JP3275752B2 - レベルメータ装置 - Google Patents
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、実効値変換回路に
接続した平均化コンデンサ回路の容量を、被検査信号の
周波数に応じて切り替えるようにしたレベルメータ装置
に関する。
接続した平均化コンデンサ回路の容量を、被検査信号の
周波数に応じて切り替えるようにしたレベルメータ装置
に関する。
【０００２】
【従来の技術】オーディオ回路には、オーディオ周波数
帯域信号の真の実効値を測定する計測回路としてレベル
メータ装置を付属させたものが多い。ただし、この種の
レベルメータ装置としては、設計性能上保証された周波
数レンジ（例えば、２０Ｈｚ〜２０ｋＨｚ）を正確に計
測するには、正弦波状の交流電圧を対象とする平均値整
流回路やピーク値整流回路ではなく、二乗平均によりパ
ルス波形を含めた真の実効値を求めることのできる実効
値変換回路（ＲＭＳ ＡＭＰ回路）が相応しく、絶対値
回路や平方根回路と積分回路で構成された実効値変換回
路の場合、未知の周波数分布をもった被検査信号であっ
ても、設計上保証された周波数帯域の被検査信号であれ
ば、正確な値を測定できることが分かっている。
帯域信号の真の実効値を測定する計測回路としてレベル
メータ装置を付属させたものが多い。ただし、この種の
レベルメータ装置としては、設計性能上保証された周波
数レンジ（例えば、２０Ｈｚ〜２０ｋＨｚ）を正確に計
測するには、正弦波状の交流電圧を対象とする平均値整
流回路やピーク値整流回路ではなく、二乗平均によりパ
ルス波形を含めた真の実効値を求めることのできる実効
値変換回路（ＲＭＳ ＡＭＰ回路）が相応しく、絶対値
回路や平方根回路と積分回路で構成された実効値変換回
路の場合、未知の周波数分布をもった被検査信号であっ
ても、設計上保証された周波数帯域の被検査信号であれ
ば、正確な値を測定できることが分かっている。
【０００３】図３に示す従来のレベルメータ装置１は、
オーディオ周波数帯域の信号を発生する入力信号源２か
ら供給される信号を、初段のアッテネータ回路３に供給
し、最大入力電圧に配慮して適宜の減衰比をもって減衰
させる。アッテネータ回路３の出力は平均化コンデンサ
Ｃが外付けされた実効値変換回路４に供給され、二乗平
均処理により信号振幅の実効値が検出される。実効値変
換回路４の直流出力は、ＡＤ変換器５においてディジタ
ルデータに変換した後、マイクロプロセッサ６に取り込
まれ、マイクロプロセッサ６により被検査信号の実効値
を示す測定値であることを示す表記とともに表示部７に
表示される。マイクロプロセッサ６には、外部インタフ
ェース回路８が付属しており、信号処理モード等が外部
から切り替えられるようになっている。
オーディオ周波数帯域の信号を発生する入力信号源２か
ら供給される信号を、初段のアッテネータ回路３に供給
し、最大入力電圧に配慮して適宜の減衰比をもって減衰
させる。アッテネータ回路３の出力は平均化コンデンサ
Ｃが外付けされた実効値変換回路４に供給され、二乗平
均処理により信号振幅の実効値が検出される。実効値変
換回路４の直流出力は、ＡＤ変換器５においてディジタ
ルデータに変換した後、マイクロプロセッサ６に取り込
まれ、マイクロプロセッサ６により被検査信号の実効値
を示す測定値であることを示す表記とともに表示部７に
表示される。マイクロプロセッサ６には、外部インタフ
ェース回路８が付属しており、信号処理モード等が外部
から切り替えられるようになっている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】従来のレベルメータ装
置１は、設計性能上保証された最低周波数から最高周波
数までの広帯域の被検査信号に対応させるため、信号周
期の大きな低周波信号の実効値を正確に計測しようとす
ると、平均化時定数が被測定信号の周期に比例して大き
くなってしまい、しかも実効値変換回路４の直流出力精
度を維持するには、平均化コンデンサＣの容量を増す必
要があった。これは、平均化コンデンサＣの容量が不足
すると、図４（Ａ）に示した実効値変換出力に含まれる
リップル成分が、同図（Ｂ）に示したように無視できな
いレベルとなるからであり、同図（Ｃ）に示す理想に近
いリップル成分から大きく逸脱するからであった。一方
また、低周波信号の実効値が正確に計測できるような定
数の平均化コンデンサＣを用いて高周波信号を測定した
場合、応答時間が長期化しやすいといった課題があっ
た。これは、従来のレベルメータ装置１の実効値変換回
路４に外付けされた平均化コンデンサＣが、装置が保証
する被測定信号周波数の帯域に対して１個しか設けられ
ていないことに原因があり、平均化時間として平均化コ
ンデンサＣの容量と被検査信号の信号周波数で決まる応
答時間が固定されることで、計測精度維持と計測時間短
縮の両方を満足させることができないといった課題があ
った。
置１は、設計性能上保証された最低周波数から最高周波
数までの広帯域の被検査信号に対応させるため、信号周
期の大きな低周波信号の実効値を正確に計測しようとす
ると、平均化時定数が被測定信号の周期に比例して大き
くなってしまい、しかも実効値変換回路４の直流出力精
度を維持するには、平均化コンデンサＣの容量を増す必
要があった。これは、平均化コンデンサＣの容量が不足
すると、図４（Ａ）に示した実効値変換出力に含まれる
リップル成分が、同図（Ｂ）に示したように無視できな
いレベルとなるからであり、同図（Ｃ）に示す理想に近
いリップル成分から大きく逸脱するからであった。一方
また、低周波信号の実効値が正確に計測できるような定
数の平均化コンデンサＣを用いて高周波信号を測定した
場合、応答時間が長期化しやすいといった課題があっ
た。これは、従来のレベルメータ装置１の実効値変換回
路４に外付けされた平均化コンデンサＣが、装置が保証
する被測定信号周波数の帯域に対して１個しか設けられ
ていないことに原因があり、平均化時間として平均化コ
ンデンサＣの容量と被検査信号の信号周波数で決まる応
答時間が固定されることで、計測精度維持と計測時間短
縮の両方を満足させることができないといった課題があ
った。
【０００５】本発明は、上記課題を解決したものであ
り、実効値変換回路に接続した平均化コンデンサ回路の
容量を、被検査信号の周波数に応じて切り替え、変換精
度を確保した上で変換時間を短縮することを目的とす
る。
り、実効値変換回路に接続した平均化コンデンサ回路の
容量を、被検査信号の周波数に応じて切り替え、変換精
度を確保した上で変換時間を短縮することを目的とす
る。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明は、被検査信号の振幅を平均化時定数に対応
する変換精度及び変換時間をもって実効値に変換する実
効値変換回路と、該実効値変換回路に接続され、随意選
択可能な複数の容量のなかから選択された容量に応じて
前記平均化時定数を切り替え設定する平均化コンデンサ
回路と、前記被検査信号の周波数に応じて前記平均化コ
ンデンサ回路の容量を可変設定する制御手段とを具備す
ることを特徴とするものである。
め、本発明は、被検査信号の振幅を平均化時定数に対応
する変換精度及び変換時間をもって実効値に変換する実
効値変換回路と、該実効値変換回路に接続され、随意選
択可能な複数の容量のなかから選択された容量に応じて
前記平均化時定数を切り替え設定する平均化コンデンサ
回路と、前記被検査信号の周波数に応じて前記平均化コ
ンデンサ回路の容量を可変設定する制御手段とを具備す
ることを特徴とするものである。
【０００７】また、本発明は、前記制御手段が、前記被
検査信号の周波数が既知である場合、該既知の周波数を
外部から入力され、前記平均化コンデンサ回路の容量を
予め定めた周波数対容量の関係に従って可変設定するマ
イクロプロセッサであることを特徴とするものである。
検査信号の周波数が既知である場合、該既知の周波数を
外部から入力され、前記平均化コンデンサ回路の容量を
予め定めた周波数対容量の関係に従って可変設定するマ
イクロプロセッサであることを特徴とするものである。
【０００８】また、本発明は、前記制御手段が、前記被
検査信号のゼロクロス回数から周波数又はデューティ比
を検出するゼロクロスコンパレータ回路と、該ゼロクロ
スコンパレータ回路の出力に応答し、前記平均化コンデ
ンサ回路の容量を予め定めた周波数対容量の関係に従っ
て可変設定するマイクロプロセッサとを含むこと、或い
は前記制御手段が、前記被検査信号のゼロクロス回数か
ら周波数を検出するゼロクロスコンパレータ回路と、前
記実効値変換回路の出力に含まれる残留リップル成分を
抽出するリップル検出回路と、前記ゼロクロスコンパレ
ータ回路の出力に応答し、前記平均化コンデンサ回路の
容量を予め定めた周波数対容量の関係に従って可変設定
し、さらに前記リップル検出回路の出力が規定値以下と
なるよう前記可変設定した容量を補正するマイクロプロ
セッサとを含むことを特徴とするものである。
検査信号のゼロクロス回数から周波数又はデューティ比
を検出するゼロクロスコンパレータ回路と、該ゼロクロ
スコンパレータ回路の出力に応答し、前記平均化コンデ
ンサ回路の容量を予め定めた周波数対容量の関係に従っ
て可変設定するマイクロプロセッサとを含むこと、或い
は前記制御手段が、前記被検査信号のゼロクロス回数か
ら周波数を検出するゼロクロスコンパレータ回路と、前
記実効値変換回路の出力に含まれる残留リップル成分を
抽出するリップル検出回路と、前記ゼロクロスコンパレ
ータ回路の出力に応答し、前記平均化コンデンサ回路の
容量を予め定めた周波数対容量の関係に従って可変設定
し、さらに前記リップル検出回路の出力が規定値以下と
なるよう前記可変設定した容量を補正するマイクロプロ
セッサとを含むことを特徴とするものである。
【０００９】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態について
図１，２を参照して説明する。図１は、本発明のレベル
メータ装置の一実施形態を示す概略回路構成図、図２
は、図１に示したマイクロプロセッサの動作を説明する
ためのフローチャートである。
図１，２を参照して説明する。図１は、本発明のレベル
メータ装置の一実施形態を示す概略回路構成図、図２
は、図１に示したマイクロプロセッサの動作を説明する
ためのフローチャートである。
【００１０】図１に示すレベルメータ装置１１は、オー
ディオ帯域信号の実効値を検出する実効値変換回路１２
に平均化コンデンサ回路１３が接続してあり、この平均
化コンデンサ回路１３の容量をマイクロプロセッサ１４
からの指令に応じて段階的に切り替えることができるよ
う構成してある。また、アッテネータ回路３には、被検
査信号の周波数・デューティ比検出に用いるゼロクロス
信号を検出するゼロクロスコンパレータ回路１５が接続
してある。さらにまた、実効値変換回路１２には、直流
阻止用の結合コンデンサＣｃを介してリップル検出回路
１６が接続してあり、実効値出力に含まれる残留リップ
ル成分が抽出できるようにしてある。ＡＤ変換器１７
は、マイクロプロセッサ１４の出力に応じて実効値変換
回路４の出力とリップル検出回路１５の出力の一方を選
択的にＡＤ変換する。また、被検査信号の周波数が予め
判明している場合は、外部インタフェース回路１８を介
して遠隔制御信号を入力するか、又はマイクロプロセッ
サ１４に接続した手動スイッチ１９を操作することで、
平均化コンデンサ回路１３の容量を切り替えることがで
きるよう構成してある。
ディオ帯域信号の実効値を検出する実効値変換回路１２
に平均化コンデンサ回路１３が接続してあり、この平均
化コンデンサ回路１３の容量をマイクロプロセッサ１４
からの指令に応じて段階的に切り替えることができるよ
う構成してある。また、アッテネータ回路３には、被検
査信号の周波数・デューティ比検出に用いるゼロクロス
信号を検出するゼロクロスコンパレータ回路１５が接続
してある。さらにまた、実効値変換回路１２には、直流
阻止用の結合コンデンサＣｃを介してリップル検出回路
１６が接続してあり、実効値出力に含まれる残留リップ
ル成分が抽出できるようにしてある。ＡＤ変換器１７
は、マイクロプロセッサ１４の出力に応じて実効値変換
回路４の出力とリップル検出回路１５の出力の一方を選
択的にＡＤ変換する。また、被検査信号の周波数が予め
判明している場合は、外部インタフェース回路１８を介
して遠隔制御信号を入力するか、又はマイクロプロセッ
サ１４に接続した手動スイッチ１９を操作することで、
平均化コンデンサ回路１３の容量を切り替えることがで
きるよう構成してある。
【００１１】本実施形態に示した平均化コンデンサ回路
１３は、複数（ｎ個）のコンデンサＣ１〜Ｃｎをそれぞ
れマイクロプロセッサ１４からの指令により選択的に閉
成される開閉スイッチＳ１〜Ｓｎを介して並列接続した
ものであり、閉成した開閉スイッチＳｊ（ｊ＝１〜ｎ）
に対応するコンデンサＣｊの容量の総和が平均化コンデ
ンサ回路１３の合成容量となる。この平均化コンデンサ
回路１３の合成容量すなわち平均化コンデンサ容量と被
検査信号の周波数とに応じて実効値変換回路１２の平均
化時定数は変化する。このため、マイクロプロセッサ１
４は、まずゼロクロスコンパレータ回路１５から供給さ
れる被検査信号の周波数（又はデューティ比）の高低に
応じて平均化コンデンサ回路１３の合成容量を可変設定
し、さらにリップル検出回路１６からＡＤ変換器１７を
介して供給される残留リップル成分の多寡をしきい値判
別し、この残留リップル成分が規定レベル以下となるよ
う、平均化コンデンサ回路１３の合成容量を調整する。
すなわち、平均化コンデンサ回路１３の合成容量は、被
検査信号の周波数に応じて粗調整され、残留リップル成
分の多寡に応じて微調整されることになる。
１３は、複数（ｎ個）のコンデンサＣ１〜Ｃｎをそれぞ
れマイクロプロセッサ１４からの指令により選択的に閉
成される開閉スイッチＳ１〜Ｓｎを介して並列接続した
ものであり、閉成した開閉スイッチＳｊ（ｊ＝１〜ｎ）
に対応するコンデンサＣｊの容量の総和が平均化コンデ
ンサ回路１３の合成容量となる。この平均化コンデンサ
回路１３の合成容量すなわち平均化コンデンサ容量と被
検査信号の周波数とに応じて実効値変換回路１２の平均
化時定数は変化する。このため、マイクロプロセッサ１
４は、まずゼロクロスコンパレータ回路１５から供給さ
れる被検査信号の周波数（又はデューティ比）の高低に
応じて平均化コンデンサ回路１３の合成容量を可変設定
し、さらにリップル検出回路１６からＡＤ変換器１７を
介して供給される残留リップル成分の多寡をしきい値判
別し、この残留リップル成分が規定レベル以下となるよ
う、平均化コンデンサ回路１３の合成容量を調整する。
すなわち、平均化コンデンサ回路１３の合成容量は、被
検査信号の周波数に応じて粗調整され、残留リップル成
分の多寡に応じて微調整されることになる。
【００１２】具体的には、マイクロプロセッサ１４は、
まず図２のステップ（１００）において、ゼロクロスコ
ンパレータ回路１５が出力するゼロクロス信号から、被
検査信号のゼロクロス回数とゼロクロス周期を計数す
る。次に、判断ステップ（１１０）において、被検査信
号の周波数（又はデューティ比）の高低を判別する。被
検査信号が高周波である場合は、続くステップ（１１
１）において、平均化コンデンサ容量を低容量化し、ま
たその逆に被検査周波数が低周波であれば、続くステッ
プ（１１２）において、平均化コンデンサ容量を高容量
化する。ただし、被検査信号が適正周波であれば、平均
化コンデンサ容量は従前のままとする。
まず図２のステップ（１００）において、ゼロクロスコ
ンパレータ回路１５が出力するゼロクロス信号から、被
検査信号のゼロクロス回数とゼロクロス周期を計数す
る。次に、判断ステップ（１１０）において、被検査信
号の周波数（又はデューティ比）の高低を判別する。被
検査信号が高周波である場合は、続くステップ（１１
１）において、平均化コンデンサ容量を低容量化し、ま
たその逆に被検査周波数が低周波であれば、続くステッ
プ（１１２）において、平均化コンデンサ容量を高容量
化する。ただし、被検査信号が適正周波であれば、平均
化コンデンサ容量は従前のままとする。
【００１３】こうして、平均化コンデンサ容量を可変調
整した後、マイクロプロセッサ１４は測定精度を検証す
るため、ステップ（１２０）において、実効値変換回路
１２の出力に含まれる残留リップル成分をチェックす
る。この場合、残留リップル成分が、手動スイッチ１９
により指定された基準値（しきい値）より小さい場合
は、測定精度が確保されていると判断し、残留リップル
成分が指定した基準値より大きい場合は測定精度が確保
されていないものと判断し、平均化コンデンサ容量を補
正する。残留リップル成分が基準値以下に収まったこと
が確認されると、ステップ（１３０）に示したように、
ここで初めて被検査信号の測定が開始され、測定結果が
表示部７に表示される。
整した後、マイクロプロセッサ１４は測定精度を検証す
るため、ステップ（１２０）において、実効値変換回路
１２の出力に含まれる残留リップル成分をチェックす
る。この場合、残留リップル成分が、手動スイッチ１９
により指定された基準値（しきい値）より小さい場合
は、測定精度が確保されていると判断し、残留リップル
成分が指定した基準値より大きい場合は測定精度が確保
されていないものと判断し、平均化コンデンサ容量を補
正する。残留リップル成分が基準値以下に収まったこと
が確認されると、ステップ（１３０）に示したように、
ここで初めて被検査信号の測定が開始され、測定結果が
表示部７に表示される。
【００１４】このように、上記レベルメータ装置１１に
よれば、被検査信号の振幅を平均化時定数に対応する変
換精度及び変換時間をもって実効値に変換する実効値変
換回路１２に、随意選択可能な複数の容量のなかから選
択された容量に応じて平均化時定数を切り替え設定する
平均化コンデンサ回路１３を接続し、被検査信号の周波
数に応じて平均化コンデンサ回路１３の容量ΣＣｊ（平
均化コンデンサ容量）を可変設定する構成としたから、
従来は固定設計されていた実効値変換回路１２の平均化
時定数を被検査信号の周波数に応じて切り替えることが
でき、被検査信号の実効値を変換精度を確保した状態で
必要最小限の時間で検出することができる。また、ゼロ
クロスコンパレータ回路１５の出力に基づく粗調整とリ
ップル検出回路１６の出力に基づく微調整の二段階の調
整を踏んで、平均化コンデンサ回路１３の容量を最適化
することができ、被検査信号の周波数帯域や信号波形の
種類を問わず正確な実効値を検出することができる。
よれば、被検査信号の振幅を平均化時定数に対応する変
換精度及び変換時間をもって実効値に変換する実効値変
換回路１２に、随意選択可能な複数の容量のなかから選
択された容量に応じて平均化時定数を切り替え設定する
平均化コンデンサ回路１３を接続し、被検査信号の周波
数に応じて平均化コンデンサ回路１３の容量ΣＣｊ（平
均化コンデンサ容量）を可変設定する構成としたから、
従来は固定設計されていた実効値変換回路１２の平均化
時定数を被検査信号の周波数に応じて切り替えることが
でき、被検査信号の実効値を変換精度を確保した状態で
必要最小限の時間で検出することができる。また、ゼロ
クロスコンパレータ回路１５の出力に基づく粗調整とリ
ップル検出回路１６の出力に基づく微調整の二段階の調
整を踏んで、平均化コンデンサ回路１３の容量を最適化
することができ、被検査信号の周波数帯域や信号波形の
種類を問わず正確な実効値を検出することができる。
【００１５】なお、被検査信号の周波数が既知である場
合、外部インタフェース回路１８から遠隔制御信号を入
力するか、又は手動スイッチ１９を操作して直接平均化
コンデンサ容量を切り替えるとよい。すなわち、被検査
信号の周波数が既知であれば、この既知の周波数に対応
する最適な容量をマイクロプロセッサ１４を介して直接
設定することで、平均化コンデンサ回路１３の容量が随
意選択できることの特典を最大限活用して平均化時定数
の最適化が可能であり、周波数帯域の限定された被検査
信号だけを検査対象とするような場合に、検査の効率化
を図ることができる。
合、外部インタフェース回路１８から遠隔制御信号を入
力するか、又は手動スイッチ１９を操作して直接平均化
コンデンサ容量を切り替えるとよい。すなわち、被検査
信号の周波数が既知であれば、この既知の周波数に対応
する最適な容量をマイクロプロセッサ１４を介して直接
設定することで、平均化コンデンサ回路１３の容量が随
意選択できることの特典を最大限活用して平均化時定数
の最適化が可能であり、周波数帯域の限定された被検査
信号だけを検査対象とするような場合に、検査の効率化
を図ることができる。
【００１６】なお、上記実施形態では、平均化コンデン
サ回路１３を、ｎ個のコンデンサＣ１〜Ｃｎをそれぞれ
開閉スイッチＳ１〜Ｓｎを介して並列接続した回路で構
成したが、選択するコンデンサの組み合わせに応じて合
成容量を切り替えることのできる構成であれば、他の回
路構成であってもよい。また、入力信号源２の出力を減
衰させる目的で配設したアッテネータ回路３は、入力信
号源２の出力レベルが低すぎる場合はプリアンプ回路に
置き換えるとよい。また、実効値変換回路１２は、二乗
平均回路以外にも絶対値平均回路等を用いることがで
き、要は平均化コンデンサの容量に応じて平均化時定数
が可変されるものであれば、すべて本発明の対象に含め
ることができる。
サ回路１３を、ｎ個のコンデンサＣ１〜Ｃｎをそれぞれ
開閉スイッチＳ１〜Ｓｎを介して並列接続した回路で構
成したが、選択するコンデンサの組み合わせに応じて合
成容量を切り替えることのできる構成であれば、他の回
路構成であってもよい。また、入力信号源２の出力を減
衰させる目的で配設したアッテネータ回路３は、入力信
号源２の出力レベルが低すぎる場合はプリアンプ回路に
置き換えるとよい。また、実効値変換回路１２は、二乗
平均回路以外にも絶対値平均回路等を用いることがで
き、要は平均化コンデンサの容量に応じて平均化時定数
が可変されるものであれば、すべて本発明の対象に含め
ることができる。
【００１７】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
被検査信号の振幅を平均化時定数に対応する変換精度及
び変換時間をもって実効値に変換する実効値変換回路
に、随意選択可能な複数の容量のなかから選択された容
量に応じて前記平均化時定数を切り替え設定する平均化
コンデンサ回路を接続し、被検査信号の周波数に応じて
平均化コンデンサ回路の容量を可変設定する構成とした
から、従来は固定設計されていた実効値変換回路の平均
化時定数を被検査信号の周波数に応じて切り替えること
ができ、従って被検査信号の周波数が既知である場合は
直接的に、また被検査信号の周波数が不明である場合は
被検査信号の周波数を検出して、それぞれ最適化時定数
を設定することができ、これにより被検査信号の実効値
を変換精度を確保した状態で必要最小限の時間で検出す
ることができる等の優れた効果を奏する。
被検査信号の振幅を平均化時定数に対応する変換精度及
び変換時間をもって実効値に変換する実効値変換回路
に、随意選択可能な複数の容量のなかから選択された容
量に応じて前記平均化時定数を切り替え設定する平均化
コンデンサ回路を接続し、被検査信号の周波数に応じて
平均化コンデンサ回路の容量を可変設定する構成とした
から、従来は固定設計されていた実効値変換回路の平均
化時定数を被検査信号の周波数に応じて切り替えること
ができ、従って被検査信号の周波数が既知である場合は
直接的に、また被検査信号の周波数が不明である場合は
被検査信号の周波数を検出して、それぞれ最適化時定数
を設定することができ、これにより被検査信号の実効値
を変換精度を確保した状態で必要最小限の時間で検出す
ることができる等の優れた効果を奏する。
【００１８】また、本発明は、前記制御手段を、前記被
検査信号の周波数が既知である場合、該既知の周波数を
外部から入力され、前記平均化コンデンサ回路の容量を
予め定めた周波数対容量の関係に従って可変設定するマ
イクロプロセッサで構成したから、被検査信号の周波数
が既知であれば、この既知の周波数に対応する最適な容
量をマイクロプロセッサを介して直接設定することで、
平均化コンデンサ回路の容量が随意選択できることの特
典を最大限活用して平均化時定数の最適化が可能であ
り、周波数帯域の限定された被検査信号だけを検査対象
とするような場合に、検査の効率化を図ることができる
等の効果を奏する。
検査信号の周波数が既知である場合、該既知の周波数を
外部から入力され、前記平均化コンデンサ回路の容量を
予め定めた周波数対容量の関係に従って可変設定するマ
イクロプロセッサで構成したから、被検査信号の周波数
が既知であれば、この既知の周波数に対応する最適な容
量をマイクロプロセッサを介して直接設定することで、
平均化コンデンサ回路の容量が随意選択できることの特
典を最大限活用して平均化時定数の最適化が可能であ
り、周波数帯域の限定された被検査信号だけを検査対象
とするような場合に、検査の効率化を図ることができる
等の効果を奏する。
【００１９】さらにまた、本発明は、前記制御手段が、
前記被検査信号のゼロクロス回数から周波数を検出する
ゼロクロスコンパレータ回路と、該ゼロクロスコンパレ
ータ回路の出力に応答し、前記平均化コンデンサ回路の
容量を予め定めた周波数対容量の関係に従って可変設定
するマイクロプロセッサとを含む構成としたから、周波
数が不明である被検査信号について、別途周波数を計測
することなく、ゼロクロスコンパレータ回路の出力に基
づいて平均化時定数を最適化することができる。
前記被検査信号のゼロクロス回数から周波数を検出する
ゼロクロスコンパレータ回路と、該ゼロクロスコンパレ
ータ回路の出力に応答し、前記平均化コンデンサ回路の
容量を予め定めた周波数対容量の関係に従って可変設定
するマイクロプロセッサとを含む構成としたから、周波
数が不明である被検査信号について、別途周波数を計測
することなく、ゼロクロスコンパレータ回路の出力に基
づいて平均化時定数を最適化することができる。
【００２０】また、本発明は、前記制御手段が、ゼロク
ロスコンパレータ回路の外に、前記実効値変換回路の出
力に含まれる残留リップル成分を抽出するリップル検出
回路と、前記ゼロクロスコンパレータ回路の出力に応答
し、前記平均化コンデンサ回路の容量を予め定めた周波
数対容量の関係に従って可変設定し、さらに前記リップ
ル検出回路の出力が規定値以下となるよう前記可変設定
した容量を補正するマイクロプロセッサとを含む構成と
したから、ゼロクロスコンパレータ回路の出力に基づく
粗調整とリップル検出回路の出力に基づく微調整の二段
階の調整を踏んで、平均化コンデンサ回路の容量を最適
化することができ、被検査信号の周波数帯域や信号波形
の種類を問わず正確な実効値を検出することができる等
の効果を奏する。
ロスコンパレータ回路の外に、前記実効値変換回路の出
力に含まれる残留リップル成分を抽出するリップル検出
回路と、前記ゼロクロスコンパレータ回路の出力に応答
し、前記平均化コンデンサ回路の容量を予め定めた周波
数対容量の関係に従って可変設定し、さらに前記リップ
ル検出回路の出力が規定値以下となるよう前記可変設定
した容量を補正するマイクロプロセッサとを含む構成と
したから、ゼロクロスコンパレータ回路の出力に基づく
粗調整とリップル検出回路の出力に基づく微調整の二段
階の調整を踏んで、平均化コンデンサ回路の容量を最適
化することができ、被検査信号の周波数帯域や信号波形
の種類を問わず正確な実効値を検出することができる等
の効果を奏する。
【図１】本発明のレベルメータ装置の一実施形態を示す
概略回路構成図である。
概略回路構成図である。
【図２】図１に示したマイクロプロセッサの動作を説明
するためのフローチャートである。
するためのフローチャートである。
【図３】従来のレベルメータ装置の一例を示す概略回路
構成図である。
構成図である。
【図４】図３に示した実効値変換回路の出力波形図であ
る。
る。
２ 入力信号源 ３ アッテネータ回路 ７ 表示部 １１ レベルメータ装置 １２ 実効値変換回路 １３ 平均化コンデンサ回路 １４ マイクロプロセッサ １５ ゼロクロスコンパレータ回路 １６ リップル検出回路 １７ ＡＤ変換器 １８ 外部インタフェース回路 １９ 手動スイッチ
Claims (4)
- 【請求項１】 被検査信号の振幅を平均化時定数に対応
する変換精度及び変換時間をもって実効値に変換する実
効値変換回路と、該実効値変換回路に接続され、随意選
択可能な複数の容量のなかから選択された容量に応じて
前記平均化時定数を切り替え設定する平均化コンデンサ
回路と、前記被検査信号の周波数に応じて前記平均化コ
ンデンサ回路の容量を可変設定する制御手段とを具備す
ることを特徴とするレベルメータ装置。 - 【請求項２】 前記制御手段は、前記被検査信号の周波
数が既知である場合、該既知の周波数を外部から入力さ
れ、前記平均化コンデンサ回路の容量を予め定めた周波
数対容量の関係に従って可変設定するマイクロプロセッ
サであることを特徴とする請求項１記載のレベルメータ
装置。 - 【請求項３】 前記制御手段は、前記被検査信号のゼロ
クロス回数から周波数を検出するゼロクロスコンパレー
タ回路と、該ゼロクロスコンパレータ回路の出力に応答
し、前記平均化コンデンサ回路の容量を予め定めた周波
数対容量の関係に従って可変設定するマイクロプロセッ
サとを含むことを特徴とする請求項１記載のレベルメー
タ装置。 - 【請求項４】 前記制御手段は、前記被検査信号のゼロ
クロス回数から周波数を検出するゼロクロスコンパレー
タ回路と、前記実効値変換回路の出力に含まれる残留リ
ップル成分を抽出するリップル検出回路と、前記ゼロク
ロスコンパレータ回路の出力に応答し、前記平均化コン
デンサ回路の容量を予め定めた周波数対容量の関係に従
って可変設定し、さらに前記リップル検出回路の出力が
規定値以下となるよう前記可変設定した容量を補正する
マイクロプロセッサとを含むことを特徴とする請求項１
記載のレベルメータ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP01544497A JP3275752B2 (ja) | 1997-01-29 | 1997-01-29 | レベルメータ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP01544497A JP3275752B2 (ja) | 1997-01-29 | 1997-01-29 | レベルメータ装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10213608A JPH10213608A (ja) | 1998-08-11 |
| JP3275752B2 true JP3275752B2 (ja) | 2002-04-22 |
Family
ID=11888990
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP01544497A Expired - Fee Related JP3275752B2 (ja) | 1997-01-29 | 1997-01-29 | レベルメータ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3275752B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109239443A (zh) * | 2018-07-27 | 2019-01-18 | 武汉精测电子集团股份有限公司 | 一种任意波形的真有效值测量方法及电路 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2006054435A1 (ja) * | 2004-11-16 | 2006-05-26 | Advantest Corporation | 試験装置 |
-
1997
- 1997-01-29 JP JP01544497A patent/JP3275752B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109239443A (zh) * | 2018-07-27 | 2019-01-18 | 武汉精测电子集团股份有限公司 | 一种任意波形的真有效值测量方法及电路 |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH10213608A (ja) | 1998-08-11 |
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