JP3376964B2 - 表面処理装置 - Google Patents

表面処理装置

Info

Publication number
JP3376964B2
JP3376964B2 JP19145799A JP19145799A JP3376964B2 JP 3376964 B2 JP3376964 B2 JP 3376964B2 JP 19145799 A JP19145799 A JP 19145799A JP 19145799 A JP19145799 A JP 19145799A JP 3376964 B2 JP3376964 B2 JP 3376964B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
base
lid
arm
surface treatment
closed space
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP19145799A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2000087264A (ja
Inventor
宏 土師
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Corp
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Panasonic Corp
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Panasonic Corp, Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Panasonic Corp
Priority to JP19145799A priority Critical patent/JP3376964B2/ja
Publication of JP2000087264A publication Critical patent/JP2000087264A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3376964B2 publication Critical patent/JP3376964B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • ing And Chemical Polishing (AREA)
  • Drying Of Semiconductors (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、密閉空間内で対象
物に表面処理を行う表面処理装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】例えば基板などの対象物に、密閉空間中
にてプラズマクリーニングやスパッタリング、その他の
表面処理を行う表面処理装置が、電子部品の製造ライン
や電子機器の組立ラインなどにおいて使用されている。
【0003】次に従来の表面処理装置について、図16
を参照しながら説明する。図16は従来の表面処理装置
の斜視図である。図16中、1は密閉空間を形成し、こ
の密閉空間内にて上述したような表面処理を行う本体、
2は本体1の前面に設けられた出入口、3は出入口2を
開閉するゲートである。また、ゲート3にて出入口2を
開閉するため、本体1に固定されるシリンダ4のロッド
5の上端部がゲート3に連結されている。
【0004】即ち、シリンダ4を駆動してロッド5を突
出させると、図16に示すように、ゲート3で出入口2
を塞いで、本体1内に密閉空間を形成することができ、
ロッド5を没入させると、出入口2を外部に露呈させる
ことができる。なお、ゲート3で出入口2を塞いだ際、
本体1内に密閉空間が形成されるようにするため、本体
1は、出入口2を除いて、外部に対して閉鎖されてい
る。
【0005】6は矢印Lで示す搬送ラインに沿って送ら
れる対象物であり、対象物6に表面処理を施すべきとき
は、搬送ラインL中に配置される供給部Tに対象物6が
一旦載置される。7は供給部Tに載置された表面処理前
の対象物6を本体1内へ入れ、あるいは本体1内にある
表面処理済みの対象物6を供給部T、即ち搬送ラインL
へ戻す出入手段である。
【0006】次に従来の表面処理装置の動作を説明す
る。まず本体1内を表面処理を行うための雰囲気とする
ため、出入口2はゲート3により塞がれている。次に、
対象物6が搬送ラインL方向に送られ、供給部T上へ載
置される。
【0007】次に出入手段7を駆動し、供給部T上から
対象物6を取出す。そして、ゲート3を下降させ出入口
2を開き、出入手段7により対象物6を本体1内へ入れ
る。
【0008】次に出入手段7を本体1から退避させ、ゲ
ート3を上昇させ出入口2を閉じる。これにより、本体
1内は密閉空間となり、その密閉空間内に対象物6が存
在することになる。
【0009】次に、本体1内において対象物6の表面処
理が行われる。そして表面処理が終了したら、ゲート3
を下降させ出入口2を開く。そして、退避していた出入
手段7を駆動して本体1内へ入れ、本体1内に存在する
表面処理済みの対象物6を、本体1から取出す。次に、
ゲート3を上昇させ出入口2を塞ぎ、出入手段7により
表面処理済みの対象物6を供給部Tへ戻す。この後表面
処理済みの対象物6は、搬送ラインLにより送出され
る。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
表面処理装置では次のような問題点があった。
【0011】第1に、従来の表面処理装置は、生産性が
低い。なぜなら、表面処理は、搬送ラインLにて送られ
る対象物に対し、次々に行われるべきものであるとこ
ろ、従来の表面処理装置では、前回表面処理した対象物
6を本体1から取出して、一旦本体1内を空にしない
と、次に表面処理すべき対象物6を本体1内に入れるこ
とができず、対象物6の出入に要するロスタイムが多い
からである。
【0012】第2に、従来の表面処理装置は、搬送ライ
ン内に配置できず、合理的なライン構成が行えない。な
ぜなら、出入口2が本体1の前面に1箇所のみしか設け
られておらず、本体1の片側からしか対象物6を出入れ
できないからである。より詳しく言えば、図16にて一
直線状の搬送ラインLが構成されているが、本体1には
1箇所の出入口2しかないため、本体1の一方から対象
物6を本体1内へ入れ、他方から対象物6を出すという
ことができない。
