JP3328760B2 - Chip image recognition device - Google Patents

Chip image recognition device

Info

Publication number
JP3328760B2
JP3328760B2 JP24549895A JP24549895A JP3328760B2 JP 3328760 B2 JP3328760 B2 JP 3328760B2 JP 24549895 A JP24549895 A JP 24549895A JP 24549895 A JP24549895 A JP 24549895A JP 3328760 B2 JP3328760 B2 JP 3328760B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
chip
bonding
image
bonding tool
prism
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP24549895A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH0969540A (en
Inventor
透 寺田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shibuya Corp
Original Assignee
Shibuya Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shibuya Corp filed Critical Shibuya Corp
Priority to JP24549895A priority Critical patent/JP3328760B2/en
Publication of JPH0969540A publication Critical patent/JPH0969540A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3328760B2 publication Critical patent/JP3328760B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)
  • Die Bonding (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、ボンディング装置
におけるチップ画像認識装置の改良に関するもので、主
としてチップ上面(ボンディングツールでの吸着面)の
画像認識を正確に行うことを目的としたチップ画像認識
装置である。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an improvement of a chip image recognizing apparatus in a bonding apparatus, and mainly relates to a chip image recognizing apparatus for accurately recognizing an image on an upper surface of a chip (adsorption surface by a bonding tool). Device.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来のボンディング装置におけるチップ
及基板の認識装置は、ICチップを基板にボンディング
するに際し、ICチップ上面と基板表面の認識により制
御する場合、図4に示されるようにICチップ9を、ボ
ンディングツールにてピックアップする前に、上方より
ICチップ9をチップ認識カメラ18により認識を行な
った後、真空吸着によりICチップ9をピックアップ
し、別設の基板認識カメラ17で基板10の認識を行な
い、ICチップ画像と基板画像よりICチップ9の位置
補正を行い、ボンディングしていた。
2. Description of the Related Art In a conventional bonding apparatus, a chip and substrate recognition apparatus uses an IC chip 9 as shown in FIG. 4 for controlling by recognizing the upper surface of the IC chip and the surface of the substrate when bonding the IC chip to the substrate. Before picking up the IC chip 9 with a bonding tool, the IC chip 9 is recognized from above by a chip recognition camera 18, the IC chip 9 is picked up by vacuum suction, and the board 10 is recognized by a separate board recognition camera 17. Was performed, the position of the IC chip 9 was corrected based on the IC chip image and the substrate image, and bonding was performed.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかし、従来のこの方
法は、ICチップ9をチップ認識カメラ18にて認識し
た後に、ICチップ9をピックアップするものであるた
め、ピックアップによるICチップ9の位置ずれが生
じ、ボンディングに際する位置合せ精度が低下しやすい
ものであった。
However, in this conventional method, the IC chip 9 is picked up after the IC chip 9 is recognized by the chip recognition camera 18, so that the position of the IC chip 9 is shifted by the pickup. And the alignment accuracy at the time of bonding tends to be reduced.

【0004】そこで本発明は、チップ上面の画像と基板
画像によりチップの位置補正を行うボンディング装置に
おいても、チップをボンディングツールに吸着した後、
チップの認識が可能であるチップ画像認識装置を提供す
ることにより、チップ位置ずれの少ない正確な位置補正
を行うことを目的とする。
Accordingly, the present invention also provides a bonding apparatus for correcting the position of a chip based on an image on the upper surface of the chip and a substrate image, after adsorbing the chip on a bonding tool.
An object of the present invention is to provide a chip image recognizing device capable of recognizing a chip, thereby performing accurate position correction with a small chip position shift.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】本発明は、上記課題を解
決するため、ボンディングツール下方先端部を、下面が
入射側面であると同時に出射側面とされるよう上部に直
角を構成する反射側面が構成されたプリズムにて形成
し、プリズム下面でチップが一方の反射側面の下方に位
置するよう片寄せされた位置にチップ吸着穴を設けたボ
ンディングツールと上向き配置されたチップ認識カメラ
とからなるボンディング装置におけるチップ画像認識装
置を提供する。
According to the present invention, in order to solve the above-mentioned problems, a lower side of a bonding tool is provided with a reflecting side surface which forms a right angle at an upper portion so that a lower surface is an incident side surface and at the same time an output side surface. Bonding consisting of a prism formed, a bonding tool with a chip suction hole provided at a position where the chip is biased so that the chip is located below one reflection side on the lower surface of the prism, and a chip recognition camera arranged upward An apparatus for recognizing a chip image in an apparatus is provided.

【0006】[0006]

【発明の実施の形態】以下図面に従い本発明の実施の形
態について説明する。図1は、本発明が利用されるボン
ディング装置の概略斜視図である。該ボンディング装置
は、Z軸モータ11を駆動源とするZ軸駆動装置1に従
って上下動し、Θ軸モータ12を駆動源とするΘ軸駆動
装置2に従って回転するボンディングツール3と、X軸
駆動モータ14にてX軸方向の移動を可能とされたX軸
ステージ4及びY軸モータ15によりY軸方向の移動を
可能とされたY軸ステージ5の作動により左右移動を行
う基板ステージ6とボンディングツール3と共にZ軸駆
動装置1に下向きに取付けられた基板認識カメラ7及び
Y軸ステージ5上に上向きに設置されたチップ認識カメ
ラ8を有するものである。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a schematic perspective view of a bonding apparatus to which the present invention is applied. A bonding tool 3 that moves up and down according to a Z-axis driving device 1 that uses a Z-axis motor 11 as a driving source, and that rotates according to a 駆 動 -axis driving device 2 that uses a Θ-axis motor 12 as a driving source; A substrate stage 6 and a bonding tool that move left and right by operating the X-axis stage 4 enabled to move in the X-axis direction at 14 and the Y-axis stage 5 enabled to move in the Y-axis direction by the Y-axis motor 15. 3 together with a board recognition camera 7 mounted downward on the Z-axis driving device 1 and a chip recognition camera 8 mounted upward on the Y-axis stage 5.

【0007】ボンディングツール3下方先端部には、図
2に示されるようにプリズム13がはめ込まれている。
プリズム13は、断面が二等辺直角三角形の多用されて
いる通常の直角プリズムであり、下面22が入射側面で
あると同時に出射側面とされ、中央上部に直角19を位
置させ、直角19を構成する側面20、21が反射側面
とされている。
A prism 13 is fitted into the lower end of the bonding tool 3 as shown in FIG.
The prism 13 is an ordinary right-angle prism whose section is an isosceles right triangle and is frequently used, and the lower surface 22 is an incident side surface and an output side surface at the same time. The side surfaces 20, 21 are reflection side surfaces.

【0008】図3に示されるようにプリズム13下面2
2の片寄せ位置に吸着穴23が設けられている。吸着穴
23の位置は、吸着されるICチップ9が一方の反射側
面20の下方に位置するよう片寄せされた場所である。
吸着穴23は連結口33にて、図示されていない真空吸
引装置と連結されている。
[0008] As shown in FIG.
A suction hole 23 is provided at the one-sided position. The position of the suction hole 23 is a position where the IC chip 9 to be sucked is biased so as to be located below one of the reflection side surfaces 20.
The suction hole 23 is connected to a vacuum suction device (not shown) at a connection port 33.

【0009】ボンディング装置の作業手順としては、X
軸ステージ4及びY軸ステージ5が動作し、チップ供給
部16の上部にボンディングツール3を位置させる。そ
の後、ボンディングツール3がZ軸駆動装置1の動作に
より、下降し、ICチップ9を吸着する。チップ吸着
後、ボンディングツール3は上昇する。この時、図3の
ように吸着穴23がボンディングツール3の左側に位置
させられている場合には、吸着されたICチップ9は、
プリズム13の左側の反射側面20の下方に吸着されて
いる。
As a work procedure of the bonding apparatus, X
The axis stage 4 and the Y-axis stage 5 operate to position the bonding tool 3 above the chip supply unit 16. Thereafter, the bonding tool 3 is moved down by the operation of the Z-axis driving device 1 to suck the IC chip 9. After the chip is sucked, the bonding tool 3 is raised. At this time, if the suction hole 23 is located on the left side of the bonding tool 3 as shown in FIG.
It is adsorbed below the reflection side surface 20 on the left side of the prism 13.

【0010】更に、X軸ステージ4及びY軸ステージ5
が動作し、基板ステージ6上に置かれた基板10上部に
基板認識カメラ7が位置し、基板10の画像を認識す
る。続いて、X軸ステージ4及びY軸ステージ5が動作
し、チップ認識カメラ8上方に、ボンディングツール3
に吸着されたチップ9を位置させ、ICチップ9の画像
を認識する。ICチップ9の画像認識の原理は、図2の
左側の破線の矢印に示されるようにICチップ9の画像
がプリズム13の下面22の左半分に位置する吸着部分
より入射し、反射側面20及び反射側面21にて屈折
し、プリズム13の下面22の右半分より出射され、上
向きのチップ認識カメラ8に認識されるのである。
Further, an X axis stage 4 and a Y axis stage 5
Operates, and the substrate recognition camera 7 is positioned above the substrate 10 placed on the substrate stage 6 to recognize the image of the substrate 10. Subsequently, the X-axis stage 4 and the Y-axis stage 5 are operated, and the bonding tool 3 is located above the chip recognition camera 8.
The chip 9 that has been sucked is positioned and the image of the IC chip 9 is recognized. The principle of the image recognition of the IC chip 9 is that the image of the IC chip 9 enters from the suction part located on the left half of the lower surface 22 of the prism 13 as shown by the broken arrow on the left side of FIG. The light is refracted by the reflection side surface 21, emitted from the right half of the lower surface 22 of the prism 13, and recognized by the upward chip recognition camera 8.

【0011】両認識カメラ7、8で取り込まれたチップ
9及び基板10の画像処理演算を行った後、ICチップ
9の位置補正を行い、基板10上にICチップ9をボン
ディングするのである。
After performing image processing calculations on the chip 9 and the substrate 10 captured by the recognition cameras 7 and 8, the position of the IC chip 9 is corrected, and the IC chip 9 is bonded onto the substrate 10.

【0012】本発明の他実施例として、ICチップ9の
裏面及び基板10に金がメッキされていれば、金と金に
よる加熱圧着を行うこととなるが、かような場合、プリ
ズム13を耐熱性ガラスにて構成し、ボンディングツー
ル3本体にヒータを埋め込むことにより、加熱圧着用ボ
ンディングツールとすることができる。
As another embodiment of the present invention, if the back surface of the IC chip 9 and the substrate 10 are plated with gold, heat and pressure bonding with gold and gold will be performed. It is possible to form a bonding tool for thermocompression bonding by being made of conductive glass and embedding a heater in the bonding tool 3 body.

【0013】[0013]

【発明の効果】本発明は、第1に、ボンディングツール
下方先端部にプリズムを利用すること、吸着穴をチップ
が一方の反射側面の下方のプリズム下面に位置するよう
片寄せされた位置に設けること、上向き配置されたチッ
プ認識カメラにて認識することにより、チップを吸着し
た状態で、画像処理を行うことを可能とし、画像認識時
点とピックアップ時点での位置ズレを防止できるため、
高精度なボンディングを行う事が可能となった。
According to the present invention, first, a prism is used at the lower end portion of the bonding tool, and a suction hole is provided at a position where the chip is offset so that the chip is located at the lower surface of the prism below one of the reflection side surfaces. That, by recognizing with the chip recognition camera arranged upward, it is possible to perform image processing in a state where the chip is sucked, and it is possible to prevent displacement between the image recognition time and the pickup time,
High-precision bonding has become possible.

【0014】本発明は、ICチップ9の上面の画像認識
が必要なチップ画像認識装置を前提に開発されたもので
あるが、上向きに設置されたチップ認識カメラ8を利用
するものであるため、チップ下面の画像認識を必要とす
るチップ画像認識装置としても利用できるものである。
従って、チップの上面の画像認識が必要な場合にも、チ
ップの下面の画像認識が必要な場合にも利用可能なボン
ディング装置におけるチップ画像認識装置となった。
Although the present invention has been developed on the premise of a chip image recognizing device which requires image recognition of the upper surface of the IC chip 9, the present invention utilizes the chip recognizing camera 8 installed upward, It can also be used as a chip image recognition device that requires image recognition of the lower surface of the chip.
Therefore, the chip image recognition device in the bonding device can be used both when image recognition of the upper surface of the chip is required and when image recognition of the lower surface of the chip is required.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明が利用されるボンディング装置の概略
斜視図
FIG. 1 is a schematic perspective view of a bonding apparatus to which the present invention is applied.

【図2】 本発明を示す説明図FIG. 2 is an explanatory view showing the present invention.

【図3】 ボンディングツール先端面の平面図FIG. 3 is a plan view of a tip surface of a bonding tool.

【図4】 従来のチップ及び基板画像認識装置の説明図FIG. 4 is an explanatory view of a conventional chip and board image recognition device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1.....Z軸駆動装置 2.....Θ軸駆動装置 3.....ボンディングツール 4.....X軸ステージ 5.....Y軸ステージ 6.....基板ステージ 7、17..基板認識カメラ 8、18..チップ認識カメラ 9.....ICチップ 10.....基板 11.....Z軸モータ 12.....Θ軸モータ 13.....プリズム 14.....X軸モータ 15.....Y軸モータ 16.....チップ供給部 19.....直角 20、21..反射側面 22.....プリズムの底面 23.....吸着穴 1. . . . . 1. Z-axis drive device . . . . Θ axis drive device 3. . . . . 3. Bonding tool . . . . X-axis stage . . . . 5. Y-axis stage . . . . Substrate stage 7, 17. . Board recognition camera 8, 18. . 8. Chip recognition camera . . . . IC chip 10. . . . . Substrate 11. . . . . Z-axis motor 12. . . . . Θ axis motor 13. . . . . Prism 14. . . . . X-axis motor 15. . . . . Y-axis motor 16. . . . . Chip supply unit 19. . . . . Right angles 20, 21. . Reflective side surface 22. . . . . Bottom of prism 23. . . . . Suction hole

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/60 H01L 21/52 G01B 11/00 G06T 1/00 H04N 5/225 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (58) Field surveyed (Int.Cl. 7 , DB name) H01L 21/60 H01L 21/52 G01B 11/00 G06T 1/00 H04N 5/225

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】ボンディングツール下方先端部を、下面が
入射側面であると同時に出射側面とされるよう上部に直
角を構成する反射側面が構成されたプリズムにて形成
し、プリズム下面でチップが一方の反射側面の下方に位
置するよう片寄せされた位置にチップ吸着穴を設けたボ
ンディングツールと上向き配置されたチップ認識カメラ
とからなるボンディング装置におけるチップ画像認識装
置。
1. A lower end portion of a bonding tool is formed by a prism having a reflection side surface forming a right angle on an upper side so that a lower surface is an incident side surface and an output side surface at the same time, and a chip is formed on the lower surface of the prism. A chip image recognition device in a bonding device comprising: a bonding tool having a chip suction hole provided at a position offset to be positioned below a reflection side surface of the chip; and a chip recognition camera arranged upward.
JP24549895A 1995-08-30 1995-08-30 Chip image recognition device Expired - Fee Related JP3328760B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP24549895A JP3328760B2 (en) 1995-08-30 1995-08-30 Chip image recognition device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP24549895A JP3328760B2 (en) 1995-08-30 1995-08-30 Chip image recognition device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0969540A JPH0969540A (en) 1997-03-11
JP3328760B2 true JP3328760B2 (en) 2002-09-30

Family

ID=17134569

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP24549895A Expired - Fee Related JP3328760B2 (en) 1995-08-30 1995-08-30 Chip image recognition device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3328760B2 (en)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4831091B2 (en) * 2008-02-21 2011-12-07 パナソニック株式会社 Die bonding apparatus and die bonding method
US11031367B2 (en) * 2016-10-25 2021-06-08 Kulicke and Soffa Industries, In. Bond head assemblies including reflective optical elements, related bonding machines, and related methods
CN110582192B (en) * 2018-06-07 2021-07-09 苏州旭创科技有限公司 Suction nozzle for automatic chip mounter and automatic chip mounter

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0969540A (en) 1997-03-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN109906029B (en) Electronic component mounting device and electronic component mounting method
CN109524320B (en) Semiconductor manufacturing apparatus and method for manufacturing semiconductor device
JP4710432B2 (en) Component mounting apparatus and component mounting method
JPH10145094A (en) Parts mounting device
JP3328760B2 (en) Chip image recognition device
JP3747515B2 (en) Chip mounting device
JP2000150970A (en) Light emitting device bonding method and equipment
JP2002198398A (en) Bonding apparatus
JP2000299501A (en) Bonding of light-emitting element and device
KR102488231B1 (en) Electronic component mounting device
JPH07245500A (en) Device and method for mounting electronic component
JP3209623B2 (en) Mounter
JP2757037B2 (en) Bonding equipment
JP3617483B2 (en) Electronic component mounting method
JP4571460B2 (en) Electronic component mounting method and mounting apparatus
JP3851468B2 (en) Method and apparatus for bonding light emitting components
JP2627978B2 (en) Bonding equipment
JP4394822B2 (en) Component mounting equipment
JP2003297862A (en) Die bonding collect and mounting device using the die bonding collect
JP3232820B2 (en) Outer lead bonding method
JPH0845970A (en) Die bonding device
JP4147985B2 (en) Semiconductor mounting apparatus and semiconductor mounting method
JP2674801B2 (en) Positioning method for semiconductor parts
JP2000308987A (en) Part suction device
JP3781232B2 (en) Component mounting device

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees