JP3306079B2 - 光学分析装置及びその校正方法 - Google Patents

光学分析装置及びその校正方法

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Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はフォトメータ、即ち、流
出物内や産業処理工程中に存在する液体又は気体の如き
流体の物理的なパラメータを決定するために光エネルギ
を使用する光学分析装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】プロセス即ち工程や環境状態を所望の精
度で監視することができ、作動やメンテナンスに熟練技
術を要しない比較的安価な分析装置が有用であることは
知られている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】環境保全のため、周囲
環境中へ排出する前の廃水や流出ガスを監視する場合
に、安価な装置が特に要求される。
【０００４】本発明の目的は、このような要求を満た
し、改良したフォトメータを提供することである。
【０００５】
【課題を解決するための手段並びに作用効果】本発明に
よれば、製造費が比較的安く、熟練工でなくとも校正を
行うことができ測定の精度を保つことのできるフォトメ
ータ即ち光学分析装置が提供される。本発明によれば、
このような装置は、比較的簡単で、コンパクトで、組立
て容易で、整合の不要な道具により可動部分を伴わずに
構成できる手段により達成される。
【０００６】本発明の基本的特徴によれば、流体の物理
的なパラメータを決定するために流体に当てた光エネル
ギのビームの効果に基づく読取りを行うことのできる光
学分析装置は、適当な光放射線の放射線源と；検出手段
と；流体のための流体領域を画定する手段と；放射線源
から流体領域を通って検出手段に至る光学経路を画定す
る手段と；流体における実質的な変化を生じさせずに、
流体により影響を受けた光エネルギの少なくとも２つの
読取り値を検出手段から得るための読取り及び制御回路
と；読取り値が校正読取り値を表すように、２つの読取
りのうちの一方の読取り期間中、既知の吸収性を有する
フィルタを光学経路内に配置する手段と；第１に、校正
読取り値から流体の効果を除去するために２つの振幅読
取り値を有効に比較し、第２に、フィルタの既知の吸収
性に基づく既知の値に対して校正読取りの残留値を有効
に比較し、第３に、上記第２の比較に基づき、流体領域
内で流体を不変の状態に保ったまま、導き出した値から
校正の調整を行うための校正値決定手段と；から成る。
【０００７】本発明の好ましい実施例には、次のような
特徴がある。
【０００８】光放射線源は２つの別個に付勢可能な放射
線エミッタから成り、前記放射線源からの前記光学経路
は各放射線エミッタからの光学経路をそれぞれ画定する
２つの分岐部を有し、これら２つの分岐部は流体を通る
実質的に共通の経路を通して伝送を行い、測定エミッタ
たる一方のエミッタは通常の測定読取りを行っている期
間中読取り及び制御回路により付勢され、校正エミッタ
たる他方のエミッタは校正読取りを行っている期間中読
取り及び制御回路により付勢され、既知の吸収性を有す
るフィルタは校正エミッタから流体領域に至る光学経路
内に配置されている。
【０００９】光学分析装置は校正を行うための可動部分
を有さず、作動期間中にエミッタを選択的に付勢するこ
とにより、校正調整を行う際に装置により使用される通
常読取り及び校正読取りを実行するように、読取り及び
制御回路を構成、配置してある。
【００１０】光学分析装置はインライン型式の分析装置
の形をしており、この装置においては、流体領域を画定
する手段はプロセス流体（処理流体）を流通させるプロ
セスストリーム（処理流れ）の少なくとも一部のための
導管を有し、プロセスストリームはパラメータを変更で
きる特徴的な最大流量を有し、読取り及び制御回路は、
プロセスストリームに関して、プロセスストリーム内の
流体のパラメータに実質的な変化を生じさせるような時
間経過にとって不十分な程度に短い時間間隔で、２つの
読取りを行うように構成されている。
【００１１】光学分析装置は、液体プロセスストリーム
により満たされ、滴定後にプロセスストリームによって
のみ洗い流されるように構成した滴定室の形をしている
とよい。
【００１２】光学分析装置は、プロセスストリーム液体
の循環可能な既知の少量のサンプルを受入れ、滴定後に
適当な液体により洗い流されるように構成した滴定室の
形をしていてもよい。
【００１３】光学分析装置は測色計の形をしているとよ
い。
【００１４】光学分析装置は測色計の形をしているとよ
く、流体領域内の光学経路部分は反射鏡を有するプロー
ブにより画定され、それによって、流体領域へ入ったエ
ネルギを流体領域を通して検出手段へ戻すように反射さ
せる。
【００１５】光学分析装置は吸収性の分光光度計の形を
しているとよく、検出手段は異なる波長をそれぞれ感知
できる少なくとも２つの検出計から成り、一方の波長は
流体領域内の特定な成分の特徴的な吸収に対応し、この
場合の検出信号は成分の濃度に応じて変化し、他方の波
長は特定な成分が比較的低い吸収性を有する場合の基準
波長となる。
【００１６】光学分析装置はサンプルから発散した放射
エネルギを受取るように位置した検出手段を有し、フィ
ルタは発散した放射エネルギをろ過するように位置する
のが好ましく、検出計はローリ発散即ち蛍光を受入れる
ように配置し機能するのが好ましい。
【００１７】光学分析装置は、サンプルをバイパスする
光学基準を有する濁り度計の形をしているとよい。
【００１８】また、光学分析装置の好ましい実施例に
は、次のような特徴がある。
【００１９】放射線源から流体領域への光学経路は光学
繊維を有する。
【００２０】校正調整を行う手段は装置を校正するよう
に構成されており、調整機構は、装置の感度を調整する
手段と、装置のゼロ基準を調整する手段とを有するのが
好ましい。
【００２１】光学分析装置は、流体領域が空の状態で、
適所に設けた既知の吸収性のフィルタにより行われた検
出手段の読取り値を記憶するための手段の形をした既知
の値を提供する手段を有する。
【００２２】本発明の別の基本的な特徴によれば、流体
の物理的なパラメータを決定するために流体に当てた光
エネルギのビームの効果に基づく読取りを行うことので
きる光学分析装置を校正する方法は、流体における実質
的な変化を生じさせずに、流体領域内の流体により影響
を受けた光エネルギの少なくとも２つの読取り値を検出
手段から得る工程と；読取り値のうちの一方が校正読取
り値を表すように、既知の吸収性を有するフィルタを光
学経路内に配置する工程と；校正読取り値から流体の効
果を除去するために２つの読取り値を有効に比較する第
１工程と；フィルタの前記既知の吸収性に基づく既知の
値に対して校正読取りの残留値を有効に比較する第２工
程と；第２工程による比較に基づき、流体領域内で流体
を不変の状態に保ったまま、導き出した値から校正の調
整を行う工程と；から成る。
【００２３】本発明のこの方法の好ましい実施例には、
次の特徴がある。
【００２４】光放射線源は２つの別個に付勢可能なエミ
ッタから成り、通常の測定を行っている期間中に読取り
及び制御回路により一方のエミッタ（測定エミッタ）を
付勢し、既知の吸収性を有するフィルタを他方のエミッ
タ（校正エミッタ）から流体への光学経路内に配置した
状態で校正読取りを行っている期間中に読取り及び制御
回路により他方のエミッタを付勢する。
【００２５】装置の可動部分を伴うことなく、作動期間
中にエミッタを選択的に付勢することにより、校正調整
を行う。
【００２６】流体は、プロセスストリーム内の流体のパ
ラメータに実質的な変化を生じさせるような時間経過に
とって不十分な程度に短い時間間隔で、読取り及び制御
回路により２つの読取りを行うように、プロセスストリ
ーム内を流れる。
【００２７】校正方法は、液体プロセスストリームで滴
定室を満たし、滴定後にプロセスストリームによっての
み滴定室を洗い流す工程を有する。
【００２８】校正方法は、液体プロセスストリームで滴
定室を満たし、滴定後に適当な液体により滴定室を洗い
流す工程を有してもよい。
【００２９】校正は、測色計、吸収性の分光光度計、濁
り度計、または、蛍光即ちローリ発散を検出できる装置
に対して実行するとよい。
【００３０】校正調整を行う工程は、装置を校正し、装
置のゼロ基準を調整するのが好ましい。
【００３１】校正方法は、流体領域が空の状態で、適所
に設けた既知の吸収性のフィルタにより行われた検出手
段の読取り値を記憶する工程を有する。
【００３２】校正調整を行う方法は現在のフィルタの吸
収値をアップデートする工程を有するとよい。
【００３３】校正調整を行う工程は周期的に繰り返さ
れ、このような繰り返し期間中、現在のフィルタの吸収
値が連続的にアップデートせしめられる。
【００３４】現在の吸収値に対する過去の吸収値の傾向
は現在の吸収値をアップデートする際に考慮する。
【００３５】本発明の別の基本的な特徴は、Ｃｓ（ｎ）
を計算したｎ番目のサンプル濃度とし、Ｃｓｔｄを選択
したフィルタの既知の吸収性に対応する濃度値とし、Ａ
ｓ（ｎ）をｎ番目のサンプルの測定した吸収値とし、Ａ
ｚを先に測定し記憶したゼロ吸収値とし、ＡＦを先に測
定し記憶したフィルタの吸収値とした場合に、次の式
（１）に実質上従って濃度Ｃを測定するような装置及び
方法にある。
【００３６】 Ｃｓ（ｎ）＝Ｃｓｔｄ×（Ａｓ（ｎ）−Ａｚ）／ＡＦ ……（１）
【００３７】
【実施例】図１を参照すると、連続的な流れを監視する
ための二重ランプ型の分光光度計は、サンプルランプ即
ち測定エミッタ２と、校正ランプ即ち校正エミッタ４と
を有し、これらのエミッタは制御ライン２６を介して中
央処理装置（ＣＰＵ）２２又は他の型式の校正値決定及
び制御回路に接続している。サンプルランプ及び校正ラ
ンプは光学繊維の分岐部１４ａ、１４ｂの前面にそれぞ
れ位置し、これらの分岐部は互いに接続して、２つの分
岐部からのエネルギのための共通の経路を提供する無秩
序配列の第１光学繊維束１４を形成する。校正フィルタ
１０がランプ４と光学繊維分岐部１４ｂとの間に位置す
る。校正フィルタ１０は測定すべき波長に対して既知の
吸収性を有する。
【００３８】光学繊維束はサンプル１８を閉じ込めるサ
ンプルセル１２又は他の領域に通じている。サンプルセ
ルに隣接して第１光学繊維束１４とは反対側に、第２光
学繊維束１６が位置し、この光学繊維束はセル１２を通
って伝送されたエネルギのための共通の経路を提供す
る。この第２光学繊維束は測定フィルタ７及び基準フィ
ルタ９への光学経路を提供する分岐部１６ａ、１６ｂに
分岐している。
【００３９】測定検出計６及び基準検出計８が測定フィ
ルタ及び基準フィルタの背後にそれぞれ位置する。これ
ら検出計の出力はデータ取得モジュール２２に接続し、
このモジュールはＣＰＵ２２に接続している。ディスプ
レイ２４もＣＰＵ２２に接続している。
【００４０】ランプ即ちエミッタは検出即ち監視すべき
基剤により吸収される（または、他の実施例では、基剤
により影響を受ける）ような波長での「光」放射線を発
する。ここで、本明細書において、「光」放射線とは、
スペクトルの可視赤外及び紫外帯域内での放射線を意味
するものとする。
【００４１】作動においては、サンプル流体の連続的な
流れは、プロセスストリーム（処理流れ）の少なくとも
一部のための導管として作用するサンプルセルを流通せ
しめられる。代わりに、時間毎に交換できる流体の静止
サンプルでセルを満たしてもよい。前者の場合は、例え
ば、廃水やセルを定常的に流通する流体を扱うような産
業上のプロセスをインライン式に監視するために装置を
使用でき、後者の場合は、例えば、プロセスラインから
流体を反復的に引き出し、これを滴定測定又は測色測定
のためのサンプルを提供するため及び洗浄（洗い流し）
媒体を提供するために使用するような場合に、オンライ
ン監視を行うために装置を使用できる。本発明にとって
有用な装置は米国特許第４，９１１，８９１号及び同第
４，９１０，１５１号各明細書に開示されており、本明
細書においてはこれらを参照する。
【００４２】このような装置により実行される作動には
２つの形式がある。すなわち、「測定」作動と「校正」
作動である。測定作動における第１工程はＣＰＵ２２に
よりサンプルランプ２を発光させることである。サンプ
ルランプは多色光を発し、この光は分岐部１４ａを通
り、第１光学繊維束１４を通ってセル１２へ至る。セル
内では、光はサンプルと反応し、光のある特徴的な波長
がサンプルの組成材料により吸収される。
【００４３】未吸収光はセルを通る共通経路に沿って進
み、第２光学繊維束１６を通り、２つのビームとなって
この光学繊維束から出現する。一方のビームは測定フィ
ルタ７を通過し、分光光度計内で監視されている材料に
対する特定のスペクトルラインを除いて、すべての波長
が減衰される。このスペクトルラインは典型的には、測
定すべき化合物の特徴的な吸収に対応する。他方のビー
ムは基準フィルタ９を通過し、測定する波長にほぼ近似
するがその化合物の特徴的な吸収ラインに対応しない基
準波長を除いて、すべての波長が減衰される。特定のス
ペクトルラインでの波長と基準波長との関係を図２に示
す。このようにして２つの波長を使用することにより、
２つの検出計を使用した差測定を行うことによって、ラ
ンプの照射レベルの効果を除去することができる。
【００４４】これらの測定及び基準検出計６、８は測定
及び基準フィルタを通過した光をそれぞれ検出する。各
検出計は、入射する光量に関連する振幅を有する電気信
号を発生し、これらの電気信号はデータ取得モジュール
２０への信号を提供する。測定波長に対するサンプル１
８の応答性は次式（２）により決定できる。
【００４５】 Ａ＝ｌｏｇ10（Ｖｒ／Ｖｍ） …… （２） ここに、Ａはサンプルの吸収性、Ｖｍは測定検出計６の
電圧、Ｖｒは基準検出計８の電圧である。データ取得モ
ジュール２０は検出計からの電圧信号をデジタル化し、
処理のためにＣＰＵへのデジタル値を提供する。
【００４６】通常の「測定」作動においては、装置はオ
ペレータが望むユニット内のサンプルの特定の基剤に対
する読取り値を提供する。典型的には、サンプルに対す
る読取り値は例えばパーセント即ちｐｐｍとしての濃度
Ｃｓとして表される。本実施例においては、時間ｎにお
けるサンプルの濃度Ｃｓ（ｎ）は次式（３）により決定
される。
【００４７】 Ｃｓ（ｎ）＝Ｃｓｔｄ×（Ａｓ（ｎ）−Ａｚ）／ＡＦ …… （３） ここに、Ｃｓ（ｎ）は計算したｎ番目のサンプル濃度、
Ｃｓｔｄは選択したフィルタの既知の吸収性に対応する
濃度値、Ａｓ（ｎ）はｎ番目のサンプルの測定した吸収
値、Ａｚは先に測定し記憶したゼロ吸収値、ＡＦは先に
測定し記憶したフィルタの吸収値であり、これらの値に
ついては後述する。上述の式（３）はサンプルの濃度を
Ｃｓｔｄ（フィルタの吸収性により表される濃度）対測
定した校正フィルタ吸収値ＡＦの対応する比に標準化
し、先の校正読取り値により決定された装置の任意の検
出したドリフトに関してアップデートを利用する。
【００４８】通常の測定作動において装置により実行さ
れるルーチンを図４の最初の２つのブロックで示す。
【００４９】第２の作動、即ち「校正」作動は適所にあ
るサンプル１８にて遂行され、すべての測定に対して又
は選定した時間間隔で遂行するとよい。この工程におい
ては、ＣＰＵはサンプルランプを消灯した状態で校正ラ
ンプ４を発光させる。校正ランプは多色光を発し、この
光は校正フィルタ１０を通る。校正フィルタは測定波長
での光を、精確に既知の程度だけ、例えば測定範囲の３
０％だけ、吸収する。このフィルタは基準波長でのエネ
ルギを吸収してもよい。ただし、その吸収量は測定波長
の吸収量より大幅に少なくすべきである。
【００５０】校正フィルタ１０からの未吸収光は第１光
学繊維束１４を通り、サンプルセル１２に至り、監視中
のサンプルの組成成分により光の一部が吸収される。光
の未吸収部分は次いで第２光学繊維束１６を通り、その
スペクトル部分が検出され、測定作動について述べたと
同じ方法で、対応する値がＣＰＵに提供される。
【００５１】ＣＰＵはデジタル化した測定値を対応する
基準値で割り、各測定に対する吸収値を発生させるため
に結果（商）を対数化する。「校正」読取り値は図３−
５に関連して説明するような引き続きの校正計算に使用
する。基本的には、同じ流体サンプルから得られた先の
測定読取り値及び校正読取り値は、校正読取り値から流
体サンプルの効果を除去するために有効に比較される。
次いで、残差値を既知の（即ち、先に決定した）校正フ
ィルタの実際の吸収性（値）と比較する。この結果から
又は一連の測定から、校正調整が決定され、または、装
置の初期状態からのドリフトの程度に関するレポート
（報告）を発生させる。
【００５２】図３ー５に示す値は次のように定義する。
【００５３】ＡＦ＝計算に使用するフィルタの吸収値； Ａｆｏ＝フィルタのための初期吸収値； ＡＦ（ｎ）＝ｎ番目のサンプルでのフィルタの計算した
吸収値； ＡＦｍｉｎ＝フィルタ吸収値のための最小限界； ＡＦｍａｘ＝フィルタ吸収値のための最大限界； Ａｃｍ（ｎ）＝校正エミッタでのｎ番目のサンプルの吸
収値； ＡＭ＝測定した吸収値； Ａｍａｘ＝測定した吸収値のための最大限界； Ａｓ（ｎ）＝ｎ番目のサンプルでの吸収値； Ａｚ＝計算に使用するゼロ吸収値； Ａｚｏ＝ゼロ濃度のための初期吸収値； Ａｚ（ｎ）＝ｎ番目のサンプルでのゼロ濃度に対する計
算した吸収値； Ａｚｍｉｎ＝ゼロ吸収値のための最小限界； Ａｚｍａｘ＝ゼロ吸収値のための最大限界； Ｃｓ（ｎ）＝計算したｎ番目のサンプルの濃度； Ｃｓｔｄ＝選択したフィルタに対応する濃度値（オペレ
ータ入力値）。
【００５４】装置を最初に始動したとき、ＣＰＵは図３
に示すような初期化ルーチンを実行する。この初期化ル
ーチンは、装置の初期ゼロ値を得るために、空のセル１
２即ち「ゼロ」サンプル（例えば液体内の色彩として
「ゼロ」濃度の特定成分を含むサンプル；蒸留水を「ゼ
ロ」サンプルとして使用する）で満たしたセルに対し
て、ブロック３０にて実行する。従って、ブロック３２
で測定ランプをＯＮすることにより、初期の測定作動を
遂行し、ブロック３４でゼロサンプルのための吸収値
（Ａｚｏ）を計算し記憶し、ブロック３６で測定ランプ
をＯＦＦする。
【００５５】同様に、フィルタのための初期の校正作動
はブロック３６にて校正ランプをＯＮすることにより実
行され、吸収性の測定値ＡＭを得るために回路で更なる
測定作動を遂行する。次いで、測定した吸収値ＡＭから
ゼロサンプルのための吸収値Ａｚｏを差し引くことによ
り、測定した校正フィルタの初期吸収値Ａｆｏを得、こ
の値Ａｚｏは記憶しておく。
【００５６】ここで、校正ランプをＯＦＦし、測定エミ
ッタをＯＮして更なる測定を行い（ブロック４０）、ゼ
ロサンプルの値Ａｆｏ、Ａｚｏを更なる計算に使用すべ
きフィルタ値ＡＦ及び吸収値Ａｚとしてそれぞれ記憶
し、これらの値を使用して目盛り読取り装置のゼロ値を
設定する。ここで、校正フィルタの既知の吸収値即ち存
在する対象物の化合物の濃度レベルを使用して装置の読
取りを標準化する。これにより、初期化ルーチンが完了
する（ブロック４４）。
【００５７】初期化ルーチンが完了すると、装置を使用
して、吸収性の測定を遂行し、これらの値をディスプレ
イ２４上に表示するか、または、オペレータ又は他の装
置にこれらの値を提示する。これらの値は濃度値として
オペレータに提示される。オペレータが設定できるある
期間の経過後、装置は自己校正を遂行する。
【００５８】図４、５のフローチャートに示す自己校正
ルーチンは、装置の感度を調整するために使用する感度
修正ルーチンと、装置のゼロ値を調整するゼロ修正ルー
チンとから成る。図６に示すように、感度の変化は装置
のゲインΔｙ／Δｘの変化に対応し、ゼロ値の変化は装
置のゼロインターセプトｂの変化に対応する。
【００５９】感度修正ルーチン（図４）はブロック５０
にて開始し、ｎ番目のサンプルの吸収値Ａｓ（ｎ）を読
取る。ＣＰＵは図４のブロック５２内に示す式を用いて
対応するサンプルの濃度値を計算し、これを表示する。
【００６０】次いで、自己校正ルーチンは、計算に使用
する現在のフィルタ値ＡＦと現在のサンプルのための測
定した吸収値Ａｓ（ｎ）とを加算した値が装置の測定範
囲内にあるか否かを決定することにより、校正値が範囲
内にあるか否かを決定する（ブロック５４）。否（Ｎ
Ｏ）の場合、自動校正のための作動範囲を越えていると
考えられる。この場合、校正は行われず、ＣＰＵはこの
状態をフラッグでオペレータに知らせる。
【００６１】ＣＰＵが校正できる場合は、ＣＰＵは測定
ランプをＯＦＦし校正ランプをＯＮし（ブロック５
６）、サンプル及びフィルタのための吸収値を記憶する
（ブロック５８）。この値から、ＣＰＵはフィルタのた
めの計算吸収値ＡＦ（ｎ）を計算する（ブロッ６０）。
この吸収値が現在使われている値ＡＦと同じである場合
（ブロック６２）、装置は適正に校正されたことにな
り、校正ルーチンは完了する（ブロック７６）。
【００６２】校正フィルタの測定した吸収値が値ＡＦと
異なる場合は、校正フィルタ自体の実際の吸収性が既知
の一定量であるから、装置がドリフトしてしまったこと
が分かる。装置のこのドリフトを訂正するため、ＣＰＵ
は、フィルタ吸収値の過去の傾向を考慮して、新たな現
在のフィルタ吸収値ＡＦを発生させる（ブロック６
４）。装置の故障例えば機素の欠陥により生じるような
一方向又は他方向への顕著な傾向が存在しなければ、こ
の新たな値は最も最近の一組の値の平均値により決定さ
れる。
【００６３】次いで、ＣＰＵは新たなフィルタ吸収値が
許容可能な範囲内にあるか否かを確かめる（ブロック６
０）。この値が範囲外である場合、装置は誤差表示を行
い（ブロック７４）、ルーチンを終了する（ブロック７
６）。新たな調整したフィルタ吸収値ＡＦが適正な範囲
内にある場合は、後で使用するためにこの値を記憶す
る。
【００６４】次いで、ＣＰＵは校正がシフトしてしまっ
たことをオペレータに知らせる感度値ΔＳをオペレータ
に報告（レポート）する。この値は図４のブロック７０
内に示した式から得られる。新たに決定した値ＡＦと先
の値ＡＦとを比較することにより、装置の感度の性能ヒ
ストリー（歴史）が決定され、報告される。校正作動の
実行はゼロ修正ルーチンへ進む（ブロック７２）。
【００６５】図５のフローチャートに示すゼロ修正ルー
チンは更なる測定に使用するゼロ値を発生させる。この
ルーチンは、現在のサンプルに対するフィルタ及びサン
プルの測定吸収値Ａｃｍ（ｎ）から現在のフィルタ吸収
値ＡＦと現在の測定したサンプル吸収値Ａｓ（ｎ）とを
差し引くことによりゼロ値を計算することから開始する
（ブロック８０）。この値がゼロ吸収値の許容範囲内に
あるときは、現在のゼロ値がアップデートされ（ブロッ
ク８４）、ゼロシフトがオペレータにレポートされ（ブ
ロック８６）、校正ルーチンを終了する（ブロック９
０）。上記値が許容範囲外にある場合は、誤差状態がフ
ラッグ表示される（ブロック８８）。
【００６６】校正ルーチンが完了すると、装置は、再度
の校正が行われるまでは、更なる測定を行える状態とな
る。従って、上述の方法は変数値ＡＦを連続的にアップ
デートするだけで装置を反復的に再校正できる。
【００６７】インライン式の作動に関する上述の説明に
固有の１つの仮定は、流体の流れが測定作動期間中及び
引き続きの校正作動期間中実質上一定な吸収性を有さね
ばならない（即ち、その特徴的な最大変化率が小さい）
ということ、または、校正が不正確に実行されるかもし
れないということである。これを図７に示すが、図７か
ら、検出計が未吸収光を測定するとき、測定点Ｔ0、Ｔ1
間で、溶液の濃度が安定状態を維持しなければならない
ことが分かる。実際には、このような測定を行う時間間
隔は、監視すべき大半の処理（流体）における濃度が顕
著に変化せずインライン式の有効な読取りを行えるに十
分なほど短いことが判明している。
【００６８】オンライン式の分析に対しては、即ち、サ
ンプルがサンプルセル内に捕捉、保持されている場合に
は、測定作動及び校正作動期間中同じサンプルがセル内
に位置しているので、上記のような問題は生じない。
【００６９】ある場合には、図８に示すように、サンプ
ルの構成成分により対象物の波長近傍のベースライン吸
収が量Ｘだけずれてしまうことがある。これにより、基
準値は測定に関係のない構成成分の濃度に依存すること
となり、測定精度が低下してしまう。このような状況に
おいては、２以上の検出計を使用し、図９に示すよう
に、それらの検出値の平均値を使用して有効な基準値を
決定するとよい。
【００７０】上述のような装置を使用することにより、
図１の装置の校正を自動的にチェックでき、サンプルを
評価することなく又は任意のテストサンプルを使用する
ことなく、連続する作動期間中に校正を自動的に修正で
きる。装置はまた、可動部分を含まず、従って、装置を
小型化でき、装置の信頼性が高まり、そのメンテナンス
が不要となる。それ故、この装置は、極めて高度な技術
による正規の支持を要せずに信頼性ある作動が重要とな
るような廃水監視の如きでこぼこした野外での応用に対
して特に適している。
【００７１】更に、この光学装置及びこれに関連する方
法は、適当なエミッタ、フィルタ及び検出計を備えた場
合は、スペクトルの可視赤外及び紫外帯域での測定に対
しても同様に有用である。
【００７２】ある例においては、２つのランプの代わり
に、単一の光源とシャッタ機構又はこれと同等の機構と
を用い、サンプル経路及びフィルタ経路を介して同一の
光源でサンプルを照射する方が有用である。この場合、
一層信頼性に乏しく一層高価な可動部分を付加すること
になるが、ある条件においては許容できる。例えば、ア
ーク光源を使用した場合、またはエミッタから発した放
射エネルギがその最大値で最適であるような他の実施例
を使用した場合、単一のエミッタ、及び、校正フィルタ
の存在する光学経路と校正フィルタの存在しない光学経
路とを切り換える適当な手段を使用することができる。
【００７３】本発明の校正方法を使用して吸収性その他
の物理的なパラメータを測定するための種々の他の装置
を製造できる。
【００７４】例えば、図１０は滴定メータ又は測色計を
使用するに適したプローブ型の構成を示す。この装置は
分光光度計とほぼ同じ方法で作動するが、異なる点は、
光がプローブ１０２内のサンプル流体１００を通過し、
反射面１０４で光を反射させて合成の吸収性を測定する
前にプローブを通るように光を戻すことである。上述の
米国特許明細書に開示されたサンプリング技術を使用す
ると特に有利であるが、他のサンプリング技術を使用し
てもよい。
【００７５】発散した放射線を検出することにより濃度
を測定する装置を図１１に示す。この装置は紫外アーク
光源１１０の如きエミッタを備え、このエミッタはサン
プルセル１１８内へ光を発してサンプル１１６を刺激
し、ある程度の発散を生じさせる。刺激用放射線の入射
経路の真向いの位置とこれに直角な位置とに配置した検
出計は、伝送された放射線と発散した放射線とをそれぞ
れ測定する。検出した発散放射線の振幅と伝送放射線の
振幅との比率は測定中の物質の濃度に比例する。この装
置においては、検出計の光学経路に対して出し入れされ
る既知の吸収性を有する校正フィルタ１１２は測定作動
及び校正作動を交互に遂行する能力を提供する。この装
置は図１の二重ランプ式の分光光度計と実質上同じ方法
で校正される。従って、この実施例の基本構成はローリ
発散の如き発散効果及び蛍光測定に応用できる。
【００７６】図１２を参照すると、濁り度計を使用する
実施例に係る装置は、２つの光学経路１２２、１２４に
沿って光放射線を提供する光源１２０を有する。サンプ
ル経路はサンプルセル１２６及びサンプルフィルタ１２
８を通る放射線部分をサンプル検出計１３０へ送る。基
準経路は基準フィルタ１３２を通る放射線部分を基準検
出計１３４へ送る。校正フィルタ駆動機構１３８は既知
の吸収性を有する中立濃度校正フィルタ１３６をサンプ
ルセルと直列の光学経路に対して出し入れさせる。
【００７７】サンプル検出計が受取った放射エネルギと
基準検出計が受取った放射エネルギとの比率はサンプル
を通る伝送率に関連する。伝送率の値が大きいほど、流
体の濁り度の値は小さく、また、伝送率の値が小さいほ
ど、濁り度の値は大きい。既知の吸収性を有する中立濃
度校正フィルタは測定作動及び校正作動を遂行する能力
を提供する。それ故、この装置は二重ランプ式の分光光
度計と同じ方法で校正される。
【００７８】以上説明した諸実施例において、記憶した
測定値は装置の性能を調整するために有効に使用され
る。他の実施例においては、校正した値は作動用の値を
アップデートすることなくメモリーに記憶され、装置の
性能は、例えば、装置の初期化状態を表す記憶値と一緒
に測定読取り及び校正読取りについての装置の生のデー
タを使用するコンピュータにより、容易に変更でき、そ
れを使用できる。
【００７９】本発明の要旨を逸脱することなく種々の変
形、修正が可能であることは言うまでもない。
【図面の簡単な説明】
【図１】可動部分を有さない二重ランプ式の分光光度計
の概略構成図である。
【図２】測定すべき対象物のスペクトル帯域内の波長に
対する吸収性を示すグラフである。
【図３】図１の実施例についての初期化ルーチンを示す
フローチャートである。
【図４】図１の実施例についての感度修正ルーチンを示
すフローチャートである。
【図５】図１の実施例についてのゼロ修正ルーチンを示
すフローチャートである。
【図６】本発明の装置の理想的な応答を示すグラフであ
る。
【図７】単一の校正作動について、サンプルランプ及び
校正ランプに印加される電圧と、サンプルの濃度とを時
間経過について示すグラフである。
【図８】ベースライン吸収値が傾斜しているような測定
条件における波長に対する吸収値を示すグラフである。
【図９】ベースライン吸収値が傾斜しているような測定
条件における波長に対する吸収値を示し、２つの基準波
長をも示すグラフである。
【図１０】測色計を用いる実施例の概略構成図である。
【図１１】サンプル内での発散効果を検出することによ
り濃度を測定する本発明の実施例を示す概略構成図であ
る。
【図１２】濁り度計を用いる実施例の概略構成図であ
る。
【符号の説明】
２ サンプルエミッタ ４ 校正エミッタ ６ 測定検出計 ７ 測定フィルタ ８ 基準検出計 ９ 基準フィルタ １０ 校正フィルタ １２、１１６、１２６ サンプルセル １４、１６ 光学繊維束 ２２ ＣＰＵ ２４ ディスプレイ １０２ プローブ １１０、１２０ 光源 １３０、１３４ 検出計
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 エリック・エフ・ムーニー アメリカ合衆国マサチューセッツ州 01803，バーリントン，ブライアーウッ ド・レーン ９ (56)参考文献 特開 昭54−54094（ＪＰ，Ａ) 特開 昭61−215949（ＪＰ，Ａ) 特開 昭60−100034（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01N 21/00 - 21/01 G01N 21/17 - 21/61 実用ファイル（ＰＡＴＯＬＩＳ) 特許ファイル（ＰＡＴＯＬＩＳ) ＥＰＡＴ（ＱＵＥＳＴＥＬ) ＷＰＩ／Ｌ（ＱＵＥＳＴＥＬ)

Claims (3)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 流体の定量的な物理的パラメータを決定
    するために流体に当てた光エネルギーのビームの効果に
    基づく読取りを行うことのできる光学分析装置におい
    て、 少なくとも１つの一定波長を有する適当な光放射線の放
    射線源と；検出手段と；前記流体のための流体領域を画
    定する手段と；前記放射線源から前記流体領域を通過し
    て前記検出手段に至る光学経路を画定する手段と；流体
    に実質的な変化を生じさせずに、前記光放射線に対する
    流体の影響による光エネルギの少なくとも２つの振幅読
    取り値を前記検出手段から得るための読取り及び制御回
    路と；読取り値がそれぞれ振幅校正読取り値を表すよう
    に、前記少なくとも２つの読取り値のうちの１つを読取
    る間、前記波長の光エネルギの実質的な部分を吸収する
    前記少なくとも１つの一定波長に対する既知の吸収性を
    有するフィルタを前記光学経路内に配置する手段と；第
    １に、前記振幅校正読取り値から流体の効果を除去する
    ために前記２つの振幅読取り値を有効に比較し、第２
    に、前記フィルタの前記既知の吸収性に基づく既知の値
    に対して前記校正読取り値の残差値を有効に比較し、第
    ３に、前記第２の比較に基づき、前記流体領域内で流体
    を不変の状態に保ったまま導き出した値から振幅校正の
    調整を行うための校正値決定手段と；から成り、前記流
    体の前記定量的な物理的パラメータが決定される間に行
    われる自己校正ルーチンの間に、前記読取り及び制御回
    路が前記振幅読取り値を得るようになされ、かつ、校正
    値決定手段が前記振幅校正の調整を行うようになされて
    いることを特徴とする光学分析装置。
  2. 【請求項２】 前記光放射線源が２つの別個に付勢可能
    な放射線エミッタから成り、前記放射線源からの前記光
    学経路が前記各放射線エミッタからの光学経路をそれぞ
    れ画定する２つの分岐部を有し、これら２つの分岐部は
    流体を通る実質的に共通の経路を通して伝送を行い、測
    定エミッタたる一方の前記エミッタが通常の測定読取り
    を行う間、前記読取り及び制御回路により付勢され、校
    正エミッタたる他方の前記エミッタが校正読取りを行う
    間、前記読取り及び制御回路により付勢され、前記フィ
    ルタが前記校正エミッタから前記流体領域に至る光学経
    路内に配置されている、 ことを特徴とする請求項１の光学分析装置。
  3. 【請求項３】 流体の定量的な物理的パラメータを決定
    するために流体に当てた光エネルギのビームの効果に基
    づく読取りを行うことのできる光学分析装置を校正する
    方法において、 流体に実質的な変化を生じさせずに、流体領域内の流体
    により影響を受けた光エネルギの少なくとも２つの振幅
    読取り値を検出手段から得ることと； 前記読取り値のうちの一方が校正読取り値を表すよう
    に、少なくとも１つの一定波長に対する既知の吸収性を
    有するフィルタを光学経路内に配置することと； 第１に、前記校正読取り値から前記流体の効果を除去す
    るために前記２つの読取り値を有効に比較し、 第２に、前記フィルタの前記既知の吸収性に基づく既知
    の値に対して前記校正読取りの残差値を有効に比較する
    ことと； 前記第２の比較に基づき、前記流体領域内で流体を不変
    の状態に保ったまま、導き出した値から振幅校正の調整
    を行うことと； から成り、前記流体の前記定量的な物理的パラメータが
    決定される間に行われる自己校正ルーチンの間に、前記
    振幅読取り値を得ること、および、前記振幅校正の調整
    を行うことがなされることを特徴とする校正方法。
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Families Citing this family (49)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5357336A (en) * 1991-08-08 1994-10-18 The Dow Chemical Company Method and apparatus for multivariate characterization of optical instrument response
US5370842A (en) * 1991-11-29 1994-12-06 Canon Kabushiki Kaisha Sample measuring device and sample measuring system
US5298978A (en) * 1992-02-28 1994-03-29 Artel, Inc. Pipette calibration system
US5492673A (en) * 1992-02-28 1996-02-20 Artel, Inc. Reagent system for calibration of pipettes and other volumetric measuring devices
JPH0610900A (ja) * 1992-04-27 1994-01-21 Canon Inc 液体移動方法及び移動装置ならびにこれを利用した測定装置
US5408326A (en) * 1993-04-28 1995-04-18 Shell Oil Company Dual-wavelength absorption detector adapted for continuous-flow detection
US5407638A (en) * 1993-04-28 1995-04-18 Shell Oil Company Detector-cell adapted for continuous-flow absorption detection
JPH09503854A (ja) * 1993-07-26 1997-04-15 バイオテクトロニックス インコーポレイテッド 比色滴定方法および装置
US5436718A (en) * 1993-07-30 1995-07-25 Biolumin Corporation Mutli-functional photometer with movable linkage for routing optical fibers
US5946431A (en) * 1993-07-30 1999-08-31 Molecular Dynamics Multi-functional photometer with movable linkage for routing light-transmitting paths using reflective surfaces
GB2283091B (en) * 1993-10-19 1997-10-01 John Christopher Richmond Apparatus and method for spectroscopic analysis
US5414258A (en) * 1993-11-22 1995-05-09 Angstrom Technologies, Inc. Apparatus and method for calibration of fluorescence detectors
AU1825797A (en) * 1996-01-12 1997-08-01 Regents Of The University Of California, The Optical probe for in-situ detection of hydrocarbon concentration
US5963333A (en) * 1996-09-12 1999-10-05 Color Savvy Systems Limited Color sensor
US5822071A (en) * 1997-03-27 1998-10-13 Bayer Corporation Spectrometer normalization system
US6064488A (en) * 1997-06-06 2000-05-16 Monitor Labs, Inc. Method and apparatus for in situ gas concentration measurement
JP2001517791A (ja) 1997-09-25 2001-10-09 バイエル コーポレイション 濁度および高吸光度を有するサンプルの分光学的分析
WO2000043751A1 (fr) 1999-01-25 2000-07-27 Laboratory Of Molecular Biophotonics Adaptateur de pipette, pipette de mesure par absorbance, pointe, et procede et appareil de mesure par absorbance
KR100353229B1 (ko) 2000-02-25 2002-09-18 최수봉 혈당측정이 가능한 자동주사기
AU2002337086A1 (en) * 2001-09-12 2003-03-24 Tecan Trading Ag Optical device, system and use thereof
SE525114C2 (sv) * 2002-06-24 2004-11-30 Hemocue Ab Passiv optisk komponent, samt system och metod för spektrofotometrisk analys som använder en sådan passiv optisk komponent
US7180594B2 (en) * 2004-05-27 2007-02-20 Finesse Instruments, Llc. Method and apparatus for verifying proper operation of a photometric device, such as a cell density probe
FR2887981B1 (fr) * 2005-06-29 2008-02-29 Alain Emile Pierre Dispositif et procede de caracterisation optique de corps translucides et/ou opaques
FR2886016B1 (fr) * 2005-05-18 2007-12-28 Alain Emile Pierre Dispositif et procede de caracterisation optique de corps translucides
WO2006123056A2 (fr) * 2005-05-18 2006-11-23 Scheffer Coatings Dispositif et procede de caracterisation optique de corps translucides et/ou opaques
DE102005037842A1 (de) * 2005-08-04 2007-02-08 Hach Lange Gmbh Spektralphotometer
US8003405B2 (en) * 2005-12-16 2011-08-23 Artel, Inc. Calibrating dispensing device performance for complex and/or non-aqueous liquids
US7772008B2 (en) * 2006-01-06 2010-08-10 Artel, Inc. Method and apparatus for determining liquid volume
EP1862788A1 (en) * 2006-06-03 2007-12-05 Applied Materials GmbH & Co. KG Evaporator for organic material, coating installation, and method for use thereof
US7998747B2 (en) * 2006-09-15 2011-08-16 Artel, Inc. Quantitative dual-dye photometric method for determining dilution impact
AU2008299205B2 (en) 2007-09-12 2014-07-17 Hach Company Standard media suspension body, optical particulate measurement instrument, and verification method for an optical particulate measurement instrument
WO2009043045A1 (en) * 2007-09-28 2009-04-02 Duke University Systems and methods for spectral analysis of a tissue mass using an instrument, an optical probe, and a monte carlo or a diffusion algorithm
JP4807856B2 (ja) * 2007-10-18 2011-11-02 日本曹達株式会社 試料測定装置及び試料測定方法
US8404158B2 (en) 2008-04-07 2013-03-26 Artel, Inc. System and method for liquid delivery evaluation using solutions with multiple light absorbance spectral features
US7791716B2 (en) * 2008-04-07 2010-09-07 Artel, Inc. System and method for liquid delivery evaluation using solutions with multiple light absorbance spectral features
US20110105865A1 (en) * 2008-04-24 2011-05-05 Duke University Diffuse reflectance spectroscopy device for quantifying tissue absorption and scattering
WO2009132360A2 (en) * 2008-04-25 2009-10-29 Duke University Systems and methods for performing optical spectroscopy using a self-calibrating fiber optic probe
GB0814873D0 (en) * 2008-08-14 2008-09-17 Sentinel Performance Solutions In-line testing
US9091637B2 (en) 2009-12-04 2015-07-28 Duke University Smart fiber optic sensors systems and methods for quantitative optical spectroscopy
DE102010056137B4 (de) * 2010-12-23 2014-03-27 Abb Ag Optische Gasanalysatoreinrichtung mit Mitteln zum Kalibrieren des Frequenzspektrums
JP5073844B2 (ja) * 2011-05-13 2012-11-14 株式会社堀場製作所 吸光分析計
FR2980377B1 (fr) * 2011-09-22 2013-10-04 Total Raffinage Marketing Procede de regeneration d'un catalyseur enzymatique
EP2947450B1 (de) * 2014-05-19 2016-09-28 Sick Ag Messgerät zur Messung einer bestimmten Gaskomponente
CN104062235B (zh) * 2014-07-16 2016-06-08 北京佰纯润宇生物科技有限公司 基于光纤的单流通池的多波长在线检测设备
US10180385B2 (en) 2015-08-12 2019-01-15 Bio-Rad Laboratories, Inc. Multi-spectral filter profiling and quality control for flow cytometry
CN107995950B (zh) * 2015-08-12 2020-12-29 生物辐射实验室股份有限公司 用于流式细胞术的多光谱滤波器剖析及质量控制
US10088468B2 (en) * 2016-02-04 2018-10-02 Nova Biomedical Corporation Analyte system and method for determining hemoglobin parameters in whole blood
EP3602006A1 (en) * 2017-03-27 2020-02-05 Ecolab USA, Inc. Techniques and materials for calibrating optical sensors
CN116106247B (zh) * 2023-04-13 2023-06-16 天津市滨海新区检验检测中心 一种紫外可见分光光度计的校准方法

Family Cites Families (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3600590A (en) * 1968-11-12 1971-08-17 Harry Einstein Gas measuring apparatus for detecting contaminants
US3734621A (en) * 1971-12-06 1973-05-22 Hewlett Packard Co Spectrophotometer utilizing memory storage calibration techniques
US3985441A (en) * 1974-03-13 1976-10-12 Schoeffel Instrument Corporation Multi-channel spectral analyzer for liquid chromatographic separations
DE2817149A1 (de) * 1978-04-17 1979-10-18 Werner Prof Dr Ing Adrian Vorrichtung zum kalibrieren von ir-absorptions-gasanalysegeraeten
US4223995A (en) * 1978-08-22 1980-09-23 Fletcher Taylor C Calibration system for spectrophotometers
JPS55116217A (en) * 1979-03-02 1980-09-06 Hitachi Ltd Display unit
US4322807A (en) * 1980-03-07 1982-03-30 The Perkin-Elmer Corporation Safe memory system for a spectrophotometer
JPS5817346A (ja) * 1981-07-23 1983-02-01 Mitsubishi Electric Corp 光学的測定装置
AT375469B (de) * 1981-11-09 1984-08-10 List Hans Verfahren zur kontinuierlichen messung der masse von aerosolteilchen in gasfoermigen proben sowie vorrichtung zur durchfuehrung des verfahrens
JPS5912323A (ja) * 1982-07-14 1984-01-23 Asahi Chem Ind Co Ltd 波長分析計
JPS59218936A (ja) * 1983-05-27 1984-12-10 Nec Corp 遠隔分光分析装置
EP0145877B1 (de) * 1983-11-04 1989-08-02 Hartmann & Braun Aktiengesellschaft Fotometer zur kontinuierlichen Analyse eines Mediums (Gas oder Flüssigkeit)
WO1985004017A1 (en) * 1984-03-05 1985-09-12 Orion Research Incorporated Analytic instrument
DE3418839A1 (de) * 1984-05-21 1985-11-21 Hoelzle & Chelius GmbH, 6078 Neu Isenburg Geraet zur kolorimetrie/photometrie
US4664522A (en) * 1984-08-24 1987-05-12 Guided Wave, Inc. Optical waveguide spectrum analyzer and method
FR2569864B1 (fr) * 1984-09-04 1987-01-30 Commissariat Energie Atomique Equipement d'emission et de distribution de lumiere par fibres optiques, notamment pour le controle spectrophotometrique en ligne a l'aide d'un spectrophotometre double faisceau
US4637730A (en) * 1984-09-18 1987-01-20 Custom Sample Systems, Inc. Optical and electronically compared absorptiometer
US4692883A (en) * 1985-02-21 1987-09-08 The Perkin-Elmer Corporation Automatic digital wavelength calibration system for a spectrophotometer
US4838691A (en) * 1985-07-10 1989-06-13 Beckman Instruments, Inc. Method and apparatus for determining calibration accuracy of a scientific instrument
US4707133A (en) * 1986-03-06 1987-11-17 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army Apparatus for plasma diagnostics
US4947414A (en) * 1986-07-14 1990-08-07 Hologic, Inc. Bone densitometer
US4786171A (en) * 1986-07-29 1988-11-22 Guided Wave, Inc. Spectral analysis apparatus and method
US4866644A (en) * 1986-08-29 1989-09-12 Shenk John S Optical instrument calibration system
US4937448A (en) * 1988-05-26 1990-06-26 Spectra-Physics, Inc. Self-normalizing single-beam laser spectrometer
US5184193A (en) * 1989-01-04 1993-02-02 Guided Wave Dual fiber optic spectrophotometer
US5020909A (en) * 1990-03-02 1991-06-04 Landa Issac J "In-line" spectral reference method for spectrometers

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