JP3427226B2 - Exposure apparatus and exposure method - Google Patents

Exposure apparatus and exposure method

Info

Publication number
JP3427226B2
JP3427226B2 JP32982893A JP32982893A JP3427226B2 JP 3427226 B2 JP3427226 B2 JP 3427226B2 JP 32982893 A JP32982893 A JP 32982893A JP 32982893 A JP32982893 A JP 32982893A JP 3427226 B2 JP3427226 B2 JP 3427226B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
exposure
pattern
light
reticle
fly
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP32982893A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH07153681A (en
Inventor
賢二 清水
剛 楢木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
Priority to JP32982893A priority Critical patent/JP3427226B2/en
Publication of JPH07153681A publication Critical patent/JPH07153681A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3427226B2 publication Critical patent/JP3427226B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70058Mask illumination systems

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【目次】以下の順序で本発明を説明する。 産業上の利用分野 従来の技術(図5) 発明が解決しようとする課題(図5) 課題を解決するための手段(図1及び図4) 作用(図1及び図4) 実施例(図1〜図4) 発明の効果[Table of Contents] The present invention will be described in the following order. Industrial applications Conventional technology (Fig. 5) Problems to be Solved by the Invention (FIG. 5) Means for Solving the Problems (FIGS. 1 and 4) Action (Figs. 1 and 4) Example (FIGS. 1 to 4) The invention's effect

【0002】[0002]

【産業上の利用分野】本発明は、露光装置に関し、例え
ば液晶表示装置を製造するための感光基板に大面積のパ
ターンを露光するものに適用し得る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an exposure apparatus, and can be applied to, for example, an exposure apparatus for exposing a large area pattern on a photosensitive substrate for manufacturing a liquid crystal display device.

【0003】[0003]

【従来の技術】従来、この種の露光装置では、露光対象
となる感光基板の大型化に対処するため、感光基板の露
光領域を複数の単位領域に分割して各領域に応じた露光
を繰り返し、これにより感光基板のほぼ全面に亘つて最
終的に所望するパターンの画面を合成するものがある。
2. Description of the Related Art Conventionally, in this type of exposure apparatus, in order to cope with an increase in the size of a photosensitive substrate to be exposed, the exposure area of the photosensitive substrate is divided into a plurality of unit areas and the exposure is repeated according to each area. In some cases, a screen having a finally desired pattern is thereby synthesized over substantially the entire surface of the photosensitive substrate.

【0004】図5に示すように、液晶表示装置を製造す
るための露光装置1は、露光光源としての超高圧水銀ラ
ンプ2から射出された照明光LA1は楕円鏡3で集光さ
れ、シヤツタ4及び反射鏡5を介して波長選択フイルタ
6に入射する。波長選択フイルタ6は露光に必要な波長
(例えばg線の波長 435〔nm〕やi線の波長 365〔n
m〕)のみを透過させる。
As shown in FIG. 5, in an exposure apparatus 1 for manufacturing a liquid crystal display device, an illumination light LA1 emitted from an ultra-high pressure mercury lamp 2 as an exposure light source is condensed by an elliptical mirror 3 and a shutter 4 is used. And enters the wavelength selection filter 6 via the reflection mirror 5. The wavelength selection filter 6 has a wavelength required for exposure (for example, a wavelength of 435 [nm] for g-line and a wavelength of 365 [n for i-line).
m]) only is transmitted.

【0005】波長選択フイルタ6を透過した照明光LA
1は、フライアイインテグレータ7で均一な光量分布を
有する光束に変換されてレチクルブラインド8に照射さ
れる。レチクルブラインド8は矩形絞りを構成してお
り、その開口部Sの大きさと位置とは任意に設定し得
る。
Illumination light LA transmitted through the wavelength selection filter 6
1 is converted into a light flux having a uniform light amount distribution by a fly-eye integrator 7 and applied to a reticle blind 8. The reticle blind 8 constitutes a rectangular diaphragm, and the size and position of the opening S can be set arbitrarily.

【0006】フライアイインテグレータ7から射出した
光束の一部は、ハーフミラー9で反射され積算露光量計
10に入射し、この積算露光量計10の情報に基づいて
シヤツタ4の開閉時間を制御装置11で制御して露光量
が制御される。
A part of the luminous flux emitted from the fly-eye integrator 7 is reflected by the half mirror 9 and enters the integrated exposure amount meter 10, and the opening / closing time of the shutter 4 is controlled based on the information of the integrated exposure amount meter 10. The exposure amount is controlled by controlling 11

【0007】レチクルブラインド8の開口部Sを通過し
た照明光LA1は、反射鏡12で反射されコンデンサレ
ンズ13でパターン投影用のレチクル14上に結像され
る。これによりレチクルブラインド8の開口部Sで所定
の大きさと位置とに設定された光束がレチクル14上の
任意の大きさと位置とでなる照射領域に選択的に照射さ
れることとなる。
The illumination light LA1 that has passed through the opening S of the reticle blind 8 is reflected by the reflecting mirror 12 and is imaged on the reticle 14 for pattern projection by the condenser lens 13. As a result, the light flux set to have a predetermined size and position at the opening S of the reticle blind 8 is selectively applied to the irradiation area having an arbitrary size and position on the reticle 14.

【0008】レチクル14上の照射領域に存在するパタ
ーンの像は、投影レンズ15によりガラスプレートでな
る感光基板16上に結像される。これにより感光基板1
6の特定領域にレチクル14上のパターンの像が露光さ
れる。この感光基板16はステージ17上に載置されて
いる。
The image of the pattern existing in the irradiation area on the reticle 14 is formed by the projection lens 15 on the photosensitive substrate 16 made of a glass plate. As a result, the photosensitive substrate 1
The image of the pattern on the reticle 14 is exposed in the specific regions 6 of the image. The photosensitive substrate 16 is placed on the stage 17.

【0009】ステージ17は水平面内で互いに直交する
X及びY方向へ移動可能な一対のブロツクが重ね合わせ
られてなる。このステージ17の位置は、ステージ17
上の移動鏡18でレーザ光19を反射させて位置をモニ
タするレーザ干渉計システム(図示せず)によつて検出
される。これにより感光基板16は水平面内の位置を調
整される。
The stage 17 is formed by stacking a pair of blocks movable in the X and Y directions which are orthogonal to each other in the horizontal plane. The position of this stage 17 is
It is detected by a laser interferometer system (not shown) that reflects the laser light 19 on the upper movable mirror 18 to monitor the position. As a result, the position of the photosensitive substrate 16 in the horizontal plane is adjusted.

【0010】ここでパターンの画面を合成するときに
は、最終的に希望する全体のパターンのうち分割された
ある領域でなる分割パターンを有するレチクル14につ
いての1回の露光が終了した後、レチクル14を交換す
る。続いてステージ17を駆動し、感光基板16の別の
露光領域を投影レンズ15に対して位置決めして露光す
る。以下露光終了毎に同様手順を繰り返すことによつて
感光基板16の全領域が露光される。
Here, when synthesizing the screens of the patterns, the reticle 14 is finally exposed after one exposure is completed for the reticle 14 having the divided pattern of a certain divided area of the entire desired pattern. Exchange. Then, the stage 17 is driven to position and expose another exposure area of the photosensitive substrate 16 with respect to the projection lens 15. Thereafter, the same procedure is repeated each time the exposure is completed, so that the entire area of the photosensitive substrate 16 is exposed.

【0011】このようにしてパターンの画面を合成する
際には、レチクル14の描画誤差や投影レンズ15の収
差、感光基板16を位置決めするステージ17の位置決
め誤差等により各露光領域の境界位置で合成パターンに
切れ目が発生することを防止するため、各露光領域の境
界を微小量重ね合わせて露光する。
When synthesizing the screens of the patterns in this manner, the reticle 14 drawing error, the projection lens 15 aberration, the positioning error of the stage 17 for positioning the photosensitive substrate 16, and the like are combined at the boundary positions of the exposure areas. In order to prevent the occurrence of a break in the pattern, exposure is performed by superimposing a minute amount of the boundaries of the exposure areas.

【0012】[0012]

【発明が解決しようとする課題】ところで上述したよう
な従来の画面の合成方法においてはレンズ収差や位置決
め精度の相違により露光領域の重ね合わせ誤差が分割パ
ターンの継ぎ目部分で不連続に変化する。これにより特
にアクテイブマトリクス型の液晶デバイスの場合には、
薄膜トランジスタの動作特性に影響を与えるため露光領
域の接続部におけるコントラストに違いが生じる。コン
トラストの違いは僅かであつても人間の視覚特性から知
覚され易いため、パターン継ぎ目部分でコントラストが
断続的に変化するとデバイスの表示品質が低下する。
In the conventional image synthesizing method as described above, the overlay error of the exposure area changes discontinuously at the joint portion of the divided pattern due to the difference in lens aberration and positioning accuracy. Therefore, especially in the case of active matrix type liquid crystal devices,
Since the operating characteristics of the thin film transistor are affected, a difference occurs in the contrast at the connection portion of the exposure area. Since even a slight difference in contrast is easily perceived by human visual characteristics, the display quality of the device deteriorates if the contrast changes intermittently at the pattern seam.

【0013】これを解決するため例えば特公昭63-49218
号に示すように、レチクル若しくはレチクルに重ねるフ
イルタのうち分割パターンの継ぎ目部分に相当する位置
に透過光量を減少させる減光手段を設けるものが提案さ
れている。この方法によれば分割パターンの重ね合わせ
部分の露光量が他の部分の露光量に略一致するようにな
り、これに加えて一定の露光量以上で残留するレジスト
の使用によつて分割パターンの継ぎ目部分を滑らかに連
続させ得る。
To solve this, for example, Japanese Examined Patent Publication No. Sho 63-49218
As shown in No. 3, there is proposed a reticle or a filter to be superimposed on the reticle, which is provided with a light-reducing means for reducing the amount of transmitted light at a position corresponding to a joint portion of a divided pattern. According to this method, the exposure amount of the overlapping portion of the division pattern becomes substantially equal to the exposure amount of the other portion, and in addition to this, the use of the resist remaining at a certain exposure amount or more causes the division pattern The seam portion can be smoothly continuous.

【0014】ところが、この方法ではレチクル自体に減
光特性を持たせるためレチクルの製造工数が増え、製造
中にパターン欠陥が発生するおそれも高まるなどレチク
ルの製造工程への負担が大きくなるという問題がある。
However, in this method, since the reticle itself has a dimming characteristic, the number of man-hours for manufacturing the reticle is increased, and the possibility of pattern defects occurring during the manufacturing is increased, and the burden on the reticle manufacturing process is increased. is there.

【0015】一方、所定の減光特性をもつフイルタをレ
チクルと重ね合わせることが考えられる。ところがこの
方法ではフイルタの着脱によってレチクルの損傷や汚染
が生じるおそれが高くなるなどレチクルの保守管理の煩
雑さが生じる。またレチクルの前後には、一般的に分割
パターンへのごみ等の異物の付着を防止する一定厚さの
ペリクルを設ける。このため最低でもフイルタとレチク
ルの分割パターンとがペリクルの厚さだけ離れてしま
い、これにより分割パターン上にて理想的な減光特性を
得ることが困難となる。さらにレチクル毎に専用のフイ
ルタを用意する必要があり、フイルタの製造や保守管理
に要する手間も無視できないという欠点がある。
On the other hand, it is conceivable to superimpose a filter having a predetermined dimming characteristic on the reticle. However, in this method, maintenance and management of the reticle is complicated because the reticle is more likely to be damaged or contaminated when the filter is attached or detached. Further, a pellicle having a certain thickness is generally provided before and after the reticle to prevent foreign matter such as dust from adhering to the divided pattern. Therefore, at least the filter and the reticle division pattern are separated by the thickness of the pellicle, which makes it difficult to obtain an ideal dimming characteristic on the division pattern. In addition, it is necessary to prepare a dedicated filter for each reticle, and the labor required for manufacturing and maintaining the filter cannot be ignored.

【0016】本発明は以上の点を考慮してなされたもの
で、レチクルに減光特性を持たせたりレチクル毎に異な
る減光手段を用意する必要がなく、かつレチクル上にて
理想的な光量分布が得られる露光装置を提案しようとす
るものである。
The present invention has been made in consideration of the above points, and it is not necessary to provide a reticle with a light-reducing characteristic or prepare a different light-reducing means for each reticle, and to obtain an ideal light amount on the reticle. An attempt is made to propose an exposure apparatus that can obtain a distribution.

【0017】[0017]

【課題を解決するための手段】かかる課題を解決するた
め、請求項1記載の露光装置は、光源(2)からの光束
を、複数の小レンズ群(7A)からなるフライアイイン
テグレータ(7)を通して、露光パタ−ン(P
)が形成されたレチクル(14)上に導く照明光学
系(2,3,5,32,6,12,13)と、レチクル
(14)とほぼ共役な照明光学系(2,3,5,32,
6,12,13)内の位置に配置され、光束によって照
明されるレチクル(14)上の照明領域を設定する照明
領域設定手段(8)と、フライアイインテグレータ
(7)の入射面と照明領域設定手段(8)とをほぼ共役
な位置にするレンズ系(33)と、レチクル(14)を
通過した光束を感光基板(16)に投影する投影光学系
(15)とを備え、感光基板(16)上の異なる領域に
対して露光パタ−ン(P,P)の一部どうしが重複す
るようにして、所望のパタ−ンを感光基板(16)に形
成する露光装置であって、フライアイインテグレータ
(7)の入射面側に配設され、光源からの光束の光量を
調節する光量制御手段(31)と、重複する部分の露光
量を調整するように光量制御手段(31)を駆動する駆
動機構とを備えている。請求項2記載の露光装置は、光
量制御手段(31)が重複露光する部分の露光量と重複
露光を行わない部分との露光量が等しくなるように光量
を調節している。請求項3記載の露光方法は、複数の小
レンズ群(7A)からなるフライアイレンズ(7)を射
出した光束により第1パタ−ン(P)の一部と第2パタ
−ン(P)の一部とを感光基板(16)上で重複露光し
て所望のパタ−ンを露光する露光方法であって、フライ
アイレンズ(7)の入射面側に露光量を調節する露光量
調節装置(31)を配設するステップと、重複露光する
部分の露光量を調節するように露光量調節装置(31)
を駆動するステップとを含んでいる。請求項4記載の露
光方法は、第1パタ−ン(P)と第2パタ−ン(P)と
が共通のレチクルに形成されている。請求項5記載の露
光方法は、第1パタ−ン(P)と第2パタ−ン(P)と
が異なるレチクルに形成されている。請求項6記載の露
光方法は、第1パタ−ン(P)と第2パタ−ン(P)と
が同じパタ−ンである。
In order to solve the above-mentioned problems, an exposure apparatus according to a first aspect of the present invention is a fly-eye integrator (7) that comprises a light beam from a light source (2) and comprises a plurality of small lens groups (7A). Through the exposure pattern (P 1 ,
The illumination optical system (2,3,5,32,6,12,13) guided onto the reticle (14) on which P 2 ) is formed, and the illumination optical system (2,3,3) which is almost conjugate with the reticle (14). 5, 32,
6, 12 and 13), and illumination area setting means (8) for setting an illumination area on the reticle (14) illuminated by the light flux, and an entrance surface and an illumination area of the fly-eye integrator (7). The photo-sensitive substrate (15) is provided with a lens system (33) which makes the setting means (8) substantially conjugate with each other, and a projection optical system (15) which projects the light flux passing through the reticle (14) onto the photo-sensitive substrate (16). 16) An exposure apparatus for forming a desired pattern on a photosensitive substrate (16) such that a part of the exposure patterns (P 1 , P 2 ) overlaps different areas on the photosensitive substrate (16). , A light amount control means (31) arranged on the incident surface side of the fly-eye integrator (7) for adjusting the light amount of the light flux from the light source, and the exposure of the overlapping portion.
Driving the light quantity control means (31) so as to adjust the quantity.
And a moving mechanism . In the exposure apparatus according to the second aspect, the light amount control means (31) adjusts the light amount so that the exposure amount of the portion where the overlapping exposure is performed is equal to the exposure amount of the portion where the overlapping exposure is not performed. In the exposure method according to the third aspect, a part of the first pattern (P 1 ) and the second pattern (P 1 ) are generated by the light flux emitted from the fly-eye lens (7) composed of a plurality of small lens groups (7A). An exposure method for exposing a desired pattern by overlapping exposure of a part of 2 ) on the photosensitive substrate (16), and an exposure amount for adjusting the exposure amount on the incident surface side of the fly-eye lens (7).
Overlapping exposure with the step of disposing the adjusting device (31)
Exposure amount adjusting device (31) for adjusting the exposure amount of the part
And driving the motor . In the exposure method according to the fourth aspect, the first pattern (P 1 ) and the second pattern (P 2 ) are formed on a common reticle. In the exposure method according to the fifth aspect, the first pattern (P 1 ) and the second pattern (P 2 ) are formed on different reticles. In the exposure method according to the sixth aspect, the first pattern (P 1 ) and the second pattern (P 2 ) are the same pattern.

【0018】[0018]

【作用】複数の小レンズ7A群からなるフライアイイン
テグレータ7の入射面側に光源2からの光束LA1の光
量を調節する光量制御手段31を配して露光パターンP
1 及びP2 の重複範囲の露光量分布を任意に制御するよ
うにした。またフライアイインテグレータ7の入射面と
レチクル14上の照明領域を設定する照明領域設定手段
8とをほぼ共役な位置にするレンズ系33を配した。こ
れによりレチクル7に減光特性を持たせたりレチクル7
毎に異なる減光手段を用意する必要がなく、かつレチク
ル7上で理想的な光量分布が得られる。
The light amount control means 31 for adjusting the light amount of the light beam LA1 from the light source 2 is arranged on the incident surface side of the fly-eye integrator 7 composed of a plurality of small lens 7A groups to expose pattern P.
The exposure dose distribution in the overlapping range of 1 and P 2 was arbitrarily controlled. Further, a lens system 33 is arranged so that the entrance surface of the fly-eye integrator 7 and the illumination area setting means 8 for setting the illumination area on the reticle 14 are substantially conjugate with each other. This allows the reticle 7 to have a dimming characteristic, or the reticle 7
It is not necessary to prepare different light reducing means for each, and an ideal light amount distribution can be obtained on the reticle 7.

【0019】[0019]

【実施例】以下図面について、本発明の一実施例を詳述
する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings.

【0020】図5との対応部分に同一符号を付して示す
図1において、30は全体として液晶表示装置を製造す
るための露光装置を示し、従来の露光装置1の構成に加
えてフライアイインテグレータ7の入射側に絞り機構3
1が配されている。フライアイインテグレータ7に入射
する照明光LA1は、光量がこの絞り機構31によつて
調節され、これにより任意の光量分布でなる光束に変換
されてレチクルブラインド8に照射される。
In FIG. 1, in which parts corresponding to those in FIG. 5 are designated by the same reference numerals, reference numeral 30 denotes an exposure apparatus for manufacturing a liquid crystal display device as a whole. In addition to the configuration of the conventional exposure apparatus 1, a fly eye 30 is provided. A diaphragm mechanism 3 is provided on the incident side of the integrator 7.
1 is arranged. The illumination light LA1 incident on the fly-eye integrator 7 has its light amount adjusted by the diaphragm mechanism 31, is converted into a light beam having an arbitrary light amount distribution, and is applied to the reticle blind 8.

【0021】また反射鏡5と波長選択フイルタ6との間
にはレンズ32が配されており、これにより波長選択フ
イルタ6に入射する照明光LA1はほぼ並行になる。さ
らにフライアイインテグレータ7とハーフミラー9との
間にはレンズ33が配されており、これによりフライア
イインテグレータ7の入射面とレチクルブラインド8と
は共役な位置関係を与えられている。この共役条件は、
フライアイインテグレータ7の出射面がレンズとしてあ
る曲率を有しているため、この曲率とレンズ33とで作
られている。
A lens 32 is arranged between the reflecting mirror 5 and the wavelength selection filter 6, so that the illumination light LA1 incident on the wavelength selection filter 6 becomes substantially parallel. Further, a lens 33 is arranged between the fly-eye integrator 7 and the half mirror 9, so that the incident surface of the fly-eye integrator 7 and the reticle blind 8 have a conjugate positional relationship. This conjugation condition is
Since the exit surface of the fly-eye integrator 7 has a certain curvature as a lens, it is formed by this curvature and the lens 33.

【0022】因みに、レチクルブラインド8とレチクル
14とは共役な位置関係を与えられており、従つてフラ
イアイインテグレータ7の入射面とレチクル14とはほ
ぼ共役な位置関係を与えられていることになる。
Incidentally, the reticle blind 8 and the reticle 14 are provided with a conjugate positional relationship, and accordingly, the incident surface of the fly-eye integrator 7 and the reticle 14 are provided with a substantially conjugate positional relationship. .

【0023】図2に示すように、フライアイインテグレ
ータ7は矩形断面を有する棒状のガラス材7Aが複数束
ねられてなる。照明光LA1はそれぞれのガラス材7A
に分かれて入射するとそれぞれのガラス材7Aで均一化
されて分散する。図3に示すように、絞り機構31にお
いては、それぞれのガラス材7Aの入射面側に絞りユニ
ツト31Aが配されている。
As shown in FIG. 2, the fly-eye integrator 7 is formed by bundling a plurality of rod-shaped glass materials 7A having a rectangular cross section. The illumination light LA1 is made of the respective glass material 7A.
When the light is divided into two and is made incident, the respective glass materials 7A are made uniform and dispersed. As shown in FIG. 3, in the diaphragm mechanism 31, the diaphragm unit 31A is arranged on the incident surface side of each glass material 7A.

【0024】絞りユニツト31Aには、ガラス材7Aの
入射面の幅及び高さとそれぞれほぼ同一長さの横軸31
X及び縦軸31Yが入射面の上下の辺と左右の辺とに平
行にそれぞれ2本配されている。横軸31X及び縦軸3
1Yはそれぞれの端部で互いに接続されており、これに
よりガラス材7Aの入射面の形状にほぼ等しい矩形の光
の通過断面が形成されている。
The diaphragm unit 31A has a horizontal axis 31 having substantially the same length as the width and height of the incident surface of the glass material 7A.
Two Xs and three vertical axes 31Y are arranged parallel to the upper and lower sides and the left and right sides of the incident surface. Horizontal axis 31X and vertical axis 3
1Y are connected to each other at their ends, thereby forming a rectangular light passage section that is substantially the same as the shape of the incident surface of the glass material 7A.

【0025】2本の縦軸31Yにはそれぞれ4角板状の
絞り羽根31R及び31Lの根元が蝶着されており、絞
り羽根31R及び31Lの先端はガラス材7A側に向い
て独立に左右に回動する。2本の横軸31Xにはそれぞ
れ4角板状の絞り羽根31U及び31Dの根元が蝶着さ
れており、絞り羽根31U及び31Dの先端は照明光L
A1が入射する側に向いて独立に上下に回動する。
The two vertical axes 31Y are hinged to the bases of quadrilateral plate-shaped diaphragm blades 31R and 31L, respectively, and the tips of the diaphragm blades 31R and 31L face the glass material 7A side independently to the left and right. Rotate. The bases of diaphragm blades 31U and 31D each having a rectangular plate shape are hinged to the two horizontal axes 31X, and the tips of the diaphragm blades 31U and 31D are illuminated by the illumination light L.
It independently rotates up and down toward the side where A1 enters.

【0026】絞り羽根31Rの根元には2本の引張り線
材34のそれぞれの先端が付着されている。この2本の
引張り線材34のうちどちらかが駆動機構(図示せず)
で引かれると絞り羽根31Rは絞りユニツト31A内で
自在に回動し、回転角度に応じて光の通過断面の面積を
任意の値に狭め得るようになされている。これによりガ
ラス材7Aに入射する照明光LA1の光量は絞り羽根3
1Rの回転角度に応じて所定の値に制限される。
The ends of the two pulling wire members 34 are attached to the root of the diaphragm blade 31R. One of the two pull wires 34 is a drive mechanism (not shown).
When pulled by, the diaphragm blade 31R freely rotates in the diaphragm unit 31A, and the area of the light passage section can be narrowed to an arbitrary value according to the rotation angle. As a result, the amount of illumination light LA1 incident on the glass material 7A is reduced by the aperture blade 3
It is limited to a predetermined value according to the rotation angle of 1R.

【0027】他の絞り羽根31L、31U、31Dも同
様の駆動機構によつて絞りユニツト31A内で自在に回
動し得るようになされている。これによりガラス材7A
に入射する照明光LA1の光量は絞り羽根31L、31
U、31Dのそれぞれの回転角度にも応じて所定の値に
制限される。絞りユニツト31A及び引張り線材34は
照明均一性に殆ど影響しないように薄く小さく形成され
ており、これにより照明光LA1の通過断面の最大面積
はガラス材7Aの入射面の面積とほぼ同一になる。
The other diaphragm blades 31L, 31U, 31D can also freely rotate in the diaphragm unit 31A by the same driving mechanism. With this, the glass material 7A
The amount of illumination light LA1 incident on the diaphragm blades 31L, 31
It is limited to a predetermined value according to the respective rotation angles of U and 31D. The diaphragm unit 31A and the pulling wire member 34 are formed thin and small so as not to affect the illumination uniformity, so that the maximum area of the passage section of the illumination light LA1 is substantially the same as the incident surface area of the glass material 7A.

【0028】ここでフライアイインテグレータ7が例え
ばn個の絞りユニツト31Aを配されたn個のガラス材
7Aでなる場合には、絞り羽根31R1 〜31Rn 、3
1L1 〜31Ln 、31U1 〜31Un 及び31D1
31Dn が配されており、このうち任意の絞り羽根だけ
を任意の角度に回転させることによつてそれぞれのガラ
ス材7Aに入射する光量が所定の値に制限される。これ
により照明光LA1は任意の光量分布の光束に変換され
てレチクルブラインド8に照射される。
If the fly-eye integrator 7 is composed of, for example, n pieces of glass material 7A provided with n pieces of diaphragm unit 31A, diaphragm blades 31R 1 to 31R n , 3
1L 1 to 31L n , 31U 1 to 31U n and 31D 1 to
31D n are arranged, and the amount of light incident on each glass material 7A is limited to a predetermined value by rotating only an arbitrary diaphragm blade to an arbitrary angle. As a result, the illumination light LA1 is converted into a light flux having an arbitrary light amount distribution and is applied to the reticle blind 8.

【0029】このように任意の光量分布の光束に変換さ
れた照明光LA1でレチクルブラインド8を照射し、開
口部Sの大きさを任意の矩形状に定めてレチクル14が
ない状態で感光基板16に露光すると、例えば図4
(A)に示すように露光位置を完全に分離した矩形状の
露光像P1 及びP2 のそれぞれ右側及び左側に配された
減光領域40及び41に対してそれぞれの右端部及び左
端部40A及び41Aに近づくに従つて暗くなるように
露光量分布を設定し得る。
As described above, the reticle blind 8 is illuminated with the illumination light LA1 converted into a luminous flux having an arbitrary light amount distribution, and the size of the opening S is set to an arbitrary rectangular shape so that the reticle 14 is absent. When exposed to
As shown in (A), the right end portion and the left end portion 40A of the rectangular exposure images P 1 and P 2 whose exposure positions are completely separated with respect to the dimming regions 40 and 41 arranged on the right and left sides, respectively. And 41A, the exposure amount distribution may be set such that it becomes darker as it approaches 41A.

【0030】以上の構成において、例えば露光像P1
びP2 を露光する場合には、減光領域40及び41が所
定の範囲で互いに重なるように以下の手順で露光する。
In the above structure, for example, when exposing the exposure images P 1 and P 2 , the following steps are performed so that the dimming regions 40 and 41 overlap each other within a predetermined range.

【0031】すなわち図4(B)に示すように、まず露
光像P1 を露光するときは、レチクルブラインド8を移
動して、減光領域41の減光開始線41Bに対応する減
光領域40内の接続線40Bから右端部40Aまでの範
囲を遮光する。続いて任意の絞りユニツト31Aを制御
して、露光量が減光領域40の減光開始線40Cからほ
ぼ直線的に減少し接続線40Bの位置で0%になるよう
に露光量分布を設定して露光する。
That is, as shown in FIG. 4 (B), when the exposure image P 1 is first exposed, the reticle blind 8 is moved so that the dimming area 40 corresponding to the dimming start line 41B of the dimming area 41. The area from the connecting line 40B to the right end portion 40A is shielded from light. Then, the arbitrary aperture unit 31A is controlled to set the exposure amount distribution so that the exposure amount decreases substantially linearly from the dimming start line 40C of the dimming region 40 and becomes 0% at the position of the connection line 40B. And expose.

【0032】露光像P2 を露光するときは、同様にして
減光領域40の減光開始線40Cに対応する減光領域4
1内の接続線41Cから左端部41Aまでの範囲を遮光
する。続いて露光量が減光開始線41Bからほぼ直線的
に減少し接続線41Cの位置で0%になるように露光量
分布を設定して露光する。
When exposing the exposure image P 2 , similarly, the dimming area 4 corresponding to the dimming start line 40C of the dimming area 40 is formed.
The range from the connection line 41C in 1 to the left end 41A is shielded. Then, the exposure amount distribution is set so that the exposure amount decreases almost linearly from the dimming start line 41B and becomes 0% at the position of the connection line 41C, and the exposure is performed.

【0033】これにより図4(C)に示すように減光開
始線40Cと接続線41Cとが一致すると共に接続線4
0Bと減光開始線41Bとが一致するように接続された
露光像が形成される。この重複露光された範囲において
は露光量分布が加え合わされ、図4(D)に示すように
減光しない範囲と重複露光された範囲との露光量は同一
になる。
As a result, as shown in FIG. 4 (C), the dimming start line 40C and the connecting line 41C coincide with each other and the connecting line 4
An exposure image is formed so that 0B and the dimming start line 41B are connected so as to coincide with each other. In this overlapped exposure range, the exposure amount distributions are added together, and as shown in FIG. 4 (D), the exposure amount in the non-dimmed range and the overlapped exposure range are the same.

【0034】従つてレチクル14には何ら手を加えずに
レチクル14上の分割パターンに理想的な光量分布を与
えることができ、レチクル14上の分割パターンを感光
基板16に繰り返し露光して合成すると分割パターンの
継ぎ目部分が滑らかに連続する合成パターンの画像を得
ることができる。
Therefore, an ideal light amount distribution can be given to the divided pattern on the reticle 14 without any modification to the reticle 14, and if the divided pattern on the reticle 14 is repeatedly exposed and combined on the photosensitive substrate 16. It is possible to obtain an image of a combined pattern in which the joints of the divided patterns are smoothly continuous.

【0035】以上の構成によれば、フライアイインテグ
レータ7の入射面側に照明光LA1の光量を調節する絞
り機構31を配して露光像P1 及びP2 の重複範囲の露
光量分布を任意に制御するようにしたことにより、レチ
クル14に減光特性を持たせたりレチクル14毎に異な
る減光手段を用意する必要がなく、かつレチクル14上
で理想的な光量分布を得ることができる。
According to the above configuration, the diaphragm mechanism 31 for adjusting the light amount of the illumination light LA1 is arranged on the incident surface side of the fly-eye integrator 7 to arbitrarily set the exposure amount distribution in the overlapping range of the exposure images P 1 and P 2. By controlling the reticle 14 in this manner, it is not necessary to provide the reticle 14 with a dimming characteristic or prepare different dimming means for each reticle 14, and an ideal light quantity distribution can be obtained on the reticle 14.

【0036】なお上述の実施例においては、2つの露光
像P1 及びP2 を合成する場合について述べたが、本発
明はこれに限らず、3回以上の露光によつて最終的に所
望する全体のパターンの画面を合成する場合にも同様に
適用できる。例えば上下左右にそれぞれ2分された4つ
の分割パターン像を合成露光する場合、4回の露光で全
て重複露光される画面中央の範囲についてはコントラス
ト差が目立たないように上述と同様に露光する。この場
合にも上述と同様の効果を得ることができる。
In the above-described embodiment, the case where the two exposure images P 1 and P 2 are combined has been described, but the present invention is not limited to this, and finally desired by three or more exposures. The same applies to the case where the screens of the entire pattern are combined. For example, in the case of composite exposure of four divided pattern images divided into upper, lower, left, and right, the same exposure as above is performed so that the contrast difference is inconspicuous in the range of the center of the screen, which is exposed in duplicate by four exposures. Also in this case, the same effect as described above can be obtained.

【0037】また上述の実施例においては、横軸31X
及び縦軸31Yがそれぞれの端部で互いに接続されて絞
りユニツト31Aが構成される場合について述べたが、
本発明はこれに限らず、横軸及び縦軸が直接接続されな
いで絞りユニツトが構成される場合にも適用し得る。
In the above embodiment, the horizontal axis 31X
And the vertical axis 31Y is connected to each other at their ends to form the diaphragm unit 31A.
The present invention is not limited to this, and can be applied to the case where the diaphragm unit is configured without the horizontal axis and the vertical axis being directly connected.

【0038】さらに上述の実施例においては、絞りユニ
ツト31Aに絞り羽根31R、31L、31U及び31
Dが配され、この絞り羽根31R、31L、31U及び
31Dを引張り線材34で操作する場合について述べた
が、本発明はこれに限らず、例えば絞り羽根は1つだけ
配しても良く、絞り羽根の数量や構造、操作方法は広く
任意のものを使用して良い。
Further, in the above-described embodiment, the diaphragm blades 31R, 31L, 31U and 31 are attached to the diaphragm unit 31A.
Although the case where D is arranged and the diaphragm blades 31R, 31L, 31U, and 31D are operated by the pulling wire 34 has been described, the present invention is not limited to this, and, for example, only one diaphragm blade may be arranged. Any number of blades, structure, and operation method may be used.

【0039】さらに上述の実施例においては、フライア
イインテグレータ7の入射面側に絞り機構31を配した
露光装置30で液晶表示装置を製造するための感光基板
16に露光する場合について述べたが、本発明はこれに
限らず、例えばプラズマデイスプレイを製造するための
感光基板や半導体基板に露光する露光装置等、フライア
イインテグレータの入射面側に光量制御手段を配して任
意の露光対象に露光する露光装置に広く適用できる。
Further, in the above-described embodiment, the case where the exposure device 30 in which the diaphragm mechanism 31 is disposed on the incident surface side of the fly-eye integrator 7 is used to expose the photosensitive substrate 16 for manufacturing a liquid crystal display device is described. The present invention is not limited to this, and for example, an exposure device for exposing a photosensitive substrate or a semiconductor substrate for manufacturing a plasma display, etc., is provided with a light amount control means on the incident surface side of a fly-eye integrator to expose an arbitrary exposure target. It can be widely applied to exposure apparatuses.

【0040】さらに上述の実施例においては、ステツプ
アンドリピート方式の投影露光で分割パターンを合成し
て最終的に希望する合成パターンを得る場合について述
べたが、本発明はこれに限らず、ミラープロジエクシヨ
ン方式の投影露光等、他の露光方式で分割パターンを合
成して最終的に希望する合成パターンを得る場合にも広
く適用できる。
Further, in the above-mentioned embodiment, the case where the divided patterns are synthesized by the step-and-repeat type projection exposure to finally obtain the desired synthesized pattern has been described, but the present invention is not limited to this, and the mirror project is not limited thereto. It can also be widely applied to the case where the divided patterns are combined by another exposure method such as projection exposure of the exclusion method to finally obtain a desired combined pattern.

【0041】さらに上述の実施例においては、フライア
イインテグレータに入射する照明光LA1の光量を絞り
機構31で機械的に制限する場合について述べたが、本
発明はこれに限らず、フライアイインテグレータに入射
する照明光の光量をNDフイルタや液晶、電気的に透過
光量を調節する素子等、透過光量を任意に調節し得る光
量制御手段で制御する場合にも広く適用し得る。
Further, in the above-described embodiment, the case where the light amount of the illumination light LA1 incident on the fly-eye integrator is mechanically limited by the diaphragm mechanism 31 has been described, but the present invention is not limited to this, and the fly-eye integrator can be used. The present invention can be widely applied to the case where the amount of incident illumination light is controlled by a light amount control means capable of arbitrarily adjusting the amount of transmitted light such as an ND filter, a liquid crystal, and an element for electrically adjusting the amount of transmitted light.

【0042】なお感光基板16上で合成すべき複数の分
割パターンは、同一レチクル上に形成されていても、異
なるレチクル上にそれぞれ形成されていてもどちらでも
かまわない。また分割パターンとしては1種類とし、こ
の分割パターンを繰り返し露光することによつて最終的
に希望する合成パターンを形成するようにしても良い。
The plurality of division patterns to be combined on the photosensitive substrate 16 may be formed on the same reticle or different reticle respectively. Further, one kind of divided pattern may be used, and the desired combined pattern may be finally formed by repeatedly exposing this divided pattern.

【0043】[0043]

【発明の効果】上述のように請求項1から2記載の露光
装置は、フライアイインテグレータの入射面側に光源か
らの光束の光量を調整する光量制御手段を配するととも
に、駆動機構が光量制御手段を駆動して露光パタ−ンの
重複範囲の露光量分布を任意に制御したので、レチクル
に減光特性を持たせたりレチクル毎に異なる減光手段を
用意する必要がなく、かつレチクル上で理想的な光量分
布を得ることができる。また、請求項3から6記載の露
光方法は、フライアイレンズの入射面側に重複露光部分
の露光量を調節する露光量調節装置を駆動するステップ
を含んでいるので、第1パタ−ンと第2パタ−ンとの重
複部分の露光量を任意に調節することができる。
As described above, in the exposure apparatus according to the first and second aspects, the light quantity control means for adjusting the light quantity of the light flux from the light source is arranged on the incident surface side of the fly-eye integrator.
In addition, since the drive mechanism drives the light amount control means to arbitrarily control the exposure amount distribution in the overlapping range of the exposure patterns, it is necessary to provide the reticle with a light reduction characteristic or prepare a different light reduction means for each reticle. It is possible to obtain an ideal light amount distribution on the reticle. Further, the exposure method according to any one of claims 3 to 6 includes the step of driving the exposure amount adjusting device for adjusting the exposure amount of the overlapping exposure portion on the incident surface side of the fly's eye lens. The exposure amount of the overlapping portion with the second pattern can be adjusted arbitrarily.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明による露光装置の一実施例を示す全体構
成図である。
FIG. 1 is an overall configuration diagram showing an embodiment of an exposure apparatus according to the present invention.

【図2】フライアイインテグレータの説明に供する斜視
図である。
FIG. 2 is a perspective view provided for explaining a fly-eye integrator.

【図3】絞りユニツトの説明に供する斜視図である。FIG. 3 is a perspective view for explaining a diaphragm unit.

【図4】露光像の合成の説明のため露光量分布を示す略
線図である。
FIG. 4 is a schematic diagram showing an exposure amount distribution for explaining the composition of exposure images.

【図5】従来の露光装置の説明に供する全体構成図であ
る。
FIG. 5 is an overall configuration diagram for explaining a conventional exposure apparatus.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1、30……露光装置、2……超高圧水銀ランプ、3…
…楕円鏡、4……シヤツタ、5、12……反射鏡、6…
…波長選択フイルタ、7……フライアイインテグレー
タ、7A……ガラス材、8……レチクルブラインド、9
……ハーフミラー、10……積算露光量計、11……制
御装置、13……コンデンサレンズ、14……レチク
ル、15……投影レンズ、16……感光基板、17……
ステージ、18……移動鏡、19……レーザ光、31…
…絞り機構、31R、31L、31U、31D……絞り
羽根、31X……横軸、31Y……縦軸、32、33…
…レンズ、34……引張り線材。
1, 30 ... Exposure device, 2 ... Ultra high pressure mercury lamp, 3 ...
… Elliptical mirror, 4 …… Shatter, 5, 12 …… Reflecting mirror, 6…
… Wavelength selection filter, 7… Fly-eye integrator, 7A… Glass material, 8… Reticle blind, 9
...... Half mirror, 10 ...... Integrated exposure meter, 11 ...... Control device, 13 ...... Condenser lens, 14 ...... Reticle, 15 ...... Projection lens, 16 ...... Photosensitive substrate, 17 ......
Stage, 18 ... Moving mirror, 19 ... Laser light, 31 ...
... Diaphragm mechanism, 31R, 31L, 31U, 31D ... Diaphragm blade, 31X ... Horizontal axis, 31Y ... Vertical axis, 32, 33 ...
... Lens, 34 ... Tensile wire.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI H01L 21/30 527 (56)参考文献 特開 昭61−267722(JP,A) 特開 平5−6849(JP,A) 特開 昭57−112753(JP,A) 特開 平5−304076(JP,A) 特開 昭63−62230(JP,A) 特開 平2−3907(JP,A) 特開 平5−267124(JP,A) 特開 平5−281508(JP,A) 特公 昭63−49218(JP,B1) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/027 G03B 27/32 G03B 27/72 G03F 7/20 521 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of front page (51) Int.Cl. 7 Identification code FI H01L 21/30 527 (56) References JP-A-61-267722 (JP, A) JP-A-5-6849 (JP, A) JP-A-57-112753 (JP, A) JP-A-5-304076 (JP, A) JP-A-63-62230 (JP, A) JP-A-2-3907 (JP, A) JP-A-5-267124 (JP, A) JP-A-5-281508 (JP, A) JP-B-63-49218 (JP, B1) (58) Fields investigated (Int.Cl. 7 , DB name) H01L 21/027 G03B 27 / 32 G03B 27/72 G03F 7/20 521

Claims (6)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 光源からの光束を、複数の小レンズ群か
らなるフライアイインテグレータを通して、露光パタ−
ンが形成されたレチクル上に導く照明光学系と、前記レ
チクルとほぼ共役な前記照明光学系内の位置に配置さ
れ、前記光束によって照明される前記レチクル上の照明
領域を設定する照明領域設定手段と、前記フライアイイ
ンテグレータの入射面と前記照明領域設定手段とをほぼ
共役な位置にするレンズ系と、前記レチクルを通過した
光束を感光基板に投影する投影光学系とを備え、前記感
光基板上の異なる領域に対して前記露光パタ−ンの一部
どうしが重複するようにして、所望のパタ−ンを前記感
光基板に形成する露光装置において、 前記フライアイインテグレータの入射面側に配設され、
前記光源からの光束の光量を調節する光量制御手段と、 前記重複する部分の露光量を調節するように前記光量調
節装置を駆動する駆動機構とを 備えていることを特徴と
する露光装置。
1. An exposure pattern in which a light flux from a light source is passed through a fly-eye integrator composed of a plurality of small lens groups.
And an illumination optical system that guides the light onto the reticle on which the lens is formed, and an illumination area setting unit that is disposed at a position in the illumination optical system that is substantially conjugate with the reticle and that sets an illumination area on the reticle illuminated by the light flux. And a projection optical system for projecting the light flux that has passed through the reticle onto a photosensitive substrate, and a lens system for arranging the incident surface of the fly-eye integrator and the illumination area setting means in a substantially conjugate position. In an exposure apparatus for forming a desired pattern on the photosensitive substrate such that a part of the exposure patterns overlap with each other for different regions, the exposure device is disposed on the incident surface side of the fly-eye integrator. ,
Light amount control means for adjusting the light amount of the light flux from the light source, and the light amount adjusting means for adjusting the exposure amount of the overlapping portion.
An exposure apparatus comprising: a drive mechanism for driving the node device .
【請求項2】 前記光量制御手段は、前記重複露光する
部分の露光量と前記重複露光を行わない部分との露光量
が等しくなるように前記光量を調節することを特徴とす
る請求項1記載の露光装置。
2. The light amount control means adjusts the light amount so that the exposure amount of the portion subjected to the overlapping exposure becomes equal to the exposure amount of the portion not subjected to the overlapping exposure. Exposure equipment.
【請求項3】 複数の小レンズ群からなるフライアイレ
ンズを射出した光束により第1パタ−ンの一部と第2パ
タ−ンの一部とを感光基板上で重複露光して所望のパタ
−ンを露光する露光方法において、 前記フライアイレンズの入射面側に露光量を調節する露
光量調節装置を配設するステップと、 前記重複露光する部分の露光量を調節するように前記露
光量調節装置を駆動するステップと を含むことを特徴と
する露光方法。
3. A light beam emitted from a fly-eye lens composed of a plurality of small lens groups exposes a part of the first pattern and a part of the second pattern on the photosensitive substrate in an overlapping manner, thereby forming a desired pattern. In the exposure method for exposing the fly-eye lens, a dew for adjusting the exposure amount on the incident surface side of the fly-eye lens
A step of providing a light quantity adjusting device, and the exposure to adjust the exposure quantity of the overlapping exposure portion.
And a step of driving a light amount adjusting device .
【請求項4】 前記第1パタ−ンと前記第2パタ−ンと
は共通のレチクルに形成されていることを特徴とする請
求項3記載の露光方法。
4. The exposure method according to claim 3, wherein the first pattern and the second pattern are formed on a common reticle.
【請求項5】 前記第1パタ−ンと前記第2パタ−ンと
は異なるレチクルに形成されていることを特徴とする請
求項3記載の露光方法。
5. The exposure method according to claim 3, wherein the first pattern and the second pattern are formed on different reticles.
【請求項6】 前記第1パタ−ンと前記第2パタ−ンと
は同じパタ−ンであることを特徴とする請求項3記載の
露光方法。
6. The exposure method according to claim 3, wherein the first pattern and the second pattern are the same pattern.
JP32982893A 1993-11-30 1993-11-30 Exposure apparatus and exposure method Expired - Lifetime JP3427226B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP32982893A JP3427226B2 (en) 1993-11-30 1993-11-30 Exposure apparatus and exposure method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP32982893A JP3427226B2 (en) 1993-11-30 1993-11-30 Exposure apparatus and exposure method

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH07153681A JPH07153681A (en) 1995-06-16
JP3427226B2 true JP3427226B2 (en) 2003-07-14

Family

ID=18225689

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP32982893A Expired - Lifetime JP3427226B2 (en) 1993-11-30 1993-11-30 Exposure apparatus and exposure method

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3427226B2 (en)

Also Published As

Publication number Publication date
JPH07153681A (en) 1995-06-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3711586B2 (en) Scanning exposure equipment
JP3339149B2 (en) Scanning exposure apparatus and exposure method
JP4362999B2 (en) Exposure apparatus, exposure method, and device manufacturing method
TWI453547B (en) An exposure apparatus, an exposure method, and an element manufacturing method
KR100849870B1 (en) Scanning exposure method and scanning exposure apparatus
JPH07135165A (en) Scanning aligner
JPH04273245A (en) Method and device for exposing
JP3531297B2 (en) Projection exposure apparatus and projection exposure method
KR20000076647A (en) Scanning exposure method and scanning type exposure apparatus
JPH06324474A (en) Photomask and exposing method
JP3427226B2 (en) Exposure apparatus and exposure method
JP4144059B2 (en) Scanning exposure equipment
JP5397748B2 (en) Exposure apparatus, scanning exposure method, and device manufacturing method
JP2001215717A (en) Scanning exposure method and scanning exposure system
JP3284645B2 (en) Exposure apparatus and exposure method
JP4482998B2 (en) Scanning exposure method, scanning exposure apparatus, and device manufacturing method
WO2000059012A1 (en) Exposure method and apparatus
JP3372086B2 (en) Exposure method and apparatus, and device manufacturing method
JP3351013B2 (en) Exposure apparatus and exposure method
JP2800731B2 (en) Scanning exposure method and circuit element manufacturing method by scanning exposure
JP2000058422A (en) Aligner
JP2000298353A (en) Scanning exposure method and scanning type aligner
JP2000277408A (en) Exposure system and exosing method
JPH11260716A (en) Aligner and manufacture of semiconductor device
JPH1083957A (en) Scanning exposure method and manufacturing method circuit pattern

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20030401

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120516

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140516

Year of fee payment: 11

EXPY Cancellation because of completion of term