JP3300422B2 - 光波形測定装置 - Google Patents
光波形測定装置Info
- Publication number
- JP3300422B2 JP3300422B2 JP24807792A JP24807792A JP3300422B2 JP 3300422 B2 JP3300422 B2 JP 3300422B2 JP 24807792 A JP24807792 A JP 24807792A JP 24807792 A JP24807792 A JP 24807792A JP 3300422 B2 JP3300422 B2 JP 3300422B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- measured
- probe
- pulse
- time
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、超高速で変化する光信
号の波形を測定する装置に関するものである。
号の波形を測定する装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】近年、超短光パルスを発生する技術が急
速に進歩し、現在ではピコ秒以下のパルスを安定して得
ることができるようになっている。このような超短光パ
ルスは時間分解分光、非線形分光の光源として期待され
ている。
速に進歩し、現在ではピコ秒以下のパルスを安定して得
ることができるようになっている。このような超短光パ
ルスは時間分解分光、非線形分光の光源として期待され
ている。
【０００３】自然状態で存在する光または人為的に発生
した光の波形には、様々な有用な情報が内包されてお
り、この波形を精密に観測することにより自然現象のよ
り深い認識およびより正確な理解が可能となる。従来、
光信号波形の計測方法として、大きく分けて以下の二種
の方法がある。
した光の波形には、様々な有用な情報が内包されてお
り、この波形を精密に観測することにより自然現象のよ
り深い認識およびより正確な理解が可能となる。従来、
光信号波形の計測方法として、大きく分けて以下の二種
の方法がある。
【０００４】（１）線形光−電子変換による方法 （２）非線形光学効果を利用した方法 前者は、光電変換を利用した光検出器を用い、光信号を
電気信号または電荷信号に変換した後、オシロスコープ
などに表示して波形を測定する方法である。この場合、
光検出器として、フォトダイオード、光電管、光電増倍
管、またはストリーク管などを用いる。以上の内では、
ストリーク管を使用したストリークカメラが最も高速で
あり、現在製品化されているもので、600fsec の時間分
解能に達している。
電気信号または電荷信号に変換した後、オシロスコープ
などに表示して波形を測定する方法である。この場合、
光検出器として、フォトダイオード、光電管、光電増倍
管、またはストリーク管などを用いる。以上の内では、
ストリーク管を使用したストリークカメラが最も高速で
あり、現在製品化されているもので、600fsec の時間分
解能に達している。
【０００５】後者は、被測定光とプローブ光の間に適当
な遅延を与え、これらの二種の光を非線形結晶上で合波
して得られる高調波の強度を、遅延量をパラメータにし
て得られる波形を求めることにより、被測定光波形を測
定する方法である。この方法は、本質的には繰り返し波
形の波形を計測するサンプリング法であるが、被測定光
とプローブ光とを空間的に広げ、かつ両者の光の間に空
間的に異なる遅延時間を与えて重ね合わせることによ
り、単一パルス光のリアルタイム波形計測を行うことも
できる（川西悟基他，「光サンプリング技術による超高
速光パルスの測定」，電気学会研究会資料，計測研究会
ＩＭ−８９−１５ １９８９年５月３０日、特公平２
−２５９４３５、等）。
な遅延を与え、これらの二種の光を非線形結晶上で合波
して得られる高調波の強度を、遅延量をパラメータにし
て得られる波形を求めることにより、被測定光波形を測
定する方法である。この方法は、本質的には繰り返し波
形の波形を計測するサンプリング法であるが、被測定光
とプローブ光とを空間的に広げ、かつ両者の光の間に空
間的に異なる遅延時間を与えて重ね合わせることによ
り、単一パルス光のリアルタイム波形計測を行うことも
できる（川西悟基他，「光サンプリング技術による超高
速光パルスの測定」，電気学会研究会資料，計測研究会
ＩＭ−８９−１５ １９８９年５月３０日、特公平２
−２５９４３５、等）。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】上記の「（１）線形光
−電子変換による方法」で、ストリークカメラを用いな
い場合は装置の時間分解能は電気信号の処理帯域で制限
され、高々数10psecであった。また、ストリークカメラ
を用いた場合は、上述のように、psec以下の時間分解能
を有するが装置が非常に高価となってしまっていた。ま
た、上記の「（２）非線形光学効果を利用した方法」で
は、被測定光を空間的に広げ、その一部をプローブ光と
相互作用させるので、サンプリング法およびリアルタイ
ム計測法のいずれも被測定光の利用効率が非常に悪く、
Ｓ／Ｎの良い計測がでなかった。
−電子変換による方法」で、ストリークカメラを用いな
い場合は装置の時間分解能は電気信号の処理帯域で制限
され、高々数10psecであった。また、ストリークカメラ
を用いた場合は、上述のように、psec以下の時間分解能
を有するが装置が非常に高価となってしまっていた。ま
た、上記の「（２）非線形光学効果を利用した方法」で
は、被測定光を空間的に広げ、その一部をプローブ光と
相互作用させるので、サンプリング法およびリアルタイ
ム計測法のいずれも被測定光の利用効率が非常に悪く、
Ｓ／Ｎの良い計測がでなかった。
【０００７】本発明はこのような問題点を解消するため
になされたもので、高い時間分解能でＳ／Ｎ良く計測す
る光波形測定装置を廉価に提供することを目的とする。
になされたもので、高い時間分解能でＳ／Ｎ良く計測す
る光波形測定装置を廉価に提供することを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明の光波形測定装置
は、上記の非線形光学効果を利用した方法に属し、従来
の方法の欠点を取り除いたものである。具体的には、
（ａ）二種の光を相互作用させる非線形素子と、（ｂ）
被測定光を時間波形のまま前記非線形素子へ導く被測定
光導波手段と、（ｃ）被測定光と非線形素子内で交差し
交差時刻とともに進行方向が変化するプローブ光を発生
するプローブ光発生手段と、（ｄ）非線形素子中で被測
定光と前記プローブ光との相互作用によって発生する出
力光の強度を検出する出力光検出手段と、を有すること
を特徴とする。ここで、プローブ光発生手段は、進行方
向に垂直な空間的に広がった短パルス光を発生する光源
と、該光源の出射する短パルス光を入射し回折によって
短パルスの空間的広がりが進行方向に対して斜交した回
折光を出射する回折格子と、該回折光を被測定光と相互
作用させる非線形素子内の点近傍に集光する凸レンズ
と、を備える。また、プローブ光発生手段は、被測定光
の時間的広がりよりも短いパルス光を発生する光源と、
該光源を光出射方向と垂直に等速度で走査する機構と、
光源の出射位置に応じて、被測定光の測定対象部の到達
検出から光源の短パルス光出射タイミングを制御する手
段と、光源が出射した短パルス光に、各パルスごとに固
有な非線形素子入射角度を付与する凸レンズと、を備え
る。また、プローブ光発生手段は、被測定光の測定対象
部の時間的広がりよりも短い時間幅を持つ互いに略平行
な進行方向を有する短パルス光を発生する１次元に配列
された複数の光源と、個々の光源の配置位置に応じて、
被測定光の測定対象部の到達検出によって、被測定光と
プローブ光がほぼ同時刻に非線形素子に到着するよう
に、光源の短パルス光出射タイミングを制御する手段
と、複数の光源が出射した短パルス光に、各パルスごと
に固有な非線形素子入射角度を付与する凸レンズと、を
備える。また、プローブ光発生手段は、被測定光の到達
を識別し、該被測定光の非線形素子への到達と同期して
プローブ光を前記非線形素子へ照射するように構成され
る。
は、上記の非線形光学効果を利用した方法に属し、従来
の方法の欠点を取り除いたものである。具体的には、
（ａ）二種の光を相互作用させる非線形素子と、（ｂ）
被測定光を時間波形のまま前記非線形素子へ導く被測定
光導波手段と、（ｃ）被測定光と非線形素子内で交差し
交差時刻とともに進行方向が変化するプローブ光を発生
するプローブ光発生手段と、（ｄ）非線形素子中で被測
定光と前記プローブ光との相互作用によって発生する出
力光の強度を検出する出力光検出手段と、を有すること
を特徴とする。ここで、プローブ光発生手段は、進行方
向に垂直な空間的に広がった短パルス光を発生する光源
と、該光源の出射する短パルス光を入射し回折によって
短パルスの空間的広がりが進行方向に対して斜交した回
折光を出射する回折格子と、該回折光を被測定光と相互
作用させる非線形素子内の点近傍に集光する凸レンズ
と、を備える。また、プローブ光発生手段は、被測定光
の時間的広がりよりも短いパルス光を発生する光源と、
該光源を光出射方向と垂直に等速度で走査する機構と、
光源の出射位置に応じて、被測定光の測定対象部の到達
検出から光源の短パルス光出射タイミングを制御する手
段と、光源が出射した短パルス光に、各パルスごとに固
有な非線形素子入射角度を付与する凸レンズと、を備え
る。また、プローブ光発生手段は、被測定光の測定対象
部の時間的広がりよりも短い時間幅を持つ互いに略平行
な進行方向を有する短パルス光を発生する１次元に配列
された複数の光源と、個々の光源の配置位置に応じて、
被測定光の測定対象部の到達検出によって、被測定光と
プローブ光がほぼ同時刻に非線形素子に到着するよう
に、光源の短パルス光出射タイミングを制御する手段
と、複数の光源が出射した短パルス光に、各パルスごと
に固有な非線形素子入射角度を付与する凸レンズと、を
備える。また、プローブ光発生手段は、被測定光の到達
を識別し、該被測定光の非線形素子への到達と同期して
プローブ光を前記非線形素子へ照射するように構成され
る。
【０００９】また、出力光検出手段は、一次元に配列さ
れた複数の検出素子を含んで構成され、該出力光の出射
方向に対して分解能を有する。ここで、出力光検出手段
を該混合光の受光により発生する電荷を蓄積可能な、電
荷蓄積型光検出器を含んで構成してもよい。また、非線
形素子は、２次および３次のいずれか一方の非線形光学
効果を有する。また、被測定光導波手段は、該被測定光
を増幅してもよい。
れた複数の検出素子を含んで構成され、該出力光の出射
方向に対して分解能を有する。ここで、出力光検出手段
を該混合光の受光により発生する電荷を蓄積可能な、電
荷蓄積型光検出器を含んで構成してもよい。また、非線
形素子は、２次および３次のいずれか一方の非線形光学
効果を有する。また、被測定光導波手段は、該被測定光
を増幅してもよい。
【００１０】
【作用】本発明では、以上のように被測定光をそのまま
使用し、この被測定光の時間的な進行にともない、異な
る時刻には異なる交差角の短パルス状プローブ光と非線
形素子で相互作用させるようにしたので、この相互作用
の結果生じる出射光は、被測定光波形の時間的な広がり
を空間的な広がりに反映している。以上の作用を図面を
参照して説明する。
使用し、この被測定光の時間的な進行にともない、異な
る時刻には異なる交差角の短パルス状プローブ光と非線
形素子で相互作用させるようにしたので、この相互作用
の結果生じる出射光は、被測定光波形の時間的な広がり
を空間的な広がりに反映している。以上の作用を図面を
参照して説明する。
【００１１】図１は本発明の要部の説明図であり、被測
定光とプローブ光とが非線形素子内で相互作用し、被測
定光の時間波形が空間展開される様を示す。プローブ光
は凸レンズによって集光される前においては、進行方向
に斜交した空間的な広がりを持ち、かつ空間位置（ｘ）
に依存した時間遅延を有したパルス光である。このパル
ス光の発生は、光源から発した進行方向に垂直な空間的
に広がった短パルス光を回折格子によって回折させて発
生させたり、進行方向に対して垂直な方向に移動する光
源によって発生させたり、一次元に配列された複数の光
源を個別に点灯／消灯して発生させたりする。このよう
な光パルスは、つぎの数式（１）のように表すことがで
きる。
定光とプローブ光とが非線形素子内で相互作用し、被測
定光の時間波形が空間展開される様を示す。プローブ光
は凸レンズによって集光される前においては、進行方向
に斜交した空間的な広がりを持ち、かつ空間位置（ｘ）
に依存した時間遅延を有したパルス光である。このパル
ス光の発生は、光源から発した進行方向に垂直な空間的
に広がった短パルス光を回折格子によって回折させて発
生させたり、進行方向に対して垂直な方向に移動する光
源によって発生させたり、一次元に配列された複数の光
源を個別に点灯／消灯して発生させたりする。このよう
な光パルスは、つぎの数式（１）のように表すことがで
きる。
【００１２】 Ｅ（ｔ，ｘ）＝Ｒ（ｘ）・Ｖ（ｔ−αｘ）・・・（１） ここで、Ｅ（ｔ，ｘ） ：プローブ光の時間・空間分布 Ｒ（ｘ） ：プローブ光の空間分布を表す関数 Ｖ（ｔ） ：プローブ光の時間分布を表す関数 α ：空間位置による時間遅延率 このプローブ光を凸レンズで非線形素子上に集光する。
凸レンズは、空間的なフーリエ変換の機能を有するの
で、非線形素子上に集光されたプローブ光は、入射方向
に依存して非線形素子への到達時間が異なる。
凸レンズは、空間的なフーリエ変換の機能を有するの
で、非線形素子上に集光されたプローブ光は、入射方向
に依存して非線形素子への到達時間が異なる。
【００１３】このようなプローブ光と被測定光を非線形
素子上で重ね合わせ、相互作用させる。簡単のため、使
用する非線形素子は２次の非線形光学効果を有するＳＨ
Ｇ素子とする。ＳＨＧ素子では、２つの入射光の相互作
用によって発生する光の出射方向は位相整合条件によっ
て決定される。すなわち、ＳＨＧ素子で発生した相互作
用光の出射方向は、２つの入射光の方向を示すベクトル
を加え合わせたベクトルが示す方向となる。被測定光の
非線形素子への入射方向は固定であり、またプローブ光
は非線形素子上に到達する時間によって非線形素子への
入射方向が異なるので、ＳＨＧ素子で相互作用した結果
生じた出力光は、時間的に異なる方向へ出射される。こ
の時、プローブ光の強度が非線形素子への入射方向に依
存せず一定であれば、被測定光の強度の時間分布（被測
定光の波形そのもの）に依存した強度の出射方向分布を
有して、相互作用光が出射される。この出射光方向分布
を凸レンズによって空間分布に変換することにより、被
測定光の時間波形が空間展開される。こうして被測定光
の波形が空間展開された光を１次元状に配置された光検
出器で受光・計測することにより光波形測定ができる。
なお、ここではプローブ光の強度が非線形素子への入射
方向に依存しないとしたが、強度分布が既知のプローブ
光を使用するならば、この既知の強度分布で補正を行え
ばよい。また、非線形素子をＳＨＧ素子として説明した
が、３次の非線形光学効果を有する素子を使用しても同
様に時間−空間変換が可能である。また、混合光の生成
量は入射光強度に比例するので、被測定光を増幅するこ
とによりＳ／Ｎを向上できる。
素子上で重ね合わせ、相互作用させる。簡単のため、使
用する非線形素子は２次の非線形光学効果を有するＳＨ
Ｇ素子とする。ＳＨＧ素子では、２つの入射光の相互作
用によって発生する光の出射方向は位相整合条件によっ
て決定される。すなわち、ＳＨＧ素子で発生した相互作
用光の出射方向は、２つの入射光の方向を示すベクトル
を加え合わせたベクトルが示す方向となる。被測定光の
非線形素子への入射方向は固定であり、またプローブ光
は非線形素子上に到達する時間によって非線形素子への
入射方向が異なるので、ＳＨＧ素子で相互作用した結果
生じた出力光は、時間的に異なる方向へ出射される。こ
の時、プローブ光の強度が非線形素子への入射方向に依
存せず一定であれば、被測定光の強度の時間分布（被測
定光の波形そのもの）に依存した強度の出射方向分布を
有して、相互作用光が出射される。この出射光方向分布
を凸レンズによって空間分布に変換することにより、被
測定光の時間波形が空間展開される。こうして被測定光
の波形が空間展開された光を１次元状に配置された光検
出器で受光・計測することにより光波形測定ができる。
なお、ここではプローブ光の強度が非線形素子への入射
方向に依存しないとしたが、強度分布が既知のプローブ
光を使用するならば、この既知の強度分布で補正を行え
ばよい。また、非線形素子をＳＨＧ素子として説明した
が、３次の非線形光学効果を有する素子を使用しても同
様に時間−空間変換が可能である。また、混合光の生成
量は入射光強度に比例するので、被測定光を増幅するこ
とによりＳ／Ｎを向上できる。
【００１４】
（第１実施例）図２は本発明に係わる第１実施例の基本
構成を示す。この装置は、２次の非線形光学効果を有す
るＳＨＧ素子１１と、被測定光をＳＨＧ素子１１の近傍
に導く光ファイバ７と、光ファイバ７から出射した光を
ＳＨＧ素子１１上に集光するレンズ７５と、進行方向に
垂直な空間的広がりを有する略６ｍｍの平行パルス光を
発生する光源４１と、この光源４１発光の光を回折させ
波面が傾いた回折光を生成する回折格子４（格子定数ｄ
-1＝１２００本／ｍｍ）と、この回折光をＳＨＧ素子１
１上の相互作用点に集光する凸レンズ５１（口径＝約
７．５ｍｍ，焦点距離＝３０ｍｍ）と被測定光とプロー
ブ光とがＳＨＧ素子上で相互作用した結果生じた、ＳＨ
Ｇ素子１１から出射される出力光のみを透過する波長フ
ィルタ９１と、この波長フィルタ９１を介した光を平行
光化する凸レンズ３１（口径＝約２７ｍｍ，焦点距離＝
２００ｍｍ）と、５０μｍごとに配置された５１２ｃｈ
のフォトダイオードのフォトダイオードアレーとからな
る光検出器２１から構成される。
構成を示す。この装置は、２次の非線形光学効果を有す
るＳＨＧ素子１１と、被測定光をＳＨＧ素子１１の近傍
に導く光ファイバ７と、光ファイバ７から出射した光を
ＳＨＧ素子１１上に集光するレンズ７５と、進行方向に
垂直な空間的広がりを有する略６ｍｍの平行パルス光を
発生する光源４１と、この光源４１発光の光を回折させ
波面が傾いた回折光を生成する回折格子４（格子定数ｄ
-1＝１２００本／ｍｍ）と、この回折光をＳＨＧ素子１
１上の相互作用点に集光する凸レンズ５１（口径＝約
７．５ｍｍ，焦点距離＝３０ｍｍ）と被測定光とプロー
ブ光とがＳＨＧ素子上で相互作用した結果生じた、ＳＨ
Ｇ素子１１から出射される出力光のみを透過する波長フ
ィルタ９１と、この波長フィルタ９１を介した光を平行
光化する凸レンズ３１（口径＝約２７ｍｍ，焦点距離＝
２００ｍｍ）と、５０μｍごとに配置された５１２ｃｈ
のフォトダイオードのフォトダイオードアレーとからな
る光検出器２１から構成される。
【００１５】被測定光は光ファイバ７を介してＳＨＧ素
子１１に照射される。光源４１の発生する進行方向に垂
直な空間的広がりを有するパルス光を回折格子にて回折
することにより、進行方向と波面のなす角度が垂直から
変化する。この回折の関係式は以下の通りである。
子１１に照射される。光源４１の発生する進行方向に垂
直な空間的広がりを有するパルス光を回折格子にて回折
することにより、進行方向と波面のなす角度が垂直から
変化する。この回折の関係式は以下の通りである。
【００１６】 ｓｉｎθi ＋ｓｉｎθO ＝λ／ｄ・・（２） θO ＝ｓｉｎ-1（λ／ｄ−ｓｉｎθi ）・・（３） α[sec/m] ＝λ・ｓ／（ｃ・ｄ・ｃｏｓθ）・・（４） ここで、θi ：回折格子への入射角 θO ：回折格子からの出射角 λ ：パルス光の波長 ｓ＝ｃｏｓθi ／ｃｏｓθO ｃ＝３×１０8 [m/sec] ：光速度 ｙ2 ＝ｘ／ｓ・・（５） ここで、ｘ ：光源発光ビームの径 ｙ2 ：回折格子からの出射ビーム径 本実施例では、図２に示すようにθi ＝４０゜、ｄ-1＝
