JP3298815B2 - 電気特性測定方法および装置 - Google Patents

電気特性測定方法および装置

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JP3298815B2 JP28239897A JP28239897A JP3298815B2 JP 3298815 B2 JP3298815 B2 JP 3298815B2 JP 28239897 A JP28239897 A JP 28239897A JP 28239897 A JP28239897 A JP 28239897A JP 3298815 B2 JP3298815 B2 JP 3298815B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、試料の電気特性を
測定する電気特性測定方法および電気特性測定装置に関
する。本発明の好ましい適用例には、フィルタ、電圧制
御発振器、共振器などに広く用いられている誘電体材
料、磁性体材料、絶縁体材料、または高分子材料などの
電気特性、および、その温度依存性の測定等が含まれて
おり、特に高周波領域における誘電特性、磁気特性およ
びその温度依存性の測定に有効である。
【0002】
【従来の技術】この種の電気特性測定技術を開示した公
知文献としては、電子情報通信学会技術研究報告Vol.9
6,No.74、P57-62(1996)を挙げることができる。この文献
は、摂動法による比誘電率温度特性評価方法を開示して
いる。摂動法の適用にあたっては棒状試料を切り出し、
切り出された棒状試料を導波装置の電界最大領域または
磁界最大領域に挿入する。そして、導波装置に試料を挿
入しない場合と挿入した場合との、共振周波数の変化量
と無負荷Q値の変化量から、挿入された試料の誘電特性
または磁気特性を算出する。電界最大領域に試料を配置
した場合には、試料の磁気特性に関する寄与が無視され
るので、試料の複素誘電率を求めることができる。磁界
最大領域に試料を配置した場合には、試料の複素透磁率
を算出することができる。
【0003】上述した文献は、更に、結露や高湿度によ
る試料の特性劣化および導波装置の酸化劣化を抑制する
手段として、導波装置内に乾燥ガス(乾燥窒素ガス)を
導入する方法、更に、上記乾燥ガスの圧力もしくは流れ
を利用して、導波装置に対する試料の出し入れを行な
い、導波装置に対する試料の出し入れを容易化する手段
も開示している。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上述した文献
は、乾燥ガスを導波装置内に導入した場合に、導波装置
の導波空間の変化に起因して生じる誤差を抑制する手段
を開示していない。
【0005】導波装置内に乾燥ガスを導入することは、
導波装置に対する試料の出し入れの容易さや、試料およ
び導波装置の特性劣化防止の観点から、きわめて有効で
あるが、乾燥ガスの導入によって、導波装置の内部が僅
かに膨らむ。このため、摂動法による電気特性計算時の
導波装置の体積に誤差が生じる。これは、試料の複素誘
電率や複素透磁率の算出に誤差を生じさせる。
【0006】また、乾燥ガスによって駆動されるエアシ
リンダを用いて、試料を出し入れする場合、乾燥ガスの
圧力または流れを受けるホルダーに試料を取り付ける。
このホルダが導波装置の開口部やエアシリンダ先端を塞
ぎ、乾燥ガスの流路を狭める。このため、導波装置の内
部へ流入する乾燥ガス量に差がでてしまい、乾燥ガスの
流れ方向によって導波装置の僅かな膨らみに差がでる。
これも、摂動法によって計算される試料の複素誘電率や
複素透磁率に誤差を生じさせる。
【0007】しかも、乾燥ガスの流量が必ずしも常時一
定ではないため、導波装置の内部の膨らみ量が微妙に変
動し、導波装置の体積が変動してしまう。このため、試
料の複素誘電率や複素透磁率の算出時に、誤差やばらつ
きがを生じてしまい、再現性が悪化する。
【0008】本発明の課題は、試料および導波装置の特
性劣化を防止し得る試料の電気特性測定方法および測定
装置を提供することである。
【0009】本発明のもう一つの課題は、乾燥ガスによ
る測定誤差を生じない試料の電気特性測定方法および測
定装置を提供することである。
【0010】
【課題を解決するための手段】上述した課題を解決する
ため、本発明に係る電気特性方法は、導波装置内に乾燥
ガスを導入するステップと、電気特性測定ステップとを
含む。そして、前記電気特性測定ステップにおいて、前
記導波装置内への前記乾燥ガスの導入を停止する。すな
わち、電気特性測定時に、乾燥ガスの導入を止め、その
後、乾燥ガスを流して試料の出し入れを行う。
【0011】上記方法によれば、電気特性測定時に、乾
燥ガスの流れまたは圧力の影響を受けて、導波装置が膨
らむことがない。従って、摂動法による電気特性計算時
の導波装置の体積に誤差が生じることがないので、試料
の複素誘電率や複素透磁率を、正確に算出し得る。
【0012】乾燥ガスによって駆動されるエアシリンダ
を用いて、試料を出し入れする場合、このホルダが導波
装置の開口部やエアシリンダ先端を塞ぎ、乾燥ガスの流
路を狭めることがあっても、このタイミングでは、電気
特性測定を行なっていないので、摂動法による電気特性
計算時に、試料の複素誘電率や複素透磁率に誤差を生じ
させる余地がない。
【0013】また、乾燥ガスの流量が必ずしも一定では
ないため、導波装置の内部の膨らみ量が変動したとして
も、このタイミングでは、電気特性測定を行なっていな
いので、試料の複素誘電率や複素透磁率の算出誤差やば
らつきがを生じる余地がない。このため、乾燥ガスの流
れによる再現性の悪化を招くことがない。
【0014】しかも、導波装置内に乾燥ガスを導入する
ことに代わりはないので、導波装置に対する試料の出し
入れを容易化すると共に、試料および導波装置の特性劣
化を防止することができる。
【0015】上述した電気特性測定方法の実施に直接用
いられる本発明に係る電気特性測定装置は、導波装置
と、測定手段と、乾燥ガス供給手段とを含む。前記導波
装置は、導波空間と、試料挿入孔と、乾燥ガス通孔とを
有する。前記導波空間は、金属壁面によって囲まれてい
る。前記試料挿入孔は、前記金属壁面を貫通して前記導
波空間の内外に連通している。前記乾燥ガス通孔は、前
記金属壁面を貫通して前記導波空間の内外に連通してい
る。前記乾燥ガス供給手段は、前記乾燥ガス通孔に接続
されている。前記測定手段は、前記導波装置を励振する
と共に、前記導波装置の出力信号を解析して、前記試料
の電気特性を算出する。そして、前記測定手段による測
定動作時は、前記乾燥ガス供給手段から前記導波装置へ
の乾燥ガスの供給を停止する。
【0016】
【発明の実施の形態】図1は本発明に係る電気特性測定
方法の実施に用いられる電気特性測定装置の構成を概略
的に示す図である。図を参照すると、本発明に係る電気
特性測定装置は、導波装置1と、測定手段3と、乾燥ガ
ス供給手段4とを含む。
【0017】導波装置1は、導波空間1111と、試料
挿入孔14と、乾燥ガス通孔15とを有する。導波空間
1111は、金属壁面によって囲まれている。導波装置
1の金属壁面11は、例えば銅や銀、金、アルミニウム
あるいは合金などの導電材料で構成される。もしくは、
金属メッキを施した材料としてもよい。導波装置1は、
矩形または円形等の形状になっており、TEモードやT
Mモード等の共振モードで動作する。また、側面の対向
する位置には、入力コネクタ12および出力コネクタ1
3が取り付けられている。
【0018】試料挿入孔14は、金属壁面を貫通して導
波空間1111の内外に連通している。摂動法によって
電気特性を測定する場合、試料挿入孔14は、導波装置
1内の電界最大領域または磁界最大領域に備えられる。
具体的には、試料2は、複素誘電率を測定する場合は、
電界最大領域に配置し、複素透磁率を測定する場合は磁
界最大領域に配置する。
【0019】実施例において、試料挿入孔14は、乾燥
