JP3476163B2 - 工具形状の認識方法 - Google Patents
工具形状の認識方法Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、ＮＣ工作機械加工で用
いる工具の形状を認識する方法に関し、特に、ジグ研削
盤や円筒研削盤で用いる軸付砥石、あるいはマシニング
センタやフライス盤で用いる側面形状を有するエンドミ
ルなどの形状の認識に適した工具形状認識方法に関す
る。
いる工具の形状を認識する方法に関し、特に、ジグ研削
盤や円筒研削盤で用いる軸付砥石、あるいはマシニング
センタやフライス盤で用いる側面形状を有するエンドミ
ルなどの形状の認識に適した工具形状認識方法に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】ＮＣ（数値制御）によって自動加工を行
なう工作機械においては、最適な工具作動範囲及び工具
径オフセット量を設定するため、加工の開始に先立っ
て、使用する工具についての情報をＮＣ装置に入力して
おく必要がある。例えば、切削加工を行なう工作機械で
は、工具作動範囲を設定するためには工具端面とワーク
テーブルとの相対位置を求め、工具径オフセット量を設
定するには工具径を求めている。これら工具に関する情
報も、加工作業の完全自動化を達成するため、ＮＣ装置
からの指令にもとづいて自動的に測定する必要がある。
なう工作機械においては、最適な工具作動範囲及び工具
径オフセット量を設定するため、加工の開始に先立っ
て、使用する工具についての情報をＮＣ装置に入力して
おく必要がある。例えば、切削加工を行なう工作機械で
は、工具作動範囲を設定するためには工具端面とワーク
テーブルとの相対位置を求め、工具径オフセット量を設
定するには工具径を求めている。これら工具に関する情
報も、加工作業の完全自動化を達成するため、ＮＣ装置
からの指令にもとづいて自動的に測定する必要がある。
【０００３】このような観点から、工具の端面，径，摩
耗具合などの情報を自動的に測定する手段が種々開発さ
れており、これらにおける工具の検出方法としては、機
械的接点を用いたもの、電気導通を利用したもの、加速
度センサを用いたものあるいはＣＣＤカメラを用いたも
のなどがある。
耗具合などの情報を自動的に測定する手段が種々開発さ
れており、これらにおける工具の検出方法としては、機
械的接点を用いたもの、電気導通を利用したもの、加速
度センサを用いたものあるいはＣＣＤカメラを用いたも
のなどがある。
【０００４】しかしながら、上述した工具の測定方法
は、切削工具やドリルなどの測定には比較的容易に適用
できるものの、ＮＣジグ研削盤や円筒研削盤に用いる軸
付砥石などには適用することが困難であった。
は、切削工具やドリルなどの測定には比較的容易に適用
できるものの、ＮＣジグ研削盤や円筒研削盤に用いる軸
付砥石などには適用することが困難であった。
【０００５】軸付砥石は、スチール材や超硬材で製作し
た円柱形状のシャンクの端面から一定幅にわたって砥粒
を付けた工具であり、図１（Ａ）に示す、砥石端面ｅか
らシャンク１１の一部分に砥粒１２を付着させた一般的
なタイプの砥石１０と、図１（Ｂ）に示す、砥石端面ｅ
からシャンク１６の細径部全体に砥粒１７を付着させた
シャンク剛性の低い極細タイプの砥石１５などがある。
た円柱形状のシャンクの端面から一定幅にわたって砥粒
を付けた工具であり、図１（Ａ）に示す、砥石端面ｅか
らシャンク１１の一部分に砥粒１２を付着させた一般的
なタイプの砥石１０と、図１（Ｂ）に示す、砥石端面ｅ
からシャンク１６の細径部全体に砥粒１７を付着させた
シャンク剛性の低い極細タイプの砥石１５などがある。
【０００６】図２は、軸付砥石１０を用いて加工を行な
う場合における、工具作動範囲の一般的な例を示す。同
図において、加工範囲ｔは、ワーク１の基準面２からＴ
ｓ’及びＴｅ’の距離離れた加工開始位置Ｔｓ及び加工
終了位置Ｔｅで指定されており、Ｚ軸上の軸付砥石１０
を回転させ、オシレーションしながら、ＸＹ軸面で形状
軌跡を描いて加工を行なう。ここで、オシレーション
は、上死点座標Ｚｕと下死点座標Ｚｄで設定した一定の
範囲を軸付砥石１０を繰り返し上下動させることにより
行なっており、ワークテーブル３の動きとは同期させず
に単軸で制御している。また、オシレーションすること
で、砥石の凹凸による加工面粗さと寸法精度への影響を
防いでいる。
う場合における、工具作動範囲の一般的な例を示す。同
図において、加工範囲ｔは、ワーク１の基準面２からＴ
ｓ’及びＴｅ’の距離離れた加工開始位置Ｔｓ及び加工
終了位置Ｔｅで指定されており、Ｚ軸上の軸付砥石１０
を回転させ、オシレーションしながら、ＸＹ軸面で形状
軌跡を描いて加工を行なう。ここで、オシレーション
は、上死点座標Ｚｕと下死点座標Ｚｄで設定した一定の
範囲を軸付砥石１０を繰り返し上下動させることにより
行なっており、ワークテーブル３の動きとは同期させず
に単軸で制御している。また、オシレーションすること
で、砥石の凹凸による加工面粗さと寸法精度への影響を
防いでいる。
【０００７】このオシレーションを行なう際、軸付砥石
１０のストレート部ｃをできるだけ多く、加工範囲ｔに
接触させるように位置設定しなければならない。また、
オシレーションの上死点座標Ｚｕ、下死点座標Ｚｄの設
定が不適切な場合、砥石の接触面積の変化によって、加
工時の研削抵抗が変化する。さらに、研削抵抗の変化量
が大きいと砥石の撓み量も変化し、加工面のテーパやタ
イコ形状など寸法劣化を起こす原因となり、剛性の低い
細径砥石になると、この影響は避けられない。したがっ
て、工具作動範囲を自動設定するには、軸付砥石１０の
端面位置ｅに加え、端面ｅから距離ａ’だけ離れた下方
有効位置ａ、端面ｅから距離ｂ’だけ離れた上方有効位
置ｂ、下方有効位置ａから上方有効位置ｂまでのストレ
ート部ｃなどの軸付砥石の外径形状も実測できなければ
実現できない。
１０のストレート部ｃをできるだけ多く、加工範囲ｔに
接触させるように位置設定しなければならない。また、
オシレーションの上死点座標Ｚｕ、下死点座標Ｚｄの設
定が不適切な場合、砥石の接触面積の変化によって、加
工時の研削抵抗が変化する。さらに、研削抵抗の変化量
が大きいと砥石の撓み量も変化し、加工面のテーパやタ
イコ形状など寸法劣化を起こす原因となり、剛性の低い
