JP3264256B2 - Manufacturing method and mounting structure of optical device - Google Patents
Manufacturing method and mounting structure of optical deviceInfo
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Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は光デバイスの製造方
法及び実装構造に関し、特に光ファイバが光導波路回路
と結合するように無調整で実装される光デバイスの製造
方法及び実装構造に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method and a structure for manufacturing an optical device, and more particularly to a method and a structure for manufacturing an optical device in which an optical fiber is mounted without adjustment so as to be coupled to an optical waveguide circuit.
【0002】[0002]
【従来の技術】光ファイバ実装型光導波路回路と光素子
・電気素子を組み合わせた光デバイスの製造法として、
従来、以下のような方法が知られている。2. Description of the Related Art As a method of manufacturing an optical device combining an optical fiber mounted optical waveguide circuit with an optical element and an electric element,
Conventionally, the following methods are known.
【0003】例えば特開平6−347665号公報に記
載されているように、異方性エッチング液への耐久性を
有しかつ電気配線層としても利用できるAu、Al、
W、WSiといった金属などの材料を用いて、V溝形成
エッチング用マスク及び電気配線をSi基板上に形成
し、この上層に石英系ガラス材料などからなる光導波路
を形成する方法がある。なお、上記公報には、光導波路
が形成された基板上に光部品及び電子デバイスを搭載す
る光デバイスについて段差プロセスを無くすことで光部
品と光導波路との光学的高効率結合を可能とさせ、電子
デバイスの電気配線並びにパッド等の形成も含めて全て
の製造工程が基板スケールでの量産製造を可能とするこ
とにより低コストな光デバイス製造方法を提供すること
を目的として、光ファイバ及び光半導体素子等の光部品
を位置決め固定するためのマーカ、光導波路の光軸を設
定するためのマーカ、溝形成用マスクパターン、光部品
用及び電子デバイス用の電気配線、並びにパッドを光導
波路を形成する前に基板に形成することを特徴とする光
デバイスの製造方法が提案されている。For example, as described in JP-A-6-347665, Au, Al, which has durability to an anisotropic etching solution and can be used as an electric wiring layer,
There is a method in which a V-groove forming etching mask and electric wiring are formed on a Si substrate using a material such as a metal such as W or WSi on an Si substrate, and an optical waveguide made of a quartz glass material or the like is formed on the upper layer. In the above publication, the optical component and the electronic device mounted on the substrate on which the optical waveguide is formed, by eliminating the step process, to enable optically efficient coupling between the optical component and the optical waveguide, An optical fiber and an optical semiconductor for the purpose of providing a low-cost optical device manufacturing method by enabling mass production on a substrate scale in all manufacturing steps including formation of electric wiring and pads of an electronic device. A marker for positioning and fixing an optical component such as an element, a marker for setting an optical axis of an optical waveguide, a mask pattern for forming a groove, an electrical wiring for an optical component and an electronic device, and a pad for forming an optical waveguide. There has been proposed a method for manufacturing an optical device, which is characterized in that the optical device is formed on a substrate before.
【0004】この従来の技術では、図4に示すように、
光導波路端面形成用マスク5を用いウェットエッチング
またはドライエッチングよって導波路端面6を形成する
と同時に、Si基板面7aを露出する。In this conventional technique, as shown in FIG.
At the same time as forming the waveguide end face 6 by wet etching or dry etching using the optical waveguide end face forming mask 5, the Si substrate face 7a is exposed.
【0005】そして、その後、V溝形成エッチング用マ
スク12を用いた異方性エッチングによって、Si基板
1に光ファイバ実装用のV溝を形成する。Then, a V-groove for mounting an optical fiber is formed on the Si substrate 1 by anisotropic etching using a V-groove forming etching mask 12.
【0006】この従来の技術により、V溝形成エッチン
グ用マスクや電気配線の形成を光導波路形成後の段差プ
ロセス無しに行うことができる。このため、フォトリソ
グラフィプロセスを利用したウェハースケールでの光デ
バイスの量産が期待できる。According to this conventional technique, a V-groove forming etching mask and electric wiring can be formed without a step process after forming an optical waveguide. Therefore, mass production of optical devices on a wafer scale utilizing a photolithography process can be expected.
【0007】[0007]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記し
た従来の製造方法では以下に述べるような問題点があ
る。However, the above-mentioned conventional manufacturing method has the following problems.
【0008】すなわち、上記した金属などの材料を用い
た異方性エッチング用マスクは、異方性エッチング用マ
スクの上層の光導波路形成プロセスの影響で変質するこ
とがある。この原因としては、光導波路形成プロセスで
の熱、並びに光導波路層内のドーパントや水分の該マス
クへの拡散などが考えられる。That is, the mask for anisotropic etching using a material such as the metal described above may be deteriorated by the influence of the optical waveguide forming process on the upper layer of the mask for anisotropic etching. This may be caused by heat in the optical waveguide forming process, and diffusion of dopant and moisture in the optical waveguide layer into the mask.
【0009】この変質によって、この異方性エッチング
用マスクはエッチャントに対する耐久性を失う。このた
め、マスクとして機能しなくなり、所望する形状の溝を
得ることができない。[0009] Due to this alteration, the anisotropic etching mask loses durability against the etchant. For this reason, it does not function as a mask, and a groove having a desired shape cannot be obtained.
【0010】この結果として、光ファイバをこの溝に高
精度に実装することができないという問題が発生する。As a result, there arises a problem that the optical fiber cannot be mounted in this groove with high accuracy.
【0011】従って、本発明の目的は、上記問題点を解
消し、光導波路を形成した基板への溝を光導波路形成プ
ロセスの方法如何に依らずに確実に形成し、この溝を使
った光ファイバの実装や光ファイバガイド溝付き基板の
位置決めガイドピン等の実装を高精度に行うことを可能
とする光デバイスの製造方法を提供することにある。SUMMARY OF THE INVENTION Accordingly, an object of the present invention is to solve the above-mentioned problems and to surely form a groove to a substrate on which an optical waveguide is formed irrespective of the method of forming an optical waveguide, and to use an optical waveguide using this groove. It is an object of the present invention to provide a method of manufacturing an optical device that can mount a fiber or a positioning guide pin of a substrate having an optical fiber guide groove with high accuracy.
【0012】[0012]
【課題を解決するための手段】本発明の光デバイスの製
造方法は、基板上に光導波路回路が形成され、前記基板
上の光素子及び光ファイバが光学的に結合するように配
置される光デバイスの製造方法において、 (a)基板上に、前記基板の溝形成エッチャントに対する
耐久性を有する材料からなる第2の層とドライエッチン
グに対する耐久性を有する材料からなる第1の層を順次
形成し、前記第1の層を基板の溝形成エッチング用マス
クの形にパターン化する工程と、 (b)前記第1の層より上に光導波路を形成した後、エッ
チングにより前記光導波路の端面を形成すると共に、前
記パターン化された第1の層を露出させる工程と、 (c)前記露出したパターン化された第1の層をマスクと
するエッチングにより、前記第2の層を基板の溝形成エ
ッチング用マスクの形にパターン化する工程と、 (d)前記パターン化された第2の層をマスクとして前記
基板をエッチングすることにより、前記溝を形成する工
程と、を含むことを特徴とする。 According to the present invention, there is provided an optical device comprising:
The method comprises forming an optical waveguide circuit on a substrate,
The upper optical element and the optical fiber are arranged so as to be optically coupled.
In the method for manufacturing an optical device to be placed, (a) on a substrate, a groove forming etchant of the substrate
Dry layer and second layer of durable material
A first layer of a material that is resistant to
And forming the first layer on a groove forming etching mask of the substrate.
A step of patterning the form of click, after forming the optical waveguide above (b) said first layer, edge
While forming the end face of the optical waveguide by ching,
Exposing the patterned first layer; and (c) using the exposed patterned first layer as a mask.
Etching, the second layer is etched into the groove of the substrate.
Patterning in the form of a etching mask; and (d) using the patterned second layer as a mask,
Step of forming the groove by etching the substrate
And is characterized by including.
【0013】また、本発明の光デバイスの実装構造は、
基板上に光導波路回路が形成され、基板上の光素子及び
光ファイバが光学的に結合するように配置される光デバ
イスの実装構造において、基板上に形成され、該基板の
溝形成エッチングに用いるエッチャントに対する耐久性
を有する材料からなり、膜厚が100nmから1μmで
ある第2の層と、第2の層の上に形成され、ドライエッ
チングに対する耐久性を有する材料からなる第1の層
と、第1の層より上に形成された光導波路を備え、第1
の層及び第2の層は基板の溝形成のためのエッチング用
マスクの形状にパターン形成され、パターン形成された
第2の層をマスクとして前記基板をエッチングすること
により形成してなる溝を備え、基板上に形成された光導
波路が、基板上に設けた溝に実装された光ファイバの光
軸と位置合わせされて光学的に結合してなることを特徴
とする。また、第2の層が絶縁層からなり、第1の層が
導電部材からなり、第1の層が所望の電気配線にパター
ン形成されていてもよい。 Further, the mounting structure of the optical device of the present invention is as follows.
An optical waveguide circuit is formed on the substrate, and an optical element on the substrate and
An optical device in which optical fibers are arranged to optically couple
In the mounting structure of the chair, it is formed on a substrate,
Durability to etchant used for groove formation etching
With a thickness of 100 nm to 1 μm
A second layer and a dry layer formed on the second layer;
First layer made of a material having durability against chucking
And an optical waveguide formed above the first layer.
Layer and the second layer are used for etching to form grooves in the substrate.
Patterned in the shape of the mask and patterned
Etching the substrate using the second layer as a mask
And a light guide formed on the substrate.
The optical path of the optical fiber mounted in the groove provided on the substrate is
Characterized by being optically coupled to the axis
And Further, the second layer is made of an insulating layer, and the first layer is made of
The first layer is made of a conductive material, and the first layer is
May be formed.
【0014】[0014]
【作用】本発明の原理・作用を以下に説明する。本発明
においては、ドライエッチングにより光導波路端面の形
成及び基板のエッチング面の露出を同時に行う。この際
に、ドライエッチングに対する耐久性を有し、且つ溝形
成用マスクの形にパターン化されている第1の層は、そ
の下にある第2の層のドライエッチング加工のためのマ
スクとして機能する。このため、第2の層は溝形成エッ
チング用マスクパターンの形に残る。この第2の層の材
料は基板のエッチャントに対して耐久性を有する。The principle and operation of the present invention will be described below. In the present invention, the formation of the end face of the optical waveguide and the exposure of the etched surface of the substrate are simultaneously performed by dry etching. At this time, the first layer which has durability against dry etching and is patterned in the shape of a groove forming mask functions as a mask for dry etching of the second layer thereunder. I do. For this reason, the second layer remains in the shape of the groove forming etching mask pattern. The material of this second layer is durable to the etchant of the substrate.
【0015】以上により、元々エッチャントに対する耐
久性のない材料、または該第1の層の上部での導波路形
成プロセスに付随しておこる変質により基板エッチャン
トに対する耐久性を失う材料を、第1の層として使用し
ても溝形成用のパターンを損傷なしに形成できる。As described above, the material which is originally not durable to the etchant or the material which loses the durableness to the substrate etchant due to the deterioration accompanying the waveguide forming process on the first layer is replaced with the first layer. Can be used to form a groove forming pattern without damage.
【0016】よって、溝形成マスクを光導波路回路形成
プロセス方法に依存せずに高精度かつ確実に形成するこ
とができる。Therefore, the groove forming mask can be formed with high accuracy and certainty without depending on the optical waveguide circuit forming process method.
【0017】また、第1の層の材料に高周波特性などの
電気的特性のよい金属などの材料を用いることで、Si
などの基板と絶縁された電気配線を形成することができ
る。By using a material such as a metal having good electrical characteristics such as high-frequency characteristics as the material of the first layer, Si
It is possible to form electric wiring insulated from the substrate.
【0018】[0018]
【発明の実施の形態】本発明の実施形態について図面を
参照して以下に詳細に説明をする。Embodiments of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings.
【0019】図1は、本発明の一実施形態に係る光デバ
イスの製造方法の工程の一例を工程順に説明するための
図である。FIG. 1 is a view for explaining an example of steps of a method for manufacturing an optical device according to an embodiment of the present invention in the order of steps.
【0020】まず、第2の層2をSiなどの基板1上に
成膜する。この第2の層2の材料としては、基板1の溝
形成エッチングに用いるエッチャントに対して耐久性を
持つもの、例えばSiO2 等を主成分とする石英系ガラ
スが用いられる。First, a second layer 2 is formed on a substrate 1 such as Si. As a material of the second layer 2, a material that is durable to an etchant used for etching for forming a groove in the substrate 1, for example, a quartz glass mainly containing SiO 2 or the like is used.
【0021】第2の層2をなすSiO2 膜の形成方法と
しては、CVD法やスパッタ法を用いても本発明の目的
とする効果は得られる。The intended effect of the present invention can be obtained even if a CVD method or a sputtering method is used as a method for forming the SiO 2 film forming the second layer 2.
【0022】しかしながら、Si基板1をH2 O雰囲気
中でアニールすることなどにより形成した熱酸化SiO
2 膜は、上記エッチャントに対する耐久性がCVD膜や
スパッタ膜より強い。このため、膜厚を薄くしても後の
工程における基板エッチング用のマスクとして機能す
る。However, the thermally oxidized SiO 2 formed by annealing the Si substrate 1 in an H 2 O atmosphere, etc.
The two films have higher durability against the above etchant than the CVD film and the sputtered film. Therefore, even if the film thickness is reduced, it functions as a mask for etching a substrate in a later step.
【0023】一方、後の工程において基板エッチングの
直前に、SiO2 膜をエッチングによって溝形成エッチ
ング用マスクの形状にパターン化するときのことを考慮
すると、SiO2 膜の膜厚を薄くする方が、この膜のサ
イドエッチが少なくなるので、パターン形成精度が高く
なる。On the other hand, immediately before the substrate etching in a later step, considering that at the time of patterning the SiO 2 film in the shape of the groove forming an etching mask by etching, is better to reduce the thickness of the SiO 2 film Since the side etching of the film is reduced, the pattern forming accuracy is improved.
【0024】以上の理由からCVD膜やスパッタ膜より
も好ましくは熱酸化SiO2 膜を用いる方がよい。For the above reasons, it is preferable to use a thermally oxidized SiO 2 film rather than a CVD film or a sputtered film.
【0025】第2の層2として熱酸化SiO2 を用いた
場合、後の工程でKOHをエッチャントとして溝形成す
る際の、SiO2 とSiの選択比を考えて、膜厚は通常
およそ100nm(1000オングストローム)から1
μmにする。When thermally oxidized SiO 2 is used as the second layer 2, the film thickness is usually about 100 nm (in consideration of the selectivity between SiO 2 and Si when forming a groove using KOH as an etchant in a later step). 1000 angstrom) to 1
μm.
【0026】さらに、第2の層2の他の材料として、上
記SiO2 の代わりにSi基板1をNH3 雰囲気中でア
ニールすることによって形成される熱窒化Si3 N4 ま
たはCVD法やスパッタ法によるSi3 N4 を用いるこ
とも可能である。Further, as another material of the second layer 2, thermally nitrided Si 3 N 4 formed by annealing the Si substrate 1 in an NH 3 atmosphere instead of the above SiO 2 , or a CVD method or a sputtering method It is also possible to use Si 3 N 4 by the above method.
【0027】次に、第1の層3をスパッタ法や蒸着法な
どにより成膜する。Next, the first layer 3 is formed by sputtering or vapor deposition.
【0028】この第1の層3はCx Fy 系やCx Cly
系などの反応性ガスのイオン、ラジカルや中性分子によ
るドライエッチングに対してエッチレートが光導波路層
と比較して十分に低い(選択比の高い)材料からなる。
具体的には例えば厚さ数百nm(数千オングストロー
ム)〜1μm程度のAu、Al、W、WSi、Crの膜
などを用いることができる。The first layer 3 is made of a C x F y system or C x Cl y
It is made of a material whose etch rate is sufficiently lower (higher in selectivity) than dry etching by reactive gas ions, radicals or neutral molecules in a system or the like as compared with the optical waveguide layer.
Specifically, for example, a film of Au, Al, W, WSi, Cr or the like having a thickness of several hundred nm (several thousand angstroms) to about 1 μm can be used.
【0029】そして、この第1の層3をフォトリソグラ
フィ法と化学薬品を用いたウェットエッチング法やAr
イオンプラズマを使ったECRプラズマエッチング法な
どにより、図1(A)に示すように、所望の溝形成エッ
チング用マスクの形(3a参照)にパターン化する。Then, the first layer 3 is formed by photolithography and wet etching using chemical
As shown in FIG. 1A, a pattern is formed into a desired groove forming etching mask (see 3a) by an ECR plasma etching method using ion plasma or the like.
【0030】上記のような金属材料を第1の層3に用い
た場合、この第1の層3を高速信号領域を扱える電気配
線層としても用いることができる。When the above-described metal material is used for the first layer 3, the first layer 3 can be used also as an electric wiring layer that can handle a high-speed signal region.
