JP3325691B2 - 光ディスク及び光ディスク再生装置 - Google Patents

光ディスク及び光ディスク再生装置

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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光ディスク及び光ディ
スク再生装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、図8に示すように、音楽情報や映
像情報を、情報記録面95上における情報ピット91の
ピット長さをパラメータとする信号に変換して記録し、
再生時には、この情報ピット91にレーザ光を所定の直
径を有するビームスポットLSで照射し、その回折反射
光をフォトダイオード等から成る光検出器で検出して電
気信号として出力し、この電気信号中から記録されてい
た音楽情報や映像情報を、記録時とは逆の信号変換を施
して抽出し出力する光ディスク92及びこの光ディスク
92を再生するための光ディスク再生装置が知られてお
り、その例としてコンパクトディスク(CD)やレーザ
ディスク(LD)等が知られている。なお、図8におい
て、93は基板を示し、94は保護層を示している。
【0003】以上のように、現行の光ディスクでは、光
ビームがディスク上を走査した際のピットの有無による
反射光量の変化を用いて信号を読出している。これらの
光ディスクの情報記録密度は、図9に示す情報ピット9
1のピット列の中心線であるトラックどうしの間隔、す
なわちトラックピッチP1 の値により定まる。従って、
現在、より多くの情報をディスクに記録すべく、トラッ
クピッチの値を現状の値よりさらに狭めるための各種の
試みがなされている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかし、図8及び図9
に示す例のような場合には、問題は生じないが、例え
ば、図10に示すように、トラックピッチを従来の値P
1 よりも小さい値P2 (例えばP2 =P1 /2)に設定
すると、レーザ光のビームスポットLSの範囲内に、読
みとられるべき情報ピット91Aの他に両隣のトラック
の情報ピット91B、91Cが含まれてしまう事にな
る。従って、このままではクロストーク量が多くなり、
実用に耐えない。そこで、隣のトラックからの信号の漏
れ込み(クロストローク)を防ぐため、ビームスポット
LSの直径に対して充分にトラックピッチを広げねばな
らず、これは光ディスクの高密度記録の障害になってい
た。
【0005】そのため、レーザ光のビームスポットLS
の直径をさらに縮小し、高密度記録を行う試みがなされ
ている。一般にレーザスポットLSの半径wは以下の式
で表わされる。
【0006】
【数1】 ここで、NAは対物レンズの開口数と呼ばれる量であ
り、λはレーザ光の波長を表す。
【0007】従って、レーザビーム直径wを小さくする
ためには、波長λを小さくするか、開口数NAを大きく
すればよい。しかし、波長λ及び開口数NAともに、技
術的な限界があり、この方法では飛躍的な密度の向上が
望めない。
【0008】そこで、本発明は、高密度記録が可能な光
ディスク、及びこの光ディスクを再生するための光ディ
スク再生装置を提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明による光ディスク
は、照射レーザ光を照射して、その反射レーザ光に基づ
いて読取可能な情報が表面変形部として記録されている
情報担持面を有する光ディスクにおいて、前記情報担持
面が、それぞれ光ディスクの半径方向に対して垂直に順
次隣接している、第1表面変形部及び第2表面変形部の
列を有することと、前記第1表面変形部及び前記第2表
面変形部は、記録される情報に基づいてその形状が相違
することと、前記第1表面変形部は、隣接する全ての前
記第2表面変形部と、前記反射レーザ光の偏光における
主軸が45度相違する深さを有することとを特徴として
いる。
【0010】本発明による光ディスク再生装置は、本発
明による光ディスクから情報を再生する光ディスク再生
装置において、前記光ディスクの情報担持面における前
記第1表面変形部の列と前記第2表面変形部の列に、同
時に照射レーザ光を照射する光ビーム照射手段と、前記
情報担持面の前記第1表面変形部からの反射レーザ光の
偏光における互いに直交する第1成分及び第2成分を検
出する第1光検出手段と、前記情報担持面の前記第2表
面変形部からの反射レーザ光の偏光における互いに直交
する第3成分及び第4成分を検出する第2光検出手段
と、前記第1光検出手段からの第1成分及び第2成分に
基づいて情報担持面上の情報を求める第1演算手段と、
前記第2光検出手段からの第3成分及び第4成分に基づ
いて情報担持面上の情報を求める第2演算手段と、を含
むことを特徴としている。
【0011】
【作用】本発明では、表面変形部(例えばピット)の形
状により反射光の偏光特性が変化することを利用してピ
ットの検出を行なっており、以下、詳述する。
【0012】文献“Zero-reflectivity high spatial-f
requency rectangular-groove dielectric surface-rel
ief gratings”(APPLIED OPTICS vo1.25 no.24 86-12-1
5 )に示されるように、波長と同程度もしくはそれ以下
の周期を持つ回折格子に読取りレーザビームを照射した
とき、そのグルーブ形状によりp偏光及びs偏光の反射
光量が変化する。
【0013】本発明は、この特性を利用したものであ
る。すなわち、周期的に並んでいるピット列を2次元グ
ループ列とみなし、ピット形状に対する偏光特性の変化
により検出するものである。
【0014】
【実施例】以下、図面に基づいて本発明の好適な実施例
を説明する。 光ディスク 反射光の偏光特性は、一般にピットの形状によって変化
する。図1Aに、(ピット長:ピット幅)に対する偏光
楕円率の変化を示し、図1Bに、ピット深さに対する偏
光楕円率の変化を示す。また、図2Aに、(ピット長:
ピット幅)に対する主軸の方向の変化を示し、図2B
に、ピット深さに対する主軸の方向の変化を示す。
【0015】図1及び図2より、偏光楕円率はピットの
縦横比及び深さの両方に依存し、主軸の方向はピットの
縦横比に依存せず、ピットの深さに依存することがわか
る。本発明は、これらのことを前提としてなされたもの
であり、以下に詳細に説明する。
【0016】図3Aに、従来のコンパクトディスクのピ
ット列を示し、図3Bに、本発明による光ディスクのピ
ット列を示す。従来の光ディスクでは、ピット長変化を
情報としているので、図1A及び図2Aから明らかなよ
うにピット長変化によって偏光楕円率は変化するが、主
軸の方向は変わらない。すなわち、図3Aに示すよう
に、従来の光ディスクは、主軸方向が一定なピット列の
みを有していた。
【0017】一方、図3Bに示すように、本発明による
光ディスクでは、ある方向に主軸を有するピット列(図
4では、ディスクの半径方向に対して垂直な方向に主軸
を有するピット列)(以下、「ピット列A」と称する)
と、前記主軸の方向に対して45度をなす方向に主軸を
有するピット列(図5又は図6に示す)(以下、「ピッ
ト列B」と称する)とが光ディスクの半径方向に対して
垂直に順次隣接している。A)ピット列Aの偏光特性 図4に、図3のピット列Aに円偏光ビームを照射したと
きの偏光状態を示す。
【0018】円偏光ビームを図4Aに示すピット列に照
射したとき、ピット上のa,gでは、そのピットの深さ
により主軸の方向が定まる楕円偏光となる。また、ピッ
トとピットとの中間dでは、ほぼ鏡面なので入射した円
偏光がそのまま反射される。更に、b,c,e,fの様
なときでは、ビーム内のピット幅及び鏡面部の占める割
合によって偏光特性が図4Bのように定まる。
【0019】図4Bに示す偏光特性の変化を、主軸方向
の偏光成分(A1)と、これに垂直な偏光成分(A2)
とを差動検出(A1−A2)することによって、図4C
に示すようなピットの有無に対応した波形信号を得るこ
とができる。B)ピット列Bの偏光特性 図5及び図6に、図3のピット列Bに円偏光ビームを照
射したときの偏光状態を示す。図5A又は図6Aに示す
ピット列は、図4Aに示すピット列とは主軸の方向が4
5度異なるピット深さを有している。
【0020】円偏光ビームを図5A又は図6Aに示すピ
ット列に照射したとき、ピット上のa,gでは、そのピ
ットの深さにより主軸の方向が定まる楕円偏光となる。
但し、その主軸の方向は、図4Aに示すピット列と45
度異なっている。また、ピットとピットとの中間dで
は、ほぼ鏡面なので入射した円偏光がそのまま反射され
る。更に、b,c,e,fの様なときでは、ビーム内の
ピット幅及び鏡面部の占める割合によって偏光特性が図
5B又は図6Bのように定まる。
【0021】しかしながら、図5Bに示すように、偏光
特性の変化を、図4Aに示すピット列の主軸方向の偏光
成分(A1)と、これに垂直な偏光成分(A2)とを差
動検出(A1−A2)した場合、A1成分とA2成分と
が等しくなるため、図5Cに示すように、ピットの有無
に対応した波形信号を得ることができなくなる。
【0022】そこで、図6Bに示すように、偏光特性の
変化を、A1・A2成分とはそれぞれ45度異なるB1
・B2成分を取り出し、差動検出(B1−B2)するこ
とによって、図6Cに示すようなピットの有無に対応し
た波形信号を得ることができる。
【0023】すなわち、互いの主軸の方向が45度異な
るピット深さを有する2本のピット列を設けた場合、一
方のピット列は、(A1−A2)の差動検出によって信
号を読み出すことができるが、(B1−B2)の差動検
出によって信号を読み出すことができない。また逆に、
他方のピット列では、(A1−A2)の差動検出によっ
て信号を読み出すことができないが、(B1−B2)の
差動検出によって信号を読み出すことができる。よっ
て、現行と同じトラックピッチP1で並んでいるピット
列Aのトラック間にピット列Bが存在しても、(A1−
A2)で検出している限りピットB列の影響なしにピッ
ト列Aの信号波形を抽出することができる。また、逆に
(B1−B2)で検出を行えば、ピット列Aの影響なし
にピット列Bの信号波形を抽出することができる。この
ように、互いに主軸の方向が45度異なる2本のピット
列を組み合わせて、以下「組ピット」と称する。光ディスク再生装置 次に、図7に本発明による光ディスク再生装置の構成図
を示す。
【0024】前記図4及び図6に示される反射光の偏光
特性は、この図7の光ディスク再生装置により検出され
る。なお、図2の光ディスク再生装置は、光磁気ディス
クの信号検出系とほぼ同様な検出系を使用しており、詳
細については、文献「光磁気ディスクの基本構成と原
理」電子材料1988年7月、P28〜33を参照され
たい。
【0025】図7において、半導体レーザ20からの入
射レーザ光はコリメータレンズ22で平行ビームにされ
た後、1/4波長板24によって円偏光ビームとなり、
ハーフミラー26を透過し、対物レンズ28によってデ
ィスク上に集光する。
【0026】この光ディスク30の情報担持面で反射さ
れた反射レーザ光の一方は、対物レンズ28を通り、ハ
ーフミラー26及び32で反射され、偏光ビームスプリ
ッタ34に到達し、反射レーザ光のピット列Aに対する
主軸方向の偏光成分は、偏光ビームスプリッタ34の偏
光面を透過して光検出器36で検出され、一方、反射レ
ーザ光の前述の主軸方向に垂直な方向の偏光成分は、偏
光ビームスプリッタ34の偏光面で反射して光検出器3
8で検出される。光検出器36及び38によってそれぞ
れ検出された反射レーザ光の2つの偏光成分(A1及び
A2)は、差動増幅器40によって差動検出され検出信
号Aが得られる。
【0027】この光ディスク30の情報担持面で反射さ
れた反射レーザ光の他方は、対物レンズ28を通り、ハ
ーフミラー26で反射され、ハーフミラー32を透過
し、旋光子42によって反射ビームの主軸方向を45度
回転させ、偏光ビームスプリッタ44に到達し、反射レ
ーザ光のピット列Bに対する主軸方向の偏光成分は、偏
光ビームスプリッタ44の偏光面を透過して光検出器4
6で検出され、一方、反射レーザ光の前述の主軸方向に
垂直な方向の偏光成分は、偏光ビームスプリッタ44の
偏光面で反射して光検出器48で検出される。光検出器
46及び48によってそれぞれ検出された反射レーザ光
の2つの偏光成分(B1及びB2)は、差動増幅器50
によって差動検出され検出信号Bが得られる。
【0028】そして、上記図7の光ディスク再生装置に
おいては、第1光検出器36及び38と第2光検出器4
6及び48により、反射ビーム光の偏光特性を互いに直
交する2つの偏光成分(A1・A2及びB1・B2)よ
り検出することができる。具体例 次に、前記図3のピットをモデルにして計算を行なった
ところ、以下の時検出が可能であった。
【0029】<使用ビームパラメータ> 波長:780nm、 NA:0.45、 <ディスク> ピット幅:0.4μm ピット深さ:0.1μm(0.19λ),0.18μm
(0.35λ) 組ピット列間距離:1.6μm 2本のピット列間距離:0.8μm 以上本発明の実施例においては、ROM型ディスクのピ
ットについてのみ言及したが、光磁気ディスク、相変化
ディスクのような書換可能型ディスクにおいても2つの
マーク間に主軸の方向が互いに45度異なる様な特性を
見いだすことによって、同様な手法で倍トラック密度を
達成することができること勿論である。
【0030】
【発明の効果】上記本発明による光ディスクの構成によ
れば、偏光における主軸の方向が互いに45度異なるピ
ット深さを有する2本のピット列を設けているので、一
方のピット列は、(A1−A2)の差動検出によって信
号を読み出すことができるが、(B1−B2)の差動検
出によって信号を読み出すことができない。また逆に、
他方のピット列では、(A1−A2)の差動検出によっ
て信号を読み出すことができないが、(B1−B2)の
差動検出によって信号を読み出すことができる。従っ
て、組ピット列間の距離を現行の光ディスクとほぼ同様
にすることによって、トラック密度を2倍にすることが
できる。
【0031】また、円偏光ビームが組ピット列の中心を
走査した時、その反射光について前記(A1−A2)及
び(B1−B2)の2通りの差動検出を行うことによ
り、組ピット列中の2本のピット列それぞれのピットの
有無に対応した波形信号を得ることができる。更に、1
つのビームで2本のピット列を同時に読み出すことがで
きるので転送レートを2倍にすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】Aは、(ピット長:ピット幅)に対する偏光楕
円率の変化を示す図であり、Bは、ピット深さに対する
偏光楕円率の変化を示す図である。
【図2】Aは、(ピット長:ピット幅)に対する主軸の
方向の変化を示す図であり、Bは、ピット深さに対する
主軸の方向の変化を示す図である。
【図3】Aは、従来のコンパクトディスクのピット列を
示す図であり、Bは、本発明による光ディスクのピット
列を示す図である。
【図4】図3のピット列Aに円偏光ビームを照射したと
きの偏光状態を示す図である。
【図5】図3のピット列Bに円偏光ビームを照射したと
きの偏光状態を示す図である。
【図6】図3のピット列Bに円偏光ビームを照射したと
きの偏光状態を示す図である。
【図7】本発明による光ディスク再生装置の構成図であ
る。
【図8】従来の光ディスクの斜視図である。
【図9】従来の光ディスクのトラックピッチを示す図で
ある。
【図10】従来の光ディスクにおいて、単にトラックピ
ッチを1/2にした場合を示す図である。
【符号の説明】
20…半導体レーザ 22…コリメータレンズ 24…1/4波長板 26、32…ハーフミラー 28…対物レンズ 30…ディスク 34、44…偏光ビームスプリッタ 36、38、46、48…光検出器 40、50…差動増幅器 42…旋光子

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 照射レーザ光を照射して、その反射レー
    ザ光に基づいて読取可能な情報が表面変形部として記録
    されている情報担持面を有する光ディスクにおいて、 前記情報担持面が、それぞれ光ディスクの半径方向に対
    して垂直に順次隣接している、第1表面変形部及び第2
    表面変形部の列を有することと前記 第1表面変形部及び前記第2表面変形部は、記録さ
    れる情報に基づいてその形状が相違することと前記第1表面変形部は、隣接する全ての前記第2表面変
    形部と、 前記反射レーザ光の偏光における主軸が45度
    相違する深さを有することを特徴とする光ディスク。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載の光ディスクから情報を
    再生する光ディスク再生装置において、 前記光ディスクの情報担持面における前記第1表面変形
    部の列と前記第2表面変形部の列に、同時に照射レーザ
    光を照射する光ビーム照射手段と、 前記情報担持面の前記第1表面変形部からの反射レーザ
    光の偏光における互いに直交する第1成分及び第2成分
    を検出する第1光検出手段と、 前記情報担持面の前記第2表面変形部からの反射レーザ
    光の偏光における互いに直交する第3成分及び第4成分
    を検出する第2光検出手段と、 前記第1光検出手段からの第1成分及び第2成分に基づ
    いて情報担持面上の情報を求める第1演算手段と、 前記第2光検出手段からの第3成分及び第4成分に基づ
    いて情報担持面上の情報を求める第2演算手段と、 を含むことを特徴とする光ディスク再生装置。
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