JP3408887B2 - 炎検出装置 - Google Patents
炎検出装置Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、フレームロッドの絶
縁の劣化度合を判定する手段を設けた燃焼器具の炎検出
装置に関するものである。
縁の劣化度合を判定する手段を設けた燃焼器具の炎検出
装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来より燃焼器具において、バーナ炎の
有無を検出する炎検出装置としては、図７に示す様に、
バーナ炎中にフレームロッドＦＬ′を設け、フレームロ
ッドＦＬ′とアースされたバーナ１′との間に電源Ｅ′
を接続し交流電圧を印加し、フレームロッドＦＬ′とバ
ーナ１′間に流れる炎電流により抵抗Ｒ′の両端に生ず
る電圧をＦＥＴのゲートに入力し、炎電流が所定値以上
のときＦＥＴがオフし、所定値以下のときオンし、ＦＥ
Ｔのドレインに接続されたマイクロコンピュータＣ′の
入力ポートに出力信号が伝達され、バーナ炎の有無を検
出するものが提案されている。
有無を検出する炎検出装置としては、図７に示す様に、
バーナ炎中にフレームロッドＦＬ′を設け、フレームロ
ッドＦＬ′とアースされたバーナ１′との間に電源Ｅ′
を接続し交流電圧を印加し、フレームロッドＦＬ′とバ
ーナ１′間に流れる炎電流により抵抗Ｒ′の両端に生ず
る電圧をＦＥＴのゲートに入力し、炎電流が所定値以上
のときＦＥＴがオフし、所定値以下のときオンし、ＦＥ
Ｔのドレインに接続されたマイクロコンピュータＣ′の
入力ポートに出力信号が伝達され、バーナ炎の有無を検
出するものが提案されている。
【０００３】
【発明が解決しようとする問題点】上記従来例にあって
は、フレームロッドが異物付着又は湿気により絶縁劣化
している場合、バーナ炎の検出が正常に行われず、実際
に着火しなかったのか、着火したが炎電流の検出ができ
なかったのか区別ができないため、再現しなかったり、
燃焼器具のメンテナンスを行なう際故障部分が特定でき
ないと言う問題点があった。
は、フレームロッドが異物付着又は湿気により絶縁劣化
している場合、バーナ炎の検出が正常に行われず、実際
に着火しなかったのか、着火したが炎電流の検出ができ
なかったのか区別ができないため、再現しなかったり、
燃焼器具のメンテナンスを行なう際故障部分が特定でき
ないと言う問題点があった。
【０００４】この発明は、従来技術の有する上記の問題
点に鑑み、炎検出装置内に絶縁の劣化度合を判定する手
段を設け、バーナに実際に着火しなかったのか、或い
は、着火したがフレームロッドの絶縁劣化により炎電流
が検出できなかったのかを判断できるようにし、メンテ
ナンスを行ない易くした炎検出装置を提供することを目
的としている。
点に鑑み、炎検出装置内に絶縁の劣化度合を判定する手
段を設け、バーナに実際に着火しなかったのか、或い
は、着火したがフレームロッドの絶縁劣化により炎電流
が検出できなかったのかを判断できるようにし、メンテ
ナンスを行ない易くした炎検出装置を提供することを目
的としている。
【０００５】そして、絶縁劣化検査回路として、疑似炎
回路を用いたり、絶縁劣化抵抗を用いて、絶縁劣化の度
合を判断できるようにし、また、マイクロコンピュータ
を使用し絶縁劣化度合をＡ／Ｄ値の比較で検出できるよ
うにしたことを目的としている。
回路を用いたり、絶縁劣化抵抗を用いて、絶縁劣化の度
合を判断できるようにし、また、マイクロコンピュータ
を使用し絶縁劣化度合をＡ／Ｄ値の比較で検出できるよ