【0031】図2に示すように、溝形成エッチング用マ
スクのパターン8aとは別に所望の電気配線パターン1
1の形に第1の層3をパターン化することによって、S
iなどの基板1から絶縁された電気配線を形成すること
ができる。As shown in FIG. 2, a desired electric wiring pattern 1 is formed separately from the groove forming etching mask pattern 8a.
By patterning the first layer 3 in the form of
An electric wiring insulated from the substrate 1 such as i can be formed.
【0032】そして、第2の層2及びパターン化された
第1の層3の上に光導波路を形成する(図1(B)参
照)。この光導波路の形成は、例えばP、Ge、Bなど
を含有する石英系ガラスからなる光導波路層クラッド層
及び光導波路コア層のCVD法や火炎堆積法などを用い
た成膜と、RIEドライエッチング法などによる光導波
路コア層のエッチングを組み合わせることにより行う。Then, an optical waveguide is formed on the second layer 2 and the patterned first layer 3 (see FIG. 1B). This optical waveguide is formed by, for example, forming a cladding layer and an optical waveguide core layer of a silica-based glass containing P, Ge, B, or the like using a CVD method or a flame deposition method, and RIE dry etching. It is performed by combining the etching of the optical waveguide core layer by a method or the like.
【0033】この光導波路層は、通常は、図1(B)に
示すように、光導波路下層クラッド4cの上の光導波路
コア4aが光導波路上層クラッド4dで埋め込まれた構
成とする。As shown in FIG. 1B, the optical waveguide layer usually has a structure in which an optical waveguide core 4a on an optical waveguide lower cladding 4c is embedded with an optical waveguide upper cladding 4d.
【0034】具体的な光導波路の寸法は、例えば光導波
路下層クラッド4cの厚さを10〜20μm、光導波路
コア4aのコア断面を5×5μm程度の方形状、光導波
路上層クラッド層4dの厚さを10μm程度とすること
が好ましい。The specific dimensions of the optical waveguide include, for example, a thickness of the lower cladding 4c of the optical waveguide of 10 to 20 μm, a cross section of the core of the optical waveguide core 4a of about 5 × 5 μm, and a thickness of the upper cladding layer 4d of the upper optical waveguide. Preferably, the thickness is about 10 μm.
【0035】また、比屈折率差Δnが例えば5%程度に
なるように、コア(光導波路コア4a)の屈折率はクラ
ッド(光導波路下層、上層クラッド4c、4d)に対し
てわずかに高く設定して、シングルモード光導波路とす
る。The refractive index of the core (optical waveguide core 4a) is set slightly higher than the cladding (lower and upper cladding layers 4c and 4d) so that the relative refractive index difference Δn is, for example, about 5%. Thus, a single mode optical waveguide is obtained.
【0036】なお、この発明に係る製造方法において
は、光導波路はシングルモードに限定されるものではな
く、マルチモード光導波路としてもよいことはいうまで
もない。また、光導波路の材料としては、石英系ガラス
にのみ限定されるものでなく、例えばPMMAなどやフ
ッ素ポリイミドなどを用いることもあり得る。In the manufacturing method according to the present invention, the optical waveguide is not limited to a single mode, but may be a multi-mode optical waveguide. Further, the material of the optical waveguide is not limited to the quartz glass, but may be, for example, PMMA or fluorine polyimide.
【0037】次に、形成した光導波路層4の上に光導波
路端面形成用マスク5を形成する。この光導波路端面形
成用マスク5は、例えば、厚さが数十から数百nm(数
百〜数千オングストローム)のCr、Tiなどの金属と
その上に厚さ数μm〜数十μm程度のフォトレジストを
積層し、これをフォトリソグラフィなどによって所望の
マスクパターンの形に残すことによって形成する。ま
た、この光導波路端面形成用マスク5の形成位置は、基
板1に溝を設ける位置を避けて、図1(C)に示すよう
に、光導波路層4のうち残したい部分の上部を覆うよう
にすればよい。Next, an optical waveguide end face forming mask 5 is formed on the optical waveguide layer 4 thus formed. The optical waveguide end face forming mask 5 is made of, for example, a metal such as Cr or Ti having a thickness of several tens to several hundreds of nm (several hundreds to several thousand angstroms), and a metal having a thickness of several μm to several tens μm. It is formed by laminating a photoresist and leaving it in a desired mask pattern shape by photolithography or the like. Further, the formation position of the mask 5 for forming the end face of the optical waveguide is so as to cover the upper part of the portion of the optical waveguide layer 4 to be left as shown in FIG. What should I do?
【0038】この後に、光導波路端面形成用マスク5に
覆われていない部分について、光導波路層4及び第2の
層2をエッチングする。このエッチングは基板面7が露
出するまで行い、光導波路の端面6を形成する(図1
(D)参照)。After that, the optical waveguide layer 4 and the second layer 2 are etched in a portion not covered with the optical waveguide end face forming mask 5. This etching is performed until the substrate surface 7 is exposed to form the end face 6 of the optical waveguide.
(D)).
【0039】なお、石英系ガラスからなる導波路層4を
例にとると、上記のエッチングはサイドエッチを少なく
するために、通常、例えばCx Fy 系やCx Cly 系の
反応性ガスのイオン、ラジカルや中性分子を用いたドラ
イエッチングにより行う。この時、基板1への溝形成エ
ッチング用マスクのパターン8の形に形成されている第
1の層3(3a)は、光導波路層4と比較して、上記反
応性ガスによるドライエッチングによるエッチレートが
十分に低い(選択比の高い)材料から成るので、エッチ
ングが殆ど行われず、ドライエッチングのマスクとして
残る。In the case of the waveguide layer 4 made of quartz glass as an example, the above-mentioned etching is usually performed by, for example, a C x F y -based or C x C y -based reactive gas in order to reduce side etching. Is performed by dry etching using ions, radicals and neutral molecules. At this time, the first layer 3 (3a) formed in the shape of the pattern 8 of the groove forming etching mask on the substrate 1 is more etched than the optical waveguide layer 4 by dry etching using the reactive gas. Since it is made of a material having a sufficiently low rate (high selectivity), it is hardly etched and remains as a dry etching mask.
【0040】この結果、その下層の第2の層2も、図1
(D)に示すように、基板1の溝形成エッチング用マス
ク8の形にパターン化される。As a result, the lower second layer 2 is also
As shown in (D), the pattern is formed in the shape of a groove forming etching mask 8 of the substrate 1.
【0041】このパターン化された第2の層2aは、好
ましくは、SiO2 などを主成分とする石英系ガラス材
料からなるので、基板のエッチャント(例えばKOH水
溶液など)に対してSiなどの基板1よりもエッチレー
トが著しく小さい。このエッチレートは、第2の層2
が、Si熱酸化膜であるかCVD堆積膜であるかスパッ
タ膜かなどといった膜形成方法や膜中の不純物濃度にも
依存するが、例えば第2の層2に熱酸化SiO2 、エッ
チャントにKOHを用いた場合、エッチレートの比はお
よそSi:SiO2 =数百〜1000:1程度である。
このため、パターン化された第2の層2は基板1への溝
形成エッチング用のマスクとして使える。Since the patterned second layer 2a is preferably made of a quartz-based glass material containing SiO 2 or the like as a main component, the substrate 2 made of Si or the like is etched with respect to the substrate etchant (for example, KOH solution). The etch rate is significantly lower than 1. This etch rate is applied to the second layer 2
Although it depends on the film formation method such as whether it is a Si thermal oxide film, a CVD deposited film or a sputtered film, and the impurity concentration in the film, for example, thermal oxide SiO 2 is used for the second layer 2 and KOH is used for the etchant. when using the ratio of the etch rate is approximately Si: SiO 2 = several hundred to 1000: is about 1.
Therefore, the patterned second layer 2 can be used as a mask for etching for forming a groove in the substrate 1.
【0042】なお、上記ドライエッチングにおいて、例
えば垂直性に優れた反応性イオンエッチング(RIE)
法を用いることによってサイドエッチが少なくなるの
で、溝形成エッチング用マスク8を元のパターンに忠実
に高精度に形成することができる。In the dry etching, for example, reactive ion etching (RIE) having excellent verticality
Since the side etching is reduced by using the method, the groove forming etching mask 8 can be formed with high accuracy faithfully to the original pattern.
【0043】この結果、図1(D)の溝形成部10にお
いて基板1の溝形成エッチング用マスク8が形成され、
マスク以外の箇所には基板面7が露出していることにな
る。As a result, a groove forming etching mask 8 of the substrate 1 is formed in the groove forming portion 10 of FIG.
The substrate surface 7 is exposed at locations other than the mask.
【0044】また、上記ドライエッチングの工程の一部
をウェットエッチングに置き換える方法を用いることも
可能である。It is also possible to use a method in which part of the dry etching step is replaced with wet etching.
【0045】すなわち、例えば石英ガラス系光導波路を
エッチングする場合、まず、バッファード弗酸(弗化ア
ンモニウムと弗化水素の混合水溶液)を用いたウェット
エッチングなどによって、図1(F)に示すように、あ
る程度の深さまで光導波路層4のエッチングを行う。た
だし、この場合の「ある程度の深さ」とは、第2の層2
が露出しない程度の深さをいう。具体的には、光導波路
層の厚さやエッチング速度のばらつきを考慮して通常数
十nm(数百オングストローム)〜1μm程度の光導波
路層を残しておく。そして、このウェットエッチングの
後に、ドライエッチングを行う。この結果、基板の溝形
成エッチング用マスク8が高精度に形成することができ
る。That is, when etching a quartz glass optical waveguide, for example, first, as shown in FIG. 1F, by wet etching using buffered hydrofluoric acid (a mixed aqueous solution of ammonium fluoride and hydrogen fluoride) or the like. Next, the optical waveguide layer 4 is etched to a certain depth. In this case, “a certain depth” refers to the second layer 2
Refers to a depth that is not exposed. Specifically, an optical waveguide layer of about several tens nm (several hundred angstroms) to about 1 μm is usually left in consideration of variations in the thickness and etching rate of the optical waveguide layer. After this wet etching, dry etching is performed. As a result, the groove forming etching mask 8 of the substrate can be formed with high precision.
【0046】そして、溝形成エッチング用マスク8を用
いて基板1のエッチングを行うことによって、基板1に
溝9を形成する(図1(E)参照)。Then, the substrate 1 is etched by using the groove forming etching mask 8 to form the groove 9 in the substrate 1 (see FIG. 1E).
【0047】溝形成の例として、Si基板の異方性エッ
チングをする場合、エッチャントにはKOH、NaO
H、CsOH水溶液やエチレンジアミン・ピロカテコー
ル混合水溶液やヒドラジン等を用いればよい。As an example of groove formation, when performing anisotropic etching of a Si substrate, KOH, NaO
H, CsOH aqueous solution, ethylenediamine / pyrocatechol mixed aqueous solution, hydrazine or the like may be used.
【0048】最後に、得られた溝9をガイド溝として光
ファイバを実装する。Finally, an optical fiber is mounted using the obtained groove 9 as a guide groove.
【0049】以上のような製造方法をとることで、第1
の層3として、元々エッチャントに対する耐久性のない
材料、または第1の層3の上部での導波路形成プロセス
における変質によって基板用エッチャントに対する耐久
性を失う材料を使用した場合でも、第2の層2から成る
溝形成エッチング用マスク8を光導波路形成プロセス方
法に依存せずに高精度にかつ確実に形成することができ
る。By adopting the above manufacturing method, the first
Even if a material originally having no durability against the etchant or a material losing the durability against the substrate etchant due to deterioration in the waveguide forming process on the first layer 3 is used as the layer 3 of the second layer, The groove forming etching mask 8 made of 2 can be formed with high accuracy and certainty without depending on the optical waveguide forming process method.
【0050】また、第1の層3の材料に高周波特性など
の電気的特性の優れた金属などの材料を用いることで、
Siなどの基板1と絶縁された電気配線を形成できると
いう利点を有することも本発明の実施形態の特徴であ
る。Also, by using a material such as a metal having excellent electrical characteristics such as high-frequency characteristics for the material of the first layer 3,
The feature of the embodiment of the present invention is that it has an advantage that an electric wiring insulated from the substrate 1 such as Si can be formed.
【0051】実際に、第2の層2の熱酸化SiO2 膜を
形成したSi基板上に、第1の層3のWSi膜をV溝形
成エッチング用マスクの形にパターン化し、この上層に
石英系ガラス光導波路4を形成した。Actually, the WSi film of the first layer 3 is patterned in the form of a V-groove forming etching mask on the Si substrate on which the thermally oxidized SiO 2 film of the second layer 2 is formed, and quartz is formed on this upper layer. A system glass optical waveguide 4 was formed.
【0052】そして、この光導波路層4と第2の層2の
うちV溝形成部である所望の部分をバッファード弗酸と
RIEドライエッチングにより除去したところ、第2の
層2はフォトリソグラフィの精度と同等のサブμm程度
の精度でパターン化された。Then, a desired portion of the optical waveguide layer 4 and the second layer 2 which is a V-groove forming portion is removed by buffered hydrofluoric acid and RIE dry etching. Patterning was performed with an accuracy of about sub-μm, which is equivalent to the accuracy.
【0053】これをもとにイソプロピルアルコールを添
加したKOH水溶液中によってSi基板1の異方性エッ
チングを行った。第2の層2の熱酸化SiO2 膜による
V溝形成エッチング用マスク(2a)は、上記の異方性
エッチャントに浸けることによる形状崩れは殆どなく、
高精度なマスクとして機能した。この結果、約95%以
上の歩留まりで所望のV溝が得られた。Based on this, anisotropic etching of the Si substrate 1 was performed in a KOH aqueous solution to which isopropyl alcohol was added. The etching mask (2a) for V-groove formation using the thermally oxidized SiO 2 film of the second layer 2 has almost no shape collapse due to immersion in the anisotropic etchant described above.
Functioned as a high-precision mask. As a result, a desired V groove was obtained with a yield of about 95% or more.
【0054】ただし、このままだと、異方性エッチング
によって現れる、Si(111)面のうち、光導波路部
の端面6が縁となる(111)面14(図1(E)、及
び図3参照)に光ファイバ端がぶつかることによって、
光ファイバ端を光導波路部の端面6に完全に当接させる
ことができない。However, if left as is, the (111) surface 14 (see FIG. 1 (E) and FIG. 3) which is formed by anisotropic etching and which is the edge of the Si (111) surface and whose edge 6 is the edge of the optical waveguide portion. ) When the optical fiber end hits
The end of the optical fiber cannot be completely brought into contact with the end face 6 of the optical waveguide.
【0055】このため、図3に示すように、ダイシング
ソー等で、V溝形成部10aと光導波路部13との間
に、溝幅100〜200μm程度のV溝よりも深い切削
溝15を設けて、光ファイバ端(不図示)が斜めにぶつ
かる(111)面14を除去した(図中15aが除去さ
れる部分の断面形状を示す)。For this reason, as shown in FIG. 3, a cutting groove 15 deeper than the V-groove having a groove width of about 100 to 200 μm is provided between the V-groove forming portion 10a and the optical waveguide portion 13 by a dicing saw or the like. Then, the (111) surface 14 where the optical fiber end (not shown) collides obliquely was removed (the cross-sectional shape of the portion where 15a is removed is shown in the figure).
【0056】この後に、V溝9aに光ファイバを実装す
ることによって石英系ガラス光導波路と光ファイバの無
調整実装ができた。Thereafter, by mounting the optical fiber in the V-groove 9a, the silica glass optical waveguide and the optical fiber could be mounted without adjustment.
【0057】なお、本発明は、光導波路を形成する同一
基板上に光ファイバ実装用のガイド溝を設ける場合にの
み限定されるものではない。例えば、光導波路を形成す
る基板とは別にV溝などの光ファイバガイド溝を形成す
る基板を用意し、基板相互の位置合わせ用ガイドピンを
実装する溝を、光導波路を形成する基板に設ける場合に
も本発明は同様にして適用することができる。The present invention is not limited to the case where the guide groove for mounting the optical fiber is provided on the same substrate on which the optical waveguide is formed. For example, when a substrate for forming an optical fiber guide groove such as a V-groove is prepared separately from a substrate for forming an optical waveguide, and a groove for mounting guide pins for alignment between the substrates is provided on the substrate for forming the optical waveguide. The present invention can be similarly applied.
【0058】また、本発明の上記実施形態における基板
の溝については、主に(100)Si基板の異方性エッ
チングによって形成するV溝を想定して説明したが、エ
ッチングによって基板に溝形状が得られればよいのであ
るから、本発明において用いられるSi基板としては、
例えば(110)基板の場合もあり得る。(110)基
板を用いた場合、溝形状はV字状にはならないが、この
場合でも、本発明に従う製造方法によって、確実かつ高
精度に溝形成エッチング用のマスクが形成されるからで
ある。In the above embodiment of the present invention, the groove of the substrate has been described mainly on the assumption that a V groove is formed by anisotropic etching of a (100) Si substrate. Since it is sufficient that the Si substrate is obtained, the Si substrate used in the present invention includes:
For example, it may be a (110) substrate. When a (110) substrate is used, the groove shape is not V-shaped, but even in this case, the mask for groove formation etching is formed reliably and with high accuracy by the manufacturing method according to the present invention.
