JP3333060B2 - Chip bonding method and apparatus - Google Patents

Chip bonding method and apparatus

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JP3333060B2
JP3333060B2 JP11134895A JP11134895A JP3333060B2 JP 3333060 B2 JP3333060 B2 JP 3333060B2 JP 11134895 A JP11134895 A JP 11134895A JP 11134895 A JP11134895 A JP 11134895A JP 3333060 B2 JP3333060 B2 JP 3333060B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、液晶基板等の回路基板
に半導体チップをボンディングするチップボンディング
方法及びその装置装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a chip bonding method for bonding a semiconductor chip to a circuit board such as a liquid crystal substrate and a device therefor.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、液晶基板等の回路基板に半導体チ
ップを加熱圧着、すなわち、ボンディングするチップボ
ンディングは、広く実用に供されているが、このボンデ
ィングにおいては、ミクロン単位の精度が要求され、か
つ、それが一段と高精度になりつつある。
2. Description of the Related Art Conventionally, chip bonding for bonding a semiconductor chip to a circuit board such as a liquid crystal substrate by heat and pressure, that is, bonding, has been widely used. However, in this bonding, an accuracy of a micron unit is required. And it is becoming more and more accurate.

【0003】その為、一般に、回路基板と半導体チップ
とをボンディング位置に位置決めするように移送した
後、回路基板と半導体チップとの相対位置をカメラで検
出し、その位置ずれ量の算出結果に基づいて回路基板と
半導体チップとの位置的精密整合を行ってボンディング
している。
[0003] Therefore, generally, after the circuit board and the semiconductor chip are transferred so as to be positioned at the bonding position, the relative position between the circuit board and the semiconductor chip is detected by a camera, and based on the calculation result of the displacement amount. The circuit board and the semiconductor chip are subjected to precise positional matching for bonding.

【0004】すなわち、例えば、特開平2−22673
7号公報において開示されているように、XYテーブル
装置を構成している上段テーブル(Xテーブル若しくは
Yテーブル)のスライドテーブル上に載置された回路基
板と、この基板の上方において半導体チップを吸着保持
しているボンディングツールを装着したボンデイングヘ
ッドとの間に二視野光学系を移動させて、回路基板と半
導体チップとの相対位置を検出し、その位置ずれ量の算
出結果に基づいて、回路基板を支持しているボンディン
グステーを微動させて回路基板と半導体チップとを位置
的に精密整合せしめた後、ボンディングヘッドを下方に
移動させてボンディングするようにしている。
That is, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. H2-222673.
As disclosed in Japanese Unexamined Patent Application Publication No. 7-107, a circuit board mounted on a slide table of an upper table (X table or Y table) constituting an XY table device, and a semiconductor chip is sucked above the board. The bi-view optical system is moved between the holding head and the bonding head to which the bonding tool is attached, the relative position between the circuit board and the semiconductor chip is detected, and the circuit board is calculated based on the calculation result of the positional shift amount. The circuit board and the semiconductor chip are finely moved in position by finely moving the bonding stay supporting the semiconductor chip, and then the bonding head is moved downward to perform bonding.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかし、このボンディ
ングは、回路基板と半導体チップとの相対位置を、二視
野光学系で検出している為、この光学系自体の精度に左
右、すなわち、上方の半導体チップに印されている位置
決め基準用アライメントマークを検出する一方の光学系
と、下方の回路基板の電極部に印されている位置決め基
準用アライメントマークを検出する他方の光学系との同
心的関係のずれに左右されて、ミクロン単位で、しか
も、一段と高精度が要求される場合(例えば、液晶基板
の電極にボンディングする所謂、COGの場合等)のボ
ンディングには適していなかった。
However, in this bonding, since the relative position between the circuit board and the semiconductor chip is detected by a two-field optical system, the accuracy depends on the accuracy of the optical system itself. Concentric relationship between one optical system for detecting alignment marks for positioning reference marked on a semiconductor chip and the other optical system for detecting alignment marks for positioning reference marked on an electrode portion of a lower circuit board. It is not suitable for bonding in a case where higher precision is required in units of microns and further higher (for example, in the case of so-called COG bonding to an electrode of a liquid crystal substrate) depending on the deviation.

【0006】その為、二視野光学系に代えて、半導体チ
ップに印されている位置決め基準用アライメントマーク
と、回路基板の一端の電極部に印されている位置決め基
準用アライメントマークとを、その下方から検出する一
視野光学系を採用することが検討さるようになり、既
に、この種のボンディングが特開平4−199525号
公報において提案されている。
Therefore, instead of the two-field optical system, a positioning reference alignment mark marked on the semiconductor chip and a positioning reference alignment mark marked on the electrode portion at one end of the circuit board are positioned below the alignment mark. The adoption of a one-field optical system for detecting from this has been studied, and this type of bonding has already been proposed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 4-199525.

【0007】しかし、このボンディングも、前者と同様
に、回路基板を支持しているボンディングステーを微
動させて回路基板と半導体チップとの位置的精密整合を
行うものであるから、回路基板の大型化に伴って重量が
大きくなると、かかる微動による位置的精密整合を高精
度に行うことが困難になる欠点を有していた。
However, this bonding, like the former, because by fine movement of the bonding stage which supports the circuit board performs a positional precise alignment between the circuit board and the semiconductor chip, the circuit board large When the weight increases with the increase in the size, there is a disadvantage that it is difficult to perform the positional precision alignment by such fine movement with high accuracy.

【0008】また、一視野光学系を採用することに伴っ
てボンディングステージの下方に、カメラを位置させる
為の通路を形成する必要がある関係上、ボンディングス
テージを移動制御するXYθテーブル装置等で構成され
たステージ移動制御装置に、ボンディングステージを片
持ち状態に装着することが余儀無くされていたが、この
ように装着されたボンディングステージで回路基板を支
持してボンディングすると、ボンディングステージに歪
みが発生し易く、その為、特に、液晶基板の電極にボン
ディングする場合等のように、一段と大きな押圧条件下
でボンディングする場合においてそれが顕著であって、
高精度にボンディングを行うことが困難であることの欠
点も有していた。
In addition, since a path for locating a camera must be formed below the bonding stage with the adoption of the one-field optical system, an XYθ table device for controlling the movement of the bonding stage is used. It was necessary to mount the bonding stage in a cantilevered state on the stage movement control device that was mounted.However, when the bonding stage mounted in this way supported and bonded the circuit board, distortion occurred in the bonding stage. This is particularly noticeable in the case of bonding under a larger pressing condition, such as bonding to an electrode of a liquid crystal substrate.
There is also a disadvantage that it is difficult to perform bonding with high precision.

【0009】更に、ボンディングステージ上に載置され
ている回路基板の精密位置決め基準用アライメントマー
クを、ボンディングステージの下方に移動された前記カ
メラにより検出する為に、かかるボンディングステージ
を、光を透過し得る透明材で構成しなければならなく、
従って、実用的で無いといった欠点も有していた。
Further, in order to detect the alignment mark for precision positioning reference of the circuit board mounted on the bonding stage by the camera moved below the bonding stage, the bonding stage is allowed to transmit light. Must be made of transparent material
Therefore, it has a disadvantage that it is not practical.

【0010】本発明は、このような諸々の欠点に着目
し、それらを解決すべく鋭意検討の結果、その第1に、
ボンディング位置における回路基板と半導体チップとの
位置的精密整合を、ボンディングステージの方で行わず
にボンディングヘッドの方で、しかも、ボンディングヘ
ッド全体を移動させないでボンディングヘッドの下端に
装着されている、半導体チップを吸着保持するボンディ
ングツールだけを微動させて行うことにより、重い大型
の回路基板にボンディングする場合においても、ボンデ
ィング位置における回路基板と半導体チップとの位置的
精密整合を高精度に、かつ容易に行うことができること
を見い出したものである。
The present invention focuses on these various drawbacks, and as a result of intensive studies to solve them, firstly,
The semiconductor mounted at the lower end of the bonding head, without performing the positional precision alignment of the circuit board and the semiconductor chip at the bonding position with the bonding head without performing the bonding stage, and without moving the entire bonding head. By finely moving only the bonding tool that sucks and holds the chip, even in the case of bonding to a heavy and large circuit board, the positional precision of the circuit board and the semiconductor chip at the bonding position can be precisely and easily adjusted. They have found what they can do.

