JP3328598B2 - Method for manufacturing semiconductor device - Google Patents

Method for manufacturing semiconductor device

Info

Publication number
JP3328598B2
JP3328598B2 JP02026199A JP2026199A JP3328598B2 JP 3328598 B2 JP3328598 B2 JP 3328598B2 JP 02026199 A JP02026199 A JP 02026199A JP 2026199 A JP2026199 A JP 2026199A JP 3328598 B2 JP3328598 B2 JP 3328598B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
chip
underfill resin
opening
stage
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP02026199A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2000223510A (en
Inventor
靖 白石
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Oki Electric Industry Co Ltd
Original Assignee
Oki Electric Industry Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Oki Electric Industry Co Ltd filed Critical Oki Electric Industry Co Ltd
Priority to JP02026199A priority Critical patent/JP3328598B2/en
Publication of JP2000223510A publication Critical patent/JP2000223510A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3328598B2 publication Critical patent/JP3328598B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は半導体装置の製造方
法、特に半導体素子を基板に接合してフリップチップ実
装体を構成し、そのフリップチップ実装体にアンダーフ
ィル樹脂を注入して半導体素子と基板の間を樹脂封止す
るフリップチップ実装体の樹脂封止方法に関するもので
ある。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method of manufacturing a semiconductor device, and more particularly, to a method of forming a flip-chip mounted body by bonding a semiconductor element to a substrate and injecting an underfill resin into the flip-chip mounted body. The present invention relates to a method of sealing a flip-chip mounted body with a resin for sealing a space therebetween.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、半導体実装技術は高密度化の方向
に進んでおり、実装面積の低減や半導体素子(以下チッ
プと称する)の電極の増加に対応するためには、フリッ
プチップ実装(ベアチップのフェースダウン実装)が最
も有利であると言われている。このフリップチップ実装
は、ベアチップの素子形成面の金属バンプ電極を配線基
板上の一主面に形成されている電極パッドに押し付けて
接続(フリップチップボンディング)するものである。
2. Description of the Related Art In recent years, semiconductor mounting technology has been moving toward higher densities. In order to cope with a reduction in mounting area and an increase in the number of electrodes of a semiconductor element (hereinafter referred to as a chip), flip-chip mounting (bare chip) Is said to be the most advantageous. In the flip chip mounting, a metal bump electrode on a device forming surface of a bare chip is pressed against an electrode pad formed on one main surface of a wiring substrate to perform connection (flip chip bonding).

【0003】しかしこの状態では、基板の熱膨張などに
起因する応力が基板とチップの接続部に加わり、接続の
信頼性を損なう問題が発生する。
However, in this state, a stress due to thermal expansion of the substrate is applied to a connection portion between the substrate and the chip, which causes a problem that connection reliability is impaired.

【0004】そこで、フリップチップ実装の改良とし
て、ベアチップと基板との間に樹脂を介在させて基板と
チップの相互を機械的に固定するという方法が提案され
ている。
To improve the flip chip mounting, a method has been proposed in which a resin is interposed between a bare chip and a substrate to mechanically fix the substrate and the chip to each other.

【0005】[0005]

【図11】はこの従来の樹脂封止方法を示した断面図で
ある。チップ1上にバンプ2(例えば金)を形成し、チ
ップ1をフェースダウンにより基板3(例えば高熱膨張
ガラスセラミック)に熱圧着で接合してフリップチップ
実装体を構成する。
FIG. 11 is a sectional view showing this conventional resin sealing method. A bump 2 (for example, gold) is formed on the chip 1, and the chip 1 is bonded to the substrate 3 (for example, high thermal expansion glass ceramic) by face-down by thermocompression bonding to form a flip chip mounted body.

【0006】このフリップチップ実装体を基板3を下に
してステージ4に真空吸着等により固定し、ディスペン
サー5内のアンダーフィル樹脂6をニードル7を介して
基板周辺部に塗布する。ステージ4を加熱することによ
り、粘度の低下したアンダーフィル樹脂6は自重と毛細
管現象によりチップ1と基板3との隙間を満たし、その
後加熱をしてアンダーフィル樹脂6を硬化させると樹脂
封止が完了する。
[0006] The flip chip mounted body is fixed to the stage 4 with the substrate 3 facing down by vacuum suction or the like, and the underfill resin 6 in the dispenser 5 is applied to the periphery of the substrate via the needle 7. By heating the stage 4, the underfill resin 6 whose viscosity has been reduced fills the gap between the chip 1 and the substrate 3 by its own weight and capillary action. Complete.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記構
造のパッケージでは一層の小型化が要求され、チップと
チップサイズに近い基板とをフリップチップボンディン
グした後の状態で、基板の各周辺部においてチップと基
板とのクリアランス8を例えば0.5mm以下にするこ
とが要求されているが、前記したような基板の周辺部か
ら樹脂の封止方法では、上記要求に対応しきれず困難で
あるという問題があった。
However, in the package having the above structure, further miniaturization is required, and after the chip is flip-chip bonded to a substrate having a size close to the chip size, the chip is connected to each of the peripheral portions of the substrate. Although it is required that the clearance 8 with the substrate be, for example, 0.5 mm or less, the method of sealing a resin from the periphery of the substrate as described above has a problem that it is difficult to meet the above requirements and is difficult. Was.

【0008】また、チップと基板との隙間にボイド(気
泡)が残りやすく、このボイドによりチップと基板間の
接続信頼性が低下するという問題があった。
In addition, voids (bubbles) tend to remain in the gap between the chip and the substrate, and this void reduces the reliability of connection between the chip and the substrate.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明は、アンダーフィル樹脂を供給するための開
口部を中央部に設けた基板を準備し、チップを基板に接
合してフリップチップ実装体を構成し、回転可能に構成
されたステージにフリップチップ実装体を固定し、フリ
ップチップ実装体を開口部を中心に回転させながら開口
部からアンダーフィル樹脂を注入し、チップと基板間に
アンダーフィル樹脂を充填させて樹脂封止するようにし
たものである。
In order to solve the above-mentioned problems, the present invention provides a flip chip by preparing a substrate provided with an opening for supplying an underfill resin at the center, and bonding the chip to the substrate. Construct the mounting body, fix the flip chip mounting body on the rotatable stage, inject the underfill resin from the opening while rotating the flip chip mounting body around the opening, and between the chip and the substrate. The underfill resin is filled and sealed with resin.

【0010】[0010]

【発明の実施の形態】図1は本発明の第1の実施形態を
示す断面図、図2は同じくその平面図である。
FIG. 1 is a sectional view showing a first embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a plan view thereof.

【0011】図において、基板13には、予めアンダー
フィル樹脂16を供給するための貫通孔である開口部2
0が設けられている。この開口部20は回転の中心とな
るため基板13の中央部に設けられるのが望ましい。
In FIG. 1, an opening 2 serving as a through hole for supplying an underfill resin 16 in advance is formed in a substrate 13.
0 is provided. Since this opening 20 becomes the center of rotation, it is desirable to be provided at the center of the substrate 13.

【0012】チップ11と基板13は、フェースダウン
によりチップ11上に形成されたバンプ12と、基板1
3上の図示してない電極パッドとを熱圧着することによ
り接合し、フリップチップ実装体を構成する。
The chip 11 and the substrate 13 are connected to the bumps 12 formed on the chip 11 by face-down,
3 are bonded by thermocompression bonding to an electrode pad (not shown) to form a flip chip mounted body.

【0013】次にこのフリップチップ実装体を上下反転
させ、チップ11を下側にしてステージ14に真空吸着
等の方法によって固定する。この際チップ11の裏面と
ステージ14の上面が接することになる。
Next, the flip chip mounted body is turned upside down, and is fixed to the stage 14 with the chip 11 facing down by a method such as vacuum suction. At this time, the back surface of the chip 11 and the top surface of the stage 14 come into contact.

【0014】ステージ14は図示してないがモータ等の
回転手段に連結されており、水平に回転可能に構成され
ている。
The stage 14 is connected to rotating means such as a motor (not shown), and is configured to be horizontally rotatable.

【0015】ステージ14の回転によりフリップチップ
実装体は回転するので、回転中心となる基板13に設け
た開口部20の中心がステージ14の回転中心と一致す
るように位置合せをする。
Since the flip-chip mounted body is rotated by the rotation of the stage 14, the flip-chip mounting body is aligned so that the center of the opening 20 provided in the substrate 13 as the center of rotation coincides with the center of rotation of the stage 14.

【0016】ステージ14の回転数はアンダーフィル樹
脂16の種類やパッケージの大きさの差異によって変わ
るが、毎分100〜1000回転の速さが適当である。
The rotation speed of the stage 14 varies depending on the type of the underfill resin 16 and the size of the package, but a speed of 100 to 1000 rotations per minute is appropriate.

【0017】さて、ステージ14を回転させることによ
り、フリップチップ実装体を、開口部20を中心に回転
させながら、ディスペンサー15内のアンダーフィル樹
脂16をニードル17の先端部より開口部20を通し
て、チップ11と基板13間を塞ぐように注入する。
By rotating the stage 14, the underfill resin 16 in the dispenser 15 is passed through the opening 20 from the tip of the needle 17 while rotating the flip-chip mounted body around the opening 20. The injection is performed so as to close the gap between the substrate 11 and the substrate 13.

【0018】開口部20から注入されたアンダーフィル
樹脂16は、毛細管現象と回転による遠心力によって、
速やかにそして均一に広がり、チップ11と基板13間
に充填される。
The underfill resin 16 injected from the opening 20 is subjected to a capillary action and centrifugal force due to rotation.
It spreads quickly and uniformly and is filled between the chip 11 and the substrate 13.

【0019】その後熱処理をしてチップ11と基板13
間に充填されたアンダーフィル樹脂16を硬化させて樹
脂封止され、パッケージが形成される。
After that, the chip 11 and the substrate 13 are subjected to a heat treatment.
The underfill resin 16 filled in between is cured and resin-sealed to form a package.

【0020】以上のように、第1の実施形態によれば、
基板13の中央部にアンダーフィル供給用の開口部20
を設け、この開口部20を中心にステージ14を水平に
回転させながら、開口部20を通してアンダーフィル樹
脂16を注入して樹脂封止するので、アンダーフィル樹
脂16に遠心力が加わり、速やかにかつ均一にアンダー
フィル樹脂16が広がり、ボイドをなくすことができる
だけでなく、短時間にアンダーフィル樹脂16を充填す
ることができる。
As described above, according to the first embodiment,
An opening 20 for supplying underfill is provided at the center of the substrate 13.
The underfill resin 16 is injected and sealed with the resin through the opening 20 while the stage 14 is horizontally rotated around the opening 20, so that a centrifugal force is applied to the underfill resin 16 and the underfill resin 16 is quickly and Not only can the underfill resin 16 be uniformly spread and voids can be eliminated, but also the underfill resin 16 can be filled in a short time.

【0021】従って、チップ11と基板13間の接続信
頼性の低下を防ぐことができ、製造時間の短縮にも貢献
できる。
Therefore, it is possible to prevent a decrease in connection reliability between the chip 11 and the substrate 13 and to contribute to a reduction in manufacturing time.

【0022】また、基板13の中央部の開口部20から
アンダーフィル樹脂16を注入するので、チップ11と
基板13とのクリアランスも縮小することができる。
Since the underfill resin 16 is injected from the opening 20 at the center of the substrate 13, the clearance between the chip 11 and the substrate 13 can be reduced.