【0059】また、基板の材料に関してもSiに限定さ
れることはない。適切なエッチャントを選ぶことによ
り、例えば、InPやGaAs結晶などの基板を用いる
場合においても適用できる。The material of the substrate is not limited to Si. By selecting an appropriate etchant, for example, the present invention can be applied to a case where a substrate such as an InP or GaAs crystal is used.
【0060】以上、本発明の実施の形態を説明したが、
本発明は、上記したように、この実施の形態にのみ限定
されるものではなく、本発明の原理に準ずる各種形態及
び変形を含むことは勿論である。The embodiment of the present invention has been described above.
As described above, the present invention is not limited to this embodiment, but includes various forms and modifications according to the principle of the present invention.
【0061】[0061]
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
光ファイバなどを実装するためのガイド溝を光導波路形
成プロセス方法に依存せずに確実に、かつ高精度に基板
へ形成することができるという効果を有する。このた
め、光導波路を形成した基板上に光ファイバを高精度に
無調整で実装できるため、量産によるデバイスの製造コ
スト低減が期待できる。As described above, according to the present invention,
There is an effect that a guide groove for mounting an optical fiber or the like can be reliably and accurately formed on a substrate without depending on an optical waveguide forming process method. For this reason, since the optical fiber can be mounted on the substrate on which the optical waveguide is formed with high precision without any adjustment, a reduction in device manufacturing cost by mass production can be expected.
【0062】また、本発明においては、第1の層の材料
に高周波特性などの電気的特性のよい金属などの材料を
用いることにより、Siなどの基板と絶縁された電気配
線も同一基板におけるデバイス製造工程によって形成す
ることができるため、量産による製造コスト低減がさら
に期待できる。Further, in the present invention, by using a material such as a metal having good electrical characteristics such as high-frequency characteristics for the material of the first layer, the electric wiring insulated from the substrate such as Si can be formed on the same substrate. Since it can be formed by a manufacturing process, a further reduction in manufacturing cost by mass production can be expected.
【図1】本発明の一実施形態に係る光デバイスの製造方
法を工程順に模式的に説明するための図である。FIG. 1 is a diagram for schematically explaining a method for manufacturing an optical device according to an embodiment of the present invention in the order of steps.
【図2】本発明の一実施形態に係る光デバイスの製造方
法において、溝形成エッチング用マスクのパターンと電
気配線パターンが一括に形成された状態を示す図であ
る。FIG. 2 is a view showing a state in which a pattern of a trench forming etching mask and an electric wiring pattern are collectively formed in a method for manufacturing an optical device according to an embodiment of the present invention.
【図3】本発明の一実施形態において、V溝形成部と光
導波路部の間に切断溝を設けた後の光デバイスの形状を
光導波路に垂直かつ基板面に平行な方向から見た模式図
である。FIG. 3 is a schematic view of the shape of an optical device after a cutting groove is provided between a V-groove forming portion and an optical waveguide portion, viewed from a direction perpendicular to the optical waveguide and parallel to a substrate surface, in one embodiment of the present invention. FIG.
【図4】従来の技術における溝形成エッチング用マスク
の製造方法の一例を説明するための図である。FIG. 4 is a view for explaining an example of a method of manufacturing a groove forming etching mask according to a conventional technique.
1 基板 2 基板の溝形成エッチャントに対する耐久性を有する
材料からなる第2の層 2a パターン化された第2の層 3 ドライエッチングに対する耐久性を有する材料から
なる第1の層 3a パターン化された第1の層 4 光導波路層 4a 光導波路コア 4b 光導波路クラッド 4c 光導波路下層クラッド 4d 光導波路上層クラッド 5 光導波路端面形成用マスク 6 光導波路端面 6a 光導波路コア端面 7 基板面 7a Si基板面 8 溝形成エッチング用マスク 8a 溝形成用エッチング用マスクのパターン 9 溝 9a V溝 10 溝形成部 10a V溝形成部 11 電気配線パターン 12 V溝形成エッチング用マスク 13 光導波路部 14 光導波路部の端面6が縁となる(111)面 15 切削溝 15a 除去される部分DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Substrate 2 2nd layer made of the material which has the durability with respect to the groove forming etchant of the substrate 2a Patterned second layer 3 1st layer made of the material which has the durability with respect to dry etching 3a 1 layer 4 optical waveguide layer 4a optical waveguide core 4b optical waveguide clad 4c optical waveguide lower clad 4d optical waveguide upper clad 5 optical waveguide end face forming mask 6 optical waveguide end face 6a optical waveguide core end face 7 substrate surface 7a Si substrate surface 8 groove Forming etching mask 8a Groove forming etching mask pattern 9 Groove 9a V groove 10 Groove forming portion 10a V groove forming portion 11 Electrical wiring pattern 12 V groove forming etching mask 13 Optical waveguide portion 14 End face 6 of optical waveguide portion (111) surface to be the edge 15 Cutting groove 15a Portion to be removed
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平8−29638(JP,A) 特開 平7−86693(JP,A) 特開 平7−176717(JP,A) 特開 平6−347665(JP,A) 特開 平4−313710(JP,A) 特開 平2−211406(JP,A) 特開 平2−157805(JP,A) 特開 昭61−117513(JP,A) 米国特許5217568(US,A) 欧州特許出願公開682276(EP,A 1) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G02B 6/12 - 6/14 G02B 6/30 G02B 6/42 - 6/43 ────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (56) References JP-A-8-29638 (JP, A) JP-A-7-86693 (JP, A) JP-A-7-176717 (JP, A) 347665 (JP, A) JP-A-4-313710 (JP, A) JP-A-2-211406 (JP, A) JP-A-2-157805 (JP, A) JP-A-61-117513 (JP, A) US Patent 5,217,568 (US, A) European Patent Application Publication 682276 (EP, A1) (58) Fields investigated (Int. Cl. 7 , DB name) G02B 6/12-6/14 G02B 6/30 G02B 6 / 42-6/43
Claims (9)
板上の光素子及び光ファイバが光学的に結合するように
配置される光デバイスの製造方法において、 (a)基板上に、前記基板の溝形成エッチャントに対する
耐久性を有する材料からなる第2の層とドライエッチン
グに対する耐久性を有する材料からなる第1の層を順次
形成し、前記第1の層を基板の溝形成エッチング用マス
クの形にパターン化する工程と、 (b)前記第1の層より上に光導波路を形成した後、エッ
チングにより前記光導波路の端面を形成すると共に、前
記パターン化された第1の層を露出させる工程と、 (c)前記露出したパターン化された第1の層をマスクと
するエッチングにより、前記第2の層を基板の溝形成エ
ッチング用マスクの形にパターン化する工程と、 (d)前記パターン化された第2の層をマスクとして前記
基板をエッチングすることにより、前記溝を形成する工
程と、を含むことを特徴とする光デバイスの製造方法。An optical waveguide circuit formed on a substrate;
So that the optical elements and optical fibers on the plate are optically coupled
In the method for manufacturing an optical device to be arranged, (a)On the substrate, the groove forming etchant of the substrate
Dry layer and second layer of durable material
A first layer of a material that is resistant to
FormingThe first layer is formed by etching a groove for etching a substrate.