ガスの通路として兼用されている。具体的には、試料挿
入孔14の部分に、エアシリンダ16を装着し、エアシ
リンダ16の内部にホルダ18を配置し、ホルダ18に
試料2を取り付けてある。ホルダ18はエアシリンダ1
6に緩く嵌め込まれており、エアシリンダ16の壁面と
ホルダ18の外周との間に乾燥ガス通路が生じている。
但し、試料挿入孔14から独立して、乾燥ガス通孔を設
けてもよい。
【0020】エアシリンダ16は、例えばアクリル樹脂
で作製した円筒状であり、その先端にはシリコン樹脂製
のチューブ41が接続されている。このチューブ41に
はコイル状の銅製パイプが取り付けられ、熱交換を十分
に行えるようにしてある。
【0021】ホルダ18は、エアシリンダ16の内径に
合わせた形状をもち、テフロン等で構成されている。ホ
ルダ18の中心には試料挿入用穴が設けられており、こ
の穴に棒状試料2が配置されている。試料2が挿入され
ていない状態では、導波装置1の試料挿入孔14より、
乾燥ガスを流す。一方、試料2が挿入された状態ではエ
アシリンダ16の先端より乾燥ガスを流す。
【0022】乾燥ガス通孔15は、金属壁面を貫通して
導波空間111の内外に連通している。図示では、乾燥
ガス通孔15は、試料挿入孔14と向き合う位置におい
て、導波装置1の金属壁面に設けられている。但し、乾
燥ガス通孔15は、試料挿入孔14と向き合わない位置
において金属壁面に設けられていてもよい。
【0023】乾燥ガス供給手段4は、乾燥ガス通孔15
に接続されている。乾燥ガス供給手段4は、具体的に乾
燥窒素ガス等の乾燥ガスを供給する手段であり、チュー
ブ41を介してエアシリンダ16に接続され、また、チ
ューブ42を介して、乾燥ガス通孔15に取り付けられ
たコネクタ17に接続されている。乾燥ガス供給手段4
から供給された乾燥ガスは、チューブ41を矢印a1の
方向に流れてホルダ18を押し、かつ、エアシリンダ1
6内を通過して導波装置1の導波空間111内に入り、
更に導波空間111から乾燥ガス通孔15に入り、チュ
ーブ42を経由して乾燥ガス供給手段4に戻る経路をと
る。この時、矢印a1の方向に流れる乾燥ガスよってホ
ルダ18がエアシリンダ16内で矢印a1の方向におさ
れ、ホルダ18に取り付けられた試料2が試料挿入孔1
4を通して、導波装置1の導波空間111内に挿入され
る。実施例の場合、乾燥ガス通孔15が試料挿入孔14
と向き合う位置において金属壁面に設けられているの
で、試料2の先端が、乾燥ガス通孔15内に入る。この
配置によれば、試料2を導波装置1の金属壁面を通る電
界中に確実に配置し、測定精度を上げることができる。
【0024】試料2を導波空間111から抜き出すに
は、乾燥ガス供給手段4から供給される乾燥ガスを、矢
印a1、a2とは逆方向の矢印b1、b2の方向に流
す。乾燥ガスはチューブ42を矢印b1の方向に流れて
試料2をエアシリンダ16内に戻す。乾燥ガスは、導波
空間111から試料挿入孔14およびエアシリンダ16
を通ってチューブ41を矢印b2の方向に流れ、乾燥ガ
ス供給手段4に戻る。従って、導波空間111に対する
試料2の出し入れを、乾燥ガスの流れ方向を変えるだけ
の簡単な操作で実行できる。
【0025】測定手段3は、導波装置1を励振すると共
に、導波装置1の出力信号を解析して、試料2の電気特
性を算出する。重要なことは、測定手段3による測定動
作時は、乾燥ガス供給手段4から導波装置1への乾燥ガ
スの供給を停止することである。摂動法においては、測
定手段3は導波装置1内に前記試料2を挿入しない場合
と、挿入した場合との共振周波数の変化量、および、無
負荷Q値の変化量から、試料2の電気特性を算出する。
【0026】測定手段33は、導波装置1を励振すると
共に、導波装置1の出力信号を解析する。測定手段33
の具体的構成として、図1に示す実施例では、周波数シ
ンセサイザ31と、ネットワークアナライザ32と、演
算処理装置33とを含んでいる測定手段3の全体がコン
ピュータによって構成されていてもよいし、或いは、演
算処理装置33だけがコンピュータによって構成されて
いてもよい。
【0027】周波数シンセサイザ31は、空洞共振器ま
たは導波管で構成される導波装置1に入力する各種信号
を発生させる。ネットワークアナライザ32は、導波装
置1から供給されたアナログデータをディジタル処理す
る。演算処理装置33は、ネットワークアナライザ32
から供給されるディジタルデータを取り込み、誘電特性
測定及び出力のための処理を行う。演算処理装置33は
省略することが可能である。この場合は、ネットワーク
アナライザ32によって得られたデータを手動で計算
し、誘電特性を算出することになる。ネットワークアナ
ライザ32は同等の機能を有するマイクロ波レシーバ等
でも構成することもできる。ネットワークアナライザ3
2が、周波数シンセサイザ31と同等の機能を内部に有
している場合には、周波数シンセサイザ31は省略する
ことができる。
【0028】上述した電気特性測定装置を用いて、本発
明に係る電気特性測定方法を実行する場合、測定ステッ
プは、導波装置1内に乾燥ガスを導入するステップと、
電気特性測定ステップとに分けられる。
【0029】導波装置1内に乾燥ガスを導入するステッ
プは、電気特性測定ステップ以外のステップであり、こ
のステップでは、導波装置1内に乾燥ガスを、常時、導
入する。測定の初期設定として、導波装置1の内部を真
空引きした後に、乾燥ガスを流して、内部を完全に置換
する。
【0030】図2は乾燥ガス導入ステップを示し、この
ステップでは、乾燥ガスを流して試料2の出し入れも行
う。乾燥ガス供給手段4から供給された乾燥ガスは、チ
ューブ41を矢印a1の方向に流れてホルダ18を押
し、かつ、エアシリンダ16内を通過して導波装置1の
導波空間111内に入り、更に導波空間111から乾燥
ガス通孔15に入り、チューブ42を経由して乾燥ガス
供給手段4に戻る経路をとる。この時、矢印a1の方向
に流れる乾燥ガスによって、ホルダ18がエアシリンダ
16内で矢印a1の方向に押され、ホルダ18に取り付
けられた試料2が試料挿入孔14を通して、導波装置1
の導波空間111内に挿入される。
【0031】実施例の場合、乾燥ガス通孔15が試料挿
入孔14と向き合う位置において金属壁面に設けられて
いるので、試料2の先端が、乾燥ガス通孔15内に入
る。この配置によれば、導波装置1の金属壁面を通る電
界、または磁界中に、試料2を確実に配置し、後の電気
特性測定ステップにおいて、測定精度を向上させること
ができる。
【0032】図3は電気特性測定ステップを示す。電気
特性測定ステップでは、乾燥ガス供給手段4から導波装
置1への乾燥ガスの供給を停止する。そして、測定手段
3により、試料2の電気特性を測定する。測定手段3
は、導波装置1を励振すると共に、導波装置1の出力信
号を解析して、試料2の電気特性を算出する。摂動法を
採用した場合は、測定手段3により、導波装置1内に試
料2を挿入しない場合と、挿入した場合との共振周波数
の変化量、および、無負荷Q値の変化量から、試料2の
電気特性を算出する。
【0033】上記方法によれば、電気特性測定時に、乾
燥ガスの流れまたは圧力の影響を受けて、導波装置1の
内部が僅かでも膨らむことがない。従って、摂動法によ
る電気特性計算時に、導波装置1の体積に誤差が生じる
ことがないので、試料2の複素誘電率や複素透磁率を、
正確に算出し得る。
【0034】乾燥ガスによって駆動されるエアシリンダ
16およびホルダ18を用いて、試料2を出し入れする
場合、ホルダ18が導波装置1の開口部やエアシリンダ
16の先端を塞ぎ、乾燥ガスの流路を狭めることがあっ
ても、このタイミングでは、電気特性測定を行なってい
ないので、摂動法による電気特性計算時に、試料2の複
素誘電率や複素透磁率に誤差を生じさせる余地がない。
【0035】また、乾燥ガスの流量が必ずしも一定では
ないため、導波装置1の内部の膨らみ量が変動したとし
ても、このタイミングでは、電気特性測定を行なってい
ないので、試料2の複素誘電率や複素透磁率の算出誤差
やばらつきがを生じる余地がない。このため、乾燥ガス
の流れによる再現性の悪化を招くことがない。
【0036】しかも、導波装置1内に乾燥ガスを導入す
ることに代わりはないので、導波装置1に対する試料2
の出し入れを容易化すると共に、試料2および導波装置
1の特性劣化を防止することができる。
【0037】試料2を導波空間111から抜き出すに
は、図4に示すように、乾燥ガス供給手段4から供給さ
れる乾燥ガスを、矢印a1、a2とは逆方向の矢印b
1、b2の方向に流す。乾燥ガスはチューブ42を矢印
b1の方向に流れて試料2をエアシリンダ16内に戻
す。乾燥ガスは、導波空間111から試料挿入孔14お
よびエアシリンダ16を通過した後、チューブ41を矢
印b2の方向に流れ、乾燥ガス供給手段4に戻る。従っ
て、導波空間111に対する試料2の出し入れを、乾燥
ガスの流れ方向を変えるだけの簡単な操作で実行でき
る。
【0038】実施例では、恒温槽10を含んでおり、導
波装置1は恒温槽10内に設けられている。恒温槽10
を有することによる利点は、恒温槽10内の温度を変
え、試料2の電気特性の温度依存特性を測定できること
である。高周波出力信号や乾燥ガスは恒温槽10の外か
ら供給される。乾燥ガスが恒温槽10の内部と同じ温度
になるように、十分な熱交換を促すような、例えば熱伝
導の良い金属製のチューブなどを経路して、乾燥ガスが
フローされる。摂動法により温度特性を測定する際に
は、まず導波装置1の内部を真空引きした後に、乾燥ガ
スを流して、内部を完全に置換する。その後、恒温槽1
0を所望の温度にセットして、一定時間保持する。この
間、乾燥ガスは流れ続ける。
【0039】導波装置1の温度が恒温槽10の設定温度
と等しくなったら、乾燥ガスフローを止めて、試料2が
挿入されていない状態の共振周波数fcと無負荷Q値Q
cを算出する。次に、乾燥ガスをフローして試料2を挿
入したら、乾燥ガスを止め、同様に共振周波数fsと無
負荷Q値Qsを算出する。
【0040】次に具体的な実施例を挙げて本発明の効果
を説明する。
【0041】導波装置1として、内径120mm×高さ4
0mm、共振周波数1.912GHz、銅材質のTM0 10モー
ドの円形空洞共振器を用いた。そして、本発明に従っ
て、前記電気特性測定ステップにおいて、導波装置1内
への乾燥ガスの導入を停止して、試料2の誘電特性測定
を、10回、繰り返して行なった(実施例)。なお、試
料2としてはBa(Mg,Nb)O3系セラミック材料を用いた。
【0042】比較のため、電気特性測定ステップでも乾
燥ガスの流れを止めずに測定する連続乾燥ガスフロー測
定法により、試料の誘電特性の測定を、10回、繰り返
して行なった。
【0043】各々の状態における共振周波数と無負荷Q
値、導波装置1の体積Vc、試料2の体積Vs、導波装
置1の共振モードによる定数αεを用いて、下記の
(1)式、(2)および(3)式により、挿入された試
料2の比誘電率ε’と誘電正接tanδを算出する。
【0044】 ε′=1+(Vc/α・ε)・{(fs-fc)/fc} (1) ε″={Vc/(2α・ε・Vs)}・(1/Qs-1/Qc) (2) tanδ=ε″/ε′ (3) 上述した計算式は第1次近似摂動公式である。但し、必
要に応じてその他の近似式や厳密解を使用してもよい。
ただし、試料2と導波装置1の熱膨張係数を加味して、
設定温度に対するVsとVcを代入する。
【0045】恒温槽10を所望の温度に保持しながら、
順次、上述と同様の誘電特性の測定を行うことにより、
複素誘電率の温度特性が測定される。 表1を参照すると明らかなように、連続乾燥ガスフロー
測定による従来例の場合、比誘電率温度係数の標準偏差
は39.79(ppm/℃)であるのに対し、乾燥ガスフロー
を測定時に止めた実施例の場合、比誘電率温度係数の標
準偏差は0.85(ppm/℃)となり、測定精度および再現
性が著しく改善されている。
【0046】本発明において用いられる試料2は、高分
子材料、セラミック材料、天然材料、複合材料などを始
めとして、電気特性を測定したい材料であれば何れでも
よい。また、摂動原理を満たすように、導波装置1の体
積よりも、挿入する試料2の体積が小さい限りは、試料
2の形状は任意であり、角棒状、丸棒状、多角形状、球
状、楕円形状など、幅広く選択できる。
【0047】また、実施例では円形状の導波装置1を用
いたが、導波装置1は矩形状であってもよい。この導波
装置1は複素透磁率の測定に適しており、試料挿入孔1
4を磁界最大領域に配置する。
【0048】
【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば、次
のような効果を得ることができる。 (a)試料および導波装置の特性劣化を防止し得る試料
の電気特性測定方法および測定装置を提供することがで
きる。 (b)乾燥ガスによる測定誤差を生じない試料の電気特
性測定方法および測定装置を提供することができる。
【0049】
【図面の簡単な説明】
【0050】
【図1】本発明に係る電気特性測定方法の実施に用いら
れる電気特性測定装置の構成を概略的に示す図である。
【0051】
【図2】本発明に係る電気特性測定方法に含まれる1ス
テップを示す図である。
【0052】
【図3】本発明に係る電気特性測定方法に含まれる別の
1ステップを示す図である。
【0053】
【図4】本発明に係る電気特性測定方法に含まれる更に
別の1ステップを示す図である。
【0054】
【符号の説明】
1 導波装置 11 導波空間 2 試料 3 測定手段 4 乾燥ガス供給手段
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平9−257851(JP,A) 高橋毅 他,摂動法による比誘電率温 度特性評価方法,電子情報通信学会技術 研究報告,日本,社団法人電子情報通信 学会,1996年 5月24日,Vol.96 No.74,p.57−62 (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01N 22/00 - 22/04 JICSTファイル(JOIS)

Claims (12)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 導波装置を用いて試料の特性を測定する
    方法であって、 前記導波装置内に乾燥ガスを導入するステップと、 電気特性測定ステップとを含み、 前記電気特性測定ステップにおいて、前記導波装置内へ
    の前記乾燥ガスの導入を停止する電気特性測定方法。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載された電気特性測定方法
    であって、 前記電気特性測定ステップは、 前記試料を、前記導波装置内の電界最大領域または磁界
    最大領域に挿入し、共振周波数と無負荷Q値を測定する
    ステップと、 前記試料を、前記導波装置内に挿入しない時の共振周波
    数と無負荷Q値を測定するステップとを含み、 前記導波装置内に前記試料を挿入しない場合と、挿入し
    た場合との前記共振周波数の変化量、および、前記無負
    荷Q値の変化量から、前記試料の電気特性を算出する電
    気特性測定方法。
  3. 【請求項3】 請求項1に記載された電気特性測定方法
    であって、 前記導波装置は、空洞共振器または導波管の何れかであ
    る電気特性測定方法。
  4. 【請求項4】 請求項2に記載された電気特性測定方法
    であって、 前記試料の誘電特性を測定する電気特性測定方法。
  5. 【請求項5】 請求項2に記載された電気特性測定方法
    であって、 前記試料の磁気特性を測定する電気特性測定方法。
  6. 【請求項6】 導波装置と、測定手段と、乾燥ガス供給
    手段とを含む電気特性測定装置であって、 前記導波装置は、導波空間と、試料挿入孔と、乾燥ガス
    通孔とを有し、 前記導波空間は、金属壁面によって囲まれており、 前記試料挿入孔は、前記金属壁面を貫通して前記導波空
    間の内外に連通しており、 前記乾燥ガス通孔は、前記金属壁面を貫通して前記導波
    空間の内外に連通しており、 前記乾燥ガス供給手段は、前記乾燥ガス通孔に接続され
    ており、 前記測定手段は、前記導波装置を励振すると共に、前記
    導波装置の出力信号を解析して、前記試料の電気特性を
    算出し、 前記測定手段による測定動作時は、前記乾燥ガス供給手
    段から前記導波装置への乾燥ガスの供給を停止する電気
    特性測定装置。
  7. 【請求項7】 請求項6に記載された電気特性測定装置
    であって、 前記試料挿入孔は、前記乾燥ガスの通路として兼用さ
    れ、 前記乾燥ガス通孔は、前記試料挿入孔と向き合う前記金
    属壁面に設けられ、 前記乾燥ガス供給手段は、前記試料挿入孔および前記乾
    燥ガス通孔に接続されている電気特性測定装置。
  8. 【請求項8】 請求項6に記載された電気特性測定装置
    であって、 前記試料挿入孔は、前記導波装置内の電界最大領域また
    は磁界最大領域に備えられている電気特性測定装置。
  9. 【請求項9】 請求項8に記載された電気特性測定装置
    であって、 前記測定手段は、前記導波装置内に前記試料を挿入しな
    い場合と、挿入した場合との前記共振周波数の変化量、
    および、前記無負荷Q値の変化量から、前記試料の電気
    特性を算出する電気特性測定装置。
  10. 【請求項10】 請求項6に記載された電気特性測定装
    置であって、 前記測定手段は、周波数シンセサイザと、ネットワーク
    アナライザと、演算処理装置を含み、 前記周波数シンセサイザは、前記導波装置を励振し、 前記ネットワークアナライザは、前記導波装置から供給
    されるアナログデータをディジタルデータに変換して出
    力し、 前記演算処理装置は、前記ネットワークアナライザから
    供給されるディジタルデータを処理する電気特性測定装
    置。
  11. 【請求項11】 請求項6に記載された電気特性測定装
    置であって、 更に恒温槽を含み、 前記導波装置は、前記恒温槽内に設けられている電気特
    性測定装置。
  12. 【請求項12】 請求項11に記載された電気特性測定
    装置であって、 前記恒温層内の温度を変え、前記試料の電気特性の温度
    依存特性を測定する電気特性測定装置。
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JP4373902B2 (ja) * 2004-03-24 2009-11-25 京セラ株式会社 電磁気的物性値の測定方法
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JP2009047641A (ja) * 2007-08-22 2009-03-05 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 分光装置
US8085156B2 (en) * 2009-04-08 2011-12-27 Rosemount Inc. RF cavity-based process fluid sensor
JP5737743B2 (ja) * 2010-12-07 2015-06-17 国立大学法人福井大学 生体由来分子その他の含水性有機高分子を含む試料の変化評価方法及びこの方法に用いられるマイクロ波空洞共振器
JP6146762B2 (ja) * 2012-09-27 2017-06-14 国立研究開発法人産業技術総合研究所 気体の音速および誘電率の同時測定装置および方法
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