JP2863431B2 - 光磁気記録再生装置 - Google Patents
光磁気記録再生装置Info
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- JP2863431B2 JP2863431B2 JP6009574A JP957494A JP2863431B2 JP 2863431 B2 JP2863431 B2 JP 2863431B2 JP 6009574 A JP6009574 A JP 6009574A JP 957494 A JP957494 A JP 957494A JP 2863431 B2 JP2863431 B2 JP 2863431B2
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Description
【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はレーザ光等の光によっ
て、光磁気メモリ素子に対して、情報の記録、再生、消
去の少なくとも1つの動作を行う光磁気記録再生装置に
関するものである。 【0002】 【従来の技術】近年、光により情報の記録、再生、消去
等を行う光メモリ素子が高密度大容量メモリとして各方
面で注目されている。特に記録素子を円板状にした光デ
ィスクメモリはテープ状の素子に比べて高速アクセスが
可能であるという特徴があり、多くの研究が成されてい
る。 【0003】この光メモリ素子は、その記録単位が1μ
mφ程度の大きさであるため、記録再生あるいは消去時
に光ビームを所定の位置にもって来ることが重要な技術
となってくる。すなわち、機械的な精度のみで位置決め
を行うことは困難になるため、各種サーボ技術が用いら
れている。 【0004】例えば、光ディスクメモリにおいて円板の
面ぶれに対応してはフォーカスサーボが用いられ、芯ぶ
れに対してはトラッキングサーボが用いられている。後
者は再生専用メモリにおいては既に記録されているビッ
ト(通常はPMMA、ポリカーボネート等の基板に設け
られた凹凸の穴)を参照して行うことができるが、追加
記録可能なメモリ(いわゆるwrite−onceメモ
リ)あるいは消去再記録可能なメモリでは、予め案内と
なる溝とその溝の位置を示すピット状の番地信号部とを
基板に形成しておくことが普通である。 【0005】例えば追加記録可能なメモリに用いられる
従来の案内溝の構造を図10を参照しながら説明する。 【0006】図10は従来の光メモリ円板に設けられた
同心あるいは螺旋状の案内溝に沿った円板の断面一部拡
大図である。 【0007】図10において1はPMMAあるいはガラ
ス等よりなる厚さ1〜1.5mm程度の基板であり、2
は案内溝を設けるための感光性樹脂層(いわゆる2P層
であり厚さは10μm〜100μm程度である)であ
る。また3は情報を記録すべき案内溝であり、4はその
案内溝3の番号を示す番地信号用のピット部である。こ
のピット部4は通常番地信号が最適に再生されるように
深さがλ/4n(ただしλは再生レーザ光の波長、nは
2P層の屈折率)に設定され、案内溝3の部分はトラッ
キング信号を多くとるためにλ/8nの深さに作られて
いる。 【0008】 【発明が解決しようとする課題】上記案内溝3及び番地
信号用ピット部4は上述のごとき2P法かPMMAやポ
リカーボネート等の樹脂を成形して記録板と案内溝3、
ピット部4を一体に作成するのが一般的である。しかし
いずれも記録媒体が樹脂面に積層されるため樹脂層に含
まれる水分が記録媒体を劣化さす原因となる。 【0009】そこで上記問題点を解決するため、本出願
人は先に、ガラス基板に直接凹凸溝を形成する方法を特
願昭58−84613(「光メモリ素子の製造方法」)
として提案している。 【0010】この方法は、基板上にレジスト膜を被覆
し、レジスト膜にレーザ光で案内溝及び番地信号を記録
し、現像した後リアクティブイオンエッチングによって
そのパターンをガラス基板に直接形成する方法である。
この方法によれば案内溝3及び番地信号部4の深さは、
ガラス基板がリアクティブイオンエッチング時のプラズ
マにさらされる時間によって決まるため、案内溝部3と
番地信号部4の深さを異ならせることは困難になる。そ
のため番地信号出力、トラッキング出力あるいは該読み
出し信号出力を考慮して案内溝と番地信号部の形状を決
めねばならなくなる。 【0011】ところで、従来、上記したような光磁気メ
