JP3280549B2 - イオンソース - Google Patents

イオンソース

Info

Publication number
JP3280549B2
JP3280549B2 JP26224295A JP26224295A JP3280549B2 JP 3280549 B2 JP3280549 B2 JP 3280549B2 JP 26224295 A JP26224295 A JP 26224295A JP 26224295 A JP26224295 A JP 26224295A JP 3280549 B2 JP3280549 B2 JP 3280549B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
source
ionization chamber
ion source
filament
electrons
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP26224295A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0980023A (ja
Inventor
正之 足立
恭司 平野
寧 永田
静雄 中村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Horiba Ltd
Ulvac Inc
Original Assignee
Horiba Ltd
Ulvac Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Horiba Ltd, Ulvac Inc filed Critical Horiba Ltd
Priority to JP26224295A priority Critical patent/JP3280549B2/ja
Publication of JPH0980023A publication Critical patent/JPH0980023A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3280549B2 publication Critical patent/JP3280549B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
  • Electron Sources, Ion Sources (AREA)
  • Electron Tubes For Measurement (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は質量分析計に用いら
れるイオンソースに関する。
【0002】
【従来の技術】ガス分析等の分野で用いられる質量分析
計には、試料ガス中の原子・分子等をイオン化し、生成
したイオンを加速するために、例えば、図2に示すよう
なイオンソース(イオン源)1が設けられる。
【0003】そのイオンソース1は、試料ガス2をイオ
ン化するためのイオン化室3、イオンをイオン化室3か
ら押し出す押出電極4、押し出されたイオンを引き出し
加速する引出電極5、電子をイオン化室3内に射出する
フィラメント6、電子を射出するための適当な電場を与
えるための電極(エレクトロンリペラ)7、集電子電極
8および電子流を収束させる磁場を形成するためのソー
スマグネット9,10等よりなる。なお、11はステン
レス鋼よりなるマグネット支持部材である。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところで、フィラメン
ト6の周りの電位がそのフィラメント6よりも低いと電
子が射出されないため、ソースマグネット9,10の電
位が0Vであることから、上述のように、エレクトロン
リペラ7をそのフィラメント6と一方のソースマグネッ
ト9との間に設けているのである。
【0005】しかし、このような構成では、部品点数が
多い上に、イオンソース1が嵩高くなり、また、エレク
トロンリペラ7の透磁率の影響で磁場が乱れることがあ
った。
【0006】本発明はこのような実情に鑑みてなされ、
構成が簡易でコンパクト化され、磁場の乱れも生じない
イオンソースを提供することを目的としている。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明は、上述の課題を
解決するための手段を以下のように構成している。すな
わち、一対のソースマグネット間にイオン化室が設けら
れ、かつその一方のソースマグネットと前記イオン化室
との間にフィラメントが設けられており、そのフィラメ
ントから前記イオン化室に向けて電子を加速するために
必要な電場を形成するための電位が前記ソースマグネッ
トに印加されてなることを特徴としている。
【0008】
【作用】フィラメントからイオン化室に向けて電子を加
速するために必要な電場を形成するための電位を直接ソ
ースマグネットに印加することにより、そのソースマグ
ネットでエレクトロンリペラの役目を果たすことがで
き、エレクトロンリペラを省くことができる。
【0009】これにより、構成部品点数を減らし、イオ
ンソースのコンパクト化を図ることができ、かつ、エレ
クトロンリペラの透磁率に起因する磁場の乱れの発生を
回避することができる。
【0010】
【発明の実施の形態】以下に本発明のイオンソースの実
施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。図1はイオ
ンソース1の構成を示し、ステンレス鋼よりなる支持部
材11の両端に吸着固定された一対のソースマグネット
9,10間に、別途図示しない支持部材によってイオン
化室3が支持されており、その一方のソースマグネット
9とイオン化室3との間には、イオン化室3に電子を射
出するためのフィラメント6が設けられ、900V程度
の電圧が印加される。
【0011】そして、そのフィラメント6に近い側のソ
ースマグネット9に800V程度の電圧が印加されるよ
うになっており、これにより、そのソースマグネット9
で、フィラメント6からイオン化室3に向けて電子を射
出するために必要な電場を形成することができる。一
方、イオン化室3内には押出電極4が設けられ、1.3
KV程度の電圧が印加され、電子によってイオン化され
た試料ガス2のイオンがイオン化室3から押し出され、
そのイオン化室3の外部に近接して設けられている引出
電極(1KV程度の電圧が印加)5によってさらに加速
され分析部(図示省略)へと射出される。なお、8は集
電子電極である。
【0012】上述のように、イオンソース1内に磁場を
形成するためのソースマグネット9で電子射出用の電場
をも形成するので、エレクトロンリペラを不要とするこ
とができ、部材点数の削減とコンパクト化を図れるとと
もに、コストの低減化をも図ることができる。さらに、
従来、エレクトロンリペラの素材のもつ透磁率によって
磁場が乱れる原因となっていたが、このような難点が完
全に解消される。
【0013】上述のソースマグネット9への印加電圧
は、フィラメント6への印加電圧よりも低くなければな
らないが、低過ぎるとその電位がフィラメント6の周囲
を覆ってしまい電子が飛びださないため、800V程度
が適当であるが、これは参考値であって、その値は適宜
に設定されてよいのはいうまでもない。
【0014】
【発明の効果】以上説明したように、本発明のイオンソ
ースによれば、ソースマグネットに電圧を印加してフィ
ラメントからイオン化室に向けて電子を加速するために
必要な電場を形成したので、エレクトロンリペラを不要
とすることができ、部品点数の削減とコンパクト化を図
れ、かつコストの低減化をも図れる。
【0015】また、エレクトロンリペラの透磁率に起因
する磁場の乱れも解消でき、信頼性の高い安定した分析
精度を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のイオンソースの一例を示す構成図であ
る。
【図2】従来のイオンソースの一例を示す構成図であ
る。
【符号の説明】
1…イオンソース、3…イオン化室、6…フィラメン
ト、9…ソースマグネット。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 永田 寧 神奈川県茅ヶ崎市萩園2500番地 日本真 空技術株式会社内 (72)発明者 中村 静雄 神奈川県茅ヶ崎市萩園2500番地 日本真 空技術株式会社内 (56)参考文献 特開 平4−267045(JP,A) 特開 昭62−168328(JP,A) 特開 昭53−112485(JP,A) 実開 昭63−150460(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01J 49/10 H01J 27/20 H01J 27/08

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 一対のソースマグネット間にイオン化室
    が設けられ、かつその一方のソースマグネットと前記イ
    オン化室との間にフィラメントが設けられており、その
    フィラメントから前記イオン化室に向けて電子を加速す
    るために必要な電場を形成するための電位が前記ソース
    マグネットに印加されてなることを特徴とするイオンソ
    ース。
JP26224295A 1995-09-15 1995-09-15 イオンソース Expired - Fee Related JP3280549B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP26224295A JP3280549B2 (ja) 1995-09-15 1995-09-15 イオンソース

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP26224295A JP3280549B2 (ja) 1995-09-15 1995-09-15 イオンソース

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0980023A JPH0980023A (ja) 1997-03-28
JP3280549B2 true JP3280549B2 (ja) 2002-05-13

Family

ID=17373059

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP26224295A Expired - Fee Related JP3280549B2 (ja) 1995-09-15 1995-09-15 イオンソース

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3280549B2 (ja)

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0980023A (ja) 1997-03-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH03194843A (ja) プラズマイオン源極微量元素質量分析装置
EP0329461B1 (en) Mass spectrometer
EP0003842A1 (en) Mass spectrometer and method for the elemental analysis of solids
JP3280549B2 (ja) イオンソース
US5256874A (en) Gridded electron reversal ionizer
JP2001057174A (ja) 磁場型質量分析装置
US3287589A (en) Electron-collision ion source, particularly for electric mass spectrometers
US3731089A (en) Mass spectrometer ion source having means for rapidly expelling ions from the source and method of operation
Braams et al. Composition of Noble Gas Ion Beams Produced with a Duoplasmatron
GB1398167A (en) High pressure ion sources
US3842269A (en) Mass spectrometer of high detection efficiency
US6220821B1 (en) Ion pump having protective mask components overlying the cathode elements
JPS5832200Y2 (ja) イオン源装置
ATE140560T1 (de) Ionenpumpe und vakuumpumpanlage dafür
JPS593814B2 (ja) 固体イオン源
RU81442U1 (ru) Устройство для калибровки масс-спектрометра
JP2879342B2 (ja) 電子ビーム励起イオン源
JP2707097B2 (ja) スパッタ中性粒子のイオン化方法およびその装置
JPS61131356A (ja) 質量分析装置
Limbach et al. Fast neutral beam Fourier transform ion cyclotron resonance mass spectrometry for analysis of insulating and conductive materials
JPS62291852A (ja) 質量分光計
JP2679026B2 (ja) 質量分析装置
JP2948146B2 (ja) 質量分析装置及び質量分析方法
JPH05251035A (ja) スパッタ中性粒子質量分析装置
JPH02154143A (ja) 高周波プラズマ微量元素分析装置

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110222

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120222

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130222

Year of fee payment: 11

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees