JP3403854B2 - 太陽電池テスター - Google Patents
太陽電池テスターInfo
- Publication number
- JP3403854B2 JP3403854B2 JP08249395A JP8249395A JP3403854B2 JP 3403854 B2 JP3403854 B2 JP 3403854B2 JP 08249395 A JP08249395 A JP 08249395A JP 8249395 A JP8249395 A JP 8249395A JP 3403854 B2 JP3403854 B2 JP 3403854B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- solar cell
- output
- output voltage
- stored
- output current
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
Landscapes
- Photovoltaic Devices (AREA)
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、太陽電池の良否の判
断などに必要なデータを出力する太陽電池テスターに関
する。
断などに必要なデータを出力する太陽電池テスターに関
する。
【0002】
【従来の技術】太陽電池の生産では、生産された太陽電
池の品質を一定に保つために、太陽電池の良否の判断が
必要になる。また、太陽電池を用いた発電では、良好な
状態での発電を保つために、既に使用されている太陽電
池の良否を判断して、不良の太陽電池を交換する必要が
ある。
池の品質を一定に保つために、太陽電池の良否の判断が
必要になる。また、太陽電池を用いた発電では、良好な
状態での発電を保つために、既に使用されている太陽電
池の良否を判断して、不良の太陽電池を交換する必要が
ある。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】このように、太陽電池
の良否を判断する場合、例えば、測定対象の太陽電池の
特性と、基準の太陽電池の特性とを比較検討し、太陽電
池の良否を判断する。
の良否を判断する場合、例えば、測定対象の太陽電池の
特性と、基準の太陽電池の特性とを比較検討し、太陽電
池の良否を判断する。
【0004】一方、太陽電池が発生する電圧、電流は、
この太陽電池が置かれた環境(日射強度、太陽電池温
度)で変化する。このために、測定対象の太陽電池と、
基準の太陽電池との比較により、測定対象の太陽電池の
良否を判断するときには、測定対象の太陽電池と、基準
となる太陽電池との、日射強度や温度などの環境を一定
の状態に保つ必要がある。
この太陽電池が置かれた環境(日射強度、太陽電池温
度)で変化する。このために、測定対象の太陽電池と、
基準の太陽電池との比較により、測定対象の太陽電池の
良否を判断するときには、測定対象の太陽電池と、基準
となる太陽電池との、日射強度や温度などの環境を一定
の状態に保つ必要がある。
【0005】しかし、太陽電池の環境を一定の状態に保
つためには、大きな設備が必要となる。また、屋外で
は、設置された太陽電池の環境を一定に保つことは、困
難である。
つためには、大きな設備が必要となる。また、屋外で
は、設置された太陽電池の環境を一定に保つことは、困
難である。
【0006】この発明の目的は、このような欠点を除
き、基準の太陽電池を不要にして、太陽電池の良否の判
断などに必要なデータを出力することができる太陽電池
テスターを提供することにある。
き、基準の太陽電池を不要にして、太陽電池の良否の判
断などに必要なデータを出力することができる太陽電池
テスターを提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】その目的を達成するた
め、請求項1の発明は、測定対象の太陽電池の出力電圧
vを測定する電圧計からの出力、この太陽電池の出力電
流iを測定する電流計からの出力、この太陽電池の太陽
電池温度T2を測定する温度センサからの出力、および
この太陽電池に対する日射強度E2を測定する日射計か
らの出力が加えられる入力手段と、基準状態に保たれて
いる基準太陽電池の各出力電圧V1に対する出力電流I1
を記憶し、基準状態の太陽電池温度T1および日射強度
E1を記憶し、基準太陽電池の直列抵抗RS、曲線補正因
子K、温度が1[℃]変化したときの短絡電流ISCの変
化αおよび開放電圧VOCの変化βを記憶する記憶手段
と、入力手段に加えられた出力電圧vと出力電流iとの
積から、電力値を算出して記憶手段に記憶し、太陽電池
温度T2および日射強度E2と、記憶手段に記憶されてい
るデータとから、 I2=I1+ISC{(E2/E1)−1}+α(T2−T1) V2=V1+β(T2−T1)−RS(I2−I1)−KI2(T2−T1) の式を用いて、基準太陽電池の出力電流I2と出力電圧
V2とを算出して記憶手段に記憶し、この算出した出力
電流I2と出力電圧V2との積から電力値をそれぞれ算出
して記憶手段に記憶し、記憶手段に記憶した出力電流I
2、出力電圧V2、出力電圧V2に対する電力値、出力電
圧v、出力電流i、および出力電圧vに対する電力値を
出力する処理手段と、処理手段が出力したデータの表示
とプリントアウトの少なくとも1つを行う出力手段とを
備える。
め、請求項1の発明は、測定対象の太陽電池の出力電圧
vを測定する電圧計からの出力、この太陽電池の出力電
流iを測定する電流計からの出力、この太陽電池の太陽
電池温度T2を測定する温度センサからの出力、および
この太陽電池に対する日射強度E2を測定する日射計か
らの出力が加えられる入力手段と、基準状態に保たれて
いる基準太陽電池の各出力電圧V1に対する出力電流I1
を記憶し、基準状態の太陽電池温度T1および日射強度
E1を記憶し、基準太陽電池の直列抵抗RS、曲線補正因
子K、温度が1[℃]変化したときの短絡電流ISCの変
化αおよび開放電圧VOCの変化βを記憶する記憶手段
と、入力手段に加えられた出力電圧vと出力電流iとの
積から、電力値を算出して記憶手段に記憶し、太陽電池
温度T2および日射強度E2と、記憶手段に記憶されてい
るデータとから、 I2=I1+ISC{(E2/E1)−1}+α(T2−T1) V2=V1+β(T2−T1)−RS(I2−I1)−KI2(T2−T1) の式を用いて、基準太陽電池の出力電流I2と出力電圧
V2とを算出して記憶手段に記憶し、この算出した出力
電流I2と出力電圧V2との積から電力値をそれぞれ算出
して記憶手段に記憶し、記憶手段に記憶した出力電流I
2、出力電圧V2、出力電圧V2に対する電力値、出力電
圧v、出力電流i、および出力電圧vに対する電力値を
出力する処理手段と、処理手段が出力したデータの表示
とプリントアウトの少なくとも1つを行う出力手段とを
備える。
【0008】請求項2の発明は、測定対象の太陽電池の
出力電圧vおよび出力電流iと、この太陽電池の太陽電
池温度T2および日射強度E2とをキー入力するための入
力手段と、基準状態に保たれている基準太陽電池の各出
力電圧V1に対する出力電流I1を記憶し、基準状態の太
陽電池温度T1および日射強度E1を記憶し、基準太陽電
池の直列抵抗RS、曲線補正因子K、温度が1[℃]変
化したときの短絡電流ISCの変化αおよび開放電圧VOC
の変化βを記憶する記憶手段と、入力手段に加えられた
出力電圧v、出力電流i、太陽電池温度T2および日射
強度E2を記憶手段に記憶し、出力電圧vと出力電流i
との積から、電力値を算出して記憶手段に記憶し、太陽
電池温度T2および日射強度E2と、記憶手段に記憶され
ているデータとから、 I2=I1+ISC{(E2/E1)−1}+α(T2−T1) V2=V1+β(T2−T1)−RS(I2−I1)−KI2(T2−T1) の式を用いて、基準太陽電池の出力電流I2と出力電圧
V2とを算出して記憶手段に記憶し、この算出した出力
電流I2と出力電圧V2との積から電力値をそれぞれ算出
して記憶手段に記憶し、記憶手段に記憶した出力電流I
2、出力電圧V2、出力電圧V2に対する電力値、出力電
圧v、出力電流i、および出力電圧vに対する電力値を
出力する処理手段と、処理手段が出力したデータの表示
とプリントアウトの少なくとも1つを行う出力手段とを
備える。
出力電圧vおよび出力電流iと、この太陽電池の太陽電
池温度T2および日射強度E2とをキー入力するための入
力手段と、基準状態に保たれている基準太陽電池の各出
力電圧V1に対する出力電流I1を記憶し、基準状態の太
陽電池温度T1および日射強度E1を記憶し、基準太陽電
池の直列抵抗RS、曲線補正因子K、温度が1[℃]変
化したときの短絡電流ISCの変化αおよび開放電圧VOC
の変化βを記憶する記憶手段と、入力手段に加えられた
出力電圧v、出力電流i、太陽電池温度T2および日射
強度E2を記憶手段に記憶し、出力電圧vと出力電流i
との積から、電力値を算出して記憶手段に記憶し、太陽
電池温度T2および日射強度E2と、記憶手段に記憶され
ているデータとから、 I2=I1+ISC{(E2/E1)−1}+α(T2−T1) V2=V1+β(T2−T1)−RS(I2−I1)−KI2(T2−T1) の式を用いて、基準太陽電池の出力電流I2と出力電圧
V2とを算出して記憶手段に記憶し、この算出した出力
電流I2と出力電圧V2との積から電力値をそれぞれ算出
して記憶手段に記憶し、記憶手段に記憶した出力電流I
2、出力電圧V2、出力電圧V2に対する電力値、出力電
圧v、出力電流i、および出力電圧vに対する電力値を
出力する処理手段と、処理手段が出力したデータの表示
とプリントアウトの少なくとも1つを行う出力手段とを
備える。
【0009】
【作用】請求項1の発明によれば、入力手段は、利用者
が接続した電圧計、電流計、温度センサ、日射計からの
データを受け取ると、これらのデータを処理手段に送
る。
が接続した電圧計、電流計、温度センサ、日射計からの
データを受け取ると、これらのデータを処理手段に送
る。
【0010】処理手段は、入力手段からデータを受け取
ると、あらかじめ記憶している基準太陽電池の出力電圧
V1と出力電流I1を、出力電圧V2と出力電流I2に変換
する。つまり、処理手段は、基準状態の基準太陽電池の
I−V(電流−電圧)特性を、測定対象の太陽電池が置
かれている環境(太陽電池温度T2、日射強度E2)での
I−V特性に変換する。
ると、あらかじめ記憶している基準太陽電池の出力電圧
V1と出力電流I1を、出力電圧V2と出力電流I2に変換
する。つまり、処理手段は、基準状態の基準太陽電池の
I−V(電流−電圧)特性を、測定対象の太陽電池が置
かれている環境(太陽電池温度T2、日射強度E2)での
I−V特性に変換する。
【0011】また、処理手段は、温度がT2であり日射
強度がE2であるときの、基準太陽電池のI−V特性を
用いて、P−V(電力−電圧)特性を算出する。さら
に、処理手段は、測定対象の太陽電池の出力電圧vと出
力電流iとから電力値を算出する。
強度がE2であるときの、基準太陽電池のI−V特性を
用いて、P−V(電力−電圧)特性を算出する。さら
に、処理手段は、測定対象の太陽電池の出力電圧vと出
力電流iとから電力値を算出する。
【0012】この後、処理手段は、算出した出力電流I
2、出力電圧V2、各出力電圧V2に対する電力値、出力
電圧v、出力電流i、および出力電圧vに対する電力値
を出力手段に送る。
2、出力電圧V2、各出力電圧V2に対する電力値、出力
電圧v、出力電流i、および出力電圧vに対する電力値
を出力手段に送る。
【0013】出力手段は、処理手段からのデータの表示
とプリントアウトの少なくとも1つを行う。
とプリントアウトの少なくとも1つを行う。
【0014】このようにして、測定対象の太陽電池が置
かれている環境に、基準太陽電池を置いたときのデータ
と、測定対象のデータとを出力する。この結果、測定者
に、測定対象の太陽電池の良否を判断するためのデータ
を提供することができる。
かれている環境に、基準太陽電池を置いたときのデータ
と、測定対象のデータとを出力する。この結果、測定者
に、測定対象の太陽電池の良否を判断するためのデータ
を提供することができる。
【0015】請求項2の発明により、利用者は、測定対
象の太陽電池のデータを、キー入力により入力手段に加
える。この後、処理手段は、請求項1の発明と同じよう
な処理を行う。
象の太陽電池のデータを、キー入力により入力手段に加
