JP3255363B2 - アルキル化したアミノアルキルピペラジン界面活性剤およびフォトレジスト現像剤におけるその使用 - Google Patents

アルキル化したアミノアルキルピペラジン界面活性剤およびフォトレジスト現像剤におけるその使用

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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、水にもとづく系
(water−based system)において表
面張力を減少させるためのアルキル化したアミノアルキ
ルピペラジンの使用、特に、水性のフォトレジスト現像
剤およびエレクトロニクス洗浄組成物における湿潤剤と
しての使用に関する。
【0002】
【従来の技術】水の表面張力を減少させる能力は水性の
(waterborne)塗料(coatings)、
インク、接着剤、および農業配合物(agricult
ural formulations)において非常に
重要である。なぜなら、減少された表面張力は、実際の
配合物において、高められた基質のぬれ(enhanc
ed substrate wetting)に表現し
直す(translate)からである。水にもとづく
系において表面張力の減少は、通常、界面活性剤の添加
により得られる。界面活性剤の添加から生じる性能の特
質は、高められた表面被覆率(surface cov
erage)、比較的少い欠陥、および比較的均一な分
布を含む。平衡表面張力性能は、系が静止している(a
t rest)ときに、重要である。しかし、動的条件
下で表面張力を減少させる能力は、高い表面創出速度
(surface creation rates)が
利用される使用において非常に重要である。そのような
使用は、塗料の吹付け塗り(spraying)、ロー
ラ塗り(rolling)およびはけ塗り(brush
ing)、もしくは農業配合物の噴霧(sprayin
g)、または高速グラビア印刷もしくはインクジェット
印刷を含む。動的(dynamic)表面張力は、基本
的な量(quantity)であり、表面張力を減少す
る界面活性剤の能力のものさしを与え、そしてそのよう
な高速使用条件下でぬれを与える。
【0003】アルキルフェノールもしくはアルコールエ
トキシラート、およびエチレンオキシド(EO)/プロ
ピレンオキシド(PO)コポリマーのような従来のノニ
オン界面活性剤は、優れた平衡表面張力性能を有する
が、不十分な動的表面張力減少を有すると一般に特徴づ
けられる。対照的に、ジアルキルスルホコハク酸ナトリ
ウム(sodium dialkyl sulfosu
ccinates)のようなあるアニオン界面活性剤
は、良好な動的結果を与えるが、それらは非常に泡立っ
ており、水に仕上げコーティングへの敏感さを添える。
泡立ちの問題は半導体製造で用いられる水性フォトレジ
スト現像剤において特に面倒である。
【0004】半導体製造の需要は、フォトレジスト現像
剤配合において、高性能の界面活性剤および湿潤剤の使
用を要求した。商品の特徴がもっと小さいサイズに縮
み、フォトレジストの基質材料が事実上、もっと脂肪族
になるにつれて(すなわち、比較的低い表面エネルギー
を有する)、水性現像剤溶液は、表面張力減少剤ととも
に処方されている。これらの現像剤に対するもう1つの
要求は、それらが泡立つ傾向が少ないことである。これ
は比較的大きなウェハのサイズへの動きにより強調され
る。低い気泡生成は、スプレーパドル(spray−p
uddle)法を用いるときに特に重要である。なぜな
らフォトレジスト表面にわたり溶液を拡げる間に微小気
泡(microbubble)の同伴は欠陥を引起すか
らである。フォトレジストのぬれを増加させるために過
去に使用された界面活性剤は通常、比較的高い気泡生成
を導く。たいてい、産業は、たとえば、コントラスト、
臨界寸法および鮮鋭度のようなフォトレジスト性能への
界面活性剤の効果に焦点を合わせた。基礎をなす基質の
洗浄能力は通常の界面活性剤により高められるが、気泡
生成はいまだ問題が残る。
【0005】良好な平衡および動的表面張力特性を与
え、泡の生成が少なく、取扱いが容易であるように室温
で液体であり、塩基性条件下で安定であり、そして水性
の塗料、インク、接着剤、貯蔵液(fountain
solution)、ならびに農業用およびエレクトロ
ニクス洗浄用配合物に広く受け入れられるであろう界面
活性剤の系列(family)に対する必要が存在す
る。
【0006】塗料、インク、接着剤、貯蔵液、農業用配
合物およびエレクトロニクス洗浄用組成物、たとえば半
導体装置を製造するための水性現像剤溶液のような使用
において、平衡および動的表面張力を減少させることの
重要さは、この分野でよく理解されている。低い動的表
面張力は、水性塗料の使用において非常に重要である。
Schwarty,J.の「水性塗料における低動的表面張力の重
要性」(“The Inportance of LowDynamic Surface Ten
sion in Waterborne Coatings”)(Journal of Coatin
gsTechnology)(1992年9月)という論文で、水性塗料
の表面張力特性が検討され、さらにそのような塗料の動
的表面張力が検討されている。平衡および動的表面張力
はいくつかの界面活性剤について評価された。低動的表
面張力は、水性塗料において優れた膜形成を得るのに重
要なファクタであることが指摘されている。動的な塗料
被覆(dynamic coating applic
ation)法は、収縮(retraction)、ク
レータ(crater)および泡立ちのような欠陥を防
止するために低動的表面張力の界面活性剤を要求する。
【0007】農業用製品(agricultural
products)の効率的な適用も、配合物の動的表
面張力特性に大いに依存する。Wirth, W.:Storp, S.;
Jacobson, W.の「農業用スプレー溶液の葉での保持を制
御するメカニズム」(“Mechanisms Controlling Leaf
Retention of Agricultural Spray Solutions”)(Pes
tic.Sci.33, 411〜420頁)(1991)という論文におい
て、農業用配合物の動的張面張力と葉の上に保持される
これらの配合物の能力との間の関係が検討された。これ
らの研究者は、配合物の比較的有効な保持は低動的表面
張力を示すという、保持値と動的表面張力との間の良好
な相関を観察した。
【0008】さらに、低動力表面張力は、「Using Surf
actants to Formulate VOC Compliant Waterbased Ink
s」(Medina, S.W.;Sutovich, M.N.Am.Ink Maker 72
(2),32〜38頁、1994)という論文において検討されてい
るように高速印刷においても重要である。この論文で
は、平衡表面張力(ESTs)は、静止したインク系
(ink system at rest)のみに関連
すると述べられている。しかしEST値は、インクが使
用される動的な、高速印刷環境における性能の良好な指