【0011】また、その第2に、XYテーブルで構成さ
れたステージ移動制御装置に対してボンディングステー
ジを、XYテーブルを構成している上段テーブルのスラ
イドテーブル上に装着されたステージベースと、ステー
ジベース上に装着された基板受けと、XYテーブルを構
成している下段テーブルのスライドテーブル上に装着さ
れた門型透視架台と、基板受けと門型透視架台間におい
て水平に上下動し得るようにステージベース上に装着さ
れたサクション板と、サクション板上に装着された複数
の吸着パッドとで構成するという如くに、ボンディング
ステージ側を特殊な構造に設けることにより、一段と大
きな押圧条件下でのボンディングにおいても、ボンディ
ングステージに歪みが発生するのを防止し得て高精度に
ボンディングを行うことができることを見い出したもの
である。
Second, the bonding stage is mounted on a stage movement control device composed of an XY table, a stage base mounted on a slide table of an upper table constituting the XY table, and a stage base. A board receiver mounted thereon, a gate-type perspective mount mounted on a slide table of a lower table constituting an XY table, and a stage capable of moving up and down horizontally between the substrate receiver and the portal-type perspective mount. By providing the bonding stage side with a special structure, such as a suction plate mounted on the base and a plurality of suction pads mounted on the suction plate, in bonding under even greater pressing conditions Can prevent the occurrence of distortion in the bonding stage and perform bonding with high accuracy. In which it has been found that it is possible.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】すなわち、本発明に係
る、チップボンディング方法は、回路基板を移送してボ
ンディング位置に位置決めさせるように前記回路基板を
支持したボンディングステージを移動制御する基板位置
決め用ステージ移動制御工程と、前記ボンディング位置
に位置決めされた前記回路基板の精密位置決め基準用ア
ライメントマークをカメラで検出する基板位置検出工程
と、前記ボンディング位置のボンディングヘッドに備え
られているボンディングツールにより吸着保持された半
導体チップの精密位置決め基準用アライメントマークを
前記カメラで検出するチップ位置検出工程と、前記カメ
ラにより検出された両アライメントマークの位置ずれ量
の算出結果に基いて前記回路基板と前記半導体チップと
の位置的精密整合を行った後、前記ボンディングヘッド
によりボンディングするボンディング工程とからなるチ
ップボンディング方法において、前記回路基板と前記半
導体チップとの位置的精密整合を、前記ボンディングス
テージおよび前記ボンディングヘッドの位置を固定した
まま、前記ボンディングツールだけを微動させて行うこ
とを特徴とするものである。
That is, a chip bonding method according to the present invention is a board positioning stage for controlling the movement of a bonding stage supporting the circuit board so as to transfer the circuit board and position the circuit board at a bonding position. A movement control step; a board position detection step of detecting, with a camera, a precision positioning reference alignment mark of the circuit board positioned at the bonding position; and a suction tool held by a bonding tool provided in a bonding head at the bonding position. A chip position detecting step of detecting the alignment mark for precise positioning reference of the semiconductor chip with the camera, and calculating the position shift amount between the two alignment marks detected by the camera. Positional precision matching After Tsu, wherein the chip bonding method comprising the bonding step of bonding by the bonding head, the positional precision alignment between the circuit board and the semiconductor chip, the bonding scan
Fixed the position of the stage and the bonding head
Remains, and is characterized in that performed by fine movement only the bonding tool.

【0013】また、本発明に係る第1の、チップボンデ
ィング装置は、半導体チップを吸着保持するボンディン
グツールを備えたボンディングヘッドと、回路基板を支
持するボンディングステージと、前記ボンディングステ
ージにより移送されてボンディング位置に位置決めされ
た前記回路基板の精密位置決め基準用アライメントマー
クを検出すると共に前記ボンディング位置の前記ボンデ
ィングツールにより吸着保持されている前記半導体チッ
プの精密位置決め基準用アライメントマークを検出する
カメラと、前記カメラを撮像視野内へ移動制御するカメ
ラ移動制御装置と、前記回路基板を前記ボンディング位
置に位置決めさせるように前記ボンディングステージを
移動制御するステージ移動制御装置とを備え、かつ、前
記カメラにより検出された両アライメントマークの位置
ずれ量の算出結果に基いて前記回路基板と前記半導体チ
ップとの位置的精密整合を行った後、前記ボンディング
ヘッドによりボンディングし得るように構成されたチッ
プボンディング装置において、前記ボンディングヘッド
を、該ボンディングヘッドおよび前記ボンディングステ
ージの位置を固定したまま、前記ボンディングツールだ
けを微動させて前記位置的精密整合を行えるように構成
したことを特徴とするものである。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a chip bonding apparatus including a bonding head having a bonding tool for sucking and holding a semiconductor chip, a bonding stage for supporting a circuit board, and a bonding stage transferred by the bonding stage. A camera for detecting an alignment mark for precision positioning reference of the circuit board positioned at a position and detecting an alignment mark for precision positioning reference of the semiconductor chip sucked and held by the bonding tool at the bonding position; and A camera movement control device for controlling the movement of the circuit board into the imaging field of view, and a stage movement control device for controlling the movement of the bonding stage so as to position the circuit board at the bonding position. A chip bonding apparatus configured to perform positional precision matching between the circuit board and the semiconductor chip based on the calculated result of the positional shift amount between the two alignment marks, and then perform bonding by the bonding head. Bonding the bonding head to the bonding head;
The apparatus is characterized in that the position of the page is fixed, and only the bonding tool is finely moved to perform the precise positional alignment.

【0014】また、本発明に係る第2の、チップボンデ
ィング装置は、半導体チップを吸着保持するボンディン
グツールを備えたボンディングヘッドと、回路基板を支
持するボンディングステージと、前記ボンディングステ
ージにより移送されてボンディング位置に位置決めされ
た前記回路基板の精密位置決め基準用アライメントマー
クを検出すると共に前記ボンディング位置の前記ボンデ
ィングツールにより吸着保持されている前記半導体チッ
プの精密位置決め基準用アライメントマークを検出する
カメラと、前記カメラを撮像視野内へ移動制御するカメ
ラ移動制御装置と、前記回路基板を前記ボンディング位
置に位置決めさせるように前記ボンディングステージを
移動制御すると共に前記ボンディング位置の前記ボンデ
ィングツールにより吸着保持されている前記半導体チッ
プの精密位置決め基準用アライメントマークを前記カメ
ラで検出するに先立って前記ボンディングステージを前
記カメラの撮像視野外へ退避させるように移動制御する
ステージ移動制御装置とを備え、かつ、前記カメラによ
り検出された両アライメントマークの位置ずれ量の算出
結果に基いて前記回路基板と前記半導体チップとの位置
的精密整合を行った後、前記ボンディングヘッドにより
ボンディングし得るように構成されたチップボンディン
グ装置において、前記ステージ移動制御装置をXYテー
ブルで構成すると共に前記ボンディングステージを、前
記XYテーブルを構成している上段テーブルのスライド
テーブル上に装着されたステージベースと、前記ステー
ジベース上に装着された基板受けと、前記XYテーブル
を構成している下段テーブルのスライドテーブル上に装
着された門型透視架台と、前記基板受けと前記門型透視
架台間に位置されるように前記ステージベース上に装着
されたサクション板と、前記サクション板上に装着され
た複数の吸着パッドとで構成し、かつ、前記回路基板を
前記吸着パッド群で吸着保持して電極が形成されている
方の一端を前記門型透視架台により支持すると共に対向
他端を前記基板受けにより支持した状態において前記カ
メラを、前記ボンディング位置に位置決めされている前
記門型透視架台により区画された空間領域内に移動せし
めて前記回路基板の精密位置決め基準用アライメントマ
ークを検出し、次いで、前記下段テーブルのスライドテ
ーブルを移動せしめて前記門型透視架台を前記ボンディ
ング位置から退避させ状態において前記カメラにより前
記半導体チップの精密位置決め基準用アライメントマー
クを検出し得るように構成したことを特徴とするもので
る。
According to a second aspect of the present invention, there is provided a chip bonding apparatus including a bonding head having a bonding tool for sucking and holding a semiconductor chip, a bonding stage for supporting a circuit board, and bonding transferred by the bonding stage. A camera for detecting an alignment mark for precision positioning reference of the circuit board positioned at a position and detecting an alignment mark for precision positioning reference of the semiconductor chip sucked and held by the bonding tool at the bonding position; and A camera movement control device for controlling the movement of the circuit board into the imaging visual field, and controlling the movement of the bonding stage so as to position the circuit board at the bonding position, and the bonding tool at the bonding position. Prior to detecting the alignment mark for precision positioning reference of the semiconductor chip held by suction with the camera, a stage movement control device for controlling the movement of the bonding stage so as to retreat outside the imaging field of view of the camera, In addition, after performing precise positional alignment between the circuit board and the semiconductor chip based on the calculation result of the amount of positional deviation between the two alignment marks detected by the camera, bonding can be performed by the bonding head. In the chip bonding apparatus, the stage movement control device is configured by an XY table, and the bonding stage is mounted on a stage base mounted on a slide table of an upper table forming the XY table, and on the stage base. With the mounted board receiver A gate-type perspective mount mounted on a slide table of a lower table constituting the XY table, and a suction plate mounted on the stage base so as to be located between the substrate receiver and the portal-type transparent mount And a plurality of suction pads mounted on the suction plate, and one end on which an electrode is formed by suction-holding the circuit board with the suction pad group is formed by the portal-type see-through mount. The camera is moved into a space defined by the portal-type perspective gantry positioned at the bonding position in a state where the camera is supported and the opposite other end is supported by the substrate receiver, and a precision positioning reference of the circuit board is obtained. Alignment mark is detected, and then the slide table of the lower table is moved and the portal <br/> in those characterized by by said camera in a state retracted from the ring position by being configured so as to detect the alignment marks for precision positioning reference of the semiconductor chip Ru Oh.

【0015】[0015]

【作用】図1において、鎖線で示されている回路基板1
は、その一端が、ボンディングステージ2の基板受け3
で支持されていると共に電極が形成されている方の他端
が門型透視架台4で支持され、かつ、サクション板5に
装着されている複数の吸着パッド6で吸着保持されてい
る。なお、門型透視架台4の上端に透視ガラス7が装着
されている。
In FIG. 1, a circuit board 1 indicated by a chain line is shown.
Is one end of which is the substrate receiver 3 of the bonding stage 2.
And the other end on which the electrode is formed is supported by the portal-type see-through frame 4 and is suction-held by a plurality of suction pads 6 mounted on the suction plate 5. In addition, a transparent glass 7 is mounted on an upper end of the portal-type transparent gantry 4.

【0016】この状態において、XYZテーブルで構成
されたカメラ移動制御装置8に装着されているCCDカ
メラ9がカメラ移動制御装置8の駆動制御により移動さ
れ、その撮像ヘッド10が、門型透視架台4により区画
された空間領域11内に移動され、門型透視架台4によ
り支持されている回路基板1の一端に印されている精密
位置決め基準用アライメントマークをその下方より検出
する。
In this state, the CCD camera 9 mounted on the camera movement control device 8 constituted by an XYZ table is moved by the drive control of the camera movement control device 8, and the imaging head 10 is moved to the gate-type see-through frame 4. Then, the alignment mark for precision positioning reference, which is moved to the inside of the space area 11 defined by the above and is marked on one end of the circuit board 1 supported by the portal-type see-through frame 4, is detected from below.

【0017】続いて、Xテーブルである下段テーブル1
2のスライドテーブル13がXa方向へ移動されて門型
透視架台4がボンディング位置Aから退避される。する
と、CCDカメラ9が、ボンディング位置Aに位置され
ている上方のボンディングヘッド14のボンディングツ
ール15が吸着保持している半導体チップ16に印され
ている精密位置決め基準用アライメントマークを、その
下方より検出する。
Subsequently, the lower table 1 which is an X table
The second slide table 13 is moved in the Xa direction, and the portal-type see-through gantry 4 is retracted from the bonding position A. Then, the CCD camera 9 detects, from below, the alignment mark for precision positioning reference, which is marked on the semiconductor chip 16 which is held by the bonding tool 15 of the upper bonding head 14 located at the bonding position A by suction. I do.

【0018】次いで、下段テーブル12のスライドテー
ブル13がXb方向へ移動され、門型透視架台4がボン
ディング位置Aにリターンされると共にボンディングツ
ール15が両アライメントマークの位置ずれを無くする
ように所定に移動制御され、これにより、回路基板1と
半導体チップ16とが位置的に精密整合せしめられ、以
下、ボンディングヘッド14が下方へ移動して加熱圧
着、すなわち、ボンディングする。
Next, the slide table 13 of the lower table 12 is moved in the Xb direction, the portal-type see-through gantry 4 is returned to the bonding position A, and the bonding tool 15 is set in a predetermined manner so as to eliminate the displacement between the two alignment marks. The movement is controlled, whereby the circuit board 1 and the semiconductor chip 16 are precisely aligned in position. Thereafter, the bonding head 14 moves downward to perform the heat compression bonding, that is, bonding.

【0019】その際、回路基板1の荷重が作用しない方
のボンディングヘッド14側で、しかも、ボンディング
ヘッド14全体を微動させないで、このヘッドの一部分
であるボンディングツール15だけを微動させるから、
高精度に整合させることができる。また、下段テーブル
12のスライドテーブル13上に装着されている門型透
視架台4によって回路基板1のボンディング側一端を支
持しているから、ボンディング時におけるボンディング
ステージ2の歪みを一段と微小にすることができる。
At this time, only the bonding tool 15, which is a part of the head, is finely moved on the side of the bonding head 14 on which the load of the circuit board 1 does not act and without finely moving the entire bonding head 14.
Matching can be performed with high accuracy. Further, since one end on the bonding side of the circuit board 1 is supported by the gate-type see-through pedestal 4 mounted on the slide table 13 of the lower table 12, it is possible to further reduce the distortion of the bonding stage 2 during bonding. it can.

【0020】そして、ボンディングを終えてボンディン
グヘッド14が、上方の元の位置へ移動されると、サク
ション板5が上方へ移動されて、基板受け3及び門型透
視架台4で支持されていた回路基板1が上方へ移動さ
れ、かつ、Yテーブルである上段テーブル17のスライ
ドテーブル18がYb方向へ移動される。なお、この移
動は、続いてボンディングを行う箇所をボンディング位
置Aに位置決めさせるように行われる。よって、上述と
同様の工程を経て、次々とボンディングを行うことがで
きる。
When bonding is completed and the bonding head 14 is moved to its original position above, the suction plate 5 is moved upward, and the circuit supported by the substrate receiver 3 and the gate-type see-through gantry 4 is moved. The substrate 1 is moved upward, and the slide table 18 of the upper table 17, which is a Y table, is moved in the Yb direction. Note that this movement is performed so that the position where bonding is subsequently performed is positioned at the bonding position A. Therefore, bonding can be performed one after another through the same steps as described above.

【0021】[0021]

【実施例】チップボンティング装置の全体的斜視姿が示
されている図2において、機台20上に、ボンディング
ヘッド14、ボンディングステージ2、CCDカメラ
9、チップスライダー21、チップローダー22等が装
着されているが、チップローダー22は、水平面内にお
いて互いに直交するXY方向に移動し得るように装着さ
れているアーム23にシリンダー24を装着すると共
に、このシリンダー24のロッド先端に吸着パッド25
を装着して構成されている。
FIG. 2 shows an overall perspective view of a chip bonding apparatus. A bonding head 14, a bonding stage 2, a CCD camera 9, a chip slider 21, a chip loader 22 and the like are mounted on a machine base 20. However, the chip loader 22 mounts a cylinder 24 on an arm 23 mounted so as to be movable in XY directions orthogonal to each other in a horizontal plane, and attaches a suction pad 25 to the rod end of the cylinder 24.
Is configured.

【0022】その為、アーム23のXY方向への移動制
御と、シリンダー24による吸着パッド25のZ方向
(上下方向)への移動制御とにより、チップトレー26
の所定の収納区画内から半導体チップ16を吸着保持
し、それを外形位置決め板27の所に移送することがで
きる。なお、外形位置決め板27は、機台20に水平に
装着されていると共に、これの上面に、図3において示
されているように、一対のL字形のチップ押当板28を
装着している。
Therefore, the movement of the arm 23 in the XY directions and the movement of the suction pad 25 by the cylinder 24 in the Z direction (vertical direction) are controlled by the chip tray 26.
The semiconductor chip 16 can be sucked and held from the predetermined storage section and transferred to the outer shape positioning plate 27. The outer shape positioning plate 27 is mounted horizontally on the machine base 20, and has a pair of L-shaped chip pressing plates 28 mounted on the upper surface thereof as shown in FIG. .

【0023】その為、吸着パッド25により吸着保持さ
れて両チップ押当板28間に移送されて来た半導体チッ
プ16は、アーム23の図示矢印方向(XY方向)への
移動制御により、両チップ押当板28に当接されて、そ
の中心部が吸着パッド25により吸着保持されるように
位置決めされる。
Therefore, the semiconductor chip 16 sucked and held by the suction pad 25 and transferred between the two chip pressing plates 28 is controlled by the movement control of the arm 23 in the direction indicated by the arrow (XY direction). It is brought into contact with the pressing plate 28, and is positioned so that the center thereof is sucked and held by the suction pad 25.

【0024】その際、半導体チップ16は、その下面
が、外形位置決め板27の上面に接触しないような高さ
に吸着保持されて位置決めされるので、半導体チップ1
6のボンディングしようとする方の面、すなわち、下面
の損傷を防止することができ、また、このようなチップ
位置決め方法によると、半導体チップ16の大きさが変
っても、チップローダー22の移動制御プログラムを所
定に変更するだけで対処することができ、従って、治具
交換等を行なわずに容易にチップサイズ変更に対処する
ことができる。
At this time, the semiconductor chip 16 is positioned by being sucked and held at such a height that the lower surface thereof does not contact the upper surface of the outer shape positioning plate 27.
6 can prevent damage to the surface to be bonded, that is, the lower surface. According to such a chip positioning method, even if the size of the semiconductor chip 16 changes, the movement control of the chip loader 22 can be prevented. This can be dealt with simply by changing the program in a predetermined manner. Therefore, it is possible to easily deal with a change in chip size without replacing the jig.

【0025】引き続いて、かかる位置決めを終えると、
アーム23のXY方向への移動制御と、シリンダー24
による吸着パッド25のZ方向への移動制御とにより、
チップスライダー21上に半導体チップ16が移載され
ると共に、このスライダー21が、ボンディングヘッド
14の方へと移動される。なお、チップスライダー21
は、図示されていないサーボモータで駆動回転される螺
子軸に螺着されて水平に移動し得るように装着され、チ
ップ受取り位置B(原点)からボンディングヘッド14
に接近されたチップ待機位置に水平に移動される。
Subsequently, when the positioning is completed,
The movement control of the arm 23 in the XY directions and the cylinder 24
Control of the suction pad 25 in the Z direction by the
The semiconductor chip 16 is transferred onto the chip slider 21 and the slider 21 is moved toward the bonding head 14. Note that the tip slider 21
Is mounted so as to be able to move horizontally by being screwed to a screw shaft driven and rotated by a servo motor (not shown), and from the chip receiving position B (origin) to the bonding head 14.
Is moved horizontally to the chip standby position approached by.

【0026】そして、ボンディングヘッド14が、その
下方におけるボンディングを終えて上方のヘッド原点に
リターンされると、チップスライダー21が、かかる待
機位置からボンディングヘッド14の下方に移動され
る。その為、半導体チップ16をボンディングヘッド1
4の下方に迅速に移送することができる。
When the bonding head 14 finishes bonding below it and returns to the head origin above, the chip slider 21 is moved below the bonding head 14 from the standby position. Therefore, the semiconductor chip 16 is connected to the bonding head 1.
4 can be quickly transferred.

【0027】次に、ボンディングヘッド14は、ボンデ
ィング位置Aに装着されているが、このヘッド14は、
機台20上に装着されている支柱30の上端に装着の反
力受け31等で構成されている。すなわち、その拡大さ
れた姿が示されている図4において、ブラケット用縦ガ
イド32及びZテーブル33は、機台20上に装着され
ている箱状ブラケット34(図2参照)に装着され、そ
して、シリンダーブラケット35は、ブラケット用縦ガ
イド32で案内されてZ方向(上下方向)に摺動し得る
ように装着されていると共にヘッドブラケット36も、
Zテーブル33で案内されて同方向に摺動し得るように
装着されている。
Next, the bonding head 14 is mounted at the bonding position A.
A support 30 mounted on the machine base 20 includes a reaction force receiver 31 mounted on the upper end of the support 30. That is, in FIG. 4 showing the enlarged view, the bracket vertical guide 32 and the Z table 33 are mounted on a box-shaped bracket 34 (see FIG. 2) mounted on the machine base 20, and The cylinder bracket 35 is mounted so as to be slidable in the Z direction (vertical direction) guided by the bracket vertical guide 32, and the head bracket 36 is also mounted on the cylinder bracket 35.
It is mounted so as to be guided by the Z table 33 and slide in the same direction.

【0028】なお、ヘッドブラケット36は、XYθテ
ーブル38の上部を構成しているXYテーブル38aに
装着されていると共にツールブラケット37は、XYθ
テーブル38の下部を構成しているθテーブル38bに
装着されている。
The head bracket 36 is mounted on an XY table 38a constituting the upper part of the XYθ table 38, and the tool bracket 37 is mounted on the XYθ table 38.
It is mounted on a θ table 38b constituting a lower portion of the table 38.

【0029】また、Zテーブル33は、サーボモータ3
9によってネジ軸を回転させてピッチ送りするネジ軸送
り機構(図示されていない)を備えているが、この機構
にヘッドブラケット36が連携されている。従って、か
かる機構を介してヘッドブラケット36が移動される
と、ツールブラケット37も一緒に移動される。
The Z table 33 is provided with a servo motor 3
9, a screw shaft feed mechanism (not shown) for rotating the screw shaft to feed the pitch is provided. The head bracket 36 is linked to this mechanism. Therefore, when the head bracket 36 is moved via such a mechanism, the tool bracket 37 is also moved.

【0030】一方、シリンダーブラケット35に装着さ
れているエアーシリンダー41のピストンロッド42
は、加圧伝達軸43と上下方向に同心的に位置され、か
つ、ピストンロッド42の下端は、通常においては(図
示のように、ピストンロッド42が上方の原点位置に没
されているときには)、加圧伝達軸43の上端に対して
一定間隔に離別されている。
On the other hand, the piston rod 42 of the air cylinder 41 mounted on the cylinder bracket 35
Is positioned concentrically with the pressurizing transmission shaft 43 in the vertical direction, and the lower end of the piston rod 42 is normally (when the piston rod 42 is immersed in the upper origin position as shown). Are separated from the upper end of the pressure transmission shaft 43 at a constant interval.

【0031】また、加圧伝達軸43は、ヘッドブラケッ
ト36、XYθテーブル38及びツールブラケット37
を貫通して上下動し得るように装着されていると共に、
その下端がボンディングツール15の上端に当接されて
抜け止めされている。なお、軸受19はヘッドブラケッ
ト36に装着されている。
The pressure transmitting shaft 43 includes a head bracket 36, an XYθ table 38, and a tool bracket 37.
It is mounted so that it can move up and down through
The lower end is in contact with the upper end of the bonding tool 15 and is prevented from coming off. The bearing 19 is mounted on the head bracket 36.

【0032】その為、ヘッドブラケット36及びツール
ブラケット37を静止させた状態において、エアーシリ
ンダー41のピストンロッド42を下方に突出させるこ
とにより、その下端を加圧伝達軸43の上端に当接さ
せ、更に下方へ突出させることにより加圧伝達軸43を
下方へ摺動させることができ、そして、このようにして
加圧伝達軸43を下方へ摺動させることにより、その下
端でボンディングツール15を押して下方へ移動させる
ことができる。
Therefore, with the head bracket 36 and the tool bracket 37 stationary, the piston rod 42 of the air cylinder 41 is protruded downward so that the lower end thereof is in contact with the upper end of the pressure transmission shaft 43, By further projecting downward, the pressure transmission shaft 43 can be slid downward, and by thus sliding the pressure transmission shaft 43 downward, the lower end of the bonding tool 15 is pushed. It can be moved down.

【0033】なお、下方へ突出されていたピストンロッ
ド42が没されて上方へ移動されると、加圧伝達軸43
は、後述するように、弾性体(コイルバネ)47を介し
てツールブラケット37に吊り下げられた状態に装着さ
れているボンディングツール15により押されて上方へ
摺動されて元の位置にリターンされる。
When the piston rod 42 projecting downward is sunk and moved upward, the pressure transmitting shaft 43
Is pushed by the bonding tool 15 attached to the tool bracket 37 via an elastic body (coil spring) 47 and slid upward to return to an original position, as described later. .

【0034】加えて、ボンディングツール15は、その
一端が、このツール15の下端側部(先端側部)に設け
られている吸気通路(図示されていない)に接続されて
いる耐圧ホースを経て吸気することにより、前記吸気通
路と連通されるようにツール下端面(チップ吸着保持
面)に開口されている吸気孔から吸気して半導体チップ
16を吸着保持し得ると共にヒータを内蔵し、パルスヒ
ータ制御装置44(図2参照)により迅速に所定温度に
加熱し得るように構成され、かつ、ツールブラケット3
7に装着のピン45とボンディングツール15に装着の
ピン46とに弾性体(コイルバネ)47が係止されてい
る(図示されていない反対側の方にも同様に係止されて
いる)。すなわち、この一対の弾性体(コイルバネ)4
7によってツールブラケット37に吊り下げられた状態
に装着されている。
In addition, one end of the bonding tool 15 is suctioned through a pressure-resistant hose connected to an intake passage (not shown) provided at a lower end portion (tip end portion) of the tool 15. By doing so, the semiconductor chip 16 can be sucked and held by suction from the suction hole opened in the lower end surface of the tool (chip suction holding surface) so as to be communicated with the suction passage, and a heater is built in. The device 44 (see FIG. 2) is configured so that it can be quickly heated to a predetermined temperature, and
An elastic body (coil spring) 47 is locked to the pin 45 mounted on the pin 7 and the pin 46 mounted on the bonding tool 15 (also locked on the opposite side (not shown)). That is, the pair of elastic bodies (coil springs) 4
7, it is mounted in a state of being suspended from the tool bracket 37.

【0035】なお、このツール15は、ツールブラケッ
ト37の縦ガイド穴40に摺動し得るように嵌挿されて
いるガイド部51を備えており、従って、ヘッドブラケ
ット36が下方へ移動されると、このテーブル36と一
体的に下方へ移動されるツールブラケット37に追従し
てボンディングツール15も同方向に移動し、これと反
対に、ヘッドブラケット36が上方へ移動されると、ボ
ンディングツール15も同方向に移動する。
The tool 15 has a guide portion 51 which is slidably inserted into the vertical guide hole 40 of the tool bracket 37. Therefore, when the head bracket 36 is moved downward. The bonding tool 15 also moves in the same direction following the tool bracket 37 that is moved downward integrally with the table 36. Conversely, when the head bracket 36 is moved upward, the bonding tool 15 also moves. Move in the same direction.

【0036】同様に、シリンダーブラケット35に装着
のピン48と反力受け31に装着のピン49とにも弾性
体(コイルバネ)50が係止されている。なお、シリン
ダーブラケット35の上面側にロードセル29が装着さ
れている。また、前記耐圧ホースの他端は図示されてい
ない真空ポンプに接続されている。
Similarly, an elastic body (coil spring) 50 is also engaged with a pin 48 attached to the cylinder bracket 35 and a pin 49 attached to the reaction force receiver 31. The load cell 29 is mounted on the upper surface of the cylinder bracket 35. The other end of the pressure-resistant hose is connected to a vacuum pump (not shown).

【0037】而して、Zテーブル33の前記ネジ軸送り
機構により、ヘッドブラケット36を下方へ移動させて
ボンディングツール15をボンディング開始高さに位置
決めし、次いで、エアーシリンダー41のピストンロッ
ド42を下方へ所定ストローク突出させて加熱圧着、す
なわち、ボンディングすることができる。
The head bracket 36 is moved downward by the screw shaft feed mechanism of the Z table 33 to position the bonding tool 15 at the bonding start height, and then the piston rod 42 of the air cylinder 41 is moved downward. , And can be heated and pressed, that is, bonded.

【0038】そして、ボンディングを終えると、エアー
シリンダー41のピストンロッド42を没して上方の原
点位置にリターンさせると共にZテーブル33の前記ネ
ジ軸送り機構によりヘッドブラケット36を上方へ移動
させてボンディングツール15を上方の原点位置にリタ
ーンさせることができる。
When the bonding is completed, the piston rod 42 of the air cylinder 41 is retracted to return to the upper origin position, and the head bracket 36 is moved upward by the screw shaft feed mechanism of the Z table 33 to form a bonding tool. 15 can be returned to the upper origin position.

【0039】図4においては、この状態が示されている
が、引き続いて、チップスライダー21により、その下
方に半導体チップ16が移送されて来ると、Zテーブル
33の前記ネジ軸送り機構により、下方へ所定ストロー
ク移動されてチップスライダー21上の半導体チップ1
6をボンディングツール15で吸着保持し、次いで、上
方の原点位置へリターンされる。
FIG. 4 shows this state, but when the semiconductor chip 16 is transferred below the chip slider 21 by the chip slider 21, the screw shaft feed mechanism of the Z table 33 continuously moves the semiconductor chip 16 downward. Is moved by a predetermined stroke to the semiconductor chip 1 on the chip slider 21.
6 is sucked and held by the bonding tool 15 and then returned to the upper origin position.

【0040】このように、ボンディングヘッド14を、
ボンディング位置Aから他所へ移動し得ないように装着
して、常にボンディング位置Aにおいて半導体チップ1
6を吸着保持するように設けている。その為、ボンディ
ングヘッド14を、ボンディング位置A以外の他の所へ
移動させて半導体チップ16を吸着保持し、それを、ボ
ンディング位置Aにリターンさせるようなチップ供給態
様に比してチップ供給サイクルの短縮化を図ることがで
きる。
As described above, the bonding head 14 is
The semiconductor chip 1 is always mounted at the bonding position A so that it cannot be moved from the bonding position A to another place.
6 is provided so as to be held by suction. Therefore, the bonding head 14 is moved to a position other than the bonding position A to hold the semiconductor chip 16 by suction, and the semiconductor chip 16 is returned to the bonding position A. Shortening can be achieved.

【0041】次に、拡大図である図1において、ボンデ
ィングステージ2は、ステージ移動制御装置55上に装
着されているが、この移動制御装置55は、Xテーブル
である下段テーブル12とYテーブルである上段テーブ
ル17とで構成され、かつ、下段テーブル12のスライ
ドテーブル13は、固定側テーブル56で案内されてX
方向へ移動し得るように装着されていると共に、このス
ライドテーブル13上に上段テーブル17が装着、すな
わち、上段テーブル17のスライドテーブル18は、ス
ライドテーブル13上に装着されている固定側テーブル
57で案内されてY方向へ移動し得るように装着されて
いる。
Next, in FIG. 1 which is an enlarged view, the bonding stage 2 is mounted on a stage movement control device 55, and the movement control device 55 includes a lower table 12 which is an X table and a Y table. The slide table 13 of the lower table 12 is guided by a fixed-side table 56,
The upper table 17 is mounted on the slide table 13, that is, the slide table 18 of the upper table 17 is fixed by the fixed table 57 mounted on the slide table 13. It is mounted so that it can be guided and moved in the Y direction.

【0042】一方、ボンディングステージ2は、スライ
ドテーブル18上に装着されたステージベース58と、
このベース58上に装着された基板受け3及びサクショ
ン板5と、下段テーブル12のスライドテーブル13上
に装着された門型透視架台4とで構成されている。な
お、基板受け3は、ステージベース58の上端にX方向
に延設された一対のガイドレール59で案内されて移動
し得るように装着され、また、サクション板5は、図1
の縦断面図である図5において示されているように、ス
テージベース58に装着されたエアーシリンダー60の
ピストンロッド先端に装着されている可動ブラケット6
1上に装着され、このシリンダー60によって水平に上
下動し得るように装着されている。
On the other hand, the bonding stage 2 includes a stage base 58 mounted on the slide table 18,
It comprises a substrate receiver 3 and a suction plate 5 mounted on the base 58, and a gate-type see-through frame 4 mounted on the slide table 13 of the lower table 12. The substrate receiver 3 is mounted on the upper end of the stage base 58 so as to be movable by being guided by a pair of guide rails 59 extending in the X direction.
As shown in FIG. 5 which is a longitudinal sectional view of FIG. 5, the movable bracket 6 attached to the tip of the piston rod of the air cylinder 60 attached to the stage base 58.
1 and mounted so as to be able to move up and down horizontally by the cylinder 60.

【0043】なお、可動ブラケット61は、ステージベ
ース58に装着されている左右の縦ガイドレール62で
案内されて移動し得るように装着されている。加えて、
サクション板5には、複数の吸引孔63が設けられてい
ると共にこの孔63と連通されるようにサクション板5
の上面側に複数の吸着パッド6が装着されている。その
為、一端が真空ポンプ(図示されていない)に接続され
ている管路64の他端を、サクション板5の吸気口に接
続することにより、吸着パッド6群から吸気することが
できる。
The movable bracket 61 is mounted so as to be movable by being guided by left and right vertical guide rails 62 mounted on the stage base 58. in addition,
The suction plate 5 is provided with a plurality of suction holes 63 and is connected to the suction plate 5 so as to communicate with the holes 63.
A plurality of suction pads 6 are mounted on the upper surface side of. Therefore, by connecting the other end of the pipe line 64, one end of which is connected to a vacuum pump (not shown), to the suction port of the suction plate 5, suction can be performed from the suction pad group 6.

【0044】また、門型透視架台4は、これの縦断面し
た姿が図5において示されているが、基板受け3とほぼ
同一レベルに設けられ、その上端に透視ガラス7が装着
されている。なお、透視ガラス7の上面を基板受け3の
上面より、僅かに高くするのが好ましく、かつ、透視ガ
ラス7の下方には透視孔65が設けられている。
FIG. 5 shows a vertical section of the gate-type see-through gantry 4, which is provided at substantially the same level as the substrate receiver 3, and has a see-through glass 7 mounted on the upper end thereof. . It is preferable that the upper surface of the transparent glass 7 is slightly higher than the upper surface of the substrate receiver 3, and a transparent hole 65 is provided below the transparent glass 7.

【0045】更に、CCDカメラ9は、XYZテーブル
で構成されているカメラ移動制御装置8上に装着されて
いる。すなわち、この移動制御装置8は、下段のXテー
ブル70上にYテーブル71を装着すると共にYテーブ
ル71上にZテーブル72を装着して構成され、かつ、
かかるZテーブル72にCCDカメラ9を装着してい
る。なお、Zテーブル72は、サーボモータ73でネジ
軸74を駆動回転させることによりZ方向へ移動し得る
ように装着されている。
Further, the CCD camera 9 is mounted on a camera movement control device 8 composed of an XYZ table. That is, the movement control device 8 is configured by mounting the Y table 71 on the lower X table 70 and mounting the Z table 72 on the Y table 71, and
The CCD camera 9 is mounted on the Z table 72. The Z table 72 is mounted so as to be movable in the Z direction by driving and rotating a screw shaft 74 by a servo motor 73.

【0046】また、ステージ移動制御装置55及びカメ
ラ移動制御装置8を構成している各スライドテーブル1
3,18,75,76も、サーボモータ73でネジ軸を
回転させてピッチ送りをするネジ軸送り機構を介して移
動し得るように装着されている。
Each of the slide tables 1 constituting the stage movement control device 55 and the camera movement control device 8
3, 18, 75, and 76 are also mounted so as to be movable via a screw shaft feed mechanism that rotates the screw shaft by the servo motor 73 to feed the pitch.

【0047】而して、このボンディング装置によると、
次のようにして、加熱圧着、すなわち、ボンティングす
ることができる。なお、ボンティングを行うに当って、
ボンティングステージ2上に回路基板1が供給される
が、これは上段テーブル17のスライドテーブル18を
Ya方向へ移動させた状態において作業員により行われ
る。その際、ボンディングヘッド14は、上方のヘッド
原点位置に移動されている。また、Ya方向へ移動され
たボンティングステージ2のサクション板5は、これに
装着されている吸着パッド6群の上端が、基板受け3又
は門型透視架台4の上面よりも少し上方に位置されるよ
うにシリンダー60を介して上方へ移動されている。
According to this bonding apparatus,
Thermocompression bonding, that is, bonding can be performed as follows. In addition, when performing bonding,
The circuit board 1 is supplied onto the bonding stage 2, which is performed by an operator while the slide table 18 of the upper table 17 is moved in the Ya direction. At this time, the bonding head 14 has been moved to an upper head origin position. In the suction plate 5 of the bonding stage 2 moved in the Ya direction, the upper end of the suction pads 6 mounted on the suction plate 5 is positioned slightly above the upper surface of the substrate receiver 3 or the gate-type see-through frame 4. Has been moved upward via the cylinder 60.

【0048】そして、作業員が、吸着パッド6群上に、
回路基板1を、電極が形成されている方の一端を門型透
視架台4側へ位置させるように載置すると、図示されて
いない真空ポンプによる吸気が開始されて回路基板1が
吸着パッド6群で吸着保持される。次いで、上段テーブ
ル17のスライドテーブル18がYb方向へ移動され
て、最初にボンディングする箇所がボンディング位置A
に位置決めされ、かつ、その後、サクション板5がシリ
ンダー60を介して下方へ移動される。
Then, the worker puts on the suction pad 6 group,
When the circuit board 1 is placed so that one end on which the electrode is formed is positioned on the side of the gate-type see-through frame 4, suction by a vacuum pump (not shown) is started, and the circuit board 1 is moved to the suction pad group 6. Is held by suction. Next, the slide table 18 of the upper table 17 is moved in the Yb direction, and the first bonding position is the bonding position A.
, And then the suction plate 5 is moved downward via the cylinder 60.

【0049】この姿が図5において示されている。同図
において、回路基板1は、吸着パッド6群で吸着保持さ
れたまま、ボンディング位置Aに移動されている門型透
視架台4と基板受け3とで支持されている。また、これ
と並行して、チップスライダー21により、ボンディン
グ位置Aに半導体チップ16が移送されて来て、ボンテ
ィングヘッド14のボンディングツール15により吸着
保持される。この状態が図1において示されている。
This is shown in FIG. In the figure, a circuit board 1 is supported by a gate-type see-through pedestal 4 and a board receiver 3 which have been moved to a bonding position A while being suction-held by a group of suction pads 6. At the same time, the semiconductor chip 16 is transferred to the bonding position A by the chip slider 21 and is held by the bonding tool 15 of the bonding head 14. This state is shown in FIG.

【0050】続いて、Xb方向へ退避されていたCCD
カメラ9がカメラ移動制御装置8の駆動制御によりXa
方向へ移動され、その撮像ヘッド10が門型透視架台4
により区画された空間領域11内に移動され、門型透視
架台4により支持されている回路基板1の一端に印され
ている精密位置決め基準用アライメントマークを、その
下方より検出する。その際、カメラ移動制御装置8は、
必要に応じてX、Y及びZ方向のうちから選ばれた所定
方向に各テーブル72,75,76を移動せしめるよう
に所定に駆動制御される。
Subsequently, the CCD retracted in the Xb direction
The camera 9 is driven by the camera movement control device 8 to control Xa
And the imaging head 10 is moved in the direction
Then, the alignment mark for precise positioning reference, which is moved into the space area 11 defined by the above and is marked on one end of the circuit board 1 supported by the gate-type see-through frame 4, is detected from below. At that time, the camera movement control device 8
Drive control is performed in a predetermined manner so that the tables 72, 75, and 76 are moved in predetermined directions selected from the X, Y, and Z directions as needed.

【0051】そして、かかる検出を終えると、下段テー
ブル12のスライドテーブル13がXa方向へ移動さ
れ、門型透視架台4がボンディング位置AからXa側へ
退避、すなわち、CCDカメラ9の撮像視野外へ退避さ
れる。すると、CCDカメラ9が、その上方のボンディ
ングツール15が吸着保持している半導体チップ16に
印されている精密位置決め基準用アライメントマークを
その下方より検出する。なお、その際、必要ならば、C
CDカメラ9がZa方向へ移動せしめられる。そして、
この検出を終えると、Xb側の元の退避位置へリターン
される。
When the detection is completed, the slide table 13 of the lower table 12 is moved in the Xa direction, and the gate-type see-through gantry 4 is retracted from the bonding position A to the Xa side, that is, out of the field of view of the CCD camera 9. Will be evacuated. Then, the CCD camera 9 detects the alignment mark for precision positioning reference, which is marked on the semiconductor chip 16 that is held by the bonding tool 15 above the suction tool, from below. At that time, if necessary, C
The CD camera 9 is moved in the Za direction. And
When this detection is completed, the process returns to the original retreat position on the Xb side.

【0052】引き続いて、下段テーブル12のスライド
テーブル13がXb方向へ移動され、門型透視架台4が
ボンディング位置Aにリターンされると共に、ボンディ
ングツール15が、両アライメントマーク同士の位置ず
れを無くするように所定に移動制御され、これにより、
回路基板1と半導体チップ16とが位置的に精密整合せ
しめられる。なお、両アライメントマークの位置ずれの
判定は、画像処理系内において行われ、その結果に基づ
いて、かかる移動制御、すなわち、ボンディングツール
15だけの移動制御が行われる。その際、XYθテーブ
ル38によりX方向、Y方向及びθ回転のうちから選ば
れた所定方向にボンディングツール15が微動される。
Subsequently, the slide table 13 of the lower table 12 is moved in the Xb direction, the portal-type see-through gantry 4 is returned to the bonding position A, and the bonding tool 15 eliminates the positional deviation between the two alignment marks. Is controlled in a predetermined manner,
The circuit board 1 and the semiconductor chip 16 are precisely aligned in position. The determination of the displacement between the two alignment marks is performed in the image processing system, and based on the result, such movement control, that is, movement control of only the bonding tool 15 is performed. At this time, the bonding tool 15 is finely moved by the XYθ table 38 in a predetermined direction selected from the X direction, the Y direction, and the θ rotation.

【0053】換言すると、ボンディング位置Aにおける
回路基板1と半導体チップ16との位置的精密整合を、
ボンディングステージ2の方で行わずにボンディングヘ
ッド14の方で、しかも、ボンディングヘッド14全体
を移動させないでボンディングヘッド14の下端に装着
されている、半導体チップ16を吸着保持のボンディン
グツール15だけを微動させて行っている。
In other words, the positional precision matching between the circuit board 1 and the semiconductor chip 16 at the bonding position A is
Only the bonding tool 15 attached to the lower end of the bonding head 14 for sucking and holding the semiconductor chip 16 is slightly moved by the bonding head 14 without moving the bonding stage 2 and without moving the entire bonding head 14. Let me go.

【0054】その為、重い大型の回路基板1にボンディ
ングする場合においても、そのこととは無関係に、ボン
ディング位置Aにおける回路基板1と半導体チップ16
との位置的精密整合を高精度に、かつ、容易に行うこと
ができる。なお、このような位置的精密整合を、必要に
応じて複数回行うことにより、より一段と精密に整合さ
せることができる。
Therefore, even when bonding to the heavy and large circuit board 1, regardless of the fact, the circuit board 1 and the semiconductor chip 16 at the bonding position A are connected.
And high-precision position matching with high accuracy can be easily performed. In addition, by performing such positional precision matching a plurality of times as necessary, more precise matching can be achieved.

【0055】なお、ミクロン単位の精度が要求される関
係上、必要に応じてキャリブシーションが行われる。す
なわち、ボンディングツール15に設けられている基準
指標を、XYθテーブル38若しくはカメラ移動制御装
置8を所定に駆動してCCDカメラ9で前記基準指標を
サーチすることにより得られる所定の補正パラメータに
より、制御系に入力されている各種のパラメータ(例え
ば、XYθテーブル38における、θテーブルの回転中
心、Xテーブル及びYテーブルの軸傾き、実送り量、或
いは、カメラ移動制御装置8における、各テーブルの軸
傾き、実送り量等)を補正更新する。これにより、機械
的特性が経時的に変化しても、ボンディング精度を高精
度に保つことができる。
Note that calibration is performed as necessary because accuracy in the order of microns is required. That is, the reference index provided in the bonding tool 15 is controlled by a predetermined correction parameter obtained by driving the XYθ table 38 or the camera movement control device 8 in a predetermined manner and searching the reference index with the CCD camera 9. Various parameters input to the system (for example, the rotation center of the θ table in the XYθ table 38, the axis inclination of the X table and the Y table, the actual feed amount, or the axis inclination of each table in the camera movement control device 8) , The actual feed amount, etc.). Thereby, even if the mechanical characteristics change over time, the bonding accuracy can be kept high.

【0056】以下、かかる精密整合を終えると、ボンデ
ィングヘッド14が下方へ移動して加熱圧着、すなわ
ち、ボンディングする。これは、上述のように最初にZ
テーブル33を介して、上方の原点位置のボンディング
ツール15が下方へ移動されて回路基板1に接近された
ボンディング開始位置に位置決めされ、次いで、エアー
シリンダー41のピストンロッド42の下方への突出に
よりボンディングツール15が回路基板1に押し付けら
れる。
Thereafter, when the precision alignment is completed, the bonding head 14 moves downward to perform heat compression bonding, that is, bonding. This is because Z
Via the table 33, the bonding tool 15 at the upper origin position is moved downward to be positioned at the bonding start position close to the circuit board 1, and then the air cylinder 41 is bonded by projecting the piston rod 42 downward. The tool 15 is pressed against the circuit board 1.

【0057】その際、回路基板1のボンディングする方
の一端、すなわち、大きな押圧力が作用する方の一端
が、下段テーブル12のスライドテーブル13上に装着
されている門型透視架台4で支持されているので、ボン
ディングステージを片持ち構造に装着した場合において
問題視されていたステージ歪みの発生を、一段と大きな
押圧条件下でのボンディングにおいても防止することが
できて高精度にボンディングを行うことができる。
At this time, one end of the circuit board 1 to be bonded, that is, one end to which a large pressing force is applied, is supported by the gate-type see-through mount 4 mounted on the slide table 13 of the lower table 12. Therefore, the occurrence of stage distortion, which has been regarded as a problem when the bonding stage is mounted in a cantilever structure, can be prevented even in bonding under a larger pressing condition, and bonding can be performed with high precision. it can.

【0058】そして、ボンディングを終えてボンディン
グヘッド14が上方の原点位置にリターンされると、エ
アーシリンダー60を介してサクション板5が上方へ移
動されて、基板受け3及び門型透視架台4で支持されて
いた回路基板1が上方へ移動され、かつ、この状態にお
いて、Yテーブルである上段テーブル17のスライドテ
ーブル18がYb方向へ移動される。
When the bonding head 14 is returned to the upper origin position after the bonding, the suction plate 5 is moved upward through the air cylinder 60, and is supported by the substrate receiver 3 and the gate-type see-through frame 4. The moved circuit board 1 is moved upward, and in this state, the slide table 18 of the upper table 17, which is the Y table, is moved in the Yb direction.

【0059】この移動は続いてボンディングを行う箇所
をボンディング位置Aに位置決めさせるように行われ、
その後、サクション板5が下方へ移動されて回路基板1
が、再び基板受け3及び門型透視架台4で支持される。
よって、上述と同様の工程を経て次々と高精度にボンデ
ィングすることができる。なお、ボンディングツール1
5による半導体チップ16の吸着保持は、ボンディング
を終えると解除され、そして、半導体チップ16を受け
取るときに吸気が開始されて吸着保持することができ
る。
This movement is performed so as to position the portion to be subsequently bonded at the bonding position A.
Thereafter, the suction plate 5 is moved downward, and the circuit board 1 is moved.
Is again supported by the substrate receiver 3 and the gate-type see-through frame 4.
Therefore, bonding can be performed one after another with high accuracy through the same steps as described above. The bonding tool 1
The suction holding of the semiconductor chip 16 by 5 is released when the bonding is finished, and when the semiconductor chip 16 is received, the suction is started and the suction holding can be performed.

【0060】このように、回路基板1を移送してボンデ
ィング位置Aに位置決めさせるように回路基板1を支持
したボンディングステージ2を移動制御する基板位置決
め用ステージ移動制御工程と、ボンディング位置Aに位
置決めされた回路基板1の精密位置決め基準用アライメ
ントマークを回路基板1の下方からCCDカメラ9で検
出する基板位置検出工程と、ボンディング位置Aのボン
ディングヘッド14に備えられているボンディングツー
ル15により吸着保持された半導体チップ16の精密位
置決め基準用アライメントマークをボンディングヘッド
14の下方からCCDカメラ9で検出するチップ位置検
出工程と、チップ位置検出工程に先立ってボンディング
ステージ2をCCDカメラ9の撮像視野外へ退避させる
ようにボンディングステージ2を移動制御する退避用ス
テージ移動制御工程と、CCDカメラ9により検出され
た両アライメントマークの位置ずれ量の算出結果に基い
て回路基板1と半導体チップ16との位置的精密整合を
ボンディングツール15だけを微動させて行った後、ボ
ンディングヘッド2によりボンディングするボンディン
グ工程とを経てチップボンディングするようにしてい
る。
As described above, the board positioning stage movement control step of controlling the movement of the bonding stage 2 supporting the circuit board 1 so as to transfer the circuit board 1 and position it at the bonding position A; A substrate position detecting step of detecting the alignment mark for precision positioning reference of the circuit board 1 from below the circuit board 1 with the CCD camera 9, and being sucked and held by the bonding tool 15 provided in the bonding head 14 at the bonding position A. A chip position detecting step of detecting the alignment mark for precise positioning reference of the semiconductor chip 16 from below the bonding head 14 with the CCD camera 9, and the bonding stage 2 is retracted out of the field of view of the CCD camera 9 prior to the chip position detecting step. Like bondin The evacuation stage movement control step for controlling the movement of the stage 2 and the positional precision alignment between the circuit board 1 and the semiconductor chip 16 based on the calculation result of the amount of displacement between the two alignment marks detected by the CCD camera 9 are performed by a bonding tool. After performing only a slight movement of only 15, chip bonding is performed through a bonding step of bonding with the bonding head 2.

【0061】なお、次にボンディングしようとする回路
基板1が、先行のそれと大きさが異なるものである場合
には、基板受け3をXb側へ移動させて止めネジ等の適
当な手段で所定位置に固定すればよく、このような簡単
な調整作業により、大きさが異なる回路基板1を次々と
ボンディングすることができる。その際、上述のよう
に、門型透視架台4を、上段テーブル17のスライドテ
ーブル18上に装着しないで、下段テーブル12のスラ
イドテーブル13上に装着しているので、大きな押圧条
件下でのボンディングにおいても、ボンディングステー
ジに歪みが発生するのを防止することができる。
If the size of the circuit board 1 to be bonded next is different from that of the preceding circuit board, the board receiver 3 is moved to the Xb side and is moved to a predetermined position by a suitable means such as a set screw. The circuit boards 1 having different sizes can be successively bonded by such a simple adjustment work. At this time, as described above, since the portal-type perspective gantry 4 is not mounted on the slide table 18 of the upper table 17 but is mounted on the slide table 13 of the lower table 12, bonding under a large pressing condition is performed. Also, it is possible to prevent distortion from occurring in the bonding stage.

【0062】以上、本発明に係る一実施例について述べ
たが、本発明においては、ボンディングしようとする回
路基板は、液晶基板のような透明基板に限定されず他の
不透明の回路基板であってもよく、また、上段テーブル
をX方向に配すると共に下段テーブルをY方向へ配して
もよく、更に、基板受けを、ねじ軸送り機構等を介して
自動的に移動し得るように装着してもよい。
The embodiment according to the present invention has been described above. However, in the present invention, the circuit board to be bonded is not limited to a transparent substrate such as a liquid crystal substrate, but may be another opaque circuit board. Alternatively, the upper table may be arranged in the X direction and the lower table may be arranged in the Y direction, and the board receiver is mounted so that it can be automatically moved via a screw shaft feed mechanism or the like. You may.

【0063】また、半導体チップ及び回路基板に印され
る位置決め基準用アライメントマークについても、いか
なる態様のものであってもよい。また、ボンディングヘ
ッドは、ボンディング位置から他所へ移動し得ないよう
に装着するのが好ましいが、他の態様、例えば、ボンデ
ィング位置以外の所へ移動して半導体チップを吸着保持
し、それをボンディング位置に移送する所謂、移動式に
装着してもよい。
The alignment mark for positioning reference, which is to be marked on the semiconductor chip and the circuit board, may have any form. Further, it is preferable that the bonding head is mounted so as not to be moved from the bonding position to another position. So-called mobile type.

【0064】なお、サクション板の装着についても、大
型の門型透視台を設置、すなわち、例えば、回路基板の
全長よりも長い支持上端面(回路基板を支持する上端
面)を形成し得るような大型の門型透視台を設置する場
合においては上下動させない態様に装着してもよい。
For mounting the suction plate, a large portal-type see-through table is installed, that is, for example, a support upper end surface (upper end surface for supporting the circuit board) longer than the entire length of the circuit board can be formed. When a large portal-type see-through table is installed, it may be mounted in a form that does not move up and down.

【0065】[0065]

【発明の効果】上述の如く、請求項1〜5に記載の発明
によると、重い大型の回路基板にボンディングする場合
においても、回路基板と前記半導体チップとの位置的精
密整合を、ボンディングステージおよびボンディングヘ
ッドの位置を固定したまま、ボンディングツールだけを
微動させて行うことにより、ボンディング位置における
回路基板と半導体チップとの位置的精密整合を高精度
に、かつ、容易に行うことができる。また、請求項6に
記載の発明によると、大小の回路基板に対してボンディ
ングすることができると共に一段と大きな押圧条件下で
のボンディングにおいても、ボンディングステージに歪
みが発生するのを防止し得て高精度にボンディングを行
うことができ、かつ、透明の回路基板は勿論のこと不透
明の回路基板についてもボンディングすることができ
る。
As described above, according to the first to fifth aspects of the present invention, even when bonding to a heavy and large circuit board, the positional precision of the circuit board and the semiconductor chip can be precisely adjusted by the bonding stage and the bonding stage. Bonding
With the position of the pad fixed, only the bonding tool
By performing the fine movement , precise positional alignment between the circuit board and the semiconductor chip at the bonding position can be easily performed with high precision. Further, according to the invention as set forth in claim 6, it is possible to perform bonding to a large and small circuit board, and it is possible to prevent the bonding stage from being distorted even under bonding under a larger pressing condition, and to achieve a high level. Bonding can be performed with high precision, and it is possible to bond opaque circuit boards as well as transparent circuit boards.
You.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】ボンディングステージ部の拡大斜視図である。FIG. 1 is an enlarged perspective view of a bonding stage unit.

【図2】チップボンディング装置の全体的構成を示す斜
視図である。
FIG. 2 is a perspective view showing an overall configuration of a chip bonding apparatus.

【図3】外形位置決め態様を示す斜視図である。FIG. 3 is a perspective view showing an external form positioning mode.

【図4】ボンディングヘッドの斜視図である。FIG. 4 is a perspective view of a bonding head.

【図5】図1の縦断面図である。FIG. 5 is a longitudinal sectional view of FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

A ボンディング位置 1 回路基板 2 ボンディングステージ 3 基板受け 4 門型透視台 5 サクション板 6 吸着パッド 7 透視ガラス 8 カメラ移動制御装置 9 CCDカメラ 10 撮像ヘッド 12 下段テーブル 13 スライドテーブル 14 ボンディングヘッド 15 ボンディングツール 16 半導体チップ 17 上段テーブル 18 スライドテーブル 55 ステージ移動制御装置 58 ステージベース A Bonding position 1 Circuit board 2 Bonding stage 3 Substrate receiver 4 Gate-type transparent table 5 Suction plate 6 Suction pad 7 Transparent glass 8 Camera movement control device 9 CCD camera 10 Imaging head 12 Lower table 13 Slide table 14 Bonding head 15 Bonding tool 16 Semiconductor chip 17 Upper table 18 Slide table 55 Stage movement controller 58 Stage base

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 秋田 雅典 滋賀県大津市大江一丁目1番45号東レエ ンジニアリング株式会社内 審査官 中澤 登 (56)参考文献 特開 平4−130636(JP,A) 特開 昭58−80893(JP,A) 特開 昭49−8166(JP,A) 特開 平8−330393(JP,A) 特開 平8−335609(JP,A) 特開 平6−84977(JP,A) 特開 平6−69286(JP,A) 特開 平6−236904(JP,A) 特開 平4−199525(JP,A) 特開 平2−226737(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/60 311 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuation of the front page (72) Inventor Masanori Akita 1-1-45 Oe, Otsu City, Shiga Prefecture Examiner at Toray Engineering Co., Ltd. Noboru Nakazawa (56) References JP-A-4-130636 (JP, A) JP-A-58-80893 (JP, A) JP-A-49-8166 (JP, A) JP-A-8-330393 (JP, A) JP-A 8-335609 (JP, A) JP-A-6 JP-A-84977 (JP, A) JP-A-6-69286 (JP, A) JP-A-6-236904 (JP, A) JP-A-4-199525 (JP, A) JP-A-2-226737 (JP, A) (58) Fields surveyed (Int. Cl. 7 , DB name) H01L 21/60 311

