混合液を濃縮後、再度アセトンに溶解し、1%
塩酸水溶液1.0L中に注ぎ、生じた沈澱をろ別、水
洗、乾燥(40℃)を行い、化合物〔VI〕の1,2−ナ
フトキノンジアジド−5−スルフォン酸エステル(感光
物f)37.9gを得た。254nmの紫外線を使用し
た検出器を用いて測定した高速液体クロマトグラフィー
において感光物fのモノエステル体は全パターン面積の
75%であった。
【0093】
【化14】
【0094】合成例(11) 感光物gの合成 下記ポリヒドロキシ化合物〔VII〕24.4g、1,2
−ナフトキノンジアジド−5−スルホニルクロリド5
3.7g、およびアセトン800mLを3つ口フラスコ
に仕込み、均一に溶解した。次いで、トリエチルアミン
21.2gを徐々に滴下し、25℃で3時間反応させ
た。反応混合液を濃縮後、再度アセトンに溶解し、1%
塩酸水溶液2.5L中に注ぎ、生じた沈澱をろ別、水
洗、乾燥(40℃)を行い、化合物〔VII〕の1,2−
ナフトキノンジアジド−5−スルフォン酸エステル(感
光物g)63.8gを得た。254nmの紫外線を使用
した検出器を用いて測定した高速液体クロマトグラフィ
ーにおいて感光物gのモノエステル体は全パターン面積
の7%、ジエステル体は全パターン面積の80%であっ
た。
【0095】
【化15】
【0096】合成例(12) 感光物hの合成 特開平3−228057号記載の方法に準じて、化合物
〔VIII〕の1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルフ
ォン酸エステル(感光物h)を合成した。254nmの
紫外線を使用した検出器を用いて測定した高速液体クロ
マトグラフィーにおいて感光物hのモノエステル体は全
パターン面積の4%、トリエステル体は全パターン面積
の87%であった。
【0097】
【化16】
【0098】合成例(13) 感光物iの合成 下記ポリヒドロキシ化合物〔IX〕24.2g、1,2−
ナフトキノンジアジド−5−スルホニルクロリド26.
9g、およびアセトン400mLを3つ口フラスコに仕
込み、均一に溶解した。次いでN−メチルピペリジン1
0.4gを徐々に滴下し、25℃で3時間反応させた。
反応混合液を濃縮後、再度アセトンに溶解し、1%塩酸
水溶液1.5L中に注ぎ、生じた沈澱をろ別、水洗、乾
燥(40℃)を行い、化合物〔IX〕の1,2−ナフトキ
ノンジアジド−5−スルフォン酸エステル(感光物i)
42.7gを得た。254nmの紫外線を使用した検出
器を用いて測定した高速液体クロマトグラフィーにおい
て感光物iのモノエステル体は全パターン面積の46%
であった。
【0099】
【化17】
【0100】合成例(14) ノボラツク樹脂Aの合成 m−クレゾール45g、p−クレゾール55g、37%
ホルマリン水溶液49g及びシユウ酸0.13gを3つ
口フラスコに仕込み、攪拌しながら100℃まで昇温し
15時間反応させた。その後温度を200℃まで上げ、
徐々に5mmHgまで減圧して、水、未反応のモノマ
ー、ホルムアルデヒド、シユウ酸等を除去した。次いで
溶融したアルカリ可溶性ノボラツク樹脂を室温に戻して
回収した。得られたノボラツク樹脂Aは重量平均分子量
8100(ポリスチレン換算)であり、分散度は6.3
0であった。
【0101】合成例(15) ノボラツク樹脂Bの合成 p−クレゾール30g、o−クレゾール14g、2,3
−ジメチルフェノール50g、2,3,5−トリメチル
フェノール20g、2,6−ジメチルフェノール4.9
gを50gのジエチレングリコールモノメチルエーテル
と混合し、攪拌器、還流冷却管、温度計を取り付けた3
つ口フラスコに仕込んだ。次いで、37%ホルマリン水
溶液85gを添加、110℃の油浴で加熱しながら攪拌
した。内温が90℃に達した時点で、6.3gの蓚酸2
水和物を添加した。その後18時間油浴の温度を130
℃に保って反応を続け、次いで還流冷却管を取り除いて
200℃で減圧蒸留し、未反応モノマーを取り除いた。
得られたノボラック樹脂はMwが3280、分散度は
2.75であった。
【0102】合成例(16) ノボラツク樹脂Cの合成 m−クレゾール50g、p−クレゾール25g、2,5
−キシレノール28g、37%ホルマリン水溶液53g
及びシユウ酸0.15gを3つ口フラスコに仕込み、攪
拌しながら100℃まで昇温し14時間反応させた。そ
の後温度を200℃まで上げ、徐々に1mmHgまで減
圧して、水、未反応のモノマー、ホルムアルデヒド、シ
ユウ酸等を留去した。次いで溶融したノボラツク樹脂を
室温に戻して回収した。得られたノボラツク樹脂は重量
平均分子量4800(ポリスチレン換算)であつた。次
いでこのノボラック樹脂20gをメタノール60gに完
全に溶解した後、これに水30gを攪拌しながら徐々に
加え、樹脂成分を沈澱させた。上層をデカンテーション
により除去し、沈澱した樹脂分を回収して40℃に加熱
し、減圧下で24時間乾燥させてアルカリ可溶性ノボラ
ック樹脂Bを得た。得られたノボラック樹脂は、重量平
均分子量9960(ポリスチレン換算)であり、分散度
は3.50であった。また、モノマー、ダイマー、トリ
マーの含量は各々、0%、2.3%、3.5%であり、
分別再沈操作により低分子量成分が43%除去されてい
た。
【0103】合成例(17) ノボラツク樹脂Dの合成 m−クレゾール60g、p−クレゾール20g、2,
3,5−トリメチルフェノール25g、37%ホルマリ
ン水溶液56g及びシユウ酸0.16gを3つ口フラス
コに仕込み、攪拌しながら100℃まで昇温し16時間
反応させた。その後温度を200℃まで上げ、徐々に1
mmHgまで減圧して、水、未反応のモノマー、ホルム
アルデヒド、シユウ酸等を留去した。次いで溶融したノ
ボラツク樹脂を室温に戻して回収した。得られたノボラ
ツク樹脂は重量平均分子量3800(ポリスチレン換
算)であつた。次いでこのノボラック樹脂20gをアセ
トン60gに完全に溶解した後、これにヘキサン60g
を攪拌しながら徐々に加え、2時間静置させ、上層をデ
カンテーションにより除去し、沈澱した樹脂分を回収し
て40℃に加熱し、減圧下で24時間乾燥させてアルカ
リ可溶性ノボラック樹脂Cを得た。得られたノボラック
樹脂は、重量平均分子量8300(ポリスチレン換算)
であり、分散度は3.20であった。また、モノマー、
ダイマー、トリマーの含量は各々、0%、2.1%、
3.0%であり、分別再沈操作により低分子量成分が5
6%除去されていた。
【0104】ポジ型フォトレジスト組成物の調整と評価 上記合成例(1)〜(13)で得られた感光物a〜i、
上記合成例(14)〜(17)で得られたノボラック樹
脂A〜D、溶剤及び必要に応じてポリヒドロキシ化合物
を表1に示す割合で混合し、均一溶液とした後、孔径
0.10μmのテフロン製ミクロフィルターを用いて濾
過し、フォトレジスト組成物を調整した。このフォトレ
ジスト組成物をスピナーを用い、回転数を変えてシリコ
ンウェハー上に塗布し、真空密着式ホットプレートで9
0℃、60秒間乾燥して、膜厚がそれぞれ0.97μm
及び1.02μmのレジスト膜を得た。この膜に縮小投
影露光装置(ニコン社製縮小投影露光装置NSR−20
05i9C)を用い露光した後、110℃で60秒間P
EBを行い、2.38%のテトラメチルアンモニウムヒ
ドロキシド水溶液で1分間現像し、30秒間水洗して乾
燥した。この様にして得られたシリコンウェハーのレジ
ストパターンを走査型電子顕微鏡で観察し、レジストを
評価した。結果を表2に示す。感度は0.60μmのマ
スクパターンを再現する露光量に逆数をもって定義し、
比較例1のレジスト膜厚1.02μmにおける感度に対
する相対値で示した。解像力は、0.60μmのマスク
パターンを再現する露光量における限界解像力を表す。
レジストの形状は0.60μmのレジストパターン断面
におけるレジスト壁面とシリコンウェハーの平面のなす
角(θ)で表した。これからわかるように、本発明の感
光物を用いたレジストでは、解像力、レジスト形状が良
好で、かつレジスト性能の膜厚依存性が小さくなること
がわかった。
【0105】
【表1】 ポリヒドロキシ ノボラック樹脂 感光物 化合物 溶 剤 種 類 添加量 種 類 添加量 種 類 添加量 種 類 添加量 実施例 1 A 100 a 28 − − s−1 360 2 A 100 b 27 − − s−1 350 3 A 100 d 28 − − s−3 360 4 B 82 a 28 p−1 18 s−1 360 5 B 81 b 27 p−2 19 s−1 370 6 B 80 c 29 p−3 20 s-2/s-4 285/95 7 B 81 d 28 p−1 20 s−3 360 8 C 81 a 32 p−2 21 s−2 35 9 C 79 c 30 p−2 22 s−2 370 10 C 80 d 31 p−3 19 s−3 36 11 D 81 a 29 p−2 18 s−3 350 12 D 82 b 28 p−1 20 s-2/s-4 285/95 13 D 81 a/d 30 p−2 21 s−3 370 比較例 1 A 100 e 29 − − s−2 350 2 A 100 f 32 − − s−3 370 3 B 80 e 30 p−2 19 s−2 360 4 B 79 f 28 p−3 23 s−1 370 5 B 80 g 33 p−1 18 s−2 360 6 B 82 h 34 p−2 19 s−3 360 7 B 80 i 30 p−3 22 s−2 350 8 C 79 e 28 p−1 19 s−2 370 9 C 82 g 32 p−2 20 s−3 380
【0106】p−1: α,α,α′−トリス(4−ヒ
ドロキシフェニル)−1−エチル−4−イソプロピルベ
ンゼン p−2: トリス(4−ヒドロキシフェニル)メタン p−3: 1,1−ビス(4−ヒドロキシフェニル)シ
クロヘキサン s−1: エチルセルソルブアセテート s−2: 2−ヒドロキシプロピオン酸エチル s−3: 3−メトキシプロピオン酸メチル s−4: エトキシプロピオン酸エチル
【0107】
【表2】 相対感度 解像力(μm) レジスト形状(θ) 膜 厚 膜 厚 膜 厚 膜 厚 膜 厚 膜 厚 0.97 1.02 0.97 1.02 0.97 1.02 実施例 1 1.1 1.2 0.32 0.32 88 88 2 1.1 1.1 0.33 0.33 87 87 3 1.2 1.3 0.34 0.34 87 87 4 1.0 1.1 0.30 0.30 88 88 5 1.0 1.0 0.30 0.30 89 89 6 1.1 1.1 0.30 0.30 89 89 7 1.1 1.2 0.29 0.29 88 88 8 1.1 1.1 0.31 0.31 87 87 9 1.0 1.1 0.32 0.32 88 88 10 1.1 1.2 0.30 0.30 88 88 11 1.0 1.0 0.31 0.31 87 87 12 1.1 1.2 0.30 0.30 88 88 13 1.0 1.1 0.30 0.30 87 87 比較例 1 0.8 0.9 0.34 0.36 84 82 2 0.8 0.8 0.34 0.33 83 84 3 0.9 1.0 0.30 0.36 86 85 4 1.1 1.2 0.34 0.32 83 84 5 1.2 1.2 0.33 0.30 88 86 6 1.0 1.1 0.35 0.33 87 87 7 0.8 1.0 0.33 0.35 85 86 8 1.1 1.3 0.34 0.32 86 84 9 0.9 1.2 0.33 0.33 86 88
【0108】
【発明の効果】本発明は、高感度、高解像力、かつ現像
ラチチュードが広く、更にレジスト性能の膜厚依存性が
小さいポジ型フオトレジスト組成物を提供することがで
きる。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平2−254451(JP,A) 特開 平4−86665(JP,A) 特開 平5−224408(JP,A) 特開 平6−95373(JP,A) 特開 平3−208055(JP,A) 特開 平4−122938(JP,A) 特開 平6−59446(JP,A) 特開 平4−211257(JP,A) 特公 昭49−45325(JP,B1) 特公 昭49−29685(JP,B1) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G03F 7/00 - 7/42

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 下記一般式〔I〕〜〔IV〕で表される
    ポリヒドロキシ化合物の少なくとも一つの1,2−ナフ
    トキノンジアジドスルホン酸エステルを含有し、当該エ
    ステル中のモノエステル体の含有量が254nmの紫外
    光を用いて測定した高速液体クロマトグラフィーの全パ
    ターン面積に対して、50%以上であることを特徴とす
    るポジ型フォトレジスト組成物。 【化1】 ここで、 R1 、R2 ;それぞれ独立に、水素原子、ハロゲン原
    子、アルキル基、アリール基(但し、どちらか一方は水
    素原子である) R3 、R4 ;それぞれ独立に、水素原子、ハロゲン原
    子、アルキル基、アリール基、シクロアルキル基 R5 ;水素原子、アルキル基、アリール基、シクロアル
    キル基(但し、R9 、R10がともに水素原子の場合、R
    5 は水素原子ではない) R6 〜R8 ;それぞれ独立に、水素原子、アルキル基、
    アリール基、シクロアルキル基 R9 、R10;それぞれ独立に、水素原子、アルキル基
    (但し、R9 、R10は環を形成していてもよい) R11、R12、R21、R22;それぞれ独立に、水素原子、
    ハロゲン原子、アルキル基、アリール基(但し、どちら
    か一方は水素原子である) R13、R14、R23、R24;それぞれ独立に、水素原子、
    ハロゲン原子、アルキル基、アリール基、シクロアルキ
    ル基 R15、R16、R25、R26;それぞれ独立に、水素原子、
    アルキル基、アリール基、シクロアルキル基 R17、R18、R27、R28;それぞれ独立に、水素原子、
    アルキル基、アリール基、シクロアルキル基(但し、同
    時に水素原子であることはない) R19、R20、R29、R30;それぞれ独立に、上記R9
    10と同様の内容を表す。
  2. 【請求項2】 (a)重量平均分子量と数平均分子量の
    比が1.5〜5.0であるアルカリ可溶性フェノールノ
    ボラック樹脂、(b)該ノボラック樹脂に対して2〜7
    0重量%の1分子中の総炭素数が12〜50で、且つ1
    分子中に2〜8個のフェノール性水酸基を有する低分子
    化合物、(c)前記1,2−ナフトキノンジアジドスル
    ホン酸モノエステルの少なくとも1種、を含有すること
    を特徴とする請求項1に記載のポジ型フォトレジスト組
    成物。
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