【0013】このため、必然的に搬送ラインLの外に出
入口2が位置するように本体1を配置し、搬送ラインL
から外れた出入口2と搬送ラインL上の供給部Tにおい
て、対象物6を、出入手段7などのように搬送ラインL
と出入口2を連結するものを媒介して、往復させざるを
得ない。
【0014】そこで本発明は、対象物の搬送を効率的に
行うことができ、しかも構造がシンプルな表面処理装
提供することを目的とする。
【0015】
【課題を解決するための手段】本発明の表面処理装置
は、ベースと、前記ベースに絶縁された状態で装着され
た電極と、対象物を搬送する搬送路の一部を構成し、
記電極上に対象物を案内するガイドと、前記電極に高周
波電圧を印可する高周波電源と、下方が開口しており、
かつベースに対して接離自在に支持され、ベースに密着
して密閉空間を形成する蓋と、前記密閉空間を減圧する
減圧手段と、前記密閉空間に動作ガスを供給するガス供
給部と、蓋の下端面をベースに接離させる接離手段と、
蓋がベースから離れているときに対象物を押送するアー
ムから成る搬送手段を備え、ベースは前記蓋の前記下端
面が密着するOリングを有し、このOリングはアームお
よび前記アームに押送されてベース上を横切る対象物に
接触しないようにベースに形成された溝に嵌め込まれて
おり、且つ前記ガイドはこのOリングの内側に固定され
ている。
【0016】
【0017】上記構成により、接離手段を用いて搬送路
に対して蓋を接離させる。そして、蓋が搬送路から離れ
ている際、蓋と搬送路との間に形成される隙間を介し
て、蓋の下方へ表面処理前の対象物を進入させる。また
この隙間を介して、蓋の下方にある表面処理済みの対象
物を蓋の下方から退避させる。
【0018】ここで、蓋が搬送路から離れているとき、
蓋と搬送路との間に形成される隙間は、水平面内のいず
れの方向にも空いているので、搬送路を蓋の下方を通る
一直線状となし、搬送路の一方側から蓋の下方へ表面処
理前の対象物を進入させ、それとほぼ同時並行して表面
処理済の対象物を蓋の下方から搬送路の他方側へ送出す
ることができる。即ち、表面処理装置を容易にインライ
ン展開することができ、しかも対象物の出入れによるロ
スタイムを極力少なくすることができる。
【0019】また、下方が閉口している蓋を搬送路に接
触させることで、密閉空間を形成するようにしてある。
ここで、対象物を搬送するために、搬送路は必要不可欠
のものであるが、この搬送路に、開口する蓋を閉鎖する
役割を兼務させている。即ち、従来の表面処理装置にお
いて必須のものであり、対象物の下方を包囲する本体の
下半分の構成要素を省略できる。このため、コンパクト
でシンプルな構造とすることができる。
【0020】
【発明の実施の形態】次に、図面を参照しながら本発明
の実施の形態を説明する。図1は、本発明の一実施の形
態における表面処理装置の全体斜視図である。なお、本
実施の形態の表面処理装置は、多数の構成要素を有し、
細かな部分については図示できない点も多々あるので、
まず、図1によって概略を説明した上で、順次詳細な説
明を行うこととする。
【0021】図1において、8は上面がほぼ水平に形成
された基台である。基台8の奥側には、基台8の上面よ
りも背が高い起立部8aが設けられ、起立部8aの前面
には、モニタ8bが配置されており、オペレータはモニ
タ8bにより表面処理装置の動作状況を把握できる。そ
して基台8の上面には、図1左下から右上へ一直線状の
搬送路Lが形成されている。9は搬送路Lの上流側に配
設され、表面処理前の対象物6を上下多段に収納する供
給マガジンである。10は、搬送路Lの下流側に配設さ
れ、表面処理済みの対象物6を収納する回収マガジンで
ある。11は供給マガジン9から表面処理前の対象物6
を、搬送路Lへ送り出す押出シリンダである。
【0022】12は基台8の上面のうち供給マガジン9
側であって、搬送路L上にインライン展開され、搬送路
Lの一部を構成するベース、13は下方が開口してお
り、ベース12に対して上方から接離自在に支持された
蓋である。ベース12、蓋13の構成は、後に詳述する
が、蓋13が、搬送路Lの一部を構成するベース12に
接した際、搬送路L上に密閉空間が形成されるようにな
っている。即ちベース12は、蓋13と共にこの密閉空
間を包囲する部材としての役割と、搬送路Lとしての役
割を兼務している。14はベース12と回収マガジン1
0の間であって、搬送路Lからやや奥側にオフセットし
た位置に配設されるワイヤボンディング部である。
【0023】本実施の形態では、対象物6として基板を
採用し、この対象物6に、蓋13とベース12により形
成される密閉空間にて、表面処理の一例としてのプラズ
マクリーニングを施して、基板の電極等に存在する付着
物あるいは折出物を除去し、この電極等をボンディング
しやすくする。そして、隣接するワイヤボンディング部
14で、プラズマクリーニングされた直後の対象物6に
対してボンディングを行い、回収マガジン10へ収納す
ることとしている。
【0024】15は先端部が搬送路Lに至り、搬送路L
に直交する第1アームであり、16は第1アーム15と
平行でかつ第1アーム15から搬送路Lの下流側に一定
距離を隔てた位置にある第2アームである。17は基台
8の上面の前側に搬送路Lと平行に長く形成されたカバ
ーである。そして、カバー17内には後に詳述するよう
に、第1アーム15、第2アーム16を上記一定距離を
隔てて平行にしたまま搬送路Lと平行に移動させるアー
ム移動機構が収納されている。
【0025】18は搬送路Lにおいてワイヤボンディン
グ部14よりも上流側から回収マガジン10までの間に
おいて、対象物6を搬送路Lに沿って案内する一対のガ
イドである。ここで、第1アーム15、第2アーム16
は、対象物6を搬送路Lに沿って搬送する搬送手段に対
応する。なお、アーム移動機構及び対象物6の搬送動作
は、後に詳述する。
【0026】次に図2〜図5を参照しながら、蓋13を
上昇/下降させ、また蓋13を水平/垂直の状態とする
ための機構(接離手段)について説明する。
【0027】ここで蓋13の姿勢について定義を行う。
まず蓋13の下端面が水平面内にあるとき、蓋13は水
平状態であるという。一方、蓋13の下端面が垂直面内
にあるとき、蓋13は垂直状態であるという。
【0028】また、蓋13の下端面が、ベース12に密
着しているとき、蓋13は下降状態であるといい、蓋1
3の下端面がベース12から離れ、蓋13とベース12
との間に隙間があいているとき蓋13は上昇状態である
という。そして、蓋13が水平状態であり、かつ下降状
態であるとき、これを水平下降状態というように、2つ