１２００［本／ｍｍ］、λ＝８００［ｎｍ］としたの
で、 θO ＝１８．５゜ α ＝３．４×１０-9[sec/m] ｙ2 ＝７．４×１０-3[m] したがって、回折格子からの出射ビーム中の遅延時間
（Ｔd ）は、次の通りであり、この値までの被測定光の
時間強度分布はリアルタイム計測が可能である。 Ｔd ＝α・ｙ2 ＝２５[psec] 上記のビームを凸レンズ５１（焦点距離（ｆ51）＝３０
[mm]）でＳＨＧ素子１１上に集光し、ＳＨＧ素子１１の
到着時刻によって進行方向が異なるプローブ光を生成す
る。このプローブ光錐面のＳＨＧ素子１１への入射角
は、図２のように集光ビームの光軸に対して±θP 傾
く。このθP は次ぎのように求まる。
１２００［本／ｍｍ］、λ＝８００［ｎｍ］としたの
で、 θO ＝１８．５゜ α ＝３．４×１０-9[sec/m] ｙ2 ＝７．４×１０-3[m] したがって、回折格子からの出射ビーム中の遅延時間
（Ｔd ）は、次の通りであり、この値までの被測定光の
時間強度分布はリアルタイム計測が可能である。 Ｔd ＝α・ｙ2 ＝２５[psec] 上記のビームを凸レンズ５１（焦点距離（ｆ51）＝３０
[mm]）でＳＨＧ素子１１上に集光し、ＳＨＧ素子１１の
到着時刻によって進行方向が異なるプローブ光を生成す
る。このプローブ光錐面のＳＨＧ素子１１への入射角
は、図２のように集光ビームの光軸に対して±θP 傾
く。このθP は次ぎのように求まる。
【００１７】θP ＝ｔａｎ-1（ｙ2 ／２ｆ51）＝７゜ ＳＨＧ素子１１上の被測定光とプローブ光の相互作用に
よって生じる出力光の出射方向は、被測定光の進行方向
ベクトルとプローブ光の進行方向ベクトルとの和ベクト
ルの方向となる。レンズ７５で集光された被測定光の進
行方向の変化は無視できる程度であり、プローブ光は角
度（±θP ）の進行方向の広がりを持つので、出力光は
ＳＨＧ素子１１からの出射方向の広がりを有する。この
出力光の広がり角度（θD ）とプローブ光の広がり角度
との間では、 θP ＝２θD ・・（６） が成り立つ。したがって、θD ＝±３．５゜の範囲で出
力光はＳＨＧ素子１１から出射される。
よって生じる出力光の出射方向は、被測定光の進行方向
ベクトルとプローブ光の進行方向ベクトルとの和ベクト
ルの方向となる。レンズ７５で集光された被測定光の進
行方向の変化は無視できる程度であり、プローブ光は角
度（±θP ）の進行方向の広がりを持つので、出力光は
ＳＨＧ素子１１からの出射方向の広がりを有する。この
出力光の広がり角度（θD ）とプローブ光の広がり角度
との間では、 θP ＝２θD ・・（６） が成り立つ。したがって、θD ＝±３．５゜の範囲で出
力光はＳＨＧ素子１１から出射される。
【００１８】この時、考慮すべき点として出力光の出射
範囲への被測定光あるいはプローブ光の混入の問題があ
る。相互作用出力光の出射範囲に被測定光およびプロー
ブ光の非相互作用分が混入しない条件はつぎの通りであ
る。
範囲への被測定光あるいはプローブ光の混入の問題があ
る。相互作用出力光の出射範囲に被測定光およびプロー
ブ光の非相互作用分が混入しない条件はつぎの通りであ
る。
【００１９】 θS ＞３θP ／２＝３θD ・・（７） ここで、θS ：被測定光とプローブ光の光路の中心軸と
がなす角度の半値 なお、図２では被測定光のＳＨＧ素子１１への入射角＝
θS としているが、これは本発明の光波形測定装置にお
いては本質的な事項ではない。ただし、このように設定
するとＳＨＧ素子から出射する出力光の広がりが、ＳＨ
Ｇ素子１１の出射面の垂直方向を中心に広がる。このた
め部品の位置関係が単純になり装置製作が容易になる。
この条件を満足しない場合には、透過光波長選択フィル
タを介在させて出力光のみを光検出器に導くか、波長選
択性光検出器を用いるかして出力光のみを計測する。こ
の実施例では、θS ＝１０゜、θP ＝７゜としたので、 θS ＝１０゜＜３θP ／２＝３θD ＝１０．５゜ となり、（７）式の条件を満足していないのでフィルタ
９１を出力光の進行経路に配置している。
がなす角度の半値 なお、図２では被測定光のＳＨＧ素子１１への入射角＝
θS としているが、これは本発明の光波形測定装置にお
いては本質的な事項ではない。ただし、このように設定
するとＳＨＧ素子から出射する出力光の広がりが、ＳＨ
Ｇ素子１１の出射面の垂直方向を中心に広がる。このた
め部品の位置関係が単純になり装置製作が容易になる。
この条件を満足しない場合には、透過光波長選択フィル
タを介在させて出力光のみを光検出器に導くか、波長選
択性光検出器を用いるかして出力光のみを計測する。こ
の実施例では、θS ＝１０゜、θP ＝７゜としたので、 θS ＝１０゜＜３θP ／２＝３θD ＝１０．５゜ となり、（７）式の条件を満足していないのでフィルタ
９１を出力光の進行経路に配置している。
【００２０】この出力光を凸レンズ３１（焦点距離（ｆ
31）＝２００[mm]）でコリメートし、方向の広がりを空
間距離の広がりへ変換する。こうして得たビームの広が
り（ｙ1 ）は以下の通りである。
31）＝２００[mm]）でコリメートし、方向の広がりを空
間距離の広がりへ変換する。こうして得たビームの広が
り（ｙ1 ）は以下の通りである。
【００２１】 ｙ1＝２ｆ3・ｔａｎ３．５°＝２４．４[ｍｍ] このコリメートした出力光の強度を光検出器２１で測定
する。光検出器２１はフォトダイオードアレイであり、
光検出単位である幅（ｔ）が５０[μｍ]のフォトダイオ
ードを一次元的に５１２個配列しているので、光検出器
２１全体の幅は２５．６ [ｍｍ]となり、上記のコリメ
ートした出力光の空間的広がりを充分包含している。
する。光検出器２１はフォトダイオードアレイであり、
光検出単位である幅（ｔ）が５０[μｍ]のフォトダイオ
ードを一次元的に５１２個配列しているので、光検出器
２１全体の幅は２５．６ [ｍｍ]となり、上記のコリメ
ートした出力光の空間的広がりを充分包含している。
【００２２】また、本実施例においては、ＳＨＧ素子１
１から出射する出力光の強度は被測定光の強度に比例す
るので、被測定光をＳＨＧ素子１１近傍へ導波する途中
で光増幅することにより計測のＳ／Ｎを向上できる。図
３（ａ）は、この被測定光の増幅の一例を示しており、
被測定光を導波する光ファイバ７１，７３の間に半導体
光増幅器（ＴＷＡ）７２を配置したものである。光増幅
器としては、Ｅｒドープの光ファイバ増幅器またはパラ
メトリック光増幅器を使用できる。
１から出射する出力光の強度は被測定光の強度に比例す
るので、被測定光をＳＨＧ素子１１近傍へ導波する途中
で光増幅することにより計測のＳ／Ｎを向上できる。図
３（ａ）は、この被測定光の増幅の一例を示しており、
被測定光を導波する光ファイバ７１，７３の間に半導体
光増幅器（ＴＷＡ）７２を配置したものである。光増幅
器としては、Ｅｒドープの光ファイバ増幅器またはパラ
メトリック光増幅器を使用できる。
【００２３】また、被測定光の波形測定を効率的に実施
するには、被測定光（特に測定対象部）の到達を検出
し、被測定光のＳＨＧ素子１１への照射に同期して、プ
ローブ光をＳＨＧ素子１１へ入射させることが好まし
い。図３（ｂ）は、この同期化の方法の一例を示す。被
測定光をハーフミラー８１によって２分岐する。一方を
フォトダイオード（ＰＤ）８２に入射させ、被測定光の
到着を監視する。ＰＤ８２の出力電気信号は、アンプ８
３およびコムジェネレータ８４を介して増幅・整形さ
れ、光源４１の駆動に使用する。ハーフミラー８１で２
分岐した光の他方は、光ファイバ７４によって遅延を施
されることによりＳＨＧ素子１への到着のタイミングが
調整され、プローブ光と同期が図られる。被測定光のＳ
ＨＧ素子１１への到着タイミング調整のための遅延手段
としては、ミラーを組み合わせて用いてもよい。
するには、被測定光（特に測定対象部）の到達を検出
し、被測定光のＳＨＧ素子１１への照射に同期して、プ
ローブ光をＳＨＧ素子１１へ入射させることが好まし
い。図３（ｂ）は、この同期化の方法の一例を示す。被
測定光をハーフミラー８１によって２分岐する。一方を
フォトダイオード（ＰＤ）８２に入射させ、被測定光の
到着を監視する。ＰＤ８２の出力電気信号は、アンプ８
３およびコムジェネレータ８４を介して増幅・整形さ
れ、光源４１の駆動に使用する。ハーフミラー８１で２
分岐した光の他方は、光ファイバ７４によって遅延を施
されることによりＳＨＧ素子１への到着のタイミングが
調整され、プローブ光と同期が図られる。被測定光のＳ
ＨＧ素子１１への到着タイミング調整のための遅延手段
としては、ミラーを組み合わせて用いてもよい。
【００２４】被測定光の測定対象部の時間幅がＴd 以下
であれば、その波形をリアルタイム測定可能である。Ｔ
d は、光源４１の出射するビーム径（ｘ）、回折格子へ
の光源４１出射ビームの入射角（θi ）、または回折格
子の格子定数（ｄ-1）で調整可能である。
であれば、その波形をリアルタイム測定可能である。Ｔ
d は、光源４１の出射するビーム径（ｘ）、回折格子へ
の光源４１出射ビームの入射角（θi ）、または回折格
子の格子定数（ｄ-1）で調整可能である。
【００２５】プローブ光の光源には、例えばモード同期
チタンサファイアレーザ、モード同期ＬｉＳＡＦレー
ザ、モード同期ＬＤなどを用いる。
チタンサファイアレーザ、モード同期ＬｉＳＡＦレー
ザ、モード同期ＬＤなどを用いる。
【００２６】ＳＨＧ素子としてはＮＨ4 Ｈ2 ＰＯ4 （Ａ
ＤＰ），ＫＴｉＯＰＯ4 （ＫＴＰ），ＫＨ2 ＰＯ4 （Ｋ
ＤＰ），ＫＤ2 ＰＯ4 （ＫＤ* Ｐ），ＣｓＤ2 ＡｓＯ4
（ＣＤ* Ａ），ＲｂＨ2 ＰＯ4 （ＲＤＰ），ＣＯ（ＮＨ
2 ）2 （ｕｒｅａ），ＬｉＮｂＯ3 ，β−ＢａＢ2 Ｏ4
（ＢＢＯ），ＣｄＧｅＡｓ2 ，Ｔｅ，ＢａＮａＮｂ5Ｏ
15，Ｃ6 ＮＨ2 ＮＯ2 （ＭＮＡ），ＬｉＩＯ3 などの結
晶を用いる。また、近年報告されている２次非線形感受
率χ(2) が１０-6ｅｓｕオーダという巨大な数値を持つ
高分子（ｃｏｌｏｎａ−ｐｏｌｅｄ ３ＲＤＣＶＸＹ）
も使用できる。
ＤＰ），ＫＴｉＯＰＯ4 （ＫＴＰ），ＫＨ2 ＰＯ4 （Ｋ
ＤＰ），ＫＤ2 ＰＯ4 （ＫＤ* Ｐ），ＣｓＤ2 ＡｓＯ4
（ＣＤ* Ａ），ＲｂＨ2 ＰＯ4 （ＲＤＰ），ＣＯ（ＮＨ
2 ）2 （ｕｒｅａ），ＬｉＮｂＯ3 ，β−ＢａＢ2 Ｏ4
（ＢＢＯ），ＣｄＧｅＡｓ2 ，Ｔｅ，ＢａＮａＮｂ5Ｏ
15，Ｃ6 ＮＨ2 ＮＯ2 （ＭＮＡ），ＬｉＩＯ3 などの結
晶を用いる。また、近年報告されている２次非線形感受
率χ(2) が１０-6ｅｓｕオーダという巨大な数値を持つ
高分子（ｃｏｌｏｎａ−ｐｏｌｅｄ ３ＲＤＣＶＸＹ）
も使用できる。
【００２７】（第２実施例）この実施例の構成は、図４
に示す通り、プローブ光の生成を除いて第１実施例と同
様である。本実施例では、被測定光の測定対象波形時間
幅より短い時間幅を持つ細い短パルス光を発光する光源
４２と、光源４２の出射方向に対して垂直方向へ光源４
２を移動可能とし光源４２の出射位置を検出・通知する
ステージ４３と、被測定光の一部を分岐するハーフミラ
ー４６と、この分岐光を検出するフォトダイオード４５
と、ステージ４３が通知する光源４２の出射位置情報と
フォトダイオード４５の通知する被測定光到着情報とか
ら光源４２の出射タイミングと駆動信号を発生する発光
制御装置４４と、光源４２が出射した短パルス光をＳＨ
Ｇ素子１１上の相互作用点に導く凸レンズ５２とを使用
してプローブ光を生成する。
に示す通り、プローブ光の生成を除いて第１実施例と同
様である。本実施例では、被測定光の測定対象波形時間
幅より短い時間幅を持つ細い短パルス光を発光する光源
４２と、光源４２の出射方向に対して垂直方向へ光源４
２を移動可能とし光源４２の出射位置を検出・通知する
ステージ４３と、被測定光の一部を分岐するハーフミラ
ー４６と、この分岐光を検出するフォトダイオード４５
と、ステージ４３が通知する光源４２の出射位置情報と
フォトダイオード４５の通知する被測定光到着情報とか
ら光源４２の出射タイミングと駆動信号を発生する発光
制御装置４４と、光源４２が出射した短パルス光をＳＨ
Ｇ素子１１上の相互作用点に導く凸レンズ５２とを使用
してプローブ光を生成する。
【００２８】プローブ光は凸レンズ５２を経由するの
で、光源４２の出射位置ごとにプローブ光のＳＨＧ素子
１１上相互作用点への入射角度が異なる。また、発光制
御装置４４の作用により、光源４２の出射位置ごとに被
測定光の到着検出から出射までの時間が異なる。したが
って、本実施例におけるプローブ光と被測定光とのＳＨ
Ｇ素子１１上での相互作用の結果、第１実施例における
空間分布を持った出力光を発生し、第１実施例と同様の
時間分解能で光波形測定ができる。なお、本実施例は繰
り返し波形の測定に適している。
で、光源４２の出射位置ごとにプローブ光のＳＨＧ素子
１１上相互作用点への入射角度が異なる。また、発光制
御装置４４の作用により、光源４２の出射位置ごとに被
測定光の到着検出から出射までの時間が異なる。したが
って、本実施例におけるプローブ光と被測定光とのＳＨ
Ｇ素子１１上での相互作用の結果、第１実施例における
空間分布を持った出力光を発生し、第１実施例と同様の
時間分解能で光波形測定ができる。なお、本実施例は繰
り返し波形の測定に適している。
【００２９】また、この装置において、光源を移動せる
代わりに、１次元に配列した独立駆動可能な複数の光源
を使用して、個々の光源の配置位置に応じて被測定光の
到着検出からパルス光出射までの時間を制御してプロー
ブ光を生成してもよい。この場合には、繰り返し波形の
測定にくわえて、単一パルスの波形測定も可能になる。
（第３実施例）図５に第３実施例の基本構成を示す。
この実施例では、上記の第１及び第２実施例とは異なり
３次の非線形光学効果を利用する。この実施例の装置
は、３次の非線形光学効果を有するＺｎＳｅ結晶素子１
２と、被測定光を非線形素子１２の近傍に導くミラー７
５、７６と、プローブ光生成手段と、ＺｎＳｅ結晶素子
１２上での相互作用の結果発生した３次の非線形効果に
よる４光波混合光を平行光化する凸レンズ３２と、４光
波混合光の強度分布を検出するフォトダイオードアレイ
からなる光検出器２２とを含んで構成される。ここで、
ＺｎＳｅ結晶素子１２は約９゜Ｋに冷却し、励起子の共
鳴による大きなχ(3) （１０-2ｅｓｕ程度）を有し、応
答速度も２０〜３０［ｐｓｅｃ］と非常に速い状態で使
用する。また、プローブ光発生手段は、第１実施例と同
様に、進行方向に垂直な空間的広がりを有するパルス光
を発生する光源（図示せず）と、この光源発光の光を回
折させ空間的広がりが進行方向の垂直方向とは傾いた回
折光を生成する回折格子（図示せず）と、この回折光を
ＺｎＳｅ結晶上の相互作用点に集光する凸レンズ５３と
で構成する。ここで、光源の発生光の波長は、ＺｎＳｅ
の励起子共鳴のある４４２［ｎｍ］を使用する。
代わりに、１次元に配列した独立駆動可能な複数の光源
を使用して、個々の光源の配置位置に応じて被測定光の
到着検出からパルス光出射までの時間を制御してプロー
ブ光を生成してもよい。この場合には、繰り返し波形の
測定にくわえて、単一パルスの波形測定も可能になる。
（第３実施例）図５に第３実施例の基本構成を示す。
この実施例では、上記の第１及び第２実施例とは異なり
３次の非線形光学効果を利用する。この実施例の装置
は、３次の非線形光学効果を有するＺｎＳｅ結晶素子１
２と、被測定光を非線形素子１２の近傍に導くミラー７
５、７６と、プローブ光生成手段と、ＺｎＳｅ結晶素子
１２上での相互作用の結果発生した３次の非線形効果に
よる４光波混合光を平行光化する凸レンズ３２と、４光
波混合光の強度分布を検出するフォトダイオードアレイ
からなる光検出器２２とを含んで構成される。ここで、
ＺｎＳｅ結晶素子１２は約９゜Ｋに冷却し、励起子の共
鳴による大きなχ(3) （１０-2ｅｓｕ程度）を有し、応
答速度も２０〜３０［ｐｓｅｃ］と非常に速い状態で使
用する。また、プローブ光発生手段は、第１実施例と同
様に、進行方向に垂直な空間的広がりを有するパルス光
を発生する光源（図示せず）と、この光源発光の光を回
折させ空間的広がりが進行方向の垂直方向とは傾いた回
折光を生成する回折格子（図示せず）と、この回折光を
ＺｎＳｅ結晶上の相互作用点に集光する凸レンズ５３と
で構成する。ここで、光源の発生光の波長は、ＺｎＳｅ
の励起子共鳴のある４４２［ｎｍ］を使用する。
【００３０】また、４光波混合光の内、ＺｎＳｅ結晶か
らの出射方向（ｋD ）がつぎの式で表される反射型の４
光波混合光を測定する。
らの出射方向（ｋD ）がつぎの式で表される反射型の４
光波混合光を測定する。
【００３１】ｋD ＝−（２ｋP −ｋS ）・・（８） ここで、ｋD ：４光波混合光の出射方向ベクトル ｋP ：プローブ光の入射方向ベクトル ｋS ：被測定光の入射方向ベクトル 本実施例では、第１実施例と同様にｋS は一定である
が、ｋP が時間とともに変化するので、式（８）から明
らかなように被測定光の強度の時間分布（被測定光の波
形そのもの）に依存した強度の出射方向分布を有して、
４光波混合光が出射される。この出射光方向分布を凸レ
ンズ３２によって空間分布に変換することにより、被測
定光の時間波形が空間展開される。こうして被測定光の
波形が空間展開された４光波混合光を１次元状に配置さ
れた光検出器２２で受光・計測することにより第１実施
例とほぼ同様の精度で光波形測定ができる。
が、ｋP が時間とともに変化するので、式（８）から明
らかなように被測定光の強度の時間分布（被測定光の波
形そのもの）に依存した強度の出射方向分布を有して、
４光波混合光が出射される。この出射光方向分布を凸レ
ンズ３２によって空間分布に変換することにより、被測
定光の時間波形が空間展開される。こうして被測定光の
波形が空間展開された４光波混合光を１次元状に配置さ
れた光検出器２２で受光・計測することにより第１実施
例とほぼ同様の精度で光波形測定ができる。
【００３２】また、第１実施例で付加可能な図３（ａ）
の被測定光増幅器、図３（ｂ）の被測定光到達検出器も
本実施例に付加可能であり、第１実施例の場合と同様の
効果を奏する。また、２次の非線形光学効果を有する媒
質の多くは、同時に３次の非線形光学効果も有するの
で、上記のＺｎＳｅに換えて使用することができる。
の被測定光増幅器、図３（ｂ）の被測定光到達検出器も
本実施例に付加可能であり、第１実施例の場合と同様の
効果を奏する。また、２次の非線形光学効果を有する媒
質の多くは、同時に３次の非線形光学効果も有するの
で、上記のＺｎＳｅに換えて使用することができる。
【００３３】本発明は上記実施例に限定されるものでは
なく、様々な変形が可能である。
なく、様々な変形が可能である。
【００３４】例えば、光検出器については上記のフォト
ダイオードアレイ以外にアバランシェフォトダイオード
アレイまたはＣＣＤカメラなどを使用してもよい。ま
た、非線形素子に照射する到着時刻によって非線形素子
への入射角の異なるプローブ光を得るにあたっては、自
己位相変調等により光パルスにチャープを生じさせ、か
つ、それと群速度分散の効果を同時に用いることにより
線形チャープを生じさせる光ファイバを経由した後に、
回析格子等の分光素子を通過させ、凸レンズで集光して
もよい。
ダイオードアレイ以外にアバランシェフォトダイオード
アレイまたはＣＣＤカメラなどを使用してもよい。ま
た、非線形素子に照射する到着時刻によって非線形素子
への入射角の異なるプローブ光を得るにあたっては、自
己位相変調等により光パルスにチャープを生じさせ、か
つ、それと群速度分散の効果を同時に用いることにより
線形チャープを生じさせる光ファイバを経由した後に、
回析格子等の分光素子を通過させ、凸レンズで集光して
もよい。
【００３５】
【発明の効果】以上、詳細に説明した通り本発明の光波
形測定器によれば、被測定光を空間的に広げるなどの分
布密度を低下させる加工・変換は施さず、測定器にて発
生するプローブ光に時間−方向分布を付与し被測定光と
相互作用させたので、Ｓ／Ｎよく、廉価で、かつ時間分
解能の高い光波形測定器を実現できる。また、被測定光
の到着を監視し、被測定光と同期してプローブ光を発生
して非線形素子上で相互作用させることにより、効率の
よく繰り返し光波形および単一光波形の測定が可能であ
る。また、被測定光を増幅することにより、さらにＳ／
Ｎのよい光波形測定が可能である。
形測定器によれば、被測定光を空間的に広げるなどの分
布密度を低下させる加工・変換は施さず、測定器にて発
生するプローブ光に時間−方向分布を付与し被測定光と
相互作用させたので、Ｓ／Ｎよく、廉価で、かつ時間分
解能の高い光波形測定器を実現できる。また、被測定光
の到着を監視し、被測定光と同期してプローブ光を発生
して非線形素子上で相互作用させることにより、効率の
よく繰り返し光波形および単一光波形の測定が可能であ
る。また、被測定光を増幅することにより、さらにＳ／
Ｎのよい光波形測定が可能である。
【図１】本発明の基本構成図を示す。
【図２】本発明の光波形測定装置の第１実施例の構成図
である。
である。
【図３】被測定光増幅器の構成と被測定光到達検出器の
構成との一例を示す図。
構成との一例を示す図。
【図４】本発明の光波形測定装置の第２実施例の構成図
である。
である。
【図５】本発明の光波形測定装置の第３実施例の構成図
である。
である。
１，１１，１２…非線形素子、２，２１，２２…光検出
器、３，３１，３２，５１，５２，５３…凸レンズ、４
１，４２…光源、４３…ステージ、４４…発光制御装
置、４５，８２…フォトダイオード、４６，８１…ハー
フミラー、６１…回折格子、７，７１，７３，７４…光
ファイバ、７２…光増幅器、８３…アンプ、８４…コム
ジェネレータ、９１…フィルタ。
器、３，３１，３２，５１，５２，５３…凸レンズ、４
１，４２…光源、４３…ステージ、４４…発光制御装
置、４５，８２…フォトダイオード、４６，８１…ハー
フミラー、６１…回折格子、７，７１，７３，７４…光
ファイバ、７２…光増幅器、８３…アンプ、８４…コム
ジェネレータ、９１…フィルタ。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平３−41329（ＪＰ，Ａ) 特開 昭51−90868（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−259435（ＪＰ，Ａ) 特開 昭57−163828（ＪＰ，Ａ) 江馬一弘 他，波形整形を利用した超 高速光波形測定法とその応用，東京大学 工学部総合試験所年報，第50巻，第79− 85頁 (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G02F 1/29 - 7/00 ＪＩＣＳＴファイル（ＪＯＩＳ)
Claims (9)
- 【請求項１】 被測定光の時間波形を測定する装置であ
って、 二種の光を相互作用させ非線形光学効果を生ずる非線形
素子と、 前記被測定光を前記時間波形のまま前記非線形素子へ導
く被測定光導波手段と、 前記被測定光と前記非線形素子上で交差し、交差時刻と
ともに進行方向が変化するプローブ光を発生するプロー
ブ光発生手段と、 前記非線形素子中で前記被測定光と前記プローブ光との
相互作用によって発生する出力光の強度を検出する出力
光検出手段と、 を備えることを特徴とする光波形測定装置。 - 【請求項２】 前記プローブ光発生手段は、前記被測定
光の測定対象部の到達を識別し、この到達時点に同期し
て前記プローブ光を発光し、前記非線形素子上にほぼ同
時刻に前記プローブ光と前記被測定光の測定対象部とが
到達することを特徴とする請求項１記載の光波形測定装
置。 - 【請求項３】 前記プローブ光発生手段は、 前記被測定光の測定対象部の時間的広がりよりも短い所
定の時間幅を持ち、進行方向に対して垂直に空間的な広
がりを持った短パルス光を発生する光源と、 該光源の出射する短パルス光を入射し、回折によって前
記短パルス光の空間的な広がりが進行方向に対して斜交
した回折光を出射する回折格子と、 該回折光を前記被測定光と相互作用させる非線形素子内
の点近傍に集光する凸レンズと、 を備えることを特徴とする請求項１記載の光波形測定装
置。 - 【請求項４】 前記プローブ光発生手段は、 前記被測定光の測定対象部の時間的広がりよりも短い時
間幅を持つ短パルス光を発生する光源と、 前記光源の光出射方向は変更せずに、該出射方向に垂直
な一方向の位置を走査する手段と、 前記光源の出射位置に応じて、前記被測定光の測定対象
部の到達検出から前記光源の短パルス光出射タイミング
を制御する手段と、 前記光源が出射した短パルス光に、各パルスごとに固有
な前記非線形素子入射角度を付与する凸レンズと、 を備えることを特徴とする請求項２記載の光波形測定装
置。 - 【請求項５】 前記プローブ光発生手段は、 前記被測定光の測定対象部の時間的広がりよりも短い時
間幅を持つ互いに略平行な進行方向を有する短パルス光
を発生する１次元に配列された複数の光源と、 個々の前記光源の配置位置に応じて、前記被測定光の測
定対象部の到達検出から前記光源の短パルス光出射タイ
ミングを制御する手段と、 前記複数の光源が出射した短パルス光に、各パルスごと
に固有な前記非線形素子入射角度を付与する凸レンズ
と、 を備えることを特徴とする請求項２記載の光波形測定装
置。 - 【請求項６】 前記出力光検出手段は、一次元に配列さ
れた複数の検出素子を含んで構成され、該出力光の出射
方向に対して分解能を有することを特徴とする請求項１
記載の光波形測定装置。 - 【請求項７】 前記出力光検出手段は、該出力光の受光
により発生する電荷を蓄積可能な電荷蓄積型光検出器を
含んで構成されることを特徴とする請求項１記載の光波
形測定装置。 - 【請求項８】 前記非線形素子は、２次および３次のい
ずれか一方の非線形光学効果を有することを特徴とする
請求項１記載の光波形測定装置。 - 【請求項９】 前記被測定光導波手段は、該被測定光を
増幅する手段を有することを特徴とする請求項１記載の
光波形測定装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24807792A JP3300422B2 (ja) | 1992-09-17 | 1992-09-17 | 光波形測定装置 |
| US08/121,899 US5353149A (en) | 1992-09-17 | 1993-09-16 | Apparatus for affecting time-space conversion on a light signal changing at ultra-high speed |
| DE69306706T DE69306706T2 (de) | 1992-09-17 | 1993-09-16 | Optischer Wandler |
| EP93307314A EP0588637B1 (en) | 1992-09-17 | 1993-09-16 | Optical converter |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24807792A JP3300422B2 (ja) | 1992-09-17 | 1992-09-17 | 光波形測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0695178A JPH0695178A (ja) | 1994-04-08 |
| JP3300422B2 true JP3300422B2 (ja) | 2002-07-08 |
Family
ID=17172872
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24807792A Expired - Fee Related JP3300422B2 (ja) | 1992-09-17 | 1992-09-17 | 光波形測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3300422B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002006350A (ja) * | 2000-06-20 | 2002-01-09 | Japan Science & Technology Corp | 光信号の超高速時間空間変換方法 |
| JP2010103428A (ja) * | 2008-10-27 | 2010-05-06 | Fujifilm Corp | モード同期レーザ装置、超短パルス光源装置、広帯域光源装置、非線形光学顕微装置、記録装置、及び光コヒーレンストモグラフィ装置 |
-
1992
- 1992-09-17 JP JP24807792A patent/JP3300422B2/ja not_active Expired - Fee Related
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| 江馬一弘 他，波形整形を利用した超高速光波形測定法とその応用，東京大学工学部総合試験所年報，第５０巻，第７９−８５頁 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0695178A (ja) | 1994-04-08 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6008899A (en) | Apparatus and method for optical pulse measurement | |
| US5179565A (en) | Low noise pulsed light source utilizing laser diode and voltage detector device utilizing same low noise pulsed light source | |
| US20100187208A1 (en) | Laser pulse synthesis system | |
| CN101271025A (zh) | 一种对种子光信号进行超快时间分辨测量的方法及装置 | |
| JP5628256B2 (ja) | フラッシュ光分解システム | |
| US6204926B1 (en) | Methods and system for optically correlating ultrashort optical waveforms | |
| US20030210400A1 (en) | Method and device for measuring the phase and amplitude of ultrashort light pulses | |
| EP0588637B1 (en) | Optical converter | |
| CN101261224A (zh) | 基于4f相位相干成像系统测量材料的光学非线性的方法 | |
| US4411520A (en) | Light dispersion measuring apparatus | |
| US6690001B2 (en) | THz pulse measurement with an optical streak camera | |
| Ito et al. | Picosecond time‐resolved absorption spectrometer using a streak camera | |
| JP3300422B2 (ja) | 光波形測定装置 | |
| JPH0298671A (ja) | 電圧測定装置 | |
| JPH0427843A (ja) | レーザダイオードを用いた低ノイズパルス光源及びこの光源を用いた電圧検出装置 | |
| JP2010197359A (ja) | 信号波形測定装置及び測定方法 | |
| JPH0695177A (ja) | 光シリアル−パラレル変換器 | |
| JP3102811B2 (ja) | 超高速光波形測定法 | |
| JP2991260B2 (ja) | 時間分解発光測定装置 | |
| JPH09304189A (ja) | シングルパルスオートコリレータ | |
| Leemans et al. | A technique for single-pulse spectrum and pulse width measurements for an IR-FEL | |
| JP3462518B2 (ja) | 波長測定装置 | |
| Truong et al. | Single-shot Waveform Measurement of Shortwave Infrared Pulses for Nonlinear Propagation Detection | |
| Liu et al. | Single line of sight frame camera based on the RadOptic effect of ultrafast semiconductor detector | |
| JPH0574013B2 (ja) |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |