JP2000315696A - Adhesive composition for semiconductor device, adhesive sheet, and reinforcing member using the same - Google Patents

Adhesive composition for semiconductor device, adhesive sheet, and reinforcing member using the same

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To eliminate the occurrence of package cracking, etc., caused by a popcorn phenomenon and internal stress relief which occur in a reflowing process, by preparing an adhesive composition used for a semiconductor device by mixing an epoxy resin, an epoxy curing agent, an elastic material, and silane coupling agent with each other. SOLUTION: An adhesive composition used for a semiconductor device in which a reinforcing member is laminated upon the circuit surface or rear surface of a substrate for IC composed at least of an insulating layer and a conductor circuit is prepared by mixing (a) an epoxy resin, (b) an epoxy curing agent, (c) an elastic material, and (d) a silane coupling agent with each other. The (a) epoxy resin has two or more oxirane rings and the concrete example of the resin includes glycidyl ether, linear aliphatic epoxide, etc. The (b) epoxy curing agent is a chemical material that forms a tree-dimensional network structure by reacting to the epoxy resin and the concrete example of the (c) elastic material includes a resin called elastomer.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明が属する技術分野】本発明は、ICを搭載したI
C用基板(インターポーザー)と補強部材を積層構成に
有する半導体装置において、IC又は補強部材と周辺部
とを接着するための接着剤組成物に関し、より詳細に
は、ICとIC用基板、IC用基板とその補強部材、及
びICと補強部材との層間を接着する半導体装置用接着
剤組成物、接着シート及びそれを使用した補強部材に関
する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an IC mounted with an IC.
The present invention relates to an adhesive composition for bonding an IC or a reinforcing member to a peripheral portion in a semiconductor device having a C substrate (interposer) and a reinforcing member in a laminated configuration, and more particularly, to an IC, an IC substrate, and an IC. The present invention relates to an adhesive composition for a semiconductor device, an adhesive sheet, and a reinforcing member using the same, for bonding a substrate for use and a reinforcing member thereof, and an interlayer between an IC and the reinforcing member.

【0002】[0002]

【従来の技術】携帯型パソコン、携帯電話の普及が急速
に進む今日、電子機器には更なる小型化、薄型化、多機
能化が要求されている。この要求を実現するには電子部
品の小型化、高集積化は必須のことであるが、さらに電
子部品の高密度実装技術が必要となる。近年の電子部品
の中核を構成しているICパッケージは、その形態がQ
FP(Quad Flat Package)やSOP
(Small Outline Package)とい
った周辺実装型が主流であったが、最近ではBGA(B
all Grid Allay)、CSP(Chip
Size Package)と呼ばれる面実装型が高密
度実装可能なICパッケージとして脚光を浴びている。
BGA及びCSPはパッケージの裏面に面格子状にハン
ダボールを外部接続端子として設けている。IC(半導
体集積回路)の電極は、回路配線パターン変換基板であ
るIC用基板を介してプリント基板の電極に接続する。
そのIC用基板の種類によりプラスチックBGA(以
下、P−BGAと略す。)、セラミックBGA(以下、
C−BGAと略す。)、テープBGA(以下、T−BG
Aと略す。)、高機能(enhanced)BGA(以
下、E−BGAと略す。)が開発されている。最近まで
はQFPでのワイヤーボンディング技術が利用可能なP
−BGAが主流となっていたが、TAB(Tape A
utomated Bonding)技術を利用したT
−BGAが、さらなる高密度化(多ピン化)が可能であ
ること、また放熱性に優れるため主流になりつつある。
CSPはBGAを更に小型化、高密度化したパッケージ
であり、マイクロBGA、ファインピッチBGAと呼ば
れている。BGA、CSPはその構造から低インピーダ
ンス、周波数応答の高速性等の優れた電気特性も有しす
るパッケージである。
2. Description of the Related Art With the rapid spread of portable personal computers and portable telephones, electronic devices are required to be further reduced in size, thickness, and multifunctionality. In order to fulfill this demand, miniaturization and high integration of electronic components are indispensable. However, high-density mounting technology for electronic components is also required. IC packages, which form the core of recent electronic components, have Q
FP (Quad Flat Package) or SOP
Peripheral mounting type such as (Small Outline Package) has been the mainstream, but recently BGA (B
all Grid Array), CSP (Chip)
A surface mounting type called “Size Package” has been spotlighted as an IC package capable of high-density mounting.
The BGA and the CSP are provided with solder balls as external connection terminals on the back surface of the package in a plane lattice. Electrodes of an IC (semiconductor integrated circuit) are connected to electrodes of a printed circuit board via an IC substrate which is a circuit wiring pattern conversion substrate.
Depending on the type of the IC substrate, a plastic BGA (hereinafter abbreviated as P-BGA) or a ceramic BGA (hereinafter abbreviated as P-BGA) is used.
Abbreviated as C-BGA. ), Tape BGA (hereinafter, T-BG)
Abbreviated as A. ), Enhanced BGA (hereinafter, abbreviated as E-BGA) has been developed. Until recently, P which can use wire bonding technology in QFP
-BGA was the mainstream, but TAB (Tape A
T using automated bonding technology
-BGA is becoming mainstream because it can be further densified (increased number of pins) and has excellent heat dissipation.
The CSP is a package obtained by further reducing the size and density of the BGA, and is called a micro BGA or a fine pitch BGA. BGA and CSP are packages having excellent electrical characteristics such as low impedance and high-speed frequency response due to their structures.

【0003】T−BGAはTCP(Tape Carr
ier Package)の回路面又は非回路面にプリ
ント配線基盤(以下、PCBと略す。)との電気信号端
子として半田ボールを設けた構造となっている。図1に
T−BGAの一例の断面図を示す。半導体チップ6は電
極5を介して、絶縁性フィルム4の片面に形成された配
線3と接続され、さらに半田ボール1で外部と電気的に
接続する。絶縁性フィルム4は接着剤7を介して補強部
材8と接着され、さらに放熱の役割を有する他の補強部
材8が接着剤7を介して半導体チップ6と接着された構
造を有している。図2に他のT−BGAの一例の断面図
を示す。半導体チップ6は電極5を介して、絶縁性フィ
ルム4の片面に形成された配線3と接続され、さらに半
田ボール1で外部と電気的に接続する。絶縁性フィルム
4は接着剤7を介して補強部材8と接着される。この補
強部材8はさらに放熱の役割をも有し、接着剤7を介し
て半導体チップ6と接着された構造を有している。図3
にE−BGAの一例の断面図を示す。半導体チップ6は
金ワイヤー9を介して、ガラス−エポキシ等からなる基
板10に形成された配線3と接続され、さらに半田ボー
ル1で外部と電気的に接続する。基板10及び半導体チ
ップ6は、接着剤7を介して放熱機能を有する補強部材
8と接着された構造である。
[0003] T-BGA is based on TCP (Tape Carr).
This has a structure in which solder balls are provided on the circuit surface or the non-circuit surface of an inner package as an electric signal terminal for a printed wiring board (hereinafter abbreviated as PCB). FIG. 1 shows a cross-sectional view of an example of a T-BGA. The semiconductor chip 6 is connected to the wiring 3 formed on one surface of the insulating film 4 via the electrode 5 and further electrically connected to the outside by the solder ball 1. The insulating film 4 has a structure in which the reinforcing film 8 is bonded to the semiconductor chip 6 through an adhesive 7, and another reinforcing member 8 having a heat radiation function is bonded to the semiconductor chip 6 through the adhesive 7. FIG. 2 shows a cross-sectional view of an example of another T-BGA. The semiconductor chip 6 is connected to the wiring 3 formed on one surface of the insulating film 4 via the electrode 5 and further electrically connected to the outside by the solder ball 1. The insulating film 4 is bonded to the reinforcing member 8 via the adhesive 7. The reinforcing member 8 also has a function of dissipating heat, and has a structure in which the reinforcing member 8 is bonded to the semiconductor chip 6 via an adhesive 7. FIG.
FIG. 1 shows a cross-sectional view of an example of the E-BGA. The semiconductor chip 6 is connected to the wiring 3 formed on the substrate 10 made of glass-epoxy or the like via the gold wire 9, and further electrically connected to the outside by the solder ball 1. The substrate 10 and the semiconductor chip 6 have a structure bonded to a reinforcing member 8 having a heat dissipation function via an adhesive 7.

【0004】T−BGAには絶縁性フィルム4として、
一般にポリイミドフィルムが用いられる。このポリイミ
ドフィルムは通常ポリアミック酸を高温でイミド化処理
してポリイミドフィルムとして製造される。そのため、
イミド化処理後に室温に戻した際、イミド化による熱収
縮が内部応力として蓄積される。T−BGAを基板に接
合する際、リフロー工程でハンダの溶融温度(200〜
260゜C)に曝され、その時内部応力が開放されてポリ
イミドフィルムの平面性が失われる。それにより実装基
板への接続不良が発生してしまうことがある。近年、半
導体デバイスの高機能化に伴い、一方ではICチップの
大型化、多ピン化も進んでいる。このような半導体装置
では、T−BGAの面積も拡大傾向にあり、前記要因に
よるハンダボールの接続不良が生じる頻度も増加してい
る。この接続不良を改善するため、T−BGAのリード
面または非リード面に100μm〜500μm厚のステ
ィフナーと呼ばれる補強部材を装着することが提案さ
れ、接続不良の問題が大きく改善された。また、半導体
チップの放熱及び電磁波シールドのため、半導体チップ
にカバープレートと呼ばれる放熱板の役割を有する補強
部材を設けている。最近では低価格化のためスティフナ
ーとカバープレートを一体化した補強部材を使用するこ
ともある。
In the T-BGA, as an insulating film 4,
Generally, a polyimide film is used. This polyimide film is usually produced as a polyimide film by imidizing polyamic acid at a high temperature. for that reason,
When the temperature is returned to room temperature after the imidization treatment, heat shrinkage due to the imidization accumulates as internal stress. When joining the T-BGA to the substrate, the melting temperature (200 to
260 ° C.), at which time the internal stress is released and the planarity of the polyimide film is lost. As a result, a connection failure to the mounting board may occur. In recent years, as semiconductor devices have become more sophisticated, the size of IC chips and the number of pins have been increasing. In such a semiconductor device, the area of the T-BGA is also increasing, and the frequency of occurrence of solder ball connection failure due to the above factors is increasing. In order to improve the connection failure, it has been proposed to attach a reinforcing member called a stiffener having a thickness of 100 μm to 500 μm on the lead surface or the non-lead surface of the T-BGA, and the problem of the connection failure has been greatly improved. Further, for heat dissipation of the semiconductor chip and electromagnetic wave shielding, the semiconductor chip is provided with a reinforcing member called a cover plate and serving as a heat radiating plate. Recently, a reinforcing member in which a stiffener and a cover plate are integrated is sometimes used for cost reduction.

【0005】BGAは最終的にマザーボードと呼ばれる
メイン基板にハンダボールを介して実装される。この実
装工程はリフロー工程とよばれ、ハンダ浴浸漬法(ディ
ップ法)、ヴェパーフェイズ法(不活性溶剤の蒸発潜熱
によるハンダづけ)、遠赤外線リフロー(IRリフロ
ー)に代表されるハンダ付け工程であり、パッケージ全
体が200〜280℃に加熱される。近年、鉛を含まな
いハンダが開発され、使用され始めているが、従来の鉛
含有ハンダに比べ溶融温度が高く、必然的にリフローの
温度も高温にせざるを得なくなっている。一方、図1、
図2、図3に使用されている従来技術による接着剤は、
安価で、かつ作業性、電気特性及び耐熱性に優れている
点で熱硬化型が広く使用されている。その代表としては
エポキシ樹脂/エポキシ硬化剤/NBR(アクリロニト
リル−ブタジエン共重合体)系の接着剤が挙げられる。
ところで、従来使用されていたNBRは、一般的なアク
リロニトリルとブタジエンの共重合体でありエポキシ樹
脂との反応性を有していなかったため、ハンダリフロー
に使用される200〜280℃といった高温域での弾性
率が低くなりすぎてしまう。このような高温リフローで
は、接着剤又はIC用基板に水分が存在すると爆発的に
水蒸気化してボイドを生じ、接着剤を押しのけることに
より「ポップコーン」と呼ばれる膨れが生じる。このポ
ップコーン現象によりIC用基板が変形し、ハンダボー
ル同士が接触、ショートを起こしたり、配線基盤から外
れる等の不良を起こし、生産効率を著しく低下させてい
た。このポップコーン現象を防ぐため、接着剤を熱硬化
した後のパッケージを完全に乾燥し、密封した容器に収
納して出荷する方法(防湿梱包)が採られてきた。
[0005] The BGA is finally mounted on a main board called a motherboard via solder balls. This mounting process is called a reflow process, and is a soldering process typified by a solder bath immersion method (dip method), a vapor phase method (soldering by the latent heat of evaporation of an inert solvent), and far-infrared reflow (IR reflow). Yes, the entire package is heated to 200-280 ° C. In recent years, lead-free solder has been developed and started to be used. However, the melting temperature is higher than that of conventional lead-containing solder, and the reflow temperature has to be necessarily increased. On the other hand, FIG.
The prior art adhesive used in FIGS. 2 and 3 is:
Thermosetting types are widely used because they are inexpensive and excellent in workability, electrical characteristics and heat resistance. A representative example thereof is an epoxy resin / epoxy curing agent / NBR (acrylonitrile-butadiene copolymer) -based adhesive.
By the way, conventionally used NBR is a general copolymer of acrylonitrile and butadiene and has no reactivity with the epoxy resin, so that it is used at a high temperature range of 200 to 280 ° C. used for solder reflow. The elastic modulus becomes too low. In such a high-temperature reflow, if moisture is present in the adhesive or the IC substrate, it explosively vaporizes to generate voids, and when the adhesive is pushed away, swelling called "popcorn" occurs. Due to this popcorn phenomenon, the IC substrate is deformed, causing solder balls to come into contact with each other, to cause a short circuit, or to come off from the wiring board, resulting in a significant decrease in production efficiency. In order to prevent this popcorn phenomenon, a method has been adopted in which the package after the adhesive has been heat-cured is completely dried, stored in a sealed container, and shipped (moisture-proof packing).

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】この防湿梱包する出荷
方法は製造工程、製品の取り扱いが煩雑であり、製品価
格が高価になるという欠点があった。本発明の目的は、
T−BGA等の積層構造に使用される従来の接着剤の有
する問題点、すなわちリフロー工程にて生じるポップコ
ーン現象、内部応力解放に起因するパッケージクラック
等の問題点を解決し、耐リフロー性に優れた半導体装置
用接着剤組成物、接着シート及びそれを用いた補強部材
を提供することにある。
This method of shipping in a moisture-proof package has the drawback that the manufacturing process and the handling of the product are complicated and the product price is high. The purpose of the present invention is
Excellent reflow resistance by solving the problems of conventional adhesives used for laminated structures such as T-BGA, such as the popcorn phenomenon that occurs in the reflow process and package cracks caused by internal stress release. To provide an adhesive composition for semiconductor devices, an adhesive sheet, and a reinforcing member using the same.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本発明の半導体装置用接
着剤組成物は、少なくとも絶縁体層及び導体回路から構
成されるIC用基板の回路面又はその裏面に補強部材を
積層した半導体装置に使用する接着剤組成物であって、
該組成物が、(a)エポキシ樹脂、(b)エポキシ硬化
剤、(c)弾性体及び(d)シランカップリング剤 を
含有することを特徴とする。また、本発明の接着シート
は、前記半導体装置用接着剤組成物が支持体の一面に積
層してなることを特徴とする。また、本発明の補強部材
は、前記半導体装置用接着剤組成物が基材の少なくとも
一面に積層してなることを特徴とする。以下、本発明を
詳細に説明する。
The adhesive composition for a semiconductor device of the present invention is applied to a semiconductor device in which a reinforcing member is laminated on a circuit surface of an IC substrate comprising at least an insulating layer and a conductor circuit or on the back surface thereof. An adhesive composition to be used,
The composition is characterized by containing (a) an epoxy resin, (b) an epoxy curing agent, (c) an elastic body, and (d) a silane coupling agent. Further, the adhesive sheet of the present invention is characterized in that the adhesive composition for a semiconductor device is laminated on one surface of a support. Further, the reinforcing member of the present invention is characterized in that the adhesive composition for a semiconductor device is laminated on at least one surface of a substrate. Hereinafter, the present invention will be described in detail.

【0008】[0008]

【発明の実施の形態】本発明の接着剤組成物及び接着シ
ートは、少なくとも絶縁体層及び導体回路から構成され
るIC用基板の回路面又はその裏面に補強部材を積層し
た半導体装置に用い、スティフナー、カバープレート等
の補強部材又はIC(半導体集積回路)を基板に接着す
るためのものである。本発明の接着剤組成物に用いる成
分についてそれぞれ説明する。 (a)エポキシ樹脂:エポキシ樹脂は分子内に2個以上
のオキシラン環を有している樹脂、例えば、グリシジル
エーテル、グリシジルエステル、グリシジルアミン、線
状脂肪族エポキサイト、脂環族エポキサイト等いずれの
構造の樹脂でもよく、単独でも2種以上を併用すること
もできる。具体的には、ビスフェノールAジグリシジル
エーテル、ビスフェノールFジグリシジルエーテル、ビ
スフェノールSジグリシジルエーテル、レゾールシノー
ルジグリシジルエーテル、臭素化ビスフェノールAジグ
リシジルエーテル、フッ素化ビスフェノールAジグリシ
ジルエーテル、フェノールノボラックグリシジルエーテ
ル、クレゾールノボラックグリシジルエーテル、臭素化
ノボラックグリシジルエーテル等のグリシジルエーテル
類、ヘキサヒドロフタル酸ジグリシジルエステル、フタ
ル酸ジグリシジルエステル、ダイマー酸ジグリシジルエ
ステル等のグリシジルエステル類、トリグリシジルイソ
シアヌレート、テトラグリシジルジアミノジフェニルメ
タン、テトラグリシジルメタキシレンジアミン等のグリ
シジルアミン類、エポキシ化ポリブタジエン、エポキシ
化大豆油等の線状脂肪族エポキサイト類、3,4−エポ
キシ−6−メチルシクロヘキシルメチルカルボキシレー
ト、3,4−エポキシシクロヘキシルメチルカルボキシ
レート等の脂環族エポキサイト類が挙げられる。これら
の中でも特にビスフェノール型エポキシ樹脂が安価であ
るため好適に用いられ、そのエポキシ当量は170〜4
000のものが好ましく、より好ましくは当量170〜
500のものが望ましい。エポキシ当量が4000を超
えて大きいと硬化物の弾性率が低くなり、接着力が低下
する。本発明に好適に用いられるエポキシ樹脂は具体的
に、油化シェルエポキシ社製、商品名;エピコート80
6、828、1001、旭電化工業社製、商品名;EP
−4100G、EP4400、EP−4901等を挙げ
ることができる。また難燃性を付与するためにハロゲン
化エポキシ特に臭素化エポキシを用いることは有効な手
段である。臭素化エポキシの具体例としては、油化シェ
ルエポキシ社製、商品名;エピコート5045、504
6、5050、日本化薬社、商品名;BREN−S、B
REN−105、BREN−301等が挙げられる。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION The adhesive composition and the adhesive sheet of the present invention are used for a semiconductor device in which a reinforcing member is laminated on a circuit surface of an IC substrate comprising at least an insulator layer and a conductor circuit or on the back surface thereof. This is for bonding a reinforcing member such as a stiffener or a cover plate or an IC (semiconductor integrated circuit) to the substrate. The components used in the adhesive composition of the present invention will be described. (A) Epoxy resin: The epoxy resin is a resin having two or more oxirane rings in the molecule, such as glycidyl ether, glycidyl ester, glycidylamine, linear aliphatic epoxide, and alicyclic epoxide. May be used alone or in combination of two or more. Specifically, bisphenol A diglycidyl ether, bisphenol F diglycidyl ether, bisphenol S diglycidyl ether, resorcinol diglycidyl ether, brominated bisphenol A diglycidyl ether, fluorinated bisphenol A diglycidyl ether, phenol novolac glycidyl ether, Glycidyl ethers such as cresol novolak glycidyl ether, brominated novolak glycidyl ether, glycidyl esters such as hexahydrophthalic acid diglycidyl ester, phthalic acid diglycidyl ester, dimer acid diglycidyl ester, triglycidyl isocyanurate, tetraglycidyl diaminodiphenylmethane , Glycidylamines such as tetraglycidyl meta-xylene diamine, epoxidation Linear aliphatic epoxies such as lipbutadiene and epoxidized soybean oil; and alicyclic epoxides such as 3,4-epoxy-6-methylcyclohexylmethylcarboxylate and 3,4-epoxycyclohexylmethylcarboxylate. Can be Of these, bisphenol-type epoxy resins are particularly preferably used because they are inexpensive, and have an epoxy equivalent of 170-4.
000 is preferable, and more preferably, the equivalent is 170 to
500 are preferred. If the epoxy equivalent is larger than 4000, the elasticity of the cured product becomes low, and the adhesive strength decreases. The epoxy resin preferably used in the present invention is specifically manufactured by Yuka Shell Epoxy Co., trade name;
6, 828, 1001, manufactured by Asahi Denka Kogyo KK, trade name; EP
-4100G, EP4400, EP-4901 and the like. Use of a halogenated epoxy, especially a brominated epoxy, is an effective means for imparting flame retardancy. Specific examples of brominated epoxies are available from Yuka Shell Epoxy Co., Ltd., trade names; Epicoat 5045, 504
6, 5050, Nippon Kayaku, brand name: BREN-S, B
REN-105, BREN-301 and the like.

【0009】(b)エポキシ硬化剤:エポキシ硬化剤は
エポキシ樹脂と反応して3次元網状構造を形成する化学
物質を指し、芳香族ポリアミン、脂肪族ポリアミン、ポ
リアミド、酸無水物、フェノール誘導体、ポリメルカプ
タン、第三アミン、ルイス酸錯体等が使用される。具体
的には4,4‘−アミノジフェニルメタン、4、4’−
ジアミノジフェニルエーテル、ジアミノジフェニルスル
フォン、ジアミノジフェニルスルフィド、m−フェニレ
ンジアミン、2,4−トルイレンジアミン、m−トルイ
レンジアミン、o−トルイレンジアミン、メタキシリレ
ンジアミン、メタアミノベンジルアミン、ベンジジン、
4−クロロ−O−フェニレンジアミン、ビス(3,4−
ジアミノフェニル)スルフォン、2,6−ジアミノピリ
ジン、イソフタル酸ジヒドラジド等の芳香族ポリアミン
類、ジエチレントリアミン、ジプロピレントリアミン、
ジエチレンテトラミン、トリエチレンテトラミン、テト
ラエチレンペンタミン、ジメチルアミノプロピルアミ
ン、ジエチルアミノプロピルアミン、ジブチルアミノプ
ロピルアミン、ヘキサメチレンジアミン、N−アミノエ
チルピペラジン、ビス−アミノプロピルピペラジン、ト
リメチルヘキサメチレンジアミン、ビス−(ヘキサメチ
レン)トリアミン、アジピン酸ジヒドラジド、セバシン
酸ジヒドラジド、ジシアンジアミド等の脂肪族ポリアミ
ン類、ダイマー酸ポリアミド、無水マレイン酸、無水ド
デセニルこはく酸、無水クロレンデック酸、無水セバシ
ン酸、無水フタル酸、無水ピロメリット酸、無水トリメ
リット酸、シクロペンタン・テトラカルボン酸二無水
物、ヘキサヒドロ無水フタル酸、メチルヘキサヒドロ無
水フタル酸、テトラメチレン無水マレイン酸、テトラヒ
ドロ無水フタル酸、メチル・テトラヒドロ無水フタル
酸、エンドメチレンテトラヒドロ無水フタル酸、メチル
エンドメチレンテトラヒドロ無水フタル酸、5−(2,
5−ジオキソテトラヒドロキシフリル)−3−メチル−
3−シクロヘキセン−1,2−ジカルボン酸無水物、無
水メチルナジック酸等の酸無水物、レゾールフェノール
樹脂、フェノールノボラック樹脂、クレゾールノボラッ
ク樹脂、レゾールシノール樹脂、キシレン樹脂等のフェ
ノール誘導体、2,2ジメルカプトジエチルエーテル、
1,2−ジメルカプトプロパン、1,3−ジメルカプト
プロパノール、ビス(2−メルカプトエチルスルフィ
ド)等のポリメルカプタン類、ジメチルアミノメチルフ
ェノール、2,4,6−トリ(ジメチルアミノメチル)
フェノール、トリ(ジメチルアミノメチル)フェノール
・トリ−2−エチルヘキサン塩、2−メチルイミダゾー
ル、2−エチル−4−メチルイミダゾール、2−ウンデ
シルイミダゾール、2−ヘプタデシルイミダゾール、2
−フェニルイミダゾール、2−フェニル−4−メチルイ
ミダゾール、1−ベンジル−2−メチルイミダゾール、
2−エチルイミダゾール、2−イソプロピルイミダゾー
ル、1−シアノエチル−2−メチルイミダゾール、1−
シアノエチル−2−フェニルイミダゾール、1−シアノ
エチル−2−ウンデシルイミダゾール、1−シアノエチ
ル−2−イソプロピルイミダゾール、1−シアノエチル
−2−フェニルイミダゾール、1−シアノエチル−2−
メチルイミダゾールトリメリテート、1−シアノエチル
−2−エチル4−メチルイミダゾールトリメリテート、
1−シアノエチル−2−ウンデシルイミダゾールトリメ
リテート、1−シアノエチル−2−フェニルイミダゾー
ル、2,4−ジアミノ−6−[2‘−メチルイミダゾリ
ル−(1)’]−エチル−s−トリアジン、2,4−ジ
アミノ−6−[2‘ウンデシルイミダゾリル−
(1)’]−エチル−s−トリアジン、2,4−ジアミ
ノ−6−[2‘−エチル−4’−メチルイミダゾリル−
(1)’]−エチル−s−トリアジン、1−ドデシル−
2−メチル−3−ベンジルイミダゾリウムクロリド、
1,3−ジベンジル−2−メチルイミダゾリウムクロリ
ド、2−フェニル−4−メチル−5−ヒドロキシメチル
イミダゾール、2−フェニル−4,5−ジヒドロキシメ
チルイミダゾール、1−シアノエチル−2−フェニル−
4,5−ジ(シアノエトキシメチル)イミダゾール、2
−メチルイミダゾール・トリアジン複合体、2−フェニ
ルイミダゾール・トリアジン複合体等の第三アミン類、
3ふっ化ほう素・モノエチルアミン錯化合物、3ふっ化
ほう素・トリエタノールアミン錯化合物、3ふっ化ほう
素・ピペリジン錯化合物、3ふっ化ほう素・n−ブチル
エーテル錯化合物等のルイス酸錯体が挙げられる。中で
もフェノール誘導体は、反応性に優れ、半導体装置用途
においても耐湿熱性に優れるため好ましい。
(B) Epoxy curing agent: Epoxy curing agent refers to a chemical substance that reacts with an epoxy resin to form a three-dimensional network structure, and includes aromatic polyamines, aliphatic polyamines, polyamides, acid anhydrides, phenol derivatives, and polyamines. Mercaptans, tertiary amines, Lewis acid complexes and the like are used. Specifically, 4,4'-aminodiphenylmethane, 4,4'-
Diaminodiphenyl ether, diaminodiphenylsulfone, diaminodiphenylsulfide, m-phenylenediamine, 2,4-toluylenediamine, m-toluylenediamine, o-toluylenediamine, metaxylylenediamine, metaaminobenzylamine, benzidine,
4-chloro-O-phenylenediamine, bis (3,4-
Aromatic polyamines such as diaminophenyl) sulfone, 2,6-diaminopyridine, isophthalic dihydrazide, diethylene triamine, dipropylene triamine,
Diethylenetetramine, triethylenetetramine, tetraethylenepentamine, dimethylaminopropylamine, diethylaminopropylamine, dibutylaminopropylamine, hexamethylenediamine, N-aminoethylpiperazine, bis-aminopropylpiperazine, trimethylhexamethylenediamine, bis- ( Hexamethylene) triamine, adipic dihydrazide, sebacic dihydrazide, aliphatic polyamines such as dicyandiamide, dimer acid polyamide, maleic anhydride, dodecenyl succinic anhydride, chlorendex anhydride, sebacic anhydride, phthalic anhydride, pyromellitic anhydride , Trimellitic anhydride, cyclopentane / tetracarboxylic dianhydride, hexahydrophthalic anhydride, methylhexahydrophthalic anhydride, tetrame Ren maleic anhydride, tetrahydrophthalic anhydride, methyl tetrahydrophthalic anhydride, endomethylene tetrahydrophthalic anhydride, methyl endomethylene tetrahydrophthalic anhydride, 5- (2,
5-dioxotetrahydroxyfuryl) -3-methyl-
Acid anhydrides such as 3-cyclohexene-1,2-dicarboxylic anhydride and methylnadic anhydride; phenol derivatives such as resole phenolic resin, phenol novolak resin, cresol novolak resin, resorcinol resin and xylene resin; Mercapto diethyl ether,
Polymercaptans such as 1,2-dimercaptopropane, 1,3-dimercaptopropanol, bis (2-mercaptoethylsulfide), dimethylaminomethylphenol, 2,4,6-tri (dimethylaminomethyl)
Phenol, tri (dimethylaminomethyl) phenol tri-2-ethylhexane salt, 2-methylimidazole, 2-ethyl-4-methylimidazole, 2-undecylimidazole, 2-heptadecylimidazole, 2
-Phenylimidazole, 2-phenyl-4-methylimidazole, 1-benzyl-2-methylimidazole,
2-ethylimidazole, 2-isopropylimidazole, 1-cyanoethyl-2-methylimidazole, 1-
Cyanoethyl-2-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2-undecylimidazole, 1-cyanoethyl-2-isopropylimidazole, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2-
Methylimidazole trimellitate, 1-cyanoethyl-2-ethyl 4-methylimidazole trimellitate,
1-cyanoethyl-2-undecylimidazole trimellitate, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazole, 2,4-diamino-6- [2′-methylimidazolyl- (1) ′]-ethyl-s-triazine, , 4-Diamino-6- [2'undecylimidazolyl-
(1) ']-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6- [2'-ethyl-4'-methylimidazolyl-
(1) ']-ethyl-s-triazine, 1-dodecyl-
2-methyl-3-benzylimidazolium chloride,
1,3-dibenzyl-2-methylimidazolium chloride, 2-phenyl-4-methyl-5-hydroxymethylimidazole, 2-phenyl-4,5-dihydroxymethylimidazole, 1-cyanoethyl-2-phenyl-
4,5-di (cyanoethoxymethyl) imidazole, 2
Tertiary amines such as -methylimidazole / triazine complex, 2-phenylimidazole / triazine complex,
Lewis acid complexes such as boron trifluoride / monoethylamine complex, boron trifluoride / triethanolamine complex, boron fluoride / piperidine complex, boron fluoride / n-butyl ether complex, etc. No. Among them, phenol derivatives are preferable because of their excellent reactivity and excellent wet heat resistance even in semiconductor device applications.

【0010】(c)弾性体:弾性体は接着剤に可とう性
を付与するものであれば使用できる。本発明に使用され
る弾性体は、一般にエラストマーと呼ばれている樹脂で
あり、具体的にはアクリルゴム、アクリロニトリル−ブ
タジエン共重合体(NBR)、アクリロニトリル−ブタ
ジエン−スチレン樹脂(ABS)、エチレン−プロピレ
ンゴム、クロロプレンゴム(CR)、スチレン−ブタジ
エンゴム(SBR)、スチレン−ブタジエン−エチレン
樹脂(SEBS)、ブタジエンゴム(BR)、ポリアミ
ド樹脂、ポリアミドイミド樹脂、ポリイミド樹脂、ポリ
エチレン樹脂、ポリエステル樹脂、ポリウレタン樹脂、
ポリビニルブチラール樹脂、シリコーン樹脂等が挙げら
れ、これらの中でもアクリルゴム、アクリロニトリル−
ブタジエン共重合体、ポリアミド樹脂、シリコーン樹脂
が好ましく、最適にはアクリルゴム、アクリロニトリル
−ブタジエン共重合体である。アクリロニトリル−ブタ
ジエン共重合体はアクリロニトリル含有量が10〜50
モル%が好ましく、さらに好ましくは20〜40モル%
である。10モル%未満では硬化物の耐薬品性が低く、
50モル%を超えるとメチルエチルケトン(以下、ME
Kと称す。)、トルエン等の汎用溶剤への溶解性が低下
するので好ましくない。また、これらの弾性体は、硬化
後の耐熱性向上のために、(a)成分のエポキシ樹脂と
反応可能な官能基を有することが望ましい。具体的な官
能基としては、アミノ基、イソシアネート基、カルボキ
シル基(無水物を含む)、シラノール基、水酸基、ビニ
ル基、メチロール基、メルカプト基等が挙げられる。中
でもアミノ基、カルボキシル基、水酸基は反応性に富む
ため好ましく、最適にはカルボキシル基、水酸基を有す
る弾性体である。官能基の含有量は0.2〜20モル%
が好ましく、更に好ましくは0.5〜15モル%、より
好ましくは2〜8モル%である。官能基量が0.2モル
%未満であると反応性が低く、20モル%を超えると塗
料の状態で安定性が悪くなる。
(C) Elastic body: Any elastic body can be used as long as it imparts flexibility to the adhesive. The elastic body used in the present invention is a resin generally called an elastomer. Specifically, acrylic rubber, acrylonitrile-butadiene copolymer (NBR), acrylonitrile-butadiene-styrene resin (ABS), ethylene- Propylene rubber, chloroprene rubber (CR), styrene-butadiene rubber (SBR), styrene-butadiene-ethylene resin (SEBS), butadiene rubber (BR), polyamide resin, polyamideimide resin, polyimide resin, polyethylene resin, polyester resin, polyurethane resin,
Polyvinyl butyral resin, silicone resin and the like, among which acrylic rubber, acrylonitrile-
Butadiene copolymers, polyamide resins and silicone resins are preferred, most preferably acrylic rubber and acrylonitrile-butadiene copolymer. The acrylonitrile-butadiene copolymer has an acrylonitrile content of 10 to 50.
Mol% is preferred, and more preferably 20 to 40 mol%.
It is. If it is less than 10 mol%, the cured product has low chemical resistance,
If it exceeds 50 mol%, methyl ethyl ketone (hereinafter referred to as ME
Called K. ), The solubility in general-purpose solvents such as toluene is reduced, which is not preferable. Further, these elastic bodies preferably have a functional group capable of reacting with the epoxy resin as the component (a) in order to improve heat resistance after curing. Specific examples of the functional group include an amino group, an isocyanate group, a carboxyl group (including an anhydride), a silanol group, a hydroxyl group, a vinyl group, a methylol group, and a mercapto group. Among them, an amino group, a carboxyl group, and a hydroxyl group are preferable because of their high reactivity. Most preferably, the elastic body has a carboxyl group and a hydroxyl group. Functional group content is 0.2-20 mol%
Is more preferable, more preferably 0.5 to 15 mol%, and still more preferably 2 to 8 mol%. If the amount of the functional group is less than 0.2 mol%, the reactivity is low, and if it exceeds 20 mol%, the stability of the paint is deteriorated.

【0011】(d)シランカップリング剤:シランカッ
プリング剤は、下記式(1)に示すように、ケイ素に有
機マトリックスと親和もしくは結合可能な有機官能基
(X)と無機材料と結合可能な加水分解基(Y)を持っ
た構造している。有機官能基としては、アルキル基、フ
ェニル基、アミノ基、エポキシ基、ビニル基、メタクリ
ロキシ基、メルカプトキシ基等があり、一般的には炭素
数1〜6のアルキレン基を介してケイ素原子と結合して
いる。また、有機官能基はエポキシ基、アミノ基を有し
ているものがエポキシ硬化剤との反応性がよいので好ま
しい。また加水分解基としては、メトキシ基、エトキシ
基、クロル基、アセトキシ基等が挙げられる。
(D) Silane coupling agent: The silane coupling agent is, as shown in the following formula (1), an organic functional group (X) capable of binding or bonding to an organic matrix to silicon and a silane coupling agent capable of bonding to an inorganic material. It has a structure having a hydrolyzable group (Y). Examples of the organic functional group include an alkyl group, a phenyl group, an amino group, an epoxy group, a vinyl group, a methacryloxy group, and a mercaptooxy group, and are generally bonded to a silicon atom via an alkylene group having 1 to 6 carbon atoms. are doing. Further, the organic functional group having an epoxy group or an amino group is preferable because of good reactivity with an epoxy curing agent. Examples of the hydrolyzable group include a methoxy group, an ethoxy group, a chloro group, and an acetoxy group.