の状態が同時に成立しているときに、これらの状態を連
記して表現するものとする。
【0029】さて蓋13は、次に述べる機構によって、
水平下降状態、水平上昇状態及び垂直上昇状態の3つの
状態を採り得るように支持されている。図2では蓋13
が水平下降状態にあり、図3では蓋13が水平上昇状態
にある。
【0030】図2において、20は基台8の上面に固定
される水平部20aと、この水平部20aの両端部から
垂直に起立する起立部20b,20cを有するフレーム
である。またフレーム20の起立部20b,20cの上
部には、横断面がL字状をなし、先端が外側を向くガイ
ド21,22がそれぞれ突設されている。23はそのロ
ッド23aが上向きとなるように、水平部20aの中央
に固定される接離手段としてのシリンダである。ロッド
23aの上端部は、U字状をなすU字アーム24の水平
部24aの中央に連結されている。
【0031】そして、U字アーム24の水平部24aの
両端から上向きに起立する起立部24b,24cは、そ
れぞれ上述したガイド21,22が上下方向スライド自
在に係合している。また起立部24b,24cの上端部
には、軸26が装着され、この軸26によって垂直面内
を回転できるようにブラケット25が枢支されている。
ここで、図4に拡大して示しているように、ブラケット
25は2箇所で直角に折曲る略Z字状をなす。ブラケッ
ト25のうち、25aは第1片、25bは第1片25a
と同長で第1片25aに対して90度折曲がった第2片
である。そして、第1片25aと第2片25bの中心線
の交点が、軸26の軸心と一致するようになっている。
【0032】また25cは、第2片25bよりも長く形
成され、第2片25bに対し、第1片25aと第2片2
5bとの関係に対して逆向きに、90度折曲った第3片
である。そして、第1片25aと、第2片25bには、
軸26の軸心から見て等距離の位置に、それぞれ第1ピ
ン孔27、第2ピン孔28が厚さ方向に開けられてい
る。
【0033】また図4に示すように、第3片25cが水
平方向を向くとき、U字アーム24の起立部24b,2
4cのうち、第2片25bに開けられた第2ピン孔28
と一致する位置には、挿入孔24dが開けてある。した
がって、図4に示すように、ブラケット25の第3片2
5cが水平方向を向く際、第2ピン孔28と挿入孔24
dを一致させ、これらにピン30を挿通することによ
り、第3片25cが水平方向を向く位置においてブラケ
ット25の回転を禁止することができる。
【0034】また、ブラケット25の第3片25cの先
端部には、蓋13の側面13aを、矢印N2方向に揺動
可能に支持する軸29が装着されているから、上記のよ
うにブラケット25の回転を禁止しておくと、蓋13を
水平状態に保持できるものである。一方、図5に示すよ
うに、第3片25cを垂直方向に向けた際、第1片25
aに開けられた第1ピン孔27が、挿入孔24dと一致
する。このとき、第1ピン孔27と挿入孔24dに、ピ
ン30を挿通することにより、第3片25cを垂直方向
に起立させたままにしておくことができる。また上述し
たように、蓋13の側面13aは、軸29によりブラケ
ット25に対して揺動可能に支持されているので、蓋1
3を垂直状態とすることができる。
【0035】ここで、蓋13が垂直状態になると、蓋1
3の内部が外部に露呈する。したがって、蓋13の内部
に取付けられた部材の交換あるいは清掃等を容易に行う
ことができる。また、蓋13が起立することで、ベース
12の上部の空間が広くあくので、ベース12及びベー
ス12に取付けられた部材等について同様のメンテナン
スを行うことができる。
【0036】このように本実施の形態の表面処理装置で
は、蓋13を垂直状態として蓋13とベース12との間
の空間(この空間は搬送路Lの一部でもある)を広く開
放して、極めて容易にメンテナンスを行うことができる
ようになっている。
【0037】次に図2、図3を参照しながら、蓋13を
水平下降状態から水平上昇状態へ移行する動作について
説明する。さて図2に示すように、蓋13が水平下降状
態にあるとき、ロッド23aは没入し、ピン30は第2
ピン孔28と挿入孔24dに挿通されており、蓋13は
水平状態に保持されている。そして蓋13の下端面は、
ベース12に密着している。
【0038】ここで後述するように、蓋13が水平下降
状態にあり、蓋13とベース12により密閉空間が形成
され、この密閉空間内において表面処理が行われる際、
密閉空間は大気圧よりも低い圧力にされるので、ことさ
らにシリンダ23の動作力で蓋13をベース12に押し
付けなくとも、十分蓋13はベース12に密着する。
【0039】次に、蓋13を水平上昇状態にするには、
シリンダ23を駆動してロッド23aを突出させる。す
ると、U字アーム24がガイド21,22に案内されな
がら、垂直に上昇し、それに伴いブラケット25は、第
3片25cが水平方向を向く状態を維持したまま上昇す
る。その結果、蓋13が水平状態のままベース12から
離れて上昇する。これにより、図3に示すように、蓋1
3とベース12との間に隙間が形成され、対象物6を押
送する第1アーム15、第2アーム16がこの隙間の中
を通過できるようにすることができる(矢印N1)。
【0040】次に図6、図7を参照しながら、蓋13の
構成を詳細に説明する。図6は本発明の一実施の形態に
おける蓋を下側から見た分解斜視図である。図6に示す
ように、蓋13は下側が開口した形状をなしている。こ
のうち、13bは略矩形をなす蓋本体である。蓋本体1
3bは、対象物6を完全に内部に収納でき、対象物6に
表面処理としてのプラズマクリーニングを行う処理室1
3cと、この処理室13cよりも小さく、処理室13c
の側方に連続する排気室13dを備える。また13eは
処理室13c内を外部から観察するための窓、13fは
処理室13cに4箇所設けられたネジ孔である。
【0041】また、処理室13c及び排気室13dを囲
む壁には、インナーカバー31が取付けられる。このイ
ンナーカバー31のうち、処理室13c及び排気室13
dの内部側へ臨む表面Sには、細かな凸凹が多数形成さ
れ表面Sの実質的な表面積が大きくなるように工夫され
ている。これは、処理室13c内で対象物6がプラズマ
クリーニングされる際、削り取られた微小物質が飛散す
るのであるが、表面Sにこの微小物質が付着しやすくす
ることにより、対象物6から削り取られた微小物質が対
象物6に再付着しないようにするためのものである。
【0042】32はプラズマを発生するための第1電極
であり、第1電極32は、図7に示すように、ネジ孔3