モリ素子に対して少なくとも情報の記録,再生,消去の
いずれかを行う光磁気記録再生装置としては、特開昭5
9−82646号公報に記載の光磁気記録再生装置が知
られている。ここでは、光磁気メモリ素子からの反射光
をハーフミラーにより2つの光束に分割し、それぞれの
光束を対応するビームスプリッタにより更に2つに分け
る。そして、一方のビームスプリッタからの片方の出射
光と他方のビームスプリッタからの片方の出射光をそれ
ぞれ受光素子により受光して、それらの出力の加算から
番地信号を得、減算から情報信号を得る。 【0012】しかしながら、上記光磁気記録再生装置で
は光の利用効率が悪く、また、装置が大型化するという
問題がある。 【0013】そこで、本発明は、トラッキングサーボ信
号、並びに、ピット及び記録情報の再生信号を十分にと
ることが可能で、光の利用効率が高く、装置の小型化が
実現できる光磁気記録再生装置を提供することを目的と
する。 【0014】 【課題を解決するための手段】請求項1に記載の光磁気
記録再生装置は、情報信号を光磁気記録する光磁気信号
記録部と、該光磁気信号記録部の幅よりも幅の狭いピッ
ト部とを備えた光磁気メモリ素子に対して、情報の記
録、再生、消去の少なくとも1つの動作を行う光磁気記
録再生装置であって、前記光磁気メモリ素子に、前記光
磁気信号記録部の幅よりも幅の広い光ビームを照射する
手段と、前記光ビームの前記光磁気メモリ素子からの反
射光により、トラッキングサーボ信号、前記光磁気信号
記録部に記録された信号、及び、前記ピット信号に記録
された信号を得る手段と、を得ることを特徴としてい
る。 【0015】請求項2に記載の光磁気記録再生装置は、
情報信号を光磁気記録する光磁気信号記録部と、該光磁
気信号記録部の幅よりも幅の狭いピット部とを備えた光
磁気メモリ素子に対して、情報の記録、再生、消去の少
なくとも1つの動作を行う光磁気記録再生装置であっ
て、光磁気メモリ素子に、前記光磁気信号記録部の幅よ
りも幅の広い光ビームを照射する手段と、光磁気メモリ
素子からの反射光を第1 の光と第2の光の2つに分離す
る偏光分離手段と、第1の光を受光する第1光検出手段
と、第2の光を受光する第2光検出手段と、を備え、第
1光検出手段と第2光検出手段の出力を加算することで
前記ピット部に記録された信号を得、第1光検出手段と
第2光検出手段の出力の差をとることで前記光磁気信号
記録部に記録された信号を得ることを特徴としている。 【0016】 【作用】上述の構成によれば、トラッキングサーボ信
号、及び、ピット部や光磁気信号記録部に記録された信
号の全てにわたって品質のよい信号を得ることができ
る。また、小型で光の利用効率の高い光磁気記録再生装
置を得ることができる。 【0017】 【実施例】以下、図面を参照して本発明を一実施例を挙
げて詳細に説明する。 【0018】図1は本実施例で用いる光メモリ素子の案
内溝部の番地を表す番地信号用ピット部の拡大図であ
り、図2は案内溝部に沿った光メモリ素子用円板の断面
一部拡大図である。 【0019】図1及び図2において、11はガラス等の
基板、12は基板11に形成された案内溝、13は基板
11に形成された案内溝12の番号を示す番地信号用の
ピット部であり、図1に示すようにピット部13のピッ
ト幅t1が案内溝12の溝幅t2より狭く形成されてい
る。 【0020】図3は記録した情報の書き換えが可能な光
磁気ディスク用の光学系の構成を示す概念図であり、1
1はガラス基板、15は光磁気記録媒体、16は対物レ
ンズ、17は反射レンズ、18はビームスプリッタ、1
9はビーム形状成形プリズム、20はコリメータレン
ズ、21は半導体レーザ、22はビームスプリッタ、2
3はレンズ、24はシンドリカルレンズ、25は4分割
PINフォトダイオード、26はλ/2フィルタ板、2
7はレンズ、28は偏光ビームスプリッタ、29及び3
0はアバランシェフォトダイオードである。 【0021】上記図3においてトラッキング信号は4分
割PINフォトダイオード25からプッシュプル法を用
いて得られるように構成されている。番地信号は、偏光
ビームスプリッタ28により偏光分離生成された第1の
光、第2の光を受光する2個のアバランシェフォトダイ
オード29及び30の出力の和をとることによって得ら
れるように構成されており、また情報信号はフォトダイ
オード29及び30の差をとることによる、いわゆる差
動検出法で得られるように構成されている。また対物レ
ンズ16のN.A.は0.6でありビームは1/e2の
所で約1.1μmに絞られている。 【0022】図4は図3の光学系で再生される光磁気デ
ィスクの案内溝12に直交した方向の断面を一部拡大し
た図で凹凸案内溝付きガラス基板11上にAlN膜3
1、GdTbFe32、AlN膜33及びAlNi膜3
4を積層している。 【0023】図5は図4における案内溝(トラック)深
さを700Åにした光磁気ディスクに1MHzの信号を
記録再生した時のC/Nをトラック幅t2の関数として
プロットしたものである。 【0024】図6(a)は図5の測定に用いた光磁気デ
ィスクのトラック幅0.75μmにおける番地信号の再
生波形を示す図であり同図(b)は0.48μmトラッ
ク幅における番地信号の再生波形を示している。 【0025】上記の図5から明らかなように、情報信号
のC/Nはトラック幅が広い程良い。これは図7(a)
に示すようにビーム径36と信号ビット35の幅t3と
の関係に依存し理想的には図7(b)の様にビーム径3
6よりビット35の幅が大きいものが良いこと、また案
内溝付きディスクにおいてはビット幅は案内溝12の幅
t2に制限されることの2点から容易に説明される。 【0026】また図6からはさらに番地信号用ピット幅
t1が狭い方が良いことが分かる。これはピット幅t1
が広いと例えば図7(b)において信号ビット35を番
地信号用ピットと考えた場合、ビーム36がピット35
の中央にきた場合はビーム36がすっぽりとピット35
の中に入ってしまい実質上ピットが無い場合に等しくな
り、ディテクタに返る光量が増すことになる。そのため
図6(a)に示すように信号は中央部が高くなってい
る。 【0027】以上のように、光磁気記録においては、深
さ約λ/8n(すなわち650〜700Å程度)の案内
溝12及び番地信号用ピット13を有する場合、図1に
示すように案内溝12の幅t2が広く、番地信号用ピッ
ト部13の幅t1が狭いほど良いことが分かる。 【0028】また、上記のごとき構成、すなわち図1、
図2及び図4に示すような円板に図3に示す構造の光学
ヘッドを用いる場合には、トラック幅t2は1μm以内
であれば、十分なトラッキング信号が得られた。 【0029】以上のように本実施例で用いる光磁気メモ
リ素子の構造の特徴の一つは図1に示すように案内溝部
と番地信号用ピット部の深さが同じ場合、番地信号用ピ
ット部の幅を狭くし、案内溝部の幅を広くしたところに
ある。 【0030】次に、本実施例を実施したガラスディスク
の作製方法について、工程順に説明する。 【0031】工程(1)…酸素、水分等の通過に対して
信頼性の高い(酸素、水分等を通過させない)ガラス基
板11の上にレジスト膜37を塗布する。 【0032】工程(2)…上記ガラス基板11の上に塗
布したレジスト膜37にArレーザ等の光38を光変調
器39、40、ミラー41及び集光レンズ42を介して
照射して光磁気メモリ素子用の案内(ガイド)溝(図1
の12参照)の幅t2と同一の幅を持つ線及び番地信号
用ピット部13を記録する幅t1の断続線を書き込む
(図8)。このレジスト膜37にレーザ光38で案内溝
12及び番地信号部13を記録する工程で案内溝12を
記録するレーザパワーを番地信号部13を記録するレー
ザパワーより大きくすることによって、本実施例の上記
した特徴を備えた案内溝12及び番地信号部13の各幅
を得ることが可能となる。 【0033】具体的には図8に示すようにレーザ(たと
えばAr)光38の光路の途中に光変調器39及び40
を入れ、一方を番地信号の変調に用い、他方を番地信号
の記録時だけパワーを若干下げるように作動させること
で可能である。なお、この場合、必ずしも2つの変調器
を使用せずとも入力により変調度がリニアに変化する変
調器を用い、図9の符号43で示した番地信号部の記録
の入力パワー高さを符号44で示した案内溝部の記録時
に入力するパワー高さよりも低くして記録すれば良い。 【0034】工程(3)…上記線及び断続線を書き込ん
だレジスト膜37を現像工程に通すことで上記レジスト
膜37に凹凸の溝を形成する。 【0035】工程(4)…上記凹凸の溝を形成したレジ
スト膜37の被覆状態において、CF4、CHF3等の
エッチングガス中でスパッタリング(リアクティブイオ
ンエッチンッグ)を行いガラス基板11に溝12及びピ
ット部13を形成する。 【0036】工程(5)…上記レジスト膜37をアセト
ン等の溶媒、O2中でのスパッタリング等により除去す
る。この結果ガラス基板11に溝幅t2の案内溝12及
びピット幅t1の番地信号用ピット部13が形成され
る。 【0037】以上のようにして、図1に示した形状の案
内溝12及び番地信号用ピット部13がガラス基板11
上に形成される。 【0038】なお、上記実施例においては、ガラス円
板、光磁気ディスクの組み合わせに基づいて説明した
が、本発明は必ずしも上記実施例に限定されるものでは
なく、本発明の主旨の範囲内での種々の変形及び適用が
可能であることは言うまでもない。また、例えば、特開
昭57−120253号公報に記載されているように、
信号を記録する部分は溝の部分でも、溝と溝との間の土
手の部分であってもよいことは言うまでもない。 【0039】 【発明の効果】本発明によれば、トラッキングサーボ信
号、及び、ピット部や光磁気信号記録部に記録された信
号の全てにわたって品質のよい信号を得ることができ
る。また、小型で光の利用効率の高い光磁気記録再生装
置を得ることができる。
て、光磁気メモリ素子に対して、情報の記録、再生、消
去の少なくとも1つの動作を行う光磁気記録再生装置に
関するものである。 【0002】 【従来の技術】近年、光により情報の記録、再生、消去
等を行う光メモリ素子が高密度大容量メモリとして各方
面で注目されている。特に記録素子を円板状にした光デ
ィスクメモリはテープ状の素子に比べて高速アクセスが
可能であるという特徴があり、多くの研究が成されてい
る。 【0003】この光メモリ素子は、その記録単位が1μ
mφ程度の大きさであるため、記録再生あるいは消去時
に光ビームを所定の位置にもって来ることが重要な技術
となってくる。すなわち、機械的な精度のみで位置決め
を行うことは困難になるため、各種サーボ技術が用いら
れている。 【0004】例えば、光ディスクメモリにおいて円板の
面ぶれに対応してはフォーカスサーボが用いられ、芯ぶ
れに対してはトラッキングサーボが用いられている。後
者は再生専用メモリにおいては既に記録されているビッ
ト(通常はPMMA、ポリカーボネート等の基板に設け
られた凹凸の穴)を参照して行うことができるが、追加
記録可能なメモリ(いわゆるwrite−onceメモ
リ)あるいは消去再記録可能なメモリでは、予め案内と
なる溝とその溝の位置を示すピット状の番地信号部とを
基板に形成しておくことが普通である。 【0005】例えば追加記録可能なメモリに用いられる
従来の案内溝の構造を図10を参照しながら説明する。 【0006】図10は従来の光メモリ円板に設けられた
同心あるいは螺旋状の案内溝に沿った円板の断面一部拡
大図である。 【0007】図10において1はPMMAあるいはガラ
ス等よりなる厚さ1〜1.5mm程度の基板であり、2
は案内溝を設けるための感光性樹脂層(いわゆる2P層
であり厚さは10μm〜100μm程度である)であ
る。また3は情報を記録すべき案内溝であり、4はその
案内溝3の番号を示す番地信号用のピット部である。こ
のピット部4は通常番地信号が最適に再生されるように
深さがλ/4n(ただしλは再生レーザ光の波長、nは
2P層の屈折率)に設定され、案内溝3の部分はトラッ
キング信号を多くとるためにλ/8nの深さに作られて
いる。 【0008】 【発明が解決しようとする課題】上記案内溝3及び番地
信号用ピット部4は上述のごとき2P法かPMMAやポ
リカーボネート等の樹脂を成形して記録板と案内溝3、
ピット部4を一体に作成するのが一般的である。しかし
いずれも記録媒体が樹脂面に積層されるため樹脂層に含
まれる水分が記録媒体を劣化さす原因となる。 【0009】そこで上記問題点を解決するため、本出願
人は先に、ガラス基板に直接凹凸溝を形成する方法を特
願昭58−84613(「光メモリ素子の製造方法」)
として提案している。 【0010】この方法は、基板上にレジスト膜を被覆
し、レジスト膜にレーザ光で案内溝及び番地信号を記録
し、現像した後リアクティブイオンエッチングによって
そのパターンをガラス基板に直接形成する方法である。
この方法によれば案内溝3及び番地信号部4の深さは、
ガラス基板がリアクティブイオンエッチング時のプラズ
マにさらされる時間によって決まるため、案内溝部3と
番地信号部4の深さを異ならせることは困難になる。そ
のため番地信号出力、トラッキング出力あるいは該読み
出し信号出力を考慮して案内溝と番地信号部の形状を決
めねばならなくなる。 【0011】ところで、従来、上記したような光磁気メ
モリ素子に対して少なくとも情報の記録,再生,消去の
いずれかを行う光磁気記録再生装置としては、特開昭5
9−82646号公報に記載の光磁気記録再生装置が知
られている。ここでは、光磁気メモリ素子からの反射光
をハーフミラーにより2つの光束に分割し、それぞれの
光束を対応するビームスプリッタにより更に2つに分け
る。そして、一方のビームスプリッタからの片方の出射
光と他方のビームスプリッタからの片方の出射光をそれ
ぞれ受光素子により受光して、それらの出力の加算から
番地信号を得、減算から情報信号を得る。 【0012】しかしながら、上記光磁気記録再生装置で
は光の利用効率が悪く、また、装置が大型化するという
問題がある。 【0013】そこで、本発明は、トラッキングサーボ信
号、並びに、ピット及び記録情報の再生信号を十分にと
ることが可能で、光の利用効率が高く、装置の小型化が
実現できる光磁気記録再生装置を提供することを目的と
する。 【0014】 【課題を解決するための手段】請求項1に記載の光磁気
記録再生装置は、情報信号を光磁気記録する光磁気信号
記録部と、該光磁気信号記録部の幅よりも幅の狭いピッ
ト部とを備えた光磁気メモリ素子に対して、情報の記
録、再生、消去の少なくとも1つの動作を行う光磁気記
録再生装置であって、前記光磁気メモリ素子に、前記光
磁気信号記録部の幅よりも幅の広い光ビームを照射する
手段と、前記光ビームの前記光磁気メモリ素子からの反
射光により、トラッキングサーボ信号、前記光磁気信号
記録部に記録された信号、及び、前記ピット信号に記録
された信号を得る手段と、を得ることを特徴としてい
る。 【0015】請求項2に記載の光磁気記録再生装置は、
情報信号を光磁気記録する光磁気信号記録部と、該光磁
気信号記録部の幅よりも幅の狭いピット部とを備えた光
磁気メモリ素子に対して、情報の記録、再生、消去の少
なくとも1つの動作を行う光磁気記録再生装置であっ
て、光磁気メモリ素子に、前記光磁気信号記録部の幅よ
りも幅の広い光ビームを照射する手段と、光磁気メモリ
素子からの反射光を第1 の光と第2の光の2つに分離す
る偏光分離手段と、第1の光を受光する第1光検出手段
と、第2の光を受光する第2光検出手段と、を備え、第
1光検出手段と第2光検出手段の出力を加算することで
前記ピット部に記録された信号を得、第1光検出手段と
第2光検出手段の出力の差をとることで前記光磁気信号
記録部に記録された信号を得ることを特徴としている。 【0016】 【作用】上述の構成によれば、トラッキングサーボ信
号、及び、ピット部や光磁気信号記録部に記録された信
号の全てにわたって品質のよい信号を得ることができ
る。また、小型で光の利用効率の高い光磁気記録再生装
置を得ることができる。 【0017】 【実施例】以下、図面を参照して本発明を一実施例を挙
げて詳細に説明する。 【0018】図1は本実施例で用いる光メモリ素子の案
内溝部の番地を表す番地信号用ピット部の拡大図であ
り、図2は案内溝部に沿った光メモリ素子用円板の断面
一部拡大図である。 【0019】図1及び図2において、11はガラス等の
基板、12は基板11に形成された案内溝、13は基板
11に形成された案内溝12の番号を示す番地信号用の
ピット部であり、図1に示すようにピット部13のピッ
ト幅t1が案内溝12の溝幅t2より狭く形成されてい
る。 【0020】図3は記録した情報の書き換えが可能な光
磁気ディスク用の光学系の構成を示す概念図であり、1
1はガラス基板、15は光磁気記録媒体、16は対物レ
ンズ、17は反射レンズ、18はビームスプリッタ、1
9はビーム形状成形プリズム、20はコリメータレン
ズ、21は半導体レーザ、22はビームスプリッタ、2
3はレンズ、24はシンドリカルレンズ、25は4分割
PINフォトダイオード、26はλ/2フィルタ板、2
7はレンズ、28は偏光ビームスプリッタ、29及び3
0はアバランシェフォトダイオードである。 【0021】上記図3においてトラッキング信号は4分
割PINフォトダイオード25からプッシュプル法を用
いて得られるように構成されている。番地信号は、偏光
ビームスプリッタ28により偏光分離生成された第1の
光、第2の光を受光する2個のアバランシェフォトダイ
オード29及び30の出力の和をとることによって得ら
れるように構成されており、また情報信号はフォトダイ
オード29及び30の差をとることによる、いわゆる差
動検出法で得られるように構成されている。また対物レ
ンズ16のN.A.は0.6でありビームは1/e2の
所で約1.1μmに絞られている。 【0022】図4は図3の光学系で再生される光磁気デ
ィスクの案内溝12に直交した方向の断面を一部拡大し
た図で凹凸案内溝付きガラス基板11上にAlN膜3
1、GdTbFe32、AlN膜33及びAlNi膜3
4を積層している。 【0023】図5は図4における案内溝(トラック)深
さを700Åにした光磁気ディスクに1MHzの信号を
記録再生した時のC/Nをトラック幅t2の関数として
プロットしたものである。 【0024】図6(a)は図5の測定に用いた光磁気デ
ィスクのトラック幅0.75μmにおける番地信号の再
生波形を示す図であり同図(b)は0.48μmトラッ
ク幅における番地信号の再生波形を示している。 【0025】上記の図5から明らかなように、情報信号
のC/Nはトラック幅が広い程良い。これは図7(a)
に示すようにビーム径36と信号ビット35の幅t3と
の関係に依存し理想的には図7(b)の様にビーム径3
6よりビット35の幅が大きいものが良いこと、また案
内溝付きディスクにおいてはビット幅は案内溝12の幅
t2に制限されることの2点から容易に説明される。 【0026】また図6からはさらに番地信号用ピット幅
t1が狭い方が良いことが分かる。これはピット幅t1
が広いと例えば図7(b)において信号ビット35を番
地信号用ピットと考えた場合、ビーム36がピット35
の中央にきた場合はビーム36がすっぽりとピット35
の中に入ってしまい実質上ピットが無い場合に等しくな
り、ディテクタに返る光量が増すことになる。そのため
図6(a)に示すように信号は中央部が高くなってい
る。 【0027】以上のように、光磁気記録においては、深
さ約λ/8n(すなわち650〜700Å程度)の案内
溝12及び番地信号用ピット13を有する場合、図1に
示すように案内溝12の幅t2が広く、番地信号用ピッ
ト部13の幅t1が狭いほど良いことが分かる。 【0028】また、上記のごとき構成、すなわち図1、
図2及び図4に示すような円板に図3に示す構造の光学
ヘッドを用いる場合には、トラック幅t2は1μm以内
であれば、十分なトラッキング信号が得られた。 【0029】以上のように本実施例で用いる光磁気メモ
リ素子の構造の特徴の一つは図1に示すように案内溝部
と番地信号用ピット部の深さが同じ場合、番地信号用ピ
ット部の幅を狭くし、案内溝部の幅を広くしたところに
ある。 【0030】次に、本実施例を実施したガラスディスク
の作製方法について、工程順に説明する。 【0031】工程(1)…酸素、水分等の通過に対して
信頼性の高い(酸素、水分等を通過させない)ガラス基
板11の上にレジスト膜37を塗布する。 【0032】工程(2)…上記ガラス基板11の上に塗
布したレジスト膜37にArレーザ等の光38を光変調
器39、40、ミラー41及び集光レンズ42を介して
照射して光磁気メモリ素子用の案内(ガイド)溝(図1
の12参照)の幅t2と同一の幅を持つ線及び番地信号
用ピット部13を記録する幅t1の断続線を書き込む
(図8)。このレジスト膜37にレーザ光38で案内溝
12及び番地信号部13を記録する工程で案内溝12を
記録するレーザパワーを番地信号部13を記録するレー
ザパワーより大きくすることによって、本実施例の上記
した特徴を備えた案内溝12及び番地信号部13の各幅
を得ることが可能となる。 【0033】具体的には図8に示すようにレーザ(たと
えばAr)光38の光路の途中に光変調器39及び40
を入れ、一方を番地信号の変調に用い、他方を番地信号
の記録時だけパワーを若干下げるように作動させること
で可能である。なお、この場合、必ずしも2つの変調器
を使用せずとも入力により変調度がリニアに変化する変
調器を用い、図9の符号43で示した番地信号部の記録
の入力パワー高さを符号44で示した案内溝部の記録時
に入力するパワー高さよりも低くして記録すれば良い。 【0034】工程(3)…上記線及び断続線を書き込ん
だレジスト膜37を現像工程に通すことで上記レジスト
膜37に凹凸の溝を形成する。 【0035】工程(4)…上記凹凸の溝を形成したレジ
スト膜37の被覆状態において、CF4、CHF3等の
エッチングガス中でスパッタリング(リアクティブイオ
ンエッチンッグ)を行いガラス基板11に溝12及びピ
ット部13を形成する。 【0036】工程(5)…上記レジスト膜37をアセト
ン等の溶媒、O2中でのスパッタリング等により除去す
る。この結果ガラス基板11に溝幅t2の案内溝12及
びピット幅t1の番地信号用ピット部13が形成され
る。 【0037】以上のようにして、図1に示した形状の案
内溝12及び番地信号用ピット部13がガラス基板11
上に形成される。 【0038】なお、上記実施例においては、ガラス円
板、光磁気ディスクの組み合わせに基づいて説明した
が、本発明は必ずしも上記実施例に限定されるものでは
なく、本発明の主旨の範囲内での種々の変形及び適用が
可能であることは言うまでもない。また、例えば、特開
昭57−120253号公報に記載されているように、
信号を記録する部分は溝の部分でも、溝と溝との間の土
手の部分であってもよいことは言うまでもない。 【0039】 【発明の効果】本発明によれば、トラッキングサーボ信
号、及び、ピット部や光磁気信号記録部に記録された信
号の全てにわたって品質のよい信号を得ることができ
る。また、小型で光の利用効率の高い光磁気記録再生装
置を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】光磁気メモリ素子の案内溝部及び該案内溝部の
番地を表す番地信号用ピット部の拡大図である。 【図2】案内溝部に沿った光磁気メモリ素子用円板の断
面一部拡大図である。 【図3】光磁気ディスク用ピックアップの構成を示す概
念図である。 【図4】光磁気ディスクの断面を示す一部拡大図であ
る。 【図5】C/Nとトラック幅の関係を示す図である。 【図6】トラック幅による番地信号の差を示す図であ
る。 【図7】記録信号もしくは番地信号用ピット部とビーム
径の関係を示す図である。 【図8】光磁気メモリ素子を製造するための一手段を示
す図である。 【図9】光磁気メモリ素子を製造するための電気入力信
号の一例を示す図である。 【図10】従来の光ディスク基板の断面構造を示す一部
拡大図である。 【符号の説明】 11 ガラス基板 12 案内溝 13 番地信号用ピット部 t1 ピット部のピット幅 t2 案内溝の溝幅
番地を表す番地信号用ピット部の拡大図である。 【図2】案内溝部に沿った光磁気メモリ素子用円板の断
面一部拡大図である。 【図3】光磁気ディスク用ピックアップの構成を示す概
念図である。 【図4】光磁気ディスクの断面を示す一部拡大図であ
る。 【図5】C/Nとトラック幅の関係を示す図である。 【図6】トラック幅による番地信号の差を示す図であ
る。 【図7】記録信号もしくは番地信号用ピット部とビーム
径の関係を示す図である。 【図8】光磁気メモリ素子を製造するための一手段を示
す図である。 【図9】光磁気メモリ素子を製造するための電気入力信
号の一例を示す図である。 【図10】従来の光ディスク基板の断面構造を示す一部
拡大図である。 【符号の説明】 11 ガラス基板 12 案内溝 13 番地信号用ピット部 t1 ピット部のピット幅 t2 案内溝の溝幅
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フロントページの続き
(72)発明者 乾 哲也
大阪府大阪市阿倍野区長池町22番22号
シャープ株式会社内
(72)発明者 出口 敏久
大阪府大阪市阿倍野区長池町22番22号
シャープ株式会社内
(72)発明者 前田 茂己
大阪府大阪市阿倍野区長池町22番22号
シャープ株式会社内
(56)参考文献 特開 昭60−129954(JP,A)
特開 昭60−121550(JP,A)
Claims (1)
- (57)【特許請求の範囲】 1.情報信号を光磁気記録する光磁気信号記録部と、該
光磁気信号記録部の幅よりも幅の狭いピット部とを備え
た光磁気メモリ素子に対して、情報の記録、再生、消去
の少なくとも1つの動作を行う光磁気記録再生装置であ
って、 前記光磁気メモリ素子に、前記光磁気信号記録部の幅よ
りも幅の広い光ビームを照射する手段と、 前記光ビームの前記光磁気メモリ素子からの反射光によ
り、トラッキングサーボ信号、前記光磁気信号記録部に
記録された信号、及び、前記ピット部に記録された信号
を得る手段と、を得ることを特徴とする光磁気記録再生
装置 。 2.情報信号を光磁気記録する光磁気信号記録部と、該
光磁気信号記録部の幅よりも幅の狭いピット部とを備え
た光磁気メモリ素子に対して、情報の記録、再生、消去
の少なくとも1つの動作を行う光磁気記録再生装置であ
って、 光磁気メモリ素子に、前記光磁気信号記録部の幅よりも
幅の広い光ビームを照射する手段と、 光磁気メモリ素子からの反射光を第1の光と第2の光の
2つに分離する偏光分離手段と、 第1の光を受光する第1光検出手段と、 第2の光を受光する第2光検出手段と、を備え、 第1光検出手段と第2光検出手段の出力を加算すること
で前記ピット部に記録された信号を得、第1光検出手段
と第2光検出手段の出力の差をとることで前記光磁気信
号記録部に記録された信号を得ることを特徴とする光磁
気記録再生装置 。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6009574A JP2863431B2 (ja) | 1994-01-31 | 1994-01-31 | 光磁気記録再生装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6009574A JP2863431B2 (ja) | 1994-01-31 | 1994-01-31 | 光磁気記録再生装置 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59207838A Division JPS6185653A (ja) | 1984-10-02 | 1984-10-02 | 光磁気メモリ素子 |
Related Child Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP09326014A Division JP3108671B2 (ja) | 1997-11-27 | 1997-11-27 | 光磁気メモリ素子 |
JP10236722A Division JP3108682B2 (ja) | 1998-08-24 | 1998-08-24 | 光磁気メモリ素子の製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06282890A JPH06282890A (ja) | 1994-10-07 |
JP2863431B2 true JP2863431B2 (ja) | 1999-03-03 |
Family
ID=11724086
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6009574A Expired - Lifetime JP2863431B2 (ja) | 1994-01-31 | 1994-01-31 | 光磁気記録再生装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2863431B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20010034530A1 (en) | 2000-01-27 | 2001-10-25 | Malackowski Donald W. | Surgery system |
US6497134B1 (en) | 2000-03-15 | 2002-12-24 | Image Guided Technologies, Inc. | Calibration of an instrument |
US8290570B2 (en) | 2004-09-10 | 2012-10-16 | Stryker Leibinger Gmbh & Co., Kg | System for ad hoc tracking of an object |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60121550A (ja) * | 1983-12-02 | 1985-06-29 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光学式情報記録担体 |
-
1994
- 1994-01-31 JP JP6009574A patent/JP2863431B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH06282890A (ja) | 1994-10-07 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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EXPY | Cancellation because of completion of term |