細径砥石になると、この影響は避けられない。したがっ
て、工具作動範囲を自動設定するには、軸付砥石１０の
端面位置ｅに加え、端面ｅから距離ａ’だけ離れた下方
有効位置ａ、端面ｅから距離ｂ’だけ離れた上方有効位
置ｂ、下方有効位置ａから上方有効位置ｂまでのストレ
ート部ｃなどの軸付砥石の外径形状も実測できなければ
実現できない。
【０００８】しかしながら、上述した従来の工具測定方
法では、軸付砥石１０における下方有効位置ａ、上方有
効位置ｂ及びストレート部ｃなどを測定することができ
なかった。このため、軸付砥石１０における工具作動範
囲の設定は、現在においても、作業者が軸付砥石を実際
にワークにあてがい、位置関係を目視確認し、そのとき
の機械座標値を読み取り、ＮＣプログラム等で設定して
いた。
法では、軸付砥石１０における下方有効位置ａ、上方有
効位置ｂ及びストレート部ｃなどを測定することができ
なかった。このため、軸付砥石１０における工具作動範
囲の設定は、現在においても、作業者が軸付砥石を実際
にワークにあてがい、位置関係を目視確認し、そのとき
の機械座標値を読み取り、ＮＣプログラム等で設定して
いた。
【０００９】また、工具径オフセット量が大き過ぎると
エアーカット（加工しないで空回りする）が多くなり、
小さ過ぎると切り込み過ぎて砥石の損傷やワーク不良に
つながることから、軸付砥石においても工具径オフセッ
トを行なう必要がある。この場合、軸付砥石は砥粒凹凸
があるので、回転しながら工具径を測定する必要があ
る。
エアーカット（加工しないで空回りする）が多くなり、
小さ過ぎると切り込み過ぎて砥石の損傷やワーク不良に
つながることから、軸付砥石においても工具径オフセッ
トを行なう必要がある。この場合、軸付砥石は砥粒凹凸
があるので、回転しながら工具径を測定する必要があ
る。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】上記のように軸付砥石
にあっては、工具作動範囲設定のために必要となる上方
有効位置、下方有効位置及びストレート部の測定を自動
的に行なうことができず、作業者がマニュアルで行なっ
ていたため、正確さと迅速性に欠けるとともに、極微細
砥石などにあってはマニュアルによる測定さえも非常に
難しいという問題があった。
にあっては、工具作動範囲設定のために必要となる上方
有効位置、下方有効位置及びストレート部の測定を自動
的に行なうことができず、作業者がマニュアルで行なっ
ていたため、正確さと迅速性に欠けるとともに、極微細
砥石などにあってはマニュアルによる測定さえも非常に
難しいという問題があった。
【００１１】また、オフセット量をセットするために行
なう工具径の測定にあっては、加工時の砥石回転数が細
径砥石で１００，０００〜２００，０００ｒ．ｐ．ｍの
高速回転であり、砥石の振れなどの影響を考慮して実加
工回転数での測定を行なう必要があるが、実加工回転数
での工具径測定を接触感知で行なった場合、測定端子部
分の摩耗が避けられず、正確さに欠けるとともに、測定
装置の保守の面でも大きな問題があった。さらに、ＣＣ
Ｄカメラを用いたものにあっては、測定装置が高価かつ
大型になるという問題があった。
なう工具径の測定にあっては、加工時の砥石回転数が細
径砥石で１００，０００〜２００，０００ｒ．ｐ．ｍの
高速回転であり、砥石の振れなどの影響を考慮して実加
工回転数での測定を行なう必要があるが、実加工回転数
での工具径測定を接触感知で行なった場合、測定端子部
分の摩耗が避けられず、正確さに欠けるとともに、測定
装置の保守の面でも大きな問題があった。さらに、ＣＣ
Ｄカメラを用いたものにあっては、測定装置が高価かつ
大型になるという問題があった。
【００１２】本発明は上記の問題点を解決すべくなされ
たもので、軸付砥石，エンドミルなどの工具作動範囲設
定のために必要となる工具の端面位置，上方有効位置及
び下方有効位置の測定を自動的かつ正確に行なうことが
できるとともに、オフセット量を設定するために必要な
工具径の測定を、実加工回転数で回転させつつ行なうこ
とができる工具形状認識方法の提供を目的とする。
たもので、軸付砥石，エンドミルなどの工具作動範囲設
定のために必要となる工具の端面位置，上方有効位置及
び下方有効位置の測定を自動的かつ正確に行なうことが
できるとともに、オフセット量を設定するために必要な
工具径の測定を、実加工回転数で回転させつつ行なうこ
とができる工具形状認識方法の提供を目的とする。
【００１３】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項１記載の発明は、 工具を、計測開始位置からレーザ測定器の方向にステ
ップ送りし、前記レーザ測定器によって工具端面が検出
されたときに工具を少なくとも１ステップ分戻し、 １ステップの送り量を前回の１ステップの送り量より
小さくして再度前記工具をレーザ測定器の方向にステッ
プ送りし、前記レーザ測定器によって工具端面が検出さ
れたときに前記工具を少なくとも今回の１ステップ分だ
け戻し、 前記の動作を、１ステップの送り量が、あらかじめ
設定してある最終ステップの送り量と同じか小さくなる
まで繰り返し、 １ステップの送り量が最終ステップの送り量と同じか
小さくなったときに、前回の計測で工具端面を検出した
ときの工具送り座標を、前記工具の端面位置座標として
記憶する方法としてある。
め、請求項１記載の発明は、 工具を、計測開始位置からレーザ測定器の方向にステ
ップ送りし、前記レーザ測定器によって工具端面が検出
されたときに工具を少なくとも１ステップ分戻し、 １ステップの送り量を前回の１ステップの送り量より
小さくして再度前記工具をレーザ測定器の方向にステッ
プ送りし、前記レーザ測定器によって工具端面が検出さ
れたときに前記工具を少なくとも今回の１ステップ分だ
け戻し、 前記の動作を、１ステップの送り量が、あらかじめ
設定してある最終ステップの送り量と同じか小さくなる
まで繰り返し、 １ステップの送り量が最終ステップの送り量と同じか
小さくなったときに、前回の計測で工具端面を検出した
ときの工具送り座標を、前記工具の端面位置座標として
記憶する方法としてある。
【００１４】また、請求項２記載の発明は、
工具を、計測開始位置からレーザ測定器の測定領域内
においてステップ送りしつつ、スキャニング計測して、
このときの工具外径の平均値を求め、前回までの測定デ
ータによって求めた工具外径平均値の範囲内に入ってい
るか否かを判定し、範囲内のときは次のスキャニング計
測を行なって、この動作を繰り返し、 前記平均値が前回までの測定データによって求めた平
均値の範囲外となったときに、工具を１ステップ分以上
戻し、 １ステップ分の送り量を前回の１ステップの送り量よ
り小さくして再度前記工具をレーザ測定器内においてス
キャニング計測し、 前記，，の動作を、１ステップの送り量が、あ
らかじめ設定してある最終ステップの送り量と同じか小
さくなるまで繰り返し、 １ステップの送り量が最終ステップの送り量と同じか
小さくなったときに、前回の計測で検出した工具外径平
均値が範囲外となったときの工具送り座標を工具上方有
効位置座標として記憶する方法としてある。
においてステップ送りしつつ、スキャニング計測して、
このときの工具外径の平均値を求め、前回までの測定デ
ータによって求めた工具外径平均値の範囲内に入ってい
るか否かを判定し、範囲内のときは次のスキャニング計
測を行なって、この動作を繰り返し、 前記平均値が前回までの測定データによって求めた平
均値の範囲外となったときに、工具を１ステップ分以上
戻し、 １ステップ分の送り量を前回の１ステップの送り量よ
り小さくして再度前記工具をレーザ測定器内においてス
キャニング計測し、 前記，，の動作を、１ステップの送り量が、あ
らかじめ設定してある最終ステップの送り量と同じか小
さくなるまで繰り返し、 １ステップの送り量が最終ステップの送り量と同じか
小さくなったときに、前回の計測で検出した工具外径平
均値が範囲外となったときの工具送り座標を工具上方有
効位置座標として記憶する方法としてある。
【００１５】また、請求項３記載の発明は、
工具を、レーザ測定器の測定領域内において砥石上方
有効位置座標から計測開始位置まで移動させ、 その後、工具を下方有効位置方向にステップ送りしつ
つ、スキャニング計測して、このときの工具外径の平均
値を求め、前回までの測定データによって求めた工具外
径平均値の範囲内に入っているか否かを判定し、範囲内
のときは次のスキャニング計測を行なって、このの動
作を繰り返し、 前記平均値が前回までの測定データによって求めた平
均値の範囲外となったときに、工具を１ステップ分以上
戻し、 １ステップ分の送り量を前回の１ステップの送り量よ
り小さくして再度前記工具をレーザ測定器内においてス
キャニング計測し、 前記，，の動作を、１ステップの送り量が、あ
らかじめ設定してある最終ステップの送り量と同じか小
さくなるまで繰り返し、 １ステップの送り量が最終ステップの送り量と同じか
小さくなったときに、前回の計測で検出した工具外径平
均値が範囲外となったときの工具送り座標を工具下方有
効位置座標として記憶する方法としてある。
有効位置座標から計測開始位置まで移動させ、 その後、工具を下方有効位置方向にステップ送りしつ
つ、スキャニング計測して、このときの工具外径の平均
値を求め、前回までの測定データによって求めた工具外
径平均値の範囲内に入っているか否かを判定し、範囲内
のときは次のスキャニング計測を行なって、このの動
作を繰り返し、 前記平均値が前回までの測定データによって求めた平
均値の範囲外となったときに、工具を１ステップ分以上
戻し、 １ステップ分の送り量を前回の１ステップの送り量よ
り小さくして再度前記工具をレーザ測定器内においてス
キャニング計測し、 前記，，の動作を、１ステップの送り量が、あ
らかじめ設定してある最終ステップの送り量と同じか小
さくなるまで繰り返し、 １ステップの送り量が最終ステップの送り量と同じか
小さくなったときに、前回の計測で検出した工具外径平
均値が範囲外となったときの工具送り座標を工具下方有
効位置座標として記憶する方法としてある。
【００１６】また、請求項４記載の発明は、工具を、
請求項２の方法で検出した前記工具の上方有効位置及び
請求項３の方法で検出した前記工具の下方有効位置の間
においてオシレーションさせ、このオシレーション時
に、前記レーザ測定器で測定したデータから工具外径の
平均値を求め、かつ、前記平均値の１／２を工具径オ
フセット量として記憶する方法としてある。
請求項２の方法で検出した前記工具の上方有効位置及び
請求項３の方法で検出した前記工具の下方有効位置の間
においてオシレーションさせ、このオシレーション時
に、前記レーザ測定器で測定したデータから工具外径の
平均値を求め、かつ、前記平均値の１／２を工具径オ
フセット量として記憶する方法としてある。
【００１７】また、請求項５記載の発明は、請求項１の
工具端面位置座標の検出、請求項２の工具上方有効位置
座標の検出及び請求項３の工具下方有効位置座標の検出
を連続して行なうようにしてある。
工具端面位置座標の検出、請求項２の工具上方有効位置
座標の検出及び請求項３の工具下方有効位置座標の検出
を連続して行なうようにしてある。
【００１８】また、請求項６記載の発明は、請求項１の
工具端面位置座標の検出、請求項２の工具上方有効位置
座標の検出、請求項３の工具下方有効位置座標の検出及
び請求項４の工具径のオフセット量検出を連続して行な
うようにしてある。
工具端面位置座標の検出、請求項２の工具上方有効位置
座標の検出、請求項３の工具下方有効位置座標の検出及
び請求項４の工具径のオフセット量検出を連続して行な
うようにしてある。
【００１９】さらに、請求項７記載の発明は、前記工具
を軸付砥石としており、請求項８記載の発明は、前記工
具を回転させるようにしており、請求項９記載の発明
は、工具を少なくとも１ステップ戻した後における１ス
テップの送り量を前回の１ステップの送り量の１／２と
してある。
を軸付砥石としており、請求項８記載の発明は、前記工
具を回転させるようにしており、請求項９記載の発明
は、工具を少なくとも１ステップ戻した後における１ス
テップの送り量を前回の１ステップの送り量の１／２と
してある。
【００２０】
【実施例】以下、本発明の実施例方法について説明す
る。図３は本実施例方法を実施する際に用いる装置例で
ある。同図に示すように、ワーク１は治具４を介してワ
ークテーブル３の上部に載置してある。レーザ測定器２
０は、発光部２１と受光部２２とからなり、上記ワーク
テーブル３上又はワークテーブル３と同じ高さのテーブ
ル上に、ワークとの位置関係が明らかで、しかも工具の
作動範囲内に位置するよう載置してある。また、図示し
