JP3318291B2 - 擬似雑音発生装置 - Google Patents
擬似雑音発生装置Info
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- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03B—GENERATION OF OSCILLATIONS, DIRECTLY OR BY FREQUENCY-CHANGING, BY CIRCUITS EMPLOYING ACTIVE ELEMENTS WHICH OPERATE IN A NON-SWITCHING MANNER; GENERATION OF NOISE BY SUCH CIRCUITS
- H03B29/00—Generation of noise currents and voltages
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- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、電磁妨害波に対す
る電子機器の耐妨害性（immunity）を評価するための擬
似雑音等の発生に用いられる擬似雑音発生装置に関する
ものである。
る電子機器の耐妨害性（immunity）を評価するための擬
似雑音等の発生に用いられる擬似雑音発生装置に関する
ものである。
【０００２】
【従来の技術】多くのノイズが加算された場合や、熱雑
音，都市雑音の場合などでは、ノイズの振幅はガウス分
布となる。この分布特性に擬似せしめるためにノイズ・
ダイオードを利用しホワイト・ガウス・ノイズを発生さ
せる雑音発生器がある。また、狭帯域デジタル通信では
通信システムのビット誤り率（ＢＥＲ：Bit Errer Rat
e）と電磁妨害波の信号確率分布（ＡＰＤ：Amplitude P
robability Distribution）との間に相関関係があり、
電磁妨害波のＡＰＤから通信システムのＢＥＲを推定す
ることができるという報告もあり、そこでは任意分布乱
数発生器を用いて、指定されたＡＰＤに従うノイズを発
生させている。（信学論文誌（Ａ），vol.Ｊ70−Ａ，N
o.11, pp1681-1690, Nov. 1987 参照）
音，都市雑音の場合などでは、ノイズの振幅はガウス分
布となる。この分布特性に擬似せしめるためにノイズ・
ダイオードを利用しホワイト・ガウス・ノイズを発生さ
せる雑音発生器がある。また、狭帯域デジタル通信では
通信システムのビット誤り率（ＢＥＲ：Bit Errer Rat
e）と電磁妨害波の信号確率分布（ＡＰＤ：Amplitude P
robability Distribution）との間に相関関係があり、
電磁妨害波のＡＰＤから通信システムのＢＥＲを推定す
ることができるという報告もあり、そこでは任意分布乱
数発生器を用いて、指定されたＡＰＤに従うノイズを発
生させている。（信学論文誌（Ａ），vol.Ｊ70−Ａ，N
o.11, pp1681-1690, Nov. 1987 参照）
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】ノイズの性質を表す際
の重要な統計パラメータとして振幅確率分布（ＡＰ
Ｄ）、交差率分布（ＣＲＤ：Crossing Rate Distributi
on）、パルス幅分布（ＰＤＤ：Pulse Duration Distrib
ution ）、パルス間隔分布（ＰＳＤ：Pulse SpacingDis
tribution）などがある。以下これらについて図１３を
参照して説明する。振幅確率分布（ＡＰＤ）は電磁妨害
波等の信号の瞬時値が予め設定されたしきい値以上にな
る時間率であり、測定時間Ｔ0 内にレベルＥk 以上の瞬
時値をとる信号の時間総計がどれくらいあるかを表す。
交差率分布（ＣＲＤ）は信号の瞬時値が特定のレベルＥ
k を正方向（あるいは負方向）に交差する単位時間あた
りの回数で定義される。パルス幅分布（ＰＤＤ）は信号
の瞬時値が所定の測定時間Ｔ0 内にしきい値Ｅ k を超え
ている時間Ｗi （ｋ）の確率分布で定義され、パルス間
隔分布（ＰＳＤ）は、パルス幅とは逆に、信号の瞬時値
が所定の測定時間Ｔ0 内にしきい値Ｅkより低い値をと
る時間Ｚi （ｋ）の確率分布で定義される。すなわち、
ＰＤＤ，ＰＳＤは信号がしきい値に交差してから次に交
差するまでの時間幅の確率分布である。また、確率密度
関数（ＰＤＦ：Probability Density Function）は、測
定時間Ｔ0 中におけるレベルＥk の分布を表す。ホワイ
ト・ガウス・ノイズを発生させる擬似雑音発生器はノイ
ズの分散と平均を指定することができるが、ノイズの分
布はホワイト・ガウス・ノイズに限定されておりＡＰＤ
を指定することができない。任意分布乱数発生器を用い
たものはノイズのＡＰＤを指定し、任意のＡＰＤを持つ
ノイズを発生することができるが、時間相関のない独立
事象を対象としている。しかし、電子レンジや一般の電
子機器からのノイズは、電源電圧の周期や動作クロック
の周期に依存した非独立事象であり、任意分布乱数発生
器を使用した擬似雑音発生器からのノイズのＣＲＤ，Ｐ
ＤＤ，ＰＳＤなどが、時間相関のある非独立事象のノイ
ズのＣＲＤ，ＰＤＤ，ＰＳＤとは異なっている。
の重要な統計パラメータとして振幅確率分布（ＡＰ
Ｄ）、交差率分布（ＣＲＤ：Crossing Rate Distributi
on）、パルス幅分布（ＰＤＤ：Pulse Duration Distrib
ution ）、パルス間隔分布（ＰＳＤ：Pulse SpacingDis
tribution）などがある。以下これらについて図１３を
参照して説明する。振幅確率分布（ＡＰＤ）は電磁妨害
波等の信号の瞬時値が予め設定されたしきい値以上にな
る時間率であり、測定時間Ｔ0 内にレベルＥk 以上の瞬
時値をとる信号の時間総計がどれくらいあるかを表す。
交差率分布（ＣＲＤ）は信号の瞬時値が特定のレベルＥ
k を正方向（あるいは負方向）に交差する単位時間あた
りの回数で定義される。パルス幅分布（ＰＤＤ）は信号
の瞬時値が所定の測定時間Ｔ0 内にしきい値Ｅ k を超え
ている時間Ｗi （ｋ）の確率分布で定義され、パルス間
隔分布（ＰＳＤ）は、パルス幅とは逆に、信号の瞬時値
が所定の測定時間Ｔ0 内にしきい値Ｅkより低い値をと
る時間Ｚi （ｋ）の確率分布で定義される。すなわち、
ＰＤＤ，ＰＳＤは信号がしきい値に交差してから次に交
差するまでの時間幅の確率分布である。また、確率密度
関数（ＰＤＦ：Probability Density Function）は、測
定時間Ｔ0 中におけるレベルＥk の分布を表す。ホワイ
ト・ガウス・ノイズを発生させる擬似雑音発生器はノイ
ズの分散と平均を指定することができるが、ノイズの分
布はホワイト・ガウス・ノイズに限定されておりＡＰＤ
を指定することができない。任意分布乱数発生器を用い
たものはノイズのＡＰＤを指定し、任意のＡＰＤを持つ
ノイズを発生することができるが、時間相関のない独立
事象を対象としている。しかし、電子レンジや一般の電
子機器からのノイズは、電源電圧の周期や動作クロック
の周期に依存した非独立事象であり、任意分布乱数発生
器を使用した擬似雑音発生器からのノイズのＣＲＤ，Ｐ
ＤＤ，ＰＳＤなどが、時間相関のある非独立事象のノイ
ズのＣＲＤ，ＰＤＤ，ＰＳＤとは異なっている。
【０００４】本発明の目的は、ノイズの振幅確率分布を
指定することができ、同時に指定振幅レベルｋでのパル
ス幅分布とパルス間隔分布を指定することができる擬似
雑音発生装置を提供することである。
指定することができ、同時に指定振幅レベルｋでのパル
ス幅分布とパルス間隔分布を指定することができる擬似
雑音発生装置を提供することである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】この課題を解決するた
め、本発明による擬似雑音発生装置は、指定振幅確率分
布を指定レベルで二つに分割して、分割された振幅確率
分布にそれぞれ対応する乱数信号を生成する任意分布乱
数生成部と、前記指定レベルでの指定パルス幅分布、指
定パルス間隔分布に従う乱数信号を生成する任意分布乱
数生成部と、前記分割された振幅確率分布に対応する乱
数信号を前記指定レベルでの指定パルス幅分布、前記指
定パルス間隔分布に従う信号で選択する制御部と、前記
選択された信号をアナログ値に変換するＤ／Ａコンバー
タとを備え、前記指定振幅確率分布と前記指定レベルで
の前記指定パルス幅分布、前記指定パルス間隔分布に従
う擬似雑音を生成するように構成されている。
め、本発明による擬似雑音発生装置は、指定振幅確率分
布を指定レベルで二つに分割して、分割された振幅確率
分布にそれぞれ対応する乱数信号を生成する任意分布乱
数生成部と、前記指定レベルでの指定パルス幅分布、指
定パルス間隔分布に従う乱数信号を生成する任意分布乱
数生成部と、前記分割された振幅確率分布に対応する乱
数信号を前記指定レベルでの指定パルス幅分布、前記指
定パルス間隔分布に従う信号で選択する制御部と、前記
選択された信号をアナログ値に変換するＤ／Ａコンバー
タとを備え、前記指定振幅確率分布と前記指定レベルで
の前記指定パルス幅分布、前記指定パルス間隔分布に従
う擬似雑音を生成するように構成されている。
【０００６】
【発明の実施の形態】図１は指定ＡＰＤ，指定ＰＤＤ，
指定ＰＳＤに従う本発明による擬似雑音発生装置の原理
を説明するためのブロック図である。本装置は図１に示
すように任意分布乱数生成方法を用いた四つの任意分布
乱数発生部ＡＰＤ1 ，ＡＰＤ2 ，ＰＤＤ0 ，ＰＳＤ0 と
一つのセレクタ部ＳＬとから構成されている。ここでは
ＰＤＤ，ＰＳＤの設定は同レベル，一箇所とする。これ
をｋとし、ｋ以上の値を示す乱数符号を生成する任意分
布乱数発生器ＡＰＤ1 、ｋ以下の値を示す乱数符号を生
成する任意分布乱数発生器ＡＰＤ2 を用意し、これらを
指定されたＰＤＤ，ＰＳＤを満足するように切り替え
て、指定されたＡＰＤ，ＰＤＤ，ＰＳＤに従う乱数符号
を生成する。すなわち、擬似雑音の生成は、次のように
行われる。 任意分布乱数発生器ＰＤＤ0 によりパルス継続時間
分布ｐｄｄ（ｉ1 ）に従うＮビットの２進符号ｉ1 を生
成し、パルス継続時間Ｔi1を決定する。時間Ｔ i1の間、
任意分布乱数発生器ＡＰＤ1 によりａｐｄ1 （ｘ1 ）に
従うＭビットの２進符号ｘ1 を生成し、擬似雑音ｘとし
て出力する。 パルス継続時間Ｔi1の終了後、任意分布乱数発生器
ＰＳＤ0 によりパルス間隔分布ｐｓｄ（ｉ2 ）に従うＮ
ビットの２進符号ｉ2 を生成し、パルス継続時間Ｔi2を
決定する。時間Ｔi2の間、任意分布乱数発生器ＡＰＤ2
によりａｐｄ2（ｘ2 ）に従うＭビットの２進符号ｘ2
を生成し、擬似雑音ｘとして出力する。 ，を交互に繰り返す。以上の操作により、指定
ＡＰＤに従い、同時に指定ＰＤＤ，指定ＰＳＤをも満足
するＭビットの２進符号列ｘを生成し、Ｄ／Ａ変換し、
擬似雑音として出力する。
指定ＰＳＤに従う本発明による擬似雑音発生装置の原理
を説明するためのブロック図である。本装置は図１に示
すように任意分布乱数生成方法を用いた四つの任意分布
乱数発生部ＡＰＤ1 ，ＡＰＤ2 ，ＰＤＤ0 ，ＰＳＤ0 と
一つのセレクタ部ＳＬとから構成されている。ここでは
ＰＤＤ，ＰＳＤの設定は同レベル，一箇所とする。これ
をｋとし、ｋ以上の値を示す乱数符号を生成する任意分
布乱数発生器ＡＰＤ1 、ｋ以下の値を示す乱数符号を生
成する任意分布乱数発生器ＡＰＤ2 を用意し、これらを
指定されたＰＤＤ，ＰＳＤを満足するように切り替え
て、指定されたＡＰＤ，ＰＤＤ，ＰＳＤに従う乱数符号
を生成する。すなわち、擬似雑音の生成は、次のように
行われる。 任意分布乱数発生器ＰＤＤ0 によりパルス継続時間
分布ｐｄｄ（ｉ1 ）に従うＮビットの２進符号ｉ1 を生
成し、パルス継続時間Ｔi1を決定する。時間Ｔ i1の間、
任意分布乱数発生器ＡＰＤ1 によりａｐｄ1 （ｘ1 ）に
従うＭビットの２進符号ｘ1 を生成し、擬似雑音ｘとし
て出力する。 パルス継続時間Ｔi1の終了後、任意分布乱数発生器
ＰＳＤ0 によりパルス間隔分布ｐｓｄ（ｉ2 ）に従うＮ
ビットの２進符号ｉ2 を生成し、パルス継続時間Ｔi2を
決定する。時間Ｔi2の間、任意分布乱数発生器ＡＰＤ2
によりａｐｄ2（ｘ2 ）に従うＭビットの２進符号ｘ2
を生成し、擬似雑音ｘとして出力する。 ，を交互に繰り返す。以上の操作により、指定
ＡＰＤに従い、同時に指定ＰＤＤ，指定ＰＳＤをも満足
するＭビットの２進符号列ｘを生成し、Ｄ／Ａ変換し、
擬似雑音として出力する。
【０００７】以上のように、本発明による擬似雑音発生
装置では、指定振幅確率分布ａｐｄ（ｘ）に従う信号ｘ
を生成する任意分布乱数発生器の代わりに、ａｐｄ
1 （ｘ1）に従う信号ｘ1 とａｐｄ2 （ｘ2 ）に従うｘ
2 を排他的に生成する任意分布乱数発生器１００を用い
る。振幅確率分布ａｐｄ1 （ｘ1 ）とａｐｄ2 （ｘ2 ）
は指定振幅確率分布ａｐｄ（ｘ）から計算される。ま
た、信号ｘ1 を生成するか、信号ｘ2 を生成するかを選
択するためのメモリ選択信号ｓを出力する制御部を有す
る。さらに、制御部がメモリ選択信号ｓを切り替える際
に必要となるｐｄｄ（ｉ1）に従うｉ1 またはｐｓｄ
（ｉ2 ）に従う信号ｉ2 を排他的に生成する任意乱数発
生器２００を有する。ｐｄｄ（ｉ1 ），ｐｓｄ（ｉ2 ）
の指定は同レベル，一箇所とする。これをｋとする。ま
た、任意分布乱数発生器１００により生成された信号ｘ
（ｘ1 またはｘ2 ）をアナログ値に変換し出力するため
のＤ／Ａコンバータを有する。このＤ／Ａコンバータで
アナログ信号に変換された信号は、ケーブルを使用して
通信システムに直接入力する。または、アップコンバー
タなどで信号の周波数帯域を移動させ、アンテナから放
射させることができる。
装置では、指定振幅確率分布ａｐｄ（ｘ）に従う信号ｘ
を生成する任意分布乱数発生器の代わりに、ａｐｄ
1 （ｘ1）に従う信号ｘ1 とａｐｄ2 （ｘ2 ）に従うｘ
2 を排他的に生成する任意分布乱数発生器１００を用い
る。振幅確率分布ａｐｄ1 （ｘ1 ）とａｐｄ2 （ｘ2 ）
は指定振幅確率分布ａｐｄ（ｘ）から計算される。ま
た、信号ｘ1 を生成するか、信号ｘ2 を生成するかを選
択するためのメモリ選択信号ｓを出力する制御部を有す
る。さらに、制御部がメモリ選択信号ｓを切り替える際
に必要となるｐｄｄ（ｉ1）に従うｉ1 またはｐｓｄ
（ｉ2 ）に従う信号ｉ2 を排他的に生成する任意乱数発
生器２００を有する。ｐｄｄ（ｉ1 ），ｐｓｄ（ｉ2 ）
の指定は同レベル，一箇所とする。これをｋとする。ま
た、任意分布乱数発生器１００により生成された信号ｘ
（ｘ1 またはｘ2 ）をアナログ値に変換し出力するため
のＤ／Ａコンバータを有する。このＤ／Ａコンバータで
アナログ信号に変換された信号は、ケーブルを使用して
通信システムに直接入力する。または、アップコンバー
タなどで信号の周波数帯域を移動させ、アンテナから放
射させることができる。
【０００８】このような本発明による擬似雑音発生装置
では、任意乱数発生器２００によりｐｄｄ（ｉ1 ）に従
う信号ｉ1 を生成し、ｉ1 に対応する時間Ｔi1の間は任
意乱数発生器１００によりａｐｄ1 （ｘ1 ）に従う信号
ｘ1 を生成し続ける。その後、任意乱数発生器２００に
よりｐｓｄ（ｉ2 ）に従う信号ｉ2 を生成し、ｉ2 に対
応する時間Ｔi2の間は任意乱数発生器１００によりａｐ
ｄ2 （ｘ2 ）に従う信号ｘ2 を生成し続ける。このａｐ
ｄ1 （ｘ1 ）とａｐｄ2 （ｘ2 ）の切り替え、及びｐｄ
ｄ（ｉ1 ）とｐｓｄ（ｉ2 ）の切り替えはセレクタＳＬ
からの信号ｓにより行う。ａｐｄ1 （ｘ1 ）に従う信号
ｘ1 は振幅レベルがｋ以上であり、ａｐｄ2 （ｘ 2 ）に
従う信号ｘ2 は振幅レベルがｋ以下であるので、このよ
うに動作させれば、振幅レベルｋでのＰＤＤ，ＰＳＤの
指定はｐｄｄ（Ｔi1），ｐｓｄ（Ｔi2）に従うことにな
る。また、ａｐｄ1 （ｘ1 ）とａｐｄ2 （ｘ2 ）はａｐ
ｄ（ｘ）から計算されており、振幅レベルｋでのａｐｄ
（ｋ）とｐｄｄ（ｉ1 ）とｐｓｄ（ｉ2 ）が式（１）の
関係を満足すれば、任意分布乱数発生器１００により生
成された信号ｘ（ｘ 1 またはｘ2 ）はａｐｄ（ｘ）に従
う。ここでＭは任意分布乱数発生器１００で生成される
信号ｘ（ｘ1 またはｘ2 ）のビット数、Ｎは任意分布乱
数発生器２００で生成される信号ｉ（ｉ1 またはｉ2 ）
のビット数である。
では、任意乱数発生器２００によりｐｄｄ（ｉ1 ）に従
う信号ｉ1 を生成し、ｉ1 に対応する時間Ｔi1の間は任
意乱数発生器１００によりａｐｄ1 （ｘ1 ）に従う信号
ｘ1 を生成し続ける。その後、任意乱数発生器２００に
よりｐｓｄ（ｉ2 ）に従う信号ｉ2 を生成し、ｉ2 に対
応する時間Ｔi2の間は任意乱数発生器１００によりａｐ
ｄ2 （ｘ2 ）に従う信号ｘ2 を生成し続ける。このａｐ
ｄ1 （ｘ1 ）とａｐｄ2 （ｘ2 ）の切り替え、及びｐｄ
ｄ（ｉ1 ）とｐｓｄ（ｉ2 ）の切り替えはセレクタＳＬ
からの信号ｓにより行う。ａｐｄ1 （ｘ1 ）に従う信号
ｘ1 は振幅レベルがｋ以上であり、ａｐｄ2 （ｘ 2 ）に
従う信号ｘ2 は振幅レベルがｋ以下であるので、このよ
うに動作させれば、振幅レベルｋでのＰＤＤ，ＰＳＤの
指定はｐｄｄ（Ｔi1），ｐｓｄ（Ｔi2）に従うことにな
る。また、ａｐｄ1 （ｘ1 ）とａｐｄ2 （ｘ2 ）はａｐ
ｄ（ｘ）から計算されており、振幅レベルｋでのａｐｄ
（ｋ）とｐｄｄ（ｉ1 ）とｐｓｄ（ｉ2 ）が式（１）の
関係を満足すれば、任意分布乱数発生器１００により生
成された信号ｘ（ｘ 1 またはｘ2 ）はａｐｄ（ｘ）に従
う。ここでＭは任意分布乱数発生器１００で生成される
信号ｘ（ｘ1 またはｘ2 ）のビット数、Ｎは任意分布乱
数発生器２００で生成される信号ｉ（ｉ1 またはｉ2 ）
のビット数である。
【０００９】
【数１】
【００１０】本発明においては、パルス幅分布ＰＤＤと
パルス間隔分布ＰＳＤの指定は、分布幅を持つ分布の指
定に限定されるものではなく、式（１）の条件を満足す
れば、特定の値を分布の特殊例として指定する場合を包
含する。
パルス間隔分布ＰＳＤの指定は、分布幅を持つ分布の指
定に限定されるものではなく、式（１）の条件を満足す
れば、特定の値を分布の特殊例として指定する場合を包
含する。
【００１１】
【実施例】図２に擬似雑音発生装置の実施例を示す。こ
の実施例では８ビットの信号を生成する任意分布乱数発
生器を用いた。本装置は図２に示すように任意分布乱数
発生部１、任意分布乱数発生器部２、制御部３、Ｄ／Ａ
コンバータ４から構成される。
の実施例では８ビットの信号を生成する任意分布乱数発
生器を用いた。本装置は図２に示すように任意分布乱数
発生部１、任意分布乱数発生器部２、制御部３、Ｄ／Ａ
コンバータ４から構成される。
【００１２】図３に任意分布乱数発生部１の内部構成を
示す。任意分布乱数発生部１は８ビットの信号ｘ（ｘ＝
ｘ1 又はｘ2 ）を生成するために、８個のビット生成部
１−１〜１−８と８個のラッチ回路１−１１〜１−１８
を備えている。任意分布乱数発生器１は各ビット生成部
１−１〜１−８とラッチ回路１−１１〜１−１８を交互
に縦続に接続し、各ビット生成部を各クロックパルスの