標ではない。動的表面張力はもっと適切な特性である。
動的測定は、新たに創出されるインク/基質界面に移行
し、高速印刷の間中、ぬれを付与する界面活性剤の能力
の指標である。
【0009】テトラメチルアンモニウム水酸化物(TM
AH)は、J.R.Sheats およびB.W.Smithにより編集され
た「Microlithography, Science and Technology」(Ma
rcelDelkker, Ink., 1998, 551〜553)によると、フォ
トレジストを現像するための水性アルカリ溶液におい
て、より抜きの(of choice)化学薬品であ
る。界面活性剤は、水性TMAH溶液に添加され、現像
時間およびスカミング(scumming)を減少さ
せ、表面のぬれを改良する。
【0010】米国特許第5,098,478号明細書
は、水、顔料、ノニオン界面活性剤およびノニオン活性
剤のための可溶化剤を含む水にもとづくインク組成物を
開示する。グラビア印刷出版のためのインク組成物にお
ける動的表面張力は印刷性の問題が生じないことを確実
にするために約25〜40dynes /cmの水準に減少され
なければならない。
【0011】米国特許第5,562,726号明細書
は、水、溶解された染料および2つのポリエトキシラー
ト置換基を有する3級アミンの水性ジェットインクを開
示するが、低動的表面張力はインクジェット印刷に重要
である。多くのモノアルキル化したアミノアルキルピペ
ラジン誘導体が報告されているが、これらの物質が界面
活性の特性を有することは認識されていなかった。
【0012】米国特許第3,007,929号明細書
は、式
【0013】
【化4】
【0014】で表わされる化合物(RはC8〜C16の
直鎖アルキル基である)を開示する。C12およびC1
4誘導体の水性溶液は、食品容器および台所道具に対す
る、有効な滅菌および殺菌剤であった。Zagudullinおよ
びBaimetov〔J.Gen.Chem.USSR (Engl.Transl.) 1991, 6
1, 889〜894頁;Zh.Obshch.Khim.1991, 61, 978〜985
頁〕は、塩化エチル、塩化アリル、塩化メタリルおよび
クロロプロペンを用いるアミノエチルピペラジンのアル
キル化を報告する。反応条件および用いるアルキル化剤
の量に依存して、モノ、ジ、もしくはトリ−アリルおよ
びメタリル誘導体が生成されうる:
【0015】
【化5】
【0016】ここで、RはHもしくはCH3 である。こ
れらの研究者は、さらに次式の化合物の生成も報告して
いる。
【0017】
【化6】
【0018】アルキル化したアミノエチルピペラジン化
合物は、ポリウレタン、ポリアミン、およびエポキシ樹
脂の合成における触媒として重要であると、この論文で
述べられている。それらは、さらに選択溶媒として、そ
して繊維産業における補助剤として有用であると述べら
れている。特開平1−38,080号公報は、次の構造
の化合物類を開示する。
【0019】
【化7】
【0020】ここで、R1 は、C1〜C8の直鎖もしく
は分枝脂肪族であり得、R2 およびR3 は、C3〜C1
1の直鎖もしくは分枝脂肪族であり得、R2 およびR3
の1つは、HもしくはC1〜C2であり、R4 はHまた
はC1〜C12の直鎖もしくは分枝アルキルであり、m
およびnはそれぞれ0〜3の整数(m+n≦3)であ
り、Pは2〜13の整数である。特に、1−〔3−〔4
−メチル−1(3−メチルブチル)ペンチルアミノ〕プ
ロピル〕ピペラジンが示されている。これらの化合物は
中枢神経系統薬品および殺虫剤として開示されている。
【0021】現像剤組成物において、低気泡界面活性剤
について述べている文献は、ほとんどない。特開平10
−319606号公報は、商業的に入手しうるエチレン
オキシド(EO)/プロピレンオキシド(PO)ブロッ
クポリマーが良好なぬれおよび低気泡を与えることを開
示する。特開平3−62034号公報は、現像剤組成物
における低気泡の良好な界面活性剤として、ポリオキシ
アルキレンジメチルポリシロキサンを開示する。ポリシ
ロキサンは高pH条件下で再配列もしくは分解することが
知られている。
【0022】フォトレジスト現像剤組成物において、ア
ミンの使用についての文献が少しあるが、それらは界面
活性剤の使用に関するものではない。米国特許第5,2
52,436号明細書は、比較的高水準のアミン添加剤
(3〜30wt%)の使用を開示し、そして米国特許第
5,039,595号明細書は、5〜50wt%でアミン
添加剤を使用する。これらの開示は両方とも、現像剤溶
液の大部分の溶媒性状を変えるためにアミンを使用して
いるように思われる。
【0023】米国特許第4,997,748号明細書
は、フォトレジスト現像の間に、スカム生成を減少さ
せ、像の鮮明さを高めるために0.1〜10wt%水準の
環状窒素化合物を開示する。教示された環状窒素化合物
のなかに、環状の尿素1,3−ジメチル−2−イミダゾ
リジノンがある。窒素化合物は両親媒性ではないので、
それらは低濃度で表面張力を低下させそうもなく、それ
らの利用は表面張力低下よりも他の性質にもとづくよう
にみえる。1,3−ジメチル−2−イミダゾリジノンは
非常に良好な媒体として周知であり、界面活性物質とし
てではない。
【0024】米国特許第4,828,965号明細書
は、0.40〜5wt%の濃度で低級アルカノールアミン
(1〜4の炭素)をアルコールと組み合わせて使用する
ことを開示する。米国特許第4,741,989号明細
書は、フォトレジスト中でキノンジアジド光活性化合物
の反応化学を調節するために少量のアミンの使用を開示
するが、小さな鎖のアミンのみが使用されており、界面
活性アミンは言及されていない。
【0025】米国特許4,628,023号明細書は、
現像剤のためのアルカリ源として水溶性アミンを開示す
る。好適なpH範囲は12.5より大きいので、有機アミ
ンの使用は必然的に高濃度となろう。特開昭61−17
9651号公報は、表面張力が25〜50dyne/cmであ
るアミン含有現像溶液の使用を開示する。これらの表面
張力は、塩基としてテトラメチルアンモニウム水酸化物
を組み合わせて比較的多量の非界面活性アミン(3〜5
wt%)を用いて得られている。
【0026】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、減少した平
衡および動的表面張力を有し、有機もしくは無機化合物
を含有する、水にもとづく組成物、とくに水性の有機塗
料、インク、接着剤、貯蔵液、農業用、およびフォトレ
ジスト現像用/エネクトロニクス洗浄用の組成物、を提
供するものである。
【0027】
【課題を解決するための手段】上記の組成物は、次式で
表わされるアルキル化したアミノアルキルピペラジン化
合物を有効量配合することにより得られる。
【0028】
【化8】
【0029】ここで、R1 およびR2 の1つはC5〜C
14のアルキルもしくはシクロアルキル基、好ましくは
C5〜C8のアルキルであり、残りはHであるか、また
はR1およびR2 の両方がC5〜C8のアルキル基であ
り、そしてnは2もしくは3である。アルキル化したア
ミノアルキルピペラジンの水性溶液は、23℃の水中
で、5wt%以下の濃度で45dynes /cmより小さい動的
表面張力、ならびに最大−気泡圧力法による1気泡/
秒、を示すのが望ましい。表面張力を測定する最大気泡
圧力法は、「Langmuir」1986,2,428
〜432頁に記載されており、引用により組み入れられ
る。
【0030】「水にもとづく」(“water−bas
ed”)、「水性」(“aqueous”)もしくは
「水性媒体」(“aqueous medium”)
は、本発明の目的で、少くとも90wt%、好ましくは少
くとも95wt%の水を含む溶媒もしくは液体分散媒体を
意味する。明らかに、そして最も好適には、すべてが水
の媒体も含まれる。さらに本発明の目的のために、「フ
ォトレジスト現像」(“photoresist de
veloping”)および「エレクトロニクス洗浄」
(“electronics cleaning”)は
交替可能である。
【0031】さらに、これらのアルキル化したアミノア
ルキルピペラジン化合物を配合することにより水性組成
物の平衡および動的表面張力を低下させる方法が提供さ
れる。さらに、表面を水にもとづく組成物で部分的にも
しくは全部被覆するために、水にもとづく無機もしくは
有機化合物含有組成物の塗料を表面に塗る方法が提供さ
れ、ここでその組成物は、その水にもとづく組成物の動
的表面張力を減少させるために、上記構造のアルキル化
したアミノアルキルピペラジンを有効量含有しており、
そしてその水を蒸発させるものである。
【0032】さらに、現像剤組成物の動的表面張力を減
少させるために、フォトレジスト表面に、上記構造のア
ルキル化したアミノアルキルピペラジンを有効量含む、
水に基づく現像剤組成物を、付着させることにより、露
光後にフォトレジストを現像する方法を提供する。水に
もとづく、有効塗料、インク、接着剤、貯蔵液、農業用
組成物およびエレクトロニクス洗浄組成物における、こ
れらのアルキル化したアミノアルキルピペラジンの使用
に関連して、著しい利点があり、これらの利点は、下記
のものを含む。
【0033】・水性の、塗料、インク、貯蔵液および農
業用組成物を配合する能力であり、その組成物は種々の
基質に付着させ得、汚染された低エネルギー表面を含む
基質表面に優れたぬれを与える; ・オレンジピールおよび流動/水平化の欠陥のような、
被覆もしくは印刷の欠陥を減少させる能力; ・低い揮発性有機含量を有する水性の塗料およびインク
を製造する能力であり、これらの界面活性剤を環境上好
ましくする; ・高速塗布のできる塗料およびインクを配合する能力;
そして ・強く塩基で、高温の環境で優れた動的表面張力特性を
保持する組成を配合する能力。
【0034】・良好なぬれと非常に低い気泡を有する、
半導体製造産業用の低表面張力、水性エレクトロニクス
洗浄および処理溶液(フォトレジスト現像溶液を含む)
を配合する能力。 優れた界面活性剤特性と気泡を制御する能力のために、
これらの材料は、動的および平衡表面張力の減少、なら
びに低気泡が重要である多くの用途で、使用されそうで
ある。低気泡が重要である用途は、繊維の染色、繊維の
酸性化およびキヤー(kier)煮沸のような、種々の
湿式処理繊維操作を含み、そこでは低気泡の特性は特に
有利である;さらに、それらは石けん、水にもとづく香
水、シャンプー、および種々の洗剤における適用性を有
し得、そこでは、同時に実質的に気泡を発生しないのに
表面張力を低下させる著しい能力は非常に望まれよう。
【0035】水性フォトレジスト現像剤配合物でのこれ
らの物質の使用は、表面張力を低下させ、加えて気泡の
生成を減少させ著しい性能のすべての利点を与える能力
のために特に重要であり、極端な条件下でも、フォトレ
ジスト現像用途について良好な対照を保持すると同時に
そうである。水性の処理媒体を用いるエレクトロニクス
産業での他の適用も、良好な動的ぬれと低気泡から利益
をうけるであろう。
【0036】本発明は、式
【0037】
【化9】
【0038】の化合物(ここでR1 およびR2 の1つは
C5〜C14のアルキルもしくはシクロアルキル基であ
り、残りはHであるか、またはR1 およびR2 の両方が
C5〜C8のアルキル基であり、そしてnは2もしくは
3である。)を、有機化合物を含む水性組成物、特に、
重合体レジン、有機塩基、除草剤、殺菌剤、殺虫剤もし
くは生長調節剤のような有機化合物を含む、塗料、イン
ク、接着剤、農業用およびエレクトロニクス加工組成物
における平衡および動的表面張力の低下のために使用す
ることに関する。アルキル化したアミノアルキルピペラ
ジンの水性溶液は、23℃の水中で、5wt%以下の濃度
で45dynes /cmより小さい動的表面張力、ならびに最
大気泡圧力法による1気泡/秒、を示すのが望ましい。
表面張力を測定する最大気泡圧力法は、「Langmu
ir」1986,2,428〜432頁に記載されてお
り、引用により組み入れられる。
【0039】本発明の1つの態様において、上述の式の
アルキル化したアミノアルキルピペラジンは、実質的に
気泡を発生させないのに、平衡および動的張面張力を減
少させる優れた能力を示す。これらの物質は定着した方
法を用いて、親のアミノアルキルピペラジンをアルデヒ
ドおよびケトンで還元的アルキル化することにより製造
されうる。製造の本質的な態様は、アミノアルキルピペ
ラジンと、アルデヒドもしくはケトンとの反応は、イミ
ンもしくはエナミン中間体をつくり、ついでそれが適切
な水素化反応触媒の存在下で水素と反応して、対応する
飽和誘導体を生成する:
【0040】
【化10】
【0041】イミンもしくはエナミン誘導体は、予め生
成されるか、その場で製造されうる。還元的アルキル化
工程は、これらの物質の製造のためのえりぬきの方法で
あるが、その生成物は、アミノアルキルピペラジンのア
ルキルハライドとの反応によっても製造されうる。この
反応はアミノエチルピペラジンの塩化アルキルとの反応
で示される。
【0042】
【化11】
【0043】生成物においてR1 およびR2 の少くとも
1つはR、残りはRもしくはHである。還元的アルキル
化反応での使用に適するアミノアルキルピペラジン出発
物質は、式
【0044】
【化12】
【0045】の化合物を含む(nは2もしくは3)。特
定の例はアミノエチルピペラジンおよびアミノプロピル
ピペラジンを含む。本発明に使用するのに適したアルキ
ル基は、物質へ界面活性(すなわち水の表面張力を減少
させる能力)を与えるのに十分な炭素数を有するべきで
あるが、表面張力を減少させる物質の能力が特定の用途
に不十分であるという程度まで溶解度を減少させるには
不十分な炭素である。通常、炭素数の増加は界面活性剤
の効率を増加させる(すなわち、界面活性剤は、表面張
力の所定の減少を得るようには、ほとんど要求されな
い)が、高い表面創出速度で、表面張力を減少させる能
力を低下させる。後者の効果は、増加した炭素数は水の
溶解度もしくは物質の臨界ミセル濃度(CMC)を減少
させ、したがって、新たに創出される表面への界面活性
剤の拡散フラックスを減少させるという事実の結果であ
る。アルキル化したアミノアルキルピペラジンを、0.
001〜約20g/全水性配合物100mL、好ましくは
0.01〜10g/100mL、そして最も好適には0.