2a及びネジ孔13fが止ネジ33でネジ止めされるこ
とにより、処理室13cに固定される。また第1電極3
2は、電気的にアースされる。
【0043】次に図8、図9を参照しながら、ベース1
2及びその関連部材について説明する。図8は、本発明
の一実施の形態におけるベースの分解斜視図である。図
8に示すように、ベース12は図7に示す蓋13よりも
少し大き目に形成された厚板から構成されている。ベー
ス12の中央部には、ケーブル35により高周波電圧が
印加される第2電極34を挿入するため、矩形の開口部
12aが開けられている。そして、ベース12のうち、
蓋13の処理室13cと対面する部分は、対象物6にプ
ラズマクリーニングを行うための処理エリアAとなって
おり、それに隣接して排気室13dに対面する部分は排
気エリアBとなっている。
【0044】ここで、ベース12のうち蓋13の下端面
に当接する部分には、溝12eが刻まれ、この溝12e
の中央部には、密着部としてのOリング39が嵌め込ま
れている。Oリング39の上端部は、図11に示すよう
にベース12の上面よりもやや下方に位置するようにな
っている。これは、図9の矢印N2で示すように、ベー
ス12上を対象物6が横切る際に、対象物6や第1アー
ム15、第2アーム16が、Oリング39に触れず、ス
ムーズに移動できるようにするためのものである。また
このようにベース12上を対象物6が横切る際、対象物
6や第1アーム15、第2アーム16が、Oリング39
に接触しないようにすることで、Oリング39の損傷を
回避し、密閉空間60内の気密性を高く保持して、真空
度が低下しないようにすることができる。
【0045】図8において、12bは後述するガスボン
ベから供給される動作ガスとしてのアルゴンガスを、処
理エリアA(即ち処理室13c)内へ供給するため、処
理エリアAの角部に開けられたガス供給口である。さら
にベース12の処理エリアAには、搬送路Lに直交する
向きに複数のネジ孔12cが開けられている。そして、
これらのネジ孔12cのうち、対象物6の幅にあうもの
が選択され、選択されたネジ孔12cに、搬送路Lの一
部を構成し、対象物6を案内するガイド40,41が止
ネジ42でOリング39の内部に固定される(図9も参
照)。勿論対象物6の幅が変更されたときは、選択する
ネジ孔12cの位置を変更して対応することができる。
またこれらのガイド40,41は絶縁体から構成されて
いる。
【0046】一方、ベース12の排気エリアBの中央部
には、表面処理が終了した後にアルゴンガスなどを外部
へ排気したり、処理室13c及び排気室13d内の大気
を外部へ排出したりするために、吸込口12dが開設さ
れている。また吸込口12dには、電気的にアースされ
た金網38がかぶせてあり、プラズマ発生時に帯電した
粒子が吸込口12dを通過しようとする際には、金網3
8で除電されるようになっている。一方、第2電極34
の下部には、第2電極34の動作時に発生する熱を外部
に放射するため、冷却フィン36が熱的に結合されてい
る。
【0047】ここで、従来の表面処理装置では、第2電
極34に相当する部材の周囲は、完全に壁面で包囲さ
れ、第2電極34に相当する部材の熱を外部に逃すこと
が困難であったため、第2電極34に相当する部材を水
冷方式で冷却していた。このようにすると、作動させる
水を循環させるための配管及びポンプなどの圧送装置、
さらに熱交換器などが必須となり、装置全体が大規範に
なっていた。しかし、本実施の形態のようにすると、第
2電極34の下方を外部に開放することができ、冷却フ
ィン36等を用いた空冷方式による冷却が可能となり、
コンパクトで効率のよい冷却を行うことができる。
【0048】さて第2電極34には、下方に段下りした
位置に、フランジ部34aが設けてある。そして、この
フランジ部34aと、ベース12の下面との間に、フラ
ンジ部34aと同形状の絶縁プレート37が介装され、
ベース12とフランジ部34aとが、ボルト43により
固定される。ここで、絶縁プレート37によりベース1
2と第2電極34が短絡しないようになっている。
【0049】図10は、本発明の一実施の形態における
表面処理装置の断面図である。図10では、蓋13が水
平上昇状態にあり、蓋13とベース12の間に隙間があ
いており、対象物6を第1アーム15で押送する状態を
示している。次に図10を参照しながら、第1アーム1
5及び第2アーム16の移動機構について説明する。
【0050】図1に示したカバー17の内部には、搬送
路Lと平行なリニアガイド44が設けられている。そし
てリニアガイド44には、移動フレーム46に固定され
たスライダ45がスライド自在に係合しており、移動フ
レーム46は搬送路Lと平行(紙面垂直方向)に自由に
移動できるようになっている。また移動フレーム46の
下部は、搬送路Lと平行に調帯されるタイミングベルト
49に固定され、タイミングベルト49にはモータ47
の駆動力がプーリ48を介して伝達される。
【0051】また移動フレーム46の上部には、軸50
が設けられ、この軸50には、先端部がカギ状に下向き
に折曲る第1アーム15の基端部が枢支されている。そ
して、移動フレーム46に固定されるシリンダ51のロ
ッド52は、第1アーム15の基部に連結されている。
【0052】したがって、モータ47を駆動すると、第
1アーム15を搬送路Lと平行に往復移動させることが
でき、シリンダ51を駆動してロッド52を突没させる
と、第1アーム15を鎖線で示すように対象物6から外
すこともできるし、第1アーム15を実線で示すように
対象物6の端部に当接させることができる。そして第1
アーム15を対象物6に当接させてモータ47を駆動す
ると、対象物6を搬送路Lに沿って押送することができ
る。また第2アーム16についても、第1アーム15と
同様の移動機構を備えている。ここで本実施の形態で
は、第1アーム15と第2アーム16を一定距離だけ離
して同一のタイミングベルト49に連結したが、第1ア
ーム15、第2アーム16を別々の移動手段により独立
して搬送路Lと平行移動させても良い。
【0053】さて図10において、53は冷却フィン3
6に送風するファンである。本実施例では、ファン53
から送られる風を、ワイヤボンディング部14の反対側
へ向けている。これは、送風によってワイヤボンディン
グ部14に影響を及ぼさないようにするためである。さ
て、蓋13を水平下降状態にすると、図11に示すよう
に、蓋13の下端面は、溝12e内のOリング39と密
着し、処理室13cと排気室13dとからなる密閉空間
60が形成される。処理室13c内において、アースさ
れた第1電極32と、高周波電圧が印加される第2電極
34が対面し、これら電極32,34の間にガイド4
0,41により支持された対象物6が位置することにな
る。また排気室13dは、金網38を介して吸込口12
dに連通することになる。
【0054】次に図12を参照しながら、本実施の形態
の表面処理装置における電極及びその付帯構成について
説明する。さて図6〜図9を参照して既に説明したよう
に、本実施の形態の表面処理装置では、蓋13にアース
された第1電極32が設けられ、それと対面するベース
12に、高周波電圧が印加される第2電極34が設けら
れている。
【0055】そして、第2電極34には、図12に示す
ように、ケーブル35を介して高周波印加部61が接続
されている。高周波印加部61は、高周波電圧を発生す
る高周波電源62と、この高周波電源62が発生した高
周波電圧を調整してケーブル35即ち第2電極34へ出
力するチューナ63とを備えている。
【0056】従って、蓋13とベース12間に対象物6
を位置させ、蓋13を水平下降状態として、第1電極3
2と第2電極34を所定距離を隔てて位置させると共
に、高周波印加部61を作動させると、密閉空間60内
においてプラズマを発生させるための電気的環境を作り
出すことができる。そして高周波印加部61を作動させ
ると、第2電極34が発熱するので、第2電極34が熱
的に結合された冷却フィン36を冷却するファン53を
併せて作動させ、第2電極34が過度に温度上昇しない
ようにする。
【0057】次に図12、図13を参照しながら、ベー
ス12に開けられたガス供給口12bを介して密閉空間
60中にアルゴンガスを供給するガス供給部64と、ベ
ース12の排気エリアBに開けられた吸込口12dを介
して密閉空間60内の圧力の計測及び制御を行う圧力調
整部68について説明する。
【0058】まずガス供給部64のうち、65は動作ガ
スとしてのアルゴンガスを貯蔵するガスボンベ、66は
吐出するアルゴンガスの流量、圧力等を制御するガス制
御部、67はガス制御部66とガス供給口12bとを接
続する吐出管である。
【0059】したがって、ガス供給部64を作動させる
と、流量等がコントロールされたアルゴンガスをガス供
給口12bを介して処理室13c内へ送り出すことがで
きる。なお、ガス供給口12bは、処理エリアAのうち
吸込口12dから離れた位置にあり、吸込口12dは処
理エリアAから外れた排気エリアBに設けてあるので、
アルゴンガスは処理エリアA内を通過しないと、吸込口
12dに至ることはできず、処理エリアAに十分アルゴ
ンガスを行きわたらせてアルゴンガスの濃度のバラツキ
を小さく抑えることができる。
【0060】ここで後述するように、アルゴンは単なる
ガスのまま吸込口12dへ排出されるのではなく、アル
ゴンガスが処理エリアAに供給される際には、密閉空間
60内は真空に近い減圧状態にあり、また第2電極34
に高周波電圧が印加されるので、アルゴンガスはプラズ
マとなって、対象物6に対してエッチング(プラズマク
リーニング)を行うものである。なお本実施例では、プ
ラズマを発生させるためにアルゴンガスを用いたが、他
のガスを用いてもよい。
【0061】次に圧力調整部68について説明する。圧
力調整部68は、次の4つの系統からなる。
【0062】第1の系統は、真空系統である。即ち、上
述した真空ポンプ19の吐出口は、真空配管69を介し
て吸込口12dへ接続されている。70は、真空配管6
9の中間に介装される真空系バルブである。したがっ
て、真空ポンプ19を作動させ、真空系バルブ70を開
くと、密閉空間60内を減圧してほぼ真空の状態にする
ことができる。
【0063】第2の系統は、大気開放系である。即ち、
吸込口12dには、大気開放配管71が接続され、大気
開放配管71は大気開放バルブ72を介して大気開放口
73に至っている。したがって、密閉空間60内を上述
した真空系統を用いて真空にした後、大気開放バルブ7
2を開くと、大気開放口73から大気開放配管71を介
して密閉空間60内に大気を導入し、密閉空間60内を
大気圧に復圧することができる。
【0064】第3の系統は、圧力スイッチ74の系統で
ある。この圧力スイッチ74は、大気開放系を用いて密
閉空間60内を大気圧に戻す際、密閉空間60内が大気
圧に戻ったかどうかを検知するためのものである。ま
た、第4の系統は、真空計75の系統である。この真空
計75は、真空系統を用いて密閉空間60内を減圧する
際などにおいて、密閉空間60内の真空圧を計測するた
めのものである。なお、圧力スイッチ74は、省略して
も差し支えない。
【0065】そして、図2のX−X端面図である図13
に示すように、上述した4つの系統は、接続ユニット7
6の下向きに開口する第1ポート76a、第2ポート7
6b、第3ポート76c、第4ポート76dにそれぞれ
接続されている。また、これらのポート76a〜76d
は、接続ユニット76の内部において、上向きに開口す
る共通ポート76eに全て連結されており、共通ポート
76eはベース12の吸込口12dに直結されている。
【0066】次に、蓋13が水平上昇状態にあり、蓋1
3とベース12との間に対象物6が送られてから、この
対象物6に対するプラズマクリーニングが完了するまで
の動作について説明する。まず対象物6が蓋13とベー
ス12との間に送られると、対象物6は搬送路Lにおい
て、この搬送路Lの一部を構成するガイド40、41に
より支持されている。また蓋13は上昇状態にあるか
ら、対象物6の周囲は大気圧となっている。
【0067】次に、図11に示したように、シリンダ2
3を駆動して蓋13の下端面をOリング39に接触さ
せ、蓋13とベース12により密閉空間60を形成す
る。次に、真空ポンプ19を駆動して真空系バルブ70
を開き、密閉空間60内を減圧してゆく。このとき、真
空計75により密閉空間60内の真空圧をモニタリング
しておく。
【0068】十分密閉空間60内の圧力が低下したら、
ガス供給部64を作動し、ガス供給口12bを介して密
閉空間60の処理室13c内にアルゴンガスを供給す
る。そして、高周波印加部61を作動させ、第2電極3
4に高周波電圧を印加し、処理室13c内でプラズマを
発生させる。そして、このプラズマ中の荷電粒子により
対象物6のクリーニングを行う。
【0069】このとき、吸込口12d側へ荷電粒子が飛
散することもあるが、吸込口12dにはアースされた金
網38が取り付けられているので、荷電粒子が金網38
に付着すると除電され、真空系統等に荷電粒子が至るこ
とはない。そして、この状態を所定時間維持する。この
時間は、十分なクリーニングを行うためのものであり、
予め設定された時間である。
【0070】この所定時間が経過すると、高周波印加を
中止し、さらにガス供給部64によるアルゴンガスの供
給を停止する。また、真空系バルブ70を閉じる。そし
て、大気開放バルブ72を開き、大気開放口73から密
閉空間60内に大気を導入する。すると、密閉空間60
内の圧力が上昇するが、この際圧力スイッチ74により
大気圧まで密閉空間60内の圧力が戻ったかどうかモニ
タリングする。
【0071】そして、密閉空間60内が大気圧まで戻っ
たら、大気開放バルブ72を閉じ、シリンダ23を駆動
して蓋13を水平上昇状態にする。そして表面処理済み
の対象物6を蓋13とベース12の間から退避させ、表
面処理前の対象物6を蓋13とベース12の間に進入さ
せる。
【0072】次に図14、図15を参照しながら、本実
施の形態の表面処理装置における対象物6の搬送動作を
説明する。図14は、本発明の一実施の形態における搬
送路を示す平面図である。ここで上述したように、対象
物6の搬送は、主として搬送手段としての第1アーム1
5及び第2アーム16を用いて行うものである。そし
て、第1アーム15、第2アーム16は、共に一本のタ
イミングベルト49に一定間隔tを隔てて固定されてお
り、搬送路Lと平行な方向については、第1アーム1
5、第2アーム16は一体的に移動する。
【0073】一方、第1アーム15、第2アーム16に
は、図10に示したようなアームを上下動させるための
シリンダ51が独立に備えられており、第1アーム1
5、第2アーム16は上下動についてはそれぞれ独立に
行うことができるようになっている。
【0074】さて以下の説明では、搬送路Lの下流側か
ら順に、第1対象物6Xは既に表面処理済みでワイヤボ
ンディング部14によるワイヤボンディングを施されて
おり、第2対象物6Yには密閉空間60内で上述した表
面処理がなされており、第3対象物6Zは、未だ表面処
理前であって供給マガジン9内に収納されているものと
する。
【0075】さて、図14の位置関係において、第1対
象物6Xに対するワイヤボンディングと第2対象物6Y
に対する表面処理が済むと、蓋13を水平上昇状態とす
る。そして、図15(a)に示すように、第2アーム1
6を第1対象物6Xに、第1アーム15を第2対象物6
Yに当接させ、モータ47を駆動して、第1対象物6X
を回収マガジン10へ、第2対象物6Yをワイヤボンデ
ィング部14の前方へ、それぞれ押送する(矢印M
1)。またこれと並行して、押出シリンダ11を駆動し
て、供給マガジン9から第3対象物6Zを押出して、蓋
13とベース12との隙間へ接近させる。
【0076】次に、図15(b)に示すように、第1ア
ーム15及び第2アーム16を上昇させて、第1アーム
15を第3対象物6Zの前方へ、第2アーム16を第2
対象物6Yの前方へ、それぞれ移動させる(矢印M
2)。そして、図15(c)に示すように、第1アーム
15を第3対象物6Zに、第2アーム16を第2対象物
6Yに当接させ、第1アーム15、第2アーム16によ
り、第3対象物6Zを図14の第2対象物6Yの位置
へ、第2対象物6Yを図14の第1対象物6Xの位置へ
それぞれ押送する(矢印M3)。
【0077】その後、第1アーム15、第2アーム16
を図14の位置へ戻し、蓋13を水平下降状態とする。
そして、第3対象物6Zに対する表面処理と、第2対象
物6Yに対するワイヤボンディングを並行して行う。以
下上述の動作を繰り返すことにより、表面処理を済ませ
た直後の対象物に対してワイヤボンディングを行う工程
を行う。
【0078】このように、本実施の形態の表面処理装置
では、搬送路L上において表面処理装置をインライン展
開でき、しかも表面処理装置の搬送路Lの下流側から表
面処理済みの対象物6を退避させ、それとほぼ同時に表
面処理装置の搬送路Lの上流側から表面処理前の対象物
6を表面処理装置に進入させることができる。これによ
り対象物の表面処理と搬送をほとんどロスタイムなしに
行うことができ、生産性を大幅に向上することができ
る。
【0079】
【発明の効果】本発明によれば、対象物の出入りに要す
るロスタイムを非常に小さくして生産性を向上すること
ができる。また、表面処理装置の一方から対象物を進入
させ、他方から退避させることができ、インライン展開
に供することができる。またOリングのような密着部の
上端部をベースの上面よりも下方に位置させることで、
搬送手段が密着部に触れないようにして対象物をスムー
ズに搬送できるようにし、かつ密着部の損傷を回避して
密閉空間内の気密性を高く保持することができる。さら
に、接離手段によって蓋をベースに接触させることで対
象物の周囲に密閉空間を形成でき、従来の表面処理装置
に比べて対象物を包囲する部材を極端に少なくして、シ
ンプルな構造とすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施の形態における表面処理装置の
全体斜視図
【図2】本発明の一実施の形態における接離手段の斜視
【図3】本発明の一実施の形態における接離手段の斜視
【図4】本発明の一実施の形態におけるブラケットの斜
視図
【図5】本発明の一実施の形態におけるブラケットの斜
視図
【図6】本発明の一実施の形態における蓋を下側から見
た分解斜視図
【図7】本発明の一実施の形態における蓋を下方から見
た斜視図
【図8】本発明の一実施の形態におけるベースの分解斜
視図
【図9】本発明の一実施の形態におけるベースの平面図
【図10】本発明の一実施の形態における表面処理装置
の断面図
【図11】本発明の一実施の形態における表面処理装置
の断面図
【図12】本発明の一実施の形態における電極の付帯構
成の斜視図
【図13】図2のX−X端面図
【図14】本発明の一実施の形態における搬送路を示す
平面図
【図15】(a)本発明の一実施の形態における搬送動
作説明図 (b)本発明の一実施の形態における搬送動作説明図 (c)本発明の一実施の形態における搬送動作説明図
【図16】従来の表面処理装置の斜視図
【符号の説明】
6 対象物 12 ベース 13 蓋 15 第1アーム 16 第2アーム 19 真空ポンプ 23 シリンダ 32 第1電極 34 第2電極 39 Oリング 40 ガイド 41 ガイド 60 密閉空間 61 高周波印加部 L 搬送路
フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) C23F 4/00 H01L 21/3065 H01L 21/68 C23C 16/50 H01L 21/60 301 H01L 21/304 645

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】ベースと、前記ベースに絶縁された状態で
    装着された電極と、対象物を搬送する搬送路の一部を構
    成し、前記電極上に対象物を案内するガイドと、前記電
    極に高周波電圧を印可する高周波電源と、下方が開口し
    ており、かつ前記ベースに対して接離自在に支持され、
    前記ベースに密着して密閉空間を形成する蓋と、前記密
    閉空間を減圧する減圧手段と、前記密閉空間に動作ガス
    を供給するガス供給部と、前記蓋の下端面を前記ベース
    に接離させる接離手段と、前記蓋が前記ベースから離れ
    ているときに対象物を押送するアームから成る搬送手段
    を備え、前記ベースは前記蓋の前記下端面が密着するO
    リングを有し、このOリングは前記アームおよび前記ア
    ームに押送されて前記ベース上を横切る対象物に接触し
    ないように前記ベースに形成された溝に嵌め込まれてお
    り、且つ前記ガイドはこのOリングの内側に固定されて
    いることを特徴とする表面処理装置。
  2. 【請求項2】前記Oリングの上端部は前記ベースの上面
    よりも下方に位置することを特徴とする請求項1記載の
    表面処理装置。
JP19145799A 1999-07-06 1999-07-06 表面処理装置 Expired - Lifetime JP3376964B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP19145799A JP3376964B2 (ja) 1999-07-06 1999-07-06 表面処理装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP19145799A JP3376964B2 (ja) 1999-07-06 1999-07-06 表面処理装置

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP19306295A Division JP3353557B2 (ja) 1995-07-28 1995-07-28 表面処理装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2000087264A JP2000087264A (ja) 2000-03-28
JP3376964B2 true JP3376964B2 (ja) 2003-02-17

Family

ID=16274966

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP19145799A Expired - Lifetime JP3376964B2 (ja) 1999-07-06 1999-07-06 表面処理装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3376964B2 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113909162B (zh) * 2021-08-26 2023-01-31 郑州奥普智能科技股份有限公司 一种载具自动除胶设备及除胶方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP2000087264A (ja) 2000-03-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6484415B2 (en) Vacuum processing apparatus
JP4093376B2 (ja) 吸引一体型smifシステム
CN101688296A (zh) 真空处理系统及基板搬送方法
US5433371A (en) Wire bonding apparatus and method
JP5031186B2 (ja) 基板処理方法、基板処理システム及び基板処理プログラム
JPH10223725A (ja) 基板のプラズマクリーニング装置
JP3376964B2 (ja) 表面処理装置
JP3503602B2 (ja) プラズマクリーニング装置
JP3503606B2 (ja) プラズマクリーニング装置
JP3397203B2 (ja) プラズマクリーニング装置
JP3173498B2 (ja) プラズマクリーニング装置
JPH0963916A (ja) 表面処理装置
JP3353557B2 (ja) 表面処理装置
JP3353747B2 (ja) 表面処理装置
JP3353746B2 (ja) 表面処理装置
JPH0963919A (ja) 表面処理装置及び表面処理方法
JP3173345B2 (ja) 表面処理装置
JP3196592B2 (ja) ワイヤボンディング装置及びワイヤボンディング方法
JP3173341B2 (ja) 表面処理装置
JPH0963917A (ja) 表面処理装置
JP3173497B2 (ja) プラズマクリーニング装置
JP2002083854A (ja) 基板搬送装置
JP2001326266A (ja) プラズマクリーニング装置
US20220399210A1 (en) Substrate cleaning apparatus and substrate cleaning method
JP2001298016A (ja) プラズマクリーニング装置

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071206

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081206

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091206

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091206

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101206

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101206

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111206

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111206

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121206

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121206

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131206

Year of fee payment: 11

EXPY Cancellation because of completion of term