JP2743847B2 - Optical fiber mounted optical waveguide circuit and method of manufacturing the same - Google Patents

Optical fiber mounted optical waveguide circuit and method of manufacturing the same

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JP2743847B2
JP2743847B2 JP6278611A JP27861194A JP2743847B2 JP 2743847 B2 JP2743847 B2 JP 2743847B2 JP 6278611 A JP6278611 A JP 6278611A JP 27861194 A JP27861194 A JP 27861194A JP 2743847 B2 JP2743847 B2 JP 2743847B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、光通信において必要と
される光導波路と光ファイバの高精度無調整結合のため
の光ファイバ実装型光導波路回路及びその製造方法に関
する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical fiber-mounted optical waveguide circuit for high-precision, unadjustable coupling between an optical waveguide and an optical fiber required for optical communication, and a method of manufacturing the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】光導波路と光ファイバとの光軸無調整接
続の方法として、従来、Si(シリコン)にV溝を設け
た光ファイバ用ガイドによる方法がある。
2. Description of the Related Art Conventionally, as a method of connecting an optical waveguide and an optical fiber without adjusting the optical axis, there is a method using an optical fiber guide provided with a V-groove in Si (silicon).

【0003】Si基板に石英ガラス系光導波路が形成さ
れている回路において、光導波路と光ファイバの高効率
接続を可能とするものとして、例えば特公昭63-25644号
公報には、Si基板上の溝を形成する位置と光導波路を
形成する位置の位置合わせの調整の誤差を小さくする方
法として、石英ガラス系光導波路上に光導波路回路パタ
ーン化と同時に光ファイバ位置合わせ用ガイド用のパタ
ーン、及びリッジ型光導波路パターンを形成し、石英系
光導波路層パターンをマスクにしてSi基板を適当な深
さにエッチングして、光ファイバ用ガイドとするファイ
バ・ガイド付光回路およびその製造方法が提案されてい
る。
In a circuit in which a quartz glass optical waveguide is formed on a Si substrate, for example, Japanese Patent Publication No. Sho 63-25644 discloses that a high efficiency connection between an optical waveguide and an optical fiber can be achieved. As a method of reducing the alignment error between the position where the groove is formed and the position where the optical waveguide is formed, a pattern for an optical fiber alignment guide at the same time as the optical waveguide circuit patterning on the silica glass based optical waveguide, and A ridge-type optical waveguide pattern is formed, a Si-based substrate is etched to an appropriate depth using a quartz-based optical waveguide layer pattern as a mask, and an optical circuit with a fiber guide as an optical fiber guide and a method of manufacturing the same are proposed. ing.

【0004】この従来の技術においては、光導波路層の
ドライエッチングによる導波路パターン幅の減少を正確
に制御すれば、光導波路と光ファイバの光軸の基板面内
方向の位置ずれをフォトリソグラフィ露光用マスクの描
画精度程度に抑えることができる。
In this prior art, if the reduction of the waveguide pattern width due to the dry etching of the optical waveguide layer is accurately controlled, the displacement of the optical axis of the optical waveguide and the optical fiber in the in-plane direction of the substrate can be corrected by photolithography. Can be suppressed to about the drawing accuracy of the mask for use.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】図17に示すように、
前記特公昭63-25644号公報に開示された従来のファイバ
・ガイド付光回路及びその製造方法(「従来例」とい
う)では、光導波路コア3f用及び光ファイバガイド2
用のパターンを同時に形成することができる。
As shown in FIG.
In the conventional optical circuit with a fiber guide and the method of manufacturing the same (referred to as "conventional example") disclosed in Japanese Patent Publication No. 63-25644, the optical fiber core 2f and the optical fiber guide 2 are used.
Patterns can be formed at the same time.

【0006】さらに、前記従来例においては、光ファイ
バ高さ調整のためのSiエッチング用のマスクも兼ねる
光ファイバガイド2が、光導波路3の端面形成時に、同
時に形成できるという利点がある。
Further, in the above-mentioned conventional example, there is an advantage that the optical fiber guide 2 also serving as a mask for Si etching for adjusting the height of the optical fiber can be formed at the same time when the end face of the optical waveguide 3 is formed.

【0007】しかしながら、前記従来例では、光導波路
コア3fの側面が低屈折率材料のクラッドによって埋め
込まれていず、空気と直に接する構造とされている。一
般に、空気の光導波路コアに対する屈折率差は、クラッ
ド用低屈折率材料のコアに対する屈折率差に比べて遥か
に大きい。
However, in the conventional example, the side surface of the optical waveguide core 3f is not embedded by the cladding of the low refractive index material, and has a structure in which it is in direct contact with air. In general, the refractive index difference of air with respect to the core of the optical waveguide is much larger than the refractive index difference of the core of the low refractive index material for cladding.

【0008】このため、光導波路機能デバイスの構成に
有利な単一モード光導波路を作製する場合、低屈折率材
料クラッドでコアを完全に埋め込んでいない前記従来例
の構成では、コアを低屈折率材料クラッドに埋め込んで
いる場合に比べて、コアの断面寸法を非常に小さくしな
くてはならない。
For this reason, when manufacturing a single-mode optical waveguide advantageous for the configuration of the optical waveguide functional device, in the conventional configuration in which the core is not completely buried with the low-refractive-index material cladding, the core has a low refractive index. The cross-sectional dimensions of the core must be much smaller than when embedded in the material cladding.

【0009】この場合、スポットサイズの違いやビーム
モードプロファイルの非対称性等といったモードフィー
ルドのミスマッチ(不整合)等が原因して、コアを低屈
折率材料クラッドで完全に埋め込んだ場合に比べて、単
一モード光ファイバと高効率に結合させることが困難に
なる。
In this case, due to a mismatch (mismatch) in the mode field such as a difference in spot size and asymmetry of the beam mode profile, the core is completely buried with the low refractive index material clad. It becomes difficult to couple with a single mode optical fiber with high efficiency.

【0010】また、光導波路コア側面が屈折率差の大き
な空気と接することにより、導波光が光導波路コア側面
の表面形状粗さによる散乱の影響を受けやすくなり、損
失が増大する。
Further, when the side surface of the optical waveguide core comes into contact with air having a large refractive index difference, the guided light is easily affected by scattering due to the surface shape roughness of the side surface of the optical waveguide core, and the loss increases.

【0011】さらに、前記従来例においては、光ファイ
バの支持として、基板面内方向(水平方向)には、ドラ
イエッチングにより形成された石英系光導波路層からな
る光ファイバガイド2の側面のみとされており、また基
板面垂直方向(高さ方向)には、Si基板に異方性エッ
チングにより形成された溝すなわちSi(100)面1aの
みによって支持されている。
Furthermore, in the conventional example, only the side surface of the optical fiber guide 2 made of a silica-based optical waveguide layer formed by dry etching is provided in the substrate surface direction (horizontal direction) to support the optical fiber. In the direction perpendicular to the substrate surface (height direction), it is supported only by grooves formed on the Si substrate by anisotropic etching, that is, the Si (100) surface 1a.

【0012】しかしながら、前記従来例においては、こ
のような支持により、光ファイバの光軸の位置決めがな
されるため、下記に記載するような各種問題点がある。
However, in the conventional example, since the optical axis of the optical fiber is positioned by such support, there are various problems as described below.

【0013】ドライエッチングによって形成された石英
系材料からなる光ファイバガイドのパターンの幅は、エ
ッチングが深い場合には、元々のエッチング用マスクの
パターン幅に対して大きく減少する。このことが原因し
て、光ファイバを挟む二つの光ファイバガイド2の間の
幅は設計値に対して大きく拡がる。このため、上記光フ
ァイバガイドを形成しようとする場合、この拡がりをあ
らかじめ想定した補償を含めて設計を行う必要がある。
When the etching is deep, the width of the pattern of the optical fiber guide made of a quartz-based material formed by dry etching is greatly reduced with respect to the original pattern width of the etching mask. Due to this, the width between the two optical fiber guides 2 sandwiching the optical fiber greatly increases with respect to the design value. For this reason, when the optical fiber guide is to be formed, it is necessary to design the optical fiber guide including compensation in which this spread is assumed in advance.

【0014】しかしながら、実際のエッチングでは誤差
があるため、補償を考慮した設計値よりも実際の光ファ
イバガイド幅が広くなると、光ファイバは基板面内方向
に対して固定支持されていない状態になり、光軸ずれが
生じる。
However, since there is an error in the actual etching, if the actual optical fiber guide width becomes wider than the design value in consideration of the compensation, the optical fiber is not fixedly supported in the in-plane direction of the substrate. , An optical axis shift occurs.

【0015】また逆に、補償を考慮した設計値よりも実
際の光ファイバガイド幅が狭くなると、光ファイバを光
ファイバガイドの間に挟み込めなくなるという問題を生
じる。
Conversely, if the actual width of the optical fiber guide is smaller than the design value in consideration of the compensation, there is a problem that the optical fiber cannot be sandwiched between the optical fiber guides.

【0016】さらに、光ファイバは、Siエッチングに
より形成されるSi(100)面1aに接して支持されるた
め、基板垂直方向の光ファイバ光軸位置の調整に関して
は、Siのエッチング深さの調整により行わなくてはな
らない。
Further, since the optical fiber is supported in contact with the Si (100) surface 1a formed by the Si etching, the adjustment of the optical axis position of the optical fiber in the direction perpendicular to the substrate requires the adjustment of the etching depth of Si. Must be done by

【0017】従って、Siエッチング深さの設定値から
のずれがそのまま光ファイバ光軸の位置ずれとなる。
Therefore, the deviation from the set value of the Si etching depth directly becomes the positional deviation of the optical axis of the optical fiber.

