JP3282744B2 - クロマトグラフデータ処理方法 - Google Patents
クロマトグラフデータ処理方法Info
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- JP3282744B2 JP3282744B2 JP35081092A JP35081092A JP3282744B2 JP 3282744 B2 JP3282744 B2 JP 3282744B2 JP 35081092 A JP35081092 A JP 35081092A JP 35081092 A JP35081092 A JP 35081092A JP 3282744 B2 JP3282744 B2 JP 3282744B2
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- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
- Treatment Of Liquids With Adsorbents In General (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はクロマトグラフにおける
データ処理方法に関し、特にクロマトグラフの測定デー
タのサンプリング方法に関する。
データ処理方法に関し、特にクロマトグラフの測定デー
タのサンプリング方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】クロマトグラフにおけるデータ処理にコ
ンピュータを用いるためには、クロマトグラフの測定出
力を一旦メモリに取り込む必要がある。従来このデータ
取り込みのための測定出力のサンプリング周期は測定前
にオペレータが適当な一定値（０．０１〜１秒程度）に
設定していた。サンプリング周期は短い程、ピークプロ
ファイルの再現が正確にできるが、そうするとメモリの
必要容量が大きくなる。このためサンプリング周期はデ
ータ処理のため必要充分な範囲でなるべく長く設定する
ことが望ましいが、従来はこのサンプリング周期の設定
はオペレータの判断にまかされていた。クロマトグラフ
でデータサンプリングの周期の設定がオペレータにまか
されていると、オペレータの熟練が要求され、不馴れな
オペレータの場合、周期設定に困惑し、不適切な設定に
よって、サンプリング点数が不足し、正確な分析結果が
得られなかったり、サンプリング周期が短か過ぎて、不
必要に大容量のメモリ媒体を使うことになると云った問
題があった。またクロマトピークの鋭さは試料成分の保
持時間の関数であるが、サンプリング周期が一定である
と、サンプリング周期は最もシャープなピークに合わせ
て設定する必要があり、全体的に過大なメモリ容量を必
要とすることは避けられなかつた。
ンピュータを用いるためには、クロマトグラフの測定出
力を一旦メモリに取り込む必要がある。従来このデータ
取り込みのための測定出力のサンプリング周期は測定前
にオペレータが適当な一定値（０．０１〜１秒程度）に
設定していた。サンプリング周期は短い程、ピークプロ
ファイルの再現が正確にできるが、そうするとメモリの
必要容量が大きくなる。このためサンプリング周期はデ
ータ処理のため必要充分な範囲でなるべく長く設定する
ことが望ましいが、従来はこのサンプリング周期の設定
はオペレータの判断にまかされていた。クロマトグラフ
でデータサンプリングの周期の設定がオペレータにまか
されていると、オペレータの熟練が要求され、不馴れな
オペレータの場合、周期設定に困惑し、不適切な設定に
よって、サンプリング点数が不足し、正確な分析結果が
得られなかったり、サンプリング周期が短か過ぎて、不
必要に大容量のメモリ媒体を使うことになると云った問
題があった。またクロマトピークの鋭さは試料成分の保
持時間の関数であるが、サンプリング周期が一定である
と、サンプリング周期は最もシャープなピークに合わせ
て設定する必要があり、全体的に過大なメモリ容量を必
要とすることは避けられなかつた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】オペレータの勘とか熟
練に頼らず、過大なメモリ容量を要せず、クロマトグラ
ムの全体にわたつて必要充分な測定点数が得られるよう
なデータサンプリング方法を提供する。
練に頼らず、過大なメモリ容量を要せず、クロマトグラ
ムの全体にわたつて必要充分な測定点数が得られるよう
なデータサンプリング方法を提供する。
【０００４】
【課題を解決するための手段】測定出力のサンプリング
周期をカラムの種類に応じて、測定開始からの時間に比
例して長くして行くようにした。
周期をカラムの種類に応じて、測定開始からの時間に比
例して長くして行くようにした。
【０００５】
【作用】カラムの理論段数をＮ、試料成分の保持時間を
ｔ、ピーク幅をＷとすると、 Ｗ＝４ｔ／√Ｎ の関係がある。即ち保持時間の長い成分程、ピーク幅は
広がって来る。カラムの理論段数Ｎはカラムの種類によ
って決まっているので、ピーク幅は保持時間に比例して
広がってくることになる。他方一つのピークに対してデ
ータ処理上必要なサンプリング点数はピークが狭くて広
くても同じであると見てよいから、サンプリング周期は
測定開始つまり、試料注入時からの時間に比例して長く
なるようにし、そのときの比例定数をカラムの理論段数
即ちカラムの種類に応じて決めておけばよいことにな
る。
ｔ、ピーク幅をＷとすると、 Ｗ＝４ｔ／√Ｎ の関係がある。即ち保持時間の長い成分程、ピーク幅は
広がって来る。カラムの理論段数Ｎはカラムの種類によ
って決まっているので、ピーク幅は保持時間に比例して
広がってくることになる。他方一つのピークに対してデ
ータ処理上必要なサンプリング点数はピークが狭くて広
くても同じであると見てよいから、サンプリング周期は
測定開始つまり、試料注入時からの時間に比例して長く
なるようにし、そのときの比例定数をカラムの理論段数
即ちカラムの種類に応じて決めておけばよいことにな
る。
【０００６】
【実施例】図１はクロマトグラフの一つのピークとサン
プリング点数と、与えられた数のサンプリング点のデー
タから再現されたピークの形との関係を示し、点線がも
とのピークの形、黒丸がサンプリング点で、折線はこれ
らのサンプリング点をつないで再現したピークの形を示
す。図の左はサンプリング周期が短く、右は長い場合を
示す。サンプリング周期が長い右側の場合、ピークの鋭
さが失われ、ピークの高さが減じる結果、見掛け上ピー
ク幅（半値幅）が左側の場合より広くなっている。半値
幅は作用の項に記載した式に示されているように理論段
数Ｎの平方根に比例しているので、図１に示した一つの
ピークに対するサンプリング点数の減少によって見掛け
上の半値幅が広くなる様子を、半値幅を理論段数に換算
して示したものが図２である。この場合の各データポイ
ントは、ノイズを低減するために各データポイントの前
後３点で移動平均をとっている。この図で理論段数は相
対値で、サンプリング点数を５０としたときを基準にし
て示した。サンプリング点数を半減すると見掛け上の半
値幅は２倍になり、その結果、見掛け上の理論段数は１
／√２＝０．７１になる。そこで見掛け上の理論段数の
低下の許容量を２０％（半値幅にして約１．６６倍）と
すると、サンプリング点数は３０以上と云うことにな
る。ピーク幅をＷ、一つのピークのサンプリング点数を
Ｐとするサンプリング周期Ｔは Ｔ＝Ｗ／Ｐ これに前記したＷと理論段数Ｎの関係式を用いると、 Ｔ＝４ｔ／Ｐ√Ｎ 上述したようにサンプリング点数の下限を３０とする
と、上式は Ｔ＝ｔ／７．５√Ｎ となる。カラムの理論段数Ｎは１００００段程度であ
り、理論段数Ｎ＝１００００の場合の試料成分の保持時
間とサンプリング周期との関係を図３に示す。図３に示
されるように、サンプリング周期は保持時間即ち試料注
入時点からの経過時間に対し、直線的に長くなって行
く。
プリング点数と、与えられた数のサンプリング点のデー
タから再現されたピークの形との関係を示し、点線がも
とのピークの形、黒丸がサンプリング点で、折線はこれ
らのサンプリング点をつないで再現したピークの形を示
す。図の左はサンプリング周期が短く、右は長い場合を
示す。サンプリング周期が長い右側の場合、ピークの鋭
さが失われ、ピークの高さが減じる結果、見掛け上ピー
ク幅（半値幅）が左側の場合より広くなっている。半値
幅は作用の項に記載した式に示されているように理論段
数Ｎの平方根に比例しているので、図１に示した一つの
ピークに対するサンプリング点数の減少によって見掛け
上の半値幅が広くなる様子を、半値幅を理論段数に換算
して示したものが図２である。この場合の各データポイ
ントは、ノイズを低減するために各データポイントの前
後３点で移動平均をとっている。この図で理論段数は相
対値で、サンプリング点数を５０としたときを基準にし
て示した。サンプリング点数を半減すると見掛け上の半
値幅は２倍になり、その結果、見掛け上の理論段数は１
／√２＝０．７１になる。そこで見掛け上の理論段数の
低下の許容量を２０％（半値幅にして約１．６６倍）と
すると、サンプリング点数は３０以上と云うことにな
る。ピーク幅をＷ、一つのピークのサンプリング点数を
Ｐとするサンプリング周期Ｔは Ｔ＝Ｗ／Ｐ これに前記したＷと理論段数Ｎの関係式を用いると、 Ｔ＝４ｔ／Ｐ√Ｎ 上述したようにサンプリング点数の下限を３０とする
と、上式は Ｔ＝ｔ／７．５√Ｎ となる。カラムの理論段数Ｎは１００００段程度であ
り、理論段数Ｎ＝１００００の場合の試料成分の保持時
間とサンプリング周期との関係を図３に示す。図３に示
されるように、サンプリング周期は保持時間即ち試料注
入時点からの経過時間に対し、直線的に長くなって行
く。
【０００７】図４はクロマトグラフデータ処理装置の本
発明方法を実施するための要部の機能を示すブロック図
である。１はクロックパルス発生器、２は多段の分周器
で各段からは相互に周期の異る幾つかの基準パルスガ出
力される。３は選択器で制御回路４からの指令で、分周
器の出力から一つの周期の基準パルスを選択し、第１，
第２のカウンタ５，６に入力する。第１のカウンタ５は
クロマトグラフへの試料導入時点からの基準パルスを継
続的に計数し、分析時間の情報を与える。カウンタ２の
計数値が制御回路４が算出する所定数と比較され両者が
一致したとき、サンプリングパルスが出力されると共
に、第２カウンタ６はクリヤされる。このようにしてサ
ンプリングパルスの周期は経過時間と共に長くなって行
く。オペレータがキーボード７によって使用カラムの理
論段数を入力すると、制御装置４がそれに応じて選択器
３に指示して分周器３に指示して分周器２の出力から適
当な周期の基準パルスを選択するのである。
発明方法を実施するための要部の機能を示すブロック図
である。１はクロックパルス発生器、２は多段の分周器
で各段からは相互に周期の異る幾つかの基準パルスガ出
力される。３は選択器で制御回路４からの指令で、分周
器の出力から一つの周期の基準パルスを選択し、第１，
第２のカウンタ５，６に入力する。第１のカウンタ５は
クロマトグラフへの試料導入時点からの基準パルスを継
続的に計数し、分析時間の情報を与える。カウンタ２の
計数値が制御回路４が算出する所定数と比較され両者が
一致したとき、サンプリングパルスが出力されると共
に、第２カウンタ６はクリヤされる。このようにしてサ
ンプリングパルスの周期は経過時間と共に長くなって行
く。オペレータがキーボード７によって使用カラムの理
論段数を入力すると、制御装置４がそれに応じて選択器
３に指示して分周器３に指示して分周器２の出力から適
当な周期の基準パルスを選択するのである。
【０００８】今カラムの理論段数を１００００とすると
図３に示されるようにサンプリング周期は１分後に０．
１、２分後に０．２秒で、２０分後に２秒となる。この
とき基準パルスとして周期０．００１秒のものを選択す
ると、サンプリング周期を０．１秒とするためには、第
２カウンタ６の計数値が比較される比較数は１００であ
り、カウンタ６の計数値が１００になると、サンプリン
グパルスが出力されてカウンタ６はクリヤされる。こゝ
でカウンタ６がサンプリングパルスを出力すると比較数
に或る値が加算される。この或る値は次のようにして決
められる。試料導入後１分のときのサンプリング周期は
０．１で比較数は１００、２分後のサンプリング周期は
０．２で比較数は２００である。他方第１カウンタ５に
よる試料導入時からの継続計数値は１分後６００００、
１分後１２００００であるから、比較数はこの第１カウ
ンタの計数値に１／６００を掛けた値と云うことにな
る。この関係は基準パルスとしてどの周期を選択しても
同じで、理論段数が４倍の４００００になれば基準パル
ス周期は上例の１／２の０．０００５秒が選択されるだ
けである。
図３に示されるようにサンプリング周期は１分後に０．
１、２分後に０．２秒で、２０分後に２秒となる。この
とき基準パルスとして周期０．００１秒のものを選択す
ると、サンプリング周期を０．１秒とするためには、第
２カウンタ６の計数値が比較される比較数は１００であ
り、カウンタ６の計数値が１００になると、サンプリン
グパルスが出力されてカウンタ６はクリヤされる。こゝ
でカウンタ６がサンプリングパルスを出力すると比較数
に或る値が加算される。この或る値は次のようにして決
められる。試料導入後１分のときのサンプリング周期は
０．１で比較数は１００、２分後のサンプリング周期は
０．２で比較数は２００である。他方第１カウンタ５に
よる試料導入時からの継続計数値は１分後６００００、
１分後１２００００であるから、比較数はこの第１カウ
ンタの計数値に１／６００を掛けた値と云うことにな
る。この関係は基準パルスとしてどの周期を選択しても
同じで、理論段数が４倍の４００００になれば基準パル
ス周期は上例の１／２の０．０００５秒が選択されるだ
けである。
【０００９】図５は制御装置４の動作のフローチャート
である。オペレータが使用カラムの理論段数，分析時間
等を設定する（イ）。制御装置は分周器２の出力のうち
の一つを選択（ロ）し、比較数に６００を設定（ハ）し
て試料導入を待つ（ニ）。試料導入を検知したら第１，
第２のカウンタの計数をスタートさせる（ホ），
（ヘ）。第２カウンタの計数を比較数と比較（ト）し
て、両者一致したらサンプリングパルスを出力（チ）
し、第２カウンタをクリヤ（リ）し、比較数を第１カウ
ンタの計数×１／６００に設定（ヌ）し、第１のカウン
タの計数が第１の所定数以上か否かチェック（ル）し、
ＮＯのときは直ちに動作は（ヘ）に戻り、ＹＥＳのとき
はサンプリングパルスを出力（オ）し、第１カウンタの
計数が分析時間および基準パルス周期で決る第２の設定
数になったか否かチェック（ワ）して、ＮＯのときは
（ヘ）に戻り、ＹＥＳのときは分析動作を終わる。第１
カウンタの計数が第１の所定数と一致したか否かをチェ
ックするのは、試料導入後或る時間の間はサンプリング
パルスを出さないためで、例えば６００００に設定して
あり、基準パルスとして０．００１秒周期のものを選択
したときは１分後に最初のサンプリングパルスが出力さ
れることになる。
である。オペレータが使用カラムの理論段数，分析時間
等を設定する（イ）。制御装置は分周器２の出力のうち
の一つを選択（ロ）し、比較数に６００を設定（ハ）し
て試料導入を待つ（ニ）。試料導入を検知したら第１，
第２のカウンタの計数をスタートさせる（ホ），
（ヘ）。第２カウンタの計数を比較数と比較（ト）し
て、両者一致したらサンプリングパルスを出力（チ）
し、第２カウンタをクリヤ（リ）し、比較数を第１カウ
ンタの計数×１／６００に設定（ヌ）し、第１のカウン
タの計数が第１の所定数以上か否かチェック（ル）し、
ＮＯのときは直ちに動作は（ヘ）に戻り、ＹＥＳのとき
はサンプリングパルスを出力（オ）し、第１カウンタの
計数が分析時間および基準パルス周期で決る第２の設定
数になったか否かチェック（ワ）して、ＮＯのときは
（ヘ）に戻り、ＹＥＳのときは分析動作を終わる。第１
カウンタの計数が第１の所定数と一致したか否かをチェ
ックするのは、試料導入後或る時間の間はサンプリング
パルスを出さないためで、例えば６００００に設定して
あり、基準パルスとして０．００１秒周期のものを選択
したときは１分後に最初のサンプリングパルスが出力さ
れることになる。
【００１０】
【発明の効果】本発明によれば、サンプリング周期が時
間経過と共に長くなって行き、クロマトピークの幅が保
持時間と共に広くなって行くのと対応しているので、分
析期間を通して一律のサンプリング周期を採用している
場合のように全体的に見てサンプリング点数が多過ぎ
て、メモリの大容量を使ったり、逆にサンプリング点数
が不足して、正確なデータ処理ができなくなると云った
おそれがなくクロマトグラムの全体の何れのピークも適
切な数のデータを得ることができて、メモリの無駄がな
くなり、オペレータにとってはサンプリング周期の設定
と云う困難な仕事が軽減される効果がある。
間経過と共に長くなって行き、クロマトピークの幅が保
持時間と共に広くなって行くのと対応しているので、分
析期間を通して一律のサンプリング周期を採用している
場合のように全体的に見てサンプリング点数が多過ぎ
て、メモリの大容量を使ったり、逆にサンプリング点数
が不足して、正確なデータ処理ができなくなると云った
おそれがなくクロマトグラムの全体の何れのピークも適
切な数のデータを得ることができて、メモリの無駄がな
くなり、オペレータにとってはサンプリング周期の設定
と云う困難な仕事が軽減される効果がある。
【図１】クロマトピークのサンプリング点数による変形
を示すグラフ
を示すグラフ
【図２】カラムの理論段数と一つのピークに対するサン
プリング数との関係グラフ
プリング数との関係グラフ
【図３】試料成分の保持時間とサンプリング周期との関
係グラフ
係グラフ
【図４】本発明方法を実行するための一実施例のデータ
処理装置の機能ブロック図
処理装置の機能ブロック図
【図５】上例における動作のフローチャート
１ クロック発生器 ２ 分周器 ３ 選択器 ４ 制御回路 ５ 第１カウンタ ６ 第２カウンタ ７ キーボード
Claims (1)
- 【請求項１】クロマトグラフ出力のサンプリング周期を
使用カラムの理論段数の平方根に反比例し、試料導入時
からの経過時間に比例させて、測定出力をサンプリング
することを特徴とするクロマトグラフデータ処理方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP35081092A JP3282744B2 (ja) | 1992-12-04 | 1992-12-04 | クロマトグラフデータ処理方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP35081092A JP3282744B2 (ja) | 1992-12-04 | 1992-12-04 | クロマトグラフデータ処理方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06174709A JPH06174709A (ja) | 1994-06-24 |
| JP3282744B2 true JP3282744B2 (ja) | 2002-05-20 |
Family
ID=18413033
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP35081092A Expired - Fee Related JP3282744B2 (ja) | 1992-12-04 | 1992-12-04 | クロマトグラフデータ処理方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3282744B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4826579B2 (ja) * | 2007-12-21 | 2011-11-30 | 株式会社島津製作所 | クロマトグラフ用データ処理装置 |
| JP5195327B2 (ja) | 2008-11-12 | 2013-05-08 | 株式会社島津製作所 | クロマトグラフ用検出器及びその調整方法 |
-
1992
- 1992-12-04 JP JP35081092A patent/JP3282744B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH06174709A (ja) | 1994-06-24 |
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