JPH08278354A - 太陽電池テスター - Google Patents

太陽電池テスター

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JPH08278354A
JPH08278354A JP7082493A JP8249395A JPH08278354A JP H08278354 A JPH08278354 A JP H08278354A JP 7082493 A JP7082493 A JP 7082493A JP 8249395 A JP8249395 A JP 8249395A JP H08278354 A JPH08278354 A JP H08278354A
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淳 伊賀
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 基準の太陽電池を不要にして、太陽電池の良
否の判断などに必要なデータを出力することができる太
陽電池テスターを提供する。 【構成】 測定対象の太陽電池の出力電圧vおよび出力
電流iと、この太陽電池の温度T2および日射量E2とを
キー入力するためのキー入力部70と、基準状態の標準
太陽電池のデータと、測定対象の太陽電池のデータとを
記憶する記憶部50と、記憶部50に記憶されている標
準太陽電池と測定対象の太陽電池のデータとから、測定
対象が置かれている状態(温度T2、日射量E2)の標準
太陽電池の出力電流I2、出力電圧V2、および出力電圧
2に対する電力値と、測定対象の太陽電池の出力電圧
v、出力電流i、および出力電圧vに対する電力値を出
力する処理部80と、処理部80が出力したデータの表
示とプリントアウトの少なくとも1つを行う出力部60
とを備える。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、太陽電池の良否の判
断などに必要なデータを出力する太陽電池テスターに関
する。
【0002】
【従来の技術】太陽電池の生産では、生産された太陽電
池の品質を一定に保つために、太陽電池の良否の判断が
必要になる。また、太陽電池を用いた発電では、良好な
状態での発電を保つために、既に使用されている太陽電
池の良否を判断して、不良の太陽電池を交換する必要が
ある。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】このように、太陽電池
の良否を判断する場合、例えば、測定対象の太陽電池の
特性と、基準の太陽電池の特性とを比較検討し、太陽電
池の良否を判断する。
【0004】一方、太陽電池が発生する電圧、電流は、
この太陽電池が置かれた環境で変化する。このために、
測定対象の太陽電池と、基準の太陽電池との比較によ
り、測定対象の太陽電池の良否を判断するときには、測
定対象の太陽電池と、基準となる太陽電池との、照度や
温度などの環境を一定の状態に保つ必要がある。
【0005】しかし、太陽電池の環境を一定の状態に保
つためには、大きな設備が必要となる。また、屋外で
は、設置された太陽電池の環境を一定に保つことは、困
難である。
【0006】この発明の目的は、このような欠点を除
き、基準の太陽電池を不要にして、太陽電池の良否の判
断などに必要なデータを出力することができる太陽電池
テスターを提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】その目的を達成するた
め、請求項1の発明は、測定対象の太陽電池の出力電圧
vを測定する電圧計からの出力、この太陽電池の出力電
流iを測定する電流計からの出力、この太陽電池の温度
2を測定する温度センサからの出力、およびこの太陽
電池に対する日射量E2を測定する日射計からの出力が
加えられる入力手段と、所定状態に保たれている標準太
陽電池の各出力電圧V1に対する出力電流I1を記憶し、
所定状態の温度T1および日射量E1を記憶し、標準太陽
電池の直列抵抗RS、補正係数K、温度が1[℃]変化
したときの短絡電流ISCの変化αおよび開放電圧VOC
変化βを記憶する記憶手段と、入力手段に加えられた出
力電圧vと出力電流iとの積から、電力値を算出して記
憶手段に記憶し、温度T2および日射量E2と、記憶手段