05〜5g/100mLの溶解度限界もしくはCMC内で
使用するのが望ましい。
【0046】モノアルキル化誘導体は5〜14個の炭素
原子、好ましくは6〜8個の炭素原子を含むアルキル基
で置換されるべきである。アルキル基は、最も好ましく
はメチルイソブチルケトンおよびメチルイソアミルケト
ンの還元的アルキル化反応から得られる。なぜなら、こ
れらの生成物は最も経済であるからである。しかしC5
〜C14のアルデヒドもしくはケトンからのアルキル基
が適切である。切切なアルデヒドおよびケトンの特定の
例は、2−ペンタノン、3−ペンタノン、ピバルデヒ
ド、メチルイソプロピルケトン、メチルイソブチルケト
ン、メチルイソアミルケトン、2−ヘキサノン、3−ヘ
キサノン、メチルtert−ブチルケトン、エチルイソ
プロピルケトン、2−メチルヘキサノール、2−ヘプタ
ノン、3−ヘプタノン、4−ヘプタノン、2−オクタノ
ン、3−オクタノン、4−オクタノン、2−エチルヘキ
サナール、シクロペンタノン、シクロヘキサノン、シク
ロヘプタノン、シクロオクタノン、シクロデカノン、シ
クロドデカノン、2−ドデカノン、1−ドデカナール、
2−テトラデカノン、8−テトラデカノン、等を含む。
アルキル基は直鎖もしくは分枝であってもよく、そして
窒素への付着点は、内部もしくは末端炭素のいずれでも
よい。選ばれる特定のカルボニル化合物は、特定の適用
に要求される界面活性剤の特性に依存する。モノアルキ
ル化した誘導体のアルキル基は、アルキル鎖上にある窒
素、もしくは環状窒素のいずれに付着されていてもよ
い。環状および直鎖−アルキル化したアミノアルキルピ
ペラジンの混合物の使用は、物質の合成および精製が簡
素化されるので好適である。
【0047】ジアルキル化したアミノアルキルピペラジ
ンについて、アルキル基は、同一でも違っていてもよい
が、再度、界面活性を与えるのに十分な炭素を含むべき
である。しかし、水の表面張力を減少する界面活性剤の
能力が特定の用途に不十分である程度までに、界面活性
剤の溶解度が減少するようなほどに多くすべきではな
い。通常、合計約10〜16のアルキル炭素を、集合体
で、有するアルキル基を持つ、ジアルキル化したアミノ
アルキルピペラジンが好適である。アルキル置換体は、
直鎖もしくは分枝であってもよく、窒素への付着点は、
内部もしくは末端炭素のいずれでもよい。最も好適な誘
導体は、アルキルが同一であるものである。なぜならこ
れらの物質の製造が最も簡単であるからである。適した
1 およびR2 の特定の例は、n−ペンチル、2−ペン
チル、3−ペンチル、イソペンチル、n−ヘキシル、2
−ヘキシル、3−ヘキシル、シクロヘキシル、2−(4
−メチルペンチル)、2−(5−メチルヘキシル)、n
−オクチル、2−オクチル、3−オクチル、2−ドデシ
ル、シクロドデシル、等を含む。
【0048】水にもとづく、有機化合物含有組成物の平
衡および/または動的表面張力を減少させるのに有効な
量のアミノアルキルピペラジン化合物が、添加される。
このような有効量は、水性組成物100mLにつき0.0
01〜20g、好ましくは0.01〜10g/100m
L、そして最も好ましくは0.05〜5g/100mLで
あってもよい。水にもとづくフォトレジスト現像剤/エ
レクトロニクス洗浄組成物について、有効量は0.00
1〜1g/100mL、好ましくは0.002〜0.8g
/100mL、そして最も好ましくは0.005〜0.5
g/100mLであってもよい。当然、最も有効な量は、
アルキル化したアミノアルキルピペラジンの、特定の適
用、および溶解度および/または臨界ミセル濃度に依存
する。
【0049】アルキル化したアミノアルキルピペラジン
は、水性組成物における使用に適する。組成物は、鉱石
もしくは顔料である無機化合物、または顔料、付加、縮
合およびビニルモノマーのような重合性モノマー、オリ
ゴマーレジン、重合体レジン、洗剤、苛性洗浄剤、テト
ラメチルアンモニウム水酸化物(TMAH)のような溶
解剤、除去剤、殺かび剤、殺虫剤、植物成長調節剤であ
る有機化合物を含む。
【0050】界面活性剤としてのジアルキル化したアミ
ノアルキルピペラジンの使用は、半導体産業に使用され
るフォトレジストの現像剤において特に有利である。こ
のような現像剤およびその使用はこの分野で周知であ
り、詳細に説明することは必要でない。本発明により提
供される改良は、予見され得なかったが、窒素原子に結
合したアルキル基に5〜14の炭素原子を含有するある
アルキル化したアミノアルキルピペラジン、または、窒
素原子に結合した各アルキル基に5〜8の炭素原子を含
有するあるジアルキル化したアミノアルキルピペラジン
のこれら現像剤組成物の使用、を含む。
【0051】本発明によるアルキル化したアミノアルキ
ルピペラジンを含む、次の水にもとづく有機塗料、イン
ク、接着剤、貯蔵液、農業用およびフォトレジスト現像
剤組成物において、このような組成物の他の記載された
成分は、関連する分野の研究者に周知の材料である。本
発明のアルキル化したアミノアルキルピペラジン界面活
性剤が添加されうる、典型的な水にもとづく保護もしく
は装飾用有機塗料組成物は、次の成分の塗料組成物30
〜80wt%を水性媒体中に含む: 水にもとづく有機塗料組成物 0〜50wt% 顔料分散剤/粉砕レジン 0〜80wt% 着色顔料/体質顔料/さび止め顔料/他の顔料 5〜99.9wt% 水性/水分散性/水溶性レジン 0〜30wt% すべり添加剤/殺菌剤/処理助剤/泡消し剤 0〜50wt% 集合(coalescing)もしくは他の溶媒 0.01〜10wt% 界面活性剤/湿潤剤/流動および水平化剤 0.01〜20wt% アルキル化したアミノアルキルピペラジン 本発明のアルキル化したアミノアルキルピペラジン界面
活性剤が添加されうる典型的な、水にもとづくインク組
成物は、次の成分のインク組成物20〜60wt%を水性
媒体中に含む: 水にもとづくインク組成物 1〜50wt% 顔料 0〜50wt% 顔料分散剤/粉砕レジン 0〜50wt% 適切なレジン溶液ベヒクル中のクレー基剤 5〜99.9wt% 水性/水分散性/水溶性レジン 0〜30wt% 集合溶媒 0.01〜10wt% 界面活性剤/湿潤剤 0.01〜10wt% 処理助剤/脱泡剤/可溶化剤 0.01〜20wt% アルキル化したアミノアルキルピペラジン 本発明のアルキル化したアミノアルキルピペラジン界面
活性剤が添加されうる典型的な、水にもとづく農業用組
成物は、次の成分の農業用組成物0.01〜80wt%を
水性媒体中に含む。
【0052】 水にもとづく農業用組成物 0.1〜50wt% 殺虫剤、除草剤もしくは植物生長調節剤 0.01〜10wt% 界面活性剤 0〜5wt% 染料 0〜20wt% 増粘剤/可溶化剤/共界面活性剤/ゲル阻害剤/ 泡消し剤 0〜25wt% 凍結防止剤 0.01〜50wt% アルキル化したアミノアルキルピペラジン 本発明のアルキル化したアミノアルキルピペラジンが添
加されうる、典型的な水にもとづく貯蔵液組成物は、次
の成分を含有する貯蔵液組成物30〜70wt%を水性媒
体中に含む。
【0053】 水にもとづく貯蔵液 0.05〜10wt% フィルムを形成しうる、水溶性高分子 1〜25wt% 2〜12の炭素原子を有するアルコール、グリコ ールもしくはポリオール(水溶性もしくは水溶性 にされうる) 0.01〜20wt% 水溶性有機酸、無機酸、もしくはその塩 0.01〜5wt% アルキル化したアミノアルキルピペラジン 本発明のアルキル化したアミノアルキルピペラジンが添
加されうる、典型的な水にもとづく接着剤組成物は、次
の成分を含有する接着剤組成物30〜65wt%を水性媒
体中に含む: 水にもとづく接着剤 50〜95wt% 重合体レジン(SBR,VAE、アクリル) 0〜50wt% 粘着付与剤 0〜0.5wt% 泡消し剤 0.5〜2wt% アルキル化したアミノアルキルピペラジン 本発明のアルキル化したアミノアルキルピペラジンが添
加されうる、典型的な水にもとづくフォトレジスト現像
剤、もしくはエレクトロニクス洗浄剤、組成物は、次の
成分を含有する水性媒体を含む: 水にもとづくフォトレジスト現像剤組成物 0.1〜3wt% テトラメチルアンモニウム水酸化物 0〜4wt% フェノール樹脂 10〜10,000ppm アルキル化したアミノアルキルピペラジン 簡単にいえば、集積回路の製造法は、シリコンウェハの
ような適切な基板にフォトレジスト組成物の膜の使用を
することを含み、ついで基板は、フォトレジスト膜に形
成された設計パターンで、光活性の放射に露光する。フ
ォトレジストがポジ型(positive−worki
ng)もしくはネガ型(negative−worki
ng)かに依存して、放射は次に適用される現像剤溶液
におけるその溶解度を増大もしくは減少させる。したが
って、ポジ型のフォトレジストにおいて、放射からマス
キングされた領域は現像後に残り、一方露光された領域
は溶解除去される。ネガ型のフォトレジストでは、その
反対が生じる。本発明の界面活性剤は、どちらの型のフ
ォトレジストのための現像剤にも使用されうる。現像剤
の性格は、形成される回路の品質を決定するのに非常に
重要であり、現像の精密な制御は必須である。現像剤に
よりさらに良好な界面ぬれを得ることは、溶液の表面張
力を減少させるために、配合物に界面活性剤を添加する
のは一般的であった。しかし、この添加は、回路欠陥に
導く泡を現像剤に生じさせうる。この泡立ちの問題も、
この分野で認識され、産業において、かなりの注意がそ
の溶液に向けられた。
【0054】アルキル化したアミノアルキルピペラジン
の使用が好適な、水性現像剤、もしくはエレクトロニク
ス洗浄、溶液はテトラメチルアンモニウム水酸化物(T
MAH)の水性溶液である。これらの現像剤も、この分
野で周知である。市販の現像剤は、通常、50〜100
0ppm (質量で)オーダーの、界面活性剤の低い水準を
含む。界面活性剤の水準は、溶液の所望の表面張力を得
るのに要求される水準を超えるべきでない。たとえば、
約40〜45dynes /cmの表面張力は、ノボラックにも
とづくフォトレジスト樹脂のために適切であろう。脂肪
族基を度々配合する先端的な樹脂は現像剤に、ぬれを高
めるために低い表面張力を要求する。この発明の界面活
性剤の利点の1つは、適切な表面張力が他の湿潤剤で要
求されるよりも低い水準で得られうることである。これ
は、本質的に、ミクロ回路要素(microcircu
itry)の製造における泡立ちの問題を解決するほう
への第1歩である。
【0055】実施例1A この実施例は、1−(2−アミノエチル)ピペラジン
(AEP)およびメチルイソアミルケトン(MIAK)
の還元的アルキル化生成物の製造方法を示す。AEP
(1.0モル)、MIAK(1.1モル)および10%
Pd/C(合計装入量の4wt%)が1Lステンレス鋼オー
トクレーブに装入された。反応器は密閉され、窒素、つ
いで水素で排気された。反応器の内容物は7bar (10
0psig)H2 で、90℃に加熱された。圧力は55bar
(800psig)に増大し、そしてドームレギュレータに
よる要求にもとづき1ガロン(3.79L)バラストか
ら水素を導入することにより反応の間(6時間)維持さ
れた。反応器の内容物はGC/FIDにより分析され、
モノアルキル化AEP77.9area%、およびジアルキ
ル化AEP19.2area%であることがわかった。モノ
アルキル化生成物は142〜145℃、4.0ミリbar
(3Torr)での蒸留により単離された。ジアルキル化生
成物は148〜150℃、0.53ミリbar (0.4To
rr)での蒸留により、精製された。
【0056】モノアルキル化誘導体(AEP/MIAK
1)は、ガスクロマトグラフィ/マススペクトロメトリ
ー(gc−ms)ならびに 1Hおよび13C核磁気共鳴
(NMR)分光法により、下に示すように、鎖状および
環状アルキル化物質の5.2:1混合物として同定され
た。
【0057】
【化13】
【0058】ジアルキル化物質の構造は、同一の分析方
法を用いて、下のように示された。
【0059】
【化14】
【0060】実施例1B この実施例は、AEPおよびメチルアミルケトン(MA
K)の還元的アルキル化生成物の製造方法を示す。AE
P(1.25モル)、メチルアミルケトン(1.37モ
ル)および10%Pd/C(合計装入量の3wt%)が1L
ステンレス鋼オートクレーブに装入された。反応器は密
閉され、窒素、ついで水素で排気された。反応器の内容
物は、7bar (100psig)H2 下で、80℃に加熱さ
れた。圧力は55bar (800psig)に増大し、そして
ドームレギュレータによる要求にもとづき1ガロン
(3.79L)バラストから水素を導入することにより
反応の間(5時間)維持された。反応器の水は真空で除
去され、粗生成物は4インチ(10.2cm)Vigre
uxカラムで蒸留され、155〜160℃、および14
mbar(11Torr)で、無色液体としてAEP/MAK1
208.4gを得た。
【0061】生成物は、ガスクロマトグラフィー/マス
スペクトロメトリー(gc−ms)ならびに 1Hおよび
13C核磁気共鳴(NMR)分光法により下に示すような
2成分の混合物であることが確認された。13CNMR
は、混合物が、6:1の比の鎖状:環状アルキル化物質
からなることを示した。
【0062】
【化15】
【0063】実施例2 この実施例は、AEPおよび2当量のメチルイソブチル
ケトン(MIBK)の還元的アルキル化反応生成物の製
造方法を示す。AEP(0.8モル)、メチルイソブチ
ルケトン(1.6モル)およびPd/C(合計装入量の4
wt%)が1Lステンレス鋼オートクレーブに装入され、
実施例1のように22時間反応された。反応器の内容物
はGC/FIDで分析され、ジアルキル化AEP97.
9area%であることがわかった。生成物は152〜15
4℃、2.7ミリbar (2Torr)での蒸留により精製さ
れた。
【0064】生成物の構造は、ガスクロマトグラフィー
/マススペクトロメトリー(gc−ms)ならびに 1
および13C核磁気共鳴(NMR)分光法により、下に示
すような構造であることが確認された。
【0065】
【化16】
【0066】モノアルキル化誘導体が、1.1当量のM
IBKが使用されるのを除いて、AEP/MIBKの製
造と同様な方法を用いて製造された。生成物は、102
〜104℃、1.0Torrでの蒸留により精製された。生
成物の構造は、ガスクロマトグラフィー/マススペクト
ロメトリー(gc−ms)ならびに 1Hおよび13C核磁
気共鳴(NMR)分光法により確認された。GCは、生
成物が、鎖状および環状モノアルキル化物質の3.3:
1混合物からなることを確認するために用いられた。
【0067】
【化17】
【0068】実施例3 この実施例はAEPおよびシクロドテカノン(CDO)
の還元的アルキル化反応生成物の製造を示す。AEP
(0.4モル)、シクロドデカノン(0.42モル)、
テトラヒドロフラン(100mL)および10%Pd/C
(合計装入量の4wt%)が1Lステンレス鋼オートクレ
ーブに装入された。反応器は密閉され、窒素ついで水素
で排気された。反応器の内容物は、7bar (100psi
g)H2 下で、90℃に加熱された。圧力は55bar
(800psig)に増大し、そしてドームレギュレータに
よる要求にもとづき1ガロン(3.79L)バラストか
ら水素を導入することにより反応の間(24時間)維持
された。反応器の内容物は周囲の温度に冷却され触媒は
ろ過により除去された。溶媒および水は真空で除去さ
れ、粗生成物は4インチ(10.2cm)Vigreux
カラムで蒸留され、CDD前留分(forewt)8.
8g、つづいて無色液体として180〜182℃、0.
20mbarでAEP/CDD52.1gを得た。
【0069】生成物は、ガスクロマトグラフィー/マス
スペクトロメトリー(gc−ms)ならびに 1Hおよび
13C核磁気共鳴(NMR)分光法により下に示すような
2成分の混合物であることが確認された。13C NMR
は、混合物が12:1の比の鎖状:環状アルキル化物質
からなることを示した。
【0070】
【化18】
【0071】次の実施例において、動的表面張力データ
が、0.1気泡/秒(b/s)〜20b/sの気泡率で
最大気泡圧力法を用いて、種々の化合物の水性溶液につ
いて得られた。これらのデータは、平衡近傍(0.1b
/s)から極端に高い表面創出率(20b/s)までの
条件で界面活性剤の性能についての情報を提供する。実
際上は、高気泡率は、平版印刷における高印刷速度、塗
料被覆用途における高いスプレーもしくはローラー速
度、および農業用製品の高速使用速度に対応する。
【0072】実施例4 動的表面張力データが、上述の方法を用いて、アミノエ
チルピペラジンと1当量メチルイソブチルケトン(AE
P/MIBK1)の還元的アルキル化反応生成物につい
て得られた。データは表1に示される。
【0073】
【表1】
【0074】これらのデータは、AEP/MIBK1は
有効に水の表面張力を減少させたこと、さらには40dy
ne/cm未満の表面張力が5wt%レベルの使用で得られた
ことを示す。高表面創出速度の条件下での性能が、20
b/sで得られたデータで示されるように特に良好であ
った。種々の条件下で水の表面張力を低下させるこのよ
うな著しい能力は、水性の塗料、インク、接着剤、およ
び農業用配合物に確かに有用である。
【0075】実施例5 アミノエチルピペラジンおよび1当量メチルイソアミル
ケトン(AEP/MIAK1)、ならびにアミノエチル
ピペラジンおよび1当量メチルアミルケトン(AEP/
MAK1)の還元的アルキル化生成物の蒸留水溶液が調
製され、それらの動的表面張力特性が上述の方法を用い
て測定された。データは、AEP/MIAK1およびA
EP/MAK1それぞれについて表2Aおよび2Bに示
される。
【0076】
【表2】
【0077】これらの結果は、AEP/MIAK1の
1.0wt%溶液について、0.1b/sにおける表面張
力は31.0dyne/cmであり、その表面張力は20b/
sで38.8dyne/cmに増加するにすぎないことを示
す。2wt%レベルの使用において、0.1b/sで測定
された表面張力は28.2dyne/cmに低下し、20b/
sでさえ35dyne/cm未満のままであった。AEP/M
AK1の1.0wt%溶液については、0.1b/sにお
ける表面張力は31.2dyne/cmであり、表面張力は2
0b/sで40.8dyne/cmに増加したにすぎない。2
wt%レベルの使用において、0.1b/sで測定された
表面張力は27.8dyne/cmに低下し、20b/sでさ
え36dyne/cm未満のままであった。このように急激な
使用条件下で極端に低い表面張力を保持する本発明界面
活性剤の能力は、特に基体が低エネルギー表面を有する
ときに、高速塗料およびインキ処理において有用であ
る。このような高表面創出速度での著しい性能は水性塗
料、インクおよび農業用配合物に関して高速の印刷もし
くは使用速度を可能にすることにより優れた生産性を与
える。
【0078】実施例6 アミノピペラジンおよび1当量シクロドデカノン(AE
P/CDD1)の還元的アルキル化反応生成物の蒸留水
溶液が調製され、その動的表面張力特性が上述の方法を
用いて測定された。データは表3に示される。
【0079】
【表3】
【0080】データ、AEP/CDD1は実施例4およ
び5の界面活性剤よりも効率的であること、すなわち同
等の性能が比較的低い使用レベルで得られることを示
す。このように、効率的な性能が、かなり低い使用レベ
ルでさえも、水性配合物中で得られる。 実施例7 アミノピペラジンおよび2当量メチルイソブチルケトン
(AEP/MIBK2)の還元的アルキル化反応生成物
の蒸留水溶液が調製され、その動的表面張力特性が上述
の方法を用いて測定された。データは表4に示される。
【0081】
【表4】
【0082】これらのデータは、ジアルキル化した物質
AEP/MIBK2は、対応する実施例4のモルアルキ
ル化したAEP/MIBK1よりもはるかに効率的であ
ることを示す。 実施例8 アミノピペラジンおよび2当量メチルイソアミルケトン
(AEP/MIAK2)の還元的アルキル化反応生成物
の蒸留水溶液が調製され、その動的表面張力特性が上述
の方法を用いて測定された。データは表5に示される。
【0083】
【表5】
【0084】再び、AEP/MIAK2は、水性生成物
において動的表面張力を減少させる良好な能力を示す。 実施例9 本発明のアルキル化したアミノアルキルピペラジン界面
活性剤の0.1wt%溶液の気泡特性が、ASTMD11
73−53にもとづく方法を用いて試験された。この試
験において、界面活性剤の0.1wt%溶液が高架の気泡
ピペットから同一の溶液を含む気泡受け器に添加され
た。気泡高さが添加完了時(「初期気泡高さ」)に測定
され、空気−液体界面で気泡が消散するのに要する時間
(「気泡0までの時間」)が記録された。この試験は、
種々の界面活性剤溶液の気泡特性間を比較するものであ
る。通常、塗料、インクおよび農業用配合物において
は、気泡は取扱いを複雑にし、塗装および印刷欠陥を引
きおこし、農業用資材の不十分な使用をもたらすので、
望ましくない。データは表6に示される。
【0085】
【表6】
【0086】表6のデータは、本発明の化合物は、気泡
をほとんど形成せず、そして気泡はすぐに消散すること
を示す。 実施例10 商業的に入手しうるフォトレジスト(OCG82520
CS,Olin Corporation)が、膜厚約
1μmで4インチのシリコンウェハに被覆するのに使用
された。このレジストは現像剤溶液にもっと溶解するよ
うに意図されており、0.131M TMAHとともに
使用された。フォトレジストは、透過レベルを変動する
くさび形に分かれた石英プレート上の環状領域からなる
可変透過フィルター(Wilmington,MAのO
pto−Line Associatesから)により
365nm(水銀i−線)を中心とするUV放射にさらさ
れた。ついでレジストの異なる領域が、開口の下にウェ
ハを置き、シャッタを操作することにより種々の強度レ
ベルでUV放射にさらされた。表7は、AEP/MAK
1(0.1wt%;1000ppm )で表面張力44.1dy
ne/cmに配合された0.131M TMAH水性溶液
に、さらされたレジストを溶解するためのデータを示
