JP3425603B2 - 電界効果トランジスタの製造方法 - Google Patents
電界効果トランジスタの製造方法Info
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- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 14
- 230000005669 field effect Effects 0.000 title claims description 13
- 238000000034 method Methods 0.000 title description 8
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 16
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 10
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 claims 1
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 22
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 6
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 4
- 239000007767 bonding agent Substances 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000007687 exposure technique Methods 0.000 description 1
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 description 1
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L29/00—Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/66—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/66007—Multistep manufacturing processes
- H01L29/66075—Multistep manufacturing processes of devices having semiconductor bodies comprising group 14 or group 13/15 materials
- H01L29/66227—Multistep manufacturing processes of devices having semiconductor bodies comprising group 14 or group 13/15 materials the devices being controllable only by the electric current supplied or the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched, e.g. three-terminal devices
- H01L29/66409—Unipolar field-effect transistors
- H01L29/66477—Unipolar field-effect transistors with an insulated gate, i.e. MISFET
- H01L29/66742—Thin film unipolar transistors
- H01L29/66772—Monocristalline silicon transistors on insulating substrates, e.g. quartz substrates
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- H01L29/00—Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/66—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/68—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
- H01L29/76—Unipolar devices, e.g. field effect transistors
- H01L29/772—Field effect transistors
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- H01L29/786—Thin film transistors, i.e. transistors with a channel being at least partly a thin film
- H01L29/78645—Thin film transistors, i.e. transistors with a channel being at least partly a thin film with multiple gate
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Description
【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明に属する技術分野】本発明は、微細な高性能トラ
ンジスタを実現するための埋め込みゲートの形成方法に
関し、特にゲートの形成を利用した2重ゲート電界効果
トランジスタ及びその製造方法に関する。 【0002】 【従来の技術】トランジスタの微細化が進むに従って、
トランジスタのゲート長の揺らぎによってしきい値が変
動する短チャネル効果が顕著になってきた。短チャネル
効果を防ぎトランジスタの駆動能力を上げるためには、
トランジスタに2重ゲート構造(特公昭62-1270
号公報参照)を用いるのが最適であることが知られてい
る。 【0003】 【発明が解決しようする課題】しかしながら現在まで、
実際に2重ゲート構造を製造する産業的方法は知られて
いない。特に、上下のゲートにソース及びドレインを整
合した状態で形成して電界効果トランジスタの高速動作
を阻害する寄生容量を最小にする構造の製造方法は全く
目処が立っていない。 【0004】この発明は、前記の問題点を解決するため
になされたもので、微細な構成のトランジスタを実現す
るための上下整合型2重ゲート電界効果トランジスタの
構造とそれを製造する産業的方法を提供することを目的
とする。 【0005】 【0006】 【0007】【課題を解決するための手段】 本発明は、前記課題を解
決するために、第1の支持基板上に、絶縁層を介して半
導体層を形成するとともに、前記絶縁層及び半導体層
に、あわせ溝を形成し、このあわせ溝を利用して第1の
ゲートを形成し、前記第1の支持基板を除去した表面
に、前記合わせ溝を利用して第2のゲートを形成すると
ともに、ソース、ドレイン、前記第1のゲート及び前記
第2のゲートにそれぞれ接続する電極の配線を形成する
ことを特徴とする2重ゲート電界効果トランジスタの製
造方法を提供する。 【0008】 【発明の実施の形態】この発明に係る電界効果トランジ
スタの実施の形態を実施例に基づいて図面を参照して説
明する。この発明に係る上下整合型の2重ゲート電界効
果トランジスタの製造方法を、図1〜3において順次説
明する。 【0009】(1)第1支持基板上に埋め込み絶縁層が
形成され、さらにその上に半導体層が形成されているも
のを用意する。(図1(a)) (2)第1支持基板上の半導体層の一部を露光技術、エ
ッチング技術を用いて除去して、この領域に絶縁層を形
成し、あわせマーク領域とする。このようにして、支持
基板上にデバイス領域とあわせマーク領域を形成する。
(図1(b)) (3)あわせマーク領域の第1支持基板まで達するもし
くは第1支持基板を剥離したときにマークも裏側から確
認できる程度まで、溝をエッチングで掘り、あわせマー
クを形成する。(図1(c)) 【0010】(4)デバイス領域の半導体層上に絶縁膜
を介してゲート層を形成し、あわせマークに整合させ
て、前記ゲート層をエッチングにより加工し第1のゲー
トを形成する。(図2(a)) (5)このようにして形成された構造体の上に、張り合
わせ剤(絶縁体)をつける。(図2(b)) (6)前記構造体(図2(b))を上下反転し、下方か
ら別途用意した第2支持基板と張り合わせる。このとき
第1のゲートは張り合わせ剤(絶縁体)に埋設された下
部ゲートとなる。ソース、ドレイン及び下部ゲートにそ
れぞれ接続される後述するソース電極、ドレイン電極及
び下部ゲート電極の3電極への配線を有する埋め込み裏
面ゲートトランジスタができる。(図2(c)) 【0011】(7) 埋め込み絶縁層を剥離停止層とし
て第1支持基板をエッチングにより剥離すとともに、あ
わせマーク絶縁体の露出を行う。(図3(a)) (8)埋め込み絶縁層をエッチングにより選択的に剥離
後再度絶縁層を形成し、第2のゲート材料を堆積する。
露出したあわせマークで整合を取り第2のゲート(上部
電極)をエッチングにより加工し、これにより上部ゲー
ト(第2のゲート)及び下部ゲート(第1のゲート)の
整合をとる。(図3(b)) (9)第1支持基板を剥離した側に層間絶縁膜を形成す
るとともに、ソース電極及びドレイン電極を形成し、さ
らに、上部ゲートに接続する上部ゲート電極及び下部ゲ
ートに接続する下部ゲート電極を形成し、第1支持基板
を剥離した側にソース電極、ドレイン電極、上部電極及
び下部電極の4電極を有する上下整合型二重ゲート電界
効果トランジスタを完成させる。(図3(c)) 【0012】以上の製造方法により形成された2重ゲー
ト電界効果トランジスタは、第2支持基板、第2支持基
板上に形成された絶縁体中に埋設された下部ゲート、下
部ゲート上に形成された絶縁層、絶縁層上に形成された
半導体層、半導体層中に形成されたソース及びドレイ
ン、半導体層上に形成された絶縁層、絶縁層上に形成さ
れた上部ゲート、並びにソース電極、ドレイン電極、上
部ゲート電極及び下部ゲート電極で構成されている。 【0013】以上本発明の構成について実施例に基づい
て説明したが、本発明は、前記実施例に限定されること
なく、特許請求の範囲記載の技術的事項の範囲でいろい
ろな実施の態様があることはいうまでもない。 【0014】 【発明の効果】以上の構成からなる本発明によると、高
速動作が可能な、微細な構成の上下整合型2重ゲート電
界効果トランジスタを簡単に製造する方法を提供するこ
とができる。
ンジスタを実現するための埋め込みゲートの形成方法に
関し、特にゲートの形成を利用した2重ゲート電界効果
トランジスタ及びその製造方法に関する。 【0002】 【従来の技術】トランジスタの微細化が進むに従って、
トランジスタのゲート長の揺らぎによってしきい値が変
動する短チャネル効果が顕著になってきた。短チャネル
効果を防ぎトランジスタの駆動能力を上げるためには、
トランジスタに2重ゲート構造(特公昭62-1270
号公報参照)を用いるのが最適であることが知られてい
る。 【0003】 【発明が解決しようする課題】しかしながら現在まで、
実際に2重ゲート構造を製造する産業的方法は知られて
いない。特に、上下のゲートにソース及びドレインを整
合した状態で形成して電界効果トランジスタの高速動作
を阻害する寄生容量を最小にする構造の製造方法は全く
目処が立っていない。 【0004】この発明は、前記の問題点を解決するため
になされたもので、微細な構成のトランジスタを実現す
るための上下整合型2重ゲート電界効果トランジスタの
構造とそれを製造する産業的方法を提供することを目的
とする。 【0005】 【0006】 【0007】【課題を解決するための手段】 本発明は、前記課題を解
決するために、第1の支持基板上に、絶縁層を介して半