てないが、レーザ測定器２０からの信号にもとづいて各
種処理を行ない、必要なデータを工作機械本体に出力す
る制御部が設けてある。
る。図３は本実施例方法を実施する際に用いる装置例で
ある。同図に示すように、ワーク１は治具４を介してワ
ークテーブル３の上部に載置してある。レーザ測定器２
０は、発光部２１と受光部２２とからなり、上記ワーク
テーブル３上又はワークテーブル３と同じ高さのテーブ
ル上に、ワークとの位置関係が明らかで、しかも工具の
作動範囲内に位置するよう載置してある。また、図示し
てないが、レーザ測定器２０からの信号にもとづいて各
種処理を行ない、必要なデータを工作機械本体に出力す
る制御部が設けてある。
【００２１】ここでレーザ測定器２０は、発光部２１か
ら高速でレーザ光２３を走査するとともに、このレーザ
光２３を遮るように入れられた工具１０の端面及び外径
を検出する。また、制御部は、レーザ測定器２０であら
かじめ指定したサンプルレートで測定した工具１０の外
径データを統計処理し、工具径の最大，最小，平均，レ
ンジ，標準偏差及びサンプル数等のデータを求める。図
示せざる工作機械の本体は、上記制御部からの作動信号
にもとづいて、工具１０をワーク１（ワークテーブル
３）との間で相対的にＸ，Ｙ，Ｚ軸方向へ移動させる。
ら高速でレーザ光２３を走査するとともに、このレーザ
光２３を遮るように入れられた工具１０の端面及び外径
を検出する。また、制御部は、レーザ測定器２０であら
かじめ指定したサンプルレートで測定した工具１０の外
径データを統計処理し、工具径の最大，最小，平均，レ
ンジ，標準偏差及びサンプル数等のデータを求める。図
示せざる工作機械の本体は、上記制御部からの作動信号
にもとづいて、工具１０をワーク１（ワークテーブル
３）との間で相対的にＸ，Ｙ，Ｚ軸方向へ移動させる。
【００２２】次に、上記装置を用いて行なう工具形状認
識方法について説明する。まず、軸付砥石１０，レーザ
測定器２０及びワーク１の相互間の位置関係を図３に示
すように定める。すなわち、工作図にてワークの加工情
報は次の通りとする。 ・Ｔｓ：加工開始位置 ・Ｔｓ’：ワーク基準面から加工開始位置Ｔｓまでの距
離 ・Ｔｅ：加工終了位置 ・Ｔｅ’：ワーク基準面から加工終了位置Ｔｅまでの距
離 ・ｔ：加工範囲（Ｔｓ’−Ｔｅ’） また、ワークテーブル３からワーク基準面２までの高さ
Ｈｗは、あらかじめ計測しておく。Ｚ軸座標と工具径デ
ータは一対の情報として扱い、工具の外形形状（凹凸）
の認識及び工具とワークテーブルとの相対位置を把握す
る。レーザ測定器２０で求める各Ｚ軸座標は次の通りと
する。 ・Ｚｅ：端面座標（基準位置６からＺｅ’離れた座標） ・Ｚａ：下方有効位置座標（基準位置６からＺａ’離れ
た座標） ・Ｚｂ：上方有効位置座標（基準位置６からＺｂ’離れ
た座標） ここで、基準位置６は、Ｚ軸原点時の砥石端面位置であ
る。また、レーザ光２３のワークテーブル３等からの高
さＨｌは、あらかじめ計測しておく。
識方法について説明する。まず、軸付砥石１０，レーザ
測定器２０及びワーク１の相互間の位置関係を図３に示
すように定める。すなわち、工作図にてワークの加工情
報は次の通りとする。 ・Ｔｓ：加工開始位置 ・Ｔｓ’：ワーク基準面から加工開始位置Ｔｓまでの距
離 ・Ｔｅ：加工終了位置 ・Ｔｅ’：ワーク基準面から加工終了位置Ｔｅまでの距
離 ・ｔ：加工範囲（Ｔｓ’−Ｔｅ’） また、ワークテーブル３からワーク基準面２までの高さ
Ｈｗは、あらかじめ計測しておく。Ｚ軸座標と工具径デ
ータは一対の情報として扱い、工具の外形形状（凹凸）
の認識及び工具とワークテーブルとの相対位置を把握す
る。レーザ測定器２０で求める各Ｚ軸座標は次の通りと
する。 ・Ｚｅ：端面座標（基準位置６からＺｅ’離れた座標） ・Ｚａ：下方有効位置座標（基準位置６からＺａ’離れ
た座標） ・Ｚｂ：上方有効位置座標（基準位置６からＺｂ’離れ
た座標） ここで、基準位置６は、Ｚ軸原点時の砥石端面位置であ
る。また、レーザ光２３のワークテーブル３等からの高
さＨｌは、あらかじめ計測しておく。
【００２３】図３に示す貫通孔の加工を行なう場合にお
いては、 ・Ｚｕ：上死点座標（−Ｚｂ’−Ｈｌ＋Ｈｗ−Ｔｓ’） ・Ｚｄ：下死点座標（−Ｚａ’−Ｈｌ＋Ｈｗ−Ｔｅ’）
いては、 ・Ｚｕ：上死点座標（−Ｚｂ’−Ｈｌ＋Ｈｗ−Ｔｓ’） ・Ｚｄ：下死点座標（−Ｚａ’−Ｈｌ＋Ｈｗ−Ｔｅ’）
【００２４】図３に示す底付加工を行なう場合において
は、 ・Ｚｕ：上死点座標（−Ｚｂ’−Ｈｌ＋Ｈｗ−Ｔｓ’） ・Ｚｄ：下死点座標（−Ｚｅ’−Ｈｌ＋Ｈｗ−Ｔｅ’） で求められる（ただし、Ｚ軸座標は、基準位置６を基準
としてワークテーブル方向が−方向となる）。また、Ｏ
ｓ：オシレーション量（Ｚｄ〜Ｚｕ）も求められる。し
かし、上記の上死点座標Ｚｕ、下死点座標Ｚｄの設定方
法は、加工開始位置Ｔｓと下方有効位置ａ、加工終了位
置Ｔｅと上方有効位置ｂ（底付加工ではｅ砥石端面）を
一致させた標準的なパターンであり、実際には、砥石タ
イプをワーク形状との関係から幾つかのパターンに分け
られる。
は、 ・Ｚｕ：上死点座標（−Ｚｂ’−Ｈｌ＋Ｈｗ−Ｔｓ’） ・Ｚｄ：下死点座標（−Ｚｅ’−Ｈｌ＋Ｈｗ−Ｔｅ’） で求められる（ただし、Ｚ軸座標は、基準位置６を基準
としてワークテーブル方向が−方向となる）。また、Ｏ
ｓ：オシレーション量（Ｚｄ〜Ｚｕ）も求められる。し
かし、上記の上死点座標Ｚｕ、下死点座標Ｚｄの設定方
法は、加工開始位置Ｔｓと下方有効位置ａ、加工終了位
置Ｔｅと上方有効位置ｂ（底付加工ではｅ砥石端面）を
一致させた標準的なパターンであり、実際には、砥石タ
イプをワーク形状との関係から幾つかのパターンに分け
られる。
【００２５】［砥石端面位置座標の検出］まず、砥石端
面位置座標Ｚｅの検出方法について説明する。砥石１０
をＺ軸方向に移動させながら、砥石端面をレーザ光に徐
々に近ずけていく。そして、砥石１０がレーザ光２３を
遮り、サンプル数が０から何らかの数値に変化したとき
のＺ軸位置を求め、この位置を砥石の端面の座標位置Ｚ
ｅとして検出する。
面位置座標Ｚｅの検出方法について説明する。砥石１０
をＺ軸方向に移動させながら、砥石端面をレーザ光に徐
々に近ずけていく。そして、砥石１０がレーザ光２３を
遮り、サンプル数が０から何らかの数値に変化したとき
のＺ軸位置を求め、この位置を砥石の端面の座標位置Ｚ
ｅとして検出する。
【００２６】砥石がレーザ光を遮る方向（−方向）にＺ
