JP3331257B2 - Vacuum suction method for test piece and vacuum suction circuit device thereof - Google Patents

Vacuum suction method for test piece and vacuum suction circuit device thereof

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JP3331257B2
JP3331257B2 JP11976094A JP11976094A JP3331257B2 JP 3331257 B2 JP3331257 B2 JP 3331257B2 JP 11976094 A JP11976094 A JP 11976094A JP 11976094 A JP11976094 A JP 11976094A JP 3331257 B2 JP3331257 B2 JP 3331257B2
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suction
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は例えば医療用の諸検査、
液体試料を分析するための検査に使用する数個の試験パ
ッドを有する試験片の取り出し、液体試料への浸漬、測
光、演算、廃棄等全てを自動で行なう連続自動液体試料
分析装置に関し、試験片ボトルに収納されている試験片
のストリップに反りが発生した試験片であっても、試験
片ボトルから1本の試験片を確実に取り出し、分析装置
に移送し、さらに(真空吸引の対象物が、例えば、尿、
血液等の液体試料中に浸漬される試験片であるため)エ
アー管路に発生する異常を検出する等の一連の工程を、
真空吸引方式を使用して処理することのできる連続自動
液体試料分析装置の真空吸引方法およびその真空吸引回
路装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION The present invention relates to, for example, medical examinations,
The present invention relates to a continuous automatic liquid sample analyzer that automatically performs all operations such as taking out a test piece having several test pads used for an inspection for analyzing a liquid sample, immersing the liquid sample in a liquid sample, photometry, calculation, and disposal. Even if the strip of the test piece contained in the bottle is warped, one test piece is reliably taken out of the test piece bottle, transferred to the analyzer, and further (the object of vacuum suction is , For example, urine,
A series of steps, such as detecting abnormalities that occur in the air pipeline, because the test piece is immersed in a liquid sample such as blood)
The present invention relates to a vacuum suction method for a continuous automatic liquid sample analyzer that can be processed using a vacuum suction method, and a vacuum suction circuit device thereof.

【0002】一般的に知られた尿診断法において尿のp
H、蛋白質、ぶどう糖、ケトン体(アセト酢酸)、ピリ
ルビン、潜血、亜硝酸塩、ウロビリノーゲン、比重およ
び白血球を測定するために、いわゆるマルチプル尿試験
片を用いることができる。この種の試験片は特定の諸検
査を行なうのに適した諸試薬が用いられている、数個の
試験パッドを有している。
[0002] In a commonly known urine diagnostic method, urine p
A so-called multiple urine test strip can be used to measure H, protein, glucose, ketone bodies (acetoacetic acid), pyrilvin, occult blood, nitrite, urobilinogen, specific gravity and leukocytes. This type of test strip has several test pads in which reagents suitable for performing a particular test are used.

【0003】現在、血液や尿等の液体試料分析に最も多
く用いられる試験片1は、第16図に示すように透明ま
たは不透明プラスチック製ストリップ2の一方の端から
試験パッド3を設け他端部を把持部4とするものであ
る。試験パッド3は測定項目数に応じた個数だけ設けら
れ、試験パッド3として各種の試薬を含浸させた濾紙の
小片を両面粘着テープで貼着したものであるが、その他
試薬を基材5とともに付着させてフィルム化したものも
ある。
At present, a test piece 1 most frequently used for analyzing a liquid sample such as blood or urine has a test pad 3 provided at one end of a transparent or opaque plastic strip 2 as shown in FIG. Is the gripping portion 4. The test pads 3 are provided in a number corresponding to the number of measurement items. A small piece of filter paper impregnated with various reagents is attached as the test pad 3 with a double-sided adhesive tape. Some are made into films.

【0004】[0004]

【従来技術】このような試験片を自動的に取り扱う分析
装置として、日本国公開特許公報特開昭61−9157
1号記載の装置がある。この自動分析装置においては、
試験片供給装置としてスライドベース方式が採用されて
いる。このスライドベース方式は、試験片供給装置にお
いてホッパー内に試験片を投入し、ホッパー底部をスラ
イドさせ、試験片の有無、試験片の表裏判別を光センサ
ーまたは近接センサーで行い、また試験片の表裏反転を
レバーで行い、試験片をホッパー外へ移動させ、過剰尿
除去工程を経ることなく、測光するものである。
2. Description of the Related Art Japanese Patent Laid-Open Publication No. 61-9157 discloses an analyzer for automatically handling such a test piece.
There is an apparatus described in No. 1. In this automatic analyzer,
A slide base method is used as a test piece supply device. In this slide base method, a test piece is put into a hopper in a test piece supply device, the bottom of the hopper is slid, and the presence or absence of the test piece, the front and back of the test piece are determined by an optical sensor or a proximity sensor, and the front and back of the test piece are also determined. Inversion is performed with a lever, the test piece is moved out of the hopper, and photometry is performed without going through an excess urine removal step.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】真空吸引の対象物が、
例えば、尿、血液等の液体試料中に浸漬される試験片で
あるため、エアー管路の異常を起こし易い。更に、試験
片のストリップは直線的なものばかりではなく、ボーイ
ングといわれる反りが発生した試験片が複数個含まれて
おり、上記スライドベース方式では、ボーイングのある
試験片をスライドさせ、ホッパー外へ移動させることが
困難である。
The object of vacuum suction is
For example, since the test piece is immersed in a liquid sample such as urine or blood, the air channel is likely to be abnormal. Further, the strip of the test piece is not only a straight one, but also includes a plurality of warped test pieces called bowing. In the above-mentioned slide base method, the bowed test piece is slid and moved out of the hopper. Difficult to move.

【0006】本発明の目的は、真空吸引方式に起因する
前記詰まりの問題点を解決することと、試験片ボトルに
収納されている試験片のストリップに反りが発生した試
験片であっても、真空吸引方式を採用することにより、
試験片ボトルから1本の試験片を確実に取り出すため
に、試験片が試験片吸着機構またはピックアップ機構の
吸引孔に吸着しているかを判別でき、1本の試験片を吸
着保持しながら取り出し、試験片の表裏を判別し、試験
片の表裏が正しくない場合は、試験片を吸着保持しなが
ら反転させ、例えば、試験パッドを上向きにし、再度試
験片の表裏を判別し、試験片を吸着保持しながらハンド
リングチャックに引き渡し、試料容器の液体試料に浸漬
後、過剰液を吸引する一連の工程を処理することのでき
る連続自動液体試料分析装置の真空吸引方法およびその
真空吸引回路装置を提案するものである。
SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to solve the above-mentioned problem of clogging caused by a vacuum suction system, and to provide a test strip having a warp in a strip of a test piece stored in a test piece bottle. By adopting the vacuum suction method,
In order to reliably remove one test piece from the test piece bottle, it is possible to determine whether the test piece has been sucked into the suction hole of the test piece suction mechanism or the pickup mechanism, and take out one test piece while holding it by suction. Determine the front and back of the test piece.If the front and back of the test piece are not correct, turn the test piece upside down while holding it by suction.For example, turn the test pad upward, discriminate the front and back of the test piece, and hold the test piece by suction. Proposed a vacuum suction method and a vacuum suction circuit device for a continuous automatic liquid sample analyzer capable of processing a series of steps of sucking an excess liquid after being transferred to a handling chuck while being immersed in a liquid sample in a sample container. It is.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の試験片の真空吸引回路装置は、試験片に液
体試料を付着せしめ、液体試料と試験片上に設けた試薬
との反応で発色した部分を光学的に測定することにより
液体試料中の成分を分析する連続自動液体試料分析装置
において、真空ポンプと、複数の試験片が収納された試
験片ボトルから試験片を吸着して取り出すピックアップ
機構に設けた吸引孔、取り出した試験片の表裏を判別す
る表裏判別機構に設けた吸引孔、試験片のパッド面が下
側にある場合に試験片を反転する表裏反転機構に設けた
吸引孔、試験片の表裏をさらに判別し、ハンドリングチ
ャックに引き渡すターンテーブル機構に設けた吸引孔の
少なくとも1以上を、マニホールドおよび開閉弁を介し
て前記真空ポンプに選択的に接続するエアー管路と、前
記エアー管路内の少なくとも1ケ所に設けた圧力センサ
ーと、を含み、前記開閉弁の選択的操作および前記圧力
センサーの出力に基づいて、試験片を取り出し、保持
し、試験片の表裏を判別し、試験片の表裏を反転し、試
験片の表裏を再度判別し、次のハンドリングチャックに
移送することを特徴とする。
In order to achieve the above object, a vacuum suction circuit device for a test piece according to the present invention comprises a liquid sample adhered to a test piece, and a reaction between the liquid sample and a reagent provided on the test piece. In a continuous automatic liquid sample analyzer that analyzes the components in a liquid sample by optically measuring the colored portion, a vacuum pump and a test piece are adsorbed from a test piece bottle containing a plurality of test pieces. A suction hole provided in the pickup mechanism to be taken out, a suction hole provided in the front / back discrimination mechanism for discriminating the front and back of the taken out test piece, and a front and back inversion mechanism for inverting the test piece when the pad surface of the test piece is on the lower side. The suction pump and the front and back of the test piece are further determined, and at least one of the suction holes provided in the turntable mechanism to be transferred to the handling chuck is connected to the vacuum pump through a manifold and an on-off valve. A test piece is taken out based on the selective operation of the on-off valve and the output of the pressure sensor, including an air line to be selectively connected, and a pressure sensor provided in at least one place in the air line. , Holding, discriminating the front and back of the test piece, inverting the front and back of the test piece, discriminating the front and back of the test piece again, and transferring to the next handling chuck.

【0008】さらに、本発明の試験片の真空吸引回路装
置は、複数の試験片が収納された試験片ボトルから試験
片を吸着して取り出すピックアップ機構に設けた吸引
孔、取り出した試験片の表裏を判別する表裏判別機構に
設けた吸引孔、試験片のパッド面が下側にある場合に試
験片を反転する表裏反転機構に設けた吸引孔、試験片の
表裏を再度判別し、ハンドリングチャックに移送するタ
ーンテーブル機構に設けた吸引孔の少なくとも1以上が
配置された試験片チャンバーと、マニホールドを介して
開閉弁に選択的に接続するエアー管路と、よりなり、前
記開閉弁の選択的操作に基づいて前記エアー管路の気圧
を常圧に復帰させることを特徴とする。
Further, the vacuum suction circuit device for test pieces of the present invention has a suction hole provided in a pickup mechanism for sucking and taking out test pieces from a test piece bottle containing a plurality of test pieces, and a front and back face of the taken out test pieces. The suction hole provided in the front / back discrimination mechanism for discriminating between the front and back, the suction hole provided in the front / back inversion mechanism for reversing the test piece when the pad surface of the test piece is on the lower side, the front and back of the test piece are discriminated again, and the handling chuck is A test piece chamber in which at least one or more of suction holes provided in a turntable mechanism for transferring is arranged, and an air pipe selectively connected to an on-off valve via a manifold, and selectively operating the on-off valve The air pressure in the air line is returned to normal pressure based on

【0009】さらに、本発明の試験片の真空吸引回路装
置は、試験片に液体試料を付着せしめ、液体試料と試験
片上に設けた試薬との反応で発色した部分を光学的に測
定することにより液体試料中の成分を分析する連続自動
液体試料分析装置において、真空ポンプと、過剰液吸引
機構に設けられた吸引孔と密閉された過剰液廃棄タンク
を開閉弁を介して前記真空ポンプに接続するエアー管路
と前記エアー管路内の少なくとも1ケ所に設けられた圧
力センサーと、を含み、前記開閉弁の選択的操作および
前記圧力センサーの出力に基づいて、少なくとも前記真
空ポンプの能力が、前記過剰液吸引機構に設けられた吸
引孔の詰まりを確認し得る、試験片の過剰液を吸引する
ことを特徴とする。
Further, the test piece vacuum suction circuit device of the present invention is a method of adhering a liquid sample to a test piece and optically measuring a portion colored by a reaction between the liquid sample and a reagent provided on the test piece. In a continuous automatic liquid sample analyzer for analyzing components in a liquid sample, a vacuum pump, a suction hole provided in an excess liquid suction mechanism, and a sealed excess liquid waste tank are connected to the vacuum pump via an on-off valve. An air line and a pressure sensor provided in at least one place in the air line, and based on the selective operation of the on-off valve and the output of the pressure sensor, at least the capacity of the vacuum pump is It is characterized in that the excess liquid of the test piece is sucked so that clogging of the suction hole provided in the excess liquid suction mechanism can be confirmed.

【0010】さらに、本発明の試験片の真空吸引方法
は、試験片に液体試料を付着せしめ、液体試料と試験片
上に設けた試薬との反応で発色した部分を光学的に測定
することにより液体試料中の成分を分析する連続自動液
体試料分析装置において、複数の試験片が収納された試
験片ボトル内で1本の試験片を吸着し、前記試験片の吸
着有無を判別し、ピックアップ機構により前記試験片を
取り出し、表裏判別機構により前記試験片の表裏を判別
し、前記試験片のパッド面が上側にある場合には、前記
試験片をターンテーブルに載置し、前記試験片のパッド
面が下側にある場合には、表裏反転機構により前記試験
片を反転し、ターンテーブルに載置し、再度、ターンテ
ーブル機構により前記試験片の表裏を判別し、前記試験
片のパッド面が上側にある場合には、前記試験片を吸着
保持してハンドリングチャックに移送し、前記試験片の
パッド面が下側にある場合には、表裏反転機構により前
記試験片を吸着保持し、さらに前記試験片を逆反転し、
前記試験片を試薬テーブルに載置し、前記試験片をター
ンテーブルに移送し、さらに再びターンテーブル機構に
より前記試験片の表裏を判別し、前記試験片のパッド面
が上側にある場合には、前記試験片を吸着保持してハン
ドリングチャックに引き渡し、前記試験片のパッド面が
下側にある場合には、システムを停止し、試料容器の液
体試料に前記試験片を浸漬後、試薬に付着した過剰液を
前記試験片の引き上げと同時に、吸引し、前記試験片を
分析装置に移送することを特徴とする。
Further, the vacuum suction method for a test piece according to the present invention comprises the steps of: adhering a liquid sample to the test piece; and optically measuring a portion colored by a reaction between the liquid sample and a reagent provided on the test piece. In a continuous automatic liquid sample analyzer that analyzes components in a sample, one test piece is adsorbed in a test piece bottle containing a plurality of test pieces, and the presence or absence of the test piece is determined. Take out the test piece, determine the front and back of the test piece by the front and back discrimination mechanism, if the pad surface of the test piece is on the upper side, place the test piece on a turntable, the pad surface of the test piece When the test piece is on the lower side, the test piece is inverted by the front / back inverting mechanism, placed on the turntable, and again, the front and back of the test piece are determined by the turntable mechanism, and the pad surface of the test piece is on the upper side In some cases, the test piece is sucked and held and transferred to a handling chuck, and when the pad surface of the test piece is on the lower side, the test piece is sucked and held by a front / back inversion mechanism, and further the test piece is held. And reverse
The test piece is placed on a reagent table, the test piece is transferred to a turntable, and again the front and back of the test piece are determined by a turntable mechanism.If the pad surface of the test piece is on the upper side, The test piece was sucked and held and delivered to the handling chuck, and when the pad surface of the test piece was on the lower side, the system was stopped, and the test piece was immersed in the liquid sample of the sample container, and then adhered to the reagent. The excess liquid is suctioned at the same time as the test piece is pulled up, and the test piece is transferred to an analyzer.

【0011】[0011]

【実施例】図1は、本発明の試験片取り出し部の全体側
面図である。破線により包囲された部分は、内部が気密
状態であることを示す。それ以外の部分は、通常気圧で
ある。ボトル吸着機構、ピックアップ機構、表裏判別機
構、表裏反転機構、ターンテーブル機構のそれぞれの吸
引孔と電磁弁と真空ポンプとの間にエアー管が配設され
ているが、本図においては省略されている。図1におい
て、試験片チャンバー7の内部に試験片ボトルを上下/
回転運動させるボトル吸着機構8、ボトル駆動機構9、
1本の試験片を取り出すピックアップ機構10、試験片
の表裏を判別する表裏判別機構13、試験片のパッド面
を上に揃える表裏反転機構(ピックアップ機構10とタ
ーンテーブルとの間に位置する。)およびモレキュラー
シーブ等の乾燥剤11が配置されている。
FIG. 1 is an overall side view of a test piece take-out part of the present invention. A portion surrounded by a broken line indicates that the inside is airtight. The rest is usually at atmospheric pressure. Air pipes are provided between the suction holes of the bottle suction mechanism, the pickup mechanism, the front / back discrimination mechanism, the front / back reversal mechanism, and the turntable mechanism, the solenoid valve, and the vacuum pump, but are omitted in the drawing. I have. In FIG. 1, a test piece bottle is placed inside a test piece chamber 7 up / down.
A bottle suction mechanism 8, a bottle driving mechanism 9, and a rotating mechanism,
Pickup mechanism 10 for taking out one test piece, front / back discrimination mechanism 13 for discriminating the front and back of the test piece, front / back inversion mechanism for aligning the pad surface of the test piece upward (located between pickup mechanism 10 and turntable). And a desiccant 11 such as a molecular sieve.

【0012】駆動系チャンバー12の内部にステッピン
グモータ16、電磁弁17、圧力センサー18、フィル
ター19、真空ポンプ20が配置されている。試験片チ
ャンバー7と駆動系チャンバー12との隔壁にダイヤフ
ラム15が配置されている。さらに試験片チャンバー7
と駆動系チャンバー12との間の試験片の送出口にター
ンテーブル機構14が配置されている。試験片チャンバ
ー7内のエアーは循環していて、外気との入れ替わりが
最小限になるように設計されている。試験片1上の試験
パッドの劣化をさらに防止するため、試験片ボトルに入
っているモレキュラーシーブ等の乾燥剤11を試験片チ
ャンバー7内に置くことにより、一層低湿度に維持され
る。試験片チャンバー7においては、試験片1の判別お
よび吸着は、エアーの吸引力を利用して制御される。
A stepping motor 16, an electromagnetic valve 17, a pressure sensor 18, a filter 19, and a vacuum pump 20 are arranged inside the drive system chamber 12. A diaphragm 15 is arranged on a partition wall between the test piece chamber 7 and the drive system chamber 12. Further, the test piece chamber 7
A turntable mechanism 14 is disposed at a test piece delivery port between the apparatus and the drive system chamber 12. The air in the test piece chamber 7 is circulating and is designed to minimize the exchange with the outside air. In order to further prevent deterioration of the test pad on the test piece 1, a desiccant 11 such as a molecular sieve contained in a test piece bottle is placed in the test piece chamber 7, so that the humidity is further maintained at a lower level. In the test piece chamber 7, the discrimination and suction of the test piece 1 are controlled using the suction force of air.

【0013】図2および図3は、本発明の真空吸引回路
を示したものであり、図2は、試験片取り出し回路を示
している。図2において、試験片チャンバー7の中に試
験片吸着機構、ピックアップ機構、表裏判別機構、表裏
反転機構、ターンテーブル機構のそれぞれの吸引孔OP
1〜OP5が配設されていることを示している。これら
の吸引孔OP1〜OP5とフィルターf1 〜f5 がそれ
ぞれ連結し、さらに電磁弁V1 〜V5 とが連結してい
る。フィルターf1 〜f5 は、設けなくてもよい。フィ
ルターは、空気中の塵を取り除く働きをする。電磁弁V
1 〜V5 のそれぞれは、マニホールドM1とM2の間に
接続され、マニホールドM1は、試験片チャンバー7に
接続し、マニホールドM2は、圧力センサーS1を経て
真空ポンプP1と接続し、真空ポンプP1は、試験片チ
ャンバー7とそれぞれエアー管を通じて接続している。
FIGS. 2 and 3 show a vacuum suction circuit according to the present invention, and FIG. 2 shows a test piece take-out circuit. In FIG. 2, each suction hole OP of a test piece suction mechanism, a pickup mechanism, a front / back discrimination mechanism, a front / back inversion mechanism, and a turntable mechanism is provided in a test piece chamber 7.
1 to OP5 are arranged. These suction holes OP1~OP5 and filters f 1 ~f 5 is respectively connected, further has an electromagnetic valve V 1 ~V 5 are connected. Filter f 1 ~f 5 may not be provided. The filter works to remove dust from the air. Solenoid valve V
Each 1 ~V 5, is connected between the manifold M1 and M2, manifold M1 is connected to the specimen chamber 7, the manifold M2 is connected to the vacuum pump P1 via the pressure sensor S1, the vacuum pump P1 is , And the test piece chamber 7 are connected to each other through air tubes.

【0014】試験片吸着機構、ピックアップ機構、表裏
判別機構、表裏反転機構、ターンテーブル機構のそれぞ
れの吸引孔OP1〜OP5とそれぞれの電磁弁V1 〜V
5 とマニホールドM2と圧力センサーS1と真空ポンプ
P1に至る回路は、試験片をそれぞれの吸引孔OP1〜
OP5に吸着する働きをする。試験片吸着機構、ピック
アップ機構、表裏判別機構、表裏反転機構、ターンテー
ブル機構のそれぞれの吸引孔OP1〜OP5とそれぞれ
の電磁弁V1 〜V5 とマニホールドM1と試験片チャン
バーに至る回路は、試験片をそれぞれの吸引孔OP1〜
OP5から解放できるように試験片チャンバーの気圧と
同圧にさせる働きをする。
Each of the suction holes OP1 to OP5 of the test piece suction mechanism, the pickup mechanism, the front / back discrimination mechanism, the front / back inversion mechanism, and the turntable mechanism, and the respective solenoid valves V 1 to V
The circuit leading to 5 , the manifold M2, the pressure sensor S1, and the vacuum pump P1 divides the test piece into each of the suction holes OP1 to OP1.
It functions to adsorb to OP5. Specimen suction mechanism, the pickup mechanism, the front and back discrimination mechanism, reversing mechanism, circuits, each of the suction holes OP1~OP5 and respective solenoid valves V 1 ~V 5 and the manifold M1 reaches the specimen chamber of the turntable mechanism is tested The pieces are drawn into the respective suction holes OP1
It works to make it the same pressure as the atmospheric pressure of the test piece chamber so that it can be released from OP5.

【0015】図3は、過剰液吸引回路を示している。図
3において、吸引孔OP6は、密閉された廃棄タンクT
kと接続し、廃棄タンクTkは、電磁弁V6 と接続し、
電磁弁V6 は、フィルターf6 、圧力センサーS2を経
て真空ポンプP2とエアー管を通じて接続している。フ
ィルターf6 は、設けなくてもよい。フィルターは、空
気中の塵を取り除く働きをする。この回路は、試験片を
液体試料に浸漬後、試薬に付着した過剰液を試験片の引
き上げと同時に、吸引する働きをする。
FIG. 3 shows an excess liquid suction circuit. In FIG. 3, a suction hole OP6 is provided in a closed waste tank T.
connected to the k, waste tank Tk is connected to the electromagnetic valve V 6,
Solenoid valve V 6 is connected through a vacuum pump P2 and the air tube through a filter f 6, a pressure sensor S2. Filter f 6 may not be provided. The filter works to remove dust from the air. This circuit works to drip the test piece into the liquid sample and then suck up the excess liquid adhering to the reagent simultaneously with lifting the test piece.

【0016】図4乃至図6は、本発明の試験片吸着機構
8の側面図である。ガイド部24には、試験片1を吸着
するための吸引孔26が設けられている。吸引孔26
は、ボトルホルダー21及びウォーム歯車27に形成さ
れた吸引孔と連通し、さらに図示しない真空ポンプと連
結している。ボトルホルダー21には、ボトルの回転動
作に連動する一対の爪22が設けられている。試験片ボ
トル100が自転往復回転すると、試験片1は、その長
さ方向とほぼ直交する方向に移動し、爪22の作用に補
助されてガイド部材23のガイド部24に試験片が滑り
込む。ガイド部24に滑り込んだ試験片1は、吸引孔2
6に吸着され、ガイド部24から滑り落ちない。ガイド
部24に2枚以上の複数の試験片が滑り込んだ場合、2
枚目以上の試験片1は吸引孔26に吸着されず、ガイド
部材23の自転往復回転および爪22の作用により余分
な試験片1は滑り落ち、1枚だけガイド部24に吸着さ
れる。したがって、試験片ボトル100から1枚ずつ試
験片1を試験片引出用窓25から引き出すことができ
る。
FIGS. 4 to 6 are side views of the test piece suction mechanism 8 of the present invention. The guide portion 24 is provided with a suction hole 26 for sucking the test piece 1. Suction hole 26
Is connected to a suction hole formed in the bottle holder 21 and the worm gear 27, and further connected to a vacuum pump (not shown). The bottle holder 21 is provided with a pair of claws 22 interlocked with the rotation of the bottle. When the test piece bottle 100 rotates reciprocally, the test piece 1 moves in a direction substantially perpendicular to the length direction thereof, and the test piece slides into the guide portion 24 of the guide member 23 with the aid of the action of the claw 22. The test piece 1 slid into the guide portion 24 is
6 and does not slide down from the guide portion 24. When two or more test pieces slide into the guide portion 24, 2
The first and subsequent test pieces 1 are not attracted to the suction holes 26, and the extra test pieces 1 slide down due to the reciprocating rotation of the guide member 23 and the action of the claws 22, and only one piece is attracted to the guide portion 24. Therefore, the test pieces 1 can be pulled out of the test piece bottle 100 from the test piece pull-out window 25 one by one.

【0017】図7は、本発明のピックアップ機構の側面
図である。破線は、試験片ボトル100が、図示しない
試験片ボトル回転用モータにより駆動され、斜め上方の
位置Aに上昇していることを示す。この動作により試験
片1が下方に移動する。 エアーチャック28は、図示
しない真空ポンプにエアー管38を介して連結した吸引
孔37が形成されている。エアーチャック28の吸着部
の幅は、試験片1の幅と略同一の幅である。この試験片
吸着機構には、図4乃至図6に示されるように吸引孔2
6が配置されており、この試験片吸着機構で必ず1本の
試験片を吸着するため、ピックアップ機構には、余分の
試験片を除去する働きをするフラッパは必要とされな
い。
FIG. 7 is a side view of the pickup mechanism of the present invention. The dashed line indicates that the test piece bottle 100 is driven by a test piece bottle rotation motor (not shown), and has risen to a position A obliquely upward. By this operation, the test piece 1 moves downward. The air chuck 28 has a suction hole 37 connected to a vacuum pump (not shown) via an air pipe 38. The width of the suction part of the air chuck 28 is substantially the same as the width of the test piece 1. As shown in FIG. 4 to FIG.
6 are arranged, and one test piece is always sucked by the test piece suction mechanism. Therefore, the pickup mechanism does not require a flapper that functions to remove excess test pieces.

【0018】図8は別のピックアップ機構の側面図であ
る。破線は、試験片ボトル100がガイド板65に沿っ
て回転し、斜め上方の位置Bに上昇し、試験片1の先端
を揃える動作を示している。フラッパ78が、試験片1
を図7のエアーチャック28に平行に整列させるよう
に、エアーチャック28の両側面に配置され、試験片1
が、2枚以上斜めに重なり合ってエアーチャック28に
吸着された場合、フラッパ78を閉じると、1枚目の試
験片のみがエアーチャック28に吸着され、2枚目以上
の試験片1は、エアーチャック28から脱落する。エア
ー管68は、エアーチャック28の吸引孔67に接続さ
れている。
FIG. 8 is a side view of another pickup mechanism. The dashed line indicates an operation in which the test piece bottle 100 rotates along the guide plate 65 and rises to a position B obliquely upward to align the tips of the test pieces 1. Flapper 78 is the test piece 1
Are arranged on both sides of the air chuck 28 so as to be aligned in parallel with the air chuck 28 of FIG.
However, when two or more sheets are obliquely overlapped and are sucked by the air chuck 28, when the flapper 78 is closed, only the first test piece is sucked by the air chuck 28 and the second or more test pieces 1 It falls off the chuck 28. The air pipe 68 is connected to a suction hole 67 of the air chuck 28.