導体層を形成するとともに、前記絶縁層及び半導体層
に、あわせ溝を形成し、このあわせ溝を利用して第1の
ゲートを形成し、前記第1の支持基板を除去した表面
に、前記合わせ溝を利用して第2のゲートを形成すると
ともに、ソース、ドレイン、前記第1のゲート及び前記
第2のゲートにそれぞれ接続する電極の配線を形成する
ことを特徴とする2重ゲート電界効果トランジスタの製
造方法を提供する。 【0008】 【発明の実施の形態】この発明に係る電界効果トランジ
スタの実施の形態を実施例に基づいて図面を参照して説
明する。この発明に係る上下整合型の2重ゲート電界効
果トランジスタの製造方法を、図1〜3において順次説
明する。 【0009】(1)第1支持基板上に埋め込み絶縁層が
形成され、さらにその上に半導体層が形成されているも
のを用意する。(図1(a)) (2)第1支持基板上の半導体層の一部を露光技術、エ
ッチング技術を用いて除去して、この領域に絶縁層を形
成し、あわせマーク領域とする。このようにして、支持
基板上にデバイス領域とあわせマーク領域を形成する。
(図1(b)) (3)あわせマーク領域の第1支持基板まで達するもし
くは第1支持基板を剥離したときにマークも裏側から確
認できる程度まで、溝をエッチングで掘り、あわせマー
クを形成する。(図1(c)) 【0010】(4)デバイス領域の半導体層上に絶縁膜
を介してゲート層を形成し、あわせマークに整合させ
て、前記ゲート層をエッチングにより加工し第1のゲー
トを形成する。(図2(a)) (5)このようにして形成された構造体の上に、張り合
わせ剤(絶縁体)をつける。(図2(b)) (6)前記構造体(図2(b))を上下反転し、下方か
ら別途用意した第2支持基板と張り合わせる。このとき
第1のゲートは張り合わせ剤(絶縁体)に埋設された下
部ゲートとなる。ソース、ドレイン及び下部ゲートにそ
れぞれ接続される後述するソース電極、ドレイン電極及
び下部ゲート電極の3電極への配線を有する埋め込み裏
面ゲートトランジスタができる。(図2(c)) 【0011】(7) 埋め込み絶縁層を剥離停止層とし
て第1支持基板をエッチングにより剥離すとともに、あ
わせマーク絶縁体の露出を行う。(図3(a)) (8)埋め込み絶縁層をエッチングにより選択的に剥離
後再度絶縁層を形成し、第2のゲート材料を堆積する。
露出したあわせマークで整合を取り第2のゲート(上部
電極)をエッチングにより加工し、これにより上部ゲー
ト(第2のゲート)及び下部ゲート(第1のゲート)の
整合をとる。(図3(b)) (9)第1支持基板を剥離した側に層間絶縁膜を形成す
るとともに、ソース電極及びドレイン電極を形成し、さ
らに、上部ゲートに接続する上部ゲート電極及び下部ゲ
ートに接続する下部ゲート電極を形成し、第1支持基板
を剥離した側にソース電極、ドレイン電極、上部電極及
び下部電極の4電極を有する上下整合型二重ゲート電界
効果トランジスタを完成させる。(図3(c)) 【0012】以上の製造方法により形成された2重ゲー
ト電界効果トランジスタは、第2支持基板、第2支持基
板上に形成された絶縁体中に埋設された下部ゲート、下
部ゲート上に形成された絶縁層、絶縁層上に形成された
半導体層、半導体層中に形成されたソース及びドレイ
ン、半導体層上に形成された絶縁層、絶縁層上に形成さ
れた上部ゲート、並びにソース電極、ドレイン電極、上
部ゲート電極及び下部ゲート電極で構成されている。 【0013】以上本発明の構成について実施例に基づい
て説明したが、本発明は、前記実施例に限定されること
なく、特許請求の範囲記載の技術的事項の範囲でいろい
ろな実施の態様があることはいうまでもない。 【0014】 【発明の効果】以上の構成からなる本発明によると、高
速動作が可能な、微細な構成の上下整合型2重ゲート電
界効果トランジスタを簡単に製造する方法を提供するこ
とができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に関わる電界効果トランジスタの製造方
法を説明する図面である。 【図2】本発明に関わる電界効果トランジスタの製造方
法を説明する図面である。 【図3】本発明に関わる電界効果トランジスタ及びその
製造方法を説明する図面である。
法を説明する図面である。 【図2】本発明に関わる電界効果トランジスタの製造方
法を説明する図面である。 【図3】本発明に関わる電界効果トランジスタ及びその
製造方法を説明する図面である。
Claims (1)
- (57)【特許請求の範囲】【請求項1】 第1の支持基板上に、絶縁層を介して半
導体層を形成するとともに、前記絶縁層及び半導体層
に、あわせ溝を形成し、このあわせ溝を利用して第1の
ゲートを形成し、前記第1の支持基板を除去した表面
に、前記合わせ溝を利用して第2のゲートを形成すると
ともに、ソース、ドレイン、前記第1のゲート及び前記
第2のゲートにそれぞれ接続する電極の配線を形成する
ことを特徴とする2重ゲート電界効果トランジスタの製
造方法。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000020045A JP3425603B2 (ja) | 2000-01-28 | 2000-01-28 | 電界効果トランジスタの製造方法 |
US09/750,441 US6423578B2 (en) | 2000-01-28 | 2000-12-28 | Field-effect transistor and manufacture thereof |
US10/185,574 US20020167049A1 (en) | 2000-01-28 | 2002-06-27 | Field-effect transistor and manufacture thereof |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000020045A JP3425603B2 (ja) | 2000-01-28 | 2000-01-28 | 電界効果トランジスタの製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001210827A JP2001210827A (ja) | 2001-08-03 |
JP3425603B2 true JP3425603B2 (ja) | 2003-07-14 |
Family
ID=18546664
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000020045A Expired - Lifetime JP3425603B2 (ja) | 2000-01-28 | 2000-01-28 | 電界効果トランジスタの製造方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US6423578B2 (ja) |
JP (1) | JP3425603B2 (ja) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3665275B2 (ja) * | 2001-05-28 | 2005-06-29 | 沖電気工業株式会社 | 位置合わせマークの形成方法 |
KR100470832B1 (ko) * | 2002-08-12 | 2005-03-10 | 한국전자통신연구원 | 두께가 얇은 soi층을 이용한 쇼트키 장벽 관통트랜지스터 및 그 제조방법 |
JP2004103612A (ja) * | 2002-09-04 | 2004-04-02 | Toshiba Corp | 半導体装置とその製造方法 |
US7078773B2 (en) | 2002-12-23 | 2006-07-18 | International Business Machines Corporation | Nitride-encapsulated FET (NNCFET) |
TWI244211B (en) * | 2003-03-14 | 2005-11-21 | Innolux Display Corp | Thin film transistor and method of manufacturing the same and display apparatus using the transistor |
TWI248646B (en) * | 2004-03-17 | 2006-02-01 | Imec Inter Uni Micro Electr | Method to make markers for double gate SOI processing |
US7364974B2 (en) * | 2005-03-18 | 2008-04-29 | Translucent Inc. | Double gate FET and fabrication process |
JP2007094511A (ja) * | 2005-09-27 | 2007-04-12 | Nec Electronics Corp | Lsi設計支援装置及びlsi設計支援方法 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2986481A (en) * | 1958-08-04 | 1961-05-30 | Hughes Aircraft Co | Method of making semiconductor devices |
US3510733A (en) * | 1966-05-13 | 1970-05-05 | Gen Electric | Semiconductive crystals of silicon carbide with improved chromium-containing electrical contacts |
US3623219A (en) * | 1969-10-22 | 1971-11-30 | Rca Corp | Method for isolating semiconductor devices from a wafer of semiconducting material |
DE3688516T2 (de) | 1985-03-25 | 1993-10-07 | Nippon Electric Co | Herstellungsverfahren für einem bipolaren Transistor mit Heteroübergang. |
DE69332960T2 (de) * | 1992-01-28 | 2004-05-13 | Canon K.K. | Halbleiteranordnung |
US6107213A (en) * | 1996-02-01 | 2000-08-22 | Sony Corporation | Method for making thin film semiconductor |
-
2000
- 2000-01-28 JP JP2000020045A patent/JP3425603B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 2000-12-28 US US09/750,441 patent/US6423578B2/en not_active Expired - Fee Related
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2002
- 2002-06-27 US US10/185,574 patent/US20020167049A1/en not_active Abandoned
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US6423578B2 (en) | 2002-07-23 |
US20020167049A1 (en) | 2002-11-14 |
JP2001210827A (ja) | 2001-08-03 |
US20010010380A1 (en) | 2001-08-02 |
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