JP3416295B2 - 画像形成装置の製造装置および画像形成装置の製造方法 - Google Patents
画像形成装置の製造装置および画像形成装置の製造方法Info
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- JP3416295B2 JP3416295B2 JP26005794A JP26005794A JP3416295B2 JP 3416295 B2 JP3416295 B2 JP 3416295B2 JP 26005794 A JP26005794 A JP 26005794A JP 26005794 A JP26005794 A JP 26005794A JP 3416295 B2 JP3416295 B2 JP 3416295B2
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Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、電子源を応用した表示
装置、記録装置等の画像形成装置、その製造方法及び、
その製造装置に関する。
装置、記録装置等の画像形成装置、その製造方法及び、
その製造装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、電子放出素子として熱電子源と冷
陰極電子源の2種類が知られている。冷陰極電子源には
電界放出型(以下FE型と略す)、金属/絶縁層/金属
型(以下MIM型と略す)や表面伝導型電子放出素子等
がある。FE型の例としてはW.P.Dyke&W.
W.Dolan、“Field emission”、
Advance in Electron Physi
cs、8 89(1956)あるいはC.A.Spin
dt、“Physical Propertiesof
thin−film field emisson
cathodeswith molybdenium”
J.Appl.Phys.,47 5248(197
6)等が知られている。
陰極電子源の2種類が知られている。冷陰極電子源には
電界放出型(以下FE型と略す)、金属/絶縁層/金属
型(以下MIM型と略す)や表面伝導型電子放出素子等
がある。FE型の例としてはW.P.Dyke&W.
W.Dolan、“Field emission”、
Advance in Electron Physi
cs、8 89(1956)あるいはC.A.Spin
dt、“Physical Propertiesof
thin−film field emisson
cathodeswith molybdenium”
J.Appl.Phys.,47 5248(197
6)等が知られている。
【0003】MIM型の例としてはC.A.Mead、
“The tunnel−emission ampl
ifier、J.Appl.Phys.,32 646
(1961)等が知られている。
“The tunnel−emission ampl
ifier、J.Appl.Phys.,32 646
(1961)等が知られている。
【0004】表面伝導型電子放出素子型の例としては、
M.I.Elinson、Radio Eng.Ele
ctron Phys.,10(1965)等がある。
表面伝導型電子放出素子は、基板上に形成された小面積
の薄膜に、膜面に平行に電流を流すことにより、電子放
出が生ずる現象を利用するものである。この表面伝導型
電子放出素子としては、前記エリンソン等によるSnO
2 薄膜を用いたもの、Au薄膜によるもの[G.Dit
tmer:“Thin Solid Films”、9
317(1972)]、In203/SnO2 薄膜によ
るもの[M.Hartwell and C.G.Fo
nstad;”IEEE Trans.ED Con
f.”、519(1975)]、カーボン薄膜によるも
の[荒木久他:真空、第26巻、第1号、22頁(19
83)]等が報告されている。
M.I.Elinson、Radio Eng.Ele
ctron Phys.,10(1965)等がある。
表面伝導型電子放出素子は、基板上に形成された小面積
の薄膜に、膜面に平行に電流を流すことにより、電子放
出が生ずる現象を利用するものである。この表面伝導型
電子放出素子としては、前記エリンソン等によるSnO
2 薄膜を用いたもの、Au薄膜によるもの[G.Dit
tmer:“Thin Solid Films”、9
317(1972)]、In203/SnO2 薄膜によ
るもの[M.Hartwell and C.G.Fo
nstad;”IEEE Trans.ED Con
f.”、519(1975)]、カーボン薄膜によるも
の[荒木久他:真空、第26巻、第1号、22頁(19
83)]等が報告されている。
【0005】これらの表面伝導型電子放出素子の典型的
な素子構成として、前述のM.ハートウェルの素子構成
を図18に示す。同図において181は基板である。1
84は導電性薄膜で、スパッタで形成されたH型の金属
酸化物薄膜等からなり、後述の通電フォーミングと呼ば
れる通電処理により電子放出部185が形成される。
尚、図中の素子電極間隔Lは、0.5〜1mm、W′
は、0.1mmで設定されている。尚、電子放出部18
5の位置及び形状については、不明であるので模式図と
して表している。
な素子構成として、前述のM.ハートウェルの素子構成
を図18に示す。同図において181は基板である。1
84は導電性薄膜で、スパッタで形成されたH型の金属
酸化物薄膜等からなり、後述の通電フォーミングと呼ば
れる通電処理により電子放出部185が形成される。
尚、図中の素子電極間隔Lは、0.5〜1mm、W′
は、0.1mmで設定されている。尚、電子放出部18
5の位置及び形状については、不明であるので模式図と
して表している。
【0006】従来、これらの表面伝導型電子放出素子に
おいては、電子放出を行う前に導電性薄膜184を予め
通電フォーミングと呼ばれる通電処理によって電子放出
部185を形成するが一般的であった。即ち、通電フォ
ーミングとは前記導電性薄膜184の両端に直流電圧、
あるいは非常にゆっくりとした昇電圧例えば1V/分程
度を印加通電し、導電性薄膜を局所的に破壊、変形もし
くは変質せしめ、電気的に高抵抗な状態にした電子放出
部185を形成することである。尚、電子放出部185
は導電性薄膜184の一部に亀裂が発生し、その亀裂付
近から電子放出が行われる。前記通電フォーミング処理
をした表面伝導型電子放出素子は、上述導電性薄膜18
4に電圧を印加し、素子に電流を流すことにより上述電
子放出部185より電子を放出せしめるものである。
おいては、電子放出を行う前に導電性薄膜184を予め
通電フォーミングと呼ばれる通電処理によって電子放出
部185を形成するが一般的であった。即ち、通電フォ
ーミングとは前記導電性薄膜184の両端に直流電圧、
あるいは非常にゆっくりとした昇電圧例えば1V/分程
度を印加通電し、導電性薄膜を局所的に破壊、変形もし
くは変質せしめ、電気的に高抵抗な状態にした電子放出
部185を形成することである。尚、電子放出部185
は導電性薄膜184の一部に亀裂が発生し、その亀裂付
近から電子放出が行われる。前記通電フォーミング処理
をした表面伝導型電子放出素子は、上述導電性薄膜18
4に電圧を印加し、素子に電流を流すことにより上述電
子放出部185より電子を放出せしめるものである。
【0007】上述の表面伝導型放出素子は構造が単純で
製造も容易であることから、大面積にわたり多数の素子
を配列形成できる利点がある。そこで、この特徴を生か
せるようないろいろな応用が研究されている。例えば、
荷電ビーム源、画像表示装置等の表示装置があげられ
る。
製造も容易であることから、大面積にわたり多数の素子
を配列形成できる利点がある。そこで、この特徴を生か
せるようないろいろな応用が研究されている。例えば、
荷電ビーム源、画像表示装置等の表示装置があげられ
る。
【0008】このような電子放出素子を表示パネルとし
て組み上げるには、電子放出部を搭載したリアプレート
と画像形成部材を搭載したフェースプレートを高精度に
位置合わせすることが要求され、その精度によっては文
字、画像等の色ずれの原因となる。
て組み上げるには、電子放出部を搭載したリアプレート
と画像形成部材を搭載したフェースプレートを高精度に
位置合わせすることが要求され、その精度によっては文
字、画像等の色ずれの原因となる。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来は
その製造工程においてフェースプレート、リアプレー
ト、及び支持枠等を融着する際に、各電極基板及び組立
治具が高温にさらされるため、以下に示すような問題が
生じている。
その製造工程においてフェースプレート、リアプレー
ト、及び支持枠等を融着する際に、各電極基板及び組立
治具が高温にさらされるため、以下に示すような問題が
生じている。
【0010】温度上昇により、組立治具や各電極基板は
熱膨張する。この場合は、組立焼成治具とし電極基板と
の接触面にすべり摩擦を生じる。高温度においては、常
温時と比較して摩擦係数が大きく異なるとともに、熱摩
擦による粘性すべりが発生する。これにより組立治具や
電極基板の伸縮が抑制され、それぞれ所望の位置決め箇
所とは異なる位置で接合されるため、常温に戻したとき
電極基板間の位置ずれを起こす原因の一つとなってい
た。特に、組立治具と電極基板の材質が異なるときに顕
著にあらわれる。また、同一の材質であっても局所的に
みれば不純物の混入等により、同様の位置ずれを起こす
可能性がある。
熱膨張する。この場合は、組立焼成治具とし電極基板と
の接触面にすべり摩擦を生じる。高温度においては、常
温時と比較して摩擦係数が大きく異なるとともに、熱摩
擦による粘性すべりが発生する。これにより組立治具や
電極基板の伸縮が抑制され、それぞれ所望の位置決め箇
所とは異なる位置で接合されるため、常温に戻したとき
電極基板間の位置ずれを起こす原因の一つとなってい
た。特に、組立治具と電極基板の材質が異なるときに顕
著にあらわれる。また、同一の材質であっても局所的に
みれば不純物の混入等により、同様の位置ずれを起こす
可能性がある。
【0011】本発明は上記問題点に鑑みてなされたもの
であって、フェースプレートとリアプレートの位置決め
において、組立治具とフェースプレート又はリアプレー
トの間に転動体を配置することにより、電子放出部と画
像形成部材とを高精度に位置合わせすることのできる画
像形成装置の製造装置および画像形成装置の製造方法を
提供することを目的とする。
であって、フェースプレートとリアプレートの位置決め
において、組立治具とフェースプレート又はリアプレー
トの間に転動体を配置することにより、電子放出部と画
像形成部材とを高精度に位置合わせすることのできる画
像形成装置の製造装置および画像形成装置の製造方法を
提供することを目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は画像形成装置の構成部材であるリアプレー
トと支持枠とフェースプレートとを、前記リアプレート
と前記フェースプレートとの相対位置合せをすると共に
加熱することにより融着する際に用いられる画像形成装
置の製造装置であって、少なくとも、前記リアプレート
と支持枠とフェースプレートとが積載される基台と、前
記リアプレートと前記フェースプレートとの相対位置合
せをする位置決め機構と、前記基台とその上に搭載され
る前記リアプレートまたは前記フェースプレートとの間
に位置するよう配設され、前記加熱の際に、前記基台と
前記リアプレートまたは前記フェースプレートの自由な
伸縮を可能とし、前記基台と前記リアプレートまたは前
記フェースプレートのすべり摩擦の発生を低減する転動
体とを備えることを特徴とする画像形成装置の製造装置
に関する。また、本発明は画像形成装置の構成部材であ
るリアプレートと支持枠とフェースプレートとを、前記
リアプレートと前記フェースプレートとの相対位置合せ
をすると共に加熱することにより融着する際に用いられ
る画像形成装置の製造装置であって、少なくとも、前記
リアプレートと支持枠とフェースプレートとがその間に
挟持される第一の基台及び第二の基台と、前記リアプレ
ートと前記フェースプレートとの相対位置合せをする位
置決め機構と、前記両基台とその間に挟持される前記リ
アプレート及び前記フェースプレートとの間に位置する
ように配設され、前記加熱の際に、前記基台と前記リア
プレートおよび前記フェースプレートの自由な伸縮を可
能とし、前記基台と前記リアプレートおよび前記フェー
スプレートのすべり摩擦の発生を低減する転動体とを備
えること特徴とする画像形成装置の製造装置に関する。
本発明では、前記転動体は少なくとも3つ以上配設する
ことができる。また、前記転動体は球体であることがで
きる。また、前記基台の主平面上に溝ガイドを形成する
と共に前記溝ガイド内に転動体を配設することができ
る。前記位置決め機構は、前記リアプレート及び前記リ
アプレートの端面が突き当 てられる突き当て部とするこ
とができる。さらに本発明は、画像形成装置の構成部材
であるリアプレートと支持枠とフェースプレートとを、
前記リアプレートと前記フェースプレートとの相対位置
合せをすると共に加熱することにより融着する工程を有
する画像形成装置の製造方法において、前記融着する工
程は、以上に記載の製造装置を用いて行われることを特
徴とする画像形成装置の製造方法に関する。
に、本発明は画像形成装置の構成部材であるリアプレー
トと支持枠とフェースプレートとを、前記リアプレート
と前記フェースプレートとの相対位置合せをすると共に
加熱することにより融着する際に用いられる画像形成装
置の製造装置であって、少なくとも、前記リアプレート
と支持枠とフェースプレートとが積載される基台と、前
記リアプレートと前記フェースプレートとの相対位置合
せをする位置決め機構と、前記基台とその上に搭載され
る前記リアプレートまたは前記フェースプレートとの間
に位置するよう配設され、前記加熱の際に、前記基台と
前記リアプレートまたは前記フェースプレートの自由な
伸縮を可能とし、前記基台と前記リアプレートまたは前
記フェースプレートのすべり摩擦の発生を低減する転動
体とを備えることを特徴とする画像形成装置の製造装置
に関する。また、本発明は画像形成装置の構成部材であ
るリアプレートと支持枠とフェースプレートとを、前記
リアプレートと前記フェースプレートとの相対位置合せ
をすると共に加熱することにより融着する際に用いられ
る画像形成装置の製造装置であって、少なくとも、前記
リアプレートと支持枠とフェースプレートとがその間に
挟持される第一の基台及び第二の基台と、前記リアプレ
ートと前記フェースプレートとの相対位置合せをする位
置決め機構と、前記両基台とその間に挟持される前記リ
アプレート及び前記フェースプレートとの間に位置する
ように配設され、前記加熱の際に、前記基台と前記リア
プレートおよび前記フェースプレートの自由な伸縮を可
能とし、前記基台と前記リアプレートおよび前記フェー
スプレートのすべり摩擦の発生を低減する転動体とを備
えること特徴とする画像形成装置の製造装置に関する。
本発明では、前記転動体は少なくとも3つ以上配設する
ことができる。また、前記転動体は球体であることがで
きる。また、前記基台の主平面上に溝ガイドを形成する
と共に前記溝ガイド内に転動体を配設することができ
る。前記位置決め機構は、前記リアプレート及び前記リ
アプレートの端面が突き当 てられる突き当て部とするこ
とができる。さらに本発明は、画像形成装置の構成部材
であるリアプレートと支持枠とフェースプレートとを、
前記リアプレートと前記フェースプレートとの相対位置
合せをすると共に加熱することにより融着する工程を有
する画像形成装置の製造方法において、前記融着する工
程は、以上に記載の製造装置を用いて行われることを特
徴とする画像形成装置の製造方法に関する。
【0013】
【0014】
【0015】
【0016】
【作用】上記のように基台と各プレートとの間に転動体
を挟むことで、高温度にしたとき熱膨張からくる基台と
プレート間のすべり摩擦の発生をほとんどなくすことが
可能となり、プレート等の不均一な伸縮がなくなって位
置ずれ誤差の少ない画像形成装置の作製が可能となる。
を挟むことで、高温度にしたとき熱膨張からくる基台と
プレート間のすべり摩擦の発生をほとんどなくすことが
可能となり、プレート等の不均一な伸縮がなくなって位
置ずれ誤差の少ない画像形成装置の作製が可能となる。
【0017】以下、本発明を実施態様を用いて説明す
る。
る。
【0018】本発明で用いる電子源のうち冷陰極電子源
としては、単純な構成であり、製法が容易な表面伝導型
電子放出素子が好適である。
としては、単純な構成であり、製法が容易な表面伝導型
電子放出素子が好適である。
【0019】本発明に用いることのできる表面伝導型電
子放出素子は基本的に平面型表面伝導型電子放出素子及
び垂直型表面伝導型電子放出素子の2種類があげられ
る。
子放出素子は基本的に平面型表面伝導型電子放出素子及
び垂直型表面伝導型電子放出素子の2種類があげられ
る。
【0020】図6及び7は基本的な平面型表面伝導型電
子放出素子の構成を示す模式的平面図及び断面図であ
る。
子放出素子の構成を示す模式的平面図及び断面図であ
る。
【0021】図6及び7において71は基板、72、7
3は素子電極、74は導電性薄膜、75は電子放出部で
ある。
3は素子電極、74は導電性薄膜、75は電子放出部で
ある。
【0022】基板1としては、石英ガラス、Na等の不
純物含有量の少ないガラス、青板ガラス、SiO2 を表
面に形成したガラス基板及びアルミナ等のセラミックス
基板が用いられる。
純物含有量の少ないガラス、青板ガラス、SiO2 を表
面に形成したガラス基板及びアルミナ等のセラミックス
基板が用いられる。
【0023】素子電極72、73の材料としては一般的
導電体が用いられ、例えばNi、Cr、Au、Mo、
W、Pt、Ti、Al、Cu、Pd等の金属或はこれら
の合金及びPd、Ag、Au、RuO2 、Pd−Ag等
の金属或は金属酸化物とガラス等から構成される印刷導
体、In2 O3 −SnO2 等の透明導電体及びポリシリ
コン等の半導体材料等から適宜選択される。
導電体が用いられ、例えばNi、Cr、Au、Mo、
W、Pt、Ti、Al、Cu、Pd等の金属或はこれら
の合金及びPd、Ag、Au、RuO2 、Pd−Ag等
の金属或は金属酸化物とガラス等から構成される印刷導
体、In2 O3 −SnO2 等の透明導電体及びポリシリ
コン等の半導体材料等から適宜選択される。
【0024】素子電極間隔Lは好ましくは数百オングス
トロームより数百マイクロメートルである。また素子電
極間に印加する電圧は低い方が望ましく、再現良く作成
することが要求されるため、好ましい素子電極間隔は数
マイクロメートルより数十マイクロメートルである。
トロームより数百マイクロメートルである。また素子電
極間に印加する電圧は低い方が望ましく、再現良く作成
することが要求されるため、好ましい素子電極間隔は数
マイクロメートルより数十マイクロメートルである。
【0025】素子電極長さW及び導電性薄膜74の幅
W′は電極の抵抗値、電子放出特性から数マイクロメー
トルより数百マイクロメートルであり、また素子電極7
2、73の膜厚は、数百オングストロームより数マイク
ロメートルが好ましい。
W′は電極の抵抗値、電子放出特性から数マイクロメー
トルより数百マイクロメートルであり、また素子電極7
2、73の膜厚は、数百オングストロームより数マイク
ロメートルが好ましい。
【0026】尚、表面伝導型電子放出素子の構成は図
6,7の構成だけでなく、基板71上に導電性薄膜7
4、素子電極72、73の電極を順に形成した垂直型表
面伝導型電子放出素子の構成にしてもよい。
6,7の構成だけでなく、基板71上に導電性薄膜7
4、素子電極72、73の電極を順に形成した垂直型表
面伝導型電子放出素子の構成にしてもよい。
【0027】導電性薄膜74は良好な電子放出特性を得
るために微粒子で構成された微粒子膜が特に好ましく、
その膜厚は素子電極72、73とのステップカバレー
ジ、素子電極72、73間の抵抗値及び後述する通電フ
ォーミング条件等によって、適宜設定されるが、好まし
くは数オングストロームから数千オングストロームで、
特に好ましくは10オングストロームより500オング
ストロームである。そのシート抵抗値は10の3乗乃至
10の7乗オーム/□である。
るために微粒子で構成された微粒子膜が特に好ましく、
その膜厚は素子電極72、73とのステップカバレー
ジ、素子電極72、73間の抵抗値及び後述する通電フ
ォーミング条件等によって、適宜設定されるが、好まし
くは数オングストロームから数千オングストロームで、
特に好ましくは10オングストロームより500オング
ストロームである。そのシート抵抗値は10の3乗乃至
10の7乗オーム/□である。
【0028】また導電性薄膜74を構成する材料は、P
d、Pt、Ru、Ag、Au、Ti、In、Cu、C
r、Fe、Zn、Sn、Ta、W、Pb等の金属、Pd
O、SnO2 、In2 O3 、PbO、Sb2 O3 等の酸
化物、HfB2 、ZrB2 、LaB6 、CeB6 、YB
4 、GdB4 等の硼化物、TiC、ZrC、HfC、T
aC、SiC、WC等の炭化物、TiN、ZrN、Hf
N等の窒化物、Si、Ge等の半導体、カーボン等があ
げられる。
d、Pt、Ru、Ag、Au、Ti、In、Cu、C
r、Fe、Zn、Sn、Ta、W、Pb等の金属、Pd
O、SnO2 、In2 O3 、PbO、Sb2 O3 等の酸
化物、HfB2 、ZrB2 、LaB6 、CeB6 、YB
4 、GdB4 等の硼化物、TiC、ZrC、HfC、T
aC、SiC、WC等の炭化物、TiN、ZrN、Hf
N等の窒化物、Si、Ge等の半導体、カーボン等があ
げられる。
【0029】尚、ここで述べる微粒子膜とは複数の微粒
子が集合した膜であり、その微細構造として、微粒子が
個々に分散配置した状態のみならず、微粒子が互いに隣
接、あるいは重なり合った状態(島状も含む)の膜をさ
しており、微粒子の粒径は数オングストロームから数千
オングストロームであり、好ましくは10オングストロ
ームより200オングストロームである。
子が集合した膜であり、その微細構造として、微粒子が
個々に分散配置した状態のみならず、微粒子が互いに隣
接、あるいは重なり合った状態(島状も含む)の膜をさ
しており、微粒子の粒径は数オングストロームから数千
オングストロームであり、好ましくは10オングストロ
ームより200オングストロームである。
【0030】電子放出部75は導電性薄膜74の一部に
形成された高抵抗の亀裂であり、通電フォーミング等に
より形成される。また亀裂内には数オングストロームか
ら数百オングストロームの粒径の通電性微粒子を有する
こともある。この通電性微粒子は導電性薄膜74を構成
する物質の少なくとも一部の元素を含んでいる。
形成された高抵抗の亀裂であり、通電フォーミング等に
より形成される。また亀裂内には数オングストロームか
ら数百オングストロームの粒径の通電性微粒子を有する
こともある。この通電性微粒子は導電性薄膜74を構成
する物質の少なくとも一部の元素を含んでいる。
【0031】また電子放出部75及びその近傍の通電性
薄膜74は炭素あるいは炭素化合物を有することもあ
る。
薄膜74は炭素あるいは炭素化合物を有することもあ
る。
【0032】図8は基本的な垂直型表面伝導型電子放出
素子の構成を示す模式的図面である。
素子の構成を示す模式的図面である。
【0033】図8において図6,7と同一の部材につい
ては同一符号を付与してある。80は段差形成部であ
る。
ては同一符号を付与してある。80は段差形成部であ
る。
【0034】基板71、素子電極72と73、導電性薄
膜74、電子放出部75は前述した平面型表面伝導型電
子放出素子と同様の材料で構成することができる。段差
形成部80は絶縁性材料で構成され、段差形成部80の
膜厚が先に述べた平面型表面伝導型電子放出素子の素子
電極間隔Lに相当する。その間隔は数百オングストロー
ムより数十マイクロメートルである。またその間隔は段
差形成部の製法及び素子電極間に印加する電圧により制
御することができるが、好ましくは数百オングストロー
ムより数マイクロメートルである。
膜74、電子放出部75は前述した平面型表面伝導型電
子放出素子と同様の材料で構成することができる。段差
形成部80は絶縁性材料で構成され、段差形成部80の
膜厚が先に述べた平面型表面伝導型電子放出素子の素子
電極間隔Lに相当する。その間隔は数百オングストロー
ムより数十マイクロメートルである。またその間隔は段
差形成部の製法及び素子電極間に印加する電圧により制
御することができるが、好ましくは数百オングストロー
ムより数マイクロメートルである。
【0035】導電性薄膜74は素子電極72、73と段
差形成部80の作成後に形成するため、素子電極72、
73の上に積層される。尚、図8において電子放出部7
5は段差形成部80に直線状に形成されているように示
されているが、作成条件、通電フォーミング条件等に依
存し、形状、位置ともこれに限るものではない。
差形成部80の作成後に形成するため、素子電極72、
73の上に積層される。尚、図8において電子放出部7
5は段差形成部80に直線状に形成されているように示
されているが、作成条件、通電フォーミング条件等に依
存し、形状、位置ともこれに限るものではない。
【0036】上述の表面伝導型電子放出素子の製造方法
としては様々な方法が考えられるが、その一例を図9に
示す。
としては様々な方法が考えられるが、その一例を図9に
示す。
【0037】以下、図6,7及び図9に基づいて電子源
基板の作製方法について説明する。尚、図9において図
6,7と同一の部材については同一の符号を付与してあ
る。
基板の作製方法について説明する。尚、図9において図
6,7と同一の部材については同一の符号を付与してあ
る。
【0038】1)基板71を洗剤、純水および有機溶剤
により十分に洗浄後、真空蒸着法、スパッタ法等により
素子電極材料を堆積する。その後、フォトリソグラフィ
ー技術により該基板上に素子電極72、73を形成する
(図9(a))。
により十分に洗浄後、真空蒸着法、スパッタ法等により
素子電極材料を堆積する。その後、フォトリソグラフィ
ー技術により該基板上に素子電極72、73を形成する
(図9(a))。
【0039】2)素子電極72、73を設けた基板1
に、有機金属溶液を塗布して放置することにより有機金
属薄膜を形成する。ここでいう有機金属溶液とは前述の
導電性薄膜4を形成する金属を主元素とする有機金属化
合物の溶液である。その後、有機金属薄膜を加熱焼成処
理し、リフトオフ、エッチング等によりパターニング
し、導電性薄膜74を形成する(図9(b))。
に、有機金属溶液を塗布して放置することにより有機金
属薄膜を形成する。ここでいう有機金属溶液とは前述の
導電性薄膜4を形成する金属を主元素とする有機金属化
合物の溶液である。その後、有機金属薄膜を加熱焼成処
理し、リフトオフ、エッチング等によりパターニング
し、導電性薄膜74を形成する(図9(b))。
【0040】尚、ここでは有機金属溶液の塗布法により
説明したが、これに限るものでなく真空蒸着法、スパッ
タ法、化学的気相堆積法、分散塗布法、ディッピング
法、スピンナー法等によって形成される場合もある。
説明したが、これに限るものでなく真空蒸着法、スパッ
タ法、化学的気相堆積法、分散塗布法、ディッピング
法、スピンナー法等によって形成される場合もある。
【0041】3)続いて通電フォーミングと呼ばれる通
電処理を行う。通電フォーミングは素子電極72、73
間に不図示の電源より通電を行い、導電性薄膜74を局
所的に破壊、変形もしくは変質せしめ、構造を変化させ
た部位を形成させるものである。この局所的に構造変化
させた部位を電子放出部75とよぶ(図9(c))。通
電フォーミングの電圧波形の例を図10に示す。
電処理を行う。通電フォーミングは素子電極72、73
間に不図示の電源より通電を行い、導電性薄膜74を局
所的に破壊、変形もしくは変質せしめ、構造を変化させ
た部位を形成させるものである。この局所的に構造変化
させた部位を電子放出部75とよぶ(図9(c))。通
電フォーミングの電圧波形の例を図10に示す。
【0042】電圧波形は特にパルス波形が好ましく、パ
ルス波高値が一定の電圧パルスを連続的に印加する場合
(図10(a))とパルス波高値を増加させながら、電
圧パルスを印加する場合(図10b)とがある。まずパ
ルス波高値が一定電圧とした場合(図10(a))につ
いて説明する。
ルス波高値が一定の電圧パルスを連続的に印加する場合
(図10(a))とパルス波高値を増加させながら、電
圧パルスを印加する場合(図10b)とがある。まずパ
ルス波高値が一定電圧とした場合(図10(a))につ
いて説明する。
【0043】図10(a)におけるT1及びT2は電圧
波形のパルス幅とパルス間隔であり、T1を1マイクロ
秒〜10ミリ秒、T2を10マイクロ秒〜100ミリ秒
とし、三角波の波高値(通電フォーミング時のピーク電
圧)は表面伝導型電子放出素子の形態に応じて適宜選択
し、適当な真空度、例えば、10の−5乗torr程度
の真空雰囲気下で、数秒から数十分印加する。尚、素子
の電極間に印加する波形は三角波に限定することはな
く、矩形波など所望の波形を用いても良い。
波形のパルス幅とパルス間隔であり、T1を1マイクロ
秒〜10ミリ秒、T2を10マイクロ秒〜100ミリ秒
とし、三角波の波高値(通電フォーミング時のピーク電
圧)は表面伝導型電子放出素子の形態に応じて適宜選択
し、適当な真空度、例えば、10の−5乗torr程度
の真空雰囲気下で、数秒から数十分印加する。尚、素子
の電極間に印加する波形は三角波に限定することはな
く、矩形波など所望の波形を用いても良い。
【0044】図10(b)におけるT1及びT2は、図
10(a)と同様であり、三角波の波高値(通電フォー
ミング時のピーク電圧)は、例えば0.1Vステップ程
度づつ増加させ、適当な真空雰囲気下で印加する。
10(a)と同様であり、三角波の波高値(通電フォー
ミング時のピーク電圧)は、例えば0.1Vステップ程
度づつ増加させ、適当な真空雰囲気下で印加する。
【0045】尚、この場合の通電フォーミング処理はパ
ルス間隔T2中に、通電性薄膜4を局所的に破壊、変形
しない程度の電圧、例えば0.1V程度の電圧で、素子
電流を測定し、抵抗値を求め、例えば、1Mオーム以上
の抵抗を示した時に通電フォーミング終了とする。
ルス間隔T2中に、通電性薄膜4を局所的に破壊、変形
しない程度の電圧、例えば0.1V程度の電圧で、素子
電流を測定し、抵抗値を求め、例えば、1Mオーム以上
の抵抗を示した時に通電フォーミング終了とする。
【0046】4)次に通電フォーミングが終了した素子
に活性化工程と呼ぶ処理を施すことが望ましい。活性化
工程とは、例えば、10の−4乗〜10の−5乗tor
r程度の真空度で、通電フォーミング同様、パルス波高
値が一定の電圧パルスを繰り返し印加する処理のことで
あり、真空中に存在する有機物質に起因する炭素及び炭
素化合物を導電薄膜上に堆積させ素子電流If、放出電
流Ieを著しく変化させる処理である。活性化工程は素
子電流Ifと放出電流Ieを測定しながら、例えば、放
出電流Ieが飽和した時点で終了する。また印加する電
圧パルスは動作駆動電圧て行うことが好ましい。
に活性化工程と呼ぶ処理を施すことが望ましい。活性化
工程とは、例えば、10の−4乗〜10の−5乗tor
r程度の真空度で、通電フォーミング同様、パルス波高
値が一定の電圧パルスを繰り返し印加する処理のことで
あり、真空中に存在する有機物質に起因する炭素及び炭
素化合物を導電薄膜上に堆積させ素子電流If、放出電
流Ieを著しく変化させる処理である。活性化工程は素
子電流Ifと放出電流Ieを測定しながら、例えば、放
出電流Ieが飽和した時点で終了する。また印加する電
圧パルスは動作駆動電圧て行うことが好ましい。
【0047】尚、ここで炭素及び炭素化合物とはグラフ
ァイト(単、多結晶双方を指す)非晶質カーボン(非晶
質カーボン及び多結晶グラファイトとの混合物を指す)
であり、その膜厚は500オングストローム以下が好ま
しく、より好ましくは300オングストローム以下であ
る。
ァイト(単、多結晶双方を指す)非晶質カーボン(非晶
質カーボン及び多結晶グラファイトとの混合物を指す)
であり、その膜厚は500オングストローム以下が好ま
しく、より好ましくは300オングストローム以下であ
る。
【0048】5)こうして作成した電子放出素子を通電
フォーミング工程、活性化工程における真空度よりも高
い真空度の雰囲気下に置いて動作駆動させるのが良い。
また更に高い真空度の雰囲気下で、80℃〜150℃の
加熱後動作駆動させることが望ましい。
フォーミング工程、活性化工程における真空度よりも高
い真空度の雰囲気下に置いて動作駆動させるのが良い。
また更に高い真空度の雰囲気下で、80℃〜150℃の
加熱後動作駆動させることが望ましい。
【0049】尚、通電フォーミング工程、活性化処理し
た真空度より高い真空度とは、例えば約10の−6乗以
上の真空度であり、より好ましくは超高真空系であり、
新たに炭素あるいは炭素化合物が導電薄膜上にほとんど
堆積しない真空度である。こうすることによって素子電
流If、放出電流Ieを安定化させることが可能にな
る。
た真空度より高い真空度とは、例えば約10の−6乗以
上の真空度であり、より好ましくは超高真空系であり、
新たに炭素あるいは炭素化合物が導電薄膜上にほとんど
堆積しない真空度である。こうすることによって素子電
流If、放出電流Ieを安定化させることが可能にな
る。
【0050】図11は、図6,7で示した構成を有する
素子の電子放出特性を測定するための測定評価装置の概
略構成図である。図11において、図6,7と同様の符
号は、同一のものを示す。
素子の電子放出特性を測定するための測定評価装置の概
略構成図である。図11において、図6,7と同様の符
号は、同一のものを示す。
【0051】111は、電子放出素子に素子電圧Vfを
印加するための電源、110は素子電極2,3間の導電
性薄膜74を流れる素子電流Ifを測定するための電流
計、114は、素子の電子放出部より放出される放出電
流Ieを捕捉するためのアノード電極、113は、アノ
ード電極114に電圧を印加するための高圧電源、11
2は、素子の電子放出部75より放出される放出電流1
eを測定するための電流計、115は、真空装置、11
6は、排気ポンプである。
印加するための電源、110は素子電極2,3間の導電
性薄膜74を流れる素子電流Ifを測定するための電流
計、114は、素子の電子放出部より放出される放出電
流Ieを捕捉するためのアノード電極、113は、アノ
ード電極114に電圧を印加するための高圧電源、11
2は、素子の電子放出部75より放出される放出電流1
eを測定するための電流計、115は、真空装置、11
6は、排気ポンプである。
【0052】次に本発明により製造される画像形成装置
について述べる。
について述べる。
【0053】画像形成装置に用いられる電子源基板は複
数の表面伝導型電子放出素子を基板上に配列することに
より形成される。
数の表面伝導型電子放出素子を基板上に配列することに
より形成される。
【0054】表面伝導型電子放出素子の配列の方式には
表面伝導型電子放出素子を並列に配置し、個々の素子の
両端を配線で接続するはしご型配置(以下はしご型配置
電子源基板と呼ぶ)や、表面伝導型電子放出素子の一対
の素子電極にそれぞれX方向配線、Y方向配線を接続し
た単純マトリクス配置(以下マトリクス型配置電子源基
板と呼ぶ)があげられる。尚、はしご型配置電子源基板
を有する画像形成装置には電子放出素子からの電子の飛
翔を制御する電極である制御装置(グリッド電極)を必
要とする。
表面伝導型電子放出素子を並列に配置し、個々の素子の
両端を配線で接続するはしご型配置(以下はしご型配置
電子源基板と呼ぶ)や、表面伝導型電子放出素子の一対
の素子電極にそれぞれX方向配線、Y方向配線を接続し
た単純マトリクス配置(以下マトリクス型配置電子源基
板と呼ぶ)があげられる。尚、はしご型配置電子源基板
を有する画像形成装置には電子放出素子からの電子の飛
翔を制御する電極である制御装置(グリッド電極)を必
要とする。
【0055】以下この原理に基づき構成した電子源の構
成について、図12を用いて説明する。121は電子源
基板、122はX方向配線、123はY方向配線、12
4は表面伝導型電子放出素子、125は結線である。
尚、表面伝導型電子放出素子124は前述した平面型あ
るいは垂直型どちらであってもよい。
成について、図12を用いて説明する。121は電子源
基板、122はX方向配線、123はY方向配線、12
4は表面伝導型電子放出素子、125は結線である。
尚、表面伝導型電子放出素子124は前述した平面型あ
るいは垂直型どちらであってもよい。
【0056】同図において電子源基板121に用いる基
板は前述したガラス基板等であり、用途に応じて形状が
適宜設定される。
板は前述したガラス基板等であり、用途に応じて形状が
適宜設定される。
【0057】m本のX方向配線122は、Dx1、Dx
2、…Dxmからなり、Y方向配線123はDy1、D
y2、…Dynのn本の配線よりなる。また多数の表面
伝導型素子にほぼ均等な電圧が供給される様に材料、膜
厚、配線幅が適宜設定される。これらm本のX方向配線
122とn本のY方向配線123間は不図示の層間絶縁
層により電気的に分離されてマトリックス配線を構成す
る。(m,nは共に正の整数) 不図示の層間絶縁層はX方向配線122を形成した基板
121の全面或は一部に所望の領域に形成される。X方
向配線122とY方向配線123はそれぞれ不図示の外
部端子と接続されている。
2、…Dxmからなり、Y方向配線123はDy1、D
y2、…Dynのn本の配線よりなる。また多数の表面
伝導型素子にほぼ均等な電圧が供給される様に材料、膜
厚、配線幅が適宜設定される。これらm本のX方向配線
122とn本のY方向配線123間は不図示の層間絶縁
層により電気的に分離されてマトリックス配線を構成す
る。(m,nは共に正の整数) 不図示の層間絶縁層はX方向配線122を形成した基板
121の全面或は一部に所望の領域に形成される。X方
向配線122とY方向配線123はそれぞれ不図示の外
部端子と接続されている。
【0058】更に表面伝導型放出素子124の素子電極
(不図示)がm本のX方向配線122とn本のY方向配
線123と結線125によって電気的に接続されてい
る。
(不図示)がm本のX方向配線122とn本のY方向配
線123と結線125によって電気的に接続されてい
る。
【0059】また表面伝導型電子放出素子は基板あるい
は不図示の層間絶縁層上のどちらに形成してもよい。
は不図示の層間絶縁層上のどちらに形成してもよい。
【0060】また詳しくは後述するが前記X方向配線1
22にはX方向に配列する表面伝導型放出素子124の
X方向配線を入力信号に応じて走査するための走査信号
を印加するための不図示の走査信号発生手段と電気的に
接続されている。
22にはX方向に配列する表面伝導型放出素子124の
X方向配線を入力信号に応じて走査するための走査信号
を印加するための不図示の走査信号発生手段と電気的に
接続されている。
【0061】一方、Y方向配線123にはY方向に配列
する表面伝導型放出素子124のY方向配線を入力信号
に応じて、変調するための変調信号を印加するための不
図示の変調信号発生手段と電気的に接続されている。
する表面伝導型放出素子124のY方向配線を入力信号
に応じて、変調するための変調信号を印加するための不
図示の変調信号発生手段と電気的に接続されている。
【0062】更に表面伝導型電子放出素子の各素子に印
加される駆動電圧は当該素子に印加される走査信号と変
調信号の差電圧として供給されるものである。
加される駆動電圧は当該素子に印加される走査信号と変
調信号の差電圧として供給されるものである。
【0063】上記構成において、単純なマトリクス配線
だけで個別の素子を選択して独立に駆動可能になる。
だけで個別の素子を選択して独立に駆動可能になる。
【0064】つぎに以上のようにして作成したマトリク
ス型配置電子源基板を用いた画像形成装置について、図
13、図14及び図15を用いて説明する。図13は画
像形成装置の基本構成図であり、図14はフェースプレ
ートに形成される蛍光膜、図15はNTSC方式のテレ
ビ信号に応じて表示をするための駆動回路のブロック図
を示し、その駆動回路を含む画像形成装置を表す。
ス型配置電子源基板を用いた画像形成装置について、図
13、図14及び図15を用いて説明する。図13は画
像形成装置の基本構成図であり、図14はフェースプレ
ートに形成される蛍光膜、図15はNTSC方式のテレ
ビ信号に応じて表示をするための駆動回路のブロック図
を示し、その駆動回路を含む画像形成装置を表す。
【0065】図13において121は電子放出素子を基
板上に作製した電子源基板、131は電子源基板121
を固定したリアプレート、136はガラス基板133の
内面に蛍光膜134とメタルバック135等が形成され
たフェースプレート、132は支持枠、131はリアプ
レートであり、これら部材によって外囲器138が構成
される。
板上に作製した電子源基板、131は電子源基板121
を固定したリアプレート、136はガラス基板133の
内面に蛍光膜134とメタルバック135等が形成され
たフェースプレート、132は支持枠、131はリアプ
レートであり、これら部材によって外囲器138が構成
される。
【0066】図13において124は図7における電子
放出部75に相当する電子放出部である。122、12
3は表面伝導型電子放出素子の一対の素子電極と接続さ
れたX方向配線及びY方向配線である。
放出部75に相当する電子放出部である。122、12
3は表面伝導型電子放出素子の一対の素子電極と接続さ
れたX方向配線及びY方向配線である。
【0067】外囲器138は、上述の如くフェースプレ
ート136、支持枠132、リアプレート131で外囲
器138を構成したが、リアプレート131は主に電子
源基板121の強度を補強する目的で設けられるため、
電子源基板121自体で十分な強度を持つ場合は別体の
リアプレート131は不要であり、電子源基板121に
直接支持枠132を設け、フェースプレート136、支
持枠132、電子源基板121にて外囲器138を構成
しても良い。
ート136、支持枠132、リアプレート131で外囲
器138を構成したが、リアプレート131は主に電子
源基板121の強度を補強する目的で設けられるため、
電子源基板121自体で十分な強度を持つ場合は別体の
リアプレート131は不要であり、電子源基板121に
直接支持枠132を設け、フェースプレート136、支
持枠132、電子源基板121にて外囲器138を構成
しても良い。
【0068】図14は黒色導電材141で区分された蛍
光体142からなるフェースプレート136の蛍光膜1
34を示す。蛍光体142はモノクロームの場合は蛍光
体のみからなるが、カラーの蛍光膜の場合は蛍光体の配
列によりブラックストライプあるいはブラックマトリク
スなどと呼ばれる黒色導電材141と蛍光体142とで
構成される。ブラックストライプ、ブラックマトリクス
が設けられる目的はカラー表示の場合、必要となる三原
色蛍光体の各蛍光体142間の塗り分け部を黒くするこ
とで混色等を目立たなくすることと蛍光膜134におけ
る外光反射によるコントラストの低下を抑制することで
ある。ブラックストライプの材料としては、通常良く用
いられている黒鉛を主成分とする材料だけでなく、導電
性があり、光の透過及び反射が少ない材料であればこれ
に限るものではない。
光体142からなるフェースプレート136の蛍光膜1
34を示す。蛍光体142はモノクロームの場合は蛍光
体のみからなるが、カラーの蛍光膜の場合は蛍光体の配
列によりブラックストライプあるいはブラックマトリク
スなどと呼ばれる黒色導電材141と蛍光体142とで
構成される。ブラックストライプ、ブラックマトリクス
が設けられる目的はカラー表示の場合、必要となる三原
色蛍光体の各蛍光体142間の塗り分け部を黒くするこ
とで混色等を目立たなくすることと蛍光膜134におけ
る外光反射によるコントラストの低下を抑制することで
ある。ブラックストライプの材料としては、通常良く用
いられている黒鉛を主成分とする材料だけでなく、導電
性があり、光の透過及び反射が少ない材料であればこれ
に限るものではない。
【0069】ガラス基板133に蛍光体を塗布する方法
はモノクローム、カラーによらず沈澱法や印刷法が用い
られる。
はモノクローム、カラーによらず沈澱法や印刷法が用い
られる。
【0070】また蛍光膜134(図13)の内面側には
通常メタルバック135(図13)が設けられる。メタ
ルバックの目的は蛍光体の発光のうち内面側への光をフ
ェースプレート136側へ鏡面反射することにより輝度
を向上させること、電子ビーム加速電圧を印加するため
の電極として作用すること、外囲器内で発生した負イオ
ンの衝突によるダメージからの蛍光体の保護等である。
メタルバックは蛍光膜作製後、蛍光膜の内面側表面の平
滑化処理(通常フィルミングと呼ばれる)を行い、その
後Alを真空蒸着等で堆積することで作製できる。
通常メタルバック135(図13)が設けられる。メタ
ルバックの目的は蛍光体の発光のうち内面側への光をフ
ェースプレート136側へ鏡面反射することにより輝度
を向上させること、電子ビーム加速電圧を印加するため
の電極として作用すること、外囲器内で発生した負イオ
ンの衝突によるダメージからの蛍光体の保護等である。
メタルバックは蛍光膜作製後、蛍光膜の内面側表面の平
滑化処理(通常フィルミングと呼ばれる)を行い、その
後Alを真空蒸着等で堆積することで作製できる。
【0071】フェースプレート136には、更に蛍光膜
134の導電性を高めるため蛍光膜134の外面側に透
明電極(不図示)を設けてもよい。
134の導電性を高めるため蛍光膜134の外面側に透
明電極(不図示)を設けてもよい。
【0072】外囲器138は不図示の排気管を通じ、1
0-7torr程度の真空度にされ、封止が行なわれる。
また外囲器138の封止後の真空度を維持するためにゲ
ッター処理を行なう場合もある。これは外囲器138の
封止を行う直前あるいは封止後に抵抗加熱あるいは高周
波加熱等の加熱法により、外囲器138内の所定の位置
(不図示)に配置されたゲッターを加熱し、蒸着膜を形
成する処理である。ゲッターは通常Ba等を主成分とす
るものであり、該蒸着膜の吸着作用により、例えば1×
10-5torr乃至は1×10-7torrの真空度を維
持するものである。尚、表面伝導型電子放出素子のフォ
ーミング以降の工程は適宜設定される。
0-7torr程度の真空度にされ、封止が行なわれる。
また外囲器138の封止後の真空度を維持するためにゲ
ッター処理を行なう場合もある。これは外囲器138の
封止を行う直前あるいは封止後に抵抗加熱あるいは高周
波加熱等の加熱法により、外囲器138内の所定の位置
(不図示)に配置されたゲッターを加熱し、蒸着膜を形
成する処理である。ゲッターは通常Ba等を主成分とす
るものであり、該蒸着膜の吸着作用により、例えば1×
10-5torr乃至は1×10-7torrの真空度を維
持するものである。尚、表面伝導型電子放出素子のフォ
ーミング以降の工程は適宜設定される。
【0073】次に、NTSC方式のテレビ信号に基づ
き、マトリクス型配置電子源基板を用いて構成した画像
形成装置でテレビジョン表示を行う為の駆動回路の概略
構成を、図15のブロック図を用いて説明する。151
は表示パネルであり、また152は走査回路、153は
制御回路、154はシフトレジスタ、155はラインメ
モリ、156は同期信号分離回路、157は変調信号発
生器、VxおよびVaは直流電圧源である。
き、マトリクス型配置電子源基板を用いて構成した画像
形成装置でテレビジョン表示を行う為の駆動回路の概略
構成を、図15のブロック図を用いて説明する。151
は表示パネルであり、また152は走査回路、153は
制御回路、154はシフトレジスタ、155はラインメ
モリ、156は同期信号分離回路、157は変調信号発
生器、VxおよびVaは直流電圧源である。
【0074】以下、各部の機能を説明する。まず表示パ
ネル151は端子Dox1ないしDoxmおよび端子D
oy1ないしDoynおよび高圧端子Hvを介して外部
の電気回路と接続している。このうち端子Dox1ない
しDoxmには前記画像形成装置内に設けられている電
子源、すなわちM行N列の行列状にマトリクス配線され
た表面伝導型電子放出素子群を一行(N素子)ずつ順次
駆動してゆく為の走査信号が印加される。
ネル151は端子Dox1ないしDoxmおよび端子D
oy1ないしDoynおよび高圧端子Hvを介して外部
の電気回路と接続している。このうち端子Dox1ない
しDoxmには前記画像形成装置内に設けられている電
子源、すなわちM行N列の行列状にマトリクス配線され
た表面伝導型電子放出素子群を一行(N素子)ずつ順次
駆動してゆく為の走査信号が印加される。
【0075】一方、端子Doy1ないしDoynには前
記走査信号により選択された一行の表面伝導型電子放出
素子の各素子の出力電子ビームを制御する為の変調信号
が印加される。また高圧端子Hvには直流電圧源Vaよ
り、例えば10〔kV〕の直流電圧が供給されるが、こ
れは表面伝導型電子放出素子より出力される電子ビーム
に蛍光体を励起するのに十分なエネルギーを付与する為
の加速電圧である。
記走査信号により選択された一行の表面伝導型電子放出
素子の各素子の出力電子ビームを制御する為の変調信号
が印加される。また高圧端子Hvには直流電圧源Vaよ
り、例えば10〔kV〕の直流電圧が供給されるが、こ
れは表面伝導型電子放出素子より出力される電子ビーム
に蛍光体を励起するのに十分なエネルギーを付与する為
の加速電圧である。
【0076】次に走査回路152について説明する。同
回路は内部にM個のスイッチング素子を備えるもので
(図中、S1ないしSmで模式的に示している)、各ス
イッチング素子は直流電圧源Vxの出力電圧もしくは0
〔V〕(グランドレベル)のいずれか一方を選択し、表
示パネル151の端子Dox1ないしDoxmと電気的
に接続するものである。S1ないしSmの各スイッチン
グ素子は制御回路153が出力する制御信号Tscan
に基づいて動作するものだが実際には例えばFETのよ
うなスイッチング素子を組み合わせる事により構成され
る事が可能である。
回路は内部にM個のスイッチング素子を備えるもので
(図中、S1ないしSmで模式的に示している)、各ス
イッチング素子は直流電圧源Vxの出力電圧もしくは0
〔V〕(グランドレベル)のいずれか一方を選択し、表
示パネル151の端子Dox1ないしDoxmと電気的
に接続するものである。S1ないしSmの各スイッチン
グ素子は制御回路153が出力する制御信号Tscan
に基づいて動作するものだが実際には例えばFETのよ
うなスイッチング素子を組み合わせる事により構成され
る事が可能である。
【0077】尚、前記直流電圧源Vxは前記表面伝導型
電子放出素子の特性(電子放出しきい値電圧)に基づき
走査されていない素子に印加される駆動電圧が電子放出
しきい値電圧以下となるような一定電圧を出力するよう
設定されている。
電子放出素子の特性(電子放出しきい値電圧)に基づき
走査されていない素子に印加される駆動電圧が電子放出
しきい値電圧以下となるような一定電圧を出力するよう
設定されている。
【0078】また制御回路153は外部より入力する画
像信号に基づいて適切な表示が行なわれるように各部の
動作を整合させる働きをもつものである。次に説明する
同期信号分離回路156より送られる同期信号Tsyn
cに基づいて各部に対してTscan、Tsftおよび
Tmryの各制御信号を発生する。
像信号に基づいて適切な表示が行なわれるように各部の
動作を整合させる働きをもつものである。次に説明する
同期信号分離回路156より送られる同期信号Tsyn
cに基づいて各部に対してTscan、Tsftおよび
Tmryの各制御信号を発生する。
【0079】同期信号分離回路156は外部から入力さ
れるNTSC方式のテレビ信号から同期信号成分と輝度
信号成分とを分離する為の回路で周波数分離(フィルタ
ー)回路を用いれば構成できるものである。同期信号分
離回路156により分離された同期信号は良く知られる
ように垂直同期信号と水平同期信号より成るが、ここで
は説明の便宜上Tsync信号として図示した。一方、
前記テレビ信号から分離された画像の輝度信号成分を便
宜上DATA信号と表すが同信号はシフトレジスタ15
4に入力される。
れるNTSC方式のテレビ信号から同期信号成分と輝度
信号成分とを分離する為の回路で周波数分離(フィルタ
ー)回路を用いれば構成できるものである。同期信号分
離回路156により分離された同期信号は良く知られる
ように垂直同期信号と水平同期信号より成るが、ここで
は説明の便宜上Tsync信号として図示した。一方、
前記テレビ信号から分離された画像の輝度信号成分を便
宜上DATA信号と表すが同信号はシフトレジスタ15
4に入力される。
【0080】シフトレジスタ154は時系列的にシリア
ルに入力される前記DATA信号を画像の1ライン毎に
シリアル/パラレル変換するためのもので前記制御回路
153より送られる制御信号Tsftに基づいて動作す
る。(すなわち制御信号はTsftは、シフトレジスタ
154のシフトクロックに基づいて動作する。(すなわ
ち制御信号Tsftは、シフトレジスタ154のシフト
クロックであると言い換えても良い。)シリアル/パラ
レル変換された画像1ライン分(電子放出素子N素子分
の駆動データに相当する)のデータはId1乃至Idn
のN個の並列信号として前記シフトレジスタ154より
出力される。
ルに入力される前記DATA信号を画像の1ライン毎に
シリアル/パラレル変換するためのもので前記制御回路
153より送られる制御信号Tsftに基づいて動作す
る。(すなわち制御信号はTsftは、シフトレジスタ
154のシフトクロックに基づいて動作する。(すなわ
ち制御信号Tsftは、シフトレジスタ154のシフト
クロックであると言い換えても良い。)シリアル/パラ
レル変換された画像1ライン分(電子放出素子N素子分
の駆動データに相当する)のデータはId1乃至Idn
のN個の並列信号として前記シフトレジスタ154より
出力される。
【0081】ラインメモリ155は画像1ライン分のデ
ータを必要時間の間だけ記憶する為の記憶装置であり、
制御回路153より送られる制御信号Tmryにしたが
って適宜Id1ないしIdnの内容を記憶する。記憶さ
れた内容はId1ないしIdnとして出力され変調信号
発生器157に入力される。
ータを必要時間の間だけ記憶する為の記憶装置であり、
制御回路153より送られる制御信号Tmryにしたが
って適宜Id1ないしIdnの内容を記憶する。記憶さ
れた内容はId1ないしIdnとして出力され変調信号
発生器157に入力される。
【0082】変調信号発生器157は前記画像データI
d1ないしIdnの各々に応じて表面伝導型電子放出素
子の各々を適切に駆動変調する為の信号源で、その出力
信号は端子Doy1ないしDoynを通じて表示パネル
151内の表面伝導型電子放出素子に印加される。
d1ないしIdnの各々に応じて表面伝導型電子放出素
子の各々を適切に駆動変調する為の信号源で、その出力
信号は端子Doy1ないしDoynを通じて表示パネル
151内の表面伝導型電子放出素子に印加される。
【0083】本発明に係わる電子放出素子は放出電流I
eに対して以下の基本特性を有している。すなわち電子
放出には明確な閾値電圧Vthがあり、Vth以上の電
圧を印加された時のみ電子放出が生じる。
eに対して以下の基本特性を有している。すなわち電子
放出には明確な閾値電圧Vthがあり、Vth以上の電
圧を印加された時のみ電子放出が生じる。
【0084】また電子放出閾値以上の電圧に対しては素
子への印加電圧の変化に応じて放出電流も変化してゆ
く。尚、電子放出素子の材料や構成、製造方法を変える
事により電子放出閾値電圧Vthの値や印加電圧に対す
る放出電流の変化の度合いが変わる場合もあるが、いず
れにしても以下のような事がいえる。
子への印加電圧の変化に応じて放出電流も変化してゆ
く。尚、電子放出素子の材料や構成、製造方法を変える
事により電子放出閾値電圧Vthの値や印加電圧に対す
る放出電流の変化の度合いが変わる場合もあるが、いず
れにしても以下のような事がいえる。
【0085】すなわち、本素子にパルス状の電圧を印加
する場合、例えば電子放出閾値以下の電圧を印加しても
電子放出は生じないが、電子放出閾値以上の電圧を印加
する場合には電子ビームが出力される。その際、第一に
はパルスの波高値Vmを変化させる事により出力電子ビ
ームの強度を制御する事が可能である。第二には、パル
スの幅Pwを変化させる事により出力される電子ビーム
の電荷の総量を制御する事が可能である。
する場合、例えば電子放出閾値以下の電圧を印加しても
電子放出は生じないが、電子放出閾値以上の電圧を印加
する場合には電子ビームが出力される。その際、第一に
はパルスの波高値Vmを変化させる事により出力電子ビ
ームの強度を制御する事が可能である。第二には、パル
スの幅Pwを変化させる事により出力される電子ビーム
の電荷の総量を制御する事が可能である。
【0086】したがって、入力信号に応じて電子放出素
子を変調する方式としては、電圧変調方式、パルス幅変
調方式等があげられる。電圧変調方式を実施するには、
変調信号発生器157として一定の長さの電圧パルスを
発生するが、入力されるデータに応じて適宜パルスの波
高値を変調するような電圧変調方式の回路を用いる。
子を変調する方式としては、電圧変調方式、パルス幅変
調方式等があげられる。電圧変調方式を実施するには、
変調信号発生器157として一定の長さの電圧パルスを
発生するが、入力されるデータに応じて適宜パルスの波
高値を変調するような電圧変調方式の回路を用いる。
【0087】またパルス幅変調方式を実施するには変調
信号発生器157として、一定の波高値の電圧パルスを
発生するが、入力されるデータに応じて適宜電圧パルス
の幅を変調するようなパルス幅変調方式の回路を用いる
ものである。
信号発生器157として、一定の波高値の電圧パルスを
発生するが、入力されるデータに応じて適宜電圧パルス
の幅を変調するようなパルス幅変調方式の回路を用いる
ものである。
【0088】以上に説明した一連の動作により、本発明
の画像形成装置は表示パネル151を用いてテレビジョ
ンの表示を行なえる。尚、上記説明中特に記載しなかっ
たが、シフトレジスタ154やラインメモリ155はデ
ジタル信号式のものでもアナログ信号式のものでも差し
支えなく、要は画像信号のシリアル/パラレル変換や記
憶が所定の速度で行なわれればよい。
の画像形成装置は表示パネル151を用いてテレビジョ
ンの表示を行なえる。尚、上記説明中特に記載しなかっ
たが、シフトレジスタ154やラインメモリ155はデ
ジタル信号式のものでもアナログ信号式のものでも差し
支えなく、要は画像信号のシリアル/パラレル変換や記
憶が所定の速度で行なわれればよい。
【0089】デジタル信号式を用いる場合には同期信号
分離回路156の出力信号DATAをデジタル信号化す
る必要があるが、これは156の出力部にA/D変換器
を備えれば可能である。また、これと関連してラインメ
モリ155の出力信号がデジタル信号かアナログ信号か
により、変調信号発生器157に用いられる回路が若干
異なったものとなる。
分離回路156の出力信号DATAをデジタル信号化す
る必要があるが、これは156の出力部にA/D変換器
を備えれば可能である。また、これと関連してラインメ
モリ155の出力信号がデジタル信号かアナログ信号か
により、変調信号発生器157に用いられる回路が若干
異なったものとなる。
【0090】まずデジタル信号の場合について述べる。
電圧変調方式においては変調信号発生器157には、例
えばよく知られるD/A変換回路を用い、必要に応じて
増幅回路などを付け加えればよい。
電圧変調方式においては変調信号発生器157には、例
えばよく知られるD/A変換回路を用い、必要に応じて
増幅回路などを付け加えればよい。
【0091】またパルス幅変調方式の場合、変調信号発
生器157は、例えは高速の発振器および発振器の出力
する波数を計数する計数器(カウンタ)および計数器の
出力値と前記メモリの出力値を比較する比較器(コンパ
レータ)を組み合せた回路を用いることにより構成でき
る。必要に応じて比較器の出力するパルス幅変調された
変調信号を表面伝導型電子放出素子の駆動電圧にまで電
圧増幅するための増幅器を付け加えてもよい。
生器157は、例えは高速の発振器および発振器の出力
する波数を計数する計数器(カウンタ)および計数器の
出力値と前記メモリの出力値を比較する比較器(コンパ
レータ)を組み合せた回路を用いることにより構成でき
る。必要に応じて比較器の出力するパルス幅変調された
変調信号を表面伝導型電子放出素子の駆動電圧にまで電
圧増幅するための増幅器を付け加えてもよい。
【0092】次にアナログ信号の場合について述べる。
電圧変調方式においては変調信号発生器157には、例
えばよく知られるオペアンプなどを用いた増幅回路を用
いればよく、必要に応じてレベルシフト回路などを付け
加えてもよい。またパルス幅変調方式の場合には例えば
よく知られた電圧制御型発振回路(VCO)を用いれば
よく、必要に応じて表面伝導型電子放出素子の駆動電圧
まで電圧増幅するための増幅器を付け加えてもよい。
電圧変調方式においては変調信号発生器157には、例
えばよく知られるオペアンプなどを用いた増幅回路を用
いればよく、必要に応じてレベルシフト回路などを付け
加えてもよい。またパルス幅変調方式の場合には例えば
よく知られた電圧制御型発振回路(VCO)を用いれば
よく、必要に応じて表面伝導型電子放出素子の駆動電圧
まで電圧増幅するための増幅器を付け加えてもよい。
【0093】以上のように完成した画像形成装置におい
て、各電子放出素子には、容器外端子Dox1ないしD
oxm、Doy1ないしDoynを通じ、電圧を印加す
ることにより、電子放出させ、高圧端子Hvを通じ、メ
タルバック135、あるいは透明電極(不図示)に高圧
を印加し、電子ビームを加速し、蛍光膜134に衝突さ
せ、励起・発光させることで画像を表示することができ
る。
て、各電子放出素子には、容器外端子Dox1ないしD
oxm、Doy1ないしDoynを通じ、電圧を印加す
ることにより、電子放出させ、高圧端子Hvを通じ、メ
タルバック135、あるいは透明電極(不図示)に高圧
を印加し、電子ビームを加速し、蛍光膜134に衝突さ
せ、励起・発光させることで画像を表示することができ
る。
【0094】以上述べた構成は、表示等に用いられる好
適な画像形成装置を作製する上で必要な概略構成であ
り、例えば各部材の材料等、詳細な部分は上述内容に限
られるものではなく、画像形成装置の用途に適するよう
適宜選択する。また、入力信号例として、NTSC方式
をあげたが、これに限るものでなく、PAL、SECA
M方式などの諸方式のものでもよく、また、これより
も、多数の走査線からなるTV信号(例えば、MUSE
方式をはじめとする高品位TV)方式でもよい。
適な画像形成装置を作製する上で必要な概略構成であ
り、例えば各部材の材料等、詳細な部分は上述内容に限
られるものではなく、画像形成装置の用途に適するよう
適宜選択する。また、入力信号例として、NTSC方式
をあげたが、これに限るものでなく、PAL、SECA
M方式などの諸方式のものでもよく、また、これより
も、多数の走査線からなるTV信号(例えば、MUSE
方式をはじめとする高品位TV)方式でもよい。
【0095】次に、前述のはしご型配置電子源基板及び
それを用いた画像形成装置について図16、図17によ
り説明する。
それを用いた画像形成装置について図16、図17によ
り説明する。
【0096】図16において、160は電子源基板、1
61は電子放出素子、162のDxl〜Dx10は、前
記電子放出素子に接続する共通配線である。電子放出素
子161は、基板160上に、X方向に並列に複数個配
置される。(これを素子行と呼ぶ)。この素子行を複数
個基板上に配置し、はしご型電子源基板となる。各素子
行の共通配線間に適宜駆動電圧を印加することで、各素
子行を独立に駆動することが可能になる。すなわち、電
子ビームを放出させる素子行には、電子放出閾値以上の
電圧を、電子ビームを放出させない素子行には電子放出
閾値以下の電圧を印加すればよい。また各素子行間の共
通配線Dx2〜Dx9を、例えばDx2、Dx3を同一
配線とする様にしても良い。
61は電子放出素子、162のDxl〜Dx10は、前
記電子放出素子に接続する共通配線である。電子放出素
子161は、基板160上に、X方向に並列に複数個配
置される。(これを素子行と呼ぶ)。この素子行を複数
個基板上に配置し、はしご型電子源基板となる。各素子
行の共通配線間に適宜駆動電圧を印加することで、各素
子行を独立に駆動することが可能になる。すなわち、電
子ビームを放出させる素子行には、電子放出閾値以上の
電圧を、電子ビームを放出させない素子行には電子放出
閾値以下の電圧を印加すればよい。また各素子行間の共
通配線Dx2〜Dx9を、例えばDx2、Dx3を同一
配線とする様にしても良い。
【0097】図17ははしご型配置の電子源を備えた画
像形成装置の構造を示す斜視図である。170はグリッ
ド電極、171は電子が通過するため空孔、172は、
Do1、Dox2、…、Doxmよりなる容器外端子、
173はグリッド電極170と接続されたG1、G2、
…、Gnからなる容器外端子、160は前述の様に各素
子行間の共通配線を同一配線とした電子源基板である。
尚、図13、図16と同一の符号は同一の部材を示す。
前述の単純マトリクス配置の画像形成装置(図13)と
の違いは、電子源基板160とフェースプレート136
の間にグリッド電極170を備えている事である。
像形成装置の構造を示す斜視図である。170はグリッ
ド電極、171は電子が通過するため空孔、172は、
Do1、Dox2、…、Doxmよりなる容器外端子、
173はグリッド電極170と接続されたG1、G2、
…、Gnからなる容器外端子、160は前述の様に各素
子行間の共通配線を同一配線とした電子源基板である。
尚、図13、図16と同一の符号は同一の部材を示す。
前述の単純マトリクス配置の画像形成装置(図13)と
の違いは、電子源基板160とフェースプレート136
の間にグリッド電極170を備えている事である。
【0098】基板160とフェースプレート136の中
間には、グリッド電極170が設けられている。グリッ
ド電極170は、表面伝導型放出素子から放出された電
子ビームを変調することができるもので、はしご型配置
の素子行と直交して設けられたストライプ状の電極に電
子ビームを通過させるため、各素子に対応して1個ずつ
円形の空孔171が設けられている。グリッドの形状や
設置位置は必ずしも図17のようなものでなくともよ
く、開口としてメッシュ状に多数の通過口をもうけるこ
ともあり、また例えば表面伝導型放出素子の周囲や近傍
に設けてもよい。容器外端子172およびグリッド容器
外端子173は、不図示の制御回路と電気的に接続され
ている。
間には、グリッド電極170が設けられている。グリッ
ド電極170は、表面伝導型放出素子から放出された電
子ビームを変調することができるもので、はしご型配置
の素子行と直交して設けられたストライプ状の電極に電
子ビームを通過させるため、各素子に対応して1個ずつ
円形の空孔171が設けられている。グリッドの形状や
設置位置は必ずしも図17のようなものでなくともよ
く、開口としてメッシュ状に多数の通過口をもうけるこ
ともあり、また例えば表面伝導型放出素子の周囲や近傍
に設けてもよい。容器外端子172およびグリッド容器
外端子173は、不図示の制御回路と電気的に接続され
ている。
【0099】本画像形成装置では素子行を1列ずつ順次
駆動(走査)していくのと同期してグリッド電極列に画
像1ライン分の変調信号を同時に印加することにより、
各電子ビームの蛍光体への照射を制御し、画像を1ライ
ンずつ表示することができる。
駆動(走査)していくのと同期してグリッド電極列に画
像1ライン分の変調信号を同時に印加することにより、
各電子ビームの蛍光体への照射を制御し、画像を1ライ
ンずつ表示することができる。
【0100】また本発明によればテレビジョン放送の表
示装置のみならずテレビ会議システム、コンピューター
等の表示装置に適した画像形成装置を提供することがで
きる。さらには感光性ドラム等で構成された光プリンタ
ーとしての画像形成装置としても用いることもできる。
示装置のみならずテレビ会議システム、コンピューター
等の表示装置に適した画像形成装置を提供することがで
きる。さらには感光性ドラム等で構成された光プリンタ
ーとしての画像形成装置としても用いることもできる。
【0101】また電子放出素子として表面伝導型電子放
出素子ばかりでなく、MIM型電子放出素子、電界放出
型電子放出素子等の冷陰極電子源にも適用可能である、
更には熱電子源による画像形成装置にも適用することが
できる。
出素子ばかりでなく、MIM型電子放出素子、電界放出
型電子放出素子等の冷陰極電子源にも適用可能である、
更には熱電子源による画像形成装置にも適用することが
できる。
【0102】
【実施例】以下に、本発明の特徴を最もよく表す具体的
な実施例を示す。実施例中の電子放出素子には、上述の
表面伝導型電子放出素子を用いた。
な実施例を示す。実施例中の電子放出素子には、上述の
表面伝導型電子放出素子を用いた。
【0103】図1は画像装置を製造する装置図、図2は
図1の装置が組みあがった状態でX方向からみた側面図
である。
図1の装置が組みあがった状態でX方向からみた側面図
である。
【0104】図1において、10は鉄やステンレス、ガ
ラス等の材料で構成される組立焼成治具の基台、11は
セラミックス、ガラス等の材質で形成される球体等の転
動体群、12は電子を受光する蛍光体(不図示)を有す
るガラス製のフェースプレート、13は電子放出素子
(不図示)を有するガラス製のリアプレート、14はフ
ェースプレート12とリアプレート13間の距離を設定
するガラス製の支持枠、15はフェースプレート12、
支持枠14、リアプレート13を転動体群11を介して
基台10に加圧する鉄やステンレス等でできたおもり、
16はフェースプレート12とリアプレート13の紙面
X,Y各端面を押し当てて相対位置決めを行うための突
き当て部でこれにより位置決め機構を構成するものであ
る。また、組立時にはフェースプレート12、支持枠1
4、リアプレート13を接合する不図示のフリットガラ
スが接触部に塗布されている。 (実施例1)以下に具体的な製造例について図1、図2
を用いて説明する。
ラス等の材料で構成される組立焼成治具の基台、11は
セラミックス、ガラス等の材質で形成される球体等の転
動体群、12は電子を受光する蛍光体(不図示)を有す
るガラス製のフェースプレート、13は電子放出素子
(不図示)を有するガラス製のリアプレート、14はフ
ェースプレート12とリアプレート13間の距離を設定
するガラス製の支持枠、15はフェースプレート12、
支持枠14、リアプレート13を転動体群11を介して
基台10に加圧する鉄やステンレス等でできたおもり、
16はフェースプレート12とリアプレート13の紙面
X,Y各端面を押し当てて相対位置決めを行うための突
き当て部でこれにより位置決め機構を構成するものであ
る。また、組立時にはフェースプレート12、支持枠1
4、リアプレート13を接合する不図示のフリットガラ
スが接触部に塗布されている。 (実施例1)以下に具体的な製造例について図1、図2
を用いて説明する。
【0105】X,Y端面の直角度が同一になるように加
工したフェースプレート12とリアプレート13を支持
枠14を挟んでステンレス製の3つの突き当て部16に
突き当て、セラミック製の転動体群11上に載せ、鉄製
のおもり15をフェースプレート12上に置くことによ
り加圧した。基台10は、ステンレス製の材料を超平面
研削加工し平面度を1μm以下の精度にした。さらに転
動体群11は、直径2mm、真球度50nmのセラミッ
ク球を使用した。球体は、加工精度に優れる。なお、支
持枠と各プレートが接触する部分にフリットガラスを塗
布している。また、不図示のフェースプレート12上の
蛍光体及びリアプレート13上の電子放出素子列は突き
当て端面を基準面としてそれと平行に形成した。従っ
て、フェースプレート12とリアプレート13を突き当
て面に突き当てれば、自動的に相対位置合わせが完了す
る。この状態で、組立装置全体を焼成炉へ入れてガラス
フリットが溶融凝固するような温度プロファイルを設定
して焼成した。
工したフェースプレート12とリアプレート13を支持
枠14を挟んでステンレス製の3つの突き当て部16に
突き当て、セラミック製の転動体群11上に載せ、鉄製
のおもり15をフェースプレート12上に置くことによ
り加圧した。基台10は、ステンレス製の材料を超平面
研削加工し平面度を1μm以下の精度にした。さらに転
動体群11は、直径2mm、真球度50nmのセラミッ
ク球を使用した。球体は、加工精度に優れる。なお、支
持枠と各プレートが接触する部分にフリットガラスを塗
布している。また、不図示のフェースプレート12上の
蛍光体及びリアプレート13上の電子放出素子列は突き
当て端面を基準面としてそれと平行に形成した。従っ
て、フェースプレート12とリアプレート13を突き当
て面に突き当てれば、自動的に相対位置合わせが完了す
る。この状態で、組立装置全体を焼成炉へ入れてガラス
フリットが溶融凝固するような温度プロファイルを設定
して焼成した。
【0106】なお、用いたフリットガラスは成分として
鉛を含んでおりその溶融温度は、450℃のものであっ
た。
鉛を含んでおりその溶融温度は、450℃のものであっ
た。
【0107】焼成中、各部材や治具は温度膨張により変
化しても突き当て面16から離れないように組立治具に
傾きを持たせている。すなわち焼成中は、常にフェース
プレート12とリアプレート13の基準端面が突き当て
部16に突き当てられている。本実施例では、傾きを持
たせたがなんらこれに限定されるものではない。
化しても突き当て面16から離れないように組立治具に
傾きを持たせている。すなわち焼成中は、常にフェース
プレート12とリアプレート13の基準端面が突き当て
部16に突き当てられている。本実施例では、傾きを持
たせたがなんらこれに限定されるものではない。
【0108】実施例に示したフェースプレート及びリア
プレートの上下関係に依存はない。上下反転させても同
様である。
プレートの上下関係に依存はない。上下反転させても同
様である。
【0109】本実施例では、転動体群11の数を3箇に
したが、4箇以上の転動体を挟んでもよい。フェースプ
レートやリアプレートが初期状態でうねりをもっている
時や、大画面の装置を製作するときに4箇以上の転動体
の使用は有効である。また、転動体の大きさ、精度にお
いても限定はない。
したが、4箇以上の転動体を挟んでもよい。フェースプ
レートやリアプレートが初期状態でうねりをもっている
時や、大画面の装置を製作するときに4箇以上の転動体
の使用は有効である。また、転動体の大きさ、精度にお
いても限定はない。
【0110】さらに、本実施例の位置決め手段として突
き当て方式を採用したが、なんらこの方式に限定される
ものではなく、例えばピンと孔の嵌合による位置決めピ
ンの方式が採用できる。
き当て方式を採用したが、なんらこの方式に限定される
ものではなく、例えばピンと孔の嵌合による位置決めピ
ンの方式が採用できる。
【0111】また転動体として球体を用いたが、これ以
外に円柱体、円筒体等が採用できる。
外に円柱体、円筒体等が採用できる。
【0112】上述したように基台10とリアプレート1
3間に転動体群11を挟んで熱摩擦を低減したことで、 (1)位置ずれのない画像形成装置を作製でき、このた
め画質の劣化が少なく、良好な画像を表示することが可
能になった。
3間に転動体群11を挟んで熱摩擦を低減したことで、 (1)位置ずれのない画像形成装置を作製でき、このた
め画質の劣化が少なく、良好な画像を表示することが可
能になった。
【0113】(2)熱膨張係数の異なる突き当て治具材
料を用いても均一な部材の伸縮が達成できるので、治具
材料の選択に制限がなく、従って汎用性のある製造装置
作製が可能である。 (実施例2)図3に第二の実施例の図を示す。転動体上
に載せるガラスプレート、おもり、支持枠は、実施例1
の図1、図2で示したものと同様のものを使用した。
料を用いても均一な部材の伸縮が達成できるので、治具
材料の選択に制限がなく、従って汎用性のある製造装置
作製が可能である。 (実施例2)図3に第二の実施例の図を示す。転動体上
に載せるガラスプレート、おもり、支持枠は、実施例1
の図1、図2で示したものと同様のものを使用した。
【0114】基台31上には、3列のV溝30を溝ガイ
ドとして加工していた。その中へ球体の転動体群32を
入れた。転動体群32の真球度は50nmであった。ま
たV溝30は、転動体群32を置いた状態で各転動体の
高さばらつきが1μm以下になるように加工した。
ドとして加工していた。その中へ球体の転動体群32を
入れた。転動体群32の真球度は50nmであった。ま
たV溝30は、転動体群32を置いた状態で各転動体の
高さばらつきが1μm以下になるように加工した。
【0115】V溝30を設けることにより、転動体群3
2の保持性が良好になった。 (実施例3)図4及び図5に第3の実施例を示す。図4
は第三実施例の構成図、図5は図4の装置を組み上げた
状態で図4の紙面X方向からみた側面図である。
2の保持性が良好になった。 (実施例3)図4及び図5に第3の実施例を示す。図4
は第三実施例の構成図、図5は図4の装置を組み上げた
状態で図4の紙面X方向からみた側面図である。
【0116】図4において、41は鉄やステンレス、ガ
ラス等の材料で構成される組立焼成治具の第二の基台、
42はセラミック、ガラス等の第一の転動体群、43は
電子を受光する蛍光体(不図示)を有するガラス製のフ
ェースプレート、44は電子放出素子(不図示)を有す
るガラス製のリアプレート、45はフェースプレート4
3とリアプレート44間の距離を設定するガラス製の支
持枠、46はフェースプレート43とリアプレート44
の紙面X,Y各端面を押し当てて相対位置決めを行うた
めの突き当て部、47は第二の転動体群、48は第二の
基台、49は第一の基台41と第二の基台48間を引っ
張るばねである。
ラス等の材料で構成される組立焼成治具の第二の基台、
42はセラミック、ガラス等の第一の転動体群、43は
電子を受光する蛍光体(不図示)を有するガラス製のフ
ェースプレート、44は電子放出素子(不図示)を有す
るガラス製のリアプレート、45はフェースプレート4
3とリアプレート44間の距離を設定するガラス製の支
持枠、46はフェースプレート43とリアプレート44
の紙面X,Y各端面を押し当てて相対位置決めを行うた
めの突き当て部、47は第二の転動体群、48は第二の
基台、49は第一の基台41と第二の基台48間を引っ
張るばねである。
【0117】また、組立時にはフェースプレート43、
支持枠45、リアプレート44を接合する不図示のフリ
ットガラスが接触部に塗布されている。
支持枠45、リアプレート44を接合する不図示のフリ
ットガラスが接触部に塗布されている。
【0118】以下に具体的な製造例について図4、図5
を用いて説明する。
を用いて説明する。
【0119】実施例1と同様に支持枠45を挟んだ状態
でフェースプレート43、リアプレート44の端面を転
動体群42上に載せつつ突き当て部46へ突き当てる。
さらに、フェースプレート43上に第二の転動体群47
を載せて、その上に第二の基台48を載せる。最後に、
引っ張りばね49の両端部をおのおの第一の基台41と
第二の基台48に固定し基台間を引っ張る。ばねは、こ
れらを左右、上下傾けても倒立させても内部の部材が動
かない力のものを選定した。
でフェースプレート43、リアプレート44の端面を転
動体群42上に載せつつ突き当て部46へ突き当てる。
さらに、フェースプレート43上に第二の転動体群47
を載せて、その上に第二の基台48を載せる。最後に、
引っ張りばね49の両端部をおのおの第一の基台41と
第二の基台48に固定し基台間を引っ張る。ばねは、こ
れらを左右、上下傾けても倒立させても内部の部材が動
かない力のものを選定した。
【0120】上述の工程のように仮組立が終了後、実施
例1と同様に焼成炉の中へ入れて接合を行い組立を完了
した。
例1と同様に焼成炉の中へ入れて接合を行い組立を完了
した。
【0121】本第三実施例では、各プレートの両側に転
動体を設置した。この結果、実施例1よりも位置合わせ
精度が向上し、また大きく傾けたり倒立させて設置して
も焼成が可能で製造の自由度が増し、さらに振動にも強
い構造を有する製造装置を提示できた。
動体を設置した。この結果、実施例1よりも位置合わせ
精度が向上し、また大きく傾けたり倒立させて設置して
も焼成が可能で製造の自由度が増し、さらに振動にも強
い構造を有する製造装置を提示できた。
【0122】
【発明の効果】本発明の製造装置は、簡単な構成にもか
かわらず、焼成において自由な部材の伸縮が可能とな
り、位置ずれの少ない画像形成装置が得られ、安定な画
質を持つ装置を歩留まりよく提供できた。
かわらず、焼成において自由な部材の伸縮が可能とな
り、位置ずれの少ない画像形成装置が得られ、安定な画
質を持つ装置を歩留まりよく提供できた。
【図1】本発明の第一実施例を示す装置構成斜視図であ
る。
る。
【図2】本発明の第一実施例を示す装置構成側面図であ
る。
る。
【図3】本発明の第二実施例を示す装置構成斜視図であ
る。
る。
【図4】本発明の第三実施例を示す装置構成斜視図であ
る。
る。
【図5】本発明の第三実施例を示す装置構成側面図であ
る。
る。
【図6】本発明の実施に用いる基本的な表面伝導型電子
放出素子の構成を示す模式的平面図である。
放出素子の構成を示す模式的平面図である。
【図7】本発明の実施に用いる基本的な表面伝導型電子
放出素子の構成を示す模式的断面図である。
放出素子の構成を示す模式的断面図である。
【図8】本発明の実施に用いる基本的な垂直型表面伝導
型電子放出素子の構成を示す模式的側面図である。
型電子放出素子の構成を示す模式的側面図である。
【図9】本発明の実施に用いる表面伝導型電子放出素子
の製造方法の一例を示す工程図である。
の製造方法の一例を示す工程図である。
【図10】(a),(b)はそれぞれ通電フォーミング
の電圧波形の一例を示すグラフである。
の電圧波形の一例を示すグラフである。
【図11】電子放出素子の電子放出特性を測定するため
の測定評価装置の概略構成図である。
の測定評価装置の概略構成図である。
【図12】単純マトリクス配置の電子源の構成を示す説
明図である。
明図である。
【図13】本発明により製造される画像形成装置の一例
を示す概略構成図である。
を示す概略構成図である。
【図14】(a)及び(b)はそれぞれ蛍光膜の構成を
示す説明図である。
示す説明図である。
【図15】NTSC方式のテレビ信号に応じて表示を行
なうための駆動回路を組込んだ画像形成装置の一例を示
すブロック図である。
なうための駆動回路を組込んだ画像形成装置の一例を示
すブロック図である。
【図16】本発明に用いる梯子配置の電子源の構成の一
例を示す平面図である。
例を示す平面図である。
【図17】本発明により製造される画像形成装置の一例
を示す概略構成図である。
を示す概略構成図である。
【図18】従来の表面伝導型電子放出素子の構成例を示
す説明図である。
す説明図である。
10 基台
11 転動体群
12 フェースプレート
13 リアプレート
14 支持枠
15 おもり
41 第一の基台
42 第一の転動体群
47 第二の転動体群
48 第二の基台
49 ばね
71 基板
72,73 素子電極
74 導電性薄膜
75 電子放出部
80 段差形成部
110 電流計
111 電源
112 電流計
113 高圧電源
114 アノード電極
115 真空装置
116 排気ポンプ
121 電子源基板
122 X方向配線
123 Y方向配線
124 表面伝導型電子放出素子
125 結線
131 リアプレート
132 支持枠
133 ガラス基板
134 蛍光膜
135 メタルバック
136 フェースプレート
137 高圧端子
138 外囲器
141 黒色導電材
142 蛍光体
151 表示パネル
152 走査回路
153 制御回路
154 シフトレジスタ
155 ラインメモリ
156 同期信号分離回路
157 変調信号発生器
Vx,Va 直流電圧源
160 電子源基板
161 電子放出素子
162 共通配線
170 グリッド電極
171 電子が通過するための空孔
172 容器外端子
173 容器外端子
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名)
H01J 9/26
G09F 9/00
Claims (7)
- 【請求項1】 画像形成装置の構成部材であるリアプレ
ートと支持枠とフェースプレートとを、前記リアプレー
トと前記フェースプレートとの相対位置合せをすると共
に加熱することにより融着する際に用いられる画像形成
装置の製造装置であって、 少なくとも、前記リアプレートと支持枠とフェースプレ
ートとが積載される基台と、 前記リアプレートと前記フェースプレートとの相対位置
合せをする位置決め機構と、 前記基台とその上に搭載される前記リアプレートまたは
前記フェースプレートとの間に位置するよう配設され、
前記加熱の際に、前記基台と前記リアプレートまたは前
記フェースプレートの自由な伸縮を可能とし、前記基台
と前記リアプレートまたは前記フェースプレートのすべ
り摩擦の発生を低減する転動体とを備えることを特徴と
する画像形成装置の製造装置 。 - 【請求項2】 画像形成装置の構成部材であるリアプレ
ートと支持枠とフェースプレートとを、前記リアプレー
トと前記フェースプレートとの相対位置合せをすると共
に加熱することにより融着する際に用いられる画像形成
装置の製造装置であって、 少なくとも、前記リアプレートと支持枠とフェースプレ
ートとがその間に挟持される第一の基台及び第二の基台
と、 前記リアプレートと前記フェースプレートとの相対位置
合せをする位置決め機構と、 前記両基台とその間に挟持される前記リアプレート及び
前記フェースプレートとの間に位置するように配設さ
れ、前記加熱の際に、前記基台と前記リアプレートおよ
び前記フェースプレートの自由な伸縮を可能とし、前記
基台と前記リアプレートおよび前記フェースプレートの
すべり摩擦の発生を低減する転動体とを備える こと特徴
とする画像形成装置の製造装置。 - 【請求項3】 前記転動体が少なくとも3つ以上配設さ
れてなる請求項1又は2に記載の画像形成装置の製造装
置。 - 【請求項4】 前記転動体が球体である請求項1〜3の
いずれかに記載の画像形成装置の製造装置。 - 【請求項5】 前記基台の主平面上に溝ガイドを形成す
ると共に前記溝ガイド内に転動体を配設してなる請求項
1に記載の画像形成装置の製造装置。 - 【請求項6】 前記位置決め機構は、前記リアプレート
及び前記リアプレートの端面が突き当てられる突き当て
部である請求項1〜5のいずれかに記載の画像形成装置
の製造装置。 - 【請求項7】 画像形成装置の構成部材であるリアプレ
ートと支持枠とフェースプレートとを、前記リアプレー
トと前記フェースプレートとの相対位置合せをすると共
に加熱することにより融着する工程を有する画像形成装
置の製造方法において、前記融着する工程は、請求項1
〜6のいずれかに記載の製造装置を用いて行われること
を特徴とする画像形成装置の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26005794A JP3416295B2 (ja) | 1994-10-25 | 1994-10-25 | 画像形成装置の製造装置および画像形成装置の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26005794A JP3416295B2 (ja) | 1994-10-25 | 1994-10-25 | 画像形成装置の製造装置および画像形成装置の製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08124482A JPH08124482A (ja) | 1996-05-17 |
JP3416295B2 true JP3416295B2 (ja) | 2003-06-16 |
Family
ID=17342711
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP26005794A Expired - Fee Related JP3416295B2 (ja) | 1994-10-25 | 1994-10-25 | 画像形成装置の製造装置および画像形成装置の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3416295B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100879296B1 (ko) * | 2006-04-20 | 2009-01-16 | 삼성에스디아이 주식회사 | 표시 디바이스용 진공 용기, 진공 용기의 제조 방법 및진공 용기를 이용한 전자 방출 표시 디바이스 |
-
1994
- 1994-10-25 JP JP26005794A patent/JP3416295B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Publication date |
---|---|
JPH08124482A (ja) | 1996-05-17 |
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