える。この後、処理手段は、請求項1の発明と同じよう
な処理を行う。
【0016】これにより、測定対象の太陽電池が設置さ
れている場所とは別の所で、測定対象の太陽電池の良否
を判断するためのデータを、測定者が得ることができ
る。
れている場所とは別の所で、測定対象の太陽電池の良否
を判断するためのデータを、測定者が得ることができ
る。
【0017】
【実施例】次に、この発明の実施例を、図面を用いて説
明する。
明する。
【0018】[実施例1]図1は、この発明の実施例1
を示すブロック図である。この太陽電池テスターは、入
力手段としてキー入力部10、信号入力部20および変
換部30と、処理手段として処理部40と、記憶手段と
して記憶部50と、出力手段として出力部60とを備え
る。
を示すブロック図である。この太陽電池テスターは、入
力手段としてキー入力部10、信号入力部20および変
換部30と、処理手段として処理部40と、記憶手段と
して記憶部50と、出力手段として出力部60とを備え
る。
【0019】キー入力部10は、キー(図示を省略)を
備える。このキー入力部10の操作により、測定開始の
指示などが入力される。
備える。このキー入力部10の操作により、測定開始の
指示などが入力される。
【0020】信号入力部20は、測定対象の太陽電池の
データを入力するための端子21〜24を備える。端子
21には、日射計の出力が加えられ、端子22には、太
陽電池に接続された熱電対の出力が加えられる。これに
より、測定対象の太陽電池のの、日射強度E2と太陽電
池温度T2とのデータが加えられる。なお、日射計は、
測定対象の太陽電池の近辺に設置され、熱電対は、太陽
電池に接続されている。
データを入力するための端子21〜24を備える。端子
21には、日射計の出力が加えられ、端子22には、太
陽電池に接続された熱電対の出力が加えられる。これに
より、測定対象の太陽電池のの、日射強度E2と太陽電
池温度T2とのデータが加えられる。なお、日射計は、
測定対象の太陽電池の近辺に設置され、熱電対は、太陽
電池に接続されている。
【0021】端子23には、測定対象の太陽電池の出力
電圧vが加えられ、端子24には、測定対象の太陽電池
の出力電流iが加えられる。
電圧vが加えられ、端子24には、測定対象の太陽電池
の出力電流iが加えられる。
【0022】変換部30は、A/D(Analog/Digital)
変換回路31〜34を備える。A/D変換回路31は、
端子21に加えられる日射強度E2をデジタル信号に変
換し、A/D変換回路32は、端子22に加えられる太
陽電池温度T2をデジタル信号に変換する。 また、A
/D変換回路33は、端子23に加えられる出力電圧v
をデジタル信号に変換し、A/D変換回路34は、端子
24に加えられる出力電流iをデジタル信号に変換す
る。
変換回路31〜34を備える。A/D変換回路31は、
端子21に加えられる日射強度E2をデジタル信号に変
換し、A/D変換回路32は、端子22に加えられる太
陽電池温度T2をデジタル信号に変換する。 また、A
/D変換回路33は、端子23に加えられる出力電圧v
をデジタル信号に変換し、A/D変換回路34は、端子
24に加えられる出力電流iをデジタル信号に変換す
る。
【0023】記憶部50は、記憶回路51〜54を備え
る。記憶回路51は、内部にROM(Read only Memor
y)を備える。また、記憶回路52〜54は、内部にR
AM(Random Access Memory)を備える。これらのRA
Mは、電池(図示を省略)のバックアップにより、デー
タを保持する。
る。記憶回路51は、内部にROM(Read only Memor
y)を備える。また、記憶回路52〜54は、内部にR
AM(Random Access Memory)を備える。これらのRA
Mは、電池(図示を省略)のバックアップにより、デー
タを保持する。
【0024】記憶部50の記憶回路51は、処理部40
の処理手順などを、あらかじめ記憶する。
の処理手順などを、あらかじめ記憶する。
【0025】記憶回路52は、基準状態での基準太陽電
池のデータを記憶する。基準状態は、1000[W/m
2]の放射照度と25[℃]の太陽電池温度とに、太陽
電池を保った状態である。また、基準太陽電池は、測定
対象の太陽電池の良否を判断するときの基準となる。記
憶回路52が記憶するデータは、次のとおりである。
池のデータを記憶する。基準状態は、1000[W/m
2]の放射照度と25[℃]の太陽電池温度とに、太陽
電池を保った状態である。また、基準太陽電池は、測定
対象の太陽電池の良否を判断するときの基準となる。記
憶回路52が記憶するデータは、次のとおりである。
【0026】基準状態の太陽電池温度T1
基準状態の日射強度E1 基準
太陽電池の直列抵抗RS 基準
太陽電池の曲線補正因子K基準
太陽電池の短絡電流ISC 基準
太陽電池の温度が1[℃]変化したときの短絡電流
ISCの変化α基準 太陽電池の開放電圧VOC 基準 太陽電池の温度が1[℃]変化したときの開放電圧
VOCの変化β 記憶回路53は、基準状態での基準太陽電池のI−V
(電流−電圧)特性を記憶する。記憶部53が記憶する
特性は、図2に示すように、基準太陽電池のI−V特性
曲線101を表す、動作点A1から動作点Anのデータで
ある。具体的には、記憶部53は、次のデータを記憶す
る。
ISCの変化α基準 太陽電池の開放電圧VOC 基準 太陽電池の温度が1[℃]変化したときの開放電圧
VOCの変化β 記憶回路53は、基準状態での基準太陽電池のI−V
(電流−電圧)特性を記憶する。記憶部53が記憶する
特性は、図2に示すように、基準太陽電池のI−V特性
曲線101を表す、動作点A1から動作点Anのデータで
ある。具体的には、記憶部53は、次のデータを記憶す
る。
【0027】動作点A1の出力電圧V1、出力電流I1動
作点A2の出力電圧V2、出力電流I2…動作点Anの出力
電圧Vn、出力電流Inつまり、記憶部53は、出力電圧
と出力電流とを1組として、I−V特性曲線101上の
n組のデータを記憶する。
作点A2の出力電圧V2、出力電流I2…動作点Anの出力
電圧Vn、出力電流Inつまり、記憶部53は、出力電圧
と出力電流とを1組として、I−V特性曲線101上の
n組のデータを記憶する。
【0028】記憶部54は、A/D変換回路33,34
からの出力電圧v、出力電流iを記憶する。
からの出力電圧v、出力電流iを記憶する。
【0029】処理部40は、CPU(Central Processi
ng Unit)を内部に備え、記憶回路51に記憶されてい
る処理手順に従って、次の処理a〜処理eをする。
ng Unit)を内部に備え、記憶回路51に記憶されてい
る処理手順に従って、次の処理a〜処理eをする。
【0030】処理a.処理部40は、A/D変換回路3
3,34から、測定対象の太陽電池の出力電圧v、出力
電流iを受け取ると、このデータを、測定対象の太陽電
池の動作点Cの出力電圧v、出力電流iとして、記憶回
路54に記憶させる。
3,34から、測定対象の太陽電池の出力電圧v、出力
電流iを受け取ると、このデータを、測定対象の太陽電
池の動作点Cの出力電圧v、出力電流iとして、記憶回
路54に記憶させる。
【0031】処理b.処理部40は、変換部30のA/
D変換回路31,32から、日射強度E2と太陽電池温
度T2とを受け取ると、これらのデータを記憶回路54
に記憶させる。
D変換回路31,32から、日射強度E2と太陽電池温
度T2とを受け取ると、これらのデータを記憶回路54
に記憶させる。
【0032】処理c.処理部40は、先に記憶回路54
に記憶されているデータと、記憶回路53に記憶されて
いる、動作点A1の出力電圧V1、出力電流I1のデータ
と、記憶回路52に記憶されている、 基準状態の太陽電池温度T1 基準状態の日射強度E1 基準 太陽電池の直列抵抗RS 基準 太陽電池の曲線補正因子K基準 太陽電池の短絡電流ISC 基準 太陽電池の温度が1[℃]変化したときの短絡電流
ISCの変化α基準 太陽電池の開放電圧VOC 基準 太陽電池の温度が1[℃]変化したときの開放電圧
VOCの変化β のデータとを、次の式(1)に代入する。
に記憶されているデータと、記憶回路53に記憶されて
いる、動作点A1の出力電圧V1、出力電流I1のデータ
と、記憶回路52に記憶されている、 基準状態の太陽電池温度T1 基準状態の日射強度E1 基準 太陽電池の直列抵抗RS 基準 太陽電池の曲線補正因子K基準 太陽電池の短絡電流ISC 基準 太陽電池の温度が1[℃]変化したときの短絡電流
ISCの変化α基準 太陽電池の開放電圧VOC 基準 太陽電池の温度が1[℃]変化したときの開放電圧
VOCの変化β のデータとを、次の式(1)に代入する。
【0033】
I2=I1+ISC{(E2/E1)−1}+α(T2−T1) …(1)
処理部40は、この式(1)から、基準太陽電池が、日
射強度E2、太陽電池温度T2の状態に保たれたときの出
力電流I2を算出する。さらに、先のデータと出力電流
I2とを、次の式(2)に代入する。
射強度E2、太陽電池温度T2の状態に保たれたときの出
力電流I2を算出する。さらに、先のデータと出力電流
I2とを、次の式(2)に代入する。
【0034】
V2=V1+β(T2−T1)−RS(I2−I1)−KI2(T2−T1) …(2)
処理部40は、この式(2)から、基準太陽電池が日射
強度E2、太陽電池温度T2の状態に保たれたときの出力
電圧V2を算出する。
強度E2、太陽電池温度T2の状態に保たれたときの出力
電圧V2を算出する。
【0035】この処理により、処理部40は、出力電圧
V2と出力電流I2とを得る。この結果、処理部40は、
基準状態にある基準太陽電池の動作点A1のデータを用
いて、この基準太陽電池の環境を、日射強度E2と太陽
電池温度T2とに保ったときの動作点B1を算出したこと
になる。処理部40は、算出した動作点B1のデータ
を、記憶回路54に記憶させる。つまり、処理部40
は、動作点B1のデータを、動作点B1の出力電圧V21、
出力電流I21として記憶させる。同様にして、処理部4
0は、基準太陽電池の、動作点A2、…、動作点Anのデ
ータを変換して得たデータを、動作点B2の出力電圧V
22、出力電流I22…動作点Bnの出力電圧V2n、出力電
流I2nとして、記憶回路54に記憶させる。
V2と出力電流I2とを得る。この結果、処理部40は、
基準状態にある基準太陽電池の動作点A1のデータを用
いて、この基準太陽電池の環境を、日射強度E2と太陽
電池温度T2とに保ったときの動作点B1を算出したこと
になる。処理部40は、算出した動作点B1のデータ
を、記憶回路54に記憶させる。つまり、処理部40
は、動作点B1のデータを、動作点B1の出力電圧V21、
出力電流I21として記憶させる。同様にして、処理部4
0は、基準太陽電池の、動作点A2、…、動作点Anのデ
ータを変換して得たデータを、動作点B2の出力電圧V
22、出力電流I22…動作点Bnの出力電圧V2n、出力電
流I2nとして、記憶回路54に記憶させる。
【0036】処理d.処理部40は、記憶回路54に記
憶されている、基準太陽電池の、動作点B2、…、動作
点Bnのデータを用いて、電力値を算出する。処理部4
0は、算出した、電力値PB1、電力値PB2、…、電力値
PBnを記憶回路54に記憶させる。同じく、処理部40
は、記憶回路54に記憶されている、測定対象の太陽電
池の動作点Cのデータを用いて、電力値Pcを算出す
る。処理部40は、算出した電力値Pcを記憶回路54
に記憶させる。
憶されている、基準太陽電池の、動作点B2、…、動作
点Bnのデータを用いて、電力値を算出する。処理部4
0は、算出した、電力値PB1、電力値PB2、…、電力値
PBnを記憶回路54に記憶させる。同じく、処理部40
は、記憶回路54に記憶されている、測定対象の太陽電
池の動作点Cのデータを用いて、電力値Pcを算出す
る。処理部40は、算出した電力値Pcを記憶回路54
に記憶させる。
【0037】処理e.処理部40は、記憶回路54に記
憶されている、 動作点B1、動作点B2、…、動作点Bn 動作点C 電力値PB1、電力値PB2、…、電力値PBn 電力値Pc のデータを出力部60に出力する。
憶されている、 動作点B1、動作点B2、…、動作点Bn 動作点C 電力値PB1、電力値PB2、…、電力値PBn 電力値Pc のデータを出力部60に出力する。
【0038】出力部60は、表示回路61とプリンタ回
路62とを備える。
路62とを備える。
【0039】出力部60の表示回路61は、LCD(Li