【化1】 具体的なシランカップリング剤は、Xがビニル基を持つ
有機官能基の場合、ビニルトリメトキシシラン、ビニル
トリエトキシシラン、ビニルトリアセトキシシラン、ビ
ニルトリクロルシラン、ビニル・トリス(β―メトキシ
エトキシ)シラン、N−β(N―ビニルベンジル)アミ
ノプロピルトリメトキシシラン・塩酸塩が挙げられ、ま
た、Xがメタクリロキシ基を持つ有機官能基の場合、γ
―メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン、γ―メ
タクリロキシプロピルメチルジメトキシシランが挙げら
れる。また、Xがエポキシ基を持つ有機官能基の場合、
β―(3,4−エポキシシクロヘキシル)エチルトリメ
トキシシラン、γ―グリシドキシプロピルトリメトキシ
シラン、γ―グリシドキシプロピルメチルジメトキシシ
ラン、γ―グリシドキシプロピルメチルジエトキシシラ
ンが挙げられる。また、Xがメルカプト基を持つ有機官
能基の場合、γ―メルカプトプロピルトリメトキシシラ
ン、γ―メルカプトプロピルトリエトキシシラン、γ―
メルカプトプロピルメチルジメトキシシランが、Xがア
ミノ基を持つ有機官能基の場合、γ―アミノプロピルト
リエトキシシラン、γ―アミノプロピルトリメトキシシ
ラン、γ―アミノプロピル−トリス(β―メトキシ−エ
トキシ−エトキシ)シラン、N―メチル−γ―アミノプ
ロピルトリメトキシシラン、N―(β―アミノエチル)
−γ―アミノプロピルトリメトキシシラン、 N―(β
―アミノエチル)−γ―アミノプロピルメチルジメトキ
シシラン、トリアミノプロピルトリメトキシシラン、N
−フェニル−γ―アミノプロピルトリメトキシシラン、
オクタデシルジメチル[γ―(トリメトキシシリル)プ
ロピル]アンモニウムクロライド、γ―4,5ジヒドロ
キシイミダゾールプロピルトリエトキシシラン、γ―ユ
レイドプロピルトリエトキシシラン、γ―ユレイドプロ
ピルトリメトキシシランが挙げられる。さらにまた、そ
の他の有機官能基を持つものとして、γ―クロロプロピ
ルトリエトキシシラン、γ―クロロプロピルトリメトキ
シシラン、γ―クロロプロピルメチルジクロロシラン、
γ―クロロプロピルメチルジメトキシシラン、γ―クロ
ロプロピルメチルジエトキシシラン、γ―シアノプロピ
ルトリエトキシシラン、トリメチルメトキシシラン、ト
リメチルエトキシシラン、ジメチルジメトキシシラン、
ジメチルジエトキシシラン、メチルトリメトキシシラ
ン、テトラメトキシシラン、メチルトリエトキシシラ
ン、テトラエトキシシラン、メチルジメトキシシラン、
メチルジエトキシシラン、ジメチルエトキシシラン、ジ
メチルビニルメトキシシラン、ジメチルビニルエトキシ
シラン、メチルビニルジメトキシシラン、メチルビニル
ジエトキシシラン、ジフェニルジメトキシシラン、フェ
ニルトリメトキシシラン、ジフェニルジエトキシシラ
ン、フェニルトリエトキシシラン、メチルトリ(メタク
リロイルオキシエトキシ)シラン、メチルトリ(グリシ
ジルオキシ)シラン、オクタデシルトリエトキシシラ
ン、トリメチルクロロシラン、ジメチルジクロロシラ
ン、メチルトリクロロシラン、メチルジクロロシラン、
ジメチルクロロシラン、ジメチルビニルクロロシラン、
メチルビニルジクロロシラン、メチルビニルジクロロシ
ラン、トリフェニルクロロシラン、メチルジフェニルク
ロロシラン、ジフェニルジクロロシラン、メチルフェニ
ルジクロロシラン、フェニルトリクロロシラン、クロロ
メチルジメチルクロロシラン等が挙げられる。中でも、
Xがエポキシ基又はアミノ基を有する有機官能基をもつ
シランカップリング剤は耐ポップコーン性に優れている
ため好ましい。また上記(a)、(b)、(c)、
(d)成分以外に硬化反応を促進させるため、イミダゾ
ール類、1,8−ジアザビシクロ(5,4,0)ウンデ
セン等アミン系触媒、トリフェニルフォスフィン等リン
系触媒の反応促進剤を添加することも有効である。
Embedded image Specific silane coupling agents include, when X is an organic functional group having a vinyl group, vinyltrimethoxysilane, vinyltriethoxysilane, vinyltriacetoxysilane, vinyltrichlorosilane, and vinyl tris (β-methoxyethoxy) silane , N-β (N-vinylbenzyl) aminopropyltrimethoxysilane.hydrochloride, and when X is an organic functional group having a methacryloxy group,
—Methacryloxypropyltrimethoxysilane and γ-methacryloxypropylmethyldimethoxysilane. When X is an organic functional group having an epoxy group,
β- (3,4-epoxycyclohexyl) ethyltrimethoxysilane, γ-glycidoxypropyltrimethoxysilane, γ-glycidoxypropylmethyldimethoxysilane, and γ-glycidoxypropylmethyldiethoxysilane. When X is an organic functional group having a mercapto group, γ-mercaptopropyltrimethoxysilane, γ-mercaptopropyltriethoxysilane, γ-
When mercaptopropylmethyldimethoxysilane is an organic functional group having an amino group, γ-aminopropyltriethoxysilane, γ-aminopropyltrimethoxysilane, γ-aminopropyl-tris (β-methoxy-ethoxy-ethoxy) Silane, N-methyl-γ-aminopropyltrimethoxysilane, N- (β-aminoethyl)
-Γ-aminopropyltrimethoxysilane, N- (β
-Aminoethyl) -γ-aminopropylmethyldimethoxysilane, triaminopropyltrimethoxysilane, N
-Phenyl-γ-aminopropyltrimethoxysilane,
Octadecyldimethyl [γ- (trimethoxysilyl) propyl] ammonium chloride, γ-4,5 dihydroxyimidazolepropyltriethoxysilane, γ-ureidopropyltriethoxysilane, γ-ureidopropyltrimethoxysilane are exemplified. Furthermore, as those having other organic functional groups, γ-chloropropyltriethoxysilane, γ-chloropropyltrimethoxysilane, γ-chloropropylmethyldichlorosilane,
γ-chloropropylmethyldimethoxysilane, γ-chloropropylmethyldiethoxysilane, γ-cyanopropyltriethoxysilane, trimethylmethoxysilane, trimethylethoxysilane, dimethyldimethoxysilane,
Dimethyldiethoxysilane, methyltrimethoxysilane, tetramethoxysilane, methyltriethoxysilane, tetraethoxysilane, methyldimethoxysilane,
Methyldiethoxysilane, dimethylethoxysilane, dimethylvinylmethoxysilane, dimethylvinylethoxysilane, methylvinyldimethoxysilane, methylvinyldiethoxysilane, diphenyldimethoxysilane, phenyltrimethoxysilane, diphenyldiethoxysilane, phenyltriethoxysilane, methyltrimethylsilane (Methacryloyloxyethoxy) silane, methyltri (glycidyloxy) silane, octadecyltriethoxysilane, trimethylchlorosilane, dimethyldichlorosilane, methyltrichlorosilane, methyldichlorosilane,
Dimethylchlorosilane, dimethylvinylchlorosilane,
Examples include methylvinyldichlorosilane, methylvinyldichlorosilane, triphenylchlorosilane, methyldiphenylchlorosilane, diphenyldichlorosilane, methylphenyldichlorosilane, phenyltrichlorosilane, and chloromethyldimethylchlorosilane. Among them,
A silane coupling agent in which X has an organic functional group having an epoxy group or an amino group is preferable because of excellent popcorn resistance. The above (a), (b), (c),
In addition to the component (d), a reaction accelerator such as an imidazole, an amine catalyst such as 1,8-diazabicyclo (5,4,0) undecene, or a phosphorus catalyst such as triphenylphosphine is added to promote the curing reaction. Is also effective.

【0012】また本発明の半導体装置用接着剤組成物に
は、熱膨張係数、熱伝導率の調整あるいは作業性の制御
等の目的で無機又は有機フィラーを含有させることが好
ましい。無機フィラーとしては粉砕型シリカ、溶融型シ
リカ、アルミナ、酸化チタン、酸化ベリリウム、酸化マ
グネシウム、炭酸カルシウム、窒化チタン、窒化珪素、
窒化硼素、硼化チタン、硼化タングステン、炭化珪素、
炭化チタン、炭化ジルコニウム、炭化モリブデン、マイ
カ、酸化亜鉛、カーボンブラック、水酸化アルミニウ
ム、水酸化カルシウム、水酸化マグネシウム、三酸化ア
ンチモン又はこれ等の表面をトリメチルシロキシル基等
で処理したもの等があげられ、有機フィラーとしては、
ポリイミド、ポリアミドイミド、ポリエーテルエーテル
ケトン、ポリエーテルイミド、ポリエステルイミド、ナ
イロン、シリコーン等が上げられる。これらのフィラー
の配合量は、各成分(a),(b),(c)及び(d)
の総和100重量部に対して、5〜95重量部、好まし
くは10〜50重量部の範囲である。
The adhesive composition for a semiconductor device of the present invention preferably contains an inorganic or organic filler for the purpose of adjusting the coefficient of thermal expansion and thermal conductivity or controlling workability. As the inorganic filler, crushed silica, fused silica, alumina, titanium oxide, beryllium oxide, magnesium oxide, calcium carbonate, titanium nitride, silicon nitride,
Boron nitride, titanium boride, tungsten boride, silicon carbide,
Titanium carbide, zirconium carbide, molybdenum carbide, mica, zinc oxide, carbon black, aluminum hydroxide, calcium hydroxide, magnesium hydroxide, antimony trioxide or those obtained by treating the surface thereof with a trimethylsiloxyl group or the like. As an organic filler,
Examples include polyimide, polyamide imide, polyether ether ketone, polyether imide, polyester imide, nylon, and silicone. The amounts of these fillers are determined according to the respective components (a), (b), (c) and (d).
Is in the range of 5 to 95 parts by weight, preferably 10 to 50 parts by weight, based on 100 parts by weight in total.

【0013】上記(a)〜(d)成分を含有した本発明
の半導体装置用接着剤組成物の硬化後の200℃〜28
0℃の温度域に於ける動的弾性率は106Pa以上であ
ることが好ましい。動的弾性率が106Pa未満である
とポップコーン現象が発生しやすく、ショート等の不良
を起こしやすくなる。動的弾性率は厚さ100μmの硬
化後の接着剤フィルムをオリエンテック社製レオバイブ
ロンDDV−IIを用いて、周波数11Hz、昇温速度
3℃/minで行った。上記(a)〜(c)成分の好ま
しい配合比率は、[(a)+(b)]/(c)が0.2
〜5であり、さらに好ましくは0.3〜3.3である。
この場合、0.2未満では弾性率が106Paより低く
なり、また、5を超えて大きいとフィルム状接着剤が可
とう性を失うので好ましくない。上記(d)成分は
(a)、(b)及び(c)の各成分の総和100重量部
に対して0.1〜20重量部、好ましくは0.2〜10
重量部、最適には0.3〜5重量部使用する。上記
(a)〜(d)成分は有機溶剤に溶解、調合して接着剤
溶液とする。好ましく使用される有機溶剤としてはN−
メチル−2−ピロリドン、N,N−ジメチルアセトアミ
ド、N,N−ジメチルホルムアミド、ピリジン、ME
K、メチルイソブチルケトン、トルエン、キシレン、
1,4−ジオキサン、テトラヒドロフラン、エタノー
ル、メタノール、イソプロパノール、メチルセロソル
ブ、エチルセロソルブ等である。
The adhesive composition for a semiconductor device of the present invention containing the above-mentioned components (a) to (d) is cured at 200 ° C. to 28 ° C.
The dynamic elastic modulus in the temperature range of 0 ° C. is preferably 10 6 Pa or more. When the dynamic elastic modulus is less than 10 6 Pa, a popcorn phenomenon is likely to occur, and defects such as short-circuit are likely to occur. The dynamic elastic modulus of the cured adhesive film having a thickness of 100 μm was measured using a Leo Vibron DDV-II manufactured by Orientec, at a frequency of 11 Hz and a heating rate of 3 ° C./min. A preferable mixing ratio of the above components (a) to (c) is [(a) + (b)] / (c) is 0.2.
To 5, more preferably 0.3 to 3.3.
In this case, if it is less than 0.2, the elastic modulus is lower than 10 6 Pa, and if it is more than 5, the film adhesive loses flexibility, which is not preferable. The component (d) is used in an amount of 0.1 to 20 parts by weight, preferably 0.2 to 10 parts by weight, based on 100 parts by weight of the total of the components (a), (b) and (c).
Parts by weight, optimally 0.3-5 parts by weight. The components (a) to (d) are dissolved and mixed in an organic solvent to prepare an adhesive solution. As an organic solvent preferably used, N-
Methyl-2-pyrrolidone, N, N-dimethylacetamide, N, N-dimethylformamide, pyridine, ME
K, methyl isobutyl ketone, toluene, xylene,
1,4-dioxane, tetrahydrofuran, ethanol, methanol, isopropanol, methyl cellosolve, ethyl cellosolve and the like.

【0014】本発明の接着シートは、前記接着剤組成物
を支持体の少なくとも一面に積層してなる構成である。
該接着シートは、上記接着剤組成物溶液を支持体に塗布
した後、乾燥を行って得られる。使用される支持体とし
てはポリイミド、ポリアミド、ポリエーテルアミド、ポ
リフェニレンサルフアイド、ポリエーテルケトン、ポリ
パラバン酸、ポリエチレンテレフタレート、フッ素樹脂
等の耐熱性フィルム、ガラスクロス、アラミド、ナイロ
ン、アミドイミド、ポリイミド等の耐熱性不織布が挙げ
られ、前記耐熱性フィルム表面に離型処理を施した剥離
性フィルムが好適に使用される。該耐熱性、剥離性フィ
ルムの厚さは7.5〜500μm、好ましくは10〜1
30μmである。上記接着シートの接着剤組成物層の表
面には、必要に応じて保護フィルムを接着剤層面に設け
る。使用される剥離性フィルムとしては前記した耐熱性
フィルムで剥離性を有するものが挙げられ、その表面に
剥離処理を施したものも好ましいフィルムである。また
保護フィルムとしては離型性を有するフィルムで前記し
たものが好ましく使用され、厚さは上記に同じである。
接着剤層の乾燥後の厚さはパッケージ形状により異なる
が一般に厚さ10〜200μm、好ましくは30〜10
0μmである。
The adhesive sheet of the present invention has a structure in which the adhesive composition is laminated on at least one surface of a support.
The adhesive sheet is obtained by applying the above-mentioned adhesive composition solution to a support, followed by drying. Examples of the support used include heat-resistant films such as polyimide, polyamide, polyetheramide, polyphenylene sulfide, polyetherketone, polyparabanic acid, polyethylene terephthalate, and fluororesin; glass cloth, aramid, nylon, amideimide, and polyimide. A non-woven fabric is preferred, and a release film obtained by subjecting the heat-resistant film surface to a release treatment is suitably used. The thickness of the heat-resistant and peelable film is 7.5 to 500 μm, preferably 10 to 1 μm.
30 μm. On the surface of the adhesive composition layer of the adhesive sheet, a protective film is provided on the surface of the adhesive layer as necessary. The releasable film to be used includes the above-mentioned heat-resistant films having releasability, and those having a surface subjected to a release treatment are also preferable films. As the protective film, the above-mentioned film having releasability is preferably used, and the thickness is the same as described above.
Although the thickness of the adhesive layer after drying varies depending on the package shape, it is generally 10 to 200 μm, preferably 30 to 10 μm.
0 μm.

【0015】本発明の補強部材は、前記接着剤組成物を
下記に述べる基材の少なくとも一面に積層したものであ
る。補強部材としては前記したスティフナー及び/又は
カバープレートが挙げられる。該補強部材を製造するに
は、上記接着シートの接着剤層表面と基材とが対向す
るよう両者を積層した後、打ち抜き加工を行い所望の形
状とする方法。接着シートと基材とを予め個々に所望
の形状に打ち抜き加工を行い、その後該接着シートの接
着剤層表面と基材とを対向するように積層する工程を経
て得られる方法がある。また、基材に接着剤組成物を塗
布した後、打ち抜くことも可能である。ここで用いる接
着シートは剥離性フィルムの一面に接着剤組成物を積層
した接着シート及び耐熱性フィルム等支持体の少なくと
も一面に接着剤組成物を積層した接着シートのいずれで
も使用できる。本発明でいう補強部材を構成する基材
は、ポリイミド等のIC基板の補強及び寸法安定化する
ものであれば特に制限されるものではないが、鉄、銅、
アルミ、コバルト、ニッケル、チタン及びそれの合金
(SUS、42合金等)又はメッキを施した金属類もし
くは、セラミック(アルミナ、ジルコニア等)、ガラス
(石英ガラス、ソーダガラス等)、カーボン及びポリイ
ミド、ポリエステル等の有機材料が使用できる。放熱
性、電磁波シールド性の良好なものである金属類が好ま
しく、加工性、寸法安定性、コスト等に優れたSUS、
42合金が好ましく使用される。該補強部材はパッケー
ジ形状により、形状、大きさは異なるが、一般に、厚さ
100μm〜2mm、好ましくは200〜500μmで
ある。接着剤層もパッケージ形状により異なるが一般に
は前記した厚さである。以下、本発明を実施例により具
体的に説明する。
The reinforcing member of the present invention is obtained by laminating the adhesive composition on at least one surface of a substrate described below. Examples of the reinforcing member include the stiffener and / or the cover plate described above. In order to manufacture the reinforcing member, a method of laminating the surface of the adhesive layer of the adhesive sheet and the base material so as to face each other, and then performing a punching process to obtain a desired shape. There is a method obtained by punching an adhesive sheet and a base material individually into a desired shape beforehand, and then laminating the surface of the adhesive layer of the adhesive sheet and the base material so as to face each other. It is also possible to punch out after applying the adhesive composition to the base material. The adhesive sheet used here may be any of an adhesive sheet having an adhesive composition laminated on one surface of a peelable film and an adhesive sheet having an adhesive composition laminated on at least one surface of a support such as a heat-resistant film. The base material constituting the reinforcing member according to the present invention is not particularly limited as long as it can reinforce and dimensionally stabilize an IC substrate such as polyimide.
Aluminum, cobalt, nickel, titanium and their alloys (SUS, 42 alloy, etc.) or plated metals, ceramics (alumina, zirconia, etc.), glass (quartz glass, soda glass, etc.), carbon and polyimide, polyester And other organic materials can be used. Metals having good heat radiation and electromagnetic wave shielding properties are preferable, and SUS which is excellent in workability, dimensional stability, cost, etc.
Forty-two alloys are preferably used. The reinforcing member varies in shape and size depending on the package shape, but generally has a thickness of 100 μm to 2 mm, preferably 200 to 500 μm. The adhesive layer also varies depending on the package shape, but generally has the above-mentioned thickness. Hereinafter, the present invention will be described specifically with reference to examples.

【0016】[0016]

【実施例】[接着剤組成物の塗料の調製]エポキシ樹
脂、エポキシ硬化剤、弾性体、シランカップリング剤、
硬化促進剤をMEKにそれぞれ下記に示す重量%になる
よう溶解して溶液を作製し、該溶液を表1に示す重量%
(固型分)になるように配合して本発明の半導体装置用
接着剤組成物の塗料を得た。 実施例1 エポキシ樹脂 :ビスフェノールA型エポキシ樹脂 80%溶液 (商品名;エピコート1001、油化シェルエポキシ社製) エポキシ硬化剤:ノボラックフェノール樹脂 70%溶液 (商品名;レヂトップPSM4261、群栄化学社製) 弾性体 :カルボキシル基7%含有NBR 22%溶液 (商品名;ニッポール1072、日本ゼオン社製) シランカップリング剤:エポキシシランカップリング剤 10%溶液 (商品名;サイラエースS−510、チッソ社製) 硬化促進剤 :2−ウンデシルイミダゾール 1%溶液 (商品名;C11Z、四国化成工業社製) 剥離処理を施した厚さ38μmのポリエステルフィルム
からなる支持体に、上記塗料を用いた表1の組成の本発
明による接着剤組成物塗料を均一に塗布し、130℃で
5分間加熱乾燥して厚さ50μmの接着剤層を形成した
後、剥離処理を施した厚さ50μmのポリエチレン保護
フィルムを貼り合わせて本発明の接着シートを作製し
た。その後、保護フィルムを剥離しながら厚さ250μ
mのニッケルメッキ銅板(補強部材用基材)と熱圧着し
た。次いで打ち抜き金型によりリング状に打ち抜き、本
発明の補強部材(スティフナー)を作製した。得られた
スティフナーのポリエステルフィルムを剥がして、3/
4オンスCu箔を使用している400pinの2層TA
Bの非リード面(ポリイミド面)に熱圧着し、90℃で
1時間、更に150℃で4時間加熱して接着剤を硬化さ
せ、スティフナー付きTABの模擬T−BGAパッケー
ジを作製した。
EXAMPLES [Preparation of paint for adhesive composition] Epoxy resin, epoxy curing agent, elastic material, silane coupling agent,
A solution was prepared by dissolving a curing accelerator in MEK so as to have a weight percentage shown below, and the solution was dissolved in the weight percentage shown in Table 1.
(Solid content) to obtain a coating of the adhesive composition for a semiconductor device of the present invention. Example 1 Epoxy resin: 80% solution of bisphenol A type epoxy resin (trade name; Epicoat 1001, manufactured by Yuka Shell Epoxy) Epoxy curing agent: 70% solution of novolak phenol resin (trade name: Retop PSM4261, manufactured by Gunei Chemical Co., Ltd.) Elastic body: NBR 22% solution containing 7% of carboxyl groups (trade name: Nippol 1072, manufactured by Zeon Corporation) Silane coupling agent: 10% solution of epoxy silane coupling agent (trade name: SILAACE S-510, manufactured by Chisso Corporation) ) Curing accelerator: 2-undecyl imidazole 1% solution (trade name: C11Z, manufactured by Shikoku Kasei Kogyo Co., Ltd.) The composition of the adhesive composition according to the present invention is uniformly applied, and is applied at 130 ° C. for 5 minutes. After forming an adhesive layer having a thickness of 50μm by thermal drying, to produce an adhesive sheet of the present invention by bonding a polyethylene protective film having a thickness of 50μm which has been subjected to release treatment. Then, while removing the protective film, thickness 250μ
m and a nickel-plated copper plate (substrate for reinforcing member). Next, the resultant was punched into a ring shape by a punching die to produce a reinforcing member (stiffener) of the present invention. The polyester film of the obtained stiffener was peeled off, and 3 /
400 pin two layer TA using 4 oz Cu foil
B was thermocompression-bonded to the non-lead surface (polyimide surface) and heated at 90 ° C. for 1 hour and further at 150 ° C. for 4 hours to cure the adhesive, thereby producing a simulated TAB T-BGA package with a stiffener.

【0017】 実施例2 エポキシ樹脂 :ビスフェノールA型エポキシ樹脂 80%溶液 (商品名;エピコート1001、油化シェルエポキシ社製) エポキシ硬化剤:ノボラックフェノール樹脂 70%溶液 (商品名;レヂトップPSM4261、群栄化学社製) 弾性体 :カルボキシル基含有NBR 22%溶液 (商品名;ニッポール1072、日本ゼオン社製) シランカップリング剤:エポキシシランカップリング剤 10%溶液 (商品名;サイラエースS−530、チッソ社製) 硬化促進剤 :2−ウンデシルイミダゾール 1%溶液 (商品名;C11Z、四国化成工業社製) 上記塗料を用いた表1の組成の本発明による接着剤組成
物塗料を用いた以外は実施例1と同様にしてスティフナ
ー付きTABの模擬T−BGAパッケージを作製した。 実施例3 エポキシ樹脂 :ビスフェノールA型エポキシ樹脂 80%溶液 (商品名;エピコート1001、油化シェルエポキシ社製) エポキシ硬化剤:ノボラックフェノール 70%溶液 (商品名;レヂトップPSM4261、群栄化学社製) 弾性体 :カルボキシル基含有NBR 22%溶液 (商品名;ニッポール1072、日本ゼオン社製) シランカップリング剤:アミノシランカップリング剤 10%溶液 (商品名;サイラエースS−330、チッソ社製) 硬化促進剤 :2−ウンデシルイミダゾール 1%溶液 (商品名;C11Z、四国化成工業社製) 上記塗料を用いた表1の組成の本発明による接着剤組成
物塗料を用いた以外は実施例1と同様にしてスティフナ
ー付きTABの模擬T−BGAパッケージを作製した。
Example 2 Epoxy resin: 80% solution of bisphenol A type epoxy resin (trade name; Epicoat 1001, manufactured by Yuka Shell Epoxy) Epoxy curing agent: 70% solution of novolak phenol resin (trade name: Retop PSM4261, Gunei) Elastic body: NBR 22% solution containing carboxyl group (trade name; Nippol 1072, manufactured by Zeon Corporation) Silane coupling agent: 10% solution of epoxy silane coupling agent (trade name: SILAACE S-530, Chisso Corporation) Hardening accelerator: 1% solution of 2-undecyl imidazole (trade name: C11Z, manufactured by Shikoku Chemical Industry Co., Ltd.) Except for using the adhesive composition paint according to the present invention having the composition shown in Table 1 using the above paint. A simulated TAB T-BGA package with a stiffener was prepared in the same manner as in Example 1. . Example 3 Epoxy resin: 80% solution of bisphenol A type epoxy resin (trade name: Epicoat 1001, manufactured by Yuka Shell Epoxy) Epoxy curing agent: 70% solution of novolak phenol (trade name: Retop PSM4261, manufactured by Gunei Chemical Co., Ltd.) Elastic body: Carboxyl group-containing NBR 22% solution (trade name; Nippol 1072, manufactured by Zeon Corporation) Silane coupling agent: aminosilane coupling agent 10% solution (trade name: SILAACE S-330, manufactured by Chisso Corporation) Curing accelerator : 2-undecyl imidazole 1% solution (trade name; C11Z, manufactured by Shikoku Chemicals Co., Ltd.) In the same manner as in Example 1 except that the adhesive composition paint according to the present invention having the composition shown in Table 1 using the above paint was used. Thus, a simulated TBGA package of TAB with a stiffener was manufactured.

【0018】 実施例4 エポキシ樹脂 :ビスフェノールA型エポキシ樹脂 80%溶液 (商品名;エピコート1001、油化シェルエポキシ社製) エポキシ硬化剤:ノボラックフェノール樹脂 70%溶液 (商品名;レヂトップPSM4261、群栄化学社製) 弾性体 :カルボキシル基7%含有NBR 22%溶液 (商品名;PNR−1H、日本合成ゴム社製) シランカップリング剤:エポキシシランカップリング剤 10%溶液 (商品名;サイラエースS−510、チッソ社製) 硬化促進剤 :2−ウンデシルイミダゾール 1%溶液 (商品名;C11Z、四国化成工業社製) 上記塗料を用いた表1の組成の本発明による接着剤組成
物塗料を用いた以外は実施例1と同様にしてスティフナ
ー付きTABの模擬T−BGAパッケージを作製した。 実施例5 エポキシ樹脂 :ビスフェノールA型エポキシ樹脂 80%溶液 (商品名;エピコート1001、油化シェルエポキシ社製) エポキシ硬化剤:ノボラックフェノール樹脂 70%溶液 (商品名;レヂトップPSM4261、群栄化学社製) 弾性体 :カルボキシル基含有NBR 22%溶液 (商品名;PNR−1H、日本合成ゴム社製) シランカップリング剤:ビニルシランカップリング剤 10%溶液 (商品名;サイラエースS−210、チッソ社製) 硬化促進剤:2−ウンデシルイミダゾール 1%溶液 (商品名;C11Z、四国化成工業社製) 上記塗料を用いた表1の組成の本発明による接着剤組成
物塗料を用いた以外は実施例1と同様にしてスティフナ
ー付きTABの模擬T−BGAパッケージを作製した。
Example 4 Epoxy resin: 80% solution of bisphenol A type epoxy resin (trade name; Epicoat 1001, manufactured by Yuka Shell Epoxy) Epoxy curing agent: 70% solution of novolak phenol resin (trade name: Retop PSM4261, Gunei) Elastic body: 22% solution of NBR containing 7% of carboxyl groups (trade name: PNR-1H, manufactured by Nippon Synthetic Rubber Co., Ltd.) Silane coupling agent: 10% solution of epoxy silane coupling agent (trade name: SILAACE S- Curing accelerator: 2-undecyl imidazole 1% solution (trade name: C11Z, manufactured by Shikoku Chemicals Co., Ltd.) An adhesive composition paint according to the present invention having the composition shown in Table 1 using the above paint is used. A simulated T-BGA package of TAB with stiffener was prepared in the same manner as in Example 1 except for . Example 5 Epoxy resin: 80% solution of bisphenol A type epoxy resin (trade name: Epicoat 1001, manufactured by Yuka Shell Epoxy) Epoxy curing agent: 70% solution of novolak phenol resin (trade name: Retop PSM4261, manufactured by Gunei Chemical Co., Ltd.) Elastic body: Carboxyl group-containing NBR 22% solution (trade name: PNR-1H, manufactured by Nippon Synthetic Rubber Co., Ltd.) Silane coupling agent: vinylsilane coupling agent 10% solution (trade name: SILAACE S-210, manufactured by Chisso Corporation) Curing accelerator: 2-undecylimidazole 1% solution (trade name: C11Z, manufactured by Shikoku Chemicals Co., Ltd.) Example 1 except that the adhesive composition paint according to the present invention having the composition shown in Table 1 using the above paint was used. In the same manner as described above, a simulated TBGA package of TAB with a stiffener was produced.

【0019】 比較例1 エポキシ樹脂 :ビスフェノールA型エポキシ樹脂 80%溶液 (商品名;エピコート1001、油化シェルエポキシ社製) エポキシ硬化剤:ノボラックフェノール樹脂 70%溶液 (商品名;レヂトップPSM4261、群栄化学社製) 弾性体 :カルボキシル基含有NBR 22%溶液 (商品名;PNR−1H、日本合成ゴム社製) 硬化促進剤 :2−ウンデシルイミダゾール 1%溶液 (商品名;C11Z、四国化成工業社製) 上記塗料を用いた表1の組成の比較用の接着剤組成物塗
料を用いた以外は実施例1と同様にしてスティフナー付
きTABの模擬T−BGAパッケージを作製した。 比較例2 エポキシ樹脂 :ビスフェノールA型エポキシ樹脂 80%溶液 (商品名;エピコート1001、油化シェルエポキシ社製) エポキシ硬化剤:ノボラックフェノール樹脂 70%溶液 (商品名;レヂトップPSM4261、群栄化学社製) 弾性体 :カルボキシル基含有NBR 22%溶液 (商品名;PNR−1H、日本合成ゴム社製) チタンカップリング剤:イソプロピルポリイソステアロイルチタネート 10%溶液 (商品名;KR TTS、味の素社製) 硬化促進剤 :2−ウンデシルイミダゾール 1%溶液 (商品名;C11Z、四国化成工業社製) 上記塗料を用いた表1の組成の比較用の接着剤組成物塗
料を用いた以外は実施例1と同様にしてスティフナー付
きTABの模擬T−BGAパッケージを作製した。
Comparative Example 1 Epoxy resin: 80% solution of bisphenol A type epoxy resin (trade name; Epicoat 1001, manufactured by Yuka Shell Epoxy) Epoxy curing agent: 70% solution of novolak phenol resin (trade name: Retop PSM4261, Gunei) Elastic body: Carboxyl group-containing NBR 22% solution (trade name: PNR-1H, manufactured by Nippon Synthetic Rubber Co., Ltd.) Curing accelerator: 2-undecyl imidazole 1% solution (trade name: C11Z, Shikoku Chemical Industry Co., Ltd.) Manufacture) A simulated TB-BGA package of TAB with stiffener was prepared in the same manner as in Example 1 except that an adhesive composition paint for comparison of the composition in Table 1 using the above paint was used. Comparative Example 2 Epoxy resin: 80% solution of bisphenol A type epoxy resin (trade name: Epicoat 1001, manufactured by Yuka Shell Epoxy) Epoxy curing agent: 70% solution of novolak phenol resin (trade name: Retop PSM4261, manufactured by Gunei Chemical Co., Ltd.) Elastic body: 22% solution of NBR containing carboxyl group (trade name: PNR-1H, manufactured by Nippon Synthetic Rubber Co.) Titanium coupling agent: 10% solution of isopropyl polyisostearoyl titanate (trade name: KR TTS, manufactured by Ajinomoto Co.) Accelerator: 1% solution of 2-undecylimidazole (trade name: C11Z, manufactured by Shikoku Chemicals Co., Ltd.) Example 1 was repeated except that an adhesive composition paint for comparison of the composition in Table 1 using the above paint was used. In the same manner, a simulated T-BGA package of a TAB with a stiffener was manufactured.

【0020】[0020]

【表1】 [Table 1]

【0021】(耐ポップコーン性評価)上記実施例1〜
5及び比較例1、比較例2で作成した模擬T−BGAを
20個用意し、温度85゜C、相対湿度85%の環境下に
48時間放置した後、220〜240℃の温度範囲(但
し、240℃での温度履歴を必須とする)で10秒のI
Rリフローにかけ、超音波探傷によりポップコーン発生
の有無を観察し、発生が認められたパッケージ数を計測
し、結果を表2に示した。表2の結果から明らかなよう
に、本発明の接着剤接着剤組成物を用いた模擬パッケー
ジは、パッケージ吸湿後における耐ポップコーン性に優
れていることが確認された。 (動的弾性率の測定)上記実施例1〜5及び比較例1、
比較例2で得られた厚さ100μmの接着シートを90
℃1時間、150℃4時間で硬化させ、前記した測定方
法にて動的弾性率(200〜280℃における最小値)
を測定し、結果を表2に示した。表2の結果から明らか
なように、本発明の接着剤接着剤組成物を用いた模擬パ
ッケージは、十分な耐ポップコーン性を維持するのに必
要な106Pa以上の動的弾性率を有することを確認し
た。 (サーマルサイクル試験)上記実施例1〜5及び比較例
1、比較例2で得られた各20個の模擬パッケージを−
55℃〜125℃のサーマルサイクル試験を行った。但
し、この場合、125℃及び−55℃ではそれぞれ1時
間の温度履歴を必須とし、[常温−高温−低温−常温]
を1サイクルとして600サイクルの条件で実施した。
その結果、実施例1〜5のパッケージは異常なかった
が、比較例1及び比較例2のパッケージにはパッケージ
クラックの発生しているものがあった。
(Evaluation of popcorn resistance)
5 and 20 simulated T-BGAs prepared in Comparative Example 1 and Comparative Example 2 were prepared, left in an environment of a temperature of 85 ° C. and a relative humidity of 85% for 48 hours, and then subjected to a temperature range of 220 to 240 ° C. , Temperature history at 240 ° C. is mandatory)
The sample was subjected to R reflow, the presence or absence of popcorn generation was observed by ultrasonic flaw detection, and the number of packages where generation was observed was counted. The results are shown in Table 2. As is clear from the results in Table 2, it was confirmed that the simulated package using the adhesive composition of the present invention was excellent in popcorn resistance after moisture absorption of the package. (Measurement of Dynamic Elastic Modulus) The above Examples 1 to 5 and Comparative Example 1,
The adhesive sheet having a thickness of 100 μm obtained in Comparative Example 2 was 90
Cured for 1 hour at 150 ° C for 4 hours at 150 ° C, and determined by the above-mentioned measurement method as the dynamic elastic modulus (minimum value at 200 to 280 ° C)
Was measured, and the results are shown in Table 2. As is evident from the results in Table 2, the simulated package using the adhesive composition of the present invention has a dynamic elastic modulus of 10 6 Pa or more required to maintain sufficient popcorn resistance. It was confirmed. (Thermal cycle test) Each of the 20 simulated packages obtained in Examples 1 to 5 and Comparative Examples 1 and 2 was
A thermal cycle test at 55 ° C to 125 ° C was performed. However, in this case, a temperature history of 1 hour is indispensable for each of 125 ° C. and −55 ° C. [normal temperature−high temperature−low temperature−normal temperature]
Was performed under the condition of 600 cycles.
As a result, there was no abnormality in the packages of Examples 1 to 5, but some of the packages of Comparative Examples 1 and 2 had a package crack.

【0022】[0022]

【表2】 [Table 2]

【0023】[0023]

【発明の効果】本発明の接着剤組成物を用いたパッケー
ジはプリント配線基盤に実装した場合、リフロー工程の
高温に曝されても耐ポップコーン現象に優れ、ハンダボ
ールの電気的不良が発生しない等の高い信頼性を有する
ものであった。
When the package using the adhesive composition of the present invention is mounted on a printed wiring board, the package has excellent popcorn resistance even when exposed to the high temperature of the reflow process, and does not cause electrical failure of solder balls. With high reliability.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 T−BGAパッケージの一例の断面図であ
る。
FIG. 1 is a cross-sectional view of an example of a T-BGA package.

【図2】 T−BGAパッケージの他の一例の断面図で
ある。
FIG. 2 is a cross-sectional view of another example of the T-BGA package.

【図3】 E−BGAパッケージの一例の断面図であ
る。
FIG. 3 is a cross-sectional view of an example of an E-BGA package.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1・・半田ボール、 3・・配線、 4・・絶縁性
フィルム、5・・電極、 6・・半導体チップ、
7・・接着剤、8・・補強部材、 9・・金ワイヤ
ー、 10・・基板
1. Solder ball, 3. Wiring, 4. Insulating film, 5. Electrode, 6, Semiconductor chip,
7 ... adhesive, 8 ... reinforcing member, 9 ... gold wire, 10 ... substrate

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 4J004 AA05 AA13 AA17 AB05 CA03 CA06 CC02 FA05 4J040 CA071 DF041 DF081 EB032 EC061 EC091 EC121 EC261 HB36 HC01 HD35 HD36 JA09 KA16 LA06 LA09 NA20 5F047 BA34 BB03 BB11 BB16  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page F term (reference) 4J004 AA05 AA13 AA17 AB05 CA03 CA06 CC02 FA05 4J040 CA071 DF041 DF081 EB032 EC061 EC091 EC121 EC261 HB36 HC01 HD35 HD36 JA09 KA16 LA06 LA09 NA20 5F047 BA34 BB03 BB11 BB16

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 少なくとも絶縁体層及び導体回路から構
成されるIC用基板の回路面又はその裏面に補強部材を
積層した半導体装置に使用する接着剤組成物であって、
該組成物が、(a)エポキシ樹脂、(b)エポキシ硬化
剤、(c)弾性体及び(d)シランカップリング剤 を
含有することを特徴とする半導体装置用接着剤組成物。
An adhesive composition for use in a semiconductor device in which a reinforcing member is laminated on a circuit surface of an IC substrate including at least an insulator layer and a conductor circuit or on a back surface thereof,
An adhesive composition for a semiconductor device, comprising: (a) an epoxy resin, (b) an epoxy curing agent, (c) an elastic body, and (d) a silane coupling agent.
【請求項2】 前記シランカップリング剤がエポキシシ
ランカップリング剤またはアミノシランカップリング剤
であることを特徴とする請求項1記載の半導体装置用接
着剤組成物。
2. The adhesive composition for a semiconductor device according to claim 1, wherein the silane coupling agent is an epoxy silane coupling agent or an amino silane coupling agent.
【請求項3】 前記エポキシ硬化剤がフェノール誘導体
であることを特徴とする請求項1記載の半導体装置用接
着剤組成物。
3. The adhesive composition for a semiconductor device according to claim 1, wherein said epoxy curing agent is a phenol derivative.
【請求項4】 前記弾性体がエポキシ基と反応可能な官
能基を有するアクリルゴム又はアクリロニトリル−ブタ
ジエン共重合体であることを特徴とする請求項1記載の
半導体装置用接着剤組成物。
4. The adhesive composition for a semiconductor device according to claim 1, wherein said elastic body is an acrylic rubber or an acrylonitrile-butadiene copolymer having a functional group capable of reacting with an epoxy group.
【請求項5】 前記半導体装置用接着剤組成物の硬化後
の200℃〜280℃の温度域に於ける動的弾性率が1
6Pa以上であることを特徴とする請求項1記載の半
導体装置用接着剤。
5. The semiconductor device of claim 1, wherein said adhesive composition has a dynamic elastic modulus of 1 in a temperature range of 200 ° C. to 280 ° C. after curing.
The adhesive for a semiconductor device according to claim 1, characterized in that 0 6 Pa or more.
【請求項6】 前記半導体装置用接着剤組成物が、支持
体の少なくとも一面に積層してなることを特徴とする接
着シート。
6. An adhesive sheet, wherein the adhesive composition for a semiconductor device is laminated on at least one surface of a support.
【請求項7】 前記半導体装置用接着剤組成物が基材の
少なくとも一面に積層してなることを特徴とする補強部
材。
7. A reinforcing member, wherein the adhesive composition for a semiconductor device is laminated on at least one surface of a substrate.
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