JP3271889B2 - 認識対象物のエッジ検出方法 - Google Patents
認識対象物のエッジ検出方法Info
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- G07D—HANDLING OF COINS OR VALUABLE PAPERS, e.g. TESTING, SORTING BY DENOMINATIONS, COUNTING, DISPENSING, CHANGING OR DEPOSITING
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- G07D5/005—Testing the surface pattern, e.g. relief
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、所定の方向に移送
される認識対象物に検査光を照射し、その照射した検査
光の認識対象物からの反射光により得られる輝度投影に
基づいて、認識対象物の中心位置を検出する方法に関す
るものである。
される認識対象物に検査光を照射し、その照射した検査
光の認識対象物からの反射光により得られる輝度投影に
基づいて、認識対象物の中心位置を検出する方法に関す
るものである。
【０００２】
【従来の技術】例えば、認識対象物が円形物であり、硬
貨の識別に一般的に利用されている硬貨識別装置があ
る。この場合に、認識対象物である硬貨に対しては、画
像空間上において円形物の中心位置を正確に求めること
が要求されている。従来は、例えばパターンマッチング
を利用して硬貨の識別を行っているものがあり、認識対
象物としての硬貨の中心位置を検出する方法として、硬
貨のエッジ部分に向けて検査光を照射して、その反射光
の輝度投影を光電変換値として取り出し、中心位置の検
出を行っていた。
貨の識別に一般的に利用されている硬貨識別装置があ
る。この場合に、認識対象物である硬貨に対しては、画
像空間上において円形物の中心位置を正確に求めること
が要求されている。従来は、例えばパターンマッチング
を利用して硬貨の識別を行っているものがあり、認識対
象物としての硬貨の中心位置を検出する方法として、硬
貨のエッジ部分に向けて検査光を照射して、その反射光
の輝度投影を光電変換値として取り出し、中心位置の検
出を行っていた。
【０００３】上記の硬貨識別装置としては、例えば図４
に示されているような回路構成のものがあり、スキャナ
部１と制御部１０とから成る。スキャナ部１は、円形物
である硬貨２に対して、光源からの光をレンズ３を通し
て硬貨２のエッジ部分に向けて硬貨２に対して浅い角度
で暗視野光４を照射し、反射光５を光学系６を通してＣ
ＣＤ部７に送り、ＣＣＤ部７によって光電変換された画
像信号を増幅器８に送り、増幅された画像信号はＡ／Ｄ
変換器９を経てデジタル信号に変換して出力を得てい
る。前記デジタル信号は、フレームメモリ１１に取り込
み、制御部１０によって特徴抽出のための一連の画像処
理を行い、識別判定を行っている。
に示されているような回路構成のものがあり、スキャナ
部１と制御部１０とから成る。スキャナ部１は、円形物
である硬貨２に対して、光源からの光をレンズ３を通し
て硬貨２のエッジ部分に向けて硬貨２に対して浅い角度
で暗視野光４を照射し、反射光５を光学系６を通してＣ
ＣＤ部７に送り、ＣＣＤ部７によって光電変換された画
像信号を増幅器８に送り、増幅された画像信号はＡ／Ｄ
変換器９を経てデジタル信号に変換して出力を得てい
る。前記デジタル信号は、フレームメモリ１１に取り込
み、制御部１０によって特徴抽出のための一連の画像処
理を行い、識別判定を行っている。
【０００４】前記の図４に示す回路において、従来技術
のエッジ検出方法を説明するための模式図である図３に
示すように、硬貨等の円形対象物２から受けた反射光に
基づき、フレームメモリ１１に対して水平方向及び垂直
方向の輝度投影により、各方向のエッジ点を求めて中心
座標の算出を行うもので、輝度投影は、二次元正方行列
（ｎ×ｍ）上の１行又は１列の全画素の輝度を加算し
て、それぞれ列方向又は行方向に並べて得られた行又は
列方向のヒストグラムであり、水平方向の輝度投影ＰH
及び垂直方向の輝度投影ＰVが得られる。次に、各輝度
投影ＰH及びＰVに対して、水平方向及び垂直方向の走査
線による走査及び検出を行い、各走査線が輝度投影のし
きい値ＳH及びＳVを越える基準点を選び出し、水平方向
及び垂直方向の各走査線と各々の輝度投影ＰH及びＰVの
分布線が交差する交点を検出して、各方向のエッジ点Ｐ
X，ＱX及びＰY，ＱYを求める。その結果、円形物の認識
対象物である硬貨２の中心位置Ｃ（ＣX，ＣY）は次の式
で求めることができる。
のエッジ検出方法を説明するための模式図である図３に
示すように、硬貨等の円形対象物２から受けた反射光に
基づき、フレームメモリ１１に対して水平方向及び垂直
方向の輝度投影により、各方向のエッジ点を求めて中心
座標の算出を行うもので、輝度投影は、二次元正方行列
（ｎ×ｍ）上の１行又は１列の全画素の輝度を加算し
て、それぞれ列方向又は行方向に並べて得られた行又は
列方向のヒストグラムであり、水平方向の輝度投影ＰH
及び垂直方向の輝度投影ＰVが得られる。次に、各輝度
投影ＰH及びＰVに対して、水平方向及び垂直方向の走査
線による走査及び検出を行い、各走査線が輝度投影のし
きい値ＳH及びＳVを越える基準点を選び出し、水平方向
及び垂直方向の各走査線と各々の輝度投影ＰH及びＰVの
分布線が交差する交点を検出して、各方向のエッジ点Ｐ
X，ＱX及びＰY，ＱYを求める。その結果、円形物の認識
対象物である硬貨２の中心位置Ｃ（ＣX，ＣY）は次の式
で求めることができる。
【数１】ＣX＝（ＰX＋ＱX）／２ ＣY＝（ＰY＋ＱY）／２
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記従
来の技術で説明した硬貨識別装置は、画像空間内に硬貨
等の円形物が１枚に限って存在し撮像された場合であっ
て、列方向又は行方向に並べて得られた行又は列方向の
ヒストグラムは、概略として中心線に対して線対称であ
る単一の山型を形成した場合に限定されていた。このた
め、同時に複数の円形物が連続して搬送され、且つ複数
の円形物を撮像する場合には、ヒストグラムの山の数
が、行又は列方向の何れかの方向又はそれぞれの方向に
複数存在することとなり、ヒストグラム両端のエッジの
位置が正規の位置に対してずれた位置を検出することと
なり、中心位置の検出を行うためには複雑な回路構成が
必要となり、且つ追従を行うことに対して困難な状況と
なる問題点がある。
来の技術で説明した硬貨識別装置は、画像空間内に硬貨
等の円形物が１枚に限って存在し撮像された場合であっ
て、列方向又は行方向に並べて得られた行又は列方向の
ヒストグラムは、概略として中心線に対して線対称であ
る単一の山型を形成した場合に限定されていた。このた
め、同時に複数の円形物が連続して搬送され、且つ複数
の円形物を撮像する場合には、ヒストグラムの山の数
が、行又は列方向の何れかの方向又はそれぞれの方向に
複数存在することとなり、ヒストグラム両端のエッジの
位置が正規の位置に対してずれた位置を検出することと
なり、中心位置の検出を行うためには複雑な回路構成が
必要となり、且つ追従を行うことに対して困難な状況と
なる問題点がある。
【０００６】本発明は、上記事情に鑑みてなされたもの
であって、水平方向及び垂直方向のヒストグラムを作成
して輝度投影を行う場合に、輝度の加算する範囲を、認
識対象物の撮像位置に適合させて範囲指定することによ
り、認識対象物のエッジ位置及び中心位置を正確に検出
し、且つ連続して移送された認識対象物においても適用
可能にさせ、特に円形対象物に対しては容易に検出を行
うことができ、さらに輝度投影範囲を可変して設定する
ことにより、対象物のサイズが変化したり撮像位置が変
動した場合においても追従させることができ、常に正確
なヒストグラムを得て、対象物の連続移送によるエッジ
位置及び中心位置を正確に検出することを目的とする。
であって、水平方向及び垂直方向のヒストグラムを作成
して輝度投影を行う場合に、輝度の加算する範囲を、認
識対象物の撮像位置に適合させて範囲指定することによ
り、認識対象物のエッジ位置及び中心位置を正確に検出
し、且つ連続して移送された認識対象物においても適用
可能にさせ、特に円形対象物に対しては容易に検出を行
うことができ、さらに輝度投影範囲を可変して設定する
ことにより、対象物のサイズが変化したり撮像位置が変
動した場合においても追従させることができ、常に正確
なヒストグラムを得て、対象物の連続移送によるエッジ
位置及び中心位置を正確に検出することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明は、所定の方向に移送される認識対象物に検
査光を照射し、その照射した検査光の上記認識対象物か
らの反射光から獲られる１フレーム分の画像信号の輝度
を１列ごと又は１行ごと投影処理し、上記１列ごと又は
１行ごとの輝度投影結果から上記認識対象物のエッジ位
置を検出するようにした認識対象物のエッジ検出方法に
おいて、上記１列ごとの輝度投影範囲は移送される前後
の認識対象物を含まない所定の範囲に設定され、且つ、
上記１行ごとの輝度投影範囲は前後の認識対象物による
ノイズを分離できる所定の範囲に設定されていて、上記
認識対象物は所定の位置に到達したときに上記１フレー
ム分の画像信号が取り込まれるようになっており、上記
認識対象物は連なって移送されるものであり、上記認識
対象物は円形状であり、上記１列ごとの輝度投影範囲
（Ｗ Ｈ ）は上記円形状の直径より小さく、上記１行ごと
の輝度投影範囲（Ｗ Ｖ ）は上記円形状の半径より小さい
ことを要旨とする。
め、本発明は、所定の方向に移送される認識対象物に検
査光を照射し、その照射した検査光の上記認識対象物か
らの反射光から獲られる１フレーム分の画像信号の輝度
を１列ごと又は１行ごと投影処理し、上記１列ごと又は
１行ごとの輝度投影結果から上記認識対象物のエッジ位
置を検出するようにした認識対象物のエッジ検出方法に
おいて、上記１列ごとの輝度投影範囲は移送される前後
の認識対象物を含まない所定の範囲に設定され、且つ、
上記１行ごとの輝度投影範囲は前後の認識対象物による
ノイズを分離できる所定の範囲に設定されていて、上記
認識対象物は所定の位置に到達したときに上記１フレー
ム分の画像信号が取り込まれるようになっており、上記
認識対象物は連なって移送されるものであり、上記認識
対象物は円形状であり、上記１列ごとの輝度投影範囲
（Ｗ Ｈ ）は上記円形状の直径より小さく、上記１行ごと
の輝度投影範囲（Ｗ Ｖ ）は上記円形状の半径より小さい
ことを要旨とする。
【０００８】請求項２に記載の発明は、上記移送される
所定方向を上記フレームにおける列方向としたとき、上
記１列ごとの輝度投影範囲は上記認識対象物の中央位置
を含む所定の範囲に設定され、且つ、上記１行ごとの輝
度投影範囲は上記認識対象物の中央位置から外れた所定
の範囲に設定されていることを要旨とする。
所定方向を上記フレームにおける列方向としたとき、上
記１列ごとの輝度投影範囲は上記認識対象物の中央位置
を含む所定の範囲に設定され、且つ、上記１行ごとの輝
度投影範囲は上記認識対象物の中央位置から外れた所定
の範囲に設定されていることを要旨とする。
【０００９】
【００１０】
【００１１】請求項３に記載の発明は、上記輝度投影範
囲が可変となされていることを要旨とする。
囲が可変となされていることを要旨とする。
【００１２】
【発明の実施の形態】次に、本発明に係る認識対象物の
エッジ検出方法についての実施の形態を、図面に示す実
施例に基づいて説明する。図１は本発明に係る認識対象
物のエッジ検出方法を説明するための模式図である。図
において、本発明に係る認識対象物のエッジ検出方法
は、例えば、硬貨識別装置に適用した場合について説明
する。上記硬貨識別装置は、従来使用されているパター
ンマッチングを利用した硬貨識別装置であって、基準リ
ングパターンにより、各種サイズの異なる硬貨との比較
を行うものについて適用している。
エッジ検出方法についての実施の形態を、図面に示す実
施例に基づいて説明する。図１は本発明に係る認識対象
物のエッジ検出方法を説明するための模式図である。図
において、本発明に係る認識対象物のエッジ検出方法
は、例えば、硬貨識別装置に適用した場合について説明
する。上記硬貨識別装置は、従来使用されているパター
ンマッチングを利用した硬貨識別装置であって、基準リ
ングパターンにより、各種サイズの異なる硬貨との比較
を行うものについて適用している。
【００１３】
【実施例】本発明の実施の形態は、図１に示されている
ように硬貨２０の移送される方向が、矢印Ｆの列方向で
ある場合に、水平方向及び垂直方向の各ヒストグラムに
対して、加算する範囲を設定するものである。すなわ
ち、水平方向のヒストグラムを形成する列ごとの輝度投
影ＰHに対しては、前後の硬貨１９、２１のヒストグラ
ムを含まないように、硬貨２０の中心部分Ｃを含むＷHS
〜ＷHEの範囲のウインドウＷＨを設定し、垂直方向のヒ
ストグラムを形成する行ごとの輝度投影ＰVに対して
は、前後の硬貨１９、２１のヒストグラムによるノイズ
を分離できるように、中心部分Ｃを含まないＷVS〜ＷVE
の範囲のウインドウＷＶを設定するものである。なお、
ウインドウＷＨは前後の硬貨１９、２１のヒストグラム
を含まないように設定すればよいから、必ずしも中心部
分を含まなければならないわけでなく、また、ウインド
ウＷＶは前後の硬貨１９、２１のヒストグラムによるノ
イズを分離できるように設定する点が重要である。
ように硬貨２０の移送される方向が、矢印Ｆの列方向で
ある場合に、水平方向及び垂直方向の各ヒストグラムに
対して、加算する範囲を設定するものである。すなわ
ち、水平方向のヒストグラムを形成する列ごとの輝度投
影ＰHに対しては、前後の硬貨１９、２１のヒストグラ
ムを含まないように、硬貨２０の中心部分Ｃを含むＷHS
〜ＷHEの範囲のウインドウＷＨを設定し、垂直方向のヒ
ストグラムを形成する行ごとの輝度投影ＰVに対して
は、前後の硬貨１９、２１のヒストグラムによるノイズ
を分離できるように、中心部分Ｃを含まないＷVS〜ＷVE
の範囲のウインドウＷＶを設定するものである。なお、
ウインドウＷＨは前後の硬貨１９、２１のヒストグラム
を含まないように設定すればよいから、必ずしも中心部
分を含まなければならないわけでなく、また、ウインド
ウＷＶは前後の硬貨１９、２１のヒストグラムによるノ
イズを分離できるように設定する点が重要である。
【００１４】このように、上記設定されたウインドウに
対して、限定された範囲内の画素のみを対象として輝度
加算を行うものである。なお、図１において、Ｅはフレ
ームの範囲、Ｇは撮像の視野、１９及び２１は隣接の硬
貨を示している。又、図１において、ＰH，ＰX，ＣX，
ＱXのエリア、及びＰV，ＰY，ＣY，ＱYのエリアは従来
技術のエッジ検出方法において説明したエリアと同一の
ものである。
対して、限定された範囲内の画素のみを対象として輝度
加算を行うものである。なお、図１において、Ｅはフレ
ームの範囲、Ｇは撮像の視野、１９及び２１は隣接の硬
貨を示している。又、図１において、ＰH，ＰX，ＣX，
ＱXのエリア、及びＰV，ＰY，ＣY，ＱYのエリアは従来
技術のエッジ検出方法において説明したエリアと同一の
ものである。
【００１５】図２は本発明に係る認識対象物のエッジ検
出方法を説明するための模式図で、前後の硬貨１９、２
１のヒストグラムは、ウインドウＷＨが設定されている
ことにより、水平方向のヒストグラムにはノイズとなる
山が形成されず、また、ウインドウＷＶが設定されてい
ることにより、垂直方向のヒストグラムにはＭY1とＭY2
が生じるが、ＭY1とＭY2の間には０となる領域が生じる
ために、ＭY1とＭY2は分離することが可能である。
出方法を説明するための模式図で、前後の硬貨１９、２
１のヒストグラムは、ウインドウＷＨが設定されている
ことにより、水平方向のヒストグラムにはノイズとなる
山が形成されず、また、ウインドウＷＶが設定されてい
ることにより、垂直方向のヒストグラムにはＭY1とＭY2
が生じるが、ＭY1とＭY2の間には０となる領域が生じる
ために、ＭY1とＭY2は分離することが可能である。
【００１６】以上の方法により、図２に示すような垂直
方向に連続して移送された場合のヒストグラムにおい
て、硬貨２０に対して連続して硬貨２１及び１９が移送
された場合に、限定された範囲内部の図１におけるウイ
ンドウＷＨ、ウインドウＷＶの範囲のみを対象として輝
度加算されることによって、直前、直後の不要なオブジ
ェクトである硬貨１９，２１の領域が排除されて、水平
方向のヒストグラムにはノイズとなる山が形成されず、
垂直方向のヒストグラムに形成された山ＭY1，ＭY2が排
除され、ヒストグラムが変形されて生じた中心位置及び
エッジ位置のずれＺは、正しい位置Ｃを示すことにな
る。又、連続して移送された硬貨に対しても本発明に係
る認識対象物のエッジ検出方法を適用させることが可能
となり、特に硬貨等の円形対象物に対しては、複雑な回
路構成を必要とせずに容易に検出を行うことができ、さ
らに、輝度投影範囲を可変して設定することにより、対
象物のサイズが変化したり撮像位置が変動した場合にお
いても、常に正確なヒストグラムを得て、対象物の連続
移送によるエッジ位置及び中心位置を正確に検出するこ
とが可能となる。
方向に連続して移送された場合のヒストグラムにおい
て、硬貨２０に対して連続して硬貨２１及び１９が移送
された場合に、限定された範囲内部の図１におけるウイ
ンドウＷＨ、ウインドウＷＶの範囲のみを対象として輝
度加算されることによって、直前、直後の不要なオブジ
ェクトである硬貨１９，２１の領域が排除されて、水平
方向のヒストグラムにはノイズとなる山が形成されず、
垂直方向のヒストグラムに形成された山ＭY1，ＭY2が排
除され、ヒストグラムが変形されて生じた中心位置及び
エッジ位置のずれＺは、正しい位置Ｃを示すことにな
る。又、連続して移送された硬貨に対しても本発明に係
る認識対象物のエッジ検出方法を適用させることが可能
となり、特に硬貨等の円形対象物に対しては、複雑な回
路構成を必要とせずに容易に検出を行うことができ、さ
らに、輝度投影範囲を可変して設定することにより、対
象物のサイズが変化したり撮像位置が変動した場合にお
いても、常に正確なヒストグラムを得て、対象物の連続
移送によるエッジ位置及び中心位置を正確に検出するこ
とが可能となる。
【００１７】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の認識対象
物のエッジ検出方法にあっては、所定の方向に移送され
る認識対象物に検査光を照射し、その照射した検査光の
上記認識対象物からの反射光から得られる１フレーム分
の画像信号の輝度を１列ごと又は１行ごと投影処理し、
上記１列ごと又は、１行ごとの輝度投影結果から上記認
識対象物のエッジ位置を検出するようにした認識対象物
のエッジ検出方法において、上記移送される所定の方向
を上記フレームにおける列方向としたとき、上記１列ご
との輝度投影範囲は上記認識対象物の中央位置を含む所
定の範囲に設定され、且つ、上記１列ごとの輝度投影範
囲は上記認識対象物の中央位置から外れた所定の範囲に
設定されていることにより、水平方向及び垂直方向のヒ
ストグラムに形成された不要なオブジェクトの山が排除
されて、エッジ位置及び中心位置のずれは正しい位置を
示すようになり、又、従来は間歇移送のみに適用されて
いたものが、連続して移送された硬貨に対しても適用が
可能となり、画像識別装置としての処理性能力が大幅に
向上する。さらに、複雑な回路構成を必要とせずに容易
に検出を行うことができ、さらに、輝度投影範囲を可変
して設定することにより、常に正確なヒストグラムを得
て、対象物の連続移送によるエッジ位置及び中心位置を
正確に検出することが可能になる。
物のエッジ検出方法にあっては、所定の方向に移送され
る認識対象物に検査光を照射し、その照射した検査光の
上記認識対象物からの反射光から得られる１フレーム分
の画像信号の輝度を１列ごと又は１行ごと投影処理し、
上記１列ごと又は、１行ごとの輝度投影結果から上記認
識対象物のエッジ位置を検出するようにした認識対象物
のエッジ検出方法において、上記移送される所定の方向
を上記フレームにおける列方向としたとき、上記１列ご
との輝度投影範囲は上記認識対象物の中央位置を含む所
定の範囲に設定され、且つ、上記１列ごとの輝度投影範
囲は上記認識対象物の中央位置から外れた所定の範囲に
設定されていることにより、水平方向及び垂直方向のヒ
ストグラムに形成された不要なオブジェクトの山が排除
されて、エッジ位置及び中心位置のずれは正しい位置を
示すようになり、又、従来は間歇移送のみに適用されて
いたものが、連続して移送された硬貨に対しても適用が
可能となり、画像識別装置としての処理性能力が大幅に
向上する。さらに、複雑な回路構成を必要とせずに容易
に検出を行うことができ、さらに、輝度投影範囲を可変
して設定することにより、常に正確なヒストグラムを得
て、対象物の連続移送によるエッジ位置及び中心位置を
正確に検出することが可能になる。
【図１】本発明の実施の形態に係る認識対象物のエッジ
検出方法を説明するための模式図である。
検出方法を説明するための模式図である。
【図２】本発明の実施の形態に係る認識対象物のエッジ
検出方法を説明するための模式図である。
検出方法を説明するための模式図である。
【図３】従来技術のエッジ検出方法を説明するための模
式図である。
式図である。
【図４】同じく、回路ブロック図である。
１ スキャナ部 ２，１９，２０，２１ 硬貨 １０ 制御部 Ｃ 中心部分 Ｆ 移送方向 ＭH，ＭY1，ＭY2 山 Ｐ，Ｖ 輝度投影 ＷＨ，ＷＶ ウインドウ ＷHS，ＷHE，ＷVS，ＷVE ウインドウ範囲 Ｚ 中心位置のずれ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平７−167611（ＪＰ，Ａ) 特開 平８−101940（ＪＰ，Ａ) 特開 平７−175954（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−243253（ＪＰ，Ａ) 特開 平９−178421（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01B 11/00 G06T 1/00
Claims (3)
- 【請求項１】 所定の方向に移送される認識対象物に検
査光を照射し、その照射した検査光の上記認識対象物か
らの反射光から獲られる１フレーム分の画像信号の輝度
を１列ごと又は１行ごと投影処理し、上記１列ごと又は
１行ごとの輝度投影結果から上記認識対象物のエッジ位
置を検出するようにした認識対象物のエッジ検出方法に
おいて、上記１列ごとの輝度投影範囲は移送される前後
の認識対象物を含まない所定の範囲に設定され、且つ、
上記１行ごとの輝度投影範囲は前後の認識対象物による
ノイズを分離できる所定の範囲に設定されていて、上記
認識対象物は所定の位置に到達したときに上記１フレー
ム分の画像信号が取り込まれるようになっており、上記
認識対象物は連なって移送されるものであり、上記認識
対象物は円形状であり、上記１列ごとの輝度投影範囲は
上記円形状の直径より小さく、上記１行ごとの輝度投影
範囲は上記円形状の半径より小さいことを特徴とする認
識対象物のエッジ検出方法。 - 【請求項２】 上記移送される所定方向を上記フレーム
における列方向としたとき、上記１列ごとの輝度投影範
囲は上記認識対象物の中央位置を含む所定の範囲に設定
され、且つ、上記１行ごとの輝度投影範囲は上記認識対
象物の中央位置から外れた所定の範囲に設定されている
ことを特徴とする請求項１記載の認識対象物のエッジ検
出方法。 - 【請求項３】 上記輝度投影範囲が可変となされている
ことを特徴とする請求項１記載の認識対象物のエッジ検
出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP05403396A JP3271889B2 (ja) | 1996-02-16 | 1996-02-16 | 認識対象物のエッジ検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP05403396A JP3271889B2 (ja) | 1996-02-16 | 1996-02-16 | 認識対象物のエッジ検出方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09222306A JPH09222306A (ja) | 1997-08-26 |
| JP3271889B2 true JP3271889B2 (ja) | 2002-04-08 |
Family
ID=12959286
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP05403396A Expired - Fee Related JP3271889B2 (ja) | 1996-02-16 | 1996-02-16 | 認識対象物のエッジ検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3271889B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101666839B1 (ko) * | 2015-01-27 | 2016-10-17 | 인천대학교 산학협력단 | 동전 금액 자동 계산 방법 및 그 시스템 |
-
1996
- 1996-02-16 JP JP05403396A patent/JP3271889B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH09222306A (ja) | 1997-08-26 |
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