JP3358501B2 - 帰還増幅回路 - Google Patents

帰還増幅回路

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JP3358501B2
JP3358501B2 JP20493697A JP20493697A JP3358501B2 JP 3358501 B2 JP3358501 B2 JP 3358501B2 JP 20493697 A JP20493697 A JP 20493697A JP 20493697 A JP20493697 A JP 20493697A JP 3358501 B2 JP3358501 B2 JP 3358501B2
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光輝 畑谷
裕司 高田
慎司 坂本
俊夫 藤村
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Matsushita Electric Works Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、高抵抗素子を含む
帰還増幅回路に関するものである。
【0002】
【従来の技術】高抵抗素子を含む帰還増幅回路を図6に
示す。1は増幅回路である。2は帰還回路であり、増幅
回路1の出力の一部を入力側にフィードパックする。3
は高抵抗素子であり、帰還回路2の動作を安定させるた
めに帰還回路2と直列に接続される。
【0003】上記回路構成において、特に入力信号が微
小な場合、回路内部に発生するノイズを小さくする必要
があるが、高抵抗素子3により発生するノイズはその抵
抗値に反比例するので、低ノイズ回路を実現するために
はこの抵抗値をかなり高いものにしなけれぱならない。
【0004】図7は、上図の概略基本回路図である。増
幅回路1は、オペアンプOP1,帰還容量Cf及び基準
電位Vrとで構成され、帰還回路2は、オペアンプOP
2,容量C1,基準電位Vr及び抵抗R1とで構成されて
いる。
【0005】オペアンプOP1の出力の一部がオペアン
プOP2の正端子に入力され、オペアンプOP2の出力
が高抵抗素子Riを介してオペアンプOP1の負端子に
入力される。オペアンプOP1の正端子は基準電位Vr
を介してグランドに接続され、オペアンプOP2の負端
子は、抵抗R1及び基準電位Vrを介してグランドに接続
され、オペアンプOP2の負端子と出力側とは容量C1
を介して接続されている。
【0006】また、入力端子とグランドとは、容量Cs
の焦電素子7を介して接続されている。
【0007】この回路は、焦電素子7からの入力電流信
号を出力電圧に変換する、電流―電圧変換回路として働
くが、この時の変換インピーダンスZ(s)は、
【0008】
【数1】
【0009】と表される。ここで、
【0010】
【数2】
【0011】とおくと、上式は
【0012】
【数3】
【0013】のように書き換えられる。このように、こ
の電流―電圧変換回路の変換インピーダンスは、バンド
パスフィルタの周波数特性を持っている。ここで、ω0
は中心周波数で、Qは一般に選択度と呼ばれるものであ
る。
【0014】また、焦電素子7からの入力信号は微小で
あるため、この回路は低雑音であることが要求される
が、この回路において支配的であるノイズ成分の一つと
して抵抗Ri(高抵抗素子3)による熱雑音があり、こ
れを抑えるためにRiの抵抗値は1T(テラ)Ω程度以
上の高抵抗になっている。
【0015】次に、この帰還増幅回路に電源が投入され
た場合の動作について図7に基づいて説明する。帰還増
幅回路に電源が投入されると、入力端子は基準電圧Vr
と等しくなろうとするが、焦電素子7は等価的には容量
であり、その出力インピーダンスは非常に高い。
【0016】従って、入力端子を充電する経路は、帰還
回路2を経て高抵抗素子3からの経路のみとなる。しか
し、高抵抗素子3も上述の理由により高抵抗になってい
るため、充電に長い時間を必要とすることになる。
【0017】
【発明が解決しようとする課題】ところが、上述のよう
な構成の帰還増幅回路では、低ノイズ回路を実現するた
めに抵抗値の高い高抵抗素子3を用いると、帰還系回路
に流れる電流が大幅に限流されるため、電源投入時等の
ように回路が安定していない状態から正常動作可能な安
定した状態になるまでに長時間を要するという間題があ
った。
【0018】本発明は、上記の点に鑑みて成されたもの
であり、その目的とするところは、高抵抗素子を帰還系
に含んでいるにも関わらず不安定な状態から安定かつ正
常動作可能な状態に復帰するまでの時間を短縮すること
のできる帰還増幅回路を提供することにある。
【0019】
【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明は、
増幅回路と、該増幅回路の出力の一部を入力側にフィー
ドバックするための帰還回路と、該帰還回路と直列に接
続され該帰還回路の動作を安定させる高抵抗素子とから
成る帰還増幅回路において、前記高抵抗素子に並列に接
続され該高抵抗素子に電流を流すか否かを制御するスイ
ッチ回路と、該スイッチ回路の動作を制御する制御回路
と、前記増幅回路の出力側にウィンドウコンパレータと
を付加し、前記増幅回路の出力信号が前記ウィンドウコ
ンパレータのウィンドウ幅を超えたときに前記制御回路
により前記スイッチ回路をオンし、前記高抵抗素子に導
通する電流を前記スイッチ回路によりバイパスするよう
にしたことを特徴とするものである。
【0020】請求項2記載の発明は、請求項1記載の帰
還増幅回路において、ウィンドウコンパレータを、PMOS
トランジスタと第1の定電流源との直列回路と、NMOSト
ランジスタと第2の定電流源との直列回路とにより構成
し、前記ウィンドウコンパレータの上限値を前記PMOSト
ランジスタの閾値電圧により設定し、下限値を前記NMOS
トランジスタの閾値電圧により設定し、前記増幅回路の
出力を各トランジスタのゲートに接続し、どちらかの前
記トランジスタがオフしたときに前記制御回路を駆動す
るようにしたこと特徴とするものである。
【0021】請求項3記載の発明は、請求項2記載の帰
還増幅回路において、前記第1及び第2の定電流源を、
前記高抵抗素子と逆の特性を持つ第1及び第2の抵抗素
子に置き換え、前記PMOSトランジスタの閾値電圧により
設定された上限値及び前記NMOSトランジスタの閾値電圧
により設定された下限値が、前記抵抗素子の抵抗値によ
り変化するようにしたことを特徴とするものである。
【0022】請求項4記載の発明は、請求項1記載の帰
還増幅回路において、前記ウィンドウコンパレータを、
第1及び第2のオペアンプと、第1及び第2の定電流源
と、前記高抵抗素子と逆の特性を持つ抵抗素子とにより
構成し、前記第1及び第2のオペアンプと前記増幅回路
の出力とを接続し、前記ウィンドウコンパレータの上限
値を、前記第1のオペアンプと前記第1の定電流源とに
より設定し、下限値を、前記第2のオペアンプと前記第
2の定電流源とにより設定し、設定された上限値及び下
限値が前記抵抗素子の抵抗値により変化するようにした
ことを特徴とするものである。
【0023】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態について
図面に基づき説明する。
【0024】=実施形態1= 図1は、本発明の一実施形態に係る帰還増幅回路を示す
概略構成図である。1は増幅回路である。2は帰還回路
であり、増幅回路1の出力の一部を入力側にフィードバ
ックする。3は高抵抗素子であり、帰還回路2と直列に
接続され、帰還回路2の動作を安定させるためのもので
ある。4はスイッチ回路であり、高抵抗素子3と並列に
接続され、高抵抗素子3に電流を流すか否かを制御する
ものである。スイッチ回路4の抵抗値は高抵抗素子3に
比ぺ小さいため、スイッチ回路4がオンしている時は高
抵抗素子3に流れる電流はスイッチ回路4によりバイパ
スされる。5は制御回路であり、スイッチ回路4のオン
/オフを制御する。6はウィンドウコンパレータであ
り、所定のウィンドウ幅が予め設定され、増幅回路1の
出力が前記ウィンドウ幅を超えたときに制御回路5に対
して信号を出力し、制御回路5はウィンドウコンパレー
タ6からの信号によりスイッチ回路4をオンし、高抵抗
素子3に流れる電流をスイッチ回路4によりバイパスす
るように制御する。
【0025】図2は、上図の概略基本回路図である。増
幅回路1は、オペアンプOP1,帰還容量Cf及び基準
電位Vrとで構成され、帰還回路2は、オペアンプOP
2,容量C1,基準電位Vr及び抵抗R1とで構成されて
いる。
【0026】オペアンプOP1の出力の一部がオペアン
プOP2の正端子に入力され、オペアンプOP2の出力
が高抵抗素子3を介してオペアンプOP1の負端子に入
力される。オペアンプOP1の正端子は基準電位Vrを
介してグランドに接続され、オペアンプOP2の負端子
は、抵抗R1及び基準電位Vrを介してグランドに接続さ
れ、オペアンプOP2の負端子と出力側とは容量C1を
介して接続されている。
【0027】また、入力端子とグランドとは、容量Cs
の焦電素子7を介して接続されている。
【0028】次に、本実施形態の動作について説明す
る。帰還増幅回路の電源投入時や回路にノイズが印加さ
れた時等のように回路動作が不安定である時、増幅回路
1の出力がウィンドウコンパレータ6のウィンドウ幅を
超えるように設定する。これにより、回路が不安定にな
った時、つまり、増幅回路1の出力電圧がウィンドウコ
ンパレータ6のウィンドウ幅を超えた時、ウィンドウコ
ンパレータ6から制御回路5に対して信号を出力する。
ウィンドウコンパレータ6からの信号により制御回路5
はスイッチ回路4をオンし、高抵抗素子3に流れる電流
をスイッチ回路4にバイパスさせる。スイッチ回路4
は、高抵抗素子3に比べ抵抗値が小さいため、回路が安
定状態になるまでの時間が速い。回路が安定状態になり
正常動作をするようになった時、つまり、増幅回路1の
出力がウィンドウコンパレータ6のウインドウ幅の範囲
内になったところで、ウィンドウコンパレータ6は制御
回路5に対する信号を停止し、これにより制御回路5は
スイッチ回路4をオフする。
【0029】従って、本実施形態においては、帰還増幅
回路が安定正常な動作を行っているか否かをウィンドウ
コンパレータ6のウィンドウ幅を設定することで監視
し、回路の動作が不安定になった時に、安定動作を行う
ようになるまでの時間を長くする原因となる高抵抗素子
3に流れる電流を、回路の動作が安定するまで高抵抗素
子3より抵抗値の遙かに小さいスイッチ回路4によりバ
イパスするようにしたので、電源投入時等のように回路
動作が不安定な状態から安定かつ正常動作可能な状態に
なるまでの時間を短縮することができる。
【0030】=実施形態2= 図3は、本発明の他の実施形態に係る帰還増幅回路を示
す概略構成図である。本実施形態では、図1で示したウ
ィンドウコンパレータ6を、PMOSトランジスタ8と、NM
OSトランジスタ9と、定電流源10a,10bとにより
構成して成る。増幅回路1の出力は、PMOSトランジスタ
8及びNMOSトランジスタ9の各ゲート端子に接続され
る。PMOSトランジスタ8のドレイン端子とグランドとが
定電流源10aを介して接続され、PMOSトランジスタ8
のドレイン端子と定電流源10aとの接続点と制御回路
5とが接続されている。また、電源とNMOSトランジスタ
9のドレイン端子とが定電流源10bを介して接続さ
れ、NMOSトランジスタ9のドレイン端子と定電流源10
bとの接続点と制御回路5とが接続されている。
【0031】ウィンドウコンパレータ6の上限値は、PM
OSトランジスタ8の閾値電圧により設定される。PMOSト
ランジスタ8のドレイン端子と制御回路5とが接続さ
れ、増幅回路1の出力電圧が設定された上限値、つま
り、PMOSトランジスタ8の閾値電圧を上回ると、PMOSト
ランジスタ8はオフし、ドレイン端子から制御回路5へ
の電流が遮断される。制御回路5では、PMOSトランジス
タ8のドレイン端子からの電流が遮断されるとスイッチ
回路4を駆動する。同様に、ウィンドウコンパレータ6
の下限値は、NMOSトランジスタ9の閾値電圧により設定
される。NMOSトランジスタ9のドレイン端子と制御回路
5とが接続され、増幅回路1の出力電圧が設定された下
限値を下回ると、NMOSトランジスタ9はオフし、ドレイ
ン端子から制御回路5への電流が遮断される。制御回路
5では、電流が遮断されるとスイッチ回路4を駆動させ
る。これにより、高抵抗素子3に流れる電流はスイッチ
回路4によりバイパスされることになる。
【0032】次に、本実施形態の動作について説明す
る。増幅回路1の出力電圧がPMOSトランジスタ8の閾値
電圧(上限値)を下回っている時は、PMOSトランジスタ
8はオンしている。同様に、増幅回路1の出力電圧がNM
OSトランジスタ9の閾値電圧(下限値)を上回っている
時は、NMOSトランジスタ9はオンしている。つまり、増
幅回路1の出力電圧が、2つのトランジスタにより設定
されたウィンドウ幅にある時は、制御回路5へ電流が流
れていることになる。そして、帰還増幅回路の動作が不
安定になり増幅回路1の出力電圧がウィンドウコンパレ
ータ6により設定された上限値を上回ったとすると、PM
OSトランジスタ8がオフし、制御回路5へ電流が流れな
くなる。制御回路5では、ウィンドウコンパレータ6か
らの電流が遮断されたことを受けて、スイッチ回路4を
駆動させ、高抵抗素子3に流れる電流をバイパスする。
次に、再び増幅回路1の出力電圧がウィンドウコンパレ
ータ6により設定された上限値を下回ったところで、PM
OSトランジスタ8がオンし、制御回路5に電流が流れ
る。これにより割御回路5では、スイッチ回路4の駆動
を終了する。
【0033】なお、増幅回路1の出力電圧がウィンドウ
コンパレータ6により設定された下限値を下回った場合
についても同様である。
【0034】従って、本実施形態においては、ウィンド
ウコンパレータ6をトランジスタにより構成することが
できるため、コンパクトな構成とすることができると共
に、増幅回路1の出力電圧がウィンドウ幅内にある時
に、制御回路5に流れる電流の電流値を定電流源により
低く設定することで消費電力を抑えることが可能とな
る。
【0035】=実施形態3= 図4は、本発明の他の実施形態に係る帰還増幅回路を示
す概略構成図である。本実施形態では、図3で示した帰
還増幅回路における定電流源10a,10bを高抵抗素
子3と逆の特性を持つ抵抗素子11a,11bに置き換
えた構成となっている。これにより、素子の温度変化等
により抵抗素子の抵抗値が低くなると、PMOSトランジス
タ8の閾値電圧が低く、NMOSトランジスタ9の閾値電圧
が高くなるので、結果としてウィンドウコンパレータ6
のウィンドウ幅が狭くなる。また、逆に抵抗素子の抵抗
値が高くなるとウィンドウコンパレータ6のウィンドウ
幅は広くなる。
【0036】次に、本実施形態の動作について説明す
る。スイッチ回路4がオフし高抵抗素子3に電流が流れ
るようになってから帰還増幅回路の動作が完全に安定す
るまでに多少の時間を要する。この時間は高抵抗素子3
の抵抗値が高いほど長くなる傾向にある。高抵抗素子3
の抵抗値が温度変化等により高くなると、スイッチ回路
4がオフしてから回路が安定状態になるまでの時間が高
抵抗素子3の抵抗値が高くなったことにより幾分余計に
かかることになる。しかし、高抵抗素子3の抵抗値が高
くなると、高抵抗素子3と逆の特性を持つ抵抗素子11
a,11bの抵抗値が低くなり、その結果、ウィンドウ
コンパレータ6のウィンドウ幅が狭くなる。これにより
、制御回路5が作動し易くなるため、高抵抗素子3の
抵抗値がぱらついたとしても安定状態に達するまでの時
間が長くなるのを防止することができる。
【0037】従って、本実施形態においては、PMOSトラ
ンジスタ8の閾値電圧により設定された上限値及びNMOS
トランジスタ9の閾値電圧により設定された下限値が、
抵抗素子11a,11bの抵抗値により高抵抗素子3の
抵抗値のぱらつきを吸収するように変化するため、帰還
増幅回路が安定状態に復帰するまでの時間が高抵抗素子
3のぱらつきにより増加するのを防止することができ
る。
【0038】=実施形態4= 図5は、本発明の他の実施形態に係る帰還増幅回路を示
す概略構成図である。本実施形態では、図1に示したウ
ィンドウコンパレータ6を低電流源10a,10b,オ
ペアンプ12a,12b及び抵抗素子13により構成し
て成る。増幅回路1の出力がオペアンプ12aの負端子
及びオペアンプ12bの正端子に接続されている。ま
た、電源とグランドとが定電流源10a,高抵抗素子3
と逆の特性を持つ抵抗素子13及び定電流源10bとの
直列回路を介して接続される。更に、定電流源10aと
抵抗素子13との接続点とオペアンプ12aの正端子と
が接続され、抵抗素子13と定電流源10bとの接続点
とオペアンプ12bの負端子とが接続されている。
【0039】オペアンプ12aは、負端子に入力される
増幅回路1の出力電圧と、予め設定される正端子に入カ
される電圧(上限値)とを比較し、増幅回路1の出力電
圧が上回っていれぱ、制御回路5によりスイッチ回路4
を駆動する。オペアンプ12bは、正端子に入力される
増幅回路1の出力電圧と、予め設定される負端子に入力
される電圧(下限値)とを比較して、増幅回路1の出力
電圧が下回っていれぱ、制御回路5によりスイッチ回路
4を駆動する。定電流源10a,10bは、オペアンプ
12aの正端子やオペアンプ12bの負端子に入力され
る電圧を設定する。これにより、ウィンドウコンパレー
タ6の初期のウィンドウ幅が設定されることになる。抵
抗素子13は、高抵抗素子3の温度特性等に伴って抵抗
値が変化するため、オペアンプ12aの正端子及びオペ
アンプ12bの負端子に入力される電圧が変化すること
になり、予め設定されたウィンドウ幅が変化することに
なる。
【0040】次に、本実施形態の動作について説明す
る。オペアンプ12aの正端子及びオベアンプ12bの
負端子には予め電圧が印加されており、前者がウィンド
ウコンパレータ6の上限値、後者が下限値となる。増幅
回路1の出力電圧が、オペアンプ12aの負端子に印加
されると、オペアンプの比較機能により出力電圧が前記
上限値を上回っているとオペアンプ12aは負電圧を出
力する。そして、オペアンプ12aにより制御回路5に
負電圧が印加されると、スイッチ回路4を駆動する。ま
た、出力電圧がオペアンプ12bの正端子に印加され、
その値が前記下限値を下回っていると、オペアンプ12
bは負電圧を出力する。そして、オペアンプ12bによ
り制御回路5に負電圧が印加されると、スイッチ回路4
を駆動する。以上の動作により、回路動作が不安定な状
態から安定かつ正常動作可能な状態になるまでの時間を
短縮することができる。
【0041】また、高抵抗素子3の抵抗値が高くなる
と、高抵抗素子3と逆の特性を持つ抵抗素子13の抵抗
値は低くなり、ウィンドウコンパレータ6の上限値とし
て入力される電圧は低く、下限値として入力される電圧
は高くなり、結果としてウィンドウ幅が狭くなるように
なる。これにより、実施形態3に示したのと同じ効果を
得ることができ、帰還増幅回路が安定状態に復帰するま
での時間が高抵抗素子3のぱらつきにより増加するのを
防止することができる。
【0042】従って、本実施形態においては、ウィンド
ウコンパレータ6を比較機能を有するオペアンプにより
構成し、その結果を基に制御回路5によりスイッチ回路
4を制御することで、帰還増幅回路が不安定な状態から
安定かつ正常動作可能な状態になるまでの時間を短縮す
ることができる。
【0043】また、高抵抗素子3と逆の特性を持つ抵抗
素子13を付加することで、設定された上限値及び下限
値が高抵抗素子3の抵抗値のぱらつきを吸収するように
変化するため、高抵抗素子3の抵抗値のばらつきにより
帰還増幅回路が安定状態に復帰するまでの時間が増加す
るのを防止することができる。
【0044】
【発明の効果】請求項1記載の発明は、増幅回路と、増
幅回路の出力の一部を入力側にフィードバックするため
の帰還回路と、帰還回路と直列に接続され帰還回路の動
作を安定させる高抵抗素子とから成る帰還増幅回路にお
いて、高抵抗素子に並列に接続され高抵抗素子に電流を
流すか否かを制御するスイッチ回路と、スイッチ回路の
動作を制御する制御回路と、増幅回路の出力側にウィン
ドウコンパレータとを付加し、増幅回路の出力信号がウ
ィンドウコンパレータのウィンドウ幅を超えたときに制
御回路によりスイッチ回路をオンし、高抵抗素子に導通
する電流をスイッチ回路によりバイパスするようにした
ので、設定したウィンドウ幅において帰還増幅回路が安
定するように設定しておけぱ、安定動作をしなくなった
ときに制御回路により高抵抗素子がスイッチ回路により
バイパスされるため、高抵抗素子を帰還系に含んでいる
にも関わらず不安定な状態から安定かつ正常動作可能な
状態に復帰するまでの時間を短縮することのできる帰還
増幅回路を提供することができた。
【0045】請求項2記載の発明は、請求項1記載の帰
還増幅回路において、ウィンドウコンパレータを、PMOS
トランジスタと第1の定電流源との直列回路と、NMOSト
ランジスタと第2の定電流源との直列回路とにより構成
し、ウィンドウコンパレータの上限値をPMOSトランジス
タの閾値電圧により設定し、下限値をNMOSトランジスタ
の閾値電圧により設定し、増幅回路の出力を各トランジ
スタのゲートに接続し、どちらかのトランジスタがオフ
したときに制御回路を駆動するようにしたので、ウィン
ドウコンパレータをコンパクトにできると共に、定電流
源の電流を低くすることで消費電力を抑えることが可能
となる。
【0046】請求項3記載の発明は、請求項2記載の帰
還増幅回路において、第1及び第2の定電流源を、高抵
抗素子と逆の特性を持つ第1及び第2の抵抗素子に置き
換え、PMOSトランジスタの閾値電圧により設定された上
限値及びNMOSトランジスタの閾値電圧により設定された
下限値が、抵抗素子の抵抗値により変化するようにした
ので、ウィンドウコンパレータをコンパクトにできると
共に、高抵抗素子の抵抗値のぱらつきを吸収するように
ウィンドウ幅が変化し、帰還増幅回路が安定状態に復帰
するまでの時間が増加するのを防止することができる。
【0047】請求項4記載の発明は、請求項1記載の帰
還増幅回路において、ウィンドウコンパレータを、第1
及び第2のオペアンプと、第1及び第2の定電流源と、
高抵抗素子と逆の特性を持つ抵抗素子とにより構成し、
第1及び第2のオペアンプと増幅回路の出力とを接続
し、ウィンドウコンパレータの上限値を、第1のオペア
ンプと第1の定電流源とにより設定し、下限値を、第2
のオペアンプと第2の定電流源とにより設定し、設定さ
れた上限値及び下限値が抵抗素子の抵抗値により変化す
るようにしたので、高抵抗素子の抵抗値のぱらつきを吸
収するようにウィンドウ幅が変化し、帰還増幅回路が安
定状態に復帰するまでの時間が増加するのを防止するこ
とができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態に係る帰還増幅回路を示す
概略構成図である。
【図2】上図の概略基本回路図である。
【図3】本発明の他の実施形態に係る帰還増幅回路を示
す概略構成図である。
【図4】本発明の他の実施形態に係る帰還増幅回路を示
す概略構成図である。
【図5】本発明の他の実施形態に係る帰還増幅回路を示
す概略構成図である。
【図6】従来例に係る帰還増幅回路を示す概略構成図で
ある。
【図7】上図の概略基本回路図である。
【符号の説明】
OP1,OP2 オペアンプ Cf 帰還容量 C1 容量 Ri,R1 抵抗 Vr 基準電位 1 増幅回路 2 帰還回路 3 高抵抗素子 4 スイッチ回路 5 制御回路 6 ウィンドウコンパレータ 7 焦電素子 8 PMOSトランジスタ 9 NMOSトランジスタ 10a,10b 定電流源 11a,11b 抵抗素子 12a,12b オペアンプ 13 抵抗素子
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 藤村 俊夫 大阪府門真市大字門真1048番地松下電工 株式会社内 (56)参考文献 特開 平10−190363(JP,A) 特開 平1−229507(JP,A) 特開 平4−364601(JP,A) 特開 平7−226631(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H03F 1/00 - 1/34

Claims (4)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 増幅回路と、該増幅回路の出力の一部を
    入力側にフィードバックするための帰還回路と、該帰還
    回路と直列に接続され該帰還回路の動作を安定させる高
    抵抗素子とから成る帰還増幅回路において、前記高抵抗
    素子に並列に接続され該高抵抗素子に電流を流すか否か
    を制御するスイッチ回路と、該スイッチ回路の動作を制
    御する制御回路と、前記増幅回路の出力側にウィンドウ
    コンパレータとを付加し、前記増幅回路の出力信号が前
    記ウィンドウコンパレータのウィンドウ幅を超えたとき
    に前記制御回路により前記スイッチ回路をオンし、前記
    高抵抗素子に導通する電流を前記スイッチ回路によりバ
    イパスするようにしたことを特徴とする帰還増幅回路。
  2. 【請求項2】 ウィンドウコンパレータを、PMOSトラン
    ジスタと第1の定電流源との直列回路と、NMOSトランジ
    スタと第2の定電流源との直列回路とにより構成し、前
    記ウィンドウコンパレータの上限値を前記PMOSトランジ
    スタの閾値電圧により設定し、下限値を前記NMOSトラン
    ジスタの閾値電圧により設定し、前記増幅回路の出力を
    各トランジスタのゲートに接続し、どちらかの前記トラ
    ンジスタがオフしたときに前記制御回路を駆動するよう
    にしたこと特徴とする請求項1記載の帰還増幅回路。
  3. 【請求項3】 前記第1及び第2の定電流源を、前記高
    抵抗素子と逆の特性を持つ第1及び第2の抵抗素子に置
    き換え、前記PMOSトランジスタの閾値電圧により設定さ
    れた上限値及び前記NMOSトランジスタの閾値電圧により
    設定された下限値が、前記抵抗素子の抵抗値により変化
    するようにしたことを特徴とする請求項2記載の帰還増
    幅回路。
  4. 【請求項4】 前記ウィンドウコンパレータを、第1及
    び第2のオペアンプと、第1及び第2の定電流源と、前
    記高抵抗素子と逆の特性を持つ抵抗素子とにより構成
    し、前記第1及び第2のオペアンプと前記増幅回路の出
    力とを接続し、前記ウィンドウコンパレータの上限値
    を、前記第1のオペアンプと前記第1の定電流源とによ
    り設定し、下限値を、前記第2のオペアンプと前記第2
    の定電流源とにより設定し、設定された上限値及び下限
    値が前記抵抗素子の抵抗値により変化するようにしたこ
    とを特徴とする請求項1記載の帰還増幅回路。
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