quid Crystal Display)(図示を省略)を備え、処理部
40から受け取ったデータをLCDに表示する。また、
プリンタ回路62は、処理部40から受け取ったデータ
をプリントする。
quid Crystal Display)(図示を省略)を備え、処理部
40から受け取ったデータをLCDに表示する。また、
プリンタ回路62は、処理部40から受け取ったデータ
をプリントする。
【0040】次に、実施例1の動作について説明する。
【0041】設置されている太陽電池の良否を判断する
場合、測定者は、この測定対象の太陽電池に、日射計と
熱電対を接続し、日射計と熱電対の出力を、太陽電池テ
スターの信号入力部20の端子21と端子22とにそれ
ぞれ接続する。さらに、測定者は、太陽電池に電圧計と
電流計とを接続し、電圧計と電流計の出力を信号入力部
20の端子23と端子24とにそれぞれ接続する。
場合、測定者は、この測定対象の太陽電池に、日射計と
熱電対を接続し、日射計と熱電対の出力を、太陽電池テ
スターの信号入力部20の端子21と端子22とにそれ
ぞれ接続する。さらに、測定者は、太陽電池に電圧計と
電流計とを接続し、電圧計と電流計の出力を信号入力部
20の端子23と端子24とにそれぞれ接続する。
【0042】これらの接続が終了すると、測定者は、太
陽電池テスターのキー入力部10を操作して、測定開始
の指示を入力する。
陽電池テスターのキー入力部10を操作して、測定開始
の指示を入力する。
【0043】測定開始の指示により、太陽電池テスター
の処理部40は、処理aを行い、A/D変換回路33,
34から受け取った、測定対象の太陽電池の出力電圧
v、出力電流iを、このデータを測定対象の太陽電池
の、動作点Cの出力電圧v、出力電流iとして、記憶回
路54に記憶させる。また、処理部40は、処理bを行
い、変換部30のA/D変換回路31,32から受け取
った、測定対象の太陽電池の日射強度E2と太陽電池温
度T2とを記憶回路54に記憶させる。
の処理部40は、処理aを行い、A/D変換回路33,
34から受け取った、測定対象の太陽電池の出力電圧
v、出力電流iを、このデータを測定対象の太陽電池
の、動作点Cの出力電圧v、出力電流iとして、記憶回
路54に記憶させる。また、処理部40は、処理bを行
い、変換部30のA/D変換回路31,32から受け取
った、測定対象の太陽電池の日射強度E2と太陽電池温
度T2とを記憶回路54に記憶させる。
【0044】この後、処理部40は、処理cを行い、基
準状態の基準太陽電池の、動作点A1、…、動作点Anを
変換して得た、動作点B1、…、動作点Bnの値を記憶回
路54に記憶させる。この処理cにより、処理部40
は、図3に示すように、基準状態の基準太陽電池の特性
曲線101を、日射強度E2と太陽電池温度T2との状態
に環境を変えたときの特性曲線111に変換する。
準状態の基準太陽電池の、動作点A1、…、動作点Anを
変換して得た、動作点B1、…、動作点Bnの値を記憶回
路54に記憶させる。この処理cにより、処理部40
は、図3に示すように、基準状態の基準太陽電池の特性
曲線101を、日射強度E2と太陽電池温度T2との状態
に環境を変えたときの特性曲線111に変換する。
【0045】処理c後、処理部40は、処理dを行い、
新たに算出した、動作点B2、…、動作点Bnの電圧に電
流を掛けて、電力値PB1、電力値PB2、…、電力値PBn
を算出し、記憶回路54に記憶させる。また、処理部4
0は、測定対象の太陽電池の動作点Cの電圧vに電流i
を掛けて、電力値Pcを算出し、この値を記憶回路54
に記憶させる。
新たに算出した、動作点B2、…、動作点Bnの電圧に電
流を掛けて、電力値PB1、電力値PB2、…、電力値PBn
を算出し、記憶回路54に記憶させる。また、処理部4
0は、測定対象の太陽電池の動作点Cの電圧vに電流i
を掛けて、電力値Pcを算出し、この値を記憶回路54
に記憶させる。
【0046】これらの算出と記憶保持を終了すると、記
憶回路54は、 動作点B1、動作点B2、…、動作点Bn 動作点C 電力値PB1、電力値PB2、…、電力値PBn 電力値Pc を記憶する。処理部40は、処理eを行い、これらのデ
ータを出力部60の表示回路61とプリンタ回路62と
に送る。
憶回路54は、 動作点B1、動作点B2、…、動作点Bn 動作点C 電力値PB1、電力値PB2、…、電力値PBn 電力値Pc を記憶する。処理部40は、処理eを行い、これらのデ
ータを出力部60の表示回路61とプリンタ回路62と
に送る。
【0047】表示回路61は、処理部40からデータを
受け取ると、図4に示すように、動作点B1、動作点
B2、…、動作点Bnで示される曲線111と、電力値P
B1、電力値PB2、…、電力値PBnで示される曲線112
とを表示する。同時に、表示回路61は、動作点Cと電
力値Pcで示される点を表示する。プリンタ回路62
は、曲線111,112と、動作点Cと、電力値Pcと
のプリントアウトをする。
受け取ると、図4に示すように、動作点B1、動作点
B2、…、動作点Bnで示される曲線111と、電力値P
B1、電力値PB2、…、電力値PBnで示される曲線112
とを表示する。同時に、表示回路61は、動作点Cと電
力値Pcで示される点を表示する。プリンタ回路62
は、曲線111,112と、動作点Cと、電力値Pcと
のプリントアウトをする。
【0048】このように、実施例1により、測定対象の
太陽電池の良否を判断するためのデータを出力すること
ができる。つまり、基準にする基準太陽電池を、測定対
象の太陽電池が置かれている状態(日射強度E2、太陽
電池温度T2)に設置しなくても、この状態の基準太陽
電池のI−V特性と、測定対象の太陽電池の動作点との
データを出力することができる。
太陽電池の良否を判断するためのデータを出力すること
ができる。つまり、基準にする基準太陽電池を、測定対
象の太陽電池が置かれている状態(日射強度E2、太陽
電池温度T2)に設置しなくても、この状態の基準太陽
電池のI−V特性と、測定対象の太陽電池の動作点との
データを出力することができる。
【0049】これらのデータにより、測定者は、図4に
示すように、動作点Cと電力値Pcと、これらの点に対
応する、曲線111の動作点Bkと電力値Pkとを比較す
る。この比較により、測定者は、測定対象の太陽電池の
劣化を調べることができる。
示すように、動作点Cと電力値Pcと、これらの点に対
応する、曲線111の動作点Bkと電力値Pkとを比較す
る。この比較により、測定者は、測定対象の太陽電池の
劣化を調べることができる。
【0050】[実施例2]図5は、この発明の実施例2
を示すブロック図である。この太陽電池テスターは、入
力手段としてキー入力部70と、処理手段として処理部
80と、記憶手段として記憶部50と、出力手段として
出力部60とを備える。
を示すブロック図である。この太陽電池テスターは、入
力手段としてキー入力部70と、処理手段として処理部
80と、記憶手段として記憶部50と、出力手段として
出力部60とを備える。
【0051】なお、記憶部50と出力部60とは、実施
例1と同じであるので、説明を省略する。
例1と同じであるので、説明を省略する。
【0052】キー入力部70は、数値入力用のテンキー
(図示を省略)などを備える。このキー入力部70の操
作により、測定開始の指示や、測定対象の太陽電池の日
射強度E2、太陽電池温度T2、出力電圧vおよび出力電
流iのデータが入力される。
(図示を省略)などを備える。このキー入力部70の操
作により、測定開始の指示や、測定対象の太陽電池の日
射強度E2、太陽電池温度T2、出力電圧vおよび出力電
流iのデータが入力される。
【0053】処理部80は、CPU(Central Processi
ng Unit)を内部に備え、記憶回路51に記憶されてい
る処理手順に従って、次の処理a1〜処理eをする。
ng Unit)を内部に備え、記憶回路51に記憶されてい
る処理手順に従って、次の処理a1〜処理eをする。
【0054】処理a2
処理部80は、キー入力部70から、測定対象の太陽電
池の出力電圧v、出力電流iを受け取る。処理部80
は、これらのデータを、測定対象の太陽電池の動作点C
の出力電圧v、出力電流iとして、記憶回路54に記憶
させる。
池の出力電圧v、出力電流iを受け取る。処理部80
は、これらのデータを、測定対象の太陽電池の動作点C
の出力電圧v、出力電流iとして、記憶回路54に記憶
させる。
【0055】処理b2
処理部80は、キー入力部70から、日射強度E2と太
陽電池温度T2とを受け取ると、これらのデータを記憶
回路54に記憶させる。
陽電池温度T2とを受け取ると、これらのデータを記憶
回路54に記憶させる。
【0056】処理b2の後、処理部80は、実施例1の
処理部40の処理c〜処理eを行うので、処理b2後の
説明を省略する。
処理部40の処理c〜処理eを行うので、処理b2後の
説明を省略する。
【0057】次に、実施例2の動作について説明する。
【0058】設置されている太陽電池の良否を判断する
場合、測定者は、この測定対象の太陽電池に、日射計と
熱電対を接続する。また、測定者は、太陽電池に電圧計
と電流計とを接続する。
場合、測定者は、この測定対象の太陽電池に、日射計と
熱電対を接続する。また、測定者は、太陽電池に電圧計
と電流計とを接続する。
【0059】この後、測定者は、太陽電池テスターのキ
ー入力部70を操作して、測定開始の指示を入力する。
そして、測定者は、日射計、熱電対、電圧計および電流
計とから読み取ったデータを、キー入力部70を操作し
て加える。
ー入力部70を操作して、測定開始の指示を入力する。
そして、測定者は、日射計、熱電対、電圧計および電流
計とから読み取ったデータを、キー入力部70を操作し
て加える。
【0060】測定開始の指示の後、太陽電池テスターの
処理部80は、処理a2を行い、キー入力部70から受
け取った、測定対象の太陽電池の出力電圧v、出力電流
iを、測定対象の太陽電池の、動作点Cの出力電圧v、
出力電流iとして、記憶回路54に記憶させる。また、
処理部80は、処理b2を行い、キー入力部70から受
け取った、測定対象の太陽電池の日射強度E2、太陽電
池温度T2を記憶回路54に記憶させる。
処理部80は、処理a2を行い、キー入力部70から受
け取った、測定対象の太陽電池の出力電圧v、出力電流
iを、測定対象の太陽電池の、動作点Cの出力電圧v、
出力電流iとして、記憶回路54に記憶させる。また、
処理部80は、処理b2を行い、キー入力部70から受
け取った、測定対象の太陽電池の日射強度E2、太陽電
池温度T2を記憶回路54に記憶させる。
【0061】この後、処理部80は、処理c〜処理eを
行い、最終的に、 動作点B1、動作点B2、…、動作点Bn 動作点C 電力値PB1、電力値PB2、…、電力値PBn 電力値Pc のデータを出力部60の表示回路61とプリンタ回路6
2とに送る。
行い、最終的に、 動作点B1、動作点B2、…、動作点Bn 動作点C 電力値PB1、電力値PB2、…、電力値PBn 電力値Pc のデータを出力部60の表示回路61とプリンタ回路6
2とに送る。
【0062】これらのデータは、実施例1と同様に、表
示回路61とプリンタ回路62とに出力される。
示回路61とプリンタ回路62とに出力される。
【0063】実施例2により、測定者は、測定対象の太
陽電池が設置されている場所とは別の所で、測定対象の
太陽電池のデータをキー入力部70に入力すると、良否
を判断するためのデータを得ることができる。
陽電池が設置されている場所とは別の所で、測定対象の
太陽電池のデータをキー入力部70に入力すると、良否
を判断するためのデータを得ることができる。
【0064】
【発明の効果】以上、説明したように、請求項1の発明
によれば、測定対象の太陽電池の良否を判断するとき、
基準にする太陽電池を不要にすることができる。さら
に、測定対象の太陽電池を設置した状態で、測定対象の
太陽電池の良否を判断するために必要なデータを、測定
者に提供することができる。
によれば、測定対象の太陽電池の良否を判断するとき、
基準にする太陽電池を不要にすることができる。さら
に、測定対象の太陽電池を設置した状態で、測定対象の
太陽電池の良否を判断するために必要なデータを、測定
者に提供することができる。
【0065】請求項2の発明により、測定者は、測定対
象の太陽電池が設置されている場所とは別の所で、測定
対象の太陽電池の良否を判断するためのデータを得るこ
とができる。