Claims (6)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 回路基板を移送してボンディング位置に
位置決めさせるように前記回路基板を支持したボンディ
ングステージを移動制御する基板位置決め用ステージ移
動制御工程と、前記ボンディング位置に位置決めされた
前記回路基板の精密位置決め基準用アライメントマーク
をカメラで検出する基板位置検出工程と、前記ボンディ
ング位置のボンディングヘッドに備えられているボンデ
ィングツールにより吸着保持された半導体チップの精密
位置決め基準用アライメントマークを前記カメラで検出
するチップ位置検出工程と、前記カメラにより検出され
た両アライメントマークの位置ずれ量の算出結果に基い
て前記回路基板と前記半導体チップとの位置的精密整合
を行った後、前記ボンディングヘッドによりボンディン
グするボンディング工程とからなるチップボンディング
方法において、前記回路基板と前記半導体チップとの位
置的精密整合を、前記ボンディングステージおよび前記
ボンディングヘッドの位置を固定したまま、前記ボンデ
ィングツールだけを微動させて行うことを特徴とするチ
ップボンディング方法。
A stage for controlling the movement of a bonding stage supporting the circuit board so as to transfer the circuit board and position the circuit board at a bonding position; and a step of moving the circuit board positioned at the bonding position. A substrate position detecting step of detecting the alignment mark for precise positioning reference with a camera, and detecting the alignment mark for precision positioning reference of the semiconductor chip sucked and held by a bonding tool provided in the bonding head at the bonding position with the camera After performing a chip position detecting step and performing precise positional alignment between the circuit board and the semiconductor chip based on a calculation result of a positional shift amount of both alignment marks detected by the camera, bonding by the bonding head And a step of precisely positioning the circuit board and the semiconductor chip with the bonding stage and the semiconductor chip.
A chip bonding method characterized in that the bonding is performed by slightly moving only the bonding tool while the position of the bonding head is fixed .
【請求項2】 回路基板と半導体チップとの位置的精密
整合に際してのボンディングツールの微動を、XYθ方
向のうち、少なくとも一方向に行うことを特徴とする請
求項1に記載のチップボンディング方法。
2. The chip bonding method according to claim 1, wherein the fine movement of the bonding tool at the time of precise positional alignment between the circuit board and the semiconductor chip is performed in at least one of the XYθ directions.
【請求項3】 ボンディングツールによる半導体チップ
の吸着保持を、常にボンディング位置において行うこと
を特徴とする請求項1に記載のチップボンディング方
法。
3. The chip bonding method according to claim 1, wherein the holding of the semiconductor chip by the bonding tool is always performed at the bonding position.
【請求項4】 回路基板と半導体チップとの位置的精密
整合を、複数回行うことを特徴とする請求項1に記載の
チップボンディング方法。
4. The chip bonding method according to claim 1, wherein the precise positional alignment between the circuit board and the semiconductor chip is performed a plurality of times.
【請求項5】 半導体チップを吸着保持するボンディン
グツールを備えたボンディングヘッドと、回路基板を支
持するボンディングステージと、前記ボンディングステ
ージにより移送されてボンディング位置に位置決めされ
た前記回路基板の精密位置決め基準用アライメントマー
クを検出すると共に前記ボンディング位置の前記ボンデ
ィングツールにより吸着保持されている前記半導体チッ
プの精密位置決め基準用アライメントマークを検出する
カメラと、前記カメラを撮像視野内へ移動制御するカメ
ラ移動制御装置と、前記回路基板を前記ボンディング位
置に位置決めさせるように前記ボンディングステージを
移動制御するステージ移動制御装置とを備え、かつ、前
記カメラにより検出された両アライメントマークの位置
ずれ量の算出結果に基いて前記回路基板と前記半導体チ
ップとの位置的精密整合を行った後、前記ボンディング
ヘッドによりボンディングし得るように構成されたチッ
プボンディング装置において、前記ボンディングヘッド
を、該ボンディングヘッドおよび前記ボンディングステ
ージの位置を固定したまま、前記ボンディングツールだ
けを微動させて前記位置的精密整合を行えるように構成
したことを特徴とするチップボンディング装置。
5. A bonding head having a bonding tool for sucking and holding a semiconductor chip, a bonding stage for supporting a circuit board, and a precision positioning reference for the circuit board transferred by the bonding stage and positioned at a bonding position. A camera that detects an alignment mark and detects an alignment mark for precise positioning reference of the semiconductor chip that is suction-held by the bonding tool at the bonding position; and a camera movement control device that controls movement of the camera into an imaging field of view. A stage movement control device that controls the movement of the bonding stage so as to position the circuit board at the bonding position, and calculates a displacement amount between the two alignment marks detected by the camera. In a chip bonding apparatus configured to perform precise positional alignment between the circuit board and the semiconductor chip based on the bonding head, the bonding head is connected to the bonding head and the bonding step.
A chip bonding apparatus configured to perform the positional precision alignment by finely moving only the bonding tool while fixing the position of the page .
【請求項6】 半導体チップを吸着保持するボンディン
グツールを備えたボンディングヘッドと、回路基板を支
持するボンディングステージと、前記ボンディングステ
ージにより移送されてボンディング位置に位置決めされ
た前記回路基板の精密位置決め基準用アライメントマー
クを検出すると共に前記ボンディング位置の前記ボンデ
ィングツールにより吸着保持されている前記半導体チッ
プの精密位置決め基準用アライメントマークを検出する
カメラと、前記カメラを撮像視野内へ移動制御するカメ
ラ移動制御装置と、前記回路基板を前記ボンディング位
置に位置決めさせるように前記ボンディングステージを
移動制御すると共に前記ボンディング位置の前記ボンデ
ィングツールにより吸着保持されている前記半導体チッ
プの精密位置決め基準用アライメントマークを前記カメ
ラで検出するに先立って前記ボンディングステージを前
記カメラの撮像視野外へ退避させるように移動制御する
ステージ移動制御装置とを備え、かつ、前記カメラによ
り検出された両アライメントマークの位置ずれ量の算出
結果に基いて前記回路基板と前記半導体チップとの位置
的精密整合を行った後、前記ボンディングヘッドにより
ボンディングし得るように構成されたチップボンディン
グ装置において、前記ステージ移動制御装置をXYテー
ブルで構成すると共に前記ボンディングステージを、前
記XYテーブルを構成している上段テーブルのスライド
テーブル上に装着されたステージベースと、前記ステー
ジベース上に装着された基板受けと、前記XYテーブル
を構成している下段テーブルのスライドテーブル上に装
着された門型透視架台と、前記基板受けと前記門型透視
架台間に位置されるように前記ステージベース上に装着
されたサクション板と、前記サクション板上に装着され
た複数の吸着パッドとで構成し、かつ、前記回路基板を
前記吸着パッド群で吸着保持して電極が形成されている
方の一端を前記門型透視架台により支持すると共に対向
他端を前記基板受けにより支持した状態において前記カ
メラを、前記ボンディング位置に位置決めされている前
記門型透視架台により区画された空間領域内に移動せし
めて前記回路基板の精密位置決め基準用アライメントマ
ークを検出し、次いで、前記下段テーブルのスライドテ
ーブルを移動せしめて前記門型透視架台を前記ボンディ
ング位置から退避させ状態において前記カメラにより前
記半導体チップの精密位置決め基準用アライメントマー
クを検出し得るように構成したことを特徴とするチップ
ボンディング装置。
6. A bonding head having a bonding tool for sucking and holding a semiconductor chip, a bonding stage for supporting a circuit board, and a precision positioning reference for the circuit board transferred to the bonding position and positioned at a bonding position by the bonding stage. A camera that detects an alignment mark and detects an alignment mark for precise positioning reference of the semiconductor chip that is suction-held by the bonding tool at the bonding position; and a camera movement control device that controls movement of the camera into an imaging field of view. Moving the bonding stage so as to position the circuit board at the bonding position, and precisely positioning the semiconductor chip suction-held by the bonding tool at the bonding position. A stage movement control device that controls the movement of the bonding stage so as to be retracted out of the imaging field of view of the camera prior to detecting the corresponding alignment mark with the camera, and the alignment mark of both alignment marks detected by the camera. In a chip bonding apparatus configured to perform positional precision matching between the circuit board and the semiconductor chip based on the calculation result of the amount of displacement, and then perform bonding by the bonding head, the stage movement control device may include: An XY table, wherein the bonding stage comprises a stage base mounted on a slide table of an upper table constituting the XY table, a substrate receiver mounted on the stage base, and the XY table. Sly on the lower table A gate-type perspective mount mounted on a table, a suction plate mounted on the stage base so as to be located between the substrate receiver and the portal-type perspective mount, and a plurality of mounted on the suction plate. The circuit board is suction-held by the suction pad group, and one end on which an electrode is formed is supported by the portal-type see-through frame and the other end is supported by the substrate receiver. In this state, the camera is moved into a space defined by the portal-type perspective gantry positioned at the bonding position to detect the alignment mark for precise positioning reference of the circuit board, and then the lower table In the state where the slide table is moved to retract the gate-type perspective gantry from the bonding position, the slide table is moved forward by the camera. Chip bonding apparatus characterized by being configured so as to detect the alignment marks for precision positioning reference of the semiconductor chip.
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TWI684235B (en) * 2017-07-12 2020-02-01 日商新川股份有限公司 Device and method for positioning a first object relative to a second object
TWI765549B (en) * 2020-01-30 2022-05-21 日商芝浦機械電子裝置股份有限公司 Mounting device for electronic parts
JP7450429B2 (en) * 2020-03-26 2024-03-15 芝浦メカトロニクス株式会社 Electronic component mounting equipment
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