JPS5912323A - 波長分析計 - Google Patents
波長分析計Info
- Publication number
- JPS5912323A JPS5912323A JP12128182A JP12128182A JPS5912323A JP S5912323 A JPS5912323 A JP S5912323A JP 12128182 A JP12128182 A JP 12128182A JP 12128182 A JP12128182 A JP 12128182A JP S5912323 A JPS5912323 A JP S5912323A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- sample
- light emitting
- wavelength
- light source
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/255—Details, e.g. use of specially adapted sources, lighting or optical systems
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は光源として発光ダイオードが使用されていてそ
の安定したパルス出力特性を利用する波長分析計に関す
るものである。
の安定したパルス出力特性を利用する波長分析計に関す
るものである。
古く刀）ら物質の性質や成分を矧るため種々な波長の光
音投光して透過せしめて吸収曲線や特定波長の透過率を
得る波長分析計が使用されている。
音投光して透過せしめて吸収曲線や特定波長の透過率を
得る波長分析計が使用されている。
特に近年は各租の記憶装置や演算装置等のデータ処理装
置が開発され、さらに光ファイバーの利用によって光源
その他の各装置の設置場所が相互に制約されないように
なって、複数の波長の透過率を同時的に測定してデータ
処理し、迅速に分析結果を得る各種装置が種々発表され
てＡる。第１図はこの工うな波長分析計の１例の説明図
である。
置が開発され、さらに光ファイバーの利用によって光源
その他の各装置の設置場所が相互に制約されないように
なって、複数の波長の透過率を同時的に測定してデータ
処理し、迅速に分析結果を得る各種装置が種々発表され
てＡる。第１図はこの工うな波長分析計の１例の説明図
である。
１′は光源ランプであって、それから発する光は集光レ
ンズ７により試料光路Ｓに進行する。６は回転板であっ
てモータ４で連続回転または間欠回転せしめられ、その
板面には光源ランプ１′からの光を透過せしめる１個の
７１ルター５筐たは透過波長域の異なる複数個のフィル
ター５が回転板６の中心と同心の同一円周上に等間隔で
設けられており、回転板６０回転に伴い、各フィルター
５は所定の回転位置でそれぞれ試料光路Ｂ２進行して米
る光を透過せしめて所定の波長域の″Ｌ’ｚ生成せしめ
る。６は元ファイバーから成る光伝送ケーブルであり、
フィルター５以後の試料光路ｓｌ形成する。光伝送ケー
ブル６の中間には試料セルフが設置されており、また光
伝送ケーブル６の下流端部は受光部８に接続されている
。受光部８はフォトダイオード、光畦管、フォトマルチ
アレイ、フォトダイオードアレイなどの受光素子より成
り、７イルター５を経て所定波長域に選択され試料セル
フ全通過して伝送される光音受光してその受光量を電気
信号に変換する。かくして得られた電気信号は増幅器？
で増幅されて記憶装置１０に一旦記憶された後或は直接
に、演算器１１に送られ、試料光路Ｓからの受光量を所
定の演算式にｘｖａ＄４して分析されるのである。
ンズ７により試料光路Ｓに進行する。６は回転板であっ
てモータ４で連続回転または間欠回転せしめられ、その
板面には光源ランプ１′からの光を透過せしめる１個の
７１ルター５筐たは透過波長域の異なる複数個のフィル
ター５が回転板６の中心と同心の同一円周上に等間隔で
設けられており、回転板６０回転に伴い、各フィルター
５は所定の回転位置でそれぞれ試料光路Ｂ２進行して米
る光を透過せしめて所定の波長域の″Ｌ’ｚ生成せしめ
る。６は元ファイバーから成る光伝送ケーブルであり、
フィルター５以後の試料光路ｓｌ形成する。光伝送ケー
ブル６の中間には試料セルフが設置されており、また光
伝送ケーブル６の下流端部は受光部８に接続されている
。受光部８はフォトダイオード、光畦管、フォトマルチ
アレイ、フォトダイオードアレイなどの受光素子より成
り、７イルター５を経て所定波長域に選択され試料セル
フ全通過して伝送される光音受光してその受光量を電気
信号に変換する。かくして得られた電気信号は増幅器？
で増幅されて記憶装置１０に一旦記憶された後或は直接
に、演算器１１に送られ、試料光路Ｓからの受光量を所
定の演算式にｘｖａ＄４して分析されるのである。
このような波長分析においては受光部８の受光量の大小
が分析の基礎となる遺であるから、該受光量の大小が試
料セルフにのみ原因するものであることが必要であり、
そのためには、受光部８が受光してその受光量が電気信
号に変換される時の光源ランプ１′の光（ｆは常に一定
であることが要求される。
が分析の基礎となる遺であるから、該受光量の大小が試
料セルフにのみ原因するものであることが必要であり、
そのためには、受光部８が受光してその受光量が電気信
号に変換される時の光源ランプ１′の光（ｆは常に一定
であることが要求される。
しかるに従来、上記の如き波長分析に一般に使用されて
米た光源ランプ１′は通常のタングステンランプやハロ
ゲンランプなどの通常ランプまたはストロボ”７ラソシ
ユであり、このような光源ランプ１′ヲ使用した波長分
析計には次のような欠点がめった。すなわちこれらの光
源ランプ１′がｍ屑うンプの場合は第２図に通常ランプ
の点灯・消灯時の光度変化１示すように、点灯されてか
ら最高の安定した光）屍に達する葦でと、消灯されてか
ら尤度ＬＩＫ達する葦でとにそれぞれ若干の時間を要し
、且つこの）ｕ ｆａｔの上昇、Ｆ降伏態ハ必ずしも一
足でない。従って例えば回転板ろを間欠回転などで回転
を停止Ｊ−，せしめてフィルター５を試料光路Ｓの交差
する位置（以Ｆフィルター５の定位置と訂う）に静止せ
しめた状態で、或は回転板６を連続回転せしめながらフ
ィルター５がその定位置を通過する間開に一瞬発光せし
めて波長分析を行うことは、上記のように安定した光度
に達する１でと消灯後との不安定な光度の状態における
光源ラング１′からの光が受光部８による受光量に含１
れることになり、試料セルフ以外に原因する受光部の変
動も計測されるので、分析のｆｆ１Ｊ［ｋ低゛Ｆせしめ
るのである。ｌた光源ラング１′がストロボフラッシュ
である場合に、その発光システムが放電によるものでる
り、光量の出力安定性に欠け、その欠点は上記通常ラン
プの場合と同様である。従ってこの工うな光源ランプ１
′全使用する場合は上記の如くフィルター５の定位置毎
に発光せしめる方法は好ましくなく、多くの場合光源ラ
ンフ“１′全連続発光状態に維持してその比較的安定し
た光度でフィルター５を透過せしめた光を瞬間的に光伝
送ケーブル６に入射せしめるのが好ましいとされて来た
。そして第１図に示す如き回転板６を回転せしめる波長
分析計は、それによって試料セルＺ中の試料を静止状態
で光を透過せしめて分析する場合にも勿論使用可能であ
るが、特に、例えば製造工程中の中間体または製品を連
続して試料セルＺ全通過せしめながら波長分析して品質
及び製造条件を管理するようなグロセス用分析耐として
有用である。
米た光源ランプ１′は通常のタングステンランプやハロ
ゲンランプなどの通常ランプまたはストロボ”７ラソシ
ユであり、このような光源ランプ１′ヲ使用した波長分
析計には次のような欠点がめった。すなわちこれらの光
源ランプ１′がｍ屑うンプの場合は第２図に通常ランプ
の点灯・消灯時の光度変化１示すように、点灯されてか
ら最高の安定した光）屍に達する葦でと、消灯されてか
ら尤度ＬＩＫ達する葦でとにそれぞれ若干の時間を要し
、且つこの）ｕ ｆａｔの上昇、Ｆ降伏態ハ必ずしも一
足でない。従って例えば回転板ろを間欠回転などで回転
を停止Ｊ−，せしめてフィルター５を試料光路Ｓの交差
する位置（以Ｆフィルター５の定位置と訂う）に静止せ
しめた状態で、或は回転板６を連続回転せしめながらフ
ィルター５がその定位置を通過する間開に一瞬発光せし
めて波長分析を行うことは、上記のように安定した光度
に達する１でと消灯後との不安定な光度の状態における
光源ラング１′からの光が受光部８による受光量に含１
れることになり、試料セルフ以外に原因する受光部の変
動も計測されるので、分析のｆｆ１Ｊ［ｋ低゛Ｆせしめ
るのである。ｌた光源ラング１′がストロボフラッシュ
である場合に、その発光システムが放電によるものでる
り、光量の出力安定性に欠け、その欠点は上記通常ラン
プの場合と同様である。従ってこの工うな光源ランプ１
′全使用する場合は上記の如くフィルター５の定位置毎
に発光せしめる方法は好ましくなく、多くの場合光源ラ
ンフ“１′全連続発光状態に維持してその比較的安定し
た光度でフィルター５を透過せしめた光を瞬間的に光伝
送ケーブル６に入射せしめるのが好ましいとされて来た
。そして第１図に示す如き回転板６を回転せしめる波長
分析計は、それによって試料セルＺ中の試料を静止状態
で光を透過せしめて分析する場合にも勿論使用可能であ
るが、特に、例えば製造工程中の中間体または製品を連
続して試料セルＺ全通過せしめながら波長分析して品質
及び製造条件を管理するようなグロセス用分析耐として
有用である。
このように試料セルＺ中？絶えず流れている試料につい
て波長分析を行う場合にはできるだけ時間当りの測定回
数を多くすることが好ｌしく、従って回転板６を連続し
て重速回転せしめて試料光路Ｓとの時間当りの父差回ａ
を多くしてフィルター５の定位置毎に光源ラング１′か
らの光’ｔＪ過せしめる。この場合、光源ランプ１′か
らの光の光［は比較的安定していても、その光束全フィ
ルター５が横切る際には、フィルター５の先端の縁部が
光束中に人って後尾の縁部が光束を抜ける壕での大部分
の時間においては、光束は必ず一部遮断された状態で且
つ遮断面積が変化しながら試料光路Ｓを横断することに
なり、従って受光部８が受光する光量は光源ランプ１′
の光度が比較的安定しているにも拘らず、試料セルＺ以
外に原因して変動する光度を含むものであり、分析の精
度は低下する。
て波長分析を行う場合にはできるだけ時間当りの測定回
数を多くすることが好ｌしく、従って回転板６を連続し
て重速回転せしめて試料光路Ｓとの時間当りの父差回ａ
を多くしてフィルター５の定位置毎に光源ラング１′か
らの光’ｔＪ過せしめる。この場合、光源ランプ１′か
らの光の光［は比較的安定していても、その光束全フィ
ルター５が横切る際には、フィルター５の先端の縁部が
光束中に人って後尾の縁部が光束を抜ける壕での大部分
の時間においては、光束は必ず一部遮断された状態で且
つ遮断面積が変化しながら試料光路Ｓを横断することに
なり、従って受光部８が受光する光量は光源ランプ１′
の光度が比較的安定しているにも拘らず、試料セルＺ以
外に原因して変動する光度を含むものであり、分析の精
度は低下する。
フィルター５が定位置に達したと色に同期して作用する
ンヤツターや移動スリットなどをフィルター５の定位置
のＡｊＪ、または後に設けても上記現象の起ることに本
質的に差Ｉ４はない。
ンヤツターや移動スリットなどをフィルター５の定位置
のＡｊＪ、または後に設けても上記現象の起ることに本
質的に差Ｉ４はない。
本発明者等は上記の如き欠点なく波長分析することが出
来る波長分析計を提供することを目的に検討した結果、
発光ダイオードの安定したパルス出力特性に港目し、そ
の優れた特性を利用することにエリ目的全達成出来るこ
とを究明して本発明を成した。
来る波長分析計を提供することを目的に検討した結果、
発光ダイオードの安定したパルス出力特性に港目し、そ
の優れた特性を利用することにエリ目的全達成出来るこ
とを究明して本発明を成した。
すなわち本発明は、光源から発光される光を光７アイバ
ーを通して試料に投光せしめる波長分析計において、該
光源として所定時間間隔で点滅せしめられる発光ダイオ
ードが設けられていることを特徴とする波長分析計に関
するものである。
ーを通して試料に投光せしめる波長分析計において、該
光源として所定時間間隔で点滅せしめられる発光ダイオ
ードが設けられていることを特徴とする波長分析計に関
するものである。
本発明においては、波長域の異なった複数の発光ダイオ
ードを順次所定時間間隔で点滅せしめ各発光ダイオード
の発光パルスと同期ａＪ４’４Ｉして受光せしめること
も出来、さらに各発光ダイオードに流れる電流全調節す
ることにエリ、波長毎の透過特性に合わせて受光部の受
光量全調整せしめることも可能である。
ードを順次所定時間間隔で点滅せしめ各発光ダイオード
の発光パルスと同期ａＪ４’４Ｉして受光せしめること
も出来、さらに各発光ダイオードに流れる電流全調節す
ることにエリ、波長毎の透過特性に合わせて受光部の受
光量全調整せしめることも可能である。
以下、本発明分析計の１実施例を説明する図面により、
本発明を更に説明する。第６図は本発明分析計の１実施
例の系統図、第４図は元ダイオードの高周波での発光パ
ルスの状態金示す図、第５図は複数の発光ダイオードの
交番発光パルスの状態を示す図である。
本発明を更に説明する。第６図は本発明分析計の１実施
例の系統図、第４図は元ダイオードの高周波での発光パ
ルスの状態金示す図、第５図は複数の発光ダイオードの
交番発光パルスの状態を示す図である。
図面中、１は光源とじての複数個の発光ダイオード（以
下ＬＥＤと略称する］であって、所定の波長域の数と同
数のＬＥＩＩ １ ′（第６図ではＬＥＩＩ １ａ〜Ｌ
ＦｉＤ ｌｄの４個）が試料光路Ｓの大元側に設けられ
てオリ、各ＬＥＤ ｉに対応してそれぞれ試料セルフま
での試料光路Ｓｉ形成する光伝送ケーブル６ａ〜６ｄが
第６図に示すように設けられている。各ＬＥＤ ｉの発
光はエレクトロルミネッセンスにより生ずるものであり
、ＬＥＤｌの点灯時は直流点灯（スタティック法）では
なく時分割点灯（ダイナミック法ンで駆ｍさｎる。１ｚ
Ｆｉ同期調整器であって各ＬＦｉＤ ｌａ〜１ｄの発光
と受光部８からの成気信号の演算器？側への送信とを同
期せしめるものである。その他の番号は第１図と同様で
ある。
下ＬＥＤと略称する］であって、所定の波長域の数と同
数のＬＥＩＩ １ ′（第６図ではＬＥＩＩ １ａ〜Ｌ
ＦｉＤ ｌｄの４個）が試料光路Ｓの大元側に設けられ
てオリ、各ＬＥＤ ｉに対応してそれぞれ試料セルフま
での試料光路Ｓｉ形成する光伝送ケーブル６ａ〜６ｄが
第６図に示すように設けられている。各ＬＥＤ ｉの発
光はエレクトロルミネッセンスにより生ずるものであり
、ＬＥＤｌの点灯時は直流点灯（スタティック法）では
なく時分割点灯（ダイナミック法ンで駆ｍさｎる。１ｚ
Ｆｉ同期調整器であって各ＬＦｉＤ ｌａ〜１ｄの発光
と受光部８からの成気信号の演算器？側への送信とを同
期せしめるものである。その他の番号は第１図と同様で
ある。
このような波長分析ａ１全使用して極めて高い周波数で
ＬＥＤ １を点滅させてパルス発光させてやれば、ＬＥ
ＤＩは点灯の瞬間に試料に応じてあらかじめ設定された
所定の光度で発光し、消灯の瞬間に光度はＵになる。従
ってその発光中は所定の光度の光を発する。第４図は１
例として１１１６ｕ）ＬＥＤｉ全６ＫＨｚで発光させる
ときの、また第５図は４個のＬＥＤ １ａ〜１ａｆｆｉ
交番発光させるときの各発光パルスの状１１４ ｋ示す
ものであるが、このように高い周波数での発光の場合、
各ＬＫＤ １ 、ｃ リ安定した均一な光度の発光パル
スが得られる。そして第５図に示す波長分析計で、ＬＥ
ｉＤｌｉ例えば１ａ−１ｂ−１ｃ ＝ １ａ −＝ Ｉ
ａ−・・・の順に繰り返し発光せしめれば、第１図の波
長分析計で回転板６を回転せしめる場合と全く同様に所
定波長域毎に試料セルフをそれぞれ透過した光道の゛電
気信号が順次得られる。しかもＬＥＤ １（（高周波で
発光せしめても所定の波長域の各発光毎に均一な光度の
光が得られることと光源や投光部などに回転運動が全く
存在しないこととにエリ、受光部８が受光する光量には
試料セルフ以外の原因によって生ずる光歌の変＃は含葦
れないことになる。従って試料セルフ中を高速で流れる
試料を分析するプロセス用分析の場合でも精度の嶋い分
析を行うことができるのである。ＬＥＤｌの発光のタイ
ミング及び間隔の調整は公知の方法で行うことが出来、
例えば発振器より発振される６ＫＨｚの′電流を２分の
１分周器。
ＬＥＤ １を点滅させてパルス発光させてやれば、ＬＥ
ＤＩは点灯の瞬間に試料に応じてあらかじめ設定された
所定の光度で発光し、消灯の瞬間に光度はＵになる。従
ってその発光中は所定の光度の光を発する。第４図は１
例として１１１６ｕ）ＬＥＤｉ全６ＫＨｚで発光させる
ときの、また第５図は４個のＬＥＤ １ａ〜１ａｆｆｉ
交番発光させるときの各発光パルスの状１１４ ｋ示す
ものであるが、このように高い周波数での発光の場合、
各ＬＫＤ １ 、ｃ リ安定した均一な光度の発光パル
スが得られる。そして第５図に示す波長分析計で、ＬＥ
ｉＤｌｉ例えば１ａ−１ｂ−１ｃ ＝ １ａ −＝ Ｉ
ａ−・・・の順に繰り返し発光せしめれば、第１図の波
長分析計で回転板６を回転せしめる場合と全く同様に所
定波長域毎に試料セルフをそれぞれ透過した光道の゛電
気信号が順次得られる。しかもＬＥＤ １（（高周波で
発光せしめても所定の波長域の各発光毎に均一な光度の
光が得られることと光源や投光部などに回転運動が全く
存在しないこととにエリ、受光部８が受光する光量には
試料セルフ以外の原因によって生ずる光歌の変＃は含葦
れないことになる。従って試料セルフ中を高速で流れる
試料を分析するプロセス用分析の場合でも精度の嶋い分
析を行うことができるのである。ＬＥＤｌの発光のタイ
ミング及び間隔の調整は公知の方法で行うことが出来、
例えば発振器より発振される６ＫＨｚの′電流を２分の
１分周器。
６分の１分周器などの使用やシュミットトリガ−による
波形整形などによって所望の周波数に整えると共にタイ
ミングヲ調整すればよい。
波形整形などによって所望の周波数に整えると共にタイ
ミングヲ調整すればよい。
上記の如く本発明分析計は光源としてＬＦｉＤ ｉを使
用することによって静止試料は勿論、特に試料セルフ中
を通過する試料を高速分析するため光源を高頻度に発光
せしめるプロセス用分析の精度を向上せしめる制置ある
ものである。
用することによって静止試料は勿論、特に試料セルフ中
を通過する試料を高速分析するため光源を高頻度に発光
せしめるプロセス用分析の精度を向上せしめる制置ある
ものである。
第１図は従来の波長分析計の１例の説明図、第２図は通
常ランプの点灯・消灯時の光度変化を示す図、第６図は
本発明分析計の１実施例の系統図、第４図は光ダイオー
ドの高周波での発光パルスの状態を示す図、第５図は複
数の発光ダイオードの交番発光パルスの状態を示す図で
ある。 １・・光源（光ダイオード） １′・・光源ランプ ２・・レンズ ６・・回転板 ４・・モータ ５・・フィルター ６・・光伝送ケーブル ７・・試料セル ８・・受光部 ？・・増幅器 １０・・記憶装置 １１・・演算器 １２・・同期調整器 Ｓ・・試料光路 升埋士 野 間 忠 之 、 で、 第１図 第２Ｆ！！ 峙朋 第４図 第 ５ 図
常ランプの点灯・消灯時の光度変化を示す図、第６図は
本発明分析計の１実施例の系統図、第４図は光ダイオー
ドの高周波での発光パルスの状態を示す図、第５図は複
数の発光ダイオードの交番発光パルスの状態を示す図で
ある。 １・・光源（光ダイオード） １′・・光源ランプ ２・・レンズ ６・・回転板 ４・・モータ ５・・フィルター ６・・光伝送ケーブル ７・・試料セル ８・・受光部 ？・・増幅器 １０・・記憶装置 １１・・演算器 １２・・同期調整器 Ｓ・・試料光路 升埋士 野 間 忠 之 、 で、 第１図 第２Ｆ！！ 峙朋 第４図 第 ５ 図
Claims (1)
- １ 光源から発光される元金光ファイバー全通して試料
に投光せしめる波長分析計において、該光源として所定
時間間隔で点滅せしめられる発光ダイオードが設けられ
ていること全特徴とする波長分析計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12128182A JPS5912323A (ja) | 1982-07-14 | 1982-07-14 | 波長分析計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12128182A JPS5912323A (ja) | 1982-07-14 | 1982-07-14 | 波長分析計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5912323A true JPS5912323A (ja) | 1984-01-23 |
Family
ID=14807366
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12128182A Pending JPS5912323A (ja) | 1982-07-14 | 1982-07-14 | 波長分析計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5912323A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0333939A2 (en) * | 1987-12-28 | 1989-09-27 | G.J.J. Drs. Beukeveld | Capillary flow cell for optically analysing fluids, and apparatus comprising said cell |
| EP0480753A2 (en) * | 1990-10-12 | 1992-04-15 | Tytronics, Inc. | Optical analytical instrument and method |
| WO1994008226A1 (en) * | 1992-10-05 | 1994-04-14 | Shell Internationale Research Maatschappij B.V. | An apparatus for fuel quality monitoring |
| EP0871025A1 (de) * | 1997-04-09 | 1998-10-14 | VIPTRONIC SrL | Densitometrisches und spektrometrisches Messverfahren |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5616826A (en) * | 1979-07-20 | 1981-02-18 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Color detector |
-
1982
- 1982-07-14 JP JP12128182A patent/JPS5912323A/ja active Pending
Patent Citations (1)
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| JPS5616826A (en) * | 1979-07-20 | 1981-02-18 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Color detector |
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| EP0333939A2 (en) * | 1987-12-28 | 1989-09-27 | G.J.J. Drs. Beukeveld | Capillary flow cell for optically analysing fluids, and apparatus comprising said cell |
| EP0333939A3 (en) * | 1987-12-28 | 1989-11-15 | G.J.J. Drs. Beukeveld | Capillary flow cell for optically analysing fluids, and apparatus comprising said cell |
| EP0480753A2 (en) * | 1990-10-12 | 1992-04-15 | Tytronics, Inc. | Optical analytical instrument and method |
| WO1994008226A1 (en) * | 1992-10-05 | 1994-04-14 | Shell Internationale Research Maatschappij B.V. | An apparatus for fuel quality monitoring |
| EP0871025A1 (de) * | 1997-04-09 | 1998-10-14 | VIPTRONIC SrL | Densitometrisches und spektrometrisches Messverfahren |
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