【0019】図9は、本発明の試験片表裏判別機構の斜
視図である。搬送ステージ41には、エアーチャックに
吸着された試験片1が供給される。搬送ステージ41に
は、試験片1を押動するプッシュバー43が移動可能な
ように開口部44が形成されている。さらに、搬送ステ
ージ41には、図示しない真空ポンプに連結した表裏判
別用の2つの吸引孔45が、プッシュバー43で押動さ
れる試験片1の移動方向と直交する方向に形成される。
2つの吸引孔45の間隔は、試験片1の試験パッド3と
試験パッド3との間隙に対応する位置に形成されてい
る。
FIG. 9 is a perspective view of the test piece front / back discrimination mechanism of the present invention. The test piece 1 sucked by the air chuck is supplied to the transfer stage 41. An opening 44 is formed in the transfer stage 41 so that a push bar 43 for pushing the test piece 1 can move. Further, two suction holes 45 for front / back discrimination connected to a vacuum pump (not shown) are formed in the transport stage 41 in a direction orthogonal to the moving direction of the test piece 1 pushed by the push bar 43.
The space between the two suction holes 45 is formed at a position corresponding to the gap between the test pads 3 of the test piece 1.

【0020】本発明の表裏反転機構は、試験片1の移動
方向と直交する方向の試験片表裏判別機構45の同一直
線状にあり、図9において、試験片表裏判別機構45の
左側に位置している。略L字状の反転器125は、反転
板126に2つの吸引孔127が形成されている。吸引
孔127は、搬送ステージ41の、試験片1の移動方向
と直交する方向に形成された吸引孔45と一直線状に並
んでいる。反転器125には、歯車128及び歯車12
9を介してモータ130に連結した中空の回転軸131
が取り付けられ、他端はエアー管132を介して図示し
ない真空ポンプに連結している。
The reversing mechanism of the present invention is on the same straight line as the test piece front / back discriminating mechanism 45 in a direction perpendicular to the moving direction of the test piece 1 and is located on the left side of the test piece front / back discriminating mechanism 45 in FIG. ing. The substantially L-shaped reversing device 125 has two suction holes 127 formed in a reversing plate 126. The suction holes 127 are aligned with the suction holes 45 formed in the transport stage 41 in a direction perpendicular to the moving direction of the test piece 1. Inverter 125 includes gear 128 and gear 12
Hollow shaft 131 connected to motor 130 via
The other end is connected to a vacuum pump (not shown) via an air pipe 132.

【0021】本発明のターンテーブル機構は、搬送ステ
ージ41の下部に配置されていて、ターンテーブルの上
面部46が搬送ステージの奥部に配置されている。ター
ンテーブル46は、反転器125が回転軸131を中心
として180度回転して反転板126が移動した位置に
配置されている。リミットスイッチ133、134は、
反転器125が180度回転した位置で停止するように
設けられている。
The turntable mechanism of the present invention is disposed below the transfer stage 41, and the upper surface 46 of the turntable is disposed at the back of the transfer stage. The turntable 46 is disposed at a position where the reversing plate 126 has moved by the reversing device 125 rotating 180 degrees about the rotation axis 131. The limit switches 133 and 134 are
The inverter 125 is provided so as to stop at a position rotated by 180 degrees.

【0022】ターンテーブル46上の例えば、3つの吸
引孔47は、搬送ステージ41上をプッシュバー43で
押動される試験片1の移動方向と直交する方向に並び、
かつ少なくとも1つの吸引孔は試験片1の試験パッド3
と試験パッド3との間隙に対応する位置に形成されてい
る。吸引孔47は、試験片1の表裏を判別し、次の浸漬
段階に移送するときに試験片1が位置ずれしないように
吸着保持する役割をする。
For example, three suction holes 47 on the turntable 46 are arranged in a direction orthogonal to the moving direction of the test piece 1 pushed on the transfer stage 41 by the push bar 43,
And at least one suction hole is provided for the test pad 3 of the test piece 1
The test pad 3 is formed at a position corresponding to a gap between the test pad 3 and the test pad 3. The suction hole 47 plays a role of judging the front and back of the test piece 1 and sucking and holding the test piece 1 so as not to be displaced when the test piece 1 is transferred to the next immersion stage.

【0023】図10は、本発明の過剰液吸引装置の斜視
図である。ハンドリングチャック222は試験片1を把
持し、吸引部208に移送し、次に、試料容器223の
液体試料に浸漬する。吸引部208は基部209と連結
し、さらに基部209は、エアー管取付部210、エア
ー管211に連結している。吸引部208の吸引孔21
2、212´で吸引した過剰液は、基部209、エアー
管取付部210、エアー管211を介して廃棄タンクに
流出する。アーム213は基部209と接合し、基部2
09の水平及び垂直角度、尿ディップ位置を調整するこ
とができる。また、基部209にエアー管取付部210
およびエアー管211を取付けることなく、基部209
に接合したアーム213の他端部にエアー管取付部21
0およびエアー管211を取付けてもよい。この場合、
アーム213は基部209を支持、案内するのみなら
ず、過剰液の通路になる。
FIG. 10 is a perspective view of the excess liquid suction device of the present invention. The handling chuck 222 grips the test piece 1, transfers it to the suction unit 208, and then immerses it in the liquid sample in the sample container 223. The suction unit 208 is connected to the base 209, and the base 209 is connected to the air pipe mounting unit 210 and the air pipe 211. Suction hole 21 of suction unit 208
The excess liquid sucked in at 2, 212 'flows out to the waste tank via the base 209, the air pipe attachment part 210, and the air pipe 211. The arm 213 is joined to the base 209 and
09 horizontal and vertical angles and urine dip position can be adjusted. In addition, the air pipe attachment section 210 is attached to the base 209.
And the base 209 without attaching the air pipe 211.
The other end of the arm 213 joined to the
0 and the air pipe 211 may be attached. in this case,
The arm 213 not only supports and guides the base 209, but also serves as a passage for excess liquid.

【0024】[0024]

【作用】本発明の真空吸引回路装置の動作を述べる。既
に新しい試験片ボトルが準備され、液体試料が入った試
料容器が準備されている。本発明の真空吸引回路装置を
スイッチオンすると、ピックアップ回路、過剰液吸引回
路のチェックおよび除湿を行う。さらに、圧力センサ
ー、真空ポンプをチェック後に、試験片チャンバーの除
湿と同時に試験片チャンバーと過剰液吸引回路の詰りを
チェックする。特に、圧力センサーについては、各回路
において、大気圧における出力電圧をを測定し、測定値
が規定の範囲にあるか確認する。測定値が規定の範囲外
にある場合は、圧力センサーの異常であるとしてディス
プレイにエラー表示をする。
The operation of the vacuum suction circuit device of the present invention will be described. A new test piece bottle has already been prepared, and a sample container containing a liquid sample has been prepared. When the vacuum suction circuit device of the present invention is switched on, the pickup circuit and the excess liquid suction circuit are checked and dehumidified. Further, after checking the pressure sensor and the vacuum pump, check the clogging of the test piece chamber and the excess liquid suction circuit simultaneously with the dehumidification of the test piece chamber. In particular, for the pressure sensor, each circuit measures the output voltage at the atmospheric pressure and checks whether the measured value is within a specified range. If the measured value is out of the specified range, an error is displayed on the display as an abnormality of the pressure sensor.

【0025】次に、真空ポンプについては、各回路にお
いて、ポンプ単体で吸引圧を測定し、この値を記憶し、
最大吸引圧100%とする。測定値が規定の範囲外にあ
る場合は、真空ポンプの異常またはエアーリークである
としてディスプレイにエラー表示をする。エアーチャッ
クが試験片を吸着したか否かの判別値および表裏判別の
基準値はこの段階で設定される。試験片チャンバーのエ
アー回路に使用する真空ポンプは、パワーオン後、常時
動作し、電磁弁のオン・オフにてエアーの通過する回路
を切り替えることができる。以上の初期設定動作後にラ
ンモードに移る。
Next, with respect to the vacuum pump, in each circuit, the suction pressure is measured by the pump alone, and this value is stored.
The maximum suction pressure is 100%. If the measured value is out of the specified range, an error is displayed on the display as an abnormality of the vacuum pump or air leak. The discriminating value for determining whether or not the air chuck has sucked the test piece and the reference value for discriminating front and back are set at this stage. The vacuum pump used for the air circuit of the test piece chamber operates constantly after power-on, and can switch the circuit through which air passes by turning on / off the solenoid valve. After the above initial setting operation, the mode shifts to the run mode.

【0026】試験片吸着機構8は、試験片ボトル回転用
モータ(図示せず)を作動させて、図4のボトルホルダ
ー21を、時計方向及び反時計方向に略40度、1往復
回転させると同時に図2の電磁弁V1 がオンする。電磁
弁V1 がオンすると、回路OP1〜V1 〜M2〜P1が
導通する。試験片吸着機構8の中で試験片1は、長さ方
向とほぼ直交する方向に移動して、ガイド部24に試験
片1が滑り込む。滑り込んだ試験片1は、爪22により
ガイド部24に押し込まれる。ガイド部24に試験片1
が2枚以上滑り込んだ場合は、試験片ボトル100の自
転往復回転および爪22の作用により、余分な試験片1
は振り落とされて1枚の試験片のみがガイド部に吸着さ
れる。
The test piece suction mechanism 8 operates a test piece bottle rotation motor (not shown) to rotate the bottle holder 21 of FIG. 4 one reciprocating clockwise and counterclockwise by approximately 40 degrees. solenoid valve V 1 of the Figure 2 are turned on simultaneously. When the solenoid valve V 1 is turned on, the circuit OP1~V 1 ~M2~P1 conducts. The test piece 1 moves in the test piece suction mechanism 8 in a direction substantially perpendicular to the length direction, and the test piece 1 slides into the guide portion 24. The test piece 1 that has slid is pushed into the guide portion 24 by the claw 22. Test piece 1 in the guide part 24
When two or more slides, the extra test piece 1 is caused by the reciprocating rotation of the test piece bottle 100 and the action of the claw 22.
Is shaken off, and only one test piece is sucked to the guide portion.

【0027】ガイド部24に試験片1が吸着されたか否
かの判別は、ガイド部24に設けられた吸引孔26(O
P1)から吸引される空気の真空度を測定して判別す
る。即ち、ガイド部24に試験片1が吸着されている場
合は、真空度は上昇し、一方、試験片1が吸着されない
場合は、真空度が上昇しない。試験片1がガイド部24
に保持されない場合には、さらに試験片ボトル100を
1往復回転させる動作を繰り返す。ガイド部24に試験
片1が吸着された場合、圧力センサーS1がこの回路の
負圧値を検出し、図示しない制御装置にその信号を伝え
ると、制御装置の指令に基づいて、電磁弁V1 は、エア
ーチャック28が下至点にきた時に、オフする。電磁弁
1 がオフすると、回路OP1〜V1 〜M2〜P1は非
導通になり、即座に回路OP1〜V1 〜M1〜試験片チ
ャンバー7が導通する。吸引孔26は、試験片チャンバ
ー7の中の気圧と同圧であるので、次に別の吸引力が加
われば、試験片1は、吸引孔26から離れる。
The determination as to whether the test piece 1 has been sucked by the guide portion 24 is made by a suction hole 26 (O
The degree of vacuum of the air sucked from P1) is measured and determined. That is, when the test piece 1 is sucked by the guide portion 24, the degree of vacuum increases, while when the test piece 1 is not sucked, the degree of vacuum does not increase. The test piece 1 is the guide part 24
If not, the operation of rotating the test piece bottle 100 one reciprocation is further repeated. If the test piece 1 to the guide portion 24 is adsorbed, the pressure sensors S1 detects the negative pressure of the circuit, when transmitting the signal to a control device (not shown), in accordance with an instruction of the control device, the solenoid valve V 1 Is turned off when the air chuck 28 reaches the lower point. When the solenoid valve V 1 is turned off, the circuit OP1~V 1 ~M2~P1 becomes nonconductive, immediately circuit OP1~V 1 ~M1~ specimen chamber 7 becomes conductive. Since the suction hole 26 has the same pressure as the air pressure in the test piece chamber 7, the test piece 1 separates from the suction hole 26 when another suction force is applied next.

【0028】ピックアップ機構は、エアーチャック28
が下至点にきた時に、図示しない制御装置の指令に基づ
いて、電磁弁V2 がオンする。電磁弁V2 がオンする
と、回路OP2〜V2 〜M2〜P1が導通する。エアー
チャック28の吸引孔37は、吸引を開始し、即座に試
験片1は、吸引孔37(OP2)に吸着される。試験片
1は、エアーチャック28の吸引孔37に吸着されたま
ま、試薬テーブル41に運ばれ、エアーチャック28が
試薬テーブル41に試験片1を載置した時、電磁弁V2
がオフする。電磁弁V2 がオフすると、回路OP2〜V
2 〜M2〜P1は非導通になり、即座に回路OP2〜V
2 〜M1〜試験片チャンバー7が導通する。エアーチャ
ック28の吸引孔37は、試験片チャンバー7の中の気
圧と同圧になり、試験片1は、エアーチャック28の吸
引孔37から離脱し、試薬テーブル41に載置される。
図7のフラッパの無いエアーチャックの場合には、エア
ーチャック28に試験片1が吸着されたか否かの判別
は、吸引孔37から吸引される空気の真空度を測定して
行われる。
The pickup mechanism includes an air chuck 28
There When came down end point, on the basis of a command control unit (not shown), the solenoid valve V 2 is turned on. When the solenoid valve V 2 is turned on, the circuit OP2~V 2 ~M2~P1 conducts. The suction hole 37 of the air chuck 28 starts suction, and the test piece 1 is immediately sucked into the suction hole 37 (OP2). The test piece 1 is carried to the reagent table 41 while being sucked by the suction holes 37 of the air chuck 28, and when the air chuck 28 places the test piece 1 on the reagent table 41, the electromagnetic valve V 2
Turns off. When the solenoid valve V 2 is turned off, the circuit OP2~V
2 to M2 to P1 are turned off, and the circuits OP2 to OP2
2 to M1 to the test piece chamber 7 are conducted. The suction hole 37 of the air chuck 28 has the same pressure as the atmospheric pressure in the test piece chamber 7, and the test piece 1 is separated from the suction hole 37 of the air chuck 28 and placed on the reagent table 41.
In the case of the air chuck without a flapper in FIG. 7, whether the test piece 1 is sucked by the air chuck 28 is determined by measuring the degree of vacuum of the air sucked from the suction hole 37.

【0029】図8のフラッパが付設されたエアーチャッ
クの場合には、エアーチャックが試験片1を吸着できた
か否かの判別は、吸引孔37(OP2)から吸引される
空気の真空度により2段階に行われる。第1段階は、試
験片が2枚吸着されていたり斜めに吸着されている場合
に、エアーチャック67の2つの吸引孔37(OP2)
を完全に塞いでいないことが想定されるので、低レベル
の真空度で判定し、第2段階は、フラッパ78を閉じて
試験片1をエアーチャック67に平行に整列させた後
は、高レベルの真空度で判定する。判定レベルは、イニ
シャライズ動作時に、真空ポンプの到達真空度とエアー
チャックの吸引孔が開放された状態の真空度を測定して
最適値に設定される。
In the case of the air chuck provided with the flapper shown in FIG. 8, it is determined whether or not the air chuck was able to suck the test piece 1 based on the degree of vacuum of the air sucked from the suction hole 37 (OP2). It takes place in stages. In the first stage, two suction holes 37 (OP2) of the air chuck 67 are used when two test pieces are sucked or obliquely sucked.
Is not completely closed, the determination is made at a low level of vacuum. In the second stage, after the flapper 78 is closed and the test piece 1 is aligned in parallel with the air chuck 67, the high level is determined. Is determined by the degree of vacuum. The determination level is set to an optimum value by measuring the ultimate vacuum degree of the vacuum pump and the vacuum degree in a state where the suction hole of the air chuck is opened during the initialization operation.

【0030】表裏判別機構においては、試験片1が、試
薬テーブル41に載置され、次に、プッシュバー43に
押され、試験片1が吸引孔45(OP3)にきた時に、
図示しない制御装置の指令に基づいて、電磁弁V3 がオ
ンする。電磁弁V3 がオンすると、回路OP3〜V3
M2〜P1が導通し、表裏判別機構の吸引孔45が吸引
を開始し、試験片1を瞬間的に吸引して試験片1の表裏
判別をする。圧力センサーS1が回路の真空値を検出
し、図示しない制御装置に伝えると、制御装置は初期設
定されたこの回路の設定値と比較し、一定の真空値が達
成されれば、試験片1が表を向いていると判定し、数秒
後に電磁弁V3 にオフの指令を出す。電磁弁V3 がオフ
すると、回路OP3〜V3 〜M2〜P1は非導通にな
り、即座に回路OP3〜V3 〜M1〜試験片チャンバー
7が導通する。表裏判別機構の吸引孔45は、試験片チ
ャンバー7の中の気圧と同圧になり、次に、モータ12
2を作動させて試験片1をプッシュバー43で押動して
ターンテーブル46上まで搬送する。
In the front / back discrimination mechanism, when the test piece 1 is placed on the reagent table 41 and then pushed by the push bar 43, and when the test piece 1 comes to the suction hole 45 (OP3),
On the basis of a command control unit (not shown), the solenoid valve V 3 is turned on. When the electromagnetic valve V 3 is turned on, the circuit OP3~V 3 ~
M2 to P1 conduct, the suction hole 45 of the front / back discrimination mechanism starts suction, and the test piece 1 is instantaneously suctioned to discriminate the front and back of the test piece 1. When the pressure sensor S1 detects the vacuum value of the circuit and transmits it to a controller (not shown), the controller compares the vacuum value with the initially set value of this circuit. It determined facing table and issues a command off after a few seconds the solenoid valve V 3. When the electromagnetic valve V 3 is turned off, the circuit OP3~V 3 ~M2~P1 is rendered non-conductive, real circuit OP3~V 3 ~M1~ specimen chamber 7 is rendered conductive. The suction hole 45 of the front / back discrimination mechanism has the same pressure as the atmospheric pressure in the test piece chamber 7.
2 is operated to push the test piece 1 with the push bar 43 and transport the test piece 1 onto the turntable 46.

【0031】表裏反転機構は、圧力センサーS1が表裏
判別機構の吸引孔45からの回路の真空値を検出し、図
示しない制御装置に伝えると、制御装置は初期設定され
たこの回路の設定値と比較し、一定の真空値が達成され
なければ、試験片1が裏を向いていると判定し、電磁弁
3 をオフし、電磁弁V4 をオンする。電磁弁V4 がオ
ンすると、回路OP4〜V4 〜M2〜P1が導通する。
試験片1の把持部4は、反転器125の吸引孔127に
吸着されたまま、モータ30が駆動し、反転器125が
180°回転し、試験片1が表を向くようにターンテー
ブル46上に載置される。この時、電磁弁V4 はオフす
る。電磁弁V4 がオフすると、回路OP4〜V4 〜M2
〜P1が非導通になり、直ちに、回路OP4〜V4 〜M
1〜試験片チャンバー7が導通する。したがって、試験
片1は試験パッド3を上向きにターンテーブル46に載
置される。
When the pressure sensor S1 detects the vacuum value of the circuit from the suction hole 45 of the front / back discrimination mechanism and transmits the vacuum value to a control device (not shown), the control device sets the initial setting value of this circuit to the value. comparison, if the constant vacuum value is achieved, it is determined that the test piece 1 is facing the back, turning off the solenoid valve V 3, to turn on the solenoid valve V 4. When the solenoid valve V 4 is turned on, the circuit OP4~V 4 ~M2~P1 conducts.
The gripper 4 of the test piece 1 is held by the suction hole 127 of the reversing device 125 while the motor 30 is driven, the reversing device 125 is rotated by 180 °, and the test piece 1 is turned on the turntable 46 so that the test piece 1 faces the front. Placed on At this time, the electromagnetic valve V 4 is turned off. When the solenoid valve V 4 is turned off, the circuit OP4~V 4 ~M2
~P1 becomes nonconductive, immediately circuit OP4~V 4 ~M
1 to the test piece chamber 7 conduct. Therefore, the test piece 1 is placed on the turntable 46 with the test pad 3 facing upward.

【0032】ターンテーブル機構は、試験片1がターン
テーブル46に載置されると、電磁弁V5 がオンする。
電磁弁V5 がオンすると、回路OP5〜V5 〜M2〜P
1が導通し、ターンテーブル46の吸引孔47が吸引を
開始し、試験片1を吸引する。次にターンテーブル46
上で試験片1を瞬間的に吸引して、試験片1の表裏を判
別する。圧力センサーS1が回路の真空値を検出し、図
示しない制御装置に伝えると、制御装置は初期設定され
たこの回路の設定値と比較し、一定の真空値が達成され
れば、試験片1が表を向いていると判定し、試験片1を
ターンテーブル46上に吸着させながら、図示しないモ
ータを駆動させてターンテーブル46を下降させ、試験
片1を次の試験片浸漬段階に送る。また、圧力センサー
S1が回路の真空値を検出し、図示しない制御装置に伝
えると、制御装置は初期設定されたこの回路の設定値と
比較し、一定の真空値が達成されなければ、試験片1が
裏を向いていると判定し、モータ130が作動し、反転
器125を試験片1に接近させる。反転器125は、所
定のリミットスイッチ133、134の位置で停止し、
電磁弁5 がオフになり、電磁弁V4 がオンする。
The turntable mechanism specimen 1 when it is placed on the turntable 46, the solenoid valve V 5 are turned on.
When the solenoid valve V 5 are turned on, the circuit OP5~V 5 ~M2~P
1 conducts, the suction hole 47 of the turntable 46 starts suction, and the test piece 1 is sucked. Next, turntable 46
Above the test piece 1 is instantaneously sucked, and the front and back of the test piece 1 are determined. When the pressure sensor S1 detects the vacuum value of the circuit and transmits it to a controller (not shown), the controller compares the vacuum value with the initially set value of this circuit. It is determined that the test piece 1 faces the front, and while the test piece 1 is attracted onto the turntable 46, a motor (not shown) is driven to lower the turntable 46, and the test piece 1 is sent to the next test piece immersion stage. When the pressure sensor S1 detects the vacuum value of the circuit and transmits it to a controller (not shown), the controller compares the value with the initially set value of the circuit. 1 is turned back, the motor 130 is operated, and the inverter 125 is moved closer to the test piece 1. The inverter 125 stops at predetermined limit switches 133 and 134,
Electromagnetic valve 5 is turned off, the solenoid valve V 4 is turned on.

【0033】電磁弁V5 がオフすると、回路OP5〜V
5 〜M2〜P1は非導通になり、即座に回路OP5〜V
5 〜M1〜試験片チャンバー7が導通する。ターンテー
ブル46の吸引孔47は、試験片チャンバーの気圧と同
圧になり、試験片1は、他の吸引力を与えることにより
ターンテーブル46の吸引孔47から解放される。さら
に、図示されない制御装置の指令に基づいて、電磁弁V
4 がオンする。電磁弁V4 がオンすると、回路OP4〜
4 〜M2〜P1が導通し、反転器125の吸引孔12
7が吸引を開始し、試験片1を吸着したまま、反転器1
25が逆方向に180度回転し、試験片1をターンテー
ブル46上から搬送ステージ41上に戻し、試験片1は
表向きになる。反転器125が回転を停止すると、電磁
弁V4 がオフになる。電磁弁V4 がオフになると、回路
OP4〜V4 〜M2〜P1は非導通になり、即座に回路
OP4〜V4 〜M1〜試験片チャンバー7が導通する。
反転器125の吸引孔127は、試験片チャンバー7の
中の気圧と同圧になり、試験片1は、試薬テーブル41
上に載置され、モータ122を作動させて試験片1をプ
ッシュバー43で押動してターンテーブル46上まで送
る。
[0033] When the electromagnetic valve V 5 is turned off, circuit OP5~V
5 to M2 to P1 become non-conductive, and immediately the circuits OP5 to V5
5 to M1 to the test piece chamber 7 are conducted. The suction hole 47 of the turntable 46 has the same pressure as the atmospheric pressure of the test piece chamber, and the test piece 1 is released from the suction hole 47 of the turntable 46 by applying another suction force. Further, based on a command from a control device (not shown), the solenoid valve V
4 turns on. When the solenoid valve V 4 is turned on, the circuit OP4~
V 4 to M 2 to P 1 conduct, and the suction hole 12 of the inverter 125 is turned on.
7 starts suction, and while the test piece 1 is being sucked, the inverter 1
25 rotates 180 degrees in the reverse direction, returns the test piece 1 from the turntable 46 to the transfer stage 41, and the test piece 1 faces up. When inverter 125 stops rotating, the electromagnetic valve V 4 is turned off. When the solenoid valve V 4 is turned off, the circuit OP4~V 4 ~M2~P1 is rendered non-conductive, real circuit OP4~V 4 ~M1~ specimen chamber 7 is rendered conductive.
The suction hole 127 of the inverter 125 has the same pressure as the atmospheric pressure in the test piece chamber 7, and the test piece 1
The test piece 1 is placed on the upper surface, and the test piece 1 is pushed by the push bar 43 by operating the motor 122 to be fed onto the turntable 46.

【0034】ターンテーブル46上で試験片1を再度瞬
間的に吸引して、試験片1の表裏を判断し、圧力センサ
ーS1の検出値が設定値と比較され、図示されない制御
装置が、試験片1が裏を向いていると判別すると、真空
吸着回路装置の動作を中断する。圧力センサーS1の検
出値が設定値と比較され、図示されない制御装置が表を
向いていると判別すると、制御装置は、電磁弁V5 にオ
ンの指令をする。電磁弁V5 がオンすると、回路OP5
〜V5 〜M2〜P1が導通し、ターンテーブル46の吸
引孔47が吸引を開始し、試験片1を吸引する。次に、
試験片1をターンテーブル46上に吸着させながら、図
示しないモータを駆動させてターンテーブル46を下降
させて、試験片1を次の試験片浸漬段階に送る。搬送テ
ーブル41上では、次の試験片が供給され、上記動作が
繰り返される。
The test piece 1 is instantaneously sucked again on the turntable 46, the front and back of the test piece 1 are determined, the detection value of the pressure sensor S1 is compared with a set value, and a control device (not shown) When it is determined that 1 is facing backward, the operation of the vacuum suction circuit device is interrupted. Is compared with the detected value is the set value of the pressure sensor S1, the not shown control device is determined to face the table, the controller sets the command on the solenoid valve V 5. When the solenoid valve V 5 are turned on, the circuit OP5
VV 5 2〜M 2 to P 1 conduct, the suction hole 47 of the turntable 46 starts suction, and the test piece 1 is sucked. next,
While adsorbing the test piece 1 on the turntable 46, the motor (not shown) is driven to lower the turntable 46, and the test piece 1 is sent to the next test piece immersion stage. On the transport table 41, the next test piece is supplied, and the above operation is repeated.

【0035】搬送ステージ41及びターンテーブル46
の吸引孔45及び47は、プッシュバー43で押動され
る試験片1の試験パッド3と試験パッド3との間隙に対
応する位置に形成されている。したがって、試験片1が
裏を向いている場合には、図11に示すように吸引孔4
7は塞がれないため吸引しても真空度が上がらない。一
方試験片1が表を向いている場合には、図12に示すよ
うに吸引孔47を塞ぐため真空度が上がる。したがっ
て、試験片1を吸引して真空度を圧力センサーS1で測
定することにより、簡単に試験片1の表裏の判別ができ
る。
Transport stage 41 and turntable 46
The suction holes 45 and 47 are formed at positions corresponding to the gaps between the test pads 3 of the test piece 1 pushed by the push bar 43. Therefore, when the test piece 1 is facing backward, as shown in FIG.
7 is not closed, so that the degree of vacuum does not increase even when sucked. On the other hand, when the test piece 1 is facing up, the degree of vacuum increases because the suction hole 47 is closed as shown in FIG. Therefore, by suctioning the test piece 1 and measuring the degree of vacuum with the pressure sensor S1, the front and back of the test piece 1 can be easily determined.

【0036】試験片1の表裏の判別は、搬送ステージ4
1に形成された吸引孔45及びターンテーブル46上に
形成された吸引孔47で行い、さらにターンテーブル4
6上で試験片1が裏を向いていると2回判定されると、
連続自動液体試料分析装置は停止する。これにより試験
片1が裏を向いたまま、次の浸漬段階に搬送されること
はない。
The discrimination of the front and back of the test piece 1 is performed by the transfer stage 4
1 and a suction hole 47 formed on the turntable 46.
6, when it is determined twice that the test piece 1 faces the back,
The continuous automatic liquid sample analyzer stops. As a result, the test piece 1 is not conveyed to the next immersion step while facing backward.

【0037】表裏反転機構の表裏反転の判別は、一定の
真空圧が達成されずに試験片1が裏を向いている信号を
圧力センサーS1が出力すると、反転器125で試験片
1を吸着し(図13)、モータ130(図示せず)を作
動させて反転器125を180度回転させて(図1
4)、試験片1が表を向くようにターンテーブル46上
に乗せる(図15)。電磁弁V1 〜V5 のオン・オフ
は、圧力センサーS1により吸引圧を検出され、図示さ
れない制御装置に制御される。
When the pressure sensor S1 outputs a signal indicating that the test piece 1 is facing the back without achieving a constant vacuum pressure, the test piece 1 is sucked by the inverter 125. (FIG. 13), the motor 130 (not shown) is operated to rotate the inverter 125 by 180 degrees (FIG. 1).
4) Place the test piece 1 on the turntable 46 so that the test piece 1 faces up (FIG. 15). On-off solenoid valve V 1 ~V 5 is detected suction pressure by the pressure sensor S1, it is controlled to not shown control device.

【0038】過剰尿吸引機構は、図10において、ハン
ドリングチャック222が試料容器223の設定された
下至点に到着した時、電磁弁V6 は、オンされる。電磁
弁V6 が、オンすると、図2乃至図3において、回路O
P6〜V6 〜P2が導通する。真空ポンプP2の吸引力
により、過剰尿が廃棄タンクTkに流入する。ハンドリ
ングチャック222が吸引部208の上至点に到着した
時、電磁弁V6 は、オフする。電磁弁V6 が、オフする
と、回路OP6〜V6 〜P2は非導通となり、吸引孔2
12から吸引されない。電磁弁V6 のオン・オフは、図
示されない制御装置によって制御されている。このエア
ー回路の真空値の状態は、圧力センサーS2によって検
出され、過剰尿吸引機構は、図示されない制御装置によ
り制御される。
In the excess urine suction mechanism, the solenoid valve V 6 is turned on when the handling chuck 222 reaches the set lower point of the sample container 223 in FIG. When the solenoid valve V 6 is turned on, the circuit O in FIGS.
P6~V 6 ~P2 is turned on. Excess urine flows into the waste tank Tk by the suction force of the vacuum pump P2. When handling chuck 222 has arrived at the end point on the suction unit 208, the solenoid valve V 6 is turned off. Solenoid valve V 6 is turned off, the circuit OP6~V 6 ~P2 becomes non-conductive, the suction holes 2
No suction from 12 On-off solenoid valve V 6 is controlled by unillustrated control device. The state of the vacuum value of the air circuit is detected by the pressure sensor S2, and the excess urine suction mechanism is controlled by a control device (not shown).

【0039】[0039]

【発明の効果】本発明は、試験片ボトルに収納されてい
る試験片のストリップに反りが発生した試験片であって
も、真空吸引方式を採用することにより、試験片ボトル
から1本の試験片を確実に取り出し、試験片がピックア
ップ機構の吸引孔に吸着しているかを判別し、1本の試
験片を吸着保持しながら取り出し、試験片の表裏を判別
し、試験片のストリップが上向きの場合は、試験片を吸
着保持しながら反転し、試験パッドを上向きにし、更に
試験片の表裏を判別し、試験片を吸着保持しながらハン
ドリングチャックに引き渡し、試料容器の液体試料に浸
漬後、過剰液体試料を吸引する一連の工程を処理するこ
とのできる。
As described above, according to the present invention, even if a strip of a test piece stored in the test piece bottle is warped, one test piece can be removed from the test piece bottle by employing a vacuum suction method. Remove the test piece securely, determine whether the test piece is sucked into the suction hole of the pickup mechanism, take out one test piece while holding it by suction, determine the front and back of the test piece, and make sure that the test strip is facing upward. In this case, turn the test piece upside down while holding it by suction, turn the test pad upward, discriminate the front and back of the test piece, deliver the test piece to the handling chuck while holding it by suction, immerse it in the liquid sample in the sample container, and A series of steps for aspirating a liquid sample can be processed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の試験片取り出し装置の斜視図である。FIG. 1 is a perspective view of a test piece take-out apparatus of the present invention.

【図2】本発明の試験片取り出し回路である。FIG. 2 is a test piece take-out circuit of the present invention.

【図3】本発明の過剰尿吸引回路である。FIG. 3 is an excess urine suction circuit of the present invention.

【図4】本発明の試験片吸着機構の要部断面図である。FIG. 4 is a sectional view of a main part of the test piece suction mechanism of the present invention.

【図5】本発明の試験片吸着機構の要部断面図である。FIG. 5 is a sectional view of a main part of the test piece suction mechanism of the present invention.

【図6】本発明の試験片吸着機構の要部断面図である。FIG. 6 is a sectional view of a main part of the test piece suction mechanism of the present invention.

【図7】本発明の試験片吸着機構およびピックアップ機
構の要部背面図である。
FIG. 7 is a rear view of a main part of the test piece suction mechanism and the pickup mechanism of the present invention.

【図8】本発明の別の試験片吸着機構およびピックアッ
プ機構の要部背面図である。
FIG. 8 is a main part rear view of another test piece suction mechanism and a pickup mechanism of the present invention.

【図9】本発明の表裏判別機構、表裏反転機構、ターン
テーブル機構の斜視図である。
FIG. 9 is a perspective view of a front / back discrimination mechanism, a front / back inversion mechanism, and a turntable mechanism of the present invention.

【図10】本発明の過剰尿吸引機構の要部斜視図であ
る。
FIG. 10 is a perspective view of a main part of the excess urine suction mechanism of the present invention.

【図11】本発明のターンテーブル機構の表裏判別動作
の説明図である。
FIG. 11 is an explanatory diagram of a front / back discrimination operation of the turntable mechanism of the present invention.

【図12】本発明のターンテーブル機構の表裏判別動作
の説明図である。
FIG. 12 is an explanatory diagram of a front / back discrimination operation of the turntable mechanism of the present invention.

【図13】本発明の表裏反転機構の表裏反転動作の説明
図である。
FIG. 13 is an explanatory diagram of a front / back inversion operation of the front / back inversion mechanism of the present invention.

【図14】本発明の表裏反転機構の表裏反転動作の説明
図である。
FIG. 14 is an explanatory diagram of a front / back inversion operation of the front / back inversion mechanism of the present invention.

【図15】本発明のターンテーブル機構の表裏判別動作
の説明図である。
FIG. 15 is an explanatory diagram of a front / back discrimination operation of the turntable mechanism of the present invention.

【図16】本発明の試験片の斜視図である。FIG. 16 is a perspective view of a test piece of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 試験片 2 ストリップ 3 試験パッド 4 把持部 5 基材 6 側部領域 7 試験片チャンバー 8 試験片吸着機構 9 ボトル駆動機構 10 ピックアップ機構 11 乾燥剤 12 駆動系チャンバー 13 表裏判別機構 14 ターンテーブル機構 15 ダイヤフラム 16 ステッピングモーター 17 電磁弁 18 圧力センサー 19 フィルター 20 真空ポンプ 21 ボトルホルダー 22 爪 23 ガイド部材 24 ガイド部 25 試験片引出用窓 26 吸引孔 27 ウォーム歯車 28 エアーチャック 37 吸引孔 38 エアー管 41 搬送ステージ 43 プッシュバー 44 開口部 45 吸引孔 47 吸引孔 65 ガイド板 67 吸引孔 78 フラッパ 100 試験片ボトル 125 反転器 126 反転板 127 吸引孔 128 歯車 129 歯車 130 モータ 131 回転軸 132 エアー管 133 リミットスイッチ 134 リミットスイッチ 208 吸引部 209 基部 210 エアー管取付部 211 エアー管 213 アーム 222 ハンドリングチャック 223 試料容器 OP1 試験片吸着機構の吸引孔 OP2 ピックアップ機構の吸引孔 OP3 表裏判別機構の吸引孔 OP4 表裏反転機構の吸引孔 OP5 ターンテーブル機構の吸引孔 OP6 過剰尿吸引機構の吸引孔 f1 〜f6 フィルター V1 〜V6 電磁弁 M1,M2 マニホールド S1,S2 圧力センサー P1,P2 真空ポンプ Tk 廃棄タンクDESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Test piece 2 Strip 3 Test pad 4 Gripping part 5 Base material 6 Side area 7 Test piece chamber 8 Test piece adsorption mechanism 9 Bottle drive mechanism 10 Pickup mechanism 11 Desiccant 12 Drive system chamber 13 Front / back discrimination mechanism 14 Turntable mechanism 15 Diaphragm 16 Stepping motor 17 Solenoid valve 18 Pressure sensor 19 Filter 20 Vacuum pump 21 Bottle holder 22 Claw 23 Guide member 24 Guide part 25 Test piece withdrawal window 26 Suction hole 27 Worm gear 28 Air chuck 37 Suction hole 38 Air tube 41 Transport stage 43 Push bar 44 Opening 45 Suction hole 47 Suction hole 65 Guide plate 67 Suction hole 78 Flapper 100 Test piece bottle 125 Inverter 126 Inversion plate 127 Suction hole 128 Gear 129 Gear 130 Motor 1 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Rotation axis 132 Air pipe 133 Limit switch 134 Limit switch 208 Suction part 209 Base 210 Air pipe attachment part 211 Air pipe 213 Arm 222 Handling chuck 223 Sample container OP1 Suction hole of test piece adsorption mechanism OP2 Suction hole of pickup mechanism OP3 mechanism suction holes f 1 of the suction holes OP4 suction holes OP6 excess urine suction mechanism of the suction holes OP5 turntable mechanism reversing mechanism ~f 6 filter V 1 ~V 6 solenoid valves M1, M2 manifold S1, S2 pressure sensors P1, P2 Vacuum pump Tk Waste tank

フロントページの続き (56)参考文献 特開 平5−256783(JP,A) 特開 平5−264557(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01N 35/04 B25J 15/06 B65G 47/91 Continuation of the front page (56) References JP-A-5-256783 (JP, A) JP-A-5-264557 (JP, A) (58) Fields investigated (Int. Cl. 7 , DB name) G01N 35 / 04 B25J 15/06 B65G 47/91

Claims (4)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 試験片に液体試料を付着せしめ、液体試
料と試験片上に設けた試薬との反応で発色した部分を光
学的に測定することにより液体試料中の成分を分析する
連続自動液体試料分析装置において、 真空ポンプと、 複数の試験片が収納された試験片ボトルから試験片を吸
着して取り出すピックアップ機構に設けた吸引孔、取り
出した試験片の表裏を判別する表裏判別機構に設けた吸
引孔、試験片のパッド面が下側にある場合に試験片を反
転する表裏反転機構に設けた吸引孔、試験片の表裏をさ
らに判別し、ハンドリングチャックに引き渡すターンテ
ーブル機構に設けた吸引孔の少なくとも1以上を、マニ
ホールドおよび開閉弁を介して前記真空ポンプに選択的
に接続するエアー管路と、 前記エアー管路内の少なくとも1ケ所に設けた圧力セン
サーと、 を含み、前記開閉弁の選択的操作および/または前記圧
力センサーの出力に基づいて、試験片を取り出し、保持
し、試験片の表裏を判別し、試験片の表裏を反転し、試
験片の表裏を再度判別し、次のハンドリングチャックに
移送する動作の少なくとも1つを選択的に実行させるこ
とを特徴とする真空吸引回路装置。
1. A continuous automatic liquid sample in which a liquid sample is adhered to a test piece, and a component in the liquid sample is analyzed by optically measuring a color portion formed by a reaction between the liquid sample and a reagent provided on the test piece. In the analyzer, a vacuum pump, a suction hole provided in a pickup mechanism for sucking and removing a test piece from a test piece bottle containing a plurality of test pieces, and a front / back discrimination mechanism for distinguishing front and back of the taken out test piece are provided. Suction holes, suction holes provided in the front / back reversing mechanism that reverses the test piece when the pad surface of the test piece is on the lower side, and suction holes provided in the turntable mechanism that further distinguishes the front and back of the test piece and transfers it to the handling chuck An air line for selectively connecting at least one of the above to the vacuum pump through a manifold and an on-off valve; and a pressure provided at at least one position in the air line. Removing a test piece based on the selective operation of the on-off valve and / or the output of the pressure sensor, determining the front and back of the test piece, inverting the front and back of the test piece, and A vacuum suction circuit device characterized by re-determining the front and back of a test piece and selectively executing at least one of operations of transferring the test piece to a next handling chuck.
【請求項2】 複数の試験片が収納された試験片ボトル
から試験片を吸着して取り出すピックアップ機構に設け
た吸引孔、取り出した試験片の表裏を判別する表裏判別
機構に設けた吸引孔、試験片のパッド面が下側にある場
合に試験片を反転する表裏反転機構に設けた吸引孔、試
験片の表裏を再度判別し、ハンドリングチャックに移送
するターンテーブル機構に設けた吸引孔の少なくとも1
以上が配置された試験片チャンバーと、マニホールドを
介して開閉弁に選択的に接続するエアー管路と、を含
み、前記開閉弁の選択的操作に基づいて前記エアー管路
の気圧を常圧に復帰させることを特徴とする真空吸引回
路装置。
2. A suction hole provided in a pickup mechanism for sucking and taking out a test piece from a test piece bottle containing a plurality of test pieces, a suction hole provided in a front / back discriminating mechanism for distinguishing front and back of the taken out test piece, At least one of the suction holes provided in the reversing mechanism for reversing the test piece when the pad surface of the test piece is on the lower side, and the suction holes provided in the turntable mechanism for re-determining the front and back of the test piece and transferring the same to the handling chuck. 1
A test piece chamber in which the above is arranged, and an air line selectively connected to an on-off valve via a manifold, including a pressure of the air line to normal pressure based on a selective operation of the on-off valve. A vacuum suction circuit device that is returned.
【請求項3】 試験片に液体試料を付着せしめ、液体試
料と試験片上に設けた試薬との反応で発色した部分を光
学的に測定することにより液体試料中の成分を分析する
連続自動液体試料分析装置において、 真空ポンプと、 過剰液吸引機構に設けられた吸引孔と密閉された過剰液
廃棄タンクを開閉弁を介して前記真空ポンプに接続する
エアー管路と前記エアー管路内の少なくとも1ケ所に設
けられた圧力センサーと、 を含み、前記開閉弁の選択的操作および前記圧力センサ
ーの出力に基づいて、少なくとも前記真空ポンプの能
力、前記過剰液吸引機構に設けられた吸引孔の詰まりを
検出し得ることを特徴とする試験片の過剰液を吸引する
ことを特徴とする真空吸引回路装置。
3. A continuous automatic liquid sample in which a liquid sample is attached to a test piece, and a component in the liquid sample is analyzed by optically measuring a portion of the liquid sample and a reagent provided on the test piece to develop a color. In the analyzer, a vacuum pump, an air pipe connecting a suction hole provided in an excess liquid suction mechanism and a sealed excess liquid waste tank to the vacuum pump via an on-off valve, and at least one air pipe in the air pipe. And a pressure sensor provided at two places, based on the selective operation of the on-off valve and the output of the pressure sensor, at least the capacity of the vacuum pump, clogging of the suction hole provided in the excess liquid suction mechanism. A vacuum suction circuit device for suctioning an excess liquid of a test piece, which is detectable.
【請求項4】 試験片に液体試料を付着せしめ、液体試
料と試験片上に設けた試薬との反応で発色した部分を光
学的に測定することにより液体試料中の成分を分析する
連続自動液体試料分析装置において、 複数の試験片が収納された試験片ボトル内で1本の試験
片を吸着し、前記試験片の吸着有無を判別し、ピックア
ップ機構により前記試験片を取り出し、表裏判別機構に
より前記試験片の表裏を判別し、前記試験片のパッド面
が上側にある場合には、前記試験片をターンテーブルに
載置し、前記試験片のパッド面が下側にある場合には、
表裏反転機構により前記試験片を反転し、ターンテーブ
ルに載置し、再度、ターンテーブル機構により前記試験
片の表裏を判別し、前記試験片のパッド面が上側にある
場合には、前記試験片を吸着保持してハンドリングチャ
ックに移送し、前記試験片のパッド面が下側にある場合
には、表裏反転機構により前記試験片を吸着保持し、さ
らに前記試験片を逆反転し、前記試験片を試薬テーブル
に載置し、前記試験片をターンテーブルに移送し、さら
に再びターンテーブル機構により前記試験片の表裏を判
別し、前記試験片のパッド面が上側にある場合には、前
記試験片を吸着保持してハンドリングチャックに引き渡
し、前記試験片のパッド面が下側にある場合には、シス
テムを停止し、試料容器の液体試料に前記試験片を浸漬
後、試薬に付着した過剰液を前記試験片の引き上げと同
時に、吸引し、前記試験片を分析装置に移送する試験片
の真空吸引方法。
4. A continuous automatic liquid sample in which a liquid sample is adhered to a test piece, and a component in the liquid sample is analyzed by optically measuring a portion colored by a reaction between the liquid sample and a reagent provided on the test piece. In the analyzer, one test piece is sucked in a test piece bottle containing a plurality of test pieces, the presence or absence of the test piece is determined, the test piece is taken out by a pickup mechanism, and the front and back discrimination mechanism is used. Determine the front and back of the test piece, if the pad surface of the test piece is on the upper side, place the test piece on a turntable, if the pad surface of the test piece is on the lower side,
The test piece is inverted by a front / back inversion mechanism, placed on a turntable, and again, the front and back of the test piece are determined by a turntable mechanism. When the pad surface of the test piece is on the upper side, the test piece is When the pad surface of the test piece is on the lower side, the test piece is sucked and held by a front / back inversion mechanism, and the test piece is reversely inverted, and the test piece is inverted. Is placed on a reagent table, the test piece is transferred to a turntable, and the turntable mechanism is again used to determine the front and back of the test piece. When the pad surface of the test piece is on the upper side, the test piece is When the pad surface of the test piece is on the lower side, the system is stopped, the test piece is immersed in the liquid sample of the sample container, and adhered to the reagent. Simultaneously with pulling of excess liquid the specimen, suction, vacuum suction method of the test piece transferring the specimen into the analyzer.
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