軸移動する際のステップは、早送りによるステップ移動
及びステップ計測という処理を同一ステップ量で端面が
検出されるまで繰り返して行なう。また、ステップ量と
しては、１ステップの送り量が大きい初期ステップ量
（例えば、１．０００ｍｍ）と、１ステップの送り量が
微小な最終ステップ量（例えば、０．００１ｍｍ）を設
定しておく。
軸移動する際のステップは、早送りによるステップ移動
及びステップ計測という処理を同一ステップ量で端面が
検出されるまで繰り返して行なう。また、ステップ量と
しては、１ステップの送り量が大きい初期ステップ量
（例えば、１．０００ｍｍ）と、１ステップの送り量が
微小な最終ステップ量（例えば、０．００１ｍｍ）を設
定しておく。
【００２７】レーザ測定器２０は連続測定が可能で、サ
ンプルレート（サンプリングの時間の間隔）を設定し一
定時間計測を行なう。また、図示しない制御部は、レー
ザ測定器からの測定データにもとづいて、寸法データ最
大，最小，平均，レンジ，標準偏差及びサンプル数等の
統計値を出力する機能を有している。
ンプルレート（サンプリングの時間の間隔）を設定し一
定時間計測を行なう。また、図示しない制御部は、レー
ザ測定器からの測定データにもとづいて、寸法データ最
大，最小，平均，レンジ，標準偏差及びサンプル数等の
統計値を出力する機能を有している。
【００２８】すなわち、図５に示すように、砥石１０を
回転させ（５０１）、かつ計測開始位置まで早送りで移
動させる（５０２）。計測開始位置からは、初期ステッ
プ量（５０３）で砥石をレーザ測定器２０の方向（−Ｚ
方向）へ送り、ステップ計測を行なう（５０４）。ステ
ップ計測を繰り返すことにより、砥石端面ｅがレーザ光
２３を遮ると（５０５）、砥石１０を１ステップ分レー
ザ測定器２０から離れる方向（＋Ｚ方向）に戻し（５０
６）、次いで、初期ステップ量の１／２のステップ量で
再度ステップ計測を行なう。この砥石端面検出（５０
５）と１ステップ後退（５０６）及び前ステップ量の１
／２のステップ量での再ステップ計測（５０７）を、再
ステップ計測のステップ量が最終ステップ量と同じか小
さくなるまで繰り返す。そして、再ステップ計測のステ
ップ量が最終ステップ量と同じ、またはそれより小さく
なったときに（５０８）、その直前の計測で検出した砥
石端面ｅの位置を砥石端面位置座標Ｚｅとして制御部の
メモり中に記憶させ（５０９）、計測を終了する。
回転させ（５０１）、かつ計測開始位置まで早送りで移
動させる（５０２）。計測開始位置からは、初期ステッ
プ量（５０３）で砥石をレーザ測定器２０の方向（−Ｚ
方向）へ送り、ステップ計測を行なう（５０４）。ステ
ップ計測を繰り返すことにより、砥石端面ｅがレーザ光
２３を遮ると（５０５）、砥石１０を１ステップ分レー
ザ測定器２０から離れる方向（＋Ｚ方向）に戻し（５０
６）、次いで、初期ステップ量の１／２のステップ量で
再度ステップ計測を行なう。この砥石端面検出（５０
５）と１ステップ後退（５０６）及び前ステップ量の１
／２のステップ量での再ステップ計測（５０７）を、再
ステップ計測のステップ量が最終ステップ量と同じか小
さくなるまで繰り返す。そして、再ステップ計測のステ
ップ量が最終ステップ量と同じ、またはそれより小さく
なったときに（５０８）、その直前の計測で検出した砥
石端面ｅの位置を砥石端面位置座標Ｚｅとして制御部の
メモり中に記憶させ（５０９）、計測を終了する。
【００２９】なお、計測を開始するに先立って、初期ス
テップ量と、最終ステップ量を設定しておく。また、基
準位置６からステップ計測を行なうと計測時間が長くな
ってしまう場合には、砥石がレーザ光に到達しない位置
を計測開始位置（５０１）とし、砥石を基準位置６から
早送りするように設定しておく。
テップ量と、最終ステップ量を設定しておく。また、基
準位置６からステップ計測を行なうと計測時間が長くな
ってしまう場合には、砥石がレーザ光に到達しない位置
を計測開始位置（５０１）とし、砥石を基準位置６から
早送りするように設定しておく。
【００３０】［砥石上方有効位置座標の検出］次に、砥
石１０の上方有効位置座標Ｚｂの検出方法を、図６によ
って説明する。砥石１０を、前記検出方法あるいは他の
検出方法で求めた砥石端面位置座標Ｚｅまで早送りし
（６０１）、さらに計測開始位置まで、レーザ光を遮っ
た状態で早送り移動させる（６０２）。計測開始位置か
らは、初期ステップ量（６０３）で砥石を−Ｚ方向へ送
り、ステップ計測を行なう（６０４）。ここで、計測開
始位置は、あらかじめ、砥石１０の端面から所定距離の
位置として設定しておく。
石１０の上方有効位置座標Ｚｂの検出方法を、図６によ
って説明する。砥石１０を、前記検出方法あるいは他の
検出方法で求めた砥石端面位置座標Ｚｅまで早送りし
（６０１）、さらに計測開始位置まで、レーザ光を遮っ
た状態で早送り移動させる（６０２）。計測開始位置か
らは、初期ステップ量（６０３）で砥石を−Ｚ方向へ送
り、ステップ計測を行なう（６０４）。ここで、計測開
始位置は、あらかじめ、砥石１０の端面から所定距離の
位置として設定しておく。
【００３１】この場合の計測は、砥石を一定速度で一定
量づつステップ移動させながら計測する。すなわち、制
御部はレーザ測定器２０から検出データを周期的に入力
してスキャニング計測し、統計データの平均値μと標準
偏差σを取り込み（６０５）、工具外径の平均値μが過
去のデータに対して急に変化するステップを検出してい
る。具体的には、現在の工具外径の平均値をμｎと過去
のデータから求めた検出判定基準データ ＭＩＮ＝（μ1+μ2+・・・+μn-1）／n-1−定数α×（σ1+σ2+・・・σn-1）／n-1 ＭＡＸ＝（μ1+μ2+・・・+μn-1）／n-1＋定数α×（σ1+σ2+・・・σn-1）／n-1 とを比較し、現在の工具外径の平均値μｎが検出判定基
準データの範囲内か否かを判定し（６０６）、範囲内の
場合には、現在の平均値μと標準偏差σを検出判定基準
データに加えて次のスキャニング計測を行ない、範囲か
ら外れた場合には、そのステップ内に上方有効位置が含
まれていると判断し、砥石１０を＋Ｚ方向に１．５ステ
ップ戻し（６０７）、次にステップ量を前記ステップ量
の１／２にして、再度スキャニング計測を行なう（６０
８）。なお、範囲外の場合、現在の測定の平均値μｎと
標準偏差σｎを検出判定基準データに加えない。この処
理を繰り返してステップ量が最終ステップ量に達したら
計測を終了する（６０９）。
量づつステップ移動させながら計測する。すなわち、制
御部はレーザ測定器２０から検出データを周期的に入力
してスキャニング計測し、統計データの平均値μと標準
偏差σを取り込み（６０５）、工具外径の平均値μが過
去のデータに対して急に変化するステップを検出してい
る。具体的には、現在の工具外径の平均値をμｎと過去
のデータから求めた検出判定基準データ ＭＩＮ＝（μ1+μ2+・・・+μn-1）／n-1−定数α×（σ1+σ2+・・・σn-1）／n-1 ＭＡＸ＝（μ1+μ2+・・・+μn-1）／n-1＋定数α×（σ1+σ2+・・・σn-1）／n-1 とを比較し、現在の工具外径の平均値μｎが検出判定基
準データの範囲内か否かを判定し（６０６）、範囲内の
場合には、現在の平均値μと標準偏差σを検出判定基準
データに加えて次のスキャニング計測を行ない、範囲か
ら外れた場合には、そのステップ内に上方有効位置が含
まれていると判断し、砥石１０を＋Ｚ方向に１．５ステ
ップ戻し（６０７）、次にステップ量を前記ステップ量
の１／２にして、再度スキャニング計測を行なう（６０
８）。なお、範囲外の場合、現在の測定の平均値μｎと
標準偏差σｎを検出判定基準データに加えない。この処
理を繰り返してステップ量が最終ステップ量に達したら
計測を終了する（６０９）。
【００３２】ステップ量が最終ステップ量と同じか、そ
れより小さくなったときに、その直前の計測で検出した
工具送り位置を、砥石上方有効位置座標Ｚｂとして制御
部内のメモリ中に記憶させる（６１０）。すなわち、ｎ
回目の平均値μが、過去の平均値のバラツキの範囲に入
っているかどうかで上方有効位置ｂの検出判定をしてい
る。ただし、一回目の測定では、検出判定基準データを
求める処理のみで、二回目の測定以降、上方有効位置の
判定を行なう。
れより小さくなったときに、その直前の計測で検出した
工具送り位置を、砥石上方有効位置座標Ｚｂとして制御
部内のメモリ中に記憶させる（６１０）。すなわち、ｎ
回目の平均値μが、過去の平均値のバラツキの範囲に入
っているかどうかで上方有効位置ｂの検出判定をしてい
る。ただし、一回目の測定では、検出判定基準データを
求める処理のみで、二回目の測定以降、上方有効位置の
判定を行なう。
【００３３】ここでステップ戻し量を、１ステップでは
なく１．５ステップとしているのは、上方有効位置ｂが
ステップの始めまたは終わり付近にあった場合の、見落
としを避けるための処理である。なお、計測を開始する
に先立って、初期ステップ量と、最終ステップ量を設定
しておく。また、標準偏差の定数αは、位置検出力を決
定する定数で、平均値μに対する、許容する過去の平均
値のバラツキの範囲を設定する。この結果、基準位置６
からの砥石上方有効位置座標Ｚｂが求められることにな
る。
なく１．５ステップとしているのは、上方有効位置ｂが
ステップの始めまたは終わり付近にあった場合の、見落
としを避けるための処理である。なお、計測を開始する
に先立って、初期ステップ量と、最終ステップ量を設定
しておく。また、標準偏差の定数αは、位置検出力を決
定する定数で、平均値μに対する、許容する過去の平均
値のバラツキの範囲を設定する。この結果、基準位置６
からの砥石上方有効位置座標Ｚｂが求められることにな
る。
【００３４】［砥石の下方有効位置座標の検出］次に、
砥石１０の下方有効位置座標Ｚａの検出方法を図７によ
って説明する。砥石１０を、前記検出方法で求めた砥石
上方有効位置座標Ｚｂまで早送りし（７０１）、この砥
石上方有効位置座標Ｚｂを計測開始位置として、ここか
ら初期ステップ量（７０２）で砥石１０を＋Ｚ方向に送
りステップ計測（７０３）を行なう。その後の手順は、
砥石１０を＋Ｚ方向にステップ送りし、−Ｚ方向に戻す
点が異なるだけで、他は前記砥石の上方有効位置座標検
出方法と同様の手順で砥石下方有効位置座標Ｚａを求め
記憶する（７０４〜７０９）。この結果、基準位置６か
らの砥石下方有効位置座標Ｚａが求められることにな
る。
砥石１０の下方有効位置座標Ｚａの検出方法を図７によ
って説明する。砥石１０を、前記検出方法で求めた砥石
上方有効位置座標Ｚｂまで早送りし（７０１）、この砥
石上方有効位置座標Ｚｂを計測開始位置として、ここか
ら初期ステップ量（７０２）で砥石１０を＋Ｚ方向に送
りステップ計測（７０３）を行なう。その後の手順は、
砥石１０を＋Ｚ方向にステップ送りし、−Ｚ方向に戻す
点が異なるだけで、他は前記砥石の上方有効位置座標検
出方法と同様の手順で砥石下方有効位置座標Ｚａを求め
記憶する（７０４〜７０９）。この結果、基準位置６か
らの砥石下方有効位置座標Ｚａが求められることにな
る。
【００３５】［砥石径の測定］砥石径の測定方法を図８
によって説明する。砥石１０をオシレーションするに先
立ち、上死点座標Ｚｕと砥石の下方有効位置座標Ｚａ、
及び下死点座標Ｚｄと上方有効位置座標Ｚｂとがそれぞ
れ一致するように砥石１０のオシレーション範囲を設定
する（８０１，８０２）。次いで、砥石１０を回転させ
ながら（８０３）、オシレーションを開始する（８０
４）。そして、統計データ取り込み指令によって工具外
径の平均値μを取り込み（８０５）、平均値μの１／２
の値を工具径オフセット量ｄとして求め、記憶し（８０
６）、オシレーションを終了する（８０７）。
によって説明する。砥石１０をオシレーションするに先
立ち、上死点座標Ｚｕと砥石の下方有効位置座標Ｚａ、
及び下死点座標Ｚｄと上方有効位置座標Ｚｂとがそれぞ
れ一致するように砥石１０のオシレーション範囲を設定
する（８０１，８０２）。次いで、砥石１０を回転させ
ながら（８０３）、オシレーションを開始する（８０
４）。そして、統計データ取り込み指令によって工具外
径の平均値μを取り込み（８０５）、平均値μの１／２
の値を工具径オフセット量ｄとして求め、記憶し（８０
６）、オシレーションを終了する（８０７）。
【００３６】本実施例においては、上述した砥石端面座
標Ｚｅの検出、砥石上方有効位置座標Ｚｂの検出、砥石
下方有効位置座標Ｚａの検出、及び工具径オフセット量
ｄの計測を連続的に行なう。
標Ｚｅの検出、砥石上方有効位置座標Ｚｂの検出、砥石
下方有効位置座標Ｚａの検出、及び工具径オフセット量
ｄの計測を連続的に行なう。
【００３７】これら砥石端面座標Ｚｅと、砥石下方有効
位置座標Ｚａと、砥石上方有効位置座標Ｚｂと、工具径
オフセット量ｄと、ワークテーブルからワーク基準面ま
での高さＨｗと、加工開始位置Ｔｓ、加工終了位置Ｔ
ｅ、及びワークテーブルからレーザ光までの高さＨｌと
にもとづいて工具の作動範囲の自動設定が可能となる。
また、実加工と同じ回転数で回転する軸付砥石の工具径
オフセット量ｄを計測することによって、最適なオフセ
ット量を自動設定することが可能となる。
位置座標Ｚａと、砥石上方有効位置座標Ｚｂと、工具径
オフセット量ｄと、ワークテーブルからワーク基準面ま
での高さＨｗと、加工開始位置Ｔｓ、加工終了位置Ｔ
ｅ、及びワークテーブルからレーザ光までの高さＨｌと
にもとづいて工具の作動範囲の自動設定が可能となる。
また、実加工と同じ回転数で回転する軸付砥石の工具径
オフセット量ｄを計測することによって、最適なオフセ
ット量を自動設定することが可能となる。
【００３８】なお、本発明は、上記実施例に限定される
ものではなく、エンドミルなどの工具形状認識にも実施
することができ、この場合、検出判定のデータとして、
工具外径の最大値を用い、検出判定基準として、最大値
の平均、最大値の標準偏差を用いればよい。また、上述
した工具の戻し量及び再送り時におけるステップ量等
も、前記実施例以外の戻し量及びステップ量とすること
ができる。さらに、検出判定基準値は、上記した工具外
径に関する統計データの平均値μと標準偏差σから設定
できるほか、工具外径に関する最大値と最小値からも設
定することができる。
ものではなく、エンドミルなどの工具形状認識にも実施
することができ、この場合、検出判定のデータとして、
工具外径の最大値を用い、検出判定基準として、最大値
の平均、最大値の標準偏差を用いればよい。また、上述
した工具の戻し量及び再送り時におけるステップ量等
も、前記実施例以外の戻し量及びステップ量とすること
ができる。さらに、検出判定基準値は、上記した工具外
径に関する統計データの平均値μと標準偏差σから設定
できるほか、工具外径に関する最大値と最小値からも設
定することができる。
【００３９】
【発明の効果】以上のように、本発明の工具形状の認識
方法によれば、工具の作動範囲設定に必要な工具形状に
おける各位置を正確かつ自動的に測定することができ
る。したがって、工具の作動範囲設定の自動化を可能と
する。また、実加工と同じ回転数で回転する軸付砥石の
工具径オフセット量ｄを計測することによって、最適な
オフセット量設定の自動化を可能とする。
方法によれば、工具の作動範囲設定に必要な工具形状に
おける各位置を正確かつ自動的に測定することができ
る。したがって、工具の作動範囲設定の自動化を可能と
する。また、実加工と同じ回転数で回転する軸付砥石の
工具径オフセット量ｄを計測することによって、最適な
オフセット量設定の自動化を可能とする。
【図１】（Ａ），（Ｂ）は軸付砥石の一般的な形状を示
す図である。
す図である。
【図２】軸付砥石の加工時の工具作動範囲を示す図であ
る。
る。
【図３】軸付砥石、レーザ測定器、ワークの位置関係を
示す図である。
示す図である。
【図４】レーザ測定器のレーザ光の中に工具が位置して
いる状態を示す図である。
いる状態を示す図である。
【図５】砥石端面位置座標の検出手順を説明するための
フローチャートである。
フローチャートである。
【図６】上方有効位置座標の検出手順を説明するための
フローチャートである。
フローチャートである。
【図７】下方有効位置座標の検出手順を説明するための
フローチャートである。
フローチャートである。
【図８】工具径オフセット量の測定手順を説明するため
のフローチャートである。
のフローチャートである。
１：ワーク
２：ワーク基準面
３：ワークテーブル
１０，１５：工具
２０：レーザ測定器
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(56)参考文献 特開 昭61−90858（ＪＰ，Ａ)
特開 平２−78904（ＪＰ，Ａ)
特開 平４−315556（ＪＰ，Ａ)
特開 平６−109440（ＪＰ，Ａ)
特開 昭64−64752（ＪＰ，Ａ)
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
B23Q 17/22
B23Q 17/24
Claims (9)
- 【請求項１】 工具を、計測開始位置からレーザ測定
器の方向にステップ送りし、前記レーザ測定器によって
工具端面が検出されたときに工具を少なくとも１ステッ
プ分戻し、 １ステップの送り量を前回の１ステップの送り量より
小さくして再度前記工具をレーザ測定器の方向にステッ
プ送りし、前記レーザ測定器によって工具端面が検出さ
れたときに前記工具を少なくとも今回の１ステップ分だ
け戻し、 前記の動作を、１ステップの送り量が、あらかじめ
設定してある最終ステップの送り量と同じか小さくなる
まで繰り返し、 １ステップの送り量が最終ステップの送り量と同じか
小さくなったときに、前回の計測で工具端面を検出した
ときの工具送り座標を、前記工具の端面位置座標として
記憶することを特徴とした工具形状の認識方法。 - 【請求項２】 工具を、計測開始位置からレーザ測定
器の測定領域内においてステップ送りしつつ、スキャニ
ング計測して、このときの工具外径の平均値を求め、前
回までの測定データによって求めた工具外径平均値の範
囲内に入っているか否かを判定し、範囲内のときは次の
スキャニング計測を行なって、この動作を繰り返し、 前記平均値が前回までの測定データによって求めた平
均値の範囲外となったときに、工具を１ステップ分以上
戻し、 １ステップ分の送り量を前回の１ステップの送り量よ
り小さくして再度前記工具をレーザ測定器内においてス
キャニング計測し、 前記，，の動作を、１ステップの送り量が、あ
らかじめ設定してある最終ステップの送り量と同じか小
さくなるまで繰り返し、 １ステップの送り量が最終ステップの送り量と同じか
小さくなったときに、前回の計測で検出した工具外径平
均値が範囲外となったときの工具送り座標を工具上方有
効位置座標として記憶することを特徴とした工具形状の
認識方法。 - 【請求項３】 工具を、レーザ測定器の測定領域内に
おいて砥石上方有効位置座標から計測開始位置まで移動
させ、 その後、工具を下方有効位置方向にステップ送りしつ
つ、スキャニング計測して、このときの工具外径の平均
値を求め、前回までの測定データによって求めた工具外
径平均値の範囲内に入っているか否かを判定し、範囲内
のときは次のスキャニング計測を行なって、この動作を
繰り返し、 前記平均値が前回までの測定データによって求めた平
均値の範囲外となったときに、工具を１ステップ分以上
戻し、 １ステップ分の送り量を前回の１ステップの送り量よ
り小さくして再度前記工具をレーザ測定器内においてス
キャニング計測し、 前記，，の動作を、１ステップの送り量が、あ
らかじめ設定してある最終ステップの送り量と同じか小
さくなるまで繰り返し、 １ステップの送り量が最終ステップの送り量と同じか
小さくなったときに、前回の計測で検出した工具外径平
均値が範囲外となったときの工具送り座標を工具下方有
効位置座標として記憶することを特徴とした工具形状の
認識方法。 - 【請求項４】 工具を、請求項２の方法で検出した前
記工具の上方有効位置及び請求項３の方法で検出した前
記工具の下方有効位置の間においてオシレーションさ
せ、 このオシレーション時に、前記レーザ測定器で測定し
たデータから工具外径の平均値を求め、 かつ、前記平均値の１／２を工具径オフセット量とし
て記憶することを特徴とした工具形状の認識方法。 - 【請求項５】 請求項１の工具端面位置座標の検出、請
求項２の工具上方有効位置座標の検出及び請求項３の工
具下方有効位置座標の検出を連続して行なうことを特徴
とした工具形状の認識方法。 - 【請求項６】 請求項１の工具端面位置座標の検出、請
求項２の工具上方有効位置座標の検出、請求項３の工具
下方有効位置座標の検出、及び請求項４の工具径のオフ
セット量検出を連続して行なうことを特徴とした工具形
状の認識方法。 - 【請求項７】 前記工具が軸付砥石である請求項１〜５
又は６記載の工具形状の認識方法。 - 【請求項８】 前記工具を回転させながら行なう請求項
１〜６又は７記載の工具形状の認識方法。 - 【請求項９】 工具を１ステップ以上戻した後における
１ステップの送り量が前回の送り量の１／２である請求
項１，２，３，５，６，７又は８記載の工具形状の認識
方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10061695A JP3476163B2 (ja) | 1995-03-31 | 1995-03-31 | 工具形状の認識方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10061695A JP3476163B2 (ja) | 1995-03-31 | 1995-03-31 | 工具形状の認識方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08267343A JPH08267343A (ja) | 1996-10-15 |
| JP3476163B2 true JP3476163B2 (ja) | 2003-12-10 |
Family
ID=14278784
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10061695A Expired - Fee Related JP3476163B2 (ja) | 1995-03-31 | 1995-03-31 | 工具形状の認識方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3476163B2 (ja) |
Families Citing this family (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| ITBO20030430A1 (it) * | 2003-07-17 | 2005-01-18 | Marposs Spa | Apparecchiatura e metodo per il controllo della posizione |
| JP4777703B2 (ja) * | 2005-06-23 | 2011-09-21 | 株式会社インクス | 回転体の断面のプロフィールを得るための方法 |
| JP5662734B2 (ja) * | 2010-08-12 | 2015-02-04 | 株式会社ディスコ | 研削装置 |
| DE102012019026A1 (de) * | 2012-09-26 | 2014-03-27 | Blum-Novotest Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zum Vermessen eines in einer Werkstückbearbeitungsmaschine aufgenommenen Werkzeugs |
| CN103197606A (zh) * | 2013-03-25 | 2013-07-10 | 沈阳理工大学 | 一种基于step-nc的智能数控系统 |
| DE112014006253T5 (de) | 2014-01-24 | 2016-10-27 | Mitsubishi Electric Corporation | Werkzeugformmessvorrichtung und Werkzeugformmessverfahren |
| DE102017005488A1 (de) * | 2017-06-09 | 2018-12-13 | Blum-Novotest Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zum Messen und Kontrollieren eines drehantreibbaren Werkzeugs in einer Werkzeugmaschine |
| CN118341749B (zh) * | 2024-06-17 | 2024-09-13 | 赛晶亚太半导体科技(浙江)有限公司 | 一种劈刀清洗及检测方法 |
-
1995
- 1995-03-31 JP JP10061695A patent/JP3476163B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH08267343A (ja) | 1996-10-15 |
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