象の太陽電池が設置されている場所とは別の所で、測定
対象の太陽電池の良否を判断するためのデータを得るこ
とができる。
【図1】この発明の実施例1を示すブロック図である。
【図2】太陽電池のI−V特性曲線を示す図である。
【図3】I−V特性曲線の変換の様子を示す図である。
【図4】実施例1が出力するグラフを示す図である。
【図5】この発明の実施例2を示すブロック図である。
50 記憶部
60 出力部
70 キー入力部
80 処理部
フロントページの続き
(56)参考文献 特開 平2−128206(JP,A)
特開 昭57−179674(JP,A)
特開 昭51−132091(JP,A)
特開 平7−202234(JP,A)
特開 平7−211929(JP,A)
特開 平7−221334(JP,A)
(58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名)
H01L 31/04 - 31/078
G01R 31/26
Claims (2)
- 【請求項1】測定対象の太陽電池の出力電圧vを測定す
る電圧計からの出力、この太陽電池の出力電流iを測定
する電流計からの出力、この太陽電池の太陽電池温度T
2を測定する温度センサからの出力、およびこの太陽電
池に対する日射強度E2を測定する日射計からの出力が
加えられる入力手段と、基準 状態に保たれている基準太陽電池の各出力電圧V1
に対する出力電流I1を記憶し、基準状態の太陽電池温
度T1および日射強度E1を記憶し、基準太陽電池の直列
抵抗RS、曲線補正因子K、温度が1[℃]変化したと
きの短絡電流ISCの変化αおよび開放電圧VOCの変化β
を記憶する記憶手段と、 入力手段に加えられた出力電圧vと出力電流iとの積か
ら、電力値を算出して記憶手段に記憶し、太陽電池温度
T2および日射強度E2と、記憶手段に記憶されているデ
ータとから、 I2=I1+ISC{(E2/E1)−1}+α(T2−T1) V2=V1+β(T2−T1)−RS(I2−I1)−KI2(T2−T1) の式を用いて、基準太陽電池の出力電流I2と出力電圧
V2とを算出して記憶手段に記憶し、この算出した出力
電流I2と出力電圧V2との積から電力値をそれぞれ算出
して記憶手段に記憶し、記憶手段に記憶した出力電流I
2、出力電圧V2、出力電圧V2に対する電力値、出力電
圧v、出力電流i、および出力電圧vに対する電力値を
出力する処理手段と、 処理手段が出力したデータの表示とプリントアウトの少
なくとも1つを行う出力手段とを備える太陽電池テスタ
ー。 - 【請求項2】測定対象の太陽電池の出力電圧vおよび出
力電流iと、この太陽電池の太陽電池温度T2および日
射強度E2とをキー入力するための入力手段と、基準 状態に保たれている基準太陽電池の各出力電圧V1
に対する出力電流I1を記憶し、基準状態の太陽電池温
度T1および日射強度E1を記憶し、基準太陽電池の直列
抵抗RS、曲線補正因子K、温度が1[℃]変化したと
きの短絡電流ISCの変化αおよび開放電圧VOCの変化β
を記憶する記憶手段と、 入力手段に加えられた出力電圧v、出力電流i、太陽電
池温度T2および日射強度E2を記憶手段に記憶し、出力
電圧vと出力電流iとの積から、電力値を算出して記憶
手段に記憶し、太陽電池温度T2および日射強度E2と、
記憶手段に記憶されているデータとから、 I2=I1+ISC{(E2/E1)−1}+α(T2−T1) V2=V1+β(T2−T1)−RS(I2−I1)−KI2(T2−T1) の式を用いて、基準太陽電池の出力電流I2と出力電圧
V2とを算出して記憶手段に記憶し、この算出した出力
電流I2と出力電圧V2との積から電力値をそれぞれ算出
して記憶手段に記憶し、記憶手段に記憶した出力電流I
2、出力電圧V2、出力電圧V2に対する電力値、出力電
圧v、出力電流i、および出力電圧vに対する電力値を
出力する処理手段と、 処理手段が出力したデータの表示とプリントアウトの少
なくとも1つを行う出力手段とを備える太陽電池テスタ
ー。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP08249395A JP3403854B2 (ja) | 1995-04-07 | 1995-04-07 | 太陽電池テスター |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP08249395A JP3403854B2 (ja) | 1995-04-07 | 1995-04-07 | 太陽電池テスター |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08278354A JPH08278354A (ja) | 1996-10-22 |
JP3403854B2 true JP3403854B2 (ja) | 2003-05-06 |
Family
ID=13776027
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP08249395A Expired - Fee Related JP3403854B2 (ja) | 1995-04-07 | 1995-04-07 | 太陽電池テスター |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3403854B2 (ja) |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19828560C2 (de) * | 1998-06-26 | 2000-05-25 | Fraunhofer Ges Forschung | Vorrichtung zum Überprüfen von autonomen Solaranlagen |
JP5013637B2 (ja) * | 2000-07-04 | 2012-08-29 | キヤノン株式会社 | 光電変換特性の測定方法およびその装置 |
US7333916B2 (en) * | 2003-04-04 | 2008-02-19 | Bp Corporation North America Inc. | Performance monitor for a photovoltaic supply |
WO2005008260A1 (en) * | 2003-07-22 | 2005-01-27 | Icp Global Technologies Inc. | Solar panel having visual indicator |
CN100357755C (zh) * | 2004-04-22 | 2007-12-26 | 上海交通大学 | 太阳能电池有效扩散长度的测试方法 |
JP5162737B2 (ja) * | 2006-05-17 | 2013-03-13 | 英弘精機株式会社 | 太陽電池の特性評価装置 |
JP2010123880A (ja) * | 2008-11-21 | 2010-06-03 | Ntt Facilities Inc | 故障判定システム、故障判定方法、コンピュータプログラム |
JP5730716B2 (ja) * | 2011-09-01 | 2015-06-10 | 株式会社日立製作所 | 太陽光発電システムの故障診断方法 |
JP6003048B2 (ja) * | 2011-11-29 | 2016-10-05 | ソニー株式会社 | 発電装置 |
JP6295724B2 (ja) * | 2014-02-28 | 2018-03-20 | オムロン株式会社 | 太陽電池の評価装置、評価方法及び、太陽光発電システム |
KR101456122B1 (ko) * | 2014-08-08 | 2014-11-05 | 주식회사 미지에너텍 | 태양전지 모듈의 고장 진단 장치 및 방법 |
-
1995
- 1995-04-07 JP JP08249395A patent/JP3403854B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH08278354A (ja) | 1996-10-22 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3403854B2 (ja) | 太陽電池テスター | |
De Blas et al. | Selecting a suitable model for characterizing photovoltaic devices | |
Emery et al. | Solar cell efficiency measurements | |
US6639408B2 (en) | Battery voltage measurement device | |
US4163194A (en) | Voltage-current-power meter for photovoltaic solar arrays | |
US6885195B2 (en) | Method and apparatus for auditing a battery test | |
US6278052B1 (en) | Abnormality detection method, abnormality detection apparatus and solar cell power generating system using the same | |
JP3270303B2 (ja) | 電池電源装置特性測定装置および測定方法 | |
US4295097A (en) | Battery capacity measuring method and apparatus | |
EP1390771B1 (en) | Fuel cell voltage monitoring | |
TWI595744B (zh) | 太陽能板發電異常測試方法及其系統 | |
JP3560308B2 (ja) | 太陽電池の良否判定方法 | |
EP0505333B1 (en) | Estimating the charge of batteries | |
JPH10326902A (ja) | 太陽電池出力特性の測定装置及びその測定方法 | |
JP2002270878A (ja) | 太陽電池の出力評価方法,出力評価プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能なデータ記録媒体および出力評価装置 | |
JP3495139B2 (ja) | 蓄電池残存容量計測装置 | |
JP2000284017A (ja) | 太陽光発電における出力測定方法及び装置 | |
JP2003324207A (ja) | 太陽電池の出力・発電量評価方法および評価プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 | |
JP2000196115A (ja) | 太陽電池出力特性測定装置および太陽電池出力特性測定方法 | |
CN213149093U (zh) | 一种基于图像识别的直流充电桩误差检定装置 | |
Waters et al. | Monitoring the state of health of VRLA batteries through ohmic measurements | |
Warner et al. | A high power current-voltage curve tracer employing a capacitive load | |
KR100955584B1 (ko) | 휴대형 태양광 어레이 측정장치 | |
Mehta et al. | PV panel performance evaluation via accurate V–I polynomial with efficient computation | |
JP2018133955A (ja) | 太陽電池出力測定装置および測定方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090228 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100228 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110228 Year of fee payment: 8 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |