JP3372581B2 - 処理装置 - Google Patents

処理装置

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JP3372581B2
JP3372581B2 JP851593A JP851593A JP3372581B2 JP 3372581 B2 JP3372581 B2 JP 3372581B2 JP 851593 A JP851593 A JP 851593A JP 851593 A JP851593 A JP 851593A JP 3372581 B2 JP3372581 B2 JP 3372581B2
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伸吾 渡辺
雅人 門部
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  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】本発明は、例えば半導体デバイスの製造工
程等において利用される、処理装置及び処理方法に関す
る。
【0002】
【従来の技術】例えば、半導体プロセスにおいては、半
導体ウエハへの酸化膜の形成や、熱CVD法による薄膜
形成や、熱拡散法による高不純物濃度領域の形成などの
を行う、各種の処理装置が使用されている。
【0003】これら各種処理装置に適用されるものとし
て、従来の横型のものから、最近では縦型の熱処理装置
が多く採用されて来ている。以下この縦型熱処理装置を
例にあげて説明する。
【0004】この縦型熱処理装置は、箱体状の装置本体
内に、被処理物としての半導体ウエハに所定の処理を施
す処理室と、この処理室に対し下方から半導体ウエハを
挿脱するローディング機構を備えたローディングエリア
と、半導体ウエハを収納したキャリアの装置本体内への
搬入出用エリア(I/Oエリア)と、このキャリアを一
時的に受ける移載用ステージと、この移載用ステージの
キャリア内の半導体ウエハを前記ローディングエリアの
ローディング機構に移載する移載機(ウエハトランスフ
ァ)とを備えてなる構成である。
【0005】前記処理室にはヒーターを備えた縦長状の
石英製プロセス容器(加熱炉)が下向きに開口可能に設
置されている。この処理室の真下にローディングエリア
があり、ここにローディング機構としてのウエハボート
とボートエレベータが設置されている。
【0006】こうした縦型熱処理装置では、多数枚の半
導体ウエハを整列収納したキャリアを装置本体の搬入出
用エリアに入れると、このキャリアがキャリアトランス
ファなどにより移載用ステージ上に載せられる。この移
載ステージ上のキャリア内の半導体ウエハを、移載機が
一枚ずつ又は5枚ずつローディングエリアのウエハボー
トに移載して多段状態に収納保持させる。この状態のま
まウエハボートをボートエレベータにより上昇させて半
導体ウエハをプロセス容器内に搬入し、そのプロセス容
器内を密封して所定の処理ガス雰囲気に置換しながら加
熱することにより、該半導体ウエハに所要の処理を施
す。
【0007】その処理済みの半導体ウエハは、ウエハボ
ートと一緒にボートエレベータによりプロセス容器内か
ら下降して真下のローディングエリアに引き出し、そこ
から移載機により移載用ステージ上のキャリア内に戻
し、そのキャリアごと搬入出用エリアから装置本体外に
取り出したり、或いは連接された次の工程の処理装置に
移送する。
【0008】こうした縦型熱処理装置での処理作業にお
いて、ローディングエリアから半導体ウエハをウエハボ
ートと共に上昇させてプロセス容器内へ挿入するとき
や、その処理後にプロセス容器内から下降させて引き出
すとき、その途中炉口付近でもかなりの高温度雰囲気状
態にあることから、そこに大気が存在すると、この大気
中のO2 によって半導体ウエハ表面に自然酸化膜が形成
されてしまう問題がある。このために、そうしたロード
/アンロード時は、例えばN2 ガス等の不活性ガス雰囲
気(非酸素雰囲気)下で行うべく、装置本体内、特にロ
ーディングエリアを大気と隔離したクローズドシステム
構造として、ガス給排手段によりN2 ガス雰囲気に置換
・維持することが望まれている。
【0009】しかも、その装置本体内のガス雰囲気は外
部からの大気の侵入を阻止すべく常に陽圧に保持しなけ
ればならないこと、半導体ウエハ処理作業を繰り返し行
うために装置本体内のガス雰囲気中にカーボン等のガス
状不純物が発生したり、オイルミストやごみなどの粒子
状不純物(パーティクル)が発生し、それら不純物が半
導体ウエハに付着したり化学反応(ケミカルコンタミネ
ーション)を起こして、半導体素子の特性や歩留まりの
悪化の原因となる。また、その同時に処理室からの熱気
の放出や、高温に加熱された処理済み半導体ウエハから
の輻射熱等により、ローディングエリア内のN2 ガス雰
囲気が異常に昇温することなどから、パージガスとして
清浄な不活性ガスを装置本体内に常時導入する一方、そ
の装置本体内の不活性ガスを不純物と一緒に絶えず外部
に排出して、該装置本体内の不活性ガス雰囲気を陽圧で
高純度に維持することが望まれている。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前述の
ようなクローズドシステム構造の縦型熱処理装置とした
場合、装置本体内をN2 ガス等の不活性ガス雰囲気に置
換・維持すると共に異常昇温を防止するには、大量の不
活性ガスを消費する問題がある。
【0011】つまり、この種の装置本体は幅並びに奥行
き寸法が1メートル程度で高さが2メートル程度の大型
箱状をなしているので、この内部を最初に大気から不活
性ガスに置換するときには、不活性ガスを大量に導入す
る必要があると共に、十分なガス置換までに長い時間が
必要で、処理作業の能率低下を招く。いきおい、真空ポ
ンプにより真空引きしてから不活性ガスを導入する手法
を取ると、装置本体のハウジングパネル構造を、負圧に
負けない気密性・肉厚高剛性のものとする必要があり、
制作コストの高騰を招く。
【0012】また、この大型な装置本体内の不活性ガス
雰囲気を陽圧で高純度に維持すると共に異常昇温を防止
するには、パージガスとして清浄な不活性ガスを常時多
量に導入する一方、その装置本体内の不活性ガスを不純
物と一緒に絶えず外部に排出してなければならず、不活
性ガスの消費量が多大となり、経費がかさみ不経済であ
る。
【0013】本発明は、前記事情に鑑みなされたもの
で、不活性ガスの消費量が少なくて済み、しかも被処理
物の処理作業を繰り返し行っても、ローディングエリア
を陽圧で高純度の不活性ガス雰囲気に維持できると共
に、異常昇温を防止でき、被処理物の処理室へのロード
/アンロード時の自然酸化膜の発生や、被処理物への不
純物の付着や化学反応を抑制するのに大に役立つ、非
常に経済的で高性能な処理装置及び処理方法を提供する
ことを目的とする。
【0014】
【課題を解決するための手段】本発明に係わる処理装置
は、装置本体内に隔壁によって被処理物に所定の処理を
施す処理室、この処理室に被処理物を挿脱するローディ
ング機構を備えたローディングエリア及び被処理物を収
納するキャリアを支持する密閉されたパスボックスを有
するキャリア搬入出用エリアを区画構成すると共に、こ
のローディングエリア内を陽圧の不活性ガス雰囲気に置
換・維持する第1のガス給排手段及び前記パスボックス
内を不活性ガス雰囲気に置換する第2のガス給排手段を
備え、前記第1のガス給排手段は、前記ローディングエ
リア内の不活性ガスを導出して再度ローディングエリア
内に戻すガス循環経路と、このガス循環経路に、送風機
と、不活性ガスを浄化するガスフィルタと、不活性ガス
を冷却する冷却器とを備えたガス循環冷却浄化システム
を設け、前記第2のガス給排手段は、前記パスボックス
内にキャリアの側方からキャリア内の被処理物相互間に
水平流として不活性ガスを噴射する噴射器を設け、 さら
に、前記ローディングエリア内の前記処理室との境界部
に、前記処理室に対して被処理物を挿脱する際に、前記
不活性ガスの吹き出し風速より速い風速の不活性ガスを
被処理物の真横からその全幅に亘って吹き出し、被処理
物相互間の不純物や熱気を追い出すガスシャワー機構を
設けたことを特徴とする。
【0015】
【0016】
【作用】前記構成の処理装置であれば、装置本体内に区
画構成されたローディングエリアは比較的狭いので、ガ
ス給排手段からの比較的少ないガス供給量で大気から不
活性ガスに楽に置換可能となると共に、この置換後も、
ガス給排手段により不活性ガスを少量ずつ導入すること
で、該ローディングエリア内を陽圧の不活性ガス雰囲気
に維持可能となる。
【0017】しかも、被処理物の処理作業を繰り返し行
っても、ローディングエリア内の不活性ガスは、ガス循
環冷却浄化システムのガス循環経路に送風機により導出
され、ガスフィルタにより浄化されると共に冷却器によ
り冷却されて、再度ローディングエリア内に戻されるの
で、ローディングエリア内を陽圧で高純度の不活性ガス
雰囲気に維持できると共に、異常昇温を防止できるよう
になり、全体的に不活性ガスの消費量が少なくて済み、
経費の節減が可能となると共に、被処理物の処理室への
ロード/アンロード時の自然酸化膜の発生や、被処理物
への不純物の付着や化学反応を抑制するのに大いに役立
つようになる。また、前記処理室に対して被処理物を挿
脱する際に、前記不活性ガスの吹き出し風速より速い風
速の不活性ガスを被処理物の真横からその全幅に亘って
吹き出すガスシャワー機構を設けることにより、被処理
物相互間の不純物や熱気を確実に追い出すことができ
る。さらに,本発明は,多段に,かつ水平に保持された
多数枚の被処理物を処理室に搬入し、被処理物に所定の
熱処理を施した後,被処理物をローディングエリアに搬
出し,所定温度の不活性ガスを前記被処理物に対して水
平層流状態に供給することを特徴とする。従って,被処
理物相互間の不純物や熱気が不活性ガスによって追い出
されるように除去される。
【0018】
【実施例】以下、本発明に係わる処理装置を縦型熱処理
装置に適用した一実施例について図面を参照しながら説
明する。なお、図1は本実施例に係わる縦型熱処理装置
の構成を示す縦断面図、図2は図1のA−A線に沿う縦
断面図、図3は同装置の横断面図、図4は図3のB−B
線に沿う断面図、図5は制御システムを示す概略図であ
る。この縦型熱処理装置は、被処理物としての半導体ウ
エハに絶縁膜を生成する酸化装置或いはCVD装置とし
て利用されるものである。
【0019】まず、図1乃至図3に示す如く、本実施例
に係わる縦型熱処理装置は装置本体1を有する。この装
置本体1はハウジングパネル1aを用いた幅1メ−トル
奥行き寸法が2メートル程度で高さが3メートル程度の
大型箱状をなす構造で、この前面部を工場内のクリーン
ルーム2に臨ませ、その他大部分を隔壁3により隔絶さ
れたメンテナンスルーム4内に納まるように設置されて
いる。
【0020】この装置本体1内の後部略上半部には、被
処理物としての薄いディスク状の半導体ウエハ5に所定
の処理を施す処理室10が隔壁11,12により区画構
成されていると共に、この処理室10の丁度真下にロー
ディングエリア13が隔壁12,14により気密性を持
つ状態に区画構成され、更に、装置本体1内の前側略半
分に複数枚例えば25枚の半導体ウエハ5を並列状態に
収納保持したキャリア6の搬入出用エリア(I/Oエリ
ア)15が隔壁11,14により前記処理室10並びに
ローディングエリア13と隔絶して区画構成されてい
る。
【0021】また、その搬入出用エリア15とローディ
ングエリア13を仕切る隔壁14の一部に嵌め込むよう
にして気密性を持つ小形のパスボックス16がスタンド
17を介し適当高さに支持されている。このパスボック
ス16内に移載用ステージ18が上下2段に配設され、
それぞれの上面に前記キャリア6を一個ずつ受け入れら
れるようになっている。
【0022】更に各部の詳細を述べると、まず装置本体
1の前面パネル部には、複数枚の半導体ウエハ5を収納
したキャリア6を搬入出用エリア15内に搬入したり逆
に取り出したりするための、前面扉20が自動的に縦に
開閉するように設けられている。
【0023】その内側の搬入出用エリア15内には、キ
ャリア6を搭載できるI/Oポートとしての姿勢変換機
構21が2台左右に配設されている。これら姿勢変換機
構21は、この上面に載せられた上向き状態(半導体ウ
エハ5が立って保持された状態)のキャリア6を90度
転換して横向きにしたり、逆に横向き状態から上向きに
したりする働きをなす構成である。
【0024】また、搬入出用エリア15内には、姿勢変
換機構21の直ぐ後側位置にキャリアトランスファ22
がエレベータ23を介し昇降可能に設置されていると共
に、この後側で前記パスボックス16の上方位置に、キ
ャリアストックステージ24が設けられている。これは
前記姿勢変換機構21からキャリアトランスファ22に
より搬送されて来るキャリア6をそれぞれ横向きのまま
2列4段に保管できる複数の棚24aを有している。
【0025】こうした搬入出用エリア15内雰囲気は大
気であるが、ここで各キャリア6内の半導体ウエハ5の
主面のパーティクル(微小粒子)等の付着ダストをクリ
ーンエアにより出来るだけ除去するために、まず、該搬
入出用エリア15内のキャリアストックステージ24裏
面と隔壁11との間にフィルタ並びにファンを内蔵した
縦長の第1のフィルタユニット25が設置されている。
この第1のフィルタユニット25は、上端に前記装置本
体1の天板部に開口するクリーンエア吸引口25aを有
し、ここからメンテナンスルーム4内のクリーンエアを
吸い込んで、フィルタを介し前記キャリアストックステ
ージ24のキャリア6内の水平状態の半導体ウエハ5に
向けてサイドフローできる。このサイドフローを助ける
ために多数の孔を形成した整流板26がキャリアストッ
クステージ24の前面側に垂直に設置されている。
【0026】また、その整流板26の前側下端寄りにフ
ィルタとファンを内蔵した第2のフィルタユニット27
が設置され、これで前記第1のフィルタユニット25か
ら整流板26を通して来たクリーンエアを再度清浄化し
ながら、真下の左右の姿勢変換機構21上のキャリア6
内の垂直状態の半導体ウエハ5に向けてダウンフローで
きるようになっている。
【0027】更に、その真下である装置本体1の床プレ
ートにスノコ状の排出口28が形成されて、前記第2の
フィルタユニット27から下流したクリーンエアを装置
本体1外のメンテナンスルーム4に放出するようになっ
ている。
【0028】前記移載用ステージ18を上下2段に配し
たパスボックス16は、小型(小容量)の縦長箱状で、
この搬入出用エリア15側面とローディングエリア13
側面とにそれぞれオートドア31,32を備えている。
これらオートドア31,32は各々独自の開閉駆動部を
備え、交互に開閉して搬入出用エリア15とローディン
グエリア13と連通/遮断可能となっている。その搬入
出用エリア15側のオートドア31が開くことで、前記
キャリアトランスファ22によりキャリア6が上下2段
の移載用ステージ18上に一個ずつ搬入されたり、逆に
搬出される。
【0029】一方、前記処理室10内には縦型のプロセ
ス容器41が設置されている。このプロセス容器41は
例えば石英等によって形成されたプロセスチューブなど
と称される加熱炉で、断面逆U字形容器、即ち上端閉塞
の縦型略円筒形状をなす。このプロセス容器41の外周
を取り囲むようにヒータ42が設けられ、更にその周囲
には冷却パイプや断熱材等を組み込んだ保護カバー43
が被せられている。
【0030】また、このプロセス容器41の開口下端に
はマニホールド44が接続して設けられている。このマ
ニホールド44は上下フランジ付き矩形円筒体状のもの
で、図1に示すように、この周壁部に前記プロセス容器
41内のガスを排気するオートダンパー45a付き排気
管45が接続され、この先端が装置本体1外に導出され
て工場排気装置46(図5参照)に接続されている。ま
た、そのマニホールド44を介してプロセス容器41内
に新たなガスを導入するガス導入管56が設けられてい
る。このガス導入管56は先端が装置本体1外に導出さ
れ、図5に示す如く自動切替えバルブ47を介し所定の
プロセスガス(処理ガス)供給装置48と不活性ガス装
置49とに接続されて、交互にプロセスガスと不活性ガ
ス(この実施例では例えばN2 ガス)をプロセス容器4
1内に導入できるようになっている。
【0031】更に、前記プロセス容器41下部のマニホ
ールド44の周囲には、前記隔壁12とこの下面に固定
した角皿状のケース51aとにより、環状室状のスカベ
ンジャー51が構成され、このスカベンジャー51内か
らプロセス容器41下部周囲に滞留する熱や不要ガスを
常時排出する熱排気管52が導出され、この先端が装置
本体1外に導出されて工場排気装置46(図5参照)に
接続されている。また、この熱排気管52の途中にはオ
ートダンパー54a付き分岐管54が処理室10内に位
置して設けられている。
【0032】なお、そのスカベンジャー51のケース5
1a底面中央部が前記マニホールド44下端と連通する
状態に開口されてプロセス容器41の炉口41aを構成
している。この炉口41aを下面側からOリングを介し
気密状態に閉塞するオートシャッター55が前記ローデ
ィングエリア13内に設置されている。このオートシャ
ッター55は開閉駆動部55aにより上下動と横方向の
回動を行って炉口41aを開閉する。
【0033】前記ローディングエリア13内には前記処
理室10のプロセス容器41内に半導体ウエハ5を挿脱
するローディング機構としてのウエハボート61とボー
トエレベータ62とが設置されている。このウエハボー
ト61は石英製の縦長やぐら状のもので、多数枚の半導
体ウェハ5をそれぞれ水平状態で上下に間隔を存して多
段に収納保持する構成である。
【0034】このウエハボート61がボートエレベータ
62により前記プロセス容器41の炉口41aの丁度真
下に垂直状態に支持されている。このウエハボート61
が多数枚の半導体ウエハ5を収納した状態で、前記シャ
ッター55の開放に伴い、ボートエレベータ62により
上昇してプロセス容器41内に挿入されたり、逆にプロ
セス容器41内から下降して引き出されたりする。な
お、このウエハボート61が上昇してプロセス容器41
内に挿入されたとき、このウエハボート61下部のフラ
ンジ61aが炉口41aを前記オートシャッター55に
代わって閉塞してプロセス容器41内を密閉状態にでき
る。
【0035】また、ローディングエリア13内のウエハ
ボート61とパスボックス16との間には、移載機(ウ
エハトランスファ)63が移載用エレベータ64に昇降
可能に支持されて設置されている。この移載機63は昇
降しながら、前記パスボックス16内の上下2段の移載
用ステージ18上のキャリア6内の半導体ウエハ5を一
枚ずつ取り出して、ローディングエリア13のウエハボ
ート61に収納保持させたり、その逆にウエハボート6
1から半導体ウエハ5を移載用ステージ18上のキャリ
ア6内に戻したりする働きをなす。
【0036】ここで、前記装置本体1内に隔壁12、1
4により区画されたローディングエリア13内を陽圧の
不活性ガス雰囲気に置換・維持するために、第1のガス
給排手段としてのガス導入管71と排気管72とが備え
られている。
【0037】そのガス導入管71は、後述するガス循環
冷却浄化システムとして装置本体1の床下に設置された
ガス循環経路81途中の送風ファン82の一次側(吸い
込み側)に接続して設けられている。このガス導入管7
1は装置本体1外に導出され、図5に示す如く流量調整
バルブ73並びにレギュレータ74を介し不活性ガス供
給装置49に接続されて、不活性ガスとしてN2 ガスを
前記ガス循環経路81を介しローディングエリア13内
に導入できるようになっている。排気管72はローディ
ングエリア13内の下流側から導出され、途中にオート
ダンパー72aを備えて、前述した工場排気装置46に
接続されている。
【0038】ローディングエリア13内の初期置換時に
は、そのオートダンパー72aが開いて、工場排気装置
46によりローディングエリア13内の排気を行うと共
に、N2 ガスを200〜400リットル/min 程度で導
入する。その置換後の定常時は、N2 ガス導入量を50
リットル/min 程度に絞り、排気管72のオートダンパ
ー72aは閉じて、ローディングエリア13の隙間排気
或いは圧力調整ダンパーにより該ローディングエリア1
3内を適度な陽圧のN2 ガス雰囲気に維持するようにな
っている。なお、その隙間排気による漏れガスは前記ス
カベンジャー51の熱排気管52のオートダンパー54
a付き分岐管54から工場排気される。
【0039】前記ガス循環冷却浄化システムは、半導体
ウエハ5の処理作業を繰り返し行っても、ローディング
エリア13内のN2 ガス雰囲気を高純度に維持すると共
に異常な温度上昇を防止する。このシステム構成とし
て、まずローディングエリア13内のN2 ガスを一度系
外に取り出し、それを浄化・冷却した後に再びローディ
ングエリア13内に還流させるガス循環経路81が前記
装置本体1の床下に設けられ、この途中に送風機82が
設置されていると共に、その送風機82の二次側にガス
フィルタとしてのケミカル用フィルタ83が設置され、
更にその二次側にガス冷却器84が設置されている。な
お、そのケミカル用フィルタ83はガス状不純物(水分
・酸素・炭化水素・その他)を吸収するジルコニア等の
金属ゲッターを用途に応じ交換可能に内蔵したガス浄化
器である。また、ガス冷却器84は通水可能な冷却パイ
プに放熱フィンを設けたラジエータタイプのもので、二
次側吹き出しガス温度が50℃以下となるような冷却能
力を有する。
【0040】こうしたガス循環経路81からのN2 ガス
を受け入れてローディングエリア13内に吹き出すガス
フィルタとしてのパーティクル用フィルタ85が該ロー
ディングエリア13内の一側面部に設けられている。こ
のパーティクル用フィルタ85は、縦置き形のULPA
グレードのアブソリュートフィルタで、N2 ガス中の微
粒子状不純物(ごみ等のパーティクル)をろ過捕集する
と共に、そのN2 ガスをローディングエリア13内に一
側方から水平層流状態に吹き出す。また、そのN2 ガス
の水平層流状態をより確実なものにするために、ローデ
ィングエリア13内の他側面に多数の孔を形成した整流
板86がフィルタ85と対向するように垂直に設けら
れ、この整流板86を通してこの裏面空間87からN2
ガスが前記ガス循環経路81に吸引導通されて行くよう
になっている。
【0041】また、前記ローディングエリア13内上部
にはガスシャワー機構91が設けられている。このガス
シャワー機構91は、図5に示す如くバルブ92並びに
レギュレータ73を介し不活性ガス供給装置49に接続
されたガス導入管94と、このガス導入管94先端に接
続して前記スカベンジャー51のケース51a下面にブ
ラケット95を介し固定された特殊ノズル96を備えて
なる。
【0042】その特殊ノズル96は、偏平で、且つ直径
200mmウエハ全域をカバーできる幅寸法と、出来るだ
けランディング(助走)距離を長くした形状で、前記ウ
エハボート61をプロセス容器41に挿脱(ロード/ア
ンロード)するとき、N2 ガスを50〜100リットル
/min で前記プロセス容器41の炉口41aの下側近傍
に真横から水平流にして且つ前記ULPAフィルタ85
からの吹き出し水平層流風より早い風速(0.75m/
sec )で吹き出し、このN2 シャワーにより該ウエハボ
ート61に多段に配して保持されている半導体ウエハ5
相互間のO2 等の不純物や熱気を追い出すようになって
いる。
【0043】前記パスボックス16には該ボックス内を
不活性ガスに置換する第2のガス給排手段としてのガス
導入管101と噴射器102と排気管103とが備えら
れている。そのガス導入管101は図5に示す如くバル
ブ104並びにレギュレータ93を介し不活性ガス供給
装置49に接続されおり、この先端が図4に示す如く上
方からパスボックス16内の噴射器102に接続されて
いる。その噴射器102によりパスボックス16内にこ
の一側方から常時50リットル/min のN2 ガスを導入
噴射できる一方、これと対向する他側に前記排気管10
3が接続され、この排気管103がオートダンパー10
3aを介し工場排気装置46に接続されて、パスボック
ス16内のガスを押し流す状態で常時排気できるように
なっている。
【0044】この噴射器102は、パスボックス16内
の一側寄りに上端から下端近傍までに亘り垂設したパイ
プ状のインジェクターで、周面に上下に間隔を存して多
数の小孔を穿設しており、この各小孔からN2 ガスをパ
スボックス16内の上下各段の移載用ステージ18上空
間に一側方から水平流として導入噴射する。そのインジ
ェクターによるN2 ガス吹き出し速度は0.75m/se
c が可能とされており、移載用ステージ18上のキャリ
ア6が横に寝た状態で両側面に多数のスリットを有して
いることから、これらスリットを介しN2 ガスが該キャ
リア6内を半導体ウエハ5の主面と平行する向き(水平
向き)で一側方から他側方に流れ抜けて、該半導体ウエ
ハ5相互間のO2 等の不純物を追い出すようになってい
る。
【0045】また、図5に示す如く、前記ローディング
エリア13内とパスボックス16内との酸素濃度検知手
段としてのガス導通配管111と112とが設けられ、
これらが共通の一個の酸素濃度計(O2 センサー)11
3に接続されている。この酸素濃度計113は三方切替
えバルブとガス導出ポンプを内蔵したもので、前記ロー
ディングエリア13内とパスボックス16内との酸素濃
度が20PPm 以下か否かを測定するようになっている。
【0046】また、その酸素濃度計113からの信号
と、前記ローディングエリア13内に気圧を測定する圧
力センサー114からの信号とを受けるコントローラ1
15が設けられている。このコントローラ115からの
制御指令でもって、前記オートダンパー45a,54
a,72a,103aと、バルブ47,73,92,1
04と、前面扉20及びオートドア31,32並びにオ
ートシャッター55と、キャリアトランスファ22及び
移載機63と、ボートエレベータ62等の各稼働部がそ
れぞれ自動的にシーケンス制御されるようになってい
る。
【0047】このような構成の縦型熱処理装置の作用を
述べると、まず、装置本体1内に区画構成されたローデ
ィングエリア13は比較的狭いので、初期置換時には、
第1のガス給排手段としての排気管72のオートダンパ
ー72aが開いて、工場排気装置46によりローディン
グエリア13内の排気を行うと共に、ガス導入管71か
らN2 ガスを400リットル/min 程度で導入する。こ
うした比較的少ないN2 ガス供給量で大気から不活性ガ
スに楽に置換可能となる。
【0048】その置換後の定常時は、ガス導入管71か
らのN2 ガス導入量を50リットル/min 程度の少量に
絞り、排気管72のオートダンパー72aは閉じて、ロ
ーディングエリア13の隙間排気或いは圧力調整ダンパ
ーにより該ローディングエリア13内を適度な陽圧(ク
リーンルーム2内とメンテナンスルーム4内との差圧が
0.6〜0.7mmH2 Oの時に、クリーンルーム2の気
圧より0.2mmH2 O程高い0.9mmH2 O程度)のN
2 ガス雰囲気に維持する。なお、その隙間排気による漏
れガスはスカベンジャー51の熱排気管52のオートダ
ンパー54a付き分岐管54から常時工場排気される。
【0049】一方、移載用ステージ18を囲むパスボッ
クス16には、第2のガス給排手段としてのガス導入管
101から噴射器102を介し常時50リットル/min
のN2 ガスを一側方から水平流で噴射導入し、他側方の
排気管103から押し出すように排気する。こうするこ
とで、該パスボックス16内は容量が小さいので、非常
に少ないN2 ガス供給量で大気から不活性ガスに素早く
置換される。
【0050】こうした状態で、まず、前面扉20が自動
的に開き、外部から多数枚の半導体ウエハ5を収納した
キャリア6を搬入出用エリア15内I/Oポートとして
の左右の姿勢変換機構21にそれぞれ搬入搭載する。こ
れら姿勢変換機構21がキャリア6を上向き状態から9
0度転換して横向きにし、これをキャリアトランスファ
22が次々と受け取って、エレベータ23を介し昇降し
ながら、一度上方のキャリアストックステージ24に搬
送する。この状態で各キャリア6内の半導体ウエハ5の
主面のパーティクル(微小粒子)等の付着ダストをクリ
ーンエアにより除去する。
【0051】こうした後に、タイミングを図って、前記
パスボックス16の搬入出用エリア15側のオートドア
31が開き、キャリアトランスファ22がキャリアスト
ックステージ24からキャリア6を運んで該パスボック
ス16内の上下各段の移載ステージ18上に搬入する。
この作業時、一時的にパスボックス16内に大気が入る
が、その後はオートドア31が閉じてパスボックス16
内を密閉状態とすることで、前述の如くガス導入管10
1から噴射器102を介し供給されるN2 ガスで短時間
で大気を追い出して不活性ガスに置換される。
【0052】この際、第2のガス給排手段の噴射器10
2であるインジェクターは、多数の小孔からN2 ガスを
パスボックス16内の上下各段の移載用ステージ18上
空間に一側方から早い流速の水平流として導入噴射して
いるので、そのパスボックス16内の各移載用ステージ
18上に横に寝た状態のキャリア6の両側面の多数のス
リットを介し、該N2 ガスが半導体ウエハ5の主面と平
行する向き(水平向き)で一側方から他側方に流れ抜け
て、ここでも該半導体ウエハ5相互間のO2 等の不純物
を追い出すようにして除去する。
【0053】こうしてパスボックス16内がN2 ガス雰
囲気に置換された後、そのローディングエリア13側の
オートドア32が開き、そのパスボックス16内の上下
各段の移載ステージ18上のキャリア6内の半導体ウエ
ハ5を移載機63が一枚ずつ取りだして、ローディング
機構のウエハボート61に移載する。この作業中、パス
ボックス16内がN2 ガス雰囲気に置換されているの
で、ローディングエリア13内に大気等が侵入する心配
がない。
【0054】このローディングエリア13内のウエハボ
ート61に移載された多数枚の半導体ウエハ5は、オー
トシャッター55が開き、ボートエレベータ62により
ウエハボート61ととも共に上昇せしめられて処理室1
0のプロセス容器41内に挿入される。そして、下部フ
ランジ61aで炉口41aを閉じた状態で、プロセス容
器41内のN2 ガス雰囲気が排気管45により排気され
ると共に、ガス導入管56からプロセスガスがプロセス
容器41内に導入されて、ヒーター42の加熱により半
導体ウエハ5に所要の処理が施される。
【0055】その処理後は、プロセス容器41内のプロ
セスガスを排気管45より排気すると共に、ガス導入管
56からN2 ガスを供給して、該プロセス容器41内を
ローディングエリア13内と同じN2 ガス雰囲気に置換
する。こうしてからボートエレベータ62により下降し
てウエハボート61と共に処理済み半導体ウエハ5をロ
ーディングエリア13内に引き戻す。その時点で再びオ
ートドア32が開き、移載機63が稼働してウエハボー
ト61内の処理済み半導体ウエハ5を取り出してパスボ
ックス16内の上下各段の移載ステージ18上のキャリ
ア6内に戻す。そして、ローディングエリア13側のオ
ートドア32が閉じ、この反対のオートドア31が開
き、キャリアトランスファ22が稼働して該キャリア6
を取り出して一度上方のキャリアストックステージ24
に搬送する。
【0056】その後は、搬入出用エリア15の前面扉2
0が開き、再びキャリアトランスファ22が稼働して、
キャリアストックステージ24のキャリア6を次々左右
の姿勢変換機構21に受け渡し、これらが上向き状態に
90度転換する。これで該処理済み半導体ウエハ5を収
納したキャリア6を外部に取り出せるようになる。
【0057】こうすることで、半導体ウエハ5の搬入出
の際にローディングエリア13内に大気が侵入して来る
ことがなくなり、全体的に不活性ガスの消費量が少なく
て済み、経費の節減が可能となると共に、ローディング
エリア13内を陽圧で高純度の不活性ガス雰囲気に維持
できて、半導体ウエハ5のプロセス容器41内へのロー
ド/アンロード時の自然酸化膜の発生や、半導体ウエハ
5への不純物の付着や化学反応を抑制するのに大に役立
つようになる。
【0058】こうした半導体ウエハ処理作業を繰り返し
行っていると、特にウエハボート61のプロセス容器4
1への挿脱((ロード/アンロード)時、ローディング
エリア13内のN2 ガス雰囲気中にカーボン等のガス状
不純物が発生したり、オイルミストやごみなどの粒子状
不純物(パーティクル)が発生し、それら不純物が半導
体ウエハに付着したり化学反応(ケミカルコンタミネー
ション)を起こして、半導体素子の特性や歩留まりの悪
化の原因となる。また、同時に炉口41aの開放による
プロセス容器41内からの熱気の放出や、高温(100
0℃程度)に加熱された処理済み半導体ウエハ5からの
輻射熱等により、ローディングエリア13内のN2 ガス
雰囲気が異常に昇温する。
【0059】こうしたことから、パージガスとして清浄
なN2 ガスを前述の如くガス導入管71から常時供給し
続ける一方、ガス循環冷却浄化システムが絶えず稼働
し、そのローディングエリア13内のN2 ガスを不純物
と一緒に送風機82の作用により整流板86を介し一度
ガス循環経路81に導通し、これをケミカル用フィルタ
(ガス浄化器)83によりガス状不純物(水分・酸素・
炭化水素・その他)を吸収しすると共に、そのN2 ガス
をガス冷却器84に通して50℃以下となるように冷却
する。更にULPAグレードのアブソリュートタイプの
パーティクル用フィルタ85によりN2 ガス中の微粒子
状不純物(ごみ等のパーティクル)をろ過捕集すると共
に、そのN2 ガスをローディングエリア13内に一側方
から水平層流状態に吹き出して還流させている。
【0060】これで、該ローディングエリア13内のN
2 ガス雰囲気が高純度に維持されると共に、異常な温度
上昇が防止される。しかもそのフィルタ85からN2
スがローディングエリア13内に一側方から水平層流
(ラミナーフロー)状態に吹き出されるので、ローディ
ングエリア13内においても、ウエハボート61に多段
に配して水平に保持された多数枚の半導体ウエハ5相互
間のO2 等の不純物が追い出すようにして除去されるよ
うになる。
【0061】さらに、ウエハボート61のプロセス容器
41への挿脱(ロード/アンロード)時、ガスシャワー
機構91が稼働し、スカベンジャー51の下面の特殊ノ
ズル96からN2 ガスが高速で炉口41aの下側近傍に
真横から水平流にして吹き出され、このN2 シャワーに
より該ウエハボート61に多段に配して水平に保持され
ている半導体ウエハ5相互間のO2 等の不純物や熱気が
追い出されるようになる。
【0062】なお、前述の実施例の処理装置は、被処理
物として半導体ウエハ5に絶縁膜を生成する酸化装置或
いはCVD装置として利用されるものとしたが、被処理
物の種類や処理の種類は特に限定されるものではなく、
他の種の処理を行う処理装置であってもよいことはもち
ろんである。これら処理の種類に応じて前述のN2 ガス
以外の不活性ガスを供給するようにしても良い。
【0063】
【発明の効果】本発明の処理装置は、前述の如く構成し
たので、不活性ガスの消費量が少なくて済み、しかも被
処理物の処理作業を繰り返し行っても、ローディングエ
リアを陽圧で高純度の不活性ガス雰囲気に維持できる共
に、異常昇温を防止でき、被処理物の処理室へのロード
/アンロード時の自然酸化膜の発生や、被処理物への不
純物の付着や化学反応を抑制するのに大いに役立ち、非
常に経済的で高性能化が図れる。さらに、前記処理室に
対して被処理物を挿脱する際に、前記不活性ガスの吹き
出し風速より速い風速の不活性ガスを被処理物の真横か
らその全幅に亘って吹き出すガスシャワー機構を設ける
ことにより、被処理物相互間の不純物や熱気を確実に追
い出すことができる。さらに、パスボックス内にキャリ
アの側方からキャリア内の被処理物相互間に水平流とし
て不活性ガスを噴射する噴射器を設けることにより、こ
こでも被処理物相互間の不純物を追い出すことができる
とともに、ローディング機構によって被処理物をローデ
ィングエリアに移載する際に、パスボックス内が不活性
ガス雰囲気に置換されているので、ローディングエリア
内に大気が侵入することはないという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例に係わる縦型熱処理装置の構
成を示す断面図。
【図2】図1のA−A線に沿う縦断面図。
【図3】同装置の横断面図。
【図4】図3のB−B線に沿う断面図。
【図5】制御システムを示す概略図。
【符号の説明】
1…装置本体、5…被処理物(半導体ウエハ)、10…
処理室(41…プロセス容器)、13…ローディングエ
リア、61,62…ローディング機構(61…ウエハボ
ート、62…ボートエレベータ)、71,72…ガス給
排手段(71…ガス導入管、72…ガス排気管)、81
〜85…ガス循環冷却浄化システム(81…ガス循環経
路、82…送風機、83,85…ガスフィルタ、84…
冷却器。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平4−269825(JP,A) 特開 平3−25926(JP,A) 特開 昭62−185313(JP,A) 特開 平2−86122(JP,A) 特開 平4−280626(JP,A) 特開 昭62−206826(JP,A) 実開 昭63−174436(JP,U) 実開 平3−99433(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/22 H01L 21/205 H01L 21/31

Claims (3)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 装置本体内に隔壁によって被処理物に所
    定の処理を施す処理室、この処理室に被処理物を挿脱す
    るローディング機構を備えたローディングエリア及び被
    処理物を収納するキャリアを支持する密閉されたパスボ
    ックスを有するキャリア搬入出用エリアを区画構成する
    と共に、このローディングエリア内を陽圧の不活性ガス
    雰囲気に置換・維持する第1のガス給排手段及び前記パ
    スボックス内を不活性ガス雰囲気に置換する第2のガス
    給排手段を備え、 前記第1のガス給排手段は、 前記ローディングエリア内
    の不活性ガスを導出して再度ローディングエリア内に戻
    すガス循環経路と、このガス循環経路に、送風機と、不
    活性ガスを浄化するガスフィルタと、不活性ガスを冷却
    する冷却器とを備えたガス循環冷却浄化システムを設
    け、前記第2のガス給排手段は、前記パスボックス内にキャ
    リアの側方からキャリア内の被処理物相互間に水平流と
    して不活性ガスを噴射する噴射器を設け、 さらに、前記ローディングエリア内の前記処理室との境
    界部に、 前記処理室に対して被処理物を挿脱する際に、
    前記不活性ガスの吹き出し風速より速い風速の不活性ガ
    スを被処理物の真横からその全幅に亘って吹き出し、被
    処理物相互間の不純物や熱気を追い出すガスシャワー機
    構を設けたことを特徴とする処理装置。
  2. 【請求項2】 前記ローディングエリア内の酸素濃度を
    検知する酸素濃度計を備えたことを特徴とする請求項1
    記載の処理装置。
  3. 【請求項3】 前記ローディングエリア内の気圧を測定
    する圧力センサーを備えたことを特徴とする請求項1記
    載の処理装置。
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