(B) patterning in the shape ofAfter forming an optical waveguide above the first layer,
While forming the end face of the optical waveguide by ching,
Exposing the patterned first layer; (c)The exposed patternedThe first layer is a mask
Etching, the second layer is etched into the groove of the substrate.
Patterning in the form of a etching mask; and (d) using the patterned second layer as a mask,
Step of forming the groove by etching the substrate
And a method for manufacturing an optical device.
化Si 3 N 4 を用いることを特徴とする請求項1記載の光デ
バイスの製造方法。 2. The method according to claim 2, wherein said second layer is formed of thermally oxidized SiO 2 or thermally nitrided.
2. The optical device according to claim 1 , wherein the nitrided Si 3 N 4 is used.
Vice manufacturing method.
mの間であることを特徴とする請求1又は2記載の光デ
バイスの製造方法。 3. The method according to claim 1, wherein said second layer has a thickness of 100 nm to 1 μm.
m.
Vice manufacturing method.
マスクの形にパターン化する前記工程を、ウェットエッ
チング工程、ドライエッチング工程の順序にて行うこと
を特徴とする請求項1記載の光デバイスの製造方法。 4. The method according to claim 1, wherein the second layer is used for forming a groove in a substrate.
The step of patterning in the form of a mask is performed by wet etching.
Performing in the order of the ching process and the dry etching process
The method for manufacturing an optical device according to claim 1, wherein:
かつ、前記光導波路が石英系ガラスからなり、前記第2
の層を基板の溝形成エッチング用マスクの形にパターン
形成する前記工程がドライエッチング工程を含み、前記
基板に設ける溝を、前記基板の異方性エッチングによっ
て形成する、ことを特徴とする請求項1記載の光デバイ
スの製造方法。5. The method according to claim 1, wherein the substrate is a (100) Si substrate,
The optical waveguide is made of quartz glass, and the second
Wherein the step of patterning the layer in the form of a mask for forming a groove on a substrate includes a dry etching step, wherein the groove provided in the substrate is formed by anisotropic etching of the substrate. 2. The method for manufacturing an optical device according to 1 .
配線としてパターン形成されてなることを特徴とする請
求項1記載の光デバイスの製造方法。 6. The method according to claim 1, wherein the first layer is made of a conductive member.
A wiring pattern formed as wiring
The method for manufacturing an optical device according to claim 1 .
xSi1-x(x=0〜1)の少なくとも一を含むことを特
徴とする請求項1記載の光デバイスの製造方法。7. The method according to claim 1, wherein the first layer comprises Cr, Au, W, and W.
2. The method for manufacturing an optical device according to claim 1, comprising at least one of xSi1 -x (x = 0 to 1).
板上の光素子及び光ファイバが光学的に結合するように
配置される光デバイスの実装構造において、 前記基板上に形成され、該基板の溝形成エッチングに用
いるエッチャントに対する耐久性を有する材料からな
り、膜厚が100nmから1μmである第2の層と、 前記第2の層の上に形成され、ドライエッチングに対す
る耐久性を有する材料からなる第1の層と、 前記第1の層より上に形成された光導波路を備え、 前記第1の層及び前記第2の層は前記基板の溝形成のた
めのエッチング用マスクの形状にパターン形成され、パ
ターン形成された前記第2の層をマスクとして前記基板
をエッチングすることにより形成してなる溝を備え、 前記基板上に形成された前記光導波路が、前記基板上に
設けた前記溝に実装された前記光ファイバの光軸と位置
合わせされて光学的に結合してなることを特徴とする光
デバイスの実装構造。 8. An optical waveguide circuit is formed on a substrate, and
So that the optical elements and optical fibers on the plate are optically coupled
In the mounting structure of an optical device to be arranged, the optical device is formed on the substrate and used for etching for forming a groove in the substrate.
Materials that are resistant to
A second layer having a thickness of 100 nm to 1 μm and a second layer formed on the second layer,
A first layer made of a material having high durability and an optical waveguide formed above the first layer , wherein the first layer and the second layer are formed on a groove of the substrate.
Pattern in the shape of an etching mask for
The substrate using the second layer formed as a mask as a mask
A groove formed by etching, the optical waveguide formed on the substrate,
Optical axis and position of the optical fiber mounted in the provided groove
Light characterized by being combined and optically coupled
Device mounting structure.
の層が導電部材からなり、前記第1の層が所望の電気配Layer is made of a conductive member, and the first layer is
線にパターン形成されてなることを特徴とする請求項89. A pattern formed on a line.
記載の光デバイスの実装構造。The mounting structure of the described optical device.
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