立ち上がりで同時に動作させている。
示す。任意分布乱数発生部１は８ビットの信号ｘ（ｘ＝
ｘ1 又はｘ2 ）を生成するために、８個のビット生成部
１−１〜１−８と８個のラッチ回路１−１１〜１−１８
を備えている。任意分布乱数発生器１は各ビット生成部
１−１〜１−８とラッチ回路１−１１〜１−１８を交互
に縦続に接続し、各ビット生成部を各クロックパルスの
立ち上がりで同時に動作させている。
【００１３】図４は各ビット生成部１−１〜１−８の構
成を示す。各ビット生成部１−１〜１−８は一様乱数発
生部１１、メモリ１２と比較部１３から構成されてい
る。メモリ１２内には信号ｘ（ｘ＝ｘ1 又はｘ2 ）の各
ビット（ａ，ｂ，…ｈ）を決定するためのデータｙが次
のように計算され格納されている。ａｐｄ1 （ｘ1 ）は
ａｐｄ（ｘ）に従う信号ｘ（＝ｘ1 ）のうちｋ≦ｘであ
るｘ1 を生成する部分に相当し、式（２）で表される。
成を示す。各ビット生成部１−１〜１−８は一様乱数発
生部１１、メモリ１２と比較部１３から構成されてい
る。メモリ１２内には信号ｘ（ｘ＝ｘ1 又はｘ2 ）の各
ビット（ａ，ｂ，…ｈ）を決定するためのデータｙが次
のように計算され格納されている。ａｐｄ1 （ｘ1 ）は
ａｐｄ（ｘ）に従う信号ｘ（＝ｘ1 ）のうちｋ≦ｘであ
るｘ1 を生成する部分に相当し、式（２）で表される。
【００１４】
【数２】
【００１５】ａｐｄ2 （ｘ2 ）はａｐｄ（ｘ）に従う信
号ｘ（＝ｘ2 ）のうちｋ＞ｘであるｘ2 を生成する部分
に相当し、式（３）で表される。
号ｘ（＝ｘ2 ）のうちｋ＞ｘであるｘ2 を生成する部分
に相当し、式（３）で表される。
【数３】
【００１６】式（２），（３）により計算されたａｐｄ
1 （ｘ1 ），ａｐｄ2 （ｘ2 ）は、式（４），（５）に
より条件付確率ｐｃ1 （ｊ，ｒ），ｐｃ2 （ｊ，ｒ）に
変換され、図５のように各ビット生成部内のメモリに各
ビットを決定するためのデータｙとして格納される。但
し、ｊ＝１，２，…８，ｒ＝０，１，…２j-1 −１であ
る。
1 （ｘ1 ），ａｐｄ2 （ｘ2 ）は、式（４），（５）に
より条件付確率ｐｃ1 （ｊ，ｒ），ｐｃ2 （ｊ，ｒ）に
変換され、図５のように各ビット生成部内のメモリに各
ビットを決定するためのデータｙとして格納される。但
し、ｊ＝１，２，…８，ｒ＝０，１，…２j-1 −１であ
る。
【００１７】
【数４】
【００１８】次に図６及び図４を用いて任意分布乱数発
生器１の動作を解説する。任意分布乱数発生器１内の第
２ビット生成部１−２には直前の clock１の各パルスの
立ち上がりで第１ビット生成部１−１からラッチ１１を
介してその出力Ａ（ｓ1 ，ａ1 ）というビットデータが
送られる。このｓ1 はメモリ選択信号ｓであり、ａ1 は
第１ビット生成部１−１で生成された任意分布乱数ｘの
第１ビットａである。同時に clock１の各パルスの立ち
上がりで、図４に示す如き構成を有する第２ビット生成
部１−２内の一様乱数生成部１１は一様乱数ｚを生成す
る。そして（ｓ1 ，ａ1 ）をアドレスとしてメモリ１２
から第２ビット生成部１−２で使用するデータｙを取り
出し、ｙとｚを比較部１２で比較する。このときの比較
器１２の出力は、ｙ＜ｚならば任意分布乱数ｘの第２ビ
ットｂ1 は１であり、ｙ≧ｚならば第７ビットｂ1 は０
である。
生器１の動作を解説する。任意分布乱数発生器１内の第
２ビット生成部１−２には直前の clock１の各パルスの
立ち上がりで第１ビット生成部１−１からラッチ１１を
介してその出力Ａ（ｓ1 ，ａ1 ）というビットデータが
送られる。このｓ1 はメモリ選択信号ｓであり、ａ1 は
第１ビット生成部１−１で生成された任意分布乱数ｘの
第１ビットａである。同時に clock１の各パルスの立ち
上がりで、図４に示す如き構成を有する第２ビット生成
部１−２内の一様乱数生成部１１は一様乱数ｚを生成す
る。そして（ｓ1 ，ａ1 ）をアドレスとしてメモリ１２
から第２ビット生成部１−２で使用するデータｙを取り
出し、ｙとｚを比較部１２で比較する。このときの比較
器１２の出力は、ｙ＜ｚならば任意分布乱数ｘの第２ビ
ットｂ1 は１であり、ｙ≧ｚならば第７ビットｂ1 は０
である。
【００１９】第２ビット生成部１−２は次の clock１の
パルスの立ち上がりで（ｓ1 ，ａ1，ｂ1 ）というビッ
トデータを図示しない第３ビット生成部に送り、新たに
第１ビット生成部１−１から（ｓ2 ，ａ2 ）というビッ
トデータを送られ、このビットデータから第２ビット生
成部１−２で次のクロックの第２ビットｂ2 を生成す
る。各ビット生成部も同様に前段のビット生成部から送
られたビットデータから当該ビットを生成し、前段のビ
ット生成部から送られたビットデータと当該ビット生成
部で生成されたビットを併せて、次段のビット生成部に
送る。
パルスの立ち上がりで（ｓ1 ，ａ1，ｂ1 ）というビッ
トデータを図示しない第３ビット生成部に送り、新たに
第１ビット生成部１−１から（ｓ2 ，ａ2 ）というビッ
トデータを送られ、このビットデータから第２ビット生
成部１−２で次のクロックの第２ビットｂ2 を生成す
る。各ビット生成部も同様に前段のビット生成部から送
られたビットデータから当該ビットを生成し、前段のビ
ット生成部から送られたビットデータと当該ビット生成
部で生成されたビットを併せて、次段のビット生成部に
送る。
【００２０】ただし、第１ビット生成部１−１は初段で
あるので前段のビット生成部から送られたビットデータ
ではなく、図６のように制御部３からのメモリ選択信号
ｓのみが入力される。第８ビット生成部１−８は最終段
であるので、次段にメモリ選択信号ｓを送る必要がなく
図６のようにメモリ選択信号ｓを取り除いた信号ｘ（ｘ
＝ａ，ｂ，…，ｈ）をＤ／Ａコンバータ４に送る。
あるので前段のビット生成部から送られたビットデータ
ではなく、図６のように制御部３からのメモリ選択信号
ｓのみが入力される。第８ビット生成部１−８は最終段
であるので、次段にメモリ選択信号ｓを送る必要がなく
図６のようにメモリ選択信号ｓを取り除いた信号ｘ（ｘ
＝ａ，ｂ，…，ｈ）をＤ／Ａコンバータ４に送る。
【００２１】以上の動作により任意分布乱数発生部１は
制御部３からのメモリ選択信号ｓが１”のとき clock１
のパルスに同期してａｐｄ1 （ｘ1 ）に従う信号ｘ1 を
生成し、制御部３からのメモリ選択信号ｓが“０”のと
き clock１のパルスに同期してａｐｄ2 （ｘ2 ）に従う
信号ｘ2 を生成する。
制御部３からのメモリ選択信号ｓが１”のとき clock１
のパルスに同期してａｐｄ1 （ｘ1 ）に従う信号ｘ1 を
生成し、制御部３からのメモリ選択信号ｓが“０”のと
き clock１のパルスに同期してａｐｄ2 （ｘ2 ）に従う
信号ｘ2 を生成する。
【００２２】図７は任意分布乱数発生部２の構成と動作
を表している。任意分布乱数発生器２はａｐｄ
1 （ｘ1 ）に従う信号ｘ1 の生成時間Ｔi1とａｐｄ
2 （ｘ2 ）に従う信号ｘ2 の生成時間Ｔi2を決定する信
号ｉ1 ，ｉ2 を交互に生成する。任意分布乱数発生部２
も任意分布乱数発生器１と同様に動作する。但し、 clo
ck１の代わりに clock２を使用する。また、各ビット生
成部２−１〜２−８内のメモリ１２にはａｐｄ
1 （ｘ1 ），ａｐｄ2 （ｘ2 ）用データではなく、ｐｄ
ｄ（ｉ1 ），ｐｓｄ（ｉ2 ）に従う信号を発生させるた
めのデータが格納されている。パルス幅Ｔi1の分布を個
数ｎ（Ｔi1）で表したものから、任意分布乱数生成部２
で使用するデータｐｄｄ（ｉ1 ）を式（６）により計算
する。
を表している。任意分布乱数発生器２はａｐｄ
1 （ｘ1 ）に従う信号ｘ1 の生成時間Ｔi1とａｐｄ
2 （ｘ2 ）に従う信号ｘ2 の生成時間Ｔi2を決定する信
号ｉ1 ，ｉ2 を交互に生成する。任意分布乱数発生部２
も任意分布乱数発生器１と同様に動作する。但し、 clo
ck１の代わりに clock２を使用する。また、各ビット生
成部２−１〜２−８内のメモリ１２にはａｐｄ
1 （ｘ1 ），ａｐｄ2 （ｘ2 ）用データではなく、ｐｄ
ｄ（ｉ1 ），ｐｓｄ（ｉ2 ）に従う信号を発生させるた
めのデータが格納されている。パルス幅Ｔi1の分布を個
数ｎ（Ｔi1）で表したものから、任意分布乱数生成部２
で使用するデータｐｄｄ（ｉ1 ）を式（６）により計算
する。
【００２３】
【数５】
【００２４】ｐｓｄ（ｉ2 ）もｐｄｄ（ｉ1 ）と同様に
設定する。パルス間隔Ｔi2の分布を個数ｍ（Ｔi2）で表
したものから、任意分布乱数生成部２で使用するデータ
ｐｓｄ（ｉ2 ）を式（７）により計算する。
設定する。パルス間隔Ｔi2の分布を個数ｍ（Ｔi2）で表
したものから、任意分布乱数生成部２で使用するデータ
ｐｓｄ（ｉ2 ）を式（７）により計算する。
【００２５】
【数６】
【００２６】このｐｄｄ（ｉ1 ），ｐｓｄ（ｉ2 ）を式
（８），式（９）により試行確率ｐｃ1 （ｊ，ｒ），ｐ
ｃ2 （ｊ，ｒ）に変換し任意分布乱数生成部２のメモリ
１２に格納する。ここで、式（６），式（７）における
ｉ1 およびｉ2 は式（８）では括弧内のようにｊとｒで
表されている。但し、ビット信号ｊ＝１，２，…，８，
ｒ＝０，１，…，２j-1 −１である。ここで、ｒは（ｊ
−１）回目までの試行結果により決定される値である。
各ビット生成部２−１〜２−８のメモリ１２内へのデー
タ配置は任意分布乱数生成部１と同様に図５に示す通り
である。
（８），式（９）により試行確率ｐｃ1 （ｊ，ｒ），ｐ
ｃ2 （ｊ，ｒ）に変換し任意分布乱数生成部２のメモリ
１２に格納する。ここで、式（６），式（７）における
ｉ1 およびｉ2 は式（８）では括弧内のようにｊとｒで
表されている。但し、ビット信号ｊ＝１，２，…，８，
ｒ＝０，１，…，２j-1 −１である。ここで、ｒは（ｊ
−１）回目までの試行結果により決定される値である。
各ビット生成部２−１〜２−８のメモリ１２内へのデー
タ配置は任意分布乱数生成部１と同様に図５に示す通り
である。
【００２７】
【数７】
【００２８】次に制御部３について述べる。制御部３の
構成を図８に示す。制御部３はＩ−Ｔ変換部２０、３２
ビットのダウンカウンタ２１、メモリ選択信号生成部２
２とclock２生成部２３が図８のように接続されたもの
である。Ｉ−Ｔ変換部２０はアドレス８ビット、データ
３２ビットのメモリであり、ｉ（＝ｉ1 又はｉ2 ）をア
ドレスとして入力し、アドレスに格納されているデータ
Ｔ* （＊＝ｉ1 orｉ2）を出力する。
構成を図８に示す。制御部３はＩ−Ｔ変換部２０、３２
ビットのダウンカウンタ２１、メモリ選択信号生成部２
２とclock２生成部２３が図８のように接続されたもの
である。Ｉ−Ｔ変換部２０はアドレス８ビット、データ
３２ビットのメモリであり、ｉ（＝ｉ1 又はｉ2 ）をア
ドレスとして入力し、アドレスに格納されているデータ
Ｔ* （＊＝ｉ1 orｉ2）を出力する。
【００２９】制御部３は時間Ｔi1の間はメモリ選択信号
ｓを“１”、時間Ｔi2の間はメモリ選択信号ｓを“０”
とし、ａｐｄ1 （ｘ1 ）に従う任意分布乱数の発生時間
Ｔi1とａｐｄ2 （ｘ2 ）に従う任意分布乱数の発生時間
Ｔi2の制御を行う。制御部３は図８のタイミングチャー
トのように動作する。いま、メモリ選択信号ｓが“１”
でダウンカウンタ２１のカウンタ値ｃを１ずつ減算して
いく。この間、任意分布乱数発生器１ではａｐｄ1 （ｘ
1 ）が生成される。カウンタ値ｃが“０”になると、 c
lock１のパルスの立ち下がりでメモリ選択信号ｓを
“０”に反転させ、任意分布乱数発生器１でａｐｄ
2 （ｘ2 ）に従う信号ｘ2 を生成する準備を行う。
ｓを“１”、時間Ｔi2の間はメモリ選択信号ｓを“０”
とし、ａｐｄ1 （ｘ1 ）に従う任意分布乱数の発生時間
Ｔi1とａｐｄ2 （ｘ2 ）に従う任意分布乱数の発生時間
Ｔi2の制御を行う。制御部３は図８のタイミングチャー
トのように動作する。いま、メモリ選択信号ｓが“１”
でダウンカウンタ２１のカウンタ値ｃを１ずつ減算して
いく。この間、任意分布乱数発生器１ではａｐｄ1 （ｘ
1 ）が生成される。カウンタ値ｃが“０”になると、 c
lock１のパルスの立ち下がりでメモリ選択信号ｓを
“０”に反転させ、任意分布乱数発生器１でａｐｄ
2 （ｘ2 ）に従う信号ｘ2 を生成する準備を行う。
【００３０】ダウンカウンタ２１はカウンタ値ｃが
“０”になると clock１の次のパルスの立ち上がりで新
たにＴi2をカウンタにセットする。同時にカウンタ値が
“０”になると clock１の次のパルスの立ち上がりで c
lock２のパルスｐ2 を出力し、任意分布乱数発生器２を
動作させ任意分布乱数発生器２で新たにｉ1'を生成す
る。同時にＩ−Ｔ変換部２０はｉ1'をＴi1' に変換す
る。制御部３はｓ＝“１”の場合と同様にカウンタを減
算していく。この間、任意分布乱数発生器１ではａｐｄ
2 （ｘ2 ）に従うｘ2 が生成される。ダウンカウンタ２
１のカウンタ値ｃが“０”になるとｓをｓ＝“１”に反
転させ、Ｔi1' をカウンタにセットし最初の動作に戻
る。以上の動作により、制御部３のダウンカウンタ２１
にはＴi1とＴi2が交互にセットされ、Ｔi1とＴi2に対応
してｓが“１”と“０”と交互に反転し、ａｐｄ1（ｘ
1 ）に従う信号ｘ1 とａｐｄ2 （ｘ2 ）に従う信号ｘ2
の生成の制御を行う。
“０”になると clock１の次のパルスの立ち上がりで新
たにＴi2をカウンタにセットする。同時にカウンタ値が
“０”になると clock１の次のパルスの立ち上がりで c
lock２のパルスｐ2 を出力し、任意分布乱数発生器２を
動作させ任意分布乱数発生器２で新たにｉ1'を生成す
る。同時にＩ−Ｔ変換部２０はｉ1'をＴi1' に変換す
る。制御部３はｓ＝“１”の場合と同様にカウンタを減
算していく。この間、任意分布乱数発生器１ではａｐｄ
2 （ｘ2 ）に従うｘ2 が生成される。ダウンカウンタ２
１のカウンタ値ｃが“０”になるとｓをｓ＝“１”に反
転させ、Ｔi1' をカウンタにセットし最初の動作に戻
る。以上の動作により、制御部３のダウンカウンタ２１
にはＴi1とＴi2が交互にセットされ、Ｔi1とＴi2に対応
してｓが“１”と“０”と交互に反転し、ａｐｄ1（ｘ
1 ）に従う信号ｘ1 とａｐｄ2 （ｘ2 ）に従う信号ｘ2
の生成の制御を行う。
【００３１】以下に従来法と本発明装置を用いた計算機
による擬似雑音発生のシミュレーションを示す。シミュ
レーションでは電子レンジからの妨害波のＡＰＤ，ＰＤ
Ｄ，ＰＳＤを測定し、設定値として用いた。このＡＰ
Ｄ，ＰＤＤ，ＰＳＤは現実の妨害波から測定したものな
ので、必然的に式（１）を満たしている。図９（ａ）
（ｂ）（ｃ），図１０が電子レンジ妨害波とＡＰＤのみ
を指定した従来法による擬似雑音の結果である。図９
（ａ）の実線が電子レンジからの妨害波のＡＰＤを表
し、従来法によるこのＡＰＤを設定値として用いた。ま
た、図９（ｂ）の実線が電子レンジからの妨害波のＣＲ
Ｄ、図９（ｃ）の実線が電子レンジからの妨害波のＰＤ
Ｆを表している。図９（ａ）（ｂ）（ｃ）におけるそれ
ぞれの記号が擬似雑音のＡＰＤ（○）、ＣＲＤ（黒
△）、ＰＤＦ（×）を表している。図１０は電子レンジ
妨害波のＰＤＤ（実線）と擬似雑音のＰＤＤ（●）を表
している。図９（ａ）（ｂ）（ｃ），図１０からも分か
るように、電子レンジの妨害波と擬似雑音とがＡＰＤと
ＰＤＦでは一致しているが、ＣＲＤ，ＰＤＤでは異なっ
ている。
による擬似雑音発生のシミュレーションを示す。シミュ
レーションでは電子レンジからの妨害波のＡＰＤ，ＰＤ
Ｄ，ＰＳＤを測定し、設定値として用いた。このＡＰ
Ｄ，ＰＤＤ，ＰＳＤは現実の妨害波から測定したものな
ので、必然的に式（１）を満たしている。図９（ａ）
（ｂ）（ｃ），図１０が電子レンジ妨害波とＡＰＤのみ
を指定した従来法による擬似雑音の結果である。図９
（ａ）の実線が電子レンジからの妨害波のＡＰＤを表
し、従来法によるこのＡＰＤを設定値として用いた。ま
た、図９（ｂ）の実線が電子レンジからの妨害波のＣＲ
Ｄ、図９（ｃ）の実線が電子レンジからの妨害波のＰＤ
Ｆを表している。図９（ａ）（ｂ）（ｃ）におけるそれ
ぞれの記号が擬似雑音のＡＰＤ（○）、ＣＲＤ（黒
△）、ＰＤＦ（×）を表している。図１０は電子レンジ
妨害波のＰＤＤ（実線）と擬似雑音のＰＤＤ（●）を表
している。図９（ａ）（ｂ）（ｃ），図１０からも分か
るように、電子レンジの妨害波と擬似雑音とがＡＰＤと
ＰＤＦでは一致しているが、ＣＲＤ，ＰＤＤでは異なっ
ている。
【００３２】一方、図１１（ａ）（ｂ）（ｃ），図１２
は電子レンジ妨害波とＡＰＤ，ＰＤＤ，ＰＳＤを指定し
た本発明による擬似雑音の結果である。図１１（ａ）の
実線が電子レンジからの妨害波のＡＰＤを表し、このＡ
ＰＤを設定値として用いた。また、図１１（ｂ）の実線
が電子レンジからの妨害波のＣＲＤ、図１１（ｃ）の実
線がＰＤＦを表している。図１１（ａ）（ｂ）（ｃ）に
おいて、それぞれの記号が擬似雑音のＡＰＤ（○）、Ｃ
ＲＤ（△）、ＰＤＦ（×）を表している。図１２（ａ）
では実線で電子レンジ妨害波のＰＤＤを表し、図１２
（ｂ）では、実線で電子レンジ妨害波のＰＳＤを表して
いる。また、図１２（ａ）（ｂ）において、このＰＤ
Ｄ，ＰＳＤを設定値として発生させた擬似雑音のＰＤＤ
を○で表し、ＰＳＤを×で表している。図１１，図１２
からも分かるように、電子レンジの妨害波と擬似雑音と
がＡＰＤとＰＤＦに加えＰＤＤ，ＰＳＤも一致してい
る。しかし、ＣＲＤはなお不一致である。
は電子レンジ妨害波とＡＰＤ，ＰＤＤ，ＰＳＤを指定し
た本発明による擬似雑音の結果である。図１１（ａ）の
実線が電子レンジからの妨害波のＡＰＤを表し、このＡ
ＰＤを設定値として用いた。また、図１１（ｂ）の実線
が電子レンジからの妨害波のＣＲＤ、図１１（ｃ）の実
線がＰＤＦを表している。図１１（ａ）（ｂ）（ｃ）に
おいて、それぞれの記号が擬似雑音のＡＰＤ（○）、Ｃ
ＲＤ（△）、ＰＤＦ（×）を表している。図１２（ａ）
では実線で電子レンジ妨害波のＰＤＤを表し、図１２
（ｂ）では、実線で電子レンジ妨害波のＰＳＤを表して
いる。また、図１２（ａ）（ｂ）において、このＰＤ
Ｄ，ＰＳＤを設定値として発生させた擬似雑音のＰＤＤ
を○で表し、ＰＳＤを×で表している。図１１，図１２
からも分かるように、電子レンジの妨害波と擬似雑音と
がＡＰＤとＰＤＦに加えＰＤＤ，ＰＳＤも一致してい
る。しかし、ＣＲＤはなお不一致である。
【００３３】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように本発明に
よれば、比較的簡略化した構成と制御により、時間相関
のある非独立事象の擬似雑音をａｐｄ（ｘ），ｐｄｄ
（Ｔi1）ｐｓｄ（Ｔi2）の指定により所望の特性を有す
るようにに生成することができる。従って、電子機器の
耐妨害性の評価等において、実用的効果は極めて大であ
る。
よれば、比較的簡略化した構成と制御により、時間相関
のある非独立事象の擬似雑音をａｐｄ（ｘ），ｐｄｄ
（Ｔi1）ｐｓｄ（Ｔi2）の指定により所望の特性を有す
るようにに生成することができる。従って、電子機器の
耐妨害性の評価等において、実用的効果は極めて大であ
る。
【図１】本発明の原理を説明するためのブロック図であ
る。
る。
【図２】擬似雑音発生装置の構成を示すブロック図であ
る。
る。
【図３】任意分布乱数発生器１の構成例を示すブロック
図である。
図である。
【図４】任意分布乱数発生器１，２内の各ビット生成部
の構成例を示すブロック図である。
の構成例を示すブロック図である。
【図５】各ビット生成部に用いるメモリ内のデータの配
置を示した図である。
置を示した図である。
【図６】任意分布乱数発生器１の構成例と動作例を説明
するためのブロック図及びタイムチャートである。
するためのブロック図及びタイムチャートである。
【図７】任意分布乱数発生器２の構成例と動作例を説明
するためのブロック図及びタイムチャートである。
するためのブロック図及びタイムチャートである。
【図８】制御部３の構成例と動作例を説明するためのブ
ロック図及びタイムチャートである。
ロック図及びタイムチャートである。
【図９】電子レンジ妨害波と振幅確率分布を指定した場
合の電子レンジ妨害波と擬似雑音とにおける振幅確率分
布（ａ），交差率分布（ｂ）及び確率密度関数（ｃ）の
従来法による測定例を示す特性図である。
合の電子レンジ妨害波と擬似雑音とにおける振幅確率分
布（ａ），交差率分布（ｂ）及び確率密度関数（ｃ）の
従来法による測定例を示す特性図である。
【図１０】電子レンジ妨害波と振幅確率分布を指定した
場合の電子レンジ妨害波と擬似雑音とにおけるパルス幅
分布の従来法による測定例を示す特性図である。
場合の電子レンジ妨害波と擬似雑音とにおけるパルス幅
分布の従来法による測定例を示す特性図である。
【図１１】電子レンジ妨害波と振幅確率分布を指定した
場合の電子レンジ妨害波と擬似雑音とにおける振幅確率
分布（ａ），交差分布（ｂ），確率密度関数（ｃ）の本
発明による測定例を示す特性図である。
場合の電子レンジ妨害波と擬似雑音とにおける振幅確率
分布（ａ），交差分布（ｂ），確率密度関数（ｃ）の本
発明による測定例を示す特性図である。
【図１２】電子レンジ妨害波と振幅確率分布を指定した
場合の電子レンジ妨害波と擬似雑音とにおけるパルス幅
分布（ａ）とパルス間隔分布（ｂ）の本発明による測定
例を示す特性図である。
場合の電子レンジ妨害波と擬似雑音とにおけるパルス幅
分布（ａ）とパルス間隔分布（ｂ）の本発明による測定
例を示す特性図である。
【図１３】本願に用いられる技術用語を説明するための
タイムチャートである。
タイムチャートである。
１，２ 任意分布乱数発生器 ３ 制御部 ４ Ｄ／Ａコンバータ １−１，１−２，１−３，…，１−８ ビット生成部 １−１１，１−１２，…，１−１８ ラッチ ２−１，２−２，２−３，…，２−８ ビット生成部 ２−１１，２−１２，…，２−１８ ラッチ １１ 一様乱数生成部 １２ メモリ １３ 比較部 ２０ Ｉ−Ｔ変換部 ２１ ダウンカウンタ ２２ メモリ選択信号生成部 ２３ clock ２生成部 ＡＰＤ1 ，ＡＰＤ2 ，１００ 任意分布乱数発生部 ＰＤＤ0 ，ＰＳＤ0 ，２００ 任意分布乱数発生部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 瀬戸口 芳 東京都杉並区久我山一丁目７番41号 岩 崎通信機株式会社内 (56)参考文献 特開 平２−245679（ＪＰ，Ａ) 特開 昭58−156870（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) H03B 29/00 H03K 3/84 G01R 31/28
Claims (1)
- 【請求項１】 指定振幅確率分布を指定レベルで二つに
分割して、分割された振幅確率分布にそれぞれ対応する
乱数信号を生成する任意分布乱数生成部と、 前記指定レベルでの指定パルス幅分布、指定パルス間隔
分布に従う乱数信号を生成する任意分布乱数生成部と、 前記分割された振幅確率分布に対応する乱数信号を前記
指定レベルでの指定パルス幅分布、前記指定パルス間隔
分布に従う信号で選択する制御部と、 前記選択された信号をアナログ値に変換するＤ／Ａコン
バータとを備え、前記指定振幅確率分布と前記指定レベ
ルでの前記指定パルス幅分布、前記指定パルス間隔分布
に従う擬似雑音を生成するように構成された擬似雑音発
生装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24518399A JP3318291B2 (ja) | 1999-08-31 | 1999-08-31 | 擬似雑音発生装置 |
| US10/626,111 US6826494B2 (en) | 1999-08-31 | 2003-07-24 | Psuedo noise generator |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24518399A JP3318291B2 (ja) | 1999-08-31 | 1999-08-31 | 擬似雑音発生装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001068936A JP2001068936A (ja) | 2001-03-16 |
| JP3318291B2 true JP3318291B2 (ja) | 2002-08-26 |
Family
ID=17129855
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24518399A Expired - Fee Related JP3318291B2 (ja) | 1999-08-31 | 1999-08-31 | 擬似雑音発生装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6826494B2 (ja) |
| JP (1) | JP3318291B2 (ja) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE10154200C1 (de) * | 2001-11-07 | 2003-03-06 | Infineon Technologies Ag | Verfahren zum Erzeugen wenigstens einer Folge von an Zahlenfolgen eines 1/f-Rauschens angenäherten Zufallszahlen |
| US7502468B2 (en) * | 2003-09-02 | 2009-03-10 | Ncipher Corporation Ltd. | Method and system for generating a cryptographically random number stream |
| FR2877514A1 (fr) * | 2004-10-28 | 2006-05-05 | France Telecom | Procede de generation de bruits impulsifs |
| US7688976B2 (en) * | 2005-07-14 | 2010-03-30 | Tara Chand Singhal | Random wave envelope derived random numbers and their use in generating transient keys in communication security application part I |
| CN101040306B (zh) * | 2005-09-09 | 2012-01-04 | 三菱电机株式会社 | 伪随机数生成装置 |
| KR20150130813A (ko) * | 2014-05-14 | 2015-11-24 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 노이즈 생성기 및 그것을 포함하는 ecc 유닛 검증 회로 |
| WO2016013190A1 (ja) * | 2014-07-23 | 2016-01-28 | 日本電気株式会社 | 電磁妨害波測定装置、電磁妨害波測定方法、および電磁妨害波測定プログラム記録媒体 |
| CN114157243B (zh) * | 2021-11-26 | 2022-11-29 | 南京鼓楼医院 | 一种基于可调异质结的白噪声发生方法 |
Family Cites Families (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4308617A (en) * | 1977-11-07 | 1981-12-29 | The Bendix Corporation | Noiselike amplitude and phase modulation coding for spread spectrum transmissions |
| US4375620A (en) * | 1980-12-15 | 1983-03-01 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Pseudo-atmospheric noise generator with control of temporal characteristics |
| US4470022A (en) * | 1982-06-24 | 1984-09-04 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Pseudo atmospheric noise generator having variable amplitude probability distributions and discharge fine structure |
| US4617530A (en) * | 1985-06-17 | 1986-10-14 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Pseudo-random noise generator |
| US4759034A (en) * | 1986-12-02 | 1988-07-19 | General Research Of Electronics, Inc. | Multi-step spread spectrum communication apparatus |
| DE3886107T2 (de) * | 1987-06-23 | 1994-05-26 | Nec Corp | Träger/Rausch-Detektor für digitale Übertragungssysteme. |
| US5153532A (en) * | 1989-05-24 | 1992-10-06 | Honeywell Inc. | Noise generator using combined outputs of two pseudo-random sequence generators |
| DE69327609T2 (de) * | 1992-04-15 | 2000-08-10 | Koninkl Philips Electronics Nv | Röntgenanalysegerät mit Impulsamplitudenverschiebungskorrektur |
| JPH09270775A (ja) * | 1996-03-28 | 1997-10-14 | Ando Electric Co Ltd | Ｐｎ符号同期引き込み回路 |
| US5786951A (en) * | 1996-06-05 | 1998-07-28 | Cirrus Logic, Inc. | Sampled amplitude read channel employing a discrete time noise generator for calibration |
| US5923193A (en) * | 1996-12-11 | 1999-07-13 | Intel Corporation | Method and apparatus for transferring signals between multiple clock timing domains |
-
1999
- 1999-08-31 JP JP24518399A patent/JP3318291B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2003
- 2003-07-24 US US10/626,111 patent/US6826494B2/en not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US20040167737A1 (en) | 2004-08-26 |
| JP2001068936A (ja) | 2001-03-16 |
| US6826494B2 (en) | 2004-11-30 |
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