JP3464355B2 - 測長装置および測長装置の精度確認方法 - Google Patents
測長装置および測長装置の精度確認方法Info
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Description
盤や液晶用ガラス基板、またはそれらを作成するための
原版、あるいは高精度印刷物等の図形の寸法や座標値を
測定するための測長装置およびこの測長装置の精度確認
方法に関する。
を載置する測定テーブルと、測定テーブルの上方に配設
され被測定物を上方より観察する観察手段と、測定テー
ブルと平行な平面内で観察手段と測定テーブルとを相対
的に移動させる移動手段とを備え、観察手段により被測
定物の測定対象となる2点の座標値を測定し、その時の
相対移動量により被測定物の長さを求めるものが知られ
ている(例えば、特開平5−10722号公報)。
等により測定精度が劣化する場合がある。このため、測
長装置の精度を校正する校正作業が定期的に行われる。
この校正作業は、国家標準に対してトレーサビリティが
とれている標準器を使用して測長機における測定精度が
一定の範囲に維持されているか否かを確認する作業であ
る。
行うためには、国家標準に対してトレーサビリティがと
れている標準器を準備した上で、それを測定テーブル上
に載置し、測長装置によりこの標準器を実際に測長した
後、測定精度を確認するという煩雑な操作を繰り返す必
要がある。このため、このような校正作業が省略され、
あるいは、校正作業を行う頻度が減少し、測長装置の測
定精度が劣化したままで日常の測長作業が行われる場合
がある。
とから、その間の時期において何らかの原因により精度
が急激に劣化した場合であっても、オペレータがその精
度の劣化を認識することはできない。
れたものであり、測長装置の精度を確認することによ
り、測長誤差の発生を防止することのできる測長装置お
よび測長装置の精度確認方法を提供することを目的とす
る。
は、被測定物を載置する測定テーブルと、前記測定テー
ブルの上方に配設され前記被測定物を上方より観察する
観察手段と、前記測定テーブルと平行な平面内で前記観
察手段と前記測定テーブルとを相対的に移動させる移動
手段とを備え、前記観察手段の相対移動量により被測定
物の長さを求める測長装置において、前記観察手段の相
対移動領域内において固設される複数の座標を表示する
ための測定ターゲットと、測長装置の精度の校正後に、
前記観察手段により前記測定ターゲットを観察して測定
した前記複数の座標の測定値を記憶する記憶手段と、被
測定物の長さを測定する前に、前記観察手段により前記
測定ターゲットを観察して測定した前記複数の座標の測
定値を前記記憶手段に記憶された測定値と比較すると共
に、これらの測定値の差異が許容範囲内にあるか否かを
判定する判定手段とを備えたことを特徴とする。
の発明において、前記測長ターゲットは、前記測定テー
ブルの表面よりも前記観察手段の焦点深度内から十分離
れた下方位置にあることを特徴とする。
の発明において、前記測定ターゲットは、前記測定テー
ブルの周辺部に設けられたことを特徴とする。
の発明において、前記測定ターゲットは、少なくとも、
前記測定テーブルにおけるX方向の略両端付近の座標を
表示する表示部と、前記測定テーブルにおけるY方向の
略両端付近の座標を表示する表示部とを備えている。
する測定テーブルと、前記測定テーブルの上方に配設さ
れ前記被測定物を上方より観察する観察手段と、前記測
定テーブルと平行な平面内で前記観察手段と前記測定テ
ーブルとを相対的に移動させる移動手段とを備え、前記
観察手段の相対移動量により被測定物の長さを求める測
長装置の精度確認方法であって、標準器を用いて測長装
置の精度を校正する校正工程と、前記校正工程の後に、
前記観察手段の相対移動領域内において固設された複数
の座標を表示する測定ターゲットを前記観察手段により
観察して前記複数の座標を測定する第1の測定工程と、
被測定物の長さを測定するに先立ち、前記測定ターゲッ
トを前記観察手段により観察して前記複数の座標を測定
する第2の測定工程と、前記第1の測定工程において測
定された複数の座標の測定値と前記第2の測定工程にお
いて測定された複数の座標の測定値とを比較し、これら
の測定値の差異が許容範囲内にあるか否かを判定する判
定工程とを備えたことを特徴とする。
実施形態を図面に基づいて説明する。図1は測長装置の
斜視図であり、図2は測長装置のブロック図である。
測定テーブル14と、測定テーブル14の左右に配設さ
れた一対のレール15上をY方向に摺動可能な架台16
と、CCDカメラ17を搭載して架台16上をX方向に
移動可能な観察ヘッド18と、CCDカメラ17により
撮影された画像を表示するモニターテレビ19と、操作
パネル20と、制御部21とを備える。
するためのものであり、その下方には図示しない複数の
蛍光灯が配設されている。
り、図4はその断面図である。この測定テーブル14は
透光性のガラス板からなり、その厚みtは例えば15m
mに設定されている。そして、測定テーブル14の下面
には、格子状の測定ターゲット22が設けられている。
この測定ターゲット22は、ガラス板よりなる測定テー
ブル14の下面をエッチングし、そのエッチング部分に
黒色の塗料を埋め込むことにより形成された30〜50
ミクロンの線より構成される。
ーブル14のX方向およびY方向の略両端部付近に至る
位置に配置されており、この測定ターゲット22は、測
定テーブル14のほぼ全域をカバーする格子状の形状を
有する。
2を測定テーブル14の下面に設けているのは次のよう
な理由による。すなわち、測長作業を行う際には、測定
テーブル14上に被測定物12を載置し、その画像をC
CDカメラ17で撮影する必要があるが、このとき被測
定物12の画像と測定ターゲット22との両者がCCD
カメラ17により撮影されれば、それらの画像の識別が
困難となる。特に、撮影した画像を画像処理することに
より、自動的に測長作業を行う場合には、測定誤差が生
じやすい。このため、測定テーブル14の厚みtをCC
Dカメラ17に使用される光学系の焦点深度以上の値と
すると共に、後述するようにCCDカメラ17を上下移
動可能に構成し、測定ターゲット22を撮影する場合と
被測定物12の画像を測定する場合とでCCDカメラ1
7の高さ位置を変化させることにより、測定ターゲット
22と被測定物12の画像とのいずれか一方のみに光学
系の焦点を一致させて、これらの像を選択的に撮影する
ようにしているのである。
影する場合と被測定物12の画像を測定する場合とでC
CDカメラ17の高さ位置を変化させるかわりに、ある
照明系でのみ観察可能な測定ターゲットを使用し、測定
ターゲットの測定時にのみその照明系を使用するように
してもよい。
駆動により、一対のレール15に沿ってY方向に往復移
動する。そして、架台16の原点からのY軸方向の移動
量、すなわちY座標位置は、図2に示すY軸リニアスケ
ール27により測定されている。また、観察ヘッド18
は、図2に示すX軸モータ26の駆動により、架台16
に沿ってX方向に往復移動する。そして、観察ヘッド1
8の原点からのX軸方向の移動量、すなわちX座標位置
は、図2に示すX軸リニアスケール28により測定され
ている。
CDカメラ17は、X軸モータ26およびY軸モータ2
5の駆動により、測定テーブル14と平行な平面内で
X、Y方向に平行移動する。そして、そのときのX、Y
座標位置は、X軸リニアスケール28およびY軸リニア
スケール27により常に測定されていることとなる。
ニアガイド30を介して接続されており、図2に示すC
CDモータ29の駆動により、鉛直方向に上下移動可能
に構成されている。CCDカメラ17により撮像された
被測定物12の画像は、図示しない画像処理機構によ
り、標線等と共に、CRT19上に表示される。
OM32およびRAM33と、後述する比較および判定
手段として機能するCPU34とを備える。この制御部
21は、インタフェース35を介して、上記CCDカメ
ラ17、CRT19、操作パネル20、X軸モータ2
6、Y軸モータ25、CCDモータ29、X軸リニアス
ケール28およびY軸リニアスケール27と接続されて
いる。
測定する際には、オペレータが操作パネル20における
ジョイスティック等を操作し、X軸モータ26およびY
軸モータ25の駆動によりCCDカメラ17をX、Y方
向に移動させて、CRT19に表示された標線を被測定
物12における測定箇所の始点および終点に一致させ
る。このときのCCDカメラ17のX、Y方向の移動量
は、X軸リニアスケール28およびY軸リニアスケール
27により測定される。そして、制御部21は、この測
定値に基づいて始点と終点間の距離を算出し、その結果
をCRT19上に表示する。
入時およびその後の一定の期間経過毎に校正作業が行わ
れる。この校正作業は、国家標準に対してトレーサビリ
ティがとれている標準器を被測定物12のかわりに測定
テーブル14上に載置し、この標準器の長さ等を測定す
ることにより、測長装置の測定精度が許容誤差内に入っ
ているか否かを確認する作業である。なお、測長装置の
測定誤差が許容誤差を超えている場合には、この誤差が
許容誤差内となるまで調整および校正作業が繰り返され
る。
いて説明する。
校正作業の終了後の測長装置の測定精度が保証された状
態で、測定テーブル14に設けられた測定ターゲット2
2における複数の座標を測定し、その測定値を記憶して
おく。
軸モータ25の駆動により観察ヘッド18を移動させ、
CCDカメラ17を格子状の測定ターゲット22におけ
る9点の測定ポイントP1〜P9(図3参照)のいずれ
かに対向する位置まで移動させる。この測定ポイントP
1〜P9の位置は、予め制御部21のROM32に記憶
されている。また、CCDモータ29の駆動によりCC
Dカメラ17を下降させCCDカメラ17における光学
系の焦点を測定テーブル14の裏面に設けられた測定タ
ーゲット22と一致させる。そして、測定ポイントP1
〜P9の9点の座標を順次測定するとともに、各測定ポ
イントP1〜P9の座標の測定値を制御部21のRAM
33に記憶する。ここで測定した各測定ポイントP1〜
P9の座標の測定結果は、後述する確認作業時における
各測定ポイントP1〜P9の座標の測定結果と比較する
ための基礎データとして使用される。
5は測長装置における精度確認動作を示すフローチャー
トである。なお、この精度確認動作は、測長装置の起動
時に自動的に実行される。
ポイントP1〜P9のうち最初の測定ポイントP1の座
標位置がROM32より読み出される(ステップS
1)。
25の駆動により観察ヘッド18を最初の測定ポイント
P1と対向する位置に移動させるとともに、CCDモー
タ29の駆動によりCCDカメラ17を下降させ、CC
Dカメラ17における光学系の焦点を測定テーブル14
の裏面に設けられた測定ターゲット22と一致させる
(ステップS2)。そして、最初の測定ポイントP1の
座標を測定し、その測定値をRAM23に記憶する(ス
テップS3)。
トP1〜P9について繰り返し行われる(ステップS
4)。
了すれば、制御部21において、各測定ポイントP1〜
P9の座標の測定値を、先に記憶した精度が保証された
状態での各測定ポイントP1〜P9の座標の測定値と各
々比較する(ステップS5)。そして、各々の測定値を
比較した結果、その差異が予め設定した許容範囲内にあ
るか否かを制御部21において判断する(ステップS
6)。
は、校正作業の終了後の測長装置の測定精度が保証され
た状態と同程度の精度が得られていると判断できる。こ
のため、CRT19に精度確認終了表示を行い(ステッ
プS7)、精度確認動作を終了する。オペレータは、こ
れに引き続き被測定物12の測長作業を開始する。
測長装置の精度が劣化していると判断できる。このた
め、CRT19にエラー表示を行うとともに(ステップ
S8)、以後の測長動作を禁止し、精度確認動作を終了
する。
ターゲット22として、国家標準にトレーサビリティが
とれているものを使用した場合においては、上述した差
異が許容範囲を超えた場合に、その誤差を補正すること
により測長動作を継続して実行し得るようにしてもよ
い。
ゲット22の測定ポイントP1とした場合において、測
定ポイントP2のX座標が300mmであるにもかかわ
らず、この測定値が300.003mmと測定された場
合には、測定ポイントP2におけるX座標の実際の測定
値から0.003mmを減算したものを補正後の測定値
として使用する。他の測定ポイントP3〜P9において
も同様の補正を行うとともに、各測定ポイントP1〜P
9間の位置においてはそれぞれ補間計算を行う。これに
より、測定領域全体において測定値の補正を行うことが
でき、測定誤差が発生した場合においてもその誤差を補
正して測長動作を継続することが可能となる。
定ターゲット22のうち、田の字状に配置された9点の
測定ポイントP1〜P9の座標を測定する場合について
述べたが、これらの測定ポイントP1〜P9のうちの一
部の測定ポイントのみの座標を測定してもよく、また、
格子状の測定ターゲット22における全ての格子点の座
標を測定するようにしてもよい。但し、X軸方向の誤差
とY軸方向の誤差とを正確に確認するため、X方向に離
隔した2点の座標値とY方向に離隔した2点の座標値と
を測定することが好ましい。このため、測定ターゲット
22における測定ポイントとしては、測定テーブル14
におけるX方向の略両端付近の座標を表示する部分と、
測定テーブル14におけるY方向の略両端付近の座標を
表示する部分とを含むようにすることが好ましい。
点の測定ポイントP1〜P9の座標そのものを測定し記
憶しているが、これをある点(例えば測定ポイントP
1)からの距離として測定し記憶してもよい。
明する。図6は測定テーブル14の他の実施形態を示す
平面図である。この測定テーブル14においては、その
表面に略L字状の測定ターゲット122が設けられてい
る。
おいては格子状の測定ターゲット22を使用しているの
に対し、この実施形態に係る測定テーブル14において
は略L字状の測定ターゲット122を使用していること
から、被測定物12の設置領域は測定ターゲット122
と重複しない。このため、測定ターゲット122を測定
テーブル14の表面に設けた場合においても、被測定物
12の画像と測定ターゲット22との両者がCCDカメ
ラ17により撮影されてそれらの画像の識別が困難とな
ることはない。
る場合と被測定物12の画像を測定する場合とでCCD
カメラ17の高さ位置を変化させる必要はなくなり、装
置を簡易なものとすることができる。また、測定ターゲ
ット122が測定テーブル14の表面に配設されている
ことから、測定テーブル14の厚みやその表面のうね
り、あるいはその表面と裏面との平行度の誤差等による
測定ターゲット122の測定誤差の発生を防止すること
ができる。
図3および図4に示す測定テーブル14と同様、測定タ
ーゲット122は、測定テーブル14におけるX方向の
略両端付近の座標を表示する表示部たる測定ポイントP
11およびP12と、測定テーブル14におけるY方向
の略両端付近の座標を表示する表示部たる測定ポイント
P11およびP13とを備えることから、X軸方向の誤
差とY軸方向の誤差とを正確に確認することが可能とな
る。
ゲット22、122として線状の形態を有するものを使
用したが、少なくとも2点の座標を表示しうるものであ
れば、任意の形状のものを使用することができる。
定ターゲット22、122を測定テーブル14に付設し
たものについて説明したが、測定ターゲット22、12
2はCCDカメラ17の移動領域内の任意の位置に配設
することができる。
測定ターゲット22、122を測定テーブル14に固定
した場合について説明したが、例えば測定テーブル14
におけるY方向の略両端付近の座標を表示する測定ター
ゲットをX方向に平行移動可能に構成することにより、
測定テーブル14の全域において、単一の測定ターゲッ
トによりY方向の座標位置を測定するようにしてもよ
い。
測定物12を観察する観察手段としてCCDカメラ17
を使用した場合について説明したが、観察手段として被
測定物12の画像を拡大投影する投影器や画像のエッジ
部分を検出することのできるセンサ、あるいは、タッチ
プローブ等を使用することもできる。
に記載の発明によれば、被測定物の長さを測定する前
に、観察手段により測定ターゲットを観察して測定した
複数の座標の測定値を記憶手段に記憶された精度校正後
の測定値と比較すると共に、これらの測定値の差異が許
容範囲内にあるか否かを判定する判定手段を備えること
から、被測定物の測定時における測長装置の精度を確認
することが可能となる。このため、測長装置の精度が劣
化した状態のままで測長作業を行ってしまうということ
を防止することができる。
ゲットは、測定テーブルの表面よりも観察手段の焦点深
度内から十分離れた下方位置にあることから、測長ター
ゲットと被測長物の画像とのいずか一方のみに光学系の
焦点を一致させて、これらの像を選択的に撮影すること
ができる。
ゲットは、測定テーブルの周辺部に設けられることか
ら、測定ターゲットを測定テーブルの表面に設けた場合
においても、被測定物の画像と測定ターゲットとの両者
が観察手段により撮影されてそれらの画像の識別が困難
となることはない。
ゲットが、測定テーブルにおけるX方向の略両端付近の
座標を表示する表示部とY方向の略両端付近の座標を表
示する表示部とを備えることから、X軸方向の誤差とY
軸方向の誤差とを正確に確認することが可能となる。
用いて測長装置の精度を校正する校正工程と、校正工程
の後に観察手段の相対移動領域内において複数の座標を
表示する測定ターゲットを観察手段により観察して複数
の座標を測定する第1の測定工程と、被測定物の長さを
測定するに先立ち測定ターゲットを観察手段により観察
して複数の座標を測定する第2の測定工程と、第1の測
定工程において測定された複数の座標の測定値と第2の
測定工程において測定された複数の座標の測定値とを比
較し、これらの測定値の差異が許容範囲内にあるか否か
を判定する判定工程とを備えることから、被測定物の長
さを測定するに先立ち、測長装置の精度を確認すること
が可能となる。このため、測長装置の精度が劣化した状
態のままで測長作業を行ってしまうということを防止す
ることができる。
ャートである。
である。
Claims (5)
- 【請求項1】 被測定物を載置する測定テーブルと、前
記測定テーブルの上方に配設され前記被測定物を上方よ
り観察する観察手段と、前記測定テーブルと平行な平面
内で前記観察手段と前記測定テーブルとを相対的に移動
させる移動手段とを備え、前記観察手段の相対移動量に
より被測定物の長さを求める測長装置において、 前記観察手段の相対移動領域内において固設された複数
の座標を表示するための測定ターゲットと、 測長装置の精度の校正後に、前記観察手段により前記測
定ターゲットを観察して測定した前記複数の座標の測定
値を記憶する記憶手段と、 被測定物の長さを測定する前に、前記観察手段により前
記測定ターゲットを観察して測定した前記複数の座標の
測定値を前記記憶手段に記憶された測定値と比較すると
共に、これらの測定値の差異が許容範囲内にあるか否か
を判定する判定手段と、 を備えたことを特徴とする測長装置。 - 【請求項2】 前記測長ターゲットは、前記測定テーブ
ルの表面よりも前記観察手段の焦点深度内から十分離れ
た下方位置にあることを特徴とする請求項1に記載の測
長装置。 - 【請求項3】 前記測定ターゲットは、前記測定テーブ
ルの周辺部に設けられたことを特徴とする請求項1に記
載の測長装置。 - 【請求項4】 前記測定ターゲットは、少なくとも、前
記測定テーブルにおけるX方向の略両端付近の座標を表
示する表示部と、前記測定テーブルにおけるY方向の略
両端付近の座標を表示する表示部とを備える請求項1乃
至請求項3のいずれかに記載の測長装置。 - 【請求項5】 被測定物を載置する測定テーブルと、前
記測定テーブルの上方に配設され前記被測定物を上方よ
り観察する観察手段と、前記測定テーブルと平行な平面
内で前記観察手段と前記測定テーブルとを相対的に移動
させる移動手 段とを備え、前記観察手段の相対移動量に
より被測定物の長さを求める測長装置の精度確認方法で
あって、 標準器を用いて測長装置の精度を校正する校正工程と、 前記校正工程の後に、前記観察手段の相対移動領域内に
おいて固設された複数の座標を表示する測定ターゲット
を前記観察手段により観察して前記複数の座標を測定す
る第1の測定工程と、 被測定物の長さを測定するに先立ち、前記測定ターゲッ
トを前記観察手段により観察して前記複数の座標を測定
する第2の測定工程と、 前記第1の測定工程において測定された複数の座標の測
定値と前記第2の測定工程において測定された複数の座
標の測定値とを比較し、これらの測定値の差異が許容範
囲内にあるか否かを判定する判定工程と、 を備えたことを特徴とする測長装置の精度確認方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25742596A JP3464355B2 (ja) | 1996-09-06 | 1996-09-06 | 測長装置および測長装置の精度確認方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25742596A JP3464355B2 (ja) | 1996-09-06 | 1996-09-06 | 測長装置および測長装置の精度確認方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH1082630A JPH1082630A (ja) | 1998-03-31 |
JP3464355B2 true JP3464355B2 (ja) | 2003-11-10 |
Family
ID=17306197
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP25742596A Expired - Fee Related JP3464355B2 (ja) | 1996-09-06 | 1996-09-06 | 測長装置および測長装置の精度確認方法 |
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Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3464355B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4554778B2 (ja) * | 2000-07-18 | 2010-09-29 | パナソニック株式会社 | 機差検定方法およびプラズマディスプレイパネルの製造方法 |
JP2003098216A (ja) * | 2001-09-27 | 2003-04-03 | Hioki Ee Corp | 回路基板検査装置 |
JP2006281680A (ja) * | 2005-04-04 | 2006-10-19 | Micro-Tec Co Ltd | 印刷機 |
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1996
- 1996-09-06 JP JP25742596A patent/JP3464355B2/ja not_active Expired - Fee Related
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---|---|
JPH1082630A (ja) | 1998-03-31 |
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