【0023】また、アンダーフィル樹脂16がチップ1
1の端部に達する前にステージ14の回転をストップ
し、その後は毛細管現象を利用すれば、アンダーフィル
樹脂16のはみ出し量も少なくすることができる。
The underfill resin 16 is used for the chip 1
If the rotation of the stage 14 is stopped before reaching the first end, and the capillary phenomenon is used thereafter, the amount of the underfill resin 16 that has protruded can be reduced.

【0024】図3は本発明の第2の実施形態を示す断面
図、図4は同じくその平面図である。
FIG. 3 is a sectional view showing a second embodiment of the present invention, and FIG. 4 is a plan view thereof.

【0025】第1の実施形態とは、フレーム21をステ
ージ14に設けた点が異なるだけで、他は同じである。
The second embodiment is the same as the first embodiment except that a frame 21 is provided on a stage 14.

【0026】フレーム21は例えば金属のアルミニウム
で形成され、ステージ14に接着剤等の手段で固定され
ている。
The frame 21 is made of, for example, metal aluminum, and is fixed to the stage 14 by an adhesive or the like.

【0027】フレーム21は、図4に示すように四角形
の枠体で、基板13の周縁部が接するように形成され、
回転の際にフリップチップ実装体をしっかりと固定す
る。
The frame 21 is a rectangular frame as shown in FIG. 4 and is formed so that the peripheral edge of the substrate 13 is in contact with the frame 21.
Firmly secure the flip-chip mount during rotation.

【0028】以上のように、第2の実施形態によれば、
第1の実施形態の効果に加えて、チップ11の周辺部に
はみ出したアンダーフィル樹脂16がステージ14へ飛
散することを防止でき、ステージ14の洗浄、交換等の
必要がなくなり、製造時間の短縮が可能となる。
As described above, according to the second embodiment,
In addition to the effects of the first embodiment, it is possible to prevent the underfill resin 16 protruding from the peripheral portion of the chip 11 from scattering to the stage 14, eliminating the need for cleaning and replacement of the stage 14, and shortening the manufacturing time. Becomes possible.

【0029】図5は本発明の第3の実施形態を示す断面
図、図6は同じくその平面図である。
FIG. 5 is a sectional view showing a third embodiment of the present invention, and FIG. 6 is a plan view thereof.

【0030】第1の実施形態とは、ステージ22にザグ
リ部23を設けたことが異なるだけで、他は同じであ
る。
The second embodiment is the same as the first embodiment except that the counterbore portion 23 is provided on the stage 22.

【0031】ザグリ部23は、その壁面24が基板13
の周縁部に接し、底部がチップ11の裏面に接し、フリ
ップチップ実装体がその凹部に収容されるように、ステ
ージ22に設けられる。
The counterbore portion 23 has its wall surface 24
And the bottom is in contact with the back surface of the chip 11, and the flip chip mounting body is provided on the stage 22 so as to be accommodated in the recess.

【0032】このように、ステージ22にザグリ部23
を設けることによって、第2の実施形態のフレーム21
と同等の機能を果すことができる。
As described above, the counterbore part 23 is mounted on the stage 22.
To provide the frame 21 of the second embodiment.
Can perform the same function as.

【0033】以上のように、第3の実施形態によれば、
第2の実施形態の効果に加えて、フレーム21をなくす
ことによるコストの低下が期待できる。
As described above, according to the third embodiment,
In addition to the effects of the second embodiment, a reduction in cost due to the elimination of the frame 21 can be expected.

【0034】図7は本発明の第4の実施形態を示す断面
図、図8は同じくその平面図である。
FIG. 7 is a sectional view showing a fourth embodiment of the present invention, and FIG. 8 is a plan view thereof.

【0035】この第4の実施形態は、第3の実施形態と
同様に、ステージ25にザグリ部26を設けたものであ
るが、ザグリ部26の構成が異なるだけで、他は同じで
ある。
In the fourth embodiment, similarly to the third embodiment, the counterbore portion 26 is provided on the stage 25. However, only the configuration of the counterbore portion 26 is different, and the other portions are the same.

【0036】ザグリ部25は、第1の壁面27と第2の
壁面28を形成するように、階段状に構成される。
The counterbore portion 25 is formed in a step shape so as to form a first wall surface 27 and a second wall surface 28.

【0037】基板13の周縁部は第1の壁面27に接
し、チップ11の周縁部は第2の壁面28に接し、チッ
プ11の裏面はザグリ部26の底部に接することにな
る。
The peripheral portion of the substrate 13 contacts the first wall surface 27, the peripheral portion of the chip 11 contacts the second wall surface 28, and the back surface of the chip 11 contacts the bottom of the counterbore portion 26.

【0038】以上のように、第4の実施形態によれば、
第3の実施形態の効果に加えて、チップ11の周縁部が
第2の壁面28に接するので、アンダーフィル樹脂16
がチップ11の周縁部や裏面に付着するのを防ぐことが
できる。
As described above, according to the fourth embodiment,
In addition to the effect of the third embodiment, since the peripheral edge of the chip 11 contacts the second wall surface 28, the underfill resin 16
Can be prevented from adhering to the peripheral portion and the back surface of the chip 11.

【0039】図9は本発明の第5の実施形態を示す断面
図、図10は同じくその平面図である。
FIG. 9 is a sectional view showing a fifth embodiment of the present invention, and FIG. 10 is a plan view thereof.

【0040】図示された第5の実施形態は、第4の実施
形態とは基板29に設けられた開口部30の大きさが異
なり、その開口部30にニードル17を挿入した状態で
アンダーフィル樹脂16を注入する点が異なるが、他は
同じである。
The fifth embodiment is different from the fourth embodiment in that the size of the opening 30 provided in the substrate 29 is different, and the underfill resin is inserted into the opening 30 with the needle 17 inserted. 16 is injected, but the others are the same.

【0041】開口部30の大きさは、アンダーフィル樹
脂16を注入するニードル17の外径と接するように、
ほぼ同等の大きさに形成される。
The size of the opening 30 is set so as to be in contact with the outer diameter of the needle 17 into which the underfill resin 16 is injected.
It is formed in substantially the same size.

【0042】アンダーフィル樹脂16を注入するとき
は、ニードル17を基板29の開口部30に挿入し、ニ
ードル17の先端が基板29内に挿入されている状態で
アンダーフィル樹脂16を注入し、基板29とチップ1
1間に充填する。
When injecting the underfill resin 16, the needle 17 is inserted into the opening 30 of the substrate 29, and the underfill resin 16 is injected while the tip of the needle 17 is inserted into the substrate 29. 29 and chip 1
Fill between 1

【0043】以上のように、第5の実施形態によれば、
第4の実施形態の効果に加えて、アンダーフィル樹脂1
6の注入の際、ニードル17が基板29の開口部30の
中に挿入されているので、基板29の裏面、図では上面
にアンダーフィル樹脂16が付着するのを防止でき、不
良をなくして歩留まりを上げることができる。
As described above, according to the fifth embodiment,
In addition to the effects of the fourth embodiment, the underfill resin 1
Since the needle 17 is inserted into the opening 30 of the substrate 29 at the time of the injection of 6, the underfill resin 16 can be prevented from adhering to the back surface of the substrate 29, in the figure, the upper surface, and the yield can be reduced without defects. Can be raised.

【0044】なお、上記の説明では、第4の実施形態を
ベースとしたが、開口部の大きさをニードルの外径と接
するようなほぼ同等な大きさにすれば、ニードルを基板
の開口部に挿入した状態でアンダーフィル樹脂を注入す
ることは、第1〜第3の実施形態にも適用することがで
きる。
In the above description, the fourth embodiment is used as a base. However, if the size of the opening is made substantially equal to the outer diameter of the needle, the needle is connected to the opening of the substrate. Injecting the underfill resin in the state of being inserted in the first embodiment can also be applied to the first to third embodiments.

【0045】[0045]

【発明の効果】上記したように、本発明はフリップチッ
プ実装体を回転させながら基板の中央部に設けた開口部
からアンダーフィル樹脂を注入するので、ボイドをなく
し、短時間にアンダーフィル樹脂を充填することがで
き、チップと基板とのクリアランスの縮小も可能にな
る。
As described above, according to the present invention, the underfill resin is injected from the opening provided in the center of the substrate while rotating the flip chip mounting body, so that voids are eliminated and the underfill resin is injected in a short time. It can be filled, and the clearance between the chip and the substrate can be reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の第1の実施形態を示す断面図FIG. 1 is a cross-sectional view showing a first embodiment of the present invention.

【図2】第1の実施形態を示す平面図FIG. 2 is a plan view showing the first embodiment.

【図3】第2の実施形態を示す断面図FIG. 3 is a sectional view showing a second embodiment.

【図4】第2の実施形態を示す平面図FIG. 4 is a plan view showing a second embodiment.

【図5】第3の実施形態を示す断面図FIG. 5 is a sectional view showing a third embodiment.

【図6】第3の実施形態を示す平面図FIG. 6 is a plan view showing a third embodiment.

【図7】第4の実施形態を示す断面図FIG. 7 is a cross-sectional view showing a fourth embodiment.

【図8】第4の実施形態を示す平面図FIG. 8 is a plan view showing a fourth embodiment.

【図9】第5の実施形態を示す断面図FIG. 9 is a sectional view showing a fifth embodiment.

【図10】第5の実施形態を示す平面図FIG. 10 is a plan view showing a fifth embodiment.

【図11】従来方法を示す断面図FIG. 11 is a sectional view showing a conventional method.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11 チップ 13,29 基板 14,22,25 ステージ 15 ディスペンサー 16 アンダーフィル樹脂 17 ニードル 20,30 開口部 21 フレーム 23,26 ザグリ部 24 壁面 27 第1の壁面 28 第2の壁面 11 Chip 13, 29 Substrate 14, 22, 25 Stage 15 Dispenser 16 Underfill Resin 17 Needle 20, 30 Opening 21 Frame 23, 26 Counterbore 24 Wall 27 First Wall 28 Second Wall

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/56 ──────────────────────────────────────────────────の Continued on front page (58) Field surveyed (Int.Cl. 7 , DB name) H01L 21/56

Claims (5)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 アンダーフィル樹脂を供給するための開
口部を中央部に設けた基板を準備する工程と、 半導体素子を前記基板に接合したフリップチップ実装体
を準備する工程と、 回転可能に構成されたステージに前記フリップチップ実
装体を固定する工程と、 前記ステージを回転させることにより、前記フリップチ
ップ実装体を前記開口部を中心に回転させながら前記開
口部から前記アンダーフィル樹脂を注入する工程と、 前記半導体素子と基板間に前記アンダーフィル樹脂を充
填させて樹脂封止する工程とを備えたことを特徴とする
半導体装置の製造方法。
A step of preparing a substrate having an opening for supplying an underfill resin at a central portion; a step of preparing a flip chip mounted body in which a semiconductor element is bonded to the substrate; Fixing the flip-chip mounted body to the stage, and injecting the underfill resin from the opening while rotating the stage to rotate the flip-chip mounted body around the opening. And a step of filling the underfill resin between the semiconductor element and the substrate and sealing the resin with the underfill resin.
【請求項2】 前記基板の周縁部が接するようにフレー
ムを設けたステージを準備する工程を備えたことを特徴
とする請求項1記載の半導体装置の製造方法。
2. The method of manufacturing a semiconductor device according to claim 1, further comprising a step of preparing a stage provided with a frame such that a peripheral portion of said substrate is in contact with said substrate.
【請求項3】 前記基板の周縁部が壁面に接するように
ザグリ部を設けたステージを準備する工程を備えたこと
を特徴とする請求項1記載の半導体装置の製造方法。
3. The method of manufacturing a semiconductor device according to claim 1, further comprising a step of preparing a stage provided with a counterbored portion such that a peripheral portion of the substrate contacts a wall surface.
【請求項4】 前記基板の周縁部が第1の壁面に接し、
前記半導体素子の周縁部が第2の壁面に接するように、
階段状にザグリ部を設けたステージを準備する工程を備
えたことを特徴とする請求項1記載の半導体装置の製造
方法。
4. A peripheral portion of the substrate contacts a first wall surface,
So that the peripheral portion of the semiconductor element contacts the second wall surface,
2. The method for manufacturing a semiconductor device according to claim 1, further comprising a step of preparing a stage provided with a counterbore portion in a stepwise manner.
【請求項5】 前記開口部の大きさを前記アンダーフィ
ル樹脂を注入するニードルの外径と接するような大きさ
に形成し、前記ニードルが前記開口部に挿入された状態
で前記アンダーフィル樹脂を注入する工程を備えたこと
を特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の半導体装
置の製造方法。
5. The size of the opening is formed to be in contact with the outer diameter of a needle into which the underfill resin is injected, and the underfill resin is filled with the needle inserted into the opening. 5. The method for manufacturing a semiconductor device according to claim 1, further comprising a step of implanting.
JP02026199A 1999-01-28 1999-01-28 Method for manufacturing semiconductor device Expired - Fee Related JP3328598B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP02026199A JP3328598B2 (en) 1999-01-28 1999-01-28 Method for manufacturing semiconductor device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP02026199A JP3328598B2 (en) 1999-01-28 1999-01-28 Method for manufacturing semiconductor device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2000223510A JP2000223510A (en) 2000-08-11
JP3328598B2 true JP3328598B2 (en) 2002-09-24

Family

ID=12022269

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP02026199A Expired - Fee Related JP3328598B2 (en) 1999-01-28 1999-01-28 Method for manufacturing semiconductor device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3328598B2 (en)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010012620A (en) * 2008-07-01 2010-01-21 Rb Controls Co Resin filling device

Also Published As

Publication number Publication date
JP2000223510A (en) 2000-08-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3679786B2 (en) Manufacturing method of semiconductor device
JP3648053B2 (en) Semiconductor device
JP2828021B2 (en) Bare chip mounting structure and manufacturing method
US5849606A (en) Semiconductor device and manufacturing of the same
JPH0296343A (en) Manufacture of hybrid integrated circuit device
JP2943764B2 (en) Resin sealing structure for flip-chip mounted semiconductor devices
US20180374780A1 (en) Process for manufacturing a flip chip semiconductor package and a corresponding flip chip package
JP3328598B2 (en) Method for manufacturing semiconductor device
JPH08139129A (en) Semiconductor device and production thereof
JP3857574B2 (en) Semiconductor device and manufacturing method thereof
KR100674501B1 (en) Method for attaching semiconductor chip using flip chip bonding technic
JPH11345834A (en) Semiconductor element manufacture of semiconductor device using the same, and semiconductor device
JP2892348B1 (en) Semiconductor unit and semiconductor element mounting method
JP2001267474A (en) Semiconductor device
JPH07226420A (en) Manufacture of semiconductor device
JP2002237566A (en) Three-dimensional mounting structure of semiconductor device, and method of manufacturing the same
JP2000228424A (en) Semiconductor device and manufacture of semiconductor device
JPH11204572A (en) Mounting structure of semiconductor device and manufacture thereof
JPH11219976A (en) Method for mounting semiconductor chip and semiconductor device
JPH1098077A (en) Production of semiconductor device
JPH1074868A (en) Semiconductor mounting device and sealing method of semiconductor device
JPH09153514A (en) Semiconductor unit and semiconductor element packaging method
JP3409673B2 (en) Method of assembling electronic circuit device
JP3893798B2 (en) Manufacturing method of semiconductor device
JP2000357713A (en) Manufacture of semiconductor device

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080712

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080712

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090712

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090712

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100712

Year of fee payment: 8

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100712

Year of fee payment: 8

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100712

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110712

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120712

Year of fee payment: 10

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120712

Year of fee payment: 10

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees