JP3376312B2 - Adhesive composition for semiconductor device, adhesive sheet, and reinforcing member using the same - Google Patents

Adhesive composition for semiconductor device, adhesive sheet, and reinforcing member using the same

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JP3376312B2
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Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明が属する技術分野】本発明は、ICを搭載したI
C用基板(インターポーザー)と補強部材を積層構成に
有する半導体装置において、IC又は補強部材と周辺部
とを接着するための接着剤組成物に関し、より詳細に
は、ICとIC用基板、IC用基板とその補強部材、及
びICと補強部材との層間を接着する半導体装置用接着
剤組成物、接着シート及びそれを使用した補強部材に関
する。
TECHNICAL FIELD The present invention relates to an IC having an IC mounted thereon.
In a semiconductor device having a C substrate (interposer) and a reinforcing member in a laminated structure, the present invention relates to an adhesive composition for adhering an IC or a reinforcing member to a peripheral portion, and more specifically, to an IC, an IC substrate, and an IC. The present invention relates to a substrate and its reinforcing member, an adhesive composition for a semiconductor device that bonds the layers between the IC and the reinforcing member, an adhesive sheet, and a reinforcing member using the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】携帯型パソコン、携帯電話の普及が急速
に進む今日、電子機器には更なる小型化、薄型化、多機
能化が要求されている。この要求を実現するには電子部
品の小型化、高集積化は必須のことであるが、さらに電
子部品の高密度実装技術が必要となる。近年の電子部品
の中核を構成しているICパッケージは、その形態がQ
FP(Quad Flat Package)やSOP
(Small Outline Package)とい
った周辺実装型が主流であったが、最近ではBGA(B
all Grid Allay)、CSP(Chip
Size Package)と呼ばれる面実装型が高密
度実装可能なICパッケージとして脚光を浴びている。
BGA及びCSPはパッケージの裏面に面格子状にハン
ダボールを外部接続端子として設けている。IC(半導
体集積回路)の電極は、回路配線パターン変換基板であ
るIC用基板を介してプリント基板の電極に接続する。
そのIC用基板の種類によりプラスチックBGA(以
下、P−BGAと略す。)、セラミックBGA(以下、
C−BGAと略す。)、テープBGA(以下、T−BG
Aと略す。)、高機能(enhanced)BGA(以
下、E−BGAと略す。)が開発されている。最近まで
はQFPでのワイヤーボンディング技術が利用可能なP
−BGAが主流となっていたが、TAB(Tape A
utomated Bonding)技術を利用したT
−BGAが、さらなる高密度化(多ピン化)が可能であ
ること、また放熱性に優れるため主流になりつつある。
CSPはBGAを更に小型化、高密度化したパッケージ
であり、マイクロBGA、ファインピッチBGAと呼ば
れている。BGA、CSPはその構造から低インピーダ
ンス、周波数応答の高速性等の優れた電気特性も有しす
るパッケージである。
2. Description of the Related Art With the rapid spread of portable personal computers and mobile phones, electronic devices are required to be further downsized, thinned, and multifunctional. In order to meet this requirement, it is indispensable to downsize and highly integrate electronic components, but further high-density mounting technology for electronic components is required. The IC package that forms the core of recent electronic parts has
FP (Quad Flat Package) and SOP
Peripheral mounting type such as (Small Outlook Package) was the mainstream, but recently BGA (B
all Grid Array), CSP (Chip)
A surface mounting type called Size Package) has been in the spotlight as an IC package capable of high density mounting.
The BGA and CSP are provided with solder balls in the form of a surface lattice on the back surface of the package as external connection terminals. The electrodes of the IC (semiconductor integrated circuit) are connected to the electrodes of the printed circuit board via the IC substrate which is the circuit wiring pattern conversion substrate.
Depending on the type of the IC substrate, plastic BGA (hereinafter abbreviated as P-BGA), ceramic BGA (hereinafter,
Abbreviated as C-BGA. ), Tape BGA (hereinafter T-BG
Abbreviated as A. ), And an enhanced BGA (hereinafter abbreviated as E-BGA) have been developed. Until recently, P that can use wire bonding technology with QFP
-BGA was the mainstream, but TAB (Tape A
T using automated bonding technology
-BGA is becoming the mainstream because it can achieve higher density (higher number of pins) and is excellent in heat dissipation.
The CSP is a package in which the BGA is further downsized and has a higher density, and is called a micro BGA or a fine pitch BGA. BGA and CSP are packages that have excellent electrical characteristics such as low impedance and high-speed frequency response due to their structure.

【0003】T−BGAはTCP(Tape Carr
ier Package)の回路面又は非回路面にプリ
ント配線基盤(以下、PCBと略す。)との電気信号端
子として半田ボールを設けた構造となっている。図1に
T−BGAの一例の断面図を示す。半導体チップ6は電
極5を介して、絶縁性フィルム4の片面に形成された配
線3と接続され、さらに半田ボール1で外部と電気的に
接続する。絶縁性フィルム4は接着剤7を介して補強部
材8と接着され、さらに放熱の役割を有する他の補強部
材8が接着剤7を介して半導体チップ6と接着された構
造を有している。図2に他のT−BGAの一例の断面図
を示す。半導体チップ6は電極5を介して、絶縁性フィ
ルム4の片面に形成された配線3と接続され、さらに半
田ボール1で外部と電気的に接続する。絶縁性フィルム
4は接着剤7を介して補強部材8と接着される。この補
強部材8はさらに放熱の役割をも有し、接着剤7を介し
て半導体チップ6と接着された構造を有している。図3
にE−BGAの一例の断面図を示す。半導体チップ6は
金ワイヤー9を介して、ガラス−エポキシ等からなる基
板10に形成された配線3と接続され、さらに半田ボー
ル1で外部と電気的に接続する。基板10及び半導体チ
ップ6は、接着剤7を介して放熱機能を有する補強部材
8と接着された構造である。
T-BGA is a TCP (Tape Carr).
A solder ball is provided as an electric signal terminal with a printed wiring board (hereinafter, abbreviated as PCB) on the circuit surface or non-circuit surface of the ier package. FIG. 1 shows a sectional view of an example of the T-BGA. The semiconductor chip 6 is connected to the wiring 3 formed on one surface of the insulating film 4 via the electrode 5, and is further electrically connected to the outside by the solder ball 1. The insulating film 4 has a structure in which it is bonded to the reinforcing member 8 via the adhesive 7, and another reinforcing member 8 having a role of heat dissipation is bonded to the semiconductor chip 6 via the adhesive 7. FIG. 2 shows a sectional view of an example of another T-BGA. The semiconductor chip 6 is connected to the wiring 3 formed on one surface of the insulating film 4 via the electrode 5, and is further electrically connected to the outside by the solder ball 1. The insulating film 4 is bonded to the reinforcing member 8 via the adhesive 7. The reinforcing member 8 also has a role of heat dissipation, and has a structure in which the reinforcing member 8 is bonded to the semiconductor chip 6 via the adhesive 7. Figure 3
A sectional view of an example of the E-BGA is shown in FIG. The semiconductor chip 6 is connected to the wiring 3 formed on the substrate 10 made of glass-epoxy or the like via the gold wire 9, and further electrically connected to the outside by the solder ball 1. The substrate 10 and the semiconductor chip 6 have a structure in which they are bonded to a reinforcing member 8 having a heat dissipation function via an adhesive 7.

【0004】T−BGAには絶縁性フィルム4として、
一般にポリイミドフィルムが用いられる。このポリイミ
ドフィルムは通常ポリアミック酸を高温でイミド化処理
してポリイミドフィルムとして製造される。そのため、
イミド化処理後に室温に戻した際、イミド化による熱収
縮が内部応力として蓄積される。T−BGAを基板に接
合する際、リフロー工程でハンダの溶融温度(200〜
260゜C)に曝され、その時内部応力が開放されてポリ
イミドフィルムの平面性が失われる。それにより実装基
板への接続不良が発生してしまうことがある。近年、半
導体デバイスの高機能化に伴い、一方ではICチップの
大型化、多ピン化も進んでいる。このような半導体装置
では、T−BGAの面積も拡大傾向にあり、前記要因に
よるハンダボールの接続不良が生じる頻度も増加してい
る。この接続不良を改善するため、T−BGAのリード
面または非リード面に100μm〜500μm厚のステ
ィフナーと呼ばれる補強部材を装着することが提案さ
れ、接続不良の問題が大きく改善された。また、半導体
チップの放熱及び電磁波シールドのため、半導体チップ
にカバープレートと呼ばれる放熱板の役割を有する補強
部材を設けている。最近では低価格化のためスティフナ
ーとカバープレートを一体化した補強部材を使用するこ
ともある。
As the insulating film 4 for T-BGA,
Generally, a polyimide film is used. This polyimide film is usually manufactured as a polyimide film by imidizing polyamic acid at high temperature. for that reason,
When the temperature is returned to room temperature after the imidization treatment, thermal contraction due to imidization is accumulated as internal stress. When joining T-BGA to the substrate, the melting temperature of the solder (200-
When exposed to 260 ° C., the internal stress is released at that time and the flatness of the polyimide film is lost. As a result, poor connection to the mounting board may occur. In recent years, as semiconductor devices have become more sophisticated, IC chips have become larger and have more pins. In such a semiconductor device, the area of the T-BGA is also increasing, and the frequency of occurrence of defective solder ball connection due to the above factors is increasing. In order to improve this connection failure, it has been proposed to mount a reinforcing member called a stiffener having a thickness of 100 μm to 500 μm on the lead surface or the non-lead surface of the T-BGA, and the problem of connection failure has been greatly improved. Further, for heat dissipation of the semiconductor chip and electromagnetic wave shielding, the semiconductor chip is provided with a reinforcing member called a cover plate, which functions as a heat dissipation plate. Recently, in order to reduce the price, a stiffener and a cover plate may be integrally used as a reinforcing member.

【0005】BGAは最終的にマザーボードと呼ばれる
メイン基板にハンダボールを介して実装される。この実
装工程はリフロー工程とよばれ、ハンダ浴浸漬法(ディ
ップ法)、ヴェパーフェイズ法(不活性溶剤の蒸発潜熱
によるハンダづけ)、遠赤外線リフロー(IRリフロ
ー)に代表されるハンダ付け工程であり、パッケージ全
体が200〜280℃に加熱される。近年、鉛を含まな
いハンダが開発され、使用され始めているが、従来の鉛
含有ハンダに比べ溶融温度が高く、必然的にリフローの
温度も高温にせざるを得なくなっている。一方、図1、
図2、図3に使用されている従来技術による接着剤は、
安価で、かつ作業性、電気特性及び耐熱性に優れている
点で熱硬化型が広く使用されている。その代表としては
エポキシ樹脂/エポキシ硬化剤/NBR(アクリロニト
リル−ブタジエン共重合体)系の接着剤が挙げられる。
ところで、従来使用されていたNBRは、一般的なアク
リロニトリルとブタジエンの共重合体でありエポキシ樹
脂との反応性を有していなかったため、ハンダリフロー
に使用される200〜280℃といった高温域での弾性
率が低くなりすぎてしまう。このような高温リフローで
は、接着剤又はIC用基板に水分が存在すると爆発的に
水蒸気化してボイドを生じ、接着剤を押しのけることに
より「ポップコーン」と呼ばれる膨れが生じる。このポ
ップコーン現象によりIC用基板が変形し、ハンダボー
ル同士が接触、ショートを起こしたり、配線基盤から外
れる等の不良を起こし、生産効率を著しく低下させてい
た。このポップコーン現象を防ぐため、接着剤を熱硬化
した後のパッケージを完全に乾燥し、密封した容器に収
納して出荷する方法(防湿梱包)が採られてきた。
The BGA is finally mounted on a main board called a motherboard via solder balls. This mounting process is called a reflow process, and is a soldering process typified by a solder bath dipping method (dip method), vapor phase method (soldering by evaporation latent heat of an inert solvent), and far infrared reflow (IR reflow). Yes, the entire package is heated to 200-280 ° C. In recent years, lead-free solders have been developed and are beginning to be used, but the melting temperature is higher than that of conventional lead-containing solders, and the reflow temperature is inevitably increased. On the other hand, in FIG.
Prior art adhesives used in FIGS. 2 and 3 are:
The thermosetting type is widely used because it is inexpensive and has excellent workability, electrical characteristics, and heat resistance. Typical examples thereof include epoxy resin / epoxy curing agent / NBR (acrylonitrile-butadiene copolymer) adhesives.
By the way, the conventionally used NBR is a general copolymer of acrylonitrile and butadiene and does not have reactivity with an epoxy resin. Therefore, NBR used in solder reflow at a high temperature range of 200 to 280 ° C. The elastic modulus becomes too low. In such high temperature reflow, when moisture is present in the adhesive or the substrate for IC, it is explosively vaporized to generate voids, and the adhesive is pushed away to cause swelling called “popcorn”. Due to this popcorn phenomenon, the IC substrate is deformed, and solder balls come into contact with each other, causing a short circuit, or causing a defect such as detachment from the wiring substrate, resulting in a marked decrease in production efficiency. In order to prevent this popcorn phenomenon, a method has been adopted in which the package after the adhesive is heat-cured is completely dried, and the package is stored in a sealed container and shipped (moisture-proof packaging).

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】この防湿梱包する出荷
方法は製造工程、製品の取り扱いが煩雑であり、製品価
格が高価になるという欠点があった。本発明の目的は、
T−BGA等の積層構造に使用される従来の接着剤の有
する問題点、すなわちリフロー工程にて生じるポップコ
ーン現象、内部応力解放に起因するパッケージクラック
等の問題点を解決し、耐リフロー性に優れた半導体装置
用接着剤組成物、接着シート及びそれを用いた補強部材
を提供することにある。
The shipping method of moisture-proof packaging has a drawback that the manufacturing process and the handling of the product are complicated, and the product price becomes expensive. The purpose of the present invention is to
Solves problems with conventional adhesives used for laminated structures such as T-BGA, that is, popcorn phenomenon that occurs in the reflow process, package cracks that result from internal stress release, and excellent reflow resistance. Another object of the present invention is to provide an adhesive composition for a semiconductor device, an adhesive sheet, and a reinforcing member using the same.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本発明の半導体装置用接
着剤組成物は、少なくとも絶縁体層及び導体回路から構
成されるIC用基板の回路面又はその裏面に補強部材を
積層した半導体装置に使用する接着剤組成物であって、
該組成物が、(a)エポキシ樹脂、(b)エポキシ硬化
剤、(c)弾性体及び(d)シランカップリング剤を含
し、前記シランカップリング剤がエポキシシランカッ
プリング剤またはアミノシランカップリング剤である
とを特徴とする。また、本発明の接着シートは、前記半
導体装置用接着剤組成物が支持体の一面に積層してなる
ことを特徴とする。また、本発明の補強部材は、前記半
導体装置用接着剤組成物が基材の少なくとも一面に積層
してなることを特徴とする。以下、本発明を詳細に説明
する。
The adhesive composition for a semiconductor device of the present invention is applied to a semiconductor device in which a reinforcing member is laminated on the circuit surface or the back surface of an IC substrate composed of at least an insulating layer and a conductor circuit. An adhesive composition to be used,
The composition contains (a) an epoxy resin, (b) an epoxy curing agent, (c) an elastic body, and (d) a silane coupling agent, and the silane coupling agent is an epoxy silane coupling agent.
It is characterized by being a pulling agent or an aminosilane coupling agent . Further, the adhesive sheet of the present invention is characterized in that the adhesive composition for a semiconductor device is laminated on one surface of a support. Further, the reinforcing member of the present invention is characterized in that the adhesive composition for a semiconductor device is laminated on at least one surface of a base material. Hereinafter, the present invention will be described in detail.

【0008】[0008]

【発明の実施の形態】本発明の接着剤組成物及び接着シ
ートは、少なくとも絶縁体層及び導体回路から構成され
るIC用基板の回路面又はその裏面に補強部材を積層し
た半導体装置に用い、スティフナー、カバープレート等
の補強部材又はIC(半導体集積回路)を基板に接着す
るためのものである。本発明の接着剤組成物に用いる成
分についてそれぞれ説明する。 (a)エポキシ樹脂:エポキシ樹脂は分子内に2個以上
のオキシラン環を有している樹脂、例えば、グリシジル
エーテル、グリシジルエステル、グリシジルアミン、線
状脂肪族エポキサイト、脂環族エポキサイト等いずれの
構造の樹脂でもよく、単独でも2種以上を併用すること
もできる。具体的には、ビスフェノールAジグリシジル
エーテル、ビスフェノールFジグリシジルエーテル、ビ
スフェノールSジグリシジルエーテル、レゾールシノー
ルジグリシジルエーテル、臭素化ビスフェノールAジグ
リシジルエーテル、フッ素化ビスフェノールAジグリシ
ジルエーテル、フェノールノボラックグリシジルエーテ
ル、クレゾールノボラックグリシジルエーテル、臭素化
ノボラックグリシジルエーテル等のグリシジルエーテル
類、ヘキサヒドロフタル酸ジグリシジルエステル、フタ
ル酸ジグリシジルエステル、ダイマー酸ジグリシジルエ
ステル等のグリシジルエステル類、トリグリシジルイソ
シアヌレート、テトラグリシジルジアミノジフェニルメ
タン、テトラグリシジルメタキシレンジアミン等のグリ
シジルアミン類、エポキシ化ポリブタジエン、エポキシ
化大豆油等の線状脂肪族エポキサイト類、3,4−エポ
キシ−6−メチルシクロヘキシルメチルカルボキシレー
ト、3,4−エポキシシクロヘキシルメチルカルボキシ
レート等の脂環族エポキサイト類が挙げられる。これら
の中でも特にビスフェノール型エポキシ樹脂が安価であ
るため好適に用いられ、そのエポキシ当量は170〜4
000のものが好ましく、より好ましくは当量170〜
500のものが望ましい。エポキシ当量が4000を超
えて大きいと硬化物の弾性率が低くなり、接着力が低下
する。本発明に好適に用いられるエポキシ樹脂は具体的
に、油化シェルエポキシ社製、商品名;エピコート80
6、828、1001、旭電化工業社製、商品名;EP
−4100G、EP4400、EP−4901等を挙げ
ることができる。また難燃性を付与するためにハロゲン
化エポキシ特に臭素化エポキシを用いることは有効な手
段である。臭素化エポキシの具体例としては、油化シェ
ルエポキシ社製、商品名;エピコート5045、504
6、5050、日本化薬社、商品名;BREN−S、B
REN−105、BREN−301等が挙げられる。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION The adhesive composition and adhesive sheet of the present invention are used for a semiconductor device in which a reinforcing member is laminated on the circuit surface or the back surface of an IC substrate composed of at least an insulating layer and a conductor circuit, It is for bonding a reinforcing member such as a stiffener or a cover plate or an IC (semiconductor integrated circuit) to a substrate. The components used in the adhesive composition of the present invention will be described. (A) Epoxy resin: The epoxy resin is a resin having two or more oxirane rings in the molecule, for example, glycidyl ether, glycidyl ester, glycidyl amine, linear aliphatic epoxide, alicyclic epoxide, etc. The resin having the structure may be used alone or in combination of two or more kinds. Specifically, bisphenol A diglycidyl ether, bisphenol F diglycidyl ether, bisphenol S diglycidyl ether, resorcinol diglycidyl ether, brominated bisphenol A diglycidyl ether, fluorinated bisphenol A diglycidyl ether, phenol novolac glycidyl ether, Cresol novolac glycidyl ether, brominated novolac glycidyl ether and other glycidyl ethers, hexahydrophthalic acid diglycidyl ester, phthalic acid diglycidyl ester, dimer acid diglycidyl ester and other glycidyl esters, triglycidyl isocyanurate, tetraglycidyl diaminodiphenylmethane , Glycidyl amines such as tetraglycidyl metaxylene diamine, epoxidation Examples include linear aliphatic epoxies such as rebutadiene and epoxidized soybean oil, and alicyclic epoxies such as 3,4-epoxy-6-methylcyclohexylmethylcarboxylate and 3,4-epoxycyclohexylmethylcarboxylate. To be Among these, bisphenol type epoxy resin is particularly preferable because it is inexpensive and its epoxy equivalent is 170 to 4
000 is preferable, and more preferably 170 to 170
500 is preferable. If the epoxy equivalent is greater than 4000 and is large, the elastic modulus of the cured product becomes low, and the adhesive strength decreases. The epoxy resin preferably used in the present invention is specifically manufactured by Yuka Shell Epoxy Co., Ltd., trade name; Epicoat 80.
6,828,1001, Asahi Denka Kogyo KK, trade name; EP
-4100G, EP4400, EP-4901 etc. can be mentioned. Further, it is an effective means to use halogenated epoxy, especially brominated epoxy, for imparting flame retardancy. Specific examples of the brominated epoxy are manufactured by Yuka Shell Epoxy Co., Ltd., trade name; Epicoat 5045, 504.
6, 5050, Nippon Kayaku Co., Ltd., trade name; BREN-S, B
Examples include REN-105 and BREN-301.

【0009】(b)エポキシ硬化剤:エポキシ硬化剤は
エポキシ樹脂と反応して3次元網状構造を形成する化学
物質を指し、芳香族ポリアミン、脂肪族ポリアミン、ポ
リアミド、酸無水物、フェノール誘導体、ポリメルカプ
タン、第三アミン、ルイス酸錯体等が使用される。具体
的には4,4‘−アミノジフェニルメタン、4、4’−
ジアミノジフェニルエーテル、ジアミノジフェニルスル
フォン、ジアミノジフェニルスルフィド、m−フェニレ
ンジアミン、2,4−トルイレンジアミン、m−トルイ
レンジアミン、o−トルイレンジアミン、メタキシリレ
ンジアミン、メタアミノベンジルアミン、ベンジジン、
4−クロロ−O−フェニレンジアミン、ビス(3,4−
ジアミノフェニル)スルフォン、2,6−ジアミノピリ
ジン、イソフタル酸ジヒドラジド等の芳香族ポリアミン
類、ジエチレントリアミン、ジプロピレントリアミン、
ジエチレンテトラミン、トリエチレンテトラミン、テト
ラエチレンペンタミン、ジメチルアミノプロピルアミ
ン、ジエチルアミノプロピルアミン、ジブチルアミノプ
ロピルアミン、ヘキサメチレンジアミン、N−アミノエ
チルピペラジン、ビス−アミノプロピルピペラジン、ト
リメチルヘキサメチレンジアミン、ビス−(ヘキサメチ
レン)トリアミン、アジピン酸ジヒドラジド、セバシン
酸ジヒドラジド、ジシアンジアミド等の脂肪族ポリアミ
ン類、ダイマー酸ポリアミド、無水マレイン酸、無水ド
デセニルこはく酸、無水クロレンデック酸、無水セバシ
ン酸、無水フタル酸、無水ピロメリット酸、無水トリメ
リット酸、シクロペンタン・テトラカルボン酸二無水
物、ヘキサヒドロ無水フタル酸、メチルヘキサヒドロ無
水フタル酸、テトラメチレン無水マレイン酸、テトラヒ
ドロ無水フタル酸、メチル・テトラヒドロ無水フタル
酸、エンドメチレンテトラヒドロ無水フタル酸、メチル
エンドメチレンテトラヒドロ無水フタル酸、5−(2,
5−ジオキソテトラヒドロキシフリル)−3−メチル−
3−シクロヘキセン−1,2−ジカルボン酸無水物、無
水メチルナジック酸等の酸無水物、レゾールフェノール
樹脂、フェノールノボラック樹脂、クレゾールノボラッ
ク樹脂、レゾールシノール樹脂、キシレン樹脂等のフェ
ノール誘導体、2,2ジメルカプトジエチルエーテル、
1,2−ジメルカプトプロパン、1,3−ジメルカプト
プロパノール、ビス(2−メルカプトエチルスルフィ
ド)等のポリメルカプタン類、ジメチルアミノメチルフ
ェノール、2,4,6−トリ(ジメチルアミノメチル)
フェノール、トリ(ジメチルアミノメチル)フェノール
・トリ−2−エチルヘキサン塩、2−メチルイミダゾー
ル、2−エチル−4−メチルイミダゾール、2−ウンデ
シルイミダゾール、2−ヘプタデシルイミダゾール、2
−フェニルイミダゾール、2−フェニル−4−メチルイ
ミダゾール、1−ベンジル−2−メチルイミダゾール、
2−エチルイミダゾール、2−イソプロピルイミダゾー
ル、1−シアノエチル−2−メチルイミダゾール、1−
シアノエチル−2−フェニルイミダゾール、1−シアノ
エチル−2−ウンデシルイミダゾール、1−シアノエチ
ル−2−イソプロピルイミダゾール、1−シアノエチル
−2−フェニルイミダゾール、1−シアノエチル−2−
メチルイミダゾールトリメリテート、1−シアノエチル
−2−エチル4−メチルイミダゾールトリメリテート、
1−シアノエチル−2−ウンデシルイミダゾールトリメ
リテート、1−シアノエチル−2−フェニルイミダゾー
ル、2,4−ジアミノ−6−[2‘−メチルイミダゾリ
ル−(1)’]−エチル−s−トリアジン、2,4−ジ
アミノ−6−[2‘ウンデシルイミダゾリル−
(1)’]−エチル−s−トリアジン、2,4−ジアミ
ノ−6−[2‘−エチル−4’−メチルイミダゾリル−
(1)’]−エチル−s−トリアジン、1−ドデシル−
2−メチル−3−ベンジルイミダゾリウムクロリド、
1,3−ジベンジル−2−メチルイミダゾリウムクロリ
ド、2−フェニル−4−メチル−5−ヒドロキシメチル
イミダゾール、2−フェニル−4,5−ジヒドロキシメ
チルイミダゾール、1−シアノエチル−2−フェニル−
4,5−ジ(シアノエトキシメチル)イミダゾール、2
−メチルイミダゾール・トリアジン複合体、2−フェニ
ルイミダゾール・トリアジン複合体等の第三アミン類、
3ふっ化ほう素・モノエチルアミン錯化合物、3ふっ化
ほう素・トリエタノールアミン錯化合物、3ふっ化ほう
素・ピペリジン錯化合物、3ふっ化ほう素・n−ブチル
エーテル錯化合物等のルイス酸錯体が挙げられる。中で
もフェノール誘導体は、反応性に優れ、半導体装置用途
においても耐湿熱性に優れるため好ましい。
(B) Epoxy curing agent: Epoxy curing agent refers to a chemical substance that reacts with an epoxy resin to form a three-dimensional network structure, and includes aromatic polyamine, aliphatic polyamine, polyamide, acid anhydride, phenol derivative, poly Mercaptan, tertiary amine, Lewis acid complex and the like are used. Specifically, 4,4'-aminodiphenylmethane, 4,4'-
Diaminodiphenyl ether, diaminodiphenyl sulfone, diaminodiphenyl sulfide, m-phenylenediamine, 2,4-toluylenediamine, m-toluylenediamine, o-toluylenediamine, metaxylylenediamine, metaaminobenzylamine, benzidine,
4-chloro-O-phenylenediamine, bis (3,4-
Aromatic polyamines such as diaminophenyl) sulfone, 2,6-diaminopyridine, isophthalic acid dihydrazide, diethylenetriamine, dipropylenetriamine,
Diethylenetetramine, triethylenetetramine, tetraethylenepentamine, dimethylaminopropylamine, diethylaminopropylamine, dibutylaminopropylamine, hexamethylenediamine, N-aminoethylpiperazine, bis-aminopropylpiperazine, trimethylhexamethylenediamine, bis- ( Hexamethylene) triamine, adipic acid dihydrazide, sebacic acid dihydrazide, dicyandiamide and other aliphatic polyamines, dimer acid polyamide, maleic anhydride, dodecenyl succinic anhydride, chlorendic anhydride, sebacic anhydride, phthalic anhydride, pyromellitic anhydride , Trimellitic anhydride, cyclopentane / tetracarboxylic dianhydride, hexahydrophthalic anhydride, methylhexahydrophthalic anhydride, tetrame Ren maleic anhydride, tetrahydrophthalic anhydride, methyl tetrahydrophthalic anhydride, endomethylene tetrahydrophthalic anhydride, methyl endomethylene tetrahydrophthalic anhydride, 5- (2,
5-dioxotetrahydroxyfuryl) -3-methyl-
3-cyclohexene-1,2-dicarboxylic acid anhydride, acid anhydride such as methylnadic acid anhydride, phenol derivative such as resole phenol resin, phenol novolac resin, cresol novolac resin, resorcinol resin, xylene resin, 2,2 dicarboxylic acid Mercaptodiethyl ether,
Polymercaptans such as 1,2-dimercaptopropane, 1,3-dimercaptopropanol, bis (2-mercaptoethyl sulfide), dimethylaminomethylphenol, 2,4,6-tri (dimethylaminomethyl)
Phenol, tri (dimethylaminomethyl) phenol tri-2-ethylhexane salt, 2-methylimidazole, 2-ethyl-4-methylimidazole, 2-undecylimidazole, 2-heptadecylimidazole, 2
-Phenylimidazole, 2-phenyl-4-methylimidazole, 1-benzyl-2-methylimidazole,
2-ethylimidazole, 2-isopropylimidazole, 1-cyanoethyl-2-methylimidazole, 1-
Cyanoethyl-2-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2-undecylimidazole, 1-cyanoethyl-2-isopropylimidazole, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2-
Methyl imidazole trimellitate, 1-cyanoethyl-2-ethyl 4-methyl imidazole trimellitate,
1-Cyanoethyl-2-undecylimidazole trimellitate, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazole, 2,4-diamino-6- [2'-methylimidazolyl- (1) ']-ethyl-s-triazine, 2 , 4-diamino-6- [2'undecylimidazolyl-
(1) ′]-Ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6- [2′-ethyl-4′-methylimidazolyl-
(1) ′]-Ethyl-s-triazine, 1-dodecyl-
2-methyl-3-benzylimidazolium chloride,
1,3-Dibenzyl-2-methylimidazolium chloride, 2-phenyl-4-methyl-5-hydroxymethylimidazole, 2-phenyl-4,5-dihydroxymethylimidazole, 1-cyanoethyl-2-phenyl-
4,5-di (cyanoethoxymethyl) imidazole, 2
-Methylimidazole-triazine complex, 2-phenylimidazole-triazine complex, and other tertiary amines,
3 Lewis acid complexes such as boron trifluoride / monoethylamine complex compound, boron trifluoride / triethanolamine complex compound, boron trifluoride / piperidine complex compound, boron trifluoride / n-butyl ether complex compound Can be mentioned. Among them, the phenol derivative is preferable because it is excellent in reactivity and is also excellent in moist heat resistance in semiconductor device applications.

【0010】(c)弾性体:弾性体は接着剤に可とう性
を付与するものであれば使用できる。本発明に使用され
る弾性体は、一般にエラストマーと呼ばれている樹脂で
あり、具体的にはアクリルゴム、アクリロニトリル−ブ
タジエン共重合体(NBR)、アクリロニトリル−ブタ
ジエン−スチレン樹脂(ABS)、エチレン−プロピレ
ンゴム、クロロプレンゴム(CR)、スチレン−ブタジ
エンゴム(SBR)、スチレン−ブタジエン−エチレン
樹脂(SEBS)、ブタジエンゴム(BR)、ポリアミ
ド樹脂、ポリアミドイミド樹脂、ポリイミド樹脂、ポリ
エチレン樹脂、ポリエステル樹脂、ポリウレタン樹脂、
ポリビニルブチラール樹脂、シリコーン樹脂等が挙げら
れ、これらの中でもアクリルゴム、アクリロニトリル−
ブタジエン共重合体、ポリアミド樹脂、シリコーン樹脂
が好ましく、最適にはアクリルゴム、アクリロニトリル
−ブタジエン共重合体である。アクリロニトリル−ブタ
ジエン共重合体はアクリロニトリル含有量が10〜50
モル%が好ましく、さらに好ましくは20〜40モル%
である。10モル%未満では硬化物の耐薬品性が低く、
50モル%を超えるとメチルエチルケトン(以下、ME
Kと称す。)、トルエン等の汎用溶剤への溶解性が低下
するので好ましくない。また、これらの弾性体は、硬化
後の耐熱性向上のために、(a)成分のエポキシ樹脂と
反応可能な官能基を有することが望ましい。具体的な官
能基としては、アミノ基、イソシアネート基、カルボキ
シル基(無水物を含む)、シラノール基、水酸基、ビニ
ル基、メチロール基、メルカプト基等が挙げられる。中
でもアミノ基、カルボキシル基、水酸基は反応性に富む
ため好ましく、最適にはカルボキシル基、水酸基を有す
る弾性体である。官能基の含有量は0.2〜20モル%
が好ましく、更に好ましくは0.5〜15モル%、より
好ましくは2〜8モル%である。官能基量が0.2モル
%未満であると反応性が低く、20モル%を超えると塗
料の状態で安定性が悪くなる。
(C) Elastic body: The elastic body can be used as long as it gives flexibility to the adhesive. The elastic body used in the present invention is a resin generally called an elastomer, specifically, acrylic rubber, acrylonitrile-butadiene copolymer (NBR), acrylonitrile-butadiene-styrene resin (ABS), ethylene- Propylene rubber, chloroprene rubber (CR), styrene-butadiene rubber (SBR), styrene-butadiene-ethylene resin (SEBS), butadiene rubber (BR), polyamide resin, polyamideimide resin, polyimide resin, polyethylene resin, polyester resin, polyurethane resin,
Examples thereof include polyvinyl butyral resin and silicone resin. Among them, acrylic rubber, acrylonitrile-
Butadiene copolymer, polyamide resin and silicone resin are preferable, and acrylic rubber and acrylonitrile-butadiene copolymer are most preferable. The acrylonitrile-butadiene copolymer has an acrylonitrile content of 10 to 50.
Mol% is preferred, more preferably 20-40 mol%
Is. If it is less than 10 mol%, the chemical resistance of the cured product is low,
If it exceeds 50 mol%, methyl ethyl ketone (hereinafter referred to as ME
It is called K. ), The solubility in a general-purpose solvent such as toluene decreases, which is not preferable. Further, these elastic bodies preferably have a functional group capable of reacting with the epoxy resin as the component (a) in order to improve heat resistance after curing. Specific functional groups include amino groups, isocyanate groups, carboxyl groups (including anhydrides), silanol groups, hydroxyl groups, vinyl groups, methylol groups, mercapto groups, and the like. Of these, an amino group, a carboxyl group, and a hydroxyl group are preferable because they are highly reactive, and most preferably, an elastic body having a carboxyl group and a hydroxyl group. Functional group content is 0.2 to 20 mol%
Is more preferable, 0.5 to 15 mol% is more preferable, and 2 to 8 mol% is more preferable. When the amount of the functional group is less than 0.2 mol%, the reactivity is low, and when the amount of the functional group exceeds 20 mol%, the stability is deteriorated in the state of paint.

【0011】(d)シランカップリング剤:シランカッ
プリング剤は、下記式(1)に示すように、ケイ素に有
機マトリックスと親和もしくは結合可能な有機官能基
(X)と無機材料と結合可能な加水分解基(Y)を持っ
た構造している。有機官能基としては、アミノ基、エ
ポキシ基があり、一般的には炭素数1〜6のアルキレン
基を介してケイ素原子と結合している。また、有機官能
基はエポキシ基、アミノ基を有しているものがエポキシ
硬化剤との反応性がよい。また加水分解基としては、メ
トキシ基、エトキシ基、クロル基、アセトキシ基等が挙
げられる。
(D) Silane coupling agent: The silane coupling agent is capable of binding an organic functional group (X) capable of binding or binding to an organic matrix to silicon and an inorganic material, as shown in the following formula (1). It has a structure having a hydrolyzable group (Y). As the organic functional group , an amino group, an
There is a poxy group, which is generally bonded to a silicon atom via an alkylene group having 1 to 6 carbon atoms. The organic functional group having an epoxy group or an amino group has good reactivity with the epoxy curing agent . Examples of the hydrolyzable group include methoxy group, ethoxy group, chloro group, acetoxy group and the like.

【化1】 具体的なシランカップリング剤はXがエポキシ基を持
つ有機官能基の場合、β―(3,4−エポキシシクロヘ
キシル)エチルトリメトキシシラン、γ―グリシドキシ
プロピルトリメトキシシラン、γ―グリシドキシプロピ
ルメチルジメトキシシラン、γ―グリシドキシプロピル
メチルジエトキシシランが挙げられる。またXがアミ
ノ基を持つ有機官能基の場合、γ―アミノプロピルトリ
エトキシシラン、γ―アミノプロピルトリメトキシシラ
ン、γ―アミノプロピル−トリス(β―メトキシ−エト
キシ−エトキシ)シラン、N―メチル−γ―アミノプロ
ピルトリメトキシシラン、N―(β―アミノエチル)−
γ―アミノプロピルトリメトキシシラン、 N―(β―
アミノエチル)−γ―アミノプロピルメチルジメトキシ
シラン、トリアミノプロピルトリメトキシシラン、N−
フェニル−γ―アミノプロピルトリメトキシシラン、オ
クタデシルジメチル[γ―(トリメトキシシリル)プロ
ピル]アンモニウムクロライド、γ―4,5ジヒドロキ
シイミダゾールプロピルトリエトキシシラン、γ―ユレ
イドプロピルトリエトキシシラン、γ―ユレイドプロピ
ルトリメトキシシランが挙げられるXがエポキシ基又
はアミノ基を有する有機官能基をもつシランカップリン
グ剤は耐ポップコーン性に優れているまた上記
(a)、(b)、(c)、(d)成分以外に硬化反応を
促進させるため、イミダゾール類、1,8−ジアザビシ
クロ(5,4,0)ウンデセン等アミン系触媒、トリフ
ェニルフォスフィン等リン系触媒の反応促進剤を添加す
ることも有効である。
[Chemical 1] Specific silane coupling agent, if the organic functional group X has the epoxy group, beta-(3,4-epoxycyclohexyl) ethyltrimethoxysilane, .gamma.-glycidoxypropyltrimethoxysilane, .gamma. glycidol Examples include xypropylmethyldimethoxysilane and γ-glycidoxypropylmethyldiethoxysilane. Further, when the organic functional group X has an amino group, .gamma.-aminopropyltriethoxysilane, .gamma.-aminopropyltrimethoxysilane, .gamma.-aminopropyl - tris (beta-methoxy - ethoxy - ethoxy) silane, N- methyl -Γ-aminopropyltrimethoxysilane, N- (β-aminoethyl)-
γ-aminopropyltrimethoxysilane, N- (β-
Aminoethyl) -γ-aminopropylmethyldimethoxysilane, triaminopropyltrimethoxysilane, N-
Phenyl-γ-aminopropyltrimethoxysilane, octadecyldimethyl [γ- (trimethoxysilyl) propyl] ammonium chloride, γ-4,5 dihydroxyimidazolepropyltriethoxysilane, γ-ureidopropyltriethoxysilane, γ-ureido Examples include propyltrimethoxysilane . A silane coupling agent in which X has an organic functional group having an epoxy group or an amino group has excellent resistance to popcorn . In addition to the above components (a), (b), (c), and (d), in order to accelerate the curing reaction, imidazoles, amine catalysts such as 1,8-diazabicyclo (5,4,0) undecene, triphenyl, etc. It is also effective to add a phosphorus catalyst reaction promoter such as phosphine.

【0012】また本発明の半導体装置用接着剤組成物に
は、熱膨張係数、熱伝導率の調整あるいは作業性の制御
等の目的で無機又は有機フィラーを含有させることが好
ましい。無機フィラーとしては粉砕型シリカ、溶融型シ
リカ、アルミナ、酸化チタン、酸化ベリリウム、酸化マ
グネシウム、炭酸カルシウム、窒化チタン、窒化珪素、
窒化硼素、硼化チタン、硼化タングステン、炭化珪素、
炭化チタン、炭化ジルコニウム、炭化モリブデン、マイ
カ、酸化亜鉛、カーボンブラック、水酸化アルミニウ
ム、水酸化カルシウム、水酸化マグネシウム、三酸化ア
ンチモン又はこれ等の表面をトリメチルシロキシル基等
で処理したもの等があげられ、有機フィラーとしては、
ポリイミド、ポリアミドイミド、ポリエーテルエーテル
ケトン、ポリエーテルイミド、ポリエステルイミド、ナ
イロン、シリコーン等が上げられる。これらのフィラー
の配合量は、各成分(a),(b),(c)及び(d)
の総和100重量部に対して、5〜95重量部、好まし
くは10〜50重量部の範囲である。
Further, the adhesive composition for a semiconductor device of the present invention preferably contains an inorganic or organic filler for the purpose of adjusting the coefficient of thermal expansion, thermal conductivity or controlling workability. As the inorganic filler, pulverized silica, fused silica, alumina, titanium oxide, beryllium oxide, magnesium oxide, calcium carbonate, titanium nitride, silicon nitride,
Boron nitride, titanium boride, tungsten boride, silicon carbide,
Titanium carbide, zirconium carbide, molybdenum carbide, mica, zinc oxide, carbon black, aluminum hydroxide, calcium hydroxide, magnesium hydroxide, antimony trioxide or those whose surface is treated with a trimethylsiloxyl group, etc. As an organic filler,
Examples include polyimide, polyamide imide, polyether ether ketone, polyether imide, polyester imide, nylon and silicone. The blending amount of these fillers is such that each component (a), (b), (c) and (d)
The total amount is 5 to 95 parts by weight, preferably 10 to 50 parts by weight.

【0013】上記(a)〜(d)成分を含有した本発明
の半導体装置用接着剤組成物の硬化後の200℃〜28
0℃の温度域に於ける動的弾性率は106Pa以上であ
ることが好ましい。動的弾性率が106Pa未満である
とポップコーン現象が発生しやすく、ショート等の不良
を起こしやすくなる。動的弾性率は厚さ100μmの硬
化後の接着剤フィルムをオリエンテック社製レオバイブ
ロンDDV−IIを用いて、周波数11Hz、昇温速度
3℃/minで行った。上記(a)〜(c)成分の好ま
しい配合比率は、[(a)+(b)]/(c)が0.2
〜5であり、さらに好ましくは0.3〜3.3である。
この場合、0.2未満では弾性率が106Paより低く
なり、また、5を超えて大きいとフィルム状接着剤が可
とう性を失うので好ましくない。上記(d)成分は
(a)、(b)及び(c)の各成分の総和100重量部
に対して0.1〜20重量部、好ましくは0.2〜10
重量部、最適には0.3〜5重量部使用する。上記
(a)〜(d)成分は有機溶剤に溶解、調合して接着剤
溶液とする。好ましく使用される有機溶剤としてはN−
メチル−2−ピロリドン、N,N−ジメチルアセトアミ
ド、N,N−ジメチルホルムアミド、ピリジン、ME
K、メチルイソブチルケトン、トルエン、キシレン、
1,4−ジオキサン、テトラヒドロフラン、エタノー
ル、メタノール、イソプロパノール、メチルセロソル
ブ、エチルセロソルブ等である。
200 ° C. to 28 ° C. after curing of the adhesive composition for a semiconductor device of the present invention containing the components (a) to (d).
The dynamic elastic modulus in the temperature range of 0 ° C. is preferably 10 6 Pa or more. If the dynamic elastic modulus is less than 10 6 Pa, the popcorn phenomenon is likely to occur and defects such as short circuits are likely to occur. The dynamic elastic modulus was measured by using a cured adhesive film having a thickness of 100 μm with Rheovibron DDV-II manufactured by Orientec Co., Ltd. at a frequency of 11 Hz and a heating rate of 3 ° C./min. [(A) + (b)] / (c) is 0.2 as a preferable blending ratio of the components (a) to (c).
It is -5, and more preferably 0.3-3.3.
In this case, if it is less than 0.2, the elastic modulus is lower than 10 6 Pa, and if it is more than 5, the film adhesive loses flexibility, which is not preferable. The component (d) is 0.1 to 20 parts by weight, preferably 0.2 to 10 parts by weight based on 100 parts by weight of the total of the components (a), (b) and (c).
Parts by weight, optimally 0.3 to 5 parts by weight. The components (a) to (d) are dissolved in an organic solvent and mixed to prepare an adhesive solution. The organic solvent preferably used is N-
Methyl-2-pyrrolidone, N, N-dimethylacetamide, N, N-dimethylformamide, pyridine, ME
K, methyl isobutyl ketone, toluene, xylene,
1,4-dioxane, tetrahydrofuran, ethanol, methanol, isopropanol, methyl cellosolve, ethyl cellosolve and the like.

【0014】本発明の接着シートは、前記接着剤組成物
を支持体の少なくとも一面に積層してなる構成である。
該接着シートは、上記接着剤組成物溶液を支持体に塗布
した後、乾燥を行って得られる。使用される支持体とし
てはポリイミド、ポリアミド、ポリエーテルアミド、ポ
リフェニレンサルフアイド、ポリエーテルケトン、ポリ
パラバン酸、ポリエチレンテレフタレート、フッ素樹脂
等の耐熱性フィルム、ガラスクロス、アラミド、ナイロ
ン、アミドイミド、ポリイミド等の耐熱性不織布が挙げ
られ、前記耐熱性フィルム表面に離型処理を施した剥離
性フィルムが好適に使用される。該耐熱性、剥離性フィ
ルムの厚さは7.5〜500μm、好ましくは10〜1
30μmである。上記接着シートの接着剤組成物層の表
面には、必要に応じて保護フィルムを接着剤層面に設け
る。使用される剥離性フィルムとしては前記した耐熱性
フィルムで剥離性を有するものが挙げられ、その表面に
剥離処理を施したものも好ましいフィルムである。また
保護フィルムとしては離型性を有するフィルムで前記し
たものが好ましく使用され、厚さは上記に同じである。
接着剤層の乾燥後の厚さはパッケージ形状により異なる
が一般に厚さ10〜200μm、好ましくは30〜10
0μmである。
The adhesive sheet of the present invention has a constitution in which the adhesive composition is laminated on at least one surface of a support.
The adhesive sheet is obtained by applying the adhesive composition solution to a support and then drying it. As the support used, heat-resistant films such as polyimide, polyamide, polyetheramide, polyphenylene sulfide, polyether ketone, polyparabanic acid, polyethylene terephthalate, and fluororesin, glass cloth, aramid, nylon, amide imide, heat-resistant polyimide, etc. A non-woven fabric may be used, and a peelable film obtained by subjecting the surface of the heat resistant film to a release treatment is preferably used. The heat-resistant and peelable film has a thickness of 7.5 to 500 μm, preferably 10 to 1
It is 30 μm. On the surface of the adhesive composition layer of the adhesive sheet, a protective film is provided on the adhesive layer surface, if necessary. Examples of the peelable film used include the above-mentioned heat-resistant films having peelability, and those having a surface subjected to a peeling treatment are also preferable films. As the protective film, a film having releasability as described above is preferably used, and the thickness thereof is the same as above.
The thickness of the adhesive layer after drying varies depending on the package shape, but is generally 10 to 200 μm, preferably 30 to 10 μm.
It is 0 μm.

【0015】本発明の補強部材は、前記接着剤組成物を
下記に述べる基材の少なくとも一面に積層したものであ
る。補強部材としては前記したスティフナー及び/又は
カバープレートが挙げられる。該補強部材を製造するに
は、上記接着シートの接着剤層表面と基材とが対向す
るよう両者を積層した後、打ち抜き加工を行い所望の形
状とする方法。接着シートと基材とを予め個々に所望
の形状に打ち抜き加工を行い、その後該接着シートの接
着剤層表面と基材とを対向するように積層する工程を経
て得られる方法がある。また、基材に接着剤組成物を塗
布した後、打ち抜くことも可能である。ここで用いる接
着シートは剥離性フィルムの一面に接着剤組成物を積層
した接着シート及び耐熱性フィルム等支持体の少なくと
も一面に接着剤組成物を積層した接着シートのいずれで
も使用できる。本発明でいう補強部材を構成する基材
は、ポリイミド等のIC基板の補強及び寸法安定化する
ものであれば特に制限されるものではないが、鉄、銅、
アルミ、コバルト、ニッケル、チタン及びそれの合金
(SUS、42合金等)又はメッキを施した金属類もし
くは、セラミック(アルミナ、ジルコニア等)、ガラス
(石英ガラス、ソーダガラス等)、カーボン及びポリイ
ミド、ポリエステル等の有機材料が使用できる。放熱
性、電磁波シールド性の良好なものである金属類が好ま
しく、加工性、寸法安定性、コスト等に優れたSUS、
42合金が好ましく使用される。該補強部材はパッケー
ジ形状により、形状、大きさは異なるが、一般に、厚さ
100μm〜2mm、好ましくは200〜500μmで
ある。接着剤層もパッケージ形状により異なるが一般に
は前記した厚さである。以下、本発明を実施例により具
体的に説明する。
The reinforcing member of the present invention is obtained by laminating the adhesive composition on at least one surface of a base material described below. Examples of the reinforcing member include the stiffener and / or the cover plate described above. In order to produce the reinforcing member, a method is used in which the adhesive layer surface of the adhesive sheet and the base material are laminated so as to face each other, and then punched to obtain a desired shape. There is a method in which the adhesive sheet and the base material are individually punched into a desired shape in advance, and then the adhesive layer surface of the adhesive sheet and the base material are laminated so as to face each other. Moreover, it is also possible to punch out after applying the adhesive composition to the substrate. The adhesive sheet used here may be either an adhesive sheet having an adhesive composition laminated on one surface of a peelable film or an adhesive sheet having an adhesive composition laminated on at least one surface of a support such as a heat resistant film. The base material constituting the reinforcing member in the present invention is not particularly limited as long as it can reinforce and dimensionally stabilize the IC substrate such as polyimide, but iron, copper,
Aluminum, cobalt, nickel, titanium and alloys thereof (SUS, 42 alloy, etc.) or plated metals, ceramics (alumina, zirconia, etc.), glass (quartz glass, soda glass, etc.), carbon and polyimide, polyester Organic materials such as can be used. Metals having good heat dissipation and electromagnetic wave shielding properties are preferable, and SUS excellent in workability, dimensional stability, cost, etc.
42 alloy is preferably used. The shape and size of the reinforcing member differ depending on the package shape, but generally the thickness is 100 μm to 2 mm, preferably 200 to 500 μm. The adhesive layer also varies depending on the package shape, but generally has the above-mentioned thickness. Hereinafter, the present invention will be specifically described with reference to examples.

【0016】[0016]

【実施例】[接着剤組成物の塗料の調製]エポキシ樹
脂、エポキシ硬化剤、弾性体、シランカップリング剤、
硬化促進剤をMEKにそれぞれ下記に示す重量%になる
よう溶解して溶液を作製し、該溶液を表1に示す重量%
(固型分)になるように配合して本発明の半導体装置用
接着剤組成物の塗料を得た。 実施例1 エポキシ樹脂 :ビスフェノールA型エポキシ樹脂 80%溶液 (商品名;エピコート1001、油化シェルエポキシ社製) エポキシ硬化剤:ノボラックフェノール樹脂 70%溶液 (商品名;レヂトップPSM4261、群栄化学社製) 弾性体 :カルボキシル基7%含有NBR 22%溶液 (商品名;ニッポール1072、日本ゼオン社製) シランカップリング剤:エポキシシランカップリング剤 10%溶液 (商品名;サイラエースS−510、チッソ社製) 硬化促進剤 :2−ウンデシルイミダゾール 1%溶液 (商品名;C11Z、四国化成工業社製) 剥離処理を施した厚さ38μmのポリエステルフィルム
からなる支持体に、上記塗料を用いた表1の組成の本発
明による接着剤組成物塗料を均一に塗布し、130℃で
5分間加熱乾燥して厚さ50μmの接着剤層を形成した
後、剥離処理を施した厚さ50μmのポリエチレン保護
フィルムを貼り合わせて本発明の接着シートを作製し
た。その後、保護フィルムを剥離しながら厚さ250μ
mのニッケルメッキ銅板(補強部材用基材)と熱圧着し
た。次いで打ち抜き金型によりリング状に打ち抜き、本
発明の補強部材(スティフナー)を作製した。得られた
スティフナーのポリエステルフィルムを剥がして、3/
4オンスCu箔を使用している400pinの2層TA
Bの非リード面(ポリイミド面)に熱圧着し、90℃で
1時間、更に150℃で4時間加熱して接着剤を硬化さ
せ、スティフナー付きTABの模擬T−BGAパッケー
ジを作製した。
Examples [Preparation of paint for adhesive composition] Epoxy resin, epoxy curing agent, elastic body, silane coupling agent,
A solution was prepared by dissolving the curing accelerator in MEK to the respective weight% shown below, and the solution was prepared in the weight% shown in Table 1.
(Solid content) was blended to obtain a coating material of the adhesive composition for a semiconductor device of the present invention. Example 1 Epoxy resin: Bisphenol A type epoxy resin 80% solution (trade name; Epicoat 1001, manufactured by Yuka Shell Epoxy Co., Ltd.) Epoxy curing agent: Novolac phenol resin 70% solution (trade name: Resin Top PSM4261, Gunei Chemical Co., Ltd.) ) Elastomer: NBR 22% solution containing 7% of carboxyl groups (trade name; Nippon Pole 1072, manufactured by Zeon Corporation) Silane coupling agent: Epoxy silane coupling agent 10% solution (trade name: Sila Ace S-510, manufactured by Chisso Corporation) ) Curing accelerator: 2-undecylimidazole 1% solution (trade name; C11Z, manufactured by Shikoku Chemicals Co., Ltd.) A support made of a polyester film having a thickness of 38 μm and subjected to a peeling treatment, and the above coating composition was used as shown in Table 1. The composition of the adhesive composition according to the present invention is applied uniformly, and at 130 ° C. for 5 minutes. After forming an adhesive layer having a thickness of 50μm by thermal drying, to produce an adhesive sheet of the present invention by bonding a polyethylene protective film having a thickness of 50μm which has been subjected to release treatment. After that, while peeling off the protective film, the thickness is 250μ.
m nickel-plated copper plate (base material for reinforcing member) was thermocompression bonded. Then, it was punched into a ring shape by a punching die to manufacture the reinforcing member (stiffener) of the present invention. Remove the obtained stiffener polyester film and remove
400pin dual layer TA using 4oz Cu foil
The non-lead surface (polyimide surface) of B was thermocompression-bonded and heated at 90 ° C. for 1 hour and further at 150 ° C. for 4 hours to cure the adhesive, and a simulated T-BGA package with a stiffener was prepared.

【0017】 実施例2 エポキシ樹脂 :ビスフェノールA型エポキシ樹脂 80%溶液 (商品名;エピコート1001、油化シェルエポキシ社製) エポキシ硬化剤:ノボラックフェノール樹脂 70%溶液 (商品名;レヂトップPSM4261、群栄化学社製) 弾性体 :カルボキシル基含有NBR 22%溶液 (商品名;ニッポール1072、日本ゼオン社製) シランカップリング剤:エポキシシランカップリング剤 10%溶液 (商品名;サイラエースS−530、チッソ社製) 硬化促進剤 :2−ウンデシルイミダゾール 1%溶液 (商品名;C11Z、四国化成工業社製) 上記塗料を用いた表1の組成の本発明による接着剤組成
物塗料を用いた以外は実施例1と同様にしてスティフナ
ー付きTABの模擬T−BGAパッケージを作製した。 実施例3 エポキシ樹脂 :ビスフェノールA型エポキシ樹脂 80%溶液 (商品名;エピコート1001、油化シェルエポキシ社製) エポキシ硬化剤:ノボラックフェノール 70%溶液 (商品名;レヂトップPSM4261、群栄化学社製) 弾性体 :カルボキシル基含有NBR 22%溶液 (商品名;ニッポール1072、日本ゼオン社製) シランカップリング剤:アミノシランカップリング剤 10%溶液 (商品名;サイラエースS−330、チッソ社製) 硬化促進剤 :2−ウンデシルイミダゾール 1%溶液 (商品名;C11Z、四国化成工業社製) 上記塗料を用いた表1の組成の本発明による接着剤組成
物塗料を用いた以外は実施例1と同様にしてスティフナ
ー付きTABの模擬T−BGAパッケージを作製した。
Example 2 Epoxy resin: Bisphenol A type epoxy resin 80% solution (trade name; Epicoat 1001, manufactured by Yuka Shell Epoxy Co., Ltd.) Epoxy curing agent: Novolac phenol resin 70% solution (trade name: Resin Top PSM4261, Gunei) Chemical company) Elastomer: Carboxyl group-containing NBR 22% solution (trade name; Nippon Pole 1072, manufactured by Nippon Zeon Co., Ltd.) Silane coupling agent: Epoxy silane coupling agent 10% solution (trade name: Sila Ace S-530, Chisso Corporation) Curing accelerator: 2-undecylimidazole 1% solution (trade name; C11Z, manufactured by Shikoku Chemicals Co., Ltd.) Except that the adhesive composition coating composition of the present invention having the composition of Table 1 using the above coating composition was used. A TAB simulated T-BGA package with a stiffener was prepared in the same manner as in Example 1. . Example 3 Epoxy resin: Bisphenol A type epoxy resin 80% solution (trade name; Epicoat 1001, manufactured by Yuka Shell Epoxy Co., Ltd.) Epoxy curing agent: Novolac phenol 70% solution (trade name: Resin Top PSM4261, manufactured by Gunei Chemical Co., Ltd.) Elastomer: Carboxyl group-containing NBR 22% solution (trade name; Nippon Pole 1072, manufactured by Zeon Corporation) Silane coupling agent: Aminosilane coupling agent 10% solution (trade name: Sila Ace S-330, manufactured by Chisso Corporation) Curing accelerator : 2-undecylimidazole 1% solution (trade name; C11Z, manufactured by Shikoku Chemicals Co., Ltd.) In the same manner as in Example 1 except that the adhesive composition coating composition of the present invention having the composition shown in Table 1 was used. A TAB simulated T-BGA package with a stiffener was produced.

【0018】実施例4 エポキシ樹脂 :ビスフェノールA型エポキシ樹脂 80%溶液 (商品名;エピコート1001、油化シェルエポキシ社製) エポキシ硬化剤:ノボラックフェノール樹脂 70%溶液 (商品名;レヂトップPSM4261、群栄化学社製) 弾性体 :カルボキシル基7%含有NBR 22%溶液 (商品名;PNR−1H、日本合成ゴム社製) シランカップリング剤:エポキシシランカップリング剤 10%溶液 (商品名;サイラエースS−510、チッソ社製) 硬化促進剤 :2−ウンデシルイミダゾール 1%溶液 (商品名;C11Z、四国化成工業社製) 上記塗料を用いた表1の組成の本発明による接着剤組成
物塗料を用いた以外は実施例1と同様にしてスティフナ
ー付きTABの模擬T−BGAパッケージを作製した
Example 4 Epoxy resin: Bisphenol A type epoxy resin 80% solution (trade name; Epicoat 1001, made by Yuka Shell Epoxy Co., Ltd.) Epoxy curing agent: Novolac phenol resin 70% solution (trade name: Resintop PSM4261, Gunei) Chemical company) Elastic body: NBR 22% solution containing 7% of carboxyl group (trade name; PNR-1H, manufactured by Japan Synthetic Rubber Co., Ltd.) Silane coupling agent: Epoxy silane coupling agent 10% solution (trade name: Sila Ace S- 510, manufactured by Chisso Co., Ltd. Curing accelerator: 2-undecylimidazole 1% solution (trade name; C11Z, manufactured by Shikoku Chemicals Co., Ltd.) For the adhesive composition coating composition of the present invention having the composition shown in Table 1 using the above coating composition A TAB simulated T-BGA package with a stiffener was prepared in the same manner as in Example 1 except that .

【0019】 比較例1 エポキシ樹脂 :ビスフェノールA型エポキシ樹脂 80%溶液 (商品名;エピコート1001、油化シェルエポキシ社製) エポキシ硬化剤:ノボラックフェノール樹脂 70%溶液 (商品名;レヂトップPSM4261、群栄化学社製) 弾性体 :カルボキシル基含有NBR 22%溶液 (商品名;PNR−1H、日本合成ゴム社製) 硬化促進剤 :2−ウンデシルイミダゾール 1%溶液 (商品名;C11Z、四国化成工業社製) 上記塗料を用いた表1の組成の比較用の接着剤組成物塗
料を用いた以外は実施例1と同様にしてスティフナー付
きTABの模擬T−BGAパッケージを作製した。 比較例2 エポキシ樹脂 :ビスフェノールA型エポキシ樹脂 80%溶液 (商品名;エピコート1001、油化シェルエポキシ社製) エポキシ硬化剤:ノボラックフェノール樹脂 70%溶液 (商品名;レヂトップPSM4261、群栄化学社製) 弾性体 :カルボキシル基含有NBR 22%溶液 (商品名;PNR−1H、日本合成ゴム社製) チタンカップリング剤:イソプロピルポリイソステアロイルチタネート 10%溶液 (商品名;KR TTS、味の素社製) 硬化促進剤 :2−ウンデシルイミダゾール 1%溶液 (商品名;C11Z、四国化成工業社製) 上記塗料を用いた表1の組成の比較用の接着剤組成物塗
料を用いた以外は実施例1と同様にしてスティフナー付
きTABの模擬T−BGAパッケージを作製した。
Comparative Example 1 Epoxy resin: Bisphenol A type epoxy resin 80% solution (trade name; Epicoat 1001, manufactured by Yuka Shell Epoxy Co., Ltd.) Epoxy curing agent: Novolac phenol resin 70% solution (trade name: Resin Top PSM4261, Gunei) Chemical company) Elastomer: Carboxyl group-containing NBR 22% solution (trade name; PNR-1H, manufactured by Nippon Synthetic Rubber Co., Ltd.) Curing accelerator: 2-undecylimidazole 1% solution (trade name; C11Z, Shikoku Chemicals Co., Ltd. Manufacture) A simulated T-BGA package of TAB with a stiffener was produced in the same manner as in Example 1 except that a comparative adhesive composition coating composition having the composition of Table 1 using the above coating composition was used. Comparative Example 2 Epoxy resin: Bisphenol A type epoxy resin 80% solution (trade name; Epicoat 1001, manufactured by Yuka Shell Epoxy Co., Ltd.) Epoxy curing agent: Novolac phenol resin 70% solution (trade name: Resin Top PSM4261, manufactured by Gunei Chemical Co., Ltd.) ) Elastomer: Carboxyl group-containing NBR 22% solution (trade name; PNR-1H, manufactured by Japan Synthetic Rubber Co., Ltd.) Titanium coupling agent: isopropyl polyisostearoyl titanate 10% solution (trade name; KR TTS, manufactured by Ajinomoto Co., Inc.) Curing Accelerator: 2-undecylimidazole 1% solution (trade name; C11Z, manufactured by Shikoku Chemicals Co., Ltd.) and Example 1 except that an adhesive composition paint for comparison with the composition of Table 1 using the above paint was used. Similarly, a TAB simulated T-BGA package with a stiffener was produced.

【0020】[0020]

【表1】 [Table 1]

【0021】(耐ポップコーン性評価) 上記実施例1〜及び比較例1、比較例2で作成した模
擬T−BGAを20個用意し、温度85、相対湿度8
5%の環境下に48時間放置した後、220〜240℃
の温度範囲(但し、240℃での温度履歴を必須とす
る)で10秒のIRリフローにかけ、超音波探傷により
ポップコーン発生の有無を観察し、発生が認められたパ
ッケージ数を計測し、結果を表2に示した。表2の結果
から明らかなように、本発明の接着剤組成物を用いた模
擬パッケージは、パッケージ吸湿後における耐ポップコ
ーン性に優れていることが確認された。 (動的弾性率の測定) 上記実施例1〜及び比較例1、比較例2で得られた厚
さ100μmの接着シートを90℃1時間、150℃4
時間で硬化させ、前記した測定方法にて動的弾性率(2
00〜280℃における最小値)を測定し、結果を表2
に示した。表2の結果から明らかなように、本発明の接
着剤組成物を用いた模擬パッケージは、十分な耐ポップ
コーン性を維持するのに必要な106Pa以上の動的弾
性率を有することを確認した。 (サーマルサイクル試験) 上記実施例1〜及び比較例1、比較例2で得られた各
20個の模擬パッケージを−55℃〜125℃のサーマ
ルサイクル試験を行った。但し、この場合、125℃及
び−55℃ではそれぞれ1時間の温度履歴を必須とし、
[常温−高温−低温−常温]を1サイクルとして600
サイクルの条件で実施した。その結果、実施例1〜
パッケージは異常なかったが、比較例1及び比較例2の
パッケージにはパッケージクラックの発生しているもの
があった。
(Evaluation of Popcorn Resistance) Twenty simulated T-BGAs prepared in Examples 1 to 4 and Comparative Examples 1 and 2 were prepared, and the temperature was 85 ° C. and the relative humidity was 8
220-240 ° C after leaving in 5% environment for 48 hours
IR reflow for 10 seconds in the temperature range (however, the temperature history at 240 ° C is essential), observe the presence or absence of popcorn generation by ultrasonic flaw detection, measure the number of packages where generation is found, and The results are shown in Table 2. As apparent from the results in Table 2, the simulated package using the adhesives compositions of the present invention, it was confirmed to have excellent resistance to popcorn resistance after packaging moisture absorption. (Measurement of Dynamic Elastic Modulus) The adhesive sheets having a thickness of 100 μm obtained in Examples 1 to 4 and Comparative Examples 1 and 2 were 90 ° C. for 1 hour and 150 ° C. for 4 hours.
It is cured for a period of time, and the dynamic elastic modulus (2
(Minimum value at 00 to 280 ° C.), and the results are shown in Table 2.
It was shown to. The results in Table 2 As is apparent, contact <br/> Chakuzai composition simulating package using a a sufficient 10 6 Pa or more dynamic elastic modulus required to maintain resistance to popcorn of the present invention Was confirmed to have. (Thermal cycle test) Each of the 20 simulated packages obtained in Examples 1 to 4 and Comparative Examples 1 and 2 was subjected to a thermal cycle test at -55 ° C to 125 ° C. However, in this case, a temperature history of 1 hour is essential at 125 ° C. and −55 ° C.,
[Normal temperature-high temperature-low temperature-normal temperature] as one cycle 600
It was carried out under the condition of cycle. As a result, the packages of Examples 1 to 4 were not abnormal, but some of the packages of Comparative Example 1 and Comparative Example 2 had package cracks.

【0022】[0022]

【表2】 [Table 2]

【0023】[0023]

【発明の効果】本発明の接着剤組成物を用いたパッケー
ジはプリント配線基盤に実装した場合、リフロー工程の
高温に曝されても耐ポップコーン現象に優れ、ハンダボ
ールの電気的不良が発生しない等の高い信頼性を有する
ものであった。
When the package using the adhesive composition of the present invention is mounted on a printed wiring board, it is excellent in popcorn resistance even when it is exposed to the high temperature of the reflow process, and electrical defects of solder balls do not occur. It had high reliability.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 T−BGAパッケージの一例の断面図であ
る。
FIG. 1 is a cross-sectional view of an example of a T-BGA package.

【図2】 T−BGAパッケージの他の一例の断面図で
ある。
FIG. 2 is a cross-sectional view of another example of a T-BGA package.

【図3】 E−BGAパッケージの一例の断面図であ
る。
FIG. 3 is a cross-sectional view of an example of an E-BGA package.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1・・半田ボール、 3・・配線、 4・・絶縁性
フィルム、5・・電極、 6・・半導体チップ、
7・・接着剤、8・・補強部材、 9・・金ワイヤ
ー、 10・・基板
1 ... Solder ball, 3 ... Wiring, 4 ... Insulating film, 5 ... Electrode, 6 ... Semiconductor chip,
7 ... Adhesive, 8 ... Reinforcing member, 9 ... Gold wire, 10 ... Substrate

Claims (6)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 少なくとも絶縁体層及び導体回路から構
成されるIC用基板の回路面又はその裏面に補強部材を
積層した半導体装置に使用する接着剤組成物であって、
該組成物が、(a)エポキシ樹脂、(b)エポキシ硬化
剤、(c)弾性体及び(d)シランカップリング剤を含
し、前記シランカップリング剤がエポキシシランカッ
プリング剤またはアミノシランカップリング剤である
とを特徴とする半導体装置用接着剤組成物。
1. An adhesive composition for use in a semiconductor device in which a reinforcing member is laminated on the circuit surface or the back surface of an IC substrate composed of at least an insulating layer and a conductor circuit,
The composition contains (a) an epoxy resin, (b) an epoxy curing agent, (c) an elastic body, and (d) a silane coupling agent, and the silane coupling agent is an epoxy silane coupling agent.
An adhesive composition for a semiconductor device, which is a pulling agent or an aminosilane coupling agent .
【請求項2】 前記エポキシ硬化剤がフェノール誘導体
であることを特徴とする請求項1記載の半導体装置用接
着剤組成物。
2. The adhesive composition for a semiconductor device according to claim 1, wherein the epoxy curing agent is a phenol derivative.
【請求項3】 前記弾性体がエポキシ基と反応可能な官
能基を有するアクリルゴム又はアクリロニトリル−ブタ
ジエン共重合体であることを特徴とする請求項1記載の
半導体装置用接着剤組成物。
3. The adhesive composition for a semiconductor device according to claim 1, wherein the elastic body is an acrylic rubber or an acrylonitrile-butadiene copolymer having a functional group capable of reacting with an epoxy group.
【請求項4】 前記半導体装置用接着剤組成物の硬化後
の200℃〜280℃の温度域に於ける動的弾性率が1
6Pa以上であることを特徴とする請求項1記載の半
導体装置用接着剤。
4. The dynamic elastic modulus in the temperature range of 200 ° C. to 280 ° C. after curing of the adhesive composition for a semiconductor device is 1.
The adhesive for semiconductor devices according to claim 1, wherein the adhesive is 0 6 Pa or more.
【請求項5】 前記半導体装置用接着剤組成物が、支持
体の少なくとも一面に積層してなることを特徴とする接
着シート。
5. An adhesive sheet, characterized in that the adhesive composition for a semiconductor device is laminated on at least one surface of a support.
【請求項6】 前記半導体装置用接着剤組成物が基材の
少なくとも一面に積層してなることを特徴とする補強部
材。
6. A reinforcing member comprising the adhesive composition for a semiconductor device laminated on at least one surface of a base material.
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