に記憶されているデータとから、 I2=I1+ISC{(E2/E1)−1}+α(T2−T1) V2=V1+β(T2−T1)−RS(I2−I1)−KI
2(T2−T1) の式を用いて、標準太陽電池の出力電流I2と出力電圧
2とを算出して記憶手段に記憶し、この算出した出力
電流I2と出力電圧V2との積から電力値をそれぞれ算出
して記憶手段に記憶し、記憶手段に記憶した出力電流I
2、出力電圧V2、出力電圧V2に対する電力値、出力電
圧v、出力電流i、および出力電圧vに対する電力値を
出力する処理手段と、処理手段が出力したデータの表示
とプリントアウトの少なくとも1つを行う出力手段とを
備える。
【0008】請求項2の発明は、測定対象の太陽電池の
出力電圧vおよび出力電流iと、この太陽電池の温度T
2および日射量E2とをキー入力するための入力手段と、
所定状態に保たれている標準太陽電池の各出力電圧V1
に対する出力電流I1を記憶し、所定状態の温度T1およ
び日射量E1を記憶し、標準太陽電池の直列抵抗RS、補
正係数K、温度が1[℃]変化したときの短絡電流ISC
の変化αおよび開放電圧VOCの変化βを記憶する記憶手
段と、入力手段に加えられた出力電圧v、出力電流i、
温度T2および日射量E2を記憶手段に記憶し、出力電圧
vと出力電流iとの積から、電力値を算出して記憶手段
に記憶し、温度T2および日射量E2と、記憶手段に記憶
されているデータとから、 I2=I1+ISC{(E2/E1)−1}+α(T2−T1) V2=V1+β(T2−T1)−RS(I2−I1)−KI
2(T2−T1) の式を用いて、標準太陽電池の出力電流I2と出力電圧
2とを算出して記憶手段に記憶し、この算出した出力
電流I2と出力電圧V2との積から電力値をそれぞれ算出
して記憶手段に記憶し、記憶手段に記憶した出力電流I
2、出力電圧V2、出力電圧V2に対する電力値、出力電
圧v、出力電流i、および出力電圧vに対する電力値を
出力する処理手段と、処理手段が出力したデータの表示
とプリントアウトの少なくとも1つを行う出力手段とを
備える。
【0009】
【作用】請求項1の発明によれば、入力手段は、利用者
が接続した電圧計、電流計、温度センサ、日射計からの
データを受け取ると、これらのデータを処理手段に送
る。
【0010】処理手段は、入力手段からデータを受け取
ると、あらかじめ記憶している標準太陽電池の出力電圧
1と出力電流I1を、出力電圧V2と出力電流I2に変換
する。つまり、処理手段は、所定状態の標準太陽電池の
I−V(電流−電圧)特性を、測定対象の太陽電池が置
かれている環境(温度T2、日射量E2)でのI−V特性
に変換する。
【0011】また、処理手段は、温度がT2であり日射
量がE2であるときの、標準太陽電池のI−V特性を用
いて、P−V(電力−電圧)特性を算出する。さらに、
処理手段は、測定対象の太陽電池の出力電圧vと出力電
流iとから電力値を算出する。
【0012】この後、処理手段は、算出した出力電流I
2、出力電圧V2、各出力電圧V2に対する電力値、出力
電圧v、出力電流i、および出力電圧vに対する電力値
を出力手段に送る。
【0013】出力手段は、処理手段からのデータの表示
とプリントアウトの少なくとも1つを行う。
【0014】このようにして、測定対象の太陽電池が置
かれている環境に、標準太陽電池を置いたときのデータ
と、測定対象のデータとを出力する。この結果、測定者
に、測定対象の太陽電池の良否を判断するためのデータ
を提供することができる。
【0015】請求項2の発明により、利用者は、測定対
象の太陽電池のデータを、キー入力により入力手段に加
える。この後、処理手段は、請求項1の発明と同じよう
な処理を行う。
【0016】これにより、測定対象の太陽電池が設置さ
れている場所とは別の所で、測定対象の太陽電池の良否
を判断するためのデータを、測定者が得ることができ
る。
【0017】
【実施例】次に、この発明の実施例を、図面を用いて説
明する。
【0018】[実施例1]図1は、この発明の実施例1
を示すブロック図である。この太陽電池テスターは、入
力手段としてキー入力部10、信号入力部20および変
換部30と、処理手段として処理部40と、記憶手段と
して記憶部50と、出力手段として出力部60とを備え
る。
【0019】キー入力部10は、キー(図示を省略)を
備える。このキー入力部10の操作により、測定開始の
指示などが入力される。
【0020】信号入力部20は、測定対象の太陽電池の
データを入力するための端子21〜24を備える。端子
21には、日射計の出力が加えられ、端子22には、太
陽電池に接続された熱電対の出力が加えられる。これに
より、測定対象の太陽電池のの、日射量E2と温度T2
のデータが加えられる。なお、日射計は、測定対象の太
陽電池の近辺に設置され、熱電対は、太陽電池に接続さ
れている。
【0021】端子23には、測定対象の太陽電池の出力
電圧vが加えられ、端子24には、測定対象の太陽電池
の出力電流iが加えられる。
【0022】変換部30は、A/D(Analog/Digital)
変換回路31〜34を備える。A/D変換回路31は、
端子21に加えられる日射量E2をデジタル信号に変換
し、A/D変換回路32は、端子22に加えられる温度
2をデジタル信号に変換する。また、A/D変換回路
33は、端子23に加えられる出力電圧vをデジタル信
号に変換し、A/D変換回路34は、端子24に加えら
れる出力電流iをデジタル信号に変換する。
【0023】記憶部50は、記憶回路51〜54を備え
る。記憶回路51は、内部にROM(Read only Memor
y)を備える。また、記憶回路52〜54は、内部にR
AM(Random Access Memory)を備える。これらのRA
Mは、電池(図示を省略)のバックアップにより、デー
タを保持する。
【0024】記憶部50の記憶回路51は、処理部40
の処理手順などを、あらかじめ記憶する。
【0025】記憶回路52は、基準状態での標準太陽電
池のデータを記憶する。基準状態は、1000[W/m
2]の放射照度と25[℃]のモジュール温度とに、太
陽電池を保った状態である。また、標準太陽電池は、測
定対象の太陽電池の良否を判断するときの基準となる。
記憶回路52が記憶するデータは、次のとおりである。
【0026】基準状態の温度T1 基準状態の日射量E1 標準太陽電池の直列抵抗RS 標準太陽電池の補正係数K 標準太陽電池の短絡電流ISC 標準太陽電池の温度が1[℃]変化したときの短絡電流
SCの変化α 標準太陽電池の開放電圧VOC 標準太陽電池の温度が1[℃]変化したときの開放電圧
OCの変化β 記憶回路53は、基準状態での標準太陽電池のI−V
(電流−電圧)特性を記憶する。記憶部53が記憶する
特性は、図2に示すように、標準太陽電池のI−V特性
曲線101を表す、動作点A1から動作点Anのデータで
ある。具体的には、記憶部60は、次のデータを記憶す
る。
【0027】動作点A1の出力電圧V1、出力電流I1 動作点A2の出力電圧V2、出力電流I2 … 動作点Anの出力電圧Vn、出力電流In つまり、記憶部53は、出力電圧と出力電流とを1組と
して、I−V特性曲線101上のn組のデータを記憶す
る。
【0028】記憶部54は、A/D変換回路33,34
からの出力電圧v、出力電流iを記憶する。
【0029】処理部40は、CPU(Central Processi
ng Unit)を内部に備え、記憶回路51に記憶されてい
る処理手順に従って、次の処理a〜処理eをする。
【0030】処理a.処理部40は、A/D変換回路3
3,34から、測定対象の太陽電池の出力電圧v、出力
電流iを受け取ると、このデータを、測定対象の太陽電
池の動作点Cの出力電圧v、出力電流iとして、記憶回
路54に記憶させる。
【0031】処理b.処理部40は、変換部30のA/
D変換回路31,32から、日射量E2と温度T2とを受
け取ると、これらのデータを記憶回路54に記憶させ
る。
【0032】処理c.処理部40は、先に記憶回路54
に記憶されているデータと、記憶回路53に記憶されて
いる、動作点A1の出力電圧V1、出力電流I1のデータ
と、記憶回路52に記憶されている、 基準状態の温度T1 基準状態の日射量E1 標準太陽電池の直列抵抗RS 標準太陽電池の補正係数K 標準太陽電池の短絡電流ISC 標準太陽電池の温度が1[℃]変化したときの短絡電流
SCの変化α 標準太陽電池の開放電圧VOC 標準太陽電池の温度が1[℃]変化したときの開放電圧
OCの変化β のデータとを、次の式(1)に代入する。
【0033】 I2=I1+ISC{(E2/E1)−1}+α(T2−T1) …(1) 処理部40は、この式(1)から、標準太陽電池が、日
射量E2、温度T2の状態に保たれたときの出力電流I2
を算出する。さらに、先のデータと出力電流I2とを、
次の式(2)に代入する。
【0034】 V2=V1+β(T2−T1)−RS(I2−I1)−KI2(T2−T1) …(2) 処理部40は、この式(2)から、標準太陽電池が日射
量E2、温度T2の状態に保たれたときの出力電圧V2
算出する。
【0035】この処理により、処理部40は、出力電圧
2と出力電流I2とを得る。この結果、処理部40は、
基準状態にある標準太陽電池の動作点A1のデータを用
いて、この標準太陽電池の環境を、日射量E2と温度T2
とに保ったときの動作点B1を算出したことになる。処
理部40は、算出した動作点B1のデータを、記憶回路
54に記憶させる。つまり、処理部40は、動作点B1
のデータを、動作点B1の出力電圧V21、出力電流I21
として記憶させる。同様にして、処理部40は、標準太
陽電池の、動作点A2、…、動作点Anのデータを変換し
て得たデータを、 動作点B2の出力電圧V22、出力電流I22 … 動作点Bnの出力電圧V2n、出力電流I2nとして、記憶
回路54に記憶させる。
【0036】処理d.処理部40は、記憶回路54に記
憶されている、標準太陽電池の、動作点B2、…、動作
点Bnのデータを用いて、電力値を算出する。処理部4
0は、算出した、電力値PB1、電力値PB2、…、電力値
Bnを記憶回路54に記憶させる。同じく、処理部40
は、記憶回路54に記憶されている、測定対象の太陽電
池の動作点Cのデータを用いて、電力値PCを算出す
る。処理部40は、算出した電力値PCを記憶回路54
に記憶させる。
【0037】処理e.処理部40は、記憶回路54に記
憶されている、 動作点B1、動作点B2、…、動作点Bn 動作点C 電力値PB1、電力値PB2、…、電力値PBn 電力値PC のデータを出力部60に出力する。
【0038】出力部60は、表示回路61とプリンタ回
路62とを備える。
【0039】出力部60の表示回路61は、LCD(Li
quid Crystal Display)(図示を省略)を備え、処理部
40から受け取ったデータをLCDに表示する。また、
プリンタ回路62は、処理部40から受け取ったデータ
をプリントする。
【0040】次に、実施例1の動作について説明する。
【0041】設置されている太陽電池の良否を判断する
場合、測定者は、この測定対象の太陽電池に、日射計と
熱電対を接続し、日射計と熱電対の出力を、太陽電池テ
スターの信号入力部20の端子21と端子22とにそれ
ぞれ接続する。さらに、測定者は、太陽電池に電圧計と
電流計とを接続し、電圧計と電流計の出力を信号入力部
20の端子23と端子24とにそれぞれ接続する。
【0042】これらの接続が終了すると、測定者は、太
陽電池テスターのキー入力部10を操作して、測定開始
の指示を入力する。
【0043】測定開始の指示により、太陽電池テスター
の処理部40は、処理aを行い、A/D変換回路33,
34から受け取った、測定対象の太陽電池の出力電圧
v、出力電流iを、このデータを測定対象の太陽電池
の、動作点Cの出力電圧v、出力電流iとして、記憶回
路54に記憶させる。また、処理部40は、処理bを行
い、変換部30のA/D変換回路31,32から受け取
った、測定対象の太陽電池の日射量E2と温度T2とを記
憶回路54に記憶させる。
【0044】この後、処理部40は、処理cを行い、基
準状態の標準太陽電池の、動作点A1、…、動作点An
変換して得た、動作点B1、…、動作点Bnの値を記憶回
路54に記憶させる。この処理cにより、処理部40
は、図3に示すように、基準状態の標準太陽電池の特性
曲線101を、日射量E2と温度T2との状態に環境を変
えたときの特性曲線111に変換する。
【0045】処理c後、処理部40は、処理dを行い、
新たに算出した、動作点B2、…、動作点Bnの電圧に電
流を掛けて、電力値PB1、電力値PB2、…、電力値PBn
を算出し、記憶回路54に記憶させる。また、処理部4
0は、測定対象の太陽電池の動作点Cの電圧vに電流i
を掛けて、電力値PCを算出し、この値を記憶回路54
に記憶させる。
【0046】これらの算出と記憶保持を終了すると、記
憶回路54は、 動作点B1、動作点B2、…、動作点Bn 動作点C 電力値PB1、電力値PB2、…、電力値PBn 電力値PC を記憶する。処理部40は、処理eを行い、これらのデ
ータを出力部60の表示回路61とプリンタ回路62と
に送る。
【0047】表示回路61は、処理部40からデータを
受け取ると、図4に示すように、動作点B1、動作点
2、…、動作点Bnで示される曲線111と、電力値P
B1、電力値PB2、…、電力値PBnで示される曲線112
とを表示する。同時に、表示回路61は、動作点Cと電
力値PCで示される点を表示する。プリンタ回路62
は、曲線111,112と、動作点Cと、電力値PC
のプリントアウトをする。
【0048】このように、実施例1により、測定対象の
太陽電池の良否を判断するためのデータを出力すること
ができる。つまり、基準にする標準太陽電池を、測定対
象の太陽電池が置かれている状態(日射量E2、温度
2)に設置しなくても、この状態の標準太陽電池のI
−V特性と、測定対象の太陽電池の動作点とのデータを
出力することができる。
【0049】これらのデータにより、測定者は、図4に
示すように、動作点Cと電力値PCと、これらの点に対
応する、曲線111の動作点Bkと電力値Pkとを比較す
る。この比較により、測定者は、測定対象の太陽電池の
劣化を調べることができる。
【0050】[実施例2]図5は、この発明の実施例2
を示すブロック図である。この太陽電池テスターは、入
力手段としてキー入力部70と、処理手段として処理部
80と、記憶手段として記憶部50と、出力手段として
出力部60とを備える。
【0051】なお、記憶部50と出力部60とは、実施
例1と同じであるので、説明を省略する。
【0052】キー入力部70は、数値入力用のテンキー
(図示を省略)などを備える。このキー入力部70の操
作により、測定開始の指示や、測定対象の太陽電池の日
射量E2、温度T2、出力電圧vおよび出力電流iのデー
タが入力される。
【0053】処理部80は、CPU(Central Processi
ng Unit)を内部に備え、記憶回路51に記憶されてい
る処理手順に従って、次の処理a1〜処理eをする。
【0054】処理a2 処理部80は、キー入力部70から、測定対象の太陽電
池の出力電圧v、出力電流iを受け取る。処理部80
は、これらのデータを、測定対象の太陽電池の動作点C
の出力電圧v、出力電流iとして、記憶回路54に記憶
させる。
【0055】処理b2 処理部80は、キー入力部70から、日射量E2と温度
2とを受け取ると、これらのデータを記憶回路54に
記憶させる。
【0056】処理b2の後、処理部80は、実施例1の
処理部40の処理c〜処理eを行うので、処理b2後の
説明を省略する。
【0057】次に、実施例2の動作について説明する。
【0058】設置されている太陽電池の良否を判断する
場合、測定者は、この測定対象の太陽電池に、日射計と
熱電対を接続する。また、測定者は、太陽電池に電圧計
と電流計とを接続する。
【0059】この後、測定者は、太陽電池テスターのキ
ー入力部70を操作して、測定開始の指示を入力する。
そして、測定者は、日射計、熱電対、電圧計および電流
計とから読み取ったデータを、キー入力部70を操作し
て加える。
【0060】測定開始の指示の後、太陽電池テスターの
処理部80は、処理a2を行い、キー入力部70から受
け取った、測定対象の太陽電池の出力電圧v、出力電流
iを、測定対象の太陽電池の、動作点Cの出力電圧v、
出力電流iとして、記憶回路54に記憶させる。また、
処理部80は、処理b2を行い、キー入力部70から受
け取った、測定対象の太陽電池の日射量E2、温度T2
記憶回路54に記憶させる。
【0061】この後、処理部80は、処理c〜処理eを
行い、最終的に、 動作点B1、動作点B2、…、動作点Bn 動作点C 電力値PB1、電力値PB2、…、電力値PBn 電力値PC のデータを出力部60の表示回路61とプリンタ回路6
2とに送る。
【0062】これらのデータは、実施例1と同様に、表
示回路61とプリンタ回路62とに出力される。
【0063】実施例2により、測定者は、測定対象の太
陽電池が設置されている場所とは別の所で、測定対象の
太陽電池のデータをキー入力部70に入力すると、良否
を判断するためのデータを得ることができる。
【0064】
【発明の効果】以上、説明したように、請求項1の発明
によれば、測定対象の太陽電池の良否を判断するとき、
基準にする太陽電池を不要にすることができる。さら
に、測定対象の太陽電池を設置した状態で、測定対象の
太陽電池の良否を判断するために必要なデータを、測定
者に提供することができる。
【0065】請求項2の発明により、測定者は、測定対
象の太陽電池が設置されている場所とは別の所で、測定
対象の太陽電池の良否を判断するためのデータを得るこ
とができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の実施例1を示すブロック図である。
【図2】太陽電池のI−V特性曲線を示す図である。
【図3】I−V特性曲線の変換の様子を示す図である。
【図4】実施例1が出力するグラフを示す図である。
【図5】この発明の実施例2を示すブロック図である。
【符号の説明】
50 記憶部 60 出力部 70 キー入力部 80 処理部

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 測定対象の太陽電池の出力電圧vを測定
    する電圧計からの出力、この太陽電池の出力電流iを測
    定する電流計からの出力、この太陽電池の温度T2を測
    定する温度センサからの出力、およびこの太陽電池に対
    する日射量E2を測定する日射計からの出力が加えられ
    る入力手段と、 所定状態に保たれている標準太陽電池の各出力電圧V1
    に対する出力電流I1を記憶し、所定状態の温度T1およ
    び日射量E1を記憶し、標準太陽電池の直列抵抗RS、補
    正係数K、温度が1[℃]変化したときの短絡電流ISC
    の変化αおよび開放電圧VOCの変化βを記憶する記憶手
    段と、 入力手段に加えられた出力電圧vと出力電流iとの積か
    ら、電力値を算出して記憶手段に記憶し、温度T2およ
    び日射量E2と、記憶手段に記憶されているデータとか
    ら、 I2=I1+ISC{(E2/E1)−1}+α(T2−T1) V2=V1+β(T2−T1)−RS(I2−I1)−KI
    2(T2−T1) の式を用いて、標準太陽電池の出力電流I2と出力電圧
    2とを算出して記憶手段に記憶し、この算出した出力
    電流I2と出力電圧V2との積から電力値をそれぞれ算出
    して記憶手段に記憶し、記憶手段に記憶した出力電流I
    2、出力電圧V2、出力電圧V2に対する電力値、出力電
    圧v、出力電流i、および出力電圧vに対する電力値を
    出力する処理手段と、 処理手段が出力したデータの表示とプリントアウトの少
    なくとも1つを行う出力手段とを備える太陽電池テスタ
    ー。
  2. 【請求項2】 測定対象の太陽電池の出力電圧vおよび
    出力電流iと、この太陽電池の温度T2および日射量E2
    とをキー入力するための入力手段と、 所定状態に保たれている標準太陽電池の各出力電圧V1
    に対する出力電流I1を記憶し、所定状態の温度T1およ
    び日射量E1を記憶し、標準太陽電池の直列抵抗RS、補
    正係数K、温度が1[℃]変化したときの短絡電流ISC
    の変化αおよび開放電圧VOCの変化βを記憶する記憶手
    段と、 入力手段に加えられた出力電圧v、出力電流i、温度T
    2および日射量E2を記憶手段に記憶し、出力電圧vと出
    力電流iとの積から、電力値を算出して記憶手段に記憶
    し、温度T2および日射量E2と、記憶手段に記憶されて
    いるデータとから、 I2=I1+ISC{(E2/E1)−1}+α(T2−T1) V2=V1+β(T2−T1)−RS(I2−I1)−KI
    2(T2−T1) の式を用いて、標準太陽電池の出力電流I2と出力電圧
    2とを算出して記憶手段に記憶し、この算出した出力
    電流I2と出力電圧V2との積から電力値をそれぞれ算出
    して記憶手段に記憶し、記憶手段に記憶した出力電流I
    2、出力電圧V2、出力電圧V2に対する電力値、出力電
    圧v、出力電流i、および出力電圧vに対する電力値を
    出力する処理手段と、 処理手段が出力したデータの表示とプリントアウトの少
    なくとも1つを行う出力手段とを備える太陽電池テスタ
    ー。
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