JP3468856B2 - 動きベクトル検出方法及び装置 - Google Patents

動きベクトル検出方法及び装置

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  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Compression Or Coding Systems Of Tv Signals (AREA)
  • Processing Or Creating Images (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、画像の記録・通信・伝
送及び放送等における動画像信号の符号化装置に係り、
特に符号化が行なわれた画面上のどの領域から動いたも
のかを表わす動きベクトル情報とその動きベクトル情報
により示される領域との差分を符号化する動き補償予測
符号化装置に用いられる動きベクトル検出方法及びこの
方法が適用される動きベクトル検出装置に関する。
【0002】
【従来の技術】テレビジョン(TV)や写真の様な多階
調の画像信号は、その情報量が膨大であるために、その
ままディジタル信号で伝送や記録を行なうには広帯域の
伝送路や大容量の記録媒体を必要とする。従って、TV
電話・TV会議・有線放送テレビジョン(CATV)及
び画像ファイル装置等では、画像信号を少ないデータ量
に圧縮する符号化技術が必要となる。このような動画像
符号化方法の1つとして、参照画面となる符号化された
画面から入力画面の部分領域と最も相関の高い部分領域
を検出して、入力画面の部分領域が符号化された画面の
どの領域から動いたものかを表わす動きベクトル情報
と、入力画面の部分領域とその動きベクトル情報により
示される検出部分領域との差分を符号化する方法が知ら
れている。
【0003】画面の走査方法としては、1ラインずつ順
々に走査する順次走査(ノンインターレーススキャンニ
ング−non-interlaced scanning −)と、1ライン
ずつ間をあけて走査する飛越し走査(インターレースス
キャニング−interlaced scanning −)が存在す
る。1回の飛び越し走査によって得られる1ラインずつ
間引かれた画面をフィールド(field )画面と呼び、1
回の順次走査又は2回の飛越し走査によって得られる完
全な画面をフレーム(frame )画面と呼ぶ。
【0004】ノンインタレース画像のように、同一フレ
ーム内のフィールド間では動きが存在しない場合には、
フレーム構成によって検出した動きベクトルを用いる動
き補償予測方法が有効となることが多い。これに対し
て、インタレース画像においては、一般に同一フレーム
内のフィールド間であっても動きが存在するので、フィ
ールド構成によって検出した動きベクトルを用いる動き
補償予測が有効となる場合が多い。
【0005】従来は、同一フレーム内のフィールド間に
動きが存在する場合と存在しない場合の双方に対応でき
るように、入力画面のフレームで構成される部分領域
と、その部分領域をフィールドの位相に応じて分離した
フィールドで構成される部分領域との両方について、そ
れぞれ個別に動きベクトルを検出していた。そして、フ
レームで構成される部分領域に対して検出した1つの動
きベクトルを用いた場合の予測誤差量と、同一フレーム
を構成する2つのフィールドの部分領域に対して検出し
た2つの動きベクトルを用いた場合の予測誤差量の和と
を比較して、この誤差量の値がもっとも小さくなる予測
方法における動きベクトルを動き補償に使用していた。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
動きベクトル検出方法においては、入力画面のフレーム
で構成される部分領域に対する動きベクトルの検出と、
フィールドで構成される部分領域に対する動きベクトル
の検出とが、各々個別に行なわれていた。即ち、入力画
面の1つの部分領域に対する動きベクトルを求めるため
に、1つのフレームベクトルを検出するための演算と、
2つのフィールドベクトルを検出するための演算とを独
立して広い探索範囲について行なっており、そのために
膨大な演算量を必要とするという問題点があった。
【0007】本発明は、上記の問題点を解決することを
目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記問題点を
解決するために、入力画面上の部分領域が、参照画面上
のどの領域から動いたものかを示す動きベクトル情報を
検出する動きベクトル検出方法において、前記入力画面
のフィールド部分領域と前記参照画面のフィールド
部分領域との間の誤差量が最小値となる参照画面のフィ
ールドで構成される部分領域の位置を検出する第1のス
テップと、予め検出された前記参照画面の前記フィール
の前記部分領域の検出位置を基準にして前記参照画面
のフレームに探索範囲を設定する第2のステップと、
前記探索範囲内のフレーム部分領域と前記入力画面の
前記フレーム部分領域との間の誤差量が最小値となる
参照画面のフレーム部分領域の位置を検出する第3の
ステップと を含むことを特徴とする動きベクトル検出
方法を提供する。
【0009】また、本発明は、上記問題点を解決するた
めに、入力画面上の部分領域が、参照画面上のどの領域
から動いたものかを示す動きベクトル情報を検出する動
きベクトル検出装置において、前記入力画面のフィール
部分領域と参照画面のフィールド部分領域との間
の誤差量を計算する第1の手段と、前記誤差量が最小値
となる参照画面のフィールドの前記部分領域の位置を検
出する第2の手段と、前記検出された参照画面のフィー
ルド部分領域の検出位置を基準にして参照画面のフレ
ーム上に探索範囲を設定する第3の手段と、前記探索範
囲内のフレーム部分領域と入力画面のフレーム部分
領域との間の誤差量を計算する第4の手段と、前記誤差
量が最小値となる参照画面のフレーム部分領域の位置
を検出する第5の手段と、を含むことを特徴とする動き
ベクトル検出装置を提供する。
【0010】
【作用】本発明による動きベクトル検出方法は、前記第
1のステップにおいて、入力画面のフィールドで構成さ
れる部分領域と参照画面のフィールドで構成される部分
領域との誤差量を計算することにより、入力画面のフィ
ールドで構成される部分領域と参照画面のフィールドで
構成される部分領域との相関の度合いを計算し、該誤差
量が最小値となる参照画面のフィールドで構成される部
分領域の位置を検出することにより、フィールドの動き
ベクトルを検出する。前記第2のステップにおいては、
前記第1のステップで検出されたフィールドベクトルが
指し示す参照画面上の位置を基準にする事により、参照
画面のフレーム上にフレームベクトルを検出するための
探索範囲を狭く制限して設定する。前記第3のステップ
においては、前記第2のステップで設定された探索範囲
内の参照画面のフレームで構成される部分領域と入力画
面のフレームで構成される部分領域との誤差量を計算す
ることにより、入力画面のフレームで構成される部分領
域と参照画面のフレームで構成される部分領域との相関
の度合いを計算し、該誤差量が最小値となる参照画面の
フレームで構成される部分領域の位置を検出することに
より、フレームの動きベクトルを検出する。
【0011】また、本発明による動きベクトル検出装置
は、前記第1の手段において、入力画面のフィールドで
構成される部分領域と参照画面のフィールドで構成され
る部分領域との誤差量を計算することにより、入力画面
のフィールドで構成される部分領域と参照画面のフィー
ルドで構成される部分領域との相関の度合いを計算し、
前記第2の手段において、該誤差量が最小値となる参照
画面のフィールドで構成される部分領域の位置を検出す
ることにより、フィールドの動きベクトルを検出する。
前記第3の手段においては、前記第2の手段で検出され
たフィールドベクトルが指し示す参照画面上の位置を基
準にして、参照画面のフレーム上にフレームベクトルを
検出するための探索範囲を狭く制限して設定する。前記
第4の手段において、前記探索範囲内の参照画面のフレ
ームで構成される部分領域と入力画面のフレームで構成
される部分領域との誤差量を計算することにより、入力
画面のフレームで構成される部分領域と参照画面のフレ
ームで構成される部分領域との相関の度合いを計算し、
前記第5の手段において、前記誤差量が最小値となる参
照画面のフレームで構成される部分領域の位置を検出す
ることにより、フレームの動きベクトルを検出する。
【0012】ここで、フレームベクトルが動き補償に使
用される場合は、入力画面の部分領域をフィールドの位
相によって分離せずに算出した参照画面のフレームの部
分領域と入力画面のフレームの部分領域との誤差量が、
他の動き補償に比べて小さな場合である。即ちこの場合
は、入力画面のフレームの部分領域のどちらのフィール
ドライン(field line)についても動きの方向と大きさ
が同様な場合に相当する。又、フィールドベクトルの検
出では、入力画面の部分領域をフィールドの位相によっ
て分離された各部分領域に対して誤差量の小さな参照画
面のフィールドの部分領域を検出している。つまり、フ
レームベクトルが動き補償に選択される様な場合は、フ
ィールドベクトル検出で画像の動きを的確に検出してい
れば、フィールドベクトルとフレームベクトルとが指し
示す画面上の位置はほぼ一致するはずであり、フィール
ドベクトルの検出結果を探索のための基準位置の設定に
使用すれば、フレームベクトルの探索範囲を狭く限定し
てもフレームベクトルの検出に支障が無く、フレームベ
クトルの検出に必要な演算量の削減が可能となる。
【0013】
【実施例】以下、図面を用いて本発明に係る動きベクト
ル検出方法及び動きベクトル検出装置の好適な実施例に
ついて説明する。
【0014】図1はこの発明に係る動きベクトル検出方
法の基本概念を示すフローチャートである。まず、最初
のステップST1において、入力画面及び参照画面をそ
れぞれ設定する。この場合、1つのフレーム入力画面に
ついて、2つの参照フィールド画面が設定される。次に
ステップST2において、各々の参照画面についてそれ
ぞれのフィールド画面上に探索範囲を設定する。
【0015】次に、ステップST3ないしST7を含む
ステップ群において、フィールド構成で入力部分領域と
の誤差が最小となる参照部分領域の位置を検出する。即
ち、ステップST3において、各参照フィールドの部分
領域間の誤差量を計算する。ステップST4において
は、部分領域間の誤差量を評価量として、以前の誤差量
と同じかそれよりも小さい場合には動きベクトル及び誤
差量を更新することにより各フィールド毎の動きベクト
ルを検出する。ステップST5において、探索範囲内の
探索が終了したか否かが判断され、終了していない場合
には、ステップST6において参照部分領域を更新して
前記ステップST3ないしST5の動作を繰り返すこと
になる。一方、ステップST5において探索範囲内の探
索が終了したものと判断された場合には、ステップST
7に進みフィールドベクトルの検出が完了する。従っ
て、ステップST3ないしST7を含む一連のステップ
群は、入力画面のフィールドで構成される部分領域と参
照画面のフィールドで構成される部分領域との間の誤差
量を評価量として、この評価量が最小値となる参照画面
のフィールドで構成される部分領域の位置を検出するも
のである。
【0016】次に、ステップST8において、ステップ
ST3ないしST7のステップ群において検出された参
照画面のフィールドで構成される部分領域の検出位置を
基準にして参照画面のフレーム上に探索範囲が設定され
る。
【0017】次に、ステップST9ないしST13を含
むステップ群において、フレーム構成で入力部分領域と
の誤差が最小となる参照部分領域の位置が検出される。
即ち、ステップST9において、前記探索範囲内のフレ
ームで構成される部分領域と入力画面のフレームで構成
される部分領域との間の誤差量を計算する。次に、ステ
ップST10において、前記誤差量を評価量として用い
て、以前の誤差量との大小関係に応じてフレームにおけ
る動きベクトル及び誤差量を更新する。ステップST1
1においては、フレームに関して探索範囲内の探索が終
了したか否かが判断され、終了していない場合にはステ
ップST12において参照部分領域を更新して前記ステ
ップST9ないしST11の動作が繰り返される。一
方、ステップST11において探索範囲内の探索が終了
したものと判断された場合には、ステップST13に進
みフレームベクトルの検出が完了する。従って、ステッ
プST9ないしST13を含む一連のステップ群は、探
索範囲内のフレームで構成される部分領域と入力画面の
フレームで構成される部分領域との間の誤差量を評価量
として、この評価量が最小値となる参照画面のフレーム
で構成される部分領域の位置を検出するものである。
【0018】次に、本発明に係る動きベクトル検出方法
の第1の実施例を図2ないし図4のフローチャートに従
って説明する。
【0019】まず、図5(a)に示す入力フィールド1
03における部分領域203及び図5(b)に示す入力
フィールド104における部分領域204に対して、図
6(a)(b)に示す参照フィールド105及び参照フ
ィールド106からの動きベクトルの検出方法について
説明する。
【0020】図2のステップS01において、参照画面
となる参照フィールド105と参照フィールド106の
読み込み及び符号化画面となる入力フィールド103の
読み込みを行ない、ステップS02において入力フィー
ルド103上の部分領域203の読み込みを行なう。
【0021】ステップS03では、図6(a)(b)に
示す参照フィールド105及び参照フィールド106の
それぞれの画面上に動きベクトルの探索範囲301及び
探索範囲302を所定の位置に設定すると共に、先の入
力部分領域203に対するデフォルトの動きベクトル候
補と誤差量をそれぞれの参照フィールド毎に一時記憶す
る。
【0022】ステップS04では、探索範囲301及び
探索範囲302のそれぞれから参照部分領域を切り出し
て、各参照部分領域と入力部分領域203との間の誤差
量を計算する。
【0023】ステップS05及びステップS06では、
探索範囲301及び探索範囲302の各々の参照部分領
域毎に、ステップS04で求めた誤差量と以前に一時的
に記憶した動きベクトル候補の誤差量とを比較し、ステ
ップS04で求めた誤差量が一時記憶した動きベクトル
候補の誤差量と同じかそれよりも小さな値ならば、一時
的に記憶された動きベクトル候補及び誤差量を参照部分
領域の参照フィールド中での位置を示す動きベクトルと
その誤差量に更新して、大きな値ならば一時的に記憶さ
れた動きベクトル候補及び誤差量を更新せずに次のステ
ップS07へ進む。
【0024】ステップS07では、それらの参照部分領
域が探索範囲301及び探索範囲302の最後の参照部
分領域であるか否かが判断され、最後の参照部分領域で
ないなら、ステップS08を経て、前記ステップS04
へ戻り、最後の参照部分領域であるならば、ステップS
09へ進む。
【0025】前記のステップS08では、探索範囲30
1及び探索範囲302の参照部分領域の更新を、各々の
探索範囲内で参照部分領域の位置を1画素ずつずらすこ
とによって行なう。
【0026】ステップS09では、上述のステップS0
3からステップS08の処理により入力フィールド10
3の部分領域203に対して探索範囲301及び探索範
囲302から検出した、2つの1画素精度のフィールド
ベクトルを出力する。例えば、図6(a)(b)に示し
た参照フィールド105上の動きベクトル501と参照
フィールド106上の動きベクトル502とが、図5
(a)に示した入力フィールド103上の部分領域20
3に対する参照フィールド105及び参照フィールド1
06からの1画素精度のフィールドベクトルとして出力
される。
【0027】ステップS10では、上述の様に2つの参
照フィールドから検出した2つの動きベクトルの内、参
照部分領域と入力部分領域との間の誤差量がより小さい
方の動きベクトルを1画素精度のフィールドベクトルと
して選択する。例えば、図6(a)(b)において、前
記参照フィールド105上の部分領域401と、前記参
照フィールド106上の部分領域402との内、図5
(a)の入力フィールド103上の部分領域203との
間の誤差量がより小さいものが参照フィールド106上
の部分領域402であれば、動きベクトル502が1画
素精度のフィールドベクトルとして選択される。
【0028】図3において、ステップS11では、1/2
画素精度のフィールドベクトルの検出のために、前記参
照部分領域402を中心とした小さな探索範囲306を
設定すると共に、先の入力部分領域203に対するデフ
ォルトの動きベクトル候補と誤差量を一時的に記憶す
る。
【0029】ステップS12では、探索範囲306から
参照部分領域を切り出して、参照部分領域と入力部分領
域203との間の誤差量を計算する。
【0030】ステップS13及びステップS14では、
参照部分領域毎にステップS12で求めた誤差量と以前
に一時的に記憶した動きベクトル候補の誤差量とを比較
し、ステップS12で求めた誤差量が一時記憶した動き
ベクトル候補の誤差量と同じか小さな値ならば、一時記
憶する動きベクトル候補及び誤差量を参照部分領域の参
照フィールド中での位置を示す動きベクトルとその誤差
量で更新して、大きな値ならば一時記憶する動きベクト
ル候補及び誤差量を更新せずに次のステップS15へ進
む。
【0031】ステップS15では、その参照部分領域が
探索範囲306の最後の参照部分領域であるか否かを判
定し、最後の参照部分領域でないならば、ステップS1
6を経て前記ステップS12へ戻り、最後の参照部分領
域であるならば、ステップS17へ進む。
【0032】前記のステップS16では、探索範囲30
6内で参照部分領域の位置を1/2 画素ずつずらすことに
よって、参照部分領域の更新を行う。
【0033】ステップS17では、上述のステップS1
1からステップS16の処理により、入力フィールド1
03の部分領域203に対して探索範囲306から検出
した、1/2 画素精度のフィールドベクトルを出力する。
例えば、図6(b)に示した参照フィールド106上の
動きベクトル503が図5(a)における入力フィール
ド103上の部分領域203に対する参照フィールド1
06からの1/2 画素精度のフィールドベクトルとして出
力される。
【0034】ステップS18では、現在フィールドベク
トルの検出を行なっている入力フィールド103の部分
領域203が、その入力フィールドの最後の入力部分領
域であるか否かを判断して、最後の入力部分領域でない
ならば、ステップS19で(入力フィールド103の)
部分領域の更新を行なって図2の前記ステップS03へ
戻り、入力フィールドの最後の入力部分領域であるなら
ば、ステップS20に進む。
【0035】ステップS20では、1枚のフレームを構
成する所定数の入力フィールドについてフィールドベク
トル検出が終了しているか否かを判断し、終了していな
い場合には、ステップS21で次の入力フィールドを読
み込んで図2のステップS02へ戻り、1枚のフレーム
を構成する所定数の入力フィールドについてフィールド
ベクトル検出を終了した場合には、ステップS22へ進
む。例えば、図5(a)に示す入力フィールド103に
ついてフィールドベクトル検出を終了した後では、ステ
ップS21で次の入力フィールド104(図5(b)を
読み込み、図2のステップS02で図5(b)に示す入
力フィールド104上の部分領域204の読み込みを行
い、入力フィールド104上の部分領域204に対し
て、上記の入力フィールド103上の部分領域203に
対するフィールドベクトルの検出手順と同様の手順で、
以下のようにフィールドベクトルの検出を行なう。
【0036】ステップS03では、図6(a)(b)に
示す参照フィールド105及び参照フィールド106の
それぞれの画面上に、先に入力フィールド103上の部
分領域203に対して求められた1画素精度でのフィー
ルドベクトルの内、参照/入力部分領域間の誤差量がよ
り小さい値を示す部分領域の位置を指し示す動きベクト
ル502を基準として、参照フィールド105及び参照
フィールド106のそれぞれの画面上に動きベクトルの
探索範囲303及び探索範囲304を設定する。同時
に、それぞれの探索範囲において、入力部分領域204
に対するデフォルトの動きベクトル候補と誤差量を一時
的に記憶する。
【0037】更にステップS04からステップS08迄
の処理を行って、前記探索範囲303及び探索範囲30
4から1画素精度のフィールドベクトルの検出を行う。
その結果得られた2つの1画素精度のフィールドベクト
ル(例えば参照フィールド105上の動きベクトル50
4と参照フィールド106上の動きベクトル505)が
ステップS09で出力される。
【0038】ステップS10では、前記2つの1画素精
度のフィールドベクトルの内、入力フィールド104上
の部分領域204との間の誤差量がより小さい方の動き
ベクトルを1画素精度のフィールドベクトルとして選択
する。例えば、図6(a)において、参照フィールド1
05上の部分領域404の位置を示す動きベクトル50
4が、1画素精度のフィールドベクトルとして選択され
る。
【0039】図3のステップS11では、1/2 画素精度
のフィールドベクトルの検出の為に、前記参照部分領域
404を中心とした小さな動きベクトル探索範囲305
を設定すると共に、先の入力部分領域204に対するデ
フォルトの動きベクトル候補と誤差量を一時記憶する。
【0040】更にステップS12からステップS16迄
の処理を行って、前記探索範囲305から、1/2 画素精
度のフィールドベクトルを検出する。
【0041】ステップS17では、前記の探索処理の結
果求められた1/2 画素精度のフィールドベクトル506
を出力する。
【0042】ステップS18では、現在のフィールドベ
クトルの検出を行っている入力フィールド104の部分
領域204が、その入力フィールドの最後の入力部分領
域であるか否かを判定し、最後の入力部分領域でなけれ
ば、ステップS19で入力フィールド104の部分領域
の更新を行なってステップS03へ戻り、入力フィール
ドの最後の入力部分領域であれば、前述のステップS2
0に進む。
【0043】ステップS20では、上述のステップS0
3からステップS19迄の処理により、1枚のフレーム
を構成する所定数の入力フィールド(例えば図5(a)
(b)の入力フィールド103及び入力フィールド10
4)についてのフィールドベクトルの検出が終了してい
るか否かを判定し、終了していなければ、ステップS2
1で次の入力フィールド(例えば図5(b)の入力フィ
ールド104)を読み込んで、ステップS02へ戻って
次の入力フィールドについてのフィールドベクトルの検
出処理を行い、終了していれば、ステップS22の処理
に進める。
【0044】次に、図5(c)に示す入力フレーム10
1上の部分領域201に対して、図6(c)に示す参照
フレーム102からの動きベクトルの検出方法について
説明する。
【0045】まず、ステップS22では、上述のステッ
プS02ないしS21で読み込んだ1組の入力フィール
ド及び1組の参照フィールドから1枚の入力フレーム及
び参照フレームを構成する。例えば、図5(a)(b)
の入力フィールド103と入力フィールド104で図5
(c)の入力フレーム101を構成し、図6(a)
(b)の参照フィールド105と参照フィールド106
で図6(c)の参照フレーム102を構成する。
【0046】図4におけるステップS23では、入力フ
レーム101上の部分領域201の読み込みを行なう。
ここで読み込まれるフレーム画面上の部分領域は、2つ
のフィールド画面上でほぼ同じ位置にある部分領域で構
成される。例えば、図5(c)の入力フレーム101上
の部分領域201は、図5(a)(b)の入力フィール
ド103上の部分領域203と入力フィールド104上
の部分領域204で構成される。
【0047】ステップS24では、1つの入力フレーム
上の部分領域を構成する2つの入力フィールドの部分領
域に対して検出した計2つの1画素精度のフィールドベ
クトルの内から参照部分領域と入力部分領域との間の誤
差量がより小さい方の1画素精度のフィールドベクトル
を1/2 画素精度のフレームベクトルの探索の基準として
選択する。例えば、図5(a)の入力フィールド103
上の部分領域203に対して検出した1画素精度の動き
ベクトル502が指し示す図6(b)の参照フィールド
106上の部分領域に比べ、図5(b)の入力フィール
ド104上の部分領域204に対して検出した1画素精
度の動きベクトル504が指し示す図6(a)の参照フ
ィールド105上の部分領域が、入力部分領域との誤差
量がより小さくなる場合には、動きベクトル504を1/
2 画素精度のフレームベクトルの探索の基準として選択
する。
【0048】ステップS25では、1/2 画素精度のフレ
ームベクトルの検出の為に、動きベクトル504が示す
参照フィールド105上の位置を参照フレーム102上
の位置に変換し、その位置に存在する参照フレーム上の
参照部分領域405を中心とした小さな動きベクトル探
索範囲307を設定すると共に、入力部分領域201に
対するデフォルトの動きベクトル候補と誤差量を一時的
に記憶する。
【0049】ステップS26では、探索範囲307から
参照部分領域を切り出して、参照部分領域と入力部分領
域201との間の誤差量を計算する。
【0050】ステップS27及びステップS28では、
参照部分領域毎にステップS26で求めた誤差量と以前
に一時記憶した動きベクトル候補との誤差量とを比較
し、ステップS26で求めた誤差量が一時記憶した動き
ベクトル候補の誤差量と同じか小さな値ならば、一時記
憶する動きベクトル候補及び誤差量を参照部分領域の参
照フレーム中での位置を示す動きベクトルとその誤差量
で更新して、大きな値ならば一時的に記憶された動きベ
クトル候補及び誤差量を更新せずに次のステップS29
へ進む。
【0051】ステップS29では、その参照部分領域が
探索範囲307の最後の参照部分領域であるか否かを判
断し、最後の参照部分領域でないなら、ステップS30
を経て前記ステップS26へ戻り、最後の参照部分領域
であるならば、ステップS31へ進む。
【0052】前記のステップS30では、探索範囲30
7の参照部分領域の更新を、探索範囲内で参照部分領域
の位置を1/2 画素ずつずらすことによって行なう。
【0053】ステップS31では、上述のステップS2
5からステップS30の処理により図5(c)の入力フ
レーム101の部分領域201に対して、探索範囲30
7から検出した1/2 画素精度のフレームベクトル(例え
ば、図6(c)に示した参照フレーム102上の動きベ
クトル507)を出力する。
【0054】ステップS32で、現在のフレームベクト
ルの検出を行なっている入力フレーム101の部分領域
201が、その入力フレームの最後の入力部分領域であ
るか否かを判定し、最後の入力部分領域でないならば、
ステップS33で入力フレーム101の部分領域の更新
を行なってステップS24へ戻り、最後の入力部分領域
であるならば、ステップS34に進む。
【0055】ステップS34では、所定数の入力フィー
ルドについて動きベクトルを検出したか否かを判定し、
所定数の入力フィールドについて動きベクトル検出を終
了していないならばステップS35で以前の入力フィー
ルドをリセットし次の入力フィールドを読み込んだ後、
図2のステップS02へ戻る。所定数の入力フィールド
について動きベクトル検出を終了していれば、同一参照
画面からの動きベクトル検出処理を終了する。
【0056】本発明の第2の実施例に係わる動きベクト
ル検出方法を図7ないし図10のフローチャートに従っ
て説明する。
【0057】まず、図11(c)(d)に示す入力フィ
ールド103及び入力フィールド104をサブサンプル
した図11(a)(b)の縮小入力フィールド107上
の縮小部分領域207及び縮小入力フィールド108上
の縮小部分領域208に対して、図12(c)(d)に
示す参照フィールド105及び参照フィールド106を
サブサンプルした図12(a)(b)の縮小参照フィー
ルド109及び縮小参照フィールド110からの動きベ
クトルの検出方法について説明する。
【0058】図7のステップS01で参照画面となる図
12(c)(d)の参照フィールド105と参照フィー
ルド106の読み込み及び符号化画面となる図11
(c)の入力フィールド103の読み込みを行ない、参
照フィールド105及び参照フィールド106をサブサ
ンプリングして、図12(a)(b)の縮小参照フィー
ルド109及び縮小参照フィールド110を形成すると
共に、ステップS02で入力フィールド103上の部分
領域203の読み込みを行なう。
【0059】次にステップS36で、縮小入力フィール
ドの形成を行なう。図11の例においては、図11
(c)の入力フィールド103をサブサンプリングして
図11(a)の縮小入力フィールド107を形成する。
この時、入力フィールド103上の入力部分領域203
は、縮小入力フィールド107上の縮小入力部分領域2
07となる。
【0060】ステップS37では、図12(a)(b)
の縮小参照フィールド109及び縮小参照フィールド1
10のそれぞれの画面上に動きベクトルの探索範囲31
1及び探索範囲312を所定の位置に設定すると共に、
先の縮小入力部分領域207に対するデフォルトの動き
ベクトル候補と誤差量をそれぞれの縮小参照フィールド
毎に一時記憶する。
【0061】ステップS38では、探索範囲311及び
探索範囲312のそれぞれから縮小参照部分領域を切り
出して、各縮小参照部分領域と縮小入力部分領域207
との間の誤差量を計算する。
【0062】ステップS39及びステップS40では、
探索範囲311及び探索範囲312の各々の縮小参照部
分領域毎に、ステップS38で求めた誤差量と以前に一
時的に記憶された動きベクトル候補の誤差量とを比較
し、ステップS38で求めた誤差量が一時記憶した動き
ベクトル候補の誤差量と同じか小さな値ならば、一時的
に記憶された動きベクトル候補及び誤差量を縮小参照部
分領域の縮小参照フィールド中での位置を示す動きベク
トルとその誤差量で更新して、大きな値ならば一時的に
記憶する動きベクトル候補及び誤差量を更新せずに次の
ステップS41へ進む。
【0063】ステップS41では、それらの縮小参照部
分領域が探索範囲311及び探索範囲312の最後の縮
小参照部分領域であるか否かを判定し、最後の縮小参照
部分領域でないなら、ステップS42を経て、前記ステ
ップS38へ戻り、最後の縮小参照部分領域であるなら
ば、ステップS43へ進む。
【0064】前記のステップS42では、探索範囲31
1及び探索範囲312の縮小参照部分領域の更新を、各
々の探索範囲内で縮小参照部分領域の位置を1ノード
(縮小画面上の1画素)ずつずらすことによって行な
う。
【0065】ステップS43では、上述のステップS3
7からステップS42の処理により縮小入力フィールド
107の縮小部分領域207に対して探索範囲311及
び探索範囲312から検出した、2つの1ノード精度の
フィールドベクトルを出力する。例えば、図12(a)
(b)に示した縮小参照フィールド109上の動きベク
トル511と縮小参照フィールド110上の動きベクト
ル512とが、図11(a)に示す縮小入力フィールド
107上の縮小部分領域207に対する縮小参照フィー
ルド109及び縮小参照フィールド110からの1ノー
ド精度のフィールドベクトルとして出力される。
【0066】次に、図11(c)(d)に示す入力フィ
ールド103上の部分領域203及び入力フィールド1
04上の部分領域204に対して、図12(c)(d)
に示す参照フィールド105及び参照フィールド106
からの動きベクトルの検出方法について説明する。
【0067】ステップS44では、前記ステップS43
で出力された1ノード精度の動きベクトル511及び動
きベクトル512を、図12(c)(d)に示される、
それぞれ縮小されていない参照フィールド105及び参
照フィールド106上に投射する。
【0068】図8のステップS45では、前記投射され
た動きベクトル511及び動きベクトル512が指し示
す参照フィールド105及び参照フィールド106上の
位置に存在する部分領域414及び部分領域417を中
心としたサブサンプリング比に応じた大きさの探索範囲
315及び探索範囲317を設定すると共に、先の縮小
入力部分領域207と対応する入力部分領域203に対
するデフォルトの動きベクトル候補と誤差量をそれぞれ
の参照フィールド毎に一時記憶する。
【0069】ステップS04では、探索範囲315及び
探索範囲317のそれぞれから参照部分領域を切り出し
て、各参照部分領域と入力部分領域203との間の誤差
量を計算する。
【0070】ステップS05及びステップS06では、
探索範囲315及び探索範囲317の各々の参照部分領
域毎に、ステップS04で求めた誤差量と以前に一時的
に記憶した動きベクトル候補の誤差量とを比較し、ステ
ップS04で求めた誤差量が一時記憶した動きベクトル
候補の誤差量と同じか小さな値ならば、一時的に記憶す
る動きベクトル候補及び誤差量を参照部分領域の参照フ
ィールド中での位置を示す動きベクトルとその誤差量で
更新して、大きな値ならば一時的に記憶する動きベクト
ル候補及び誤差量を更新せずに次のステップS07へ進
む。
【0071】ステップS07では、それらの参照部分領
域が探索範囲315及び探索範囲317の最後の参照部
分領域であるか否かを判断し、最後の参照部分領域でな
いなら、ステップS08を経て、前記ステップS04へ
戻り、最後の参照部分領域であるならば、ステップS0
9へ進む。
【0072】前記のステップS08では、探索範囲31
5及び探索範囲317の参照部分領域の更新を、各々の
探索範囲内で参照部分領域の位置を1画素ずつずらすこ
とによって行なう。
【0073】ステップS09では、上述のステップS4
5からステップS08の処理により入力フィールド10
3の部分領域203に対して探索範囲315及び探索範
囲317から検出した、2つの1画素精度のフィールド
ベクトルを出力する。例えば、図12(c)(d)に示
した参照フィールド105上の動きベクトル515と参
照フィールド106上の動きベクトル517とが、図1
1(c)に示した入力フィールド103上の部分領域2
03に対する参照フィールド105及び参照フィールド
106からの1画素精度のフィールドベクトルとして出
力される。
【0074】ステップS10では、上述の様に2つの参
照フィールドから検出した2つの動きベクトルの内、参
照部分領域と入力部分領域との間の誤差量がより小さい
方の動きベクトルを1画素精度のフィールドベクトルと
して選択する。例えば、図12(c)において、前記参
照フィールド105上の動きベクトル515が1画素精
度のフィールドベクトルとして選択される。
【0075】ステップS11では、1/2 画素精度のフィ
ールドベクトルの検出の為に、前記1画素精度のフィー
ルドベクトル515が指し示す参照フィールド105上
の位置に存在する参照部分領域418を中心とした小さ
な探索範囲319を設定すると共に、先の入力部分領域
203に対するデフォルトの動きベクトル候補と誤差量
を一時的に記憶する。
【0076】図9におけるステップS12では、探索範
囲319から参照部分領域を切り出して、参照部分領域
と入力部分領域203との間の誤差量を計算する。
【0077】ステップS13及びステップS14では、
参照部分領域毎にステップS12で求めた誤差量と以前
に一時記憶した動きベクトル候補の誤差量とを比較し、
ステップ012で求めた誤差量が一時記憶した動きベク
トル候補の誤差量と同じか小さな値ならば、一時的に記
憶する動きベクトル候補及び誤差量を参照部分領域の参
照フィールド中での位置を示す動きベクトルとその誤差
量で更新して、大きな値ならば一時的に記憶する動きベ
クトル候補及び誤差量を更新せずに次のステップS15
へ進む。
【0078】ステップS15では、その参照部分領域が
探索範囲319の最後の参照部分領域であるか否かを判
断し、最後の参照部分領域でないなら、ステップS16
を経て、前記ステップS12へ戻り、最後の参照部分領
域であるならば、ステップS17へ進む。
【0079】前記のステップS16では、探索範囲31
9内で参照部分領域の位置を1/2 画素ずつずらすことに
よって、参照部分領域の更新を行う。
【0080】ステップS17では、上述のステップS1
1からステップS16の処理により入力フィールド10
3の部分領域203に対して探索範囲319から検出し
た、1/2 画素精度のフィールドベクトルを出力する。例
えば、図12(c)に示した参照フィールド105上の
動きベクトル519が図11(c)の入力フィールド1
03上の部分領域203に対する参照フィールド105
からの1/2 画素精度のフィールドベクトルとして出力さ
れる。
【0081】ステップS18では、現在フィールドベク
トルの検出を行っている入力フィールド103の部分領
域203が、その入力フィールドの最後の入力部分領域
であるか否かを判定し、最後の入力部分領域でないな
ら、ステップS19で(入力フィールド103の)部分
領域の更新を行なって図7の前記ステップS36へ戻
り、入力フィールドの最後の入力部分領域であるなら
ば、ステップS20に進む。
【0082】ステップS20では、1枚のフレームを構
成する所定数の入力フィールドについてフィールドベク
トル検出が終了しているか否かを判定し、終了していな
い場合には、ステップS21で次の入力フィールドを読
み込んで図7のステップS02へ戻り、1枚のフレーム
を構成する所定数の入力フィールドについてフィールド
ベクトル検出を終了した場合には、ステップS22へ進
む。例えば、入力フィールド103上の部分領域につい
てのフィールドベクトルの検出を終了した後では、ステ
ップS21で次の入力フィールド104を読み込み、図
7のステップS02で図11(d)に示す入力フィール
ド104上の部分領域204の読み込みを行い、入力フ
ィールド104上の部分領域204に対して、上記の入
力フィールド103上の部分領域203に対するフィー
ルドベクトルの検出手順と同様の手順で、以下のように
フィールドベクトルの検出を行う。
【0083】図7のステップS36で、縮小入力フィー
ルドの形成を行なう。図11の例においては、入力フィ
ールド104をサブサンプリングして縮小入力フィール
ド108を形成する。この時、入力フィールド104上
の入力部分領域204は、縮小入力フィールド108上
の縮小入力部分領域208となる。なお、ここでは先の
入力フィールド103に対する動きベクトル検出の時と
同じ縮小参照フィールドを用いる。従って、同じ縮小参
照フィールドを使用する間は縮小参照フィールド109
及び縮小参照フィールド110をメモリに保持し続けて
も良いし、あるいは入力フィールドが更新される度に縮
小参照フィールドを形成し直しても差し支えない。
【0084】ステップS37で、図12(a)(b)に
示す縮小参照フィールド109及び縮小参照フィールド
110のそれぞれの画面上に、先に縮小入力フィールド
107上の縮小部分領域207に対して求められた1ノ
ード精度のフィールドベクトルの内、縮小参照/縮小入
力部分領域間の誤差量がより小さい値を示す縮小部分領
域の位置を指し示す動きベクトル511を基準として、
縮小参照フィールド109及び縮小参照フィールド11
0のそれぞれの画面上に動きベクトルの探索範囲313
及び探索範囲314を設定する。又、それぞれの探索範
囲において、縮小入力部分領域208に対するデフォル
トの動きベクトル候補と誤差量を一時的に記憶する。
【0085】更にステップS38からステップS42迄
の処理を行って、前記探索範囲313及び探索範囲31
4から1ノード精度のフィールドベクトルの検出を行
う。その結果得られた2つの1ノード精度のフィールド
ベクトル(例えば図12(a)(b)で、縮小参照フィ
ールド109上の動きベクトル513と縮小参照フィー
ルド110上の動きベクトル514)がステップS43
で出力される。
【0086】次にステップS44では、前記ステップS
43で出力された1ノード精度の動きベクトル513及
び動きベクトル514を、図12(b)(c)に示す、
それぞれ縮小されていない参照フィールド105及び参
照フィールド106上に投射する。
【0087】図8のステップS45では、前記投射され
た動きベクトル513及び動きベクトル514が指し示
す参照フィールド105及び参照フィールド106上の
位置に存在する部分領域415及び部分領域416を中
心としたサブサンプリング比に応じた大きさの探索範囲
316及び探索範囲318を設定すると共に、先の縮小
入力部分領域208と対応する入力部分領域204に対
するデフォルトの動きベクトル候補と誤差量をそれぞれ
の参照フィールド毎に一時的に記憶する。
【0088】更にステップS04からステップS08迄
の処理を行って、前記探索範囲316及び探索範囲31
8から1画素精度のフィールドベクトルの検出を行な
う。その結果得られた2つの1画素精度のフィールドベ
クトル(例えば図12(c)(d)の参照フィールド1
05上の動きベクトル516と参照フィールド106上
の動きベクトル518)がステップS09で出力され
る。
【0089】ステップS10では、前記2つの1画素精
度のフィールドベクトルの内、入力フィールド104上
の部分領域204との間の誤差量がより小さい方の動き
ベクトルを1画素精度のフィールドベクトルとして選択
する。図12の例では、参照フィールド106上の部分
領域419の位置を示す動きベクトル518が1画素精
度のフィールドベクトルとして選択される。
【0090】ステップS11では、1/2 画素精度のフィ
ールドベクトルの検出のために、前記参照部分領域41
9を中心とした小さな動きベクトル探索範囲320を設
定すると共に、入力部分領域204に対するデフォルト
の動きベクトル候補と誤差量を一時的に記憶する。
【0091】更に、図9において、ステップS12から
ステップS16迄の処理を行って、前記探索範囲320
から、1/2 画素精度のフィールドベクトルを検出する。
【0092】ステップS17では、前記の探索処理の結
果求められた1/2 画素精度のフィールドベクトル520
を出力する。
【0093】ステップS18では、現在のフィールドベ
クトルの検出を行っている入力フィールド104の部分
領域204が、その入力フィールドの最後の入力部分領
域であるか否かを判断し、最後の入力部分領域でなけれ
ば、ステップS19で入力フィールド104の部分領域
の更新を行なって図7のステップS036へ戻り、入力
フィールドの最後の入力部分領域であれば、前述のステ
ップS20に進む。
【0094】ステップS20では、上述のステップS3
6からステップS19迄の処理により、1枚のフレーム
を構成する所定数の入力フィールド(例えば図11
(c)(d)の入力フィールド103及び入力フィール
ド104)についてのフィールドベクトル検出が終了し
ているか否かを判断して、終了していなければ、ステッ
プS21で次の入力フィールド(例えば図11(d)の
入力フィールド104)を読み込んで、ステップS02
へ戻って次の入力フィールドについてのフィールドベク
トルの検出処理を行なう。終了していれば、ステップS
22へと処理を進める。
【0095】次に、図11(e)に示す入力フレーム1
01上の部分領域201に対して、図12(e)の参照
フレーム102からの動きベクトルの検出方法について
説明する。
【0096】まず、図9のステップS22では、上述の
ステップS02及びS21で読み込んだ1組の入力フィ
ールド及び1組の参照フィールドから1枚の入力フレー
ム及び参照フレームを構成する。例えば、図11(c)
(d)の入力フィールド103と入力フィールド104
で図11(e)の入力フレーム101を構成し、図12
(c)(d)の参照フィールド105と参照フィールド
106で図12(e)の参照フレーム102を構成す
る。
【0097】図10において、ステップS23では、入
力フレーム101上の部分領域201の読み込みを行な
う。ここで読み込まれるフレーム画面上の部分領域は、
2つのフィールド画面上でほぼ同じ位置にある部分領域
で構成される。例えば、図11(e)の入力フレーム1
01上の部分領域201は、図11(c)(d)におけ
る入力フィールド103上の部分領域203と入力フィ
ールド104上の部分領域204で構成される。
【0098】ステップS24では、1つの入力フレーム
上の部分領域を構成する2つの入力フィールドの部分領
域に対して検出した計2つの1画素精度のフィールドベ
クトルの内、参照部分領域と入力部分領域との間の誤差
量がより小さい方の1画素精度のフィールドベクトルを
1/2 画素精度のフレームベクトルの探索の基準として選
択する。例えば、図11(d)の入力フィールド104
上の部分領域204に対して検出した1画素精度の動き
ベクトル518が指し示す図12(d)の参照フィール
ド106上の部分領域に比べ、図11(c)の入力フィ
ールド103上の部分領域203に対して検出した1画
素精度の動きベクトル515が指し示す図12(c)の
参照フィールド105上の部分領域が、入力部分領域と
の誤差量がより小さくなる場合には、動きベクトル51
5を1/2 画素精度のフレームベクトルの探索の基準とし
て選択する。
【0099】ステップS25では、1/2 画素精度のフレ
ームベクトルを検出するために、動きベクトル515が
示す参照フィールド105上の位置を参照フレーム10
2上の位置に変換し、その位置に存在する参照フレーム
上の参照部分領域420を中心とした小さな動きベクト
ル探索範囲321を設定すると共に、入力部分領域20
1に対するデフォルトの動きベクトル候補と誤差量を一
時的に記憶する。
【0100】ステップS26では、探索範囲321から
参照部分領域を切り出して、参照部分領域と入力部分領
域201との間の誤差量を計算する。
【0101】ステップS27及びステップS28では、
参照部分領域毎にステップS26で求めた誤差量と以前
に一時的に記憶した動きベクトル候補との誤差量とを比
較し、ステップS26で求めた誤差量が一時的に記憶さ
れた動きベクトル候補の誤差量と同じか小さな値なら
ば、一時的に記憶された動きベクトル候補及び誤差量を
参照部分領域の参照フレーム中での位置を示す動きベク
トルとその誤差量で更新して、大きな値ならば一時的に
記憶する動きベクトル候補及び誤差量を更新せずに次の
ステップS29へ進む。
【0102】ステップS29では、その参照部分領域が
探索範囲321の最後の参照部分領域であるか否かを判
定し、最後の参照部分領域でないなら、ステップS30
を経て、前記ステップS26へ戻り、最後の参照部分領
域であるならば、ステップS31へ進む。
【0103】前記のステップS30では、探索範囲32
1の参照部分領域の更新を、探索範囲内で参照部分領域
の位置を1/2 画素ずつずらすことによって行う。
【0104】ステップS31においては、上述のステッ
プS25からステップS30の処理により入力フレーム
101の部分領域201に対して、探索範囲321から
検出した1/2 画素精度のフレームベクトル(例えば、図
12(e)に示した参照フレーム102上の動きベクト
ル521)を出力する。
【0105】ステップS32においては、現在フレーム
ベクトルの検出を行なっている入力フレーム101の部
分領域201が、その入力フレームの最後の入力部分領
域であるか否かを判断し、最後の入力部分領域でないな
らば、ステップS33で入力フレーム101の部分領域
の更新を行なってステップS24へ戻り、最後の入力部
分領域であるならば、ステップS34に進む。
【0106】ステップS34では、所定数の入力フィー
ルドについて動きベクトルを検出したか否かを判断し、
所定数の入力フィールドについて動きベクトル検出を終
了していないならばステップS35で以前の入力フィー
ルドをリセットし次の入力フィールドを読み込んだ後、
図7のステップS02へ戻る。所定数の入力フィールド
について動きベクトル検出を終了していれば、同一参照
画面からの動きベクトル検出処理を終了する。
【0107】本発明の第3の実施例に係る動きベクトル
検出装置の構成を、図13のブロック図に示す。
【0108】まず、参照フィールド22が第1のフィー
ルドベクトル検出器1に、参照フィールド23が第2の
フィールドベクトル検出器2に入力される。
【0109】また、符号化の対象となる入力フィールド
21が、第1のフィールドベクトル検出器1及び第2の
フィールドベクトル検出器2の双方に入力される。別
途、探索範囲を設定するために必要な、既に検出済みの
1画素精度のフィールドベクトル24が、遅延器4から
前記第1のフィールドベクトル検出器1及び第2のフィ
ールドベクトル検出器2に入力される。
【0110】第1のフィールドベクトル検出器1と第2
のフィールドベクトル検出器2は、同様の動作で、それ
ぞれに入力される参照フィールド上で1画素精度のフィ
ールドベクトルの探索を行なうもので、詳細は図14に
示すような回路構成である。ここでは、図14を用い
て、第1のフィールドベクトル検出器1を例に動作説明
を行なう。
【0111】図14において、探索範囲設定器141
が、既に検出済みのフィールドベクトル24に基づい
て、1画素精度のフィールドベクトルを検出するための
探索範囲を設定して、その探索範囲情報43を参照フィ
ールドメモリ143に入力する。また、既に求められた
動きベクトルを探索範囲の設定に用いない場合には、探
索範囲設定器141は参照フィールド上の所定の位置に
動きベクトル検出のための探索範囲を設定し、その探索
範囲情報43を参照フィールドメモリ143に入力す
る。
【0112】参照フィールドメモリ143は、参照フィ
ールド22を記憶し、前記探索範囲設定器141から入
力される探索範囲情報43で示される探索範囲内の参照
部分領域データ45を誤差量演算器144に入力すると
共に、その参照部分領域の画面上の1画素精度の位置情
報46を最小誤差量検出器145に入力する。
【0113】一方、入力フィールド21は、入力部分領
域メモリ142に入力される。入力部分領域メモリ14
2は、入力部分領域データ44を誤差量演算器144に
入力する。
【0114】誤差量演算器144は、前記入力された入
力部分領域データ44と参照部分領域データ45との誤
差量47を計算し、この誤差量47を最小誤差量検出器
145に入力する。
【0115】最小誤差量検出器145は、探索範囲内で
前記誤差量47が最小となる参照部分領域の位置情報4
6を検出し、その参照部分領域の画面上の位置を示す動
きベクトル26と、最小誤差量25とを出力する。
【0116】上述のように、第1のフィールドベクトル
検出器1で、参照フィールド22上で探索した1画素精
度のフィールドベクトル26と、その時の最小誤差量2
5とが求められ、第1の動きベクトル判定器3に入力さ
れる。また、フィールドベクトル検出器2で、同様の手
段によって参照フィールド23上で探索した1画素精度
のフィールドベクトル28とその時の最小誤差量27と
が求められ、第1の動きベクトル判定器3に入力され
る。
【0117】第1の動きベクトル判定器3では、前記入
力された最小誤差量25と最小誤差量27とを比較す
る。前記入力された1画素精度のフィールドベクトル2
6とフィールドベクトル28との内、入力/参照部分領
域間の誤差量がより小さくなる方の動きベクトルを選択
し、フィールドベクトル30として出力する。また、こ
の時の最小誤差量を誤差量29として出力する。更に、
入力/参照部分領域間の誤差量がより小さくなる方の参
照フィールドを示す選択情報31も出力する。なお、前
記1画素精度のフィールドベクトル30は、第2の動き
ベクトル判定器10と第3のフィールドベクトル検出器
9とにそのまま入力され、その他に遅延器4で1フィー
ルドの動きベクトル検出に必要な時間分遅延されて既に
検出済みの動きベクトル24となって第1のフィールド
ベクトル検出器1及び第2のフィールドベクトル検出器
2に入力されて次の入力フィールドに対する動きベクト
ル探索範囲の設定の際に使用される。
【0118】前記誤差量がより小さくなる方の参照フィ
ールドを示す選択情報31は、参照フィールドセレクタ
8に入力される。また、参照フィールドデータ22が、
遅延器5によって、1画素精度のフィールドベクトル検
出のための一つの探索範囲で探索を行なうのに必要な時
間分だけ遅延され、この遅延器5によって遅延された参
照フィールドデータ32も参照フィールドセレクタ8に
入力される。同様に、参照フィールドデータ23が遅延
器6によって遅延器5と同じ時間だけ遅延され、この遅
延された参照フィールドデータ33も参照フィールドセ
レクタ8に入力される。
【0119】参照フィールドセレクタ8は、前記入力さ
れた参照フィールド選択情報31に基づき、前記入力さ
れた参照フィールドデータ32と参照フィールドデータ
33との内から一方を選択して、これを参照フィールド
35として出力する。
【0120】参照フィールド35は、第3のフィールド
ベクトル検出器9に入力される。また、入力フィールド
21が、遅延器7によって、前記遅延器5と同じ時間だ
け遅延され、この遅延された入力フィールド34も第3
のフィールドベクトル検出器9に入力される。更に、前
記第1の動きベクトル判定器3から出力された1画素精
度のフィールドベクトル30も第3のフィールドベクト
ル検出器9に入力される。
【0121】第3のフィールドベクトル検出器9では、
前記入力された参照フィールド35上に前記入力された
1画素精度のフィールドベクトル30が指し示す位置を
中心にして設定した小さな探索範囲内で、前記入力され
た入力フィールド34上の入力部分領域に対する1/2 画
素精度のフィールドベクトルの探索を行ない、検出され
た1/2 画素精度のフィールドベクトル36を出力する。
【0122】前述した1画素精度のフィールドベクトル
30と最小誤差量29は、第2の動きベクトル判定器1
0に入力される。第2の動きベクトル判定器10は、前
記1画素精度のフィールドベクトル30と最小誤差量2
9とを1フィールド分蓄積し、1枚のフレームを構成で
きる複数の入力フィールドの、画面上で同じ位置にある
複数の入力部分領域の各々に対して求められた複数の1
画素精度のフィールドベクトルの内、入力/参照部分領
域間の誤差量がより小さくなる場合の1画素精度のフィ
ールドベクトルを選択し、1画素精度のフィールドベク
トル37として出力する。
【0123】前記出力された1画素精度のフィールドベ
クトル37は、遅延器13によって1フィールドの動き
ベクトル検出に必要な時間分遅延される。この遅延され
た1画素精度のフィールドベクトル40は、フレームベ
クトル検出器15に入力される。
【0124】前記遅延器7によって1画素精度のフィー
ルドベクトルを検出するための一つの探索範囲で探索を
行なうのに必要な時間分だけ遅延された入力フィールド
34は、フレームメモリ11に入力される。フレームメ
モリ11は2フィールド分の容量を有しており、このメ
モリに1枚のフレームを構成する所定数の入力フィール
ドを書き込む事によって入力フレーム39が形成され
る。入力フレーム39は、フレームベクトル検出器15
に入力される。
【0125】また、前記遅延器5及び遅延器6によって
それぞれ前記遅延器7と同じ時間だけ遅延された参照フ
ィールド32及び参照フィールド33は、フレームメモ
リ12に入力される。フレームメモリ12は2フィール
ド分の容量を有しており、このメモリに1枚のフレーム
を構成する所定数の参照フィールドを書き込むことによ
って参照フレーム38が形成される。参照フレーム38
は遅延器14によって1フィールドの動きベクトル検出
に必要な時間分遅延され、この遅延された参照フレーム
41がフレームベクトル検出器15に入力される。
【0126】フレームベクトル検出器15を用いて、参
照フレーム41上で、1/2 画素精度のフレームベクトル
の探索を行う。
【0127】フレームベクトル検出器15の構成を図1
5に示す。以下、フレームベクトル検出器15の構造及
び動作について説明する。
【0128】ここでは、第1の位置変換器151によっ
て、入力された既に検出済みの1画素精度のフィールド
ベクトル40が指し示す参照フィールド上の位置を、参
照フレーム上の位置に変換し、その参照フレーム上の位
置をフレームベクトル48として探索範囲設定器152
に入力する。
【0129】探索範囲設定器152が、これに入力され
たフレームベクトル48に基づいて、1/2 画素精度のフ
レームベクトル検出のための小さな探索範囲を設定し
て、その探索範囲情報49を参照フレームメモリ154
に入力する。
【0130】参照フレームメモリ154は参照フレーム
41を記憶し、前記探索範囲設定器152から入力され
る探索範囲情報49で示される小さな探索範囲内の参照
部分領域データ51を誤差量演算器155に入力すると
共に、その参照部分領域の画面上の1/2 画素精度の位置
情報52を最小誤差量検出器156に入力する。
【0131】一方、入力フレーム39は、入力部分領域
メモリ153に入力される。入力部分領域メモリ153
は、入力部分領域データ50を誤差量演算器155に入
力する。
【0132】誤差量演算器155は、前記入力された入
力部分領域データ50と参照部分領域データ51との誤
差量を計算し、この誤差量53を最小誤差量検出器15
6に入力する。
【0133】最小誤差量検出器156は、探索範囲内で
前記誤差量53が最小となる参照部分領域の位置情報5
2を検出し、その参照部分領域の画面上の位置を示す1/
2 画素精度のフレームベクトル42を出力する。
【0134】本発明の第4の実施例に係る動きベクトル
検出装置の構成を、図16のブロック図に示す。
【0135】まず、参照フィールド22が第4のフィー
ルドベクトル検出器161に、参照フィールド23が第
5のフィールドベクトル検出器162に入力される。
【0136】また、符号化の対象となる入力フィールド
21が、第4のフィールドベクトル検出器161及び第
5のフィールドベクトル検出器162の双方に入力され
る。別途、探索範囲を設定するために必要な、既に検出
済みの1ノード精度のフィールドベクトル55が、前記
第4のフィールドベクトル検出器161及び第5のフィ
ールドベクトル検出器162に入力される。
【0137】第4のフィールドベクトル検出器161と
第5のフィールドベクトル検出器162は、同様の動作
で、それぞれに入力される参照フィールド上で1ノード
精度のフィールドベクトルの探索を行うもので、図17
に示す様な回路構成である。ここでは、図17を用い
て、第4のフィールドベクトル検出器161を例にその
構成及び動作を説明する。
【0138】ここでは、第2の位置変換器171によっ
て既に検出済みのフィールドベクトル55を縮小参照フ
ィールド上の動きベクトルに変換し、探索範囲設定器1
72が、前記変換されたフィールドベクトル65を基
に、1ノード精度のフィールドベクトル検出のための探
索範囲を設定して、その探索範囲情報66を縮小参照フ
ィールドメモリ175に入力する。また、既に求められ
た動きベクトルを探索範囲の設定に使用しない場合に
は、探索範囲設定器172は縮小参照フィールド上の所
定の位置に動きベクトル検出のための探索範囲を設定
し、その探索範囲情報66を縮小参照フィールドメモリ
175に入力する。
【0139】縮小参照フィールドメモリ175は、参照
フィールド22をサブサンプル器176でサブサンプリ
ングした縮小参照フィールド68を記憶し、前記探索範
囲設定器172から入力される探索範囲情報66で示さ
れる探索範囲内の縮小参照部分領域データ70を誤差量
演算器177に入力すると共に、その縮小参照部分領域
の縮小画面上の1ノード精度の位置情報71を最小誤差
量検出器178に入力する。
【0140】一方、入力フィールド21はサブサンプル
器173でサブサンプリングされ、そのサブサンプルさ
れた入力フィールド67が縮小入力部分領域メモリ17
4に入力される。縮小入力部分領域メモリ174は、縮
小入力部分領域データ69を誤差量演算器177に入力
する。
【0141】誤差量演算器177は、前記入力された縮
小入力部分領域データ69と縮小参照部分領域データ7
0との誤差量を計算し、この誤差量72を最小誤差量検
出器178に入力する。
【0142】最小誤差量検出器178は、探索範囲内で
前記誤差量72が最小となる縮小参照部分領域の位置情
報71を検出し、その縮小参照部分領域の縮小参照フィ
ールド上の位置を示す動きベクトル74と、最小誤差量
56とを出力する。なお、前記縮小参照フィールド上の
位置を示す動きベクトル74は、第3の位置変換器17
9によって縮小しない参照フィールド上の動きベクトル
57に変換される。
【0143】上述のように、第4のフィールドベクトル
検出器161で求められた参照フィールド22をサブサ
ンプルした縮小参照フィールド上で探索した1ノード精
度のフィールドベクトル57とその時の最小誤差量56
とが、第3の動きベクトル判定器163に入力される。
また、第5のフィールドベクトル検出器162で同様に
して求められた参照フィールド23をサブサンプルした
縮小参照フィールド上で探索した1ノード精度のフィー
ルドベクトル59とその時の最小誤差量58とが、第3
の動きベクトル判定器163に入力される。また、前記
1ノード精度のフィールドベクトル57は第1のフィー
ルドベクトル検出器1にも入力され、前記1ノード精度
のフィールドベクトル59は第2のフィールドベクトル
検出器2にも入力される。
【0144】第3の動きベクトル判定器163では、前
記入力された最小誤差量56と最小誤差量58とを比較
し、前記入力された1ノード精度のフィールドベクトル
57とフィールドベクトル59との内、縮小入力/縮小
参照部分領域間の誤差量がより小さくなる方の動きベク
トルを選択し、フィールドベクトル54として出力す
る。前記1ノード精度のフィールドベクトル54は、遅
延器165で1つの縮小フィールド上での動きベクトル
検出に必要な時間分遅延されて既に検出済みの動きベク
トル55となって第4のフィールドベクトル検出器16
1及び第5のフィールドベクトル検出器162に入力さ
れて次の入力フィールドに対する縮小フィールド上の動
きベクトル探索範囲の設定の際に使用される。
【0145】前記1ノード精度のフィールドベクトル5
7は第1のフィールドベクトル検出器1に入力され、前
記1ノード精度のフィールドベクトル59は第2のフィ
ールドベクトル検出器2に入力される。また、入力フィ
ールド21は遅延器164によって1つの縮小フィール
ド上での動きベクトル検出に必要な時間分遅延され、そ
の遅延された入力フィールド60が第1のフィールドベ
クトル検出器1と第2のフィールドベクトル検出器2と
に入力される。また、参照フィールド22は遅延器16
6によって遅延器164と同じ時間だけ遅延され、その
遅延された参照フィールド62が第1のフィールドベク
トル検出器1に入力される。また、参照フィールド23
は遅延器167によって遅延器164と同じ時間だけ遅
延され、その遅延された参照フィールド63が第2のフ
ィールドベクトル検出器2に入力される。
【0146】第1のフィールドベクトル検出器1では、
前記遅延された参照フィールド62上で、前記1ノード
精度のフィールドベクトル57が指し示す画面上の位置
を中心にして設定したサブサンプリング比に応じた大き
さの探索範囲中で1画素精度のフィールドベクトルの探
索を行なう。また、第2のフィールドベクトル検出器2
では、前記遅延された参照フィールド63上で、前記1
ノード精度のフィールドベクトル59が指し示す画面上
の位置を中心にして設定したサブサンプリング比に応じ
た大きさの探索範囲内で1画素精度のフィールドベクト
ルの探索が行なわれる。
【0147】第1のフィールドベクトル検出器1で求め
た1画素精度のフィールドベクトル26と、その時の最
小誤差量25とが第1の動きベクトル判定器3に入力さ
れる。また、第2のフィールドベクトル検出器2で求め
た1画素精度のフィールドベクトル28とその時の最小
誤差量27とが同様に第1の動きベクトル判定器3に入
力される。
【0148】第1の動きベクトル判定器3では、前記入
力された最小誤差量25と最小誤差量27とを比較し、
前記入力された1画素精度のフィールドベクトル26と
フィールドベクトル28との内、入力/参照部分領域間
の誤差量がより小さくなる方の動きベクトルを選択し、
フィールドベクトル30として出力する。また、この時
の最小誤差量を誤差量29として出力する。更に、入力
/参照部分領域間の誤差量がより小さくなる方の参照フ
ィールドを示す選択情報31をも出力する。なお、前記
1画素精度のフィールドベクトル30は、第2の動きベ
クトル判定器10と第3のフィールドベクトル検出器9
とにそのまま入力される。
【0149】前記誤差量がより小さくなる方の参照フィ
ールドを示す選択情報31は、参照フィールドセレクタ
8に入力される。また、既に遅延器166で、1つの縮
小フィールド上での動きベクトル検出に必要な時間分遅
延されている参照フィールドデータ62が、遅延器5に
よって、更に1画素精度のフィールドベクトル検出のた
めの一つの探索範囲で探索を行なうのに必要な時間分だ
け遅延され、この遅延器5によって遅延された参照フィ
ールドデータ32も参照フィールドセレクタ8に入力さ
れる。同様に、既に遅延器167で遅延されている参照
フィールドデータ63が更に遅延器6によって遅延器5
と同じ時間だけ遅延され、この遅延された参照フィール
ドデータ33も参照フィールドセレクタ8に入力され
る。
【0150】参照フィールドセレクタ8は、前記入力さ
れた参照フィールド選択情報31に基づき、前記入力さ
れた参照フィールドデータ32と参照フィールドデータ
33との内から一方を選択して、これを参照フィールド
35として出力する。
【0151】前記参照フィールド35は、第3のフィー
ルドベクトル検出器9に入力される。また、既に遅延器
164で、1つの縮小フィールド上での動きベクトル検
出に必要な時間分遅延されている入力フィールドデータ
60が、遅延器7によって、前記遅延器5と同じ時間だ
け遅延され、この遅延された入力フィールド34も第3
のフィールドベクトル検出器9に入力される。更に、前
記第1の動きベクトル判定器3から出力された1画素精
度のフィールドベクトル30も第3のフィールドベクト
ル検出器9に入力される。
【0152】第3のフィールドベクトル検出器9では、
前記入力された参照フィールド35上に前記入力された
1画素精度のフィールドベクトル30が指し示す位置を
中心にして設定した小さな探索範囲内で、前記入力され
た入力フィールド34上の入力部分領域に対する1/2 画
素精度のフィールドベクトルの探索を行ない、検出され
た1/2 画素精度のフィールドベクトル36を出力する。
【0153】先に記した1画素精度のフィールドベクト
ル30と最小誤差量29は、第2の動きベクトル判定器
10に入力される。第2の動きベクトル判定器10は、
前記1画素精度のフィールドベクトル30と最小誤差量
29とを1フィールド分蓄積し、1枚のフレームを構成
できる複数の入力フィールドの、画面上で同じ位置にあ
る複数の入力部分領域の各々に対して求められた複数の
1画素精度のフィールドベクトルの内、入力/参照部分
領域間の誤差量がより小さくなる場合の1画素精度のフ
ィールドベクトルを選択し、1画素精度のフィールドベ
クトル37として出力する。
【0154】前記出力された1画素精度のフィールドベ
クトル37は、遅延器13によって1フィールドの動き
ベクトル検出に必要な時間分遅延される。この遅延され
た1画素精度のフィールドベクトル40は、フレームベ
クトル検出器15に入力される。
【0155】前記遅延器7によって1画素精度のフィー
ルドベクトル検出の為の一つの探索範囲で探索を行うの
に必要な時間分だけ遅延された入力フィールド34は、
フレームメモリ11に入力される。フレームメモリ11
は2フィールド分の容量を有しており、このメモリに1
枚のフレームを構成する所定数の入力フィールドを書き
込む事によって入力フレーム39が形成される。入力フ
レーム39は、フレームベクトル検出器15に入力され
る。
【0156】また、前記遅延器5及び遅延器6によって
それぞれ前記遅延器7と同じ時間だけ遅延された参照フ
ィールド32及び参照フィールド33は、フレームメモ
リ12に入力される。フレームメモリ12は2フィール
ド分の容量を有しており、このメモリに1枚のフレーム
を構成する所定数の参照フィールドを書き込むことによ
って参照フレーム38が形成される。参照フレーム38
は遅延器14によって1フィールドの動きベクトル検出
に必要な時間分遅延され、この遅延された参照フレーム
41がフレームベクトル検出器15に入力される。
【0157】フレームベクトル検出器15は、参照フレ
ーム41上で、1/2 画素精度のフィールドベクトルの探
索を行ない、その結果検出された1/2 画素精度のフレー
ムベクトル42を出力する。
【0158】以上、本発明による動きベクトル検出方法
について説明したが、本発明は前記の例にとらわれるこ
となく、入力画面のフィールドで構成される部分領域に
対する動きベクトル検出を行ない、その結果得られたフ
ィールドベクトルが指し示す参照画面上の位置を基準と
して設定した探索範囲内で入力画面のフレームで構成さ
れる部分領域に対する動きベクトル検出を行ってフレー
ムベクトルを求める方法であればよいものである。例え
ば、フレームで構成される部分領域毎に、フィールドで
構成される部分領域に対する動きベクトル検出を行な
い、その結果得られたフィールドベクトルが指し示す参
照画面上の位置を基準として設定した探索範囲内で入力
画面のフレームで構成される部分領域に対する動きベク
トル検出を行ってフレームベクトルを求めても構わな
い。
【0159】また、本発明は、例えば多重サブナイキス
トサンプリングエンコーディング(MUSE−Multiple S
ub-Nyquist Sampling Encoding−)のように水平方向
のサンプリングがなされているフィールドやフレームに
対しても、前記の実施例のようにサンプリングがなされ
ていないフィールドやフレームを使用した場合と同じよ
うに対応できることはもちろんである。
【0160】なお、本発明は、処理の順序や処理ブロッ
クの配置等は前記の例にとらわれることはなく、処理ブ
ロックの共通化等の目的で、本発明の主旨を逸脱しない
範囲で変更が可能であることはもちろんである。例え
ば、第4の実施例で、第4のフィールドベクトル検出器
161(第5のフィールドベクトル検出器162につい
ても同様)の構成を、入力フィールド21が入力部分領
域メモリ174に直接入力され、サブサンプル器173
を入力部分領域メモリ174から出力された入力部分領
域データ69が入力されるような位置に配置し、入力部
分領域メモリ174を第3の実施例で使用した入力部分
領域メモリ142と共通化しても良い。更に参照フィー
ルド22が参照フィールドメモリ175に直接入力さ
れ、サブサンプル器176を参照フィールドメモリ17
5から出力された参照部分領域データ70が入力される
ような位置に配置し、参照フィールドメモリ175を第
3の実施例で使用した参照フィールドメモリ143と共
通化しても良い。
【0161】更に、前記の第1ないし第4の実施例で
は、粗い精度で検出した誤差量が最小となる一つのフィ
ールドベクトルを基準として細かい精度のフィールドベ
クトル探索及びフレームベクトルの探索を行う場合を例
として述べてきたが、本発明はこれのみに限定されるも
のではなく、粗い精度で検出した複数のフィールドベク
トルを基準として細かい精度のフィールドベクトルの探
索及びフレームベクトルの探索を行なうように構成して
もよい。
【0162】
【発明の効果】本発明は上述の様に、入力画面のフィー
ルドで構成される部分領域に対する動きベクトル検出を
行ない、その結果得られたフィールドベクトルが指し示
す参照画面上の位置をフレームベクトルの探索の基準点
としているので、フレームベクトルの探索範囲を狭く限
定しても、フレームベクトルの検出精度に支障が無く、
動きベクトル検出のための総探索演算量を大幅に低減さ
せることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の基本概念を示すフローチャート。
【図2】この発明の第1実施例を示すフローチャート。
【図3】この発明の第1実施例を示すフローチャート。
【図4】この発明の第1実施例を示すフローチャート。
【図5】この発明の第1実施例による動きベクトル検出
を説明する入力画面図。
【図6】この発明の第1実施例による動きベクトル検出
を説明する参照画面図。
【図7】この発明の第2実施例を示すフローチャート。
【図8】この発明の第2実施例を示すフローチャート。
【図9】この発明の第2実施例を示すフローチャート。
【図10】この発明の第2実施例を示すフローチャー
ト。
【図11】この発明の第2実施例による動きベクトル検
出を説明する入力画面図。
【図12】この発明の第2実施例による動きベクトル検
出を説明する参照画面図。
【図13】この発明の第3実施例の動きベクトル検出装
置の構成を示すブロック図。
【図14】図13における第1(第2)のフィールドベ
クトル検出器の詳細構成を示すブロック図。
【図15】図13におけるフレームベクトル検出器の詳
細構成を示すブロック図。
【図16】この発明の第4実施例の動きベクトル検出装
置の構成を示すブロック図。
【図17】図16における第4(第5)のフィールドベ
クトル検出器の詳細構成を示すブロック図。
【符号の説明】
ST3−ST7 フィールドで構成される部分領域の位
置検出ステップ群 ST18 フレーム上に探索範囲を設定するステップ ST19−ST13 フレームで構成される部分領域の
位置検出ステップ群 1 第1のフィールドベクトル検出器 2 第2のフィールドベクトル検出器 9 第3のフィールドベクトル検出器 15 フレームベクトル検出器 141、152、172 探索範囲設定器 144、155、177 誤差量演算器 145、156、178 最小誤差量検出器 161 第4のフィールドベクトル検出器 162 第5のフィールドベクトル検出器
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 増 田 忠 昭 神奈川県川崎市幸区小向東芝町1 株式 会社東芝 研究開発センター内 (72)発明者 山 影 朋 夫 神奈川県川崎市幸区小向東芝町1 株式 会社東芝 研究開発センター内 (72)発明者 尾 高 敏 則 神奈川県川崎市幸区小向東芝町1 株式 会社東芝 研究開発センター内 (56)参考文献 特開 平6−181568(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H04N 7/24 - 7/68

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】入力画面上の部分領域が、参照画面上のど
    の領域から動いたものかを示す動きベクトル情報を検出
    する動きベクトル検出方法において、前記 入力画面のフィールド部分領域と前記参照画面の
    フィールド部分領域との間の誤差量が最小値となる参
    照画面のフィールドで構成される部分領域の位置を検出
    する第1のステップと、予め 検出された前記参照画面の前記フィールドの前記
    分領域の検出位置を基準にして前記参照画面のフレーム
    に探索範囲を設定する第2のステップと、 前記探索範囲内のフレーム部分領域と前記入力画面の
    フレーム部分領域との間の誤差量が最小値となる参照
    画面のフレームの前記部分領域の位置を検出する第3の
    ステップと、 を含むことを特徴とする動きベクトル検出方法。
  2. 【請求項2】入力画面上の部分領域が、参照画面上のど
    の領域から動いたものかを示す動きベクトル情報を検出
    する動きベクトル検出装置において、前記入力画面のフ
    ィールド部分領域と参照画面のフィールド部分領域
    との間の誤差量を計算する第1の手段と、 前記誤差量が最小値となる参照画面のフィールドの前記
    部分領域の位置を検出する第2の手段と、 前記検出された参照画面のフィールド部分領域の検出
    位置を基準にして参照画面のフレーム上に探索範囲を設
    定する第3の手段と、 前記探索範囲内のフレーム部分領域と入力画面のフレ
    ーム部分領域との間の誤差量を計算する第4の手段
    と、 前記誤差量が最小値となる参照画面のフレーム部分領
    域の位置を検出する第5の手段と、 を含むことを特徴とする動きベクトル検出装置。
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