【0018】本発明は、このような問題点に鑑みてなさ
れたものであって、本発明の目的は、コアがクラッドに
よって埋め込まれた光導波路に光ファイバを無調整で高
効率に結合する光ファイバ実装型光導波路回路及びその
製造方法を提供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to provide a light-emitting device that couples an optical fiber to an optical waveguide in which a core is embedded by a cladding without adjustment and with high efficiency. An object of the present invention is to provide a fiber-mounted optical waveguide circuit and a method for manufacturing the same.

【0019】[0019]

【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、本発明は、Si基板上に光導波路と光ファイバを実
装するためのSiのV溝が形成されている光ファイバ実
装型光導波路回路の製造方法において、(a) Siの平
面基板上へ光導波路コア層堆積した後に光導波路コア
パターンとSiのV溝形成用マスクパターンを同時にパ
ターン化をする工程と、(a-1) 前記光導波路コア層ま
でをエッチングする工程と、(b) 前記V溝形成用マス
クパターンの部分のマスクは残して光導波路コアパター
ンの部分のみのマスクを除去する工程と、(c) 光導波
路コアの上面と側面を前記光導波路コアより屈折率の低
い材料で埋め込む工程と、(d) エッチングにより光導
波路端面の形成とSiのV溝形成用マスクとなる光導波
路層からなるブロックの形成を同時に行う工程と、(e)
前記ブロックをマスクに用いてSiの異方性エッチン
グをする工程と、を有することを特徴の一つとしてい
る。
In order to achieve the above object, the present invention provides an optical fiber-mounted optical waveguide circuit in which an optical waveguide and an Si V-groove for mounting an optical fiber are formed on a Si substrate. Rights of the manufacturing process, the (a) Si
A step of simultaneously patterning the V groove forming mask pattern of the optical waveguide core pattern and Si after depositing the optical waveguide core layer on a surface substrate, etching the to (a-1) the optical waveguide core layer (B) removing the mask of only the portion of the optical waveguide core pattern while leaving the mask of the portion of the V-groove forming mask pattern; and (c) refracting the upper surface and side surfaces of the optical waveguide core from the optical waveguide core. (E) a step of simultaneously forming an optical waveguide end face by etching and forming a block of an optical waveguide layer serving as a mask for forming a Si V-groove, and (e)
And an anisotropic etching of Si using the block as a mask.

【0020】本発明においては、光ファイバ支持用V溝
の形成精度を高くする目的で、好ましくは、SiのV溝
形成用マスクとなる光導波路層からなるブロックと前記
Si基板の間に、SiのV溝形成エッチング液にエッチ
ングされにくい材料からなり、且つSiのV溝マスクパ
ターンの形に形成されている層が挿まれており、該層を
SiのV溝形成の際のマスクとして用いるようにしても
よい。
In the present invention, in order to increase the precision of forming the V-groove for supporting the optical fiber, preferably, a Si-substrate is provided between the block composed of the optical waveguide layer serving as a mask for forming the V-groove of Si and the Si substrate. A layer made of a material that is difficult to be etched by the V-groove forming etchant and formed in the form of a Si V-groove mask pattern is inserted, and this layer is used as a mask when forming the Si V-groove. It may be.

【0021】また、本発明においては、好ましくは、前
記ブロックとSi基板の間に挿入される層がWSiから
成ることを特徴とする。
Further, in the present invention, preferably, the layer inserted between the block and the Si substrate is made of WSi.

【0022】さらに、本発明においては、好ましくは、
前記工程(a)の後に、前記光導波路コア層までをエッチ
ングする工程を含むように構成される。
Further, in the present invention, preferably,
After the step (a), a step of etching up to the optical waveguide core layer is included.

【0023】そして、本発明に係る光ファイバ実装型光
導波路回路の製造方法においては、Si基板上に光導波
路と光ファイバを実装するためのSiのV溝が形成され
ている光ファイバ実装型光導波路回路の製造方法におい
て、(a)光導波路コア層の堆積後に光導波路コアパター
ンとSiのV溝形成用マスクパターンを同時にパターン
化をする工程と、(b)前記V溝形成用マスクパターンの
部分のマスクは残して光導波路コアパターンの部分のみ
のマスクを除去する工程と、(c)前記Si基板のV溝形
成部から光導波路コアの端面に至るまでの領域をカバー
マスクで覆う工程と、(d)前記カバーマスク及び光導波
路領域上に上層クラッド層を成膜し前記光導波路コアを
前記上層クラッド層にて埋め込む工程と、(e)前記カバ
ーマスクを除去し前記SiのV溝形成部の上部に位置す
る前記上層クラッド層を除去する工程と、(f)前記光導
波路コアの上方と側方の前記上層クラッド層を覆うよう
に、光導波路端面形成ドライエッチング用マスクを形成
する工程と、(g)光導波路端面形成と前記SiのV溝形
成用マスクの形成を同時に行う工程と、(h)前記Si基
板にV溝を異方性エッチングによって形成する工程と、
を含むようにしてもよい。
In the method of manufacturing an optical fiber-mounted optical waveguide circuit according to the present invention, an optical fiber-mounted optical waveguide having an Si waveguide and a V-shaped groove for mounting the optical fiber on a Si substrate. In the method of manufacturing a waveguide circuit, (a) a step of simultaneously patterning an optical waveguide core pattern and a mask pattern for forming a V-groove of Si after deposition of an optical waveguide core layer; and (b) a step of forming the mask pattern for forming the V-groove. Removing the mask of only the portion of the optical waveguide core pattern while leaving the partial mask; and (c) covering the region from the V-groove forming portion of the Si substrate to the end surface of the optical waveguide core with a cover mask. (D) forming an upper cladding layer on the cover mask and the optical waveguide region and embedding the optical waveguide core in the upper cladding layer; and (e) removing the cover mask and removing the Si. Removing the upper cladding layer located above the groove forming portion, and (f) forming an optical waveguide end face forming dry etching mask so as to cover the upper cladding layer above and on the side of the optical waveguide core. (G) simultaneously forming the optical waveguide end face and forming the Si V-groove forming mask; and (h) forming a V-groove in the Si substrate by anisotropic etching.
May be included.

【0024】本発明においては、好ましくは、前記Si
基板に前記V溝よりも深い切断溝を設けて光導波路コア
の端面を整形することを特徴とする。
In the present invention, preferably, the Si
A cutting groove deeper than the V-groove is provided on the substrate to shape an end face of the optical waveguide core.

【0025】本発明は、別の視点において、Si基板上
に光導波路コアを含む光導波路を備え、前記Si基板に
光ファイバを実装するためのSiのV溝を備え、前記光
導波路コアと前記SiのV溝のパターンとが同一のマス
クを用いて形成されて成る光ファイバ実装型光導波路回
路であって、前記光ファイバ実装時に、前記光ファイバ
が前記SiのV溝の側面(111)面に当接して支持される
ことを特徴とする光ファイバ実装型光導波路回路を提供
する。
According to another aspect of the present invention, an optical waveguide including an optical waveguide core is provided on a Si substrate, and a Si V-groove for mounting an optical fiber on the Si substrate is provided. An optical fiber-mounted optical waveguide circuit, wherein a pattern of a Si V-groove is formed using the same mask, wherein the optical fiber is mounted on the side surface (111) of the Si V-groove at the time of mounting the optical fiber. The present invention provides an optical fiber-mounted optical waveguide circuit characterized in that it is supported in contact with the optical fiber.

【0026】本発明に係る光ファイバ実装型光導波路回
路においては、好ましくは、前記光導波路コアが該コア
よりも低屈折率のクラッドにより覆われていることを特
徴とする。
In the optical fiber mounted optical waveguide circuit according to the present invention, preferably, the optical waveguide core is covered with a clad having a lower refractive index than the core.

【0027】また、本発明に係る光ファイバ実装型光導
波路回路においては、前記Si基板に前記V溝よりも深
い切断溝を設けたことを特徴とする。
Further, in the optical fiber package type optical waveguide circuit according to the present invention, a cut groove deeper than the V groove is provided in the Si substrate.

【0028】[0028]

【作用】本発明によれば、光導波路コアパターン及び光
ファイバ用のSiのV溝形成用マスクのパターンをフォ
トリソグラフィにおける同一光露光用マスクを用いて同
時に形成し、更に、光導波路端面形成時にSiのV溝形
成のための異方性エッチング用マスクも同時形成する。
According to the present invention, the core pattern of the optical waveguide and the pattern of the mask for forming the Si V-groove for the optical fiber are simultaneously formed using the same light exposure mask in photolithography. An anisotropic etching mask for forming a Si V-groove is also formed at the same time.

【0029】このことにより、前記従来例のように、光
導波路コアパターンと光ファイバ無調整実装用SiのV
溝形成用マスクのパターンの位置合わせを行う必要がな
くなる。
As a result, as in the above-described conventional example, the optical waveguide core pattern and the V
There is no need to align the pattern of the groove forming mask.

【0030】このため、本発明によれば、SiのV溝(1
11)面で支持される光ファイバと光導波路コアのそれぞ
れの光軸の基板面内方向の位置精度をフォトリソグラフ
ィのマスクパターンの描画精度と同程度にまで著しく向
上することができる。
Therefore, according to the present invention, the Si V-groove (1
11) The positional accuracy of the optical axes of the optical fiber and the optical waveguide core supported by the surface in the in-plane direction of the substrate can be remarkably improved to the same level as the drawing accuracy of the mask pattern in photolithography.

【0031】また、石英系材料から構成されるSiのV
溝形成用マスクを光導波路層のドライエッチングにより
形成すると、このV溝形成用マスクの間の幅は設計値よ
りも拡がるため、この拡がりをあらかじめ想定した補償
を含めて設計を行う必要がある。しかし、本発明によれ
ば、光ファイバをSiのV溝の(111)面で支持するため
に、上記補償設計に対して、実際のエッチングにおける
誤差により、V溝形成用マスクの間の幅が拡がったとし
ても、基板面内方向に対して光ファイバは固定支持され
る。
In addition, V of Si composed of a quartz-based material
When the groove forming mask is formed by dry etching of the optical waveguide layer, the width between the V-groove forming masks is larger than a designed value, and therefore it is necessary to design the V-groove including compensation in advance. However, according to the present invention, since the optical fiber is supported by the (111) plane of the Si V-groove, the width between the V-groove forming masks is reduced due to an error in the actual etching with respect to the compensation design. Even if it spreads, the optical fiber is fixed and supported in the in-plane direction of the substrate.

【0032】更に、Siのエッチング深さの設計値に対
する誤差によって光ファイバ光軸の基板垂直方向の位置
は変動するが、(111)面のエッチング速度は(100)面に比
べて非常に小さい。このため、本発明においては、この
(111)面で接することによって光ファイバの支持をする
ものであるため、光ファイバ光軸の基板垂直方向の位置
決めはSiのエッチング深さの誤差の影響を受けにくく
なる。
Further, the position of the optical axis of the optical fiber in the direction perpendicular to the substrate varies due to an error with respect to the design value of the etching depth of Si, but the etching rate of the (111) plane is much smaller than that of the (100) plane. Therefore, in the present invention,
Since the optical fiber is supported by being in contact with the (111) plane, the positioning of the optical fiber optical axis in the direction perpendicular to the substrate is less likely to be affected by errors in the etching depth of Si.

【0033】以上の作用によって、本発明は、従来の方
法に比べて、基板面内方向及び基板垂直方向ともに光導
波路と光ファイバの光軸の位置精度を向上させるもので
ある。
By the above operation, the present invention improves the positional accuracy of the optical axes of the optical waveguide and the optical fiber both in the in-plane direction and in the direction perpendicular to the substrate, as compared with the conventional method.

【0034】また、本発明によれば、上層クラッド層堆
積前の工程であるコア層形成の後に、光導波路コア及び
SiのV溝形成用マスクパターンを同時形成してから光
導波路コア層のみをエッチング加工し、さらにクラッド
層を堆積するために、光導波路コアを低屈折率材料クラ
ッドによって完全に埋め込むことができる。
According to the present invention, after forming the core layer, which is a step before depositing the upper clad layer, the optical waveguide core and the mask pattern for forming the V-groove of Si are simultaneously formed, and then only the optical waveguide core layer is formed. The optical waveguide core can be completely embedded with a low refractive index material cladding for etching and further depositing a cladding layer.

【0035】これによって、本発明によれば、光導波路
コアが上下面及び側面を空気ではなくコアよりわずかに
低屈折率であるクラッドに接することになる。このた
め、スポットサイズやビームモードプロファイルが単一
モード光ファイバのそれに近い単一モードの光導波路を
容易に構成できる。
Thus, according to the present invention, the upper and lower surfaces and the side surfaces of the optical waveguide core are in contact with not the air but the clad having a slightly lower refractive index than the core. Therefore, a single mode optical waveguide having a spot size and a beam mode profile close to that of a single mode optical fiber can be easily formed.

【0036】従って、本発明においては、光導波路と単
一モード光ファイバとを高効率に結合させることができ
る。また、コア側面の表面形状粗さによる散乱損失もコ
ア側面が空気に接している場合より少なくなる。
Therefore, in the present invention, the optical waveguide and the single mode optical fiber can be coupled with high efficiency. Further, scattering loss due to the surface shape roughness of the core side surface is also smaller than when the core side surface is in contact with air.

【0037】[0037]

【実施例】図面を参照して、本発明の実施例を以下に説
明する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0038】[0038]

【実施例1】図1は本発明の一実施例に係る光ファイバ
実装型光導波路回路の光ファイバ実装前の構造を示す斜
視図である。
Embodiment 1 FIG. 1 is a perspective view showing a structure of an optical fiber mounted optical waveguide circuit according to an embodiment of the present invention before mounting the optical fiber.

【0039】図1を参照して、光導波路コアパターンと
SiのV溝形成用マスクパターンのパターン化を同時に
行なうことによって、基板方向から見て、図1の2つの
V溝部ドライエッチング用マスク4aの線対称軸は、光
導波路コアパターンの中心線と重なるように位置合わせ
して形成されている。
Referring to FIG. 1, by simultaneously patterning the optical waveguide core pattern and the Si V-groove forming mask pattern, the two V-groove portion dry etching masks 4a of FIG. 1 are viewed from the substrate direction. Are formed so as to be aligned with the center line of the optical waveguide core pattern.

【0040】SiのV溝形成用マスク7は、V溝部ドラ
イエッチング用マスク4aをマスクとして用い、光導波
路部の端面13aは光導波路端面形成ドライエッチング用
マスク4bをマスクとして用いて、ドライエッチングに
より同時に形成される。
The Si V-groove forming mask 7 is formed by dry etching using the V-groove dry etching mask 4a as a mask and the optical waveguide end face 13a using the optical waveguide end face dry etching mask 4b as a mask. Formed at the same time.

【0041】SiのV溝形成用マスク7は、コア層3
b、下層クラッド層3dと、V溝部ドライエッチング用
マスク4aと、から構成されている。
The Si V-groove forming mask 7 is
b, a lower cladding layer 3d and a V-groove dry etching mask 4a.

【0042】図中3gはクラッド層を示し、下層クラッ
ド層3dと上層クラッド層3eとからなる。
In the figure, reference numeral 3g denotes a cladding layer, which comprises a lower cladding layer 3d and an upper cladding layer 3e.

【0043】光導波路コア3fの断面寸法は、例えば5
×5μm程度とされ、コアよりわずかに低屈折率(光導
波路コアのクラッドに対する比屈折率差が例えば0.5
%)であるクラッド層3gに周囲が接している。
The sectional size of the optical waveguide core 3f is, for example, 5
× 5 μm and a refractive index slightly lower than the core (the relative refractive index difference of the optical waveguide core with respect to the cladding is, for example, 0.5
%) Is in contact with the cladding layer 3g.

【0044】本実施例においては、このような構成によ
り、スポットサイズやビームモードプロファイルが単一
モード光ファイバのそれに近い単一モードの光導波路を
容易に構成できる。
In this embodiment, a single-mode optical waveguide having a spot size and a beam mode profile close to those of a single-mode optical fiber can be easily formed by such a configuration.

【0045】このため、空気とコア側面が直接接する場
合に比べて、光導波路と単一モード光ファイバとを高効
率に結合させることができる。また、光導波路コア3f
の側面の表面形状粗さによる散乱損失も光導波路コア側
面が空気に接している場合より少なくなる。
Therefore, the optical waveguide and the single-mode optical fiber can be more efficiently coupled as compared with the case where the air and the side surface of the core are in direct contact. The optical waveguide core 3f
The scattering loss due to the surface shape roughness of the side surface of the optical waveguide is also smaller than when the optical waveguide core side surface is in contact with air.

【0046】図2は、光ファイバ実装型光導波路回路の
実施例において、光ファイバ6がSiのV溝5へ実装さ
れた構造を示している。すなわち図2は、図1の光ファ
イバ実装型光導波路回路におけるSiのV溝5に光ファ
イバを実装して、光ファイバの光軸方向に垂直に切った
断面図に相当し、図1の矢線A方向からみたX−X´線
の断面図である。
FIG. 2 shows a structure in which the optical fiber 6 is mounted in the Si V-groove 5 in the embodiment of the optical fiber mounted optical waveguide circuit. That is, FIG. 2 corresponds to a cross-sectional view of the optical fiber-mounted optical waveguide circuit of FIG. 1 in which the optical fiber is mounted in the V-groove 5 of Si and cut perpendicular to the optical axis direction of the optical fiber. It is sectional drawing of the XX 'line seen from the line A direction.

【0047】図2を参照して、V溝部ドライエッチング
用マスク4aによってエッチング加工形成した石英系ガ
ラスの光導波路層からなるブロックは、光ファイバ固定
用ガイドとしてではなく、光ファイバ無調整固定実装用
のSiのV溝5をエッチングによって形成するためのマ
スクとして用いられている。
Referring to FIG. 2, a block made of an optical waveguide layer of silica glass etched and formed by a V-groove dry etching mask 4a is not used as an optical fiber fixing guide but for an optical fiber non-adjustment fixed mounting. Is used as a mask for forming the Si V-groove 5 by etching.

【0048】図2に示すように、光ファイバ6はV溝の
Si(111)面1bによって支持されている。
As shown in FIG. 2, the optical fiber 6 is supported by the V-groove Si (111) surface 1b.

【0049】図3〜図9は、図1の実施例の光ファイバ
実装型光導波路回路の製造方法の一実施例の工程を示す
図である。
FIGS. 3 to 9 are views showing the steps of an embodiment of a method of manufacturing the optical fiber-mounted optical waveguide circuit of the embodiment of FIG.

【0050】図3を参照して、光導波路コアパターン9
とSiのV溝形成用マスクパターン8のそれぞれの形状
にパターン化されたマスク(光導波路コア形成ドライエ
ッチング用マスク4cとV溝部ドライエッチング用マス
ク4a)がコア層(「光導波路コア層」ともいう)3b
の上に一括形成される。
Referring to FIG. 3, optical waveguide core pattern 9
And the V-groove forming mask pattern 8 of Si and the mask (optical waveguide core forming dry etching mask 4c and V-groove dry etching mask 4a) patterned into the respective shapes of the V-groove forming mask pattern 8 are the core layer (also referred to as the “optical waveguide core layer”) Say) 3b
Are formed all at once.

【0051】このため、2つのSiのV溝形成用マスク
パターン8の線対称軸と光導波路コアパターン9の中心
線は完全に重なっている。
Therefore, the axis of symmetry of the two V-groove forming mask patterns 8 of Si and the center line of the optical waveguide core pattern 9 completely overlap.

【0052】より詳細には、図3を参照して、まず、(1
00)面方位のSi基板1上に、例えばP、Bを含んだ石
英ガラスからなる下層クラッド層3d(厚さは例えば10
μm)をCVD法や火炎堆積法等により成膜し(工程
2)、下層クラッド層3dの上に例えばP、B、Geを
含んだ石英ガラスからなるコア層3b(厚さは例えば5
μm)をCVD法や火炎堆積法等により成膜する(工程
3)。
More specifically, referring to FIG. 3, first, (1
00) A lower cladding layer 3d made of, for example, quartz glass containing P and B (having a thickness of, for example, 10
μm) is formed by a CVD method, a flame deposition method, or the like (Step 2), and a core layer 3b (for example, having a thickness of 5 μm) made of quartz glass containing P, B, and Ge is formed on the lower cladding layer 3d.
μm) is formed by a CVD method, a flame deposition method, or the like (Step 3).

【0053】次に、コア層3b上に例えばCr等の層を
スパッタ法または蒸着等により成膜する(工程4)。
Next, a layer of, for example, Cr or the like is formed on the core layer 3b by sputtering or vapor deposition (step 4).

【0054】その後、フォトレジストを塗布し(工程
5)、レーザ描画やフォトリソグラフィ等による方法を
用いて、光導波路コア形成ドライエッチング用マスク4
cとV溝部ドライエッチング用マスク4aを一括して形
成する(工程6)。
Thereafter, a photoresist is applied (step 5), and a dry etching mask 4 for forming an optical waveguide core is formed using a method such as laser drawing or photolithography.
The c and V-groove dry etching masks 4a are collectively formed (step 6).

【0055】この場合、前記工程6で形成されるマスク
は、例えばCr層とその上層のフォトレジスト層とから
なる。このマスクは、フォトリソグラフィ等による方法
によってフォトレジストを所望の形にパターン化した後
に、該パターンを用いて、フォトレジストの下のCr層
をCrエッチング液によりパターン化することにより形
成することができる。
In this case, the mask formed in the step 6 includes, for example, a Cr layer and a photoresist layer thereover. This mask can be formed by patterning a photoresist into a desired shape by a method such as photolithography, and then patterning a Cr layer under the photoresist with a Cr etching solution using the pattern. .

【0056】図4を参照して、CF系ガス等による反応
性イオンドライエッチング等により光導波路のコア層3
bがエッチングされる(工程7)。
Referring to FIG. 4, core layer 3 of the optical waveguide is formed by reactive ion dry etching or the like using a CF-based gas or the like.
b is etched (step 7).

【0057】この結果、前記の光導波路コア形成ドライ
エッチング用マスク4cの下には光導波路コア3fが形
成され、またV溝部ドライエッチング用マスク4aの下
のコア層3bもSiのV溝形成用マスクパターン8の形
に同時にエッチング加工される。
As a result, the optical waveguide core 3f is formed under the dry etching mask 4c for forming the optical waveguide core, and the core layer 3b under the V-groove dry etching mask 4a is also used for forming the Si V-groove. Etching is performed simultaneously in the shape of the mask pattern 8.

【0058】次に、前記工程7のドライエッチングに用
いたマスクのうち、V溝部ドライエッチング用マスク4
aはそのまま残して、光導波路コア形成ドライエッチン
グ用マスク4cを除去する(工程8)。
Next, among the masks used for the dry etching in the step 7, the V-groove dry etching mask 4
The mask 4c for dry etching for forming the optical waveguide core is removed while leaving a as it is (Step 8).

【0059】その後、例えばP、Bを含んだ石英ガラス
からなる上層クラッド層3e(例えば10μm)をCVD
法や火炎堆積法等により成膜する(工程9)。
Thereafter, the upper cladding layer 3e (for example, 10 μm) made of, for example, quartz glass containing P and B is subjected to CVD.
A film is formed by a method or a flame deposition method (Step 9).

【0060】この結果、図5に示すように、光導波路コ
ア3fはコアよりわずかに屈折率の低いクラッド材によ
って埋め込まれる。
As a result, as shown in FIG. 5, the optical waveguide core 3f is embedded with a cladding material having a slightly lower refractive index than the core.

【0061】図5〜図7はいずれもこの様子を説明する
図である。図5は斜視図、図6は図5の矢線A方向から
みた断面を示す図であり、図7は図5の矢線B方向から
みた断面を示す図である。
FIGS. 5 to 7 are diagrams for explaining this state. 5 is a perspective view, FIG. 6 is a view showing a cross section as viewed from the direction of arrow A in FIG. 5, and FIG. 7 is a view showing a cross section as viewed from the direction of arrow B in FIG.

【0062】次に、図8を参照して、工程9の後、光導
波路コア3fの上方に接する上層クラッド層3i及び光
導波路コア3fの側方の上層クラッド層3jを覆うよう
にして、図に示すような位置に、光導波路端面形成ドラ
イエッチング用マスク4bを設ける(工程10)。
Next, referring to FIG. 8, after step 9, the upper clad layer 3i in contact with the upper part of the optical waveguide core 3f and the upper clad layer 3j on the side of the optical waveguide core 3f are covered. An optical waveguide end face forming dry etching mask 4b is provided at a position as shown in FIG.

【0063】光導波路端面形成ドライエッチング用マス
ク4bの形成には、前記工程4、5、6と同様の手法を
用いる。
The same method as in the above-described steps 4, 5, and 6 is used for forming the dry etching mask 4b for forming the end face of the optical waveguide.

【0064】また、このマスクの形成位置はあまり高精
度である必要はない。すなわち、マスクの境界線が目的
とする光導波路コアの端面の位置とほぼ重なる程度の精
度で充分である。ただし、次の工程11のエッチングによ
って光導波路コア3fの端面が上層クラッド層3eの外
に露出しなくてはならないため、マスクの境界線をやや
光導波路コア3fの側にずらすようにしてもよい。
The position where the mask is formed does not need to be very precise. That is, it is sufficient that the accuracy is such that the boundary of the mask substantially overlaps the position of the end face of the target optical waveguide core. However, since the end face of the optical waveguide core 3f must be exposed outside the upper clad layer 3e by the etching in the next step 11, the boundary line of the mask may be slightly shifted to the optical waveguide core 3f side. .

【0065】次に、反応性イオンドライエッチング等に
より、前工程10で設けた光導波路端面形成ドライエッチ
ング用マスク4bに覆われていない部分の上層クラッド
層3e及び下層クラッド層3dを除去する(工程11)。
Next, the upper clad layer 3e and the lower clad layer 3d which are not covered with the optical waveguide end face forming dry etching mask 4b provided in the previous step 10 are removed by reactive ion dry etching or the like (step). 11).

【0066】その際、V溝部ドライエッチング用マスク
4aの下のコア層3bと下層クラッド層3dは除去され
ずにそのまま残る。
At this time, the core layer 3b and the lower clad layer 3d under the V-groove dry etching mask 4a remain without being removed.

【0067】この結果、図9に示すように、光導波路の
端面13aが形成されると同時に、2つのSiのV溝形成
用マスク7も光導波路コア3fの位置に対して高精度に
位置決めされた状態(すなわち、光導波路コア3fの中
心軸線が2つのSiのV溝形成用マスク7の鏡映面に含
まれている状態)で形成される。
As a result, as shown in FIG. 9, at the same time as forming the end face 13a of the optical waveguide, the two Si V-groove forming masks 7 are positioned with high precision with respect to the position of the optical waveguide core 3f. (Ie, a state in which the central axis of the optical waveguide core 3f is included in the mirrored surfaces of the two V-groove forming masks 7 of Si).

【0068】この時点で、V溝形成エッチングされるべ
き場所のSi(100)面1aが露出している状態となるた
め、前記したSiのV溝形成用マスク7を用いてKOH
等のエッチング液によるSi基板1の異方性エッチング
を行なう(工程12)。
At this point, since the Si (100) surface 1a at the location where the V-groove is to be etched is exposed, the KOH is formed using the Si V-groove forming mask 7 described above.
Anisotropic etching of the Si substrate 1 is performed using an etching solution such as (Step 12).

【0069】その結果、光導波路コア3fと光軸の基板
面内方向の位置が一致したSiのV溝5が形成され、図
1に示すような光ファイバ実装型光導波路回路が作られ
る。
As a result, a Si V-groove 5 is formed in which the position of the optical axis of the optical waveguide core 3f coincides with the position of the optical axis in the in-plane direction of the substrate, and an optical fiber-mounted optical waveguide circuit as shown in FIG. 1 is produced.

【0070】上記実施例では、工程8において、光導波
路コア3f上の光導波路コア形成ドライエッチング用マ
スク4cを除去しているが、この除去は以下のようにし
て行えばよい。例えば、V溝部ドライエッチング用マス
ク4aの上部分だけを厚膜のレジスト等で覆い、工程4
において、一例としてCrの層を用いた場合には、Cr
エッチャントによってCr層を除去するように行えばよ
い。
In the above embodiment, the mask 4c for dry etching for forming the optical waveguide core on the optical waveguide core 3f is removed in step 8, but this removal may be performed as follows. For example, only the upper portion of the V-groove dry etching mask 4a is covered with a thick-film resist or the like.
In the case where a layer of Cr is used as an example,
What is necessary is just to remove the Cr layer by an etchant.

【0071】また、工程7の反応性イオンドライエッチ
ングに用いたマスクを全て除去してしまうと、SiのV
溝形成用マスク7となるように加工形成されるべき箇所
の石英ガラス系光導波路層(コア層3b、下層クラッド
層3d)までもが、工程11で再び反応性イオンドライエ
ッチングする際に、一緒にエッチングされて無くなって
しまう。そのため、工程8のマスク除去においては、V
溝部ドライエッチング用マスク4aを除去しないで必ず
残しておくことが不可欠とされる。
If all the masks used for the reactive ion dry etching in the step 7 are removed, the V
When the reactive ion dry etching is performed again in step 11, even the quartz glass-based optical waveguide layer (core layer 3b, lower clad layer 3d) at a position to be processed and formed to become the groove forming mask 7 is formed. Will be etched away. Therefore, in the mask removal in step 8, V
It is indispensable that the trench dry etching mask 4a is always left without being removed.

【0072】このようにして形成された光ファイバ実装
型光導波路回路は、図2に示すように、SiのV溝5の
Si(111)面1bにて、光ファイバを支持する。この結
果、Si基板1の面内方向及び基板垂直方向双方とも光
導波路コア3fに対して高精度に光ファイバを無調整で
固定実装することが可能となり、且つ光導波路コア3f
がコアよりわずかに屈折率の低い材料のクラッド3g層
にて埋め込まれた構造とされる。
The optical fiber mounted optical waveguide circuit thus formed supports the optical fiber on the Si (111) surface 1b of the Si V-groove 5, as shown in FIG. As a result, in both the in-plane direction and the substrate vertical direction of the Si substrate 1, the optical fiber can be fixedly mounted on the optical waveguide core 3f with high precision without adjustment, and the optical waveguide core 3f
Is embedded in a clad 3g layer of a material having a slightly lower refractive index than the core.

【0073】[0073]

【実施例2】図10及び図11は、前記第1の実施例と
は部分的に異なる、本発明に係る製造方法の別の実施例
の工程を示す図である。図12は本実施例に係る製造工
程の光ファイバ実装型光導波路回路の構成を示す斜視図
である。
Embodiment 2 FIGS. 10 and 11 are views showing steps of another embodiment of the manufacturing method according to the present invention, which is partially different from the first embodiment. FIG. 12 is a perspective view showing a configuration of an optical fiber-mounted optical waveguide circuit in a manufacturing process according to the present embodiment.

【0074】本実施例においては、前記第1の実施例の
工程8の後に、図10(a)に示すように、SiのV溝
形成部14から光導波路コア3fの端面に至るまでの部分
を厚くカバーマスク10で覆う(工程A)。
In this embodiment, after the step 8 of the first embodiment, as shown in FIG. 10A, a portion from the Si V-groove forming portion 14 to the end face of the optical waveguide core 3f is formed. Is thickly covered with a cover mask 10 (step A).

【0075】図10(b)を参照して、次に上層クラッ
ド層3eを成膜し、光導波路コア3fをこれより僅かに
屈折率の低いクラッド材料によって図に示すような状態
で埋め込む(工程B)。
Referring to FIG. 10B, an upper clad layer 3e is formed next, and the optical waveguide core 3f is buried with a clad material having a slightly lower refractive index as shown in FIG. B).

【0076】図10(c)を参照して、その後、このカ
バーマスク10を除去することによるリフトオフの効果に
よってSiのV溝形成部の上部に位置する上層クラッド
層3eを除去する(工程C)。
Referring to FIG. 10C, the upper clad layer 3e located above the Si V-groove forming portion is removed by a lift-off effect by removing the cover mask 10 (step C). .

【0077】さらに、光導波路コア3fの上方に接する
上層クラッド層3i、及び光導波路コア3fの側方の上
層クラッド層3jを覆うように、図11(d)、図12
に示すように、光導波路端面形成ドライエッチング用マ
スク4bを設ける(工程10´)。
Further, the upper clad layer 3i in contact with the upper part of the optical waveguide core 3f and the upper clad layer 3j on the side of the optical waveguide core 3f are covered by FIGS.
As shown in (1), a dry etching mask 4b for forming an end face of an optical waveguide is provided (Step 10 ').

【0078】そして、図11(e)に示すように、反応
性イオンドライエッチング等により、光導波路端面形成
とSiのV溝形成用マスク7の形成を同時に行い(工程
11´)、最後に、V溝を異方性エッチングによって形成
する(工程12´)。
Then, as shown in FIG. 11E, the formation of the end face of the optical waveguide and the formation of the Si V-groove forming mask 7 are simultaneously performed by reactive ion dry etching or the like (step).
11 ') Finally, a V-groove is formed by anisotropic etching (step 12').

【0079】[0079]

【実施例3】なお、石英系ガラスによって光導波路を構
成する場合、前記した工程12におけるV溝形成時には、
光導波路部の端面13aもKOH等のエッチング液により
多少のエッチングを受ける。
[Embodiment 3] In the case where an optical waveguide is made of quartz glass, at the time of forming the V-groove in the above-described step 12,
The end face 13a of the optical waveguide is also slightly etched by an etching solution such as KOH.

【0080】このため、光導波路端面形成ドライエッチ
ング用マスク4bの下にアンダーカットを生じ、また光
導波路部の端面13aも平坦でなくなる可能性がある。
For this reason, an undercut may occur under the dry etching mask 4b for forming the end face of the optical waveguide, and the end face 13a of the optical waveguide may not be flat.

【0081】さらに、異方性エッチングによって現われ
るSi(111)面のうち、光導波路の端面13aが縁となっ
ている(111)面に光ファイバ端がぶつかることによっ
て、光ファイバ端を光導波路部の端面13aに完全に突き
当てることができない。
Further, of the Si (111) surface appearing by the anisotropic etching, the end of the optical fiber hits the (111) surface whose edge 13a is the edge of the optical waveguide, so that the end of the optical fiber is connected to the optical waveguide portion. Cannot be completely abutted against the end face 13a.

【0082】このような問題は、図13に示すように、
V溝よりも深い切断溝15をダイシングソー等で設ける
(工程13)ことによって、光導波路コア3fの端面を整
形することにより解決できる。
Such a problem, as shown in FIG.
By providing a cutting groove 15 deeper than the V groove with a dicing saw or the like (step 13), the problem can be solved by shaping the end face of the optical waveguide core 3f.

【0083】図13を参照して、破線で示すV溝よりも
深い切断溝15を設けることにより、前記第2の実施例に
おける工程Aにおけるカバーマスク、及び前記第1、第
2の工程10、10´における光導波路端面形成ドライエッ
チング用マスク4bの形成には、精度が要求されない。
Referring to FIG. 13, by providing a cutting groove 15 deeper than the V groove shown by the broken line, the cover mask in step A in the second embodiment and the first and second steps 10 and Precision is not required for forming the optical waveguide end face forming dry etching mask 4b in 10 '.

【0084】[0084]

【実施例4】また別の問題として、Siのエッチング中
に石英系ガラス光導波路層がKOH等のエッチング液に
よって浸食されるため、図9において、SiのV溝形成
用マスク7が後退する。
Fourth Embodiment As another problem, the quartz glass optical waveguide layer is eroded by an etching solution such as KOH during the etching of Si, so that the Si V-groove forming mask 7 recedes in FIG.

【0085】このため、SiのV溝5の形成位置(図1
参照)に誤差が生じ、この誤差はV溝幅の拡がりとなっ
て現れる。
For this reason, the formation position of the Si V-groove 5 (FIG. 1)
), And this error appears as an increase in the width of the V-groove.

【0086】そこで、上記誤差を軽減する方法として、
SiのV溝形成用マスク7として、V溝部ドライエッチ
ング用マスク4aの層、コア層3b、下層クラッド層3
dのみからなる構造の代わりに、図14に示すように、
タングステンシリサイドWSi等からなる薄膜層11がS
i基板1と光導波路の下層クラッド層3dの間に挿まれ
た構造を用いることもできる。
Therefore, as a method of reducing the above error,
The V-groove dry etching mask 4a layer, the core layer 3b, the lower cladding layer 3
Instead of the structure consisting of only d, as shown in FIG.
The thin film layer 11 made of tungsten silicide WSi or the like
A structure inserted between the i-substrate 1 and the lower clad layer 3d of the optical waveguide can also be used.

【0087】上記のWSi等の薄膜層11は、KOH等の
Siの異方性エッチング液にはエッチングされにくく、
SiのV溝形成のための直接のマスクとなる。
The thin film layer 11 made of WSi or the like is hardly etched by an anisotropic etching solution of Si such as KOH.
It becomes a direct mask for forming a Si V-groove.

【0088】このWSi等の薄膜層11は、例えば光導波
路クラッド層堆積前にスパッタ法等によって成膜するこ
とによって形成する。
The thin film layer 11 of WSi or the like is formed by, for example, forming a film by a sputtering method or the like before depositing the optical waveguide clad layer.

【0089】上記のように、WSi等の薄膜層11が、S
i基板1と下層クラッド層3dとの間に挿まれた構造と
する場合、異方性エッチングによりSi基板1にV溝5
を形成する前の段階で、WSi等の薄膜層11がV溝形成
エッチングの直接のマスクとなるようにV溝形成マスク
の形にパターン化されて、V溝が掘られる部分のSi基
板1が露出していなくてはならない。
As described above, the thin film layer 11 such as WSi
In the case of a structure inserted between the i substrate 1 and the lower cladding layer 3d, the V groove 5 is formed in the Si substrate 1 by anisotropic etching.
Before the formation of the V-groove, the thin film layer 11 of WSi or the like is patterned in the form of a V-groove formation mask so as to serve as a direct mask for V-groove formation etching. Must be exposed.

【0090】WSi等の薄膜層11のパターン化に関して
は、1つの方法としては、工程11の上層クラッド層3e
及び下層クラッド層3dの反応性イオンドライエッチン
グに引き続いて、適当なエッチャントを用いてWSi等
の薄膜層11をエッチングしてパターン化する(工程
E)。例えば、Arイオン等を用いてドライエッチング
する方法がある。この場合、基本的には図3から図9を
参照して説明したものと同じような製造方法が用いられ
る。
As for the patterning of the thin film layer 11 of WSi or the like, one method is as follows.
Subsequent to the reactive ion dry etching of the lower cladding layer 3d, the thin film layer 11 of WSi or the like is etched and patterned using an appropriate etchant (step E). For example, there is a method of performing dry etching using Ar ions or the like. In this case, a manufacturing method basically similar to that described with reference to FIGS. 3 to 9 is used.

【0091】図14乃至図16は、WSi等の薄膜層11
がSi基板1と下層クラッド層3dとの間に挿まれた構
成において、前記第1の実施例とは別の方法によってS
iのV溝形成用マスクを形成する製造方法の工程図であ
る。
FIGS. 14 to 16 show a thin film layer 11 of WSi or the like.
Is inserted between the Si substrate 1 and the lower clad layer 3d in a structure different from that of the first embodiment.
It is process drawing of the manufacturing method which forms the mask for V groove formation of i.

【0092】すなわち、前記第1の実施例の工程7にお
けるコア層3bの反応性イオンドライエッチングの時
に、コア層3bだけでなくその下の下層クラッド層3d
も図14(h)に示すようにエッチングし(工程H)、
引き続いて図14(i)に示すように、適当なエッチャ
ント(例えばArイオン等)を用いてWSi等の薄膜層
11のパターン化エッチングをする(工程I)。
That is, at the time of the reactive ion dry etching of the core layer 3b in the step 7 of the first embodiment, not only the core layer 3b but also the lower cladding layer 3d below the core layer 3b.
Is also etched (step H) as shown in FIG.
Subsequently, as shown in FIG. 14I, a thin film layer of WSi or the like is formed by using an appropriate etchant (for example, Ar ions).
The patterned etching of Step 11 is performed (Step I).

【0093】後者の方法の場合、このエッチングの後、
光導波路コア形成ドライエッチング用マスク4cを除去
して図15(j)に示すようなものにする(工程J)。
In the latter method, after this etching,
The optical waveguide core forming dry etching mask 4c is removed to obtain the one as shown in FIG. 15 (j) (step J).

【0094】次に、図15(k)に示すように、Siの
V溝形成部14から光導波路コア3fの端面までの部分を
厚くカバーマスク10で覆って(工程K)、さらに上層ク
ラッド層3eを成膜する(工程L)。
Next, as shown in FIG. 15 (k), the portion from the Si V-groove forming portion 14 to the end face of the optical waveguide core 3f is thickly covered with the cover mask 10 (step K), and the upper clad layer is further formed. 3e is formed (Step L).

【0095】この結果、光導波路コア3fが、コアより
わずかに屈折率の低い下層クラッド層3d及び上層クラ
ッド層3eによって、図15(l)のように埋め込まれ
る。
As a result, the optical waveguide core 3f is buried by the lower cladding layer 3d and the upper cladding layer 3e having a slightly lower refractive index than the core, as shown in FIG.

【0096】その後、図16(m)に示すように、カバ
ーマスク10を除去することによって、SiのV溝形成部
の上部の上層クラッド層3eをリフトオフ除去する(工
程M)。
Thereafter, as shown in FIG. 16 (m), by removing the cover mask 10, the upper clad layer 3e above the V-groove formation portion of Si is lifted off (step M).

【0097】そして、図16(n)に示すように、光導
波路端面形成ドライエッチング用マスク4bで光導波路
コア3fの上部の上層クラッド層3eを覆って(工程
N)、反応性イオンドライエッチング等により、光導波
路端面形成とSi異方性エッチング用マスクの形成を同
時に行う(工程O、図15(o)参照)。
Then, as shown in FIG. 16 (n), the upper cladding layer 3e above the optical waveguide core 3f is covered with the optical waveguide end face forming dry etching mask 4b (step N), and reactive ion dry etching or the like is performed. As a result, the formation of the end face of the optical waveguide and the formation of the mask for Si anisotropic etching are performed simultaneously (step O, see FIG. 15 (o)).

【0098】この後のSiの異方性エッチングによって
V溝形成をする時に光導波路の端面も多少のエッチング
を受ける。
When the V-groove is formed by the subsequent anisotropic etching of Si, the end face of the optical waveguide is also slightly etched.

【0099】このことに関しては、WSiなどの薄膜層
がSi基板と下層クラッド層の間に挿まれていない構造
についての実施例において述べたのと同様の処理をすれ
ばよい。
In this regard, the same processing as described in the embodiment with respect to the structure in which the thin film layer of WSi or the like is not inserted between the Si substrate and the lower clad layer may be performed.

【0100】すなわち、図13に示すように、V溝より
も深い切断溝15をダイシングソー等で設けることによっ
て光導波路コア3fの端面を整形すればよい(工程1
3)。この場合、工程10、工程K、工程Nのマスク形成
には精度を要求しない。
That is, as shown in FIG. 13, the end face of the optical waveguide core 3f may be shaped by providing a cutting groove 15 deeper than the V groove with a dicing saw or the like (step 1).
3). In this case, precision is not required for the mask formation in Step 10, Step K, and Step N.

【0101】なお、前記の方法とは部分的に異なる方法
として、前記工程Mにおけるカバーマスク10の除去の
後、工程Nにおける光導波路端面形成ドライエッチング
用マスク4bの形成や、工程Oにおける反応性イオンド
ライエッチングの工程を経ずに、SiのV溝形成エッチ
ングを行い、それに引き続いてダイシングソー等により
光導波路端面を整形する。
As a method partially different from the above-mentioned method, after the cover mask 10 is removed in the step M, the formation of the optical waveguide end face forming dry etching mask 4b in the step N and the reactivity in the step O are performed. The silicon V-groove formation etching is performed without going through the ion dry etching process, and subsequently, the end face of the optical waveguide is shaped by a dicing saw or the like.

【0102】このようにすれば、反応性イオンドライエ
ッチングがコア形成時の1回で済むという工程簡略化の
利点がある。
This has the advantage of simplifying the process, in that reactive ion dry etching only needs to be performed once when forming the core.

【0103】なお、前記工程12のSiのV溝形成の異方
性エッチングに用いるエッチング液としては、KOHの
他に、NaOH、CsOH、NH3OH、N24、エチ
レンジアミン、ヒドラジン等が用いられる。
As an etchant used in the anisotropic etching for forming the Si V-groove in the step 12, in addition to KOH, NaOH, CsOH, NH 3 OH, N 2 H 4 , ethylenediamine, hydrazine and the like are used. Can be

【0104】以上本発明を上記各実施例に即して説明し
たが、本発明は、上記態様にのみ限定されるものでなく
本発明の原理に準ずる各種態様を含む。
Although the present invention has been described with reference to the above embodiments, the present invention is not limited to the above embodiments but includes various embodiments according to the principle of the present invention.

【0105】[0105]

【発明の効果】以上説明したように、本発明(請求項
1)によれば、光ファイバの石英軽ガラス光導波路回路
への無調整実装において、従来の方法に比べて基板面内
方向及び基板垂直方向ともに光導波路と光ファイバの光
軸の位置精度を向上させることができる。このため、本
発明によれば、光導波路と光ファイバの無調整結合にお
いて損失を低減できるという効果を有する。
As described above, according to the present invention (claim 1), in the non-adjustment mounting of the optical fiber on the quartz light glass optical waveguide circuit, the in-plane direction of the substrate and the substrate in comparison with the conventional method are reduced. The positional accuracy of the optical axis of the optical waveguide and the optical fiber in the vertical direction can be improved. Therefore, according to the present invention, there is an effect that the loss can be reduced in the unadjusted coupling between the optical waveguide and the optical fiber.

【0106】また、本発明によれば、上層クラッド層堆
積前の工程であるコア層形成の後に、光導波路コア及び
SiのV溝形成用マスクパターンを同時形成してから光
導波路コア層のみをエッチング加工し、さらにクラッド
層を堆積するため、光導波路コアを低屈折率材料クラッ
ドによって完全に埋めこむことができる。これによっ
て、光導波路コアが上下面及び側面を空気ではなくコア
よりわずかに低屈折率であるクラッドに接することにな
る。
According to the present invention, after forming the core layer, which is a step before depositing the upper clad layer, the optical waveguide core and the mask pattern for forming the V-groove of Si are simultaneously formed, and then only the optical waveguide core layer is formed. Since the etching process is performed and the clad layer is further deposited, the optical waveguide core can be completely embedded by the low refractive index material clad. As a result, the optical waveguide core comes into contact with the upper and lower surfaces and the side surfaces, not with air, but with the clad having a slightly lower refractive index than the core.

【0107】このため、本発明によれば、スポットサイ
ズやビームモードプロファイルが単一モード光ファイバ
のそれに近い単一モードの光導波路を容易に構成するこ
とができる。その結果、本発明によれば、光導波路に単
一モード光ファイバを高効率に結合させることができ
る。また、本発明によれば、コア側面の表面形状粗さに
よる散乱損失もコア側面が空気に接している場合より少
なくなる。
Therefore, according to the present invention, a single-mode optical waveguide having a spot size and a beam mode profile close to those of a single-mode optical fiber can be easily formed. As a result, according to the present invention, a single-mode optical fiber can be efficiently coupled to an optical waveguide. Further, according to the present invention, the scattering loss due to the surface shape roughness of the core side surface is also smaller than when the core side surface is in contact with air.

【0108】また、本発明(請求項2)によれば、Si
のV溝形成用マスクとなる光導波路層からなるブロック
とSi基板の間に、SiのV溝形成エッチング液にエッ
チングされにくい材料からなる薄膜層を挿入することに
より、SiのV溝の溝幅の拡りが抑止され、光ファイバ
支持用V溝の形成精度を高くするという効果を有する。
Further, according to the present invention (claim 2), Si
The groove width of the Si V-groove is formed by inserting a thin film layer made of a material that is hardly etched by the Si V-groove forming etchant between the block made of the optical waveguide layer serving as the V-groove forming mask and the Si substrate. Is suppressed, and the formation accuracy of the optical fiber supporting V-groove is increased.

【0109】さらに、本発明(請求項5)に従い、Si
基板のV溝形成部から光導波路コアの端面に至るまでの
領域をカバーマスクで覆うようにして製造した場合に
も、上記と同様な効果が達成される。
Further, according to the present invention (claim 5),
The same effect as described above can be achieved even when the substrate is manufactured so as to cover the region from the V-groove forming portion of the substrate to the end face of the optical waveguide core with a cover mask.

【0110】そして、本発明(請求項6)によれば、V
溝よりも深い切断溝を設けた構成により、例えばカバー
マスク、光導波路端面形成ドライエッチング用マスクの
形成に要求される精度が緩和される。
According to the present invention (claim 6), V
With the configuration in which the cut groove is provided deeper than the groove, the accuracy required for forming, for example, the mask for dry etching for forming the cover mask and the end face of the optical waveguide is relaxed.

【0111】本発明の光ファイバ実装型光導波路回路
(請求項7)によれば、SiのV溝(111)面で支持され
る光ファイバと光導波路コアのそれぞれの光軸の基板面
内方向の位置精度をフォトリソグラフィのマスクパター
ンの描画精度と同程度にまで著しく向上することが可能
とされ、光導波路と光ファイバの無調整結合において損
失を低減できるという効果を有する。
According to the optical fiber mounted optical waveguide circuit of the present invention (claim 7), the direction of the optical axis of each of the optical fiber and the optical waveguide core supported by the Si V-groove (111) surface in the substrate plane. Can be significantly improved to the same level as the drawing accuracy of a mask pattern in photolithography, and the loss can be reduced in the unadjusted coupling between the optical waveguide and the optical fiber.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の光ファイバ実装型光導波路回路の一実
施例の光ファイバ実装前の構成を示す斜視図である。
FIG. 1 is a perspective view showing a configuration of an optical fiber mounted optical waveguide circuit according to an embodiment of the present invention before the optical fiber is mounted.

【図2】図1の光ファイバ実装型光導波路回路の実施例
において光ファイバのSiのV溝への実装の様子を示す
図であり、図1の矢線AからみたX−X´線の断面図に
対応する。
FIG. 2 is a diagram showing a state of mounting an optical fiber in a V-groove of Si in the embodiment of the optical fiber-mounted optical waveguide circuit of FIG. 1; It corresponds to a sectional view.

【図3】本発明の光ファイバ実装型光導波路回路の製造
方法の一実施例の工程を順に示した図である。
FIG. 3 is a diagram sequentially illustrating the steps of an embodiment of the method for manufacturing an optical fiber-mounted optical waveguide circuit of the present invention.

【図4】本発明の光ファイバ実装型光導波路回路の製造
方法の一実施例の工程を順に示した図である。
FIG. 4 is a diagram sequentially illustrating the steps of an embodiment of the method for manufacturing an optical fiber-mounted optical waveguide circuit of the present invention.

【図5】本発明の光ファイバ実装型光導波路回路の製造
方法の一実施例の工程を順に示した図である。
FIG. 5 is a diagram sequentially illustrating the steps of an embodiment of the method for manufacturing an optical fiber-mounted optical waveguide circuit of the present invention.

【図6】図5の矢線A方向からみた断面を示す図であ
る。
FIG. 6 is a view showing a cross section viewed from the direction of arrow A in FIG. 5;

【図7】図5の矢線B方向からみた断面を示す図であ
る。
FIG. 7 is a diagram showing a cross section as viewed from the direction of arrow B in FIG.

【図8】本発明の光ファイバ実装型光導波路回路の製造
方法の一実施例の工程を順に示した図である。
FIG. 8 is a diagram sequentially illustrating the steps of an embodiment of the method for manufacturing an optical fiber-mounted optical waveguide circuit of the present invention.

【図9】本発明の光ファイバ実装型光導波路回路の製造
方法の一実施例の工程を順に示した図である。
FIG. 9 is a diagram sequentially illustrating the steps of one embodiment of the method for manufacturing an optical fiber-mounted optical waveguide circuit of the present invention.

【図10】本発明の光ファイバ実装型光導波路回路の製
造方法の第2の実施例の工程を順に示す図である。
FIG. 10 is a diagram sequentially illustrating the steps of a second embodiment of the method for manufacturing an optical fiber-mounted optical waveguide circuit according to the present invention.

【図11】本発明の光ファイバ実装型光導波路回路の製
造方法の第2の実施例の工程を順に示す図である(図1
0の続き)。
11 is a diagram sequentially illustrating the steps of a second embodiment of the method for manufacturing an optical fiber-mounted optical waveguide circuit of the present invention (FIG. 1).
0 continuation).

【図12】本発明の第2の実施例に係る光ファイバ実装
型光導波路回路の構成を示す斜視図である。
FIG. 12 is a perspective view showing a configuration of an optical fiber-mounted optical waveguide circuit according to a second embodiment of the present invention.

【図13】本発明の光ファイバ実装型光導波路回路の第
3の実施例に係る、端面近傍に設ける切断溝を説明する
図である。
FIG. 13 is a view for explaining cut grooves provided near an end face according to a third embodiment of the optical fiber mounted optical waveguide circuit of the present invention.

【図14】本発明の光ファイバ実装型光導波路回路の製
造方法の第4の実施例の工程を順に示す図である。
FIG. 14 is a diagram sequentially illustrating the steps of a fourth embodiment of the method of manufacturing an optical fiber-mounted optical waveguide circuit according to the present invention.

【図15】本発明の光ファイバ実装型光導波路回路の製
造方法の第4の実施例の工程を順に示す図である。
FIG. 15 is a diagram sequentially illustrating the steps of a fourth embodiment of the method of manufacturing an optical fiber-mounted optical waveguide circuit according to the present invention.

【図16】本発明の光ファイバ実装型光導波路回路の製
造方法の第4の実施例の工程を順に示す図である。
FIG. 16 is a diagram sequentially illustrating the steps of a fourth embodiment of the method of manufacturing an optical fiber-mounted optical waveguide circuit according to the present invention.

【図17】従来のファイバ・ガイド付光回路の構成を示
す斜視図である。
FIG. 17 is a perspective view showing a configuration of a conventional optical circuit with a fiber guide.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 Si基板 1a Si(100)面 1b Si(111)面 2 光ファイバガイド 3 光導波路 3a クラッド層 3b コア層 3c バッファー層 3d 下層クラッド層 3e 上層クラッド層 3f 光導波路コア 3g クラッド層 3i 光導波路コアの上に設置する上層クラッド層 3j 光導波路コアの側面の上層クラッド層 4a V溝部ドライエッチング用マスク 4b 光導波路端面形成ドライエッチング用マスク 4c 光導波路コア形成ドライエッチング用マスク 5 SiのV溝 5a SiのV溝最底部 6 光ファイバ 7 SiのV溝形成用マスク 8 SiのV溝形成用マスクパターン 9 光導波路コアパターン 10 カバーマスク 11 SiのV溝形成エッチング液にエッチングされにく
いWSi等の薄膜 12 光ファイバ用V溝部 13 光導波路部 13a 光導波路部の端面 14 SiのV溝形成部 15 切断溝
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Si substrate 1a Si (100) surface 1b Si (111) surface 2 Optical fiber guide 3 Optical waveguide 3a Cladding layer 3b Core layer 3c Buffer layer 3d Lower cladding layer 3e Upper cladding layer 3f Optical waveguide core 3g Cladding layer 3i Optical waveguide core Upper clad layer 3j upper clad layer on the side of optical waveguide core 4a V-groove dry etching mask 4b optical waveguide end face formation dry etching mask 4c optical waveguide core formation dry etching mask 5Si V-groove 5a Si V-groove bottom 6 Optical fiber 7 Si V-groove forming mask 8 Si V-groove forming mask pattern 9 Optical waveguide core pattern 10 Cover mask 11 Thin film of WSi or the like which is hardly etched by Si V-groove forming etchant 12 V-groove for optical fiber 13 Optical waveguide 13a End face of optical waveguide 14 Si V-groove forming part 15 Cutting groove

Claims (9)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】Si基板上に光導波路と光ファイバを実装
するためのSiのV溝が形成されている光ファイバ実装
型光導波路回路の製造方法において、 (a) Siの平面基板上へ光導波路コア層堆積した
に光導波路コアパターンとSiのV溝形成用マスクパタ
ーンを同時にパターン化をする工程と、 (a-1) 前記光導波路コア層までをエッチングする工程
と、 (b) 前記V溝形成用マスクパターンの部分のマスクは
残して光導波路コアパターンの部分のみのマスクを除去
する工程と、 (c) 光導波路コアの上面と側面を前記光導波路コアよ
り屈折率の低い材料で埋め込む工程と、 (d) エッチングにより光導波路端面の形成とSiのV
溝形成用マスクとなる光導波路層からなるブロックの形
成を同時に行う工程と、 (e) 前記ブロックをマスクに用いてSiの異方性エッ
チングをする工程と、 を有することを特徴とする光ファイバ実装型光導波路回
路の製造方法。
1. A method of manufacturing an optical fiber-mounted optical waveguide circuit in which a Si V-groove for mounting an optical waveguide and an optical fiber on a Si substrate is provided. a step of simultaneously patterning the optical waveguide core pattern and Si V groove forming mask pattern <br/> after depositing a waveguide core layer, and etching the to (a-1) the optical waveguide core layer (B) removing the mask of only the portion of the optical waveguide core pattern while leaving the mask of the portion of the V-groove forming mask pattern; and (c) refracting the upper surface and side surfaces of the optical waveguide core from the optical waveguide core. A step of embedding with a material having a low efficiency, and (d) forming an end face of the optical waveguide by etching and forming a V of Si.
An optical fiber, comprising: simultaneously forming a block made of an optical waveguide layer serving as a mask for forming a groove; and (e) performing anisotropic etching of Si using the block as a mask. A method for manufacturing a mounted optical waveguide circuit.
【請求項2】SiのV溝形成用マスクとなる光導波路層
からなるブロックと前記Si基板との間に、SiのV溝
形成エッチング液にエッチングされにくい材料からな
り、且つSiのV溝マスクパターンの形に形成されてい
る層が挿まれており、該層をSiのV溝形成の際のマス
クとして用いることを特徴とする請求項1記載の光ファ
イバ実装型光導波路回路の製造方法。
2. A Si V-groove mask between a block made of an optical waveguide layer serving as a Si V-groove formation mask and the Si substrate, made of a material which is difficult to be etched by a Si V-groove formation etchant. 2. The method according to claim 1, wherein a layer formed in the form of a pattern is inserted, and the layer is used as a mask when forming a V-groove of Si.
【請求項3】前記ブロックとSi基板の間に挿入される
層がWSiから成ることを特徴とする請求項2記載の光
ファイバ実装型光導波路回路の製造方法。
3. The method of manufacturing an optical fiber-mounted optical waveguide circuit according to claim 2, wherein a layer inserted between said block and said Si substrate is made of WSi.
【請求項4】Si基板上に光導波路と光ファイバを実装
するためのSiのV溝が形成されている光ファイバ実装
型光導波路回路の製造方法において、 (a) Siの平面基板上へ光導波路コア層堆積した
に光導波路コアパターンとSiのV溝形成用マスクパタ
ーンを同時にパターン化をする工程と、 (a-1) 前記光導波路コア層までをエッチングする工程
と、 (b) 前記V溝形成用マスクパターンの部分のマスクは
残して光導波路コアパターンの部分のみのマスクを除去
する工程と、 (c) 前記Si基板のV溝形成部から光導波路コアの端
面に至るまでの領域をカバーマスクで覆う工程と、 (d) 前記カバーマスク及び光導波路領域上に上層クラ
ッド層を成膜し前記光導波路コアを前記上層クラッド層
にて埋め込む工程と、 (e) 前記カバーマスクを除去し前記SiのV溝形成部
の上部に位置する前記上層クラッド層を除去する工程
と、 (f) 前記光導波路コアの上方と側方の前記上層クラッ
ド層を覆うように、光導波路端面形成ドライエッチング
用マスクを形成する工程と、 (g) 光導波路端面形成と前記SiのV溝形成用マスク
の形成を同時に行う工程と、 (h) 前記Si基板にV溝を異方性エッチングによって
形成する工程と、 を含むことを特徴とする光ファイバ実装型光導波路回路
の製造方法。
4. A method of manufacturing an optical fiber-mounted optical waveguide circuit in which a Si V-groove for mounting an optical waveguide and an optical fiber on a Si substrate is provided. a step of simultaneously patterning the optical waveguide core pattern and Si V groove forming mask pattern <br/> after depositing a waveguide core layer, and etching the to (a-1) the optical waveguide core layer (B) removing the mask of only the portion of the optical waveguide core pattern while leaving the mask of the portion of the V-groove forming mask pattern; and (c) the end face of the optical waveguide core from the V-groove forming portion of the Si substrate. And (d) forming an upper cladding layer on the cover mask and the optical waveguide region and embedding the optical waveguide core with the upper cladding layer, (e) Remove the cover mask Removing the upper cladding layer located above the V-groove forming portion of the Si; and (f) forming an optical waveguide end face dry so as to cover the upper cladding layer above and on the side of the optical waveguide core. Forming a mask for etching; (g) simultaneously forming an end face of the optical waveguide and forming a mask for forming a V-groove of Si; and (h) forming a V-groove in the Si substrate by anisotropic etching. A method for manufacturing an optical fiber-mounted optical waveguide circuit, comprising:
【請求項5】前記Si基板に前記V溝よりも深い切断溝
を設けて光導波路コアの端面を整形することを特徴とす
る請求項1〜4のいずれか一に記載の光ファイバ実装型
光導波路回路の製造方法。
5. A cutting groove deeper than said V groove in said Si substrate.
And shaping the end face of the optical waveguide core.
The optical fiber mounting type according to any one of claims 1 to 4.
A method for manufacturing an optical waveguide circuit.
【請求項6】Si基板上に光導波路コアを含む光導波路
を備え、前記Si平面基板上に光ファイバを実装するた
めのSiのV溝を備え、前記光導波路コアと前記Siの
V溝のパターンとが同一のマスクを用いて形成されて成
る光ファイバ実装型光導波路回路であって、 前記光ファイバ実装時に、前記光ファイバが前記Siの
V溝の側面(111)面に当接して支持されることを特徴と
する光ファイバ実装型光導波路回路。
6. An optical waveguide including an optical waveguide core on a Si substrate, a Si V-groove for mounting an optical fiber on the Si planar substrate, wherein the optical waveguide core and the Si V-groove are provided. An optical fiber-mounted optical waveguide circuit in which a pattern is formed using the same mask, wherein the optical fiber is in contact with and supported by a side surface (111) of the V groove of the Si when the optical fiber is mounted. An optical waveguide circuit mounted with an optical fiber.
【請求項7】SiのV溝形成用マスクとなる光導波路層
からなるブロックと、前記Si基板 と、の間に、Siの
V溝形成エッチング液にエッチングされにくい材料から
なり、且つSiのV溝マスクパターンの形に形成されて
いる層が挟まれていることを特徴とする請求項6記載の
光ファイバ実装型光導波路回路。
7. An optical waveguide layer serving as a mask for forming a Si V-groove.
Between the block made of Si and the Si substrate .
From materials that are difficult to etch with V-groove forming etchant
And formed in the shape of a Si V-groove mask pattern
7. The method according to claim 6, wherein the layers are sandwiched.
Optical fiber mounted optical waveguide circuit.
【請求項8】前記光導波路コアが該コアよりも低屈折率
のクラッドにより覆われていることを特徴とする請求項
記載の光ファイバ実装型光導波路回路。
8. The optical waveguide core according to claim 1, wherein said optical waveguide core is covered with a clad having a lower refractive index than said core.
7. An optical fiber-mounted optical waveguide circuit according to item 6 .
【請求項9】前記Si基板に前記V溝よりも深い切断溝
を設けたことを特徴とする請求項7記載の光ファイバ実
装型光導波路回路。
9. An optical fiber-mounted optical waveguide circuit according to claim 7, wherein a cut groove deeper than said V groove is provided in said Si substrate.
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