す。データは、この非常に鋭敏なフォトレジスト配合で
さえも、著しい選択性を示す。
【0087】
【表7】
【0088】実施例11 気泡試験は、界面活性剤としてAEP/MAK1、およ
び界面活性剤を含む市販現像剤溶液を配合されたTMA
H現像剤溶液においてなされた。データは気泡発生装置
を用いて捕集され、それにより窒素ガスはフリットを通
過し50mL/分で溶液100mLを泡立たせた。受領した
まま使用された市販現像剤溶液を除けば、AEP/MA
K1を含む溶液は、表面張力を約43dyne/cmに低下さ
せるのに十分な界面活性剤とともに水中に2.4wt%T
MAHを含んでいた。結果は表8に示される。
【0089】
【表8】
【0090】表8の上記データは、界面活性剤としてA
EP/MAK1を含むTMAH現像剤溶液は、他の型の
界面活性剤を含む市販現像剤溶液よりもかなり少ない気
泡を生じさせた。C5〜C8アルキル基を含むアルキル
化したアミノアルキルピペラジンが、TMAH現像剤溶
液における表面張力および泡立ち特性の両方を減少させ
るこれらの材料の能力を増大させるが、フォトレジスト
現像剤用途のための良好なコントラストを維持するとい
うことは非常に驚くべきことである。所望の表面張力低
下に要するアルキル化アミノアルキルピペラジンの含量
を低下させるのに、これらの目的は達成される。
【0091】実施例12 表9は、Ross−Miles法を用いて得られた0.
262N TMAH溶液中でAEP/MAK1湿潤剤と
関連して低い気泡を示す追加データを表わす。
【0092】
【表9】
【0093】比較すると、長い線状側鎖を有する(lo
ng linear side−chain)誘導体で
あるN−ドデシルジエチレントリアミン(DETA/D
DA1)は、わずか40ppm の濃度で、初期気泡高さ
8.3cmを示したが、5分間ほとんど完全に安定であ
り、気泡はなお7.5cmの高さであった。平衡および動
的条件の両方の下で表面張力を減少させる水生系におけ
る界面活性剤の能力は、水性の塗料、インク、接着剤、
貯蔵液、農業用配合物ならびにフォトレジスト現像用お
よびエレクトロニクス洗浄用組成物の実施に、きわめて
重要である。低い平衡表面張力は、使用の後に優れた特
性の進展をもたらす。低い動的表面張力は、動的条件下
での使用で、高められたぬれおよび拡がりをもたらし、
そして、もっと効率的な配合使用およびもっと少ない欠
陥をもたらす。水性の塗料、インク、接着剤、貯蔵液、
ならびに農業用、フォトレジスト現像剤用およびエレク
トロニクス洗浄用組成物において、気泡の生成は、取扱
いを複雑にし、欠陥をもたらし、もしくは非効率的な使
用を生じさせるので望ましくないのが通常である。本発
明のアルキル化したアミノアルキルピペラジン界面活性
剤は、実質的に気泡を生じさせないのに、水性配合物に
おいて、平衡および動的表面張力を低下させる著しい能
力を示す。気泡制御はフォトレジスト現像剤/エレクト
ロニクス洗浄剤組成物において特に重要な属性である。
本発明は、フォトレジスト現像での使用について良好な
コントラストを維持するのにこれらの属性を与える。し
たがってこれらの物質は水性の塗料、インク、接着剤、
貯蔵液、農業用配合物ならびにフォトレジスト現像用お
よびエレクトロニクス洗浄用配合物において有用である
と期待される。
【0094】本発明は水性の塗料、インク、接着剤、貯
蔵液、農業用組成物およびフォトレジスト現像用/エレ
クトロニクス洗浄用組成物において、平衡および動的表
面張力を低下させるのに好適な組成物を提供する。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI H01L 21/027 H01L 21/304 647 21/304 647 21/30 569E (72)発明者 リチャード バン コート カー アメリカ合衆国,ペンシルベニア 18104,アレンタウン,サウス トウェ ンティーシックスス ストリート 416 (72)発明者 クリステン エレイン ミニチ アメリカ合衆国,ペンシルベニア 18104,アレンタウン,カレッジ ドラ イブ 529 (56)参考文献 特開 昭60−131535(JP,A) 特開 昭62−50831(JP,A) 米国特許出願公開6127101(US,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G03F 7/32 C11D 1/40 C11D 3/20 C11D 3/26 C11D 17/08 H01L 21/027 H01L 21/304 CA(STN)

Claims (21)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 界面活性剤を含有する水性フォトレジス
    ト現像剤組成物において、界面活性剤として、式 【化1】 (ここで、R1 およびR2 の1つはC5〜C14のアル
    キルもしくはシクロアルキル基であり、残りはHである
    か、またはR1 およびR2 の両方がC5〜C8のアルキ
    ル基であり、そしてnは2もしくは3である。)で表わ
    されるアルキル化したアミノアルキルピペラジン化合物
    を使用することを特徴とする現像剤組成物。
  2. 【請求項2】 R1 およびR2 の1つがC5〜C14の
    アルキルもしくはシクロアルキル基であり、残りがHで
    ある請求項1記載の現像剤組成物。
  3. 【請求項3】 R1 およびR2 の1つがC6〜C8のア
    ルキル基であり、残りがHである請求項1記載の現像剤
    組成物。
  4. 【請求項4】 R1 およびR2 の両方がC5〜C8のア
    ルキル基である請求項1記載の現像剤組成物。
  5. 【請求項5】 nが2である請求項1記載の現像剤組成
    物。
  6. 【請求項6】 nが2である請求項3記載の現像剤組成
    物。
  7. 【請求項7】 アルキル化したアミノエチルピペラジン
    が、アミノエチルピペラジンおよびメチルイソブチルケ
    トンのモルアルキル化生成物、アミノエチルピペラジン
    およびメチルイソブチルケトンのジアルキル化生成物、
    アミノエチルピペラジンおよびメチルアミルケトンのモ
    ノアルキル化生成物、アミノエチルピペラジンおよびメ
    チルアミルケトンのジアルキル化生成物、アミノエチル
    ピペラジンおよびメチルイソアミルケトンのモノアルキ
    ル化生成物、またはアミノエチルピペラジンおよびメチ
    ルイソアミルケトンのジアルキル化生成物である請求項
    1記載の現像剤組成物。
  8. 【請求項8】 テトラメチルアンモニウム水酸化物を含
    有する請求項1記載の現像剤組成物。
  9. 【請求項9】 テトラメチルアンモニウム水酸化物を含
    有する請求項3記載の現像剤組成物。
  10. 【請求項10】 テトラメチルアンモニウム水酸化物を
    含有する請求項7記載の現像剤組成物。
  11. 【請求項11】 フォトレジスト表面に、表面張力を減
    少させる量の界面活性剤を含有する現像剤溶液を付着さ
    せることにより、露光後にフォトレジストを現像する方
    法において、界面活性剤として、式 【化2】 (ここで、R1 およびR2 の1つはC5〜C14のアル
    キルもしくはシクロアルキル基であり、残りはHである
    か、またはR1 およびR2 の両方がC5〜C8のアルキ
    ル基であり、そしてnは2もしくは3である。)で表わ
    されるアルキル化したアミノアルキルピペラジン化合物
    を使用することを特徴とする現像方法。
  12. 【請求項12】 R1 およびR2 の1つがC5〜C14
    のアルキルもしくはシクロアルキル基であり、残りがH
    である請求項11記載の方法。
  13. 【請求項13】 R1 およびR2 の1つが、C6〜C8
    のアルキル基であり、残りがHである請求項11記載の
    方法。
  14. 【請求項14】 R1 およびR2 の両方がC5〜C8の
    アルキル基である請求項11記載の方法。
  15. 【請求項15】 nが2である請求項11記載の方法。
  16. 【請求項16】 nが2である請求項13記載の方法。
  17. 【請求項17】 アルキル化したアミノエチルピペラジ
    ンが、アミノエチルピペラジンおよびメチルイソブチル
    ケトンのモルアルキル化生成物、アミノエチルピペラジ
    ンおよびメチルイソブチルケトンのジアルキル化生成
    物、アミノエチルピペラジンおよびメチルアミルケトン
    のモノアルキル化生成物、アミノエチルピペラジンおよ
    びメチルアミルケトンのジアルキル化生成物、アミノエ
    チルピペラジンおよびメチルイソアミルケトンのモノア
    ルキル化生成物、またはアミノエチルピペラジンおよび
    メチルイソアミルケトンのジアルキル化生成物である請
    求項11記載の方法。
  18. 【請求項18】 テトラメチルアンモニウム水酸化物を
    含有する請求項11記載の方法。
  19. 【請求項19】 テトラメチルアンモニウム水酸化物を
    含有する請求項13記載の方法。
  20. 【請求項20】 テトラメチルアンモニウム水酸化物を
    含有する請求項17記載の方法。
  21. 【請求項21】 水中に次の成分、 テトラメチルアンモニウム水酸化物0.1〜3wt%、 フェノール系化合物0〜4wt%;および アルキルアミノアルキルピペラジン10〜10,000
    ppm を含む水性エレクトロニクス洗浄組成物であり、アルキ
    ルアミノアルキルピペラジン化合物は、式 【化3】 (ここで、R1 およびR2 の1つはC5〜14のアルキ
    ルもしくはシクロアルキル基、好ましくはC6〜C8の
    アルキル基であり、残りはHであるか、またはR 1 およ
    びR2 の両方がC5〜C8のアルキル基であり、そして
    nは2もしくは3である)で表わされることを特徴とす
    る水性エレクトロニクス洗浄組成物。
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Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6290762B1 (en) 1996-09-10 2001-09-18 Macdermid-Acumen, Inc. Method of selecting an ink set of an ink jet printer
US6235820B1 (en) * 1999-10-12 2001-05-22 Air Products And Chemicals, Inc. Alkylated aminoalkylpiperazine surfactants
TW558736B (en) * 2000-02-26 2003-10-21 Shipley Co Llc Method of reducing defects
US6855480B2 (en) 2001-04-19 2005-02-15 Shipley Company, L.L.C. Photoresist composition
US7764308B2 (en) 2002-05-27 2010-07-27 Nikon Corporation Image transmission system, image relay apparatus, and electronic image device
US7684008B2 (en) 2003-06-11 2010-03-23 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus and device manufacturing method
US20050161644A1 (en) 2004-01-23 2005-07-28 Peng Zhang Immersion lithography fluids
TWI259319B (en) 2004-01-23 2006-08-01 Air Prod & Chem Immersion lithography fluids
US7880860B2 (en) 2004-12-20 2011-02-01 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus and device manufacturing method
US20070299176A1 (en) * 2005-01-28 2007-12-27 Markley Thomas J Photodefinable low dielectric constant material and method for making and using same
US20070196773A1 (en) * 2006-02-22 2007-08-23 Weigel Scott J Top coat for lithography processes
US20080264672A1 (en) * 2007-04-26 2008-10-30 Air Products And Chemicals, Inc. Photoimprintable Low Dielectric Constant Material and Method for Making and Using Same

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3007929A (en) * 1959-02-16 1961-11-07 Givaudan Corp Germicidal piperazine derivatives
US4628023A (en) * 1981-04-10 1986-12-09 Shipley Company Inc. Metal ion free photoresist developer composition with lower alkyl quaternary ammonium hydrozide as alkalai agent and a quaternary ammonium compound as surfactant
JPS59182444A (ja) * 1983-04-01 1984-10-17 Sumitomo Chem Co Ltd ポジ型フオトレジストの改良現像液
JPS60131535A (ja) * 1983-12-20 1985-07-13 エッチエムシー・パテンツ・ホールディング・カンパニー・インコーポレーテッド ポジのホトレジスト用のストリツピング組成物
US4828965A (en) * 1988-01-06 1989-05-09 Olin Hunt Specialty Products Inc. Aqueous developing solution and its use in developing positive-working photoresist composition
DE3827567A1 (de) * 1988-08-13 1990-02-22 Basf Ag Waessrige entwicklerloesung fuer positiv arbeitende photoresists
US4997748A (en) * 1988-08-26 1991-03-05 Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. Developer solution for positive-working resist composition
JP2582901B2 (ja) * 1989-07-31 1997-02-19 富士写真フイルム株式会社 半導体製造用のポジ型フォトレジスト用現像液
US5252436A (en) * 1989-12-15 1993-10-12 Basf Aktiengesellschaft Process for developing a positive-working photoresist containing poly(p-hydroxystyrene) and sulfonium salt with an aqueous developer containing basic organic compounds
US5098478A (en) * 1990-12-07 1992-03-24 Sun Chemical Corporation Water-based ink compositions
JPH0773772B2 (ja) * 1992-10-23 1995-08-09 旭サナック株式会社 圧造機におけるワーク排出装置
JP3062034B2 (ja) 1995-02-23 2000-07-10 株式会社イノアックコーポレーション ヘッドレストの製造方法
US5562762A (en) * 1995-05-17 1996-10-08 Lexmark International, Inc. Jet ink with amine surfactant

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