うにしたことを目的としている。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の請求項１記載の炎検出装置は、バーナ１と
該バーナ１に形成されるバーナ炎中に位置するフレーム
ロッドＦＬを設け、フレームロッドＦＬとバーナ１に並
列にして絶縁劣化検査回路Ａをスイッチ素子ＳＷを介し
て接続し、この並列に接続された回路に交流電圧を印加
する交流電源Ｅを接続し、交流電圧が印加されることに
より生ずる電圧を検出回路Ｂに入力し、該検出回路Ｂの
出力信号に基づいて炎の有無と絶縁劣化の度合を判定す
る判定器Ｃを設け、絶縁劣化検査回路Ａとして、抵抗Ｒ
１ とダイオードＤ １ とを直列に接続した疑似炎回路を用
い、非燃焼時にスイッチ素子ＳＷをオンし疑似炎回路に
流れる疑似炎電流と、燃焼時にスイッチ素子ＳＷをオフ
にしフレームロッドＦＬとバーナ１間に流れる炎電流と
を検出回路Ｂに入力すると共に、判定器Ｃは上記非燃焼
時にスイッチ素子ＳＷをオンして検出した疑似炎電流と
基準値とを比較して絶縁劣化の度合を判定するものであ
る。
に、本発明の請求項１記載の炎検出装置は、バーナ１と
該バーナ１に形成されるバーナ炎中に位置するフレーム
ロッドＦＬを設け、フレームロッドＦＬとバーナ１に並
列にして絶縁劣化検査回路Ａをスイッチ素子ＳＷを介し
て接続し、この並列に接続された回路に交流電圧を印加
する交流電源Ｅを接続し、交流電圧が印加されることに
より生ずる電圧を検出回路Ｂに入力し、該検出回路Ｂの
出力信号に基づいて炎の有無と絶縁劣化の度合を判定す
る判定器Ｃを設け、絶縁劣化検査回路Ａとして、抵抗Ｒ
１ とダイオードＤ １ とを直列に接続した疑似炎回路を用
い、非燃焼時にスイッチ素子ＳＷをオンし疑似炎回路に
流れる疑似炎電流と、燃焼時にスイッチ素子ＳＷをオフ
にしフレームロッドＦＬとバーナ１間に流れる炎電流と
を検出回路Ｂに入力すると共に、判定器Ｃは上記非燃焼
時にスイッチ素子ＳＷをオンして検出した疑似炎電流と
基準値とを比較して絶縁劣化の度合を判定するものであ
る。
【０００７】また、本発明の請求項２記載の炎検出装置
は、バーナ１と、バーナ炎中に位置するフレームロッド
ＦＬを設け、フレームロッドＦＬとバーナ１に並列にし
て絶縁劣化検査回路Ａをスイッチ素子ＳＷを介して接続
し、この並列に接続された回路に交流電源Ｅを接続し、
交流電圧が印加されることにより生ずる電流を検出回路
Ｂに入力し、該検出回路Ｂの出力信号に基づいて炎の有
無と絶縁劣化の度合を判定する判定器Ｃを設け、絶縁劣
化検査回路Ａとして、絶縁劣化抵抗ＲＤを用い、燃焼時
にスイッチ素子ＳＷにより絶縁劣化抵抗ＲＤを接続した
場合と、接続しなかった場合の電流を検出回路Ｂに入力
してそれぞれの電流を検出し、その出力信号を判定器Ｃ
に入力するものである。
は、バーナ１と、バーナ炎中に位置するフレームロッド
ＦＬを設け、フレームロッドＦＬとバーナ１に並列にし
て絶縁劣化検査回路Ａをスイッチ素子ＳＷを介して接続
し、この並列に接続された回路に交流電源Ｅを接続し、
交流電圧が印加されることにより生ずる電流を検出回路
Ｂに入力し、該検出回路Ｂの出力信号に基づいて炎の有
無と絶縁劣化の度合を判定する判定器Ｃを設け、絶縁劣
化検査回路Ａとして、絶縁劣化抵抗ＲＤを用い、燃焼時
にスイッチ素子ＳＷにより絶縁劣化抵抗ＲＤを接続した
場合と、接続しなかった場合の電流を検出回路Ｂに入力
してそれぞれの電流を検出し、その出力信号を判定器Ｃ
に入力するものである。
【０００８】さらに、判定器Ｃとして、Ａ／Ｄポート３
を有しＡ／Ｄ変換器４とメモリ５を備えたマイクロコン
ピュータＣ１を用い、絶縁劣化度合をＡ／Ｄ値の比較で
検出できるようにしてもよい。
を有しＡ／Ｄ変換器４とメモリ５を備えたマイクロコン
ピュータＣ１を用い、絶縁劣化度合をＡ／Ｄ値の比較で
検出できるようにしてもよい。
【０００９】
【作用】本発明の請求項１記載の炎検出装置は、交流電
源Ｅにより交流電圧がバーナ１とフレームロッドＦＬ
間、及び、スイッチ素子ＳＷを介して絶縁劣化検査回路
Ａに印加され、フレームロッドＦＬに流れる炎電流、絶
縁劣化検査回路Ａに流れる電流、或いは、フレームロッ
ドＦＬと絶縁劣化検査回路Ａの両者に流れる電流が検出
回路Ｂに入力され、検出回路Ｂから出力される出力信号
が判定器Ｃに伝達され、該判定器Ｃにより通常は炎の有
無を判断し、メンテナンス時にはスイッチ素子ＳＷの操
作等によりフレームロッドＦＬの絶縁劣化の度合を判定
する。
源Ｅにより交流電圧がバーナ１とフレームロッドＦＬ
間、及び、スイッチ素子ＳＷを介して絶縁劣化検査回路
Ａに印加され、フレームロッドＦＬに流れる炎電流、絶
縁劣化検査回路Ａに流れる電流、或いは、フレームロッ
ドＦＬと絶縁劣化検査回路Ａの両者に流れる電流が検出
回路Ｂに入力され、検出回路Ｂから出力される出力信号
が判定器Ｃに伝達され、該判定器Ｃにより通常は炎の有
無を判断し、メンテナンス時にはスイッチ素子ＳＷの操
作等によりフレームロッドＦＬの絶縁劣化の度合を判定
する。
【００１０】絶縁劣化検査回路Ａとして抵抗Ｒ１とダイ
オードＤ１を直列に接続した疑似炎回路を用い、疑似炎
回路が既知の値に設定してあるので、疑似炎回路に流れ
る疑似炎電流が正常状態における炎電流の基準値がわか
る。そこで、非燃焼時にスイッチ素子ＳＷをオンし疑似
炎回路に流れる疑似炎電流を検出回路Ｂで検出し、判定
器Ｃに入力し、この電圧値と正常状態における炎電流で
の基準値と比較して絶縁劣化の度合を判定する。
オードＤ１を直列に接続した疑似炎回路を用い、疑似炎
回路が既知の値に設定してあるので、疑似炎回路に流れ
る疑似炎電流が正常状態における炎電流の基準値がわか
る。そこで、非燃焼時にスイッチ素子ＳＷをオンし疑似
炎回路に流れる疑似炎電流を検出回路Ｂで検出し、判定
器Ｃに入力し、この電圧値と正常状態における炎電流で
の基準値と比較して絶縁劣化の度合を判定する。
【００１１】また、本発明の請求項２記載の炎検出装置
は、絶縁劣化検査回路Ａとして絶縁劣化抵抗ＲＤを用
い、燃焼時にスイッチ素子ＳＷをオンしフレームロッド
ＦＬとバーナ１に並列に接続すると、絶縁抵抗ＲＸと絶
縁劣化抵抗ＲＤは並列接続となり、この並列回路に流れ
る電流を検出回路Ｂで検出し、電流値を電圧値に変換し
て判定器Ｃに入力し、燃焼時にスイッチ素子ＳＷをオフ
し、フレームロッドＦＬに流れる炎電流を検出回路Ｂで
検出し同様に判定器Ｃに入力し、先の値と比較して絶縁
劣化の度合を判定する。
は、絶縁劣化検査回路Ａとして絶縁劣化抵抗ＲＤを用
い、燃焼時にスイッチ素子ＳＷをオンしフレームロッド
ＦＬとバーナ１に並列に接続すると、絶縁抵抗ＲＸと絶
縁劣化抵抗ＲＤは並列接続となり、この並列回路に流れ
る電流を検出回路Ｂで検出し、電流値を電圧値に変換し
て判定器Ｃに入力し、燃焼時にスイッチ素子ＳＷをオフ
し、フレームロッドＦＬに流れる炎電流を検出回路Ｂで
検出し同様に判定器Ｃに入力し、先の値と比較して絶縁
劣化の度合を判定する。
【００１２】判定器ＣとしてマイクロコンピュータＣ１
を使用した場合は、検出回路Ｂから出力される出力電圧
をＡ／Ｄポートに入力すると、デジタル値に変換されメ
モリ５に記憶され、検出回路Ｂから条件設定を変えた異
なる出力電圧がＡ／Ｄポート３に入力されると同様にデ
ジタル値に変換され、先の記憶された値と比較し絶縁劣
化の度合を判定する。
を使用した場合は、検出回路Ｂから出力される出力電圧
をＡ／Ｄポートに入力すると、デジタル値に変換されメ
モリ５に記憶され、検出回路Ｂから条件設定を変えた異
なる出力電圧がＡ／Ｄポート３に入力されると同様にデ
ジタル値に変換され、先の記憶された値と比較し絶縁劣
化の度合を判定する。
【００１３】
【実施例】以下、この発明の実施例を図１〜図６を参照
して説明する。
して説明する。
【００１４】図１において、１はアースされたバーナ、
ＦＬはバーナに形成されるバーナ炎中に位置するフレー
ムロッドで、バーナ１とフレームロッドＦＬには並列に
して抵抗Ｒ１と、カソードをアースし抵抗Ｒ１とアノー
ドを接続したダイオードＤ１からなる疑似炎回路がスイ
ッチ素子ＳＷを介して接続され、かつ、この並列に接続
された回路の両端に交流電圧を印加する交流電源Ｅがコ
ンデンサ２を介して接続されている。Ｂ１はフレームロ
ッドＦＬとバーナ１間に流れる炎電流と、上記疑似炎回
路に流れる疑似炎電流を検出するＯＰアンプで、その＋
入力端子にコンデンサ２、抵抗Ｒ２〜Ｒ４を介して炎電
流又は疑似炎電流を電圧値として出力するものであり、
出力側と−入力端子間に負帰環をかける抵抗Ｒ５が接続
されている。
ＦＬはバーナに形成されるバーナ炎中に位置するフレー
ムロッドで、バーナ１とフレームロッドＦＬには並列に
して抵抗Ｒ１と、カソードをアースし抵抗Ｒ１とアノー
ドを接続したダイオードＤ１からなる疑似炎回路がスイ
ッチ素子ＳＷを介して接続され、かつ、この並列に接続
された回路の両端に交流電圧を印加する交流電源Ｅがコ
ンデンサ２を介して接続されている。Ｂ１はフレームロ
ッドＦＬとバーナ１間に流れる炎電流と、上記疑似炎回
路に流れる疑似炎電流を検出するＯＰアンプで、その＋
入力端子にコンデンサ２、抵抗Ｒ２〜Ｒ４を介して炎電
流又は疑似炎電流を電圧値として出力するものであり、
出力側と−入力端子間に負帰環をかける抵抗Ｒ５が接続
されている。
【００１５】Ｃ１は炎の有無と絶縁劣化の度合を判定す
るマイクロコンピュータで、Ａ／Ｄ変換器４、メモリ
５、ＣＰＵ６及び出力ポート７を備えており、非燃焼時
に絶縁劣化検査回路に流れる疑似炎電流が検出回路Ｂで
電圧値に変換され、マイクロコンピュータＣ１のＡ／Ｄ
ポート３に入力され、デジタル値に変換した電圧値で読
み込まれ、初期値をメモリ５に記憶する。この記憶され
た初期値が基準値となる。さらに燃焼開始前毎、あるい
は何回か毎に絶縁劣化検査回路による出力電圧を同様に
デジタル値に変換した電圧値で読み込んで、ＣＰＵ６に
より前記の基準となる疑似炎電流の初期値と比較し、絶
縁劣化の度合を判定する。そして出力ポート７よりエラ
ー表示を区別して出力可能としている。
るマイクロコンピュータで、Ａ／Ｄ変換器４、メモリ
５、ＣＰＵ６及び出力ポート７を備えており、非燃焼時
に絶縁劣化検査回路に流れる疑似炎電流が検出回路Ｂで
電圧値に変換され、マイクロコンピュータＣ１のＡ／Ｄ
ポート３に入力され、デジタル値に変換した電圧値で読
み込まれ、初期値をメモリ５に記憶する。この記憶され
た初期値が基準値となる。さらに燃焼開始前毎、あるい
は何回か毎に絶縁劣化検査回路による出力電圧を同様に
デジタル値に変換した電圧値で読み込んで、ＣＰＵ６に
より前記の基準となる疑似炎電流の初期値と比較し、絶
縁劣化の度合を判定する。そして出力ポート７よりエラ
ー表示を区別して出力可能としている。
【００１６】図２は、実際に絶縁劣化検査回路に流れる
疑似炎電流のマイクロコンピュータＣ１におけるＡ／Ｄ
変換後のＡ／Ｄ値と絶縁劣化との関係を表わす図であ
る。
疑似炎電流のマイクロコンピュータＣ１におけるＡ／Ｄ
変換後のＡ／Ｄ値と絶縁劣化との関係を表わす図であ
る。
【００１７】図３は、上記実施例において、疑似炎回路
のダイオードＤ１の極性を逆にして抵抗Ｒ１に接続した
もので、上記と同様に判定する。但し、疑似炎によるＡ
／Ｄ値と実際のバーナ炎によるＡ／Ｄ値は図４に示す様
に違う値を示すので、スイッチ素子のオン故障時でも炎
無し側、すなわちフェイルセーフ側にＡ／Ｄ値が出力さ
れるので安全性が高くなる。
のダイオードＤ１の極性を逆にして抵抗Ｒ１に接続した
もので、上記と同様に判定する。但し、疑似炎によるＡ
／Ｄ値と実際のバーナ炎によるＡ／Ｄ値は図４に示す様
に違う値を示すので、スイッチ素子のオン故障時でも炎
無し側、すなわちフェイルセーフ側にＡ／Ｄ値が出力さ
れるので安全性が高くなる。
【００１８】図５は、絶縁劣化検査回路Ａとして、絶縁
劣化抵抗ＲＤを用いた実施例で、燃焼時においてスイッ
チ素子ＳＷをオンすると、絶縁劣化抵抗ＲＤと絶縁抵抗
ＲＸは並列接続となり、図６に示す様に、絶縁劣化が進
むと絶縁抵抗ＲＸの値が小さくなるため、スイッチ素子
ＳＷをオンした時の絶縁劣化に対する変化率は小さく、
絶縁劣化とＡ／Ｄ値の関係は直線ａで表わされ、また、
スイッチ素子ＳＷをオフした時の絶縁劣化に対する変化
率は大きくなり、絶縁劣化とＡ／Ｄ値の関係は直線ｂの
関係で表わされる。それ故、絶縁劣化が進むと絶縁劣化
抵抗ＲＤの接続時（スイッチ素子オン時）と非接続時
（スイッチ素子オフ時）の変化分が少なくなることか
ら、絶縁劣化度合を判定することができる。
劣化抵抗ＲＤを用いた実施例で、燃焼時においてスイッ
チ素子ＳＷをオンすると、絶縁劣化抵抗ＲＤと絶縁抵抗
ＲＸは並列接続となり、図６に示す様に、絶縁劣化が進
むと絶縁抵抗ＲＸの値が小さくなるため、スイッチ素子
ＳＷをオンした時の絶縁劣化に対する変化率は小さく、
絶縁劣化とＡ／Ｄ値の関係は直線ａで表わされ、また、
スイッチ素子ＳＷをオフした時の絶縁劣化に対する変化
率は大きくなり、絶縁劣化とＡ／Ｄ値の関係は直線ｂの
関係で表わされる。それ故、絶縁劣化が進むと絶縁劣化
抵抗ＲＤの接続時（スイッチ素子オン時）と非接続時
（スイッチ素子オフ時）の変化分が少なくなることか
ら、絶縁劣化度合を判定することができる。
【００１９】
【発明の効果】この発明は上述のとおり構成されている
ので、以下に記載する効果を奏する。
ので、以下に記載する効果を奏する。
【００２０】請求項１の発明は、非燃焼時に検出した疑
似炎電流と基準値とを比較してフレームロッドの絶縁劣
化度合を判定する手段を備えているので、絶縁劣化度合
が進行していてバーナ炎を検出できない場合と、実際に
着火しなかった場合とを識別でき、メンテナンス時に故
障の原因を特定し易くなる。また、通常はバーナ炎の有
無を検出し、必要に応じてフレームロッドの絶縁劣化を
自己診断することができ、非常に便利である。さらに、
抵抗とダイオードからなる疑似炎回路を用い、この疑似
炎回路に流れる疑似炎電流を基準としているので、明確
に絶縁劣化度合を判定することができる。
似炎電流と基準値とを比較してフレームロッドの絶縁劣
化度合を判定する手段を備えているので、絶縁劣化度合
が進行していてバーナ炎を検出できない場合と、実際に
着火しなかった場合とを識別でき、メンテナンス時に故
障の原因を特定し易くなる。また、通常はバーナ炎の有
無を検出し、必要に応じてフレームロッドの絶縁劣化を
自己診断することができ、非常に便利である。さらに、
抵抗とダイオードからなる疑似炎回路を用い、この疑似
炎回路に流れる疑似炎電流を基準としているので、明確
に絶縁劣化度合を判定することができる。
【００２１】請求項２の発明は、絶縁劣化抵抗を用い、
フレームロッドとバーナ間の絶縁抵抗と並列に接続した
場合と、接続しなかった場合との電流を検出して絶縁劣
化度合を判定するものであるから、簡単な回路で明確に
絶縁劣化度合を判定できる。従って、絶縁劣化度合が進
行していてバーナ炎を検出できない場合と、実際に着火
しなかった場合とを識別でき、メンテナンス時に故障の
原因を特定し易くなる。また、通常はバーナ炎の有無を
検出し、必要に応じてフレームロッドの絶縁劣化を自己
診断することができ、非常に便利である。
フレームロッドとバーナ間の絶縁抵抗と並列に接続した
場合と、接続しなかった場合との電流を検出して絶縁劣
化度合を判定するものであるから、簡単な回路で明確に
絶縁劣化度合を判定できる。従って、絶縁劣化度合が進
行していてバーナ炎を検出できない場合と、実際に着火
しなかった場合とを識別でき、メンテナンス時に故障の
原因を特定し易くなる。また、通常はバーナ炎の有無を
検出し、必要に応じてフレームロッドの絶縁劣化を自己
診断することができ、非常に便利である。
【００２２】請求項３の発明は、マイクロコンピュータ
を使用しているので、炎電流等をＡ／Ｄ値でリニアに検
出でき、フレームロッドの絶縁劣化度合をＡ／Ｄ値の比
較で検出でき、絶縁劣化度合が進行していてバーナ炎の
検出ができない場合と、実際に着火しなかった場合のエ
ラー表示も区別して出力可能となり、メンテナンス時に
容易に故障原因を知ることができる。
を使用しているので、炎電流等をＡ／Ｄ値でリニアに検
出でき、フレームロッドの絶縁劣化度合をＡ／Ｄ値の比
較で検出でき、絶縁劣化度合が進行していてバーナ炎の
検出ができない場合と、実際に着火しなかった場合のエ
ラー表示も区別して出力可能となり、メンテナンス時に
容易に故障原因を知ることができる。
【図１】疑似炎回路を用いた炎検出装置の回路図であ
る。
る。
【図２】疑似炎電流のＡ／Ｄ値と絶縁劣化との関係を示
す図である。
す図である。
【図３】異なる疑似炎回路を用いた炎検出装置の回路図
である。
である。
【図４】図３の疑似炎と実際の炎のＡ／Ｄ値と絶縁劣化
との関係を示す図である。
との関係を示す図である。
【図５】絶縁劣化抵抗を用いた炎検出装置の回路図であ
る。
る。
【図６】図５の絶縁劣化抵抗を接離した場合に流れる電
流のＡ／Ｄ値と絶縁劣化との関係を示す図である。
流のＡ／Ｄ値と絶縁劣化との関係を示す図である。
【図７】従来の炎検出装置の回路図である。
１ バーナ
ＦＬ フレームロッド
ＳＷ スイッチ素子
Ｅ 交流電源
Ａ 絶縁劣化検査回路
Ｂ 検出回路
Ｃ 判定器
Ｒ１ 抵抗
Ｄ１ ダイオード
ＲＤ 絶縁劣化抵抗
Ｃ１ マイクロコンピュータ
フロントページの続き
(56)参考文献 実開 平５−71656（ＪＰ，Ｕ)
実開 昭62−88152（ＪＰ，Ｕ)
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
F23N 5/12
F23N 5/24 113
Claims (3)
- 【請求項１】 バーナ（１）と、バーナ炎中に位置する
フレームロッド（ＦＬ）を設け、フレームロッド（Ｆ
Ｌ）とバーナ（１）に並列にして絶縁劣化検査回路
（Ａ）をスイッチ素子（ＳＷ）を介して接続し、この並
列に接続された回路に交流電源（Ｅ）を接続し、交流電
圧が印加されることにより生ずる電流を検出回路（Ｂ）
に入力し、該検出回路（Ｂ）の出力信号に基づいて炎の
有無と絶縁劣化の度合を判定する判定器（Ｃ）を設け、
絶縁劣化検査回路（Ａ）として、抵抗（Ｒ １ ）とダイオ
ード（Ｄ １ ）を直列に接続した疑似炎回路を用い、非燃
焼時にスイッチ素子（ＳＷ）をオンし疑似炎回路に流れ
る疑似炎電流と、燃焼時にスイッチ素子（ＳＷ）をオフ
しフレームロッド（ＦＬ）とバーナ（１）間に流れる炎
電流とを検出回路（Ｂ）に入力すると共に、判定器
（Ｃ）は上記非燃焼時にスイッチ素子（ＳＷ）をオンし
て検出した疑似炎電流と基準値とを比較して絶縁劣化の
度合を判定することを特徴とする炎検出装置。 - 【請求項２】 バーナ（１）と、バーナ炎中に位置する
フレームロッド（ＦＬ）を設け、フレームロッド（Ｆ
Ｌ）とバーナ（１）に並列にして絶縁劣化検査回路
（Ａ）をスイッチ素子（ＳＷ）を介して接続し、この並
列に接続された回路に交流電源（Ｅ）を接続し、交流電
圧が印加されることにより生ずる電流を検出回路（Ｂ）
に入力し、該検出回路（Ｂ）の出力信号に基づいて炎の
有無と絶縁劣化の度合を判定する判定器（Ｃ）を設け、
絶縁劣化検査回路（Ａ）として、絶縁劣化抵抗（ＲＤ）
を用い、燃焼時にスイッチ素子（ＳＷ）により絶縁劣化
抵抗（ＲＤ）を接続した場合と、接続しない場合の電流
を検出回路（Ｂ）に入力することを特徴とする炎検出装
置。 - 【請求項３】 判定器（Ｃ）として、Ａ／Ｄポート
（３）を有しＡ／Ｄ変換器（４）とメモリ（５）を備え
たマイクロコンピュータ（Ｃ１）を使用したことを特徴
とする請求項１又は請求項２記載の炎検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10468195A JP3408887B2 (ja) | 1995-04-05 | 1995-04-05 | 炎検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10468195A JP3408887B2 (ja) | 1995-04-05 | 1995-04-05 | 炎検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08278021A JPH08278021A (ja) | 1996-10-22 |
| JP3408887B2 true JP3408887B2 (ja) | 2003-05-19 |
Family
ID=14387223
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10468195A Expired - Fee Related JP3408887B2 (ja) | 1995-04-05 | 1995-04-05 | 炎検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3408887B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2013109439A1 (en) * | 2012-01-18 | 2013-07-25 | Honeywell International Inc. | A flare pilot detection and ignition system |
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1995
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| JPH08278021A (ja) | 1996-10-22 |
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